KR20140083693A - Photosensitive resin composition for insulating film of display device, insulating film using the same, and display device using the same - Google Patents

Photosensitive resin composition for insulating film of display device, insulating film using the same, and display device using the same Download PDF

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김대윤
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송재환
이종화
이진영
홍충범
황은하
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Abstract

The present invention relates to a positive-type photosensitive resin composition comprising (A) alkali-soluble resin, (B) a photosensitive diazoquinone compound, (C) siloxane-containing particles having a specific surface area of 100-400 m^2/g, and (D) a solvent; and to an insulation film and a display device using the photosensitive resin composition.

Description

표시장치 절연막용 감광성 수지 조성물, 및 이를 이용한 표시장치 절연막 및 표시장치{PHOTOSENSITIVE RESIN COMPOSITION FOR INSULATING FILM OF DISPLAY DEVICE, INSULATING FILM USING THE SAME, AND DISPLAY DEVICE USING THE SAME}TECHNICAL FIELD [0001] The present invention relates to a photosensitive resin composition for a display device insulating film, and a display device using the same. [0001] The present invention relates to a photosensitive resin composition for a display device,

본 기재는 표시장치 절연막용 감광성 수지 조성물, 이를 이용한 표시장치 절연막 및 표시장치에 관한 것이다.The present invention relates to a photosensitive resin composition for a display device insulating film, a display device insulating film and a display device using the same.

종래부터 반도체 장치의 표면 보호막 및 층간 절연막에는 우수한 내열성과 전기 특성, 기계 특성 등을 갖는 폴리이미드 수지가 사용되고 있다.  이러한 폴리이미드 수지는 최근 감광성 폴리이미드 전구체 조성물의 형태로 사용하여, 도포가 용이하며, 상기 폴리이미드 전구체 조성물을 반도체 장치 상에 도포한 후, 자외선에 의한 패터닝, 현상, 열 이미드화 처리 등을 실시하여 표면 보호막, 층간 절연막 등을 쉽게 형성시킬 수 있다.  따라서, 종래 비감광성 폴리이미드 전구체 조성물에 비하여 대폭적인 공정 단축이 가능해진다는 특징을 갖고 있다.  BACKGROUND ART Conventionally, a polyimide resin having excellent heat resistance, electrical characteristics, and mechanical characteristics has been used for a surface protective film and an interlayer insulating film of a semiconductor device. Such a polyimide resin has recently been used in the form of a photosensitive polyimide precursor composition and is easy to apply. After coating the polyimide precursor composition on a semiconductor device, the polyimide resin is subjected to ultraviolet ray patterning, development, thermal imidization, and the like A surface protective film, an interlayer insulating film and the like can be easily formed. Therefore, it has a feature that a process can be significantly shortened compared with the conventional non-photosensitive polyimide precursor composition.

감광성 폴리이미드 전구체 조성물은 노광된 부분이 현상에 의해 용해되는 포지티브형과 노광된 부분이 경화되어 남는 네가티브형이 있는데, 포지티브형의 경우 무독성인 알칼리 수용액을 현상액으로 사용할 수 있어 바람직하다.  포지티브형 감광성 폴리이미드 전구체 조성물은 폴리이미드 전구체인 폴리아미드산, 감광성 물질인 디아조나프토퀴논 등을 포함한다.  그러나 포지티브형 감광성 폴리이미드 전구체 조성물은 사용된 폴리아미드산의 카르본산이 알칼리에 대한 용해도가 너무 커서 원하는 패턴을 얻지 못하는 문제점이 있다.  이를 해결하기 위하여 폴리아미드산에 에스테르 결합을 통해서 수산기 1개 이상을 갖는 알코올 화합물을 반응시키는 내용(일본 특개 평10-307393호 참조) 등 카르본산 대신에 페놀성 수산기를 도입한 물질이 제안되었으나, 이 물질은 현상성이 불충분하며 막감소나 기재로부터 수지가 박리되는 문제점이 있다. The photosensitive polyimide precursor composition has a positive type in which the exposed portion is dissolved by development and a negative type in which the exposed portion is cured, and in the case of the positive type, a non-toxic alkaline aqueous solution can be used as a developer. The positive photosensitive polyimide precursor composition includes polyamic acid which is a polyimide precursor, diazonaphthoquinone which is a photosensitive material, and the like. However, the positive photosensitive polyimide precursor composition has a problem that a desired pattern can not be obtained because the solubility of the carboxylic acid of the polyamic acid used in the alkali is too high. To solve this problem, there has been proposed a material in which a phenolic hydroxyl group is introduced in place of carboxylic acid such as the content of reacting an alcohol compound having at least one hydroxyl group with an ester bond to a polyamic acid (see JP-A-10-307393) This material has insufficient developability and has a problem that the film is peeled off or the resin peels off from the substrate.

다른 방법으로 폴리벤조옥사졸 전구체에 디아조나프토퀴논 화합물을 혼합한 재료(일본특허공고 소63-96162호 공보)는 최근 주목받고 있으나 폴리벤조옥사졸 전구체 조성물을 실제로 사용하는 경우, 특히 현상시의 미노광부의 막감소량이 크기 때문에 현상 후의 원하는 패턴을 얻기 어렵다. 이를 개선하기 위해 폴리벤조옥사졸 전구체의 분자량을 크게 하면 미노광부의 막감소량은 작아지나 현상시 노광부에 현상 잔여물(스컴)이 발생하여 해상도가 불량해지며 노광부의 현상 시간이 길어지는 문제가 있었다. 이런 문제를 해결하기 위하여, 폴리벤조옥사졸 전구체 조성물에 특정한 페놀 화합물을 첨가함으로써 현상시의 미노광부의 막 감소량이 억제되는 것이 보고되어 있다(일본특허공개 평9-302221호 및 일본특허공개 제2000-292913호). 그러나 이 방법으로는 미노광부의 감소량을 억제하는 효과가 불충함에 따라, 현상 잔여물(스컴)을 발생시키지 않으면서, 막 감소 억제 효과를 크게 하기 위한 연구가 계속 요구되고 있다. 또한 용해도를 조절하기 위하여 사용하는 페놀이 열경화시의 높은 온도에서 분해하거나 부반응을 일으키거나 하는 등의 문제를 일으켜 결과적으로 얻어지는 경화막의 기계적 물성에 큰 손상을 입히기 때문에 이를 대체할 수 있는 용해조절제의 연구 또한 계속 요구되고 있다. Another method in which a diazonaphthoquinone compound is mixed with a polybenzoxazole precursor (Japanese Patent Publication No. 63-96162) has recently attracted attention, but when a polybenzoxazole precursor composition is actually used, It is difficult to obtain a desired pattern after development because the amount of decrease in the film thickness of the unexposed portion is large. If the molecular weight of the polybenzoxazole precursor is increased, the amount of decrease in the film thickness of the unexposed portion is reduced. However, a phenomenon (scum) is generated in the exposed portion during development, resulting in poor resolution and a longer developing time of the exposed portion there was. To solve such a problem, it has been reported that the addition of a specific phenol compound to the polybenzoxazole precursor composition suppresses the amount of reduction of the film in the unexposed area at the time of development (JP-A-9-302221 and 2000 -292913). However, with this method, there is insufficient effect of suppressing the amount of reduction of the unexposed portion, research for increasing the film reduction suppression effect without generating a developing residue (scum) has been continuously required. In addition, since the phenol used for controlling the solubility causes problems such as decomposition at a high temperature at the time of thermosetting or side reaction, resulting in a serious damage to the mechanical properties of the resultant cured film, a dissolution control agent Research is also required.

한편 디스플레이 장치 분야에서도 상기의 폴리벤조옥사졸 전구체를 포함하는 포지티브 감광성 수지 조성물을 유기절연막 혹은 격벽재료로서 적용할 수 있다. 디스플레이 장치 중의 하나인 액정디스플레이 장치는 경량화, 박형화, 저가, 저소비 전력 구동화 및 우수한 집적회로와의 접합성 등의 장점을 가지고 있어 노트북 컴퓨터, 모니터 및 TV화상용으로 그 사용범위가 확대되고 있다. 이와 같은 액정디스플레이 장치는 블랙매트릭스, 컬러필터 및 ITO 화소전극이 형성된 하부 기판과, 액정층, 박막트랜지스터, 축전캐패시터층으로 구성된 능동회로부와 ITO 화소전극이 형성된 상부의 기판을 포함하여 구성된다.  컬러 필터는 화소 사이의 경계부를 차광하기 위해서 투명 기판 상에 정해진 패턴으로 형성된 블랙 매트릭스층 및 각각의 화소를 형성하기 위해 복수의 색(통상적으로, 적(R), 녹(G), 청(B)의 3원색)을 정해진 순서로 배열한 화소부가 차례로 적층된 구조를 취하고 있다. In the field of display devices, the positive photosensitive resin composition containing the polybenzoxazole precursor can be applied as an organic insulating film or a barrier rib material. The liquid crystal display device, which is one of the display devices, has advantages such as lightness, thinness, low cost, low power consumption driving and bonding with an excellent integrated circuit, and its use range is expanding for notebook computers, monitors and TV images. Such a liquid crystal display device includes a lower substrate on which a black matrix, a color filter, and ITO pixel electrodes are formed, and an upper substrate on which an active circuit portion composed of a liquid crystal layer, a thin film transistor, and a capacitor layer and an ITO pixel electrode are formed. The color filter includes a black matrix layer formed in a predetermined pattern on a transparent substrate so as to shield the boundary between pixels and a plurality of colors (typically red (R), green (G), blue ) Are arrayed in a predetermined order, and the pixel portions are stacked in this order.

또한 최근 활발히 개발되고 있는 유기발광다이오드(organic light emitting diode, OLED)의 경우에도 화소화된 장치를 구성하기 위해서는 각각의 유기 EL 소자가 매트릭스 형태의 화소로서 배열될 수 있으며, 이들 화소가 동일한 색상을 방출하도록 제조하여 단색표시 장치를 생산하거나 다양한 색상을 방출하도록 적(R), 녹(G), 청(B)의 3원색으로 배열할 수도 있다.In addition, in the case of an organic light emitting diode (OLED) which has been actively developed recently, each organic EL element may be arranged as a matrix-shaped pixel in order to constitute a fluorescent device, (R), green (G), and blue (B) colors so as to emit various colors.

본 발명의 일 구현예는 잔막율, 감도, 및 유전율이 우수하면서 노광부의 잔사 발생률이 낮은 표시장치 포지티브형 감광성 수지 조성물을 제공하기 위한 것이다.An embodiment of the present invention is to provide a positive photosensitive resin composition for a display device having a high residual film ratio, a high sensitivity and a high dielectric constant, and a low residual rate of the exposed portion.

본 발명의 다른 일 구현예는 상기 포지티브형 감광성 수지 조성물을 이용한 절연막을 제공하기 위한 것이다.Another embodiment of the present invention is to provide an insulating film using the above positive photosensitive resin composition.

본 발명의 또 다른 일 구현예는 상기 절연막을 포함하는 표시장치를 제공하기 위한 것이다.Another embodiment of the present invention is to provide a display device including the insulating film.

본 발명의 일 구현예는 (A) 알칼리 가용성 수지, (B) 감광성 디아조퀴논 화합물, (C) 비표면적이 100 내지 400 m2/g인 실록산 함유 입자, 및 (D) 용매를 포함하는 포지티브형 감광성 수지 조성물을 제공한다.One embodiment of the present invention relates to a photosensitive composition comprising (A) an alkali-soluble resin, (B) a photosensitive diazoquinone compound, (C) a siloxane-containing particle having a specific surface area of 100 to 400 m 2 / g, and (D) Type photosensitive resin composition.

상기 실록산 함유 입자(C)는 비표면적이 100 내지 300 m2/g일 수 있다.The siloxane-containing particles (C) may have a specific surface area of 100 to 300 m 2 / g.

상기 알칼리 가용성 수지(A)는 폴리벤조옥사졸 전구체, 폴리아믹산, 폴리이미드 또는 이들의 조합일 수 있다.The alkali-soluble resin (A) may be a polybenzoxazole precursor, a polyamic acid, a polyimide, or a combination thereof.

상기 실록산 함유 입자는 하기 화학식 1로 표시되는 것일 수 있다. The siloxane-containing particles may be represented by the following formula (1).

[화학식 1][Chemical Formula 1]

RmSi(OR1)4-m R m is Si (OR 1 ) 4-m

상기 화학식 1에서, R은 수소 원자, 히드록시기, 치환 또는 비치환된 C1 내지 C30 알킬기, 치환 또는 비치환된 C2 내지 C30 알케닐기, 치환 또는 비치환된 C2 내지 C30 알키닐기, 치환 또는 비치환된 C3 내지 C30 사이클로알킬기, 치환 또는 비치환된 C3 내지 C30 사이클로알케닐기, 치환 또는 비치환된 C3 내지 C30 사이클로알키닐기, 치환 또는 비치환된 C6 내지 C30 아릴기, 또는 이들의 조합일 수 있고, R1은 치환 또는 비치환된 C1 내지 C30 알킬기, 치환 또는 비치환된 C2 내지 C30 알케닐기, 치환 또는 비치환된 C2 내지 C30 알키닐기, 치환 또는 비치환된 C3 내지 C30 사이클로알킬기, 치환 또는 비치환된 C3 내지 C30 사이클로알케닐기, 치환 또는 비치환된 C3 내지 C30 사이클로알키닐기, 치환 또는 비치환된 C6 내지 C30 아릴기, 또는 이들의 조합일 수 있으며, m은 1 내지 3의 정수일 수 있다.In Formula 1, R is a hydrogen atom, a hydroxy group, a substituted or unsubstituted C1 to C30 alkyl group, a substituted or unsubstituted C2 to C30 alkenyl group, a substituted or unsubstituted C2 to C30 alkynyl group, a substituted or unsubstituted C3 A substituted or unsubstituted C3 to C30 cycloalkenyl group, a substituted or unsubstituted C6 to C30 aryl group, or a combination thereof, and R < 1 > Represents a substituted or unsubstituted C1 to C30 alkyl group, a substituted or unsubstituted C2 to C30 alkenyl group, a substituted or unsubstituted C2 to C30 alkynyl group, a substituted or unsubstituted C3 to C30 cycloalkyl group, a substituted or unsubstituted C3 A substituted or unsubstituted C3 to C30 cycloalkynyl group, a substituted or unsubstituted C6 to C30 aryl group, or a combination thereof, and m is an integer of 1 to 3 One can.

