KR20130136188A - 가성 터치를 방지하기 위한 전자 장치 및 방법 - Google Patents

가성 터치를 방지하기 위한 전자 장치 및 방법 Download PDF

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KR20130136188A
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정재훈
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Abstract

본 발명은, 전자 장치의 동작 방법에 있어서, 최대 노드 값(max node value)이 검출된 노드(node)를 기준으로 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 각각의 노드 값(node value)을 확인하는 과정; 상기 설정된 범위 내의 노드 중 상기 최대 노드 값의 설정된 퍼센트 이상의 노드 값이 검출된 노드의 개수를 확인하는 과정; 및 상기 노드의 개수를 확인하여 상기 최대 노드 값이 검출된 노드 위의 터치 영역을 입력받을지 판단하는 과정을 포함하는 것을 특징으로 하는 가성 터치를 방지하기 위한 전자 장치 및 방법에 관한 것이다.

Description

가성 터치를 방지하기 위한 전자 장치 및 방법{APPARATAS AND METHOD OF PROTECTING PSEUDO TOUCH IN A ELECTRONIC DEVICE}
본 발명은 진성 터치와 가성 터치를 구분할 수 있는 전자 장치 및 방법에 관한 것이다.
터치 입력을 받는 전자 장치를 사용하는 사용자라면 누구나 한번쯤은 사용자의 의도와는 상관없이 전자 장치의 특정 영역이 입력되어 지는 경우를 경험해 보았을 것이다. 예를 들면, 사용자가 전자파가 많이 발생되는 장소에서 전자 장치를 사용하다 보면 사용자가 전자 장치의 터치 스크린을 입력하지 않아도 주변에서 발생되는 방사 노이즈에 의하여 가성 터치가 발생될 수 있다. 이에 따라, 사용자가 의도하지 않은 가성 터치를 방지하기 위하여 여러 애플리케이션이 계발되었다.
그러나, 사용자가 가성 터치를 방지하기 위한 애플리케이션을 사용하기 위해서는 매번 진성 터치 여부를 확인하는 절차를 거쳐야 하는 문제점이 있었다. 예를 들면, 사용자가 특정 상대방과 전화 통화를 하기 위하여 전자 장치의 터치 스크린에 디스플레이된 통화 버튼을 입력하였어도, 진성 터치 여부를 확인시켜 주는 비밀번호 등을 따로 입력하여야 했다.
따라서, 사용자가 수동적으로 진성 터치 여부를 입력하지 않아도 전자 장치에서 자동으로 진성 터치 여부를 판단해 줄 수 있는 장치의 계발이 시급한 실정이다.
본 발명은 기존에 제안된 방법들의 상기와 같은 문제점들을 해결하기 위해 제안된 것으로서, 입력받은 터치가 진성 터치인지 여부를 자동으로 판단하여 의도하지 않은 오작동을 방지할 수 있는 장치 및 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.
본 발명의 또 다른 목적은, 차별화된 나인 셀 알고리즘을 제안하여 진성 터치 여부를 자동으로 판단할 수 있는 장치 및 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.
본 발명의 또 다른 목적은, 독창적인 패턴 알고리즘을 제안하여 진성 터치 여부를 자동으로 판단할 수 있는 장치 및 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.
상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 특징에 따른 전자 장치의 동작 방법은, 전자 장치의 동작 방법에 있어서, 최대 노드 값(max node value)이 검출된 노드(node)를 기준으로 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 각각의 노드 값(node value)을 확인하는 과정; 상기 설정된 범위 내의 노드 중 상기 최대 노드 값의 설정된 퍼센트 이상의 노드 값이 검출된 노드의 개수를 확인하는 과정; 및 상기 노드의 개수를 확인하여 상기 최대 노드 값이 검출된 노드 위의 터치 영역을 입력받을지 판단하는 과정을 포함하는 것을 그 구성상의 특징으로 한다.
바람직하게는, 적어도 하나의 노드에서 검출된 각각의 노드 값을 확인하는 과정; 상기 검출된 노드 값이 변화되었음을 확인하는 과정; 및 상기 적어도 하나의 노드 중 상기 최대 노드 값이 검출된 어느 하나의 노드를 검색하는 과정을 더 포함할 수 있다.
바람직하게는, 상기 최대 노드 값이 설정된 값 이상인지 판단하는 과정; 상기 최대 노드 값이 상기 설정된 값 이상이라고 판단되면, 상기 최대 노드 값이 검출된 노드 위의 터치 영역을 입력받는 과정; 및 상기 영역을 입력받음으로써 수행할 기능을 실행하는 과정을 더 포함할 수 있다.
바람직하게는, 상기 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드는, 상기 최대 노드 값이 검출된 노드를 제외하고, 상기 최대 노드 값이 검출된 노드에서 가장 가까운 곳에 위치한 여덟 개의 노드일 수 있다.
바람직하게는, 상기 노드의 개수를 확인하여 상기 최대 노드 값이 검출된 노드 위의 터치 영역을 입력받을지 판단하는 과정은, 상기 확인된 노드의 개수가 설정된 개수 미만이라고 판단되면, 상기 최대 노드 값이 검출된 노드 위의 터치 영역을 입력받는 과정; 및 상기 영역을 입력받음으로써 수행할 기능을 실행하는 과정을 포함할 수 있다.
바람직하게는, 상기 노드의 개수를 확인하여 상기 최대 노드 값이 검출된 노드 위의 터치 영역을 입력받을지 판단하는 과정은, 상기 확인된 노드의 개수가 설정된 개수 이상이라고 판단되면, 상기 최대 노드 값이 검출된 노드 위의 영역을 입력받지 않는 과정을 포함할 수 있다.
바람직하게는, 상기 노드는, 적어도 하나의 X채널과 적어도 하나의 Y채널의 교점일 수 있다.
상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 특징에 따른 전자 장치의 동작 방법은, 전자 장치의 동작 방법에 있어서, 검출된 노드 값 중 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 모든 노드 값이 변화되었음을 확인하는 과정; 및 상기 변화된 노드 값을 확인하여 상기 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드 위의 터치 영역을 입력받을지 판단하는 과정을 포함하는 것을 그 구성상의 특징으로 한다.
바람직하게는, 적어도 하나의 노드에서 검출된 각각의 노드 값을 확인하는 과정을 더 포함할 수 있다.
바람직하게는, 상기 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드는, 적어도 하나의 X채널 중 적어도 하나의 X채널에 포함된 모든 노드일 수 있다.
바람직하게는, 상기 검출된 노드 값 중 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 모든 노드 값이 변화되었음을 확인하는 과정은, 상기 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 노드 값이 설정된 노드 값 이상으로 변화되었음을 확인하는 과정; 및 상기 설정된 노드 값 이상으로 변화된 노드가 설정된 개수 이상임을 확인하는 과정을 포함할 수 있다.
바람직하게는, 상기 변화된 노드 값을 확인하여 상기 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드 위의 터치 영역을 입력받을지 판단하는 과정은, 상기 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에 대하여 패턴 알고리즘을 적용하는 과정; 및 상기 패턴 알고리즘을 적용한 결과 상기 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 변화된 노드 값을 확인하는 과정을 포함할 수 있다.
바람직하게는, 상기 패턴 알고리즘은 아래의 수학식에 따라 정의될 수 있다.
Figure pat00001
바람직하게는, 상기 패턴 알고리즘을 적용한 결과 상기 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 변화된 노드 값을 확인하는 과정은, 상기 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 노드 값 중 최대 노드 값이 검출된 어느 하나의 노드를 검색하는 과정; 상기 최대 노드 값이 설정된 노드 값 이상임을 확인하는 과정; 상기 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드 위의 터치 영역을 입력받는 과정; 및 상기 영역을 입력받음으로써 수행할 기능을 실행하는 과정을 포함할 수 잇다.
바람직하게는, 상기 패턴 알고리즘을 적용한 결과 상기 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 변화된 노드 값을 확인하는 과정은, 상기 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 노드 값 중 최대 노드 값이 검출된 어느 하나의 노드를 검색하는 과정; 상기 최대 노드 값이 설정된 노드 값 미만임을 확인하는 과정; 상기 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드 위의 터치 영역을 입력받지 않는 과정을 포함할 수 있다.
바람직하게는, 상기 노드는, 적어도 하나의 X채널과 적어도 하나의 Y채널의 교점일 수 있다.
상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 특징에 따른 전자 장치는, 전자 장치에 있어서, 최대 노드 값(max node value)이 검출된 노드(node)를 기준으로 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 각각의 노드 값(node value)을 확인하고, 상기 설정된 범위 내의 노드 중 상기 최대 노드 값의 설정된 퍼센트 이상의 노드 값이 검출된 노드의 개수를 확인하며, 상기 노드의 개수를 확인하여 상기 최대 노드 값이 검출된 노드 위의 터치 영역을 입력받을지 판단하는 프로세스 유닛; 및 상기 프로세스 유닛에서 제어한 정보를 저장하는 메모리를 포함하는 것을 그 구성상의 특징으로 한다.
바람직하게는, 상기 프로세스 유닛은, 적어도 하나의 노드에서 검출된 각각의 노드 값을 확인하고, 상기 검출된 노드 값이 변화되었음을 확인하며, 상기 적어도 하나의 노드 중 상기 최대 노드 값이 검출된 어느 하나의 노드를 검색할 수 있다.
바람직하게는, 상기 프로세서 유닛은, 상기 최대 노드 값이 설정된 값 이상인지 판단하고, 상기 영역을 입력받음으로써 수행할 기능을 실행하고, 상기 최대 노드 값이 상기 설정된 값 이상이라고 판단되면, 상기 최대 노드 값이 검출된 노드 위의 터치 영역을 입력받는 터치 스크린을 더 포함할 수 있다.
바람직하게는, 상기 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드는, 상기 최대 노드 값이 검출된 노드를 제외하고, 상기 최대 노드 값이 검출된 노드에서 가장 가까운 곳에 위치한 여덟 개의 노드일 수 있다.
바람직하게는, 상기 확인된 노드의 개수가 설정된 개수 미만이라고 판단되면, 상기 최대 노드 값이 검출된 노드 위의 터치 영역을 입력받는 터치 스크린을 더 포함하고, 상기 프로세서 유닛은, 상기 영역을 입력받음으로써 수행할 기능을 실행할 수 있다.
바람직하게는, 상기 터치 스크린은, 상기 확인된 노드의 개수가 설정된 개수 이상이라고 판단되면, 상기 최대 노드 값이 검출된 노드 위의 영역을 입력받지 않을 수 있다.
바람직하게는, 상기 노드는, 적어도 하나의 X채널과 적어도 하나의 Y채널의 교점일 수 있다.
상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 특징에 따른 전자 장치는, 전자 장치에 있어서, 검출된 노드 값 중 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 모든 노드 값이 변화되었음을 확인하고, 상기 변화된 노드 값을 확인하여 상기 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드 위의 터치 영역을 입력받을지 판단하는 프로세서 유닛; 및 상기 프로세스 유닛에서 제어한 정보를 저장하는 메모리를 포함하는 것을 그 구성상의 특징으로 한다.
바람직하게는, 상기 프로세서 유닛은, 적어도 하나의 노드에서 검출된 각각의 노드 값을 확인할 수 있다.
바람직하게는, 상기 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드는, 적어도 하나의 X채널 중 적어도 하나의 X채널에 포함된 모든 노드일 수 있다.
바람직하게는, 상기 프로세서 유닛은, 상기 검출된 노드 값 중 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 모든 노드 값이 변화되었음을 확인하고, 상기 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 노드 값이 설정된 노드 값 이상으로 변화되었음을 확인하며, 상기 설정된 노드 값 이상으로 변화된 노드가 설정된 개수 이상임을 확인할 수 있다.
바람직하게는, 상기 프로세서 유닛은, 상기 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에 대하여 패턴 알고리즘을 적용하고, 상기 패턴 알고리즘을 적용한 결과 상기 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 변화된 노드 값을 확인할 수 있다.
바람직하게는, 상기 패턴 알고리즘은 아래의 수학식에 따라 정의될 수 있다.
Figure pat00002
바람직하게는, 상기 프로세서 유닛은, 상기 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 노드 값 중 최대 노드 값이 검출된 어느 하나의 노드를 검색하고, 상기 최대 노드 값이 설정된 노드 값 이상임을 확인하며, 상기 영역을 입력받음으로써 수행할 기능을 실행하고, 상기 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드 위의 터치 영역을 입력받는 터치 스크린을 더 포함할 수 있다.
