KR20140025824A - Manufacturing method of electronic chip embedded circuit board - Google Patents

Manufacturing method of electronic chip embedded circuit board Download PDF

Info

Publication number
KR20140025824A
KR20140025824A KR1020120091995A KR20120091995A KR20140025824A KR 20140025824 A KR20140025824 A KR 20140025824A KR 1020120091995 A KR1020120091995 A KR 1020120091995A KR 20120091995 A KR20120091995 A KR 20120091995A KR 20140025824 A KR20140025824 A KR 20140025824A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
laminated substrate
pattern
forming
plating
electronic chip
Prior art date
Application number
KR1020120091995A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR101924458B1 (en
Inventor
홍성택
김대곤
Original Assignee
삼성테크윈 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삼성테크윈 주식회사 filed Critical 삼성테크윈 주식회사
Priority to KR1020120091995A priority Critical patent/KR101924458B1/en
Publication of KR20140025824A publication Critical patent/KR20140025824A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR101924458B1 publication Critical patent/KR101924458B1/en

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/40Forming printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
    • H05K3/42Plated through-holes or plated via connections
    • H05K3/429Plated through-holes specially for multilayer circuits, e.g. having connections to inner circuit layers
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/18Printed circuits structurally associated with non-printed electric components
    • H05K1/182Printed circuits structurally associated with non-printed electric components associated with components mounted in the printed circuit board, e.g. insert mounted components [IMC]
    • H05K1/185Components encapsulated in the insulating substrate of the printed circuit or incorporated in internal layers of a multilayer circuit
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/22Secondary treatment of printed circuits
    • H05K3/24Reinforcing the conductive pattern
    • H05K3/244Finish plating of conductors, especially of copper conductors, e.g. for pads or lands
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/22Secondary treatment of printed circuits
    • H05K3/26Cleaning or polishing of the conductive pattern
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/321Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by conductive adhesives
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/40Forming printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
    • H05K3/4007Surface contacts, e.g. bumps

Abstract

A method for manufacturing a circuit board with an embedded chip includes the steps of: preparing a first multilayer substrate; forming a first pattern on the first multilayer substrate; forming an insulation layer to cover the first pattern and a bump hole in a position corresponding to a connection contact of the first pattern; forming a bump in the connection contact; mounting an electronic chip on the first multilayer substrate; preparing a second multilayer substrate; forming a second pattern on the second multilayer substrate; attaching the first multilayer substrate to the second multilayer substrate; forming a via hole in the position of the second multilayer substrate corresponding to the bump; and plating the via hole. [Reference numerals] (AA) Start; (BB) End; (S100) Prepare a first multilayer substrate; (S110) Form a first pattern; (S120) Form a bump hole; (S130) Form a bump; (S140) Mount a chip; (S150) Prepare a second multilayer substrate; (S160) Form a second pattern; (S170) Attach the first multilayer substrate and the second multilayer substrate; (S180) Form a via hole; (S190) Plate the via hole; (S200) Form a third pattern and a fourth pattern

Description

전자 칩이 내장된 회로기판의 제조 방법{Manufacturing method of electronic chip embedded circuit board}Manufacturing method of electronic chip embedded circuit board {Manufacturing method of electronic chip embedded circuit board}

실시예들은 회로기판의 제조 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 미세한 지름의 비아홀을 형성하여 미세한 피치의 회로 패턴을 구현할 수 있는 전자 칩이 내장된 회로기판의 제조 방법에 관한 것이다. Embodiments relate to a method of manufacturing a circuit board, and more particularly, to a method of manufacturing a circuit board having an electronic chip capable of forming a fine diameter via hole to implement a circuit pattern having a fine pitch.

최근 들어 전자 기기의 부품 크기가 더욱 작아지고 있고, 하나의 제품이 여러 가지 기능을 갖추는 것을 선호하는 소비자의 욕구로 인해 부품의 개수도 증가하고 있다. 이와 같이 회로기판의 표면적이 감소하면서도 표면에 실장되어야 하는 부품의 개수가 증가함에 따라, 회로기판의 표면에 실장되던 부품들이 기판 내부에 내장되는 경우가 많다. In recent years, the size of electronic components has become smaller, and the number of components has increased due to the desire of consumers to prefer one product to have various functions. As the number of components to be mounted on the surface increases while the surface area of the circuit board decreases, components mounted on the surface of the circuit board are often embedded in the substrate.

특별히 능동소자가 회로기판에 내장(embedded)될 때에는 수동소자와 능동소자의 사이의 거리가 단축되므로, 뛰어난 전기적 성능을 필요로 하는 패키지에 이러한 회로기판을 적용할 수 있다. 또한 회로기판에 전자 칩이 내장되면 회로기판 전체의 경박단소화가 가능해지고, 좁은 면적의 회로기판 표면에 여러 가지 부품을 실장하기 위해 소요되는 조립 공수가 감소되며, 부품의 배치를 위한 여유가 증가하므로 디자인 자유도가 향상되는 등의 장점이 있다.In particular, when the active element is embedded in the circuit board, the distance between the passive element and the active element is shortened, so that the circuit board can be applied to a package requiring excellent electrical performance. In addition, when the electronic chip is embedded in the circuit board, it is possible to reduce the thickness of the entire circuit board, and to reduce the number of assembly operations required to mount various components on the surface of the circuit board in a small area, and increase the margin for the arrangement of the components. There are advantages such as improved design freedom.

일반적으로 전자 칩이 내장된 회로기판을 제작할 때에는, 복수 개의 회로기판을 적층하여 다층의 회로기판을 형성하는 빌드업(build up) 기술이 사용된다. 구체적으로, 회로기판을 적층하는 공정은 전자 칩이 부착되는 코어층(core layer)을 제작한 후에 코어층의 양면에 적층용 기판을 부착하는 단계들을 포함한다. 코어층의 양면에 접착제를 이용하여 적층용 기판을 부착한다. In general, when fabricating a circuit board incorporating an electronic chip, a build-up technique in which a plurality of circuit boards are stacked to form a multilayer circuit board is used. Specifically, the process of laminating a circuit board includes preparing a core layer to which an electronic chip is attached and then attaching the lamination substrate to both surfaces of the core layer. The substrate for lamination is attached to both surfaces of the core layer using an adhesive.

전자 칩이 내장된 회로기판을 제작할 때에는, 기판을 적층한 후 가열 및 가압하여 적층체를 형성하는 작업 이외에도, 서로 다른 층들의 배선을 전기적으로 연결하거나 회로기판에 내장되는 전자 소자의 단자와 배선을 전기적으로 연결하는 인터커넥션(interconnection) 작업이 필요하다. 층간을 전기적으로 연결하는 인터커넥션 작업은 여러 가지 단계의 복잡한 공정으로 이루어진다. When manufacturing a circuit board incorporating an electronic chip, in addition to forming a laminate by heating and pressing the substrate after laminating the substrate, the wiring of the different layers may be electrically connected or the terminals and wiring of the electronic element embedded in the circuit board may be disconnected. There is a need for electrical connection. The interconnection work, which electrically connects the layers, is a complex process with several steps.

전자 칩이 내장된 회로기판의 품질 및 특성은 인터커넥션 작업에서 가공되는 비아홀(via hole)에 의해 영향을 받는다. 인터커넥션 작업에서는 예를 들어 드릴을 이용하여 비아홀을 가공하고, 비아홀을 도금하여 층간을 전기적으로 연결한다. The quality and characteristics of circuit boards incorporating electronic chips are affected by via holes which are processed in the interconnection operation. In the interconnection operation, for example, a drill is used to process via holes, and the via holes are plated to electrically connect the layers.

전자 칩이 내장된 회로기판에서는 전자 소자를 내장하기 위해 절연층의 높이가 증가하므로 층과 층을 전기적으로 연결할 때에 미세한 크기의 비아홀을 가공하기가 어렵다. 미국 공개특허공보 2007/0254455호의 도 4C에 나타나는 것과 같이 회로기판에 내장된 칩을 다른 층의 회로패턴과 연결하기 위해서는 두꺼운 절연층을 가공하여 비아홀을 형성해야 하므로 절연층의 크기에 비례하여 비아홀의 크기도 증가해야 한다.In a circuit board in which an electronic chip is embedded, the height of the insulating layer is increased to embed the electronic device, and thus, it is difficult to process fine via holes when the layers are electrically connected. As shown in FIG. 4C of US Patent Application Publication No. 2007/0254455, in order to connect a chip embedded in a circuit board with a circuit pattern of another layer, a via hole must be formed by processing a thick insulating layer, so that the size of the via hole is proportional to the size of the insulating layer. It should also increase in size.

