KR20140100846A - 방사성 동위원소를 이용한 방사선 투과 검사 시스템 및 방법 - Google Patents

방사성 동위원소를 이용한 방사선 투과 검사 시스템 및 방법 Download PDF

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KR20140100846A
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Abstract

본 발명은 방사성 동위원소를 이용한 방사선 투과 검사 시스템에 관한 것으로, 이러한 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 방사성 동위원소를 이용한 방사선 투과 검사 시스템은, 대상 물체를 향해 방사성 동위원소에서 방출된 감마선(γ-선)을 조사하는 하나 이상의 감마선 조사기; 상기 대상 물체를 투과한 감마선을 검출하는 검출기; 및 상기 방사성 동위원소의 반감기를 이용하여 상기 대상 물체에 조사되는 감마선을 조절하기 위해 상기 감마선 조사기를 제어하는 컨트롤러를 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명은 방사성 동위원소의 반감기를 이용하여 대상 물체에 조사되는 방사선을 제어하기 때문에 기존보다 방사선 투과 검사 시스템의 효율을 증가시킬 수 있음은 물론이고, 불필요한 손실을 줄일 수 있는 효과가 있다.

Description

방사성 동위원소를 이용한 방사선 투과 검사 시스템 및 방법{RADIOGRAPHIC TESTING SYSTEM AND RADIOGRAPHIC TEST METHOD USING RADIOACTIVE ISOTOPE}
본 발명은 방사성 동위원소를 이용한 방사선 투과 검사 시스템 및 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는, 방사성 동위원소에서 방출되는 방사선을 이용하여 방사선 투과 검사를 실시하기 위한 시스템 및 방법에 관한 것이다.
산업 현장에서 널리 사용되는 비파괴 검사(nondestructive inspection)는 공업제품 내부의 기공(氣孔)이나 균열 등의 결함, 용접부의 내부 결함 등을 제품을 파괴하지 않고 외부에서 검사하는 방법이다. NDT 또는 NDI로도 불린다.
제품 내부에 공동(空洞)이나 크랙(crack) 등의 결함이 있을 경우, 제품을 파괴해서 조사하면 그 유무를 확인할 수 있으나 이러한 파괴검사는 낭비가 많아 모든 제품을 조사하는 데는 적합하지 않다.
그리하여 용접부나 주물 속에 있는 공동이나 크랙을 조사할 때에는 엑스선(X-선), 감마선(γ-선), 베타선(β-선) 등의 방사선을 투과하는 방법이 사용되며, 철판, 단조품, 관재(管材) 등에 발생한 상처나 내부 결함을 조사할 때에는 초음파 탐상(探傷)이나 맴돌이전류 시험이 사용된다.
그리고 제품 표면의 작은 상처 등을 발견하고자 할 때에는 침투법(浸透法)이나 자분탐상법(磁粉探傷法)이 사용된다.
본 발명은 방사선 투과 검사 시스템 및 방법에 관한 것이다. 방사선 투과 방법에서는 보통 엑스선이 사용되는 것으로 알려져 있다. 엑스선을 이용한 방사선 투과 방법은 비파괴 검사를 진행할 제품과 같은 재료로 된 여러 가지 굵기의 철사를 제품과 같은 두께의 평판 위에 올려놓은 상태에서 엑스선으로 사진을 찍는다. 이때, 각 철사의 존재를 알 수 있도록 엑스선의 강도나 노출시간 등을 조절하여 검출 가능한 결함의 크기를 정하여 수행한다.
이는 결함이 있는 부분이, 제품의 정상적인 부분과는 달리, 다른 물질이나 공동으로 되어 있기 때문에 엑스선 통과 정도가 다른 것을 이용한 것으로써, 촬영된 엑스선 필름 위에는 결함 부분이 정상적인 부분과 다른 농도로 감광된다.
한편, 엑스선이 아닌 감마선을 사용하는 경우에는, 이리듐-192(Iridium-192)이나 코발트-60(Co-60)과 같은 방사성 동위원소를 사용하는 경우가 있으며, 감마선 조사기를 통해 감마선을 대상 물체에 조사하여 대상 물체의 결함여부를 검사하여 공동이나 크랙을 검출한다.
그렇지만, 상기와 같이 방사성 동위원소를 이용하여 대상 물체의 결함여부를 검사할 때, 방사성 동위원소에 대한 다양한 조건을 고려하지 않은 상태에서 사용하고 있어 검사결과의 신뢰성이 높지 않은 문제가 있다.