바람직하게는, 상기 프로세서 유닛은, 상기 패턴 알고리즘을 적용한 결과 상기 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 변화된 노드 값을 확인하고, 상기 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 노드 값 중 최대 노드 값이 검출된 어느 하나의 노드를 검색하며, 상기 최대 노드 값이 설정된 노드 값 미만임을 확인하고, 상기 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드 위의 터치 영역을 입력받지 않는 터치 스크린을 더 포함할 수 있다.
바람직하게는, 상기 노드는, 적어도 하나의 X채널과 적어도 하나의 Y채널의 교점일 수 있다.
본 발명의 가성 터치를 방지하기 위한 전자 장치 및 방법에 따르면, 입력받은 터치가 진성 터치인지 여부를 자동으로 판단하여 의도하지 않은 오작동을 방지할 수 있는 장치 및 방법을 제공할 수 있는 효과가 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 가성 터치를 방지하기 위한 전자 장치의 전체적인 구성을 도시한 도면.
도 2는 본 발명에 따른 전자 장치가 터치 입력을 받은 후 진성 터치임을 확인하는 일 실시예를 나타낸 도면.
도 3은 본 발명에 따른 나인 셀 알고리즘이 적용되는 일 실시예를 나타낸 도면.
도 4는 본 발명에 따른 나인 셀 알고리즘이 적용되는 또 다른 실시예를 나타낸 도면.
도 5는 본 발명에 따른 나인 셀 알고리즘이 적용되는 또 다른 실시예를 나타낸 도면.
도 6은 본 발명에 따른 나인 셀 알고리즘이 적용되는 또 다른 실시예를 나타낸 도면.
도 7은 본 발명에 따른 패턴 알고리즘이 적용되는 일 실시예를 나타낸 도면.
도 8은 본 발명에 따른 패턴 알고리즘이 적용되는 또 다른 실시예를 나타낸 도면.
도 9는 본 발명의 일 실시예에 따른 나인 셀 알고리즘의 순서도.
도 10은 본 발명의 일 실시예에 따른 패턴 알고리즘의 순서도.
도 11은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치의 구성을 도시한 블록도.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명을 용이하게 실시할 수 있도록 바람직한 실시예를 상세히 설명한다. 다만, 본 발명의 바람직한 실시예를 상세하게 설명함에 있어, 관련된 공지 기능 또는 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명을 생략한다. 또한, 유사한 기능 및 작용을 하는 부분에 대해서는 도면 전체에 걸쳐 동일한 부호를 사용한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 가성 터치를 방지하기 위한 전자 장치의 전체적인 구성을 도시한 도면이다. 도 1에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 가성 터치를 방지하기 위한 전자 장치는 X채널(101), Y채널(102), 노드(103) 및 노드(103)에서 검출된 노드 값(104)으로 구성될 수 있다.
먼저, X채널(channel, 101)은 커패시터 Tx 드라이버 채널(Capacitor Tx Driver channel)로도 정의되는 것으로 패널에 커패시터를 공급하는 라인으로 정의될 수 있다. 보다 구체적으로, 전자 장치의 내부에는 전자 장치의 정면을 기준으로 했을 때 X축과 평행한 적어도 하나의 X채널(101)이 구비될 수 있는데, X채널(101)의 개수는 각각의 모델에 따라 달라질 수 있다. 예를 들면, 전자 장치의 터치 스크린이 3.2인치인 경우 14개의 X채널(101)이 구비될 수 있고, 전자 장치의 터치 스크린이 5인치인 경우 12개의 X채널(101)이 구비될 수 있다. 물론, 상술한 예는 일반적으로 구비될 수 있는 X채널(101)의 수를 나타낸 것으로, 전자 장치의 터치 스크린의 크기에 고정된 값을 갖지 않는다.
Y채널(102)은 커패시터 RX 입력 채널(Capacitor RX Input channel)로도 정의되는 것으로 각각의 X채널의 커패시터의 유기량을 검출하는 라인으로 정의될 수 있다. 보다 구체적으로, 전자 장치의 내부에는 전자 장치의 정면을 기준으로 했을 때 Y축과 평행한 적어도 하나의 Y채널(102)이 구비될 수 있는데, Y채널(101)의 개수는 X채널의 수와 같이 각각의 모델에 따라 달라질 수 있다. 예를 들면, 전자 장치의 터치 스크린이 3.2인치인 경우 8개의 Y채널(102)이 구비될 수 있고, 전자 장치의 터치 스크린이 5인치인 경우 16개의 Y채널(102)이 구비될 수 있다. 물론, 상술한 예는 일반적으로 구비될 수 있는 Y채널(102)의 수를 나타낸 것으로, 전자 장치의 터치 스크린의 크기에 고정된 값을 갖지 않는다.
노드(103)는 상술한 X채널(101)과 Y채널(102)의 교점으로, 각각의 노드(103)에서는 해당 노드에서 검출된 노드 값(104)을 갖는다. 보다 구체적으로, 각각의 노드(103)에서는 해당 노드에서 빠져나간 커패시터의 변화 연산량을 검출하는데, 본 발명에서는 이를 수치로 디스플레이하여 사용자가 육안으로 볼 수 있도록 별도의 애플리케이션을 적용하였다. 즉, 각각의 노드 안에 디스플레이된 수치는 노드 값(104)으로 해당 노드에서 빠져나간 커패시터의 변화 연산량을 나타낸 것이다. 예를 들면, 노드 값이 "0"이라는 의미는 "0"이라는 수치를 디스플레이하는 해당 노드에서 빠져나간 커패시터의 변화 연산량을 의미하는 것이다. 같은 의미로, 노드 값이 "2"라는 의미는 "2"라는 수치를 디스플레이하는 해당 노드에서 빠져나간 커패시터의 변화 연산량을 의미하는 것이다. 즉, 노드 값이 크다는 의미는 해당 노드에서 빠져나간 커패시터의 변화 연산량이 크다는 의미로, 사용자로부터 노드 값이 크게 검출된 노드 위에 위치한 터치 영역을 입력받았다는 것으로 볼 수 있다. 같은 의미로, 노드 값이 작다는 의미는 해당 노드에서 빠져나간 커패시터의 변화 연산량이 적다는 의미로, 사용자로부터 노드 값이 적게 검출된 노드 위에 위치한 터치 영역을 입력받지 않았다는 것으로 볼 수 있다.
본 발명에서는 전자 장치가 노드 값의 변화를 실시간으로 확인하여 설정된 변화가 발생되었음을 확인한 경우, 전자 장치는 진성 터치를 입력받았는지 또는 가성 터치를 입력받았는지를 확인하기 위한 두 개의 알고리즘을 제시한다. 물론, 노드 값이 설정된 값 이상의 값으로 검출되었다면, 전자 장치에서는 해당 설정된 값 이상의 값으로 검출된 노드 위에 위치한 터치 영역이 진성 터치임을 바로 확인할 수 있음은 당연한 것이다. 즉, 전자 장치에서 설정된 값 이하의 값을 입력받았을 경우 진성 터치를 입력받았는지 또는 가성 터치를 입력받았는지 바로 확인할 수 없는 경우에 본 발명에서 제안한 두 개의 알고리즘이 적용된다. 종래에는 사용자가 의도하지 않은 터치 입력이 이루어져 사용자의 불편을 초래하였는데, 본 발명에서는 터치 입력을 받은 경우, 해당 터치 입력이 진성 터치 인지 또는 가성 터치 인지를 두 개의 알고리즘을 이용하여 바로 판단할 수 있는 장점이 있다.
도 2는 본 발명에 따른 전자 장치가 터치 입력을 받은 후 진성 터치임을 확인하는 일 실시예를 나타낸 도면이다. 도 2에 도시된 바와 같이, 전자 장치의 내부에는 전자 장치의 정면을 기준으로 했을 때 X축과 평행한 적어도 하나의 X채널과 Y축과 평행한 적어도 하나의 Y채널이 구비될 수 있다. X채널과 Y채널의 교점은 노드로 정의될 수 있는데, 각각의 노드에서는 해당 노드에서 빠져나간 커패시터의 변화 연산량을 검출하는데, 본 발명에서는 이를 수치로 디스플레이하여 사용자가 육안으로 볼 수 있도록 별도의 애플리케이션을 적용하였다. 즉, 각각의 노드 안에 디스플레이된 수치는 노드 값으로 해당 노드에서 빠져나간 커패시터의 변화 연산량을 나타낸 것이다. 즉, 노드 값이 크다는 의미는 해당 노드에서 빠져나간 커패시터의 변화 연산량이 크다는 의미로, 사용자로부터 노드 값이 크게 검출된 노드 위에 위치한 터치 영역을 입력받았다는 것으로 볼 수 있다. 같은 의미로, 노드 값이 작다는 의미는 해당 노드에서 빠져나간 커패시터의 변화 연산량이 적다는 의미로, 사용자로부터 노드 값이 적게 검출된 노드 위에 위치한 터치 영역을 입력받지 않았다는 것으로 볼 수 있다.
도 2에 도시된 일 실시예에는 전자 장치가 터치 입력을 받은 후 진성 터치임을 확인하는 일 실시예를 나타낸 도면이다. 먼저, 전자 장치는 적어도 하나의 노드에서 검출된 각각의 노드 값을 확인하여, 검출된 노드 값이 변화되었음을 확인하며, 적어도 하나의 노드 중 최대 노드 값이 검출된 어느 하나의 노드를 검색한다. 보다 구체적으로, 전자 장치는 실시간으로 변화되는 노드 값을 모니터링하여, 노드 값이 변화되었음을 확인하면 변화된 노드 값 중에서 최대 노드 값을 검색한다. 이후, 전자 장치는 최대 노드 값이 설정된 값 이상인지 판단하여, 만약 최대 노드 값이 설정된 값 이상이라고 판단되면, 최대 노드 값이 검출된 노드 위의 터치 영역을 입력받아 수행할 기능을 실행한다. 보다 구체적으로, 전자 장치에서 적어도 하나의 노드 중에서 검출된 최대 노드 값이 설정된 값 이상이라고 판단되었다면, 전자 장치는 진성 터치를 입력받았다고 판단하여 최대 노드 값이 검출된 노드 위의 터치 영역을 입력받아 수행할 기능을 실행한다. 즉, 전자 장치에서 적어도 하나의 노드 중에서 검출된 최대 노드 값이 설정된 값 이상이라고 판단되었다면, 본 발명에서 제안하는 알고리즘을 적용할 필요 없이 바로 진성 터치임을 확인할 수 있다. 도 2에 도시된 예를 들면, 전자 장치는 디스플레이되어 있는 노드 값을 실시간으로 모니터링하여, 만약 노드 값이 변화되었음을 확인하면 변화된 노드 값 중에서 최대 노드 값이 디스플레이된 노드(201)를 검색한다. 이후, 전자 장치는 최대 노드 값이 검출된 노드(201)에 디스플레이된 노드 값이 설정된 값 이상인지 판단한다. 만약, 설정된 노드 값이 25라고 가정한다면, 본 실시예에서는 최대 노드 값이 검출된 노드(201)에 디스플레이된 노드 값이 25 이상인 50이므로, 전자 장치는 진성 터치를 입력받았다고 판단하여 최대 노드 값이 검출된 노드(50)위의 터치 영역을 입력받아 수행할 기능을 실행한다. 따라서, 본 발명에서 제안하는 나인 셀(202) 알고리즘은 적용되지 않는다.
도 3은 본 발명에 따른 나인 셀 알고리즘이 적용되는 일 실시예를 나타낸 도면이다. 도 3에 도시된 바와 같이, 전자 장치에는 적어도 하나의 X채널과 적어도 하나의 Y채널로 구성되어 있는데, X채널과 Y채널의 교점에는 노드가 구비되어 있다. 여기서, 노드의 수는 X채널과 Y채널의 수에 따라서 달라질 수 있는 상대적인 수치이다. 즉, X채널과 Y채널의 수가 많을수록 각각의 채널의 교점인 노드의 수는 증가하는 것이고, 반대로 X채널과 Y채널의 수가 적을수록 각각의 채널의 교점인 노드의 수는 감소하는 것이다. 따라서, 노드의 수는 적용되는 제품에 따라 달라질 수 있음은 물론이다.
