KR20130037192A - Preparation method of poly-urethane mounting pad - Google Patents

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Abstract

PURPOSE: A method for manufacturing a polyurethane support pad is provided to uniformly perform a polishing process with high efficiency and to uniformize a thickness, pressure, or tension in a pad region. CONSTITUTION: A resin composition with polyurethane resins and DMF solvents is wet-congealed. A wet congelation is cleaned and dried. The surface of the wet congelation is polished. An adhesive layer is formed on the surface of the polished wet congelation. The wet congelation with an adhesive layer is thermally treated.

Description

폴리우레탄 지지 패드의 제조 방법{PREPARATION METHOD OF POLY-URETHANE MOUNTING PAD}Manufacturing method of polyurethane support pad {PREPARATION METHOD OF POLY-URETHANE MOUNTING PAD}

본 발명은 폴리우레탄 지지 패드의 제조 방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 제조 공정에서 발생할 수 있는 제품 불량을 최소화 할 수 있으며, 제조되는 패드 전체 영역에서 보다 균일한 두께, 압력 분포 또는 장력 분포 등을 나타나게 할 수 있으며, 보다 균일하고 높은 효율의 연마를 구현할 수 있는 폴리우레탄 지지 패드의 제조 방법에 관한 것이다. The present invention relates to a method for manufacturing a polyurethane support pad, and more particularly, to minimize product defects that may occur in the manufacturing process, and to provide a more uniform thickness, pressure distribution, or tension distribution in the entire pad to be manufactured. The present invention relates to a method for producing a polyurethane support pad, which can be shown, and which can realize more uniform and high efficiency polishing.

고집적도를 요구하는 반도체 장치 또는 디스플레이 장치에 사용 되는 기판은 미세하고 정밀한 표면이 요구되기 때문에 다양한 평탄화 방법이 적용되고 있다. 특히, 반도체 소자 또는 디스플레이 장치의 고집적화 및 고성능화 추세에 따라, 연마 패드와 피연마체 사이에 연마 입자 및 다양한 화학 성분을 포함하는 슬러리 조성물을 공급하면서, 연마 패드와 피연마체를 상대적으로 이동시켜 연마 하는 방법이 일반적으로 사용되고 있다. 이러한 연마 방법에서는 보다 정밀한 연마를 위해서 연마 또는 가공 과정에서 일정한 위치와 자세를 유지할 수 있도록 상기 피연마체를 일정한 지지 패드 상에 고정시키고 있다. Since a substrate used in a semiconductor device or a display device requiring high integration requires a fine and precise surface, various planarization methods have been applied. In particular, according to a trend toward higher integration and higher performance of semiconductor devices or display devices, a method of relatively moving the polishing pad and the polished body while supplying a slurry composition including the abrasive particles and various chemical components between the polishing pad and the polished body is performed. This is commonly used. In such a polishing method, the polished body is fixed on a constant support pad so as to maintain a constant position and posture during polishing or processing for more accurate polishing.

특히, 디스플레이용 유리 기판으로 사용되기 위해서는 유리 기판 표면의 거칠기(roughness) 및 위치별 단차 차이(TTV)가 주요 관리 인자이며, 서브 마이크론(sub-micron) 내지 수십 마이크론 범위 내에서 조절이 가능하여야 한다. 또한, waviness를 40nm수준으로 관리하여야 하며, 특히 TFT용 유리 기판으로 적용하기 위해서는 20nm 내외의 waviness 관리가 필요하다. In particular, in order to be used as a glass substrate for a display, the roughness of the surface of the glass substrate and the difference in position difference (TTV) are the main management factors, and they must be adjustable within a range of sub-microns to several tens of microns. . In addition, the waviness must be managed at the level of 40 nm, and in particular, the waviness management of about 20 nm is required to be applied as a glass substrate for TFT.

이러한 세밀한 연마가 가능하기 위해서는 연마 공정의 조건 및 장치의 조절뿐만 아니라, 사용되는 지지 패드가 높은 압축율 및 압축 회복율을 가져야 하며, 지지 패드 전영역에 걸쳐서 보다 균일한 두께, 압력 분포 및 장력 분포를 가져야 한다. In order to achieve such fine grinding, in addition to adjusting the conditions and apparatus of the polishing process, the support pad used must have a high compression ratio and a recovery rate, and a more uniform thickness, pressure distribution, and tension distribution over the entire support pad area. do.

그러나, 이전에 알려진 지지 패드는 내부에 형성된 기포가 분균일한 크기 및 분포를 나타내어 압축율 및 압축 회복율 등의 물성도 좋지 않았을 뿐만 아니라, 지지 패드 전영역에 걸쳐서 균일한 물성을 갖지 못하여, 보다 균일하고 세밀한 연마가 요구되는 분야, 예를 들어 디스플레이용 유리 기판의 연마에 적용하기에는 충분하지 못하였다. However, the previously known support pads have a uniform size and distribution of bubbles formed therein, resulting in poor physical properties such as compression rate and compression recovery rate, as well as no uniform physical properties over the entire support pad area. It has not been sufficient for applications where finer polishing is required, for example polishing of glass substrates for displays.

본 발명은, 제조 공정에서 발생할 수 있는 제품 불량을 최소화 할 수 있으며, 제조되는 패드 전체 영역에서 보다 균일한 두께, 압력 분포 또는 장력 분포 등을 나타나게 할 수 있으며, 보다 균일하고 높은 효율의 연마를 구현할 수 있는 폴리우레탄 지지 패드의 제조 방법을 제공하기 위한 것이다. The present invention can minimize product defects that may occur in the manufacturing process, can exhibit a more uniform thickness, pressure distribution or tension distribution in the entire area of the pad to be manufactured, and can realize more uniform and high efficiency polishing. It is to provide a method for producing a polyurethane support pad that can be.

