KR20140139165A - Flat display eldctrode trimmer with real time inspection and control method thereof - Google Patents

Flat display eldctrode trimmer with real time inspection and control method thereof Download PDF

Info

Publication number
KR20140139165A
KR20140139165A KR1020130059127A KR20130059127A KR20140139165A KR 20140139165 A KR20140139165 A KR 20140139165A KR 1020130059127 A KR1020130059127 A KR 1020130059127A KR 20130059127 A KR20130059127 A KR 20130059127A KR 20140139165 A KR20140139165 A KR 20140139165A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
electrode pattern
flat panel
panel display
real
time inspection
Prior art date
Application number
KR1020130059127A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR101502430B1 (en
Inventor
박훈
김선주
송주연
Original Assignee
주식회사 코윈디에스티
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 코윈디에스티 filed Critical 주식회사 코윈디에스티
Priority to KR1020130059127A priority Critical patent/KR101502430B1/en
Publication of KR20140139165A publication Critical patent/KR20140139165A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR101502430B1 publication Critical patent/KR101502430B1/en

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09F—DISPLAYING; ADVERTISING; SIGNS; LABELS OR NAME-PLATES; SEALS
    • G09F9/00—Indicating arrangements for variable information in which the information is built-up on a support by selection or combination of individual elements
    • G09F9/30—Indicating arrangements for variable information in which the information is built-up on a support by selection or combination of individual elements in which the desired character or characters are formed by combining individual elements
    • G09F9/35—Indicating arrangements for variable information in which the information is built-up on a support by selection or combination of individual elements in which the desired character or characters are formed by combining individual elements being liquid crystals
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K26/00—Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
    • B23K26/02—Positioning or observing the workpiece, e.g. with respect to the point of impact; Aligning, aiming or focusing the laser beam
    • B23K26/03—Observing, e.g. monitoring, the workpiece
    • B23K26/032—Observing, e.g. monitoring, the workpiece using optical means
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K26/00—Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
    • B23K26/352—Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring for surface treatment
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/956—Inspecting patterns on the surface of objects
    • G01N21/95607—Inspecting patterns on the surface of objects using a comparative method

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Laser Beam Processing (AREA)

Abstract

The present invention relates to a flat display electrode removal apparatus having a real time inspection function and a control method thereof. According to the present invention, the flat display electrode removal apparatus having a real time inspection function comprises: a laser module which removes a certain range of electrode pattern of a flat display by using a laser; and an inspection module which inspects the electrode pattern of the flat display by using a transmittance difference between a processed region and a non-processed region formed by removing the certain region of the electrode pattern.

Description

실시간 검사 기능을 구비한 평판 디스플레이 전극 제거 장치 및 그 제어 방법{FLAT DISPLAY ELDCTRODE TRIMMER WITH REAL TIME INSPECTION AND CONTROL METHOD THEREOF}TECHNICAL FIELD [0001] The present invention relates to a flat panel display electrode removing device having a real-time inspection function and a control method thereof.

본 발명은 실시간 검사 기능을 구비한 평판 디스플레이 전극 제거 장치 및 그 제어 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a flat panel display electrode removing apparatus having a real-time inspection function and a control method thereof.

평판 디스플레이는 얇고 가벼우며, 낮은 소비전력 및 낮은 구동전압을 갖는 장점이 있으므로 산업 전반에 걸쳐 광범위하게 사용되고 있다.Flat panel displays are widely used throughout the industry due to their thinness and light weight, low power consumption and low drive voltage.

평판 디스플레이 제조 공정에서는 점등 검사를 위해 생성되어 있는 전극 패턴을 FPCB의 부착을 위해 제거되어야 하며, 평판 디스플레이의 전극 패턴의 제거 시에는 레이저를 사용하여 일정 범위를 제거한다.In the flat panel display manufacturing process, the electrode pattern generated for the on-off inspection must be removed to attach the FPCB, and a certain range is removed by using a laser when removing the electrode pattern of the flat panel display.

이와 같은 평판 디스플레이의 가공은 양산라인에서 고속으로 진행된다. 따라서, 평판 디스플레이의 가공 이후에 일정한 주기로 샘플 검사를 실시하여 불량을 검출해내는 방식을 사용하고 있다.Processing of such a flat panel display proceeds at a high speed in a mass production line. Therefore, after the processing of the flat panel display, a method of inspecting the sample at regular intervals to detect defects is used.

그러나, 종래의 평판 디스플레이의 전극 패턴의 제거 공정에서는 샘플 검사 방식을 사용하므로, 제거 공정 중에 실시간으로 불량을 검출해 내지 못하며, 대량 불량 발생의 요인도 사전에 제거할 수 없는 문제가 있었다.However, in the process of removing the electrode pattern of the conventional flat panel display, since the sample inspection method is used, there is a problem that the defect can not be detected in real time during the removal process and the factor of mass defect can not be removed in advance.

본 발명은 전술한 문제를 해결하기 위해 안출된 것으로서, 평판 디스플레이의 가공과 동시에 실시간으로 검사를 수행하므로 모든 패널에 대하여 전수 검사가 가능하도록 하고자 한다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been conceived to solve the above-mentioned problems, and it is an object of the present invention to enable full inspection of all the panels because the inspection is performed simultaneously with the processing of the flat panel display.

또한, 본 발명은 평판 디스플레이 전극의 가공 영역과 비 가공 영역 간의 투과율 차이에 따른 그레이 레벨을 통해 가공의 불량 여부를 판단하여, 평판 디스플레이 가공 검사의 정확도를 보다 향상시키고자 한다.In addition, the present invention attempts to improve the accuracy of the flat panel display inspection by determining whether the processing is defective through the gray level according to the difference in transmittance between the processing area and the non-processing area of the flat panel display electrode.

전술한 문제를 해결하기 위한 본 발명의 일실시예에 따른 실시간 검사 기능을 구비한 평판디스플레이 전극 제거 장치는, 평판 디스플레이의 전극 패턴을 레이저로 일정 범위를 제거하는 레이저 모듈; 상기 전극 패턴의 상기 일정 범위를 제거하여 형성된 가공 영역과 비 가공 영역의 투과율 차이를 이용하여 상기 평판 디스플레이의 전극 패턴을 검사하는 검사 모듈;을 포함하여 구성된다.According to an embodiment of the present invention, there is provided an apparatus for removing a flat panel display having a real-time inspection function, the apparatus comprising: a laser module for removing a predetermined range of electrode patterns of a flat panel display using a laser; And an inspection module for inspecting an electrode pattern of the flat panel display using a difference in transmittance between a machining area and a non-machining area formed by removing the predetermined range of the electrode pattern.

