KR20140121069A - 화상 처리 방법 및 장치 - Google Patents

화상 처리 방법 및 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR20140121069A
KR20140121069A KR20130037254A KR20130037254A KR20140121069A KR 20140121069 A KR20140121069 A KR 20140121069A KR 20130037254 A KR20130037254 A KR 20130037254A KR 20130037254 A KR20130037254 A KR 20130037254A KR 20140121069 A KR20140121069 A KR 20140121069A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
image
filter processing
processing
input image
defect candidate
Prior art date
Application number
KR20130037254A
Other languages
English (en)
Inventor
히데오 나카야
Original Assignee
엘지디스플레이 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 엘지디스플레이 주식회사 filed Critical 엘지디스플레이 주식회사
Priority to KR20130037254A priority Critical patent/KR20140121069A/ko
Publication of KR20140121069A publication Critical patent/KR20140121069A/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T5/00—Image enhancement or restoration
    • G06T5/20—Image enhancement or restoration using local operators
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T5/00—Image enhancement or restoration
    • G06T5/70—Denoising; Smoothing
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00—Image analysis
    • G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/20—Special algorithmic details
    • G06T2207/20024—Filtering details
    • G06T2207/20032—Median filtering

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Image Processing (AREA)

Abstract

본 발명은 입력된 화상에 대해 필터처리창을 이동하면서 필터 처리를 수행하는 필터처리부를 포함하고, 상기 입력된 화상의 단부에서의 필터 처리시, 상기 단부 외측으로 상기 필터처리창의 일부가 위치하고, 상기 단부 내측에서 외측 방향을 따라 화상 신호 변화가 연속성을 갖도록, 상기 단부 외측의 필터처리창의 일부에 정의된 화소에 화상 신호값을 할당하는 화상 처리 장치를 제공한다.

