KR20130087906A

KR20130087906A - 이미지 센서 집적회로소자의 노이즈 측정장치

Info

Publication number: KR20130087906A
Application number: KR1020120009157A
Authority: KR
Inventors: 김세일; 이승배; 임정만; 김성철; 박경원; 박현정
Original assignee: 삼성전자주식회사
Priority date: 2012-01-30
Filing date: 2012-01-30
Publication date: 2013-08-07
Also published as: US20130193984A1

Abstract

이미지 센서 집적회로의 노이즈 측정 장치는 EMI 테스트 지그, 전자파 차폐 박스, 전자파 측정 프로브, 및 스펙트럼 분석기를 포함한다. EMI 테스트 지그는 장착된 이미지 센서 집적회로소자를 테스트 조건으로 구동한다. 전자파 차폐박스는 EMI 테스트 지그를 수납하고 상방향을 제외한 나머지 방향으로부터 외부 전자파가 유입되는 것을 차단한다. 전자파 측정 프로브는 이미지 센서 집적회로소자의 상방향에 이격되어 밀접하게 배치되고 이미지 센서 집적회로소자로부터 공기 중에 방사된 전자파 노이즈를 감지한다. 스펙트럼 분석기는 전자파 측정 프로브에 연결되어 공기 중에 방사된 전자파 노이즈를 측정한다. 따라서 휴대폰에 장착하지 않고 이미지 센서 자체 구동으로 전자파 노이즈를 평가하여 객관적인 제품 노이즈 등급을 제공할 수 있다.

Description

이미지 센서 집적회로소자의 노이즈 측정장치{Apparatus of Testing EMI in Image Sensor IC Device}

본 발명은 이미지 센서 집적회로소자의 노이즈 측정장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 이미지 센서 집적회로 소자로부터 방사되는 EMI 잡음을 측정하여 노이즈 등급을 평가하기 위한 장치에 관한 것이다.

스마트 폰과 같은 모바일 폰 세트의 집적률이 고도화되고 회로모듈 및 집적회로소자의 동작속도가 고속화 됨에 따라 세트 내부의 회로모듈 또는 집적회로소자들 간에 상호 전자파 간섭(EMI : ElectroMagnetic Interference) 문제가 증가하고 있다.

EMI는 일반적으로 세트에서 발생한 일정 크기 이상의 노이즈들이 외부로 방사될 때, 다른 세트 혹은 시스템에 간섭을 발생시킬 수 있으므로 EMI특성을 규격화하여 규제하고 있다. 뿐만 아니라, 스마트 폰과 같은 휴대용 기기 (Mobile application)등에서는 모듈 혹은 집적회로소자에서 발생하는 노이즈가 안테나에 유기되어 수신감도를 저하시켜 통신 혼선을 유발할 수 있다.

특히 스마트 폰과 같은 모바일 폰에서 이미지 센서는 안테나 근처에 위치함으로써 전자파 노이즈의 주요 소스로 작용한다.

이미지 센서에서 발생한 노이즈는 공기 중으로 방사되거나 인쇄회로기판(PCB) 등의 전도성 경로를 통해 안테나로 전달되어, 수신감도를 저하시키거나 심한 경우 다른 모듈 및 집적회로소자 등의 오동작을 유발시키기도 한다.

그러므로 세트 제조사들은 통신 대역에서 비트 에러율 ( BBR : Bit error rate) 평가를 통해 카메라 모듈이 휴대폰 수신감도에 영향을 미치는 정도를 측정하여 양/불(Pass/fail) 판정을 한다. 이런 평가는 개발 후기 단계 혹은 규격 인증 단계에서 이루어지기 때문에 불량개선을 하는데 있어 많은 시간과 노력이 필요하다.

상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 본 발명의 일 목적은 이미지 센서 집적회로소자만 독립적으로 전자파 노이즈를 측정할 수 있는 노이즈 측정 장치를 제공하는 것이다.

본 발명의 다른 목적은 이미지 센서 집적회로소자의 전자파 노이즈 정도를 등급으로 평가를 할 수 있는 노이즈 측정 장치를 제공하는 것이다.

