KR20130064181A - 카메라 모듈의 렌즈 리프트 오프 검출 방법 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 카메라 모듈의 렌즈 리프트 오프 검출 방법에 관한 것이다.
즉, 본 발명은 카메라 모듈에서 제 1과 제 2 마커가 형성되어 있는 차트의 이미지를 촬영하는 단계와; 상기 촬영된 챠트의 이미지에서 제 1과 제 2 마커의 거리를 측정하는 단계와; 상기 측정된 제 1과 제 2 마커의 거리 변화가 있는지 여부를 판단하는 단계와; 상기 측정된 제 1과 제 2 마커의 거리 변화가 있는 경우, 렌즈 리프트 오프로 결정하는 단계를 포함한다.

Description

카메라 모듈의 렌즈 리프트 오프 검출 방법 { Method for detecting lens lift-off of camera module }
본 발명은 카메라 모듈의 렌즈 리프트 오프 검출 방법에 관한 것이다.
일반적으로 카메라 모듈은 렌즈를 포함하는 렌즈부, 렌즈부와 결합되는 하우징 어셈블리, IR 필터와 이미지 센서 등을 포함하는 센서부를 구비한다.
그리고, 카메라 모듈은 렌즈를 광축방향으로 이송시키는 엑추에이터를 포함하고 있다.
즉, 상기 엑츄에이터는 렌즈를 광축방향으로 이송시켜 초점거리를 조절함으로써 오토 포커스(Auto Focus, AF)기능을 구현한다.
이때, 카메라 모듈은 엑추에이터에 전류(DAC)를 인가함과 동시에 렌즈가 움직이는 것이 아니라, 실질적인 움직임이 시작되는 DAC 위치는 카메라 모듈에 따라 모두 다르다.
이러한, 렌즈의 움직임, 즉, 렌즈의 리프트 오프의 위치를 알지 못하는 경우, 불필요한 탐색을 수행하여 오토 포커스 시간이 증가되는 문제점이 발생하게 된다.
본 발명은 불필요한 탐색을 줄일 수 있어, 오토 포커스 시간을 단축할 수 있으며, 노이즈에 영향을 받지 않고 리프트 오프를 검출할 수 있는 것이다.
본 발명은,
카메라 모듈에서 제 1과 제 2 마커가 형성되어 있는 차트의 이미지를 촬영하는 단계와;
상기 촬영된 챠트의 이미지에서 제 1과 제 2 마커의 거리를 측정하는 단계와;
상기 측정된 제 1과 제 2 마커의 거리 변화가 있는지 여부를 판단하는 단계와;
상기 측정된 제 1과 제 2 마커의 거리 변화가 있는 경우, 렌즈 리프트 오프로 결정하는 단계를 포함하는 카메라 모듈의 렌즈 리프트 오프 검출 방법이 제공된다.
그리고, 본 발명의 일실시예는 상기 제 1과 제 2 마커의 거리는, 상기 제 1 마커의 중심점의 좌표 및 제 2 마커의 중심점의 좌표를 검출하여 측정된 제 1과 제 2 마커의 거리일 수 있다.
또, 상기 측정된 제 1과 제 2 마커의 거리 변화가 있는지 여부를 판단하는 단계는, 렌즈가 바닥면에 있을 때의 제 1과 제 2 마커의 거리를 기준으로, 상기 측정된 제 1과 제 2 마커의 거리가 변화가 있는지 여부를 판단하는 단계일 수 있다.
또한, 상기 렌즈 리프트 오프로 결정하는 것은, 상기 렌즈가 바닥면에 있을 때의 제 1과 제 2 마커의 거리에서 0.1% 이상의 변화가 있을 때, 상기 렌즈 리프트 오프로 결정하는 것일 수 있다.
게다가, 상기 제 1과 제 2 마커는, 사각형 마커, 십자형 마커, 원형 마커 중 하나일 수 있다.
본 발명은 렌즈가 리프트 오프(즉, 부상)하기 시작하는 전류 시작점인 DAC 위치를 검출하게 되어, 카메라 구동시 렌즈의 움직임이 없는 데드존(Dead Zone) 구간에 대한 불필요한 탐색을 줄일 수 있어, 오토 포커스 시간을 단축할 수 있는 효과가 있다.
또한, 본 발명은 정해진 피사체인 챠트를 촬영한 이미지의 마커들의 거리 변화에서 렌즈의 리프트 오프의 위치를 검출함으로써, 노이즈에 영향을 받지 않고 리프트 오프를 검출할 수 있는 효과가 있다.
더불어, 본 발명은 테스트 반복성에 유리한 효과가 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예의 카메라 모듈의 렌즈 리프트 오프(Lift off) 검출 방법의 흐름도
도 2는 본 발명의 일 실시예의 카메라 모듈의 렌즈 리프트 오프(Lift off) 검출 방법에 적용된 챠트의 일례를 도시한 평면도
도 3은 본 발명의 일 실시예의 카메라 모듈의 렌즈 리프트 오프(Lift off) 검출 방법에 적용된 챠트의 마커 거리를 측정하는 방법을 설명하기 위한 도면
도 4a 내지 도 4c는 본 발명의 일 실시예의 카메라 모듈의 렌즈 리프트 오프(Lift off) 검출 방법에 적용된 다양한 챠트를 도시한 평면도
도 5는 본 발명의 일 실시예의 카메라 모듈의 렌즈 리프트 오프(Lift off) 검출 방법에 적용된 카메라로 챠트를 촬영하는 것을 설명하기 위한 도면
도 6은 본 발명의 일 실시예의 방법에서 검출된 렌즈 리프트 오프의 지점을 설명하기 위한 그래프
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 설명하면 다음과 같다.