본 발명은, 폴리우레탄 수지 및 DMF 용매를 포함하는 수지 조성물을 습식 응고하는 단계; 상기 습식 응고물을 수세 및 건조하는 단계; 상기 습식 응고물의 표면을 연마하는 단계; 상기 연마된 습식 응고물의 표면에 접착층을 형성하는 단계; 및 상기 접착층이 형성된 습식 응고물을 열처리하는 단계를 포함하는 폴리우레탄 지지 패드의 제조 방법을 제공한다. The present invention comprises the steps of wet solidifying a resin composition comprising a polyurethane resin and a DMF solvent; Washing and drying the wet coagulum; Polishing the surface of the wet coagulum; Forming an adhesive layer on a surface of the polished wet coagulated product; And it provides a method for producing a polyurethane support pad comprising the step of heat-treating the wet coagulation formed on the adhesive layer.

이하 발명의 구체적인 구현예에 따른 폴리우레탄 지지 패드의 제조 방법 및 폴리우레탄 지지 패드에 관하여 보다 상세하게 설명하기로 한다.
Hereinafter, a method of manufacturing a polyurethane support pad and a polyurethane support pad according to a specific embodiment of the present invention will be described in detail.

본 명세서에서, '지지 패드'는 반도체 또는 디스플레이 장치에 사용되는 기판 제조 과정 중, 연마 공정에서 연마 대상막을 캐리어에 밀착 또는 고정시켜주는 역할을 하는 패드를 의미한다.
In the present specification, the 'support pad' refers to a pad which serves to closely adhere or fix the polishing target film to a carrier in a polishing process during a substrate manufacturing process used in a semiconductor or a display device.

발명의 일 구현예에 따르면, 폴리우레탄 수지 및 DMF 용매를 포함하는 수지 조성물을 습식 응고하는 단계; 상기 습식 응고물을 수세 및 건조하는 단계; 상기 습식 응고물의 표면을 연마하는 단계; 상기 연마된 습식 응고물의 표면에 접착층을 형성하는 단계; 및 상기 접착층이 형성된 습식 응고물을 열처리하는 단계를 포함하는 폴리우레탄 지지 패드의 제조 방법이 제공될 수 있다. According to one embodiment of the invention, the step of wet solidifying a resin composition comprising a polyurethane resin and a DMF solvent; Washing and drying the wet coagulum; Polishing the surface of the wet coagulum; Forming an adhesive layer on a surface of the polished wet coagulated product; And it may be provided a method for producing a polyurethane support pad comprising the step of heat-treating the wet coagulation formed on the adhesive layer.

폴리우레탄 지지 패드의 내부에 길고 큰 기공이 균일하게 형성되면, 패드의 경도가 낮아져서 높은 압축율을 갖는 부드러운 패드를 제조할 수 있고, 지지 패드와 연마 대상막 사이에 갇히는(trap) 공기를 용이하게 내부로 전달받을 수 있고, 연마 단계에서 가해지는 힘을 지지 패드 전체 및 피연마체 전체로 균일하게 분배할 수 있어서, 연마시 발생할 수 있는 불량을 최소화시킬 수 있다. If long and large pores are uniformly formed in the polyurethane support pad, the hardness of the pad can be lowered to produce a soft pad having a high compressibility, and easily trap the air trapped between the support pad and the film to be polished. The pressure applied in the polishing step can be evenly distributed to the entire support pad and the entire abrasive body, thereby minimizing the defects that may occur during polishing.

다만, 폴리우레탄 지지 패드가 너무 경도가 너무 낮아지거나 부드러워지는 경우, 제조 공정에서 발생할 수 있는 제품 불량의 원인-예를 들어 롤(roll)의 불균일한 압력 분포, 또는 롤(roll) 사이의 갭(gap)조절 불량 등으로 인한 패드의 엉킴 현상 등-에 의하여 제조되는 폴리우레탄 지지 패드의 전체적인 균일도가 영향을 받을 수 있다. 또한, 이러한 폴리우레탄 지지 패드를 사용하는 경우, 피연마막 예를 들어 디스플레이 장치의 유리 기판 등에 패드 마크 등의 불량을 유발할 수 있다. However, if the polyurethane support pad is too hard or too soft, the cause of product defects that may occur in the manufacturing process-for example, the uneven pressure distribution of the roll, or the gap between the rolls ( The overall uniformity of the polyurethane support pads manufactured by pad entanglement due to poor control, etc. may be affected. In addition, when such a polyurethane support pad is used, a defect such as a pad mark can be caused to be polished, for example, a glass substrate of a display device.

이에 본 발명자들은, 폴리우레탄 지지 패드의 일 표면(예를 들어, 후면)을 연마하는 단계 또는 지지 패드 일면에 접착층을 형성하는 단계 이후에 지지 패드의 두께, 압력 분포 또는 장력 분포가 분균일해는 문제점을 해결하기 위한 연구를 진행하여, 상기 표면 연마 단계 및 접착층 형성 단계 이후에 일정한 열처리 단계를 적용하면, 제조 공정에서 발생할 수 있는 제품 불량을 최소화 할 수 있으며, 제조되는 폴리우레탄 지지 패드 전체 영역에서 보다 균일한 두께, 압력 분포 또는 장력 분포 등을 나타나게 할 수 있으며, 유리 기판 등을 보다 균일하고 높은 효율로 연마할 수 있다는 점을 실험을 통하여 확인하고 발명을 완성하였다. Accordingly, the inventors have found that the thickness, pressure distribution or tension distribution of the support pad is uneven after the polishing of one surface (eg, the back surface) of the polyurethane support pad or the formation of an adhesive layer on one surface of the support pad. Proceeding the research to solve the problem, by applying a constant heat treatment step after the surface polishing step and the adhesive layer forming step, it is possible to minimize the product defects that can occur in the manufacturing process, the entire area of the polyurethane support pad to be manufactured More uniform thickness, pressure distribution or tension distribution can be exhibited, and the experiment confirmed that the glass substrate and the like can be polished more uniformly and with high efficiency, and completed the invention.

