KR20130053826A - Apparatus for vapor deposition of organic thin film - Google Patents

Apparatus for vapor deposition of organic thin film Download PDF

Info

Publication number
KR20130053826A
KR20130053826A KR1020110119494A KR20110119494A KR20130053826A KR 20130053826 A KR20130053826 A KR 20130053826A KR 1020110119494 A KR1020110119494 A KR 1020110119494A KR 20110119494 A KR20110119494 A KR 20110119494A KR 20130053826 A KR20130053826 A KR 20130053826A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
glass substrate
thin film
organic thin
chamber
ion generating
Prior art date
Application number
KR1020110119494A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR101960364B1 (en
Inventor
이성배
이병성
이기조
변상군
이승혁
송종호
Original Assignee
엘지디스플레이 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 엘지디스플레이 주식회사 filed Critical 엘지디스플레이 주식회사
Priority to KR1020110119494A priority Critical patent/KR101960364B1/en
Publication of KR20130053826A publication Critical patent/KR20130053826A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR101960364B1 publication Critical patent/KR101960364B1/en

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/34Sputtering
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/02Pretreatment of the material to be coated
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/06Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the coating material
    • C23C14/12Organic material
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/225Oblique incidence of vaporised material on substrate
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/54Controlling or regulating the coating process
    • C23C14/541Heating or cooling of the substrates
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67155Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations
    • H01L21/67161Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations characterized by the layout of the process chambers
    • H01L21/67173Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations characterized by the layout of the process chambers in-line arrangement

Abstract

PURPOSE: An organic thin film deposition apparatus is provided to prevent the deterioration of a thin film by using an ion generation unit and a process chamber. CONSTITUTION: A load lock chamber provides a vacuum condition. A buffer chamber(130) stabilizes the vacuum condition. A process chamber(140) sputters an organic thin film on a glass substrate. A transfer chamber(150) transfers the glass substrate to the process chamber. A carrier part transfers and returns the glass substrate.

Description

유기 박막 증착장치{Apparatus for vapor deposition of organic thin film}[0001] The present invention relates to an apparatus for depositing an organic thin film,

본 발명은 유기 박막 증착장치에 관한 것으로서, 고온의 플라즈마에 의한 유리 기판의 열변형 또는 특성저하를 방지할 수 있는 유기 박막 증착장치에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an organic thin film deposition apparatus, and more particularly, to an organic thin film deposition apparatus capable of preventing thermal deformation or degradation of a glass substrate due to high-temperature plasma.

최근 개인용 컴퓨터, 휴대용 단말기 및 각종 휴대용 정보기기 등에 사용되는 영상 표시장치로 경량 박형의 평판 표시장치(Flat panel display)가 주로 사용되고 있다.Description of the Related Art [0002] Lightweight thin flat panel displays are widely used as image display devices used in personal computers, portable terminals, and various portable information devices.

이러한 평판 표시장치로는 액정 표시장치(Liquid crystal display), 발광 표시장치(Light emitting display), 플라즈마 표시패널((Plasma display), 전계방출 표시장치(Field emitting display) 등이 있다.Such flat panel display devices include a liquid crystal display, a light emitting display, a plasma display panel, and a field emission display.

여기서 상기 평판 표시장치들은 기판 상에 다수의 박막을 형성하는 박막 형성공정이 수행된다. 박막 형성공정은 다수의 박막들을 열 증착공정 또는 스퍼터링 공정 등을 수행하여 형성할 수 있는데, 특히 열 증착공정은 재료 이용효율이 낮고 두께가 균일하지 못하는 등의 문제가 있어 최근에는 스퍼터링 장치를 이용한 박막 형성공정이 수행되고 있다.Here, the flat panel display devices are subjected to a thin film forming process for forming a plurality of thin films on a substrate. In the thin film forming process, a plurality of thin films can be formed by performing a thermal deposition process, a sputtering process, or the like. Particularly, the thermal deposition process has problems such as low material utilization efficiency and uneven thickness. In recent years, Forming process is being carried out.

상기한 스퍼터링 장치는 진공 가능한 챔버와, 챔버 내부에서 기판을 고정하는 기판 플레이트와, 챔버 내부의 일측에 마련되는 타겟과, 타겟의 배면에서 타겟을 고정시키는 타겟 플레이트와, 마그넷 모듈 등을 구비한다. 여기서, 상기 타겟은 기판에 증착될 물질 예를 들어, 인듐주석산화물(ITO), 구리, 알루미늄, 몰리브덴 등이 될 수 있다.The above-described sputtering apparatus includes a vacuumable chamber, a substrate plate for fixing the substrate inside the chamber, a target provided on one side of the chamber, a target plate for fixing the target on the backside of the target, and a magnet module. Here, the target may be a material to be deposited on the substrate, for example, indium tin oxide (ITO), copper, aluminum, molybdenum, or the like.

상기와 같이 구성된 스퍼터링 장치는 외부전원에 의해 발생된 플라즈마 상에서 아르곤 등의 이온이 음전하의 타겟들에 고속으로 충돌하여 타겟들의 원자가 외부로 튀어나가서 기판에 증착되도록 한다.In the sputtering apparatus constructed as described above, ions of argon or the like collide with negative targets at high speed on a plasma generated by an external power source so that the atoms of the targets protrude out to be deposited on the substrate.

