KR20130136039A - Printed circuit board function tester - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 제조공정이 완료된 회로기판 조립체의 회로가 제대로 연결되어 회로기판 조립체가 정상적으로 작동하는지 여부를 검사하기 위한 회로기판 기능검사장치에 관한 것이다.The present invention relates to a circuit board functional test apparatus for inspecting whether a circuit of a circuit board assembly in which a manufacturing process is completed is properly connected to operate the circuit board assembly normally.
회로기판 기능검사장치는 전자소자 등의 실장 및 회로배선이 완료된 회로기판 조립체가 정상적으로 동작하는지 검사하는 장치를 말한다.The circuit board function inspection device refers to a device for inspecting whether a circuit board assembly in which mounting of an electronic device and circuit wiring is completed operates normally.
일반적으로 회로기판 기능검사장치는 회로기판을 안착하기 위한 안착부와, 안착부에 설치되는 핀 블록과, 하강 동작에 의해 핀 블록을 가압하는 가압부재 등을 포함하는 구성을 갖는다. In general, the circuit board function inspection apparatus has a configuration including a seating portion for seating the circuit board, a pin block provided on the seating portion, and a pressing member for pressing the pin block by the lowering operation.
회로기판 기능검사장치를 이용한 회로기판의 기능검사는 회로기판을 안착부에 놓고 가압부재를 하강시켜 회로기판을 지지하고 있는 핀 블록을 가압하는 방법에 의해 이루어진다. 가압부재가 하강하여 핀 블록을 가압하면, 핀 블록의 핀이 노출되면서 회로기판의 단자와 접촉하게 되며, 이때 핀 블록을 통해 전기 신호를 인가하여 그로부터 검출되는 전기신호를 통해 회로기판의 정상 작동 여부를 판정할 수 있게 된다. 회로기판의 검사 완료 후 가압부재를 다시 상승시키고 검사 완료된 회로기판을 제거한 후, 새로운 회로 기판을 안착부에 안착시키는 과정을 수행하게 된다.The functional test of the circuit board using the circuit board function test device is performed by placing the circuit board on the seating portion and lowering the pressure member to press the pin block supporting the circuit board. When the pressure member descends and presses the pin block, the pin of the pin block is exposed and comes into contact with the terminals of the circuit board. At this time, whether the circuit board is normally operated through the electric signal detected by applying an electric signal through the pin block is applied. Can be determined. After the inspection of the circuit board is completed, the pressing member is raised again, and after the inspection of the completed circuit board is removed, a process of mounting a new circuit board on the seating part is performed.
다량의 회로기판을 검사하기 위해서는 상기와 같은 과정이 반복적으로 이루어지는데, 검사 효율을 향상시키기 위해서는 검사 시간을 보다 단축시킬 수 있는 새로운 구조의 회로기판 검사장치가 필요한 실정이다. In order to inspect a large amount of circuit boards, the above-described process is repeatedly performed. However, in order to improve inspection efficiency, a circuit board inspection apparatus having a new structure that can shorten inspection time is required.
본 발명은 상기와 같은 점을 감안하여 안출된 것으로서, 복수의 기판을 동시에 검사할 수 있도록 하여 검사에 소요되는 시간을 단축할 수 있는 회로기판 기능검사장치를 제공하기 위한 것이다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above, and is intended to provide a circuit board function inspection apparatus which can shorten the time required for inspection by enabling inspection of a plurality of substrates at the same time.
상기한 과제를 실현하기 위해 본 발명은 복수의 회로기판 조립체가 각각 놓이기 위한 안착부를 복수로 구비되는 본체와, 상기 각 회로기판 조립체를 지지할 수 있도록 상기 각 안착부에 설치되며 상기 회로기판 조립체가 가압됨에 따라 상부로 노출되어 상기 회로기판 조립체의 단자와 접촉하는 핀이 설치된 핀 블록과, 상기 본체에 상하 이동 가능하게 설치되는 이동 플레이트, 및 상기 이동 플레이트의 상기 핀 블록에 대응되는 위치에 각각 설치되며 상기 이동 플레이트의 하강에 따라 상기 회로기판 조립체를 가압하는 복수의 가압부재를 포함하는 회로기판 기능검사장치를 개시한다.In order to realize the above object, the present invention provides a main body having a plurality of seating portions for placing a plurality of circuit board assemblies, and each of the seating portions to support the circuit board assemblies, wherein the circuit board assembly is provided. The pin block is exposed to the upper portion as the pressure is applied to contact the terminal of the circuit board assembly, the moving plate is installed in the body so as to be movable up and down, and the position corresponding to the pin block of the moving plate, respectively And discloses a circuit board functional inspection device including a plurality of pressing members for pressing the circuit board assembly in accordance with the lowering of the moving plate.