본 발명의 또 다른 일실시예에 따르면, 상기 레이저 모듈은 레이저 빔을 유입시키는 레이저 헤드; 상기 레이저 빔을 조절하는 빔 조절 모듈; 상기 레이저 빔의 포커스를 맞추는 포커스 렌즈;를 포함하여 구성된다.According to another embodiment of the present invention, the laser module includes a laser head for introducing a laser beam; A beam adjusting module for adjusting the laser beam; And a focus lens for focusing the laser beam.

본 발명의 또 다른 일실시예에 따르면, 상기 검사 모듈은, 상기 평판 디스플레이에 빛을 조사하는 조명; 상기 평판 디스플레이의 전극 패턴을 촬영하는 카메라 모듈; 상기 평판 디스플레이 상의 현재 위치 값을 취득하는 엔코더; 상기 엔코더로부터 수신한 현재 위치 값에 기초하여 이미지 획득 명령을 전달하며, 획득되는 이미지를 처리하여 상기 평판 디스플레이의 전극 패턴을 검사하는 PC부; 상기 PC부로부터 이미지 획득 명령을 전달받는 트리거; 상기 트리거의 제어에 의해 상기 카메라 모듈에서 촬영된 이미지를 획득하는 이미지 획득부;를 포함하여 구성된다.According to another embodiment of the present invention, the inspection module includes: illumination for irradiating light onto the flat panel display; A camera module for photographing an electrode pattern of the flat panel display; An encoder for obtaining a current position value on the flat panel display; A PC unit for transferring an image acquisition command based on a current position value received from the encoder, and processing an image obtained to inspect an electrode pattern of the flat panel display; A trigger receiving an image acquisition command from the PC unit; And an image obtaining unit for obtaining an image photographed by the camera module under the control of the trigger.

본 발명의 또 다른 일실시예에 따르면, 상기 조명은 상기 평판 디스플레이의 전극 패턴의 가공 영역의 전체 영역에 빛을 조사하는 바 타입(Bar type) 조명으로 구성된다.According to another embodiment of the present invention, the illumination is formed by bar type illumination that irradiates light to the entire region of the processing region of the electrode pattern of the flat panel display.

본 발명의 또 다른 일실시예에 따르면, 상기 조명은 상기 카메라 모듈의 일단에 부착되어 상기 평판 디스플레이의 전극 패턴의 가공 영역의 상면에 빛을 조사하는 낙사조명으로 구성될 수 있다.According to another embodiment of the present invention, the illumination may be composed of an oblique illumination which is attached to one end of the camera module and irradiates light on the upper surface of the processing region of the electrode pattern of the flat panel display.

본 발명의 또 다른 일실시예에 따르면, 상기 카메라 모듈은 상기 평판 디스플레이의 전극 패턴을 라인(line) 형태로 촬영하는 라인 CCD를 포함하여 구성된다.According to another embodiment of the present invention, the camera module includes a line CCD for photographing the electrode pattern of the flat panel display in a line form.

본 발명의 또 다른 일실시예에 따르면, 상기 카메라 모듈은 상기 평판 디스플레이의 전극 패턴을 X축 방향으로 촬영하는 제1 카메라 모듈; 상기 평판 디스플레이의 전극 패턴을 Y축 방향으로 촬영하는 제2 카메라 모듈;을 포함하여 구성된다.According to another embodiment of the present invention, the camera module includes a first camera module for photographing the electrode pattern of the flat panel display in the X-axis direction; And a second camera module for photographing the electrode pattern of the flat panel display in the Y-axis direction.

본 발명의 또 다른 일실시예에 따르면, 상기 레이저 모듈은 상기 평판 디스플레이의 전극 패턴을 레이저로 X축 방향과 Y축 방향으로 일정 범위를 제거하여 가공 영역을 생성한다.According to another embodiment of the present invention, the laser module generates a machining area by removing a certain range of the electrode pattern of the flat panel display in the X-axis direction and the Y-axis direction with a laser.

본 발명의 또 다른 일실시예에 따르면, 상기 검사 모듈은 상기 전극 패턴의 가공 영역과 비 가공 영역의 그레이 레벨(Gray level)을 비교하여 상기 평판 디스플레이의 전극 패턴을 검사한다.According to another embodiment of the present invention, the inspection module checks an electrode pattern of the flat panel display by comparing a gray level between a processing region and a non-processing region of the electrode pattern.

본 발명의 또 다른 일실시예에 따르면, 상기 검사 모듈은 상기 전극 패턴의 가공 영역과 비 가공 영역의 그레이 레벨(Gray level)의 차이가 기 설정된 수치의 범위를 벗어나면 불량이 발생한 것으로 판단한다.According to another embodiment of the present invention, the inspection module determines that a failure occurs when the difference between the gray level of the machining area and the non-machining area of the electrode pattern is out of a predetermined range of values.

본 발명의 일실시예에 따른 실시간 검사 기능을 구비한 평판디스플레이 전극 제거 장치의 제어 방법은, 레이저 모듈이 평판 디스플레이의 전극 패턴을 레이저로 일정 범위를 제거하여 가공 영역을 생성하는 단계; 검사 모듈이 상기 전극 패턴의 가공 영역과 비 가공 영역의 투과율 차이를 이용하여 상기 평판 디스플레이의 전극 패턴을 검사하는 단계;를 포함하여 구성된다.According to an embodiment of the present invention, there is provided a method of controlling a flat panel display electrode removing apparatus having a real-time inspection function, the method comprising: generating a processing region by removing a predetermined range of an electrode pattern of a flat panel display by using a laser; And inspecting the electrode pattern of the flat panel display using the difference in transmittance between the machining area and the non-machining area of the electrode pattern.

본 발명의 또 다른 일실시예에 따르면, 상기 가공 영역을 생성하는 단계는 레이저 헤드가 레이저 빔을 유입시키는 단계; 빔 조절 모듈이 상기 레이저 빔을 조절하는 단계; 포커스 렌즈가 상기 레이저 빔의 포커스를 맞추는 단계;를 포함하여 구성된다.According to another embodiment of the present invention, the step of generating the machining area includes the steps of introducing a laser beam into the laser head; Adjusting the laser beam by a beam adjustment module; And focusing a focus of the laser beam on the focus lens.