하지만, 상술한 종래의 스퍼터링 장치는 챔버 내부에서 형성되는 플라즈마에 의하여 이온 및 전자 충돌에 따라서 유기발광다이오드(OLED)에 열화현상이 발생하는 한계가 있다.However, in the above-described conventional sputtering apparatus, deterioration phenomenon occurs in the organic light emitting diode (OLED) due to ion and electron collision due to the plasma formed in the chamber.

또한 열화현상으로 인한 유기발광다이오드 소자의 성능 저하가 수반되어 제품 불량에 따른 문제점이 지적되고 있다.In addition, it is pointed out that a defect in the product occurs due to a deterioration of the performance of the organic light emitting diode device due to the deterioration phenomenon.

게다가 마그넷 모듈을 통한 자장이 강한 특정 영역, 즉 에로든 존(Eroden zone)에 의하여 타겟부의 일부만을 사용하고 폐기해야하는 비효율적인 장비운용의 문제점이 있다.In addition, there is a problem of inefficient use of the equipment, in which only a part of the target part is used and discarded due to a specific area where the magnetic field is strong through the magnet module, that is, the Eroden zone.

본 발명은 이와 같은 문제점을 해결하기 위한 유기 박막 증착장치에 관한 것으로서, 플라즈마에 의한 유기 박막의 특성 저하를 방지할 수 있도록 이온 발생유닛을 이용하는 유기 박막 증착장치를 제공하는데 그 목적이 있다.An object of the present invention is to provide an apparatus for depositing an organic thin film using an ion generating unit to prevent deterioration of characteristics of an organic thin film by plasma.

이와 같은 목적을 수행하기 위한 본 발명은 인라인 방식으로 이송된 유리 기판에 유기 박막을 증착시키는 유기 박막 증착장치에 있어서, 유리 기판을 공급 및 반출하는 로드/언로드부; 상기 로드/언로드부로부터 상기 유리 기판을 전달받아 유기 박막 증착공정을 위하여 진공상태를 제공하는 로드락 챔버; 상기 로드락 챔버로부터 제공되는 진공상태를 안정화 시키는 버퍼챔버; 이온 발생모듈을 구비하여 상기 버퍼챔버로부터 전달받은 상기 유리 기판 상에 유기 박막을 스퍼터링하는 프로세스 챔버; 상기 유기 박막이 형성된 상기 유리 기판을 상기 프로세스 챔버로 이송하는 트랜스퍼 챔버; 각각의 상기 챔버들 하측에 마련되어 상기 유리 기판을 이송 또는 반송하는 캐리어부를 포함하는 유기 박막 증착장치를 제공한다.According to an aspect of the present invention, there is provided an apparatus for depositing an organic thin film on a glass substrate transferred in an inline manner, the apparatus comprising: a load / unload unit for supplying and discharging a glass substrate; A load lock chamber for receiving the glass substrate from the load / unload portion and providing a vacuum state for the organic thin film deposition process; A buffer chamber for stabilizing a vacuum state provided from the load lock chamber; A process chamber having an ion generating module and sputtering an organic thin film on the glass substrate transferred from the buffer chamber; A transfer chamber for transferring the glass substrate on which the organic thin film is formed to the process chamber; And a carrier portion provided below each of the chambers for transporting or transporting the glass substrate.

상기 이온 발생모듈은 내부에서 플라즈마를 형성시켜 플라즈마 내 이온을 추출하여 가속시키는 이온발생부; 및 상기 이온발생부로부터 가속된 이온이 도달하는 타겟부를 포함할 수 있다.Wherein the ion generating module includes: an ion generating unit for generating a plasma inside and extracting ions in the plasma to accelerate the plasma; And a target portion to which accelerated ions from the ion generating portion reach.

상기 타겟부는 증착될 물질로 이루어지는 타겟부재와, 상기 타겟부재가 상기 유리 기판을 향하도록 각도를 조절하는 틸트부재를 포함할 수 있다.The target portion may include a target member made of a material to be deposited and a tilt member for adjusting the angle of the target member toward the glass substrate.

상기 틸트부재는 10 ~ 90° 범위의 회동각도를 조절할 수 있다.The tilt member can adjust the tilt angle in the range of 10 to 90 degrees.

상기 이온 발생모듈은 0.5kV ~ 4kV 범위의 전압이 인가될 수 있다.The ion generating module may be applied with a voltage ranging from 0.5 kV to 4 kV.

상기 이온 발생모듈은 10mA ~ 1A 범위의 전류가 인가될 수 있다.The ion generating module may be supplied with a current in a range of 10 mA to 1A.

상기 버퍼 챔버는 상기 프로세스 챔버에서 증착공정이 수행되기 전 상기 유리 기판을 예열할 수 있도록 제1히팅유닛을 포함할 수 있다.The buffer chamber may include a first heating unit to preheat the glass substrate before the deposition process is performed in the process chamber.

상기 트랜스퍼 챔버는 상기 프로세스 챔버에서 또 다른 증착공정이 수행되기 전 상기 유리 기판을 예열할 수 있도록 제2히팅유닛을 포함할 수 있다.The transfer chamber may include a second heating unit to preheat the glass substrate before another deposition process is performed in the process chamber.

