KR20120078936A - Ceramic coated metal susceptor and method for manufacturing thereof - Google Patents

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Abstract

PURPOSE: A ceramic coated metal susceptor and a manufacturing method thereof are provided to block a penetration path of a reaction gas through the interface of a crystalline structure by forming dense nitride layer when a surface of ceramic is nitride. CONSTITUTION: A metal plate body(110) includes a heated plane for heating materials. A heating element(130) is laid in the metal plate body. A heat transfer fluid(140) is laid between the metal plate body and the heating element. A metal supporting shaft(120) is combined on the bottom of the metal plate body. An anti-corrosion ceramic layer(170) is coated on the outer surface of the metal plate body and the metal supporting shaft.

Description

세라믹 코팅 금속 서셉터 및 그 제조방법 {Ceramic Coated Metal Susceptor and Method for Manufacturing thereof}Ceramic Coated Metal Susceptor and Method for Manufacturing

본 발명은 세라믹 코팅 금속 서셉터에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 웨이퍼를 가열하기 위한 세라믹 코팅 금속 서셉터에 관한 것이다. The present invention relates to a ceramic coated metal susceptor, and more particularly to a ceramic coated metal susceptor for heating a wafer.

본 출원인은 특허출원 제2008-137706호에서 세라믹 코팅된 히터모듈을 출원한 바 있다. The applicant has applied for a ceramic coated heater module in patent application No. 2008-137706.

반도체 소자 또는 기타 초미세 형상 구현을 위한 공정 분야에서 진공 플라즈마 장비가 널리 사용되고 있다. 진공 플라즈마 장비가 사용되는 예로서 기판 위에 플라즈마를 이용한 화학적 증착법으로 증착막을 형성하는 PECVD(plasma enhanced chemical vapour deposition)장비, 물리적인 방법으로 증착막을 형성하는 스퍼터링 장비 그리고 기판 또는 기판 위의 코팅된 물질을 원하는 패턴으로 식각하기 위한 건식 식각 장비 등이 있다. Vacuum plasma equipment is widely used in the process field for the implementation of semiconductor devices or other ultrafine shapes. Examples of vacuum plasma equipment used include plasma enhanced chemical vapor deposition (PECVD) equipment that forms a deposited film by chemical vapor deposition on a substrate, sputtering equipment that forms a deposited film by a physical method, and a substrate or a coated material on the substrate. Dry etching equipment for etching in a desired pattern.

진공 플라즈마 장비는 고온의 플라즈마를 이용하여 반도체 소자의 식각 또는 초미세 형상을 구현하게 된다. 따라서 진공 플라즈마 장비의 내부에서는 고온의 플라즈마가 발생하므로 챔버 및 그 내부 부품이 손상된다.Vacuum plasma equipment implements the etching or ultra-fine shape of the semiconductor device using a high temperature plasma. Therefore, a high temperature plasma is generated inside the vacuum plasma equipment, and the chamber and its internal parts are damaged.

또한, 챔버 및 그 부품의 표면으로부터 특정 원소 및 오염 입자가 발생하여 챔버 내부를 오염시킬 가능성이 크다. 특히, 플라즈마 식각 장비의 경우 플라즈마 분위기에 F, Cl를 포함하는 반응성 가스를 주입하므로 챔버 내벽 및 그 내부 부품은 매우 심각한 부식성 환경에 놓이게 된다. 이러한 부식은 1차적으로 챔버 및 그 내부 부품의 손상을 초래하며, 2차적으로 오염 물질 및 입자 발생하여 챔버 내부에서의 공정을 거쳐 생상되는 제품의 불량률 증가 및 품질저하를 일으킨다.In addition, there is a high possibility that certain elements and contaminating particles are generated from the surface of the chamber and its parts, contaminating the inside of the chamber. In particular, since the plasma etching equipment injects reactive gases including F and Cl into the plasma atmosphere, the chamber inner wall and its internal parts are placed in a very corrosive environment. This corrosion primarily causes damage to the chamber and its internal components, and secondly, contaminants and particles are generated, leading to an increase in defect rate and deterioration of the product produced through the process inside the chamber.

상기 식각 가스의 예로는 C4F8, C5H8, CH2F2, CF, CF2, CF3, CF4, SF6, NF3, F2, CH2F2, CHF3, C2F6 등 F를 포함하는 가스와 Cl2, BCl3, SiCl4, HCl 등 Cl를 포함하는 가스, HBr, Br2, CF3Br 등 Br를 포함하는 가스 및 기타 SiN4,O2, Ar, H2 등의 가스 중 하나 또는 그 이상을 혼합한 가스 등이 있다. Examples of the etching gas include a gas containing F, such as C4F8, C5H8, CH2F2, CF, CF2, CF3, CF4, SF6, NF3, F2, CH2F2, CHF3, C2F6, and Cl, Cl2, BCl3, SiCl4, HCl, and the like. Gas containing Br, such as gas, HBr, Br2, CF3Br, and other gases such as SiN4, O2, Ar, H2, or the like.