본 발명의 또 다른 일실시예에 따르면, 상기 전극 패턴을 검사하는 단계는, 조명이 상기 평판 디스플레이에 빛을 조사하는 단계; 카메라 모듈이 상기 평판 디스플레이의 전극 패턴을 촬영하는 단계; 엔코더가 상기 평판 디스플레이 상의 현재 위치 값을 취득하는 단계; PC부가 상기 엔코더로부터 수신한 현재 위치 값에 기초하여 트리거로 이미지 획득 명령을 전달하는 단계; 이미지 획득부가 상기 트리거의 제어에 의해 상기 카메라 모듈에서 촬영된 이미지를 획득하는 단계; 상기 PC부가 상기 획득되는 이미지를 처리하여 상기 평판 디스플레이의 전극 패턴을 검사하는 단계;를 포함하여 구성된다.According to another embodiment of the present invention, the step of inspecting the electrode pattern includes the steps of: illuminating the flat panel display with light; A camera module photographing an electrode pattern of the flat panel display; The encoder obtaining a current position value on the flat panel display; Transferring an image acquisition command to a trigger based on a current position value received from the encoder; An image acquiring unit acquiring an image photographed by the camera module under the control of the trigger; And the PC unit processes the obtained image to inspect the electrode pattern of the flat panel display.

본 발명의 또 다른 일실시예에 따르면, 상기 카메라 모듈이 상기 평판 디스플레이의 전극 패턴을 촬영하는 단계는, 상기 카메라 모듈이 상기 평판 디스플레이의 전극 패턴을 라인(line) 형태로 촬영한다.According to another embodiment of the present invention, in the step of photographing the electrode pattern of the flat panel display, the camera module photographs the electrode pattern of the flat panel display in a line form.

본 발명의 또 다른 일실시예에 따르면, 상기 카메라 모듈이 상기 평판 디스플레이의 전극 패턴을 촬영하는 단계는, 제1 카메라가 상기 평판 디스플레이의 전극 패턴을 X축 방향으로 촬영하는 단계; 제2 카메라가 상기 평판 디스플레이의 전극 패턴을 Y축 방향으로 촬영하는 단계;를 포함하여 구성된다.According to another embodiment of the present invention, the step of photographing the electrode pattern of the flat panel display by the camera module includes the steps of: the first camera photographing the electrode pattern of the flat panel display in the X-axis direction; And the second camera photographs the electrode pattern of the flat panel display in the Y-axis direction.

본 발명의 또 다른 일실시예에 따르면, 상기 평판 디스플레이의 전극 패턴을 검사하는 단계는, 상기 검사 모듈이 상기 전극 패턴의 가공 영역과 비 가공 영역의 그레이 레벨(Gray level)을 비교하여 상기 평판 디스플레이의 전극 패턴을 검사한다.According to another embodiment of the present invention, the step of inspecting the electrode pattern of the flat panel display may include the step of comparing the gray level between the processing region and the non-processing region of the electrode pattern, Is inspected.

본 발명의 또 다른 일실시예에 따르면, 상기 평판 디스플레이의 전극 패턴을 검사하는 단계는, 상기 전극 패턴의 가공 영역과 비 가공 영역의 그레이 레벨(Gray level)의 차이가 기 설정된 수치의 범위를 벗어나면 불량이 발생한 것으로 판단한다.According to another embodiment of the present invention, the step of inspecting the electrode pattern of the flat panel display may include the steps of: determining whether the difference in gray level between the machining area and the non- It is judged that the surface defect has occurred.

본 발명에 따르면 평판 디스플레이의 가공과 동시에 실시간으로 검사를 수행하므로 모든 패널에 대하여 전수 검사가 가능하다.According to the present invention, since inspection is performed in real time simultaneously with processing of a flat panel display, full inspection of all panels is possible.

또한, 본 발명에 따르면 평판 디스플레이 전극의 가공 영역과 비 가공 영역 간의 투과율 차이에 따른 그레이 레벨을 통해 가공의 불량 여부를 판단하여, 평판 디스플레이 가공 검사의 정확도를 보다 향상시킬 수 있다.In addition, according to the present invention, it is possible to determine whether or not the processing is defective through the gray level according to the difference in transmittance between the processing area and the non-processing area of the flat panel display electrode, thereby improving the accuracy of the flat panel display processing inspection.

도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 실시간 검사 기능을 구비한 평판 디스플레이 전극 제거 장치의 구성도이다.
도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 실시간 검사 기능을 구비한 평판 디스플레이 전극 제거 장치의 제어 방법을 설명하기 위한 도면이다.
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 가공 영역과 검사 영역을 도시한 도면이다.
도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 평판 디스플레이의 전극 패턴을 검사하는 방법을 설명하기 위한 도면이다.1 is a configuration diagram of a flat panel display electrode removing apparatus having a real-time inspection function according to an embodiment of the present invention.
2 is a view for explaining a control method of a flat panel display electrode removing apparatus having a real time inspection function according to an embodiment of the present invention.
3 is a view showing a machining area and an inspection area according to an embodiment of the present invention.
4 is a view for explaining a method of inspecting an electrode pattern of a flat panel display according to an embodiment of the present invention.

이하에서는 첨부한 도면을 참조하여 바람직한 본 발명의 일실시예에 대해서 상세히 설명한다. 다만, 실시형태를 설명함에 있어서, 관련된 공지 기능 혹은 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그에 대한 상세한 설명은 생략한다. 또한, 도면에서의 각 구성요소들의 크기는 설명을 위하여 과장될 수 있으며, 실제로 적용되는 크기를 의미하는 것은 아니다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In the following description, well-known functions or constructions are not described in detail to avoid unnecessarily obscuring the subject matter of the present invention. In addition, the size of each component in the drawings may be exaggerated for the sake of explanation and does not mean a size actually applied.

도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 실시간 검사 기능을 구비한 평판 디스플레이 전극 제거 장치의 구성도이다.1 is a configuration diagram of a flat panel display electrode removing apparatus having a real-time inspection function according to an embodiment of the present invention.

도 1을 참조하여 본 발명의 일실시예에 따른 실시간 검사 기능을 구비한 평판 디스플레이 전극 제거 장치를 설명하기로 한다.Referring to FIG. 1, an apparatus for removing a flat panel display electrode having a real-time inspection function according to an embodiment of the present invention will be described.

도 1에 도시된 바와 같이 본 발명에 따른 실시간 검사 기능을 구비한 평판 디스플레이 전극 제거 장치는 레이저 모듈(110) 및 검사 모듈(120)을 포함하여 구성된다.As shown in FIG. 1, the flat panel display electrode removing apparatus having a real-time inspection function according to the present invention includes a laser module 110 and an inspection module 120.

레이저 모듈(110)은 평판 디스플레이(100)의 전극 패턴을 레이저로 일정 범위를 제거하여 가공 영역을 생성한다. 레이저 모듈(110)은 상기 평판 디스플레이의 전극 패턴을 레이저로 X축 방향과 Y축 방향으로 일정 범위를 제거하여 가공 영역을 생성할 수 있다.The laser module 110 removes a certain area of the electrode pattern of the flat panel display 100 with a laser to create a machining area. The laser module 110 can generate a machining area by removing a certain range of the electrode pattern of the flat panel display in the X-axis direction and the Y-axis direction with a laser.