도 3에는 전자 장치에 구비되어 있는 X채널과 Y채널의 교점인 노드와 각각의 노드에서 검출한 노드 값이 디스플레이되어 있다. 상술한 바와 같이, 각각의 노드에서는 해당 노드에서 빠져나간 커패시터의 변화 연산량을 검출하는데, 본 발명에서는 이를 수치로 디스플레이하여 사용자가 육안으로 볼 수 있도록 별도의 애플리케이션을 적용하였다. 먼저, 전자 장치는 적어도 하나의 노드에서 검출된 각각의 노드 값을 확인하여, 검출된 노드 값이 변화되었음을 확인하며, 적어도 하나의 노드 중 최대 노드 값이 검출된 어느 하나의 노드를 검색한다. 보다 구체적으로, 전자 장치는 실시간으로 변화되는 노드 값을 모니터링하여, 노드 값이 변화되었음을 확인하면 변화된 노드 값 중에서 최대 노드 값을 검색한다. 이후, 전자 장치는 최대 노드 값이 설정된 값 이상인지 판단하여, 만약 최대 노드 값이 설정된 값 이상이라고 판단되면, 최대 노드 값이 검출된 노드 위의 터치 영역을 입력받아 수행할 기능을 실행한다. 보다 구체적으로, 전자 장치에서 적어도 하나의 노드 중에서 검출된 최대 노드 값이 설정된 값 이상이라고 판단되었다면, 전자 장치는 진성 터치를 입력받았다고 판단하여 최대 노드 값이 검출된 노드 위의 터치 영역을 입력받아 수행할 기능을 실행한다.
그러나, 전자 장치에서 적어도 하나의 노드 중에서 검출된 최대 노드 값이 설정된 값 미만이라고 판단되면, 전자 장치는 진성 터치를 입력받았는지 또는 가성 터치를 입력받았는지 판단하기 위해서 본 발명에서 제안하는 나인 셀 알고리즘을 적용한다. 보다 구체적으로, 전자 장치에서 적어도 하나의 노드 중에서 검출된 최대 노드 값이 설정된 값 미만이라고 판단되면, 전자 장치는 최대 노드 값이 검출된 노드를 기준으로 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 각각의 노드 값을 확인한다. 여기서, 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드는 최대 노드 값이 검출된 노드를 제외하고, 최대 노드 값이 검출된 노드에서 가장 가까운 곳에 위치한 여덟 개의 노드로 정의될 수 있다. 또한, 여기서 나인 셀(302)이라 함은 최대 노드 값이 검출된 노드를 포함하여 최대 노드 값이 검출된 노드에서 가장 가까운 곳에 위치한 여덟 개의 노드인 총 9개의 노드로 정의될 수 있다. 도 3에 도시된 예를 들면, 최대 노드 값이 검출된 노드(301)를 제외한 최대 노드 값이 검출된 노드(301)에서 가장 가까운 곳에 위치한 여덟 개의 노드이다. 디스플레이된 노드 값으로 설명하면, 최대 노드 값이 검출된 노드(301)를 기준으로 대각선, 상하 방향의 1, 6, 2, 9, 4, 3, 8, 10의 노드 값을 가지는 노드로 나타낼 수 있다. 즉, 전자 장치는 최대 노드 값이 검출된 노드를 기준으로 가장 가까운 곳에 위치한 여덟 개의 노드에서 검출한 노드 값인 1, 6, 2, 9, 4, 3, 8, 10의 노드 값을 확인한다.
이후, 전자 장치는 설정된 범위 내의 노드 중 최대 노드 값의 설정된 퍼센트 이상의 노드 값이 검출된 노드의 개수를 확인한다. 보다 구체적으로, 전자 장치는 최대 노드 값이 검출된 노드를 기준으로 가장 가까운 곳에 위치한 여덟 개의 노드 중 최대 노드 값의 설정된 퍼센트 이상의 노드 값이 검출된 노드의 개수를 확인한다. 도 3에 도시된 예를 들면, 설정된 퍼센트가 30퍼센트라고 가정해볼 때 최대 노드 값이 24이므로, 최대 노드 값의 설정된 퍼센트는 7.2라는 값이 나온다. 따라서, 최대 노드 값이 검출된 노드를 기준으로 가장 가까운 곳에 위치한 여덟 개의 노드 중 최대 노드 값의 설정된 퍼센트인 7.2 이상의 노드 값이 검출된 노드의 개수는 각각 10, 9 및 8이라는 노드 값을 검출한 노드로 총 3개로 확인된다.
최대 노드 값이 검출된 노드를 기준으로 가장 가까운 곳에 위치한 여덟 개의 노드 중 최대 노드 값의 설정된 퍼센트 이상의 노드 값이 검출된 노드의 개수를 확인한 전자 장치는 노드의 개수를 확인하여 최대 노드 값이 검출된 노드 위의 터치 영역을 입력받을지 판단한다. 보다 구체적으로, 전자 장치는 설정된 범위 내의 노드 중 최대 노드 값의 설정된 퍼센트 이상의 노드 값이 검출된 노드의 개수가 설정된 개수 미만인지 판단한다. 상술한 예를 들면, 설정된 범위 내의 노드 중 최대 노드 값의 설정된 퍼센트 이상의 노드 값이 검출된 노드의 개수가 3개로 확인되었으므로, 전자 장치는 확인된 3개와 설정된 개수를 비교한다. 만약, 설정된 개수가 5개라고 가정하면, 전자 장치에서는 설정된 범위 내의 노드 중 최대 노드 값의 설정된 퍼센트 이상의 노드 값이 검출된 노드의 개수가 설정된 개수 미만이라고 판단하여 최대 노드 값이 검출된 노드 위의 터치 영역을 입력받아 수행할 기능을 실행한다. 따라서, 본 실시예에서 전자 장치는 최대 노드 값이 검출된 노드(301) 위의 터치 영역을 입력받아 수행할 기능을 수행한다.
도 4는 본 발명에 따른 나인 셀 알고리즘이 적용되는 또 다른 실시예를 나타낸 도면이다. 도 4에 도시된 바와 같이, 전자 장치에는 적어도 하나의 X채널과 적어도 하나의 Y채널로 구성되어 있는데, X채널과 Y채널의 교점에는 노드가 구비되어 있다. 여기서, 노드의 수는 X채널과 Y채널의 수에 따라서 달라질 수 있는 상대적인 수치이다. 즉, X채널과 Y채널의 수가 많을수록 각각의 채널의 교점인 노드의 수는 증가하는 것이고, 반대로 X채널과 Y채널의 수가 적을수록 각각의 채널의 교점인 노드의 수는 감소하는 것이다. 따라서, 노드의 수는 적용되는 제품에 따라 달라질 수 있음은 물론이다.
도 4에는 전자 장치에 구비되어 있는 X채널과 Y채널의 교점인 노드와 각각의 노드에서 검출한 노드 값이 디스플레이되어 있다. 상술한 바와 같이, 각각의 노드에서는 해당 노드에서 빠져나간 커패시터의 변화 연산량을 검출하는데, 본 발명에서는 이를 수치로 디스플레이하여 사용자가 육안으로 볼 수 있도록 별도의 애플리케이션을 적용하였다. 먼저, 전자 장치는 적어도 하나의 노드에서 검출된 각각의 노드 값을 확인하여, 검출된 노드 값이 변화되었음을 확인하며, 적어도 하나의 노드 중 최대 노드 값이 검출된 어느 하나의 노드를 검색한다. 보다 구체적으로, 전자 장치는 실시간으로 변화되는 노드 값을 모니터링하여, 노드 값이 변화되었음을 확인하면 변화된 노드 값 중에서 최대 노드 값을 검색한다. 이후, 전자 장치는 최대 노드 값이 설정된 값 이상인지 판단하여, 만약 최대 노드 값이 설정된 값 이상이라고 판단되면, 최대 노드 값이 검출된 노드 위의 터치 영역을 입력받아 수행할 기능을 실행한다. 보다 구체적으로, 전자 장치에서 적어도 하나의 노드 중에서 검출된 최대 노드 값이 설정된 값 이상이라고 판단되었다면, 전자 장치는 진성 터치를 입력받았다고 판단하여 최대 노드 값이 검출된 노드 위의 터치 영역을 입력받아 수행할 기능을 실행한다.
그러나, 전자 장치에서 적어도 하나의 노드 중에서 검출된 최대 노드 값이 설정된 값 미만이라고 판단되면, 전자 장치는 진성 터치를 입력받았는지 또는 가성 터치를 입력받았는지 판단하기 위해서 본 발명에서 제안하는 나인 셀 알고리즘을 적용한다. 보다 구체적으로, 전자 장치에서 적어도 하나의 노드 중에서 검출된 최대 노드 값이 설정된 값 미만이라고 판단되면, 전자 장치는 최대 노드 값이 검출된 노드를 기준으로 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 각각의 노드 값을 확인한다. 여기서, 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드는 최대 노드 값이 검출된 노드를 제외하고, 최대 노드 값이 검출된 노드에서 가장 가까운 곳에 위치한 여덟 개의 노드로 정의될 수 있다. 또한, 여기서 나인 셀(402)이라 함은 최대 노드 값이 검출된 노드를 포함하여 최대 노드 값이 검출된 노드에서 가장 가까운 곳에 위치한 여덟 개의 노드인 총 9개의 노드로 정의될 수 있다. 도 4에 도시된 예를 들면, 최대 노드 값이 검출된 노드(401)를 제외한 최대 노드 값이 검출된 노드(401)에서 가장 가까운 곳에 위치한 여덟 개의 노드이다. 디스플레이된 노드 값으로 설명하면, 최대 노드 값이 검출된 노드(401)를 기준으로 대각선, 상하 방향의 2, 4, 8, 11, 3, 5, 9, 7의 노드 값을 가지는 노드로 나타낼 수 있다. 즉, 전자 장치는 최대 노드 값이 검출된 노드를 기준으로 가장 가까운 곳에 위치한 여덟 개의 노드에서 검출한 노드 값인 2, 4, 8, 11, 3, 5, 9, 7의 노드 값을 확인한다.
이후, 전자 장치는 설정된 범위 내의 노드 중 최대 노드 값의 설정된 퍼센트 이상의 노드 값이 검출된 노드의 개수를 확인한다. 보다 구체적으로, 전자 장치는 최대 노드 값이 검출된 노드를 기준으로 가장 가까운 곳에 위치한 여덟 개의 노드 중 최대 노드 값의 설정된 퍼센트 이상의 노드 값이 검출된 노드의 개수를 확인한다. 도 4에 도시된 예를 들면, 설정된 퍼센트가 30퍼센트라고 가정해볼 때 최대 노드 값이 20이므로, 최대 노드 값의 설정된 퍼센트는 6이라는 값이 나온다. 따라서, 최대 노드 값이 검출된 노드를 기준으로 가장 가까운 곳에 위치한 여덟 개의 노드 중 최대 노드 값의 설정된 퍼센트인 6 이상의 노드 값이 검출된 노드의 개수는 각각 7, 8, 9 및 1이라는 노드 값을 검출한 노드로 총 4개로 확인된다.
최대 노드 값이 검출된 노드를 기준으로 가장 가까운 곳에 위치한 여덟 개의 노드 중 최대 노드 값의 설정된 퍼센트 이상의 노드 값이 검출된 노드의 개수를 확인한 전자 장치는 노드의 개수를 확인하여 최대 노드 값이 검출된 노드 위의 터치 영역을 입력받을지 판단한다. 보다 구체적으로, 전자 장치는 설정된 범위 내의 노드 중 최대 노드 값의 설정된 퍼센트 이상의 노드 값이 검출된 노드의 개수가 설정된 개수 미만인지 판단한다. 상술한 예를 들면, 설정된 범위 내의 노드 중 최대 노드 값의 설정된 퍼센트 이상의 노드 값이 검출된 노드의 개수가 4개로 확인되었으므로, 전자 장치는 확인된 4개와 설정된 개수를 비교한다. 만약, 설정된 개수가 5개라고 가정하면, 전자 장치에서는 설정된 범위 내의 노드 중 최대 노드 값의 설정된 퍼센트 이상의 노드 값이 검출된 노드의 개수가 설정된 개수 미만이라고 판단하여 최대 노드 값이 검출된 노드 위의 터치 영역을 입력받아 수행할 기능을 실행한다. 따라서, 본 실시예에서 전자 장치는 최대 노드 값이 검출된 노드(401) 위의 터치 영역을 입력받아 수행할 기능을 수행한다.