그러나 식각 가스는 식각 대상인 기판만 뿐만 아니라 다른 곳에도 영향을 줄 수 있다. 즉, 상기 식각 장비의 챔버 및 그 내부 부품도 제조 공정 중 챔버 내부의 극한적인 분위기에 의해 화학적/물리적 손상을 입게 된다. 식각 공정은 기판의 일부 또는 전면에 부식성 가스 및 가속 이온, 플라즈마 등을 이용하여 물리-화학적 충격을 가하여 손상을 입힌 후 손상된 부분을 제거하는 과정을 이용하는 공정이므로, 챔버 내부 벽면 및 내부 부품도 동일한 과정에 의해 손상을 입게 된다.보다 상세히 설명하면, 챔버 및 내부 부품은 화학적 반응성이 높은 식각 가스에 의해 화학적 공격(chemical attack)을 받게 된다. 동시에 이온화된 가스 입자가 RF 전자기장에 의해 가속되어 부품의 표면을 폭격(Ion bombardment)하는 물리적 공격(phyical attack)도 받게 된다. 이와 같이, 챔버 및 내부 부품이 상기한 과정에 의해 손상될 경우 손상된 식각 장비의 일부를 교체 또는 세정/보수하여야 하므로 추가 비용이 소요된다. 또한, 장비의 교체 또는 세정/보수를 위해 공정 라인을 정지하여야 하므로 제품의 공정 시간이 증가하게 된다.However, the etching gas may affect not only the substrate to be etched but also other places. In other words, the chamber of the etching equipment and its internal components are also subjected to chemical / physical damage by the extreme atmosphere inside the chamber during the manufacturing process. The etching process is a process that removes the damaged part after applying a physical-chemical impact on the part or the front surface of the substrate by using corrosive gas, accelerated ions, and plasma, and thus removes the damaged part. In more detail, the chamber and the internal components are subjected to a chemical attack by an etching gas having high chemical reactivity. At the same time, the ionized gas particles are accelerated by the RF electromagnetic field and undergo a physical attack, which bombards the surface of the part. As such, if the chamber and the internal parts are damaged by the above process, a part of the damaged etching equipment must be replaced or cleaned / repaired, and thus additional costs are required. In addition, the processing time of the product is increased because the process line must be stopped for equipment replacement or cleaning / repair.

따라서 기존의 챔버 내부에 설치된 금속 서셉터는 세라믹 서셉터로 대체되었다. 세라믹 서셉터는 열전도율이 좋은 질화알루미늄 소결체로 구성된다. Therefore, metal susceptors installed inside existing chambers have been replaced with ceramic susceptors. The ceramic susceptor is composed of aluminum nitride sintered body with good thermal conductivity.

그러나 세라믹 서셉터는 비용이 비싸고 금속에 비해 내구성이 떨어지는 단점이 있다. However, ceramic susceptors have the disadvantage of being expensive and inferior in durability to metals.

등록특허 제477388호에는 금속 서셉터 외부를 세라믹 코팅한 기술을 소개한다. 세라믹 코팅 금속 서셉터는 세라믹 서셉터에 비해 값이 저렴하고 내구성이 좋다. In Korean Patent No. 47388, a technique of ceramic coating the exterior of a metal susceptor is introduced. Ceramic coated metal susceptors are less expensive and more durable than ceramic susceptors.

그러나 세라믹 코팅 기술은 금속과의 열팽창계수를 고려하여야 하고 사용 중에 크랙 등으로 내부의 금속 표면이 노출될 경우에는 노출된 금속 표면의 부식뿐만 아니라 챔버 내부를 오염시킬 우려가 존재하였다. 특히 세라믹 코팅 서셉터의 경우 중앙부분보다는 가열판의 모서리 부분에서 주로 코팅층의 손상이 발견되었다. However, the ceramic coating technology should consider the coefficient of thermal expansion with the metal, and if the inner metal surface is exposed due to cracking during use, there is a concern that the exposed metal surface will be contaminated as well as the inside of the chamber. Especially in the case of ceramic coating susceptors, damage to the coating layer was mainly found at the corners of the heating plate rather than the center portion.

그 이유는 플라즈마 용사 코팅 기법상 개별 액적이 모재 표면에 충돌하여 형성된 스플랫(Splat) 내부에 수직방향으로 다수의 균열이 발생되며, 스플랫간의 경계면에도 간극이 형성되기 때문에 모서리 부분에서 특히 기계적 특성(예를 들면 경도)이 열악할 뿐만 아니라, 스플랫 내부의 균열과 스플랫 경계면 간극(splat boundary gap)이 반응가스의 확산 통로로 작용하게 된다. 따라서 코팅층의 부식반응을 조장하여 결국 오염입자의 형성을 가속화하게 된다. 또한 반도체 제조 공정 또는 세정 시 가해지는 기계적 충격에 의해 코팅층이 쉽게 손상되었다. The reason is that due to the plasma spray coating technique, a large number of cracks are generated in the vertical direction inside the splat formed by the impact of individual droplets on the surface of the base material. In addition to poor hardness (eg hardness), cracks and splat boundary gaps within the splat act as diffusion channels for the reactant gases. Therefore, it promotes the corrosion reaction of the coating layer and eventually accelerates the formation of contaminated particles. In addition, the coating layer was easily damaged by the mechanical impact applied during the semiconductor manufacturing process or cleaning.

상기 문제점을 해결하기 위한 본 발명의 목적은 모서리에서 안정된 코팅층을 형성할 수 있는 세라믹 코팅 금속 서셉터 및 그 제조방법을 제공하는 데 있다. An object of the present invention for solving the above problems is to provide a ceramic coated metal susceptor and a method of manufacturing the same that can form a stable coating layer at the corners.

본 발명의 다른 목적은 코팅층의 반응가스의 통로를 차단할 수 있는 세라믹 코팅 금속 서셉터 및 그 제조방법을 제공하는 데 있다. Another object of the present invention is to provide a ceramic coated metal susceptor and a method of manufacturing the same, which can block a passage of the reaction gas of the coating layer.

본 발명이 또 다른 목적은 리프트 핀 홀을 완벽하게 커버링할 수 있는 세라믹 코팅 금속 서셉터 및 그 제조방법을 제공하는 데 있다. Another object of the present invention is to provide a ceramic coated metal susceptor capable of completely covering lift pin holes and a method of manufacturing the same.