본 발명은 상술한 문제점을 해결하기 위한 것으로, 본 발명은 방사성 동위원소의 다양한 조건을 고려하여 대상 물체에 대한 결함여부를 검사할 수 있는 방사능 투과 검사 시스템 및 방법을 제공하는데 목적이 있다.
이러한 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 방사성 동위원소를 이용한 방사선 투과 검사 시스템은, 대상 물체를 향해 방사성 동위원소에서 방출된 감마선(γ-선)을 조사하는 하나 이상의 감마선 조사기; 상기 대상 물체를 투과한 감마선을 검출하는 검출기; 및 상기 방사성 동위원소의 반감기를 이용하여 상기 대상 물체에 조사되는 감마선을 조절하기 위해 상기 감마선 조사기를 제어하는 컨트롤러(controller)를 포함하는 것을 특징으로 한다.
이때, 상기 방사성 동위원소는 상기 감마선 조사기 내에 수용되고, 상기 컨트롤러는 상기 방사성 동위원소의 반감기 주기를 이용하여 상기 감마선 조사기의 감마선 조사 시간을 제어하는 것이 바람직하며, 상기 컨트롤러는 상기 방사성 동위원소의 제조시점에서 감마선 조사시점까지의 시간 정보를 이용하여 상기 감마선 조사기의 감마선 조사 시간을 제어할 수 있다.
그리고 상기 컨트롤러는, 상기 방사성 동위원소의 제조시점을 포함한 상기 방사성 동위원소의 정보를 저장하는 저장부; 상기 방사성 동위원소의 제조시점에서 상기 감마선 조사기에서 감마선을 조사하는 시점까지의 시간을 산출하는 타이머(timer); 및 상기 타이머에서 산출된 시간을 이용하여 상기 감마선 조사기의 감마선 조사 시간을 연산하고, 상기 감마선 조사기를 제어하는 연산부를 포함하는 것이 바람직하다.
또 상기 컨트롤러는 상기 방사성 동위원소의 반감기, 상기 방사성 동위원소의 종류, 상기 대상 물체의 조건 및 상기 대상 물체와 상기 감마선 조사기 간의 거리 중 어느 하나 이상을 이용하여 상기 감마선 조사기를 제어할 수 있다.
한편, 상기 감마선 조사기는 다수이고, 상기 다수의 감마선 조사기에는 서로 다른 조건의 방사성 동위원소가 수용될 수 있으며, 이 경우 컨트롤러는 다수의 감마선 조사기 중 하나에서 감마선이 조사되도록 상기 방사성 동위원소의 반감기, 상기 방사성 동위원소의 종류, 상기 대상 물체의 조건 및 상기 대상 물체와 상기 감마선 조사기 간의 거리에 대한 정보를 사용자가 확인할 수 있도록 출력하는 것이 바람직하다.
이때, 상기 대상 물체의 조건은 상기 대상 물체의 두께, 상기 대상 물체의 재질, 상기 대상 물체의 밀도 중 어느 하나 이상일 수 있다.
그리고 상기 컨트롤러와 전기적으로 연결되고, 상기 대상 물체의 결함여부를 영상으로 판독하는 영상 판독용 컴퓨터를 더 포함할 수 있다.
여기서, 상기 방사성 동위원소는 Ir-192, Co-60, Cs-137, Tm-170 중 어느 하나 이상인 것이 바람직하다.
한편, 이러한 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 방사성 동위원소를 이용한 방사선 투과 검사 방법은, 감마선(γ-선)이 방출되는 방사성 동위원소의 반감기 주기를 이용하여 상기 방사성 동위원소의 제조시점에서 방출되는 감마선을 대상물체에 조사하는 시점까지의 시간을 산출하는 1단계; 및 상기 산출된 시간을 이용하여 대상물체에 조사되는 감마선을 조절하는 2단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
이때, 상기 1단계는, 상기 방사성 동위원소의 제조시점에서 감마선이 조사되는 시점까지의 시간을 산출하는 1-1단계; 및 상기 산출된 시간을 이용하여 감마선이 조사되는 시간을 연산하는 1-2단계를 포함하고, 상기 2단계는 대상물체에 감마선이 조사되는 시간을 조절할 수 있다.