상기 레이저 모듈(110)은 레이저 헤드(111), 빔 조절 모듈(112) 및 포커스 렌즈(113)를 포함하여 구성된다.The laser module 110 includes a laser head 111, a beam adjusting module 112, and a focus lens 113.

보다 상세하게 설명하면, 레이저 헤드(111)는 레이저 빔을 유입시키고, 빔 조절 모듈(112)은 상기 레이저 빔을 조절하며, 포커스 렌즈(113)는 상기 레이저 빔의 포커스를 조절한다.More specifically, the laser head 111 introduces a laser beam, the beam adjusting module 112 adjusts the laser beam, and the focus lens 113 adjusts the focus of the laser beam.

검사 모듈(120)은 상기 레이저 모듈(110)이 가공한 평판 디스플레이의 전극 패턴을 검사한다.The inspection module 120 inspects the electrode pattern of the flat panel display processed by the laser module 110.

이때, 검사 모듈(120)은 상기 전극 패턴의 가공 영역과 비 가공 영역의 투과율 차이를 이용하여 상기 평판 디스플레이의 전극 패턴을 검사한다.At this time, the inspection module 120 inspects the electrode pattern of the flat panel display using the difference in transmittance between the machining area and the non-machining area of the electrode pattern.

이후부터는 검사 모듈(120)에 대하여 보다 상세하게 설명하기로 한다.Hereinafter, the inspection module 120 will be described in more detail.

검사 모듈(120)은 조명(121), 카메라 모듈(122), 엔코더(124), 이미지 획득부(125), 트리거(126) 및 PC부(130)를 포함하여 구성된다.The inspection module 120 includes an illumination unit 121, a camera module 122, an encoder 124, an image acquisition unit 125, a trigger 126, and a PC unit 130.

조명(121)은 평판 디스플레이(100)에 빛을 조사하며, 상기 평판 디스플레이의 전극 패턴의 가공 영역의 전체 영역에 빛을 조사하는 바 타입(Bar type)의 조명으로 구성될 수 있다. 상기 조명(121)은 평판 디스플레이(100)의 하부에서 조사되는 투과조명의 역할을 한다.The illumination unit 121 may be a Bar type illumination unit that irradiates the flat panel display 100 with light and irradiates the entire area of the processing area of the electrode pattern of the flat panel display. The illumination 121 serves as a transmission illumination that is irradiated from the bottom of the flat panel display 100.

또 달리, 상기 조명(121)은 상기 카메라 모듈(122)의 일단에 배치되어, 평판 디스플레이(100)에 빛을 조사하도록 구성될 수 있다. 이와 같이 조명(121)이 평판 디스플레이(100)의 상부에서 빛을 조사하여 낙사조명의 역할을 할 수 있다.Alternatively, the illumination 121 may be disposed at one end of the camera module 122 and configured to illuminate the flat panel display 100 with light. In this way, the illumination light 121 illuminates the upper part of the flat panel display 100 and can function as illumination light.

카메라 모듈(122)은 상기 평판 디스플레이(100)의 전극 패턴을 촬영한다. 이때, 카메라 모듈(122)은 상기 평판 디스플레이(100)의 전극 패턴을 라인(line) 형태로 촬영하며, 이를 위하여 카메라 모듈(122)은 라인 CCD와 렌즈를 포함하여 구성될 수 있다.The camera module 122 photographs the electrode pattern of the flat panel display 100. In this case, the camera module 122 photographs the electrode pattern of the flat panel display 100 in the form of a line. For this purpose, the camera module 122 may include a line CCD and a lens.

이때, 상기 카메라 모듈(122)은 X축 방향으로 이동하며 평판 디스플레이를 촬영하는 제1 카메라 모듈과, Y축 방향으로 이동하며 평판 디스플레이를 촬영하는 제2 카메라 모듈로 구성될 수 있다.Here, the camera module 122 may include a first camera module that moves in the X-axis direction and photographs a flat panel display, and a second camera module that moves in the Y-axis direction and photographs the flat panel display.

엔코더(124)는 상기 평판 디스플레이 상의 현재 위치 값을 취득한다.The encoder 124 obtains the current position value on the flat panel display.

PC부(130)는 상기 엔코더로부터 수신한 현재 위치 값에 기초하여 이미지 획득 명령을 전달하며, 획득되는 이미지를 처리하여 상기 평판 디스플레이의 전극 패턴을 검사한다. The PC unit 130 transmits an image acquisition command based on the current position value received from the encoder, and processes the obtained image to inspect the electrode pattern of the flat panel display.

이미지 획득부(125)는 상기 카메라 모듈(122)에서 촬영된 이미지를 획득한다.The image acquiring unit 125 acquires the photographed image from the camera module 122. [

트리거(126)는 상기 PC부로부터 이미지 획득 명령을 전달받는다.The trigger 126 receives an image acquisition command from the PC unit.

이미지 획득부(125)는 상기 트리거의 제어에 의해 상기 카메라 모듈에서 촬영된 이미지를 획득한다.The image acquiring unit 125 acquires the photographed image from the camera module under the control of the trigger.

PC부(130)는 상기 트리거(126)를 제어하며, 상기 이미지 획득부(125)에서 획득된 이미지를 처리한다.The PC unit 130 controls the trigger 126 and processes the image obtained by the image obtaining unit 125. [

즉, 이미지 처리 PC(132)는 상기 이미지 획득부(125)에서 획득된 이미지를 처리하고, 운영 PC(131)는 상이 처리된 이미지를 이용하여 전극 패턴을 검사한다.That is, the image processing PC 132 processes the image obtained by the image obtaining unit 125, and the operating PC 131 inspects the electrode pattern using the processed image.

보다 상세하게 설명하면, 운영 PC(131)는 상기 전극 패턴의 가공 영역과 비 가공 영역의 투과율 차이에서 발생하는 그레이 레벨(Gray level)을 비교하여 상기 평판 디스플레이의 전극 패턴을 검사하며, 이때 상기 전극 패턴의 가공 영역과 비 가공 영역의 그레이 레벨(Gray level)의 차이가 기 설정된 수치의 범위를 벗어나면 불량이 발생한 것으로 판단하며, 불량이 발생한 것으로 판단하면 알람을 울리도록 구성될 수 있다.More specifically, the operating PC 131 checks the electrode pattern of the flat panel display by comparing the gray level generated from the difference in transmittance between the machining area and the non-machining area of the electrode pattern, It is determined that a failure has occurred when the difference between the gray level of the machining area of the pattern and the gray level of the non-processed area is out of the predetermined range, and an alarm is sounded when it is determined that a failure has occurred.