상기 포지티브형 감광성 수지 조성물은 상기 (A) 알칼리 가용성 수지 100 중량부에 대하여, 상기 (B) 감광성 디아조퀴논 화합물 5 내지 100 중량부, 상기 (C) 실록산 함유 입자 1 내지 10 중량부, 및 상기 (D) 용매 100 내지 400 중량부를 포함할 수 있다.Wherein the positive photosensitive resin composition comprises 5 to 100 parts by weight of the photosensitive diazoquinone compound (B), 1 to 10 parts by weight of the siloxane-containing particles (C), and (B) (D) 100 to 400 parts by weight of a solvent.

상기 포지티브형 감광성 수지 조성물은 페놀 화합물을 더 포함할 수 있다.The positive photosensitive resin composition may further comprise a phenol compound.

본 발명의 다른 일 구현예에서는 상기 포지티브형 감광성 수지 조성물을 이용하여 제조된 절연막을 제공한다.Another embodiment of the present invention provides an insulating film produced using the positive photosensitive resin composition.

본 발명의 또 다른 일 구현예에서는 상기 절연막을 포함하는 표시장치를 제공한다.According to another embodiment of the present invention, there is provided a display device including the insulating film.

본 발명의 일 구현예에 따른 절연막용 감광성 수지 조성물, 이를 이용한 절연막 및 이를 포함하는 표시장치는 잔막율, 감도, 및 유전율이 우수하면서 노광부의 잔사 발생률이 낮다.The photosensitive resin composition for an insulating film according to an embodiment of the present invention, the insulating film using the same, and the display device including the same have excellent residual film ratios, sensitivity, and dielectric constant, and have a low residue rate in the exposed portion.

도 1은 일 구현예에 따른 표시장치를 보여주는 개략도(단면)이다.
도 2는 일 구현예에 따른 감광성 수지조성물의 노광/현상 후의 절연막 패턴을 보여주는 개략도이다.
1 is a schematic (cross-sectional) view showing a display device according to one embodiment.
2 is a schematic view showing an insulating film pattern after exposure / development of the photosensitive resin composition according to one embodiment.

이하, 본 발명의 구현예를 상세히 설명하기로 한다.  다만, 이는 예시로서 제시되는 것으로, 이에 의해 본 발명이 제한되지는 않으며 본 발명은 후술할 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail. However, the present invention is not limited thereto, and the present invention is only defined by the scope of the following claims.

본 명세서에서 특별한 언급이 없는 한, "치환" 내지 "치환된"이란, 본 발명의 작용기 중의 하나 이상의 수소 원자가 할로겐 원자(-F, -Cl, -Br 또는 -I), 히드록시기, 니트로기, 시아노기, 아미노기(NH2, NH(R200) 또는 N(R201)(R202)이고, 여기서 R200, R201 및 R202는 동일하거나 서로 상이하며, 각각 독립적으로 C1 내지 C10 알킬기임), 아미디노기, 하이드라진기, 하이드라존기, 카르복실기, 치환 또는 비치환된 알킬기, 치환 또는 비치환된 알케닐기, 치환 또는 비치환된 알키닐기, 치환 또는 비치환된 지환족 유기기, 치환 또는 비치환된 아릴기, 및 치환 또는 비치환된 헤테로 고리기로 이루어진 군에서 선택되는 1종 이상의 치환기로 치환된 것을 의미한다.Means that at least one hydrogen atom of the functional group of the present invention is substituted with a halogen atom (-F, -Cl, -Br or -I), a hydroxy group, a nitro group, An amino group (NH 2 , NH (R 200 ) or N (R 201 ) (R 202 ) in which R 200 , R 201 and R 202 are the same or different from each other and are each independently a Cl to C10 alkyl group) A substituted or unsubstituted alkenyl group, a substituted or unsubstituted alkynyl group, a substituted or unsubstituted alicyclic alkyl group, a substituted or unsubstituted aryl group, a substituted or unsubstituted heterocyclic group, a substituted or unsubstituted heterocyclic group, A substituted or unsubstituted aryl group, and a substituted or unsubstituted heterocyclic group.

본 명세서에서 특별한 언급이 없는 한, "알킬기"란 C1 내지 C30 알킬기를 의미하고, 구체적으로는 C1 내지 C15 알킬기를 의미하고, "사이클로알킬기"란 C3 내지 C30 사이클로알킬기를 의미하고, 구체적으로는 C3 내지 C18 사이클로알킬기를 의미하고, "알콕시기"란 C1 내지 C30 알콕시기를 의미하고, 구체적으로는 C1 내지 C18 알콕시기를 의미하고, "아릴기"란 C6 내지 C30 아릴기를 의미하고, 구체적으로는 C6 내지 C18 아릴기를 의미하고, "알케닐기"란 C2 내지 C30 알케닐기를 의미하고, 구체적으로는 C2 내지 C18 알케닐기를 의미하고, "알킬렌기"란 C1 내지 C30 알킬렌기를 의미하고, 구체적으로는 C1 내지 C18 알킬렌기를 의미하고, "아릴렌기"란 C6 내지 C30 아릴렌기를 의미하고, 구체적으로는 C6 내지 C16 아릴렌기를 의미한다.Unless otherwise specified in the specification, "alkyl group" means C1 to C30 alkyl group, specifically C1 to C15 alkyl group, "cycloalkyl group" means C3 to C30 cycloalkyl group, specifically C3 Refers to a C1 to C30 alkoxy group, specifically, a C1 to C18 alkoxy group, and an "aryl group" means a C6 to C30 aryl group, specifically, a C6 to C30 aryl group, C18 aryl group, "alkenyl group" means C2 to C30 alkenyl group, specifically C2 to C18 alkenyl group, "alkylene group" means C1 to C30 alkylene group, specifically C1 Means a C6 to C30 arylene group, and specifically refers to a C6 to C16 arylene group.

또한 본 명세서에서 특별한 언급이 없는 한, "지방족 유기기"란 C1 내지 C30 알킬기, C2 내지 C30 알케닐기, C2 내지 C30 알키닐기, C1 내지 C30 알킬렌기, C2 내지 C30 알케닐렌기, 또는 C2 내지 C30 알키닐렌기를 의미하고, 구체적으로는 C1 내지 C15 알킬기, C2 내지 C15 알케닐기, C2 내지 C15 알키닐기, C1 내지 C15 알킬렌기, C2 내지 C15 알케닐렌기, 또는 C2 내지 C15 알키닐렌기를 의미하고, "지환족 유기기"란 C3 내지 C30 사이클로알킬기, C3 내지 C30 사이클로알케닐기, C3 내지 C30 사이클로알키닐기, C3 내지 C30 사이클로알킬렌기, C3 내지 C30 사이클로알케닐렌기, 또는 C3 내지 C30 사이클로알키닐렌기를 의미하고, 구체적으로는 C3 내지 C15 사이클로알킬기, C3 내지 C15 사이클로알케닐기, C3 내지 C15 사이클로알키닐기, C3 내지 C15 사이클로알킬렌기, C3 내지 C15 사이클로알케닐렌기, 또는 C3 내지 C15 사이클로알키닐렌기를 의미하고, "방향족 유기기"란 C6 내지 C30 아릴기 또는 C6 내지 C30 아릴렌기를 의미하고, 구체적으로는 C6 내지 C16 아릴기 또는 C6 내지 C16 아릴렌기를 의미하고, "헤테로 고리기"란 O, S, N, P, Si 및 이들의 조합으로 이루어진 군에서 선택되는 헤테로 원자를 하나의 고리 내에 1개 내지 3개 함유하는 C2 내지 C30 헤테로사이클로알킬기, C2 내지 C30 헤테로사이클로알킬렌기, C2 내지 C30 헤테로사이클로알케닐기, C2 내지 C30 헤테로사이클로알케닐렌기, C2 내지 C30 헤테로사이클로알키닐기, C2 내지 C30 헤테로사이클로알키닐렌기, C2 내지 C30 헤테로아릴기, 또는 C2 내지 C30 헤테로아릴렌기를 의미하고, 구체적으로는 O, S, N, P, Si 및 이들의 조합으로 이루어진 군에서 선택되는 헤테로 원자를 하나의 고리 내에 1개 내지 3개 함유하는 C2 내지 C15 헤테로사이클로알킬기, C2 내지 C15 헤테로사이클로알킬렌기, C2 내지 C15 헤테로사이클로알케닐기, C2 내지 C15 헤테로사이클로알케닐렌기, C2 내지 C15 헤테로사이클로알키닐기, C2 내지 C15 헤테로사이클로알키닐렌기, C2 내지 C15 헤테로아릴기, 또는 C2 내지 C15 헤테로아릴렌기를 의미한다.Unless otherwise specified in the present specification, the term "aliphatic organic group" means a C1 to C30 alkyl group, a C2 to C30 alkenyl group, a C2 to C30 alkynyl group, a C1 to C30 alkylene group, a C2 to C30 alkenylene group, Means a C1 to C15 alkyl group, a C2 to C15 alkenyl group, a C2 to C15 alkynyl group, a C1 to C15 alkylene group, a C2 to C15 alkenylene group, or a C2 to C15 alkynylene group, Means a C3 to C30 cycloalkyl group, a C3 to C30 cycloalkenyl group, a C3 to C30 cycloalkynyl group, a C3 to C30 cycloalkylene group, a C3 to C30 cycloalkenylene group, or a C3 to C30 cycloalkynylene group. C3 to C15 cycloalkenyl groups, C3 to C15 cycloalkynyl groups, C3 to C15 cycloalkylene groups, C3 to C15 cycloalkenylene groups, Means a C6 to C30 aryl group or a C6 to C30 arylene group, specifically, a C6 to C16 aryl group or a C6 to C16 arylene group, and the term " aromatic hydrocarbon group " The "heterocyclic group" means a C2 to C30 heterocycloalkyl group containing 1 to 3 hetero atoms selected from the group consisting of O, S, N, P, Si and combinations thereof in one ring, C2 to C30 hetero A C2 to C30 heterocycloalkenyl group, a C2 to C30 heterocycloalkenylene group, a C2 to C30 heterocycloalkynyl group, a C2 to C30 heterocycloalkynylene group, a C2 to C30 heteroaryl group, or a C2 to C30 hetero Means an arylene group, and specifically includes 1 to 3 hetero atoms selected from the group consisting of O, S, N, P, Si, and combinations thereof in one ring A C2 to C15 heterocycloalkylene group, a C2 to C15 heterocycloalkylene group, a C2 to C15 heterocycloalkenyl group, a C2 to C15 heterocycloalkenylene group, a C2 to C15 heterocycloalkynyl group, a C2 to C15 heterocycloalkynylene group, a C2 to C15 heterocycloalkylene group, To C15 heteroaryl groups, or C2 to C15 heteroarylene groups.

본 발명의 일 구현예에 따른 포지티브형 감광성 수지 조성물은 (A) 알칼리 가용성 수지, (B) 감광성 디아조퀴논 화합물, (C) 비표면적이 100 내지 400 m2/g인 실록산 함유 입자, 및 (D) 용매를 포함할 수 있다.  (A) an alkali-soluble resin, (B) a photosensitive diazoquinone compound, (C) a siloxane-containing particle having a specific surface area of 100 to 400 m 2 / g, and D) solvent.

이하 상기 포지티브형 감광성 수지 조성물의 각 구성에 대하여 구체적으로 설명한다.Hereinafter, each constitution of the positive photosensitive resin composition will be described in detail.

(A) 알칼리 가용성 수지(A) an alkali-soluble resin

상기 알칼리 가용성 수지(A)는 본 발명이 속하는 기술분야에서 일반적으로 사용되는 알칼리 가용성 수지라면 제한 없이 사용 가능하다.  구체적으로 상기 알칼리 가용성 수지는 하기 화학식 2로 표시되는 반복단위를 포함하는 폴리벤조옥사졸 전구체, 하기 화학식 3으로 표시되는 반복단위를 포함하는 폴리아믹산, 및 하기 화학식 4로 표시되는 반복단위를 포함하는 폴리이미드로부터 선택되는 적어도 하나를 사용할 수 있다. The alkali-soluble resin (A) is not limited as long as it is an alkali-soluble resin generally used in the technical field of the present invention. Specifically, the alkali-soluble resin includes a polybenzoxazole precursor containing a repeating unit represented by the following formula (2), a polyamic acid containing a repeating unit represented by the following formula (3), and a repeating unit represented by the following formula At least one selected from polyimide can be used.

폴리벤조옥사졸Polybenzoxazole 전구체 Precursor

[화학식 2](2)

Figure pat00001
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상기 화학식 2에서, X1은 치환 또는 비치환된 C6 내지 C30 방향족 유기기이고, Y1은 치환 또는 비치환된 C6 내지 C30 방향족 유기기, 치환 또는 비치환된 2가 내지 6가의 C1 내지 C30 지방족 유기기, 또는 치환 또는 비치환된 2가 내지 6가의 C3 내지 C30 지환족 유기기이다.X 1 is a substituted or unsubstituted C6 to C30 aromatic organic group; Y 1 is a substituted or unsubstituted C6 to C30 aromatic organic group, a substituted or unsubstituted divalent to hexavalent C1 to C30 aliphatic group Or a substituted or unsubstituted divalent to hexavalent C3 to C30 alicyclic organic group.