본 발명에 따른 유기 박막 증착장치에 따르면,According to the organic thin film deposition apparatus of the present invention,

첫째, 이온 발생유닛을 사용하여 플라즈마에 의한 유기 박막의 열화 현상을 방지할 수 있고,First, deterioration of the organic thin film due to plasma can be prevented by using the ion generating unit,

둘째, 기존의 스퍼터에 장착되는 마그넷 모듈이 불필요하기 때문에 설비가 단순해지고,Second, since the magnet module mounted on the conventional sputter is unnecessary, the facility is simplified,

셋째, 타겟부의 사용 효율이 증가하여 타겟부에 대한 유지보수 비용을 절감할 수 있는 효과를 기대할 수 있다.Third, the use efficiency of the target portion increases, and the maintenance cost for the target portion can be reduced.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 유기 박막 증착장치를 개략적으로 나타내는 평면도이다.
도 2는 도 1에 나타낸 이온 발생모듈을 개략적으로 나타내는 측단면도이다.
도 3은 도 2에 나타낸 유리 기판 상에 x축으로 증착된 두께를 나타내는 그래프이다.
도 4는 도 2에 나타낸 유리 기판 상에 y축으로 증착된 두께를 나타내는 그래프이다.
1 is a plan view schematically showing an organic thin film deposition apparatus according to an embodiment of the present invention.
2 is a side sectional view schematically showing the ion generating module shown in Fig.
3 is a graph showing the thickness deposited on the x-axis on the glass substrate shown in Fig.
4 is a graph showing the thickness deposited on the y-axis on the glass substrate shown in Fig.

이하 첨부된 도면을 참조하면서 본 발명에 따른 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다. 이에 앞서 본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어나 단어는 통상적이거나 사전적인 의미로 한정해서 해석되어서는 아니 되며, 발명자는 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념을 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여, 본 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야만 한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. The terms and words used in the specification and claims should not be construed to be limited to ordinary or dictionary meanings, and the inventor should appropriately define the concept of the term to describe its invention in the best way possible It should be construed in the meaning and concept consistent with the technical idea of the present invention.

일반적으로 플라즈마(Plasma)를 이용하는 스퍼터링 기술은 반도체, LCD(Liquid Crystal Display), PDP(Plasma Display Panel), 프로젝션 티브이 (Projection TV) 등의 제조 분야에서 박막의 코팅에 보편적으로 이용되고 있으며, 기판의 로딩과 언로딩 방법에 따라 배치형(Batch Type), 인터백(Inter-Back)과 인라인(In-Line) 방식으로 구분하고 있다.Generally, a sputtering technique using a plasma is widely used for coating a thin film in a manufacturing field of a semiconductor, a liquid crystal display (LCD), a plasma display panel (PDP), a projection TV, It is divided into batch type, inter-back and in-line according to loading and unloading methods.

배치형 스퍼터링 방식은 증착챔버에 기판을 직접 로딩하여 기판의 표면에 박막을 형성한다. 인터백 스퍼터링은 증착챔버에 기판의 로딩 및 언로딩을 수행하는 서브챔버를 구비시키고, 서브 챔버에 의하여 기판을 로딩 및 언로딩시키면서 기판의 표면에 박막을 형성한다.In the batch type sputtering method, a substrate is directly loaded into a deposition chamber to form a thin film on the surface of the substrate. The inter-back sputtering has a sub-chamber for performing loading and unloading of a substrate into a deposition chamber, and a thin film is formed on the surface of the substrate while loading and unloading the substrate by the sub-chamber.

인라인 스퍼터링 방식은 증착챔버에 로딩 챔버와 언로딩 챔버를 인라인으로 배치시키고, 로딩 챔버에 의하여 기판을 로딩시킨 후 기판의 표면에 박막의 코팅을 수행한 후 언로딩 챔버에 의하여 기판을 로딩시킨다. 한편, LCD와 PDP 등의 제조 분야에서는 유리기판의 표면에 절연막으로 실리카(SiO2)막과 도전막으로 ITO(Indium Tin Oxide)막을 연속적으로 코팅하기 위하여 인라인 스퍼터링을 이용하고 있다.In the inline sputtering method, a loading chamber and an unloading chamber are placed in a deposition chamber in an inline manner, a substrate is loaded by a loading chamber, a thin film is coated on a surface of the substrate, and the substrate is loaded by an unloading chamber. Meanwhile, in the manufacturing fields of LCD and PDP, in-line sputtering is used for continuously coating a silica (SiO2) film as an insulating film on the surface of a glass substrate and an ITO (Indium Tin Oxide) film as a conductive film.

본 발명에 따른 유기 박막 증착장치는 상기한 배치형 스퍼터링 방식의 증착도 가능하지만 인라인 스퍼터링 방식으로 이루어지는 것이 보다 바람직하다. 따라서 이하에서는 인라인 스퍼터링 방식을 기초로 설명한다.The apparatus for depositing an organic thin film according to the present invention can deposit the above-described batch-type sputtering method, but it is more preferable that it is formed by an in-line sputtering method. Therefore, the following description will be made on the basis of the in-line sputtering method.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 유기 박막 증착장치(100)를 개략적으로 나타내는 평면도이고, 도 2는 도 1에 나타낸 이온 발생모듈(141)을 개략적으로 나타내는 측단면도이다.FIG. 1 is a plan view schematically showing an organic film deposition apparatus 100 according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a side sectional view schematically showing the ion generating module 141 shown in FIG.