상기 본체에는 상기 본체의 상하 방향을 길이 방향으로 갖는 가이드 로드가 설치되며, 상기 이동 플레이트는 상기 가이드 로드에 직선 이동 가능하게 설치될 수 있다. 상기 본체와 이동 플레이트의 사이에는 사용자의 입력에 의해 상기 이동 플레이트를 자동 구동시키기 위한 구동기가 추가로 설치될 수 있다.The main body is provided with a guide rod having a vertical direction of the main body in the longitudinal direction, the moving plate may be installed to be linearly movable on the guide rod. A driver for automatically driving the moving plate by a user's input may be additionally installed between the main body and the moving plate.
상기 회로기판 조립체는 이어잭과, 상기 이어잭과 연성회로기판에 의해 연결되는 커넥터를 포함하고, 상기 단자는 상기 커넥터에 구비된 연결단자의 형태를 가질 수 있다.The circuit board assembly may include an ear jack and a connector connected by the ear jack and the flexible circuit board, and the terminal may have a form of a connection terminal provided in the connector.
상기 핀 블록은, 상기 본체에 고정되며 상기 핀이 고정되게 설치되는 고정체와, 상기 커넥터를 지지할 수 있게 상기 고정체의 상부에 상하 이동 가능하게 설치되며 상기 핀이 외부로 노출되기 위한 핀 홀을 구비하는 이동체, 및 상기 고정체와 이동체 사이를 탄력적으로 지지하는 탄성체를 포함하는 구성을 가질 수 있다.The pin block is fixed to the main body and the pin is fixedly installed, and the pin hole is installed so as to move up and down on the upper portion of the fixing body to support the connector, the pin hole for exposing the outside It may have a configuration including a movable body having a, and an elastic body to elastically support between the fixed body and the mobile body.
상기 회로기판 기능검사장치는 상기 각 회로기판 조립체의 이어잭에 각각 삽입 가능한 플러그와, 상기 각 플러그를 각각 지지하며 상기 본체에 수평 방향으로 이동 가능하게 설치되는 플러그 지지체를 더 포함할 수 있다. 이러한 경우 상기 이동 플레이트에는 상기 이동 플레이트의 하강시 상기 이어잭을 가압하여 고정시키는 클램퍼가 연결될 수 있다. 상기 클램퍼에는 상기 이어잭의 상부 형상에 대응되는 고정홈이 복수로 형성될 수 있다.The circuit board function test apparatus may further include a plug insertable into an ear jack of each circuit board assembly, and a plug support supporting the respective plugs and installed in the main body so as to be movable in a horizontal direction. In this case, a clamper for pressing and fixing the ear jack when the moving plate is lowered may be connected to the moving plate. The clamper may have a plurality of fixing grooves corresponding to an upper shape of the ear jack.
상기 핀 블록에는 상기 핀 블록에 전기 신호를 인가하여 상기 회로기판 조립체의 정상 작동 유무를 판정하는 제어부가 연결되며, 상기 제어부는 상기 복수의 회로기판 조립체의 기능 검사를 순차적으로 수행하도록 구성 가능하다.A control unit for determining whether the circuit board assembly is normally operated by applying an electrical signal to the pin block is connected to the pin block, and the control unit may be configured to sequentially perform a function test of the plurality of circuit board assemblies.
상기 각 안착부에는 상기 회로기판 조립체의 안착 유무를 센싱하는 근접 센서가 설치되며, 상기 제어부는 상기 근접 센서의 센싱 결과를 근거로 안착부에 안착된 회로기판 조립체만을 선택적으로 검사하도록 구성될 수 있다.Each of the seating units may be provided with a proximity sensor sensing the presence or absence of the seating of the circuit board assembly, and the controller may be configured to selectively inspect only the circuit board assembly seated on the seating unit based on the sensing result of the proximity sensor. .
