KR20140025824A - Manufacturing method of electronic chip embedded circuit board - Google Patents
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Abstract
Description
실시예들은 회로기판의 제조 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 미세한 지름의 비아홀을 형성하여 미세한 피치의 회로 패턴을 구현할 수 있는 전자 칩이 내장된 회로기판의 제조 방법에 관한 것이다. Embodiments relate to a method of manufacturing a circuit board, and more particularly, to a method of manufacturing a circuit board having an electronic chip capable of forming a fine diameter via hole to implement a circuit pattern having a fine pitch.
최근 들어 전자 기기의 부품 크기가 더욱 작아지고 있고, 하나의 제품이 여러 가지 기능을 갖추는 것을 선호하는 소비자의 욕구로 인해 부품의 개수도 증가하고 있다. 이와 같이 회로기판의 표면적이 감소하면서도 표면에 실장되어야 하는 부품의 개수가 증가함에 따라, 회로기판의 표면에 실장되던 부품들이 기판 내부에 내장되는 경우가 많다. In recent years, the size of electronic components has become smaller, and the number of components has increased due to the desire of consumers to prefer one product to have various functions. As the number of components to be mounted on the surface increases while the surface area of the circuit board decreases, components mounted on the surface of the circuit board are often embedded in the substrate.
특별히 능동소자가 회로기판에 내장(embedded)될 때에는 수동소자와 능동소자의 사이의 거리가 단축되므로, 뛰어난 전기적 성능을 필요로 하는 패키지에 이러한 회로기판을 적용할 수 있다. 또한 회로기판에 전자 칩이 내장되면 회로기판 전체의 경박단소화가 가능해지고, 좁은 면적의 회로기판 표면에 여러 가지 부품을 실장하기 위해 소요되는 조립 공수가 감소되며, 부품의 배치를 위한 여유가 증가하므로 디자인 자유도가 향상되는 등의 장점이 있다.In particular, when the active element is embedded in the circuit board, the distance between the passive element and the active element is shortened, so that the circuit board can be applied to a package requiring excellent electrical performance. In addition, when the electronic chip is embedded in the circuit board, it is possible to reduce the thickness of the entire circuit board, and to reduce the number of assembly operations required to mount various components on the surface of the circuit board in a small area, and increase the margin for the arrangement of the components. There are advantages such as improved design freedom.
일반적으로 전자 칩이 내장된 회로기판을 제작할 때에는, 복수 개의 회로기판을 적층하여 다층의 회로기판을 형성하는 빌드업(build up) 기술이 사용된다. 구체적으로, 회로기판을 적층하는 공정은 전자 칩이 부착되는 코어층(core layer)을 제작한 후에 코어층의 양면에 적층용 기판을 부착하는 단계들을 포함한다. 코어층의 양면에 접착제를 이용하여 적층용 기판을 부착한다. In general, when fabricating a circuit board incorporating an electronic chip, a build-up technique in which a plurality of circuit boards are stacked to form a multilayer circuit board is used. Specifically, the process of laminating a circuit board includes preparing a core layer to which an electronic chip is attached and then attaching the lamination substrate to both surfaces of the core layer. The substrate for lamination is attached to both surfaces of the core layer using an adhesive.
전자 칩이 내장된 회로기판을 제작할 때에는, 기판을 적층한 후 가열 및 가압하여 적층체를 형성하는 작업 이외에도, 서로 다른 층들의 배선을 전기적으로 연결하거나 회로기판에 내장되는 전자 소자의 단자와 배선을 전기적으로 연결하는 인터커넥션(interconnection) 작업이 필요하다. 층간을 전기적으로 연결하는 인터커넥션 작업은 여러 가지 단계의 복잡한 공정으로 이루어진다. When manufacturing a circuit board incorporating an electronic chip, in addition to forming a laminate by heating and pressing the substrate after laminating the substrate, the wiring of the different layers may be electrically connected or the terminals and wiring of the electronic element embedded in the circuit board may be disconnected. There is a need for electrical connection. The interconnection work, which electrically connects the layers, is a complex process with several steps.
전자 칩이 내장된 회로기판의 품질 및 특성은 인터커넥션 작업에서 가공되는 비아홀(via hole)에 의해 영향을 받는다. 인터커넥션 작업에서는 예를 들어 드릴을 이용하여 비아홀을 가공하고, 비아홀을 도금하여 층간을 전기적으로 연결한다. The quality and characteristics of circuit boards incorporating electronic chips are affected by via holes which are processed in the interconnection operation. In the interconnection operation, for example, a drill is used to process via holes, and the via holes are plated to electrically connect the layers.
전자 칩이 내장된 회로기판에서는 전자 소자를 내장하기 위해 절연층의 높이가 증가하므로 층과 층을 전기적으로 연결할 때에 미세한 크기의 비아홀을 가공하기가 어렵다. 미국 공개특허공보 2007/0254455호의 도 4C에 나타나는 것과 같이 회로기판에 내장된 칩을 다른 층의 회로패턴과 연결하기 위해서는 두꺼운 절연층을 가공하여 비아홀을 형성해야 하므로 절연층의 크기에 비례하여 비아홀의 크기도 증가해야 한다.In a circuit board in which an electronic chip is embedded, the height of the insulating layer is increased to embed the electronic device, and thus, it is difficult to process fine via holes when the layers are electrically connected. As shown in FIG. 4C of US Patent Application Publication No. 2007/0254455, in order to connect a chip embedded in a circuit board with a circuit pattern of another layer, a via hole must be formed by processing a thick insulating layer, so that the size of the via hole is proportional to the size of the insulating layer. It should also increase in size.
비아홀의 크기가 증가하면 도금 특성도 불량해지므로 미세한 피치를 갖는 배선 형성이 어려워진다. 또한 비아홀의 크기가 증가하면 비아홀 내부에 보이드(void; 서로 다른 물질과 물질의 사이에 생기는 공동 현상)가 발생하거나 언더컷(undercut; 에칭에 의하여 도체 패턴의 일측면에 발생하는 홈이나 오목부)이 발생하므로 회로기판의 품질이 저하된다.Increasing the size of the via hole also causes poor plating properties, making it difficult to form a wiring having a fine pitch. In addition, as the size of the via hole increases, voids (cavities between different materials and materials) are generated inside the via holes, or undercuts (grooves or recesses generated on one side of the conductor pattern by etching) are formed. As a result, the quality of the circuit board is degraded.