본 발명의 또 다른 목적은 이미지 센서 집적회로소자 내부 블록들 중 잡음 소스 블록을 측정할 수 있는 노이즈 측정 장치를 제공하는 것이다.

상술한 본 발명의 일 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 일 실시예에 따른 노이즈 측정 장치는 EMI 테스트 지그, 전자파 차폐 박스, 전자파 측정 프로브, 및 스펙트럼 분석기를 포함한다. EMI 테스트 지그는 장착된 이미지 센서 집적회로소자를 테스트 조건으로 구동한다. 전자파 차폐박스는 EMI 테스트 지그를 수납하고 상 방향을 제외한 나머지 방향으로부터 외부 전자파가 유입되는 것을 차단한다. 전자파 측정 프로브는 이미지 센서 집적회로소자의 상 방향에 이격되어 밀접하게 배치되고 이미지 센서 집적회로소자로부터 공기 중에 방사된 전자파 노이즈를 감지한다. 스펙트럼 분석기는 전자파 측정 프로브에 연결되어 공기 중에 방사된 전자파 노이즈를 측정한다.

EMI 테스트 지그는 회로기판, 회로기판의 상면 중앙부를 제외하고 전체를 덮는 차폐 도전층, 회로기판의 상면 중앙부에 형성되고 상기 이미지 센서 집적회로소자를 장착하기 위한 연결소켓, 회로기판의 저면에 설치되고 상면에 장착된 이미지 센서 집적회로소자를 구동하기 위한 테스트 구동회로를 포함한다.

본 발명에서 테스트 구동회로는 독립적으로 테스트 동작이 가능하도록 자체 전원회로 및 테스트 제어회로를 포함한다. 또한 테스트 구동회로는 다음 테스트 동작조건들 중 적어도 하나 이상으로 이미지 센서 집적회로소자를 구동한다.

- 전원 및 클록 인가된 후 배터리 전원모드 동작조건

- 풀 해상도 이미지 센싱 동작조건

- 최대 아날로그 게인 동작조건

- 입출력포트 동작조건

- 초고속 직병렬 인터페이스 동작조건

- 고정 출력 이미지(컬러 바 또는 테스트 이미지 패턴) 동작조건

- 최대 프레임 레이트 동작조건

- 동작 주파수 동작조건

- 대표적인 입출력 구동 세기 동작조건

- 전원전압 동작조건

- 외부클록 동작조건

또한 본 발명은 스펙트럼 분석기에 연결된 측정평가 컴퓨터를 더 구비하고, 측정 평가 컴퓨터에서는 평가 주파수 밴드 별로 측정 노이즈 등급을 결정하기 위한 평가 알고리즘을 포함한다.

여기서 평가 주파수 밴드는 이미지 센서 집적회로소자의 기본클록의 조화 주파수 밴드들, 모바일 무선통신 주파수 밴드들, 20MHz 간격의 와이드 밴드들을 포함한다.

본 발명의 다른 실시예에 따른 노이즈 측정 장치는 장착된 이미지 센서 집적회로소자를 테스트 조건으로 구동하기 위한 EMI 테스트 지그와, EMI 테스트 지그의 전원라인으로 제공되는 도전 패턴층에 연결되고 직류는 차단시키고 이미지 센서 집적회로소자로부터 생성되어 도전 패턴층으로 전도된 전자파 노이즈를 외부로 연결하기 위한 연결수단과, 연결수단을 통해 도전 패턴층에 전도된 전자파 노이즈를 측정하기 위한 스펙트럼 분석기를 포함한다.

다른 실시예의 EMI 테스트 지그는 회로기판과, 회로기판의 상면 중앙부를 제외하고 전체를 덮는 차폐 도전층과, 회로기판의 상면 중앙부에 형성되고 상기 이미지 센서 집적회로소자를 장착하기 위한 연결소켓과, 회로기판의 저면에 설치되고 상면에 장착된 이미지 센서 집적회로소자를 구동하기 위한 테스트 구동회로와, 회로기판의 저면에 설치되고 테스트 구동회로에 전원을 공급하기 위한 전원라인으로 제공되는 도전 패턴층을 포함한다.