그리고 상기 2단계는 상기 방사성 동위원소의 반감기, 상기 방사성 동위원소의 종류, 상기 대상 물체의 두께, 상기 대상 물체의 재질, 상기 대상물체의 밀도 및 상기 대상 물체와 상기 방사성 동위원소에서 방출되는 감마선을 대상 물체에 조사하는 감마선 조사기 간의 거리에 대한 정보를 이용하여 감마선을 조절할 수 있다.
본 발명은 방사성 동위원소의 반감기를 이용하여 대상 물체에 조사되는 방사선을 제어하기 때문에 기존보다 방사선 투과 검사 시스템의 효율을 증가시킬 수 있음은 물론이고, 불필요한 손실을 줄일 수 있는 효과가 있다.
또 본 발명은 방사성 동위원소의 종류, 방사성 동위원소의 반감기, 대상 물체의 조건이나 대상 물체와의 거리 등을 고려한 다양한 조건에 기초하여 검사를 함으로써, 검사결과의 신뢰성을 향상시키는 효과가 있다.
도 1은 본 발명의 한 실시예에서 방사성 동위원소를 이용한 방사선 투과 검사 시스템을 도시한 구성도이다.
도 2는 본 발명의 한 실시예에서 방사성 동위원소를 이용한 방사선 투과 검사 시스템을 도시한 블록도이다.
도 3은 본 발명의 한 실시예에 따라 사용자가 대상 물체의 결함여부를 확인할 수 있도록 영상 촬영을 제어하는 화면을 도시한 도면이다.
도 4는 본 발명의 한 실시예에 따른 검출기를 통해 획득된 영상을 도시한 도면이다.
본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 첨부된 도면을 참조하여 더 구체적으로 설명한다.
도 1은 본 발명의 한 실시예에 따른, 방사성 동위원소를 이용한 방사선 투과 검사 시스템(100)을 도시한 구성도이며, 도 2는 방사성 동위원소를 이용한 방사선 투과 검사 시스템(100)을 도시한 블록도이다.
이들 도면을 참조하면, 본 실시예의 방사성 동위원소를 이용한 방사선 투과 검사 시스템(100)은 감마선 조사기(110), 검출기(120) 및 컨트롤러(130)를 포함한다.
감마선 조사기(110)는 대상 물체를 향해 방사성 동위원소에서 방출된 감마선(γ-선)을 조사한다. 이를 위해 감마선 조사기(110)는 내부에 방사성 동위원소를 수용한다. 감마선 조사기(110)는 도 1에 도시된 바와 같이 다수가 구비될 수 있다.
감마선은 엑스선 사용이 어려울 때 사용될 수 있는 강력한 전자파이다. 이때, 감마선의 투과 정도는 감마선의 에너지, 감마선의 종류, 대상 물체의 두께, 대상 물체의 재질 및 대상 물체의 밀도 등에 따라 변할 수 있다. 참고로, 방사성 동위원소(radioactive isotope)는 입자 또는 감마선을 자발적으로 방출하는 성질을 가진 동위원소, 즉 방사성 붕괴를 하는 동위원소를 말하며 RI로 줄여 부르기도 한다.
방사선 투과 검사 시스템(100)에 사용될 수 있는 방사성 동위원소는 Ir-192, Co-60, Cs-137, Tm-170 등이 있을 수 있는데, 본 실시예에서는 Ir-192를 예로 하여 설명한다.
Ir-192에서 나오는 감마선에는 대략 0.065~1.065MeV의 에너지가 포함되나, 강(鋼)에 대한 실효 에너지는 약 300keV이다. 그리고 Ir-192는 차폐가 쉽고 검사 장치를 소형, 경량으로 제조할 수 있어, 비교적 얇은 대상 물체의 검사에 알맞아 널리 사용되고 있다. 특히 본 실시예와 같이 대상 물체에 50 내지 90cm까지 투과가 가능하기 때문에 용접부 검사에도 널리 사용된다.
또 Ir-192의 감마선 세기는 1Ci의 선원으로 1m 거리에서 0.48R/hr이며, 반감기는 74일이다. 대한민국에서는 50Ci가 가장 많이 제조되고 있으며, 선원의 치수는 3Ø × 2㎜이다.
검출기(120)는 감마선 조사기(110)에서 방출되어 대상 물체를 투과한 감마선을 검출하여 대상 물체에 대한 영상정보를 획득한다. 그리고 획득된 영상정보를 컨트롤러(130)로 전송한다.