비아홀의 크기가 증가하면 도금 특성도 불량해지므로 미세한 피치를 갖는 배선 형성이 어려워진다. 또한 비아홀의 크기가 증가하면 비아홀 내부에 보이드(void; 서로 다른 물질과 물질의 사이에 생기는 공동 현상)가 발생하거나 언더컷(undercut; 에칭에 의하여 도체 패턴의 일측면에 발생하는 홈이나 오목부)이 발생하므로 회로기판의 품질이 저하된다.Increasing the size of the via hole also causes poor plating properties, making it difficult to form a wiring having a fine pitch. In addition, as the size of the via hole increases, voids (cavities between different materials and materials) are generated inside the via holes, or undercuts (grooves or recesses generated on one side of the conductor pattern by etching) are formed. As a result, the quality of the circuit board is degraded.

미국 공개특허공보 2007/0254455호 (2007.11.01)United States Patent Application Publication No. 2007/0254455 (2007.11.01)

실시예들의 목적은 미세한 피치의 회로 패턴을 갖는 전자 소자를 내장하는 회로기판의 제조 방법을 제공하는 데 있다. An object of the embodiments is to provide a method for manufacturing a circuit board containing an electronic device having a fine pitch circuit pattern.

실시예들의 다른 목적은 층들을 연결하기 위한 인터커넥션 작업에서 미세한 크기의 비아홀 가공을 가능하게 함으로써 비아홀 불량 발생이 저하되고 제품 특성이 향상된 전자 소자를 내장하는 회로기판의 제조 방법을 제공하는 데 있다. Another object of the embodiments is to provide a method of manufacturing a circuit board incorporating an electronic device having reduced via hole defects and improved product characteristics by enabling a fine sized via hole processing in an interconnection operation for connecting layers.

일 실시예에 관한 전자 칩이 내장된 회로기판의 제조 방법은, 양면에 도전층을 갖는 제1 적층기판을 준비하는 단계와, 제1 적층기판의 일면에 제1 패턴을 형성하는 단계와, 제1 패턴을 덮도록 절연층을 형성하고 제1 패턴의 연결 콘택트에 대응하는 위치에서 절연층을 제거하여 범프용 구멍을 형성하는 단계와, 범프용 구멍으로 노출된 연결 콘택트에 도금하여 범프를 형성하는 단계와, 전자 칩을 제1 적층기판의 일면에 장착하는 단계와, 양면에 도전층을 갖는 제2 적층기판을 준비하는 단계와, 제2 적층기판의 일면에 제2 패턴을 형성하는 단계와, 제1 패턴과 제2 패턴을 대향시켜 제1 적층기판과 제2 적층기판을 부착하는 단계와, 범프에 대응하는 제2 적층기판의 위치에서 비아홀을 형성하는 단계와, 비아홀을 도금하는 단계를 포함한다.According to one or more exemplary embodiments, a method of manufacturing a circuit board including an electronic chip includes preparing a first laminated substrate having conductive layers on both sides thereof, forming a first pattern on one surface of the first laminated substrate, and Forming an insulating layer to cover the first pattern and removing the insulating layer at a position corresponding to the connecting contact of the first pattern to form a bump hole, and plating the connecting contact exposed through the bump hole to form a bump. Mounting an electronic chip on one side of the first laminated substrate, preparing a second laminated substrate having a conductive layer on both sides thereof, forming a second pattern on one surface of the second laminated substrate, Attaching the first laminated substrate and the second laminated substrate to face the first pattern and the second pattern; forming a via hole at a position of the second laminated substrate corresponding to the bump; and plating the via hole. do.

전자 칩이 내장된 회로기판의 제조 방법은, 제2 적층기판의 타면에 제3 패턴을 형성하고, 제1 적층기판의 타면에 제4 패턴을 형성하는 단계를 더 포함할 수 있다.The method of manufacturing a circuit board in which an electronic chip is embedded may further include forming a third pattern on the other surface of the second laminated substrate and forming a fourth pattern on the other surface of the first laminated substrate.

전자 칩이 내장된 회로기판의 제조 방법은, 제1 패턴을 형성하는 단계와 범프용 구멍을 형성하는 단계의 사이에 제1 패턴에서 전자 칩이 연결될 본딩 패드를 도금하는 단계를 더 포함할 수 있다.The method of manufacturing a circuit board in which an electronic chip is embedded may further include plating a bonding pad to which the electronic chip is connected in the first pattern between forming the first pattern and forming the bump hole. .

본딩 패드를 도금하는 단계는, 본딩 패드를 제외한 제1 패턴을 덮도록 제1 적층기판의 일면에 제1 레지스트를 형성하는 단계와, 본딩 패드의 표면에 무전해 니켈 금도금법(ENIG; electroless nickel immersion gold plating)에 의해 도금층을 형성하는 단계를 포함할 수 있다.The plating of the bonding pad may include forming a first resist on one surface of the first laminated substrate to cover the first pattern except for the bonding pad, and electroless nickel immersion (ENIG) on the surface of the bonding pad. It may include the step of forming a plating layer by gold plating).

전자 칩을 장착하는 단계는, 전자 칩과 본딩 패드의 도금층의 사이에 전도성 접착제를 개재하여 전자 칩과 도금층을 연결할 수 있다.In the mounting of the electronic chip, the electronic chip and the plating layer may be connected through the conductive adhesive between the electronic chip and the plating layer of the bonding pad.

전자 칩이 내장된 회로기판의 제조 방법은, 범프를 형성하는 단계의 이전에 범프용 구멍으로 노출된 연결 콘택트의 표면을 세정하는 단계를 더 포함할 수 있다.The method of manufacturing a circuit board in which an electronic chip is embedded may further include cleaning the surface of the connection contact exposed through the hole for the bump prior to forming the bump.

범프를 형성하는 단계는 전해 구리도금법에 의해 연결 콘택트의 표면을 도금할 수 있다.The forming of the bumps may plate the surface of the connecting contact by electrolytic copper plating.

제1 적층기판과 제2 적층기판을 부착하는 단계는 제1 적층기판과 제2 적층기판의 사이에 접착층을 배치하여 제1 적층기판과 제2 적층기판을 부착할 수 있다.In the attaching of the first laminated substrate and the second laminated substrate, an adhesive layer may be disposed between the first laminated substrate and the second laminated substrate to attach the first laminated substrate and the second laminated substrate.

범프의 두께는 접착층의 두께의 80% 내지 90%일 수 있다.The thickness of the bumps may be 80% to 90% of the thickness of the adhesive layer.

상술한 바와 같은 실시예들에 관한 전자 칩이 내장된 회로기판의 제조 방법은, 회로기판의 층들을 연결하는 인터커넥션용 연결 콘택트에 범프를 미리 형성하므로 미세한 지름의 비아홀을 형성하여 미세한 피치의 회로 패턴을 구현할 수 있다.In the method of manufacturing a circuit board incorporating an electronic chip according to the above-described embodiments, bumps are formed in a connection connection for interconnecting the layers of the circuit board in advance, so that via holes having a small diameter are formed to form a fine pitch circuit. You can implement patterns.

또한 회로기판의 내부에 전자 칩을 수용하기 위해 접착층의 두께가 증가하더라도 범프를 미리 형성함으로써 접착층에서 비아홀 가공을 위해 천공이 되는 두께를 최소화할 수 있어서 비아홀 가공 품질 및 비아홀의 도금 품질이 개선될 수 있다.In addition, even if the thickness of the adhesive layer is increased to accommodate the electronic chip inside the circuit board, bumps are formed in advance, thereby minimizing the thickness to be drilled for the via hole processing in the adhesive layer, thereby improving the quality of the via hole processing and the plating quality of the via holes. have.