Description

화상 처리 방법 및 장치{Image processing method and apparatus}
본 발명은 화상 처리 방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는, 화상의 단부 처리를 개선하여 화질을 향상시킬 수 있는 화상 처리 방법 및 장치에 관한 것이다.
의료 분야나 디스플레이 분야 등에서는 화질 개선 등을 위해 화상 처리 기술이 많이 사용되고 있다.
일반적인 화상 처리에 있어서, 화상 끝 즉 단부에서 필터 처리 등 공간적 크기를 동반하는 처리를 수행하는 경우에, 도 1에 도시한 바와 같이 화상으로부터 벗어난 필터처리창(FW)의 영역을 처리 대상으로 하여 연산할 필요가 있다.
이때, 연산 정밀도에 영향을 미치지 않도록, 단부 외측의 필터처리창(FW)의 영역에 대해 화소를 외삽하여 채우는 등의 방법으로 연산을 수행하게 된다. 이와 관련하여, 화상 끝에서 접음 처리를 실행하는 방법이 사용될 수 있다.
종래의 접음 처리에서는 미러(mirror) 처리 즉 선대칭 처리를 사용하게 되는데, 이는 화상의 단부를 기준으로 하여 내측의 화소값을 이와 대칭되는 위치의 외측의 화소값으로 할당하게 된다. 즉, X-i = Xi의 관계식에 따라, 단부 외측의 화소값은 대칭되는 위치의 내측의 화소값을 갖게 된다.
그런데, 위와 같은 선대칭 처리가 수행된 경우에는, 화상 신호의 변화가 화상 단부에서 불연속성을 갖게 된다. 즉, 화상의 단부에서 변곡점이 발생되어, 화상 신호의 파형이 단부를 따라 불연속적인 모습을 보이게 된다.
이와 같은 상태에서 필터 처리가 수행되면, 필터 처리 결과가 크게 변동되어 화질에 악영향이 초래되고, 이에 따라 화상 처리의 정밀도가 저하될 수 있게 된다.
이와 관련하여, 디스플레이의 결함 검사에 있어, 선대칭 처리를 기초로 필터 처리가 수행된 경우에, 화상 단부가 얼룩 결함으로 판단되는 경우가 발생하게 된다.
이처럼, 종래의 화상 처리 방법에서는 화상 단부에서 화질의 악영향이 유발됨으로써, 화상 처리의 정밀도가 저하되며, 이에 따른 화상 처리 비용이 증가하는 문제가 발생하게 된다.
본 발명은 필터 처리시 화상의 단부에서의 화질을 개선할 수 있는 방안을 제공하는 데 그 과제가 있다.
전술한 바와 같은 과제를 달성하기 위해, 본 발명은 입력된 화상에 대해 필터처리창을 이동하면서 필터 처리를 수행하는 필터처리부를 포함하고, 상기 입력된 화상의 단부에서의 필터 처리시, 상기 단부 외측으로 상기 필터처리창의 일부가 위치하고, 상기 단부 내측에서 외측 방향을 따라 화상 신호 변화가 연속성을 갖도록, 상기 단부 외측의 필터처리창의 일부에 정의된 화소에 화상 신호값을 할당하는 화상 처리 장치를 제공한다.
여기서, 상기 단부 외측의 필터처리창의 일부에 정의된 화소에는, 상기 입력된 화상의 단부에 위치하는 화소(X0)를 기준으로 점대칭 처리 연산을 통해, 화상 신호값이 할당되며, 상기 점대칭 처리 연산은 X-i = 2X0 - Xi의 수식에 따라 이루어질 수 있다.
상기 필터처리부는 로우패스 필터(low-pass filter) 처리를 수행하여 상기 입력된 화상의 배경화상을 생성하며, 상기 입력된 화상으로부터 상기 배경화상을 차분한 차분화상을 생성하는 차분연산부를 포함할 수 있다.
상기 차분화상에 대해 설정된 문턱값을 기준으로 2치화하고, 상기 2치화된 화상을 기반으로 결함후보영역을 추출하는 결함후보 추출부와; 상기 추출된 결함후보영역에 대해 특징량을 계산하고, 상기 계산된 특징량을 기초로 결함 여부를 판정하는 판정부를 포함할 수 있다.
다른 측면에서, 본 발명은 입력된 화상에 대해 필터처리창을 이동하면서 필터 처리를 수행하는 단계를 포함하고, 상기 입력된 화상의 단부에서의 필터 처리시, 상기 단부 외측으로 상기 필터처리창의 일부가 위치하고, 상기 단부 내측에서 외측 방향을 따라 화상 신호 변화가 연속성을 갖도록, 상기 단부 외측의 필터처리창의 일부에 정의된 화소에 화상 신호값을 할당하는 화상 처리 방법을 제공한다.