상기와 같은 본 발명의 실시예들에 따른 노이즈 측정 장치는 휴대폰에 장착하지 않고 이미지 센서 집적회로소자 자체 구동으로 전자파 노이즈를 평가하여 객관적인 제품 노이즈 등급을 제공할 수 있다. 그러므로 휴대폰과 같은 세트 엔지니어들은 카메라 모듈 디자인시 이미지 센서 집적회로소자의 전자파 노이즈 등급을 고려하여 공간 배치설계에 유용하게 활용할 수 있다.

다만, 본 발명의 효과는 상기에서 언급된 효과로 제한되는 것은 아니며, 상기에서 언급되지 않은 다른 효과들은 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.

도 1은 본 발명의 바람직한 일 실시예로서, 방사성 노이즈 측정을 위한 이미지센서 집적회로소자 측정 장치의 구성을 설명하기 위한 도면.
도 2는 본 발명에 의한 이미지센서 집적회로소자 측정 장치의 측정 주파수 대역의 일 예를 나타낸 도면.
도 3은 본 발명에 의한 이미지센서 집적회로소자 측정 동작조건의 일 예를 나타낸 도면.
도 4는 각 주파수 밴드에서 등급판정을 위한 노이즈의 기준 세기를 나타낸 도면.
도 5는 GSM 850 측정대역에서 피측정 소자들로부터 측정된 방사 노이즈 파형을 나타낸 도면.
도 6은 본 발명의 바람직한 다른 실시예로서, 전도성 노이즈 측정을 위한 이미지센서 집적회로소자 측정 장치의 구성을 설명하기 위한 도면.

본문에 개시되어 있는 본 발명의 실시예들에 대해서, 특정한 구조적 내지 기능적 설명들은 단지 본 발명의 실시예를 설명하기 위한 목적으로 예시된 것으로, 본 발명의 실시예들은 다양한 형태로 실시될 수 있으며 본문에 설명된 실시예들에 한정되는 것으로 해석되어서는 아니 된다.

본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 형태를 가질 수 있는 바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 본문에 설명하고자 한다. 그러나 이는 본 발명을 특정한 개시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 각 도면을 설명하면서 유사한 참조부호를 구성요소에 대해 사용하였다.

제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 예를 들어, 본 발명의 권리 범위로부터 이탈되지 않은 채 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소도 제1 구성요소로 명명될 수 있다.

어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "연결되어" 있다거나 "접속되어" 있다고 언급된 때에는, 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되어 있거나 또는 접속되어 있을 수도 있지만, 중간에 다른 구성요소가 존재할 수도 있다고 이해되어야 할 것이다. 반면에, 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "직접 연결되어" 있다거나 "직접 접속되어" 있다고 언급된 때에는, 중간에 다른 구성요소가 존재하지 않는 것으로 이해되어야 할 것이다. 구성요소들 간의 관계를 설명하는 다른 표현들, 즉 "~사이에"와 "바로 ~사이에" 또는 "~에 이웃하는"과 "~에 직접 이웃하는" 등도 마찬가지로 해석되어야 한다.

본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 설시(說示)된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.

다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가지고 있다. 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥 상 가지는 의미와 일치하는 의미를 가지는 것으로 해석되어야 하며, 본 출원에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.

한편, 어떤 실시예가 달리 구현 가능한 경우에 특정 블록 내에 명기된 기능 또는 동작이 순서도에 명기된 순서와 다르게 일어날 수도 있다. 예를 들어, 연속하는 두 블록이 실제로는 실질적으로 동시에 수행될 수도 있고, 관련된 기능 또는 동작에 따라서는 상기 블록들이 거꾸로 수행될 수도 있다.

이하, 첨부한 도면들을 참조하여, 본 발명의 바람직한 실시예를 보다 설명하고자 한다. 도면상의 동일한 구성요소에 대해서는 동일한 참조부호를 사용하고 동일한 구성요소에 대해서 중복된 설명은 생략한다.

도 1은 본 발명의 바람직한 일 실시예로서, 방사성 노이즈 측정을 위한 이미지센서 집적회로소자 측정 장치의 구성을 설명하기 위한 도면이다.

도면을 참조하면, 노이즈 측정 장치(10)는 EMI 테스트 지그(110), 전자파 차폐 박스(120), 전자파 측정 프로브(130), 스펙트럼 분석기(140), 노이즈 등급 평가수단(150)을 포함한다.

