KR20120130983A - Array substrate for Liquid Crystal Display Device and method of fabricating the same - Google Patents

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Abstract

PURPOSE: An array substrate for liquid crystal display device and a method for fabricating the same are provided to form a storage capacitor along the edge of the pixel region, to improve storage capacity and to prevent light leakage. CONSTITUTION: A first storage electrode(111) includes a lower layer and an upper layer. The first storage electrode is separated from agate and a data line(103) in a pixel region. The lower layer is made of a transparent conductive material of first width. The upper layer is made of a low-resistance metal material of second width which is smaller than the first width. An overlapped part between a pixel electrode and the first storage electrode is formed as a second storage electrode(153). Therefore, the second storage electrode is formed as a storage capacitor and the first storage electrode.

Description

액정표시장치용 어레이 기판 및 그 제조 방법{Array substrate for Liquid Crystal Display Device and method of fabricating the same}Array substrate for liquid crystal display device and method for manufacturing same {Array substrate for Liquid Crystal Display Device and method of fabricating the same}

본 발명은 액정표시장치에 관한 것으로, 개구율 저하없이 스토리지 커패시터의 용량을 향상시킬 수 있는 수직 전계 모드 액정표시장치용 어레이 기판 및 그 제조방법에 관한 것이다.
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a liquid crystal display device, and more particularly, to an array substrate for a vertical field mode liquid crystal display device and a method of manufacturing the same, which can improve the capacity of a storage capacitor without decreasing the aperture ratio.

최근에 액정표시장치는 소비전력이 낮고, 휴대성이 양호한 기술 집약적이며, 부가가치가 높은 차세대 첨단 디스플레이(display)소자로 각광받고 있다. Recently, liquid crystal displays have been spotlighted as next generation advanced display devices having low power consumption, good portability, high technology value, and high added value.

이러한 액정표시장치 중에서도 각 화소(pixel)별로 전압의 온(on),오프(off)를 조절할 수 있는 스위칭 소자인 박막트랜지스터가 구비된 액티브 매트릭스형 액정표시장치가 해상도 및 동영상 구현능력이 뛰어나 가장 주목받고 있다.Of these liquid crystal display devices, an active matrix type liquid crystal display device having a thin film transistor, which is a switching device capable of controlling voltage on and off for each pixel, .

일반적으로, 액정표시장치는 박막트랜지스터 및 화소전극을 형성하는 어레이 기판 제조 공정과 컬러필터 및 공통 전극을 형성하는 컬러필터 기판 제조 공정을 통해 각각 어레이 기판 및 컬러필터 기판을 형성하고, 이 두 기판 사이에 액정을 개재하는 액정 셀 공정을 거쳐 완성된다. In general, a liquid crystal display device forms an array substrate and a color filter substrate through an array substrate manufacturing process for forming a thin film transistor and a pixel electrode and a color filter substrate manufacturing process for forming a color filter and a common electrode, and between the two substrates. It completes through the liquid crystal cell process through liquid crystal in the process.

도 1은 일반적인 액정표시장치의 분해사시도이다.1 is an exploded perspective view of a general liquid crystal display device.

도시한 바와 같이, 일반적인 액정표시장치는 액정층(70)을 사이에 두고 어레이 기판(10)과 컬러필터 기판(80)이 대면 합착된 구성을 갖는데, 이중 하부의 어레이 기판(10)은 투명한 제 1 절연기판(11) 및 이의 상면으로 종횡 교차 배열되어 다수의 화소영역(P)을 정의하는 복수개의 게이트 배선(15)과 데이터 배선(40)을 포함하며, 이들 두 배선(15, 40)의 교차지점에는 스위칭 소자인 박막트랜지스터(Tr)가 구비되어 각 화소영역(P)에 마련된 화소전극(65)과 일대일 대응 접속되어 있다.As shown in the drawing, a general liquid crystal display device has a configuration in which the array substrate 10 and the color filter substrate 80 face each other with the liquid crystal layer 70 interposed therebetween. 1 includes a plurality of gate wirings 15 and data wirings 40 vertically and horizontally arranged on the insulating substrate 11 and upper surfaces thereof to define a plurality of pixel regions P, and the two wirings 15 and 40 The intersection point is provided with a thin film transistor Tr, which is a switching element, and is connected in one-to-one correspondence with the pixel electrode 65 provided in each pixel region P. FIG.

또한, 상기 어레이 기판(10)과 마주보는 상부의 컬러필터 기판(80)은 투명한 제 2 절연기판(81) 및 이의 배면으로 상기 게이트 배선(15)과 데이터 배선(40) 그리고 박막트랜지스터(Tr) 등의 비표시영역을 가리도록 각 화소영역(P)을 두르는 격자 형상의 블랙매트릭스(85)가 형성되어 있다. In addition, the upper color filter substrate 80 facing the array substrate 10 is a transparent second insulating substrate 81 and a rear surface thereof, the gate wiring 15, the data wiring 40, and the thin film transistor Tr. A grid-like black matrix 85 is formed to cover the non-display areas such as the pixels.

그리고, 상기 블랙매트릭스(85)의 격자 내부에서 각 화소영역(P)에 대응되게 순차적으로 반복 배열된 적, 녹, 청색 컬러필터 패턴(89a, 89b, 89c)을 포함하는 컬러필터층(89)이 형성되어 있으며, 상기 블랙매트릭스(85)와 컬러필터층(89) 하부로 전면에 걸쳐 투명한 공통전극(92)이 마련되어 있다.In addition, the color filter layer 89 including the red, green, and blue color filter patterns 89a, 89b, and 89c sequentially and repeatedly arranged in the grid of the black matrix 85 to correspond to each pixel area P is formed. The common electrode 92 is formed over the entire surface of the black matrix 85 and the lower portion of the color filter layer 89.

그리고, 상기 어레이 기판(10)과 컬러필터 기판(80)의 각 외부면에는 편광축과 평행한 빛만을 투과시키는 제 1, 2 편광판(미도시)이 위치하고, 상기 제 1 편광판(미도시) 하부에는 별도의 광원인 백라이트(back light)(미도시)가 배치되어 있다. In addition, first and second polarizers (not shown) for transmitting only light parallel to the polarization axis are positioned on each of the outer surfaces of the array substrate 10 and the color filter substrate 80, and beneath the first polarizer (not shown). A back light (not shown), which is a separate light source, is disposed.

도 2는 일반적인 액정표시장치용 어레이 기판에 있어, 하나의 화소영역에 대한 평면도이며, 도 3은 도 2를 절단선 Ⅲ-Ⅲ을 따라 절단한 단면도이다. FIG. 2 is a plan view of one pixel area in a general array substrate for a liquid crystal display device, and FIG. 3 is a cross-sectional view taken along the cutting line III-III of FIG. 2.

도시한 바와 같이, 기판(11)에 있어 가로 방향으로 게이트 배선(15(n-1), 15(n))이 형성되어 있으며, 상기 게이트 배선(15(n-1), 15(n))과 교차하여 데이터 배선(40)이 형성됨으로써 상기 게이트 배선(15(n-1), 15(n))과 데이터 배선(40)에 의해 둘러싸인 영역인 화소영역(P)이 정의되고 있다.As shown, gate wirings 15 (n-1) and 15 (n) are formed in the horizontal direction in the substrate 11, and the gate wirings 15 (n-1) and 15 (n) are formed. The data line 40 is formed to intersect with each other, thereby defining the pixel area P, which is an area surrounded by the gate lines 15 (n-1) and 15 (n) and the data line 40.

또한, 상기 게이트 배선(15(n-1), 15(n))과 데이터 배선(40)이 교차하는 영역에는 최하부에 상기 게이트 배선(15(n-1), 15(n))과 연결된 게이트 전극(18)과, 그 상부로 게이트 절연막(30)과, 상기 게이트 절연막(30) 상부로 연결된 상태의 액티브층(35a)과 서로 이격하는 오믹콘택층(35b)으로 이루어진 반도체층(35)과, 상기 반도체층(35) 위로 서로 이격하는 소스 및 드레인 전극(43, 46)으로 구성된 스위칭 소자로서 박막트랜지스터(Tr)가 형성되어 있다. Further, a gate connected to the gate lines 15 (n-1) and 15 (n) at a lowermost portion in an area where the gate lines 15 (n-1) and 15 (n) intersect with the data lines 40. A semiconductor layer 35 including an electrode 18, a gate insulating layer 30 thereon, an active contact 35a in a state connected to the gate insulating layer 30, and an ohmic contact layer 35b spaced apart from each other; The thin film transistor Tr is formed as a switching element composed of source and drain electrodes 43 and 46 spaced apart from each other on the semiconductor layer 35.

그리고, 상기 박막트랜지스터(Tr)의 드레인 전극(46)과 접촉하며 상기 화소영역(P)별로 독립된 형태로 화소전극(65)이 형성되어 있다. 이때, 상기 게이트 배선(15(n-1), 15(n)) 더욱 정확히는 상기 화소전극(65)이 형성된 화소영역(P) 이를 n번째 게이트 배선(15(n))으로 구동되는 것을 특징으로 하는 n번째 화소영역(P)이라 할 때, 상기 화소전극(65)은 상기 n번째 화소영역(P) 상측에 위치하는 (n-1)번째 화소영역(미도시)을 정의하는 (n-1)번째 게이트 배선(15(n-1))과 중첩되어 형성된다. 그 결과 됨으로써 상기 n번째 화소영역(P)내에서 상기 (n-1)번째 게이트 배선(15(n-1))을 제 1 스토리지 전극(20)으로 하고, 상기 (n-1)번째 게이트 배선(15(n-1))과 중첩되는 화소전극을 제 2 스토리지 전극(66)으로 하여, 상기 제 1 및 제 2 스토리지 전극(20, 66) 사이에 구성된 게이트 절연막(30) 및 보호층(55)을 유전체층으로 하는 스토리지 커패시터(StgC)를 형성하고 있다. The pixel electrode 65 is formed in contact with the drain electrode 46 of the thin film transistor Tr and is independent of each pixel region P. In this case, the gate lines 15 (n-1) and 15 (n) more precisely, the pixel region P in which the pixel electrode 65 is formed is driven to the n-th gate line 15 (n). In the n th pixel region P, the pixel electrode 65 defines (n-1) th pixel region (not shown) located above the n th pixel region P (n-1). The second gate wiring 15 (n-1). As a result, in the nth pixel region P, the (n-1) th gate line 15 (n-1) is defined as the first storage electrode 20, and the (n-1) th gate line. The gate insulating film 30 and the protective layer 55 formed between the first and second storage electrodes 20 and 66 using the pixel electrode overlapping the 15 (n-1) as the second storage electrode 66. ) Is formed as a storage capacitor (StgC) having a dielectric layer.

이렇게 액정표시장치용 어레이 기판(10) 내의 각 화소영역(P)에 스토리지 커패시터(StgC)를 형성해야 하는 이유는 각 화소영역(P)에 있어, 한 번의 신호에 의해 액정에 인가된 전압을 다음 신호가 인가되기 전까지 일정한 전압상태를 유지시키기 위함이다. The reason why the storage capacitor StgC must be formed in each pixel region P in the array substrate 10 for the liquid crystal display device is that in each pixel region P, the voltage applied to the liquid crystal by one signal is next. This is to maintain a constant voltage state until a signal is applied.

이때, 스토리지 커패시터(StgC)의 축전용량 C는 다음과 같은 식으로 표현된다. At this time, the capacitance C of the storage capacitor StgC is expressed as follows.