도 5는 본 발명에 따른 나인 셀 알고리즘이 적용되는 또 다른 실시예를 나타낸 도면이다. 도 5에 도시된 바와 같이, 전자 장치에는 적어도 하나의 X채널과 적어도 하나의 Y채널로 구성되어 있는데, X채널과 Y채널의 교점에는 노드가 구비되어 있다. 여기서, 노드의 수는 X채널과 Y채널의 수에 따라서 달라질 수 있는 상대적인 수치이다. 즉, X채널과 Y채널의 수가 많을수록 각각의 채널의 교점인 노드의 수는 증가하는 것이고, 반대로 X채널과 Y채널의 수가 적을수록 각각의 채널의 교점인 노드의 수는 감소하는 것이다. 따라서, 노드의 수는 적용되는 제품에 따라 달라질 수 있음은 물론이다.
도 5에는 전자 장치에 구비되어 있는 X채널과 Y채널의 교점인 노드와 각각의 노드에서 검출한 노드 값이 디스플레이되어 있다. 상술한 바와 같이, 각각의 노드에서는 해당 노드에서 빠져나간 커패시터의 변화 연산량을 검출하는데, 본 발명에서는 이를 수치로 디스플레이하여 사용자가 육안으로 볼 수 있도록 별도의 애플리케이션을 적용하였다. 먼저, 전자 장치는 적어도 하나의 노드에서 검출된 각각의 노드 값을 확인하여, 검출된 노드 값이 변화되었음을 확인하며, 적어도 하나의 노드 중 최대 노드 값이 검출된 어느 하나의 노드를 검색한다. 보다 구체적으로, 전자 장치는 실시간으로 변화되는 노드 값을 모니터링하여, 노드 값이 변화되었음을 확인하면 변화된 노드 값 중에서 최대 노드 값을 검색한다. 이후, 전자 장치는 최대 노드 값이 설정된 값 이상인지 판단하여, 만약 최대 노드 값이 설정된 값 이상이라고 판단되면, 최대 노드 값이 검출된 노드 위의 터치 영역을 입력받아 수행할 기능을 실행한다. 보다 구체적으로, 전자 장치에서 적어도 하나의 노드 중에서 검출된 최대 노드 값이 설정된 값 이상이라고 판단되었다면, 전자 장치는 진성 터치를 입력받았다고 판단하여 최대 노드 값이 검출된 노드 위의 터치 영역을 입력받아 수행할 기능을 실행한다.
그러나, 전자 장치에서 적어도 하나의 노드 중에서 검출된 최대 노드 값이 설정된 값 미만이라고 판단되면, 전자 장치는 진성 터치를 입력받았는지 또는 가성 터치를 입력받았는지 판단하기 위해서 본 발명에서 제안하는 나인 셀 알고리즘을 적용한다. 보다 구체적으로, 전자 장치에서 적어도 하나의 노드 중에서 검출된 최대 노드 값이 설정된 값 미만이라고 판단되면, 전자 장치는 최대 노드 값이 검출된 노드를 기준으로 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 각각의 노드 값을 확인한다. 여기서, 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드는 최대 노드 값이 검출된 노드를 제외하고, 최대 노드 값이 검출된 노드에서 가장 가까운 곳에 위치한 여덟 개의 노드로 정의될 수 있다. 또한, 여기서 나인 셀(502)이라 함은 최대 노드 값이 검출된 노드를 포함하여 최대 노드 값이 검출된 노드에서 가장 가까운 곳에 위치한 여덟 개의 노드인 총 9개의 노드로 정의될 수 있다. 도 5에 도시된 예를 들면, 최대 노드 값이 검출된 노드(501)를 제외한 최대 노드 값이 검출된 노드(501)에서 가장 가까운 곳에 위치한 여덟 개의 노드이다. 디스플레이된 노드 값으로 설명하면, 최대 노드 값이 검출된 노드(501)를 기준으로 대각선, 상하 방향의 10, 9, 4, 5, 8, 12 및 7의 노드 값을 가지는 노드로 나타낼 수 있다. 즉, 전자 장치는 최대 노드 값이 검출된 노드를 기준으로 가장 가까운 곳에 위치한 여덟 개의 노드에서 검출한 노드 값인 10, 9, 4, 5, 8, 12 및 7의 노드 값을 확인한다.
이후, 전자 장치는 설정된 범위 내의 노드 중 최대 노드 값의 설정된 퍼센트 이상의 노드 값이 검출된 노드의 개수를 확인한다. 보다 구체적으로, 전자 장치는 최대 노드 값이 검출된 노드를 기준으로 가장 가까운 곳에 위치한 여덟 개의 노드 중 최대 노드 값의 설정된 퍼센트 이상의 노드 값이 검출된 노드의 개수를 확인한다. 도 5에 도시된 예를 들면, 설정된 퍼센트가 30퍼센트라고 가정해볼 때 최대 노드 값이 22이므로, 최대 노드 값의 설정된 퍼센트는 6.6이라는 값이 나온다. 따라서, 최대 노드 값이 검출된 노드를 기준으로 가장 가까운 곳에 위치한 여덟 개의 노드 중 최대 노드 값의 설정된 퍼센트인 6.6 이상의 노드 값이 검출된 노드의 개수는 각각 7, 8, 9, 10, 11 및 12라는 노드 값을 검출한 노드로 총 6개로 확인된다.
최대 노드 값이 검출된 노드를 기준으로 가장 가까운 곳에 위치한 여덟 개의 노드 중 최대 노드 값의 설정된 퍼센트 이상의 노드 값이 검출된 노드의 개수를 확인한 전자 장치는 노드의 개수를 확인하여 최대 노드 값이 검출된 노드 위의 터치 영역을 입력받을지 판단한다. 보다 구체적으로, 전자 장치는 설정된 범위 내의 노드 중 최대 노드 값의 설정된 퍼센트 이상의 노드 값이 검출된 노드의 개수가 설정된 개수 미만인지 판단한다. 상술한 예를 들면, 설정된 범위 내의 노드 중 최대 노드 값의 설정된 퍼센트 이상의 노드 값이 검출된 노드의 개수가 6개로 확인되었으므로, 전자 장치는 확인된 6개와 설정된 개수를 비교한다. 만약, 설정된 개수가 5개라고 가정하면, 전자 장치에서는 설정된 범위 내의 노드 중 최대 노드 값의 설정된 퍼센트 이상의 노드 값이 검출된 노드의 개수가 설정된 개수 이상이라고 판단하여 최대 노드 값이 검출된 노드 위의 영역을 입력받지 않는다. 따라서, 본 실시예에서 전자 장치는 최대 노드 값이 검출된 노드(501) 위의 터치 영역을 입력받지 않는다.
도 6은 본 발명에 따른 나인 셀 알고리즘이 적용되는 또 다른 실시예를 나타낸 도면이다. 도 6에 도시된 바와 같이, 전자 장치에는 적어도 하나의 X채널과 적어도 하나의 Y채널로 구성되어 있는데, X채널과 Y채널의 교점에는 노드가 구비되어 있다. 여기서, 노드의 수는 X채널과 Y채널의 수에 따라서 달라질 수 있는 상대적인 수치이다. 즉, X채널과 Y채널의 수가 많을수록 각각의 채널의 교점인 노드의 수는 증가하는 것이고, 반대로 X채널과 Y채널의 수가 적을수록 각각의 채널의 교점인 노드의 수는 감소하는 것이다. 따라서, 노드의 수는 적용되는 제품에 따라 달라질 수 있음은 물론이다.
도 6에는 전자 장치에 구비되어 있는 X채널과 Y채널의 교점인 노드와 각각의 노드에서 검출한 노드 값이 디스플레이되어 있다. 상술한 바와 같이, 각각의 노드에서는 해당 노드에서 빠져나간 커패시터의 변화 연산량을 검출하는데, 본 발명에서는 이를 수치로 디스플레이하여 사용자가 육안으로 볼 수 있도록 별도의 애플리케이션을 적용하였다. 먼저, 전자 장치는 적어도 하나의 노드에서 검출된 각각의 노드 값을 확인하여, 검출된 노드 값이 변화되었음을 확인하며, 적어도 하나의 노드 중 최대 노드 값이 검출된 어느 하나의 노드를 검색한다. 보다 구체적으로, 전자 장치는 실시간으로 변화되는 노드 값을 모니터링하여, 노드 값이 변화되었음을 확인하면 변화된 노드 값 중에서 최대 노드 값을 검색한다. 이후, 전자 장치는 최대 노드 값이 설정된 값 이상인지 판단하여, 만약 최대 노드 값이 설정된 값 이상이라고 판단되면, 최대 노드 값이 검출된 노드 위의 터치 영역을 입력받아 수행할 기능을 실행한다. 보다 구체적으로, 전자 장치에서 적어도 하나의 노드 중에서 검출된 최대 노드 값이 설정된 값 이상이라고 판단되었다면, 전자 장치는 진성 터치를 입력받았다고 판단하여 최대 노드 값이 검출된 노드 위의 터치 영역을 입력받아 수행할 기능을 실행한다.
그러나, 전자 장치에서 적어도 하나의 노드 중에서 검출된 최대 노드 값이 설정된 값 미만이라고 판단되면, 전자 장치는 진성 터치를 입력받았는지 또는 가성 터치를 입력받았는지 판단하기 위해서 본 발명에서 제안하는 나인 셀 알고리즘을 적용한다. 보다 구체적으로, 전자 장치에서 적어도 하나의 노드 중에서 검출된 최대 노드 값이 설정된 값 미만이라고 판단되면, 전자 장치는 최대 노드 값이 검출된 노드를 기준으로 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 각각의 노드 값을 확인한다. 여기서, 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드는 최대 노드 값이 검출된 노드를 제외하고, 최대 노드 값이 검출된 노드에서 가장 가까운 곳에 위치한 여덟 개의 노드로 정의될 수 있다. 또한, 여기서 나인 셀(602)이라 함은 최대 노드 값이 검출된 노드를 포함하여 최대 노드 값이 검출된 노드에서 가장 가까운 곳에 위치한 여덟 개의 노드인 총 9개의 노드로 정의될 수 있다. 도 6에 도시된 예를 들면, 최대 노드 값이 검출된 노드(601)를 제외한 최대 노드 값이 검출된 노드(601)에서 가장 가까운 곳에 위치한 여덟 개의 노드이다. 디스플레이된 노드 값으로 설명하면, 최대 노드 값이 검출된 노드(601)를 기준으로 대각선, 상하 방향의 9, 18, 5, 15, 12, 19 및 10의 노드 값을 가지는 노드로 나타낼 수 있다. 즉, 전자 장치는 최대 노드 값이 검출된 노드를 기준으로 가장 가까운 곳에 위치한 여덟 개의 노드에서 검출한 노드 값인 9, 18, 5, 15, 12, 19 및 10의 노드 값을 확인한다.
이후, 전자 장치는 설정된 범위 내의 노드 중 최대 노드 값의 설정된 퍼센트 이상의 노드 값이 검출된 노드의 개수를 확인한다. 보다 구체적으로, 전자 장치는 최대 노드 값이 검출된 노드를 기준으로 가장 가까운 곳에 위치한 여덟 개의 노드 중 최대 노드 값의 설정된 퍼센트 이상의 노드 값이 검출된 노드의 개수를 확인한다. 도 6에 도시된 예를 들면, 설정된 퍼센트가 30퍼센트라고 가정해볼 때 최대 노드 값이 28이므로, 최대 노드 값의 설정된 퍼센트는 8.4라는 값이 나온다. 따라서, 최대 노드 값이 검출된 노드를 기준으로 가장 가까운 곳에 위치한 여덟 개의 노드 중 최대 노드 값의 설정된 퍼센트인 8.4 이상의 노드 값이 검출된 노드의 개수는 각각 9, 10, 12, 15, 18 및 19라는 노드 값을 검출한 노드로 총 7개로 확인된다.