상기 안착부의 하부에는 상기 회로기판 조립체를 상측 방향으로 가압하여 상기 회로기판 조립체를 상기 안착부로부터 분리시키는 분리유닛이 추가로 설치될 수 있으며, 상기 제어부는 상기 분리 유닛을 동작을 제어하도록 구성되며, 상기 복수의 회로기판 조립체 중 정상 동작하는 것으로 판정된 회로기판 조립체에 대응되는 분리유닛을 선택적으로 동작시킬 수 있다. 상기 본체의 가장자리에는 상기 안착부로부터 분리된 회로기판 조립체의 이동을 가이드하는 경사면이 형성될 수 있다.A separation unit may be further installed below the seating portion to press the circuit board assembly upward to separate the circuit board assembly from the seating portion, and the control unit is configured to control the operation of the separation unit. The separation unit corresponding to the circuit board assembly which is determined to operate normally among the plurality of circuit board assemblies may be selectively operated. An inclined surface may be formed at the edge of the main body to guide the movement of the circuit board assembly separated from the seating portion.
상기와 같은 구성의 본 발명에 의하면, 복수의 인쇄회로기판 조립체의 정상 작동 유무를 동시에 검사할 수 있어 회로기판 조립체 한 개당 소요되는 검사 시간을 획기적으로 단축시킬 수 있다.According to the present invention having the above-described configuration, it is possible to simultaneously check the normal operation of the plurality of printed circuit board assembly can significantly shorten the inspection time required per circuit board assembly.
아울러 본 발명은 회로기판과 이어잭이 FPCB에 의해 연결된 형태의 이어잭 어셈블리의 정상 작동 여부를 검사하는데 필요한 최적화된 검사 구조를 제공한다.In addition, the present invention provides an optimized inspection structure necessary for inspecting whether the circuit board and the ear jacks are normally operated by the FPCB.
또한 본 발명에 따르면 근접센서를 이용하여 안착부에 안착된 회로기판 조립체만 선택적으로 검사하여 검사 효율을 증대시킬 수 있는 효과가 있다.In addition, according to the present invention there is an effect that can increase the inspection efficiency by selectively inspecting only the circuit board assembly seated on the seat using the proximity sensor.
또한 본 발명에 따르면 정상 판정된 회로기판 조립체와 불량 판정된 회로기판 조립체를 자동으로 분류할 수 있게 하여 정상제품과 불량제품이 섞이는 것을 방지할 수 있게 한다.In addition, according to the present invention, it is possible to automatically classify the circuit board assembly and the judged judged badly can be prevented from mixing the normal product and the defective product.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 회로기판 기능검사장치의 정면도.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 회로기판 기능검사장치의 측면도.
도 3은 도 1의 Ⅲ-Ⅲ 라인을 따르는 단면도.
도 4는 도 2에 도시된 핀 블록의 확대 단면도.
도 5 내지 7은 본 발명과 관련된 회로기판 기능검사장치의 작동 상태를 나타내는 작동 상태도.1 is a front view of a circuit board functional test apparatus according to an embodiment of the present invention.
Figure 2 is a side view of a circuit board functional test apparatus according to an embodiment of the present invention.
3 is a cross-sectional view along the III-III line of FIG.
4 is an enlarged cross-sectional view of the pin block shown in FIG.
5 to 7 is an operating state diagram showing an operating state of the circuit board function test apparatus according to the present invention.
이하, 본 발명과 관련된 회로기판 기능검사장치에 대하여 도면을 참조하여 보다 상세하게 설명한다. EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, the circuit board function test | inspection apparatus which concerns on this invention is demonstrated in detail with reference to drawings.
도 1 및 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 회로기판 기능검사장치의 정면도 및 측면도이고, 도 3은 도 1의 Ⅲ-Ⅲ 라인을 따르는 단면도이다.1 and 2 are a front view and a side view of a circuit board functional test apparatus according to an embodiment of the present invention, Figure 3 is a cross-sectional view along the line III-III of FIG.