C = ε* A/d -----①, (ε는 유전율, A는 전극의 면적, d는 두 전극간 거리)C = ε * A / d ----- ①, (ε is the dielectric constant, A is the electrode area, d is the distance between two electrodes)

①식에 의하면 스토리지 커패시터(StgC)의 축전용량(C)은 서로 마주하는 스토리지 전극의 면적(A)과 상기 전극 내부의 유전체의 유전율(ε)에 비례하며, 상기 두 전극간의 거리(d)에 반비례함을 알 수 있다. 즉, 전극의 면적(A)이 넓을수록, 상기 두 전극 사이에 위치하는 유전체의 유전율(ε)이 높을수록, 또는 두 전극간 거리(d)가 가까울수록 더 큰 축전용량(C)을 갖게 된다. According to Equation 1, the capacitance C of the storage capacitor StgC is proportional to the area A of the storage electrodes facing each other and the dielectric constant? Of the dielectric inside the electrode, and is determined by the distance d between the two electrodes. Inversely proportional. That is, the larger the area (A) of the electrode, the higher the dielectric constant (ε) of the dielectric positioned between the two electrodes, or the closer the distance (d) between the two electrodes, the larger the capacitance (C). .

따라서, 그 전극의 면적(A)이 클수록 큰 축전용량을 갖게 되는 바, 하나의 화소전극(65)을 소정의 시간동안 인가된 신호전압을 유지시키기 위해 충분한 축전용량(C)을 갖도록 하기 위해서는 상기 게이트 배선이 어느 정도 두꺼운 폭을 유지하여야 한다. Therefore, the larger the area A of the electrode, the larger the capacitance is. In order to ensure that one pixel electrode 65 has a sufficient capacitance C to maintain the applied signal voltage for a predetermined time, The gate wiring must be kept somewhat thick.

최근에는 하나의 화상을 표시하는 프레임 시간이 매우 짧은 액정표시장치가 제안되고 있으며, 이러한 액정표시장치의 경우, 스토리지 커패시터의 충전 시간이 매우 짧게되며, 따라서 상대적으로 더 큰 용량을 갖는 스토리지 커패시터가 필요로 되고 있다.
Recently, a liquid crystal display having a very short frame time for displaying one image has been proposed. In the case of such a liquid crystal display, the charging time of the storage capacitor is very short, and thus a storage capacitor having a relatively larger capacity is required. It is becoming.

전술한 문제를 해결하기 위해 본 발명은 안출된 것으로, 스토리지 커패시터의 용량을 향상시키면서도 화소영역의 개구율까지 향상시킬 수 있는 액정표시장치용 어레이 기판 및 이의 제조 방법을 제공하는 것을 그 목적으로 하고 있다.
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-described problem, and an object thereof is to provide an array substrate for a liquid crystal display device and a method of manufacturing the same, which can improve the aperture ratio of a pixel region while improving the capacity of a storage capacitor.

상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치용 어레이 기판은, 기판과; 상기 기판 상에 게이트 절연막을 개재하여 서로 교차하여 화소영역을 정의하며 형성된 게이트 배선 및 데이터 배선과; 상기 화소영역에 상기 게이트 및 데이터 배선과 이격하여 제 1 폭의 투명 도전성 물질로 이루어진 하부층과 상기 제 1 폭보다 작은 제 2 폭의 저저항 금속물질로 이루어진 상부층으로 구성된 제 1 스토리지 전극과; 상기 화소영역에 구비된 박막트랜지스터와; 상기 박막트랜지스터의 드레인 전극을 노출시키며 형성된 보호층과; 상기 보호층 위로 상기 화소영역에 상기 드레인 전극과 접촉하며 그 측단이 상기 제 1 스토리지 전극의 상부층과 중첩하도록 형성된 화소전극을 포함하며, 상기 화소전극은 상기 제 1 스토리지 전극과 중첩하는 부분이 제 2 스토리지 전극을 이룸으로써 이와 중첩하는 상기 제 1 스토리지 전극과 더불어 스토리지 커패시터를 이루는 것이 특징이다. In order to achieve the above object, an array substrate for a liquid crystal display device according to an embodiment of the present invention, the substrate; A gate wiring and a data wiring formed on the substrate to define a pixel region by crossing each other with a gate insulating film interposed therebetween; A first storage electrode in the pixel region, the first storage electrode comprising a lower layer formed of a transparent conductive material having a first width and an upper layer made of a low resistance metal material having a second width smaller than the first width; A thin film transistor provided in the pixel region; A protective layer formed to expose the drain electrode of the thin film transistor; A pixel electrode formed on the passivation layer in contact with the drain electrode in the pixel area, and having a side end thereof overlapping with an upper layer of the first storage electrode, wherein the pixel electrode overlaps with the first storage electrode; The storage electrode forms a storage capacitor together with the first storage electrode overlapping the storage electrode.

상기 하부층은 단일층 구조를 이루며, 상기 상부층은 단일층 또는 다중층 구조를 이루는 것이 특징이다. The lower layer has a single layer structure, and the upper layer has a single layer or a multilayer structure.

또한, 상기 게이트 배선 및 게이트 전극은 상기 제 1 스토리지 전극과 동일하게 투명 도전성 물질로 이루어진 상기 하부층과 상기 저저항 금속물질로 이루어진 상부층의 구조를 갖는 것이 특징이다. In addition, the gate wiring and the gate electrode have a structure of the lower layer made of a transparent conductive material and the upper layer made of the low resistance metal material in the same manner as the first storage electrode.

상기 제 1 스토리지 전극은 상기 화소영역 내에서 평면적으로'ㅁ' 또는 'U' 형태를 이루는 것이 특징이다. The first storage electrode has a planar shape 'ㅁ' or 'U' in the pixel area.

상기 제 1 스토리지 전극은 상기 각 게이트 배선과 데이터 배선과 인접한 측단에서 상기 상부층과 하부층이 일치하며, 상기 데이터 배선과 중첩하도록 형성되는 것이 특징이다. The first storage electrode is formed so that the upper layer and the lower layer coincide with each of the gate line and the data line and overlap the data line.

또한, 상기 박막트랜지스터는, 최하부에 상기 게이트 배선으로부터 분기한 게이트 전극과; 상기 게이트 전극 위로 형성되는 상기 게이트 절연막과; 상기 게이트 절연막 위로 순수 비정질 실리콘의 액티브층과; 상기 액티브층 위로 불순물 비정질 실리콘으로써 이루어지며 서로 이격하는 오믹콘택층과; 상기 서로 이격한 오믹콘택층 위로 형성되는 서로 이격한 소스 전극 및 상기 드레인 전극을 포함한다. The thin film transistor further includes a gate electrode branched from the gate wiring at a lowermost portion thereof; The gate insulating layer formed over the gate electrode; An active layer of pure amorphous silicon over the gate insulating film; An ohmic contact layer made of impurity amorphous silicon and spaced apart from each other on the active layer; It includes the source electrode and the drain electrode spaced apart from each other formed on the spaced apart ohmic contact layer.

본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치용 어레이 기판의 제조 방법은, 서로 교차하여 화소영역을 정의하는 게이트 및 데이터 배선과 상기 화소영역에 박막트랜지스터가 형성되는 액정표시장치용 어레이 기판의 제조 방법에 있어서, 상기 기판 상에 상기 게이트 배선을 형성하고, 상기 화소영역에 상기 게이트 및 데이터 배선과 이격하며 제 1 폭의 투명 도전성 물질로 이루어진 하부층과 상기 제 1 폭보다 작은 제 2 폭의 저저항 금속물질로 이루어진 상부층으로 구성된 제 1 스토리지 전극을 형성하는 단계와; 상기 화소영역에 상기 박막트랜지스터를 형성하는 단계와; 상기 박막트랜지스터의 드레인 전극을 노출시키는 보호층을 형성하는 단계와; 상기 보호층 위로 상기 화소영역에 상기 드레인 전극과 접촉하며 그 측단이 상기 제 1 스토리지 전극의 상부층과 중첩하도록 화소전극을 형성하는 단계를 포함하며, 상기 화소전극은 상기 제 1 스토리지 전극과 중첩하는 부분이 제 2 스토리지 전극을 이룸으로써 이와 중첩하는 상기 제 1 스토리지 전극과 더불어 스토리지 커패시터를 이루는 것이 특징이다. A method of manufacturing an array substrate for a liquid crystal display device according to an embodiment of the present invention is a method of manufacturing an array substrate for a liquid crystal display device, in which a gate and data wiring defining a pixel area crossing each other and a thin film transistor are formed in the pixel area. The gate wiring layer may be formed on the substrate, and the lower layer may be formed of a transparent conductive material having a first width and spaced apart from the gate and data lines in the pixel area. Forming a first storage electrode comprising an upper layer formed of the first storage electrode; Forming the thin film transistor in the pixel region; Forming a protective layer exposing the drain electrode of the thin film transistor; Forming a pixel electrode on the protective layer in contact with the drain electrode in the pixel area and overlapping an upper end of the first storage electrode with a side end thereof, wherein the pixel electrode overlaps the first storage electrode; The second storage electrode forms a storage capacitor together with the first storage electrode overlapping the second storage electrode.

상기 기판 상에 상기 게이트 배선을 형성하고, 상기 화소영역에 상기 게이트 및 데이터 배선과 이격하며 제 1 폭의 투명 도전성 물질로 이루어진 하부층과 상기 제 1 폭보다 작은 제 2 폭의 저저항 금속물질로 이루어진 상부층으로 구성된 제 1 스토리지 전극을 형성하는 단계는, 상기 기판상에 투명 도전성 물질층과 저저항 금속물질층을 형성하는 단계와; 상기 저저항 금속물질층 위로 전면에 포토레지스트층을 형성하는 단계와; 상기 포토레지스트층을 투과영역, 차단영역 및 반투과영역을 갖는 노과 마스크를 통해 노광을 실시함으로써 상기 게이트 배선과 상기 제 1 스토리지 배선의 상부층에 대응해서는 제 1 두께의 제 1 포토레지스트 패턴을 형성하고, 상기 제 1 스토리지 배선의 상기 하부층만이 형성된 부분에 대응하여 제 1 두께보다 얇은 제 2 두께의 제 2 포토레지스트 패턴을 형성하는 단계와; 상기 제 1 및 제 2 포토레지스트 패턴 외부로 노출된 상기 저저항 금속층과 그 하부의 투명 도전성 물질층을 패터닝하여 투명 도전성 물질로 이루어진 부분과 저저항 금속물질로 이루어진 부분이 동일한 폭을 갖는 형태의 게이트 배선과 제 1 스토리지 전극을 형성하는 단계와; 애싱을 진행하여 상기 제 2 포토레지스트 패턴을 제거함으로써 상기 제 1 스토리지 패턴의 저저항 금속물질로 이루어진 부분 일부를 노출시키는 단계와; 상기 제 1 포토레지스트 패턴 외부로 노출된 상기 제 1 스토리지 전극의 상기 저저항 금속물질로 이루어진 부분을 제거하는 단계와; 상기 제 1 포토레지스트 패턴을 제거하는 단계를 포함한다. Forming a gate wiring on the substrate, spaced apart from the gate and data wiring in the pixel region, and a lower layer formed of a transparent conductive material having a first width and a low resistance metal material having a second width smaller than the first width; The forming of the first storage electrode including the upper layer may include forming a transparent conductive material layer and a low resistance metal material layer on the substrate; Forming a photoresist layer on the entire surface of the low resistance metal material layer; Exposing the photoresist layer through a furnace mask having a transmissive region, a blocking region, and a transflective region to form a first photoresist pattern of a first thickness corresponding to the upper layer of the gate wiring and the first storage wiring; Forming a second photoresist pattern of a second thickness thinner than a first thickness corresponding to a portion where only the lower layer of the first storage wiring is formed; A gate having a shape in which a portion made of a transparent conductive material and a portion made of a low resistance metal material have the same width by patterning the low resistance metal layer and a transparent conductive material layer below the exposed first and second photoresist patterns Forming a wiring and a first storage electrode; Exposing a portion of the low resistance metal material of the first storage pattern by removing the second photoresist pattern by ashing; Removing a portion of the low resistance metal material of the first storage electrode exposed to the outside of the first photoresist pattern; Removing the first photoresist pattern.