이때, 그레이 레벨(Gray level)은 운영자가 가공 영역과 비가공 영역의 투과율 차이를 비교하기 위하여 그 투과율 정도를 명암으로 나타내기 위한 것으로서, 운영자의 설정에 의하여 그 명암 레벨의 단위가 설정될 수 있으며, 본 발명의 실시예에서는 투과율 정도를 나타내는 명암을 0 내지 255의 그레이 레벨로 구분하여 표시할 수 있다.At this time, the gray level is for indicating the degree of transmittance of the operator in order to compare the transmittance difference between the machining area and the non-machining area, and the unit of the light and dark level can be set according to the operator's setting , And in the exemplary embodiment of the present invention, the lightness and darkness indicating the degree of transmittance can be divided into gray levels of 0 to 255 and displayed.

예를 들어, 기준 그레이 레벨의 차이가 50으로 설정된 경우, 평판 디스플레이 전극 패턴의 가공 영역의 그레이 레벨이 220이고, 비가공 영역의 그레이 레벨이 150로서, 그레이 레벨 간의 차이가 70로서 기준 그레이 레벨을 초과하므로, 정상 가공이 이루어진 것으로 판단할 수 있다.
For example, when the difference of the reference gray level is set to 50, the gray level of the machining area of the flat panel electrode pattern is 220, the gray level of the machining area is 150, and the difference between the gray levels is 70, It can be judged that the normal machining has been performed.

이후부터는 본 발명의 일실시예에 따른 실시간 검사 기능을 구비한 평판 디스플레이 전극 제거 장치의 제어 방법을 설명하기로 한다.Hereinafter, a method for controlling a flat panel display electrode removing apparatus having a real-time inspection function according to an embodiment of the present invention will be described.

도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 실시간 검사 기능을 구비한 평판 디스플레이 전극 제거 장치의 제어 방법을 설명하기 위한 도면이다.2 is a view for explaining a control method of a flat panel display electrode removing apparatus having a real time inspection function according to an embodiment of the present invention.

도 2에 도시된 바와 같이, 레이저 모듈이 평판 디스플레이(100)의 전극 패턴을 레이저로 일정 범위를 제거하여 가공 영역을 생성하면, 검사 모듈이 상기 전극 패턴의 가공 영역과 비 가공 영역의 투과율 차이를 이용하여 상기 평판 디스플레이의 전극 패턴을 검사한다.2, when the laser module generates a machining area by removing a predetermined range of the electrode pattern of the flat panel display 100 with a laser, the inspection module detects the difference in transmittance between the machining area and the non- The electrode pattern of the flat panel display is inspected.

보다 상세하게 설명하면, 레이저 모듈이 가공 영역을 생성하며, 이때는 레이저 헤드가 레이저 빔을 유입시키고 빔 조절 모듈이 상기 레이저 빔을 조절하며 포커스 렌즈가 상기 레이저 빔의 포커스를 맞추어 가공 영역을 생성한다.More specifically, a laser module generates a machining area, in which a laser head introduces a laser beam, a beam adjustment module controls the laser beam, and a focus lens focuses the laser beam to create a machining area.

상기와 같이 레이저 모듈에 의해 가공 영역이 생성되면, 검사 모듈이 평판 디스플레이(100)의 전극 패턴을 검사한다.When the machining area is created by the laser module as described above, the inspection module inspects the electrode pattern of the flat panel display 100. [

즉, 본 발명에 따르면 레이저 모듈이 평판 디스플레이(100)의 전극 패턴을 가공함과 동시에 실시간으로 검사 모듈이 검사를 진행한다.That is, according to the present invention, the laser module processes the electrode pattern of the flat panel display 100, and the inspection module performs inspection in real time.

보다 상세하게 설명하면, 카메라 모듈(122, 123)이 상기 평판 디스플레이(100)의 전극 패턴을 촬영하고, 엔코더가 상기 평판 디스플레이 상의 현재 위치 값을 취득하고, PC부가 상기 엔코더로부터 수신한 현재 위치 값에 기초하여 트리거로 이미지 획득 명령을 전달하며, 이미지 획득부가 상기 트리거의 제어에 의해 상기 카메라 모듈(122, 123)에서 촬영된 이미지를 획득하며, More specifically, the camera modules 122 and 123 photograph the electrode pattern of the flat panel display 100, the encoder acquires the current position value on the flat panel display, and the PC receives the current position value And an image acquiring unit acquires an image photographed by the camera module (122, 123) under the control of the trigger,

그에 따라, 상기 PC부가 상기 획득되는 이미지를 처리하여 상기 평판 디스플레이의 전극 패턴을 검사한다.Accordingly, the PC unit processes the obtained image to inspect the electrode pattern of the flat panel display.

이때, 카메라 모듈의 제1 카메라 모듈(122)은 상기 레이저 모듈이 가공을 함과 동시에 실시간으로 상기 평판 디스플레이(100)의 전극 패턴을 X축 방향으로 촬영하고, 제2 카메라 모듈(123)은 상기 평판 디스플레이(100)의 전극 패턴을 Y축 방향으로 촬영한다.At this time, the first camera module 122 of the camera module photographs the electrode pattern of the flat panel display 100 in the X-axis direction in real time while processing the laser module, and the second camera module 123 The electrode pattern of the flat panel display 100 is photographed in the Y-axis direction.

또한, 제1 카메라 모듈(122) 및 제2 카메라 모듈(123)은 라인(line) 형태로 촬영하는 라인 CCD를 포함하도록 구성되어, 상기 평판 디스플레이의 전극 패턴을 라인(line) 형태로 촬영한다.The first camera module 122 and the second camera module 123 are configured to include a line CCD for photographing in the form of a line to photograph the electrode pattern of the flat panel display in a line form.

도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 가공 영역과 검사 영역을 도시한 도면이고, 도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 평판 디스플레이의 전극 패턴을 검사하는 방법을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 3 is a view showing a machining area and an inspection area according to an embodiment of the present invention. FIG. 4 is a view for explaining a method of inspecting an electrode pattern of a flat panel display according to an embodiment of the present invention.

도 3에 도시된 바와 같이 레이저 모듈이 평판 디스플레이의 전극 패턴을 가공하여 가공 영역(310)을 형성하면, 검사 모듈이 상기 가공 영역(310) 보다 넓은 검사 영역(320)을 촬영한다.As shown in FIG. 3, when the laser module processes the electrode pattern of the flat panel display to form the processing area 310, the inspection module photographs the inspection area 320 that is wider than the processing area 310.