EMI 테스트 지그(110)는 장착된 이미지 센서 집적회로소자(100)를 테스트 조건으로 구동한다. EMI 테스트 지그(110)는 회로기판(111)을 포함하고, 회로기판(111)의 상면 중앙 영역을 제외한 나머지 전체 영역은 전자파를 차폐하기 위한 도전층(112)으로 덮어진다. 차폐 도전층(112)이 없는 회로기판(111)의 상면 중앙부에는 이미지 집적회로소자를 장착하기 위한 연결소켓(113) 형성된다. 회로기판(111)의 저면에는 테스트 구동회로(114)가 설치된다. 테스트 구동회로(114)는 독립적으로 동작하기 위하여 회로기판(111)의 저면에 형성된 전원전압 도전 패턴층(115)과 접지전압 도전 패턴층(116)에 연결되어 전원을 공급받는다,

테스트 구동회로(114)는 CPU, SDRAM, ROM, FLASH MEMORY, 시리얼 입출력 인터페이스, 클럭 주파수 발생기, DC-DC 컨버터 등을 포함하고 FLASH MEMORY에 저장된 테스트 프로그램에 따라 연결소켓(113)에 장착된 이미지 센서 집적회로소자(110)를 구동한다. 테스트 구동회로(114)에서 발생된 전자파 노이즈는 전원전압 도전 패턴층(115)과 접지전압 도전 패턴층(116)에 의해 차단된다.

전자파 측정 프로브(130)는 높이 및 각도를 조정할 수 있는 지지대에 설치되고, 첨두가 이미지 센서 집적회로소자(100)의 상방향에 대략 5mm 정도로 이격되게 조정된다. 전자파 측정 프로브(130)가 방향성을 가지므로 피측정 소자(DUT : Device under Test)와 루프(Loop)면의 방향에 따라 측정결과가 다르므로 도시한 바와 같이 Z축을 중심으로 0도, 45도, 90도의 세 가지 각도에서 노이즈를 각각 측정한다.

전자파 측정 프로브(130)는 케이블을 통하여 스펙트럼 분석기(140)에 연결한다. 측정된 노이즈는 스펙트럼 분석기(140)에 전달되어 파형 이미지로 디스플레이 된다. 또한 스펙크럼 분석기(140)는 퍼스널 컴퓨터와 같은 노이즈 등급 평가수단(150)에 연결되고, 측정된 노이즈 신호는 퍼스널 컴퓨터(150)에 전달되어 하드 디스크와 같은 저장매체에 저장된다.

퍼스널 컴퓨터(150)는 노이즈 등급 평가 알고리즘을 수행한다. 노이즈 등급 평가 알고리즘은 프로그램으로 구성되어 퍼스널 컴퓨터(150)에 설치된다.

본 발명에서 측정 주파수 대역은 도 2에 도시한 바와 같이 이미지 센서 집적회로소자의 내부에서 사용되는 다양한 클록 주파수(EXTCLK, PCLK, MIPICLK, CPCLK, SCLK)의 기본 주파수~2500 MHz 대역의 조화파 주파수(Clock harmonics)를 측정한다. Clock harmonics의 경우 주요 Clock harmonics들을 측정하여 이미지 센서 집적회로소자 내부의 어느 블록이 주요 노이즈 소스인지 판단할 수 있는 자료로 활용하기 위함이다.

또한 Rx 밴드로는 88~108 MHz 대역의 FM 방송대역, 869~894 MHz 대역의 GSM 850 셀룰라 폰 무선통신대역, 925~960 MHz 대역의 GSM 900 셀룰라 폰 무선통신대역, 1574.42~1576.42 MHz 대역의 GPS 위성 위치 데이터 통신대역, 1805~1880 MHz 대역의 DCS 통신대역, 1930~1990 MHz 대역의 PCS 통신대역, 2110~2170 MHz 대역의 WCDMA 통신대역, 2400~2497 MHz 대역의 WLAN 통신대역 등을 측정한다. Rx band 별로 노이즈를 측정하여 해당 대역에서의 노이즈 크기를 파악하여 세트에서 사용하고자 하는 Rx band에서 이미지 센서 집적회로소자의 노이즈 세기를 감안하여 세트 설계를 고려할 수 있도록 한다.