상기 유기 박막 증착장치(100)는 유리 기판(10)을 공급 및 반출하는 로드/언로드부(110)와, 진공상태를 제공하는 로드락 챔버(120)와, 상기 로드락 챔버(120)로부터 제공되는 진공상태를 안정화 시키는 버퍼챔버(130)와, 상기 유리 기판(10) 상에 유기 박막(11)을 스퍼터링하는 공정이 이루어지는 프로세스 챔버(140)와, 상기 유기 박막(11)이 형성된 상기 유리 기판(10)을 반송하는 트랜스퍼 챔버(150) 및 각각의 상기 챔버들에 상기 유리 기판(10)을 이송 또는 반송하는 캐리어부(160)를 포함한다.The organic film deposition apparatus 100 includes a load / unload unit 110 for supplying and discharging a glass substrate 10, a load lock chamber 120 for providing a vacuum state, A process chamber 140 in which a process of sputtering an organic thin film 11 is performed on the glass substrate 10 and a process chamber 140 in which the organic thin film 11 is formed, A transfer chamber 150 for transferring the glass substrate 10, and a carrier unit 160 for transferring or transporting the glass substrate 10 to each of the chambers.

상기 로드/언로드부(110)는 상기 유리 기판(10)의 로딩(loading) 및 언로딩(unloading)이 이루어진다. 상기 유리 기판(10)은 상기 캐리어부(160) 상에 안착되며, 상기 캐리어부(160)는 케이블 또는 베어 등과 같은 이송 수단(미도시)의 회전에 의해 상기 유리 기판(10)을 로드락 챔버(120)로 이송한다.The loading / unloading unit 110 loads and unloads the glass substrate 10. The glass substrate 10 is seated on the carrier 160 and the carrier 160 is rotated by the rotation of a conveying means such as a cable or a bare such that the glass substrate 10 is placed in the load- (120).

여기서, 상기 캐리어부(160) 상의 상기 유리 기판(10) 이송속도에 따라서 유기 박막(11)의 증착 속도 및 유기 박막(11)의 두께를 조절할 수 있다.Here, the deposition rate of the organic thin film 11 and the thickness of the organic thin film 11 can be controlled according to the conveyance speed of the glass substrate 10 on the carrier part 160.

상기 로드락 챔버(120)는 상기 로드/언로드부(110)와 상기 트랜스퍼 챔버(150) 사이에서 상기 유리 기판(10)을 이송한다. 즉, 상기 로드락 챔버(120)는 상기 로드/언로드부(110)로부터 상기 유리 기판(10)이 이송되면, 진공펌프(미도시)를 통해 내부가 감압되고, 이때 대기압 상태에서 저진공 상태로 된다.The load lock chamber 120 transfers the glass substrate 10 between the load / unload portion 110 and the transfer chamber 150. That is, when the glass substrate 10 is transferred from the load / unload unit 110 to the load lock chamber 120, the inside of the load lock chamber 120 is depressurized through a vacuum pump (not shown) do.

또한, 상기 로드락 챔버(120)는 증착이 완료된 상기 유리 기판(10)을 상기 로드/언로드부(110)로 이송한다.In addition, the load lock chamber 120 transfers the glass substrate 10 having been deposited to the load / unload portion 110.

상기 버퍼 챔버(130)는 적어도 하나 이상의 또 다른 진공펌프(미도시)를 구비하여 중진공 상태가 되며, 상기 프로세스 챔버(140)로 상기 유리 기판(10)이 이송되기 전에 각각의 챔버와 챔버 사이에 형성되는 압력차에 의한 완충 기능을 담당한다.The buffer chamber 130 is provided with at least one or more vacuum pumps (not shown) to be in a medium vacuum state and is arranged between each of the chambers and the chamber before the glass substrate 10 is transferred to the process chamber 140 And is responsible for buffering by the pressure difference formed.

또한 상기 버퍼 챔버(130)는 증착 공정이 완료된 상기 유리 기판(10)을 상기 로드락 챔버(120)로 반송하는 기능을 가지며, 상기 프로세스 챔버(140)로 이송되어 증착공정이 이루어지기 전에 상기 유리 기판(10)을 예열하여 유기 박막(11)의 증착 공정 시 증착 효율을 높히기 위한 제1히팅유닛(131)이 상기 버퍼 챔버(130) 내부에 마련된다.The buffer chamber 130 has a function of transporting the glass substrate 10 having been subjected to the deposition process to the load lock chamber 120 and is transferred to the process chamber 140, A first heating unit 131 is provided in the buffer chamber 130 for preheating the substrate 10 to increase the deposition efficiency in the deposition process of the organic thin film 11. [

상기 제1히팅유닛(131)은 예컨대 상기 유리 기판(10)의 이송 방향을 따라서 형성되는 복수의 열선으로 이루어진다. 상기 복수의 열선 각각은 개별적으로 제어가 가능하므로 상기 유리 기판(10)의 예열 온도를 최대 250℃로 조절할 수 있다. 이러한 상기 제1히팅유닛(131)을 통하여 예열된 상기 유리 기판(10)은 상기 프로세스 챔버(140)로 이송된다.The first heating unit 131 is formed of a plurality of heating wires formed along the feeding direction of the glass substrate 10, for example. Since each of the plurality of heat lines can be individually controlled, the preheating temperature of the glass substrate 10 can be controlled to 250 ° C at the maximum. The glass substrate 10 preheated through the first heating unit 131 is transferred to the process chamber 140.