검사 모듈은 촬영한 이미지를 이용하여 평판 디스플레이의 전극 패턴을 검사한다.The inspection module inspects the electrode pattern of the flat panel display using the photographed image.

보다 상세하게 설명하면, 검사 모듈은 평판 디스플레이의 전극 패턴의 가공 영역(410)과 비 가공 영역(420)의 투과율 차이에서 발생하는 그레이 레벨(Gray level)을 비교하여 상기 평판 디스플레이의 전극 패턴을 검사한다.More specifically, the inspection module compares the gray level generated from the difference in transmittance between the processing region 410 and the non-processing region 420 of the electrode pattern of the flat panel display to check the electrode pattern of the flat panel display do.

이때, 상기 전극 패턴의 가공 영역(410)과 비 가공 영역(420)의 그레이 레벨(Gray level)의 차이가 기 설정된 수치의 범위를 벗어나면 불량이 발생한 것으로 판단한다. 또한, 불량이 발생한 것으로 판단하면 알람을 울리도록 구성될 수 있다.At this time, if the difference between the gray level of the machining area 410 and the non-machining area 420 of the electrode pattern is out of the predetermined range, it is judged that a failure has occurred. Further, it can be configured to sound an alarm if it is determined that a failure has occurred.

상기 그레이 레벨(Gray level)은 운영자가 가공 영역(410)과 비가공 영역(420)의 투과율 차이를 비교하기 위하여 그 투과율 정도를 명암으로 나타낸 것으로, 운영자의 설정에 의하여 그 명암 레벨의 단위가 설정될 수 있다.The gray level represents the degree of transmittance of the operator in order to compare the transmittance difference between the machining area 410 and the non-machining area 420. The gray level indicates the degree of the darkness level .

한편, 본 발명의 실시예에서는 가공 영역(410)과 비가공 영역(420)의 투과율 정도를 나타내는 명암을 0 내지 255의 그레이 레벨로 구분하여 표시할 수 있다.On the other hand, in the embodiment of the present invention, brightness and darkness representing the degree of transmittance of the machining area 410 and the non-machining area 420 can be divided into gray levels of 0 to 255 and displayed.

예를 들어, 기준 그레이 레벨의 차이가 50으로 설정된 경우, 평판 디스플레이 전극 패턴의 가공 영역의 그레이 레벨이 220이고, 비가공 영역의 그레이 레벨이 150로서, 그레이 레벨 간의 차이가 70로서 기준 그레이 레벨을 초과하므로, 검사 모듈은 평판 디스플레이의 전극 패턴에 정상 가공이 이루어진 것으로 판단할 수 있다.For example, when the difference of the reference gray level is set to 50, the gray level of the machining area of the flat panel electrode pattern is 220, the gray level of the machining area is 150, and the difference between the gray levels is 70, The inspection module can judge that the electrode pattern of the flat panel display has been subjected to normal processing.

그러므로, 본 발명에 따르면 평판 디스플레이의 가공과 동시에 실시간으로 검사를 수행하므로 모든 패널에 대하여 전수 검사가 가능하며, 평판 디스플레이 전극의 가공 영역과 비 가공 영역 간의 투과율 차이에 따른 그레이 레벨을 통해 가공의 불량 여부를 판단하여, 평판 디스플레이 가공 검사의 정확도를 보다 향상시킬 수 있다.Therefore, according to the present invention, since the inspection is performed in real time simultaneously with the processing of the flat panel display, it is possible to perform full inspection of all the panels, and the defective processing It is possible to further improve the accuracy of the flat panel display processing inspection.

전술한 바와 같은 본 발명의 상세한 설명에서는 구체적인 실시예에 관해 설명하였다. 그러나 본 발명의 범주에서 벗어나지 않는 한도 내에서는 여러 가지 변형이 가능하다. 본 발명의 기술적 사상은 본 발명의 전술한 실시예에 국한되어 정해져서는 안 되며, 특허청구범위뿐만 아니라 이 특허청구범위와 균등한 것들에 의해 정해져야 한다.In the foregoing detailed description of the present invention, specific examples have been described. However, various modifications are possible within the scope of the present invention. The technical spirit of the present invention should not be limited to the above-described embodiments of the present invention, but should be determined by the claims and equivalents thereof.

100: 평판 디스플레이
110: 레이저 모듈
111: 레이저 헤드
112: 빔 조절 모듈
113: 포커스 렌즈
120: 검사 모듈
121: 조명
122: 카메라 모듈
124: 엔코더
125: 이미지 획득부
126: 트리거
130: PC부
131: 운영 PC
132: 이미지 처리 PC100: Flat panel display
110: laser module
111: laser head
112: beam adjustment module
113: focus lens
120: Inspection module
121: Lighting
122: camera module
124: Encoder
125: Image acquisition unit
126: Trigger
130: PC section
131: Operating PC
132: Image processing PC

Claims (17)