특히, 폴리우레탄 지지 패드의 제조 과정에서는, 인지 가능한 불량 또는 인지하기 힘든 불량 들이 발생할 수 있고, 이에 따라 제조되는 지지 패드는 불균한 두께, 압력 분포 또는 장력 분포 등을 가질 수 있는데, 상기 열처리 단계를 적용함에 따라서, 폴리우레탄 지지 패드에 부분적 또는 국지적으로 불균일 분포되거나 쌓여 있던 스트레스 등이 균일하게 퍼질 수 있다. In particular, in the manufacturing process of the polyurethane support pad, it may be possible to recognize or difficult to recognize, the resulting support pad may have a non-uniform thickness, pressure distribution or tension distribution, such as the heat treatment step Depending on the application, a stress or the like that is partially or locally distributed or accumulated on the polyurethane support pad can be spread evenly.

상기 열처리는 60℃ 내지 180℃의 온도, 바람직하게는 70℃ 내지 150℃의 온도에서 이루어질 수 있으며, 1 분 내지 100분의 시간 동안, 바람직하게는 10 분 내지 60분의 시간 동안 이루어질 수 있다. 상기 열처리가 너무 낮은 온도에서 이루어지면, 열처리 효과가 제대로 나타나지 않아서, 폴리우레탄 지지 패드가 균일한 두께, 압력 분포 또는 장력 분포를 갖기 어려우며, 이에 따라 제조된 폴리우레탄 지지 패드를 사용하면 불균일한 연마 또는 제품 불량이 발생할 수 있다. 상기 열처리가 너무 높은 온도에서 이루어지면, 폴리우레탄 수지층이 변성될 수 있으며, 추가로 사용될 수 있는 접착층 등도 휘발되거나 변성될 수 있다. The heat treatment may be carried out at a temperature of 60 ℃ to 180 ℃, preferably at a temperature of 70 ℃ to 150 ℃, For a time between 1 and 100 minutes, preferably for a time between 10 and 60 minutes. If the heat treatment is performed at a temperature that is too low, the heat treatment effect is not properly exhibited, and thus, it is difficult for the polyurethane support pad to have a uniform thickness, pressure distribution or tension distribution. Product defects may occur. When the heat treatment is performed at a temperature that is too high, the polyurethane resin layer may be modified, and an adhesive layer which may be further used may also be volatilized or modified.

상기 열처리는 연속식 오븐 또는 배치식 오븐 등 통상적으로 널리 알려진 오븐 또는 가열기를 별 다른 제한 없이 사용할 수 있다. The heat treatment may be any conventionally known oven or heater, such as a continuous oven or batch oven, without particular limitation.

상기 접착층이 형성된 습식 응고물을 열처리함에 따라서, 제조되는 지지 패드의 두께가 국지적으로 불균일하거나 지지 패드의 일부분에 압력 또는 장력이 집중되는 현상을 해소할 수 있다. 이에 따라, 상기 제조 방법에 의한 폴리우레탄 지지 패드는 보다 균일한 두께, 압력 분포 또는 장력 분포를 가질 뿐만 아니라, 실제 연마시에 피연마막인 유리 기판을 균일하고 높은 효율로 연마할 수 있다. By heat-treating the wet solidified product on which the adhesive layer is formed, the thickness of the support pad to be manufactured may be locally uneven or pressure or tension may be concentrated on a part of the support pad. Accordingly, the polyurethane support pad according to the above production method not only has a more uniform thickness, pressure distribution or tension distribution, but also can polish the glass substrate, which is the film to be polished, at a uniform and high efficiency in actual polishing.

한편, 상기 폴리우레탄 지지 패드의 제조 방법은 상기 습식 응고물의 표면을 연마(또는 버핑(buffing))하는 단계를 포함할 수 있다. 상기 연마 단계는, 고속으로 회전하는 샌드페이퍼가 감긴 롤(Roll)를 이용하여 경도가 낮은 폴리우레탄 필름(100% 모듈러스 1 내지 10)의 표면을 깍는 공정으로서, 높은 에너지가 가해지는 공정이다. Meanwhile, the method of manufacturing the polyurethane support pad may include grinding (or buffing) the surface of the wet coagulated product. The polishing step is a step of cutting a surface of a polyurethane film (100% modulus 1 to 10) having low hardness by using a roll of sand paper wound at a high speed, and is a step of applying high energy.

이러한 연마(또는 버핑(buffing)) 공정에서는, 피연마막을 한번에 수백 um를 깍을 수도 있으며, 수십 um씩 여러 번에 걸쳐 깍을 수도 있다. 낮은 경도의 필름을 한번에 많이 연마하는 경우, MD(machine direction)방향으로 두께 차이 또는 연마(버핑) 수준의 차이가 발생할 수 있으며, 지지 패드에 불균일하게 쌓인 에너지는 연마 장비에서 피연마막, 예를 들어 디스플레이의 유리 기판 등으로 불균일하게 전사되어 TD(Transverse Direction) 방향의 라인 또는 줄무늬가 발생할 수 있다. In this polishing (or buffing) process, the polished finish may be cut several hundred um at a time, or several times several tens of um. In the case of polishing a low hardness film at a time, a difference in thickness or a level of polishing (buffing) may occur in the machine direction (MD) direction, and the energy unevenly accumulated on the support pad may cause a polishing film, For example, non-uniformly transferred to the glass substrate of the display may cause lines or stripes in the TD (Transverse Direction) direction.

