KR20120065223A - 전원 공급 장치의 제조 시스템 및 전원 공급 유닛의 제조 방법, 그리고 플리커 측정 장치 - Google Patents

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Abstract

전원 공급 유닛의 제조 방법이 개시된다. 본 발명의 실시예에 따른 전원 공급 유닛의 제조 방법은 하나 이상의 광원에 디밍 신호를 공급하는 하나 이상의 전원 공급 유닛을 제공하는 단계, 상기 제공된 하나 이상의 전원 공급 유닛의 전기적 특성을 제1 테스트하는 단계, 상기 하나 이상의 광원으로부터 방출되는 광을 검출하여, 상기 하나 이상의 광원에 대한 플리커를 측정하고, 상기 플리커 측정 결과에 따른 상기 하나 이상의 전원 공급 유닛의 상태를 제2 테스트하는 단계 및 상기 제1 테스트 및 상기 제2 테스트 결과, 정상으로 판정된 전원 공급 유닛을 패킹하는 단계를 포함한다.

Description

전원 공급 장치의 제조 시스템 및 전원 공급 유닛의 제조 방법, 그리고 플리커 측정 장치 {SYSTEM FOR MANUFACTURING POWEW SUPPLY UNIT AND METHOD FOR MANUFACTURING POWEW SUPPLY UNIT, AND FLICKER MEASUREMENT APPRATUS}
본 발명의 실시예들은 전원 공급 장치의 제조 시스템 및 그의 전원 공급 유닛의 제조 방법, 그리고 플리커 측정 장치에 관한 것이다.
발광소자는 전기 에너지를 광 에너지로 변환하여 광을 방출하는 광원이다. 최근에는 빠른 처리 속도, 낮은 전력 소모 및 긴 수명 등과 같은 발광소자의 장점을 고려하여, 발광소자를 단순 표시 소자로 이용하는데 그치지 않고 조명 분야에도 적용하고 있다.
발광소자는 전원 공급 유닛(Power Supply Unit)을 통해 전원을 공급받아 동작한다. 만약, 전원 공급 유닛이 정상적으로 동작하지 않을 경우, 발광소자 역시 정상적으로 동작하지 않고 발광소자로부터 방출되는 광이 깜박거리는 플리커 현상이 발생한다. 즉, 발광소자에서 발생하는 플리커 현상은 발광소자에 전원을 공급하는 전원 공급 유닛의 상태에 영향을 받는다. 따라서, 전원 공급 유닛을 제조하는 과정에서, 전원 공급 유닛의 상태를 판정하기 위한 테스트를 거치게 된다.
한편, 기존에는 전원 공급 유닛의 상태를 판정하기 위하여, 작업자는 전원 공급 유닛에 연결된 발광소자로부터 방출되는 광을 육안으로 확인하였다. 즉, 육안으로 발광소자에서 플리커 현상이 측정되는 경우, 전원 공급 유닛의 상태를 불량으로 판정하였다. 그러나, 작업자의 개인차(예를 들어, 나이, 시력, 피로감 등)에 의해 플리커 현상을 측정하는데 차이가 발생한다. 따라서, 발광소자의 플리커 현상을 정확히 측정하여 전원 공급 유닛의 품질 상태를 정확히 판정하기 위한 기술이 요구된다.
본 발명의 실시예들은 상술한 문제점을 해결하기 위한 것으로, 본 발명의 목적은, 테스트를 통해 전원 공급 유닛의 전기적 특성 및 상태를 판정하고, 정상으로 판정된 전원 공급 유닛을 패킹(packing)하는 전원 공급 유닛의 제조 시스템 및 전원 공급 유닛의 제조 방법을 제공하기 위한 것이다.
또한, 본 발명의 다른 목적은, 하나 이상의 발광소자에 대한 플리커를 측정하여 하나 이상의 전원 공급 유닛에 대한 상태를 판정하는 플리커 측정 장치를 제공하기 위한 것이다.
또한, 본 발명의 다른 목적은, 하나 이상의 전원 공급 유닛에 대한 상태에 따른 판정 결과 데이터를 저장 및 관리하여 용이한 데이터 이용을 제공하는 플리커 측정 장치를 제공하기 위한 것이다.
또한, 본 발명의 다른 목적은, 플리커 측정 장치를 통해 정상으로 판정된 전원 공급 유닛을 채용한 조명 장치를 제공하기 위한 것이다.
이상과 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일 실시예에 따른 하나 이상의 광원에 디밍 신호를 공급하는 하나 이상의 전원 공급 유닛을 제공하는 단계, 상기 제공된 하나 이상의 전원 공급 유닛의 전기적 특성을 제1 테스트하는 단계, 상기 하나 이상의 광원으로부터 방출되는 광을 검출하여, 상기 하나 이상의 광원에 대한 플리커를 측정하고, 상기 플리커 측정 결과에 따른 상기 하나 이상의 전원 공급 유닛의 상태를 제2 테스트하는 단계 및 상기 제1 테스트 및 상기 제2 테스트 결과, 정상으로 판정된 전원 공급 유닛을 패킹하는 단계를 포함한다.
본 발명의 일 실시예에 따른 전원 공급 유닛의 제조 시스템은 하나 이상의 광원에 디밍 신호를 공급하는 하나 이상의 전원 공급 유닛을 제공하는 전원 공급 유닛 제조 설비, 상기 제공된 하나 이상의 전원 공급 유닛의 전기적 특성을 테스트하는 제1 테스트 설비, 상기 하나 이상의 광원으로부터 방출되는 광을 검출하여, 상기 하나 이상의 광원에 대한 플리커를 측정하고, 상기 플리커 측정 결과에 따른 상기 하나 이상의 전원 공급 유닛의 상태를 테스트하는 제2 테스트 설비 및 상기 제1 테스트 설비 및 상기 제2 테스트 설비에 의해 정상으로 판정된 전원 공급 유닛을 패킹하는 패킹 설비를 포함한다.
본 발명의 일 실시예에 따른 플리커 측정 장치는 하나 이상의 광원으로부터 방출되는 광을 검출하는 광 검출 모듈, 상기 하나 이상의 광원에 디밍 신호를 공급하는 하나 이상의 전원 공급 유닛과 연결되어 신호를 입출력하는 신호 입출력 모듈, 상기 검출된 광을 전기적 신호로 변환하여 신호 처리하는 신호 처리 모듈; 및 디밍 제어 신호에 기반하여 상기 하나 이상의 전원 공급 유닛을 제어하고, 상기 신호 처리된 전기적 신호를 이용하여 상기 하나 이상의 광원에 대한 플리커를 측정하며, 상기 플리커 측정 결과에 따라 상기 하나 이상의 전원 공급 유닛의 상태를 판정하는 제어 모듈을 포함한다.
본 발명의 일 실시예에 따른 조명 장치는 조명용 광원 및 상기 조명용 광원에 전원을 공급하고, 플리커 측정 장치를 통해 정상으로 판정된 전원 공급 유닛을 포함한다.
본 발명의 일 실시예에 따른 전원 공급 유닛의 제조 방법은 디밍 제어 신호에 기반하여 하나 이상의 광원에 디밍 신호를 공급하는 하나 이상의 전원 공급 유닛을 제어하는 단계, 상기 하나 이상의 광원으로부터 방출되는 광을 검출하는 단계, 상기 검출된 광을 전기적 신호로 변환하여 신호 처리하는 단계, 상기 신호 처리된 전기적 신호를 이용하여 상기 하나 이상의 광원에 대한 플리커를 측정하는 단계 및 상기 플리커 측정 결과에 따라 상기 하나 이상의 전원 공급 유닛의 상태를 판정하는 단계를 포함한다.
본 발명의 일 실시예에 따른 제어 모듈은 하나 이상의 전원 공급 유닛의 동작을 제어하기 위한 디밍 제어 신호의 생성에 필요한 정보를 입력받는 입력부, 상기 디밍 제어 신호를 상기 하나 이상의 전원 공급 유닛에 송신하는 신호 송신부, 상기 하나 이상의 광원으로부터 검출된 광에 대응하는 주파수 신호를 수신하는 신호 수신부, 상기 입력 정보에 따라 상기 디밍 제어 신호를 생성하는 제1 제어부 및 상기 수신된 주파수 신호를 이용하여 상기 하나 이상의 광원에 대한 플리커를 측정하며 상기 플리커 측정 결과에 따라 상기 하나 이상의 전원 공급 유닛을 테스트하는 제2 제어부를 포함한다.
본 발명의 실시예들에 따른 전압 공급 유닛의 제조 시스템 및 그의 제조 방법은 테스트를 통해 전원 공급 유닛의 전기적 특성 및 상태를 판정하고, 정상으로 판정된 전원 공급 유닛을 패킹함으로써, 전원 공급 유닛의 제조가 용이할 수 있다.
본 발명의 실시예들에 따른 플리커 측정 장치는 하나 이상의 발광소자에 대한 플리커를 자동으로 측정하여 하나 이상의 전원 공급 유닛에 대한 상태를 정확하게 측정할 수 있다.
또한, 하나 이상의 전원 공급 유닛에 대한 상태에 따른 판정 결과 데이터를 저장 및 관리하여 용이한 데이터 이용을 제공할 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 전원 공급 유닛의 제조 시스템을 나타내는 도면이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 전원 공급 유닛 제조 설비의 구성을 나타내는 도면이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 도시된 제1 테스트 설비의 구성을 나타내는 도면이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 제2 테스트 설비의 구성을 나타내는 도면이다.
도 5는 본 발명의 다른 실시예에 따른 제2 테스트 설비의 구성을 나타내는 도면이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 플리커 측정 장치의 외관 구조를 나타내는 도면이다.
도 7은 도 6에 도시된 하우징의 구조를 나타내는 도면이다.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 디밍 제어 신호의 생성을 위한 정보 입력 화면을 나타내는 도면이다.
도 9는 본 발명의 일 실시예에 따른 전원 공급 유닛의 제조 방법을 설명하기 위한 도면이다.
도 10은 본 발명의 일 실시예에 따른 전원 공급 유닛의 제공 방법을 설명하기 위한 도면이다.
도 11은 본 발명의 일 실시예에 따른 전원 공급 유닛의 제1 테스트 방법을 설명하기 위한 도면이다.
도 12는 본 발명의 일 실시예에 따른 전원 공급 유닛의 제2 테스트 방법을 설명하기 위한 도면이다.
도 13은 본 발명의 다른 실시예에 따른 전원 공급 유닛의 제2 테스트 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.
도 14 내지 도 16은 본 발명의 다양한 실시예에 따른 제조 방법으로 제조된 전원 공급 유닛을 채용한 조명 장치를 나타내는 도면이다.