최대 노드 값이 검출된 노드를 기준으로 가장 가까운 곳에 위치한 여덟 개의 노드 중 최대 노드 값의 설정된 퍼센트 이상의 노드 값이 검출된 노드의 개수를 확인한 전자 장치는 노드의 개수를 확인하여 최대 노드 값이 검출된 노드 위의 터치 영역을 입력받을지 판단한다. 보다 구체적으로, 전자 장치는 설정된 범위 내의 노드 중 최대 노드 값의 설정된 퍼센트 이상의 노드 값이 검출된 노드의 개수가 설정된 개수 미만인지 판단한다. 상술한 예를 들면, 설정된 범위 내의 노드 중 최대 노드 값의 설정된 퍼센트 이상의 노드 값이 검출된 노드의 개수가 7개로 확인되었으므로, 전자 장치는 확인된 7개와 설정된 개수를 비교한다. 만약, 설정된 개수가 5개라고 가정하면, 전자 장치에서는 설정된 범위 내의 노드 중 최대 노드 값의 설정된 퍼센트 이상의 노드 값이 검출된 노드의 개수가 설정된 개수 이상이라고 판단하여 최대 노드 값이 검출된 노드 위의 영역을 입력받지 않는다. 따라서, 본 실시예에서 전자 장치는 최대 노드 값이 검출된 노드(601) 위의 터치 영역을 입력받지 않는다.
도 7은 본 발명에 따른 패턴 알고리즘이 적용되는 일 실시예를 나타낸 도면이다. 본 발명에서 제안하고 있는 패턴 알고리즘이란 각각의 X채널 별로 변화된 노드 값을 확인하여, 입력받은 터치 입력이 진성 입력인지 또는 가성 입력인지 판단하는 알고리즘으로 정의될 수 있다. 먼저, 전자 장치는 적어도 하나의 노드에서 검출된 각각의 노드 값을 확인하여 검출된 노드 값 중 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 모든 노드 값이 변화되었음을 확인한다. 보다 구체적으로, 전자 장치는 구비된 적어도 하나의 노드 중 X채널 별로 해당 X채널에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 모든 노드 값이 변화되었음을 확인한다. 여기서, 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드는 적어도 하나의 X채널 중 적어도 하나의 X채널에 포함된 모든 노드로 정의될 수 있다. 즉, 전자 장치는 구비된 복수의 X채널 중 각각의 X채널 별로 해당 X채널에 포함된 모든 노드 값이 변화됨을 확인한 경우에만 패턴 알고리즘을 적용할지 판단하게 된다. 본 발명에서 제안하는 패턴 알고리즘은 X채널 별로 해당 X채널에 포함된 모든 노드 값이 변화됨을 확인한 경우, 입력받은 터치 입력이 진성 입력인지 또는 가성 입력인지 판단하여 오작동에 의하여 발생할 수 있는 문제점을 차단한다.
전자 장치에서 구비된 복수의 X채널 중 각각의 X채널 별로 해당 X채널에 포함된 모든 노드 값이 변화됨을 확인한 경우, 전자 장치는 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 노드 값이 설정된 노드 값 이상으로 변화되었음을 확인한 후, 설정된 노드 값 이상으로 변화된 노드가 설정된 개수 이상임을 확인한다. 보다 구체적으로, 전자 장치는 각각의 X채널에 구비된 모든 노드 값 중 설정된 값 이상의 값을 가지는 노드의 개수를 확인하여, 만약 X채널에 구비된 노드 값 중 설정된 값 이상의 값을 가지는 노드의 개수가 설정된 개수 이상인 경우에만 본 발명에서 제안하는 패널 알고리즘을 적용한다. 도 7에 도시된 예에서, 설정된 값이 10이고 설정된 개수가 5개라고 가정하면, 노드 값이 10, 11, 10, 10, 50, 1, 10 및 2으로 이루어진 X채널이 패턴 알고리즘을 적용할 X채널(701)에 해당한다. 즉, 패턴 알고리즘을 적용할 X채널(701)에는 설정된 값인 10보다 큰 노드 값이 설정된 개수인 5보다 더 많은 6개이므로 전자 장치는 입력받은 터치 입력이 진성 입력인지 또는 가성 입력인지 판단하기 위하여 패턴 알고리즘을 적용하는 것이다,.
이후, 전자 장치는 변화된 노드 값을 확인하여 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드 위의 터치 영역을 입력받을지 판단한다. 보다 구체적으로, 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에 대하여 패턴 알고리즘을 적용하여, 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 변화된 노드 값을 확인한다. 여기서, 패턴 알고리즘은 아래의 <수학식 1>에 의하여 결정된다.
Figure pat00003
여기서, A는 각각의 노드에서 검출된 각각의 노드 값을 나타낸 것이고, B는 설정된 범위 내의 노드의 개수에서 1을 뺀 값을 나타낸 것이며, C는 설정된 범위 내의 노드에서 검출된 노드 값의 총합에서 설정된 범위 내의 노드에서 검출된 노드 값 중 최대 노드 값을 뺀 값을 나타낸 것이다.
도 7에 도시된 예에서, C값을 구하기 위하여 패턴 알고리즘을 적용할 X채널(701) 내의 노드에서 검출된 노드의 총합을 구해보면 104라는 값이 도출된다. 여기서, 패턴 알고리즘을 적용할 X채널(701) 내의 노드에서 검출된 노드 값 중 최대 노드 값(702)을 빼주면 54라는 C값이 구해진다. 따라서, 7이라는 B값으로 54라는 C값을 나누어 주면, 약 7.7이라는 값이 도출된다. 다시 패턴 알고리즘을 적용할 X채널(701)의 각각의 노드 값에서 앞에서 구한 7.7을 반올림한 값인 8을 각각 빼주면, 차례로 2, 3, 2, 2, 42, -7, 2 및 -6이 구해진다.
이후, 전자 장치는 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 노드 값 중 최대 노드 값이 검출된 어느 하나의 노드를 검색하여, 최대 노드 값이 설정된 노드 값 이상임이 확인되면, 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드 위의 터치 영역을 입력받음으로써 수행할 기능을 실행한다. 상술한 예에서, 설정된 노드 값이 10이라고 가정하면, 패턴 알고리즘을 적용한 후 구해진 노드 값인 2, 3, 2, 2, 42, -7, 2 및 -6 중에서 최대 노드 값은 42이므로, 42는 설정된 노드 값인 10 이상이므로, 전자 장치는 패턴 알고리즘을 적용할 X채널(701) 위의 터치 영역을 입력받음으로써 수행할 기능을 실행한다.
도 8은 본 발명에 따른 패턴 알고리즘이 적용되는 또 다른 실시예를 나타낸 도면이다. 본 발명에서 제안하고 있는 패턴 알고리즘이란 각각의 X채널 별로 변화된 노드 값을 확인하여, 입력받은 터치 입력이 진성 입력인지 또는 가성 입력인지 판단하는 알고리즘으로 정의될 수 있다. 먼저, 전자 장치는 적어도 하나의 노드에서 검출된 각각의 노드 값을 확인하여 검출된 노드 값 중 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 모든 노드 값이 변화되었음을 확인한다. 보다 구체적으로, 전자 장치는 구비된 적어도 하나의 노드 중 X채널 별로 해당 X채널에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 모든 노드 값이 변화되었음을 확인한다. 여기서, 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드는 적어도 하나의 X채널 중 적어도 하나의 X채널에 포함된 모든 노드로 정의될 수 있다. 즉, 전자 장치는 구비된 복수의 X채널 중 각각의 X채널 별로 해당 X채널에 포함된 모든 노드 값이 변화됨을 확인한 경우에만 패턴 알고리즘을 적용할지 판단하게 된다. 본 발명에서 제안하는 패턴 알고리즘은 X채널 별로 해당 X채널에 포함된 모든 노드 값이 변화됨을 확인한 경우, 입력받은 터치 입력이 진성 입력인지 또는 가성 입력인지 판단하여 오작동에 의하여 발생할 수 있는 문제점을 차단한다.
전자 장치에서 구비된 복수의 X채널 중 각각의 X채널 별로 해당 X채널에 포함된 모든 노드 값이 변화됨을 확인한 경우, 전자 장치는 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 노드 값이 설정된 노드 값 이상으로 변화되었음을 확인한 후, 설정된 노드 값 이상으로 변화된 노드가 설정된 개수 이상임을 확인한다. 보다 구체적으로, 전자 장치는 각각의 X채널에 구비된 모든 노드 값 중 설정된 값 이상의 값을 가지는 노드의 개수를 확인하여, 만약 X채널에 구비된 노드 값 중 설정된 값 이상의 값을 가지는 노드의 개수가 설정된 개수 이상인 경우에만 본 발명에서 제안하는 패널 알고리즘을 적용한다. 도 8에 도시된 예에서, 설정된 값이 10이고 설정된 개수가 5개라고 가정하면, 노드 값이 6, 12, 17, 18, 26, 20, 20 및 13으로 이루어진 X채널이 패턴 알고리즘을 적용할 X채널(801)에 해당한다. 즉, 패턴 알고리즘을 적용할 X채널(801)에는 설정된 값인 10보다 큰 노드 값이 설정된 개수인 5보다 더 많은 7개이므로 전자 장치는 입력받은 터치 입력이 진성 입력인지 또는 가성 입력인지 판단하기 위하여 패턴 알고리즘을 적용하는 것이다,.
이후, 전자 장치는 변화된 노드 값을 확인하여 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드 위의 터치 영역을 입력받을지 판단한다. 보다 구체적으로, 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에 대하여 패턴 알고리즘을 적용하여, 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 변화된 노드 값을 확인한다. 여기서, 패턴 알고리즘은 상술한 <수학식 1>에 의하여 결정된다.
도 8에 도시된 예에서, C값을 구하기 위하여 패턴 알고리즘을 적용할 X채널(801) 내의 노드에서 검출된 노드의 총합을 구해보면 132라는 값이 도출된다. 여기서, 패턴 알고리즘을 적용할 X채널(801) 내의 노드에서 검출된 노드 값 중 최대 노드 값(802)을 빼주면 106이라는 C값이 구해진다. 따라서, 7이라는 B값으로 106이라는 C값을 나누어 주면, 약 15.14라는 값이 도출된다. 다시 패턴 알고리즘을 적용할 X채널(801)의 각각의 노드 값에서 앞에서 구한 15.14를 반올림한 값인 15를 각각 빼주면, 차례로 -9, -3, 2, 3, 11, 5, 5 및 -2라는 값이 구해진다.
이후, 전자 장치는 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 노드 값 중 최대 노드 값이 검출된 어느 하나의 노드를 검색하여, 최대 노드 값이 설정된 노드 값 이상임이 확인되면, 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드 위의 터치 영역을 입력받음으로써 수행할 기능을 실행한다. 상술한 예에서, 설정된 노드 값이 12라고 가정하면, 패턴 알고리즘을 적용한 후 구해진 노드 값인 -9, -3, 2, 3, 11, 5, 5 및 -2 중에서 최대 노드 값은 11이므로, 11은 설정된 노드 값인 12 미만이므로, 전자 장치는 패턴 알고리즘을 적용할 X채널(801) 위의 터치 영역을 입력받지 않는다.
도 9는 본 발명의 일 실시예에 따른 나인 셀 알고리즘의 순서도를 나타낸 것이다. 도 9에 도시된 바와 같이, 먼저 전자 장치는 적어도 하나의 노드 중 최대 노드 값이 검출된 어느 하나의 노드를 검색한다(901). 보다 구체적으로, 전자 장치는 적어도 하나의 노드에서 검출된 각각의 노드 값을 확인하여, 검출된 노드 값이 변화되었음을 확인하며, 적어도 하나의 노드 중 최대 노드 값이 검출된 어느 하나의 노드를 검색한다. 보다 구체적으로, 전자 장치는 실시간으로 변화되는 노드 값을 모니터링하여, 노드 값이 변화되었음을 확인하면 변화된 노드 값 중에서 최대 노드 값을 검색한다.
적어도 하나의 노드 중 최대 노드 값이 검출된 어느 하나의 노드를 검색한 전자 장치는 최대 노드 값이 설정된 값 이상인지 판단한다(902). 전자 장치가 설정된 값을 두어 최대 노드 값과 비교하는 이유는 본 발명에서 제안하는 나인 셀 알고리즘을 적용할지 여부를 판단하기 위함이다. 즉, 전자 장치에서 최대 노드 값이 설정된 값 이상이라고 판단되면, 입력받은 터치 입력이 진성 터치임을 확인하는 것이고, 만약 최대 노드 값이 설정된 값 미만이라고 판단되면, 입력받은 터치 입력이 진성 터치 인지 또는 가성 터치인지 판단하기 위하여 본 발명에서 제안하는 나인 셀 알고리즘을 적용하기 위해서이다.