상기 폴리우레탄 지지 패드의 제조 방법은, 상기 연마된 습식 응고물의 표면에 접착층을 형성하는 단계를 포함할 수 있다. 이러한 접착층은 지지 패드의 최종 제품을 제조하는데 사용되는 것으로 알려진 방법 및 구성을 별 다른 제한 없이 사용하여 형성될 수 있다. 예를 들어, 상기 접착층은 상기 습식 응고물의 표면 또는 상기 표면 연마된 습식 응고물의 표면에 일정한 접착제, 예를 들어 감압성 접착제(PSA) 등을 도포함으로서 형성될 수 도 있으며, 상기 습식 응고물의 표면 또는 상기 표면 연마된 습식 응고물의 표면에 감압성 양면 접착 필름을 라미네이트함으로서 형성될 수도 있다. The method of manufacturing the polyurethane support pad may include forming an adhesive layer on a surface of the polished wet coagulated product. This adhesive layer can be formed using any method and configuration known to be used to manufacture the final product of the support pad without any particular limitation. For example, the adhesive layer may be formed by coating a certain adhesive, such as a pressure-sensitive adhesive (PSA), on the surface of the wet coagulated product or the surface polished wet coagulated product, or the surface of the wet coagulated product or It may be formed by laminating a pressure-sensitive double-sided adhesive film on the surface of the surface polished wet coagulated product.

한편, 폴리우레탄 수지와 DMF 용매 등의 유기 용매를 포함하는 조성물을 유기 용매와 물이 담겨 있는 응고조에서 응고시키면, 수지 조성물 성분의 상분리 현상, 예를 들어 폴리우레탄 수지, 물 및 유기 용매의 상분리 현상이 일어나는데, 이러한 상분리 현상에 의하여 다수의 기공이 내부에 형성된 폴리우레탄 수지가 얻어질 수 있다.On the other hand, when a composition comprising an organic solvent, such as a polyurethane resin and a DMF solvent, is solidified in a coagulation bath containing an organic solvent and water, phase separation of the resin composition component, for example, phase separation of a polyurethane resin, water, and an organic solvent A phenomenon occurs, and by this phase separation, a polyurethane resin having a plurality of pores formed therein can be obtained.

구체적으로, 상기 폴리우레탄 수지 및 DMF 용매를 포함하는 수지 조성물을 습식 응고하는 단계는, 상기 폴리우레탄 수지 조성물을 형성하는 단계; 상기 폴리우레탄 수지 조성물을 일정한 기재나 틀에 도포 또는 투입하여 코팅층을 형성하는 단계; 및 상기 코팅층을 응고하는 단계를 포함할 수 있다. Specifically, wet-solidifying the resin composition comprising the polyurethane resin and the DMF solvent may include forming the polyurethane resin composition; Forming a coating layer by applying or applying the polyurethane resin composition to a predetermined substrate or frame; And solidifying the coating layer.

그리고, 이러한 폴리우레탄 수지 및 DMF 용매를 포함하는 수지 조성물을 습식 응고하는 단계 이후에, 상기 조성물의 응고물을 수세, 탈수 및 건조하는 단계가 연속하여 이루어질 수 있다. 이러한 수지 조성물의 응고물을 수세, 탈수 및 건조하는 단계에서는 지지 패드의 제조 방법에서 사용 가능한 것으로 알려진 방법 및 장치를 큰 제한 없이 사용할 수 있다. In addition, after wet solidifying the resin composition including the polyurethane resin and the DMF solvent, washing, dehydrating and drying the coagulated product of the composition may be continuously performed. In the step of washing, dehydrating and drying the coagulated product of such a resin composition, a method and an apparatus known to be usable in the method for producing a support pad can be used without great limitation.

상기 코팅층을 응고하는 단계에서는 상기 코팅층이 형성된 기재나 틀을 디메틸포름아미드 수용액 또는 물이 채워져 있는 응고조에 투입하여 이루어질 수 있다. 상기 응고 과정에서는 폴리우레탄 수지 내부의 디메틸포름아미드가 물과 교체되면서 폴리우레탄 수지가 서서히 응고되고 이에 따라 다수의 기공이 형성될 수 있다. 상기 응고조에 채워져 있는 수용액의 농도 및 수용액 또는 물의 양은 크게 제한되는 것은 아니며, 반응 조건 및 제조되는 지지 패드의 물성에 따라서 적절히 조절할 수 있다. 상기 응고 과정 후 연마 패드 내부에는 물과 DMF가 적절히 남아 있는 상태일 수 있으며, 이러한 응고물을 세척하고 오븐에서 건조함으로서 연마 패드 내부에서 물, DMF 용매 및 기타 성분을 제거할 수 있다.In the step of solidifying the coating layer may be made by putting the substrate or the frame on which the coating layer is formed into a dimethylformamide aqueous solution or a coagulation tank filled with water. In the solidification process, as the dimethylformamide inside the polyurethane resin is replaced with water, the polyurethane resin is gradually solidified and thus a plurality of pores may be formed. The concentration of the aqueous solution filled in the coagulation bath and the amount of the aqueous solution or water are not particularly limited, and may be appropriately adjusted according to the reaction conditions and the physical properties of the support pad to be produced. After the solidification process, water and DMF may remain in the polishing pad properly, and the solidified product may be washed and dried in an oven to remove water, DMF solvent, and other components from the polishing pad.