와이드 밴드는 DC~2500 MHz 대역을 20 MHz 간격으로 측정한다. 와이드 밴드(Wideband) 노이즈 측정은 Clock harmonics 이외의 성분 및 기타 Broadband noise 존재 유무 파악을 위함이다.

본 발명에서는 도 3에 도시한 바와 같이 피측정 이미지센서 집적회로소자(100)들에 대해서 동일한 동작조건에서 측정하기 위하여 제품 동작의 중요한 기준을 제시한다.

< 테스트 동작조건 >

- 전원 및 클록 인가된 후 배터리 전원모드 동작조건

- 풀해상도 이미지 센싱 동작조건

- 최대 아날로그 게인 동작조건(또는 최적 아날로그 게인 동작조건)

- 입출력포트 동작조건(CCP2;데이터 스트로브, MIPI & Sub-LVDS;최대속도)

- 직병렬 인터페이스 동작조건

- 최대 프레임 레이트 동작조건

- 동작 주파수 동작조건

- 대표적인 입출력 구동 세기 동작조건

- 전원전압 동작조건 (VDDA = 2.8V, VDDIO = 2.8V, VDDD = 가변)

- 외부클록 동작조건(24MHz)

여기서 사용된 약자의 풀 명칭은 아래와 같다.

CCP2 : Compact Camera Port 2

MIPI : Mobile Industry Processor Interface

LVDS : Low-Voltage Differential Signaling

이와 같은 측정 조건에 의해 이미지 센서 집적회로소자(100)를 구동시킨 상태에서 소자로부터 방사된 노이즈를 측정한다.

본 발명에서는 노이즈 세기가 -40 dBm 이상이면 등급 C, -40 dBm ~ -80 dBm 사이이면 등급 B, -100 dBm 이하이면 등급 A로 평가한다.

도 4는 각 주파수 밴드에서 등급판정을 위한 기준 세기를 나타낸다.

도 5는 GSM 850 Rx 대역에서 본 발명에 의한 측정 장치로 측정한 노이즈 파형을 나타낸다. 도 4의 등급기준을 참조하여 등급을 평가할 수 있다. 즉, DUT1(굵은 실선)은 870 MHz 대역에서 등급 C이고 나머지 대역에서는 등급 A로 평가되고, DUT2(가는 실선)는 884 MHz 및 889 MHz 대역에서 -80 dBm 이상인 등급 B이고 DUT3(점선) 및 DUT4(일점쇄선)는 전체적으로 등급 A로 평가된다.

도 6은 본 발명에 의한 등급평가수단의 등급평가 알고리즘을 설명하기 위한 흐름도이다.

도 6을 참조하면, 등급평가수단(150)에서는 먼저 측정 주파수 대역을 세팅하고(S102), 스펙트럼 분석기(140)를 통해 제공된 노이즈 신호의 세기를 등급 C 기준과 비교한다(S106). 노이즈 세기가 등급 C 이상이면 피측정소자의 노이즈 등급을 C로 평가한다(S108). S106단계에서 등급 C 이하이면 등급 B 이상인지를 비교한다(S110). 노이즈 세기가 등급 B 이상이면 피측정소자의 노이즈 등급을 B로 평가한다(S112). S110단계에서 등급 B 이하이면 피측정소자의 노이즈 등급을 A로 평가하고(S112), 종료한다.

도 7은 본 발명의 바람직한 다른 실시예로서, 전도성 노이즈 측정을 위한 이미지센서 집적회로소자 측정 장치의 구성을 나타낸다.

도면을 참조하면 전도성 노이즈 측정을 위한 이미지센서 집적회로소자 측정 장치(20)는 상술한 방사성 노이즈 측정 장치(10)와 비교하여 동일한 부분은 동일 부호로 처리하고 구체적인 설명은 생략한다.