상기 화학식 2에서, X1은 방향족 유기기로서 방향족 디아민으로부터 유도되는 잔기일 수 있다.In Formula 2, X 1 may be a residue derived from an aromatic diamine as an aromatic organic group.

상기 방향족 디아민의 예로는 3,3'-디아미노-4,4'-디히드록시비페닐, 4,4'-디아미노-3,3'-디히드록시비페닐, 비스(3-아미노-4-히드록시페닐)프로판, 비스(4-아미노-3-히드록시페닐)프로판, 비스(3-아미노-4-히드록시페닐)술폰, 비스(4-아미노-3-히드록시페닐)술폰, 2,2-비스(3-아미노-4-히드록시페닐)-1,1,1,3,3,3-헥사플루오로프로판, 2,2-비스(4-아미노-3-히드록시페닐)-1,1,1,3,3,3-헥사플루오로프로판, 2,2-비스(3-아미노-4-히드록시-5-트리플루오로메틸페닐)헥사플루오로프로판, 2,2-비스(3-아미노-4-히드록시-6-트리플루오로메틸페닐)헥사플루오로프로판, 2,2-비스(3-아미노-4-히드록시-2-트리플루오로메틸페닐)헥사플루오로프로판, 2,2-비스(4-아미노-3-히드록시-5-트리플루오로메틸페닐)헥사플루오로프로판, 2,2-비스(4-아미노-3-히드록시-6-트리플루오로메틸페닐)헥사플루오로프로판, 2,2-비스(4-아미노-3-히드록시-2-트리플루오로메틸페닐)헥사플루오로프로판, 2,2-비스(3-아미노-4-히드록시-5-펜타플루오로에틸페닐)헥사플루오로프로판, 2-(3-아미노-4-히드록시-5-트리플루오로메틸페닐)-2-(3-아미노-4-히드록시-5-펜타플루오로에틸페닐)헥사플루오로프로판, 2-(3-아미노-4-히드록시-5-트리플루오로메틸페닐)-2-(3-히드록시-4-아미노-5-트리플루오로메틸페닐)헥사플루오로프로판, 2-(3-아미노-4-히드록시-5-트리플루오로메틸페닐)-2-(3-히드록시-4-아미노-6-트리플루오로메틸페닐)헥사플루오로프로판, 2-(3-아미노-4-히드록시-5-트리플루오로메틸페닐)-2-(3-히드록시-4-아미노-2-트리플루오로메틸페닐)헥사플루오로프로판, 2-(3-아미노-4-히드록시-2-트리플루오로메틸페닐)-2-(3-히드록시-4-아미노-5-트리플루오로메틸페닐)헥사플루오로프로판 및 2-(3-아미노-4-히드록시-6-트리플루오로메틸페닐)-2-(3-히드록시-4-아미노-5-트리플루오로메틸페닐)헥사플루오로프로판으로부터 선택되는 적어도 하나를 사용할 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.Examples of the aromatic diamine include 3,3'-diamino-4,4'-dihydroxybiphenyl, 4,4'-diamino-3,3'-dihydroxybiphenyl, bis (4-amino-3-hydroxyphenyl) sulfone, bis (4-amino-3-hydroxyphenyl) sulfone, bis 2,2-bis (4-amino-3-hydroxyphenyl) -1,1,1,3,3,3-hexafluoropropane, 2,2- Hexafluoropropane, 2,2-bis (3-amino-4-hydroxy-5-trifluoromethylphenyl) hexafluoropropane, 2,2- (3-amino-4-hydroxy-2-trifluoromethylphenyl) hexafluoropropane, 2,2-bis , 2-bis (4-amino-3-hydroxy-5-trifluoromethylphenyl) hexafluoropropane, 2,2- rope (4-amino-3-hydroxy-2-trifluoromethylphenyl) hexafluoropropane, 2,2-bis Phenyl) hexafluoropropane, 2- (3-amino-4-hydroxy-5-trifluoromethylphenyl) -2- 2- (3-hydroxy-4-amino-5-trifluoromethylphenyl) hexafluoropropane, 2- (3-amino-4-hydroxy-5-trifluoromethylphenyl) -2- 2- (3-amino-4-amino-6-trifluoromethylphenyl) hexafluoropropane, 2- 2-trifluoromethylphenyl) hexafluoropropane, 2- (3-amino-4-hydroxy-2-trifluoromethylphenyl) Methylphenyl) -2- (3-hydroxy-4-amino-5-trifluoromethylphenyl) hexafluoropropane and 2- Hydroxy-6-trifluoromethylphenyl) -2- (3-hydroxy-4-amino-5-trifluoromethylphenyl) hexafluoropropane may be used, It is not.

상기 화학식 2에서, Y1은 방향족 유기기, 2가 내지 6가의 지방족 유기기, 또는 2가 내지 6가의 지환족 유기기로서, 디카르복시산의 잔기 또는 디카르복시산 유도체의 잔기일 수 있다.  구체적으로는 Y1은 방향족 유기기, 또는 2가 내지 6가의 지환족 유기기일 수 있다.In the above formula (2), Y 1 is an aromatic organic group, a divalent to hexavalent aliphatic organic group, or a divalent to hexavalent alicyclic group, and may be a residue of a dicarboxylic acid or a residue of a dicarboxylic acid derivative. Specifically, Y 1 may be an aromatic organic group, or a divalent to hexavalent alicyclic organic group.

상기 디카르복시산의 예로는 Y1(COOH)2(여기서 Y1은 상기 화학식 1의 Y1과 동일함)를 들 수 있다.Examples of the dicarboxylic acids may be mentioned Y 1 (COOH) 2 (where Y 1 is the same as Y 1 in the formula (1)).

상기 디카르복시산 유도체의 예로는 Y1(COOH)2의 카르보닐 할라이드 유도체, 또는 Y1(COOH)2와 1-히드록시-1,2,3-벤조트리아졸 등을 반응시킨 활성 에스테르형 유도체인 활성 화합물(여기서 Y1은 상기 화학식 1의 Y1과 동일함)을 들 수 있다.Examples of the di-carboxylic acid derivatives is Y 1 (COOH) 2 of the carbonyl halide derivative, or Y 1 (COOH) 2 and 1-hydroxy-1,2,3-benzotriazole-active ester derivative by reacting a sol such as the active compounds may be mentioned (wherein Y 1 is the same hereinafter as Y 1 in the formula (1)).

상기 디카르복시산 유도체의 구체적인 예로는 4,4'-옥시디벤조일클로라이드, 디페닐옥시디카르보닐디클로라이드, 비스(페닐카르보닐클로라이드)술폰, 비스(페닐카르보닐클로라이드)에테르, 비스(페닐카르보닐클로라이드)페논, 프탈로일디클로라이드, 테레프탈로일디클로라이드, 이소프탈로일디클로라이드, 디카르보닐디클로라이드, 디페닐옥시디카르복실레이트디벤조트리아졸 또는 이들의 조합을 들 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.Specific examples of the dicarboxylic acid derivative include 4,4'-oxydibenzoyl chloride, diphenyloxydicarbonyldichloride, bis (phenylcarbonyl chloride) sulfone, bis (phenylcarbonyl chloride) ether, bis (phenylcarbonyl chloride ) Phenone, phthaloyldichloride, terephthaloyldichloride, isophthaloyldichloride, dicarbonyldichloride, diphenyloxydicarboxylate dibenzotriazole, or combinations thereof, but is not limited thereto.

상기 폴리벤조옥사졸 전구체는 분지쇄 말단의 어느 한쪽 또는 양쪽에, 반응성 말단봉쇄 단량체로부터 유도된 열중합성 관능기를 가질 수 있다. 상기 반응성 말단봉쇄 단량체는 탄소-탄소 이중결합을 갖는 모노아민류 또는 모노언하이드라이드류, 또는 이들의 조합인 것이 바람직하다. 상기 모노아민류는 톨루이딘, 디메틸아닐린, 에틸아닐린, 아미노페놀, 아미노벤질알콜, 아미노인단(aminoindan), 아미노아세톤페논, 또는 이들의 조합 등을 사용할 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.The polybenzoxazole precursor may have a thermally polymerizable functional group derived from a reactive end blocking monomer on either or both of the branched chain terminals. The reactive end blocking monomer is preferably a monoamine having a carbon-carbon double bond or a monoanhydride, or a combination thereof. Examples of the monoamines include, but are not limited to, toluidine, dimethyl aniline, ethyl aniline, aminophenol, aminobenzyl alcohol, aminoindan, aminoacetone phenone, and combinations thereof.

폴리아믹산Polyamic acid 및 폴리이미드 And polyimide

[화학식 3](3)

Figure pat00002
Figure pat00002

[화학식 4][Chemical Formula 4]

Figure pat00003
Figure pat00003

상기 화학식 3 및 4에서, X2 및 X3은 각각 독립적으로 치환 또는 비치환된 C6 내지 C30 방향족 유기기, 치환 또는 비치환된 2가 내지 6가의 C1 내지 C30 지방족 유기기, 치환 또는 비치환된 2가 내지 6가의 C3 내지 C30 지환족 유기기, 또는 유기 실란기이다.X 2 and X 3 are each independently a substituted or unsubstituted C6 to C30 aromatic organic group, a substituted or unsubstituted divalent to hexavalent C1 to C30 aliphatic group, a substituted or unsubstituted A divalent to hexavalent C3 to C30 alicyclic organic group, or an organosilane group.

구체적으로는 상기 화학식 3 및 4에서 상기 X2 및 X3은 각각 독립적으로 방향족 디아민, 지환족 디아민 또는 실리콘 디아민으로부터 유도되는 잔기일 수 있다.  이때, 상기 방향족 디아민, 지환족 디아민 및 실리콘 디아민은 단독으로 또는 이들을 1종 이상 혼합하여 사용할 수 있다.Specifically, in the above formulas (3) and (4), X 2 and X 3 may each independently be a residue derived from an aromatic diamine, an alicyclic diamine, or a silicone diamine. At this time, the aromatic diamine, alicyclic diamine and silicon diamine may be used singly or in combination of one or more thereof.

상기 방향족 디아민의 예로는 3,4'-디아미노디페닐에테르, 4,4'-디아미노디페닐에테르, 3,4'-디아미노디페닐메탄, 4,4'-디아미노디페닐메탄, 4,4'-디아미노디페닐술폰, 4,4'-디아미노디페닐술피드, 벤지딘, m-페닐렌디아민, p-페닐렌디아민, 1,5-나프탈렌디아민, 2,6-나프탈렌디아민, 비스[4-(4-아미노페녹시)페닐]술폰, 비스(3-아미노페녹시페닐)술폰, 비스(4-아미노페녹시)비페닐, 비스[4-(4-아미노페녹시)페닐]에테르, 1,4-비스(4-아미노페녹시)벤젠, 이들의 방향족 고리에 알킬기나 할로겐 원자가 치환된 화합물, 또는 이들의 조합을 들 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.Examples of the aromatic diamine include 3,4'-diaminodiphenyl ether, 4,4'-diaminodiphenyl ether, 3,4'-diaminodiphenylmethane, 4,4'-diaminodiphenylmethane, 4,4'-diaminodiphenylsulfone, 4,4'-diaminodiphenylsulfide, benzidine, m-phenylenediamine, p-phenylenediamine, 1,5-naphthalenediamine, 2,6-naphthalenediamine , Bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] sulfone, bis (4-aminophenoxy) ] Ether, 1,4-bis (4-aminophenoxy) benzene, a compound in which the aromatic ring thereof is substituted with an alkyl group or a halogen atom, or a combination thereof, but is not limited thereto.

상기 지환족 디아민의 예로는 1,2-시클로헥실 디아민, 1,3-시클로헥실 디아민, 또는 이들의 조합을 들 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.Examples of the alicyclic diamine include, but are not limited to, 1,2-cyclohexyldiamine, 1,3-cyclohexyldiamine, or a combination thereof.

상기 실리콘 디아민의 예로는 비스(4-아미노페닐)디메틸실란, 비스(4-아미노페닐)테트라메틸실록산, 비스(p-아미노페닐)테트라메틸디실록산, 비스(γ-아미노프로필)테트라메틸디실록산, 1,4-비스(γ-아미노프로필디메틸실릴)벤젠, 비스(4-아미노부틸)테트라메틸디실록산, 비스(γ-아미노프로필)테트라페닐디실록산, 1,3-비스(아미노프로필)테트라메틸디실록산, 또는 이들의 조합을 들 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.Examples of the silicon diamine include bis (4-aminophenyl) dimethylsilane, bis (4-aminophenyl) tetramethylsiloxane, bis (p- aminophenyl) tetramethyldisiloxane, Bis (? -Aminopropyldimethylsilyl) benzene, bis (4-aminobutyl) tetramethyldisiloxane, bis (? -Aminopropyl) tetraphenyldisiloxane, 1,3- Methyldisiloxane, or combinations thereof, but are not limited thereto.

상기 화학식 3 및 4에서, Y2 및 Y3은 각각 독립적으로 치환 또는 비치환된 C6 내지 C30 방향족 유기기, 치환 또는 비치환된 4가 내지 6가의 C1 내지 C30 지방족 유기기, 또는 치환 또는 비치환된 4가 내지 6가의 C3 내지 C30 지환족 유기기이다.Y 2 and Y 3 are each independently a substituted or unsubstituted C6 to C30 aromatic organic group, a substituted or unsubstituted quadrivalent to hexavalent C1 to C30 aliphatic group, Is a C4 to C20 alicyclic organic group.

상기 Y2 및 Y3은 각각 독립적으로 방향족 산이무수물, 또는 지환족 산이무수물로부터 유도된 잔기일 수 있다.  이때, 상기 방향족 산이무수물 및 상기 지환족 산이무수물은 단독으로 또는 이들을 1종 이상 혼합하여 사용할 수 있다.Y 2 and Y 3 may each independently be an aromatic acid dianhydride or a residue derived from an alicyclic acid anhydride. At this time, the aromatic acid dianhydride and the alicyclic acid dianhydride may be used alone or in admixture of at least one thereof.