실시예들의 목적은 미세한 피치의 회로 패턴을 갖는 전자 소자를 내장하는 회로기판의 제조 방법을 제공하는 데 있다. An object of the embodiments is to provide a method for manufacturing a circuit board containing an electronic device having a fine pitch circuit pattern.
실시예들의 다른 목적은 층들을 연결하기 위한 인터커넥션 작업에서 미세한 크기의 비아홀 가공을 가능하게 함으로써 비아홀 불량 발생이 저하되고 제품 특성이 향상된 전자 소자를 내장하는 회로기판의 제조 방법을 제공하는 데 있다. Another object of the embodiments is to provide a method of manufacturing a circuit board incorporating an electronic device having reduced via hole defects and improved product characteristics by enabling a fine sized via hole processing in an interconnection operation for connecting layers.
일 실시예에 관한 전자 칩이 내장된 회로기판의 제조 방법은, 양면에 도전층을 갖는 제1 적층기판을 준비하는 단계와, 제1 적층기판의 일면에 제1 패턴을 형성하는 단계와, 제1 패턴을 덮도록 절연층을 형성하고 제1 패턴의 연결 콘택트에 대응하는 위치에서 절연층을 제거하여 범프용 구멍을 형성하는 단계와, 범프용 구멍으로 노출된 연결 콘택트에 도금하여 범프를 형성하는 단계와, 전자 칩을 제1 적층기판의 일면에 장착하는 단계와, 양면에 도전층을 갖는 제2 적층기판을 준비하는 단계와, 제2 적층기판의 일면에 제2 패턴을 형성하는 단계와, 제1 패턴과 제2 패턴을 대향시켜 제1 적층기판과 제2 적층기판을 부착하는 단계와, 범프에 대응하는 제2 적층기판의 위치에서 비아홀을 형성하는 단계와, 비아홀을 도금하는 단계를 포함한다.According to one or more exemplary embodiments, a method of manufacturing a circuit board including an electronic chip includes preparing a first laminated substrate having conductive layers on both sides thereof, forming a first pattern on one surface of the first laminated substrate, and Forming an insulating layer to cover the first pattern and removing the insulating layer at a position corresponding to the connecting contact of the first pattern to form a bump hole, and plating the connecting contact exposed through the bump hole to form a bump. Mounting an electronic chip on one side of the first laminated substrate, preparing a second laminated substrate having a conductive layer on both sides thereof, forming a second pattern on one surface of the second laminated substrate, Attaching the first laminated substrate and the second laminated substrate to face the first pattern and the second pattern; forming a via hole at a position of the second laminated substrate corresponding to the bump; and plating the via hole. do.
전자 칩이 내장된 회로기판의 제조 방법은, 제2 적층기판의 타면에 제3 패턴을 형성하고, 제1 적층기판의 타면에 제4 패턴을 형성하는 단계를 더 포함할 수 있다.The method of manufacturing a circuit board in which an electronic chip is embedded may further include forming a third pattern on the other surface of the second laminated substrate and forming a fourth pattern on the other surface of the first laminated substrate.
전자 칩이 내장된 회로기판의 제조 방법은, 제1 패턴을 형성하는 단계와 범프용 구멍을 형성하는 단계의 사이에 제1 패턴에서 전자 칩이 연결될 본딩 패드를 도금하는 단계를 더 포함할 수 있다.The method of manufacturing a circuit board in which an electronic chip is embedded may further include plating a bonding pad to which the electronic chip is connected in the first pattern between forming the first pattern and forming the bump hole. .
본딩 패드를 도금하는 단계는, 본딩 패드를 제외한 제1 패턴을 덮도록 제1 적층기판의 일면에 제1 레지스트를 형성하는 단계와, 본딩 패드의 표면에 무전해 니켈 금도금법(ENIG; electroless nickel immersion gold plating)에 의해 도금층을 형성하는 단계를 포함할 수 있다.The plating of the bonding pad may include forming a first resist on one surface of the first laminated substrate to cover the first pattern except for the bonding pad, and electroless nickel immersion (ENIG) on the surface of the bonding pad. It may include the step of forming a plating layer by gold plating).
전자 칩을 장착하는 단계는, 전자 칩과 본딩 패드의 도금층의 사이에 전도성 접착제를 개재하여 전자 칩과 도금층을 연결할 수 있다.In the mounting of the electronic chip, the electronic chip and the plating layer may be connected through the conductive adhesive between the electronic chip and the plating layer of the bonding pad.
전자 칩이 내장된 회로기판의 제조 방법은, 범프를 형성하는 단계의 이전에 범프용 구멍으로 노출된 연결 콘택트의 표면을 세정하는 단계를 더 포함할 수 있다.The method of manufacturing a circuit board in which an electronic chip is embedded may further include cleaning the surface of the connection contact exposed through the hole for the bump prior to forming the bump.
범프를 형성하는 단계는 전해 구리도금법에 의해 연결 콘택트의 표면을 도금할 수 있다.The forming of the bumps may plate the surface of the connecting contact by electrolytic copper plating.
제1 적층기판과 제2 적층기판을 부착하는 단계는 제1 적층기판과 제2 적층기판의 사이에 접착층을 배치하여 제1 적층기판과 제2 적층기판을 부착할 수 있다.In the attaching of the first laminated substrate and the second laminated substrate, an adhesive layer may be disposed between the first laminated substrate and the second laminated substrate to attach the first laminated substrate and the second laminated substrate.
범프의 두께는 접착층의 두께의 80% 내지 90%일 수 있다.The thickness of the bumps may be 80% to 90% of the thickness of the adhesive layer.
상술한 바와 같은 실시예들에 관한 전자 칩이 내장된 회로기판의 제조 방법은, 회로기판의 층들을 연결하는 인터커넥션용 연결 콘택트에 범프를 미리 형성하므로 미세한 지름의 비아홀을 형성하여 미세한 피치의 회로 패턴을 구현할 수 있다.In the method of manufacturing a circuit board incorporating an electronic chip according to the above-described embodiments, bumps are formed in a connection connection for interconnecting the layers of the circuit board in advance, so that via holes having a small diameter are formed to form a fine pitch circuit. You can implement patterns.
또한 회로기판의 내부에 전자 칩을 수용하기 위해 접착층의 두께가 증가하더라도 범프를 미리 형성함으로써 접착층에서 비아홀 가공을 위해 천공이 되는 두께를 최소화할 수 있어서 비아홀 가공 품질 및 비아홀의 도금 품질이 개선될 수 있다.In addition, even if the thickness of the adhesive layer is increased to accommodate the electronic chip inside the circuit board, bumps are formed in advance, thereby minimizing the thickness to be drilled for the via hole processing in the adhesive layer, thereby improving the quality of the via hole processing and the plating quality of the via holes. have.