측정 장치(20)의 다른 점은 전도성 노이즈를 측정하기 위하여 테스트 구동회로에 전원을 공급하기 위한 도전 패턴층(115, 116) 즉 전원전압라인과 접지전압라인의 패드에 케이블을 통해 연결수단(160, 170)이 연결된다는 점이다. 또한 방사성 노이즈 측정 장치(10)와는 달리 전도성 노이즈를 측정하기 때문에 전자파 차폐 박스(120)를 제거한다.

연결수단(160)은 전원전압패드(VDDD)에 연결되고, 연결수단(170)은 접지전압패드(VDDA)에 연결된다. 연결수단(160, 170)은 직류성분은 차단하고 교류성분인 전도성 노이즈만을 통과시키기 위한 직류차단필터 또는 고역통과필터 등을 포함한다.

스펙트럼 분석기(140)는 케이블로 연결수단(160)에 연결하여 전도성 노이즈 신호를 전달 받는다.

마찬가지로 방사성 노이즈 측정과 동일한 방식으로 각 측정 주파수대에 걸쳐서 전도성 노이즈를 측정하고 그 결과 노이즈 등급을 평가한다.

상기 블록도와 순서도에 나타난 각각의 블록 또는 블록의 집합들의 동작이나 기능들은 하드웨어 또는 소프트웨어 기반으로 다양한 형태로 구현될 수 있음을 이해하여야 한다. 상기 블록도와 순서도에 나타난 블록 또는 블록의 집합들의 동작이나 기능을 구현하기 위한 구조나 수단을 생성할 수 있도록, GPP(General Purpose Processor), SPP(Special Purpose Processor)를 탑재한 컴퓨터, 그 외 프로그램이 가능한 장치에 의해 소프트웨어 기반으로도 구현될 수 있음을 이해하여야 한다.

이상 본 발명의 실시예들에 따른 측정 장치에 대하여 설명의 편의를 위하여 방사성 노이즈 측정 장치와 전도성 노이즈 측정 장치로 나누어 설명하였으나, 본 발명의 기술적 사상의 범위 내에서 이들을 합쳐서 하나의 측정 장치로 구성할 수 있음을 이해하여야 할 것이다. 설명의 편의를 위하여, 측정 주파수 대역을 특정 주파수 대역으로 한정하여 설명하였으나 그 이상의 주파수 대역으로 확장 적용이 가능하다. 그리고 측정 동작 조건도 이미미 센서 집적회로소자의 적합한 동작조건이면 적용 가능하다.

본 발명은 이미지 센서의 Clock harmonics들의 크기, Rx band에서의 영향성, 및 Wideband 노이즈 유, 무 등을 파악함으로써 개발 초기 단계에 EMI특성이 좋은 이미지 센서를 부품 레벨에서 선별할 수 있다. 측정결과를 내부 품질평가 항목으로 추가하여 자체적으로 이미지 센서의 EMI특성 향상을 꾀하고, 고객에게 해당 결과들을 제공함으로써 당사 제품의 신뢰성 향상 및 기술력 제고에 기여할 수 있다.

상술한 바와 같이, 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만 해당 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 하기의 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.