이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예들을 상세히 설명한다. 본 발명을 설명함에 있어서, 관련된 공지 기능 또는 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판정되는 경우에는 그 상세한 설명을 생략할 것이다. 또한, 본 명세서에서 사용되는 용어(terminology)들은 본 발명의 바람직한 실시예를 적절히 표현하기 위해 사용된 용어들로서, 이는 사용자, 운용자의 의도 또는 본 발명이 속하는 분야의 관례 등에 따라 달라질 수 있다. 따라서, 본 용어들에 대한 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 할 것이다. 각 도면에 제시된 동일한 참조 부호는 동일한 구성을 나타낸다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 전원 공급 유닛의 제조 시스템을 나타내는 도면이다. 도 1을 참조하면, 전원 공급 유닛의 제조 시스템(100)은 전원 공급 유닛 제조 설비(110), 제1 테스트 설비(120), 에이징 테스트 설비(130), 제2 테스트 설비(140), 제3 테스트 설비(150) 및 패킹 설비(160)를 포함한다.
전원 공급 유닛 제조 설비(110)는 하나 이상의 전원 공급 유닛을 제공한다. 하나 이상의 전원 공급 유닛은 하나 이상의 광원에 디밍 신호를 공급하여 하나 이상의 광원가 발광 동작할 수 있도록 한다. 만약, 전원 공급 유닛이 정상적으로 동작하지 않을 경우, 전원 공급 유닛으로부터 디밍 신호를 공급받는 광원 역시 정상적으로 동작하지 않게 된다. 따라서, 전원 공급 유닛 제조 설비(110)에 의해 전원 공급 유닛이 제조되면, 이 전원 공급 유닛이 정상적으로 동작하는지를 판정하기 위한 테스트를 거치게 된다.
제1 테스트 설비(120)는 상기 제조 설비(110)로부터 제공된 하나 이상의 전원 공급 유닛의 전기적 특성을 제1 테스트한다.
에이징 테스트 설비(130)는 하나 이상의 전원 공급 유닛을 가혹 환경에서 테스트한다. 에이징 테스트 설비(130)는 기 설정 또는 기 입력된 에이징 조건 및 에이징 시간을 포함하는 에이징 신호를 생성하고, 이 에이징 신호에 기반하여 에이징 시간 동안, 에이징 조건으로 전원 공급 유닛의 에이징 테스트를 수행한다.
제2 테스트 설비(140)는 하나 이상의 광원으로부터 방출되는 광을 검출하여, 하나 이상의 광원에 대한 플리커를 측정하고, 플리커 측정 결과에 따른 하나 이상의 전원 공급 유닛의 상태를 제2 테스트한다.
도 1에서는 에이징 테스트 설비(130)를 제2 테스트 설비(140)와 별개의 구성으로 도시하였으나, 에이징 테스트 설비(130)는 제2 테스트 설비(140)에 포함되는 구성이 될 수도 있다. 즉, 제2 테스트 설비(140)는 에이징 테스트를 수행한 후에, 제2 테스트, 즉, 플리커를 측정하는 형태로 구성될 수도 있다.
제3 테스트 설비(150)는 제1 테스트 및 제2 테스트 설비에 의해 정상으로 판정된 전원 공급 유닛을 패킹하기 전에, 전원 공급 유닛의 소비 전력, 출력 전류, 출력 전압, 정상 작동 여부 및 내전압 중 적어도 하나를 제3 테스트한다. 제1 테스트, 에이징 테스트 및 제2 테스트를 받는 동안, 각 테스트 환경에 의해 전원 공급 유닛은 스트레스를 받을 수 있다. 이러한 스트레스는 전원 공급 유닛의 전기적 특성에 영향을 끼칠 수 있으므로, 제1 테스트, 에이징 테스트 및 제2 테스트가 완료된 후에 다시 한번 전원 공급 유닛의 전기적 특성을 제3 테스트할 수 있다. 제3 테스트 설비(150)는 필수적인 구성은 아니며, 필요에 의해 선택적으로 포함될 수 있다.
패킹 설비(160)는 제1 테스트 설비(120), 제2 테스트 설비(140) 및 제3 테스트 설비(150)에 의해 정상으로 판정된 전원 공급 유닛을 패킹한다. 구체적으로, 패킹 설비(160)는 전원 공급 유닛을 제전 비닐로 포장하고, 포장된 전원 공급 유닛을 기 설정된 단위로, 실리카겔을 포함하는 패킹 박스에 수납할 수 있다. 일 예로, 패킹 설비(160)는 한 패킹 박스 당 4개의 전원 공급 유닛을 수납할 수 있으며, 2개 단위로 2단 수납할 수 있다. 패킹 설비(160)는 패킹 과정에서, 패킹 박스 내부의 습기 제거를 위한 실리카겔의 포함 여부, 패킹 박스 내부의 전원 공급 유닛의 개수, 제전 비닐의 포장 여부 및 페어라이트 코어(pearlite core) 이상 유무 등을 확인할 수 있다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 전원 공급 유닛 제조 설비의 구성을 나타내는 도면이다. 도 2는 도 1에 도시된 전원 공급 유닛 제조 설비(110)의 구성을 구체화한 것이다.
도 2를 참조하면, 전원 공급 유닛 제조 설비(100)는 솔더 페이스트 도포 장치(112), 칩 소자 실장 장치(113) 및 리플로우 장치(114)를 포함한다.
솔더 페이스트 도포 장치(112)는 전원 공급 유닛의 일 구성이 되는 회로 기판(111) 상에 솔더 페이스트를 도포한다. 솔더 페이스트 도포 장치(112)는 회로 기판(111) 상에 솔더 마스크(미도시)를 올려놓은 상태에서 솔더 페이스트를 인쇄하는 방식으로 솔더 페이스트를 도포할 수 있다.
칩 소자 실장 장치(113)는 솔더 페이스트를 이용하여 회로 기판(111) 상에 하나 이상의 칩 소자를 실장한다. 이 경우, 칩 소자는 회로 기판(111)이 전원 공급 유닛으로 기능하기 위하여 필요한 RC 회로 소자, 다이오드 소자 등과 같은 수동 소자가 될 수 있다.
리플로우 장치(114)는 기 설정된 온도에서 솔더 페이스트를 리플로우하여 회로 기판(111) 상에 칩 소자를 접합시킨다.
일반적으로, 회로 기판(111)의 일 면에 칩 소자를 실장하여 전원 공급 유닛을 제조하나, 필요에 따라서는 회로 기판(111)의 일 면 및 타 면에 칩 소자를 실장하여 전원 공급 유닛을 제조할 수도 있다. 이 경우, 전원 공급 유닛 제조 설비(100)는 회로 기판(111)의 타 면에 칩 소자를 실장하기 위한 솔더 페이스트 도포 장치, 칩 소자 실장 장치 및 리플로우 장치를 각각 하나씩 더 포함할 수 있다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 도시된 제1 테스트 설비의 구성을 나타내는 도면이다. 도 3은 도 1에 도시된 제1 테스트 설비(120)의 구성을 구체화한 것이다.
도 3을 참조하면, 제1 테스트 설비(120)는 부품 들뜸 검사 장치(121), 웨이브 솔더링 장치(122), 솔더 보정 장치(123), 소자 테스트 장치(124), 회로 기판 테스트 장치(125) 및 전원 공급 유닛 테스트 장치(126)를 포함한다.
부품 들뜸 검사 장치(121)는 하나 이상의 전원 공급 유닛을 구성하는 부품들에 대한 들뜸을 검사한다. 구체적으로, 부품 들뜸 검사 장치(121)는 하나 이상의 전원 공급 유닛에 광(예를 들어, 레이저 광, X-ray 등)을 조사하고, 반사되는 광을 수신하여 부품에 대한 들뜸, 특히, 솔더 페이스트의 들뜸을 검사한다.
웨이브 솔더링 장치(122)는 부품들에 대한 들뜸 발생 여부에 따라 솔더 페이스트를 재솔더링한다. 구체적으로, 부품 들뜸 검사 장치(121)에서의 검사 결과, 부품에 대한 들뜸이 발생한 경우, 해당 전원 공급 유닛에 대하여 솔더 페이스트를 재솔더링할 수 있다.
솔더 보정 장치(123)는 재솔더링된 솔더 페이스트에 부착된 부품들을 리터치(re-touch)하여 부품들에 대한 들뜸을 제거한다.
소자 테스트 장치(124)는 회로 기판(111) 상에 실장된 하나 이상의 칩 소자의 전기적 특성을 테스트한다.
회로 기판 테스트 장치(125)는 회로 기판(111)에 대한 전기적 특성을 테스트한다.
전원 공급 유닛 테스트 장치(126)는 하나 이상의 전원 공급 유닛의 소비 전력, 출력 전류, 출력 전압, 정상 작동 여부 및 내전압 중 적어도 하나를 테스트한다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 제2 테스트 설비의 구성을 나타내는 도면이다. 도 4에 도시된 제2 테스트 설비는 플리커 측정 장치로써, 전원 공급 유닛으로부터 디밍 신호를 공급받아 구동되는 광원에 대한 플리커를 측정하여 전원 공급 유닛의 상태를 판정할 수 있다. 본 명세서에서는 제2 테스트 설비와 플리커 측정 장치를 혼용하며, 이는 동일한 장치를 지칭하는 것임을 명시한다.
도 4를 참조하면, 플리커 측정 장치(140)는 신호 입출력 모듈(141), 광원(142a), 광 검출 모듈(142b), 신호 처리 모듈(143), 제어 모듈(144), AC 전원부(145) 및 DC 전원부(142c)를 포함한다.
신호 입출력 모듈(141)은 플리커 측정을 위한 전원 공급 유닛(146)과 전기적으로 연결될 수 있으며, 외부 장치 또는 플리커 측정 장치(140)의 내부 구성 요소들로부터 전달된 신호를 입력받거나 전원 공급 유닛(146)에서의 신호를 출력한다. 이 같은 기능을 구현하기 위하여, 신호 입출력 모듈(141)은 전원 공급 유닛(146)과의 전기적 연결을 위한 접촉 단자 및 신호 입출력 단자를 포함할 수 있다.
또한, 신호 입출력 모듈(141)은 전원 공급 유닛(146)의 장착 공간을 제공하는 트레이(미도시)에 포함될 수도 있다. 구체적으로, 트레이는 장착 공간 내/외부에 접촉 단자 및 신호 입출력 단자를 배치하여 장착 공간에 전원 공급 유닛(146)이 장착되는 경우 상기 접촉 단자와 연결될 수 있도록 한다. 따라서, 신호 입출력 단자로부터 입력된 신호를 전원 공급 유닛(146)에 전달하거나, 전원 공급 유닛(146)으로부터의 신호를 외부로 출력할 수 있다.
트레이는 복수 개의 전원 공급 유닛(146)을 동시에 장착할 수 있는 구조를 가질 수 있으며, 하나의 전원 공급 유닛(146)을 장착할 수 있는 구조를 가질 수도 있다. 트레이가 하나의 전원 공급 유닛(146)을 장착할 수 있는 구조를 갖는 경우, 플리커 측정 장치(140)에는 복수 개의 트레이가 구비될 수 있다.
전원 공급 유닛(146)은 트레이에 장착된 상태에서 신호 입출력 모듈을 통해 디밍 제어 신호를 포함하는 각종 신호를 입력받을 수 있으며, 디밍 신호를 출력할 수 있다.