평판 디스플레이의 전극 패턴을 레이저로 일정 범위를 제거하는 레이저 모듈;
상기 전극 패턴의 상기 일정 범위를 제거하여 형성된 가공 영역과 비 가공 영역의 투과율 차이를 이용하여 상기 평판 디스플레이의 전극 패턴을 검사하는 검사 모듈;
을 포함하는 실시간 검사 기능을 구비한 평판 디스플레이 전극 제거 장치.A laser module for removing a predetermined range of the electrode pattern of the flat panel display with a laser;
An inspection module for inspecting an electrode pattern of the flat panel display using a difference in transmittance between a machining area and a non-machining area formed by removing the predetermined range of the electrode pattern;
And a real-time inspection function. 청구항 1에 있어서,
상기 레이저 모듈은,
레이저 빔을 유입시키는 레이저 헤드;
상기 레이저 빔을 조절하는 빔 조절 모듈;
상기 레이저 빔의 포커스를 맞추는 포커스 렌즈;
를 포함하는 실시간 검사 기능을 구비한 평판 디스플레이 전극 제거 장치.The method according to claim 1,
The laser module includes:
A laser head for introducing a laser beam;
A beam adjusting module for adjusting the laser beam;
A focus lens for focusing the laser beam;
And a real-time inspection function. 청구항 1에 있어서,
상기 검사 모듈은,
상기 평판 디스플레이에 빛을 조사하는 조명;
상기 평판 디스플레이의 전극 패턴을 촬영하는 카메라 모듈;
상기 평판 디스플레이 상의 현재 위치 값을 취득하는 엔코더;
상기 엔코더로부터 수신한 현재 위치 값에 기초하여 이미지 획득 명령을 전달하며, 획득되는 이미지를 처리하여 상기 평판 디스플레이의 전극 패턴을 검사하는 PC부;
상기 PC부로부터 이미지 획득 명령을 전달받는 트리거;
상기 트리거의 제어에 의해 상기 카메라 모듈에서 촬영된 이미지를 획득하는 이미지 획득부;
를 포함하는 실시간 검사 기능을 구비한 평판 디스플레이 전극 제거 장치.The method according to claim 1,
The inspection module comprises:
Illumination for illuminating the flat panel display;
A camera module for photographing an electrode pattern of the flat panel display;
An encoder for obtaining a current position value on the flat panel display;
A PC unit for transferring an image acquisition command based on a current position value received from the encoder, and processing an image obtained to inspect an electrode pattern of the flat panel display;
A trigger receiving an image acquisition command from the PC unit;
An image obtaining unit for obtaining an image photographed by the camera module under the control of the trigger;
And a real-time inspection function. 청구항 3에 있어서,
상기 조명은,
상기 평판 디스플레이의 전극 패턴의 가공 영역의 전체 영역에 빛을 조사하는 바 타입(Bar type) 조명인 실시간 검사 기능을 구비한 평판 디스플레이 전극 제거 장치.The method of claim 3,
Wherein the illumination comprises:
And a real-time inspection function, which is Bar type illumination for irradiating light to the entire area of the machining area of the electrode pattern of the flat panel display. 청구항 3에 있어서,
상기 조명은,
상기 카메라 모듈의 일단에 부착되어 상기 평판 디스플레이의 전극 패턴의 가공 영역의 상면에 빛을 조사하는 낙사조명인 실시간 검사 기능을 구비한 평판 디스플레이 전극 제거 장치.The method of claim 3,
Wherein the illumination comprises:
And a real-time inspection function attached to one end of the camera module to illuminate the upper surface of the processing area of the electrode pattern of the flat panel display. 청구항 3에 있어서,
상기 카메라 모듈은,
상기 평판 디스플레이의 전극 패턴을 라인(line) 형태로 촬영하는 라인 CCD를 포함하는 실시간 검사 기능을 구비한 평판 디스플레이 전극 제거 장치.The method of claim 3,
The camera module includes:
And a line CCD for photographing the electrode pattern of the flat panel display in a line form. 청구항 3에 있어서,
상기 카메라 모듈은,
상기 평판 디스플레이의 전극 패턴을 X축 방향으로 촬영하는 제1 카메라 모듈;
상기 평판 디스플레이의 전극 패턴을 Y축 방향으로 촬영하는 제2 카메라 모듈;The method of claim 3,
The camera module includes:
A first camera module for photographing the electrode pattern of the flat panel display in the X-axis direction;
A second camera module for photographing the electrode pattern of the flat panel display in the Y-axis direction; 청구항 1에 있어서,
상기 레이저 모듈은,
상기 평판 디스플레이의 전극 패턴을 레이저로 X축 방향과 Y축 방향으로 일정 범위를 제거하여 가공 영역을 생성하는 실시간 검사 기능을 구비한 평판 디스플레이 전극 제거 장치.The method according to claim 1,
The laser module includes:
And a real-time inspection function for generating a machining area by removing a certain range of the electrode pattern of the flat panel display in the X-axis direction and the Y-axis direction with a laser. 청구항 1에 있어서,
상기 검사 모듈은,
상기 전극 패턴의 가공 영역과 비 가공 영역의 그레이 레벨(Gray level)을 비교하여 상기 평판 디스플레이의 전극 패턴을 검사하는 실시간 검사 기능을 구비한 평판 디스플레이 전극 제거 장치.The method according to claim 1,
The inspection module comprises:
And a real-time inspection function for inspecting an electrode pattern of the flat panel display by comparing a gray level between a machining area of the electrode pattern and a non-processed area. 청구항 1에 있어서,
상기 검사 모듈은,
상기 전극 패턴의 가공 영역과 비 가공 영역의 그레이 레벨(Gray level)의 차이가 기 설정된 수치의 범위를 벗어나면 불량이 발생한 것으로 판단하는 실시간 검사 기능을 구비한 평판 디스플레이 전극 제거 장치.The method according to claim 1,
The inspection module comprises:
And a real-time inspection function for determining that a defect has occurred if the difference between the gray level of the machining area and the non-machining area of the electrode pattern is out of a predetermined range of values. 레이저 모듈이 평판 디스플레이의 전극 패턴을 레이저로 일정 범위를 제거하여 가공 영역을 생성하는 단계;
검사 모듈이 상기 전극 패턴의 가공 영역과 비 가공 영역의 투과율 차이를 이용하여 상기 평판 디스플레이의 전극 패턴을 검사하는 단계;
를 포함하는 실시간 검사 기능을 구비한 평판 디스플레이 전극 제거 장치의 제어 방법.The laser module removing a certain area of the electrode pattern of the flat panel display with a laser to create a machining area;
Inspecting an electrode pattern of the flat panel display using a difference in transmittance between a machining area and a non-machining area of the electrode pattern;
And a real-time inspection function including the real-time inspection function. 청구항 11에 있어서,
상기 가공 영역을 생성하는 단계는,
레이저 헤드가 레이저 빔을 유입시키는 단계;
빔 조절 모듈이 상기 레이저 빔을 조절하는 단계;
포커스 렌즈가 상기 레이저 빔의 포커스를 맞추는 단계;
를 포함하는 실시간 검사 기능을 구비한 평판 디스플레이 전극 제거 장치의 제어 방법.The method of claim 11,
Wherein the step of creating the machining area comprises:
Introducing a laser beam into the laser head;
Adjusting the laser beam by a beam adjustment module;
Focusing a focus of the laser beam;
And a real-time inspection function including the real-time inspection function. 청구항 11에 있어서,
상기 전극 패턴을 검사하는 단계는,
조명이 상기 평판 디스플레이에 빛을 조사하는 단계;
카메라 모듈이 상기 평판 디스플레이의 전극 패턴을 촬영하는 단계;
엔코더가 상기 평판 디스플레이 상의 현재 위치 값을 취득하는 단계;
PC부가 상기 엔코더로부터 수신한 현재 위치 값에 기초하여 트리거로 이미지 획득 명령을 전달하는 단계;
이미지 획득부가 상기 트리거의 제어에 의해 상기 카메라 모듈에서 촬영된 이미지를 획득하는 단계;
상기 PC부가 상기 획득되는 이미지를 처리하여 상기 평판 디스플레이의 전극 패턴을 검사하는 단계;
를 포함하는 실시간 검사 기능을 구비한 평판 디스플레이 전극 제거 장치의 제어 방법.The method of claim 11,
Wherein the step of inspecting the electrode pattern comprises:
Illuminating the flat panel display with light;
A camera module photographing an electrode pattern of the flat panel display;
The encoder obtaining a current position value on the flat panel display;
Transferring an image acquisition command to a trigger based on a current position value received from the encoder;
An image acquiring unit acquiring an image photographed by the camera module under the control of the trigger;
Processing the obtained image to inspect the electrode pattern of the flat panel display;
And a real-time inspection function including the real-time inspection function. 청구항 13에 있어서,상기 카메라 모듈이 상기 평판 디스플레이의 전극 패턴을 촬영하는 단계는,
상기 카메라 모듈이 상기 평판 디스플레이의 전극 패턴을 라인(line) 형태로 촬영하는 실시간 검사 기능을 구비한 평판 디스플레이 전극 제거 장치의 제어 방법.[14] The method of claim 13, wherein the photographing of the electrode pattern of the flat panel display by the camera module comprises:
Wherein the camera module photographs the electrode pattern of the flat panel display in a line form. 청구항 13에 있어서,
상기 카메라 모듈이 상기 평판 디스플레이의 전극 패턴을 촬영하는 단계는,
제1 카메라가 상기 평판 디스플레이의 전극 패턴을 X축 방향으로 촬영하는 단계;
제2 카메라가 상기 평판 디스플레이의 전극 패턴을 Y축 방향으로 촬영하는 단계;
를 포함하는 실시간 검사 기능을 구비한 평판 디스플레이 전극 제거 장치의 제어 방법.14. The method of claim 13,
Wherein the photographing of the electrode pattern of the flat panel display by the camera module comprises:
The first camera capturing the electrode pattern of the flat panel display in the X-axis direction;
The second camera photographs the electrode pattern of the flat panel display in the Y-axis direction;
And a real-time inspection function including the real-time inspection function. 청구항 11에 있어서,
상기 PC부가 상기 획득되는 이미지를 처리하여 상기 평판 디스플레이의 전극 패턴을 검사하는 단계는,
상기 검사 모듈이 상기 전극 패턴의 가공 영역과 비 가공 영역의 그레이 레벨(Gray level)을 비교하여 상기 평판 디스플레이의 전극 패턴을 검사하는 실시간 검사 기능을 구비한 평판 디스플레이 전극 제거 장치의 제어 방법.The method of claim 11,
Wherein the PC unit processes the acquired image to inspect the electrode pattern of the flat panel display,
And a real time inspection function for the inspection module to compare the gray level between the machining area and the non-machining area of the electrode pattern to inspect the electrode pattern of the flat panel display. 청구항 11에 있어서,
상기 PC부가 상기 획득되는 이미지를 처리하여 상기 평판 디스플레이의 전극 패턴을 검사하는 단계는,
상기 전극 패턴의 가공 영역과 비 가공 영역의 그레이 레벨(Gray level)의 차이가 기 설정된 수치의 범위를 벗어나면 불량이 발생한 것으로 판단하는 실시간 검사 기능을 구비한 평판 디스플레이 전극 제거 장치의 제어 방법.
The method of claim 11,
Wherein the PC unit processes the acquired image to inspect the electrode pattern of the flat panel display,
And a real-time inspection function for determining that a defect has occurred if the difference between the gray level of the machining area and the non-machining area of the electrode pattern deviates from a preset range of values.
KR1020130059127A 2013-05-24 2013-05-24 Flat display eldctrode trimmer with real time inspection and control method thereof KR101502430B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020130059127A KR101502430B1 (en) 2013-05-24 2013-05-24 Flat display eldctrode trimmer with real time inspection and control method thereof