상기 제 1 스토리지 전극은 상기 화소영역 내에서 평면적으로'ㅁ' 또는 'U' 형태를 이루도록 형성하며, 상기 각 게이트 배선과 데이터 배선과 인접한 측단에서 상기 상부층과 하부층이 일치하도록 형성하며, 나아가 상기 제 1 스토리지 전극은 상기 데이터 배선과 중첩하도록 형성하는 것이 특징이다. The first storage electrode is formed to have a planar shape of 'ㅁ' or 'U' in the pixel area, and is formed to coincide with the upper layer and the lower layer at a side end adjacent to each of the gate lines and the data lines. The first storage electrode may be formed to overlap the data line.

상기 하부층은 단일층 구조를 이루며, 상기 상부층은 단일층 또는 다중층 구조를 이루도록 형성하는 것이 특징이다. The lower layer forms a single layer structure, and the upper layer is formed to form a single layer or a multilayer structure.

상기 박막트랜지스터를 형성하는 단계는, 상기 기판 상에 상기 게이트 배선에서 분기하는 게이트 전극을 형성하는 단계와; 상기 게이트 전극 위로 전면에 상기 게이트 절연막을 형성하는 단계와; 상기 게이트 절연막 위로 상기 게이트 전극에 대응하여 순수 비정질 실리콘의 액티브층과, 상기 액티브층 위로 불순물 비정질 실리콘으로써 이루어지며 서로 이격하는 오믹콘택층과, 상기 오믹콘택층 위로 서로 이격하는 소스 및 드레인 전극을 형성하는 단계를 포함한다.
The forming of the thin film transistor may include forming a gate electrode branched from the gate wiring on the substrate; Forming the gate insulating film over the gate electrode; An active layer of pure amorphous silicon over the gate insulating layer, an ohmic contact layer formed of impurity amorphous silicon and spaced apart from each other on the active layer, and a source and drain electrode spaced apart from each other over the ohmic contact layer It includes a step.

이와 같이, 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치용 어레이 기판은 화소영역 내에 형성되는 스토리지 커패시터가 화소영역의 테두리를 따라 형성됨으로써 빛샘이 발생되는 부분을 가리고 형성되고 있음으로써 종래의 게이트 배선의 일부를 스토리지 커패시터의 구성요소로 하는 것에 비하여 스토리지 용량을 향상시키며, 동시에 빛샘을 차단함으로써 이러한 구성을 갖는 어레이 기판을 포함하는 액정표시장치의 블랙매트릭스 폭을 줄일 수 있으므로 개구율을 향상시키는 효과가 있다. As described above, the array substrate for the liquid crystal display device according to the exemplary embodiment of the present invention is formed by covering a portion where light leakage is generated by forming a storage capacitor formed in the pixel region along the edge of the pixel region, thereby forming a part of the conventional gate wiring. As a component of the storage capacitor, the storage capacity is improved, and at the same time, the black matrix width of the liquid crystal display including the array substrate having such a configuration can be reduced by blocking light leakage, thereby improving the aperture ratio.

나아가 스토리지 배선과 연결되는 제 1 스토리지 전극을 투명 도전물질의 하부층과 단일층 또는 다중층 구조의 저저항 금속물질의 상부층의 구조를 이루도록 형성하며, 이때 상기 투명 도전물질로 이루어진 하부층의 폭을 상기 저저항 금속물질로 이루어진 상부층의 폭보다 넓게 함으로써 개구율 저감없이 더욱더 스토리지 용량을 향상시키는 효과가 있다.
Further, a first storage electrode connected to the storage wiring is formed to form a lower layer of the transparent conductive material and an upper layer of the low resistance metal material having a single layer or a multilayer structure, wherein the width of the lower layer of the transparent conductive material is lowered. By increasing the width of the upper layer of the resistive metal material, the storage capacity can be further improved without reducing the aperture ratio.

도 1은 일반적인 액정표시장치의 분해사시도.
도 2는 일반적인 액정표시장치용 어레이 기판에 있어, 하나의 화소영역에 대한 평면도.
도 3은 도 2를 절단선 Ⅲ-Ⅲ을 따라 절단한 단면도.
도 4는 본 발명의 제 1 실시예에 의한 액정표시장치용 어레이 기판의 하나의 화소영역을 도시한 평면도.
도 5는 도 4를 절단선 V-V를 따라 절단한 부분에 대한 단면도.
도 6은 도 4를 절단선 Ⅵ-Ⅵ를 따라 절단한 부분에 대한 단면도.
도 7은 본 발명의 제 2 실시예에 의한 액정표시장치용 어레이 기판의 하나의 화소영역을 도시한 평면도.
도 8은 도 7을 절단선 Ⅷ-Ⅷ을 따라 절단한 부분에 대한 단면도.
도 9a 내지 도 9g는 도 4를 절단선 V-V를 따라 절단한 부분에 대한 제조 단계별 공정 단면도,
도 10a 내지 도 10g는 도 4를 절단선 Ⅵ-Ⅵ를 따라 절단한 부분에 대한 제조 단계별 공정 단면도.
1 is an exploded perspective view of a general liquid crystal display device.
2 is a plan view of one pixel area in a typical array substrate for a liquid crystal display device;
3 is a cross-sectional view taken along the line III-III of FIG. 2;
4 is a plan view showing one pixel area of an array substrate for a liquid crystal display device according to a first embodiment of the present invention;
FIG. 5 is a cross-sectional view of a portion cut along the cutting line VV in FIG. 4. FIG.
FIG. 6 is a cross-sectional view of a portion cut along the cutting line VI-VI of FIG. 4. FIG.
7 is a plan view showing one pixel area of an array substrate for a liquid crystal display device according to a second embodiment of the present invention;
8 is a cross-sectional view of a portion cut along line VIII-VIII of FIG. 7;
9A to 9G are cross-sectional views of manufacturing steps of a portion cut along the cutting line VV of FIG. 4;
10A to 10G are cross-sectional views of manufacturing steps of the portion cut along the cutting line VI-VI of FIG. 4.

이하, 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치용 어레이 기판 및 그 제조 방법을 도면을 참조하여 설명한다.Hereinafter, an array substrate for a liquid crystal display device and a method of manufacturing the same according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

도 4는 본 발명의 제 1 실시예에 의한 액정표시장치용 어레이 기판의 하나의 화소영역을 도시한 평면도이며, 도 5는 도 4를 절단선 V-V를 따라 절단한 부분에 대한 단면도이며, 도 6은 도 4를 절단선 Ⅵ-Ⅵ를 따라 절단한 부분에 대한 단면도이다. 이때, 설명의 편의를 위해 각 화소영역(P) 내에서 스위칭 소자인 박막 트랜지스터(Tr)가 형성될 영역을 스위칭 영역(TrA), 스토리지 커패시터(StgC)가 형성될 영역을 스토리지 영역(StgA)이라 정의하였으며, 도 6에 있어서는 컬러필터 기판에 구비되는 블랙매트릭스(BM)를 함께 도시하였다. FIG. 4 is a plan view illustrating one pixel area of an array substrate for a liquid crystal display device according to a first embodiment of the present invention, FIG. 5 is a cross-sectional view of a portion taken along the cutting line VV of FIG. FIG. 4 is a cross-sectional view of a portion cut along the cutting line VI-VI. In this case, for convenience of description, the region in which the thin film transistor Tr as the switching element is to be formed in each pixel region P is referred to as the switching region TrA and the region in which the storage capacitor StgC is to be formed as the storage region StgA. In FIG. 6, the black matrix BM included in the color filter substrate is illustrated.

우선, 도 4를 참조하면, 본 발명의 제 1 실시예에 따른 액정표시장치용 어레이 기판(101)을 살펴보면, 가로방향과 세로방향으로 서로 교차하여 화소영역(P)을 정의하며 다수의 게이트 배선(103)과 데이터 배선(130)이 형성되어 있다.First, referring to FIG. 4, referring to an array substrate 101 for a liquid crystal display device according to a first embodiment of the present invention, a plurality of gate wirings are defined by crossing pixel horizontally and vertically. 103 and the data wiring 130 are formed.

이때, 상기 각 화소영역(P)에는 그 내측으로 각 화소영역(P)을 두르는 형태를 가지며 상기 게이트 배선(103)이 형성된 동일한 층에 제 1 스토리지 전극(111)이 형성되고 있는 것이 특징이다. 이때, 상기 게이트 배선(103)이 연장하는 가로방향으로 이웃한 각 제 1 스토리지 전극(111)은 동일한 층 동일한 물질로 이루어진 연결패턴에 의해 서로 전기적으로 연결되고 있는 것이 특징이다.In this case, the first storage electrode 111 is formed on the same layer in which the gate line 103 is formed, and the pixel area P is formed inside the pixel area P. At this time, each of the first storage electrodes 111 adjacent to each other in the horizontal direction from which the gate wiring 103 extends is electrically connected to each other by a connection pattern made of the same material.

이러한 제 1 스토리지 전극(111)에는 통상적으로 공통전압(Vcom)이 인가된다.Common voltage Vcom is typically applied to the first storage electrode 111.

또한, 각 화소영역(P) 내의 스위칭 영역(TrA)에는 게이트 전극(105)과 게이트 절연막(115)과 반도체층(120)과 소스 및 드레인 전극(133, 136)으로 구성된 스위칭 소자인 박막트랜지스터(Tr)가 상기 게이트 배선(103) 및 데이터 배선(130)과 연결되며 형성되어 있다. In the switching region TrA in each pixel region P, a thin film transistor, which is a switching element composed of a gate electrode 105, a gate insulating film 115, a semiconductor layer 120, and source and drain electrodes 133 and 136, is formed. Tr is connected to the gate line 103 and the data line 130.

그리고, 상기 박막트랜지스터(Tr)의 드레인 전극(136)을 노출시키는 드레인 콘택홀(143)을 갖는 보호층(140)이 표시영역에 형성되고 있으며, 상기 보호층(140) 위로 상기 드레인 콘택홀(143)을 통해 상기 드레인 전극(136)과 접촉하며 각 화소영역(P)별로 판 형태의 화소전극(150)이 형성되고 있다.In addition, a protective layer 140 having a drain contact hole 143 exposing the drain electrode 136 of the thin film transistor Tr is formed in the display area, and the drain contact hole is formed on the protective layer 140. The plate electrode 150 is formed in contact with the drain electrode 136 through each of the pixel regions P.

이때, 상기 화소전극(150)은 상기 각 화소영역(P)의 내측으로 각 화소영역(P)을 두르는 형태로 이루어진 제 1 스토리지 전극(111)과 중첩하며 형성되고 있으며, 이렇게 서로 중첩하는 제 1 스토리지 전극(111)과 상기 화소전극(150)은 스토리지 커패시터(StgC)를 이룬다.In this case, the pixel electrode 150 overlaps the first storage electrode 111 formed to surround each pixel area P inside the pixel area P, and thus the first overlapping electrode 1. The storage electrode 111 and the pixel electrode 150 form a storage capacitor StgC.

이렇게 각 화소영역(P)의 내측에서 상기 화소영역(P)을 두르는 형태 즉 'ㅁ'자 형태를 갖는 스토리지 커패시터(StgC)는 종래의 게이트 배선(도 2의 20)과 중첩하여 형성되는 'ㅡ'자 형태의 스토리지 커패시터(도 2의 StgC) 대비 상대적으로 각 화소영역(P) 내에서 큰 면적을 가지므로 용량이 커지는 것이 특징이다.As such, the storage capacitor StgC, which has a shape that surrounds the pixel area P, that is, a 'ㅁ' shape, is formed so as to overlap with the conventional gate line 20 of FIG. 2. It has a larger area in each pixel region P relative to the '-shaped storage capacitor (StgC of FIG. 2), and thus has a large capacity.