상기 방향족 산이무수물의 예로는 피로멜리트산 이무수물(pyromellitic dianhydride); 벤조페논-3,3',4,4'-테트라카르복실산 이무수물(benzophenone-3,3',4,4'-tetracarboxylic dianhydride)과 같은 벤조페논 테트라카르복실산 이무수물(benzophenone tetracarboxylic dianhydride); 4,4'-옥시디프탈산 이무수물(4,4'-oxydiphthalic dianhydride)과 같은 옥시디프탈산 이무수물(oxydiphthalic dianhydride); 3,3',4,4'-비프탈산 이무수물(3,3',4,4'-biphthalic dianhydride)과 같은 비프탈산 이무수물(biphthalic dianhydride); 4,4'-(헥사플루오로이소프로필리덴)디프탈산 이무수물(4,4'-(hexafluoroisopropyledene)diphthalic dianhydride)과 같은 (헥사플루오로이소프로필리덴)디프탈산 이무수물((hexafluoroisopropyledene)diphthalic dianhydride); 나프탈렌-1,4,5,8-테트라카르복실산 이무수물(naphthalene-1,4,5,8-tetracarboxylic dianhydride); 3,4,9,10-퍼릴렌테트라카르복실산 이무수물(3,4,9,10-perylenetetracarboxylic dianhydride) 등을 들 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.Examples of the aromatic acid dianhydride include pyromellitic dianhydride; Benzophenone tetracarboxylic dianhydride such as benzophenone-3,3 ', 4,4'-tetracarboxylic dianhydride, benzophenone-3,3'4,4'-tetracarboxylic dianhydride, ; Oxydiphthalic dianhydride such as 4,4'-oxydiphthalic dianhydride; Biphthalic dianhydride such as 3,3 ', 4,4'-biphthalic dianhydride (3,3', 4,4'-biphthalic dianhydride); (Hexafluoroisopropylidene) diphthalic dianhydride such as 4,4 '- (hexafluoroisopropylidene) diphthalic dianhydride (4,4' - (hexafluoroisopropylidene) diphthalic dianhydride) ; Naphthalene-1,4,5,8-tetracarboxylic dianhydride; 3,4,9,10-perylenetetracarboxylic dianhydride, and the like, but the present invention is not limited thereto.

상기 지환족 산이무수물의 예로는 1,2,3,4-사이클로부탄테트라카르복실산 이무수물(1,2,3,4-cyclobutanetetracarboxylic dianhydride), 1,2,3,4-사이클로펜탄테트라카르복실산 이무수물(1,2,3,4-cyclopentanetetracarboxylic dianhydride), 5-(2,5-디옥소테트라하이드로퓨릴)-3-메틸-사이클로헥산-1,2-디카르복실산 이무수물(5-(2,5-dioxotetrahydrofuryl)-3-methyl-cyclohexane-1,2-dicarboxylic anhydride), 4-(2,5-디옥소테트라하이드로퓨란-3-일)-테트랄린-1,2-디카르복실산 이무수물(4-(2,5-dioxotetrahydrofuran-3-yl)-tetralin-1,2-dicarboxylic anhydride),  바이사이클로옥텐-2,3,5,6-테트라카르복실산 이무수물(bicyclooctene-2,3,5,6-tetracarboxylic dianhydride), 바이사이클로옥텐-1,2,4,5-테트라카르복실산 이무수물(bicyclooctene-1,2,4,5-tetracarboxylic dianhydride)를 들 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.Examples of the alicyclic dianhydrides include 1,2,3,4-cyclobutanetetracarboxylic dianhydride, 1,2,3,4-cyclopentanetetracarboxylic dianhydride, 1,2,3,4-cyclopentanetetracarboxylic dianhydride, 5- (2,5-dioxotetrahydrofuryl) -3-methyl-cyclohexane-1,2-dicarboxylic acid dianhydride (5- (2,5-dioxotetrahydrofuryl) -3-methyl-cyclohexane-1,2-dicarboxylic anhydride), 4- (2,5- dioxotetrahydrofuran-3-yl) -tetralin- (2,5-dioxotetrahydrofuran-3-yl) -tetralin-1,2-dicarboxylic anhydride, bicyclooctene-2,3,5,6-tetracarboxylic dianhydride, 2,3,5,6-tetracarboxylic dianhydride, bicyclooctene-1,2,4,5-tetracarboxylic dianhydride, and the like. But is not limited thereto.

상기 알칼리 가용성 수지는 3,000 내지 300,000 g/mol의 중량평균분자량(Mw)을 가질 수 있고, 구체적으로는 5,000 내지 30,000 g/mol의 중량평균분자량(Mw)을 가질 수 있다.  상기 범위의 중량평균분자량(Mw)을 가질 경우 알칼리 수용액으로 현상시 비노광부에서 충분한 잔막율을 얻을 수 있고, 효율적으로 패터닝을 할 수 있다.The alkali-soluble resin may have a weight average molecular weight (Mw) of 3,000 to 300,000 g / mol, and more specifically, a weight average molecular weight (Mw) of 5,000 to 30,000 g / mol. When the weight average molecular weight (Mw) is within the above range, a sufficient residual film ratio can be obtained in an unexposed area at the time of development with an aqueous alkali solution, and patterning can be efficiently performed.

(B) 감광성 (B) Photosensitive 디아조퀴논Diazoquinone 화합물 compound

상기 감광성 디아조퀴논 화합물은 1,2-벤조퀴논디아지드 구조 또는 1,2-나프토퀴논디아지드 구조를 가지는 화합물이 사용될 수 있다.The photosensitive diazoquinone compound may be a compound having a 1,2-benzoquinone diazide structure or a 1,2-naphthoquinone diazide structure.

상기 감광성 디아조퀴논 화합물은 구체적으로 하기 화학식 5 및 화학식 7 내지 9로 표시되는 화합물로부터 선택되는 적어도 하나를 사용할 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.The photosensitive diazoquinone compound may be at least one selected from compounds represented by the following general formulas (5) and (7) to (9), but is not limited thereto.

[화학식 5][Chemical Formula 5]

Figure pat00004
Figure pat00004

상기 화학식 5에서 R60 내지 R62는 각각 독립적으로 수소 원자, 또는 치환 또는 비치환된 C1 내지 C30 알킬기일 수 있고, 구체적으로는 메틸기일 수 있다.In the general formula (5), R 60 to R 62 each independently represent a hydrogen atom or a substituted or unsubstituted C1 to C30 alkyl group, and specifically may be a methyl group.

상기 화학식 5에서 R63 내지 R65는 각각 독립적으로 OQ 일 수 있고, 상기 Q는 수소 원자, 하기 화학식 6a로 표시되는 작용기 또는 하기 화학식 6b로 표시되는 작용기일 수 있으며, 이때 Q는 동시에 수소일 수는 없다.In Formula 5, R 63 to R 65 may each independently be OQ, and Q may be a hydrogen atom, a functional group represented by the following Formula 6a or a functional group represented by the following Formula 6b, There is no.

상기 화학식 5에서 n20 내지 n22는 각각 0 내지 5의 정수일 수 있다.In Formula 5, n 20 to n 22 may each be an integer of 0 to 5.

[화학식 6a][Chemical Formula 6a]

Figure pat00005
Figure pat00005

[화학식 6b][Formula 6b]

Figure pat00006
Figure pat00006

[화학식 7](7)

Figure pat00007
Figure pat00007

상기 화학식 7에서 R66은 수소 원자, 또는 치환 또는 비치환된 C1 내지 C30 알킬기일 수 있고, R67 내지 R69는 각각 독립적으로 OQ 일 수 있고, 상기 Q는 상기 화학식 5에서 정의된 것과 동일하고, n23  내지 n25는 각각 0 내지 5의 정수일 수 있다.In Formula 7, R 66 may be a hydrogen atom or a substituted or unsubstituted C1 to C30 alkyl group, and R 67 to R 69 may each independently be OQ, and Q is the same as defined in Formula 5 , n 23   To n 25 each may be an integer of 0 to 5.

[화학식 8][Chemical Formula 8]

Figure pat00008
Figure pat00008

상기 화학식 8에서 A3은 CO 또는 CR74R75 일 수 있고, 상기 R74  및 R75는 각각 독립적으로 치환 또는 비치환된 C1 내지 C30 알킬기일 수 있다.In Formula 8, A 3 may be CO or CR 74 R 75 , and R 74   And R 75 may each independently be a substituted or unsubstituted C1 to C30 alkyl group.

상기 화학식 8에서 R70 내지 R73은 각각 독립적으로 수소 원자, 치환 또는 비치환된 C1 내지 C30 알킬기, OQ 또는 NHQ 일 수 있고, 상기 Q는 상기 화학식 5에서 정의된 것과 동일하다.In formula (8), R 70 to R 73 each independently represent a hydrogen atom, a substituted or unsubstituted C1 to C30 alkyl group, OQ or NHQ, and Q is the same as defined in the above formula (5).

상기 화학식 8에서 n26 내지 n29은 각각 0 내지 4의 정수일 수 있고, n26+n27 및 n28+n29는 각각 5 이하의 정수일 수 있다.In Formula 8, n 26 to n 29 may each be an integer of 0 to 4, and n 26 + n 27 and n 28 + n 29 may each be an integer of 5 or less.

단, 상기 R70 및 R71 중 적어도 하나는 OQ 일 수 있으며, 하나의 방향족 환에는 OQ가 1 내지 3개 포함될 수 있고, 다른 하나의 방향족 환에는 OQ가 1 내지 4개 포함될 수 있다.Provided that at least one of R 70 and R 71 may be OQ, one to three OQs may be contained in one aromatic ring, and one to four OQs may be contained in another aromatic ring.

[화학식 9][Chemical Formula 9]

Figure pat00009
Figure pat00009

상기 화학식 9에서, In the above formula (9)

R74 내지 R81는 각각 독립적으로 수소 원자, 또는 치환 또는 비치환된 C1 내지 C30 알킬기일 수 있고, n30 및 n31은 각각 1 내지 5의 정수일 수 있고, Q는 상기 화학식 5에서 정의된 것과 동일하다.R 74 to R 81 may be a C1 to C30 alkyl groups each independently represent a hydrogen atom or a substituted or unsubstituted, n 30 and n 31 may be an integer from 1 to 5, respectively, Q is as defined in the general formula (5) same.

상기 감광성 디아조퀴논 화합물은 상기 알칼리 가용성 수지 100 중량부에 대하여 5 내지 100 중량부로, 구체적으로는 10 내지 50 중량부로 포지티브형 감광성 수지 조성물 내에 포함될 수 있다.  상기 범위 내로 포함될 경우 노광에 의해 잔사 없이 패턴 형성이 잘되며, 현상시 막 두께 손실이 없고 양호한 패턴을 얻을 수 있다.The photosensitive diazoquinone compound may be included in the positive photosensitive resin composition in an amount of 5 to 100 parts by weight, specifically 10 to 50 parts by weight, based on 100 parts by weight of the alkali-soluble resin. When it is included in the above range, the pattern can be formed well with no residue by exposure, and a good pattern can be obtained without loss of film thickness upon development.

(C) (C) 실록산Siloxane 함유 입자 Containing particle

상기 실록산 함유 입자는 실록산 함유 화합물을 분무건조법으로 표면 개질하여 생성할 수 있다.  이렇게 형성된 실록산 함유 입자는 나노미터 미만의 크기일 수 있고, 결정질 또는 비정질이며, 일반 실리카에 비해 순도가 높기 때문에 투명하여 빛의 굴절률이 낮고 광진행 손실이 적다.The siloxane-containing particles can be produced by surface-modifying a siloxane-containing compound by a spray drying method. The siloxane-containing particles thus formed can be of a size smaller than nanometers, crystalline or amorphous, transparent because of higher purity than ordinary silica, and have a low refractive index of light and a small loss of light propagation.

일 구현예에 따른 실록산 함유 입자의 비표면적은 100 내지 400 m2/g, 구체적으로 100 내지 300 m2/g일 수 있다.  상기 실록산 함유 입자의 비표면적이 상기 범위 내인 경우, 포지티브형 감광성 격벽 화소층은 고감도를 유지하면서, 내열성 및 절연성의 기능이 강화될 수 있다.The specific surface area of the siloxane-containing particles according to one embodiment may be 100 to 400 m 2 / g, specifically 100 to 300 m 2 / g. When the specific surface area of the siloxane-containing particles is within the above range, the function of heat resistance and insulation can be enhanced while maintaining a high sensitivity of the positive photosensitive barrier rib pixel layer.

상기 실록산 함유 입자는 구체적으로 하기 화학식 1로 표시될 수 있다.The siloxane-containing particles may be specifically represented by the following formula (1).