도 1은 일 실시예에 관한 전자 칩이 내장된 회로기판의 제조 방법에서 제1 적층 기판을 준비하는 단계를 나타낸 단면도이다.
도 2는 도 1의 제1 적층 기판의 일면에 제1 패턴을 형성하는 단계를 나타낸 단면도이다.
도 3은 도 2의 제1 패턴의 위에 제1 레지스트를 형성하는 단계를 나타낸 단면도이다.
도 4는 도 2의 본딩 패드를 도금하는 단계를 나타내는 단면도이다.
도 5는 도 2의 제1 적층기판에서 제1 레지스트를 제거한 상태를 나타낸 단면도이다.
도 6은 도 5의 제1 적층기판의 일면에 절연층을 형성한 상태를 나타낸 단면도이다.
도 7은 도 6의 제1 적층기판에서 범프용 구멍을 형성하기 위한 노광 단계를 나타낸 단면도이다.
도 8은 도 7의 노광 단계에 의해 범프용 구멍이 완성된 상태를 나타낸 단면도이다.
도 9는 도 8의 범프용 구멍에서 노출된 연결 콘택트에 소프트 에칭을 실시하는 단계를 나타낸 단면도이다.
도 10은 도 9의 연결 콘택트에 산처리를 실시하는 단계를 나타낸 단면도이다.
도 11은 도 9의 범프용 구멍에 범프를 형성하는 단계를 나타낸 단면도이다.
도 12는 도 11의 범프의 형성이 완료된 상태를 나타낸 단면도이다.
도 13은 도 12에서 절연층을 제거한 상태를 나타낸 단면도이다.
도 14는 도 13의 제1 적층기판에 전자 칩을 장착하는 단계를 나타낸 단면도이다.
도 15a는 제2 적층기판을 준비하는 단계를 나타낸 단면도이다.
도 15b는 도 15a의 제2 적층기판에 제2 패턴을 형성하는 단계를 나타낸 단면도이다.
도 15c는 도 14의 제1 적층기판과 도 15b의 제2 적층기판을 부착하는 단계를 나타낸 단면도이다.
도 16은 도 15c의 제2 적층기판에 비아홀을 형성하는 단계를 나타낸 단면도이다.
도 17은 도 16의 비아홀을 도금하는 단계를 나타낸 단면도이다.
도 18은 도 17의 제2 적층기판에 제3 패턴을 형성하고, 제1 적층기판에 제4 패턴을 형성하는 단계를 나타낸 단면도이다.
도 19는 도 18의 회로기판에 보호층을 형성하는 단계를 나타낸 단면도이다.
도 20은 도 1 내지 도 19에 나타난 실시예에 관한 전자 칩이 내장된 회로기판의 제조 방법의 단계들을 나타낸 순서도이다.1 is a cross-sectional view illustrating a step of preparing a first laminated substrate in a method of manufacturing a circuit board having an electronic chip according to an embodiment.
FIG. 2 is a cross-sectional view illustrating a step of forming a first pattern on one surface of the first laminated substrate of FIG. 1.
3 is a cross-sectional view illustrating a step of forming a first resist on the first pattern of FIG. 2.
4 is a cross-sectional view illustrating a step of plating the bonding pad of FIG. 2.
5 is a cross-sectional view illustrating a state in which a first resist is removed from a first laminated substrate of FIG. 2.
6 is a cross-sectional view illustrating a state in which an insulating layer is formed on one surface of the first laminated substrate of FIG. 5.
7 is a cross-sectional view illustrating an exposure step for forming bump holes in the first laminated substrate of FIG. 6.
8 is a cross-sectional view illustrating a state where a bump hole is completed by the exposure step of FIG. 7.
9 is a cross-sectional view illustrating a step of soft etching the connection contact exposed from the bump hole of FIG. 8.
FIG. 10 is a cross-sectional view illustrating an acid treatment of the connecting contact of FIG. 9.
FIG. 11 is a cross-sectional view illustrating a process of forming a bump in the bump hole of FIG. 9.
12 is a cross-sectional view illustrating a state in which bumps of FIG. 11 are completed.
FIG. 13 is a cross-sectional view illustrating a state in which an insulation layer is removed from FIG. 12.
FIG. 14 is a cross-sectional view illustrating a process of mounting an electronic chip on the first stacked substrate of FIG. 13.
15A is a cross-sectional view illustrating a step of preparing a second laminated substrate.
FIG. 15B is a cross-sectional view illustrating a step of forming a second pattern on the second laminated substrate of FIG. 15A.
15C is a cross-sectional view illustrating a step of attaching the first laminated substrate of FIG. 14 and the second laminated substrate of FIG. 15B.
16 is a cross-sectional view illustrating a step of forming a via hole in the second laminated substrate of FIG. 15C.
17 is a cross-sectional view illustrating a step of plating the via hole of FIG. 16.
FIG. 18 is a cross-sectional view illustrating a step of forming a third pattern on the second laminated substrate of FIG. 17 and forming a fourth pattern on the first laminated substrate.
FIG. 19 is a cross-sectional view illustrating a process of forming a protective layer on a circuit board of FIG. 18.
20 is a flowchart illustrating steps of a method of manufacturing a circuit board incorporating an electronic chip according to the embodiment shown in FIGS. 1 to 19.
이하, 첨부 도면의 실시예들을 통하여, 실시예들에 관한 전자 칩이 내장된 회로기판의 제조 방법의 구성과 작용을 상세히 설명한다.Hereinafter, with reference to the embodiments of the accompanying drawings, the configuration and operation of the manufacturing method of the circuit board with the electronic chip according to the embodiments will be described in detail.
도 1 내지 도 19는 일 실시예에 관한 전자 칩이 내장된 회로기판의 제조 방법의 각 단계들의 공정이 진행되는 모습을 개략적으로 나타낸 단면도이며, 도 20은 도 1 내지 도 19에 나타난 실시예에 관한 전자 칩이 내장된 회로기판의 제조 방법의 단계들을 나타낸 순서도이다.1 to 19 are cross-sectional views schematically illustrating a process of each step of a method of manufacturing a circuit board having an electronic chip according to an embodiment, and FIG. 20 is a cross-sectional view of the embodiment shown in FIGS. 1 to 19. It is a flow chart showing the steps of a method of manufacturing a circuit board incorporating an electronic chip.