나아가 본 발명의 제 1 실시예에 따른 액정표시장치용 어레이 기판(101)에 있어 가장 특징적인 구성은, 상기 제 1 스토리지 전극(111)은 투명 도전성 물질로 이루어진 하부층(109)과 저저항 금속물질로 이루어진 상부층(110)의 이중층 또는 그 이상의 다중층 구조를 이루고 있다는 것과, 상기 투명 도전성 물질로 이루어진 하부층(109)의 제 1 폭(w1)이 상기 저저항 금속물질로 이루어진 상부층(110)의 제 2 폭(w2)보다 큰 값을 가지며, 상기 하부층(109)이 상기 각 화소영역(P) 내부에서 상기 상부층(110)의 외측으로 노출되도록 형성되고 있다는 것이다.Furthermore, the most characteristic configuration of the array substrate 101 for a liquid crystal display device according to the first embodiment of the present invention is that the first storage electrode 111 is a lower layer 109 made of a transparent conductive material and a low resistance metal material. The first layer (w1) of the lower layer 109 made of the transparent conductive material and the second layer of the upper layer 110 made of the low resistance metal material It has a value larger than two widths w2, and the lower layer 109 is formed to be exposed to the outside of the upper layer 110 in each pixel area P.

이때, 상기 제 1 스토리지 전극(111)은 상기 게이트 배선(103)과 데이터 배선에 인접하는 측면에서 상기 투명 도전성 물질로 이루어진 하부층(109)의 끝단과 상기 저저항 금속 물질로 이루어진 상부층(110)의 끝단이 일치하도록 형성되고 있는 것이 특징이다. In this case, the first storage electrode 111 may be formed at an end of the lower layer 109 made of the transparent conductive material and the upper layer 110 made of the low resistance metal material at the side adjacent to the gate line 103 and the data line. It is a feature that the ends are formed to coincide.

이렇게 이중층 구조로서 그 폭을 달리하여(w1 > w2) 다중층 구조로 형성되는 제 1 스토리지 전극(111)은 상기 투명 도전성 물질로 이루어진 하부층(109)의 제 1 폭(w1)이 증가되더라도 투명한 특성이 유지됨으로써 개구율의 저하를 억제하며, 동시에 제 1 폭(w1) 증가에 의해 각 화소영역(P) 내에서 화소전극(150)과 중첩하게 되는 면적이 증가하게 됨으로써 스토리지 커패시터(StgC) 자체의 용량을 증가시키게 된다. As described above, the first storage electrode 111 having a multi-layer structure having different widths (w1> w2) has a transparent characteristic even if the first width w1 of the lower layer 109 made of the transparent conductive material is increased. As a result, the reduction of the aperture ratio is suppressed, and at the same time, the area overlapping the pixel electrode 150 in each pixel region P increases by increasing the first width w1, thereby increasing the capacitance of the storage capacitor StgC itself. Will increase.

또한, 이러한 각 화소영역(P)을 두르는 형태의 스토리지 커패시터(StgC)의 구성요소인 제 1 스토리지 전극(111)은 실질적으로 블랙매트릭스의 역할을 하게 되므로 이러한 구성을 갖는 어레이 기판(101)과 합착되어 액정표시장치를 완성하게 되는 컬러필터 기판(미도시)에 구비되는 블랙매트릭스(BM)의 폭을 줄일 수 있으므로 개구율을 향상시키는 효과를 구현하게 되는 것이 특징이다. In addition, since the first storage electrode 111, which is a component of the storage capacitor StgC, which surrounds each pixel region P, substantially serves as a black matrix, the first storage electrode 111 may be bonded to the array substrate 101 having such a configuration. The width of the black matrix BM included in the color filter substrate (not shown), which completes the liquid crystal display device, may be reduced, thereby implementing an effect of improving the aperture ratio.

전술한 바와같은 평면 구성을 갖는 본 발명의 제 1 실시예에 따른 액정표시장치용 어레이 기판(101)의 단면 구성에 대해 도 5 및 도 6을 참조하여 설명한다.A cross-sectional configuration of the array substrate 101 for a liquid crystal display device according to the first embodiment of the present invention having the planar configuration as described above will be described with reference to FIGS. 5 and 6.

도시한 바와같이, 투명한 절연기판(102) 예를들면 유리기판 또는 플라스틱 기판 상에 일방향으로 연장하는 게이트 배선(도 4의 103)이 형성되고 있으며, 상기 스위칭 영역(TrA)에는 상기 게이트 배선(103)과 연결된 게이트 전극(105)이 형성되고 있다.As shown in the drawing, a gate wiring (103 in FIG. 4) extending in one direction is formed on a transparent insulating substrate 102, for example, a glass substrate or a plastic substrate, and the gate wiring 103 is formed in the switching region TrA. ) And a gate electrode 105 is formed.

또한, 상기 투명한 절연기판(102) 상에는 상기 게이트 배선(103)과 이격하며 각 화소영역(P)에 대응하여 각 화소영역(P)의 내측으로 가장자리를 두르는 형태 즉, 'ㅁ'형태를 가지며 제 1 스토리지 전극(111)이 형성되어 있다.In addition, the transparent insulating substrate 102 is spaced apart from the gate wiring 103 and has a shape that surrounds the inside of each pixel area P corresponding to each pixel area P. 1 storage electrode 111 is formed.

이때, 상기 제 1 스토리지 전극(111)은 상기 게이트 배선(103)의 연장 방향으로 이웃한 것 간에는 연결패턴을 개재하여 전기적으로 연결되고 있다.In this case, the first storage electrode 111 is electrically connected between the neighboring ones in the extending direction of the gate wiring 103 via a connection pattern.

한편, 상기 제 1 스토리지 전극(111)과 게이트 배선(103) 및 게이트 전극(105)은 모두 투명 도전성 물질 예를들면 인듐-틴-옥사이드(ITO) 또는 인듐-징크-옥사이드(IZO)로 이루어진 단일층 구조의 하부층(109)과 저저항 금속물질 예를들면 알루미늄(Al), 알루미늄 합금(AlNd), 구리(Cu), 구리합금, 몰리브덴, 몰리 티타늄 중 어느 하나 또는 둘 이상의 물질로 이루어진 단일층 또는 다중층 구조의 상부층(110)으로 구성되고 있는 것이 특징이다. Meanwhile, the first storage electrode 111, the gate wiring 103, and the gate electrode 105 are all made of a transparent conductive material, for example, indium tin oxide (ITO) or indium zinc oxide (IZO). The lower layer 109 of the layer structure and a low resistance metal material, for example, a single layer made of any one or two or more of aluminum (Al), aluminum alloy (AlNd), copper (Cu), copper alloy, molybdenum, molybdenum titanium or It is characterized by being composed of the upper layer 110 of a multilayer structure.

이렇게 상기 투명한 절연기판(102) 상에 형성되는 구성요소 중 상기 제 1 스토리지 전극(111)은 상기 하부층(109)의 제 1 폭(w1)과 상부층(110)의 제 2 폭(w2)을 달리하고 있는 것이 또 다른 특징이다. 이때, 상기 제 1 스토리지 전극(111)은 상기 게이트 배선(도 4의 103) 및 데이터 배선(130)과 인접하는 측면은 상기 상부층(110)과 하부층(109)의 끝단이 일치하고, 각 화소영역(P)의 내측에 위치하는 측면은 그 끝단이 일치하지 않고 상기 투명 도전성 물질로 이루어진 하부층(109)의 제 1 폭(w1)이 상기 상부층(110)의 제 2 폭(w2)보다 더 큰 값을 가져 상기 하부층(109)이 상기 상부층(110) 외측으로 노출된 구조를 이루는 것이 특징이다.In this way, the first storage electrode 111 of the components formed on the transparent insulating substrate 102 is different from the first width w1 of the lower layer 109 and the second width w2 of the upper layer 110. Doing so is another feature. In this case, the first storage electrode 111 has a side surface adjacent to the gate line 103 and the data line 130 at the ends of the upper layer 110 and the lower layer 109, and each pixel area is the same. The side surface located inside (P) has a value where the first width w1 of the lower layer 109 made of the transparent conductive material is larger than the second width w2 of the upper layer 110. The lower layer 109 is characterized by forming a structure exposed to the outside of the upper layer (110).

상기 제 1 스토리지 전극(111)은 전술한 바와같은 구조를 이룸으로써 각 화소영역(P)을 두르는 형태를 가지며 투명 도전물질로 이루어지 상기 하부층(109)의 제 1 폭(w1)이 증가된다 하더라도 각 화소영역(P)의 개구율에는 전혀 영향을 주지 않으며 스토리지 커패시터(StgC)의 용량을 향상시킬 수 있는 것이다. The first storage electrode 111 has the same structure as described above and has a shape covering each pixel area P, and is made of a transparent conductive material even if the first width w1 of the lower layer 109 is increased. The opening ratio of each pixel area P is not affected at all and the capacity of the storage capacitor StgC can be improved.

다음, 상기 게이트 배선(도 4의 103)과 게이트 전극(105) 및 제 1 스토리지 전극(111) 위로 전면에 무기절연물질 예를들면 산화실리콘(SiO2) 또는 질화실리콘(SiNx)으로 이루어진 게이트 절연막(115)이 구비되고 있다. Next, a gate insulating layer made of an inorganic insulating material, for example, silicon oxide (SiO 2 ) or silicon nitride (SiNx), on the gate wiring 103 (see FIG. 4), the gate electrode 105, and the first storage electrode 111. 115 is provided.

또한, 상기 게이트 절연막(115) 위로 상기 게이트 배선(도 4의 103)과 교차하여 화소영역(P)을 정의하며 데이터 배선(130)이 형성되어 있다. In addition, the pixel line P is defined on the gate insulating layer 115 to intersect with the gate line 103 in FIG. 4, and the data line 130 is formed.

상기 스위칭 영역(TrA)에는 상기 게이트 전극(105)에 대응하여 순수 비정질 실리콘으로 이루어진 액티브층(120a)과, 그 상부로 상기 게이트 전극(105)을 사이에 두고 이격하는 불순물 비정질 실리콘으로 이루어진 오믹콘택층(120b)으로 구성된 반도체층(120)이 형성되어 있다. In the switching region TrA, an ohmic contact made of an active layer 120a made of pure amorphous silicon corresponding to the gate electrode 105 and an impurity amorphous silicon spaced apart from each other with the gate electrode 105 interposed therebetween. The semiconductor layer 120 composed of the layer 120b is formed.

그리고, 상기 반도체층(120) 위로 상기 오믹콘택층(120b)과 접촉하며 서로 이격하며 소스 전극(133) 및 드레인 전극(136)이 형성되어 있다. 이때, 상기 소스 전극(133)은 상기 데이터 배선(130)과 전기적으로 연결되고 있다.The source electrode 133 and the drain electrode 136 are formed on the semiconductor layer 120 to be in contact with the ohmic contact layer 120b and to be spaced apart from each other. In this case, the source electrode 133 is electrically connected to the data line 130.

이때, 상기 스위칭 영역(TrA)에 순차 적층된 게이트 전극(105)과 게이트 절연막(115)과 반도체층(120)과 서로 이격하는 소스 및 드레인 전극(133, 136)은 박막트랜지스터(Tr)를 이룬다.In this case, the gate electrode 105, the gate insulating layer 115, and the source and drain electrodes 133 and 136 which are spaced apart from each other and sequentially stacked on the switching region TrA form a thin film transistor Tr. .

한편, 상기 데이터 배선(130)과 상기 게이트 절연막(115) 사이에는 제조 방법상의 특성에 의해 반도체 물질로 이루어진 제 1 패턴(121a)과 제 2 패턴(121b)이 구비되고 있는 것을 도시하였지만, 상기 제 1 및 제 2 패턴(121a, 121b)은 생략될 수도 있다. Meanwhile, although the first pattern 121a and the second pattern 121b made of a semiconductor material are provided between the data line 130 and the gate insulating layer 115 due to the characteristics of the manufacturing method, the first pattern 121a and the second pattern 121b are provided. The first and second patterns 121a and 121b may be omitted.