여기서, 상기 단부 외측의 필터처리창의 일부에 정의된 화소에는, 상기 입력된 화상의 단부에 위치하는 화소(X0)를 기준으로 점대칭 처리 연산을 통해, 화상 신호값이 할당되며, 상기 점대칭 처리 연산은 X-i = 2X0 - Xi의 수식에 따라 이루어질 수 있다.
상기 필터 처리를 수행하는 단계는 로우패스 필터(low-pass filter) 처리를 수행하여 상기 입력된 화상의 배경화상을 생성하며, 상기 입력된 화상으로부터 상기 배경화상을 차분한 차분화상을 생성하는 단계를 포함할 수 있다.
상기 차분화상에 대해 설정된 문턱값을 기준으로 2치화하고, 상기 2치화된 화상을 기반으로 결함후보영역을 추출하는 단계와; 상기 추출된 결함후보영역에 대해 특징량을 계산하고, 상기 계산된 특징량을 기초로 결함 여부를 판정하는 단계를 포함할 수 있다.
본 발명에 따르면, 화상의 단부를 따라 신호 변화의 연속성이 유지되도록, 필터처리 범위에서 단부 외측에 위치하는 화소에 화상 신호를 할당하게 된다. 특히, 단부 내측에 위치하는 화소와 대칭되는 위치의 화소에 대해, 단부의 화소의 화상 신호값을 기준으로 대칭되는 화상 신호값을 갖도록 점대칭 처리를 하게 된다.
이처럼, 간단한 방법을 통해 필터 처리를 수행함으로써, 화상 단부에서의 화상의 화질이 개선될 수 있게 될 수 있게 되어, 화상 처리의 정밀도 향상 및 비용 절감이 이루어질 수 있게 된다.
도 1은 종래의 필터 처리시의 선대칭 처리 방법을 설명한 도면.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 화상 처리 장치를 개략적으로 도시한 블럭도.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 점대칭 처리 방법을 설명한 도면.
도 4는 필터 처리에 있어 종래 및 본 발명의 실시예에 따른 방법으로 돌출된 영역을 대칭 처리하는 경우에서 생성되는 배경화상 및 차분화상과 차분화상의 신호파형을 도시한 도면.
이하, 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 설명한다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 화상 처리 장치를 개략적으로 도시한 블럭도이고, 도 3은 본 발명의 실시예에 따른 점대칭 처리 방법을 설명한 도면이다.
본 발명의 실시예에 따른 화상 처리 장치(100)는 의료 분야나 디스플레이 분야 등 화상 처리가 필요한 다양한 기술 분야에서 사용될 수 있다. 한편, 본 발명의 실시예에서는, 설명의 편의를 위해, 디스플레이 분야에서 얼룩 결함을 검사하기 위해 사용되는 화상 처리 장치를 예로 든다.
이와 같은 경우에, 도 2를 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 얼룩 검사용 화상 처리 장치(100)는 카메라(110)와 화상처리부(120)를 포함할 수 있다. 한편, 화상 처리 장치(100)는 화상처리부(120)를 통한 얼룩 검사 결과를 시각적으로 표시하는 표시부(160)를 더욱 구비할 수 있다.
카메라(110)는 검사 대상이 되는 디스플레이패널(400)을 촬영하여 화상을 발생시키는 수단에 해당된다. 이와 같이 발생된 화상은 화상처리부(120)에 전송된다.
얼룩 검사를 위해, 디스플레이패널(400)에는 검사용 신호가 인가되어 디스플레이패널(400)은 발광하게 되며, 카메라(110)는 발광 상태의 디스플레이패널(400)을 촬영하게 된다.
여기서, 디스플레이패널(400)로서는 다양한 형태의 표시장치가 사용될 수 있다. 예를 들면, 액정표시장치, 유기발광표시장치, 플라즈마표시장치 등이 사용될 수 있는데, 이에 한정되지는 않는다.
화상처리부(120)는 카메라(110)를 통해 촬영된 화상을 입력받고, 해당 입력 화상을 처리하여 얼룩 결함을 검출하는 기능을 하게 된다.
본 발명의 실시예에 따른 화상처리부(120)는 전처리부(130)와, 결함후보 추출부(140)와, 판정부(150)를 포함할 수 있다.
전처리부(130)는, 필터처리부(131)와 차분연산부(132)를 포함할 수 있다. 한편, 전처리부(130)는 카메라(110)로부터 입력된 화상의 노이즈를 제거하는 기능을 하는 노이즈 제거부(미도시)를 더욱 구비할 수 있다.