도 1 내지 도 20에 나타난 실시예에 관한 전자 칩이 내장된 회로기판의 제조 방법은, 양면에 도전층(10, 30)을 갖는 제1 적층기판(100)을 준비하는 단계(S100)와, 제1 적층기판(100)의 일면에 제1 패턴(31)을 형성하는 단계(S110)와, 제1 패턴(31)을 덮도록 제1 레지스트(40)를 형성하고 제1 패턴(31)의 연결 콘택트(34, 35)에 대응하는 위치에서 절연층(60)을 제거하여 범프용 구멍(61, 62)을 형성하는 단계(S120)와, 범프용 구멍(61, 62)으로 노출된 연결 콘택트(34, 35)에 도금하여 범프(71, 72)를 형성하는 단계(S130)와, 전자 칩(80)을 제1 적층기판(100)의 일면에 장착하는 단계(S140)와, 양면에 도전층(210, 230)을 갖는 제2 적층기판(200)을 준비하는 단계(S150)와, 제2 적층기판(200)의 일면에 제2 패턴(211)을 형성하는 단계(S160)와, 제1 패턴(31)과 제2 패턴(211)을 대향시켜 제1 적층기판(100)과 제2 적층기판(200)을 부착하는 단계(S170)와, 범프(71, 72)에 대응하는 제2 적층기판(200)의 위치에서 비아홀(238, 239)을 형성하는 단계(S180)와, 비아홀(238, 239)을 도금하는 단계(S190)를 포함한다.The method of manufacturing a circuit board in which an electronic chip is embedded according to the embodiment illustrated in FIGS. 1 to 20 includes preparing a first
도 1 내지 도 20에 나타난 실시예에 관한 전자 칩이 내장된 회로기판의 제조 방법은, 제2 적층기판(200)의 타면에 제3 패턴(231)을 형성하고, 제1 적층기판(100)의 타면에 제4 패턴(11)을 형성하는 단계(S200)를 더 포함할 수 있다.1 to 20, in the method of manufacturing a circuit board in which an electronic chip is embedded, the
도 1은 일 실시예에 관한 전자 칩이 내장된 회로기판의 제조 방법에서 제1 적층 기판을 준비하는 단계를 나타낸 단면도이다.1 is a cross-sectional view illustrating a step of preparing a first laminated substrate in a method of manufacturing a circuit board having an electronic chip according to an embodiment.
제1 적층기판(100)은 절연성 소재로 이루어지는 제1 절연기판(20)과, 제1 절연기판(20)의 양면에 형성된 도전층(10, 30)을 구비한다. 유연성을 갖는 회로기판(flexible circuit board)을 제작하고자 하는 경우에는, 제1 절연기판(20)이 폴리이미드 수지와 같이 유연성을 갖는 소재를 포함할 수 있다. The first
제1 절연기판(20)의 양측 표면에 형성된 도전층(10, 30)은 회로기판에서 전기 신호를 전달하는 배선의 패턴을 형성하는 부분이므로, 전기 전도성을 갖는 재질로 이루어진다. 예를 들어, 도전층(10, 30)은 구리를 포함할 수 있다.Since the
도 2는 도 1의 제1 적층 기판의 일면에 제1 패턴을 형성하는 단계를 나타낸 단면도이다.FIG. 2 is a cross-sectional view illustrating a step of forming a first pattern on one surface of the first laminated substrate of FIG. 1.
제1 적층기판(100)이 준비되면, 제1 적층기판(100)의 일면에 제1 패턴(31)을 형성한다. 제1 패턴(31)은 제1 적층기판(100)의 일면에서 신호를 전달하는 기능을 수행한다.When the first
제1 패턴(31)은 도전층(30)을 식각에 의해 제거하는 공정에 의해 형성될 수 있다. 즉 도전층(30)의 위에 감광성 레지스트층(미도시)을 형성하고, 그 위에 마스크(미도시)를 배치하여 노광한 후, 현상을 실시하고, 에칭 용액으로 도전층(30)의 일부를 제거하는 단계들을 통해, 제1 적층기판(100)의 위에 제1 패턴(31)을 형성할 수 있다. The
제1 적층기판(100)의 위에 제1 패턴(31)을 형성함에 있어서, 실시예는 상술한 바와 같은 포토리소그래피법(photo lithography)에만 한정되는 것은 아니다. 제1 패턴(31)은 완성된 회로기판에서 전기적인 신호를 전달할 수 있으면 되므로, 도금법이나 인쇄법 등, 여러 가지 방법을 이용하여 형성될 수 있다.In forming the
도 3은 도 2의 제1 패턴의 위에 제1 레지스트를 형성하는 단계를 나타낸 단면도이고, 도 4는 도 2의 본딩 패드를 도금하는 단계를 나타내는 단면도이며, 도 5는 도 2의 제1 적층기판에서 제1 레지스트를 제거한 상태를 나타낸 단면도이다.3 is a cross-sectional view illustrating a step of forming a first resist on the first pattern of FIG. 2, FIG. 4 is a cross-sectional view illustrating a step of plating the bonding pad of FIG. 2, and FIG. 5 is a first laminated substrate of FIG. 2. Is a cross-sectional view showing a state in which the first resist is removed.