다음, 상기 박막트랜지스터(Tr) 위로 전면에 상기 박막트랜지스터(Tr)의 드레인 전극(136)을 노출시키는 드레인 콘택홀(143)을 갖는 보호층(140)이 형성되고 있다. 이때, 상기 보호층(140)은 무기절연물질 예를들면 산화실리콘(SiO2) 또는 질화실리콘(SiNx)로 이루어지거나, 또는 유기절연물질 예를들면 포토아크릴(photo acryl) 또는 벤조사이클로분텐(BCB)으로 이루어지고 있다.Next, a passivation layer 140 having a drain contact hole 143 exposing the drain electrode 136 of the thin film transistor Tr on the front surface of the thin film transistor Tr is formed. In this case, the protective layer 140 is made of an inorganic insulating material such as silicon oxide (SiO 2 ) or silicon nitride (SiNx), or an organic insulating material such as photo acryl or benzocyclobunten (BCB). )

도면에서는 상기 보호층(140)이 무기절연물질로 이루어진 것으로 일례도 도시하였다. In the drawing, the protective layer 140 is made of an inorganic insulating material, and an example is illustrated.

다음, 상기 보호층(140) 위로는 투명 도전성 물질 예를들면 인듐-틴-옥사이드(ITO) 또는 인듐-징크-옥사이드(IZO)로 이루어지며, 각 화소영역(P)별로 독립된 형태로써 상기 드레인 콘택홀(143)을 통해 드레인 전극(136)과 접촉하며 상기 제 1 스토리지 전극(111)의 상부층(110)과 중첩하며 상기 제 1 스토리지 전극(111)의 상부층(110) 상에 그 측단이 위치하는 형태로서 화소전극(150)이 형성됨으로써 본 발명의 제 1 실시예에 따른 액정표시장치용 어레이 기판(101)이 완성되고 있다.Next, the passivation layer 140 is formed of a transparent conductive material, for example, indium tin oxide (ITO) or indium zinc oxide (IZO), and the drain contact in an independent form for each pixel region P. Contacting the drain electrode 136 through the hole 143, overlapping the upper layer 110 of the first storage electrode 111, and having a side end thereof on the upper layer 110 of the first storage electrode 111. By forming the pixel electrode 150 as a form, the array substrate 101 for a liquid crystal display device according to the first embodiment of the present invention is completed.

이때, 상기 각 화소영역(P) 내에서 상기 제 1 스토리지 전극(111)과 중첩하는 화소전극(150) 부분은 제 2 스토리지 전극(153)을 이루는 것이 특징이다.In this case, a portion of the pixel electrode 150 overlapping the first storage electrode 111 in each pixel area P forms a second storage electrode 153.

따라서, 서로 중첩하는 상기 제 1 스토리지 전극(111)과 제 2 스토리지 전극(153)과 이들 두 구성요소 사이에 개재된 게이트 절연막(115)과 보호층(140)을 유전체층으로 하여 스토리지 커패시터(StgC)를 이룬다.Accordingly, the storage capacitor StgC is formed by using the first and second storage electrodes 111 and 153 overlapping each other, and the gate insulating layer 115 and the protective layer 140 interposed between the two components as dielectric layers. To achieve.

이러한 구성을 갖는 본 발명의 제 1 실시예에 따른 액정표시장치용 어레이 기판(101)의 경우, 각 화소전극(150)의 측단이 이중층 구조를 이루는 제 1 스토리지 전극(111) 상에 위치함으로써 상기 제 1 스토리지 전극(111) 자체가 블랙매트릭스의 역할을 하는 동시에 상기 제 1 스토리지 전극(111) 중 투명 도전성 물질로 이루어진 하부층(109)의 제 1 폭(w1)을 저저항 금속물질로 이루어진 상부층(110)의 제 2 폭(w2)보다 더 넓게 형성함으로써 개구율 저하없이 화소전극(150)과 중첩되는 부분을 넓혀 스토리지 커패시터(StgC)의 용량을 증가시키는 효과를 갖는다.
In the case of the array substrate 101 for a liquid crystal display device according to the first embodiment of the present invention having the above configuration, the side end of each pixel electrode 150 is positioned on the first storage electrode 111 having a double layer structure. While the first storage electrode 111 itself serves as a black matrix, the first layer w1 of the lower layer 109 made of a transparent conductive material among the first storage electrodes 111 may have an upper layer made of a low resistance metal material ( By forming a width wider than the second width w2 of the 110, the portion overlapping the pixel electrode 150 is increased without decreasing the aperture ratio, thereby increasing the capacitance of the storage capacitor StgC.

도 7은 본 발명의 제 2 실시예에 의한 액정표시장치용 어레이 기판의 하나의 화소영역을 도시한 평면도이며, 도 8은 도 7을 절단선 Ⅷ-Ⅷ을 따라 절단한 부분에 대한 단면도이다. 설명의 편의를 위해 제 1 실시예와 동일한 구성요소에 대해서는 동일한 도면 부호를 부여하였으며, 차별점이 있는 제 1 스토리지 전극에 대해서만 다른 도면 부호를 부여하였으며, 도 8에 있어서는 컬러필터 기판에 구비되는 블랙매트릭스(BM)를 함께 도시하였다.FIG. 7 is a plan view illustrating one pixel area of an array substrate for a liquid crystal display device according to a second exemplary embodiment of the present invention, and FIG. 8 is a cross-sectional view of a portion taken along the line VII-VII of FIG. 7. For convenience of description, the same reference numerals are given to the same components as those in the first embodiment, and the same reference numerals are assigned to only the first storage electrodes having differentiation points. In FIG. 8, the black matrix provided in the color filter substrate is shown. (BM) is shown together.

본 발명의 제 2 실시예에 따른 액정표시장치용 어레이 기판(101)의 경우, 제 1 스토리지 전극(211)의 형태를 제외하고는 제 1 실시예와 동일하므로 차별점이 있는 제 1 스토리지 전극(211)의 형태를 위주로 하여 설명한다. The array substrate 101 for a liquid crystal display device according to the second embodiment of the present invention is the same as the first embodiment except for the shape of the first storage electrode 211. Will be explained mainly in the form of).

도 7 및 도 8을 참조하면, 본 발명의 제 2 실시예에 따른 액정표시장치용 어레이 기판(101)의 경우, 제 1 스토리지 전극(211)은 "U" 형태를 이루며, 데이터 배선(130)과 중첩하도록 형성되고 있는 것이 특징이다. 7 and 8, in the case of the array substrate 101 for a liquid crystal display according to the second embodiment of the present invention, the first storage electrode 211 has a “U” shape, and the data line 130 is formed. It is characterized by being overlapped with.

이렇게 상기 제 1 스토리지 전극(211)이 데이터 배선(130)과 중첩하도록 형성됨으로써 상기 데이터 배선(130)과 중첩하는 부분을 제외한 상기 데이터 배선(130)의 양측단에 위치하는 부분이 실질적으로 각 화소영역(P) 내에서 제 1 스토리지 전극(211)의 역할을 하는 것이다.As such, the first storage electrode 211 is formed to overlap the data line 130, so that portions positioned at both ends of the data line 130 except for the portion overlapping the data line 130 are substantially each pixel. It serves as the first storage electrode 211 in the region P.

이때, "U" 형태를 갖는 제 1 스토리지 전극(211)은 제 1 실시예와 같이 투명 도전성 물질로 단일층 구조로서 제 1 폭(w1)을 갖는 하부층(209)과 저저항 금속물질로 단일층 또는 다중층 구조로서 상기 제 1 폭(w1)보다 작은 제 2 폭(w2)을 갖는 상부층(210)으로 이루어지고 있으며, 이러한 구조적 특징에 의해 개구율 저하없이 스토리지 커패시터(StgC)의 용량을 향상시키며 동시에 블랙매트릭스의 역할을 함으로써 이러한 구성을 갖는 어레이 기판(101)과 대향하는 컬러필터 기판(미도시)에 구비되는 블랙매트릭스(BM)의 폭을 줄일 수 있는 구성을 이루는 것이 특징이다.At this time, the first storage electrode 211 having a “U” shape is a single layer structure having a first width w1 as a single layer structure made of a transparent conductive material and a single layer made of a low resistance metal material as in the first embodiment. Or a multi-layered structure consisting of an upper layer 210 having a second width w2 smaller than the first width w1, which improves the capacity of the storage capacitor StgC without lowering the aperture ratio. The black matrix BM may be configured to reduce the width of the black matrix BM provided in the color filter substrate (not shown) facing the array substrate 101 having such a configuration.

본 발명의 제 2 실시예에 따른 제 1 스토리지 전극(211)의 경우, 데이터 배선(130)의 측단과 화소전극(150)의 측단 사이의 영역에 대해서도 형성되고 있으므로 제 1 실시예 대비 더욱더 빛샘이 발생하는 부분을 가지는 블랙매트릭스의 역할을 하게 된다. In the case of the first storage electrode 211 according to the second embodiment of the present invention, since the area between the side end of the data line 130 and the side end of the pixel electrode 150 is also formed, light leakage is further increased compared to the first embodiment. It acts as a black matrix with the parts that occur.

따라서 이러한 형태를 갖는 제 1 스토리지 전극(211)을 구비한 본 발명의 제 2 실시예에 따른 어레이 기판(101)은, 합착 마진을 고려하여 컬러필터 기판(미도시)에 형성되는 블랙매트릭스(BM)의 폭을 제 1 실시예보다도 작게 해도 데이터 배선(130)과 화소전극(150) 사이의 영역에서 빛샘이 발생되지 않으므로 특히 데이터 배선(130)에 대응하여 형성되는 블랙매트릭스(BM)의 폭을 상대적으로 작게 할 수 있으므로 개구율을 향상시키는 효과를 갖는다.Therefore, the array substrate 101 according to the second embodiment of the present invention having the first storage electrode 211 having such a shape has a black matrix BM formed on a color filter substrate (not shown) in consideration of the bonding margin. ) Is smaller than that of the first embodiment, so light leakage does not occur in the region between the data line 130 and the pixel electrode 150. In particular, the width of the black matrix BM formed corresponding to the data line 130 is reduced. Since it can be made relatively small, it has the effect of improving an aperture ratio.

그 이외의 구성요소는 전술한 제 1 실시예와 동일하므로 그 설명은 생략한다.
Other components are the same as those in the above-described first embodiment, and description thereof will be omitted.

이후에는 본 발명의 제 1 실시예에 따른 액정표시장치용 어레이 기판의 제조 방법에 대해 설명한다. 제 2 실시예에 따른 액정표시장치용 어레이 기판의 경우, 제 1 실시예와 제 1 스토리지 커패시터(StgC)의 평면 형태만을 달리할 뿐 실질적으로 동일한 제조 공정에 의해 제조되므로 제 1 실시예에 따른 어레이 기판의 제조 방법에 대해서만 설명한다.Hereinafter, a method of manufacturing an array substrate for a liquid crystal display device according to a first embodiment of the present invention will be described. In the case of the array substrate for a liquid crystal display device according to the second embodiment, the array according to the first embodiment is manufactured by substantially the same manufacturing process, except that only the planar shape of the first embodiment and the first storage capacitor StgC is different. Only the manufacturing method of a board | substrate is demonstrated.

도 9a 내지 도 9g는 도 4를 절단선 V-V를 따라 절단한 부분에 대한 제조 단계별 공정 단면도이며, 도 10a 내지 도 10g는 도 4를 절단선 Ⅵ-Ⅵ를 따라 절단한 부분에 대한 제조 단계별 공정 단면도이다.9A to 9G are cross-sectional views illustrating manufacturing steps of a portion cut along the cutting line VV of FIG. 4, and FIGS. 10A to 10G are cross-sectional views illustrating manufacturing steps of a portion cut along the cutting lines VI-VI of FIG. 4. to be.