상기 폴리우레탄 수지는 30,000 내지 1,000,000의 중량평균분자량을 가질 수 있다. 또한, 상기 폴리우레탄 수지는 상온에서 30%의 DMF Solution 상태에서 100,000 내지 2,000,000 cps의 점도를 가질 수 있다. 상기 폴리우레탄 지지 패드의 제조 과정에서, 폴리우레탄 수지 내의 디메틸포름아미드가 물에 용해되어 빠져나가면서 기공이 형성될 수 있는데, 상기 범위의 분자량 또는 점도를 갖는 폴리우레탄 수지를 사용하면 다수의 기공이 균일한 크기와 균일한 분포로 형성될 수 있다. 상기 폴리우레탄 수지의 점도가 100,000cps미만이면 지지 패드로서 적절한 물성을 갖지 못하며, 지지 패드 제조도 어려워질 수 있으며, 상기 점도가 3,000,000cps초과인 경우에는 지지 패드 내부에 기공을 형성시키기 어려우며 지지 패드의 경도가 크게 높아질 수 있다. The polyurethane resin may have a weight average molecular weight of 30,000 to 1,000,000. In addition, the polyurethane resin may have a viscosity of 100,000 to 2,000,000 cps in a DMF Solution state of 30% at room temperature. In the manufacturing process of the polyurethane support pad, pores may be formed while dimethylformamide in the polyurethane resin is dissolved in water and escapes, and when using a polyurethane resin having a molecular weight or viscosity in the above range, It can be formed in a uniform size and a uniform distribution. When the viscosity of the polyurethane resin is less than 100,000 cps, it may not have proper physical properties as a support pad, and it may be difficult to manufacture a support pad. When the viscosity is more than 3,000,000 cps, it may be difficult to form pores in the support pad. Hardness can be significantly higher.

상기 수지 조성물은 상기 폴리우레탄 수지 1 내지 70 wt%, 바람직하게는 3 내지 50wt%을 포함할 수 있다. 상기 수지 조성물에서 폴리우레탄 수지의 함량이 너무 작으면 지지 패드의 본체를 적절히 형성하기 어렵고, 조성물의 점도가 너무 낮아져서 지지 패드를 제조하기 위한 코팅 공정에 적용하기가 용이하지 않을 수 있다. 또한, 상기 수지 조성물에서 폴리우레탄 수지의 함량이 너무 크면, 얻어지는 폴리우레판 지지 패드의 밀도가 필요 이상으로 커지거나 조성물의 점도가 너무 커져서 지지 패드를 제조하기 위한 코팅 공정에 적용하기가 용이하지 않을 수 있다. The resin composition may include 1 to 70 wt% of the polyurethane resin, preferably 3 to 50 wt%. When the content of the polyurethane resin in the resin composition is too small, it is difficult to properly form the body of the support pad, the viscosity of the composition is too low may not be easy to apply to the coating process for manufacturing the support pad. In addition, if the content of the polyurethane resin in the resin composition is too large, the density of the obtained polyurethane support pad becomes larger than necessary or the viscosity of the composition becomes so large that it is not easy to apply to the coating process for producing the support pad. Can be.

상기 수지 조성물은 디메틸포름아미드(DMF) 용매을 포함할 수 있는데, 상기 디메틸포름아미드(DMF) 는 N,N'-디메틸포름아미드(N,N'-dimethylmethanamide) 를 의미한다. 상기 폴리우레탄 수지 조성물을 응고 시키면 수지 조성물 성분, 예를 들어 폴리우레탄 수지, 물 및 DMF 용매의 상분리 현상에 의하여, 내부에 기공이 형성된 폴리우레탄 지지 패드가 형성될 수 있다. 즉, 상기 수지 조성물의 응고 과정에서는 폴리우레탄 수지 내에 존재하는 DMF 용매가 응고조 내부의 물과 교체되고, 응고 과정이 완료되면 내부에 기공이 형성된 지지 패드용 폴리우레탄 수지가 형성된다.The resin composition may include a dimethylformamide (DMF) solvent, the dimethylformamide (DMF) means N, N'- dimethylformamide (N, N'-dimethylmethanamide). When the polyurethane resin composition is solidified, a polyurethane support pad having pores therein may be formed by phase separation of a resin composition component, for example, a polyurethane resin, water, and a DMF solvent. That is, in the solidification process of the resin composition, the DMF solvent present in the polyurethane resin is replaced with water in the coagulation bath, and when the solidification process is completed, a polyurethane resin for a support pad having pores formed therein is formed.

상기 수지 조성물은 상기 DMF 용매 30 내지 99wt%, 바람직하게는 40 내지 90wt%를 포함할 수 있다. 상기 수지 조성물 상에서 DMF 용매의 함량이 너무 작으면 응고 과정에서 수지 내부에 기공 형성이 원활하지 않을 수 있으며, 상기 함량이 너무 크면 폴리우레탄 수지의 비율이 크게 줄어 적절한 물성을 갖는 폴리우레탄 지지 패드를 제조하기 어려울 수 있다.The resin composition may include 30 to 99 wt% of the DMF solvent, preferably 40 to 90 wt%. If the content of the DMF solvent on the resin composition is too small may not form pores in the resin during the solidification process, if the content is too large, the ratio of the polyurethane resin is greatly reduced to prepare a polyurethane support pad having proper properties It can be difficult to do.