전원 공급 유닛(146)은 AC 전원부(145)로부터 공급된 AC 구동 전원을 신호 입출력 모듈(141)을 통해 전달받아 동작한다.
전원 공급 유닛(146)은 광원(142a)이 발광 동작을 수행할 수 있는 동작 신호, 즉, 디밍 신호를 광원(142a)에 공급한다. 전원 공급 유닛(146)은 제어 모듈(144)에서 제공된 디밍 제어 신호가 신호 입출력 모듈(141)을 통해 전달되면, 이 디밍 제어 신호에 기반하여 광원(142a)에 디밍 신호를 공급하는 동작을 한다.
광원(142a), 광 검출 모듈(142b), 및 DC 전원부(142C)는 하우징(142) 내에 설치될 수 있다.
광원(142a)은 전원 공급 유닛(146)으로부터 디밍 신호가 공급되면, 디밍 신호에 따라 발광 동작을 한다. 광원(142a)은 발광 동작을 할 수 있는 광원으로, 발광소자, 형광등, 램프 등이 될 수 있다.
광 검출 모듈(142b)은 DC 전원부(160)로부터 DC 구동 전원을 공급받아 동작한다. 광 검출 모듈(142b)은 광원(142a)의 상부에 구비되어 광원(142a)으로부터 방출되는 광을 감지하여 광 세기를 검출한다.
신호 처리 모듈(140)은 광 검출 모듈(142b)에서 검출된 광을 전기적 신호로 변환하여 신호 처리한다. 즉, 신호 처리 모듈(140)은 검출된 광을 제어 모듈(144)에서 처리 가능한 신호로 처리할 수 있다.
제어 모듈(144)은 디밍 제어 신호를 생성하고, 이 디밍 제어 신호를 기반으로 전원 공급 유닛(141)을 제어한다.
또한, 제어 모듈(144)은 신호 처리 모듈(140)로부터 신호 처리된 전기적 신호를 이용하여 광원(142a)에 대한 플리커를 측정한다. 제어 모듈(144)은 광원(142a)에 대한 플리커 측정 결과에 따라 전원 공급 유닛(146)을 테스트한다.
광원(142a)에서 발생하는 플리커 현상은 전원 공급 유닛(146)의 상태에 영향을 받는 것으로, 제어 모듈(144)은 광원(142a)에 대한 플리커를 측정하여 전원 공급 유닛(146)의 상태를 판정한다. 전원 공급 유닛(146)의 상태를 정확하게 측정하기 위하여 광원(142a)은 정상적으로 동작하는 표준 광원이 이용될 수 있다.
제어 모듈(144)은 플리커 측정 결과에 따라 전원 공급 유닛(146)의 상태가 정상인지, 불량인지를 판정하여 그에 대한 결과 데이터를 저장 및 관리할 수 있다. 작업자는 이 같은 결과 데이터를 기준으로 전원 공급 유닛(146)의 상태를 확인할 수 있으며, 제품 출하 전에 정상 제품과 불량 제품을 선별할 수 있다.
도 5는 본 발명의 다른 실시예에 따른 제2 테스트 설비, 즉, 플리커 측정 장치의 구성을 나타내는 도면이다. 도 5에 도시된 플리커 측정 장치(200)는 도 4에 도시된 플리커 측정 장치(140)을 구성 및 동작을 구체적으로 설명하기 위한 것이다.
도 5를 참조하면, 플리커 측정 장치(200)는 제1 내지 제8 전원 공급 유닛(211, 212, 213, 214, 215, 216, 217, 218), 제1 내지 제8 광원(221, 222, 223, 224, 225, 226, 227, 228), 제1 내지 제8 광 검출 모듈(231, 232, 233, 234, 235, 236, 237, 238), 신호 처리 모듈(240), 제어 모듈(250) 및 AC 전원부(260)를 포함한다.
AC 전원부(260)는 제1 내지 제8 전원 공급 유닛(211~218)의 구동을 위한 구동 전원을 공급한다.
도면 상에 도시되어 있지 않으나, 제1 내지 제8 전원 공급 유닛(211~218)은 각각에 연결된 신호 입출력 모듈을 통해 AC 전원부(260)로부터의 구동 전원을 전달 받을 수 있다.
제1 내지 제8 전원 공급 유닛(211~218)은 제1 내지 제8 광원(221~228)에 일대일로 연결되어 제1 내지 제8 광원(221~228)에 개별적으로 디밍 신호를 공급한다. 디밍 신호는 제1 내지 제8 광원(221~228)의 조도(또는 밝기)를 조정할 수 있는 동작 신호일 수 있다. 디밍 신호는 DC 전압 신호, 펄스 폭 변조(Pulse Width Modulation) 신호 및 트라이악(Triac) 신호 중 어느 하나가 될 수 있다.
제1 내지 제8 광원(221~228)은 각각에 연결된 제1 내지 제8 전원 공급 유닛(211~218)으로부터 공급되는 디밍 신호에 따라 발광 동작을 한다.
제1 내지 제8 광 검출 모듈(231~238)은 제1 내지 제8 광원(221~228) 상에 일대일로 구비되어 제1 내지 제8 광원(221~228)로부터 방출되는 광을 검출한다. 즉, 제1 내지 제8 광 검출 모듈(231~238)은 제1 내지 제8 광원(221~228)로부터 방출되는 광을 감지하여 광 세기를 검출하는 것으로, 포토 다이오드가 될 수 있다.
도 5에는 도시되어 있지 않으나, 제1 내지 제8 광 검출 모듈(231~238)에는 DC 전원부가 각각 연결되어 DC 구동 전원을 공급한다.
신호 처리 모듈(240)은 제1 내지 제8 광 검출 모듈(231~238)로부터 검출된 광을 수신하고, 이를 전기적 신호로 변환하여 신호 처리한다.
신호 처리 모듈(240)은 신호 변환부(241), 저역 통과 필터(242), 아날로그-디지털 컨버터(Analog-Digital Converter)(243) 및 고속 푸리에 변환부(244)를 포함할 수 있다.
신호 변환부(241)는 제1 내지 제8 광 검출 모듈(231~228) 각각으로부터 검출된 광을 전기적 신호로 변환한다. 이 경우, 전기적 신호는 광 세기에 대응하는 주파수 파형 신호가 될 수 있다.
저역 통과 필터(242)는 전기적 신호에 포함된 고주파수 신호를 필터링하고, 저주파수 신호를 통과시킬 수 있다. 이는 전기적 신호에 포함된 노이즈를 제거하기 위한 것이다.
아날로그-디지털 컨버터(Analog-Digital Converter)(343)는 저주파수 신호를 디지털 신호로 변환할 수 있다.
고속 푸리에 변환부(344)는 아날로그-디지털 컨버터(343)에서 변환된 디지털 신호를 고속 푸리에 변환하여 AC 성분 및 DC 성분을 포함하는 주파수 신호를 생성할 수 있다.
제어 모듈(250)은 입력부(251), 신호 전송부(252), 신호 수신부(253), 저장 매체(254), 디스플레이부(255), 제1 제어부(256) 및 제2 제어부(257)를 포함할 수 있다.
입력부(251)는 에이징 신호의 생성에 필요한 정보, 디밍 제어 신호의 생성에 필요한 정보를 입력받고, 데이터 독출 명령을 입력받는다.
신호 전송부(252)는 제1 내지 제8 전원 공급 유닛(211~218)에 소정의 신호를 전송한다.
신호 수신부(253)는 신호 처리 모듈(240)로부터 주파수 신호를 수신한다.
저장 매체(254)는 정보 입력 화면, 정보 출력 화면 및 각종 데이터를 저장한다.
디스플레이부(255)는 정보 입력 화면, 정보 출력 화면 및 각종 데이터를 디스플레이 한다.
제1 제어부(256)는 디스플레이부(255)에 에이징 신호의 생성을 위한 정보 입력 화면이 디스플레이된 상태에서, 입력부(251)를 통해 에이징 조건 및 에이징 시간이 입력되면, 입력된 에이징 조건 및 에이징 시간을 포함하는 에이징 신호를 생성할 수 있다.
제1 제어부(256)는 생성된 에이징 신호에 기반하여 제1 내지 제8 전원 공급 유닛(211~218)의 에이징 동작을 제어할 수 있다. 구체적으로, 제1 제어부(256)는 제1 내지 제8 전원 공급 유닛(211~218)에 에이징 신호를 전송하도록 신호 전송부(253)를 제어한다.
제1 내지 제8 전원 공급 유닛(211~218)은 에이징 신호를 수신하고, 에이징 시간 동안 에이징 조건으로 에이징 동작을 수행할 수 있다. 예를 들어, 에이징 조건이 "40℃ 온도"이고, 에이징 시간이 "10분"인 경우, 제1 내지 제8 전원 공급 유닛(211~218)은 40℃의 온도 환경을 10분 동안 유지하여 에이징 동작을 수행할 수 있다. 이를 위해 제1 내지 제8 전원 공급 유닛(211~218)에는 발열 구성 및 온도 센서가 구비되어 있을 수 있다. 또한, 에이징 조건은 온도 외에, 고전압 또는 진동 등을 적용할 수 있다.
한편, 제1 제어부(256)는 디스플레이부(255)에 디밍 제어 신호의 생성을 위한 정보 입력 화면이 디스플레이된 상태에서, 입력부(251)를 통해 정보들이 입력되면 입력된 정보들을 포함하는 디밍 제어 신호를 생성한다.
디밍 제어 신호는 제1 내지 제8 전원 공급 유닛(211~218) 각각에 대하여 개별적으로 생성되는 것으로, 제1 내지 제8 전원 공급 유닛(211~218)에 대한 채널 정보를 포함할 수 있다. 또한, 디밍 제어 신호는 제1 내지 제8 전원 공급 유닛(211~218)에 공급될 디밍 신호 범위, 디밍 신호 범위 내에서 조정될 디밍 신호 간격 및 디밍 신호 간격에 대응하는 디밍 신호가 공급될 시간 주기를 포함할 수 있다.
제1 제어부(256)는 생성된 디밍 제어 신호에 기반하여 제1 내지 제8 전원 공급 유닛(211~218)을 제어한다.
제1 내지 제8 전원 공급 유닛(211~218)은 디밍 제어 신호를 수신하고, 디밍 신호 범위 내에서 시간 주기에 따라 디밍 신호 간격을 조정하여 제1 내지 제8 광원(221~228)에 디밍 신호를 공급할 수 있다.
예를 들어, 제1 전원 공급 유닛(211)에 대한 제1 채널 정보의 디밍 신호 범위가 0.1~10V이고, 디밍 신호 간격이 0.5V이며, 시간 간격이 15초인 경우, 제1 전원 공급 유닛(211)은 0.1~10V의 디밍 신호 범위 내에서 15초 주기로 0.5V씩 디밍 신호 간격을 상승 조정하여 제1 광원(221)에 DC 전압 신호를 공급할 수 있다. 이에 따라, 제1 광원(211)은 DC 전압 신호에 따라 15초 주기로 휘도가 변경하는 디밍 동작을 할 수 있다.