도 1은 일 실시예에 관한 전자 칩이 내장된 회로기판의 제조 방법에서 제1 적층 기판을 준비하는 단계를 나타낸 단면도이다.
도 2는 도 1의 제1 적층 기판의 일면에 제1 패턴을 형성하는 단계를 나타낸 단면도이다.
도 3은 도 2의 제1 패턴의 위에 제1 레지스트를 형성하는 단계를 나타낸 단면도이다.
도 4는 도 2의 본딩 패드를 도금하는 단계를 나타내는 단면도이다.
도 5는 도 2의 제1 적층기판에서 제1 레지스트를 제거한 상태를 나타낸 단면도이다.
도 6은 도 5의 제1 적층기판의 일면에 절연층을 형성한 상태를 나타낸 단면도이다.
도 7은 도 6의 제1 적층기판에서 범프용 구멍을 형성하기 위한 노광 단계를 나타낸 단면도이다.
도 8은 도 7의 노광 단계에 의해 범프용 구멍이 완성된 상태를 나타낸 단면도이다.
도 9는 도 8의 범프용 구멍에서 노출된 연결 콘택트에 소프트 에칭을 실시하는 단계를 나타낸 단면도이다.
도 10은 도 9의 연결 콘택트에 산처리를 실시하는 단계를 나타낸 단면도이다.
도 11은 도 9의 범프용 구멍에 범프를 형성하는 단계를 나타낸 단면도이다.
도 12는 도 11의 범프의 형성이 완료된 상태를 나타낸 단면도이다.
도 13은 도 12에서 절연층을 제거한 상태를 나타낸 단면도이다.
도 14는 도 13의 제1 적층기판에 전자 칩을 장착하는 단계를 나타낸 단면도이다.
도 15a는 제2 적층기판을 준비하는 단계를 나타낸 단면도이다.
도 15b는 도 15a의 제2 적층기판에 제2 패턴을 형성하는 단계를 나타낸 단면도이다.
도 15c는 도 14의 제1 적층기판과 도 15b의 제2 적층기판을 부착하는 단계를 나타낸 단면도이다.
도 16은 도 15c의 제2 적층기판에 비아홀을 형성하는 단계를 나타낸 단면도이다.
도 17은 도 16의 비아홀을 도금하는 단계를 나타낸 단면도이다.
도 18은 도 17의 제2 적층기판에 제3 패턴을 형성하고, 제1 적층기판에 제4 패턴을 형성하는 단계를 나타낸 단면도이다.
도 19는 도 18의 회로기판에 보호층을 형성하는 단계를 나타낸 단면도이다.
도 20은 도 1 내지 도 19에 나타난 실시예에 관한 전자 칩이 내장된 회로기판의 제조 방법의 단계들을 나타낸 순서도이다.
1 is a cross-sectional view illustrating a step of preparing a first laminated substrate in a method of manufacturing a circuit board having an electronic chip according to an embodiment.
FIG. 2 is a cross-sectional view illustrating a step of forming a first pattern on one surface of the first laminated substrate of FIG. 1.
3 is a cross-sectional view illustrating a step of forming a first resist on the first pattern of FIG. 2.
4 is a cross-sectional view illustrating a step of plating the bonding pad of FIG. 2.
5 is a cross-sectional view illustrating a state in which a first resist is removed from a first laminated substrate of FIG. 2.
6 is a cross-sectional view illustrating a state in which an insulating layer is formed on one surface of the first laminated substrate of FIG. 5.
7 is a cross-sectional view illustrating an exposure step for forming bump holes in the first laminated substrate of FIG. 6.
8 is a cross-sectional view illustrating a state where a bump hole is completed by the exposure step of FIG. 7.
9 is a cross-sectional view illustrating a step of soft etching the connection contact exposed from the bump hole of FIG. 8.
FIG. 10 is a cross-sectional view illustrating an acid treatment of the connecting contact of FIG. 9.
FIG. 11 is a cross-sectional view illustrating a process of forming a bump in the bump hole of FIG. 9.
12 is a cross-sectional view illustrating a state in which bumps of FIG. 11 are completed.
FIG. 13 is a cross-sectional view illustrating a state in which an insulation layer is removed from FIG. 12.
FIG. 14 is a cross-sectional view illustrating a process of mounting an electronic chip on the first stacked substrate of FIG. 13.
15A is a cross-sectional view illustrating a step of preparing a second laminated substrate.
FIG. 15B is a cross-sectional view illustrating a step of forming a second pattern on the second laminated substrate of FIG. 15A.
15C is a cross-sectional view illustrating a step of attaching the first laminated substrate of FIG. 14 and the second laminated substrate of FIG. 15B.
16 is a cross-sectional view illustrating a step of forming a via hole in the second laminated substrate of FIG. 15C.
17 is a cross-sectional view illustrating a step of plating the via hole of FIG. 16.
FIG. 18 is a cross-sectional view illustrating a step of forming a third pattern on the second laminated substrate of FIG. 17 and forming a fourth pattern on the first laminated substrate.
FIG. 19 is a cross-sectional view illustrating a process of forming a protective layer on a circuit board of FIG. 18.
20 is a flowchart illustrating steps of a method of manufacturing a circuit board incorporating an electronic chip according to the embodiment shown in FIGS. 1 to 19.

이하, 첨부 도면의 실시예들을 통하여, 실시예들에 관한 전자 칩이 내장된 회로기판의 제조 방법의 구성과 작용을 상세히 설명한다.Hereinafter, with reference to the embodiments of the accompanying drawings, the configuration and operation of the manufacturing method of the circuit board with the electronic chip according to the embodiments will be described in detail.

도 1 내지 도 19는 일 실시예에 관한 전자 칩이 내장된 회로기판의 제조 방법의 각 단계들의 공정이 진행되는 모습을 개략적으로 나타낸 단면도이며, 도 20은 도 1 내지 도 19에 나타난 실시예에 관한 전자 칩이 내장된 회로기판의 제조 방법의 단계들을 나타낸 순서도이다.1 to 19 are cross-sectional views schematically illustrating a process of each step of a method of manufacturing a circuit board having an electronic chip according to an embodiment, and FIG. 20 is a cross-sectional view of the embodiment shown in FIGS. 1 to 19. It is a flow chart showing the steps of a method of manufacturing a circuit board incorporating an electronic chip.

도 1 내지 도 20에 나타난 실시예에 관한 전자 칩이 내장된 회로기판의 제조 방법은, 양면에 도전층(10, 30)을 갖는 제1 적층기판(100)을 준비하는 단계(S100)와, 제1 적층기판(100)의 일면에 제1 패턴(31)을 형성하는 단계(S110)와, 제1 패턴(31)을 덮도록 제1 레지스트(40)를 형성하고 제1 패턴(31)의 연결 콘택트(34, 35)에 대응하는 위치에서 절연층(60)을 제거하여 범프용 구멍(61, 62)을 형성하는 단계(S120)와, 범프용 구멍(61, 62)으로 노출된 연결 콘택트(34, 35)에 도금하여 범프(71, 72)를 형성하는 단계(S130)와, 전자 칩(80)을 제1 적층기판(100)의 일면에 장착하는 단계(S140)와, 양면에 도전층(210, 230)을 갖는 제2 적층기판(200)을 준비하는 단계(S150)와, 제2 적층기판(200)의 일면에 제2 패턴(211)을 형성하는 단계(S160)와, 제1 패턴(31)과 제2 패턴(211)을 대향시켜 제1 적층기판(100)과 제2 적층기판(200)을 부착하는 단계(S170)와, 범프(71, 72)에 대응하는 제2 적층기판(200)의 위치에서 비아홀(238, 239)을 형성하는 단계(S180)와, 비아홀(238, 239)을 도금하는 단계(S190)를 포함한다.The method of manufacturing a circuit board in which an electronic chip is embedded according to the embodiment illustrated in FIGS. 1 to 20 includes preparing a first laminated substrate 100 having conductive layers 10 and 30 on both surfaces (S100); Forming a first pattern 31 on one surface of the first laminated substrate 100 (S110), forming a first resist 40 to cover the first pattern 31, and forming a first pattern 31. Removing the insulating layer 60 at positions corresponding to the connection contacts 34 and 35 to form the bump holes 61 and 62 (S120), and the connection contacts exposed by the bump holes 61 and 62. Plating bumps (34, 35) to form bumps (71, 72) (S130), mounting the electronic chip (80) on one surface of the first laminated substrate (100) (S140), and conducting both surfaces. Preparing a second laminated substrate 200 having layers 210 and 230 (S150), forming a second pattern 211 on one surface of the second laminated substrate 200 (S160), and The first laminated substrate 100 and the second red substrate face each other with the first pattern 31 and the second pattern 211 facing each other. Attaching the layer substrate 200 (S170), forming the via holes 238 and 239 at the positions of the second laminated substrates 200 corresponding to the bumps 71 and 72 (S180), and the via holes ( 238 and 239 plating (S190).

도 1 내지 도 20에 나타난 실시예에 관한 전자 칩이 내장된 회로기판의 제조 방법은, 제2 적층기판(200)의 타면에 제3 패턴(231)을 형성하고, 제1 적층기판(100)의 타면에 제4 패턴(11)을 형성하는 단계(S200)를 더 포함할 수 있다.1 to 20, in the method of manufacturing a circuit board in which an electronic chip is embedded, the third pattern 231 is formed on the other surface of the second laminated substrate 200, and the first laminated substrate 100 is formed. The method may further include forming a fourth pattern 11 on the other surface of the surface (S200).

도 1은 일 실시예에 관한 전자 칩이 내장된 회로기판의 제조 방법에서 제1 적층 기판을 준비하는 단계를 나타낸 단면도이다.1 is a cross-sectional view illustrating a step of preparing a first laminated substrate in a method of manufacturing a circuit board having an electronic chip according to an embodiment.

제1 적층기판(100)은 절연성 소재로 이루어지는 제1 절연기판(20)과, 제1 절연기판(20)의 양면에 형성된 도전층(10, 30)을 구비한다. 유연성을 갖는 회로기판(flexible circuit board)을 제작하고자 하는 경우에는, 제1 절연기판(20)이 폴리이미드 수지와 같이 유연성을 갖는 소재를 포함할 수 있다. The first laminated substrate 100 includes a first insulating substrate 20 made of an insulating material and conductive layers 10 and 30 formed on both surfaces of the first insulating substrate 20. In order to fabricate a flexible circuit board, the first insulating substrate 20 may include a material having flexibility such as polyimide resin.