노이즈 제거부와 관련하여 예를 들면, 평활화필터, 메디안필터 등을 사용하여, 입력화상의 노이즈를 제거하여 후단의 필터처리부 및 차분연산부(131, 132)에 출력할 수 있다. 한편, 전처리부(130)는, 경우에 따라, 노이즈제거부를 구비하지 않을 수도 있다.
차분연산부(132)는 입력화상으로부터 배경화상을 차분연산하여 차분화상을 출력하게 된다.
이와 같은 차분연산을 통해, 입력화상의 배경 성분이 상쇄된 차분화상이 생성될 수 있게 된다. 따라서, 차분화상에는 배경신호가 제외된 입력신호의 변화 파형이 남겨지게 된다.
전술한 배경화상은 필터처리부(131)에 의해 생성되어 차분연산부(132)로 출력된다. 이와 같은 배경화상 생성에 있어, 필터처리부(131)는 예를 들면 로우패스필터(low-pass filter) 처리를 수행할 수 있다.
특히, 본 발명의 실시예에 따른 필터처리부(131)는 화상의 단부에 대한 필터 처리에 있어, 필터처리창(FW)에서 화상의 단부 외측으로 돌출된 영역에 대해 점대칭 처리를 하여 해당 돌출 영역의 화소값을 할당하게 된다. 이와 관련하여 도 3을 참조하여 보다 상세하게 설명한다.
배경화상 생성을 위한 필터 처리에 있어, 필터처리부(131)는 입력된 화상에 대해 일정크기를 갖는 필터처리창(FW)을 이동하면서 필터처리창(FW)을 단위로 하여 필터 처리를 실행하게 된다. 여기서, 필터처리창(FW)은 적어도 하나의 화소 단위로 이동할 수 있다.
이와 같은 필터처리창(FW)은 n*n의 크기를 가질 수 있고 n은 화상의 화소수에 해당된다. 여기서, n은 3이상의 정수로서 홀수인 것이 바람직한데, 이에 한정되지는 않는다. 본 발명의 실시예에서는, 설명의 편의를 위해, n = 5인 경우를 예로 든다.
화상의 단부에 대한 필터 처리에 있어, 필터처리창(FW)은 화상의 단부에 걸쳐진 상태에 놓이게 된다. 즉, 필터처리창(FW)의 일부는 화상의 외측으로 돌출되어 위치하고, 나머지 일부는 화상 내에 위치하게 된다.
여기서, 단부 처리를 위한 필터처리창(FW)의 가운데 부분은 화상의 단부에 위치하는 화소(X0)에 대응되도록 배치되는 것이 바람직한데, 이에 한정되지는 않는다.
한편, 설명의 편의를 위해, 화상의 단부에 위치하는 화소(X0)는 "0"의 인덱스(index)가 부여되며, 그 내부의 화소들(X1, X2)에 대해서는 위치가 멀어지는 순서에 따라 인덱스를 1씩 증가한다.
그리고, 필터처리창(FW)에서 단부 외측으로 돌출된 영역에서 필터 처리를 위해 가상의 화소(X-1, X-2)가 정의되는데, 이와 같은 외측에 위치한 화소(X-1, X-2)에 대해서는, 단부에 위치하는 화소(X0)를 기준으로 위치가 멀어지는 순서에 따라 인덱스가 1씩 감소한다.
이와 같은 경우에, 본 발명의 실시예에서는,
X-i = X0 - (Xi - X0) = 2X0 - Xi
의 관계식에 따라, 단부 외측의 돌출된 영역의 화소값을 할당하게 된다.
여기서, "i"는 단부에 위치하는 화소(X0)를 기준으로 거리에 따른 화소 위치를 나타내는 인덱스에 해당되며, 화소값은 해당 화소의 계조값에 해당된다.
위와 같은 연산에 따르면, 화상 단부의 화소 X0를 기준으로 서로 대칭되는 위치의 화소들인 X-i 및 Xi가, 화소 X0의 화소값을 기준으로 서로 반대되는 극성의 차분값(Xi - X0)을 갖게 된다. 이와 같은 연산 처리를, 본 발명에서는 점대칭 처리라고 정의한다.
한편, 위와 같은 점대칭 처리를 위한 연산은, 예를 들면, 비트 쉬프트(bit shift)에 의한 2배 곱셈기를 사용하여 수행될 수 있는데, 이에 한정되지는 않는다.
이처럼, 점대칭 처리를 수행함에 따라, 화상 단부의 필터처리창(FW)에서의 화소 신호의 변화는 연속성이 유지될 수 있게 된다. 즉, 화상의 단부에서 변곡점이 발생되지 않아, 화상 신호의 파형이 단부를 따라 연속적인 모습을 보이게 된다.
이와 같은 상태에서 필터 처리가 수행되면, 필터 처리에 따른 신호 변동은 최소화되어 화질의 악영향이 방지되고, 이에 따라 화상 처리의 정밀도가 향상될 수 있게 된다.