한편, 제2 제어부(257)는 제1 내지 제8 광원(221~228)에 대한 플리커를 측정하고, 플리커 측정 결과에 따라 제1 내지 제8 전원 공급 유닛(211~218)의 상태를 판정할 수 있다.
제2 제어부(257)는 신호 수신부(253)를 통해 주파수 신호가 수신된 경우, 주파수 신호에 포함된 AC 성분 및 DC 성분을 분리하고, AC 성분과 DC 성분의 비율을 산출하여 제1 내지 제8 광원(221~228)에 대한 플리커를 측정한다.
주파수 신호에는 제1 내지 제8 광원(221~228)에 대한 식별 정보가 포함되어 있을 수 있다. 따라서, 제2 제어부(257)는 주파수 신호에 포함된 식별 정보를 확인하여 주파수 신호를 제1 내지 제8 광원(221~228) 단위로 분류하고, 분류된 주파수 신호를 AC 성분 및 DC 성분으로 분리할 수 있다.
또한, 제2 제어부(257)는 분리된 AC 성분 및 DC 성분의 비율을 산출하여 제1 내지 제8 광원(221~228)에 대한 플리커를 측정한다. AC 성분 및 DC 성분의 비율은 아래의 수학식 1 또는 수학식 2를 이용하여 산출할 수 있다. 즉, 수학식 1 또는 2를 통해 각 광원에 대한 플리커를 측정할 수 있다.
Figure pat00001
Figure pat00002
수학식 1 및 2에서, ACrms는 AC 성분의 피크값이며, DC는 DC 성분이 될 수 있다. 수학식 1 및 2에 의해 산출되는 플리커 비율은 % 또는 dB 단위로 표현될 수 있다.
수학식 1 또는 2를 이용하여 측정된 플리커가 기 설정된 임계값 미만인 경우, 제2 제어부(257)는 제1 내지 제8 전압 공급 유닛(211~218)을 정상으로 판정할 수 있다.
또한, 측정된 플리커가 기 설정된 임계값 이상인 경우, 제2 제어부(257)는 제1 내지 제8 전압 공급 유닛(211~218)을 불량으로 판정할 수 있다.
제2 제어부(257)는 하나의 전원 공급 유닛, 하나의 광원 및 하나의 광 검출 모듈을 하나의 측정 세트로 하여 플리커를 측정하고, 플리커 측정 결과로부터 해당 전원 공급 유닛의 상태를 판정할 수 있다. 예를 들어, 도 2에서 "제1 전원 공급 유닛(211)-제1 광원(221)-제1 광 검출 모듈(231)"은 플리커 측정을 위한 하나의 측정 세트가 될 수 있다.
한편, 제2 제어부(257)는 제1 내지 제8 전압 공급 유닛(211~218)의 상태가 판정된 경우, 제1 내지 제8 전압 공급 유닛(211~218)에 전송된 디밍 제어 신호와, 제1 내지 제8 광 검출 모듈(231~238)로부터 검출된 광에 대응하는 주파수 신호, 그리고 제1 내지 제8 광원(221~228)에 대한 플리커 측정 결과 및 제1 내지 제8 전원 공급 유닛(221~228)에 대한 판정 결과를 매칭시켜 결과 데이터를 생성할 수 있다.
제2 제어부(257)는 각각의 결과 데이터를 데이터 생성 시간, 전압 공급 유닛의 사양, 광원의 사양 등을 기준으로 하여 분류할 수 있으며, 분류된 결과 데이터를 저장 매체(254)에 저장할 수 있다.
또한, 제2 제어부(257)는 입력부(251)로부터 결과 데이터 독출 명령이 입력된 경우, 독출 명령에 대응하는 결과 데이터를 저장 매체(254)로부터 독출하여 디스플레이부(255)를 통해 디스플레이할 수 있다.
제어 모듈(250)은 컴퓨터와 같은 데이터 처리 장치 내에 하나의 구성품으로 구비될 수 있으며, 별도의 장치로 구현될 수도 있다.
도 5에 도시된 플리커 측정 장치(200)에 따르면, 제1 내지 제8 광원(221~228)에 디밍 신호를 공급하여 플리커를 자동으로 측정할 수 있으며, 기 설정된 임계값을 기준으로 플리커를 측정할 수 있다. 따라서, 플리커 측정 결과에 따라 제1 내지 제8 전원 공급 유닛(211~218)의 상태를 정확하게 판정할 수 있다.
또한, 제1 내지 제8 전원 공급 유닛(211~218)에 대한 판정 결과 데이터를 저장하고 독출 가능한 형태로 관리함으로써 결과 데이터의 이용이 용이해질 수 있다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 플리커 측정 장치의 외관 구조를 나타내는 도면이다. 도 7은 도 6에 도시된 하우징의 구조를 나타내는 도면이다.
도 6에 도시된 플리커 측정 장치(300)는 제1 내지 제8 전원 공급 유닛(311, 312, 313, 314, 315, 316, 317, 318), 제1 내지 제8 하우징(321, 322, 323, 324, 325, 326, 327, 328), 신호 처리부(330), 제어 모듈(340), 디스플레이 장치(350) 및 AC 전원부(360)을 포함한다.
제1 내지 제8 하우징(321~328)은 플리커 측정을 위한 하나 이상의 광원을 탑재하고, 탑재된 하나 이상의 발광소자로부터 방출되는 광을 검출하는 광 검출 모듈을 포함한다.
제1 내지 제8 하우징(321~328)는 동일한 구조를 가질 수 있으며, 이하에서는 제1 하우징(321)을 대표로 하여 하우징 구조를 설명한다.
도 7은 도 6에 도시된 하우징 구조를 나타낸다. 도 7을 참조하면, 제1 하우징(321)은 탑재 박스(321a) 및 하우징 커버(321b)를 포함한다.
탑재 박스(321a)는 광원(10)이 탑재되는 공간을 포함하고, 외부로부터 공급되는 디밍 신호를 광원(10)에 전달하기 위한 신호 라인(미도시)을 포함할 수 있다.
광원(10)은 개별 단위 소자로 탑재 박스(321a)에 탑재될 수 있으며, 패키지 형태 및 모듈 형태 중 어느 하나로 탑재 박스(321a)에 탑재될 수도 있다. 제1 내지 제8 하우징(321~328)에 포함된 탑재 박스 각각에 탑재되는 발광소자의 모델 또는 종류는 모두 동일할 수도 있으며, 상이할 수도 있다.
신호 라인은 탑재 박스(321a)에 광원(10)이 탑재된 경우, 탑재 박스(321a) 내에서 광원(10)에 포함된 전극과 물리적으로 접촉되도록 배치될 수 있다.
한편, 하우징 커버(321b)는 탑재 박스(321a)의 상부에 장착될 수 있고, 상부로부터 분리될 수도 있다. 도 7을 통해 도시되어 있지 않으나, 광 검출 모듈은 하우징 커버(321b)의 내부에서 높이 조절이 가능한 상태로 구비될 수 있다. 즉, 광 검출 모듈은 하우징 커버(321b)의 일 측벽에 구비될 수 있으며, 높이를 조절하여 탑재 박스(321a)에 탑재된 광원(10)과의 이격 거리를 조절할 수 있다.
광 검출 모듈은 광원(10)의 이격 거리에 따라 광 검출 성능에 차이가 발생할 수 있다. 예를 들어, 이격 거리가 짧은 경우, 광 검출 모듈은 이격 거리가 긴 경우에 비해 상대적으로 높은 휘도를 측정할 수 있다. 따라서, 거리에 의해 휘도가 오측정되지 않도록, 탑재 박스(321a)에 탑재된 광원(10)의 형태, 크기 등에 따라 광 검출 모듈의 높이를 조절하여 이격 거리를 조절할 수 있다.
광 검출 모듈은 광원(10)에서 방출되는 광을 수신하기 위한 포토 다이오드(Photo Diode)를 포함할 수 있다. 이 포토 다이오드는 약 30V 전압으로 동작될 수 있다.
제1 하우징(321)은 하우징 커버(321b)가 탑재 박스(321a) 상에 장착되는 경우, 그 내부 공간이 암실 상태가 되어 빛을 차단하는 구조를 갖게 된다. 즉, 탑재 박스(321a)에 탑재된 광원(10)에서 발생된 광이 제1 하우징(321) 외부로 새지 않도록 함과 동시에, 제1 하우징(321) 내부로 빛이 들어오지 않도록 하여 광 검출 모듈이 광원(10)에 대한 광만을 검출할 수 있다.
제1 내지 제8 전원 공급 유닛(311~318)은 제1 내지 제8 하우징(321~328) 각각의 앞측에 구비되고, 제1 내지 제8 하우징(321~328)에 탑재된 광원들에 연결되어 디밍 신호를 공급할 수 있다.
신호 처리 모듈(330)은 중앙에 위치하여 제1 내지 제8 하우징(321~328)에 탑재된 광 검출 모듈에 연결되어 각 광 검출 모듈로부터 검출된 광을 수신한다. 또한, 신호 처리 모듈(330)은 광을 전기적 신호로 변환한 후, 신호 처리하여 AC 성분 및 DC 성분을 포함하는 주파수 신호를 생성하고, 이 주파수 신호를 제어 모듈(340)에 전송할 수 있다.
제어 모듈(340)은 신호 처리 모듈(330)의 상부에 위치하여 디밍 제어 신호를 생성하고, 제1 내지 제8 하우징(321~328)에 탑재된 광원에 대한 플리커를 측정하며, 플리커 측정 결과에 따라 제1 내지 제8 전원 공급 유닛(311~318)의 상태를 판정할 수 있다.
또한, 제어 모듈(340)은 제1 내지 제8 전원 공급 유닛(311~318)의 상태를 판정한 결과 데이터를 저장 매체(미도시)에 저장하여 관리하고, 독출 명령에 따라 독출하여 디스플레이 장치(350)에 디스플레이 할 수 있다.
도 6에서 각각 8개의 제1 내지 제8 전원 공급 유닛(311~318) 및 제1 내지 제8 하우징(321~328)을 도시 및 설명하였으나, 전원 공급 유닛 및 하우징의 개수는 한정되지 않으며, 실시예에 따라 변경 가능하다.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 디밍 제어 신호의 생성을 위한 정보 입력 화면을 나타내는 도면이다. 도 8에 도시된 정보 입력 화면(500)(이하, '입력 화면'이라 함)은 도 4 및 도 5에 도시된 제어 모듈(144, 250) 또는 도 6에 도시된 제어 모듈(340)에 의해 제공될 수 있다.
입력 화면(500)은 제1 내지 제4 서브 화면(510, 520, 530, 540), 저장 버튼(550), 실행 버튼(560) 및 정보 관련 버튼(570)을 포함할 수 있다.
제1 내지 제4 서브 화면(510, 520, 530, 540)은 디밍 제어 신호의 생성을 위한 정보를 입력하는 입력 화면 및 광원들에 대한 플리커 측정 상태를 디스플레이하는 화면이 될 수 있다. 일예로, 제1 내지 제4 서브 화면(510, 520, 530, 540)은 도 6에 도시된 제1 내지 제4 전원 공급 유닛(311~314) 및 제1 내지 제4 하우징(321~324)에 탑재된 광원 각각에 대응하는 화면이다.