[화학식 1][Chemical Formula 1]

RmSi(OR1)4-m R m is Si (OR 1 ) 4-m

상기 화학식 1에서, R은 수소 원자, 히드록시기, 치환 또는 비치환된 C1 내지 C30 알킬기, 치환 또는 비치환된 C2 내지 C30 알케닐기, 치환 또는 비치환된 C2 내지 C30 알키닐기, 치환 또는 비치환된 C3 내지 C30 사이클로알킬기, 치환 또는 비치환된 C3 내지 C30 사이클로알케닐기, 치환 또는 비치환된 C3 내지 C30 사이클로알키닐기, 치환 또는 비치환된 C6 내지 C30 아릴기, 또는 이들의 조합일 수 있고, R1은 치환 또는 비치환된 C1 내지 C30 알킬기, 치환 또는 비치환된 C2 내지 C30 알케닐기, 치환 또는 비치환된 C2 내지 C30 알키닐기, 치환 또는 비치환된 C3 내지 C30 사이클로알킬기, 치환 또는 비치환된 C3 내지 C30 사이클로알케닐기, 치환 또는 비치환된 C3 내지 C30 사이클로알키닐기, 치환 또는 비치환된 C6 내지 C30 아릴기, 또는 이들의 조합일 수 있으며, m은 1 내지 3의 정수일 수 있다.In Formula 1, R is a hydrogen atom, a hydroxy group, a substituted or unsubstituted C1 to C30 alkyl group, a substituted or unsubstituted C2 to C30 alkenyl group, a substituted or unsubstituted C2 to C30 alkynyl group, a substituted or unsubstituted C3 A substituted or unsubstituted C3 to C30 cycloalkenyl group, a substituted or unsubstituted C6 to C30 aryl group, or a combination thereof, and R < 1 > Represents a substituted or unsubstituted C1 to C30 alkyl group, a substituted or unsubstituted C2 to C30 alkenyl group, a substituted or unsubstituted C2 to C30 alkynyl group, a substituted or unsubstituted C3 to C30 cycloalkyl group, a substituted or unsubstituted C3 A substituted or unsubstituted C3 to C30 cycloalkynyl group, a substituted or unsubstituted C6 to C30 aryl group, or a combination thereof, and m is an integer of 1 to 3 One can.

상기 실록산 함유 입자는 알칼리 가용성 수지 100 중량부에 대하여 1 내지 10 중량부, 구체적으로 1 내지 7중량부 포함될 수 있다.  상기 범위 내로 포함될 경우,  실리카 입자의 뭉침 현상을 방지하여 기판에 균일하게 도포될 수 있고, 광손실 없이 고내열성과 절연성을 갖는 감광성 화소 격벽층 조성물을 얻을 수 있다.The siloxane-containing particles may be contained in an amount of 1 to 10 parts by weight, specifically 1 to 7 parts by weight, based on 100 parts by weight of the alkali-soluble resin. When it is contained in the above range, it is possible to obtain a photosensitive pixel barrier layer composition which can be uniformly applied to a substrate by preventing the aggregation of silica particles and has high heat resistance and insulation without light loss.

(D) 용매(D) Solvent

상기 표시장치 절연막용 감광성 수지 조성물은 각 성분을 용이하게 용해시킬 수 있는 용매를 포함할 수 있다.The photosensitive resin composition for a display device insulating film may include a solvent capable of easily dissolving each component.

상기 용매의 구체적인 예로는 -메틸-2-피롤리돈, γ-부티로락톤, N,N-디메틸아세트아미드, 디메틸설폭사이드, 디에틸렌글리콜디메틸에테르, 디에틸렌 글리콜디에틸에테르, 디에틸렌글리콜디부틸에테르, 프로필렌글리콜모노메틸에테르, 디프로필렌글리콜모노메틸에테르, 프로필렌글리콜모노메틸에테르아세테이트, 락트산 메틸, 락트산에틸, 락트산부틸, 메틸-1,3-부틸렌글리콜아세테이트, 1,3-부틸렌글리콜-3-모노메틸에테르, 피루브산메틸, 피루브산에틸, 메틸-3-메톡시 프로피오네이트 등을 들 수 있다. 이러한 용매는 단독으로 또는 2종 이상 병용하여 사용할 수 있다.Specific examples of the solvent include -methyl-2-pyrrolidone, -butyrolactone, N, N-dimethylacetamide, dimethylsulfoxide, diethylene glycol dimethyl ether, diethylene glycol diethyl ether, diethylene glycol di Butyl ether, propylene glycol monomethyl ether, dipropylene glycol monomethyl ether, propylene glycol monomethyl ether acetate, methyl lactate, ethyl lactate, butyl lactate, methyl-1,3-butylene glycol acetate, 3-monomethyl ether, methyl pyruvate, ethyl pyruvate, methyl-3-methoxy propionate and the like. These solvents may be used alone or in combination of two or more.

상기 용매는 상기 알칼리 가용성 수지 100 중량부에 대하여 100 내지 400 중량부로 포지티브형 감광성 수지 조성물 내에 포함될 수 있다.  상기 범위 내로 포함될 경우 충분한 두께의 막을 코팅할 수 있고, 우수한 용해도 및 코팅성을 가질 수 있다.The solvent may be included in the positive photosensitive resin composition in an amount of 100 to 400 parts by weight based on 100 parts by weight of the alkali-soluble resin. When it is contained within the above range, it is possible to coat a film of sufficient thickness and have good solubility and coating properties.

구체적으로 상기 용매는 상기 포지티브형 감광성 수지 조성물의 고형분 함량이 3 내지 50 중량%가 되도록, 구체적으로는 5 내지 30 중량%가 되도록 사용할 수 있다.Specifically, the solvent may be used so that the solid content of the positive photosensitive resin composition is 3 to 50% by weight, specifically 5 to 30% by weight.

(E) 페놀 화합물(E) phenol compound

상기 표시장치 절연막용 감광성 수지 조성물은 페놀 화합물을 더 포함할 수 있다.  상기 페놀 화합물은 감광성 수지 조성물로 패턴을 형성하기 위해 알칼리 수용액으로 현상시 노광부의 용해 속도 및 감도를 증가시킬 수 있고, 현상 시에 현상 잔여물 없이 고해상도로 패터닝할 수 있는 역할을 한다.The photosensitive resin composition for a display device insulating film may further comprise a phenol compound. The phenolic compound can increase the dissolution rate and sensitivity of the exposed portion when developing with an alkaline aqueous solution to form a pattern with the photosensitive resin composition, and can perform patterning at high resolution without developing residue at the time of development.

상기 페놀 화합물의 예로는 하기 화학식 10 내지 화학식 16으로 표시되는 화합물을 들 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.Examples of the phenol compound include compounds represented by the following formulas (10) to (16), but are not limited thereto.

[화학식 10][Chemical formula 10]

Figure pat00010
Figure pat00010

상기 화학식 10에서,In Formula 10,

R82 내지 R87은 각각 독립적으로 수소, 히드록시기(OH), C1 내지 C8의 치환 또는 비치환된 알킬기, C1 내지 C8의 알콕시알킬 또는 -OCO-R88이고, R88은 C1 내지 C8의 치환 또는 비치환된 알킬기이고, R82 내지 R87 중 적어도 하나는 히드록시기이며, 모두 히드록시기는 아니다. R 82 to R 87 are each independently hydrogen, a hydroxyl group (OH), a C1 to C8 substituted or non-substituted of unsubstituted alkyl group, a C1 to alkoxyalkyl or -OCO-R 88 of C8, R 88 is a substituted C1 to C8 or And at least one of R 82 to R 87 is a hydroxyl group, and not all of them are hydroxyl groups.

[화학식 11](11)

Figure pat00011
Figure pat00011

상기 화학식 11에서, In Formula 11,

R99 내지 R101은 각각 독립적으로 수소, 또는 C1 내지 C8의 치환 또는 비치환된 알킬기이고, R102 내지 R106은 각각 독립적으로 H, OH, 또는 C1 내지 C8의 치환 또는 비치환된 알킬기이고, 구체적으로는 상기 알킬기는 CH3일 수 있고, n68은 1 내지 5의 정수이다.R 99 to R 101 are each independently hydrogen or a substituted or unsubstituted alkyl group having from 1 to 8 carbon atoms, and R 102 And to R 106 are each independently H, OH, or substituted or unsubstituted alkyl group of C1 to C8, specifically, the alkyl group may be CH 3, n 68 is an integer from 1 to 5.

[화학식 12][Chemical Formula 12]

Figure pat00012
Figure pat00012

상기 화학식 12에서,In Formula 12,

R107 내지 R112는 각각 독립적으로 H, OH, 또는 C1 내지 C8의 치환 또는 비치환된 알킬기이고, A3은 CR205R206 또는 단일결합이고, 상기 R205 및 R206은 각각 독립적으로 수소, 또는 C1 내지 C8의 치환 또는 비치환된 알킬기이고,구체적으로는 상기 알킬기는 CH3일 수 있고, n69+n70+n71 및 n72+n73+n74는 각각 독립적으로 5 이하의 정수이다.R 107 to R 112 are each independently H, OH, or a C1 to C8 substituted or unsubstituted alkyl group; A 3 is CR 205 R 206 or a single bond; and R 205 and R 206 are each independently hydrogen, or a C1 to a substituted or unsubstituted alkyl group of C8, specifically, the alkyl group may be CH 3, n 69 + n 70 + n 71 And n 72 + n 73 + n 74 are each independently an integer of 5 or less.

[화학식 13][Chemical Formula 13]

Figure pat00013
Figure pat00013

상기 화학식 13에서, In Formula 13,

R113 내지 R115는 각각 독립적으로 수소, 또는 C1 내지 C8의 치환 또는 비치환된 알킬기이고, n75, n76 및 n79는 각각 독립적으로 1 내지 5의 정수이고, n77 및 n78은 각각 독립적으로 0 내지 4의 정수이다.Each of R < 113 > to R < 115 > is independently hydrogen or a C1 to C8 substituted or unsubstituted alkyl group; n75 , n76 and n79 are each independently an integer of 1 to 5; n77 and n78 are Independently, an integer of 0 to 4;

[화학식 14][Chemical Formula 14]

Figure pat00014
Figure pat00014

상기 화학식 14에서,In Formula 14,

R116 내지 R121은 각각 독립적으로 수소, OH, 또는 C1 내지 C8의 치환 또는 비치환된 알킬기이고, n80 내지 n83은 각각 독립적으로 1 내지 4의 정수이다.  단,  n80+n82 및 n81+n83은 각각 독립적으로 5 이하의 정수이다.R 116 To R < 121 > are each independently hydrogen, OH, or a C1 to C8 substituted or unsubstituted alkyl group, and n 80 To n 83 are each independently an integer of 1 to 4; Provided that n 80 + n 82 and n 81 + n 83 are each independently an integer of 5 or less.

[화학식 15][Chemical Formula 15]

Figure pat00015
Figure pat00015

상기 화학식 15에서,In Formula 15,

R122는 C1 내지 C8의 치환 또는 비치환된 알킬기이고, 구체적으로는 CH3일 수 있고, R123 내지 R125는 각각 독립적으로 수소, 또는 C1 내지 C8의 치환 또는 비치환된 알킬기이고, n84, n86 및 n88은 각각 독립적으로 1 내지 5의 정수이고, n85, n87 및 n89는 각각 독립적으로 0 내지 4의 정수이다.  단, n84+n85, n86+n87 및 n88+n89는 각각 독립적으로 5 이하의 정수이다.R 122 is a substituted or unsubstituted alkyl group having 1 to 8 carbon atoms, specifically, CH 3 , R 123 to R 125 are each independently hydrogen or a substituted or unsubstituted alkyl group having 1 to 8 carbon atoms, and n 84 , n 86 and n 88 are each independently an integer of 1 to 5, and n 85 , n 87 and n 89 are each independently an integer of 0 to 4. Provided that n 84 + n 85 , n 86 + n 87 and n 88 + n 89 each independently represent an integer of 5 or less.

[화학식 16][Chemical Formula 16]

Figure pat00016
Figure pat00016

상기 화학식 16에서,In Formula 16,

R126 내지 R128은 각각 독립적으로 C1 내지 C8의 치환 또는 비치환된 알킬기이고, 구체적으로는 CH3일 수 있고, R129 내지 R132는 각각 독립적으로 수소, 또는 C1 내지 C8의 치환 또는 비치환된 알킬기이고, n90 , n92 및 n94는 각각 독립적으로 1 내지 5의 정수이고, n91, n93 및 n95는 각각 독립적으로 0 내지 4의 정수이고, n96은 1 내지 4의 정수이다.  단, n90+n91, n92+n93 및 n94+n95는 각각 독립적으로 5 이하의 정수이다.R 126 to R 128 are each independently a substituted or unsubstituted C1 to C8 alkyl group, specifically, CH 3 , and R 129 to R 132 are each independently hydrogen or a substituted or unsubstituted C1 to C8 alkyl group, is an alkyl group, n 90, n 92 and n 94 are each independently in integer of 1 to 5, n 91, n 93 and n 95 are each independently an integer of 0 to 4, n 96 is an integer from 1 to 4 to be. Provided that n 90 + n 91 , n 92 + n 93 and n 94 + n 95 are independently an integer of 5 or less.

상기 페놀 화합물의 구체적인 예로는 2,6-디메톡시메틸-4-t-부틸페놀, 2,6-디메톡시메틸-p-크레졸, 2,6-디아세톡시메틸-p-크레졸 등을 들 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.Specific examples of the phenol compound include 2,6-dimethoxymethyl-4-t-butylphenol, 2,6-dimethoxymethyl-p-cresol, 2,6- diacetoxymethyl- However, the present invention is not limited thereto.

상기 페놀 화합물의 사용량은 상기 알칼리 가용성 수지 100 중량부에 대하여 1 내지 40 중량부일 수 있다. 페놀 화합물의 함량이 상기 범위내인 경우 현상시 감도 저하를 유발하지 않고, 비노광부의 용해 속도를 적당하게 증가시켜 양호한 패턴을 얻을 수 있으며, 또한 냉동보관시 석출이 일어나지 않아 우수한 보관안정성을 나타낼 수 있다.The amount of the phenol compound may be 1 to 40 parts by weight based on 100 parts by weight of the alkali-soluble resin. When the content of the phenol compound is within the above range, a good pattern can be obtained by appropriately increasing the dissolution rate of the unexposed portion without inducing a decrease in sensitivity during development. Further, since the precipitation does not occur during freezing storage, have.

(F) 기타 첨가제(F) Other additives

일 구현예에 따른 표시장치 절연막용 감광성 수지 조성물은 기타 첨가제를 더 포함할 수 있다. The photosensitive resin composition for a display device insulating film according to an embodiment may further include other additives.