제1 패턴(31)을 형성하는 단계와 이하에서 설명될 범프용 구멍(61, 62)을 형성하는 단계의 사이에는 도 3 내지 도 5에 도시된 것과 같이 본딩 패드(32, 33)를 도금하는 단계가 더 실행될 수 있다.Between the step of forming the
본딩 패드(32, 33)를 도금하는 단계는, 도 3에 도시된 것과 같이 본딩 패드(32, 33)를 제외한 제1 패턴(31)을 덮도록 제1 적층기판(100)의 일면에 제1 레지스트(40)를 형성하는 단계와, 도 4에 도시된 것과 같이 본딩 패드(32, 33)의 표면에 무전해 니켈 금도금법(ENIG; electroless nickel immersion gold plating)에 의해 도금층(51, 52)을 형성하는 단계를 포함할 수 있다. 무전해 니켈 금도금법은 무전해 도금에 의한 Ni층을 Au로 치환하는 방법이다.The plating of the
본딩 패드(32, 33)를 도금하여 본딩 패드(32, 33)의 표면에 도금층(51, 52)을 형성하는 것은 본딩 패드(32, 33)와 전자 칩(80)을 연결할 때(도 14 참조), 양호한 전기적 접속 성능 및 기계적 접속 성능을 구현하기 위한 것이다. Forming the plating layers 51, 52 on the surfaces of the
본딩 패드(32, 33)의 표면에 도금층(51, 52)을 형성한 이후에는 도 5에 도시된 것과 같이 제1 적층기판(100)의 일면에서 제1 레지스트(40)를 모두 제거하는 단계가 실행될 수 있다.After the plating layers 51 and 52 are formed on the surfaces of the
도 6은 도 5의 제1 적층기판의 일면에 절연층을 형성한 상태를 나타낸 단면도이고, 도 7은 도 6의 제1 적층기판에서 범프용 구멍을 형성하기 위한 노광 단계를 나타낸 단면도이며, 도 8은 도 7의 노광 단계에 의해 범프용 구멍이 완성된 상태를 나타낸 단면도이다.6 is a cross-sectional view illustrating a state in which an insulating layer is formed on one surface of the first laminated substrate of FIG. 5, and FIG. 7 is a cross-sectional view illustrating an exposure step for forming a bump hole in the first laminated substrate of FIG. 6. 8 is a cross-sectional view illustrating a state where a bump hole is completed by the exposure step of FIG. 7.
범프용 구멍을 형성하는 단계는, 도 6에 도시된 것과 같이 제1 패턴(31)을 덮도록 제1 적층기판(100)의 일면에 절연층(60)을 형성하는 단계와, 도 7 및 도 8에 도시된 것과 같이 제1 패턴(31)의 연결 콘택트(34, 35)에 대응하는 위치에서 절연층(60)을 제거하는 단계를 포함한다. Forming the bump hole may include forming an insulating
제1 적층기판(100)의 일면에 형성된 절연층(60)은 감광성인 드라이 필름 레지스트(DFR)을 포함할 수 있다. 도 7에 도시된 것과 같이 연결 콘택트(34, 35)에 대응하는 구멍(91, 92)을 구비한 마스크(90)를 제1 적층기판(100)의 위에 배치하고 광원(400)을 이용하여 노광을 실시한다. 노광이 완료되면 현상액을 흘려 절연층(60)에서 노광된 부분을 제거하면 도 8에 도시된 것과 같이 연결 콘택트(34, 35)를 노출시키는 범프용 구멍(61, 62)이 형성된다.The insulating
도 9는 도 8의 범프용 구멍에서 노출된 연결 콘택트에 소프트 에칭을 실시하는 단계를 나타낸 단면도이고, 도 10은 도 9의 연결 콘택트에 산처리를 실시하는 단계를 나타낸 단면도이다. FIG. 9 is a cross-sectional view illustrating a step of soft etching the connection contact exposed from the bump hole of FIG. 8, and FIG. 10 is a cross-sectional view illustrating an acid treatment of the connection contact of FIG. 9.
범프용 구멍(61, 62)이 형성된 이후에는, 연결 콘택트(34, 35)에 대해 세미 애디티브 전해 구리도금법(semi-additive electro Cu plating)을 적용하기 위해 연결 콘택트(34, 35)의 표면을 세정하는 단계가 실행될 수 있다. 즉 도 9에 도시된 것과 같이 연결 콘택트(34, 35)의 소프트 에칭을 적용하는 단계와, 도 10에 도시된 것과 같이 연결 콘택트(34, 35)의 표면을 5~10%의 황산으로 산처리하는 단계가 실행될 수 있다.After the bump holes 61 and 62 are formed, the surfaces of the connecting
도 11은 도 9의 범프용 구멍에 범프를 형성하는 단계를 나타낸 단면도이고, 도 12는 도 11의 범프의 형성이 완료된 상태를 나타낸 단면도이며, 도 13은 도 12에서 절연층을 제거한 상태를 나타낸 단면도이다. FIG. 11 is a cross-sectional view illustrating a process of forming bumps in the bump hole of FIG. 9, FIG. 12 is a cross-sectional view illustrating a state in which bumps are formed in FIG. 11, and FIG. It is a cross section.
범프(71, 72)를 형성하는 단계에서는 전해 구리도금법에 의해 연결 콘택트(34, 35)의 표면을 도금한다. 전해 구리도금법은 전류를 흘려 구리(Cu) 입자를 회로의 표면에 도금하는 방법이다. 도 11에는 연결 콘택트(34, 35)의 표면에 도금층(71a, 72a)이 성장하는 상태를 나타낸다.In the step of forming the
도 12에 도시된 것과 같이 연결 콘택트(34, 35)의 표면에 범프(71, 72)가 형성되면, 도 13에 도시된 것과 같이 제1 적층기판(100)의 일면에 부착되어 있던 절연층(60)을 제거하는 단계가 실행된다.When bumps 71 and 72 are formed on the surfaces of the
도 14는 도 13의 제1 적층기판에 전자 칩을 장착하는 단계를 나타낸 단면도이다. FIG. 14 is a cross-sectional view illustrating a process of mounting an electronic chip on the first stacked substrate of FIG. 13.
범프(71, 72)의 형성 및 절연층(60)의 제거가 완료된 이후에는, 도 14에 도시된 것과 같이 전자 칩(80)을 제1 적층기판(100)에 장착하는 단계가 실행된다. 전자 칩(80)의 장착은 예를 들어 플립칩 본딩법(flip chip bonding)을 이용하여 실행될 수 있다. 전자 칩(80)의 전극 패드(81, 82)와 본딩 패드(32, 33)의 도금층(51, 52)의 사이에 예를 들어 이방 전도성 필름(anisotropic conductive film; ACF)과 같은 전기 전도성 접착제(91, 92)를 배치함으로써, 전자 칩(80)을 본딩 패드(32, 33)와 연결할 수 있다. After the formation of the
이방 전도성 필름은 금속 코팅된 플라스틱 입자나 금속입자 등의 미립자 형태의 전도성 입자와, 접착제와, 첨가제(분산제) 등을 혼합하여 이루어지는 도전 접착층을 가지며, 박막의 필름형태로 제작되는 접착제이다.An anisotropic conductive film is an adhesive produced in the form of a thin film having a conductive adhesive layer formed by mixing conductive particles in the form of fine particles such as metal coated plastic particles or metal particles, an adhesive, an additive (dispersant) and the like.