도 1 내지 3을 참조하면, 본 발명과 관련된 회로기판 기능검사장치는 본체(110), 핀 블록(120), 이동 플레이트(130), 가압부재(140) 등을 포함한다.1 to 3, the circuit board function test apparatus according to the present invention includes a
본체(110)는 회로기판 조립체(10)가 놓이기 위한 안착부(111)를 구비하며, 안착부(111)는 본체(110) 상에 복수로 형성된다. 안착부(111)는 회로기판 조립체(10)의 외곽선에 대응되는 형태의 홈을 구비한다. 본 실시예의 경우 본체(110)의 중앙 부분을 중심으로 좌우 4개씩, 총 8개의 안착부(111)가 형성된 것을 예시하고 있다.The
핀 블록(120)은 각 안착부(111)에 각각 설치되며, 안착부(111)에 안착된 회로기판 조립체(10)를 각각 지지한다. 핀 블록(120)에는 회로기판 조립체(10)의 단자와 접촉 가능한 핀(124, 도 4 참조)이 설치된다. 핀(124)은 핀 블록(120)의 내부에 위치하여 회로기판 조립체(10)의 단자와 접촉하지 않은 상태로 있다가 핀 블록(120) 상부의 회로기판 조립체(10)가 가압됨에 따라 외부로 노출되어 회로기판 조립체(10)의 단자와 접촉하게 된다. 핀 블록(120)의 상세 구성에 대해서는 추후 설명하기로 한다.The
이동 플레이트(130)는 본체(110)에 상하 이동 가능하게 설치된다. 보다 구체적으로 설명하면, 이동 플레이트(130)는 복수의 안착부(111)의 상측 공간 상에서 상하 이동하는 구성을 갖는다.The moving
이동 플레이트(130)의 상하 이동 메커니즘은 다양한 형태로 구현 가능하나, 본 실시예의 경우 가이드 로드(135)를 이용한 메커니즘이 예시되어 있다. 가이드 로드(135)는 본체(110)의 상하 방향(즉, 수직 방향)을 길이 방향으로 갖도록 본체(110)에 설치되며, 이동 플레이트(130)는 가이드 로드(135)에 직선 이동 가능하게 설치된다. 가이드 로드(135)의 상부에는 지지 플레이트(115)가 설치되어 있으며, 지지 플레이트(115)의 상부에는 기능검사장치의 제어를 위한 제어기가 수용된 제어 박스(116)가 설치되어 있다.The vertical movement mechanism of the moving
본체(110)와 이동 플레이트(130)의 사이에는 사용자의 입력에 의해 이동 플레이트(130)를 자동으로 구동시키기 위한 구동기(137)가 설치될 수 있다. 구동기(137)는 모터, 에어 실린더 등으로서 구현 가능하며, 본 실시예의 경우 에어 실린더의 형태로 구현되어 있다. 사용자가 본체(110)에 설치된 시작 버튼을 누르면 구동기(137)가 동작하여 이동 플레이트(130)를 상부 위치에서 하부 위치로 구동시킨다. 또한 사용자가 본체(110)에 설치된 리셋 버튼을 누르면 구동기(137)가 동작하여 이동 플레이트(130)를 하부 위치에서 상부 위치로 구동시킨다.A
가압부재(140)는 이동 플레이트(130)에 복수로 설치되며, 이동 플레이트(130)의 하강에 따라 각 회로기판 조립체(10)를 가압하는 기능을 한다. 가압부재(140)는 복수의 핀 블록(120)에 각각 대응되는 위치에 설치되며, 이동 플레이트(130)가 상부 위치에서 하부 위치로 이동함에 따라 함께 이동하여 각 회로기판 조립체(10)를 가압한다. 그에 따라 핀 블록(120)의 핀(124)이 핀 블록(120)의 외부로 노출되어 회로기판 조립체(10)의 단자와 접촉하게 된다.The
본 실시예는 회로기판 조립체(10)로서 이어잭 어셈블리를 예로 들고 있으며, 이는 이어잭(13)과, 이어잭(13)에 연성회로기판(12)에 의해 연결되는 커넥터(14)를 포함하는 구성을 갖는다. 커넥터(14)는 휴대용 전자기기(예를 들어, 휴대폰, MP3, 노트북 등)의 메인 보드에 연결되어 이어잭(13)과 메인보드를 전기적으로 연결시키는 기능을 한다.This embodiment takes an ear jack assembly as an example of a