만약, 전자 장치에서 최대 노드 값이 설정된 값 이상이라고 판단되면, 전자 장치는 최대 노드 값이 검출된 노드를 기준으로 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 각각의 노드 값을 확인한다(903). 여기서, 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드는 최대 노드 값이 검출된 노드를 제외하고, 최대 노드 값이 검출된 노드에서 가장 가까운 곳에 위치한 여덟 개의 노드로 정의될 수 있다. 또한, 여기서 나인 셀이라 함은 최대 노드 값이 검출된 노드를 포함하여 최대 노드 값이 검출된 노드에서 가장 가까운 곳에 위치한 여덟 개의 노드인 총 9개의 노드로 정의될 수 있다.
이후, 전자 장치는 설정된 범위 내의 노드 중 최대 노드 값의 설정된 퍼센트 이상의 노드 값이 검출된 노드의 개수가 설정된 개수 미만인지 판단한다(904). 보다 구체적으로, 전자 장치는 최대 노드 값이 검출된 노드를 기준으로 가장 가까운 곳에 위치한 여덟 개의 노드 중 최대 노드 값의 설정된 퍼센트 이상의 노드 값이 검출된 노드의 개수를 확인한다. 최대 노드 값이 검출된 노드를 기준으로 가장 가까운 곳에 위치한 여덟 개의 노드 중 최대 노드 값의 설정된 퍼센트 이상의 노드 값이 검출된 노드의 개수를 확인한 전자 장치는 노드의 개수를 확인하여 최대 노드 값이 검출된 노드 위의 터치 영역을 입력받을지 판단한다. 보다 구체적으로, 전자 장치는 설정된 범위 내의 노드 중 최대 노드 값의 설정된 퍼센트 이상의 노드 값이 검출된 노드의 개수가 설정된 개수 미만인지 판단한다.
만약, 상술한 과정(904)에서 설정된 범위 내의 노드 중 최대 노드 값의 설정된 퍼센트 이상의 노드 값이 검출된 노드의 개수가 설정된 개수 미만이라고 판단되면, 전자 장치는 최대 노드 값이 검출된 노드 위의 터치 영역을 입력받아 수행할 기능을 실행한다(905). 보다 구체적으로, 전자 장치에서 적어도 하나의 노드 중에서 검출된 최대 노드 값이 설정된 값 이상이라고 판단되었다면, 전자 장치는 진성 터치를 입력받았다고 판단하여 최대 노드 값이 검출된 노드 위의 터치 영역을 입력받아 수행할 기능을 실행한다. 또한, 상술한 판단과정(902)에서, 전자 장치에서 최대 노드 값이 설정된 값 이상이라고 판단되면, 역시 전자 장치는 최대 노드 값이 검출된 노드 위의 터치 영역을 입력받아 수행할 기능을 실행한다.
만약, 설정된 범위 내의 노드 중 최대 노드 값의 설정된 퍼센트 이상의 노드 값이 검출된 노드의 개수가 설정된 개수 이상이라고 판단되면, 전자 장치는 최대 노드 값이 검출된 노드 위의 영역을 입력받지 않고 본 알고리즘은 종료된다(906).
도 10은 본 발명의 일 실시예에 따른 패턴 알고리즘의 순서도를 나타낸 것이다. 도 10에 도시된 바와 같이, 전자 장치는 검출된 노드 값 중 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 모든 노드 값이 변화되었음을 확인한다(1001). 보다 구체적으로, 전자 장치는 구비된 적어도 하나의 노드 중 X채널 별로 해당 X채널에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 모든 노드 값이 변화되었음을 확인한다. 여기서, 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드는 적어도 하나의 X채널 중 적어도 하나의 X채널에 포함된 모든 노드로 정의될 수 있다. 즉, 전자 장치는 구비된 복수의 X채널 중 각각의 X채널 별로 해당 X채널에 포함된 모든 노드 값이 변화됨을 확인한 경우에만 패턴 알고리즘을 적용할지 판단하게 된다. 본 발명에서 제안하는 패턴 알고리즘은 X채널 별로 해당 X채널에 포함된 모든 노드 값이 변화됨을 확인한 경우, 입력받은 터치 입력이 진성 입력인지 또는 가성 입력인지 판단하여 오작동에 의하여 발생할 수 있는 문제점을 차단한다.
이후, 전자 장치는 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 노드 값 중 설정된 노드 값 이상으로 변화된 노드의 개수가 설정된 개수 이상인지 판단한다(1002). 전자 장치에서 구비된 복수의 X채널 중 각각의 X채널 별로 해당 X채널에 포함된 모든 노드 값이 변화됨을 확인한 경우, 전자 장치는 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 노드 값이 설정된 노드 값 이상으로 변화되었음을 확인한 후, 설정된 노드 값 이상으로 변화된 노드가 설정된 개수 이상임을 확인한다. 보다 구체적으로, 전자 장치는 각각의 X채널에 구비된 모든 노드 값 중 설정된 값 이상의 값을 가지는 노드의 개수를 확인하여, 만약 X채널에 구비된 노드 값 중 설정된 값 이상의 값을 가지는 노드의 개수가 설정된 개수 이상인 경우에만 본 발명에서 제안하는 패널 알고리즘을 적용한다.
만약, 전자 장치에서 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 노드 값 중 설정된 노드 값 이상으로 변화된 노드의 개수가 설정된 개수 이상으로 판단되었으면, 전자 장치는 패턴 알고리즘을 적용한다(1003). 본 발명에서 제안하고 있는 패턴 알고리즘이란 각각의 X채널 별로 변화된 노드 값을 확인하여, 입력받은 터치 입력이 진성 입력인지 또는 가성 입력인지 판단하는 알고리즘으로 정의될 수 있다.
이후, 전자 장치는 패턴 알고리즘을 적용한 후 설정된 범위 내에서 검출된 최대 노드 값이 설정된 노드 값 이상인지 판단한다(1004). 보다 구체적으로, 전자 장치는 패턴 알고리즘을 적용한 후 패턴 알고리즘이 적용된 X채널의 노드 값 중 최대 노드 값을 검색하여, 패턴 알고리즘이 적용된 X채널의 노드 값 중 최대 노드 값이 설정된 노드 값 이상인지 미만인지 판단한다.
만약, 상술한 판단과정(1004)에서 패턴 알고리즘이 적용된 X채널의 노드 값 중 최대 노드 값이 설정된 노드 값 이상이라고 판단되면, 전자 장치는 최대 노드 값이 검출된 노드 위의 터치 영역을 입력받아 수행할 기능을 실행한다(1005).
만약, 상술한 판단과정(1004)에서 패턴 알고리즘이 적용된 X채널의 노드 값 중 최대 노드 값이 설정된 노드 값 미만이라고 판단되면, 전자 장치는 최대 노드 값이 검출된 노드 위의 영역을 입력받지 않고, 본 알고리즘을 종료한다.
또한, 상술한 판단과정(1002)에서 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 노드 값 중 설정된 노드 값 이상으로 변화된 노드의 개수가 설정된 개수 미만이라고 판단되면, 패턴 알고리즘은 적용되지 않고 바로 종료함은 물론이다.
도 11은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치의 구성을 도시한 블록도(1100)이다. 이러한 전자 장치(1100)는, 휴대용 전자 장치(portable electronic device)일 수 있으며, 휴대용 단말기(portable terminal), 이동 전화(mobile phone), 이동 패드(mobile pad), 미디어 플레이어(media player), 태블릿 컴퓨터(tablet computer), 핸드헬드 컴퓨터(handheld computer) 또는 PDA(Personal Digital Assistant)와 같은 장치일 수 있다. 또한, 이러한 장치들 중 두 가지 이상의 기능을 결합한 장치를 포함하는 임의의 휴대용 전자 장치일 수도 있다.
이러한 전자 장치(1100)는 메모리(1110), 프로세서 유닛(processor unit)(1120), 제1 무선통신 서브시스템(1130), 제2 무선통신 서브시스템(1131), 외부 포트(1160), 오디오 서브시스템(1150), 스피커(1151), 마이크로폰(1152), 입출력(IO, Input Output) 시스템(1170), 터치스크린(1180) 및 기타 입력 또는 제어 장치(1190)를 포함한다. 메모리(1110)와 외부 포트(1160)는 다수 개 사용될 수 있다.
프로세서 유닛(1120)은, 메모리 인터페이스(1121), 하나 이상의 프로세서 (1122) 및 주변장치 인터페이스(peripheral interface)(1123)를 포함할 수 있다. 경우에 따라서는, 프로세서 유닛(1120) 전체를 프로세서로 칭하기도 한다. 본 발명에서 프로세서 유닛(1120)은, 최대 노드 값(max node value)이 검출된 노드(node)를 기준으로 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 각각의 노드 값(node value)을 확인하고, 설정된 범위 내의 노드 중 최대 노드 값의 설정된 퍼센트 이상의 노드 값이 검출된 노드의 개수를 확인하며, 노드의 개수를 확인하여 최대 노드 값이 검출된 노드 위의 터치 영역을 입력받을지 판단한다. 또한, 프로세서 유닛(1120)은, 적어도 하나의 노드에서 검출된 각각의 노드 값을 확인하고, 검출된 노드 값이 변화되었음을 확인하며, 적어도 하나의 노드 중 최대 노드 값이 검출된 어느 하나의 노드를 검색한다. 또한, 프로세서 유닛(1120)은, 최대 노드 값이 설정된 값 이상인지 판단하고, 영역을 입력받음으로써 수행할 기능을 실행하고, 영역을 입력받음으로써 수행할 기능을 실행한다. 또한, 프로세서 유닛(1120)은, 검출된 노드 값 중 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 모든 노드 값이 변화되었음을 확인하고, 변화된 노드 값을 확인하여 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드 위의 터치 영역을 입력받을지 판단한다. 또한, 프로세서 유닛(1120)은, 검출된 노드 값 중 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 모든 노드 값이 변화되었음을 확인하고, 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 노드 값이 설정된 노드 값 이상으로 변화되었음을 확인하며, 설정된 노드 값 이상으로 변화된 노드가 설정된 개수 이상임을 확인한다. 또한, 프로세서 유닛(1120)은, 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에 대하여 패턴 알고리즘을 적용하고, 패턴 알고리즘을 적용한 결과 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 변화된 노드 값을 확인한다. 또한, 프로세서 유닛(1120)은, 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 노드 값 중 최대 노드 값이 검출된 어느 하나의 노드를 검색하고, 최대 노드 값이 설정된 노드 값 이상임을 확인하며, 영역을 입력받음으로써 수행할 기능을 실행한다. 또한, 프로세서 유닛(1120)은, 패턴 알고리즘을 적용한 결과 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 변화된 노드 값을 확인하고, 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 노드 값 중 최대 노드 값이 검출된 어느 하나의 노드를 검색하며, 최대 노드 값이 설정된 노드 값 미만임을 확인한다.
프로세서(1122)는 여러 가지의 소프트웨어 프로그램을 실행하여 전자 장치(1100)를 위한 여러 기능을 수행하며, 또한 음성 통신 및 데이터 통신을 위한 처리 및 제어를 수행한다. 또한, 이러한 통상적인 기능에 더하여, 프로세서(1122)는 메모리(1110)에 저장되어 있는 특정한 소프트웨어 모듈(명령어 세트)을 실행하여 그 모듈에 대응하는 특정한 여러 가지의 기능을 수행하는 역할도 한다. 즉, 프로세서(1122)는 메모리(1110)에 저장된 소프트웨어 모듈들과 연동하여 본 발명의 실시 예의 방법을 수행한다.
프로세서(1122)는 하나 이상의 데이터 프로세서, 이미지 프로세서, 또는 코덱(CODEC)을 포함할 수 있다. 데이터 프로세서, 이미지 프로세서 또는 코덱은 별도로 구성할 수도 있다. 또한, 서로 다른 기능을 수행하는 여러 개의 프로세서로 구성될 수도 있다. 주변 장치 인터페이스(1123)는 전자 장치(1100)의 입출력 서브시스템(1170) 및 여러 가지 주변 장치를 프로세서(1122) 및 메모리(1110)(메모리 인터페이스를 통하여)에 연결시킨다.