제1 절연기판(20)의 양측 표면에 형성된 도전층(10, 30)은 회로기판에서 전기 신호를 전달하는 배선의 패턴을 형성하는 부분이므로, 전기 전도성을 갖는 재질로 이루어진다. 예를 들어, 도전층(10, 30)은 구리를 포함할 수 있다.Since the conductive layers 10 and 30 formed on both surfaces of the first insulating substrate 20 form portions of wirings for transmitting electrical signals on the circuit board, the conductive layers 10 and 30 are made of a material having electrical conductivity. For example, the conductive layers 10 and 30 may include copper.

도 2는 도 1의 제1 적층 기판의 일면에 제1 패턴을 형성하는 단계를 나타낸 단면도이다.FIG. 2 is a cross-sectional view illustrating a step of forming a first pattern on one surface of the first laminated substrate of FIG. 1.

제1 적층기판(100)이 준비되면, 제1 적층기판(100)의 일면에 제1 패턴(31)을 형성한다. 제1 패턴(31)은 제1 적층기판(100)의 일면에서 신호를 전달하는 기능을 수행한다.When the first laminated substrate 100 is prepared, the first pattern 31 is formed on one surface of the first laminated substrate 100. The first pattern 31 performs a function of transmitting a signal from one surface of the first laminated substrate 100.

제1 패턴(31)은 도전층(30)을 식각에 의해 제거하는 공정에 의해 형성될 수 있다. 즉 도전층(30)의 위에 감광성 레지스트층(미도시)을 형성하고, 그 위에 마스크(미도시)를 배치하여 노광한 후, 현상을 실시하고, 에칭 용액으로 도전층(30)의 일부를 제거하는 단계들을 통해, 제1 적층기판(100)의 위에 제1 패턴(31)을 형성할 수 있다. The first pattern 31 may be formed by a process of removing the conductive layer 30 by etching. That is, after forming a photosensitive resist layer (not shown) on the conductive layer 30, placing a mask (not shown) on it, exposing, developing is performed, and a part of the conductive layer 30 is removed with an etching solution. Through the steps described above, the first pattern 31 may be formed on the first laminated substrate 100.

제1 적층기판(100)의 위에 제1 패턴(31)을 형성함에 있어서, 실시예는 상술한 바와 같은 포토리소그래피법(photo lithography)에만 한정되는 것은 아니다. 제1 패턴(31)은 완성된 회로기판에서 전기적인 신호를 전달할 수 있으면 되므로, 도금법이나 인쇄법 등, 여러 가지 방법을 이용하여 형성될 수 있다.In forming the first pattern 31 on the first laminated substrate 100, the embodiment is not limited to photolithography as described above. The first pattern 31 may be formed using various methods, such as a plating method and a printing method, since the first pattern 31 may transmit an electrical signal from the completed circuit board.

도 3은 도 2의 제1 패턴의 위에 제1 레지스트를 형성하는 단계를 나타낸 단면도이고, 도 4는 도 2의 본딩 패드를 도금하는 단계를 나타내는 단면도이며, 도 5는 도 2의 제1 적층기판에서 제1 레지스트를 제거한 상태를 나타낸 단면도이다.3 is a cross-sectional view illustrating a step of forming a first resist on the first pattern of FIG. 2, FIG. 4 is a cross-sectional view illustrating a step of plating the bonding pad of FIG. 2, and FIG. 5 is a first laminated substrate of FIG. 2. Is a cross-sectional view showing a state in which the first resist is removed.

제1 패턴(31)을 형성하는 단계와 이하에서 설명될 범프용 구멍(61, 62)을 형성하는 단계의 사이에는 도 3 내지 도 5에 도시된 것과 같이 본딩 패드(32, 33)를 도금하는 단계가 더 실행될 수 있다.Between the step of forming the first pattern 31 and the step of forming the bump holes 61 and 62 to be described below, the bonding pads 32 and 33 are plated as shown in FIGS. 3 to 5. The step may be executed further.

본딩 패드(32, 33)를 도금하는 단계는, 도 3에 도시된 것과 같이 본딩 패드(32, 33)를 제외한 제1 패턴(31)을 덮도록 제1 적층기판(100)의 일면에 제1 레지스트(40)를 형성하는 단계와, 도 4에 도시된 것과 같이 본딩 패드(32, 33)의 표면에 무전해 니켈 금도금법(ENIG; electroless nickel immersion gold plating)에 의해 도금층(51, 52)을 형성하는 단계를 포함할 수 있다. 무전해 니켈 금도금법은 무전해 도금에 의한 Ni층을 Au로 치환하는 방법이다.The plating of the bonding pads 32 and 33 may include a first surface on one surface of the first laminated substrate 100 to cover the first pattern 31 except for the bonding pads 32 and 33, as shown in FIG. 3. Forming the resist 40 and plating layers 51 and 52 on the surfaces of the bonding pads 32 and 33 by electroless nickel immersion gold plating (ENIG) as shown in FIG. It may comprise the step of forming. The electroless nickel gold plating method is a method of replacing the Ni layer by electroless plating with Au.

본딩 패드(32, 33)를 도금하여 본딩 패드(32, 33)의 표면에 도금층(51, 52)을 형성하는 것은 본딩 패드(32, 33)와 전자 칩(80)을 연결할 때(도 14 참조), 양호한 전기적 접속 성능 및 기계적 접속 성능을 구현하기 위한 것이다. Forming the plating layers 51, 52 on the surfaces of the bonding pads 32, 33 by plating the bonding pads 32, 33 is performed when the bonding pads 32, 33 and the electronic chip 80 are connected (see FIG. 14). ), To achieve good electrical connection performance and mechanical connection performance.

본딩 패드(32, 33)의 표면에 도금층(51, 52)을 형성한 이후에는 도 5에 도시된 것과 같이 제1 적층기판(100)의 일면에서 제1 레지스트(40)를 모두 제거하는 단계가 실행될 수 있다.After the plating layers 51 and 52 are formed on the surfaces of the bonding pads 32 and 33, the step of removing all of the first resist 40 from one surface of the first laminated substrate 100 as shown in FIG. 5 is performed. Can be executed.

도 6은 도 5의 제1 적층기판의 일면에 절연층을 형성한 상태를 나타낸 단면도이고, 도 7은 도 6의 제1 적층기판에서 범프용 구멍을 형성하기 위한 노광 단계를 나타낸 단면도이며, 도 8은 도 7의 노광 단계에 의해 범프용 구멍이 완성된 상태를 나타낸 단면도이다.6 is a cross-sectional view illustrating a state in which an insulating layer is formed on one surface of the first laminated substrate of FIG. 5, and FIG. 7 is a cross-sectional view illustrating an exposure step for forming a bump hole in the first laminated substrate of FIG. 6. 8 is a cross-sectional view illustrating a state where a bump hole is completed by the exposure step of FIG. 7.

범프용 구멍을 형성하는 단계는, 도 6에 도시된 것과 같이 제1 패턴(31)을 덮도록 제1 적층기판(100)의 일면에 절연층(60)을 형성하는 단계와, 도 7 및 도 8에 도시된 것과 같이 제1 패턴(31)의 연결 콘택트(34, 35)에 대응하는 위치에서 절연층(60)을 제거하는 단계를 포함한다. Forming the bump hole may include forming an insulating layer 60 on one surface of the first laminated substrate 100 to cover the first pattern 31, as shown in FIG. 6, and FIGS. 7 and FIG. As shown in FIG. 8, the insulating layer 60 is removed at a position corresponding to the connection contacts 34 and 35 of the first pattern 31.

제1 적층기판(100)의 일면에 형성된 절연층(60)은 감광성인 드라이 필름 레지스트(DFR)을 포함할 수 있다. 도 7에 도시된 것과 같이 연결 콘택트(34, 35)에 대응하는 구멍(91, 92)을 구비한 마스크(90)를 제1 적층기판(100)의 위에 배치하고 광원(400)을 이용하여 노광을 실시한다. 노광이 완료되면 현상액을 흘려 절연층(60)에서 노광된 부분을 제거하면 도 8에 도시된 것과 같이 연결 콘택트(34, 35)를 노출시키는 범프용 구멍(61, 62)이 형성된다.The insulating layer 60 formed on one surface of the first laminated substrate 100 may include a dry film resist (DFR) that is photosensitive. As shown in FIG. 7, a mask 90 having holes 91 and 92 corresponding to the connection contacts 34 and 35 is disposed on the first laminated substrate 100 and exposed using the light source 400. Is carried out. When the exposure is completed, when the exposed portion is removed from the insulating layer 60 by flowing the developer, bump holes 61 and 62 are formed to expose the connection contacts 34 and 35 as shown in FIG. 8.

도 9는 도 8의 범프용 구멍에서 노출된 연결 콘택트에 소프트 에칭을 실시하는 단계를 나타낸 단면도이고, 도 10은 도 9의 연결 콘택트에 산처리를 실시하는 단계를 나타낸 단면도이다. FIG. 9 is a cross-sectional view illustrating a step of soft etching the connection contact exposed from the bump hole of FIG. 8, and FIG. 10 is a cross-sectional view illustrating an acid treatment of the connection contact of FIG. 9.