도 9a와 도 10a에 도시한 바와 같이, 투명한 절연기판(102) 상에 투명 도전성 물질 예를들면 인듐-틴-옥사이드(ITO) 또는 인듐-징크-옥사이드(IZO)를 증착하여 투명 도전성 물질층(301)을 형성하고, 연속하여 저저항 금속물질 예를들면 알루미늄(Al), 알루미늄 합금(AlNd), 구리(Cu), 구리합금, 몰리브덴, 몰리 티타늄 중 어느 하나 또는 둘 이상의 물질을 연속적으로 증착하여 단일층 또는 다중층 구조의 저저항 금속층(305)을 형성한다. 도면에서는 상기 저저항 금속층(305)은 단일층 구조로 형성된 것을 일례로 도시하였다.9A and 10A, a transparent conductive material such as indium tin oxide (ITO) or indium zinc oxide (IZO) is deposited on the transparent insulating substrate 102 to form a transparent conductive material layer ( 301, and continuously depositing one or more materials of a low resistance metal material such as aluminum (Al), aluminum alloy (AlNd), copper (Cu), copper alloy, molybdenum and molybdenum titanium The low resistance metal layer 305 of a single layer or multilayer structure is formed. In the drawing, the low resistance metal layer 305 is formed as a single layer structure as an example.

이후, 상기 저저항 금속층(305) 위로 포토레지스트를 도포하여 포토레지스트층(191)을 형성하고, 상기 포토레지스트층(191) 위로 빛을 거의 100% 투과시키는 투과영역(TA)과, 빛을 거의 100% 차단하는 차단영역(BA)과 빛을 20% 내지 80% 정도 투과시키는 반투과영역(HTA)을 갖는 노광 마스크(195)를 위치시키고, 상기 노광 마스크(195)를 통해 상기 포토레지스트층(191)에 노광을 실시한다. Thereafter, a photoresist is formed on the low resistance metal layer 305 to form a photoresist layer 191, and the transmission area TA transmits light almost 100% onto the photoresist layer 191, and the light is almost transmitted. An exposure mask 195 having a blocking area BA blocking 100% and a semi-transmissive area HTA transmitting about 20% to 80% of light is positioned, and the photoresist layer (195) is disposed through the exposure mask 195. 191).

이때, 상기 포토레지스트층(191)을 형성을 위한 포토레지스트는 크게 포지티브 타입(positive type)과 네가티브 타입(negative type)이 있는데, 네가티브 타입(negative type)은 빛이 조사된 부분이 현상 시 남아있게 되는 특성을 가지며, 이와는 반대로 포지티브 타입(positive type)은 빛이 조사된 부분이 현상 시 제거되는 특성을 갖는다. At this time, the photoresist for forming the photoresist layer 191 is largely positive type (negative type) and negative type (negative type), the negative type (negative type) is the portion that is irradiated with light remains when developing On the contrary, the positive type has a characteristic in which a portion irradiated with light is removed during development.

본 발명의 제 1 실시예에 따른 액정표시장치용 어레이 기판의 제조 방법에 있어서는 네가티브 타입(negative type)의 포토레지스트를 이용한 것을 일례로 보이고 있으나, 포지티브 타입(positive type)의 포토레지스트를 이용해도 차단영역(BA)과 투과영역(TA)의 위치가 바뀐 노광 마스크를 이용하여 노광을 실시하면 동일한 결과를 얻을 수 있다. In the method of manufacturing the array substrate for a liquid crystal display device according to the first embodiment of the present invention, a negative type photoresist is used as an example. However, a positive type photoresist may be used for blocking. The same result can be obtained by performing exposure using the exposure mask which changed the position of the area | region BA and the transmission area | region TA.

한편, 상기 포토레지스트층(191)의 노광은 이중층 또는 다중층 구조를 갖는 게이트 배선(도 4의 103)과 게이트 전극(도 9g의 105) 및 제 1 스토리지 전극(도 10g의 111)이 형성되어야 할 부분에 대해서는 차단영역(BA)이 대응되도록, 상기 제 1 스토리지 전극(도 10g의 111) 중 투명 도전성 물질의 단일층 구조의 하부층(도 10g의 109)만이 형성될 부분에 대응해서는 반투과 영역(HTA)이 대응되도록, 그리고 상기 게이트 배선(도 4의 103)과 게이트 전극(도 9g의 105) 및 제 1 스토리지 전극(111)이 형성되어야 할 부분 이외의 영역에 대해서는 투과영역(TA)이 대응되도록 노광 마스크(195)를 위치시킨 후 진행한다.  Meanwhile, the exposure of the photoresist layer 191 requires a gate wiring (103 in FIG. 4), a gate electrode (105 in FIG. 9G), and a first storage electrode (111 in FIG. 10G) having a double layer or multilayer structure formed. The semi-transmissive area corresponds to the portion where only the lower layer (109 of FIG. 10G) of the single-layer structure of the transparent conductive material is formed in the first storage electrode (111 of FIG. 10G) so that the blocking area BA corresponds to the portion to be formed. The transmissive area TA is formed so as to correspond to the HTA and to regions other than a portion where the gate wiring 103 (FIG. 4), the gate electrode (105 in FIG. 9G), and the first storage electrode 111 should be formed. The exposure mask 195 is positioned to correspond, and then proceeds.

이러한 노광을 진행한 후, 포토레지스트층(191)의 현상 공정을 진행하면, 도 9b와 도 10b에 도시한 바와같이, 상기 저저항 금속층(도 9a의 305) 위로 다중층 구조의 게이트 배선(도 4의 103)과 게이트 전극(도 9g의 105) 및 제 1 스토리지 전극(111)이 형성될 부분에 대응해서는 제 1 두께를 갖는 제 1 포토레지스트 패턴(191a)이 형성되고, 상기 제 1 스토리지 전극(111)이 형성될 부분 중 투명 도전성 물질로 이루어진 단일층 구조의 하부층(109)만이 형성될 부분에 대응해서는 상기 제 1 두께보다 얇은 제 2 두께의 제 2 포토레지스트 패턴(191b)이 형성된다. 이때, 상기 게이트 배선(도 4의 103)과 게이트 전극(도 9g의 105) 및 제 1 스토리지 전극(111)이 형성될 부분 이외의 영역에 대해서는 모두 제거됨으로써 상기 저저항 금속층(도 9a의 305)이 노출된 상태를 이루게 된다.After the exposure is performed, the development process of the photoresist layer 191 is performed. As shown in FIGS. 9B and 10B, a gate wiring having a multilayer structure over the low resistance metal layer 305 of FIG. 9A (FIG. A first photoresist pattern 191a having a first thickness is formed to correspond to 103 of 4, a gate electrode (105 in FIG. 9G), and a portion where the first storage electrode 111 is to be formed, and the first storage electrode A second photoresist pattern 191b having a second thickness thinner than the first thickness is formed to correspond to a portion where only the lower layer 109 having a single layer structure made of a transparent conductive material is to be formed. In this case, all of regions other than the portion where the gate wiring (103 in FIG. 4), the gate electrode (105 in FIG. 9G) and the first storage electrode 111 are to be formed are removed, so that the low resistance metal layer (305 in FIG. 9A) is removed. This is an exposed state.

이후, 상기 제 1 및 제 2 포토레지스트 패턴(191a, 191b)이 외부로 노출된 상기 저저항 금속층(도 9a의 305)과 투명 도전성 물질층(도 9a의 301)을 식각을 진행하여 제거함으로서 상기 기판(102) 상에 투명 도전성 물질층의 하부층(109)과 이중층 이상의 구조를 갖는 저저항 금속물질로 이루어진 게이트 배선(도 4의 103)과 게이트 전극(105) 및 제 1 스토리지 전극(111)을 형성한다.Thereafter, the low-resistance metal layer 305 of FIG. 9A and the transparent conductive material layer 301 of FIG. 9A having the first and second photoresist patterns 191a and 191b exposed to the outside are removed by etching. On the substrate 102, a gate wiring (103 of FIG. 4), a gate electrode 105, and a first storage electrode 111 made of a low resistance metal material having a structure of at least two layers with a lower layer 109 of a transparent conductive material layer are formed. Form.

이때, 상기 제 1 스토리지 전극(111)은 현 상태에서는 투명 도전성 물질로 이루어진 하부층(109)과 저저항 금속물질로 이루어진 상부층(110)이 동일한 제 1 폭(w1)을 갖는 상태를 이룬다.At this time, the first storage electrode 111 has a state in which the lower layer 109 made of a transparent conductive material and the upper layer 110 made of a low resistance metal material have the same first width w1.

다음, 도 9c와 도 10c에 도시한 바와같이, 애싱(ashing)을 진행하여 상기 제 2 두께를 갖는 제 2 포토레지스트 패턴(도 9b의 191b)을 제거함으로써 상기 제 1 스토리지 전극(111) 중 투명 도전성 물질로 이루어진 단일층 구조를 이룰 부분의 저저항 금속 물질로 이루어진 상부층(110)을 노출시킨다.Next, as shown in FIGS. 9C and 10C, ashing is performed to remove the second photoresist pattern (191b of FIG. 9B) having the second thickness, thereby making the transparent of the first storage electrode 111 transparent. The upper layer 110 made of the low-resistance metal material of the portion to form the single layer structure made of the conductive material is exposed.

이때, 상기 애싱(ashing) 진행에 의해 제 1 두께를 갖는 제 1 포토레지스트 패턴(191a) 또한 그 두께가 줄어들게 되지만 여전히 남아있게 된다.In this case, the thickness of the first photoresist pattern 191a having the first thickness also decreases but still remains due to the ashing process.

다음, 도 9d와 도 10d에 도시한 바와같이, 상기 제 2 포토레지스트 패턴(도 9c의 191b)이 제거됨으로써 노출된 상기 제 1 스토리지 전극(111)의 상부층(110)을 식각을 진행하여 제거함으로서 제 1 폭(w1)을 갖는 투명 도전성 물질의 하부층(109)과 상기 제 1 폭(w1)보다 작은 제 2 폭(w2)을 갖는 저저항 금속물질의 상부층(110)을 갖는 제 1 스토리지 전극(111)을 완성한다.Next, as illustrated in FIGS. 9D and 10D, the upper layer 110 of the first storage electrode 111 exposed by removing the second photoresist pattern 191b of FIG. 9C is removed by etching. A first storage electrode having a lower layer 109 of a transparent conductive material having a first width w1 and an upper layer 110 of a low resistance metal material having a second width w2 smaller than the first width w1. 111).

다음, 도 9e와 도 10e에 도시한 바와같이, 스트립(strip) 공정을 진행하여 상기 게이트 배선(도 4의 103)과 게이트 전극(105) 및 제 1 스토리지 전극(111) 상에 남아있는 제 1 포토레지스트 패턴(도 9d의 191a)을 제거한다.Next, as illustrated in FIGS. 9E and 10E, a strip process may be performed to perform first stripping on the gate wiring 103, the gate electrode 105, and the first storage electrode 111. The photoresist pattern (191a in FIG. 9D) is removed.

이후, 상기 게이트 배선(도 4의 103)과 게이트 전극(105) 및 제 1 스토리지 전극(111) 위로 전면에 무기절연물질 예를들면 산화실리콘(SiO2) 또는 질화실리콘(SiNx)을 증착함으로써 게이트 절연막(115)을 형성한다. Subsequently, an inorganic insulating material such as silicon oxide (SiO 2 ) or silicon nitride (SiNx) is deposited on the entire surface of the gate wiring (103 in FIG. 4), the gate electrode 105, and the first storage electrode 111. The insulating film 115 is formed.

연속하여 상기 게이트 절연막(115) 위로 순수 비정질 실리콘(a-Si)과 불순물 비정질 실리콘(n+ a-Si) 및 금속물질을 연속 증착함으로써 순수 비정질 실리콘층(미도시)과, 불순물 비정질 실리콘층(미도시)과 제 1 금속물질층(미도시)을 형성한다.Successively depositing pure amorphous silicon (a-Si), impurity amorphous silicon (n + a-Si), and a metal material on the gate insulating layer 115 in succession to form a pure amorphous silicon layer (not shown) and an impurity amorphous silicon layer (not shown). C) and a first metal material layer (not shown).