이 과정에서 도면에 도시된 구성요소의 크기나 형상 등은 설명의 명료성과 편의상 과장되게 도시될 수 있다. 또한, 본 발명의 구성 및 작용은 고려하여 특별히 정의된 용어들은 사용자, 운용자의 의도 또는 관례에 따라 달라질 수 있다. 이러한 용어들에 대한 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예의 카메라 모듈의 렌즈 리프트 오프(Lift off) 검출 방법의 흐름도이다.
본 발명의 일 실시예의 카메라 모듈의 렌즈 리프트 오프 검출 방법은 카메라 모듈에서 제 1과 제 2 마커가 형성되어 있는 차트의 이미지를 촬영한다.(S100단계)
이어서, 상기 촬영된 챠트의 이미지에서 제 1과 제 2 마커의 거리를 측정한다.(S110단계)
계속, 상기 측정된 제 1과 제 2 마커의 거리 변화가 있는지 여부를 판단한다.(S120단계)
여기서, 상기 제 1과 제 2 마커의 거리는 상기 제 1 마커의 중심점의 좌표 및 제 2 마커의 중심점의 좌표를 검출하여 측정된 제 1과 제 2 마커의 거리이다.
그리고, 상기 측정된 제 1과 제 2 마커의 거리 변화가 있는지 여부를 판단하는 'S120단계'는 렌즈가 바닥면에 있을 때의 제 1과 제 2 마커의 거리를 기준으로, 상기 측정된 제 1과 제 2 마커의 거리가 변화가 있는지 여부를 판단하는 것일 수 있다.
그 다음, 상기 측정된 제 1과 제 2 마커의 거리 변화가 있는 경우, 렌즈 리프트 오프로 결정한다.(S130단계)
또, 상기 렌즈 리프트 오프로 결정하는 것은, 상기 렌즈가 바닥면에 있을 때의 제 1과 제 2 마커의 거리에서 0.1% 이상의 변화가 있을 때, 상기 렌즈 리프트 오프로 결정한다.
따라서, 본 발명은 렌즈가 리프트 오프(즉, 부상)하기 시작하는 전류 시작점인 DAC 위치를 검출하게 되어, 카메라 구동시 렌즈의 움직임이 없는 데드존(Dead Zone) 구간에 대한 불필요한 탐색을 줄일 수 있어, 오토 포커스 시간을 단축할 수 있는 장점이 있다.
또한, 본 발명은 정해진 피사체인 챠트를 촬영한 이미지의 마커들의 거리 변화에서 렌즈의 리프트 오프의 위치를 검출함으로써, 노이즈에 영향을 받지 않고 리프트 오프를 검출할 수 있게 된다.
더불어, 본 발명은 테스트 반복성에 유리한 장점이 있다.
도 2는 본 발명의 일 실시예의 카메라 모듈의 렌즈 리프트 오프(Lift off) 검출 방법에 적용된 챠트의 일례를 도시한 평면도이고, 도 3은 본 발명의 일 실시예의 카메라 모듈의 렌즈 리프트 오프(Lift off) 검출 방법에 적용된 챠트의 마커 거리를 측정하는 방법을 설명하기 위한 도면이고, 도 4a 내지 도 4c는 본 발명의 일 실시예의 카메라 모듈의 렌즈 리프트 오프(Lift off) 검출 방법에 적용된 다양한 챠트를 도시한 평면도이다.
도 2에 도시된 바와 같이, 챠트(100)에는 제 1 마커(111)와; 상기 제 1 마커(111)로부터 이격되어 있는 제 2 마커(112)가 형성되어 있다.
즉, 본 발명은 제 1과 제 2 마커(111,112)의 거리 변화를 감지하여, 오토 포커스시 렌즈 리프트 오프를 검출하는 것이다.
이때, 도 3에 도시된 바와 같이, 제 1 마커(111)의 중심점(111a)의 좌표 및 제 2 마커(112)의 중심점(112a)의 좌표를 검출하여, 상기 제 1과 제 2 마커(111,112)의 거리를 측정함으로써, 상기 제 1과 제 2 마커(111,112)의 거리 변화를 감지하게 된다.
그리고, 상기 제 1과 제 2 마커(111,112)는 도 4a와 같이, 사각형 마커(121,122)로 구성하거나, 도 4b와 같이, 십자형 마커(131,132)로 구성할 수 있으며, 또한, 도 4c와 같이, 원형 마커(151,152)로도 적용할 수 있다.
도 5는 본 발명의 일 실시예의 카메라 모듈의 렌즈 리프트 오프(Lift off) 검출 방법에 적용된 카메라로 챠트를 촬영하는 것을 설명하기 위한 도면이고, 도 6은 본 발명의 일 실시예의 방법에서 검출된 렌즈 리프트 오프의 지점을 설명하기 위한 그래프이다.
전술된 바와 같이, 오토 포커스시, 카메라 모듈의 렌즈 리프트 오프는 카메라 모듈(200)로 상호 이격되어 있는 마커들이 형성되어 있는 챠트(100)를 도 5와 같이, 촬영하여 검출한다.
그리고, 오토 포커스를 위하여, 엑추에이터에 인가되는 전류에 해당하는 디지털 코드에 따라 마커 거리는 증가하게 된다.
즉, 도 6의 그래프와 같이, 마커 거리가 증가하는 지점 'A'가 렌즈의 리프트 오프 지점이 되는 것이다.
이상에서 본 발명에 따른 실시예들이 설명되었으나, 이는 예시적인 것에 불과하고, 당해 분야에서 통상적 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 범위의 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 다음의 특허청구범위에 의해서 정해져야 할 것이다.