이와 같은 구성의 이어잭 어셈블리의 기능을 시험하기 위해 본체(110)에는 플러그(151) 및 플러그 지지체(152)가 추가로 설치된다. 플러그(151)는 각 회로기판 조립체(10)의 이어잭(13)에 삽입되도록 복수로 구비되며, 복수의 플러그 지지체(152)는 각 플러그(151)를 지지 및 고정하는 기능을 한다. 플러그 지지체(152)들은 본체(110)에 수평 방향으로 이동 가능하게 설치된다. In order to test the function of the ear jack assembly having such a configuration, the
플러그 지지체(152) 또한 자동으로 구동되도록 구성 가능하며, 이를 위해 플러그 지지체(152)와 본체(110) 사이에 플러그 구동기(153)가 설치된다. 플러그 구동기(153) 또한 이동 플레이트(130)의 구동기(137)와 마찬가지로 에어 실린더, 모터 등의 형태로 구현 가능하다. 플러그 구동기(137)의 경우 이동 플레이트(130)의 하강 이동 후 자동으로 플러그 지지체(152)가 이어잭(13) 쪽으로 이동하도록 설정 가능하다.The
본 실시예의 경우 플러그 구동기(137)가 에어 실린더의 형태로 구현된 것을 예시하고 있으며, 4개의 플러그 지지체(152)가 한 조로써 동시에 이동하도록 플러그 구동기(137)가 한 쌍으로 설치되어 있다.In the present embodiment, the
핀 블록(120)은 회로기판(11)과 FPCB(12)를 연결하는 커넥터(14)를 지지하도록 구성되며, 핀(124)은 회로기판(11)이 핀 블록(120)을 가압함에 따라 커넥터(14)의 연결단자와 접촉되게 된다. 핀 블록(120)은 본체(110)에 설치된 회로기판(119)에 설치 및 지지되어 있다.The
이동 플레이트(130)에는 이동 플레이트(130)의 하강시 이어잭(13)을 가압하여 고정시키는 클램퍼(160)가 연결된다. 클램퍼(160)는 플러그(151)가 이어잭(13)에 삽입될 때 이어잭(13)이 후퇴하지 않도록 고정하는 기능을 한다.The moving
클램퍼(160)의 하부에는 이어잭(13)의 상부 형상에 대응되는 고정홈(161)이 복수로 형성된다. 본 실시예의 경우 총 4개의 클램퍼(160)가 구비된 것을 예시하고 있으며, 각 클램퍼(160)의 하부에는 2개의 고정홈(161)이 형성되어 있다. 클램퍼(160)는 복수의 고정 로드(165)에 의해 이동 플레이트(130)에 고정될 수 있다.A plurality of fixing grooves 161 corresponding to the upper shape of the
도 4는 도 2에 도시된 핀 블록의 확대 단면도이다.4 is an enlarged cross-sectional view of the pin block shown in FIG. 2.
도 4를 참조하면, 핀 블록(120)은 고정체(121), 이동체(122), 및 탄성체(123)를 포함하는 구성을 갖는다. Referring to FIG. 4, the
고정체(121)는 본체(110)에 고정되며, 그 내부에 핀(124)이 고정되게 설치되는 구조를 갖는다. 핀(124)들은 수직 방향(상측 방향)을 향하도록 고정체(121)에 고정된다.The fixed
이동체(122)는 커넥터(14)를 지지하기 위한 지지면을 가지며, 고정체(121)의 상부에 상하 이동 가능하게 설치된다. 이동체(122)에는 핀(124)이 관통할 수 있게 형성되는 핀 홀(125)이 형성된다. The
탄성체(123)는 고정체(121)와 이동체(122) 사이을 탄력적으로 지지하는 기능을 하며, 이동체(122) 상부의 회로기판 조립체(10)가 가압되어 이동체(122)가 하부로 이동함에 따라 핀(124)이 핀 홀(125)을 통해 외부로 노출되어 핀(124)이 커넥터(14)의 단자와 접촉하게 되는 것이다. 이동체(122)에 가해진 가압력이 제거되면 탄성체(123)의 탄성 복원력에 의해 이동체(122)가 원위치로 복귀하게 된다.The
도 5 내지 7은 본 발명과 관련된 회로기판 기능검사장치의 작동 상태를 나타내는 작동 상태도이다. 도 5에서는 설명의 편의를 위해 핀 블록의 구성을 단순화하여 표시하였다.5 to 7 is an operating state diagram showing an operating state of the circuit board function test apparatus according to the present invention. In FIG. 5, the configuration of the pin block is simplified and displayed for convenience of description.