상기 프로세스 챔버(140)는 상기 유리 기판(10) 상에 상기 유기 박막(11)의 스퍼터링을 위한 이온 발생모듈(141)을 포함한다.The process chamber 140 includes an ion generating module 141 for sputtering the organic thin film 11 on the glass substrate 10.

상기 이온 발생모듈(141)은 내부에서 플라즈마가 형성되어 플라즈마 내 이온을 추출하여 가속시키는 이온발생부(142)와, 상기 이온발생부(142)로부터 추출된 이온이 도달하는 타겟부(144)를 포함한다.The ion generating module 141 includes an ion generating part 142 that generates plasma and generates ions to be extracted and accelerated by the plasma and a target part 144 to which ions extracted from the ion generating part 142 reach .

상기 타겟부(144)는 증착될 물질로 이루어지는 타겟부재(145)와, 상기 타겟부재(145)가 상기 유리 기판(10)을 향하도록 각도를 조절하는 틸트부재(146)를 포함한다.The target portion 144 includes a target member 145 made of a material to be vapor deposited and a tilt member 146 configured to adjust the angle of the target member 145 toward the glass substrate 10.

상기 이온발생부(142)는 외부로부터 전원이 공급되고, 공정가스가 공급되면 내부에서 플라즈마가 형성되며, 형성된 플라즈마 내 이온은 전압에 의해 추출되고, 상기 타겟부(144)를 향하여 가속되게 된다.When the process gas is supplied, a plasma is formed inside the ion generating part 142. The ions in the plasma are extracted by the voltage and accelerated toward the target part 144.

이때 가속된 이온은 상기 타겟부(144)에 마련된 상기 타겟부재(145)에 충돌하게 되며, 상기 타겟부재(145)의 전면에 걸쳐 형성되는 타겟물질을 스퍼터링하게 된다.At this time, the accelerated ions collide with the target member 145 provided on the target portion 144, and the target material formed over the entire surface of the target member 145 is sputtered.

그리고 상기 유리 기판(10)은 상기 캐리어에 장착된 상태에서 설정 속도를 유지하여 이송되면서 상기 타겟부(144)로부터 스퍼터링된 상기 타겟물질이 증착된다.Then, the target material sputtered from the target portion 144 is deposited while the glass substrate 10 is being transferred while maintaining a set velocity in a state where the glass substrate 10 is mounted on the carrier.

이때 상기 유리 기판(10)의 이송속도는 상기 타겟물질의 증착두께와 비례하여 증가하게 되고, 상기 타겟부(144)가 이온을 조사하는 방향으로 증착영역이 형성되며, 상기 유리 기판(10) 상에서 x축 및 y축으로 균일한 두께를 갖도록 증착공정이 수행될 수 있다.At this time, the transporting speed of the glass substrate 10 is increased in proportion to the deposition thickness of the target material, the deposition region is formed in the direction in which the target portion 144 irradiates ions, the deposition process can be performed so as to have a uniform thickness on the x-axis and the y-axis.

따라서 상기 유리 기판(10) 상에 증착되는 유기 박막(11)과 상기 이온발생부(142)에서 형성되는 플라즈마와의 공간을 분리함으로써 상기 유기 박막(11)이 플라즈마 상태에 직접 노출되는 것을 방지함에 따라서 플라즈마 내 이온과 전자가 상기 유기 박막(11)과 충돌하는 것을 원천적으로 차단하여 아르곤(Ar)이온이 상기 타겟물질과 충돌한 후 반사되어 상기 유기 박막(11)과 재충돌하는 것을 방지할 뿐만 아니라, 플라즈마에 의해 상기 유기 박막(11)이 열화되면서 손상되는 것을 방지할 수 있는 효과가 있다.Therefore, by separating the space between the organic thin film 11 deposited on the glass substrate 10 and the plasma formed by the ion generating part 142, the organic thin film 11 is prevented from being directly exposed to the plasma state Therefore, it is possible to prevent the collision of ions and electrons in the plasma with the organic thin film 11, thereby preventing the argon (Ar) ions from being collided with the organic thin film 11 after being collided with the target material, However, it is possible to prevent the organic thin film 11 from being damaged by deterioration due to plasma.

상기 틸트부재(146)는 상기 유리 기판(10)의 진행방향을 따라서 10 ~ 90° 범위로 회동이 가능하며, 이때 회동각도는 수동 또는 자동으로 구동할 수 있다. 이때 상기 틸트부재(146)는 45°의 설정 각도를 유지하도록 설정되는 것이 바람직하다.The tilt member 146 can be rotated in the range of 10 to 90 degrees along the traveling direction of the glass substrate 10, and the rotation angle can be manually or automatically driven. At this time, the tilt member 146 is preferably set to maintain a set angle of 45 °.

여기서 상기 이온 발생모듈(141)은 0.5kV ~ 4kV 범위의 전압이 인가되고, 또한 상기 이온 발생모듈(141)은 10mA ~ 1A 범위의 전류가 인가되는 것이 바람직하다.It is preferable that a voltage in the range of 0.5 kV to 4 kV is applied to the ion generating module 141 and a current in the range of 10 mA to 1 A is applied to the ion generating module 141.