본 발명의 또 다른 목적은 서셉터의 수명을 연장시킬 수 있는 세라믹 코팅 금속 서셉터 및 그 제조방법을 제공하는 데 있다. It is still another object of the present invention to provide a ceramic coated metal susceptor and a method of manufacturing the same, which can extend the life of the susceptor.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 세라믹 코팅 금속 서셉터는 피가열물을 가열하는 가열 평면을 가지며 모서리 부분이 라운딩 가공된 금속판체와, 금속판체 내부에 매설된 발열체와, 금속판체의 가열평면과 발열체 사이에 매설된 열전도 유체와, 금속판체의 저면 중앙에 결합되고 하방으로 연장된 금속 지지축과, 금속판체 및 금속 지지축의 외표면에 코팅된 부식 방지 세라믹층을 구비한 것을 특징으로 한다. The ceramic-coated metal susceptor of the present invention for achieving the above object has a heating plate for heating the object to be heated and the rounded corners of the metal plate body, the heating element embedded in the metal plate body, and the heating plane of the metal plate body and And a thermally conductive fluid embedded between the heating elements, a metal support shaft coupled to the center of the bottom surface of the metal plate body and extending downward, and a corrosion resistant ceramic layer coated on the outer surface of the metal plate body and the metal support shaft.

본 발명에서 부식방지 세라믹 층과 금속판체 사이에 열적 스트레스를 버퍼링하기 위한 버퍼층이 더 형성된 것이 바람직하며, 버퍼층은 니켈를 함유하는 본딩층으로 부식방지 세라믹층과 금속판체 사이의 열적 스트레스를 온화시켜줄 뿐만 아니라 부식 방지 세라믹층이 잘 접합되게 한다. In the present invention, it is preferable that a buffer layer is further formed between the anti-corrosion ceramic layer and the metal plate to buffer thermal stress, and the buffer layer is a bonding layer containing nickel, which not only moderates the thermal stress between the anti-corrosion ceramic layer and the metal plate. Ensure that the corrosion resistant ceramic layer is well bonded.

본 발명에서 부식 방지 세라믹층은 Y2O3, Al2O3, ZrO2, CeO2 등의 산화물 분말과 AlN, BN 등의 질화물 분말과 SiC, AlC 등의 탄화물 분말 및 상기 산화물 분말, 질화물 분말, 탄화물 분말들의 조합 중의 어느 하나이면 족하다. 특히 부식 방지 세라믹층은 Y2O3, Al2O3, ZrO2, CeO2 등의 산화물 분말이고 세라믹층을 질화가스 분위기에서 표면 질화시켜서 형성한 질화층을 더 포함하는 것이 바람직하다. In the present invention, the anti-corrosion ceramic layer is any one of oxide powders such as Y2O3, Al2O3, ZrO2, CeO2, nitride powders such as AlN and BN, carbide powders such as SiC and AlC, and combinations of the oxide powders, nitride powders and carbide powders. It is enough. In particular, the anti-corrosion ceramic layer is preferably an oxide powder such as Y 2 O 3, Al 2 O 3, ZrO 2, CeO 2, and further includes a nitride layer formed by surface-nitriding the ceramic layer in a nitride gas atmosphere.

또한 본 발명에서는 금속판체의 가열평면에는 저면까지 관통된 다수의 리프트 핀 통공들이 형성되고 각 리프트핀 통공에는 세라믹 튜브가 삽입되어 코팅이 곤란한 통공 내벽에 노출된 금속판체의 표면을 부식으로부터 보호한다. 여기서 세라믹 튜브의 길이는 통공의 축방향 길이 보다 짧고, 통공의 양단 금속판체의 모서리는 라운드 가공된 것이 바람직하다. 특히 플라즈마 용사코팅시 리프트 핀 통공 주변의 코팅 손상이 자주 발생되므로 이를 보완하기 위하여 라운딩 가공과 튜브 길이를 10% 이내로 더 짧게 형성하여 단턱이 형성되도록 구성하는 것이 바람직하다. In addition, in the present invention, a plurality of lift pin holes penetrated to the bottom surface are formed on the heating plane of the metal plate body, and a ceramic tube is inserted into each lift pin hole to protect the surface of the metal plate body exposed to the inner wall of the through hole, which is difficult to coat, from corrosion. In this case, the length of the ceramic tube is shorter than the axial length of the through hole, and the edges of the metal plates of both ends of the through hole are preferably rounded. In particular, since coating damage is frequently generated around the lift pin through the plasma spray coating, it is preferable to form a step to form a rounding process and a shorter tube length within 10% to compensate for this.

본 발명의 제조방법은 피가열물을 가열하는 가열 평면을 가지며 모서리 부분이 라운딩 가공된 금속판체을 준비하는 단계와, 준비된 금속판체 내부에 발열체 및 열전도 유체를 매설하는 단계와, 금속판체의 저면에 하방으로 연장된 금속 지지축을 결합하는 단계와, 금속판체의 다수의 리프트 핀 통공들 내에 각각 세라믹 튜브를 삽입하여 결합하는 단계와, 금속판체 및 금속 지지축의 외표면에 니켈 함유 버퍼층을 형성하는 단계와, 버퍼층 상에 알루미나 부식 방지층을 형성하는 단계를 구비한 것을 특징으로 한다. The manufacturing method of the present invention comprises the steps of preparing a metal plate body having a heating plane for heating the object to be heated and rounded corners, embedding a heating element and a heat conducting fluid in the prepared metal plate body, the lower surface of the metal plate body Joining the metal support shafts extending to each other, inserting the ceramic tubes into the plurality of lift pin holes of the metal plate body, respectively, and forming a nickel-containing buffer layer on the outer surface of the metal plate body and the metal support shaft; And forming an alumina corrosion protection layer on the buffer layer.