컨트롤러(130)는 방사성 동위원소의 반감기를 이용하여 감마선 조사기(110)에서 감마선이 조사되도록 감마선 조사기(110)를 제어한다. 이를 위해 컨트롤러(130)는 저장부(131), 타이머(timer, 132) 및 연산부(133)를 포함한다.
저장부(131)는 감마선 조사기(110) 내에 수용된 방사성 동위원소의 종류, 방사성 동위원소의 반감기 및 방사성 동위원소의 제조시점 등 방사성 동위원소의 정보가 데이터베이스화되어 저장된다. 그리고 저장부(131)에 저장된 방사성 동위원소의 정보는 상기에서 설명한 Ir-192에 대한 정보뿐 아니라, Co-60, Cs-137, Tm-170에 대한 정보 등 다양한 방사성 동위원소의 정보가 저장되는 것이 바람직하다.
타이머(132)는 저장부(131)에 저장된 방사성 동위원소의 제조시점에서부터 감마선 조사기(110)에서 감마선을 조사하는 시점까지의 시간을 산출한다.
연산부(133)는 타이머(132)에서 산출된 시간과 방사성 동위원소의 제조시점의 정보를 이용하여 감마선 조사기(110)가 감마선을 조사하는 시간을 연산한다.
이렇게 컨트롤러(130)는 상기와 같은 구성을 이용하여 방사성 동위원소의 종류와 방사성 동위원소의 반감기를 이용해서 감마선 조사기(110)가 감마선을 조사하는 시간을 조절한다. 일례로, 제조시점과 감마선 조사 시점이 같을 때, 컨트롤러(130)는 감마선 조사기(110)에서 감마선을 a시간 동안 조사하도록 제어하였다면, 감마선 조사 시점이 방사성 동위원소의 반감기가 막 지났을 때는 감마선을 2×a시간 동안 조사하도록 컨트롤러(130)는 감마선 조사기(110)를 제어한다.
이렇게 감마선 조사기(110)에서 조사되는 감마선의 시간을 제어하여 대상 물체를 통과하는 감마선의 정도가 일정하도록 함으로써, 대상 물체를 투과하여 검출기(120)를 통해 획득되는 영상의 품질을 유지할 수 있다.
그리고 컨트롤러(130)는 상기와 같이, 방사성 동위원소의 반감기만을 이용하여 감마선 조사기(110)를 제어하는 것뿐만 아니라, 방사성 동위원소의 종류, 대상 물체의 조건 및 대상 물체와 감마선 조사기(110) 간의 거리 등에 따라 대상 물체에 조사되는 감마선의 세기(intensity)나 조사 시간 등을 조절함으로써, 감마선 조사기(110)를 제어할 수 있다.
즉 Ir-192, Co-60, Cs-137, Tm-170 등의 방사성 동위원소는 종류에 따라 각각이 방출하는 감마선의 세기 등의 정도가 다르기 때문에, 대상 물체에 조사되도록 하는 감마선의 정도가 미리 설정된다. 그에 따라 기 설정된 기준에 맞춰 방사성 동위원소의 종류에 따라 감마선 조사기(110)에서 감마선을 조사하는 시간을 제어하여, 대상 물체에 조사되는 감마선의 정도를 제어한다.
그리고 대상 물체의 조건은 대상 물체의 재질이나 종류, 대상 물체의 밀도, 대상 물체의 두께 등을 의미하며, 이러한 대상 물체의 조건에 따라 대상 물체에 조사되어야 하는 감마선의 정도에 따라 컨트롤러(130)는 감마선 조사기(110)를 제어한다.
이때, 상기와 같은 대상 물체의 조건은 컨트롤러(130)의 저장부(131)에 데이터베이스화되어 저장되어 있을 수 있으며, 사용자가 대상 물체에 방사선 투과 검사를 실시하기 전에 입력할 수도 있다. 그리도 도 3에 도시된 바와 같이, 사용자가 대상 물체의 결함여부를 확인하기 위해 영상을 촬영하는 상황을 확인하도록 할 수 있다.
한편, 도 1에 도시된 바와 같이 감마선 조사기(110)는 다수가 구비될 수 있다. 컨트롤러(130)는 다수의 감마선 조사기(110) 중 하나 이상이 선택되도록 해당 정보를 사용자가 확인할 수 있게 출력하는 것이 바람직하다. 다수의 감마선 조사기(110) 각각에는 동일한 방사성 동위원소가 구비될 수 있지만, 서로 다른 조건의 방사성 동위원소가 구비될 수도 있다.