전자 장치(1100)의 다양한 구성요소들은 하나 이상의 통신 버스(참조번호 미기재) 또는 스트림 선(참조번호 미기재)에 의해 결합될(coupled) 수 있다.
외부 포트(1160)는, 휴대용 전자 장치(미도시)를 다른 전자 장치로 직접 연결되거나 네트워크(예컨대, 인터넷, 인트라넷, 무선 LAN 등)를 통하여 다른 전자 장치로 간접적으로 연결하는 데 사용된다. 외부 포트(1160)는, 예를 들면, 이들에 한정되지는 않지만, USB(Universal serial Bus) 포트 또는 FIREWIRE 포트 등을 말한다.
움직임 센서(1191) 및 제1 광 센서(1192)는 주변장치 인터페이스(1123)에 결합되어 여러 가지 기능을 가능하게 할 수 있다. 예를 들어, 움직임 센서(1191) 및 광 센서(1192)가 주변장치 인터페이스(1123)에 결합되어 각각 전자 장치의 움직임 감지 및 외부로부터의 빛 감지를 가능하게 할 수 있다. 이외에도, 위치측정 시스템, 온도센서 또는 생체 센서 등과 같은 기타 센서들이 주변장치 인터페이스(1123)에 연결되어 관련 기능들을 수행할 수 있다.
카메라 서브시스템(1193)은 사진 및 비디오 클립 레코딩과 같은 카메라 기능을 수행할 수 있다.
광 센서(1192)는 CCD(charged coupled device) 또는 CMOS(complementary metal-oxide semiconductor) 디바이스를 사용할 수 있다.
하나 이상의 무선 통신 서브시스템(1130, 1131)을 통해 통신 기능이 수행된다. 무선 통신 서브시스템(1130, 1131)은 무선 주파수(radio frequency) 수신기 및 송수신기 및/또는 광(예컨대, 적외선) 수신기 및 송수신기를 포함할 수 있다. 제1 통신 서브시스템(1130)과 제2 통신 서브 시스템(1131)은 전자 장치(1100)가 통신하는 통신 네트워크에 따라 구분할 수 있다. 예를 들어, 통신 네트워크는, 이들에 한정하지는 않지만, GSM(Global System for Mobile Communication) 네트워크, EDGE(Enhanced Data GSM Environment) 네트워크, CDMA(Code Division Multiple Access) 네트워크, W-CDMA(W-Code Division Multiple Access) 네트워크, LTE(Long Term Evolution) 네트워크, OFDMA(Orthogonal Frequency Division Multiple Access) 네트워크, Wi-Fi(Wireless Fidelity) 네트워크, WiMax 네트워크 또는/및 Bluetooth네트워크 등을 통해 동작하도록 설계되는 통신 서브시스템을 포함할 수 있다. 다만, 본 발명은 Wi-Fi(Wireless Fidelity) 네트워크를 통한 WiFi 통신이 필요하므로, 제1 무선 통신 서브시스템(1130)과 제2 무선 통신 서브시스템(1131)은 합하여 하나의 무선 통신 서브시스템으로 구성할 수도 있다.
오디오 서브시스템(1150)이 스피커(1151) 및 마이크로폰(1152)에 결합되어 음성 인식, 음성 복제, 디지털 레코딩(recording) 및 전화 기능과 같은 오디오 스트림의 입력과 출력을 담당할 수 있다. 즉, 오디오 서브시스템(1150)은 스피커(speaker)(1151) 및 마이크로폰(1152)을 통해 사용자와 소통한다(communicate). 오디오 서브시스템(1150)은 프로세서 유닛(1120)의 주변장치 인터페이스(1123)를 통하여 데이터 스트림을 수신하고, 수신한 데이터 스트림을 전기 스트림으로 변환한다. 변환된 전기 스트림(electric signal)는 스피커(1151)로 전달된다. 스피커(1151)는 전기 스트림을 사람이 들을 수 있는 음파(sound wave)로 변환하여 출력한다. 마이크로폰 (1152)은, 사람이나 기타 다른 소리원(sound source)들로부터 전달된 음파를 전기 스트림으로 변환한다. 오디오 서브시스템(1150)은 마이크로폰(1152)으로부터 변환된 전기 스트림을 수신한다. 오디오 서브시스템(1150)은 수신한 전기스트림을 오디오 데이터 스트림으로 변환하며, 변환된 오디오 데이터 스트림을 주변 인터페이스 (1123)로 전송한다. 오디오 서브시스템(1150)은 탈부착 가능한(attachable and detachable) 이어폰(ear phone), 헤드폰(head phone) 또는 헤드셋(head set)을 포함할 수 있다.
입출력(I/O, Input/Output) 서브시스템(1170)은 터치 스크린 제어기(1171) 및/또는 기타 입력 제어기(1172)를 포함할 수 있다. 터치스크린 제어기(1171)는 터치 스크린(1180)에 결합될 수 있다. 터치 스크린(1180) 및 터치 스크린 제어기(1171)는, 이하에 한정되지는 않지만, 터치 스크린(1180)과의 하나 이상의 접촉점을 결정하기 위한 용량성, 저항성, 적외선 및 표면 음향파 기술들뿐만 아니라 기타 근접 센서 배열 또는 기타 요소들을 포함하는 임의의 멀티 터치 감지 기술을 이용하여 접촉 및 움직임 또는 이들의 중단을 검출할 수 있다. 기타 입력 제어기(1172)는 기타 입력/제어 장치들(1290)에 결합될 수 있다. 기타 입력/제어 장치들(1190)에 하나 이상의 버튼, 로커(rocker) 스위치, 섬 휠(thumb-wheel), 다이얼(dial), 스틱(stick), 및/또는 스타일러스와 같은 포인터 장치 등 일수 있다.
터치스크린(1180)은 전자 장치(1100)와 사용자 사이에 입력/출력 인터페이스를 제공한다. 즉, 터치스크린(1180)은 사용자의 터치 입력을 전자 장치(1100)에 전달한다. 또한 전자 장치(1100)로부터의 출력을 사용자에게 보여주는 매개체이다. 즉, 터치스크린 (1180)은 사용자에게 시각적인 출력을 보여준다. 이러한 시각적 출력(visual output)은 텍스트(text), 그래픽(graphic), 비디오(video)와 이들의 조합의 형태로 나타난다.
터치스크린(1180)은 여러 가지 디스플레이가 사용될 수 있다. 예를 들면, 이에 한정하지는 않지만, LCD(liquid crystal display), LED(Light Emitting Diode), LPD(light emitting polymer display), OLED(Organic Light Emitting Diode), AMOLED(Active Matrix Organic Light Emitting Diode) 또는 FLED(Flexible LED)를 사용할 수 있다. 본 발명에서 터치 스크린(1180)은, 최대 노드 값이 설정된 값 이상이라고 판단되면, 최대 노드 값이 검출된 노드 위의 터치 영역을 입력받고, 확인된 노드의 개수가 설정된 개수 미만이라고 판단되면, 최대 노드 값이 검출된 노드 위의 터치 영역을 입력받는다. 또한, 터치 스크린(1180)은, 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드 위의 터치 영역을 입력받고, 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드 위의 터치 영역을 입력받지 않는다.
메모리(1110)는 메모리 인터페이스(1121)에 결합될 수 있다. 메모리(1110)는 하나 이상의 자기 디스크 저장 장치와 같은 고속 랜덤 액세스 메모리 및/또는 비휘발성 메모리, 하나 이상의 광 저장 장치 및/또는 플래시 메모리(예컨대, NAND, NOR)를 포함할 수 있다.
메모리(1110)는 소프트웨어를 저장한다. 소프트웨어 구성요소는 운영 체제(operating system) 모듈(1111), 통신 모듈(1112), 그래픽 모듈(1113), 사용자 인터페이스 모듈(1114) 및 MPEG 모듈(1115), 카메라 모듈(1116), 하나 이상의 애플리케이션 모듈(1117), 얼굴인식 모듈(1118) 등을 포함한다. 또한, 소프트웨어 구성요소인 모듈은 명령어들의 집합으로 표현할 수 있으므로, 모듈을 명령어 세트(instruction set)라고 표현하기도 한다. 모듈은 또한 프로그램으로 표현하기도 한다. 본 발명에서 메모리(1110)는 전자 컨텐츠와 입력받은 적어도 하나의 표시를 함께 저장하고, 추출된 구간의 동영상을 저장하며, 전자 컨텐츠와 입력받은 하이라이트 표시를 함께 저장하여 하이라이트 리스트를 생성하며, 저장된 하이라이트 리스트를 호출하고, 저장된 드로잉 리스트를 호출한다. 운영 체제 소프트웨어(1111)[예를 들어, WINDOWS, LINUX, 다윈(Darwin), RTXC, UNIX, OS X, 또는 VxWorks와 같은 내장 운영 체제]는 일반적인 시스템 작동(system operation)을 제어하는 여러 가지의 소프트웨어 구성요소를 포함한다. 이러한 일반적인 시스템 작동의 제어는, 예를 들면, 메모리 관리 및 제어, 저장 하드웨어(장치) 제어 및 관리, 전력 제어 및 관리 등을 의미한다. 이러한 운영 체제 소프트웨어는 여러 가지의 하드웨어(장치)와 소프트웨어 구성요소(모듈) 사이의 통신을 원활하게 하는 기능도 수행한다.
통신 모듈(1112)은, 무선통신 서브시스템(1130, 1131)이나 외부 포트(1160)를 통해 컴퓨터, 서버 및/또는 휴대용 단말기 등 다른 전자 장치와 통신을 가능하게 할 수 있다.
그래픽 모듈(1113)은 터치스크린(1180) 상에 그래픽을 제공하고 표시하기 위한 여러 가지 소프트웨어 구성요소를 포함한다. 그래픽(graphics)이란 용어는 텍스트(text), 웹 페이지(web page), 아이콘(icon), 디지털 이미지(digital image), 비디오(video), 애니메이션(animation) 등을 포함하는 의미로 사용된다.
사용자 인터페이스 모듈(1114)은 사용자 인터페이스에 관련한 여러 가지 소프트웨어 구성요소를 포함한다. 사용자 인터페이스의 상태가 어떻게 변경되는지 또는 사용자 인터페이스 상태의 변경이 어떤 조건에서 이루어지는지 등에 대한 내용을 포함한다.
코덱(CODEC) 모듈(1115)은 비디오 파일의 인코딩 및 디코딩 관련한 소프트웨어 구성요소를 포함할 수 있다. 코덱 모듈은 MPEG 모듈 및/또는 H204 모듈과 같은 비디오 스트림 모듈을 포함할 수 있다. 또한, 코덱 모듈은 AAA, AMR, WMA 등 여러 가지 오디오 파일용 코덱 모듈을 포함할 수 있다. 또한, 코덱 모듈(1115)은 본 발명의 실시 방법에 대응하는 명령어 세트를 포함한다.
카메라 모듈(1116)은 카메라 관련 프로세스 및 기능들을 가능하게 하는 카메라 관련 소프트웨어 구성요소를 포함한다.
애플리케이션 모듈(1117)은 브라우저(browser), 이메일(email), 즉석 메시지(instant message), 워드 프로세싱(word processing), 키보드 에뮬레이션(keyboard emulation), 어드레스 북(address book), 접촉 리스트(touch list), 위짓(widget), 디지털 저작권 관리(DRM, Digital Right Management), 음성 인식(voice recognition), 음성 복제, 위치 결정 기능(position determining function), 위치기반 서비스(location based service) 등을 포함한다.
또한, 위에서 언급한, 그리고 이하에서 언급할, 본 발명에 따른 전자 장치(1200)의 다양한 기능들은 하나 이상의 스트림 프로세싱(processing) 및/또는 애플리케이션 특정 집적 회로(ASIC, Application Specific Integrated circuit)를 포함하는 하드웨어 및/또는 소프트웨어 및/또는 이들의 결합으로 실행될 수 있다.
이상 설명한 본 발명은 본 발명이 속한 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의하여 다양한 변형이나 응용이 가능하며, 본 발명에 따른 기술적 사상의 범위는 아래의 특허청구범위에 의하여 정해져야 할 것이다.