본 발명의 제조방법에서 부식 방지층을 형성한 다음에 질소가스 분위기에서 열처리하여 부식 방지층 표면에 질화층을 형성하는 단계를 더 구비한 것이 계면을 통한 반응가스의 통로를 차단하는 데 매우 바람직하다. In the manufacturing method of the present invention, it is further preferable to block the passage of the reaction gas through the interface, further comprising forming a nitride layer on the surface of the corrosion resistant layer by heat treatment in a nitrogen gas atmosphere after forming the corrosion resistant layer.

본 발명의 실시예에 따른 세라믹 코팅 서셉터는 모서리가 라운드 처리된 금속체판의 표면에 버퍼층을 개재하여 세라믹층이 코팅되므로 세라믹층이 모서리 부분에서도 안정되게 코팅되므로 모서리 부분에서 세라믹층의 수명을 연장시킬 수 있고, 온도변화에 의한 금속체판과 세라믹층 사이의 열팽창 계수의 차이로 인한 열적 스트레스를 버퍼층이 흡수하여 주므로 내열특성이 향상되고 기계적 충격에도 강한 내구성을 가질 수 있다. 또한 세라믹 표면을 질화시켜서 치밀한 질화층을 형성하므로 결정구조의 계면을 통한 반응가스의 침투통로를 차단시킬 수 있다. In the ceramic coating susceptor according to the embodiment of the present invention, since the ceramic layer is coated on the surface of the metal plate with rounded corners through the buffer layer, the ceramic layer is stably coated at the corners, thereby extending the life of the ceramic layer at the corners. Since the buffer layer absorbs the thermal stress due to the difference in the coefficient of thermal expansion between the metal plate and the ceramic layer due to the temperature change, the heat resistance may be improved and the durability may be strong even against mechanical impact. In addition, since the dense nitride layer is formed by nitriding the ceramic surface, it is possible to block the passage of the reaction gas through the interface of the crystal structure.

도 1은 본 발명에 의한 세라믹 코팅 금속 서셉터의 평면구조를 나타낸 도면.
도 2는 도 1의 A-A선 단면도를 나타낸 도면.
도 3은 도 2의 X 부분의 확대된 단면 구조를 나타낸 도면.
도 4는 본 발명에 의한 세라믹 코팅 금속 서셉터의 제조방법을 설명하기 위한 공정 순서도.
도 5는 부식방지 세라믹층이 질화층으로 코팅된 상태를 나타낸 도면.
1 is a view showing a planar structure of a ceramic coated metal susceptor according to the present invention.
2 is a cross-sectional view taken along the line AA of FIG.
3 shows an enlarged cross-sectional structure of part X of FIG.
Figure 4 is a process flow chart for explaining a method for manufacturing a ceramic coated metal susceptor according to the present invention.
5 is a view showing a state in which the anti-corrosion ceramic layer is coated with a nitride layer.

이하, 첨부한 도면들을 참조하여, 본 발명을 보다 상세하게 설명하고자 한다. 본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 형태를 가질 수 있는 바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 본문에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명을 특정한 개시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will now be described in more detail with reference to the accompanying drawings. As the inventive concept allows for various changes and numerous embodiments, particular embodiments will be illustrated in the drawings and described in detail in the text. It should be understood, however, that the invention is not intended to be limited to the particular forms disclosed, but includes all modifications, equivalents, and alternatives falling within the spirit and scope of the invention.

일반적으로 반도체 집적회로 공정에서 필수적으로 요구되는 박막형성 공정 가운데 화학 기상 증착법(Chemical Vapor Deposition, 이하 CVD)이 있다. 이 증착방법은 한 종류 이상의 화합물 개스를 CVD공정을 위해 마련된 반응 챔버 내로 투입하여 고온으로 가열된 반도체 웨이퍼와 기상으로 화학반응을 일으키면서 반도체 웨이퍼상에 박막을 형성시키는 공정이다. 이와 같은 CVD공정을 하기 위한 통상적인 CVD장치의 개략적인 설명은 반응챔버와, 반응챔버 내를 진공상태로 하기 위해 필요한 진공펌프와, 챔버 내로 반응성 가스를 투입하기 위한 가스 공급구와, 배기구와, 히터모듈로 구성되어 있다.In general, a chemical vapor deposition method (CVD) is one of the thin film formation processes required in the semiconductor integrated circuit process. This deposition method is a step of forming a thin film on a semiconductor wafer while injecting one or more kinds of compound gases into a reaction chamber prepared for a CVD process to cause a chemical reaction in a vapor phase with a semiconductor wafer heated to a high temperature. A general description of a conventional CVD apparatus for performing such a CVD process includes a reaction chamber, a vacuum pump necessary for evacuating the reaction chamber, a gas supply port for introducing a reactive gas into the chamber, an exhaust port, and a heater. It is composed of modules.

이중 상기 히터모듈은 반도체 웨이퍼가 고온에서 투입된 반응성 가스와 화학반응이 잘 일어나도록 하기 위해 반도체 웨이퍼를 가열하기 위한 것으로, 반도체 웨이퍼가 직접 안착되어 가열되도록 열선을 내장한 서셉터와, 열선에 전력을 공급하기 위한 전원선 및 전원선을 챔버내로 도입하기 위한 지지축으로 구성된다. The heater module is used to heat the semiconductor wafer so that the semiconductor wafer is chemically reacted with the reactive gas introduced at a high temperature. The heater module includes a susceptor with a heating wire to directly seat and heat the semiconductor wafer. It consists of a power supply line for supplying, and a support shaft for introducing a power supply line into the chamber.