도 5와 같이 각 회로기판 조립체(10)를 복수의 안착부(111)에 각각 안착시킨다. 회로기판 조립체(10)의 안착은 수동으로 이루어지거나 진공 흡착기를 통해 자동으로 이루어질 수 있다. 자동 로딩을 위해 이동 플레이트(130)에 진공 흡착기가 추가로 설치된 구성도 가능하다.As shown in FIG. 5, each
회로기판 조립체(10)의 안착 후 사용자가 버튼 조작 등을 통해 명령을 입력하면, 이동 플레이트(130)가 상부 위치에서 하부 위치로 하강 이동한다. 그에 따라 도 6과 같이 이동 플레이트(130)에 연결된 가압부재(140)가 회로기판 조립체(10)의 연성회로기판(12)의 커넥터(140가 실장된 부분 윗쪽을 가압하게 되고, 클램퍼(160)가 이어잭(13)의 상부를 가압하여 이어잭(13)의 위치를 고정하게 된다.When the user inputs a command through a button operation or the like after the mounting of the
그리고 도 7과 같이 플러그 지지체(152)가 이어잭(13) 쪽으로 전진하여 플러그(151)가 이어잭(13)에 삽입되게 된다. 그에 따라 플러그(151), 이어잭(13), 및 회로기판 조립체(10), 핀 블록(120) 간의 전기적 연결(회로 연결)이 이루어지게 된다. 핀 블록(120)의 핀(124)에는 제어부가 전기적으로 연결되어 있으며, 제어부가 핀 블록(120)의 핀(124)에 전류를 인가하여 전류가 도통되는지 여부를 판단하여 회로기판 조립체(10)의 회로가 정상적으로 연결되어 있는지, 즉 회로기판 조립체(10)의 정상 작동 여부를 판단한다. 제어부는 복수의 회로기판 조립체(10)의 기능 검사를 기설정된 순서대로 순차적으로 수행한다.As shown in FIG. 7, the
이와 같은 검사 과정이 종료되면 이동 플레이트가 상부 위치로 상승하고, 회로기판 조립체(10)의 언로딩이 이루어지게 된다.When the inspection process is completed, the moving plate is raised to an upper position, and the unloading of the
이와 같은 검사 과정에서 이동 플레이트(130)의 하강 이동과 회로기판 조립체(10)의 고정 과정, 그리고 이동 플레이트(130)의 상승 이동에 소요되는 시간이 대부분을 차지하게 된다. 본 발명에 따르면 복수개의 회로기판 조립체(10)를 동시에 검사할 수 있으므로, 회로기판 조립체(10) 한 개당 소요되는 검사 시간을 획기적으로 단축할 수 있게 된다. In this inspection process, the time required for the downward movement of the moving
본 실시예의 경우 하나의 모델에 해당하는 복수의 회로기판 조립체(10)를 동시에 검사하는 것을 예로 들었으나, 이와 달리 여러가지 모델의 회로기판 조립체(10)를 안착부(111)에 배열하고 이들을 동시에 검사하는 구성도 가능하다 할 것이다. 이는 각 모델에 대응되는 형태의 안착부(111)를 본체(110)에 형성함으로써 구현 가능하다.In the present exemplary embodiment, the plurality of
한편, 각 안착부(111)에는 회로기판 조립체(10)의 안착 유무를 센싱하는 근접 센서가 추가로 설치될 수 있다. 이러한 경우 제어부는 근접 센서에 연결되어 근접 센서의 센싱 결과를 근거로 안착부(111)에 안착된 회로기판 조립체(10)만을 선택적으로 검사하게 된다. 이에 따르면 안착부(111)에 회로기판 조립체(10)가 안착되지 않은 것으로 판정되는 경우, 검사를 건너뛸 수 있어 검사 시간을 단축시킬 수 있게 된다.On the other hand, each seating
아울러 안착부(111)의 하부에는 검사 완료 후 회로기판 조립체(10)를 상측 방향으로 가압하여 회로기판 조립체(10)를 안착부(111)로 분리시키는 분리유닛(170)이 추가로 설치될 수 있다. 분리유닛(170)은 상승 이동에 의해 회로기판 조립체(10)를 물리적으로 들어 올리는 형태로 구현되거나, 에어 분사를 통해 에어 분사력으로 회로기판 조립체(10)를 가압하는 구성 등 다양한 형태로 구현 가능하다. In addition, a
제어부는 분리유닛(170)에 연결되어 분리유닛(170)의 동작을 제어하며, 회로기판 조립체(10) 중 정상 동작하는 것으로 판정된 회로기판 조립체(10)에 대응되는 분리유닛(170)만을 선택적으로 동작시키도록 구성된다. 이와 같은 구성에 따라 정상 동작하는 것으로 판정된 회로기판 조립체(10)만이 안착부(111)로부터 자동으로 분리되며, 그렇지 않은 회로기판 조립체(10)의 경우 안착부(111)에 남아 있게 된다. 남아 있는 회로기판 조립체(10)의 경우 별도의 수동 검사가 이루어지게 된다. 이로써 불량 회로기판 조립체와 정상 회로기판 조립체을 별도로 관리할 수 있게 되어 이들 사이가 섞이게 되는 것을 방지할 수 있다.The control unit is connected to the
본체(110)의 가장자리에는 안착부(111)로부터 분리된 회로기판 조립체(10)의 이동을 가이드하는 경사면(118)이 형성될 수 있다. 회로기판 조립체(10)는 경사면을 타고 본체(110) 외부로 이동하게 되며, 본체(110) 외측에 설치된 수용부에 수용되게 되는 것이다.An
이상에서는 본 발명에 따른 회로기판 기능검사장치를 첨부한 도면들을 참조로 하여 설명하였으나, 본 발명은 본 명세서에 개시된 실시예와 도면에 의해 한정되는 것은 아니며, 본 발명의 기술사상의 범위 내에서 당업자에 의해 다양한 변형이 이루어질 수 있다.