상기 표시장치 절연막용 감광성 수지 조성물은 코팅 시 얼룩이나 반점 방지, 레벨링 특성, 또는 미현상에 의한 잔사의 생성을 방지하기 위하여, 말론산; 3-아미노-1,2-프로판디올; 비닐기 또는 (메타)아크릴옥시기를 갖는 실란계 커플링제; 등의 첨가제를 포함할 수 있다.  이들 첨가제의 사용량은 원하는 물성에 따라 용이하게 조절될 수 있다.  상기 실란계 커플링제는 표시장치 절연막용 감광성 수지 조성물과 기판과의 밀착력을 향상시킬 수 있다.  상기 실란 커플링제의 예로는 하기 화학식 17 내지 19로 표시되는 화합물; 비닐트리메톡시실란, 비닐트리에톡시실란, 비닐트리클로로실란, 비닐트리스(β-메톡시에톡시)실란; 또는 2-(3,4 에폭시시크로헥실)-에틸트리메톡시실란, 3-메타크릴옥시프로필트리메톡시실란, 3-아크릴옥시프로필트리메톡시실란, p-스티릴트리메톡시실란, 3-메타크릴옥시프로필메틸디메톡시실란, 3-메타크릴옥시프로필메틸디에톡시실란; 트리메톡시[3-(페닐아미노)프로필]실란 등의 탄소-탄소 불포화 결합 함유 실란 화합물을 들 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.The photosensitive resin composition for a display device insulating film may contain at least one selected from the group consisting of malonic acid, malonic acid, and malonic acid to prevent spots, anti-spotting, leveling, 3-amino-1,2-propanediol; A silane-based coupling agent having a vinyl group or (meth) acryloxy group; And the like. The amount of these additives to be used can be easily controlled depending on the desired physical properties. The silane coupling agent can improve adhesion between the photosensitive resin composition for a display device insulating film and the substrate. Examples of the silane coupling agent include compounds represented by the following general formulas (17) to (19); Vinyltrimethoxysilane, vinyltriethoxysilane, vinyltrichlorosilane, vinyltris (? -Methoxyethoxy) silane; 3-acryloxypropyltrimethoxysilane, p-styryltrimethoxysilane, 3-methacryloxypropyltrimethoxysilane, 3-methacryloxypropyltrimethoxysilane, 3- - methacryloxypropylmethyldimethoxysilane, 3-methacryloxypropylmethyldiethoxysilane; And carbon-carbon unsaturated bond-containing silane compounds such as trimethoxy [3- (phenylamino) propyl] silane, but are not limited thereto.

[화학식 17][Chemical Formula 17]

Figure pat00017
Figure pat00017

상기 화학식 17에서, R20는 비닐기, 치환 또는 비치환된 알킬기, 또는 치환 또는 비치환된 아릴기이고, 구체적으로는 3-(메타)크릴옥시프로필, p-스티릴 또는 3-(페닐아미노)프로필일 수 있다.In the general formula (17), R 20 is a vinyl group, a substituted or unsubstituted alkyl group, or a substituted or unsubstituted aryl group, specifically, 3- (meth) acryloxypropyl, ) ≪ / RTI > profile.

상기 화학식 17에서, R21  내지 R23는 각각 독립적으로 치환 또는 비치환된 알콕시기, 치환 또는 비치환된 알킬기, 또는 할로겐이고, 이때 R21  내지 R23  중 적어도 하나는 알콕시기 또는 할로겐이고, 구체적으로는 상기 알콕시기는 C1 내지 C8 알콕시기일 수 있고, 상기 알킬기는 C1 내지 C20 알킬기일 수 있다. In Formula 17, R < 21 >   To R 23 are each independently a substituted or unsubstituted alkoxy group, a substituted or unsubstituted alkyl group, or a halogen, where R 21   To R 23   At least one of them is an alkoxy group or halogen, specifically, the alkoxy group may be a C1 to C8 alkoxy group, and the alkyl group may be a C1 to C20 alkyl group.

[화학식 18][Chemical Formula 18]

Figure pat00018
Figure pat00018

상기 화학식 18에서, R24은 -NH2 또는 -CH3CONH이고, R25 내지 R27은 각각 독립적으로 치환 또는 비치환된 C1 내지 C20 알콕시기이고, 구체적으로는 상기 알콕시기는 OCH3 또는 OCH2CH3일 수 있고, n34는 1 내지 5의 정수일 수 있다. In Formula 18, R 24 is -NH 2 or -CH 3 CONH, and R 25 to R 27 are each independently a substituted or unsubstituted C 1 to C 20 alkoxy group. Specifically, the alkoxy group is OCH 3 or OCH 2 CH 3 , and n 34 may be an integer of 1 to 5.

[화학식 19][Chemical Formula 19]

Figure pat00019
Figure pat00019

상기 화학식 19에서, R28  내지 R31은 각각 독립적으로 치환 또는 비치환된 C1 내지 C20 알킬기, 또는 치환 또는 비치환된 C1 내지 C20 알콕시기이고, 구체적으로는 CH3 또는 OCH3 일 수 있다. In Formula 19, R < 28 >   To R 31 are each independently a substituted or unsubstituted C1 to C20 alkyl group, or a substituted or unsubstituted C1 to C20 unsubstituted alkoxy groups, specifically, CH 3 or OCH 3 Lt; / RTI >

상기 화학식 19에서, R32 및 R33는 각각 독립적으로 치환 또는 비치환된 아미노기일 수 있고, 구체적으로는 NH2 또는 CH3CONH일 수 있다.  또한 n35 및 n36은 각각 1 내지 5의 정수일 수 있다. In the above formula (19), R 32 and R 33 may each independently be a substituted or unsubstituted amino group, and specifically may be NH 2 or CH 3 CONH. And n 35 and n 36 may be an integer of 1 to 5, respectively.

상기 실란계 커플링제는 상기 알칼리 가용성 수지 100 중량부에 대하여 0.1 내지 30 중량부로 사용될 수 있고, 구체적으로는 1 내지 7 중량부로 사용될 수 있다. 상기 범위 내로 사용될 경우 상하부 막 층과의 접착력이 우수하며, 현상 후 잔막이 남지 않고, 투과율과 같은 광특성뿐 아니라 인장강도, 신율 등과 같은 막의 기계적 물성을 향상시킬 수 있다.The silane-based coupling agent may be used in an amount of 0.1 to 30 parts by weight, preferably 1 to 7 parts by weight, based on 100 parts by weight of the alkali-soluble resin. When it is used within the above range, the adhesion to the upper and lower film layers is excellent, and the remaining film is not left after development, and the mechanical properties such as tensile strength, elongation and the like as well as optical characteristics such as transmittance can be improved.

또한 상기 표시장치 절연막용 감광성 수지 조성물은 밀착력 등의 향상을 위해 첨가제로서 에폭시 화합물을 더 포함할 수 있다.  상기 에폭시 화합물로는 에폭시 노볼락 아크릴 카르복실레이트 수지, 오르토 크레졸 노볼락 에폭시 수지, 페놀 노볼락 에폭시 수지, 테트라메틸 비페닐 에폭시 수지, 비스페놀 A형 에폭시 수지, 지환족 에폭시 수지 또는 이들의 조합을 사용할 수 있다.In addition, the photosensitive resin composition for a display device insulating film may further contain an epoxy compound as an additive for improving adhesion and the like. Examples of the epoxy compound include epoxy novolac acrylate carboxylate resin, orthocresol novolak epoxy resin, phenol novolak epoxy resin, tetramethyl biphenyl epoxy resin, bisphenol A type epoxy resin, alicyclic epoxy resin, or a combination thereof .

상기 에폭시 화합물을 더 포함하는 경우 과산화물 개시제 또는 아조비스계 개시제와 같은 라디칼 중합 개시제를 더 포함할 수도 있다.When the epoxy compound is further included, it may further include a radical polymerization initiator such as a peroxide initiator or an azobis-based initiator.

상기 에폭시 화합물은 상기 표시장치 절연막용 감광성 수지 조성물 100 중량부에 대하여 0.01 내지 5 중량부로 사용될 수 있다.  상기 에폭시 화합물이 상기 범위 내로 포함되는 경우 저장성 및 경제적으로 밀착력 및 기타 특성을 향상시킬 수 있다.The epoxy compound may be used in an amount of 0.01 to 5 parts by weight based on 100 parts by weight of the photosensitive resin composition for a display device insulating film. When the epoxy compound is contained within the above range, the adhesion and other properties can be improved in terms of storage stability and economy.

상기 표시장치 절연막용 감광성 수지 조성물의 제조 방법은 특별히 한정되지는 않으나, 구체적으로는 전술한 염료, 아크릴계 바인더 수지, 광중합 개시제, 광중합성 단량체, 용매 및 선택적으로 첨가제를 혼합하여 표시장치 절연막용 감광성 수지 조성물을 제조할 수 있다.The method for producing the photosensitive resin composition for a display device insulating film is not particularly limited. Specifically, the above-mentioned dye, acrylic binder resin, photopolymerization initiator, photopolymerizable monomer, solvent and optional additives are mixed to form a photosensitive resin A composition can be prepared.

기타 첨가제로는 열잠재 산발생제를 들 수 있다.  상기 열잠재 산발생제의 예로는 p-톨루엔술폰산, 벤젠술폰산 등과 같은 아릴술폰산; 트리플루오로메탄술폰산, 트리플루오로부탄술폰산 등과 같은 퍼플루오로알킬술폰산; 메탄술폰산, 에탄술폰산, 부탄술폰산 등과 같은 알킬술폰산; 또는 이들의 조합을 들 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.Other additives include thermal latent acid generators. Examples of the thermal latent acid generator include arylsulfonic acids such as p-toluenesulfonic acid, benzenesulfonic acid and the like; Perfluoroalkylsulfonic acids such as trifluoromethanesulfonic acid, trifluorobutanesulfonic acid and the like; Methanesulfonic acid, ethanesulfonic acid, butanesulfonic acid and the like; Or combinations thereof, but are not limited thereto.

상기 열잠재 산발생제는 폴리벤조옥사졸 전구체의 페놀성 수산기 함유 폴리아미드의 탈수화 반응과, 고리화 반응을 위한 촉매로써 경화온도를 낮추어도 고리화 반응을 원활히 진행할 수 있다. The thermal latent acid generator is a catalyst for the dehydration reaction of the phenolic hydroxyl group-containing polyamide of the polybenzoxazole precursor and the cyclization reaction, and the cyclization reaction can proceed smoothly even if the curing temperature is lowered.

또한 막두께의 얼룩을 막거나, 현상성을 향상시키기 위해 적당한 계면활성제 또는 레벨링제를 첨가제로 더욱 사용할 수도 있다.Further, a suitable surfactant or leveling agent may be further used as an additive in order to prevent unevenness in film thickness or to improve developability.

다른 일 구현예에 따르면, 상기 표시장치 절연막용 감광성 수지 조성물을 이용하여 제조된 표시장치 절연막을 제공한다.According to another embodiment, there is provided a display device insulation film manufactured using the photosensitive resin composition for a display device insulation film.

상기 표시장치 절연막은 하기와 같은 방법에 의해 제조될 수 있다.  상기 제조된 감광성 수지 조성물을 스프레이법, 롤코터법, 회전도포법 등으로 기판 표면에 도포한 후, 프리 베이크(pre-bake)로 용매를 제거하여 도포막을 형성한다.  상기 프리 베이크는 70 내지 150℃에서 1 내지 5 분간 실시하는 것이 바람직하다.  이 후, 미리 준비된 패턴에 따라 가시광선, 자외선, 원자외선, 전자선, 원자외선, 전자선, 엑스선 등을 상기 형성된 도포막에 조사하고, 현상액으로 현상하여 불필요한 부분을 제거함으로써 소정의 패턴을 형성한다.  이때, 사용되는 현상액으로는 알칼리 수용액이 사용될 수 있으며, 구체적으로는 수산화 나트륨, 수산화 칼륨, 탄산 나트륨 등의 무기 알칼리류; 에틸아민, n-프로필아민 등의 1급 아민류; 디에틸아민, n-프로필아민 등의 2급 아민류; 트리메틸아민, 메틸디에틸아민, 디메틸에틸아민, 트리에틸아민 등의 3급 아민류; 디메틸에탄올아민, 메틸디에탄올아민, 트리에탄올아민 등의 알콜아민류; 테트라메틸암모늄히드록시드, 테트라에틸암모늄히드록시드 등의 4급 암모늄염의 수용액; 및 이들의 혼합물로 이루어진 군에서 선택되는 것을 사용할 수 있다.  상기 현상액의 알칼리성 화합물의 농도는 0.1 내지 10%인 것이 바람직하다.  또한, 상기 용매와 함께, 메탄올 에탄올 등과 같은 수용성 유기 용매 또는 계면 활성제를 적정량 첨가하여 사용할 수도 있다.  또한, 상기와 같은 현상액으로 현상한 후 초순수로 30 내지 140초 동안 세정하여, 불필요한 부분을 제거하고 건조하여 패턴을 형성할 수 있으며, 형성된 패턴에 자외선 등의 빛을 조사한 후, 패턴을 오븐 등의 가열장치에 의해 110 내지 300℃에서 30 내지 120분간 가열하여 최종 패턴을 얻을 수 있다. The display device insulating film can be manufactured by the following method. The photosensitive resin composition thus prepared is applied to the surface of a substrate by a spraying method, a roll-coating method, a spin coating method, or the like, and then the solvent is removed by pre-bake to form a coating film. The prebaking is preferably carried out at 70 to 150 DEG C for 1 to 5 minutes. Thereafter, a predetermined pattern is formed by irradiating a visible ray, ultraviolet ray, far ultraviolet ray, electron ray, far ultraviolet ray, electron ray, X-ray or the like to the coating film formed according to a previously prepared pattern and developing it with a developer to remove unnecessary portions. At this time, as the developing solution to be used, an aqueous alkali solution may be used, and specific examples thereof include inorganic alkalis such as sodium hydroxide, potassium hydroxide and sodium carbonate; Primary amines such as ethylamine and n-propylamine; Secondary amines such as diethylamine and n-propylamine; Tertiary amines such as trimethylamine, methyldiethylamine, dimethylethylamine and triethylamine; Alcohol amines such as dimethylethanolamine, methyldiethanolamine and triethanolamine; Aqueous solutions of quaternary ammonium salts such as tetramethylammonium hydroxide and tetraethylammonium hydroxide; And a mixture thereof can be used. The concentration of the alkaline compound in the developer is preferably 0.1 to 10%. In addition, a suitable amount of a water-soluble organic solvent such as methanol or ethanol or a surfactant may be used together with the solvent. In addition, after developing with the developer as described above, it is cleaned with ultrapure water for 30 to 140 seconds to remove unnecessary portions and dried to form a pattern. After irradiating the formed pattern with light such as ultraviolet rays, And then heated at 110 to 300 DEG C for 30 to 120 minutes by a heating device to obtain a final pattern.