범프용 구멍(61, 62)이 형성된 이후에는, 연결 콘택트(34, 35)에 대해 세미 애디티브 전해 구리도금법(semi-additive electro Cu plating)을 적용하기 위해 연결 콘택트(34, 35)의 표면을 세정하는 단계가 실행될 수 있다. 즉 도 9에 도시된 것과 같이 연결 콘택트(34, 35)의 소프트 에칭을 적용하는 단계와, 도 10에 도시된 것과 같이 연결 콘택트(34, 35)의 표면을 5~10%의 황산으로 산처리하는 단계가 실행될 수 있다.After the bump holes 61 and 62 are formed, the surfaces of the connecting contacts 34 and 35 are applied to apply the semi-additive electro Cu plating to the connecting contacts 34 and 35. A cleaning step can be performed. That is, applying soft etching of the connection contacts 34 and 35 as shown in FIG. 9 and acid treating the surfaces of the connection contacts 34 and 35 with 5 to 10% sulfuric acid as shown in FIG. 10. The steps may be executed.

도 11은 도 9의 범프용 구멍에 범프를 형성하는 단계를 나타낸 단면도이고, 도 12는 도 11의 범프의 형성이 완료된 상태를 나타낸 단면도이며, 도 13은 도 12에서 절연층을 제거한 상태를 나타낸 단면도이다. FIG. 11 is a cross-sectional view illustrating a process of forming bumps in the bump hole of FIG. 9, FIG. 12 is a cross-sectional view illustrating a state in which bumps are formed in FIG. 11, and FIG. It is a cross section.

범프(71, 72)를 형성하는 단계에서는 전해 구리도금법에 의해 연결 콘택트(34, 35)의 표면을 도금한다. 전해 구리도금법은 전류를 흘려 구리(Cu) 입자를 회로의 표면에 도금하는 방법이다. 도 11에는 연결 콘택트(34, 35)의 표면에 도금층(71a, 72a)이 성장하는 상태를 나타낸다.In the step of forming the bumps 71 and 72, the surfaces of the connection contacts 34 and 35 are plated by the electrolytic copper plating method. The electrolytic copper plating method is a method of plating a copper (Cu) particle on the surface of a circuit by flowing an electric current. 11 shows a state in which plating layers 71a and 72a grow on the surfaces of the connection contacts 34 and 35.

도 12에 도시된 것과 같이 연결 콘택트(34, 35)의 표면에 범프(71, 72)가 형성되면, 도 13에 도시된 것과 같이 제1 적층기판(100)의 일면에 부착되어 있던 절연층(60)을 제거하는 단계가 실행된다.When bumps 71 and 72 are formed on the surfaces of the connection contacts 34 and 35 as illustrated in FIG. 12, an insulating layer attached to one surface of the first laminated substrate 100 as illustrated in FIG. 13 ( 60) is executed.

도 14는 도 13의 제1 적층기판에 전자 칩을 장착하는 단계를 나타낸 단면도이다. FIG. 14 is a cross-sectional view illustrating a process of mounting an electronic chip on the first stacked substrate of FIG. 13.

범프(71, 72)의 형성 및 절연층(60)의 제거가 완료된 이후에는, 도 14에 도시된 것과 같이 전자 칩(80)을 제1 적층기판(100)에 장착하는 단계가 실행된다. 전자 칩(80)의 장착은 예를 들어 플립칩 본딩법(flip chip bonding)을 이용하여 실행될 수 있다. 전자 칩(80)의 전극 패드(81, 82)와 본딩 패드(32, 33)의 도금층(51, 52)의 사이에 예를 들어 이방 전도성 필름(anisotropic conductive film; ACF)과 같은 전기 전도성 접착제(91, 92)를 배치함으로써, 전자 칩(80)을 본딩 패드(32, 33)와 연결할 수 있다. After the formation of the bumps 71 and 72 and the removal of the insulating layer 60 are completed, as shown in FIG. 14, the step of mounting the electronic chip 80 to the first stacked substrate 100 is performed. The mounting of the electronic chip 80 can be carried out using, for example, flip chip bonding. An electrically conductive adhesive such as, for example, an anisotropic conductive film (ACF) is disposed between the electrode pads 81 and 82 of the electronic chip 80 and the plating layers 51 and 52 of the bonding pads 32 and 33. By arranging 91 and 92, the electronic chip 80 can be connected to the bonding pads 32 and 33.

이방 전도성 필름은 금속 코팅된 플라스틱 입자나 금속입자 등의 미립자 형태의 전도성 입자와, 접착제와, 첨가제(분산제) 등을 혼합하여 이루어지는 도전 접착층을 가지며, 박막의 필름형태로 제작되는 접착제이다.An anisotropic conductive film is an adhesive produced in the form of a thin film having a conductive adhesive layer formed by mixing conductive particles in the form of fine particles such as metal coated plastic particles or metal particles, an adhesive, an additive (dispersant) and the like.

도 15a는 제2 적층기판을 준비하는 단계를 나타낸 단면도이고, 도 15b는 도 15a의 제2 적층기판에 제2 패턴을 형성하는 단계를 나타낸 단면도이다.15A is a cross-sectional view illustrating a step of preparing a second laminated substrate, and FIG. 15B is a cross-sectional view illustrating a step of forming a second pattern on the second laminated substrate of FIG. 15A.

제1 적층기판(100)과 같이 제2 적층기판(200)은 절연성 소재로 이루어지는 제2 절연기판(220)과, 제2 절연기판(220)의 양면에 형성된 도전층(210, 230)을 구비한다. 유연성을 갖는 회로기판(flexible circuit board)을 제작하고자 하는 경우에는, 제2 절연기판(220)이 폴리이미드 수지와 같이 유연성을 갖는 소재를 포함할 수 있다. Like the first laminated substrate 100, the second laminated substrate 200 includes a second insulating substrate 220 made of an insulating material, and conductive layers 210 and 230 formed on both surfaces of the second insulating substrate 220. do. In order to manufacture a flexible circuit board, the second insulating substrate 220 may include a material having flexibility such as polyimide resin.

제2 적층기판(200)이 준비되면, 제2 적층기판(200)의 일면에 제2 패턴(211)을 형성한다. 제2 패턴(211)은 제2 적층기판(200)의 일면에서 신호를 전달하는 기능을 수행한다. 제2 패턴(211)은 예를 들어, 포토리소그래피법(photo lithography)이나, 도금법이나, 인쇄법 등, 여러 가지 방법을 이용하여 형성될 수 있다.When the second laminated substrate 200 is prepared, a second pattern 211 is formed on one surface of the second laminated substrate 200. The second pattern 211 performs a function of transmitting a signal from one surface of the second laminated substrate 200. For example, the second pattern 211 may be formed using various methods such as photolithography, plating, or printing.

도 15c는 도 14의 제1 적층기판과 도 15b의 제2 적층기판을 부착하는 단계를 나타낸 단면도이다.15C is a cross-sectional view illustrating a step of attaching the first laminated substrate of FIG. 14 and the second laminated substrate of FIG. 15B.

일면에 제2 패턴(211)을 구비한 제2 적층기판(200)이 준비되면, 제1 적층기판(100)과 제2 적층기판(200)을 부착하는 단계가 실행된다.When the second laminated substrate 200 having the second pattern 211 is prepared on one surface, attaching the first laminated substrate 100 and the second laminated substrate 200 is performed.

제1 적층기판(100)과 제2 적층기판(200)을 부착하는 단계는 제1 적층기판(100)과 제2 적층기판(200)의 사이에 접착층(240)을 배치하여 제1 적층기판(100)과 접착층(240)과 제2 적층기판(200)을 서로 결합시키는 단계와, 열과 압력을 가하는 단계를 포함할 수 있다. In the attaching of the first laminated substrate 100 and the second laminated substrate 200, an adhesive layer 240 is disposed between the first laminated substrate 100 and the second laminated substrate 200 to form a first laminated substrate ( 100) and the adhesive layer 240 and the second laminated substrate 200 may be bonded to each other, and the step of applying heat and pressure.

접착층(240)은 회로기판이 유연성을 갖도록 하기 위해 폴리이미드와 같은 유연성 소재를 포함하는 절연 소재 기판의 양면에 접착제가 도포된 형태로 제조된 시트를 사용할 수 있다. The adhesive layer 240 may use a sheet made of a form in which an adhesive is applied to both sides of an insulating material substrate including a flexible material such as polyimide in order to make the circuit board flexible.