The circuit board function test apparatus according to the present invention has been described above with reference to the accompanying drawings, but the present invention is not limited to the embodiments and drawings disclosed in the present specification, and those skilled in the art within the scope of the technical idea of the present invention. Various modifications can be made by way of example.
Claims (12)
상기 각 회로기판 조립체를 지지할 수 있도록 상기 각 안착부에 설치되며, 상기 회로기판 조립체가 가압됨에 따라 상부로 노출되어 상기 회로기판 조립체의 단자와 접촉하는 핀이 설치된 핀 블록;
상기 본체에 상하 이동 가능하게 설치되는 이동 플레이트; 및
상기 이동 플레이트의 상기 핀 블록에 대응되는 위치에 각각 설치되며, 상기 이동 플레이트의 하강에 따라 상기 회로기판 조립체를 가압하는 복수의 가압부재를 포함하는 회로기판 기능검사장치.A main body having a plurality of seating portions for mounting the plurality of circuit board assemblies, respectively;
A pin block installed at each seating part to support each of the circuit board assemblies, and having a pin exposed upwardly as the circuit board assembly is pressed and contacting the terminals of the circuit board assembly;
A moving plate installed on the main body so as to be movable up and down; And
And a plurality of pressing members respectively installed at positions corresponding to the pin blocks of the moving plate and pressurizing the circuit board assembly as the moving plate descends.
상기 본체에는 상기 본체의 상하 방향을 길이 방향으로 갖는 가이드 로드가 설치되며,
상기 이동 플레이트는 상기 가이드 로드에 직선 이동 가능하게 설치되는 것을 특징으로 하는 회로기판 기능검사장치.The method of claim 1,
The main body is provided with a guide rod having a vertical direction of the main body in the longitudinal direction,
The moving plate is a circuit board functional inspection device, characterized in that installed on the guide rod to be linearly movable.
상기 본체와 이동 플레이트의 사이에 설치되며, 사용자의 입력에 의해 상기 이동 플레이트를 자동 구동시키기 위한 구동기를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 회로기판 기능검사장치.The method of claim 1,
And a driver installed between the main body and the moving plate and configured to automatically drive the moving plate by a user's input.
상기 회로기판 조립체는 이어잭과, 상기 이어잭과 연성회로기판에 의해 연결되는 커넥터를 포함하고,
상기 단자는 상기 커넥터에 구비된 연결단자인 것을 특징으로 하는 회로기판 기능검사장치.The method of claim 1,
The circuit board assembly includes an ear jack and a connector connected by the ear jack and the flexible circuit board,
And said terminal is a connection terminal provided in said connector.
상기 본체에 고정되며, 상기 핀이 고정되게 설치되는 고정체;
상기 커넥터를 지지할 수 있게 상기 고정체의 상부에 상하 이동 가능하게 설치되며, 상기 핀이 외부로 노출되기 위한 핀 홀을 구비하는 이동체; 및
상기 고정체와 이동체 사이를 탄력적으로 지지하는 탄성체를 포함하는 것을 특징으로 하는 회로기판 기능검사장치.The method of claim 4, wherein the pin block,
A fixed body fixed to the main body and fixed to the pin;
A movable body installed on an upper portion of the fixed body to support the connector, the movable body having a pin hole for exposing the pin to the outside; And
And a resilient body that elastically supports between the fixed body and the mobile body.