상기 트랜스퍼 챔버(150)는 유기 박막(11)이 증착된 상기 유리 기판(10)을 상기 프로세스 챔버(140)로 재이송하는 기능을 갖는다. 여기서 상기 프로세스 챔버(140)에서 또 다른 증착 및 코팅공정이 수행될 수도 있고, 또한 별도의 공정 없이 상기 버퍼 챔버(130)와 로드락 챔버(120)를 거쳐 상기 로드/언로드부(110)를 통하여 반출될 수도 있다.The transfer chamber 150 has a function of transferring the glass substrate 10 having the organic thin film 11 deposited thereon to the process chamber 140 again. Another deposition and coating process may be performed in the process chamber 140 and may be performed through the load / unload unit 110 through the buffer chamber 130 and the load lock chamber 120 without any additional process. It may be exported.

여기서 상기 트랜스퍼 챔버(150)는 상기 프로세스 챔버(140)에서 또 다른 증착공정이 진행되기 전 상기 유리 기판(10)을 예열할 수 있도록 하는 제2히팅유닛(151)을 포함한다. 상기 제2히팅유닛(151)은 전기한 상기 제1히팅유닛(131)과 유사한 구성으로 마련될 수 있다.The transfer chamber 150 includes a second heating unit 151 for preheating the glass substrate 10 before another deposition process is performed in the process chamber 140. The second heating unit 151 may be provided in a configuration similar to that of the first heating unit 131.

또한 상기 프로세스 챔버(140) 내부에는 별도의 냉각유닛(미도시)을 탑재하여 플라즈마에서 유입되는 에너지가 장시간 가해지면서 축적된 열에너지를 냉각시키고, 내부에 잔류하는 수분 등을 제거할 수 있다.
In addition, a separate cooling unit (not shown) is installed in the process chamber 140 to cool the accumulated heat energy for a long period of time, so that moisture and the like remaining in the process chamber 140 can be removed.

이하에서는 도면을 참조하여 본 발명의 일 실시예에 따른 유기 박막 증착장치(100)의 작용효과에 대하여 설명한다.Hereinafter, the operation and effect of the organic film deposition apparatus 100 according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

도 3은 도 2에 나타낸 유리 기판(10) 상에 x축으로 증착된 두께를 나타내는 그래프이고, 도 4는 도 2에 나타낸 유리 기판(10) 상에 y축으로 증착된 두께를 나타내는 그래프이다. 이하에서 전기한 참조부호와 동일한 참조부호는 동일한 구성요소를 나타낸다.3 is a graph showing the thickness deposited on the x-axis on the glass substrate 10 shown in Fig. 2, and Fig. 4 is a graph showing the thickness deposited on the y-axis on the glass substrate 10 shown in Fig. Hereinafter, the same reference numerals as those used in the following description denote the same elements.

도 1 내지 도 4를 참조하면, 상기 유리 기판(10)이 상기 캐리어부(160) 상에서 정지한 상태에서, 상기 유리 기판(10)의 상면에 유기 박막(11)이 증착된 두께를 나타낸다.1 to 4, the thickness of the organic thin film 11 deposited on the upper surface of the glass substrate 10 in a state where the glass substrate 10 is stationary on the carrier unit 160 is shown.

도 3은 상기 유리 기판(10)이 전후방향으로 이송하는 방향 즉, x축의 증착 두께를 나타낸다. 상기 x축의 증착두께의 균일도는 약 21.9%로 나타났으며, 이는 상기 캐리어부(160)가 정지한 상태에서 측정한 값이기 때문에 상기 캐리어부(160)가 구동 중에는 보다 낮은 수치를 갖기 때문에 비교적 균일한 두께를 갖을 것이라 예상된다.Fig. 3 shows the deposition thickness of the x-axis in the direction in which the glass substrate 10 is transported in the anteroposterior direction. The uniformity of the x-axis deposition thickness was found to be about 21.9%, which is a value measured in a state where the carrier section 160 is stopped. Therefore, since the carrier section 160 has a lower value during driving, It is expected to have a thickness.

도 4는 상기 유리 기판(10)의 y축 의 증착 두께로 즉, 상기 이온 발생부(142)의 가로 길이방향으로 증착된 두께를 나타낸다. 상기 y축의 증착두께의 균일도는 중앙 영역의 약 600mm에 대하여 2.1%의 우수한 결과를 나타낸다.4 shows the deposition thickness of the y-axis of the glass substrate 10, that is, the thickness deposited in the transverse direction of the ion generating portion 142. As shown in Fig. The uniformity of the deposition thickness on the y-axis shows an excellent result of 2.1% with respect to the center area of about 600 mm.

따라서 상기 이온발생부(142)에서 형성되는 플라즈마와 상기 유기 박막(11)이 배치되는 공간을 분리하여 상기 유기 박막(11)이 플라즈마에 직접 노출되는 것을 방지하기 때문에 플라즈마 내 이온과 전자가 상기 유기 박막(11)과 충돌하는 것을 방지하고, 또한 상기 유기 박막(11)이 플라즈마에 의해 열화되면서 손상되는 것을 방지할 수 있는 효과를 기대할 수 있다.Therefore, since the plasma generated in the ion generating part 142 and the space in which the organic thin film 11 is disposed are separated to prevent the organic thin film 11 from being directly exposed to the plasma, It is possible to prevent the organic thin film 11 from colliding with the thin film 11 and to prevent the organic thin film 11 from being damaged by deterioration due to the plasma.