이와 관련하여, 도 4를 더욱 참조하여 설명한다. 도 4는 필터 처리에 있어 종래 및 본 발명의 실시예에 따른 방법으로 돌출된 영역을 대칭 처리하는 경우에서 생성되는 배경화상 및 차분화상과 차분화상의 신호파형을 도시한 도면이다. 여기서, 차분화상의 신호 파형은, 점선으로 표시된 화상의 중앙 수평 라인에 대한 신호 파형이다.
도 4를 참조하면, 디스플레이패널을 촬영한 입력화상은 중앙부가 밝고 주위가 어두워지는 경향을 가지며, 중앙부에는 어두운 얼룩이 존재한다.
이때, 좌측의 종래기술을 살펴보면, 차분화상의 좌우 단부에서 신호가 아래로 급격히 떨어짐을 확인할 수 있다. 이와 같은 신호 파형은, 상하 단부에서도 동일하게 발생하게 된다.
이는, 종래의 선대칭 처리를 기초로 한 배경화상 생성시 배경화상의 단부에서의 화소값이 원래 화소값에 비해 밝아지도록 하게 된다. 이에 따라, 차분화상의 단부는 더욱 어두워지게 된다. 따라서, 이와 같은 차분화상의 단부가 후처리 과정에서 얼룩 결함으로 판정될 수 있게 된다.
한편, 우측의 본 발명의 실시예를 살펴보면, 종래에 비해, 차분화상의 단부에서 신호가 아래로 떨어지는 현상이 확연히 개선됨을 알 수 있다.
즉, 점대칭 처리를 기초로 한 배경화상 생성시 배경화상의 단부에서의 화소값은 원래 화소값에 근사하게 된다. 이에 따라, 차분화상의 단부가 어두워지게 되는 현상은 개선된다. 따라서, 차분화상의 단부가 후처리 과정에서 얼룩 결함으로 판정되는 것을 방지할 수 있게 된다.
전술한 바와 같이, 본 발명의 실시예에 따른 점대칭 방법을 통해 단부 외측의 필터처리창 영역의 화소값을 연산하고 이를 기초로 필터 처리를 수행할 수 있다. 이처럼, 간단한 방법을 통해 단부에서의 차분화상의 화질이 개선될 수 있게 되어, 화상 처리의 정밀도 향상 및 비용 절감이 이루어질 수 있게 된다.
전술한 바와 같은 방법에 따라 전처리부(130)에 의해 차분화상이 생성될 수 있게 되며, 이와 같이 생성된 차분화상은 결함후보 추출부(140)에 입력되어 결함후보영역이 추출될 수 있게 된다.
이와 관련하여, 결함후보 추출부(140)는, 예를 들면, 입력된 화상에 대해 특징량을 산출하고, 설정된 문턱값을 기준으로 2치화하여 2치화 화상을 생성하게 된다. 그리고, 2치화 화상을 기반으로, 결함후보영역에 식별 번호를 부여하는 라벨링(labeling)을 수행하여, 결함후보영역을 추출하게 된다.
판정부(150)는, 결함후보 추출부(140)에 의해 추출된 결함후보영역에 대해 최종적으로 얼룩 결함 여부를 판정하게 된다. 이와 관련하여 예를 들면, 판정부(150)는, 식별 번호가 부여된 결함 후보 영역에 대해 특징량(예를 들면, 휘도값이나 명암비, SEMU값 등의 파라미터)을 계산할 수 있다. 여기서, SEMU는 SEMI(Semiconductor Equipment and Materials International) Mura의 약어이다. 그리고, 계산된 특징량을 기초로 결함 여부를 최종적으로 판정할 수 있는데, 이와 같은 판정은 축적된 결함 판정 정보 등를 기초로 이루어질 수 있다.
전술한 바와 같은 과정을 통한 판정부(150)의 결함 판정 결과는 표시부(160)에 전달되어 화면으로 표시될 수 있게 된다.
전술한 바와 같이, 본 발명의 실시예에 따르면, 화상의 단부를 따라 신호 변화의 연속성이 유지되도록, 필터처리 범위에서 단부 외측에 위치하는 화소에 화상 신호를 할당하게 된다. 특히, 단부 내측에 위치하는 화소와 대칭되는 위치의 화소에 대해, 단부의 화소의 화상 신호값을 기준으로 대칭되는 화상 신호값을 갖도록 점대칭 처리를 하게 된다.
이처럼, 간단한 방법을 통해 필터 처리를 수행함으로써, 화상 단부에서의 화상의 화질이 개선될 수 있게 될 수 있게 되어, 화상 처리의 정밀도 향상 및 비용 절감이 이루어질 수 있게 된다.
전술한 본 발명의 실시예는 본 발명의 일예로서, 본 발명의 정신에 포함되는 범위 내에서 자유로운 변형이 가능하다. 따라서, 본 발명은, 첨부된 특허청구범위 및 이와 등가되는 범위 내에서의 본 발명의 변형을 포함한다.
100: 화상 처리 장치 110: 카메라
120: 화상처리부 130: 전처리부
131: 필터처리부 132: 차분연산부
140: 결함후보 추출부 150: 판정부
160: 표시부