정보 관련 버튼(570)은 자동 버튼(571), 입력 버튼(572), 검색 버튼(573) 및 메뉴얼 버튼(574)을 포함할 수 있다. 자동 버튼(571) 및 입력 버튼(572)은 제1 내지 제4 전원 공급 유닛(311~314)를 제어하기 위한 디밍 제어 신호를 생성하기 위한 정보를 입력하는데 사용되는 버튼일 수 있다.
작업자가 자동 버튼(571)을 선택하면, 입력 화면(500)은 디밍 제어 신호의 생성을 위한 정보를 임의로 입력한다. 또한, 작업자가 입력 버튼(572)을 선택하면, 입력 화면(500)은 별도의 정보 입력창을 디스플레이한다. 예를 들어, 에이징 조건, 에이징 시간, 디밍 신호 범위, 디밍 신호 간격 및 시간 주기 등을 입력할 수 있는 복수의 입력 공간을 포함하는 정보 입력창을 팝업 형태로 디스플레이 할 수 있다.
한편, 자동 버튼(571) 또는 입력 버튼(572)을 선택하여 디밍 제어 신호를 생성하기 위한 정보들이 입력된 상태에서, 작업자가 저장 버튼(550)을 선택하면 제어 모듈(144, 250) 또는 제어 모듈(340)은 입력된 정보들을 저장 매체에 저장할 수 있다.
또한, 자동 버튼(571) 또는 입력 버튼(572)을 선택하여 디밍 제어 신호를 생성하기 위한 정보들이 입력된 상태에서, 작업자가 실행 버튼(560)을 선택하면, 제어 모듈(150, 250) 또는 제어 모듈(340)은 디밍 제어 신호를 생성하여 제1 내지 제4 전원 공급 유닛(311~314)에 전송할 수 있다.
또한, 디밍 제어 신호를 기반으로 제1 내지 제4 전원 공급 유닛(311~314)이 제1 내제 제4 하우징(321~324)에 탑재된 광원들에 디밍 신호를 공급하면, 제어 모듈(144, 250) 또는 제어 모듈(340)은 각 광원들로부터 방출되는 광에 대응하는 주파수 신호를 수신하여 플리커를 측정할 수 있다. 이 같이 플리커가 측정되는 과정을 제1 내지 제4 서브 화면(510~540)에 디스플레이 할 수 있다. 따라서, 작업자는 제1 내지 제4 서브 화면(510~540)을 확인하여 플리커 측정 상태를 확인할 수 있다.
한편, 검색 버튼(573)은 플리커 측정 결과 데이터 및 플리커 측정 결과에 따른 제1 내지 제4 전원 공급 유닛(321~324)의 상태 판정 결과 데이터를 검색하기 위한 버튼일 수 있으며, 메뉴얼 버튼(574)은 각종 설정 및 입력 화면(500) 이용/활용 방법을 확인하기 위한 버튼일 수 있다.
도 8에서는 제1 내지 제4 서브 화면(510~540)만을 도시하였으나, 이에 한정되지 않으며, 플리커 측정 장치에 구비되는 전원 공급 유닛 및 하우징의 개수에 따라 한 화면 상에 디스플레이되는 서브 화면의 수가 달라질 수 있다.
도 9는 본 발명의 일 실시예에 따른 전원 공급 유닛의 제조 방법을 설명하기 위한 도면이다. 도 9에 도시된 제조 방법은 도 1에 도시된 전원 공급 유닛의 제조 시스템(100)에 의해 수행될 수 있다.
도 9를 참조하면, 상기 제조 시스템(100)은 하나 이상의 광원에 디밍 신호를 공급하는 하나 이상의 전원 공급 유닛을 제공한다(610 단계).
상기 제조 시스템(100)은 제공된 하나 이상의 전원 공급 유닛의 전기적 특성을 제1 테스트한다(620 단계).
상기 제조 시스템(100)은 에이징 조건 및 에이징 시간을 포함하는 에이징 신호에 기반하여 에이징 시간동안, 에이징 조건으로 하나 이상의 전원 공급 유닛의 에이징 테스트를 수행한다(630 단계).
한편, 상기 제조 시스템(100)은 하나 이상의 광원으로부터 방출되는 광을 검출하여, 하나 이상의 광원에 대한 플리커를 측정하고, 플리커 측정 결과에 따른 하나 이상의 전원 공급 유닛의 상태를 제2 테스트한다(640 단계).
상기 제조 시스템(100)은 제2 테스트 후에, 전원 공급 유닛의 소비 전력, 출력 전류, 출력 전압, 정상 작동 여부 및 내전압 중 적어도 하나를 제3 테스트한다(650 단계).
상기 제조 시스템(100)은 제1 테스트, 제2 테스트 및 제3 테스트 결과, 정상으로 판정된 전원 공급 유닛을 패킹한다(660 단계).
도 10은 본 발명의 일 실시예에 따른 전원 공급 유닛의 제공 방법을 설명하기 위한 도면이다. 도 10는 도 9에 도시된 610 단계를 구체화하기 위한 것이며, 도 2에 도시된 전원 공급 유닛 제조 설비(110)에 의해 수행될 수 있다.
도 10을 참조하면, 상기 제조 설비(110)는 회로 기판(111) 상에 솔더 페이스트를 도포한다(611 단계).
상기 제조 설비(110)는 솔더 페이스트를 이용하여 회로 기판(111) 상에 하나 이상의 칩 소자를 실장한다(612 단계).
상기 제조 설비(110)는 기 설정된 온도에서 솔더 페이스트를 리플로우한다(613 단계).
611 단계 내지 613 단계는 회로 기판(110)의 일 면(예를 들어, 상부면)에 칩 소자를 접합시켜 전원 공급 유닛을 제조하기 위한 과정이다. 만약, 회로 기판(110)의 일 면 외에, 타 면(예를 들어, 하부면)에도 칩 소자를 접합시킬 경우에는 회로 기판(110)의 타 면에 대하여 611 단계 내지 613단계를 수행할 수 있다.
도 11은 본 발명의 일 실시예에 따른 전원 공급 유닛의 제1 테스트 방법을 설명하기 위한 도면이다. 도 11은 도 9에 도시된 620 단계를 구체화하기 위한 것이며, 도 3에 도시된 제1 테스트 설비(120)에 의해 수행될 수 있다.
도 11을 참조하면, 상기 제1 테스트 설비(120)는 하나 이상의 전원 공급 유닛을 구성하는 부품들에 대한 들뜸을 검사한다(621 단계).
상기 제1 테스트 설비(120)는 검사 결과, 부품들에 대한 들뜸이 발생한 전원 공급 유닛이 존재할 경우(622 단계), 해당 전워 공급 유닛에 도포된 솔더 페이스트를 재솔더링한다(623 단계). 이후, 상기 제1 테스트 설비(120)는 재솔더링된 솔더 페이스트에 부착된 부품들을 리터치(re-touch)하여 부품들에 대한 들뜸을 제거한다(624 단계).
한편, 621 단계의 검사 결과, 부품들에 대한 들뜸이 발생한 전원 공급 유닛이 존재하지 않거나(622 단계), 623 단계 및 624 단계를 통해 부품들에 대한 들뜸이 제거된 경우, 상기 제1 테스트 설비(120)는 회로 기판(111) 상에 실장된 하나 이상의 칩 소자의 전기적 특성을 테스트한다(625 단계). 즉, 칩 소자가 정상적으로 동작하는지를 테스트한다.
상기 제1 테스트 설비(120)는 회로 기판(111)의 전기적 특성을 테스트한다(626 단계). 즉, 회로 기판(111)이 정상적으로 동작하는지를 테스트한다.
상기 제1 테스트 설비(120)는 하나 이상의 전원 공급 유닛의 소비 전력, 출력 전류, 출력 전압, 정상 작동 여부 및 내전압 중 적어도 하나를 테스트한다(627 단계).
상기 제1 테스트 설비(120)는 칩 소자와 회로 기판(111) 각각에 대하여 전기적 특성을 테스트하여 칩 소자 또는 회로 기판(111)을 개별적으로 테스트할 수 있다. 또한, 전원 공급 유닛에 대하여 전기적 특성을 테스트함으로써, 칩 소자와 회로 기판(111) 간에 상호적인 전기적 특성을 테스트할 수 있다.
도 12는 본 발명의 일 실시예에 따른 전원 공급 유닛의 제2 테스트 방법을 설명하기 위한 도면이다. 도 12에 도시된 제2 테스트 방법은 도 9에 도시된 630 단계를 구체화하기 위한 것이다. 또한, 제2 테스트 방법은 플리커 측정을 포함하는 전원 공급 유닛의 제조 방법으로, 전원 공급 유닛으로부터 디밍 신호를 공급받아 구동되는 광원에 대한 플리커를 측정하여 전원 공급 유닛의 상태를 판정하기 위한 테스트가 될 수 있다. 본 명세서에서는 제2 테스트 방법과 전원 공급 유닛의 제조 방법을 혼용하며, 이는 동일한 방법을 지칭하는 것임을 명시한다.
또한, 도 12에 도시된 전원 공급 유닛의 제조 방법은 도 4에 도시된 플리커 측정 장치(140)에 의해 수행될 수 있다.
도 12를 참조하면, 플리커 측정 장치(140)는 디밍 제어 신호에 기반하여 전원 공급 유닛(146)을 제어한다(631 단계). 디밍 제어 신호는 전원 공급 유닛(146)에 대한 채널 정보, 광원(142a)에 공급될 디밍 신호 범위, 디밍 신호 범위 내에서 조정될 디밍 신호 간격 및 디밍 신호 간격에 대응하는 디밍 신호가 공급될 시간 주기를 포함할 수 있다.
플리커 측정 장치(140)는 광원(142a)에 디밍 신호를 공급한다(632 단계). 구체적으로, 플리커 측정 장치(140)를 구성하는 전원 공급 유닛(146)이 디밍 신호를 광원(142a)에 공급한다. 이 경우, 디밍 신호는 DC 전압 신호, 펄스폭 변조(Pulse Width Modulation) 신호 및 트라이악(Triac) 신호 중 어느 하나가 될 수 있다.
플리커 측정 장치(140)는 광원(142a)에서 광을 검출하고, 검출된 광을 전기적 신호로 변환한다(633 단계). 이후, 플리커 측정 장치(140)는 전기적 신호를 신호 처리한다(634 단계).
플리커 측정 장치(140)는 신호 처리된 전기적 신호를 이용하여 광원에 대한 플리커를 측정한다(635 단계). 그리고, 플리커 측정 결과에 따라 전원 공급 유닛(146)의 상태를 판정한다(636 단계).
도 12에서는 제품화된 전원 공급 유닛(146)을 이용하여 플리커 측정을 실시하고, 플리커 측정 결과에 따라 전원 공급 유닛(146)을 상태를 판단한 후 정상 상태로 판정된 전원 공급 유닛을 제공하는 제조 방법을 설명하였다. 그러나, 전원 공급 유닛의 제조 방법은 이에 한정되지 않으며, 전원 공급 유닛(146)의 회로 설계 단계 및 전원 공급 유닛(146)의 조립 단계를 더 포함할 수 있으며, 플리커 측정 단계 이후에 정상 상태로 판정된 전원 공급 유닛의 패킹 공정을 더 포함할 수도 있다.