이와 같은 구성에 의해 진공펌프를 사용하여 챔버내를 진공상태로 만들고 히터 모듈을 통해 반도체 웨이퍼를 고온으로 가열한 후 개스공급부를 통해 반응성 가스를 투입시키게 되면 반응성 가스는 챔버 내부가 고진공 상태이므로 쉽고도 빠르게 챔버 내로 골고루 비산되고, 비산된 가스는 고온으로 가열된 실리콘 웨이퍼 표면과 화학 반응을 일으켜 웨이퍼 위에 박막이 형성된다. 이때 웨이퍼상에 증착되는 박막의 증착율은 웨이퍼의 온도에 의해 크게 영향을 받는다. 예를 들어 같은 조건으로 막을 증착하더라도 웨이퍼의 온도가 높은 곳에 증착되는 막의 두께는 온도가 낮은 곳에서 증착되는 막의 두께보다 두껍다. 따라서 웨이퍼가 안착되는 서셉터 상면의 온도 균일도가 CVD 박막의 두께 균일도를 좌우하는 가장 큰 요인이 된다.With this configuration, if the chamber is vacuumed using a vacuum pump and the semiconductor wafer is heated to a high temperature through the heater module, and the reactive gas is introduced through the gas supply unit, the reactive gas is easily vacuumed because the inside of the chamber is in a high vacuum state. Rapidly and evenly scattered into the chamber, the scattered gas chemically reacts with the silicon wafer surface heated to a high temperature, forming a thin film on the wafer. The deposition rate of the thin film deposited on the wafer is greatly affected by the temperature of the wafer. For example, even if the film is deposited under the same conditions, the thickness of the film deposited at a high temperature of the wafer is thicker than that of the film deposited at a low temperature. Therefore, the temperature uniformity of the upper surface of the susceptor on which the wafer is seated is the biggest factor that determines the thickness uniformity of the CVD thin film.

도 1은 본 발명에 의한 세라믹 코팅 금속 서셉터의 평면구조를 나타내고 도 2는 도 1의 A-A선 단면도를 나타내고 도 3은 도 2의 X 부분의 확대된 단면 구조를 나타낸다. 1 shows a planar structure of a ceramic-coated metal susceptor according to the present invention, FIG. 2 shows a cross-sectional view taken along line A-A of FIG. 1, and FIG. 3 shows an enlarged cross-sectional structure of part X of FIG.

도면을 참조하면, 본 발명의 세라믹 코팅 금속 서셉터(100)는 원형의 금속판체(110)와 금속 지지축(120)을 포함한다. 금속판체(110) 내부에는 발열체(130)와 열전도 유체(140)가 각각 매립된다. Referring to the drawings, the ceramic coated metal susceptor 100 of the present invention includes a circular metal plate body 110 and a metal support shaft 120. The heating element 130 and the thermal conductive fluid 140 are embedded in the metal plate 110, respectively.

금속판체(110)는 중앙으로부터 동심원상으로 웨이퍼 재치영역(110a), 포켓 라인(110b), 가열영역(110c) 순으로 배열된다. The metal plate body 110 is arranged in the order of the wafer placing region 110a, the pocket line 110b, and the heating region 110c in a concentric manner from the center.

금속판체(110)는 서스와 같은 스테인레스 스틸 재질로 구성되고, 중간 하부에는 발열체(130)를 매립하기 위한 공간부(111)가 형성되고 중간 상부에는 열전도 유체(140)를 담기 위한 공간부(112)가 형성된다. 공간부(111)는 발열체(130)를 설치한 후에 하부 덮개(113)를 덮고 덮개 가장자리를 용접하여 밀봉한다. 마찬가지로 공간부(112)에도 열전도 유체(140)가 채워진 다음에 상부 덮개(114)를 덮고 가장자리를 용접하여 밀봉한다. 상부 덮개(114)에는 웨이퍼 안착을 유도하는 포켓턱(115)이 형성된다. The metal plate 110 is made of a stainless steel material such as sus, a space portion 111 for embedding the heating element 130 is formed in the middle lower portion, and a space portion 112 for containing the heat conductive fluid 140 in the middle upper portion. ) Is formed. After installing the heating element 130, the space 111 covers the lower cover 113 and seals the cover edge by welding. Similarly, the space 112 is also filled with the heat conducting fluid 140, and then covers the top cover 114 and seals the edges by welding. The upper lid 114 is formed with a pocket jaw 115 to induce the wafer seating.

여기서 발열체(130)는 통상의 코일형 히터로 등온 특성을 향상하기 위하여 나선상으로 가열영역(110c)내에 배치되고 매립된다. 열전도 유체(140)는 발열체(130)가 나선상으로 배치되어 선과 선 사이에서 상대적으로 온도가 떨어지는 것을 보완하기 위하여 열전도를 위한 작동유체로서 제공된다. 따라서 발열체(130)로부터 발생된 열을 금속판체(110)의 가열 표면에 신속하게 전달한다. 그러므로 금속판체(110)의 가열 영역에서 등온성을 유지한다. 그러므로 웨이퍼의 중심과 가장자리의 온도편차가 없이 전표면이 균일한 온도로 가열된다. Here, the heating element 130 is disposed in the heating region 110c in a spiral shape in order to improve the isothermal characteristic with the conventional coil type heater. The heat conducting fluid 140 is provided as a working fluid for heat conduction in order to compensate for a relatively low temperature between the heat generating element 130 is arranged in a spiral line. Therefore, heat generated from the heating element 130 is quickly transferred to the heating surface of the metal plate body 110. Therefore, isothermality is maintained in the heating region of the metal plate body 110. Therefore, the entire surface is heated to a uniform temperature without a temperature deviation between the center and the edge of the wafer.