도 15a는 제2 적층기판을 준비하는 단계를 나타낸 단면도이고, 도 15b는 도 15a의 제2 적층기판에 제2 패턴을 형성하는 단계를 나타낸 단면도이다.15A is a cross-sectional view illustrating a step of preparing a second laminated substrate, and FIG. 15B is a cross-sectional view illustrating a step of forming a second pattern on the second laminated substrate of FIG. 15A.
제1 적층기판(100)과 같이 제2 적층기판(200)은 절연성 소재로 이루어지는 제2 절연기판(220)과, 제2 절연기판(220)의 양면에 형성된 도전층(210, 230)을 구비한다. 유연성을 갖는 회로기판(flexible circuit board)을 제작하고자 하는 경우에는, 제2 절연기판(220)이 폴리이미드 수지와 같이 유연성을 갖는 소재를 포함할 수 있다. Like the first
제2 적층기판(200)이 준비되면, 제2 적층기판(200)의 일면에 제2 패턴(211)을 형성한다. 제2 패턴(211)은 제2 적층기판(200)의 일면에서 신호를 전달하는 기능을 수행한다. 제2 패턴(211)은 예를 들어, 포토리소그래피법(photo lithography)이나, 도금법이나, 인쇄법 등, 여러 가지 방법을 이용하여 형성될 수 있다.When the second
도 15c는 도 14의 제1 적층기판과 도 15b의 제2 적층기판을 부착하는 단계를 나타낸 단면도이다.15C is a cross-sectional view illustrating a step of attaching the first laminated substrate of FIG. 14 and the second laminated substrate of FIG. 15B.
일면에 제2 패턴(211)을 구비한 제2 적층기판(200)이 준비되면, 제1 적층기판(100)과 제2 적층기판(200)을 부착하는 단계가 실행된다.When the second
제1 적층기판(100)과 제2 적층기판(200)을 부착하는 단계는 제1 적층기판(100)과 제2 적층기판(200)의 사이에 접착층(240)을 배치하여 제1 적층기판(100)과 접착층(240)과 제2 적층기판(200)을 서로 결합시키는 단계와, 열과 압력을 가하는 단계를 포함할 수 있다. In the attaching of the first
접착층(240)은 회로기판이 유연성을 갖도록 하기 위해 폴리이미드와 같은 유연성 소재를 포함하는 절연 소재 기판의 양면에 접착제가 도포된 형태로 제조된 시트를 사용할 수 있다. The
제1 적층기판(100)과 제2 적층기판(200)을 부착하는 단계에서는 진공 라미네이션법(vacuum lamination)이나 진공 상태에서 열을 가하는 진공 핫 프레스법( hot press)을 이용할 수 있다. 진공 라미네이션법이나 진공 핫 프레스법은 제1 적층기판(100)과 접착층(240)과 제2 적층기판(200)을 접합할 때에 접합이 이루어지는 공간의 기압을 대기 압력보다 낮은 압력(진공압)으로 유지함으로써, 제1 적층기판(100)과 제2 적층기판(200) 등의 사이에 존재하는 공기를 제거하여 접합시키는 방법이다. 이와 같은 진공 라미네이션법을 이용하면 가열과 가압을 위해 소요되는 시간을 축소할 수 있다. In the attaching of the first
제1 적층기판(100)과 제2 적층기판(200)을 부착하는 단계는 예를 들어 롤 라미네이션법을 이용하여 실행될 수 있다. 즉 제1 적층기판(100)과 제2 적층기판(200)과 접착층(240)의 각각을 롤에 감긴 상태로 공급하고, 롤에서 제1 적층기판(100)과 제2 적층기판(200)과 접착층(240)을 풀어가면서 연속적으로 공급하는 동안 제1 적층기판(100)과 제2 적층기판(200)과 접착층(240)을 부착하는 단계를 실행할 수 있다. Attaching the first
범프(71, 72)의 두께(t2)는 접착층(240)의 두께(t1)의 약 80% 내지 90%로 설정될 수 있다. 예를 들어, 접착층(240)의 두께(t1)가 50μm일 때 범프(71, 72)의 두께(t2)는 40~45μm로 형성될 수 있다.The thickness t2 of the
이와 같이 범프(71, 72)의 두께(t2)와 접착층(240)의 두께(t1)를 조절함으로써, 회로기판의 내부에 전자 칩(80)을 내장하기 위해 접착층(240)의 두께(t1)를 증가시키는 경우에도 인터커넥션 작업을 위해 형성될 비아홀(238, 239; 도 16 참조)을 미세한 크기로 가공할 수 있다.As such, by adjusting the thickness t2 of the
도 16은 도 15c의 제2 적층기판에 비아홀을 형성하는 단계를 나타낸 단면도이다.16 is a cross-sectional view illustrating a step of forming a via hole in the second laminated substrate of FIG. 15C.
비아홀(238, 239)을 형성하는 단계는 범프(71, 72)에 대응하는 제2 적층기판(200)의 위치에서 드릴 가공을 실시하여 제2 적층기판(200)과 접착층(240)에 구멍을 뚫어 비아홀(238, 239)을 형성한다. 비아홀(238, 239)은 회로기판의 층들 사이의 전기적 연결 또는 단자와 회로패턴과의 전기적 연결을 이루기 위한 부분이다.The forming of the via holes 238 and 239 may be performed by drilling at the position of the second
비아홀(238, 239)은 미세한 크기의 구멍을 가공할 수 있는 자외선 레이저 드릴(500)을 이용하여 가공될 수 있다. 실시예는 이러한 비아홀(238, 239)의 가공 방법에 의해 제한되는 것은 아니며, 예를 들어 CO2 레이저 드릴을 이용하여 비아홀(238, 239)을 가공할 수도 있다. The via holes 238 and 239 may be processed using an
비아홀(238, 239)은 접착층(240)의 전체의 두께(t1)에 대한 가공을 할 필요가 없으며, 접착층(240)에서 범프(71, 72)의 상단면까지의 두께(t1-t2) 만을 제거하면 된다. 따라서 접착층(240)의 전체의 두께(t1)를 가공하여 비아홀을 형성하였던 종래의 방법에 비해, 본 실시예에서는 미세한 크기의 비아홀(238, 239)을 가공할 수 있다.The via holes 238 and 239 do not need to be processed to the entire thickness t1 of the
도 17은 도 16의 비아홀을 도금하는 단계를 나타낸 단면도이다. 17 is a cross-sectional view illustrating a step of plating the via hole of FIG. 16.