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020130059127A KR101502430B1 (en) 2013-05-24 2013-05-24 Flat display eldctrode trimmer with real time inspection and control method thereof

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20140139165A true KR20140139165A (en) 2014-12-05
KR101502430B1 KR101502430B1 (en) 2015-03-17

Family

ID=52459260

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020130059127A KR101502430B1 (en) 2013-05-24 2013-05-24 Flat display eldctrode trimmer with real time inspection and control method thereof

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101502430B1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2021086009A1 (en) * 2019-10-29 2021-05-06 주식회사 와이엘엔터프라이즈 Apparatus and method for forming electrode of display panel

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3693508B2 (en) * 1998-10-28 2005-09-07 株式会社東京精密 Pattern comparison method and visual inspection apparatus
KR20020067184A (en) * 2001-02-15 2002-08-22 주식회사 이오테크닉스 Method and laser machining apparatus for cutting electrodes of plasma display panel
KR100843620B1 (en) * 2007-01-11 2008-07-03 주식회사 코윈디에스티 Microscope unit for the inspection / processing, and, a method

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2021086009A1 (en) * 2019-10-29 2021-05-06 주식회사 와이엘엔터프라이즈 Apparatus and method for forming electrode of display panel
CN114600042A (en) * 2019-10-29 2022-06-07 引领科技有限公司 Display panel electrode forming device and method

Also Published As

Publication number Publication date
KR101502430B1 (en) 2015-03-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR20090028505A (en) End section inspecting apparatus
JP2011089826A (en) Internal surface defect inspection apparatus of screw hole or hole
KR20210144693A (en) Inspection device and inspection method
JP4760029B2 (en) Defect inspection method and defect inspection apparatus
KR101622628B1 (en) Method and apparatus of inspecting a substrate with electronic devices mounted thereon
JP2008051694A (en) Visual inspection method and system of mounting substrate
KR101502430B1 (en) Flat display eldctrode trimmer with real time inspection and control method thereof
JP5042503B2 (en) Defect detection method
JP2008026149A (en) Visual examination device
KR20130056473A (en) Apparatus and method for correction of vibration noise using optical inspection system
JP5281815B2 (en) Optical device defect inspection method and optical device defect inspection apparatus
JP2008180578A (en) Cyclic pattern nonuniformity inspection device
KR20170087328A (en) Vision inspection module and Vision inspection method
JP2011220755A (en) Surface appearance inspection apparatus
JP2014222221A (en) Inspection device of luminous body
KR102038289B1 (en) Apparatus for inspecting welding part based on vision
JP5738628B2 (en) Internal defect inspection apparatus and internal defect inspection method
KR101217174B1 (en) Apparatus for inspecting substrate and method of inspecting substrate
JP6212843B2 (en) Foreign matter inspection device, foreign matter inspection method
CN105092605A (en) Automatic optical detection method used for reversion of detection element
JP2002303581A (en) Panel inspection device and panel inspection method
JP2007198762A (en) Flaw detection method and detector
JP2004212353A (en) Optical inspection apparatus
KR101785069B1 (en) Darkfield illumination device
US8643836B1 (en) Inspection method for inspecting defects of wafer surface

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20180309

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20190311

Year of fee payment: 5

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20200309

Year of fee payment: 6