Claims

장착된 이미지 센서 집적회로소자를 테스트 조건으로 구동하기 위한 EMI 테스트 지그;
상기 EMI 테스트 지그를 수납하고 상방향을 제외한 나머지 방향으로부터 외부 전자파가 유입되는 것을 차단하기 위한 전자파 차폐 박스;
상기 이미지 센서 집적회로소자의 상방향에 이격되어 밀접하게 배치되고 상기 이미지 센서 집적회로소자로부터 공기 중에 방사된 전자파 노이즈를 감지하기 위한 전자파 측정 프로브; 및
상기 전자파 측정 프로브에 연결되어 공기 중에 방사된 전자파 노이즈를 측정하기 위한 스펙트럼 분석기를 구비한 것을 특징으로 하는 이미지 센서 집적회로의 노이즈 측정 장치.
제1항에 있어서, 상기 EMI 테스트 지그는
회로기판;
상기 회로기판의 상면 중앙부를 제외하고 전체를 덮는 차폐 도전층;
상기 회로기판의 상면 중앙부에 형성되고 상기 이미지 센서 집적회로소자를 장착하기 위한 연결소켓; 및
상기 회로기판의 저면에 설치되고 상기 상면에 장착된 이미지 센서 집적회로소자를 구동하기 위한 테스트 구동회로를 구비한 것을 특징으로 하는 이미지 센서 집적회로의 노이즈 측정 장치.
제2항에 있어서, 상기 테스트 구동회로는 독립적으로 테스트 동작이 가능하도록 자체 전원회로 및 테스트 제어회로를 구비한 것을 특징으로 하는 이미지 센서 집적회로의 노이즈 측정 장치.
제2항에 있어서, 상기 테스트 구동회로는 다음 테스트 동작조건들 중 적어도 하나 이상으로 상기 이미지 센서 집적회로소자를 구동하는 것을 특징으로 하는 이미지 센서 집적회로의 노이즈 측정 장치.
- 전원 및 클록 인가된 후 배터리 전원모드 동작조건
- 풀 해상도 이미지 센싱 동작조건
- 최대 아날로그 게인 동작조건
- 입출력포트 동작조건
- 직병렬 인터페이스 동작조건
- 고정 출력 이미지(컬러 바 또는 테스트 이미지 패턴) 동작조건
- 최대 프레임 레이트 동작조건
- 동작 주파수 동작조건
- 대표적인 입출력 구동 세기 동작조건
- 전원전압 동작조건
- 외부클록 동작조건
제1항에 있어서, 상기 스펙트럼 분석기에 연결된 등급평가수단을 더 구비하고,
상기 등급평가수단에서는 평가 주파수 밴드 별로 측정 노이즈 등급을 결정하기 위한 등급평가 알고리즘을 포함하는 것을 특징으로 하는 이미지 센서 집적회로의 노이즈 측정 장치.
제5항에 있어서, 상기 평가 주파수 밴드는 상기 이미지 센서 집적회로소자의 기본클록의 조화 주파수 밴드들을 포함하고,
특정 조화 주파수의 세기에 따라 상기 이미지 센서 집적회로소자의 내부의 어느 블록이 전자파 노이즈 소스로 작용하는지를 평가하는 것을 특징으로 하는 이미지 센서 집적회로의 노이즈 측정 장치.
제5항에 있어서, 상기 평가 주파수 밴드는 모바일 무선통신 주파수 밴드들을 포함하고,
상기 이미지 센서 집적회로소자가 장착될 모바일 폰 세트 내에서 인접한 고주파 블록의 주파수 밴드에 영향을 줄 수 있는 노이즈 유무를 평가하는 것을 특징으로 하는 이미지 센서 집적회로의 노이즈 측정 장치.
제5항에 있어서, 상기 평가 주파수 밴드는 20MHz 간격의 와이드 밴드들을 포함하고,
각 와이드 밴드에서 광대역 노이즈의 유무를 평가하는 것을 특징으로 하는 이미지 센서 집적회로의 노이즈 측정 장치.
장착된 이미지 센서 집적회로소자를 테스트 조건으로 구동하기 위한 EMI 테스트 지그;
상기 EMI 테스트 지그의 전원라인으로 제공되는 도전 패턴층에 연결되고 직류는 차단시키고 상기 이미지 센서 집적회로소자로부터 생성되어 상기 도전 패턴층으로 전도된 전자파 노이즈를 외부로 연결하기 위한 연결수단; 및
상기 연결수단을 통해 상기 도전 패턴층에 전도된 전자파 노이즈를 측정하기 위한 스펙트럼 분석기를 구비한 것을 특징으로 하는 이미지 센서 집적회로의 노이즈 측정 장치.
제9항에 있어서, 상기 EMI 테스트 지그는
회로기판;
상기 회로기판의 상면 중앙부를 제외하고 전체를 덮는 차폐 도전층;
상기 회로기판의 상면 중앙부에 형성되고 상기 이미지 센서 집적회로소자를 장착하기 위한 연결소켓;
상기 회로기판의 저면에 설치되고 상기 상면에 장착된 이미지 센서 집적회로소자를 구동하기 위한 테스트 구동회로 및
상기 회로기판의 저면에 설치되고 상기 테스트 구동회로에 전원을 공급하기 위한 전원라인으로 제공되는 도전 패턴층을 구비한 것을 특징으로 하는 이미지 센서 집적회로의 노이즈 측정 장치.