그러므로 도 3에 도시된 바와 같이, 필요에 따라 사용자가 다수의 감마선 조사기(110)를 선택할 수 있도록 감마선 조사기(110)에 수용된 방사성 동위원소의 정보, 즉 방사성 동위원소의 반감기 관련 정보(제조시점부터 반감기까지 남은 시간 등), 방사성 동위원소의 종류 등에 대한 정보를 사용자가 확인할 수 있도록 출력할 수 있다.
또한, 필요에 따라 검출기(120) 또한 다수 개일 수 있고, 사용자가 다수의 검출기(120)를 선택할 수 있도록 각각의 검출기(1200에 대한 간략한 정보를 출력할 수 있다.
이를 위해 컨트롤러(130) 자체에 입력부(미도시)나 출력부(미도시)가 구비될 수 있으며, 컨트롤러(130)의 입력부를 통해 대상 물체의 조건을 입력하거나, 도 4에 도시된 바와 같이 출력부를 통해 검출기(120)에서 검출되어 획득된 영상을 사용자가 확인할 수 있게 출력할 수 있다. 그리고 필요에 따라 대상 물체의 결함을 더욱 쉽게 확인할 수 있도록 획득된 영상을 소프트웨어적으로 변환할 수 있다.
이와 더불어, 컨트롤러(130)에 대상 물체에 대한 조건을 입력하거나 대상 물체의 결함여부를 판독하기 위한 영상 판독용 컴퓨터(140)가 더 포함될 수 있다. 영상 판독용 컴퓨터(140)는 컨트롤러(130)와 전기적으로 연결되어 컨트롤러(130)로부터 영상을 수신하여 대상 물체의 결함여부를 판독할 수 있다.
즉 대상 물체를 투과한 감마선을 검출기(120)가 검출하여 대상 물체에 대한 영상정보가 생성되고, 생성된 영상정보는 검출기(120)에서 컨트롤러(130)로 전송된다. 그리고 컨트롤러(130)를 통해 사용자가 확인할 수 있도록 영상정보가 디스플레이장치 등을 통해 출력될 수 있다. 또는 영상 판독용 컴퓨터(140)로 다시 전송되어, 영상 판독용 컴퓨터(140)에서 대상 물체의 결함여부를 판단할 수도 있다.
위에서 설명한 바와 같이 본 발명에 대한 구체적인 설명은 첨부된 도면을 참조한 실시예에 의해서 이루어졌지만, 상술한 실시예는 본 발명의 바람직한 예를 들어 설명하였을 뿐이므로, 본 발명이 상기 실시예에만 국한되는 것으로 이해돼서는 안 되며, 본 발명의 권리범위는 후술하는 청구범위 및 그 등가개념으로 이해되어야 할 것이다.
100: 방사선 투과 검사 시스템 110: 감마선 조사기
120: 검출기 130: 컨트롤러
131: 저장부 132: 타이머
133: 연산부 140: 영상 판독용 컴퓨터

Claims (13)

  1. 대상 물체를 향해 방사성 동위원소에서 방출된 감마선(γ-선)을 조사하는 하나 이상의 감마선 조사기;
    상기 대상 물체를 투과한 감마선을 검출하는 검출기; 및
    상기 방사성 동위원소의 반감기를 이용하여 상기 대상 물체에 조사되는 감마선을 조절하기 위해 상기 감마선 조사기를 제어하는 컨트롤러를 포함하는 것을 특징으로 하는 방사성 동위원소를 이용한 방사선 투과 검사 시스템.
  2. 청구항 1에 있어서,
    상기 방사성 동위원소는 상기 감마선 조사기 내에 수용되고,
    상기 컨트롤러는 상기 방사성 동위원소의 반감기 주기를 이용하여 상기 감마선 조사기의 감마선 조사 시간을 제어하는 것을 특징으로 하는 방사성 동위원소를 이용한 방사선 투과 검사 시스템.
  3. 청구항 2에 있어서,
    상기 컨트롤러는 상기 방사성 동위원소의 제조시점에서 감마선 조사시점까지의 시간 정보를 이용하여 상기 감마선 조사기의 감마선 조사 시간을 제어하는 것을 특징으로 하는 방사성 동위원소를 이용한 투과 검사 시스템.