Claims (5)

  1. 카메라 모듈에서 제 1과 제 2 마커가 형성되어 있는 차트의 이미지를 촬영하는 단계와;
    상기 촬영된 챠트의 이미지에서 제 1과 제 2 마커의 거리를 측정하는 단계와;
    상기 측정된 제 1과 제 2 마커의 거리 변화가 있는지 여부를 판단하는 단계와;
    상기 측정된 제 1과 제 2 마커의 거리 변화가 있는 경우, 렌즈 리프트 오프로 결정하는 단계를 포함하는 카메라 모듈의 렌즈 리프트 오프 검출 방법.
  2. 청구항 1에 있어서,
    상기 제 1과 제 2 마커의 거리는,
    상기 제 1 마커의 중심점의 좌표 및 제 2 마커의 중심점의 좌표를 검출하여 측정된 제 1과 제 2 마커의 거리인 카메라 모듈의 렌즈 리프트 오프 검출 방법.
  3. 청구항 1에 있어서,
    상기 측정된 제 1과 제 2 마커의 거리 변화가 있는지 여부를 판단하는 단계는,
    렌즈가 바닥면에 있을 때의 제 1과 제 2 마커의 거리를 기준으로, 상기 측정된 제 1과 제 2 마커의 거리가 변화가 있는지 여부를 판단하는 단계인 카메라 모듈의 렌즈 리프트 오프 검출 방법.
  4. 청구항 1에 있어서,
    상기 렌즈 리프트 오프로 결정하는 것은,
    상기 렌즈가 바닥면에 있을 때의 제 1과 제 2 마커의 거리에서 0.1% 이상의 변화가 있을 때, 상기 렌즈 리프트 오프로 결정하는 것인 카메라 모듈의 렌즈 리프트 오프 검출 방법.
  5. 청구항 1 내지 4 중 한 항에 있어서,
    상기 제 1과 제 2 마커는,
    사각형 마커, 십자형 마커, 원형 마커 중 하나인 카메라 모듈의 렌즈 리프트 오프 검출 방법.


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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2006228890A (ja) * 2005-02-16 2006-08-31 Nikon Corp 位置合わせ方法及び露光装置
KR101082048B1 (ko) * 2010-07-01 2011-11-10 엘지이노텍 주식회사 카메라 모듈의 오토 포커싱 탐색 범위 설정 방법

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