제1 적층기판(100)과 제2 적층기판(200)을 부착하는 단계에서는 진공 라미네이션법(vacuum lamination)이나 진공 상태에서 열을 가하는 진공 핫 프레스법( hot press)을 이용할 수 있다. 진공 라미네이션법이나 진공 핫 프레스법은 제1 적층기판(100)과 접착층(240)과 제2 적층기판(200)을 접합할 때에 접합이 이루어지는 공간의 기압을 대기 압력보다 낮은 압력(진공압)으로 유지함으로써, 제1 적층기판(100)과 제2 적층기판(200) 등의 사이에 존재하는 공기를 제거하여 접합시키는 방법이다. 이와 같은 진공 라미네이션법을 이용하면 가열과 가압을 위해 소요되는 시간을 축소할 수 있다. In the attaching of the first laminated substrate 100 and the second laminated substrate 200, a vacuum lamination method or a vacuum hot press method of applying heat in a vacuum state may be used. In the vacuum lamination method or the vacuum hot press method, when the first laminated substrate 100, the adhesive layer 240, and the second laminated substrate 200 are bonded together, the pressure in the space where the bonding is performed is lower than the atmospheric pressure (vacuum pressure). In this way, the air existing between the first laminated substrate 100 and the second laminated substrate 200 is removed and bonded. Using such a vacuum lamination method can reduce the time required for heating and pressurization.

제1 적층기판(100)과 제2 적층기판(200)을 부착하는 단계는 예를 들어 롤 라미네이션법을 이용하여 실행될 수 있다. 즉 제1 적층기판(100)과 제2 적층기판(200)과 접착층(240)의 각각을 롤에 감긴 상태로 공급하고, 롤에서 제1 적층기판(100)과 제2 적층기판(200)과 접착층(240)을 풀어가면서 연속적으로 공급하는 동안 제1 적층기판(100)과 제2 적층기판(200)과 접착층(240)을 부착하는 단계를 실행할 수 있다. Attaching the first laminated substrate 100 and the second laminated substrate 200 may be performed using, for example, a roll lamination method. That is, each of the first laminated substrate 100, the second laminated substrate 200, and the adhesive layer 240 is supplied to the rolled state, and the first laminated substrate 100 and the second laminated substrate 200 The step of attaching the first laminated substrate 100, the second laminated substrate 200, and the adhesive layer 240 may be performed while continuously supplying the adhesive layer 240.

범프(71, 72)의 두께(t2)는 접착층(240)의 두께(t1)의 약 80% 내지 90%로 설정될 수 있다. 예를 들어, 접착층(240)의 두께(t1)가 50μm일 때 범프(71, 72)의 두께(t2)는 40~45μm로 형성될 수 있다.The thickness t2 of the bumps 71 and 72 may be set to about 80% to 90% of the thickness t1 of the adhesive layer 240. For example, when the thickness t1 of the adhesive layer 240 is 50 μm, the thickness t2 of the bumps 71 and 72 may be 40 to 45 μm.

이와 같이 범프(71, 72)의 두께(t2)와 접착층(240)의 두께(t1)를 조절함으로써, 회로기판의 내부에 전자 칩(80)을 내장하기 위해 접착층(240)의 두께(t1)를 증가시키는 경우에도 인터커넥션 작업을 위해 형성될 비아홀(238, 239; 도 16 참조)을 미세한 크기로 가공할 수 있다.As such, by adjusting the thickness t2 of the bumps 71 and 72 and the thickness t1 of the adhesive layer 240, the thickness t1 of the adhesive layer 240 is embedded to embed the electronic chip 80 inside the circuit board. Even in the case of increasing the number of via holes, the via holes 238 and 239 to be formed for the interconnection operation (see FIG. 16) may be processed to a fine size.

도 16은 도 15c의 제2 적층기판에 비아홀을 형성하는 단계를 나타낸 단면도이다.16 is a cross-sectional view illustrating a step of forming a via hole in the second laminated substrate of FIG. 15C.

비아홀(238, 239)을 형성하는 단계는 범프(71, 72)에 대응하는 제2 적층기판(200)의 위치에서 드릴 가공을 실시하여 제2 적층기판(200)과 접착층(240)에 구멍을 뚫어 비아홀(238, 239)을 형성한다. 비아홀(238, 239)은 회로기판의 층들 사이의 전기적 연결 또는 단자와 회로패턴과의 전기적 연결을 이루기 위한 부분이다.The forming of the via holes 238 and 239 may be performed by drilling at the position of the second laminated substrate 200 corresponding to the bumps 71 and 72 to form holes in the second laminated substrate 200 and the adhesive layer 240. Through holes are formed to form via holes 238 and 239. The via holes 238 and 239 are parts for making an electrical connection between the layers of the circuit board or an electrical connection between the terminal and the circuit pattern.

비아홀(238, 239)은 미세한 크기의 구멍을 가공할 수 있는 자외선 레이저 드릴(500)을 이용하여 가공될 수 있다. 실시예는 이러한 비아홀(238, 239)의 가공 방법에 의해 제한되는 것은 아니며, 예를 들어 CO2 레이저 드릴을 이용하여 비아홀(238, 239)을 가공할 수도 있다. The via holes 238 and 239 may be processed using an ultraviolet laser drill 500 capable of processing holes of minute size. The embodiment is not limited by the processing method of the via holes 238 and 239, and the via holes 238 and 239 may be processed using, for example, a CO 2 laser drill.

비아홀(238, 239)은 접착층(240)의 전체의 두께(t1)에 대한 가공을 할 필요가 없으며, 접착층(240)에서 범프(71, 72)의 상단면까지의 두께(t1-t2) 만을 제거하면 된다. 따라서 접착층(240)의 전체의 두께(t1)를 가공하여 비아홀을 형성하였던 종래의 방법에 비해, 본 실시예에서는 미세한 크기의 비아홀(238, 239)을 가공할 수 있다.The via holes 238 and 239 do not need to be processed to the entire thickness t1 of the adhesive layer 240, and only the thickness t1 to t2 from the adhesive layer 240 to the top surfaces of the bumps 71 and 72. You can remove it. Therefore, in the present embodiment, via holes 238 and 239 having a fine size may be processed in comparison with the conventional method of forming the via holes by processing the entire thickness t1 of the adhesive layer 240.

도 17은 도 16의 비아홀을 도금하는 단계를 나타낸 단면도이다. 17 is a cross-sectional view illustrating a step of plating the via hole of FIG. 16.

비아홀(238, 239)을 형성한 이후에는 비아홀(238, 239)의 표면을 구리와 같은 도전성 소재로 도금하는 단계가 실행된다. 도금이 완료되면 비아홀(238, 239)의 표면에 도금층(236, 237)이 형성된다. After the via holes 238 and 239 are formed, a step of plating the surfaces of the via holes 238 and 239 with a conductive material such as copper is performed. When plating is completed, plating layers 236 and 237 are formed on the surfaces of the via holes 238 and 239.

비아홀(238, 239)의 도금층(236, 237)은 제1 적층기판(100)의 제1 패턴(31)의 연결 콘택트(34, 35)와 범프(71, 72)와 전기적으로 연결된 상태이므로, 도금층(236, 237)이 제1 적층기판(100)의 제1 패턴(31)과 제2 적층기판(200)의 타면의 도전층(230)을 전기적으로 연결한다.Since the plating layers 236 and 237 of the via holes 238 and 239 are electrically connected to the connecting contacts 34 and 35 and the bumps 71 and 72 of the first pattern 31 of the first laminated substrate 100, The plating layers 236 and 237 electrically connect the first pattern 31 of the first laminated substrate 100 and the conductive layer 230 on the other surface of the second laminated substrate 200.

도 18은 도 17의 제2 적층기판에 제3 패턴을 형성하고 제1 적층기판에 제4 패턴을 형성하는 단계를 나타낸 단면도이며, 도 19는 도 18의 회로기판에 보호층을 형성하는 단계를 나타낸 단면도이다.FIG. 18 is a cross-sectional view illustrating a process of forming a third pattern on the second stacked substrate of FIG. 17 and forming a fourth pattern on the first stacked substrate, and FIG. 19 illustrates forming a protective layer on the circuit board of FIG. 18. It is sectional drawing shown.

비아홀(238, 239)의 도금이 완료되면, 제2 적층기판(200)의 타면에 제3 패턴(231)을 형성하고, 제1 적층기판(100)의 타면에 제4 패턴(11)을 형성하는 단계가 실행될 수 있다.When the plating of the via holes 238 and 239 is completed, the third pattern 231 is formed on the other surface of the second laminated substrate 200, and the fourth pattern 11 is formed on the other surface of the first laminated substrate 100. The steps may be executed.

제2 적층기판(200)에 제3 패턴(231)을 형성하는 단계에서는 제3 패턴(231)와 비아홀(238, 239)의 도금층(236, 237)을 연결하는 랜드(239a, 239b)가 함께 형성될 수 있다. 이로써 제1 적층기판(100)의 제1 패턴(31)은 연결 콘택트(34, 35)에서 범프(71, 72)와 도금층(236, 237)과 랜드(239a, 239b)를 경유하여 제2 적층기판(200)의 제3 패턴(231)과 전기적으로 연결될 수 있다.In the forming of the third pattern 231 on the second laminated substrate 200, the lands 239a and 239b connecting the third pattern 231 and the plating layers 236 and 237 of the via holes 238 and 239 are together. Can be formed. As a result, the first pattern 31 of the first laminated substrate 100 may be stacked on the connecting contacts 34 and 35 via the bumps 71 and 72, the plating layers 236 and 237, and the lands 239a and 239b. It may be electrically connected to the third pattern 231 of the substrate 200.