상기 수지 조성물은 음이온성 계면활성제를 더 포함할 수 있다. 상기 음이온성 계면활성제는 응고되는 조성물의 전 영역에 걸쳐 물이 균일하게 침투할 수 있게 하며, 폴리우레탄 수지 조성물의 각각 성분들의 상분리가 일정 부분에 집중되지 않게 할 수 있어서, 지지 패드 내부에 기공이 매우 균일하게 형성될 수 있게 할 수 있다. 이러한 음이온성 계면활성제는 제조되는 지지 패드의 물성이나 공정상 조건 등을 고려하여 함량을 적절히 조절하여 사용될 수 있고, 예를 들어 상기 지지 패드용 폴리우레탄 수지 조성물 중 0.01 내지 5 wt%로 포함될 수 있다. 상기 음이온성 계면활성제로는 도데실벤젠설폰산, 도데실벤젠설폰산 유도체, 호박산, 호박산 유도체, 도데실설페이트, 도데실설페이트 유도체 또는 이들의 1 이상의 혼합물을 들 수 있다. The resin composition may further include an anionic surfactant. The anionic surfactants allow the water to penetrate uniformly over the entire area of the composition to be solidified, and to prevent the phase separation of the respective components of the polyurethane resin composition from being concentrated in a certain portion, so that pores are formed in the support pad. It can be made very uniform. Such anionic surfactants may be used by appropriately adjusting the content in consideration of physical properties and process conditions of the support pad to be manufactured, for example, may be included in 0.01 to 5 wt% of the polyurethane resin composition for the support pad. . Examples of the anionic surfactant include dodecylbenzenesulfonic acid, dodecylbenzenesulfonic acid derivatives, succinic acid, succinic acid derivatives, dodecylsulfate, dodecylsulfate derivatives, or mixtures of one or more thereof.

상기 수지 조성물은 지지 패드의 흡착력을 높이거나 패드의 표면을 평탄화 하기 위하여 비이온성 계면활성제를 더 포함할 수 있다. 이러한 비이온성 계면활성제의 예로는 실리콘계 고분자, 실리콘 오일, 글리세롤 계열 고분자 또는 탄화수소 계열 고분자 등을 들 수 있다. 이러한 비온성 계면활성제는 제조되는 지지 패드의 물성이나 공정상 조건 등을 고려하여 함량을 적절히 조절하여 사용될 수 있고, 예를 들어 상기 지지 패드용 폴리우레탄 수지 조성물 중 0.01 내지 5 wt%로 포함될 수 있다.The resin composition may further include a nonionic surfactant to increase the adsorption force of the support pad or to planarize the surface of the pad. Examples of such nonionic surfactants include silicone-based polymers, silicone oils, glycerol-based polymers, or hydrocarbon-based polymers. Such a nonionic surfactant may be used by appropriately adjusting the content in consideration of physical properties and process conditions of the support pad to be manufactured, for example, may be included in 0.01 to 5 wt% of the polyurethane resin composition for the support pad. .

또한, 상기 수지 조성물은 착색제, 발수제, 충진제, 기공 크기 조절제 및 안료로 이루어진 군에서 선택된 1종 이상의 첨가제를 더 포함할 수 있다. 이러한 첨가제는 제조되는 지지 패드의 물성이나 공정상 조건 등을 고려하여 함량을 적절히 조절하여 사용될 수 있고, 예를 들어 상기 수지 조성물에 각각의 첨가제가 0.01 내지 10 wt%로 포함될 수 있다.In addition, the resin composition may further include at least one additive selected from the group consisting of colorants, water repellents, fillers, pore size regulators and pigments. Such additives may be used by appropriately adjusting the content in consideration of physical properties or process conditions of the support pad to be manufactured, for example, each additive may be included in the resin composition in an amount of 0.01 to 10 wt%.

상술한 제조 방법에 의하여 제조되는 폴리우레탄 지지 패드는 내부에 길고 큰 기공이 균일하게 형성되어 있어서 패드의 경도가 낮아져서 높은 압축율 및 압축 회복율을 구현할 수 있으며, 국지적으로 두께가 불균일하거나 지지 패드의 일부분에 압력 또는 장력이 집중되는 현상을 해소하여 보다 균일한 두께, 압력 분포 또는 장력 분포를 가질 수 있다. Polyurethane support pad manufactured by the above-described manufacturing method has a long and large pores uniformly formed therein to lower the hardness of the pad to implement a high compression rate and compression recovery rate, locally non-uniform thickness or a part of the support pad The phenomenon of concentration of pressure or tension can be eliminated to have a more uniform thickness, pressure distribution, or tension distribution.

상기 폴리우레탄 지지 패드는 0.10 내지 0.35 g/㎤의 밀도를 가질 수 있다. 또한, 상기 폴리우레탄 지지 패드는 JIS L1021-16에 따른 압축율이 30 %이상이고 압축 회복율이 95%이상일 수 있다. The polyurethane support pad may have a density of 0.10 to 0.35 g / cm 3. In addition, the polyurethane support pad may have a compression ratio of 30% or more and a compression recovery rate of 95% or more according to JIS L1021-16.

본 발명에 따르면, 제조 공정에서 발생할 수 있는 제품 불량을 최소화 할 수 있으며, 제조되는 패드 전체 영역에서 보다 균일한 두께, 압력 분포 또는 장력 분포 등을 나타나게 할 수 있으며, 보다 균일하고 높은 효율의 연마를 구현할 수 있는 폴리우레탄 지지 패드의 제조 방법 및 이로부터 얻어지는 폴리우레탄 지지 패드가 제공될 수 있다. According to the present invention, it is possible to minimize product defects that may occur in the manufacturing process, to show a more uniform thickness, pressure distribution or tension distribution in the entire area of the pad to be manufactured, and to achieve a more uniform and high efficiency polishing Methods of making polyurethane support pads that can be implemented and polyurethane support pads obtained therefrom can be provided.