도 13은 본 발명의 다른 실시예에 따른 제2 테스트 방법, 즉, 플리커 측정을 포함하는 전원 공급 유닛의 제조 방법을 설명하기 위한 흐름도이다. 도 13에 도시된 전원 공급 유닛의 제조 방법은 도 5 또는 도 6에 도시된 플리커 측정 장치(200, 300)에 의해 수행될 수 있다.
플리커 측정 장치(200, 300)는 에이징 신호를 생성한다(710 단계). 플리커 측정 장치(200, 300)는 에이징 조건 및 에이징 시간 등과 같은 정보가 입력되면, 에이징 조건 및 에이징 시간을 포함하는 에이징 신호를 생성할 수 있다.
플리커 측정 장치(200, 300)는 에이징 신호에 기반하여 하나 이상의 전원 공급 유닛을 제어한다(715 단계). 즉, 하나 이상의 전원 공급 유닛은 에이징 신호에 기반하여 에이징 조건에서 에이징 시간 동안 에이징 동작을 수행한다. 이 경우, 하나 이상의 전원 공급 유닛은 동일한 에이징 신호를 수신하는 것으로, 에이징 동작이 모두 동일한 조건에서 동일한 시간 동안 수행될 수 있다.
플리커 측정 장치(200, 300)는 디밍 제어 신호를 생성한다(720 단계). 플리커 측정 장치(200, 300)는 디밍 제어 신호에 기반하여 하나 이상의 전원 공급 유닛을 제어한다(725 단계).
플리커 측정 장치(200, 300)는 하나 이상의 광원에 디밍 신호를 공급한다(730 단계). 하나 이상의 광원은 디밍 신호에 따라 발광 동작할 수 있다.
플리커 측정 장치(200, 300)는 하나 이상의 광원으로부터 방출되는 광을 검출한다(735 단계).
플리커 측정 장치(200, 300)는 검출된 광을 전기적 신호로 변환한다(740 단계). 플리커 측정 장치(200, 300)는 전기적 신호를 신호 처리하여 주파수 신호를 생성한다(745 단계). 이 경우, 주파수 신호는 AC 성분 및 DC 성분을 포함할 수 있다.
플리커 측정 장치(200, 300)는 주파수 신호로부터 AC 성분 및 DC 성분을 분리한다(750 단계).
플리커 측정 장치(200, 300)는 AC 성분과 DC 성분의 비율을 산출하고(755 단계), AC 성분과 DC 성분의 비율이 기 설정된 임계값 미만인 경우(760 단계), 전원 공급 유닛을 정상으로 판정한다(765 단계). 반면, 플리커 측정 장치(200, 300)는 AC 성분과 DC 성분의 비율이 기 설정된 임계값 미만이 아닌, 이상인 경우(760 단계), 전원 공급 유닛을 불량으로 판정한다(770 단계).
플리커 측정 장치(200, 300)는 765 단계 또는 770 단계에서 판정된 전원 공급 유닛의 상태에 대한 결과 데이터를 생성한다(775 단계).
도 14 내지 도 16은 본 발명의 다양한 실시예에 따른 제조 방법으로 제조된 전원 공급 유닛을 채용한 조명 장치를 나타내는 도면이다.
도 14 내지 도 16에 도시된 조명 장치(800, 900, 1000)는 도 1에 도시된 제조 시스템(100), 도 4에 도시된 플리커 측정 장치(140), 도 9에 도시된 전원 공급 유닛의 제조 방법, 도 12 및 도 13에 도시된 제2 테스트 방법 중 어느 하나를 이용하여 제조된 전원 공급 유닛(813, 912, 1130)을 채용한다. 이 전원 공급 유닛(813, 912, 1130)은 전기적 특성에 대한 제1 테스트 과정 및 플리커 측정을 포함한 제2 테스트 과정을 거쳐 정상으로 판정된 것일 수 있다.
도 14를 참조하면, 조명 장치(800)는 L-tube 조명으로, 조명 유닛(810), 디머(820) 및 전원부(830)를 포함한다.
조명 유닛(810)은 본체(811), 조명용 광원(812) 및 전원 공급 유닛(813)을 포함한다.
본체(811)는 발광소자, 형광등 또는 램프 등과 같은 조명용 광원(812)이 채용될 공간과 전원 공급 유닛(813)이 채용될 공간을 포함한다. 도 14를 참조하면, 조명용 광원(812) 및 전원 공급 유닛(813)은 본체(811)에 포함된 각각의 공간에 채용되어 있다. 또한, 조명용 광원(812)은 전원 공급 유닛(813)과 연결되어 전원 공급 유닛(813)으로부터 전원을 공급받으며, 디머(820)에 의해 밝기가 조절될 수 있다.
전원 공급 유닛(813)은 플리커 측정 결과에 따라 정상으로 판정된 제품이므로, 조명용 광원(812)은 정상적으로 전원을 공급받아 발광 동작할 수 있게 된다. 또한, 전원 공급 유닛(813)은 디머(820)로부터 공급되는 전원 조절에도 정상적으로 동작하기 때문에 조명용 광원(812)의 밝기를 정확하게 조절할 수 있다.
도 15를 참조하면, 조명 장치(900)는 평판 조명 장치로, 조명 유닛(910), 디머(920) 및 전원부(930)를 포함한다.
조명 유닛(910)은 본체(911), 조명용 광원(미도시) 및 전원 공급 유닛(912)을 포함한다.
본체(911)는 발광소자, 형광등 또는 램프 등과 같은 조명용 광원이 채용될 공간과 전원 공급 유닛(912)이 채용될 공간을 포함한다.
조명용 광원은 전원 공급 유닛(912)과 연결되어 전원 공급 유닛(912)으로부터 전원을 공급받으며, 디머(920)에 의해 밝기가 조절될 수 있다.
전원 공급 유닛(912)은 플리커 측정 결과에 따라 정상으로 판정된 제품이므로, 조명용 광원은 정상적으로 전원을 공급받아 발광 동작할 수 있게 된다. 또한, 전원 공급 유닛(912)은 디머(920)로부터 공급되는 전원 조절에도 정상적으로 동작하기 때문에 조명용 광원의 밝기를 정확하게 조절할 수 있다.
도 16을 참조하면, 조명 장치(1000)는 위에서 아래를 비추는 다운라이트(Down Light) 조명 장치로, 조명 유닛(1100), 디머(1200) 및 전원부(1300)를 포함한다.
조명 유닛(1100)은 본체(1110), 조명용 광원(1120) 및 전원 공급 유닛(1130)을 포함한다.
본체(1110)는 발광소자, 형광등 또는 램프 등과 같은 조명용 광원(1120)이 채용될 공간과 전원 공급 유닛(1130)이 채용될 공간을 포함한다.
조명용 광원(1120)은 전원 공급 유닛(1130)과 연결되어 전원 공급 유닛(1130)으로부터 전원을 공급받으며, 디머(1200)에 의해 밝기가 조절될 수 있다.
전원 공급 유닛(1130)은 플리커 측정 결과에 따라 정상으로 판정된 제품이므로, 조명용 광원은 정상적으로 전원을 공급받아 발광 동작할 수 있게 된다.
도 14 내지 도 16에 도시된 조명 장치(800, 900, 1000)는 산업용, 가정용뿐만 아니라, 전장용 조명 장치로 이용될 수 있다.
또한, 도 14 내지 도 16에서는 L-튜브 조명, 평판 조명 및 다운라이트와 같은 조명 장치(800, 900, 1000)에 전원 공급 유닛(813, 912, 1130)이 적용된 실시예들을 도시 및 설명하였으나, 전원 공급 유닛(813, 912, 1130)은 그 밖에 실링라이트(celling light), 스포트 라이트(spot light) 등과 같은 다양한 조명 장치에도 적용 가능하다.
또한, 전원 공급 유닛(813, 912, 1130)은 조명 장치(800, 900, 1000)에만 적용되지 않고, 디스플레이 장치와 같은 표시 수단에 채용될 수도 있다.
이상과 같이 본 발명은 비록 한정된 실시 예와 도면에 의해 설명되었으나, 본 발명은 상기의 실시 예에 한정되는 것은 아니며, 본 발명이 속하는 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이러한 기재로부터 다양한 수정 및 변형이 가능하다. 그러므로, 본 발명의 범위는 설명된 실시 예에 국한되어 정해져서는 아니 되며, 후술하는 특허청구범위뿐 아니라 이 특허청구범위와 균등한 것들에 의해 정해져야 한다.
100: 전원 공급 유닛의 제조 시스템
110: 전원 공급 유닛 제조 설비
120: 제1 테스트 설비 130: 에이징 테스트 설비
140: 제2 테스트 설비 150: 제3 테스트 설비
160: 패킹 설비 141: 신호 입출력 모듈
142a: 광원 142b: 광 검출 모듈
142c: DC 전원부 143: 신호 처리 모듈
144: 제어 모듈 145: AC 전원부
146: 전원 공급 유닛
200, 300: 플리커 측정 장치

Claims (48)

  1. 하나 이상의 광원에 디밍 신호를 공급하는 하나 이상의 전원 공급 유닛을 제공하는 단계;
    상기 제공된 하나 이상의 전원 공급 유닛의 전기적 특성을 제1 테스트하는 단계;
    상기 하나 이상의 광원으로부터 방출되는 광을 검출하여, 상기 하나 이상의 광원에 대한 플리커를 측정하고, 상기 플리커 측정 결과에 따른 상기 하나 이상의 전원 공급 유닛의 상태를 제2 테스트하는 단계; 및
    상기 제1 테스트 및 상기 제2 테스트 결과, 정상으로 판정된 전원 공급 유닛을 패킹하는 단계
    를 포함하는 전원 공급 유닛의 제조 방법.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 하나 이상의 전원 공급 유닛을 제공하는 단계는,
    회로 기판 상에 솔더 페이스트를 도포하는 단계;
    상기 솔더 페이스트를 이용하여 상기 회로 기판 상에 하나 이상의 칩 소자를 실장하는 단계; 및
    기 설정된 온도에서 상기 솔더 페이스트를 리플로우하는 단계
    를 포함하는 전원 공급 유닛의 제조 방법.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 제1 테스트하는 단계는,
    상기 하나 이상의 전원 공급 유닛을 구성하는 부품들에 대한 들뜸을 검사하는 단계;
    상기 부품들에 대한 들뜸 발생 여부에 따라 상기 솔더 페이스트를 재솔더링하는 단계;
    상기 재솔더링된 솔더 페이스트에 부착된 상기 부품들을 리터치(re-touch)하여 상기 부품들에 대한 들뜸을 제거하는 단계;
    상기 회로 기판 상에 실장된 하나 이상의 칩 소자의 전기적 특성을 테스트하는 단계; 및
    상기 회로 기판에 대한 전기적 특성을 테스트하는 단계
    를 포함하는 전원 공급 유닛의 제조 방법.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 제1 테스트하는 단계는,
    상기 하나 이상의 전원 공급 유닛의 소비 전력, 출력 전류, 출력 전압, 정상 작동 여부 및 내전압 중 적어도 하나를 테스트하는 단계
    를 더 포함하는 전원 공급 유닛의 제조 방법.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 제2 테스트하는 단계는,
    디밍 제어 신호에 기반하여 상기 하나 이상의 광원에 디밍 신호를 공급하도록 상기 하나 이상의 전원 공급 유닛을 제어하는 단계;
    상기 하나 이상의 광원으로부터 방출되는 광을 검출하는 단계;
    상기 검출된 광을 전기적 신호로 변환하여 신호 처리하는 단계;
    상기 신호 처리된 전기적 신호를 이용하여 상기 하나 이상의 광원에 대한 플리커를 측정하는 단계; 및
    상기 플리커 측정 결과에 따라 상기 하나 이상의 전원 공급 유닛의 상태를 판정하는 단계
    을 포함하는 전원 공급 유닛의 제조 방법.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 제2 테스트하는 단계 전에, 에이징 조건 및 에이징 시간을 포함하는 에이징 신호에 기반하여 상기 에이징 시간동안 상기 에이징 조건으로 상기 하나 이상의 전원 공급 유닛의 에이징 테스트를 수행하는 단계
    를 더 포함하는 전원 공급 유닛의 제조 방법.