101: X채널 102: Y채널
103: 노드 104: 노드 값
201: 최대 노드 값이 검출된 노드
202: 나인 셀 301: 최대 노드 값이 검출된 노드
302: 나인 셀 401: 최대 노드 값이 검출된 노드
402: 나인 셀 501: 최대 노드 값이 검출된 노드
502: 나인 셀 601: 최대 노드 값이 검출된 노드
602: 나인 셀 701: 패턴 알고리즘을 적용할 X채널
702: 최대 노드 값 801: 패턴 알고리즘을 적용할 X채널
802: 최대 노드 값 1100: 전자장치
1110: 메모리 1111: 운영체제 모듈
1112: 통신모듈 1113: 그래픽 모듈
1114: 사용자 인터페이스 모듈 1115: CODEC 모듈
1116: 카메라 모듈 1117: 애플리케이션
1118: 얼굴인식 모듈 1120: 프로세서 유닛
1121: 메모리 인터페이스 1122: 프로세서
1123: 주변 장치 인터페이스 1130: 제1 무선 통신 서브시스템
1131: 제2 무선 통신 서브시스템
1150: 오디오 서브 시스템 1151: 스피커
1152: 마이크로폰 1160: 외부 포트
1170: 입출력 시스템 1171: 터치 스크린 제어기
1172: 기타 입력 제어기 1180: 터치 스크린
1190: 기타 입력/제어 장치들 1191: 움직임 센서
1192: 광 센서 1193: 카메라 서브 시스템

Claims (32)

  1. 전자 장치의 동작 방법에 있어서,
    최대 노드 값(max node value)이 검출된 노드(node)를 기준으로 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 각각의 노드 값(node value)을 확인하는 과정;
    상기 설정된 범위 내의 노드 중 상기 최대 노드 값의 설정된 퍼센트 이상의 노드 값이 검출된 노드의 개수를 확인하는 과정; 및
    상기 노드의 개수를 확인하여 상기 최대 노드 값이 검출된 노드 위의 터치 영역을 입력받을지 판단하는 과정을 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  2. 제1항에 있어서,
    적어도 하나의 노드에서 검출된 각각의 노드 값을 확인하는 과정;
    상기 검출된 노드 값이 변화되었음을 확인하는 과정; 및
    상기 적어도 하나의 노드 중 상기 최대 노드 값이 검출된 어느 하나의 노드를 검색하는 과정을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 최대 노드 값이 설정된 값 이상인지 판단하는 과정;
    상기 최대 노드 값이 상기 설정된 값 이상이라고 판단되면, 상기 최대 노드 값이 검출된 노드 위의 터치 영역을 입력받는 과정; 및
    상기 영역을 입력받음으로써 수행할 기능을 실행하는 과정을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드는,
    상기 최대 노드 값이 검출된 노드를 제외하고, 상기 최대 노드 값이 검출된 노드에서 가장 가까운 곳에 위치한 여덟 개의 노드인 것을 특징으로 하는 방법.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 노드의 개수를 확인하여 상기 최대 노드 값이 검출된 노드 위의 터치 영역을 입력받을지 판단하는 과정은,
    상기 확인된 노드의 개수가 설정된 개수 미만이라고 판단되면, 상기 최대 노드 값이 검출된 노드 위의 터치 영역을 입력받는 과정; 및
    상기 영역을 입력받음으로써 수행할 기능을 실행하는 과정을 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 노드의 개수를 확인하여 상기 최대 노드 값이 검출된 노드 위의 터치 영역을 입력받을지 판단하는 과정은,
    상기 확인된 노드의 개수가 설정된 개수 이상이라고 판단되면, 상기 최대 노드 값이 검출된 노드 위의 영역을 입력받지 않는 과정을 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 노드는,
    적어도 하나의 X채널과 적어도 하나의 Y채널의 교점인 것을 특징으로 하는 방법.
  8. 전자 장치의 동작 방법에 있어서,
    검출된 노드 값 중 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 모든 노드 값이 변화되었음을 확인하는 과정; 및
    상기 변화된 노드 값을 확인하여 상기 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드 위의 터치 영역을 입력받을지 판단하는 과정을 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  9. 제8항에 있어서,
    적어도 하나의 노드에서 검출된 각각의 노드 값을 확인하는 과정을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  10. 제8항에 있어서,
    상기 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드는,
    적어도 하나의 X채널 중 적어도 하나의 X채널에 포함된 모든 노드인 것을 특징으로 하는 방법.
  11. 제8항에 있어서,
    상기 검출된 노드 값 중 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 모든 노드 값이 변화되었음을 확인하는 과정은,
    상기 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 노드 값이 설정된 노드 값 이상으로 변화되었음을 확인하는 과정; 및
    상기 설정된 노드 값 이상으로 변화된 노드가 설정된 개수 이상임을 확인하는 과정을 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  12. 제8항에 있어서,
    상기 변화된 노드 값을 확인하여 상기 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드 위의 터치 영역을 입력받을지 판단하는 과정은,
    상기 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에 대하여 패턴 알고리즘을 적용하는 과정; 및
    상기 패턴 알고리즘을 적용한 결과 상기 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 변화된 노드 값을 확인하는 과정을 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  13. 제12항에 있어서,
    상기 패턴 알고리즘은 아래의 수학식에 따라 정의되는 것을 특징으로 하는 방법.
    Figure pat00004

    여기서, A는 각각의 노드에서 검출된 각각의 노드 값을 나타낸 것이고, B는 설정된 범위 내의 노드의 개수에서 1을 뺀 값을 나타낸 것이며, C는 설정된 범위 내의 노드에서 검출된 노드 값의 총합에서 설정된 범위 내의 노드에서 검출된 노드 값 중 최대 노드 값을 뺀 값을 나타낸 것이다.
  14. 제12항에 있어서,
    상기 패턴 알고리즘을 적용한 결과 상기 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 변화된 노드 값을 확인하는 과정은,
    상기 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 노드 값 중 최대 노드 값이 검출된 어느 하나의 노드를 검색하는 과정;
    상기 최대 노드 값이 설정된 노드 값 이상임을 확인하는 과정;
    상기 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드 위의 터치 영역을 입력받는 과정; 및
    상기 영역을 입력받음으로써 수행할 기능을 실행하는 과정을 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  15. 제12항에 있어서,
    상기 패턴 알고리즘을 적용한 결과 상기 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 변화된 노드 값을 확인하는 과정은,
    상기 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 노드 값 중 최대 노드 값이 검출된 어느 하나의 노드를 검색하는 과정;
    상기 최대 노드 값이 설정된 노드 값 미만임을 확인하는 과정;
    상기 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드 위의 터치 영역을 입력받지 않는 과정을 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  16. 제8항에 있어서,
    상기 노드는,
    적어도 하나의 X채널과 적어도 하나의 Y채널의 교점인 것을 특징으로 하는 방법.
  17. 전자 장치에 있어서,
    최대 노드 값(max node value)이 검출된 노드(node)를 기준으로 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 각각의 노드 값(node value)을 확인하고, 상기 설정된 범위 내의 노드 중 상기 최대 노드 값의 설정된 퍼센트 이상의 노드 값이 검출된 노드의 개수를 확인하며, 상기 노드의 개수를 확인하여 상기 최대 노드 값이 검출된 노드 위의 터치 영역을 입력받을지 판단하는 프로세스 유닛; 및
    상기 프로세스 유닛에서 제어한 정보를 저장하는 메모리를 포함하는 것을 특징으로 하는 장치.
  18. 제17항에 있어서,
    상기 프로세스 유닛은, 적어도 하나의 노드에서 검출된 각각의 노드 값을 확인하고, 상기 검출된 노드 값이 변화되었음을 확인하며, 상기 적어도 하나의 노드 중 상기 최대 노드 값이 검출된 어느 하나의 노드를 검색하는 것을 특징으로 하는 장치.
  19. 제17항에 있어서,
    상기 프로세서 유닛은, 상기 최대 노드 값이 설정된 값 이상인지 판단하고, 상기 영역을 입력받음으로써 수행할 기능을 실행하고,
    상기 최대 노드 값이 상기 설정된 값 이상이라고 판단되면, 상기 최대 노드 값이 검출된 노드 위의 터치 영역을 입력받는 터치 스크린을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 장치.
  20. 제17항에 있어서,
    상기 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드는,
    상기 최대 노드 값이 검출된 노드를 제외하고, 상기 최대 노드 값이 검출된 노드에서 가장 가까운 곳에 위치한 여덟 개의 노드인 것을 특징으로 하는 장치.
  21. 제17항에 있어서,
    상기 확인된 노드의 개수가 설정된 개수 미만이라고 판단되면, 상기 최대 노드 값이 검출된 노드 위의 터치 영역을 입력받는 터치 스크린을 더 포함하고,
    상기 프로세서 유닛은, 상기 영역을 입력받음으로써 수행할 기능을 실행하는 것을 특징으로 하는 장치.
  22. 제17항에 있어서,
    상기 터치 스크린은, 상기 확인된 노드의 개수가 설정된 개수 이상이라고 판단되면, 상기 최대 노드 값이 검출된 노드 위의 영역을 입력받지 않는 것을 특징으로 하는 장치.
  23. 제17항에 있어서,
    상기 노드는,
    적어도 하나의 X채널과 적어도 하나의 Y채널의 교점인 것을 특징으로 하는 장치.
  24. 전자 장치에 있어서,
    검출된 노드 값 중 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 모든 노드 값이 변화되었음을 확인하고, 상기 변화된 노드 값을 확인하여 상기 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드 위의 터치 영역을 입력받을지 판단하는 프로세서 유닛; 및
    상기 프로세스 유닛에서 제어한 정보를 저장하는 메모리를 포함하는 것을 특징으로 하는 장치.
  25. 제24항에 있어서,
    상기 프로세서 유닛은, 적어도 하나의 노드에서 검출된 각각의 노드 값을 확인하는 것을 특징으로 하는 장치.
  26. 제24항에 있어서,
    상기 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드는,
    적어도 하나의 X채널 중 적어도 하나의 X채널에 포함된 모든 노드인 것을 특징으로 하는 장치.
  27. 제24항에 있어서,
    상기 프로세서 유닛은, 상기 검출된 노드 값 중 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 모든 노드 값이 변화되었음을 확인하고, 상기 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 노드 값이 설정된 노드 값 이상으로 변화되었음을 확인하며, 상기 설정된 노드 값 이상으로 변화된 노드가 설정된 개수 이상임을 확인하는 것을 특징으로 하는 장치.
  28. 제24항에 있어서,
    상기 프로세서 유닛은, 상기 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에 대하여 패턴 알고리즘을 적용하고, 상기 패턴 알고리즘을 적용한 결과 상기 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 변화된 노드 값을 확인하는 것을 특징으로 하는 장치.
  29. 제28항에 있어서,
    상기 패턴 알고리즘은 아래의 수학식에 따라 정의되는 것을 특징으로 하는 장치.
    Figure pat00005

    여기서, A는 각각의 노드에서 검출된 각각의 노드 값을 나타낸 것이고, B는 설정된 범위 내의 노드의 개수에서 1을 뺀 값을 나타낸 것이며, C는 설정된 범위 내의 노드에서 검출된 노드 값의 총합에서 설정된 범위 내의 노드에서 검출된 노드 값 중 최대 노드 값을 뺀 값을 나타낸 것이다.
  30. 제28항에 있어서,
    상기 프로세서 유닛은, 상기 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 노드 값 중 최대 노드 값이 검출된 어느 하나의 노드를 검색하고, 상기 최대 노드 값이 설정된 노드 값 이상임을 확인하며, 상기 영역을 입력받음으로써 수행할 기능을 실행하고,
    상기 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드 위의 터치 영역을 입력받는 터치 스크린을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 장치.
  31. 제28항에 있어서,
    상기 프로세서 유닛은, 상기 패턴 알고리즘을 적용한 결과 상기 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 변화된 노드 값을 확인하고, 상기 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드에서 검출된 노드 값 중 최대 노드 값이 검출된 어느 하나의 노드를 검색하며, 상기 최대 노드 값이 설정된 노드 값 미만임을 확인하고,
    상기 설정된 범위 내에 위치한 적어도 하나의 노드 위의 터치 영역을 입력받지 않는 터치 스크린을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  32. 제24항에 있어서,
    상기 노드는,
    적어도 하나의 X채널과 적어도 하나의 Y채널의 교점인 것을 특징으로 하는 장치.
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