비아홀(238, 239)을 형성한 이후에는 비아홀(238, 239)의 표면을 구리와 같은 도전성 소재로 도금하는 단계가 실행된다. 도금이 완료되면 비아홀(238, 239)의 표면에 도금층(236, 237)이 형성된다. After the via holes 238 and 239 are formed, a step of plating the surfaces of the via holes 238 and 239 with a conductive material such as copper is performed. When plating is completed, plating
비아홀(238, 239)의 도금층(236, 237)은 제1 적층기판(100)의 제1 패턴(31)의 연결 콘택트(34, 35)와 범프(71, 72)와 전기적으로 연결된 상태이므로, 도금층(236, 237)이 제1 적층기판(100)의 제1 패턴(31)과 제2 적층기판(200)의 타면의 도전층(230)을 전기적으로 연결한다.Since the plating layers 236 and 237 of the via holes 238 and 239 are electrically connected to the connecting
도 18은 도 17의 제2 적층기판에 제3 패턴을 형성하고 제1 적층기판에 제4 패턴을 형성하는 단계를 나타낸 단면도이며, 도 19는 도 18의 회로기판에 보호층을 형성하는 단계를 나타낸 단면도이다.FIG. 18 is a cross-sectional view illustrating a process of forming a third pattern on the second stacked substrate of FIG. 17 and forming a fourth pattern on the first stacked substrate, and FIG. 19 illustrates forming a protective layer on the circuit board of FIG. 18. It is sectional drawing shown.
비아홀(238, 239)의 도금이 완료되면, 제2 적층기판(200)의 타면에 제3 패턴(231)을 형성하고, 제1 적층기판(100)의 타면에 제4 패턴(11)을 형성하는 단계가 실행될 수 있다.When the plating of the via holes 238 and 239 is completed, the
제2 적층기판(200)에 제3 패턴(231)을 형성하는 단계에서는 제3 패턴(231)와 비아홀(238, 239)의 도금층(236, 237)을 연결하는 랜드(239a, 239b)가 함께 형성될 수 있다. 이로써 제1 적층기판(100)의 제1 패턴(31)은 연결 콘택트(34, 35)에서 범프(71, 72)와 도금층(236, 237)과 랜드(239a, 239b)를 경유하여 제2 적층기판(200)의 제3 패턴(231)과 전기적으로 연결될 수 있다.In the forming of the
제3 패턴(231)과 제4 패턴(11)이 형성된 이후에는, 제3 패턴(231)과 제4 패턴(11)의 표면을 덮어서 보호하는 보호층(251, 252)을 제1 적층기판(100)과 제2 적층기판(200)에 형성하는 단계가 실행될 수 있다.After the
보호층(251, 252)을 형성하는 공정도 드라이 필름 레지스트(DFR)를 제1 적층기판(100)의 타면과 제2 적층기판(200)의 타면에 적층한 이후에, 노광, 현상, 에칭, 박리, 자동 광학적 검사(auto optical inspection) 등의 단계들에 실행될 수 있다.Process diagram for forming the
상술한 바와 같이 범프(71, 72)의 두께(t2)를 접착층(240)의 두께(t1)의 약 80% 내지 90%로 설정함으로써, 회로기판의 내부에 전자 칩(80)을 내장하기 위해 접착층(240)의 두께(t1)를 증가시키는 경우에도 인터커넥션 작업을 위해 형성될 비아홀(238, 239)을 미세한 크기로 가공할 수 있다. As described above, the thickness t2 of the
일반적인 회로기판용 비아홀 랜드는 350μm 의 폭을 갖지만, 미세한 피치의 회로 배선에서는 비아홀 랜드의 폭이 200μm 이하가 되어야 한다. 본 실시예에서는 비아홀(238, 239)이 미세한 크기로 가공됨으로써 제2 적층기판(200)의 제3 패턴(231)과 연결되는 랜드(239a, 239b)의 크기도 미세한 크기로 가공될 수 있으므로, 미세한 피치(pitch)의 회로 배선에 대응할 수 있다. A general via hole land for a circuit board has a width of 350 mu m, but in a fine pitch circuit wiring, the width of the via hole land should be 200 mu m or less. In this embodiment, since the via holes 238 and 239 are processed to a fine size, the sizes of the
또한 비아홀의 동도금의 품질 지표는 에스펙트 비(AR; aspect ratio)는 절연층의 높이/비아홀의 크기로 정해지는데, 일반적으로 AR>1 인 경우에는 비아홀 내부에 보이드나 언더컷 등의 불량이 발생할 확률이 높아진다. In addition, the quality ratio of copper plating of the via hole is that the aspect ratio (AR) is determined by the height of the insulating layer / the size of the via hole.In general, when AR> 1, the probability of defects such as voids or undercuts in the via hole is generated. Is higher.
그러나 상술한 바와 같이 본 실시예에서는 회로기판의 층들을 연결하는 인터커넥션용 연결 콘택트(34, 35)에 범프(71, 72)를 미리 형성하므로 비아홀(238, 239)을 형성하기 위해 접착층(240)에서 천공이 되는 두께를 최소화할 수 있으므로, 비아홀(238, 239)의 내부의 불량 발생을 줄일 수 있고, 미세한 지름의 비아홀(238, 239)을 형성함으로써 미세한 피치의 회로 패턴에 대응할 수 있다.However, as described above, in the present embodiment, bumps 71 and 72 are formed in advance in the
본 발명에서 모든 예들 또는 예시적인 용어(예들 들어, 등등)의 사용은 단순히 본 발명을 상세히 설명하기 위한 것으로서 특허청구범위에 의해 한정되지 않는 이상 상기 예들 또는 예시적인 용어로 인해 본 발명의 범위가 한정되는 것은 아니다. 또한 기술이 속한 분야의 통상의 지식을 갖는 자는 발명의 범위와 사상에서 벗어나지 않으면서도 다양한 수정과 변경이 용이하게 이루어질 수 있음을 명확히 알 수 있다.The use of all examples or exemplary language (e.g., etc.) in this invention is for the purpose of describing the invention in detail and is not to be construed as a limitation on the scope of the invention, It is not. It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and changes may be made without departing from the scope and spirit of the invention.