금속판체(110) 및 금속 지지축(120)의 모서리는 모두 라운드 가공된다. 라운드 가공시 0.1 내지 1,5 mm의 라운드 반경으로 가공된다. 리프트 핀 통공(116)에는 세라믹 튜브(150)가 조립된다. 세라믹 튜브(150)는 통공(116)의 축방향 길이 보다 10% 정도 더 짧은 길이로 통공 가장자리 근처에서 단턱(117)을 형성한다. 통공(116)의 입구의 모서리(118)는 반경 r(0.1 ~ 1.5mm)로 라운드 가공된다. 통공 주변의 라운드 가공된 모서리(118)와 단턱(117)에 의해 리프트 핀 통공 에지에서 세라미층(170)이 모가 나지 않고 둥근 곡면을 형성하며 코팅되므로 열적 스트레스 및 기계적 스트레스를 분산시켜서 기계적 강도 및 내구성이 향상된다. 또한 모서리에서 라운드 가공에 의해 접착표면적이 증가되므로 버퍼층(160) 및 세라믹층(170)의 접착력이 증가되어 코팅에러나 손상을 방지할 수 있다. The corners of the metal plate body 110 and the metal support shaft 120 are rounded. In round processing, it is processed with a round radius of 0.1 to 1,5 mm. The ceramic tube 150 is assembled to the lift pin through hole 116. The ceramic tube 150 forms a step 117 near the edge of the aperture with a length about 10% shorter than the axial length of the aperture 116. The edge 118 of the inlet of the through hole 116 is rounded to a radius r (0.1 to 1.5 mm). Rounded edges 118 and step 117 around the perforations allow the ceramic layer 170 to form a round curved surface without coating at the edge of the lift pin through edges so as to dissipate thermal and mechanical stresses, resulting in mechanical strength and durability. This is improved. In addition, since the adhesive surface area is increased by round processing at the corners, the adhesive force between the buffer layer 160 and the ceramic layer 170 is increased to prevent coating errors or damage.

도 4는 본 발명에 의한 세라믹 코팅 금속 서셉터의 제조방법을 설명하기 위한 공정 순서도를 나타낸다. Figure 4 shows a process flow chart for explaining a method of manufacturing a ceramic coated metal susceptor according to the present invention.

먼저 금속판체(110) 및 금속 지지축(120)의 외부 표면의 모서리 부분을 0.1 내지 1.5mm 반경으로 라운드 가공한다(S100). 이어서 준비된 금속판체(110) 내부에 발열체(130) 및 열전도 유체(140)를 순차적으로 매설한다. (S102). 발열체(130) 및 열전도 유체(140)가 매설된 금속판체(110)와 금속 지지축(120)을 용접하여 서셉터를 구성한다(S104). First, the corners of the outer surfaces of the metal plate body 110 and the metal support shaft 120 are rounded to a radius of 0.1 to 1.5 mm (S100). Subsequently, the heating element 130 and the thermal conductive fluid 140 are sequentially embedded in the prepared metal plate 110. (S102). The susceptor is configured by welding the metal plate body 110 in which the heating element 130 and the thermal conductive fluid 140 are embedded and the metal support shaft 120 (S104).

이어서 금속판체(120)의 다수의 리프트 핀 통공(116)들 내에 각각 세라믹 튜브(150)를 삽입하여 접착시킨다(S106). Subsequently, the ceramic tubes 150 are respectively inserted into the plurality of lift pin through holes 116 of the metal plate 120 to be bonded (S106).

플라즈마 용사장비를 사용하여 금속판체(110) 및 금속 지지축(120)의 외표면에 니켈 함유 버퍼층(160)을 20 내지 100㎛ 정도 바람직하기로는 약 50㎛ 두께로 용사 코팅시킨다(S108). 니켈 함유 버퍼층(160)은 10~20% 정도 바람직하기로는 12%의 다공률을 가진 것이 좋다 이와 같은 다공성은 세라믹층(170)과 금속판체(110) 사이의 열적 스트레스를 중간에서 흡수하는 역할을 한다. 이어서 버퍼층(160) 상에 알루미나 부식 방지 세라믹층(170)을 100 내지 400㎛ 정도 바람직하기로는 약 250㎛ 두께로 용사 코팅시킨다(S110). Using the plasma spraying equipment, the nickel-containing buffer layer 160 is sprayed to a thickness of about 20 to 100 μm, preferably about 50 μm, on the outer surfaces of the metal plate 110 and the metal support shaft 120 (S108). The nickel-containing buffer layer 160 preferably has a porosity of about 10 to 20%, preferably 12%. Such porosity serves to absorb thermal stress between the ceramic layer 170 and the metal plate 110 in the middle. do. Subsequently, the alumina corrosion preventing ceramic layer 170 is sprayed to a thickness of about 250 μm, preferably about 250 μm, on the buffer layer 160 (S110).

본 발명에서는 니켈 함유 버퍼층(160)의 그레인 사이즈가 세라믹층(170)의 그레인 사이즈 보다 큰 것이 바람직하다. 세라믹층(170)은 3~10% 정도 바람직하기로는 5% 이하의 다공률을 가진 것이 바람직하다. 외부의 공격적인 환경에 의한 금속판체의 부식, 침식으로 인한 물리적 또는 화학적 공격을 최소화 할 수 있다. In the present invention, the grain size of the nickel-containing buffer layer 160 is preferably larger than the grain size of the ceramic layer 170. The ceramic layer 170 is preferably about 3 to 10%, preferably having a porosity of 5% or less. Physical or chemical attack due to corrosion and erosion of the metal plate by external aggressive environment can be minimized.