도1은 실시예의 폴리우레탄 지지 패드를 사용하여 연마한 유리 기판을 나타낸 것이다.
도2는 비교예의 폴리우레탄 지지 패드를 사용하여 연마한 유리 기판을 나타낸 것이다.
1 shows a glass substrate polished using the polyurethane support pad of the embodiment.
2 shows a glass substrate polished using the polyurethane support pad of the comparative example.

발명을 하기의 실시예에서 보다 상세하게 설명한다. 단, 하기의 실시예는 본 발명을 예시하는 것일 뿐, 본 발명의 내용이 하기의 실시예에 의하여 한정되는 것은 아니다.
The invention is explained in more detail in the following examples. However, the following examples are illustrative of the present invention, and the present invention is not limited by the following examples.

<< 실시예Example : 폴리우레탄 지지 패드를 이용한 연마>: Polishing with Polyurethane Support Pads>

하기 표1의 성분을 포함하는 수지 조성물을 PET필름 상에 코팅한 후, 이러한 코팅층을 습식 응고, 수세, 탈수 및 건조함으로서, 내부에 기공이 형성된 폴리우레탄 수지 필름층을 얻었다. After coating the resin composition comprising the components shown in Table 1 on the PET film, the coating layer was wet coagulated, washed with water, dehydrated and dried to obtain a polyurethane resin film layer having pores therein.

성분명Ingredients 폴리우레탄
수지 SW-80LM
[Mw. 380K]
Polyurethane
Resin SW-80LM
Mw. 380K]
비이온성
계면활성제 SD-7
Nonionic
Surfactant SD-7
SD-11SD-11 착색제coloring agent DMFDMF 발수제Water repellent 충진제Filler PEGPEG
사용량
(중량%)
usage
(weight%)
79.3479.34 1.061.06 2.122.12 3.73.7 10.610.6 1.061.06 1.061.06 1.061.06

* 폴리우레탄 수지 SW-80LM: 폴리우레탄 수지 20중량%의 DMF 용액
* Polyurethane Resin SW-80LM: 20 wt% Polyurethane Resin DMF Solution

그리고, 얻어진 폴리우레판 수지 필름층이 보다 균일할 두께 및 높은 균일도를 갖도록, 고속으로 회전하는 샌드페이퍼가 감긴 롤(Roll)을 사용하여 버핑(buffing) 처리하였다. 그리고, 상기 버핑된 폴리우레탄 수지 필름층의 일면에 감압성 양면 접착 테이프를 라미네이션하여 완제품의 폴리우레탄 지지 패드를 얻었다. [폴리우레탄층: 1200㎛, 점착층: 250㎛, 이형필름:80㎛]And the buffing process was carried out using the roll wound by the sand paper which rotates at high speed so that the obtained polyurethane resin film layer may have more uniform thickness and high uniformity. Then, a pressure-sensitive double-sided adhesive tape was laminated on one surface of the buffed polyurethane resin film layer to obtain a polyurethane support pad of the finished product. [Polyurethane layer: 1200 mu m, adhesion layer: 250 mu m, release film: 80 mu m]

그리고, 상기 얻어진 폴리우레탄 지지 패드를 80℃에서 30분간 열처리 한 후, 연마 장비에 장착하여 10분간 유리 기판을 연마하였다. 그리고, 연마 결과를 Xenon Lamp에서 투과 모드로 관찰하였으며, 이를 도1에 나타내었다.
The obtained polyurethane support pad was heat-treated at 80 ° C. for 30 minutes, and then mounted on a polishing equipment to polish the glass substrate for 10 minutes. And, the polishing results were observed in the transmission mode in the Xenon Lamp, which is shown in FIG.

<< 비교예Comparative example : 폴리우레탄 지지 패드를 이용한 연마>: Polishing with Polyurethane Support Pads>

상기 얻어진 폴리우레탄 지지 패드를 80℃에서 30분간 열처리 하는 단계를 제외하고, 실시예1과 동일한 방법으로 폴리우레탄 지지 패드를 얻었다. [폴리우레탄층: 1200㎛, 점착층: 250㎛, 이형필름:80㎛]A polyurethane support pad was obtained in the same manner as in Example 1, except that the obtained polyurethane support pad was heat-treated at 80 ° C. for 30 minutes. [Polyurethane layer: 1200 mu m, adhesion layer: 250 mu m, release film: 80 mu m]

그리고, 이러한 폴리우레탄 지지 패드를 연마 장비에 장착하여 10분간 유리 기판을 연마하였다. 그리고, 연마 결과를 Xenon Lamp에서 투과 모드로 관찰하였으며, 이를 도2에 나타내었다.
Then, the polyurethane support pad was attached to the polishing equipment to polish the glass substrate for 10 minutes. And, the polishing results were observed in the transmission mode in the Xenon Lamp, which is shown in FIG.

<< 실시예Example  And 비교예의Comparative Example 비교> Comparison>

실시예의 폴리우레탄 지지 패드는 보다 균일한 두께, 압력 분포 또는 장력 분포를 가질 뿐만 아니라, 도1에 나타난 바와 같이, 실제 연마시에 피연마막인 유리 기판을 균일하고 높은 효율로 연마할 수 있다. The polyurethane support pad of the embodiment not only has a more uniform thickness, pressure distribution or tension distribution, but also, as shown in Fig. 1, it is possible to polish the glass substrate, which is the film to be polished, in a uniform and high efficiency in actual polishing.

이에 반하여, 비교예의 폴리우레탄 지지 패드는 두께, 압력 분포 또는 장력 분포가 균일하지 않을 뿐만 아니라, 도2에 나타난 바와 같이 연마된 유리 기판에서 TD방향으로 일정한 라인(line)이 관찰되어 연마 불량이 발생하였음을 확인할 수 있다.
On the other hand, the polyurethane support pad of the comparative example is not only uniform in thickness, pressure distribution or tension distribution, but also a defective line is observed in a polished glass substrate as shown in Fig. 2 in the TD direction. It can be confirmed that.