  7. 제5항에 있어서,
    상기 디밍 제어 신호는,
    상기 하나 이상의 전원 공급 유닛에 대한 채널 정보, 상기 하나 이상의 광원에 공급될 디밍 신호 범위, 상기 디밍 신호 범위 내에서 조정될 디밍 신호 간격 및 상기 디밍 신호 간격에 대응하는 디밍 신호가 공급될 시간 주기를 포함하는 전원 공급 유닛의 제조 방법.
  8. 제5항에 있어서,
    상기 하나 이상의 전원 공급 유닛을 제어하는 단계는,
    상기 디밍 제어 신호를 기반으로, 상기 디밍 신호 범위 내에서 상기 시간 주기에 따라 상기 디밍 신호 간격을 조정하여 상기 하나 이상의 광원에 디밍 신호를 공급하는 전원 공급 유닛의 제조 방법.
  9. 제5항에 있어서,
    상기 디밍 신호는,
    DC 전압 신호, 펄스폭 변조(Pulse Width Modulation) 신호 및 트라이악(Triac) 신호 중 어느 하나인 전원 공급 유닛의 제조 방법.
  10. 제5항에 있어서,
    상기 신호 처리하는 단계는,
    상기 검출된 광을 상기 전기적 신호로 변환하는 단계;
    상기 전기적 신호에 포함된 저주파수 신호를 통과시키는 단계;
    상기 저주파수 신호를 디지털 신호로 변환하는 단계; 및
    상기 아날로그 신호를 고속 푸리에 변환하여 AC 성분 및 DC 성분을 포함하는 주파수 신호를 생성하는 단계
    를 포함하는 전원 공급 유닛의 제조 방법.
  11. 제10항에 있어서,
    상기 하나 이상의 광원에 대한 플리커를 측정하는 단계는,
    상기 주파수 신호에 포함된 상기 AC 성분 및 상기 DC 성분을 분리하는 단계; 및
    상기 AC 성분과 상기 DC 성분의 비율을 산출하여 상기 하나 이상의 광원에 대한 상기 플리커를 측정하는 단계
    를 포함하는 전원 공급 유닛의 제조 방법.
  12. 제11항에 있어서,
    상기 플리커 측정 결과에 따라 상기 하나 이상의 전원 공급 유닛의 상태를 판정하는 단계는,
    상기 플리커 측정 결과, 상기 AC 성분과 상기 DC 성분의 비율이 기 설정된 임계값 미만인 경우, 상기 하나 이상의 전원 공급 유닛을 정상으로 판정하는 단계; 및
    상기 AC 성분과 상기 DC 성분의 비율이 상기 기 설정된 임계값 이상인 경우, 상기 하나 이상의 전원 공급 유닛을 불량으로 판정하는 단계
    를 포함하는 전원 공급 유닛의 제조 방법.
  13. 제12항에 있어서,
    상기 하나 이상의 전원 공급 유닛에 전송된 상기 디밍 제어 신호, 상기 주파수 신호, 상기 플리커 측정 결과 및 상기 하나 이상의 전원 공급 유닛에 대한 판정 결과를 매칭시켜 하나 이상의 결과 데이터를 생성하는 단계; 및
    상기 하나 이상의 결과 데이터를 저장 매체에 저장하는 단계
    를 더 포함하는 전원 공급 유닛의 제조 방법.
  14. 제1항에 있어서,
    상기 제1 테스트 및 제2 테스트 결과, 상기 정상으로 판정된 전원 공급 유닛을 패킹하는 단계 전에, 상기 전원 공급 유닛의 소비 전력, 출력 전류, 출력 전압, 정상 작동 여부 및 내전압 중 적어도 하나를 제3 테스트하는 단계
    를 더 포함하는 전원 공급 유닛의 제조 방법.
  15. 제1항에 있어서,
    상기 제1 테스트 및 제2 테스트 결과, 상기 정상으로 판정된 전원 공급 유닛을 패킹하는 단계는,
    상기 전원 공급 유닛을 제전 비닐로 포장하는 단계; 및
    상기 포장된 전원 공급 유닛을 기 설정된 단위로, 실리카겔을 포함하는 패킹 박스에 수납하는 단계
    를 포함하는 전원 공급 유닛의 제조 방법.
  16. 제1항 내지 제15항 중 어느 한 항에 기재된 상기 전원 공급 유닛의 제조 방법에 의해 제조된 상기 하나 이상의 전원 공급 유닛을 채용한 조명 장치.
  17. 하나 이상의 광원에 디밍 신호를 공급하는 하나 이상의 전원 공급 유닛을 제공하는 전원 공급 유닛 제조 설비;
    상기 제공된 하나 이상의 전원 공급 유닛의 전기적 특성을 테스트하는 제1 테스트 설비;
    상기 하나 이상의 광원으로부터 방출되는 광을 검출하여, 상기 하나 이상의 광원에 대한 플리커를 측정하고, 상기 플리커 측정 결과에 따른 상기 하나 이상의 전원 공급 유닛의 상태를 테스트하는 제2 테스트 설비; 및
    상기 제1 테스트 설비 및 상기 제2 테스트 설비에 의해 정상으로 판정된 전원 공급 유닛을 패킹하는 패킹 설비
    를 포함하는 전원 공급 유닛의 제조 시스템.
  18. 제17항에 있어서,
    상기 전원 공급 유닛 제조 설비는,
    회로 기판 상에 솔더 페이스트를 도포하는 솔더 페이스트 도포 장치;
    상기 솔더 페이스트를 이용하여 상기 회로 기판 상에 하나 이상의 칩 소자를 실장하는 칩 소자 실장 장치; 및
    기 설정된 온도에서 상기 솔더 페이스트를 리플로우하는 리플로우 장치
    를 포함하는 전원 공급 유닛의 제조 시스템.
  19. 제18항에 있어서,
    상기 제1 테스트 설비는,
    상기 하나 이상의 전원 공급 유닛을 구성하는 부품들에 대한 들뜸을 검사하는 부품 들뜸 검사 장치;
    상기 부품들에 대한 들뜸 발생 여부에 따라 상기 솔더 페이스트를 재솔더링하는 웨이브 솔더링 장치;
    상기 재솔더링된 솔더 페이스트에 부착된 상기 부품들을 리터치(re-touch)하여 상기 부품들에 대한 들뜸을 제거하는 솔더 보정 장치;
    상기 회로 기판 상에 실장된 하나 이상의 칩 소자의 전기적 특성을 테스트하는 소자 테스트 장치;
    상기 회로 기판에 대한 전기적 특성을 테스트하는 회로 기판 테스트 장치; 및
    상기 하나 이상의 전원 공급 유닛의 소비 전력, 출력 전류, 출력 전압, 정상 작동 여부 및 내전압 중 적어도 하나를 테스트하는 전원 공급 유닛 테스트 장치
    를 포함하는 전원 공급 유닛의 제조 시스템.
  20. 제17항에 있어서
    상기 제2 테스트 설비는,
    하나 이상의 광원으로부터 방출되는 광을 검출하는 광 검출 모듈;
    상기 하나 이상의 광원에 디밍 신호를 공급하는 하나 이상의 전원 공급 유닛;
    상기 검출된 광을 전기적 신호로 변환하여 신호 처리하는 신호 처리 모듈; 및
    디밍 제어 신호에 기반하여 상기 하나 이상의 전원 공급 유닛을 제어하고, 상기 신호 처리된 전기적 신호를 이용하여 상기 하나 이상의 광원에 대한 플리커를 측정하며, 상기 플리커 측정 결과에 따라 상기 하나 이상의 전원 공급 유닛의 상태를 판정하는 제어 모듈
    을 포함하는 전원 공급 유닛의 제조 시스템.
  21. 제17항에 있어서,
    상기 제1 테스트 설비에 의해 정상으로 판정된 전원 공급 유닛을 에이징 조건 및 에이징 시간을 포함하는 에이징 신호에 기반하여 상기 에이징 시간동안 상기 에이징 조건으로 상기 하나 이상의 전원 공급 유닛의 에이징 테스트를 수행하는 에이징 테스트 설비
    를 더 포함하는 전원 공급 유닛의 제조 시스템.
  22. 제17항에 있어서,
    상기 제1 테스트 및 상기 제2 테스트 설비에 의해 상기 정상으로 판정된 전원 공급 유닛을 패킹하기 전에, 상기 전원 공급 유닛의 소비 전력, 출력 전류, 출력 전압, 정상 작동 여부 및 내전압 중 적어도 하나를 테스트하는 제3 테스트 설비
    를 더 포함하는 전원 공급 유닛의 제조 시스템.
  23. 하나 이상의 광원으로부터 방출되는 광을 검출하는 광 검출 모듈;
    상기 하나 이상의 광원에 디밍 신호를 공급하는 하나 이상의 전원 공급 유닛과 연결되어 신호를 입출력하는 신호 입출력 모듈;
    상기 검출된 광을 전기적 신호로 변환하여 신호 처리하는 신호 처리 모듈; 및
    디밍 제어 신호에 기반하여 상기 하나 이상의 전원 공급 유닛을 제어하고, 상기 신호 처리된 전기적 신호를 이용하여 상기 하나 이상의 광원에 대한 플리커를 측정하며, 상기 플리커 측정 결과에 따라 상기 하나 이상의 전원 공급 유닛의 상태를 판정하는 제어 모듈
    을 포함하는 전원 공급 유닛의 플리커 측정 장치.
  24. 제23항에 있어서,
    상기 디밍 제어 신호는,
    상기 하나 이상의 전원 공급 유닛에 대한 채널 정보, 상기 하나 이상의 광원에 공급될 디밍 신호 범위, 상기 디밍 신호 범위 내에서 조정될 디밍 신호 간격 및 상기 디밍 신호 간격에 대응하는 디밍 신호가 공급될 시간 주기를 포함하는 전원 공급 유닛의 플리커 측정 장치.