Claims (8)

  1. 입력된 화상에 대해 필터처리창을 이동하면서 필터 처리를 수행하는 필터처리부를 포함하고,
    상기 입력된 화상의 단부에서의 필터 처리시,
    상기 단부 외측으로 상기 필터처리창의 일부가 위치하고,
    상기 단부 내측에서 외측 방향을 따라 화상 신호 변화가 연속성을 갖도록, 상기 단부 외측의 필터처리창의 일부에 정의된 화소에 화상 신호값을 할당하는
    화상 처리 장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 단부 외측의 필터처리창의 일부에 정의된 화소에는, 상기 입력된 화상의 단부에 위치하는 화소(X0)를 기준으로 점대칭 처리 연산을 통해, 화상 신호값이 할당되며,
    상기 점대칭 처리 연산은 X-i = 2X0 - Xi의 수식에 따라 이루어지는
    화상 처리 장치.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 필터처리부는 로우패스 필터(low-pass filter) 처리를 수행하여 상기 입력된 화상의 배경화상을 생성하며,
    상기 입력된 화상으로부터 상기 배경화상을 차분한 차분화상을 생성하는 차분연산부를 포함하는 화상 처리 장치.
  4. 제 3 항에 있어서,
    상기 차분화상에 대해 설정된 문턱값을 기준으로 2치화하고, 상기 2치화된 화상을 기반으로 결함후보영역을 추출하는 결함후보 추출부와;
    상기 추출된 결함후보영역에 대해 특징량을 계산하고, 상기 계산된 특징량을 기초로 결함 여부를 판정하는 판정부
    를 포함하는 화상 처리 장치.
  5. 입력된 화상에 대해 필터처리창을 이동하면서 필터 처리를 수행하는 단계를 포함하고,
    상기 입력된 화상의 단부에서의 필터 처리시,
    상기 단부 외측으로 상기 필터처리창의 일부가 위치하고,
    상기 단부 내측에서 외측 방향을 따라 화상 신호 변화가 연속성을 갖도록, 상기 단부 외측의 필터처리창의 일부에 정의된 화소에 화상 신호값을 할당하는
    화상 처리 방법.
  6. 제 5 항에 있어서,
    상기 단부 외측의 필터처리창의 일부에 정의된 화소에는, 상기 입력된 화상의 단부에 위치하는 화소(X0)를 기준으로 점대칭 처리 연산을 통해, 화상 신호값이 할당되며,
    상기 점대칭 처리 연산은 X-i = 2X0 - Xi의 수식에 따라 이루어지는
    화상 처리 방법.
  7. 제 6 항에 있어서,
    상기 필터 처리를 수행하는 단계는 로우패스 필터(low-pass filter) 처리를 수행하여 상기 입력된 화상의 배경화상을 생성하며,
    상기 입력된 화상으로부터 상기 배경화상을 차분한 차분화상을 생성하는 단계를 포함하는 화상 처리 방법.
  8. 제 7 항에 있어서,
    상기 차분화상에 대해 설정된 문턱값을 기준으로 2치화하고, 상기 2치화된 화상을 기반으로 결함후보영역을 추출하는 단계와;
    상기 추출된 결함후보영역에 대해 특징량을 계산하고, 상기 계산된 특징량을 기초로 결함 여부를 판정하는 단계
    를 포함하는 화상 처리 방법.
KR20130037254A 2013-04-05 2013-04-05 화상 처리 방법 및 장치 KR20140121069A (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR20130037254A KR20140121069A (ko) 2013-04-05 2013-04-05 화상 처리 방법 및 장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR20130037254A KR20140121069A (ko) 2013-04-05 2013-04-05 화상 처리 방법 및 장치