Claims (11)

폴리우레탄 수지 및 DMF 용매를 포함하는 수지 조성물을 습식 응고하는 단계;
상기 습식 응고물을 수세 및 건조하는 단계;
상기 습식 응고물의 표면을 연마하는 단계;
상기 연마된 습식 응고물의 표면에 접착층을 형성하는 단계; 및
상기 접착층이 형성된 습식 응고물을 열처리하는 단계를 포함하는 폴리우레탄 지지 패드의 제조 방법.
Wet solidifying a resin composition comprising a polyurethane resin and a DMF solvent;
Washing and drying the wet coagulum;
Polishing the surface of the wet coagulum;
Forming an adhesive layer on a surface of the polished wet coagulated product; And
Method of producing a polyurethane support pad comprising the step of heat-treating the wet coagulation formed on the adhesive layer.
제1항에 있어서,
상기 제조되는 폴리우레탄 지지 패드가 갖는 IS L1021-16에 따른 압축율이 30 %이상이고 압축 회복율이 95%이상인, 폴리우레탄 지지 패드의 제조 방법.
The method of claim 1,
A method for producing a polyurethane support pad, wherein the compression ratio according to IS L1021-16 of the polyurethane support pad to be produced is 30% or more and the compression recovery rate is 95% or more.
제1항에 있어서,
상기 접착층이 형성된 습식 응고물을 열처리하는 단계는 60℃ 내지 300℃에서 이루어지는 폴리우레탄 지지 패드의 제조 방법.
The method of claim 1,
Heat-treating the wet solidified product on which the adhesive layer is formed is a method of manufacturing a polyurethane support pad at 60 ° C to 300 ° C.
제1항에 있어서,
상기 열처리는 1 분 내지 100분간 이루어지는 폴리우레탄 지지 패드의 제조 방법.
The method of claim 1,
The heat treatment is a method for producing a polyurethane support pad made 1 minute to 100 minutes.
제1항에 있어서,
상기 폴리우레탄 수지는 30,000 내지 1,000,000의 중량평균분자량을 갖는 지지 패드용 폴리우레탄 수지 조성물.
The method of claim 1,
The polyurethane resin is a polyurethane resin composition for a support pad having a weight average molecular weight of 30,000 to 1,000,000.
제1항에 있어서,
상기 폴리우레탄 수지는 상온의 30% DMF Solution 상태에서 30,000 내지 1,000,000 cps 의 점도를 갖는 지지 패드용 폴리우레탄 수지 조성물.
The method of claim 1,
The polyurethane resin is a polyurethane resin composition for a support pad having a viscosity of 30,000 to 1,000,000 cps in a 30% DMF Solution at room temperature.
제1항에 있어서,
상기 수지 조성물은 음이온성 계면활성제 및 비이온성 계면활성제로 이루어진 군에서 선택된 1종 이상의 계면 활성제을 더 포함하는 폴리우레탄 지지 패드의 제조 방법.
The method of claim 1,
The resin composition is a method for producing a polyurethane support pad further comprises at least one surfactant selected from the group consisting of anionic surfactants and nonionic surfactants.
제7항에 있어서,
상기 음이온성 계면활성제는 도데실벤젠설폰산, 도데실벤젠설폰산 유도체, 호박산, 호박산 유도체, 도데실설페이트 및 도데실설페이트 유도체로 이루어진 군에서 선택된 1종 이상의 화합물을 포함하는 폴리우레탄 지지 패드의 제조 방법.
The method of claim 7, wherein
The anionic surfactant is a polyurethane support pad comprising at least one compound selected from the group consisting of dodecylbenzenesulfonic acid, dodecylbenzenesulfonic acid derivatives, succinic acid, succinic acid derivatives, dodecyl sulfate and dodecyl sulfate derivatives Way.
제7항에 있어서,
상기 비이온성 계면활성제는 실리콘계 고분자, 실리콘 오일, 글리세롤 계열 고분자 및 탄화수소 계열 고분자로 이루어진 군에서 선택된 1종 이상의 화합물을 포함하는 폴리우레탄 지지 패드의 제조 방법.
The method of claim 7, wherein
The nonionic surfactant is a method for producing a polyurethane support pad comprising at least one compound selected from the group consisting of silicone-based polymers, silicone oils, glycerol-based polymers and hydrocarbon-based polymers.
제7항에 있어서,
상기 수지 조성물은 폴리우레탄 수지 1 내지 70 wt%
상기 DMF 용매 30 내지 99wt%; 및
잔량의 음이온성 계면활성제 및 비이온성 계면활성제로 이루어진 군에서 선택된 1종 이상의 계면활성제를 포함하는 폴리우레탄 지지 패드의 제조 방법.
The method of claim 7, wherein
The resin composition is 1 to 70 wt% polyurethane resin
30 to 99 wt% of the DMF solvent; And
A method for producing a polyurethane support pad comprising at least one surfactant selected from the group consisting of residual anionic surfactants and nonionic surfactants.
제1항에 있어서,
상기 수지 조성물은 착색제, 발수제, 충진제, 기공 크기 조절제 및 안료로 이루어진 군에서 선택된 1종 이상의 첨가제를 더 포함하는 폴리우레탄 지지 패드의 제조 방법.

The method of claim 1,
The resin composition is a method for producing a polyurethane support pad further comprises at least one additive selected from the group consisting of colorants, water repellents, fillers, pore size regulators and pigments.

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