게다가 종래 스퍼터 장비와 같이 마그넷 모듈을 사용할 필요가 없어, 이에 따른 제작비용이 감소하고, 또한 상기 타겟부(144)를 효율적으로 사용할 수 있는 효과가 있다.In addition, there is no need to use a magnet module as in the conventional sputtering equipment, thereby reducing the manufacturing cost and effectively using the target portion 144.

본 발명은 도면에 도시된 실시예를 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 다른 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의하여 정해져야 할 것이다.While the present invention has been described with reference to exemplary embodiments, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed exemplary embodiments, but, on the contrary, is intended to cover various modifications and equivalent arrangements included within the spirit and scope of the appended claims. Accordingly, the true scope of the present invention should be determined by the technical idea of the appended claims.

100 : 유기 박막 증착장치 110 : 로드/언로드부
120 : 로드락 챔버 130 : 버퍼 챔버
140 :프로세스 챔버 141 : 이온 발생모듈
142 : 이온 발생부 144 : 타겟부
145 : 타겟부재 146 : 틸트부재
150 : 트랜스퍼 챔버 160 : 캐리어부
10 : 유리 기판 11 : 유기 박막
100: organic thin film deposition apparatus 110: load / unload unit
120: load lock chamber 130: buffer chamber
140: process chamber 141: ion generating module
142: ion generator 144:
145: target member 146: tilt member
150: Transfer chamber 160: Carrier part
10: glass substrate 11: organic thin film

Claims (8)

인라인 방식으로 이송된 유리 기판에 유기 박막을 증착시키는 유기 박막 증착장치에 있어서,
유리 기판을 공급 및 반출하는 로드/언로드부;
상기 로드/언로드부로부터 상기 유리 기판을 전달받아 유기 박막 증착공정을 위하여 진공상태를 제공하는 로드락 챔버;
상기 로드락 챔버로부터 제공되는 진공상태를 안정화 시키는 버퍼챔버;
이온 발생모듈을 구비하여 상기 버퍼챔버로부터 전달받은 상기 유리 기판 상에 유기 박막을 스퍼터링하는 프로세스 챔버;
상기 유기 박막이 형성된 상기 유리 기판을 상기 프로세스 챔버로 이송하는 트랜스퍼 챔버; 및
각각의 상기 챔버들 하측에 마련되어 상기 유리 기판을 이송 또는 반송하는 캐리어부;
를 포함하는 유기 박막 증착장치.
An organic thin film deposition apparatus for depositing an organic thin film on a glass substrate transferred in an inline manner,
A rod / unload section for feeding and unloading the glass substrate;
A load lock chamber for receiving the glass substrate from the load / unload portion and providing a vacuum state for the organic thin film deposition process;
A buffer chamber for stabilizing a vacuum state provided from the load lock chamber;
A process chamber having an ion generating module and sputtering an organic thin film on the glass substrate transferred from the buffer chamber;
A transfer chamber for transferring the glass substrate on which the organic thin film is formed to the process chamber; And
A carrier portion provided below each of the chambers and adapted to transport or convey the glass substrate;
And an organic thin film deposition apparatus.
청구항 1에 있어서,
상기 이온 발생모듈은,
상기 이온 발생모듈은 내부에서 플라즈마를 형성시켜 플라즈마 내 이온을 추출하여 가속시키는 이온발생부; 및
상기 이온발생부로부터 가속된 이온이 도달하는 타겟부;
를 포함하는 유기 박막 증착장치.
The method according to claim 1,
The ion generating module includes:
Wherein the ion generating module includes: an ion generating unit for generating a plasma inside and extracting ions in the plasma to accelerate the plasma; And
A target portion through which ions accelerated from the ion generating portion reach;
And an organic thin film deposition apparatus.
청구항 2에 있어서,
상기 타겟부는,
증착될 물질로 이루어지는 타겟부재와, 상기 타겟부재가 상기 유리 기판을 향하도록 각도를 조절하는 틸트부재를 포함하는 유기 박막 증착장치.
The method of claim 2,
The target portion,
A target member made of a material to be deposited; and a tilt member for adjusting the angle of the target member toward the glass substrate.
청구항 3에 있어서,
상기 틸트부재는 10 ~ 90° 범위의 회동각도를 조절할 수 있는 유기 박막 증착장치.
The method of claim 3,
Wherein the tilt member is capable of adjusting a rotation angle in a range of 10 to 90 degrees.
청구항 2 내지 청구항 4 중 어느 한 청구항에 있어서,
상기 이온 발생모듈은 0.5kV ~ 4kV 범위의 전압이 인가되는 유기 박막 증착장치.
The method according to any one of claims 2 to 4,
Wherein the ion generating module is applied with a voltage in a range of 0.5 kV to 4 kV.
청구항 2 내지 청구항 4 중 어느 한 청구항에 있어서,
상기 이온 발생모듈은 10mA ~ 1A 범위의 전류가 인가되는 유기 박막 증착장치.
The method according to any one of claims 2 to 4,
Wherein the ion generating module is supplied with a current in a range of 10 mA to 1 A.
청구항 1 내지 청구항 4 중 어느 한 청구항에 있어서,
상기 버퍼 챔버는,
상기 프로세스 챔버에서 증착공정이 수행되기 전 상기 유리 기판을 예열할 수 있도록 제1히팅유닛을 포함하는 유기 박막 증착장치.
The method according to any one of claims 1 to 4,
The buffer chamber includes:
And a first heating unit for preheating the glass substrate before the deposition process is performed in the process chamber.
청구항 1 내지 청구항 4 중 어느 한 청구항에 있어서,
상기 트랜스퍼 챔버는,
상기 프로세스 챔버에서 또 다른 증착공정이 수행되기 전 상기 유리 기판을 예열할 수 있도록 제2히팅유닛을 포함하는 유기 박막 증착장치.
The method according to any one of claims 1 to 4,
Wherein the transfer chamber comprises:
And a second heating unit for preheating the glass substrate before another deposition process is performed in the process chamber.
KR1020110119494A 2011-11-16 2011-11-16 Apparatus for vapor deposition of organic thin film KR101960364B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020110119494A KR101960364B1 (en) 2011-11-16 2011-11-16 Apparatus for vapor deposition of organic thin film