본 발명의 또 다른 일 구현예에서는 상기 절연막을 포함하는 표시장치를 제공한다.  상기 표시장치는 구체적으로 액정 디스플레이, 발광다이오드, 플라즈마디스플레이, 또는 유기발광다이오드일 수 있다.According to another embodiment of the present invention, there is provided a display device including the insulating film. The display device may specifically be a liquid crystal display, a light emitting diode, a plasma display, or an organic light emitting diode.

이하에서 본 발명을 실시예 및 비교예를 통하여 보다 상세하게 설명하고자 하나, 하기의 실시예 및 비교예는 설명의 목적을 위한 것으로 본 발명을 제한하고자 하는 것은 아니다.
Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to examples and comparative examples. However, the following examples and comparative examples are for illustrative purposes only and are not intended to limit the present invention.

(( 폴리벤조옥사졸Polybenzoxazole 전구체 제조) Precursor preparation)

합성예Synthetic example 1 :  One : 폴리벤조옥사졸Polybenzoxazole 전구체( Precursor ( PBOPBO -1)의 제조-1)

교반기, 온도조절장치, 질소가스주입 장치 및 냉각기가 장착된 4구 플라스크에 질소를 통과시키면서 2,2-비스(3-(아미노-4-히드록시페닐)-1,1,1,3,3,3-헥사플루오로프로판 12.4g을 N-메틸-2-피롤리돈(NMP) 125g에 넣어 용해시켰다. 고체가 완전 용해되면 피리딘을 4.2g을 상기 용액에 투입하고, 온도를 0 내지 5℃로 유지하면서 4,4'-옥시디벤조일클로라이드 9.4g을 N-메틸-2-피롤리돈(NMP) 100g에 넣어 용해시킨 용액을 30분간 천천히 적하하였다.  적하후 1시간 동안 0 내지 5℃에서 반응을 수행하고, 상온으로 온도를 올려 1시간 동안 교반하여 반응을 종료하였다.In a four-necked flask equipped with a stirrer, a temperature controller, a nitrogen gas injector and a condenser, 2,2-bis (3- (amino-4-hydroxyphenyl) -1,1,1,3,3 Hexafluoropropane were dissolved in 125 g of N-methyl-2-pyrrolidone (NMP) to dissolve it. When the solid was completely dissolved, 4.2 g of pyridine was added to the solution, and the temperature was adjusted to 0 to 5 ° C Methyldipyrrolidone (NMP) dissolved in 9 g of 4,4'-oxydibenzoyl chloride was slowly added dropwise over 30 minutes while maintaining the temperature at 0 to 5 ° C. for 1 hour after the dropwise addition The reaction was carried out, the temperature was raised to room temperature, and the reaction was terminated by stirring for 1 hour.

여기에, 5-노보넨-2,3-디카르복시언하이드라이드를 1.1g을 투입하고 70℃에서 24시간 교반하여 반응을 종료하였다.  반응혼합물을 물에 투입하여 침전물을 생성하고, 침전물을 여과하여 물로 충분히 세정한 후. 온도 80℃, 진공 하에서 24시간 이상 건조하여 폴리벤조옥사졸 전구체(PBO-1)를 제조하였다.  To this was added 1.1 g of 5-norbornene-2,3-dicarboxyanhydride and the mixture was stirred at 70 ° C for 24 hours to complete the reaction. The reaction mixture is poured into water to form a precipitate, and the precipitate is filtered and sufficiently washed with water. The polybenzoxazole precursor (PBO-1) was prepared by drying at 80 DEG C under vacuum for 24 hours or more.

합성예Synthetic example 2 :  2 : 폴리벤조옥사졸Polybenzoxazole 전구체( Precursor ( PBOPBO -2)의 제조-2)

5-노보넨-2,3-디카르복시언하이드라이드 대신 말레익언하이드라이드를 사용한 것을 제외하고는, 합성예 1과 동일한 방법으로 폴리벤조옥사졸 전구체(PBO-2)를 제조하였다.A polybenzoxazole precursor (PBO-2) was prepared in the same manner as in Synthesis Example 1, except that maleic anhydride was used instead of 5-norbornene-2,3-dicarboxyanhydride.

이하, 실시예에 사용된 성분의 사양은 다음과 같다.Hereinafter, the specifications of the components used in the examples are as follows.

(A) 알칼리 가용성 수지(A) an alkali-soluble resin

(A-1) 상기 합성예 1에서 제조된 폴리벤조옥사졸 전구체를 사용하였다.(A-1) The polybenzoxazole precursor prepared in Synthesis Example 1 was used.

(A-2) 상기 합성예 2에서 제조된 폴리벤조옥사졸 전구체를 사용하였다.(A-2) The polybenzoxazole precursor prepared in Synthesis Example 2 was used.

(B) 감광성 (B) Photosensitive 디아조퀴논Diazoquinone 화합물 compound

하기 화학식 20으로 표시되는 감광성 디아조퀴논을 사용하였다.A photosensitive diazoquinone represented by the following formula (20) was used.

[화학식 20][Chemical Formula 20]

Figure pat00020
Figure pat00020

상기 화학식 20에서, Q 중 둘은 하기 화학식 21로 치환되어 있고, 나머지 하나는 수소이다.In formula (20), two of Q are substituted by the following formula (21), and the other is hydrogen.

[화학식 21][Chemical Formula 21]

Figure pat00021
Figure pat00021

(C) (C) 실록산Siloxane 함유 입자 Containing particle

(C-1) 비표면적이 150±25m2/g인 실록산 함유 입자(R805, Aerosil社)를 사용하였다.(C-1) Siloxane-containing particles (R805, Aerosil) having a specific surface area of 150 25 m 2 / g were used.

(C-2) 비표면적이 260±30m2/g인 실록산 함유 입자(R812, Aerosil社)를 사용하였다.(C-2) Siloxane-containing particles (R812, Aerosil) having a specific surface area of 260 ± 30 m 2 / g were used.

(C-3) 비표면적이 190±20m2/g인 실록산 함유 입자(R816, Aerosil社)를 사용하였다.(C-3) Siloxane-containing particles (R816, Aerosil) having a specific surface area of 190 ± 20 m 2 / g were used.

(C-4) 비표면적이 200±25m2/g인 실록산 함유 입자(R200, Aerosil社)를 사용하였다.(C-4) Siloxane-containing particles (R200, manufactured by Aerosil) having a specific surface area of 200 ± 25 m 2 / g were used.

(C-5) 비표면적이 50±15m2/g인 실록산 함유 입자(OX50, Aerosil社)를 사용하였다.(C-5) Siloxane-containing particles (OX50, Aerosil) having a specific surface area of 50 ± 15 m 2 / g were used.

(D) 용매(D) Solvent

γ-부티로락톤을 사용하였다.? -butyrolactone was used.

(E) 페놀 화합물(E) phenol compound

하기 화학식 22로 표시되는 페놀 화합물을 사용하였다.A phenol compound represented by the following formula (22) was used.

[화학식 22][Chemical Formula 22]

Figure pat00022
Figure pat00022

실시예Example 1 내지 5 및  1 to 5 and 비교예Comparative Example 1과  1 and 비교예Comparative Example 2 2

하기 표 1의 조성으로 각 성분을 혼합하여 포지티브형 감광성 수지 조성물을 제조하였다.  구체적으로, 알칼리 가용성 수지(A)를 용매(D)에 녹인 후 감광성 디아조퀴논 화합물(B)과 페놀 화합물(E)을 투입하여 용해하였다.  그 후, 실록산 함유 입자를 상기 혼합물에 투입하여 1시간 동안 실온에서 교반하여 안정화 한 후 0.45㎛의 플루오르수지 필터로 여과하여 포지티브형 감광성 수지 조성물을 제조하였다.Each component was mixed with the composition shown in Table 1 below to prepare a positive photosensitive resin composition. Specifically, the alkali-soluble resin (A) was dissolved in the solvent (D), and the photosensitive diazoquinone compound (B) and the phenol compound (E) were added and dissolved. Thereafter, the siloxane-containing particles were charged into the mixture, stabilized by stirring at room temperature for 1 hour, and then filtered through a 0.45 占 퐉 fluorine resin filter to prepare a positive photosensitive resin composition.

(중량부)(Parts by weight)     실시예 1Example 1 실시예 2Example 2 실시예 3Example 3 실시예 4Example 4 실시예 5Example 5 비교예
1
Comparative Example
One
비교예 2Comparative Example 2
(A)알칼리 가용성 수지 (A) an alkali-soluble resin (A-1)(A-1) 100100 100100 100100 100100 -- 100100 100100 (A-2)(A-2) -- -- -- -- 100100 -- -- (B) 감광성 디아조퀴논 화합물 (B) Photosensitive diazoquinone compound 3030 3030 3030 3030 3030 3030 3030 (C)실록산 함유 입자 (C) Siloxane-containing particles (C-1)(C-1) 55 -- -- -- 55 -- -- (C-2)(C-2) -- 55 -- -- -- -- -- (C-3)(C-3) -- -- 55 -- -- -- -- (C-4)(C-4) -- -- -- 55 -- -- -- (C-5)(C-5) -- -- -- -- -- -- 55 (D) 용매 (D) Solvent 350350 350350 350350 350350 350350 350350 350350 (E) 페놀 화합물 (E) phenol compound 2020 2020 2020 2020 2020 2020 2020

상기 표 1에서 상기 (B) 내지 (E)의 함량 단위는 상기 (A) 100 중량부에 대해 첨가된 중량부이다.In Table 1, the content units of (B) to (E) are parts by weight added to 100 parts by weight of (A).

패턴막의Pattern membrane 제조 Produce

상기 실시예 1 내지 5, 그리고 비교예 1 및 2에서 제조된 포지티브형 감광성 수지 조성물을 스핀코터를 이용해 ITO 유리에 도포한 뒤, 120℃로 100초간 핫플레이트 상에서 가열하여 감광성 폴리이미드 전구체 도막을 형성하였다.  상기 폴리이미드 전구체 도막에 다양한 크기의 패턴이 새겨진 패턴 마스크를 사용하여 노광장치(I-line stepper, 니콘社, NSR i10C)로 노광한 후, 상온에서 2.38%의 테트라메틸암모늄 하이드록사이드 수용액에 23℃로 60초간 세척하였다.  이어서, 얻어진 패턴을 전기로를 이용하여 산소 농도 1000ppm 이하에서 250℃, 40분 동안 경화시켜 패턴막을 얻었다.The positive photosensitive resin compositions prepared in Examples 1 to 5 and Comparative Examples 1 and 2 were applied to ITO glass using a spin coater and then heated on a hot plate at 120 DEG C for 100 seconds to form a photosensitive polyimide precursor coating film Respectively. The polyimide precursor coating film was exposed to light using an exposure apparatus (I-line stepper, Nikon Corporation, NSR i10C) using a pattern mask in which patterns of various sizes were engraved, and then a 23% aqueous solution of tetramethylammonium hydroxide Lt; 0 > C for 60 seconds. Subsequently, the obtained pattern was cured at 250 DEG C for 40 minutes at an oxygen concentration of 1000 ppm or less by using an electric furnace to obtain a patterned film.

평가예Evaluation example

상기 제조된 패턴막에 대하여 하기와 같은 방법으로 잔막률, 감도, 내열성, 잔사, 유전율, 코팅성 및 투명성을 평가하고 그 결과를 하기 표 2에 나타내었다.The residual film ratio, sensitivity, heat resistance, residue, dielectric constant, coating property and transparency of the prepared pattern film were evaluated by the following methods. The results are shown in Table 2 below.

(1) (One) 잔막률Residual film ratio 측정 Measure

예비소성을 한 필름을 2.38% 테트라메틸암모늄하이드록사이드(TMAH) 수용액에 23℃/60초 동안 현상하고 초순수로 60초 동안 세정 후 건조하고 알파스텝(Tencor社)을 이용하여 막두께 변화를 측정하였고, 하기의 계산식 1로 산출하였다.The prefired film was developed in a 2.38% aqueous solution of tetramethylammonium hydroxide (TMAH) at 23 ° C for 60 seconds, washed with ultrapure water for 60 seconds, dried and measured for film thickness change using AlphaStep (Tencor) And was calculated by the following equation (1).

[계산식 1][Equation 1]

잔막율 = (현상 후 막두께/현상 전 초기 막두께)×100  Remaining film ratio = (film thickness after development / initial film thickness before development) x 100

(○: 잔막율 90% 이상으로 우수함,  △: 80~90%으로 보통 수준,  X :80% 이하로 잔막율 낮음)(?: Excellent at a residual film ratio of 90% or more,?: Normal to 80 to 90%, X: 80% or less,

(2) 감도 측정(2) Sensitivity measurement

노광 및 현상후 10㎛ L/S 패턴이 1 대 1의 선폭으로 형성되는 노광시간을 구하여 이를 최적 노광 시간으로 하였다.  해상도는 상기 최적 노광 시간에 있어서의 최소의 패턴 치수를 해상도로 하여 측정하였다. An exposure time in which a 10 mu m L / S pattern was formed with a line width of 1: 1 after exposure and development was obtained, and this was regarded as an optimum exposure time. The resolution was measured with the minimum pattern size in the optimum exposure time as the resolution.