  25. 제24항에 있어서,
    상기 하나 이상의 전원 공급 유닛은,
    상기 디밍 제어 신호를 수신하고, 상기 디밍 신호 범위 내에서 상기 시간 주기에 따라 상기 디밍 신호 간격을 조정하여 상기 하나 이상의 광원에 디밍 신호를 공급하는 전원 공급 유닛의 플리커 측정 장치.
  26. 제23항에 있어서,
    상기 디밍 신호는,
    DC 전압 신호, 펄스폭 변조(Pulse Width Modulation) 신호 및 트라이악(Triac) 신호 중 어느 하나인 전원 공급 유닛의 플리커 측정 장치.
  27. 제23항에 있어서,
    상기 신호 처리 모듈은,
    상기 광 검출 모듈으로부터 검출된 광을 상기 전기적 신호로 변환하는 신호 변환부;
    상기 전기적 신호에 포함된 저주파수 신호를 통과시키는 저역 통과 필터;
    상기 저주파수 신호를 디지털 신호로 변환하는 아날로그-디지털 컨버터(Analog-Digital Converter); 및
    상기 아날로그 신호를 고속 푸리에 변환하여 AC 성분 및 DC 성분을 포함하는 주파수 신호를 생성하는 고속 푸리에 변환부
    를 포함하는 전원 공급 유닛의 플리커 측정 장치.
  28. 제27항에 있어서,
    상기 제어 모듈은,
    상기 디밍 제어 신호의 생성에 필요한 정보를 입력받는 입력부;
    상기 신호 처리 모듈로부터 상기 주파수 신호를 수신하는 신호 수신부;
    상기 디밍 제어 신호를 상기 하나 이상의 전원 공급 유닛에 전송하는 신호 전송부;
    상기 입력 정보에 따라 상기 디밍 제어 신호를 생성하는 제1 제어부; 및
    상기 주파수 신호에 포함된 상기 AC 성분 및 상기 DC 성분을 분리하고, 상기 AC 성분과 상기 DC 성분의 비율을 산출하여 상기 하나 이상의 광원에 대한 상기 플리커를 측정하는 제2 제어부
    를 포함하는 전원 공급 유닛의 플리커 측정 장치.
  29. 제28항에 있어서,
    상기 제2 제어부는,
    상기 플리커 측정 결과, 상기 AC 성분과 상기 DC 성분의 비율이 기 설정된 임계값 미만인 경우, 상기 하나 이상의 전원 공급 유닛을 정상으로 판정하고, 상기 AC 성분과 상기 DC 성분의 비율이 상기 기 설정된 임계값 이상인 경우, 상기 하나 이상의 전원 공급 유닛을 불량으로 판정하는 전원 공급 유닛의 플리커 측정 장치.
  30. 제29항에 있어서,
    상기 제2 제어부는,
    상기 하나 이상의 전원 공급 유닛에 전달된 상기 디밍 제어 신호, 상기 주파수 신호, 상기 플리커 측정 결과 및 상기 하나 이상의 전원 공급 유닛에 대한 판정 결과를 매칭시켜 하나 이상의 결과 데이터를 생성하고, 상기 하나 이상의 결과 데이터를 저장 매체에 저장하는 전원 공급 유닛의 플리커 측정 장치.
  31. 제30항에 있어서,
    상기 제2 제어부는,
    상기 입력부로부터 상기 하나 이상의 결과 데이터에 대한 독출 명령이 입력된 경우, 상기 독출 명령에 대응하는 결과 데이터를 상기 저장 매체로부터 독출하여 화면 상에 디스플레이하는 플리커 측정 장치.
  32. 제23항에 있어서,
    상기 제어 모듈은,
    에이징 조건 및 에이징 시간을 포함하는 에이징 신호를 상기 하나 이상의 전원 공급 유닛에 전달하여 상기 하나 이상의 전원 공급 유닛이 상기 에이징 시간 동안 상기 에이징 조건으로 에이징 테스트를 수행하도록 제어하는 전원 공급 유닛의 플리커 측정 장치.
  33. 제23항에 있어서,
    상기 하나 이상의 광원 및 상기 광 검출 모듈을 포함하는 하우징
    를 더 포함하는 전원 공급 유닛의 플리커 측정 장치.
  34. 제33항에 있어서,
    상기 하우징은,
    상기 하나 이상의 광원이 탑재되는 탑재 박스; 및
    상기 탑재 박스의 상부에 장착되고, 상기 광 검출 모듈을 구비한 하우징 커버
    를 포함하는 전원 공급 유닛의 플리커 측정 장치.
  35. 제23항 내지 제34항 중 어느 한 항에 기재된 상기 전원 공급 유닛의 플리커 측정 장치에 의해 플리커 측정되어 정상으로 판정된 상기 하나 이상의 전원 공급 유닛을 채용한 조명 장치.
  36. 디밍 제어 신호에 기반하여 하나 이상의 광원에 디밍 신호를 공급하는 하나 이상의 전원 공급 유닛을 제어하는 단계;
    상기 하나 이상의 광원으로부터 방출되는 광을 검출하는 단계;
    상기 검출된 광을 전기적 신호로 변환하여 신호 처리하는 단계;
    상기 신호 처리된 전기적 신호를 이용하여 상기 하나 이상의 광원에 대한 플리커를 측정하는 단계; 및
    상기 플리커 측정 결과에 따라 상기 하나 이상의 전원 공급 유닛의 상태를 판정하는 단계
    를 포함하는 전원 공급 유닛의 제조 방법.
  37. 제36항에 있어서,
    상기 디밍 제어 신호는,
    상기 하나 이상의 전원 공급 유닛에 대한 채널 정보, 상기 하나 이상의 광원에 공급될 디밍 신호 범위, 상기 디밍 신호 범위 내에서 조정될 디밍 신호 간격 및 상기 디밍 신호 간격 정보에 대응하는 디밍 신호가 공급될 시간 주기를 포함하는 전원 공급 유닛의 제조 방법.
  38. 제37항에 있어서,
    상기 하나 이상의 전원 공급 유닛을 제어하는 단계는,
    상기 디밍 제어 신호를 기반으로, 상기 디밍 신호 범위 내에서 상기 시간 주기에 따라 상기 디밍 신호 간격을 조정하여 상기 하나 이상의 광원에 디밍 신호를 공급하는 전원 공급 유닛의 제조 방법.
  39. 제36항에 있어서,
    상기 디밍 신호는,
    DC 전압 신호, 펄스폭 변조(Pulse Width Modulation) 신호 및 트라이악(Triac) 신호 중 어느 하나인 전원 공급 유닛의 제조 방법.
  40. 제36항에 있어서,
    상기 신호 처리하는 단계는,
    상기 검출된 광을 상기 전기적 신호로 변환하는 단계;
    상기 전기적 신호에 포함된 저주파수 신호를 통과시키는 단계;
    상기 저주파수 신호를 디지털 신호로 변환하는 단계; 및
    상기 아날로그 신호를 고속 푸리에 변환하여 AC 성분 및 DC 성분을 포함하는 주파수 신호를 생성하는 단계
    를 포함하는 전원 공급 유닛의 제조 방법.
  41. 제40항에 있어서,
    상기 하나 이상의 광원에 대한 플리커를 측정하는 단계는,
    상기 주파수 신호에 포함된 상기 AC 성분 및 상기 DC 성분을 분리하는 단계; 및
    상기 AC 성분과 상기 DC 성분의 비율을 산출하여 상기 하나 이상의 광원에 대한 상기 플리커를 측정하는 단계
    를 포함하는 전원 공급 유닛의 제조 방법.
  42. 제41항에 있어서,
    상기 하나 이상의 전원 공급 유닛의 상태를 판정하는 단계는,
    상기 플리커 측정 결과, 상기 AC 성분과 상기 DC 성분의 비율이 기 설정된 임계값 미만인 경우, 상기 하나 이상의 전원 공급 유닛을 정상으로 판정하는 단계; 및
    상기 AC 성분과 상기 DC 성분의 비율이 상기 기 설정된 임계값 이상인 경우, 상기 하나 이상의 전원 공급 유닛을 불량으로 판정하는 단계
    를 포함하는 전원 공급 유닛의 제조 방법.
  43. 제41항에 있어서,
    상기 하나 이상의 전원 공급 유닛에 전송된 상기 디밍 제어 신호, 상기 주파수 신호, 상기 플리커 측정 결과 및 상기 하나 이상의 전원 공급 유닛에 대한 판정 결과를 매칭시켜 하나 이상의 결과 데이터를 생성하는 단계; 및
    상기 하나 이상의 결과 데이터를 저장 매체에 저장하는 단계
    를 더 포함하는 전원 공급 유닛의 제조 방법.
  44. 제36항에 있어서,
    에이징 조건 및 에이징 시간을 포함하는 에이징 신호에 기반하여 상기 에이징 시간동안 상기 에이징 조건으로 상기 하나 이상의 전원 공급 유닛의 에이징 테스트를 수행하는 단계
    를 더 포함하는 전원 공급 유닛의 제조 방법.
  45. 제36항 내지 제44항 중 어느 한 항에 기재된 상기 전원 공급 유닛의 제조 방법에 의해 제조된 상기 하나 이상의 전원 공급 유닛을 채용한 조명 장치.
  46. 하나 이상의 전원 공급 유닛의 동작을 제어하기 위한 디밍 제어 신호의 생성에 필요한 정보를 입력받는 입력부;
    상기 디밍 제어 신호를 상기 하나 이상의 전원 공급 유닛에 송신하는 신호 송신부;
    상기 하나 이상의 광원으로부터 검출된 광에 대응하는 주파수 신호를 수신하는 신호 수신부;
    상기 입력 정보에 따라 상기 디밍 제어 신호를 생성하는 제1 제어부; 및
    상기 수신된 주파수 신호를 이용하여 상기 하나 이상의 광원에 대한 플리커를 측정하며 상기 플리커 측정 결과에 따라 상기 하나 이상의 전원 공급 유닛을 테스트하는 제2 제어부
    를 포함하는 제어 모듈.
  47. 제46항에 있어서,
    상기 제2 제어부는,
    상기 주파수 신호에 포함된 상기 AC 성분 및 상기 DC 성분을 분리하여 상기 AC 성분과 상기 DC 성분의 비율을 산출하고, 상기 하나 이상의 광원에 대한 상기 플리커를 측정하는 제어 모듈.
  48. 제47항에 있어서,
    상기 제2 제어부는,
    상기 플리커 측정 결과, 상기 AC 성분과 상기 DC 성분의 비율이 기 설정된 임계값 미만인 경우, 상기 하나 이상의 전원 공급 유닛을 정상으로 판정하고, 상기 AC 성분과 상기 DC 성분의 비율이 상기 기 설정된 임계값 이상인 경우, 상기 하나 이상의 전원 공급 유닛을 불량으로 판정하는 제어 모듈.
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