플라즈마 용사 코팅은 일반적으로 고온의 플라즈마 불꽃에 금속 또는 세라믹 분말을 주입하여 가열한 후 완전 용융 또는 반 용융된 상태에서 모재의 표면에 적층하여 피막을 형성하는 기술이다. 액체상태의 세라믹은 그 구성 원소(예를 들면 Al2O3)들이 느슨하게 결합되어 있으며 원소의 배열순서도 불규칙적인 상태를 유지하고 있다. 이러한 액체상태의 세라믹이 그 녹는 점(Tm)이하로 냉각되면 고체 상태로 변하면서, 그 구성원소간 결합이 강해지고 구성원소의 배열도 규칙적으로 이루어진 결정상으로 변하게 된다.Plasma spray coating is generally a technique of injecting a metal or ceramic powder into a hot plasma flame to heat it, and then laminating it on the surface of the base material in a completely molten or semi-melted state to form a film. Liquid ceramics are loosely bonded to their constituent elements (eg Al2O3) and the order of the elements remains irregular. When the liquid ceramic is cooled below its melting point (Tm), it turns into a solid state, and the bonds between the elements become stronger and the arrangement of the elements changes into a crystalline phase formed regularly.

이와 같이 열용사 코팅 시 용융 세라믹 분말이 모재 표면에 적층되어 냉각되는 과정에서 용융 세라믹 분말이 결정상으로 상변태하여 이들 결정상이 스플랫에 균열을 형성한다. 액체상태의 물질이 냉각되어 결정상의 고체로 상 변태될 때 부피 변화를 나타낸다.As such, the molten ceramic powder phase-transforms into a crystalline phase in the process of laminating and cooling the molten ceramic powder on the surface of the base metal during thermal spray coating to form cracks in the splat. It shows volume change when the liquid substance cools and transforms into a crystalline solid.

그러므로 본 발명에서는 스플랫 균열이나 스플랫 계면 사이를 통한 반응가스의 침투를 방지하기 위하여 이들 균열이나 계면 사이로 질소가스를 함침시키고 열처리하여 스플랫 표면을 질화시켜서 질화막 코팅을 형성한다. 즉 세라믹층이 용사 코팅된 서셉터를 열처리 챔버 내에 넣고 질소가스를 주입한 상태에서 대략 600 내지 700도 정도로 열처리하여 도 5에 도시한 바와 같이 부식 방지 세라믹층(170)층 그레인 표면에 질화층(180)을 형성한다(S112). 그러므로 균열된 부분과 계면의 공간들이 표면 질화시 메워져 반응가스가 침투할 통로를 차단시킨다. Therefore, in the present invention, in order to prevent penetration of the reaction gas through the splat crack or the splat interface, nitrogen gas is impregnated and heat treated between the cracks or the interface to form the nitride film coating by nitriding the splat surface. That is, the ceramic layer is thermally coated at about 600 to 700 degrees while the susceptor coated with the thermal spray coating is placed in a heat treatment chamber and injected with nitrogen gas, and as shown in FIG. 5, the nitride layer ( 180 is formed (S112). Therefore, the cracks and the spaces at the interface are filled during surface nitriding, blocking the passage of the reaction gas.

이상, 본 발명의 실시예들에 따른 세라믹 코팅 금속 서셉터에 대하여 도면을 참조하여 설명하였지만, 상기 도면 및 그에 대한 설명은 예시적인 것으로서 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위에서 해당 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의하여 수정 및 변경될 수 있을 것이다. 그러므로, 본 발명의 기술적 사상이 본 발명의 실시 예들로 한정되어서는 아니 될 것이다.Although the ceramic coating metal susceptor according to the embodiments of the present invention has been described with reference to the drawings, the drawings and the description thereof are exemplary and ordinary in the art without departing from the spirit of the present invention. It may be modified and changed by one with knowledge. Therefore, the technical spirit of the present invention should not be limited to the embodiments of the present invention.

Claims (9)