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020110119494A KR101960364B1 (en) 2011-11-16 2011-11-16 Apparatus for vapor deposition of organic thin film

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20130053826A true KR20130053826A (en) 2013-05-24
KR101960364B1 KR101960364B1 (en) 2019-03-21

Family

ID=48662973

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020110119494A KR101960364B1 (en) 2011-11-16 2011-11-16 Apparatus for vapor deposition of organic thin film

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101960364B1 (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20140101048A (en) * 2013-02-07 2014-08-19 주식회사 원익아이피에스 Object Transfer System and Initialization Method for Positioning of Carrier Therefor
KR20200007578A (en) * 2018-07-13 2020-01-22 주식회사 에스에프에이 Display glass deposition system and method therefor
KR20220048141A (en) * 2020-10-12 2022-04-19 한국에너지기술연구원 In-line sputtering system

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20000041638A (en) * 1998-12-23 2000-07-15 신현준 Method for sputtering high vacuum magnetron using ion beam
KR20040063002A (en) * 2001-12-21 2004-07-09 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 Self-ionized and inductively-coupled plasma for sputtering and resputtering
KR20070063930A (en) * 2005-12-16 2007-06-20 엘지.필립스 엘시디 주식회사 Process apparatus
KR20110009553A (en) * 2009-07-22 2011-01-28 주식회사 티엔텍 Sputtering system

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20000041638A (en) * 1998-12-23 2000-07-15 신현준 Method for sputtering high vacuum magnetron using ion beam
KR20040063002A (en) * 2001-12-21 2004-07-09 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 Self-ionized and inductively-coupled plasma for sputtering and resputtering
KR20070063930A (en) * 2005-12-16 2007-06-20 엘지.필립스 엘시디 주식회사 Process apparatus
KR20110009553A (en) * 2009-07-22 2011-01-28 주식회사 티엔텍 Sputtering system

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20140101048A (en) * 2013-02-07 2014-08-19 주식회사 원익아이피에스 Object Transfer System and Initialization Method for Positioning of Carrier Therefor
KR20200007578A (en) * 2018-07-13 2020-01-22 주식회사 에스에프에이 Display glass deposition system and method therefor
KR20220048141A (en) * 2020-10-12 2022-04-19 한국에너지기술연구원 In-line sputtering system

Also Published As

Publication number Publication date
KR101960364B1 (en) 2019-03-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101174154B1 (en) sputtering apparatus
US20150136585A1 (en) Method for sputtering for processes with a pre-stabilized plasma
EP1905865A1 (en) Sputtering apparatus and method for manufacturing transparent conducting film
JPWO2008149891A1 (en) Deposition equipment
KR101960364B1 (en) Apparatus for vapor deposition of organic thin film
KR20150088306A (en) Thin substrate processing device
JP2015007263A (en) Organic device manufacturing device and organic device manufacturing method
WO2018141366A1 (en) Substrate carrier and method of processing a substrate
JP2012102384A (en) Magnetron sputtering apparatus
KR20110024222A (en) Target module and sputtering apparatus
JP2019519673A (en) Method for coating a substrate, and coater
WO2018141367A1 (en) Method of processing a substrate and substrate carrier for holding a substrate
KR102123455B1 (en) Sputtering apparatus and method for sputtering of oxide semiconductor material
KR101430653B1 (en) Inline sputtering apparatus
KR20090131453A (en) Sputtering device and multi chamber using the same
US6620298B1 (en) Magnetron sputtering method and apparatus
JP2006291308A (en) Film deposition system and film deposition method
KR20190005929A (en) Method and apparatus for vacuum processing
CN117821910A (en) Apparatus for material deposition on a substrate in a vacuum deposition process, system for sputter deposition on a substrate and method of manufacturing an apparatus for material deposition on a substrate
KR100848335B1 (en) Apparatus for evaporation by use of Mirror Shape Target Sputter and Method for evaporation by use the same
TW202117041A (en) Method of depositing a material on a substrate, controller, system for depositing a material
KR101277068B1 (en) In-line Sputtering System
US9303312B2 (en) Film deposition apparatus with low plasma damage and low processing temperature
KR102081597B1 (en) Sputtering apparatus and method for sputtering of oxide semiconductor material
KR102617710B1 (en) Substrate treatment apparatus

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
AMND Amendment
E902 Notification of reason for refusal
AMND Amendment
E601 Decision to refuse application
AMND Amendment
X701 Decision to grant (after re-examination)
GRNT Written decision to grant