이후, 포토레지스트의 도포, 노광 마스크를 이용한 노광, 현상과 식각 및 스트립 공정을 포함하는 마스크 공정을 진행함으로써 상기 제 1 금속물질층(미도시)과 불순물 및 순수 비정질 실리콘층(미도시)을 패터닝한다.Subsequently, the first metal material layer (not shown), the impurities, and the pure amorphous silicon layer (not shown) are patterned by performing a mask process including coating of photoresist, exposure using an exposure mask, development, etching, and stripping. do.

이러한 마스크 공정 진행에 의해 상기 게이트 절연막(115) 위로 상기 게이트 배선(도 4의 103)과 교차하여 각 화소영역(P)을 정의하는 데이터 배선(130)이 형성되고, 동시에 스위칭 영역(TrA)에 있어서는, 순수 비정질 실리콘의 액티브층(120a)과 이의 상부로 서로 이격하는 형태로 불순물 비정질 실리콘의 오믹콘택층(120b)으로 이루어진 반도체층(120)과, 상기 반도체층(120) 상부로 서로 이격하는 소스 전극(133) 및 드레인 전극(136)이 형성된다. 이때, 반도체층(120)과 데이터 배선(130)을 동시에 패터닝하여 형성하는 공정 특성 상 상기 데이터 배선(130) 하부에도 상기 반도체층(120)을 이루는 동일한 물질로 제 1 및 제 2 패턴(121a, 121b)이 형성됨을 보이고 있지만, 마스크 공정을 2회로 진행하여 즉, 상기 반도체층(120)과 상기 데이터 배선(130)을 서로 다른 마스크 공정을 진행하여 각각 패터닝하는 경우 상기 데이터 배선(130) 하부에 형성되는 제 1 및 제 2 패턴(121a, 121b)은 생략될 수 있다. As a result of the mask process, a data line 130 defining each pixel region P is formed on the gate insulating layer 115 to intersect with the gate line 103 in FIG. 4, and simultaneously, in the switching region TrA. In the embodiment, the semiconductor layer 120 including the ohmic contact layer 120b of the impurity amorphous silicon and the semiconductor layer 120 are spaced apart from each other in the form of an active layer 120a of pure amorphous silicon and an upper portion thereof. The source electrode 133 and the drain electrode 136 are formed. At this time, the first and second patterns 121a and 121b may be formed of the same material forming the semiconductor layer 120 under the data line 130 due to the process of forming the semiconductor layer 120 and the data line 130 at the same time. 121b) is formed, but when the mask process is performed twice, that is, the semiconductor layer 120 and the data line 130 are patterned by performing different mask processes, respectively, under the data line 130. The first and second patterns 121a and 121b may be omitted.

이때, 상기 소스 전극(133)은 상기 데이터 배선(130)과 연결된 상태를 이루도록 형성하며, 상기 스위칭 영역(TrA)에 순차 적층된 상기 게이트 전극(105)과 게이트 절연막(115)과 반도체층(120)과 서로 이격하는 소스 및 드레인 전극(133, 136)은 박막트랜지스터(Tr)를 이룬다.In this case, the source electrode 133 is formed to be connected to the data line 130, and the gate electrode 105, the gate insulating layer 115, and the semiconductor layer 120 sequentially stacked on the switching region TrA. ) And the source and drain electrodes 133 and 136 spaced apart from each other form a thin film transistor Tr.

다음, 도 9f와 도 10f에 도시한 바와같이, 상기 데이터 배선(130)과 소스 및 드레인 전극(133, 136)을 포함하는 박막트랜지스터(Tr) 위로 전면에 무기절연물질 예를들면 산화실리콘(SiO2) 또는 질화실리콘(SiNx)을 증착하거나, 또는 유기절연물질 예를들면 포토아크릴 또는 벤조사이클로부텐을 도포함으로써 보호층(140)을 형성한다. 도면에 있어서는 유기절연물질을 도포함으로써 평탄한 표면을 갖는 보호층(140)을 형성한 것을 일례로 도시하였다.Next, as shown in FIGS. 9F and 10F, an inorganic insulating material, eg, silicon oxide (SiO), is formed on the entire surface of the thin film transistor Tr including the data line 130 and the source and drain electrodes 133 and 136. 2 ) or the silicon nitride (SiNx) is deposited, or the protective layer 140 is formed by applying an organic insulating material such as photoacryl or benzocyclobutene. In the drawing, the protective layer 140 having a flat surface is formed by applying an organic insulating material as an example.

이후, 상기 보호층(140)에 대해 마스크 공정을 진행함으로써 스위칭 영역(TrA)에 상기 드레인 전극(136)을 노출시키는 드레인 콘택홀(143)을 형성한다. Thereafter, a mask process is performed on the protective layer 140 to form a drain contact hole 143 exposing the drain electrode 136 in the switching region TrA.

다음, 도 9g와 도 10g에 도시한 바와같이, 상기 드레인 콘택홀(143)이 구비된 상기 보호층(140) 위로 투명 도전성 물질 예를들면 인듐-틴-옥사이드(ITO) 또는 인듐-징크-옥사이드(IZO)를 전면에 증착하고, 이를 마스크 공정을 진행하여 패터닝함으로써 각 화소영역(P)별로 독립된 형태의 화소전극(150)을 형성함으로써 본 발명의 제 1 실시예에 따른 액정표시장치용 어레이 기판(101)을 완성한다. Next, as shown in FIGS. 9G and 10G, a transparent conductive material, such as indium tin oxide (ITO) or indium zinc oxide, is disposed on the passivation layer 140 having the drain contact hole 143. (IZO) is deposited on the entire surface, and is patterned by performing a mask process to form an independent pixel electrode 150 for each pixel region P, thereby forming an array substrate for a liquid crystal display device according to a first embodiment of the present invention. Complete 101.

이때, 상기 화소전극(150)은 상기 보호층(140)에 구비된 상기 드레인 콘택홀(143)을 통해 상기 드레인 전극(136)과 접촉하도록 형성한다. In this case, the pixel electrode 150 is formed to contact the drain electrode 136 through the drain contact hole 143 provided in the protective layer 140.

또한 상기 각 화소전극(150)은 각 화소영역(P) 내에 구비된 상기 제 1 스토리지 전극(111)과 중첩하도록 형성하며, 각 화소전극(150)의 측단은 상기 제 1 스토리지 전극(111) 중 이중층 이상의 다중층 구조를 이루는 부분에 대응하여 위치하도록 형성하는 것이 특징이다.In addition, each pixel electrode 150 is formed to overlap the first storage electrode 111 provided in each pixel area P, and a side end of each pixel electrode 150 is formed of the first storage electrode 111. It is characterized in that it is formed so as to correspond to the portion constituting the multilayer structure of more than the double layer.

따라서, 상기 화소전극(150)은 상기 제 1 스토리지 전극(111)과 중첩하는 부분이 제 2 스토리지 전극(153)을 이루며, 서로 중첩하는 제 1 스토리지 전극(111)과 게이트 절연막(115)과 보호층(140) 및 제 2 스토리지 전극(153)은 스토리지 커패시터(StgC)를 이룬다.Accordingly, a portion of the pixel electrode 150 overlapping with the first storage electrode 111 forms a second storage electrode 153, and the first storage electrode 111 and the gate insulating layer 115 overlap each other. The layer 140 and the second storage electrode 153 form a storage capacitor StgC.

본 발명의 제 1 실시예에 따른 제조 방법에 의해 제조된 액정표시장치용 어레이 기판(101)의 경우, 제 1 스토리지 전극(111)이 각 화소영역(P) 내부에서 게이트 배선과 데이터 배선(130)과 이격하여 각 화소영역(P)을 두르듯 형성됨으로써 그 면적을 증가시켜 스토리지 커패시터(StgC)의 용량을 향상시킬 수 있다.In the case of the array substrate 101 for a liquid crystal display device manufactured by the manufacturing method according to the first embodiment of the present invention, the first storage electrode 111 has a gate wiring and a data wiring 130 inside each pixel region P. FIG. Since the pixel area P is formed to be spaced apart from each other, it is possible to increase the area to improve the capacity of the storage capacitor StgC.

또한, 나아가 상기 제 1 스토리지 전극(111)을 다중층 구조를 이루는 부분과 투명 도전성 물질의 단일층 구조를 이루는 부분으로 이원화함으로써 투명 도전물질로 이루어진 단일층 구조를 갖는 하부층(109)을 화소영역(P) 내측으로 확장 형성함으로써 면적을 증가시켜 개구율 저하 발생없이 스토리지 커패시터(StgC) 용량을 더욱 증가시킬 수 있다. Further, the first storage electrode 111 is dualized into a portion forming a multilayer structure and a portion forming a single layer structure of a transparent conductive material, thereby forming a lower layer 109 having a single layer structure made of a transparent conductive material. P) by expanding inwardly, the area can be increased to further increase the storage capacitor (StgC) capacity without lowering the aperture ratio.

그리고, 제 1 스토리지 전극(111)이 그 자체로 블랙매트릭스의 역할을 함으로써 이러한 구조를 갖는 어레이 기판(101)과 합착되어 액정표시장치를 이루게 되는 컬러필터 기판(미도시)에 구비되는 합착 마진을 고려한 블랙매트릭스의 폭을 종래의 스토리지 커패시터(StgC)가 전단의 게이트 배선을 이용하는 액정표시장치용 어레이 기판 대비 줄일 수 있으므로 개구율을 향상시키는 효과를 갖는다. In addition, the first storage electrode 111 serves as a black matrix by itself, thereby bonding the margins of the color filter substrate (not shown) which are bonded to the array substrate 101 having such a structure to form a liquid crystal display device. The width of the considered black matrix can be reduced compared to that of an array substrate for a liquid crystal display device using a gate wiring of a conventional storage capacitor (StgC), thereby improving the aperture ratio.

101 : 어레이 기판 103 : 게이트 배선
105 : 게이트 전극 109 : (제 1 스토리지 전극의)하부층
110 : (제 1 스토리지 전극의)상부층
111 : 제 1 스토리지 전극 130 : 데이터 배선
133 : 소스 전극 136 : 드레인 전극
143 : 드레인 콘택홀 150 : 화소전극
153 : 제 2 스토리지 전극
P : 화소영역 StgA : 스토리지 영역
StgC : 스토리지 커패시터 Tr : 박막트랜지스터
w1, w2 : 제 1 , 2 폭
101: array substrate 103: gate wiring
105: gate electrode 109: lower layer (of the first storage electrode)
110: upper layer (of the first storage electrode)
111: first storage electrode 130: data wiring
133: source electrode 136: drain electrode
143: drain contact hole 150: pixel electrode
153: second storage electrode
P: Pixel Area StgA: Storage Area
StgC: Storage Capacitor Tr: Thin Film Transistor
w1, w2: first, second width

Claims (14)