피가열물을 가열하는 가열 평면을 가지며 모서리 부분이 라운딩 가공된 금속판체;
상기 금속판체 내부에 매설된 발열체;
상기 금속판체의 가열평면과 상기 발열체 사이에 매설된 열전도 유체;
상기 금속판체의 저면 중앙에 결합되고 하방으로 연장된 금속 지지축; 및
상기 금속판체 및 금속 지지축의 외표면에 코팅된 부식 방지 세라믹층을 구비한 것을 특징으로 하는 세라믹 코팅 금속 서셉터.
A metal plate body having a heating plane for heating the object to be heated and having rounded corners;
A heating element embedded in the metal plate;
A heat conducting fluid buried between a heating plane of the metal plate and the heating element;
A metal support shaft coupled to a center of a bottom surface of the metal plate body and extending downward; And
And a corrosion resistant ceramic layer coated on the outer surface of the metal plate body and the metal support shaft.
제1항에 있어서, 상기 부식방지 세라믹 층과 상기 금속판체 사이에 열적 스트레스를 버퍼링하기 위한 버퍼층이 더 형성된 것을 특징으로 하는 세라믹 코팅 금속 서셉터.The ceramic coated metal susceptor of claim 1, further comprising a buffer layer for buffering thermal stress between the corrosion resistant ceramic layer and the metal plate. 제2항에 있어서, 상기 버퍼층은 니켈를 함유하는 본딩층인 것을 특징으로 하는 세라믹 코팅 금속 서셉터.3. The ceramic coated metal susceptor of claim 2 wherein the buffer layer is a bonding layer containing nickel. 제1항에 있어서, 상기 부식 방지 세라믹층은 Y2O3, Al2O3, ZrO2, CeO2 등의 산화물 분말과 AlN, BN 등의 질화물 분말과 SiC, AlC 등의 탄화물 분말 및 상기 산화물 분말, 질화물 분말, 탄화물 분말들의 조합 중의 어느 하나인 것을 특징으로 하는 세라믹 코팅 금속 서셉터.According to claim 1, wherein the corrosion-resistant ceramic layer is made of oxide powders such as Y2O3, Al2O3, ZrO2, CeO2, nitride powders such as AlN, BN, carbide powders such as SiC, AlC and oxide powders, nitride powders, carbide powders Ceramic coated metal susceptor, characterized in that any one of the combination. 제1항에 있어서, 상기 부식 방지 세라믹층은 Y2O3, Al2O3, ZrO2, CeO2 등의 산화물 분말이고 세라믹층을 질화가스 분위기에서 표면 질화시켜서 형성한 질화층을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 세라믹 코팅 금속 서셉터.The ceramic coating metal sheet of claim 1, wherein the corrosion resistant ceramic layer is an oxide powder of Y 2 O 3, Al 2 O 3, ZrO 2, CeO 2, and the like, and further includes a nitride layer formed by surface nitriding the ceramic layer in a nitride gas atmosphere. Scepter. 제1항에 있어서, 상기 금속판체의 가열평면에는 저면까지 관통된 다수의 리프트 핀 통공들이 형성되고 각 리프트핀 통공에는 세라믹 튜브가 삽입된 것을 특징으로 하는 세라믹 코팅 금속 서셉터.The ceramic-coated metal susceptor of claim 1, wherein a plurality of lift pin holes are formed in the heating plane of the metal plate, and a plurality of lift pin holes penetrate to the bottom surface. 제6항에 있어서, 상기 세라믹 튜브의 길이는 상기 통공의 축방향 길이 보다 짧고, 상기 통공의 양단 상기 금속판체의 모서리는 라운드 가공된 것을 특징으로 하는 세라믹 코팅 금속 서셉터.The ceramic coated metal susceptor of claim 6, wherein a length of the ceramic tube is shorter than an axial length of the through hole, and corners of the metal plate body at both ends of the through hole are rounded. 피가열물을 가열하는 가열 평면을 가지며 모서리 부분이 라운딩 가공된 금속판체을 준비하는 단계;
준비된 상기 금속판체 내부에 발열체 및 열전도 유체를 매설하는 단계;
상기 금속판체의 저면에 하방으로 연장된 금속 지지축을 결합하는 단계;
상기 금속판체의 다수의 리프트 핀 통공들 내에 각각 세라믹 튜브를 삽입하여 결합하는 단계;
상기 금속판체 및 금속 지지축의 외표면에 니켈 함유 버퍼층을 형성하는 단계; 및
상기 버퍼층 상에 알루미나 부식 방지층을 형성하는 단계를 구비한 것을 특징으로 하는 세라믹 코팅 금속 서셉터의 제조방법.
Preparing a metal plate body having a heating plane for heating the object to be heated and rounded at an edge thereof;
Embedding a heating element and a heat conducting fluid in the prepared metal plate;
Coupling a metal support shaft extending downward to a bottom surface of the metal plate;
Inserting and coupling ceramic tubes into the plurality of lift pin holes of the metal plate, respectively;
Forming a nickel-containing buffer layer on an outer surface of the metal plate body and the metal support shaft; And
And forming an alumina corrosion protection layer on the buffer layer.
제8항에 있어서, 상기 부식 방지층을 형성한 다음에 질소가스 분위기에서 열처리하여 상기 부식 방지층 표면에 질화층을 형성하는 단계를 더 구비한 것을 특징으로 하는 세라믹 코팅 금속 서셉터의 제조방법. The method of claim 8, further comprising forming a nitride layer on a surface of the corrosion protection layer by forming the corrosion protection layer and then performing heat treatment in a nitrogen gas atmosphere.
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101423515B1 (en) * 2012-09-03 2014-07-31 주식회사 테라세미콘 Chamber and mothod for producing the same
KR20170030182A (en) * 2015-09-09 2017-03-17 세메스 주식회사 Apparatus for heating a substrate
KR20170052338A (en) * 2015-11-04 2017-05-12 (주)포인트엔지니어링 Susceptor and Vaccum chamber including the same
KR20170052318A (en) * 2015-11-04 2017-05-12 (주)포인트엔지니어링 Susceptor and Vaccum chamber including the same
KR102478833B1 (en) * 2021-09-29 2022-12-16 에스케이씨솔믹스 주식회사 Jig for processing susceptor shaft
WO2024076386A1 (en) * 2022-10-06 2024-04-11 Applied Materials, Inc. Halogen-resistant thermal barrier coating for processing chambers

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101568735B1 (en) * 2014-01-23 2015-11-12 주식회사 알지비하이텍 Susceptor and substrate processing apparatus having the same

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2600558Y2 (en) * 1991-10-02 1999-10-12 住友金属工業株式会社 Electrostatic chuck
JP2003059628A (en) * 2001-08-17 2003-02-28 Ibiden Co Ltd Ceramic heater for semiconductor manufacturing and test device
JP4421874B2 (en) * 2003-10-31 2010-02-24 東京エレクトロン株式会社 Plasma processing apparatus and plasma processing method
KR100730379B1 (en) * 2005-07-26 2007-06-19 (주)대하이노텍 Heater module of chemical vapor deposition apparatus

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101423515B1 (en) * 2012-09-03 2014-07-31 주식회사 테라세미콘 Chamber and mothod for producing the same
KR20170030182A (en) * 2015-09-09 2017-03-17 세메스 주식회사 Apparatus for heating a substrate
KR20170052338A (en) * 2015-11-04 2017-05-12 (주)포인트엔지니어링 Susceptor and Vaccum chamber including the same
KR20170052318A (en) * 2015-11-04 2017-05-12 (주)포인트엔지니어링 Susceptor and Vaccum chamber including the same
KR102478833B1 (en) * 2021-09-29 2022-12-16 에스케이씨솔믹스 주식회사 Jig for processing susceptor shaft
WO2024076386A1 (en) * 2022-10-06 2024-04-11 Applied Materials, Inc. Halogen-resistant thermal barrier coating for processing chambers

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