제3 패턴(231)과 제4 패턴(11)이 형성된 이후에는, 제3 패턴(231)과 제4 패턴(11)의 표면을 덮어서 보호하는 보호층(251, 252)을 제1 적층기판(100)과 제2 적층기판(200)에 형성하는 단계가 실행될 수 있다.After the third pattern 231 and the fourth pattern 11 are formed, the protective layers 251 and 252 which cover and protect the surfaces of the third pattern 231 and the fourth pattern 11 are formed on the first laminated substrate ( 100) and the second laminated substrate 200 may be formed.

보호층(251, 252)을 형성하는 공정도 드라이 필름 레지스트(DFR)를 제1 적층기판(100)의 타면과 제2 적층기판(200)의 타면에 적층한 이후에, 노광, 현상, 에칭, 박리, 자동 광학적 검사(auto optical inspection) 등의 단계들에 실행될 수 있다.Process diagram for forming the protective layers 251 and 252 After the dry film resist (DFR) is laminated on the other surface of the first laminated substrate 100 and the other surface of the second laminated substrate 200, exposure, development, etching, Steps such as peeling, auto optical inspection, and the like.

상술한 바와 같이 범프(71, 72)의 두께(t2)를 접착층(240)의 두께(t1)의 약 80% 내지 90%로 설정함으로써, 회로기판의 내부에 전자 칩(80)을 내장하기 위해 접착층(240)의 두께(t1)를 증가시키는 경우에도 인터커넥션 작업을 위해 형성될 비아홀(238, 239)을 미세한 크기로 가공할 수 있다. As described above, the thickness t2 of the bumps 71 and 72 is set to about 80% to 90% of the thickness t1 of the adhesive layer 240 to thereby embed the electronic chip 80 inside the circuit board. Even when the thickness t1 of the adhesive layer 240 is increased, the via holes 238 and 239 to be formed for the interconnection operation may be processed to a fine size.

일반적인 회로기판용 비아홀 랜드는 350μm 의 폭을 갖지만, 미세한 피치의 회로 배선에서는 비아홀 랜드의 폭이 200μm 이하가 되어야 한다. 본 실시예에서는 비아홀(238, 239)이 미세한 크기로 가공됨으로써 제2 적층기판(200)의 제3 패턴(231)과 연결되는 랜드(239a, 239b)의 크기도 미세한 크기로 가공될 수 있으므로, 미세한 피치(pitch)의 회로 배선에 대응할 수 있다. A general via hole land for a circuit board has a width of 350 mu m, but in a fine pitch circuit wiring, the width of the via hole land should be 200 mu m or less. In this embodiment, since the via holes 238 and 239 are processed to a fine size, the sizes of the lands 239a and 239b connected to the third pattern 231 of the second laminated substrate 200 may also be processed to a fine size. It can correspond to the circuit wiring of minute pitch.

또한 비아홀의 동도금의 품질 지표는 에스펙트 비(AR; aspect ratio)는 절연층의 높이/비아홀의 크기로 정해지는데, 일반적으로 AR>1 인 경우에는 비아홀 내부에 보이드나 언더컷 등의 불량이 발생할 확률이 높아진다. In addition, the quality ratio of copper plating of the via hole is that the aspect ratio (AR) is determined by the height of the insulating layer / the size of the via hole.In general, when AR> 1, the probability of defects such as voids or undercuts in the via hole is generated. Is higher.

그러나 상술한 바와 같이 본 실시예에서는 회로기판의 층들을 연결하는 인터커넥션용 연결 콘택트(34, 35)에 범프(71, 72)를 미리 형성하므로 비아홀(238, 239)을 형성하기 위해 접착층(240)에서 천공이 되는 두께를 최소화할 수 있으므로, 비아홀(238, 239)의 내부의 불량 발생을 줄일 수 있고, 미세한 지름의 비아홀(238, 239)을 형성함으로써 미세한 피치의 회로 패턴에 대응할 수 있다.However, as described above, in the present embodiment, bumps 71 and 72 are formed in advance in the connection contacts 34 and 35 for interconnecting the layers of the circuit board, so that the adhesive layers 240 are formed to form the via holes 238 and 239. Since the thickness of the perforations can be minimized, the occurrence of defects in the via holes 238 and 239 can be reduced, and the via holes 238 and 239 having the fine diameter can be formed to correspond to the circuit pattern having a fine pitch.

본 발명에서 모든 예들 또는 예시적인 용어(예들 들어, 등등)의 사용은 단순히 본 발명을 상세히 설명하기 위한 것으로서 특허청구범위에 의해 한정되지 않는 이상 상기 예들 또는 예시적인 용어로 인해 본 발명의 범위가 한정되는 것은 아니다. 또한 기술이 속한 분야의 통상의 지식을 갖는 자는 발명의 범위와 사상에서 벗어나지 않으면서도 다양한 수정과 변경이 용이하게 이루어질 수 있음을 명확히 알 수 있다.The use of all examples or exemplary language (e.g., etc.) in this invention is for the purpose of describing the invention in detail and is not to be construed as a limitation on the scope of the invention, It is not. It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and changes may be made without departing from the scope and spirit of the invention.

10, 30: 도전층 91, 92: 구멍
11: 제4 패턴 100: 제1 적층기판
20: 제1 절연기판 200: 제2 적층기판
30: 도전층 210, 230: 도전층
31: 제1 패턴 211: 제2 패턴
32, 33: 본딩 패드 220: 제2 절연기판
34, 35: 연결 콘택트 230: 도전층
40: 제1 레지스트 236, 237: 도금층
51, 52: 도금층 238, 239: 비아홀
61, 62: 범프용 구멍 231: 제3 패턴
71, 72: 범프 239a, 239b: 랜드
71a, 72a: 도금층 240: 접착층
60: 절연층 251, 252: 보호층
80: 전자 칩 400: 광원
81, 82: 전극 패드 500: 드릴
90: 마스크
10, 30: conductive layer 91, 92: hole
11: fourth pattern 100: first laminated substrate
20: first insulating substrate 200: second laminated substrate
30: conductive layer 210, 230: conductive layer
31: first pattern 211: second pattern
32 and 33: bonding pads 220: second insulating substrate
34, 35: connection contact 230: conductive layer
40: first resist 236, 237: plating layer
51, 52: plating layer 238, 239: via hole
61, 62: bump hole 231: third pattern
71, 72: bumps 239a, 239b: land
71a, 72a: plating layer 240: adhesive layer
60: insulating layer 251, 252: protective layer
80: electronic chip 400: light source
81, 82: electrode pad 500: drill
90: mask

Claims (9)