상기 각 회로기판 조립체의 이어잭에 각각 삽입 가능한 플러그; 및
상기 각 플러그를 각각 지지하며, 상기 본체에 수평 방향으로 이동 가능하게 설치되는 플러그 지지체를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 회로기판 기능검사장치.5. The method of claim 4,
Plugs respectively insertable into ear jacks of the respective circuit board assemblies; And
And each plug supporting each of the plugs, the plug supporting body being installed to be movable in the horizontal direction on the main body.
상기 이동 플레이트에는 상기 이동 플레이트의 하강시 상기 이어잭을 가압하여 고정시키는 클램퍼가 연결되는 것을 특징으로 하는 회로기판 기능검사장치.The method according to claim 6,
And a clamper for pressing and fixing the ear jacks when the moving plate is lowered to the moving plate.
상기 클램퍼에는 상기 이어잭의 상부 형상에 대응되는 고정홈이 복수로 형성되는 것을 특징으로 하는 회로기판 기능검사장치.The method of claim 7, wherein
And a plurality of fixing grooves formed in the clamper corresponding to the upper shape of the ear jack.
상기 핀 블록에는 상기 핀 블록에 전기 신호를 인가하여 상기 회로기판 조립체의 정상 작동 유무를 판정하는 제어부가 연결되며,
상기 제어부는 상기 복수의 회로기판 조립체의 기능 검사를 순차적으로 수행하는 것을 특징으로 하는 회로기판 기능검사장치.The method of claim 1,
The pin block is connected to a control unit for applying an electrical signal to the pin block to determine the normal operation of the circuit board assembly,
The control unit is a circuit board functional test device, characterized in that for sequentially performing a functional test of the plurality of circuit board assembly.
상기 각 안착부에는 상기 회로기판 조립체의 안착 유무를 센싱하는 근접 센서가 설치되며,
상기 제어부는 상기 근접 센서의 센싱 결과를 근거로 안착부에 안착된 회로기판 조립체만을 선택적으로 검사하도록 구성되는 것을 특징으로 하는 회로기판 기능검사장치.10. The method of claim 9,
Each mounting part is provided with a proximity sensor for sensing the presence or absence of the mounting of the circuit board assembly,
And the control unit is configured to selectively inspect only the circuit board assembly mounted on the seating part based on the sensing result of the proximity sensor.
상기 안착부의 하부에 각각 추가로 설치되며, 상기 회로기판 조립체를 상측 방향으로 가압하여 상기 회로기판 조립체를 상기 안착부로부터 분리시키는 분리유닛; 및
상기 제어부는 상기 분리 유닛을 동작을 제어하도록 구성되며, 상기 복수의 회로기판 조립체 중 정상 동작하는 것으로 판정된 회로기판 조립체에 대응되는 분리유닛을 선택적으로 동작시키는 것을 특징으로 하는 회로기판 기능검사장치.10. The method of claim 9,
A separation unit which is further installed at a lower portion of the seating part, and separates the circuit board assembly from the seating part by pressing the circuit board assembly upward; And
And the control unit is configured to control the operation of the separation unit, and selectively operates the separation unit corresponding to the circuit board assembly which is determined to operate normally among the plurality of circuit board assemblies.
상기 본체의 가장자리에는 상기 안착부로부터 분리된 회로기판 조립체의 이동을 가이드하는 경사면이 형성되는 것을 특징으로 하는 회로기판 기능검사장치.
12. The method of claim 11,
Circuit board functional test device, characterized in that the inclined surface for guiding the movement of the circuit board assembly separated from the seating portion is formed at the edge of the main body.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020120059554A KR101377537B1 (en) | 2012-06-04 | 2012-06-04 | Printed circuit board function tester |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020120059554A KR101377537B1 (en) | 2012-06-04 | 2012-06-04 | Printed circuit board function tester |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20130136039A true KR20130136039A (en) | 2013-12-12 |
KR101377537B1 KR101377537B1 (en) | 2014-03-25 |
Family
ID=49982946
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020120059554A KR101377537B1 (en) | 2012-06-04 | 2012-06-04 | Printed circuit board function tester |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR101377537B1 (en) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102286818B1 (en) * | 2019-12-27 | 2021-08-06 | 주식회사 세창산업 | Test apparatus for jack socket |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101124512B1 (en) * | 2011-08-17 | 2012-03-16 | 김응균 | Testing apparatus for printed circuit board |
-
2012
- 2012-06-04 KR KR1020120059554A patent/KR101377537B1/en not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR101377537B1 (en) | 2014-03-25 |
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