(○: 100mJ/㎠ 이하로 감도 우수,  △: 100~200mJ/㎠로 감도 보통, X : 200mJ/㎠ 이상으로 감도 낮음)(?: Excellent sensitivity at 100 mJ / cm 2 or less,?: Normal sensitivity at 100 to 200 mJ / cm 2, and sensitivity at X: 200 mJ / cm 2 or more)

(3) (3) 잔사Residue 평가 evaluation

상기 제조된 감광성 수지 조성물을 이용하여 형성된 패턴의 잔사 수준을 광학현미경 및 CD-SEM으로 확인하였다. Residual levels of the pattern formed using the photosensitive resin composition prepared above were confirmed by optical microscope and CD-SEM.

(○: 잔사 깨끗한 수준,  △: 잔사 미약하게 남은 수준, X:  잔사에 취약한 수준)(○: clean level of residue, △: slight residual level, X: level of residue)

(4-1) 내열성 평가: 유리전이온도((4-1) Evaluation of heat resistance: Glass transition temperature ( TgTg ) 측정) Measure

상기 제조된 감광성 수지 조성물을 이용하여 형성한 감광성 수지막이 코팅된 웨이퍼를 2% 불산(HF) 수용액에 침지하여 수지막을 손상 없이 분리하였다.  분리된 각각의 수지막의 TMA(thermo-mechanical analyzer) 분석을 통하여 유리전이온도를 측정하였다.The wafer coated with the photosensitive resin film formed using the photosensitive resin composition prepared above was immersed in a 2% hydrofluoric acid (HF) aqueous solution to separate the resin film without damaging it. The glass transition temperature was measured by TMA (thermo-mechanical analyzer) analysis of each separated resin film.

(○: Tg 280℃ 이상으로 내열성 우수,  △: Tg 230~280℃로 내열성 보통, X:  Tg 330℃ 이하로 내열성 낮음)(O: excellent heat resistance at a Tg of 280 deg. C or higher, B: heat resistance at a temperature of 230 deg. C to 280 deg. C, and X:

(4-2) 내열성 평가: 5% 중량 감소 온도((4-2) Evaluation of heat resistance: 5% weight reduction temperature ( TdTd ) 측정) Measure

상기 제조된 감광성 수지 조성물을 이용하여 형성한 감광성 수지막이 코팅된 웨이퍼를 2% 불산(HF) 수용액에 침지하여 수지막을 손상 없이 분리하였다.  분리된 각각의 수지막의 TGA(thermogravimetric analyzer) 분석을 통하여 5% 중량 감소 온도를측정하였다.The wafer coated with the photosensitive resin film formed using the photosensitive resin composition prepared above was immersed in a 2% hydrofluoric acid (HF) aqueous solution to separate the resin film without damaging it. The thermogravimetric analyzer (TGA) analysis of each of the separated resin films was used to measure the 5% weight loss temperature.

(○: Td 380℃ 이상으로 내열성 우수,  △: Td 330~380℃로 내열성 보통, X:  Td 330℃ 이하로 내열성 낮음)?: Td: Excellent heat resistance at 380 占 폚 or higher,?: Fair heat resistance at Td 330 to 380 占 폚, and X: Low heat resistance at Td 330 占 폚 or less)

(5) 유전율 측정(5) Measurement of dielectric constant

상기 제조된 포지티브형 감광성 수지 조성물을 크롬 기판에 도포하고 핫 플레이트(hot plate) 위에서 120℃/100초간 처리하여 최종 두께가 3.0㎛인 코팅막을 형성하였다. 형성된 코팅막을 온도 250℃의 전기로에서 40분간 경화시킨 후 DEA(dielectric analyzer) 장비를 통해 유전율을 확인하였다. The prepared positive photosensitive resin composition was coated on a chromium substrate and treated on a hot plate at 120 ° C for 100 seconds to form a coating film having a final thickness of 3.0 μm. The resulting coating film was cured in an electric furnace at 250 ° C for 40 minutes and dielectric constant was confirmed through a DEA (dielectric analyzer) device.

(○: 유전율 3.0 이하,  X : 유전율 3.0 초과)(?: Dielectric constant 3.0 or less, X: dielectric constant 3.0 or more)

(6) (6) 코팅성Coating property 평가 evaluation

상기 제조된 포지티브형 감광성 수지 조성물을 스핀 코터를 이용해 ITO 유리에 도포한 후, 핫플레이트 상에서 120℃/100초간 처리하여 코팅된 막의 균일성과 디펙트유무를 광학현미경과 SP1 장비로 확인하였다. The prepared positive photosensitive resin composition was coated on ITO glass using a spin coater and treated on a hot plate at 120 ° C for 100 seconds to confirm the uniformity and defects of the coated film by using an optical microscope and SP1 equipment.

(○: 코팅성 우수한 수준, △: 코팅성 양호/일부 디펙트 존재, X: 코팅성 열악한 수준)(?: Excellent coating property,?: Good coating property / some defects present, X: poor coating property)

(7) 투명성 평가: (7) Evaluation of transparency: HazeHaze metermeter 측정 Measure

상기 제조된 포지티브형 감광성 수지 조성물을 스핀 코터를 이용해 쿼츠 기판에 도포한 후, 핫플레이트 상에서 120℃/100초간 처리하여 코팅된 막을 온도 250℃의 전기로에서 40분간 경화시킨 후 haze meter(NDH-2000, DENSHOKU社) 장비를 이용하여 투명성을 확인하였다.The coated positive photosensitive resin composition was coated on a quartz substrate using a spin coater and then treated on a hot plate at 120 ° C for 100 seconds. The coated film was cured in an electric furnace at 250 ° C for 40 minutes, and then the haze meter (NDH-2000 , DENSHOKU) equipment to confirm transparency.

(○: 투과율 90% 이상으로 우수한 수준, △: 투과율 80~90%로 투명성 보통, X: 투과율 80% 이하로 투명성 낮음)?: Excellent in transmittance of 90% or more,?: Transparency in a transmittance of 80 to 90%, and X: transmittance of 80% or less,

구분division 잔막율Residual film ratio 감도Sensitivity 잔사Residue 내열성 (1)Heat resistance (1) 내열성 (2)Heat resistance (2) 유전율permittivity 코팅성Coating property 투명성Transparency 실시예 1Example 1 실시예 2Example 2 실시예 3Example 3 실시예 4Example 4 실시예 5Example 5 비교예 1Comparative Example 1 XX XX XX 비교예 2Comparative Example 2 XX

상기 평가예를 통하여, 본 발명의 포지티브형 감광성 수지 조성물은 노광부의 현상 속도를 적절하게 조정하여 잔막이 남지 않는 시점의 감도(EOP)를 구현할 수 있음을 확인할 수 있으며, 막단차가 다양한 노광부의 전체 영역에서 잔사가 발생하지 않음을 확인할 수 있었다. Through the above evaluation examples, it can be confirmed that the positive photosensitive resin composition of the present invention can realize the sensitivity (EOP) at the time when the residual film is not left by appropriately adjusting the development speed of the exposed portion, It was confirmed that no residue was generated in the region.

상기 표 2에 나타난 바와 같이, 비교예 1의 경우 상대적으로 유리전이온도와  5% 중량 감소 온도가 낮아 내열성이 낮은 반면, 실시예 1 내지 5의 경우 비노광부의 잔막율과 감도, 유전율 및 내열성을 우수한 수준으로 유지하면서 노광부의 잔막이 깨끗하게 제거되었다. 비교예 2의 경우 내열과 유전율 측면에서는 다소 우수하지만, 실록산 함유 입자의 작은 비표면적으로 인해, 코팅성과 투명성이 저하되고 감도에 악영향을 주어 현상후 스컴이 남는 문제가 생겼다.As shown in Table 2, in Comparative Example 1, the glass transition temperature and the 5% weight reduction temperature were low, so that the heat resistance was low. In Examples 1 to 5, the residual film ratio and sensitivity, dielectric constant, and heat resistance of the non- The residual film of the exposed portion was cleanly removed while maintaining a good level. In the case of Comparative Example 2, it was somewhat superior in terms of heat resistance and dielectric constant. However, due to the small specific surface area of the siloxane-containing particles, coating and transparency deteriorated and the sensitivity was adversely affected.

이상을 통해 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 설명하였지만, 본 발명은 이에 한정되는 것이 아니고 특허청구범위와 발명의 상세한 설명의 범위 안에서 여러 가지로 변형하여 실시하는 것이 가능하고 이 또한 본 발명의 범위에 속하는 것은 당연하다.While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed exemplary embodiments, and that various changes and modifications may be made without departing from the scope of the invention. It is natural to belong.

Claims (8)

(A) 알칼리 가용성 수지;
(B) 감광성 디아조퀴논 화합물;
(C) 비표면적이 100 내지 400 m2/g인 실록산 함유 입자; 및
(D) 용매
를 포함하는 포지티브형 감광성 수지 조성물.
(A) an alkali-soluble resin;
(B) a photosensitive diazoquinone compound;
(C) siloxane-containing particles having a specific surface area of 100 to 400 m 2 / g; And
(D) Solvent
Wherein the positive photosensitive resin composition is a positive photosensitive resin composition.
제1항에서,
상기 실록산 함유 입자(C)는 비표면적이 100 내지 300 m2/g인 포지티브형 감광성 수지 조성물.
The method of claim 1,
The siloxane-containing particles (C) have a specific surface area of 100 to 300 m 2 / g.
제1항에서,
상기 알칼리 가용성 수지(A)는 폴리벤조옥사졸 전구체, 폴리아믹산, 폴리이미드 또는 이들의 조합인 포지티브형 감광성 수지 조성물.
The method of claim 1,
The alkali-soluble resin (A) is a polybenzoxazole precursor, a polyamic acid, a polyimide or a combination thereof.
제1항에서,
상기 실록산 함유 입자는 하기 화학식 1로 표시되는 것인 포지티브형 감광성 수지 조성물.
[화학식 1]
RmSi(OR1)4-m
(상기 화학식 1에서, R은 수소 원자, 히드록시기, 치환 또는 비치환된 C1 내지 C30 알킬기, 치환 또는 비치환된 C2 내지 C30 알케닐기, 치환 또는 비치환된 C2 내지 C30 알키닐기, 치환 또는 비치환된 C3 내지 C30 사이클로알킬기, 치환 또는 비치환된 C3 내지 C30 사이클로알케닐기, 치환 또는 비치환된 C3 내지 C30 사이클로알키닐기, 치환 또는 비치환된 C6 내지 C30 아릴기, 또는 이들의 조합이고,
R1은 치환 또는 비치환된 C1 내지 C30 알킬기, 치환 또는 비치환된 C2 내지 C30 알케닐기, 치환 또는 비치환된 C2 내지 C30 알키닐기, 치환 또는 비치환된 C3 내지 C30 사이클로알킬기, 치환 또는 비치환된 C3 내지 C30 사이클로알케닐기, 치환 또는 비치환된 C3 내지 C30 사이클로알키닐기, 치환 또는 비치환된 C6 내지 C30 아릴기, 또는 이들의 조합이며,
m은 1 내지 3의 정수이다.)
The method of claim 1,
Wherein the siloxane-containing particles are represented by the following formula (1).
[Chemical Formula 1]
R m is Si (OR 1 ) 4-m
(Wherein R represents a hydrogen atom, a hydroxy group, a substituted or unsubstituted C1 to C30 alkyl group, a substituted or unsubstituted C2 to C30 alkenyl group, a substituted or unsubstituted C2 to C30 alkynyl group, a substituted or unsubstituted A substituted or unsubstituted C3 to C30 cycloalkyl group, a substituted or unsubstituted C3 to C30 cycloalkenyl group, a substituted or unsubstituted C3 to C30 cycloalkynyl group, a substituted or unsubstituted C6 to C30 aryl group,
R 1 is a substituted or unsubstituted C1 to C30 alkyl group, a substituted or unsubstituted C2 to C30 alkenyl group, a substituted or unsubstituted C2 to C30 alkynyl group, a substituted or unsubstituted C3 to C30 cycloalkyl group, A substituted or unsubstituted C3 to C30 cycloalkenyl group, a substituted or unsubstituted C6 to C30 aryl group, or a combination thereof,
and m is an integer of 1 to 3.)
제1항에서,
상기 포지티브형 감광성 수지 조성물은
상기 (A) 알칼리 가용성 수지 100 중량부에 대하여
상기 (B) 감광성 디아조퀴논 화합물 5 내지 100 중량부;
상기 (C) 실록산 함유 입자 1 내지 10 중량부; 및
상기 (D) 용매 100 내지 400 중량부
를 포함하는 포지티브형 감광성 수지 조성물.
The method of claim 1,
The positive photosensitive resin composition
With respect to 100 parts by weight of the alkali-soluble resin (A)
5 to 100 parts by weight of the photosensitive diazoquinone compound (B);
1 to 10 parts by weight of the siloxane-containing particles (C); And
100 to 400 parts by weight of the solvent (D)
Wherein the positive photosensitive resin composition is a positive photosensitive resin composition.
제1항에서,
상기 포지티브형 감광성 수지 조성물은 페놀 화합물을 더 포함하는 포지티브형 감광성 수지 조성물.
The method of claim 1,
Wherein the positive photosensitive resin composition further comprises a phenol compound.
제1항 내지 제6항 중 어느 한 항의 포지티브형 감광성 수지 조성물을 이용하여 제조된 절연막.An insulating film produced by using the positive photosensitive resin composition of any one of claims 1 to 6. 제7항에 따른 절연막을 포함하는 표시장치.A display device comprising an insulating film according to claim 7.
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