  4. 청구항 2에 있어서,
    상기 컨트롤러는,
    상기 방사성 동위원소의 제조시점을 포함한 상기 방사성 동위원소의 정보를 저장하는 저장부;
    상기 방사성 동위원소의 제조시점에서 상기 감마선 조사기에서 감마선을 조사하는 시점까지의 시간을 산출하는 타이머; 및
    상기 타이머에서 산출된 시간을 이용하여 상기 감마선 조사기에서 감마선 조사 시간을 연산하고, 상기 감마선 조사기를 제어하는 연산부를 포함하는 것을 특징으로 하는 방사성 동위원소를 이용한 방사선 투과 검사 시스템.
  5. 청구항 1에 있어서,
    상기 컨트롤러는 상기 방사성 동위원소의 반감기, 상기 방사성 동위원소의 종류, 상기 대상 물체의 조건 및 상기 대상 물체와 상기 감마선 조사기 간의 거리 중 어느 하나 이상을 이용하여 상기 감마선 조사기를 제어하는 것을 특징으로 하는 방사성 동위원소를 이용한 방사선 투과 검사 시스템.
  6. 청구항 1에 있어서,
    상기 감마선 조사기는 다수이고,
    상기 다수의 감마선 조사기에는 서로 다른 조건의 방사성 동위원소가 수용되는 것을 특징으로 하는 방사성 동위원소를 이용한 방사선 투과 검사 시스템.
  7. 청구항 6에 있어서,
    상기 컨트롤러는 상기 다수의 감마선 조사기 중 하나에서 감마선이 조사되도록 상기 방사성 동위원소의 반감기, 상기 방사성 동위원소의 종류, 상기 대상 물체의 조건 및 상기 대상 물체와 상기 감마선 조사기 간의 거리에 대한 정보를 사용자가 확인할 수 있도록 출력하는 것을 특징으로 하는 방사성 동위원소를 이용한 방사선 투과 검사 시스템.
  8. 청구항 5 또는 청구항 7에 있어서,
    상기 대상 물체의 조건은 상기 대상 물체의 두께, 상기 대상 물체의 재질 및 상기 대상 물체의 밀도 중 어느 하나 이상인 것을 특징으로 하는 방사성 동위원소를 이용한 방사선 투과 검사 시스템.
  9. 청구항 7에 있어서,
    상기 컨트롤러와 전기적으로 연결되고, 상기 대상 물체의 결함여부를 영상으로 판독하는 영상 판독용 컴퓨터를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 방사성 동위원소를 이용한 방사선 투과 검사 시스템.
  10. 청구항 1에 있어서,
    상기 방사성 동위원소는 Ir-192, Co-60, Cs-137, Tm-170 중 어느 하나 이상인 것을 특징으로 하는 방사성 동위원소를 이용한 방사선 투과 검사 시스템.
  11. 감마선(γ-선)이 방출되는 방사성 동위원소의 반감기 주기를 이용하여 상기 방사성 동위원소의 제조시점에서 방출되는 감마선을 대상물체에 조사하는 시점까지의 시간을 산출하는 1단계; 및
    상기 산출된 시간을 이용하여 대상물체에 조사되는 감마선을 조절하는 2단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방사성 동위원소를 이용한 방사선 투과 검사 방법.
  12. 청구항 11에 있어서,
    상기 1단계는,
    상기 방사성 동위원소의 제조시점에서 감마선이 조사되는 시점까지의 시간을 산출하는 1-1단계; 및
    상기 산출된 시간을 이용하여 감마선이 조사되는 시간을 연산하는 1-2단계를 포함하고,
    상기 2단계는 대상물체에 감마선이 조사되는 시간을 조절하는 것을 특징으로 하는 것을 특징으로 하는 방사성 동위원소를 이용한 방사선 투과 검사 방법.
  13. 청구항 11에 있어서,
    상기 2단계는 상기 방사성 동위원소의 반감기, 상기 방사성 동위원소의 종류, 상기 대상 물체의 두께, 상기 대상 물체의 재질, 상기 대상물체의 밀도 및 상기 대상 물체와 상기 방사성 동위원소에서 방출되는 감마선을 대상 물체에 조사하는 감마선 조사기 간의 거리에 대한 정보를 이용하여 감마선을 조절하는 것을 특징으로 하는 방사선 투과 검사 방법.
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