기판과;
상기 기판 상에 게이트 절연막을 개재하여 서로 교차하여 화소영역을 정의하며 형성된 게이트 배선 및 데이터 배선과;
상기 화소영역에 상기 게이트 및 데이터 배선과 이격하여 제 1 폭의 투명 도전성 물질로 이루어진 하부층과 상기 제 1 폭보다 작은 제 2 폭의 저저항 금속물질로 이루어진 상부층으로 구성된 제 1 스토리지 전극과;
상기 화소영역에 구비된 박막트랜지스터와;
상기 박막트랜지스터의 드레인 전극을 노출시키며 형성된 보호층과;
상기 보호층 위로 상기 화소영역에 상기 드레인 전극과 접촉하며 그 측단이 상기 제 1 스토리지 전극의 상부층과 중첩하도록 형성된 화소전극
을 포함하며, 상기 화소전극은 상기 제 1 스토리지 전극과 중첩하는 부분이 제 2 스토리지 전극을 이룸으로써 이와 중첩하는 상기 제 1 스토리지 전극과 더불어 스토리지 커패시터를 이루는 것이 특징인 액정표시장치용 어레이 기판.
A substrate;
A gate wiring and a data wiring formed on the substrate to define a pixel region by crossing each other with a gate insulating film interposed therebetween;
A first storage electrode in the pixel region, the first storage electrode comprising a lower layer formed of a transparent conductive material having a first width and an upper layer made of a low resistance metal material having a second width smaller than the first width;
A thin film transistor provided in the pixel region;
A protective layer formed to expose the drain electrode of the thin film transistor;
A pixel electrode formed on the passivation layer in contact with the drain electrode in the pixel area and having a side end thereof overlapping with an upper layer of the first storage electrode
And the pixel electrode forming a storage capacitor together with the first storage electrode overlapping the first storage electrode by overlapping the first storage electrode with the second storage electrode.
제 1 항에 있어서,
상기 하부층은 단일층 구조를 이루며, 상기 상부층은 단일층 또는 다중층 구조를 이루는 것이 특징인 액정표시장치용 어레이 기판.
The method of claim 1,
And the lower layer has a single layer structure, and the upper layer has a single layer or a multilayer structure.
제 1 항에 있어서,
상기 게이트 배선 및 게이트 전극은 상기 제 1 스토리지 전극과 동일하게 투명 도전성 물질로 이루어진 상기 하부층과 상기 저저항 금속물질로 이루어진 상부층의 구조를 갖는 것이 특징인 액정표시장치용 어레이 기판.
The method of claim 1,
And the gate wiring and the gate electrode have a structure of the lower layer made of a transparent conductive material and the upper layer made of the low resistance metal material, similarly to the first storage electrode.
제 1 항에 있어서,
상기 제 1 스토리지 전극은 상기 화소영역 내에서 평면적으로'ㅁ' 또는 'U' 형태를 이루는 것이 특징인 액정표시장치용 어레이 기판.
The method of claim 1,
And the first storage electrode is planar in the pixel area in a planar shape, 'U' or 'U'.
제 1 항에 있어서,
상기 제 1 스토리지 전극은 상기 각 게이트 배선과 데이터 배선과 인접한 측단에서 상기 상부층과 하부층이 일치하는 것이 특징인 액정표시장치용 어레이 기판.
The method of claim 1,
And wherein the first and second storage electrodes coincide with the upper and lower layers at side ends adjacent to the gate and data lines.
제 1 항에 있어서,
상기 제 1 스토리지 전극은 상기 데이터 배선과 중첩하도록 형성되는 것이 특징인 액정표시장치용 어레이 기판.
The method of claim 1,
And the first storage electrode is formed to overlap the data line.
제 1 항에 있어서,
상기 박막트랜지스터는,
최하부에 상기 게이트 배선으로부터 분기한 게이트 전극과;
상기 게이트 전극 위로 형성되는 상기 게이트 절연막과;
상기 게이트 절연막 위로 순수 비정질 실리콘의 액티브층과;
상기 액티브층 위로 불순물 비정질 실리콘으로써 이루어지며 서로 이격하는 오믹콘택층과;
상기 서로 이격한 오믹콘택층 위로 형성되는 서로 이격한 소스 전극 및 상기 드레인 전극
을 포함하는 액정표시장치용 어레이 기판.
The method of claim 1,
The thin-
A gate electrode branched from the gate wiring at the lowermost portion;
The gate insulating layer formed over the gate electrode;
An active layer of pure amorphous silicon over the gate insulating film;
An ohmic contact layer made of impurity amorphous silicon and spaced apart from each other on the active layer;
The source electrode and the drain electrode spaced apart from each other formed on the ohmic contact layer spaced apart from each other
Array substrate for a liquid crystal display device comprising a.
서로 교차하여 화소영역을 정의하는 게이트 및 데이터 배선과 상기 화소영역에 박막트랜지스터가 형성되는 액정표시장치용 어레이 기판의 제조 방법에 있어서,
상기 기판 상에 상기 게이트 배선을 형성하고, 상기 화소영역에 상기 게이트 및 데이터 배선과 이격하며 제 1 폭의 투명 도전성 물질로 이루어진 하부층과 상기 제 1 폭보다 작은 제 2 폭의 저저항 금속물질로 이루어진 상부층으로 구성된 제 1 스토리지 전극을 형성하는 단계와;
상기 화소영역에 상기 박막트랜지스터를 형성하는 단계와;
상기 박막트랜지스터의 드레인 전극을 노출시키는 보호층을 형성하는 단계와;
상기 보호층 위로 상기 화소영역에 상기 드레인 전극과 접촉하며 그 측단이 상기 제 1 스토리지 전극의 상부층과 중첩하도록 화소전극을 형성하는 단계
를 포함하며, 상기 화소전극은 상기 제 1 스토리지 전극과 중첩하는 부분이 제 2 스토리지 전극을 이룸으로써 이와 중첩하는 상기 제 1 스토리지 전극과 더불어 스토리지 커패시터를 이루는 것이 특징인 액정표시장치용 어레이 기판의 제조 방법.
A method of manufacturing an array substrate for a liquid crystal display device, wherein a gate and data line defining a pixel region crossing each other and a thin film transistor are formed in the pixel region.
Forming a gate wiring on the substrate, spaced apart from the gate and data wiring in the pixel region, and a lower layer formed of a transparent conductive material having a first width and a low resistance metal material having a second width smaller than the first width; Forming a first storage electrode composed of an upper layer;
Forming the thin film transistor in the pixel region;
Forming a protective layer exposing the drain electrode of the thin film transistor;
Forming a pixel electrode on the passivation layer in contact with the drain electrode in the pixel area, and a side end thereof overlaps with an upper layer of the first storage electrode;
Wherein the pixel electrode forms a storage capacitor together with the first storage electrode overlapping with the first storage electrode overlapping the first storage electrode to form a second storage electrode. Way.
제 8 항에 있어서,
상기 기판 상에 상기 게이트 배선을 형성하고, 상기 화소영역에 상기 게이트 및 데이터 배선과 이격하며 제 1 폭의 투명 도전성 물질로 이루어진 하부층과 상기 제 1 폭보다 작은 제 2 폭의 저저항 금속물질로 이루어진 상부층으로 구성된 제 1 스토리지 전극을 형성하는 단계는,
상기 기판상에 투명 도전성 물질층과 저저항 금속물질층을 형성하는 단계와;
상기 저저항 금속물질층 위로 전면에 포토레지스트층을 형성하는 단계와;
상기 포토레지스트층을 투과영역, 차단영역 및 반투과영역을 갖는 노과 마스크를 통해 노광을 실시함으로써 상기 게이트 배선과 상기 제 1 스토리지 배선의 상부층에 대응해서는 제 1 두께의 제 1 포토레지스트 패턴을 형성하고, 상기 제 1 스토리지 배선의 상기 하부층만이 형성된 부분에 대응하여 제 1 두께보다 얇은 제 2 두께의 제 2 포토레지스트 패턴을 형성하는 단계와;
상기 제 1 및 제 2 포토레지스트 패턴 외부로 노출된 상기 저저항 금속층과 그 하부의 투명 도전성 물질층을 패터닝하여 투명 도전성 물질로 이루어진 부분과 저저항 금속물질로 이루어진 부분이 동일한 폭을 갖는 형태의 게이트 배선과 제 1 스토리지 전극을 형성하는 단계와;
애싱을 진행하여 상기 제 2 포토레지스트 패턴을 제거함으로써 상기 제 1 스토리지 패턴의 저저항 금속물질로 이루어진 부분 일부를 노출시키는 단계와;
상기 제 1 포토레지스트 패턴 외부로 노출된 상기 제 1 스토리지 전극의 상기 저저항 금속물질로 이루어진 부분을 제거하는 단계와;
상기 제 1 포토레지스트 패턴을 제거하는 단계
를 포함하는 액정표시장치용 어레이 기판의 제조 방법.
The method of claim 8,
Forming a gate wiring on the substrate, spaced apart from the gate and data wiring in the pixel region, and a lower layer formed of a transparent conductive material having a first width and a low resistance metal material having a second width smaller than the first width; Forming the first storage electrode consisting of an upper layer,
Forming a transparent conductive material layer and a low resistance metal material layer on the substrate;
Forming a photoresist layer on the entire surface of the low resistance metal material layer;
Exposing the photoresist layer through a furnace mask having a transmissive region, a blocking region, and a transflective region to form a first photoresist pattern of a first thickness corresponding to the upper layer of the gate wiring and the first storage wiring; Forming a second photoresist pattern of a second thickness thinner than a first thickness corresponding to a portion where only the lower layer of the first storage wiring is formed;
A gate having a shape in which a portion made of a transparent conductive material and a portion made of a low resistance metal material have the same width by patterning the low resistance metal layer and a transparent conductive material layer below the exposed first and second photoresist patterns Forming a wiring and a first storage electrode;
Exposing a portion of the low resistance metal material of the first storage pattern by removing the second photoresist pattern by ashing;
Removing a portion of the low resistance metal material of the first storage electrode exposed to the outside of the first photoresist pattern;
Removing the first photoresist pattern
Method of manufacturing an array substrate for a liquid crystal display device comprising a.
제 8 항에 있어서,
상기 제 1 스토리지 전극은 상기 화소영역 내에서 평면적으로'ㅁ' 또는 'U' 형태를 이루도록 형성하는 것이 특징인 액정표시장치용 어레이 기판의 제조 방법.
The method of claim 8,
And the first storage electrode is formed to have a shape of 'ㅁ' or 'U' planarly in the pixel area.
제 8 항에 있어서,
상기 제 1 스토리지 전극은 상기 각 게이트 배선과 데이터 배선과 인접한 측단에서 상기 상부층과 하부층이 일치하도록 형성하는 것이 특징인 액정표시장치용 어레이 기판의 제조방법.
The method of claim 8,
And wherein the first storage electrode is formed to coincide with the upper layer and the lower layer at a side end adjacent to each of the gate lines and the data lines.
제 8 항에 있어서,
상기 제 1 스토리지 전극은 상기 데이터 배선과 중첩하도록 형성하는 것이 특징인 액정표시장치용 어레이 기판의 제조방법.
The method of claim 8,
And the first storage electrode is formed to overlap the data line.
제 8 항에 있어서,
상기 하부층은 단일층 구조를 이루며, 상기 상부층은 단일층 또는 다중층 구조를 이루도록 형성하는 것이 특징인 액정표시장치용 어레이 기판의 제조방법.
The method of claim 8,
And wherein the lower layer has a single layer structure, and the upper layer has a single layer or a multilayer structure.
제 8 항에 있어서,
상기 박막트랜지스터를 형성하는 단계는,
상기 기판 상에 상기 게이트 배선에서 분기하는 게이트 전극을 형성하는 단계와;
상기 게이트 전극 위로 전면에 상기 게이트 절연막을 형성하는 단계와;
상기 게이트 절연막 위로 상기 게이트 전극에 대응하여 순수 비정질 실리콘의 액티브층과, 상기 액티브층 위로 불순물 비정질 실리콘으로써 이루어지며 서로 이격하는 오믹콘택층과, 상기 오믹콘택층 위로 서로 이격하는 소스 및 드레인 전극을 형성하는 단계
를 포함하는 액정표시장치용 어레이 기판의 제조 방법.
The method of claim 8,
Forming the thin film transistor,
Forming a gate electrode branching from the gate wiring on the substrate;
Forming the gate insulating film over the gate electrode;
An active layer of pure amorphous silicon over the gate insulating layer, an ohmic contact layer formed of impurity amorphous silicon and spaced apart from each other on the active layer, and a source and drain electrode spaced apart from each other over the ohmic contact layer Steps to
Method of manufacturing an array substrate for a liquid crystal display device comprising a.
KR1020110049119A 2011-05-24 2011-05-24 Array substrate for Liquid Crystal Display Device and method of fabricating the same KR101855389B1 (en)

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