10, 30: 도전층 91, 92: 구멍
11: 제4 패턴 100: 제1 적층기판
20: 제1 절연기판 200: 제2 적층기판
30: 도전층 210, 230: 도전층
31: 제1 패턴 211: 제2 패턴
32, 33: 본딩 패드 220: 제2 절연기판
34, 35: 연결 콘택트 230: 도전층
40: 제1 레지스트 236, 237: 도금층
51, 52: 도금층 238, 239: 비아홀
61, 62: 범프용 구멍 231: 제3 패턴
71, 72: 범프 239a, 239b: 랜드
71a, 72a: 도금층 240: 접착층
60: 절연층 251, 252: 보호층
80: 전자 칩 400: 광원
81, 82: 전극 패드 500: 드릴
90: 마스크10, 30:
11: fourth pattern 100: first laminated substrate
20: first insulating substrate 200: second laminated substrate
30:
31: first pattern 211: second pattern
32 and 33: bonding pads 220: second insulating substrate
34, 35: connection contact 230: conductive layer
40: first resist 236, 237: plating layer
51, 52:
61, 62: bump hole 231: third pattern
71, 72:
71a, 72a: plating layer 240: adhesive layer
60: insulating
80: electronic chip 400: light source
81, 82: electrode pad 500: drill
90: mask
Claims (9)
상기 제1 적층기판의 일면에 제1 패턴을 형성하는 단계;
상기 제1 패턴을 덮도록 절연층을 형성하고 상기 제1 패턴의 연결 콘택트에 대응하는 위치에서 상기 절연층을 제거하여 범프용 구멍을 형성하는 단계;
상기 범프용 구멍으로 노출된 상기 연결 콘택트에 도금하여 범프를 형성하는 단계;
전자 칩을 상기 제1 적층기판의 상기 일면에 장착하는 단계;
양면에 도전층을 갖는 제2 적층기판을 준비하는 단계;
상기 제2 적층기판의 일면에 제2 패턴을 형성하는 단계;
상기 제1 패턴과 상기 제2 패턴을 대향시켜 상기 제1 적층기판과 상기 제2 적층기판을 부착하는 단계;
상기 범프에 대응하는 상기 제2 적층기판의 위치에서 비아홀을 형성하는 단계; 및
상기 비아홀을 도금하는 단계;를 포함하는, 전자 칩이 내장된 회로기판의 제조 방법.Preparing a first laminated substrate having conductive layers on both sides;
Forming a first pattern on one surface of the first laminated substrate;
Forming an insulating layer covering the first pattern and removing the insulating layer at a position corresponding to the connection contact of the first pattern to form a bump hole;
Plating the connection contacts exposed by the bump holes to form bumps;
Mounting an electronic chip on the one surface of the first laminated substrate;
Preparing a second laminated substrate having conductive layers on both sides;
Forming a second pattern on one surface of the second laminated substrate;
Attaching the first laminated substrate and the second laminated substrate to face the first pattern and the second pattern;
Forming a via hole at a position of the second laminated substrate corresponding to the bump; And
Plating the via hole; a method for manufacturing a circuit board having an electronic chip embedded therein.
상기 제2 적층기판의 타면에 제3 패턴을 형성하고, 상기 제1 적층기판의 타면에 제4 패턴을 형성하는 단계를 더 포함하는, 전자 칩이 내장된 회로기판의 제조 방법.The method of claim 1,
Forming a third pattern on the other surface of the second laminated substrate, and forming a fourth pattern on the other surface of the first laminated substrate, the manufacturing method of a circuit board with an electronic chip embedded.
상기 제1 패턴을 형성하는 단계와 상기 범프용 구멍을 형성하는 단계의 사이에, 상기 제1 패턴에서 상기 전자 칩이 연결될 본딩 패드를 도금하는 단계를 더 포함하는, 전자 칩이 내장된 회로기판의 제조 방법.The method of claim 1,
Between the forming of the first pattern and the forming of the bump hole, plating a bonding pad to which the electronic chip is to be connected in the first pattern. Manufacturing method.
상기 본딩 패드를 도금하는 단계는, 상기 본딩 패드를 제외한 상기 제1 패턴을 덮도록 상기 제1 적층기판의 상기 일면에 제1 레지스트를 형성하는 단계와, 상기 본딩 패드의 표면에 무전해 니켈 금도금법(ENIG; electroless nickel immersion gold plating)에 의해 도금층을 형성하는 단계를 포함하는, 전자 칩이 내장된 회로기판의 제조 방법.The method of claim 3,
The plating of the bonding pad may include forming a first resist on the surface of the first laminated substrate to cover the first pattern except for the bonding pad, and electroless nickel gold plating on the surface of the bonding pad. (ENIG; electroless nickel immersion gold plating) comprising the step of forming a plating layer, a method for manufacturing a circuit board with an embedded electronic chip.
상기 전자 칩을 장착하는 단계는, 상기 전자 칩과 상기 본딩 패드의 상기 도금층의 사이에 전도성 접착제를 개재하여 상기 전자 칩과 상기 도금층을 연결하는, 전자 칩이 내장된 회로기판의 제조 방법.5. The method of claim 4,
The mounting of the electronic chip may include connecting the electronic chip and the plating layer through a conductive adhesive between the electronic chip and the plating layer of the bonding pad.
상기 범프를 형성하는 단계의 이전에 상기 범프용 구멍으로 노출된 상기 연결 콘택트의 표면을 세정하는 단계를 더 포함하는, 전자 칩이 내장된 회로기판의 제조 방법.The method of claim 1,
And cleaning the surface of the connection contact exposed to the holes for the bumps prior to forming the bumps.
상기 범프를 형성하는 단계는 전해 구리도금법에 의해 상기 연결 콘택트의 표면을 도금하는, 전자 칩이 내장된 회로기판의 제조 방법.The method of claim 1,
The forming of the bumps may include plating the surface of the connection contact by an electrolytic copper plating method.
상기 제1 적층기판과 상기 제2 적층기판을 부착하는 단계는 상기 제1 적층기판과 상기 제2 적층기판의 사이에 접착층을 배치하여 상기 제1 적층기판과 상기 제2 적층기판을 부착하는, 전자 칩이 내장된 회로기판의 제조 방법.The method of claim 1,
The attaching the first laminated substrate and the second laminated substrate may include attaching the first laminated substrate and the second laminated substrate by disposing an adhesive layer between the first laminated substrate and the second laminated substrate. Method for manufacturing a circuit board in which a chip is embedded.
상기 범프의 두께는 상기 접착층의 두께의 80% 내지 90%인, 전자 칩이 내장된 회로기판의 제조 방법.9. The method of claim 8,
The thickness of the bump is 80% to 90% of the thickness of the adhesive layer, a method of manufacturing a circuit board with an embedded electronic chip.
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