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20140121069A true KR20140121069A (ko) 2014-10-15

Family

ID=51992718

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR20130037254A KR20140121069A (ko) 2013-04-05 2013-04-05 화상 처리 방법 및 장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR20140121069A (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2020071234A1 (ja) * 2018-10-05 2021-09-02 日本電産株式会社 画像処理装置、画像処理方法、外観検査システムおよびコンピュータプログラム

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2020071234A1 (ja) * 2018-10-05 2021-09-02 日本電産株式会社 画像処理装置、画像処理方法、外観検査システムおよびコンピュータプログラム

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7783103B2 (en) Defect detecting device, image sensor device, image sensor module, image processing device, digital image quality tester, and defect detecting method
KR101640118B1 (ko) 표시 디바이스의 표시 불균일 검출 방법 및 그 장치
KR101637408B1 (ko) 표시 디바이스의 표시 불균일 검출 방법 및 그 장치
JP2008170325A (ja) シミ欠陥検出方法およびシミ欠陥検出装置
JP2007285754A (ja) 欠陥検出方法および欠陥検出装置
JP2005172559A (ja) パネルの線欠陥検出方法及び装置
JP2009229197A (ja) 線状欠陥検出方法および線状欠陥検出装置
JP5088165B2 (ja) 欠陥検出方法および欠陥検出装置
JP2005345290A (ja) 筋状欠陥検出方法及び装置
KR20140121068A (ko) 평판디스플레이의 얼룩 검사 방법 및 장치
JP2011008482A (ja) 欠陥検出方法、欠陥検出装置、および欠陥検出プログラム
KR102454986B1 (ko) 얼룩 검출 장치 및 이를 이용한 얼룩 검출 방법
JP2008014842A (ja) シミ欠陥検出方法及び装置
KR20140082333A (ko) 평판디스플레이의 얼룩 검사 방법 및 장치
KR20160097651A (ko) 유효화 영상처리기법을 이용한 시료의 패턴 검사 장치 및 방법, 그리고 프로그램을 기록한 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체
KR20140121069A (ko) 화상 처리 방법 및 장치
JP2006226837A (ja) しみ検査方法及びしみ検査装置
JPH11257937A (ja) 欠陥検査方法
TWI477768B (zh) 平面基板之自動光學檢測方法及其裝置
JP2008171142A (ja) シミ欠陥検出方法及び装置
JP2005140655A (ja) シミ欠陥の検出方法及びその検出装置
JP6114559B2 (ja) フラットパネルディスプレイの自動ムラ検出装置
KR20140082335A (ko) 평판디스플레이의 얼룩 검사 방법 및 장치
KR100905155B1 (ko) 얼룩 검사방법, 얼룩 검사장치 및 기록매체
JP2005077181A (ja) 周期性パターンにおけるスジ状ムラの検査方法

Legal Events

Date Code Title Description
WITN Application deemed withdrawn, e.g. because no request for examination was filed or no examination fee was paid