양면에 도전층을 갖는 제1 적층기판을 준비하는 단계;
상기 제1 적층기판의 일면에 제1 패턴을 형성하는 단계;
상기 제1 패턴을 덮도록 절연층을 형성하고 상기 제1 패턴의 연결 콘택트에 대응하는 위치에서 상기 절연층을 제거하여 범프용 구멍을 형성하는 단계;
상기 범프용 구멍으로 노출된 상기 연결 콘택트에 도금하여 범프를 형성하는 단계;
전자 칩을 상기 제1 적층기판의 상기 일면에 장착하는 단계;
양면에 도전층을 갖는 제2 적층기판을 준비하는 단계;
상기 제2 적층기판의 일면에 제2 패턴을 형성하는 단계;
상기 제1 패턴과 상기 제2 패턴을 대향시켜 상기 제1 적층기판과 상기 제2 적층기판을 부착하는 단계;
상기 범프에 대응하는 상기 제2 적층기판의 위치에서 비아홀을 형성하는 단계; 및
상기 비아홀을 도금하는 단계;를 포함하는, 전자 칩이 내장된 회로기판의 제조 방법.
Preparing a first laminated substrate having conductive layers on both sides;
Forming a first pattern on one surface of the first laminated substrate;
Forming an insulating layer covering the first pattern and removing the insulating layer at a position corresponding to the connection contact of the first pattern to form a bump hole;
Plating the connection contacts exposed by the bump holes to form bumps;
Mounting an electronic chip on the one surface of the first laminated substrate;
Preparing a second laminated substrate having conductive layers on both sides;
Forming a second pattern on one surface of the second laminated substrate;
Attaching the first laminated substrate and the second laminated substrate to face the first pattern and the second pattern;
Forming a via hole at a position of the second laminated substrate corresponding to the bump; And
Plating the via hole; a method for manufacturing a circuit board having an electronic chip embedded therein.
제1항에 있어서,
상기 제2 적층기판의 타면에 제3 패턴을 형성하고, 상기 제1 적층기판의 타면에 제4 패턴을 형성하는 단계를 더 포함하는, 전자 칩이 내장된 회로기판의 제조 방법.
The method of claim 1,
Forming a third pattern on the other surface of the second laminated substrate, and forming a fourth pattern on the other surface of the first laminated substrate, the manufacturing method of a circuit board with an electronic chip embedded.
제1항에 있어서,
상기 제1 패턴을 형성하는 단계와 상기 범프용 구멍을 형성하는 단계의 사이에, 상기 제1 패턴에서 상기 전자 칩이 연결될 본딩 패드를 도금하는 단계를 더 포함하는, 전자 칩이 내장된 회로기판의 제조 방법.
The method of claim 1,
Between the forming of the first pattern and the forming of the bump hole, plating a bonding pad to which the electronic chip is to be connected in the first pattern. Manufacturing method.
제3항에 있어서,
상기 본딩 패드를 도금하는 단계는, 상기 본딩 패드를 제외한 상기 제1 패턴을 덮도록 상기 제1 적층기판의 상기 일면에 제1 레지스트를 형성하는 단계와, 상기 본딩 패드의 표면에 무전해 니켈 금도금법(ENIG; electroless nickel immersion gold plating)에 의해 도금층을 형성하는 단계를 포함하는, 전자 칩이 내장된 회로기판의 제조 방법.
The method of claim 3,
The plating of the bonding pad may include forming a first resist on the surface of the first laminated substrate to cover the first pattern except for the bonding pad, and electroless nickel gold plating on the surface of the bonding pad. (ENIG; electroless nickel immersion gold plating) comprising the step of forming a plating layer, a method for manufacturing a circuit board with an embedded electronic chip.
제4항에 있어서,
상기 전자 칩을 장착하는 단계는, 상기 전자 칩과 상기 본딩 패드의 상기 도금층의 사이에 전도성 접착제를 개재하여 상기 전자 칩과 상기 도금층을 연결하는, 전자 칩이 내장된 회로기판의 제조 방법.
5. The method of claim 4,
The mounting of the electronic chip may include connecting the electronic chip and the plating layer through a conductive adhesive between the electronic chip and the plating layer of the bonding pad.
제1항에 있어서,
상기 범프를 형성하는 단계의 이전에 상기 범프용 구멍으로 노출된 상기 연결 콘택트의 표면을 세정하는 단계를 더 포함하는, 전자 칩이 내장된 회로기판의 제조 방법.
The method of claim 1,
And cleaning the surface of the connection contact exposed to the holes for the bumps prior to forming the bumps.
제1항에 있어서,
상기 범프를 형성하는 단계는 전해 구리도금법에 의해 상기 연결 콘택트의 표면을 도금하는, 전자 칩이 내장된 회로기판의 제조 방법.
The method of claim 1,
The forming of the bumps may include plating the surface of the connection contact by an electrolytic copper plating method.
제1항에 있어서,
상기 제1 적층기판과 상기 제2 적층기판을 부착하는 단계는 상기 제1 적층기판과 상기 제2 적층기판의 사이에 접착층을 배치하여 상기 제1 적층기판과 상기 제2 적층기판을 부착하는, 전자 칩이 내장된 회로기판의 제조 방법.
The method of claim 1,
The attaching the first laminated substrate and the second laminated substrate may include attaching the first laminated substrate and the second laminated substrate by disposing an adhesive layer between the first laminated substrate and the second laminated substrate. Method for manufacturing a circuit board in which a chip is embedded.
제8항에 있어서,
상기 범프의 두께는 상기 접착층의 두께의 80% 내지 90%인, 전자 칩이 내장된 회로기판의 제조 방법.
9. The method of claim 8,
The thickness of the bump is 80% to 90% of the thickness of the adhesive layer, a method of manufacturing a circuit board with an embedded electronic chip.
KR1020120091995A 2012-08-22 2012-08-22 Manufacturing method of electronic chip embedded circuit board KR101924458B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020120091995A KR101924458B1 (en) 2012-08-22 2012-08-22 Manufacturing method of electronic chip embedded circuit board

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020120091995A KR101924458B1 (en) 2012-08-22 2012-08-22 Manufacturing method of electronic chip embedded circuit board

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20140025824A true KR20140025824A (en) 2014-03-05
KR101924458B1 KR101924458B1 (en) 2018-12-03

Family

ID=50640727

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020120091995A KR101924458B1 (en) 2012-08-22 2012-08-22 Manufacturing method of electronic chip embedded circuit board

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101924458B1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102015203882A1 (en) 2014-03-05 2015-09-10 Mando Corporation Autosensor calibration wheel mounting unit and calibration device using the same

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002261449A (en) * 2000-12-27 2002-09-13 Matsushita Electric Ind Co Ltd Module with built-in component and its manufacturing method
KR20060063654A (en) * 2004-12-07 2006-06-12 신꼬오덴기 고교 가부시키가이샤 Manufacturing method of chip integrated substrate
JP2009076833A (en) * 2007-09-18 2009-04-09 Samsung Electro-Mechanics Co Ltd Printed circuit board having embedded electronic component and method for manufacturing thereof
KR20110002807A (en) * 2009-07-02 2011-01-10 가시오게산키 가부시키가이샤 Semiconductor device including sealing film for encapsulating semiconductor chip and post and manufacturing method of semiconductor device
KR20110017299A (en) * 2009-08-13 2011-02-21 삼성테크윈 주식회사 Embedded substrate and method for manufacturing the same
KR20120015060A (en) * 2010-08-11 2012-02-21 삼성테크윈 주식회사 Active ic chip embedded multilayer flexible printed circuit board and method of manufacturing the same
KR20120016814A (en) * 2010-08-17 2012-02-27 삼성테크윈 주식회사 Device embedded flexible printed circuit board and manufacturing method thereof

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002261449A (en) * 2000-12-27 2002-09-13 Matsushita Electric Ind Co Ltd Module with built-in component and its manufacturing method
KR20060063654A (en) * 2004-12-07 2006-06-12 신꼬오덴기 고교 가부시키가이샤 Manufacturing method of chip integrated substrate
JP2009076833A (en) * 2007-09-18 2009-04-09 Samsung Electro-Mechanics Co Ltd Printed circuit board having embedded electronic component and method for manufacturing thereof
KR20110002807A (en) * 2009-07-02 2011-01-10 가시오게산키 가부시키가이샤 Semiconductor device including sealing film for encapsulating semiconductor chip and post and manufacturing method of semiconductor device
KR20110017299A (en) * 2009-08-13 2011-02-21 삼성테크윈 주식회사 Embedded substrate and method for manufacturing the same
KR20120015060A (en) * 2010-08-11 2012-02-21 삼성테크윈 주식회사 Active ic chip embedded multilayer flexible printed circuit board and method of manufacturing the same
KR20120016814A (en) * 2010-08-17 2012-02-27 삼성테크윈 주식회사 Device embedded flexible printed circuit board and manufacturing method thereof

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102015203882A1 (en) 2014-03-05 2015-09-10 Mando Corporation Autosensor calibration wheel mounting unit and calibration device using the same
DE102015203882B4 (en) 2014-03-05 2024-02-29 Hl Klemove Corp. Wheel mounting unit for car sensor calibration and calibration device using the same

Also Published As

Publication number Publication date
KR101924458B1 (en) 2018-12-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI507096B (en) Multilayer printed circuit board and method for manufacturing same
KR100836653B1 (en) Circuit board and method for manufacturing thereof
KR101077380B1 (en) A printed circuit board and a fabricating method the same
US20090095508A1 (en) Printed circuit board and method for manufacturing the same
TWI530238B (en) Chip package substrate and method for manufacturing same
US20090242238A1 (en) Buried pattern substrate
KR20120108952A (en) Method of manufacturing circuit board, and method of manufacturing electronic device
JP2010171387A (en) Circuit board structure and production method therefor
TW201446084A (en) Printed circuit board and method for manufacturing same
TW201446103A (en) Circuit board and method for manufacturing same
KR101039774B1 (en) Method of fabricating a metal bump for printed circuit board
KR20150065029A (en) Printed circuit board, manufacturing method thereof and semiconductor package
JP4825784B2 (en) Package for semiconductor device and method for manufacturing the same
JP2018032659A (en) Printed wiring board and method for manufacturing the same
KR101924458B1 (en) Manufacturing method of electronic chip embedded circuit board
JP2008166464A (en) Wiring substrate and manufacturing method thereof
KR101574019B1 (en) Method of manufacturing Printed Circuit Board
TWI644368B (en) Package substrate, method for making the same, and package structure having the same
KR101313155B1 (en) Plating Method for PCB and Method for Manufacturing Flexible PCB Using the Same
TWI527164B (en) Method for forming a package substrate
KR100658437B1 (en) Pcb and it's manufacturing method used bump board
TWI547047B (en) Manufacturing method of connector
KR101077358B1 (en) A carrier member for manufacturing a substrate and a method of manufacturing a substrate using the same
TWI594675B (en) Printed circuit board and method for manufacturing same
KR20120044730A (en) Printed circuit board and manufacturing method for printed circuit board

Legal Events

Date Code Title Description
N231 Notification of change of applicant
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant