TWI454714B - 製造電源供應單元之系統及製造電源供應單元之方法，及閃爍測量裝置 - Google Patents

Description

製造電源供應單元之系統及製造電源供應單元之方法，及閃爍測量裝置

本發明係關於製造電源供應單元(power Supply unit，簡稱PSU)之系統及方法，及閃爍(flicker)測量裝置。

發光二極體(light-emitting diode，簡稱LED)係關於將電能轉換成光能的光源。近來，由於LED的優勢，例如快速處理速度、低耗電、長耐久性等，所以該LED被應用在照明領域，且使用成為顯示元件。

該LED是藉由接收從電源供應單元(PSU)供應的電源來源來運作。舉例來說，當該PSU不正常運作時，該LED可能也不正常運作，並可能發生閃爍現象。在該閃爍現象中，從該LED發出的光可能閃爍。發生在該LED中的閃爍現象可能被將該電源來源供應至該LED的PSU的狀態所影響。因此，在該PSU的製造中，可進行用以判定該PSU的狀態的測試。

傳統上，為了判定PSU的狀態，使用者視覺地檢查從連接至該PSU的LED所發出的光。換句話說，當視覺觀察到該閃爍現象時，該使用者判定該PSU是在不正常狀態。然而，由於該使用者的個別差異(例如年紀、視力、疲勞等等)，測量該閃爍現象是有不同的。因此，需要可確實測量該LED的閃爍現象與可精確判定該PSU的品質狀態的技術。

本發明的一態樣係提供一種製造電源供應單元(PSU) 之系統及製造電源供應單元(PSU)之方法，其可經由測試來判定至少一PSU之各者的電性特性與狀態、並可包裝在該至少一PSU之中被判定是在正常狀態中的PSU。

本發明的另一態樣係提供一種閃爍測量裝置，其可測量至少一發光二極體(LED)的閃爍、並可判定至少一PSU的狀態。

本發明的又另一態樣係提供一種閃爍測量裝置，其可儲存與管理藉由判定至少一PSU的狀態所得到的結果資料、並可促進該結果資料的使用。

本發明的又另一態樣係提供一種照明裝置，其利用藉由閃爍測量裝置來判定是在正常狀態中的PSU。

根據本發明的態樣，其提供一種製造PSU的方法，包含：提供至少一PSU，其供應調光訊號(dimming signal)至至少一光源；進行第一測試，其係針對該至少一PSU的電性特性；偵測發自該至少一光源的光，測量該至少一光源的閃爍，並基於由測量該閃爍所獲得的閃爍測量結果來進行針對該至少一PSU的狀態的第二測試；以及包裝PSU，該PSU是由於該第一測試與第二測試而在該至少一PSU之中被判定是在正常狀態中。

根據本發明的另一態樣，其提供一種用以製造電源供應單元(PSU)的系統，該系統包含：PSU製造裝備，係用以提供至少一PSU，該至少一PSU供應調光訊號至至少一光源；第一測試裝備，係用以進行第一測試，其係針對該至少一PSU的電性特性；第二測試裝備，係用以偵測發自該 至少一光源的光、測量該至少一光源的閃爍、與基於測量該閃爍所獲得的閃爍測量結果而進行針對該至少一PSU的狀態的第二測試；以及包裝裝備以包裝PSU，係用以藉由該第一測試裝備與該第二測試裝備來在該至少一PSU之中判定該PSU是在正常狀態中。

根據本發明的又另一態樣，其提供一種閃爍測量裝置，其包含：光偵測模組，係用以偵測發自至少一光源的光；訊號輸入/輸出模組，係用以輸入與輸出訊號，該訊號輸入/輸出模組連接至至少一PSU，該至少一PSU供應調光訊號至該至少一光源；訊號處理模組，係用以轉換該已偵測光成為電訊號，並處理該電訊號；以及控制模組，係用以基於調光控制訊號來控制該至少一PSU、使用該已處理電訊號來測量該至少一光源的閃爍、與基於藉由測量該閃爍所得到的閃爍測量結果來判定該至少一PSU的狀態。

根據本發明的又另一態樣，其提供一種照明裝置，其包含：用以照明的光源；以及用以供應電源至該光源的PSU，該PSU係藉由閃爍測量裝置來判定是在正常狀態中。

根據本發明的進一步態樣，其提供一種製造PSU的方法，其包含：基於調光控制訊號來控制該至少一PSU，該至少一PSU供應調光訊號至至少一光源；偵測發自該至少一光源的光；將該已偵測光轉換成電訊號，並處理該電訊號；使用該已處理電訊號來測量該至少一光源的閃爍；以及基於藉由測量該閃爍所得到的閃爍測量結果來判定該至少一PSU的狀態。

根據本發明的進一步態樣，其提供一種控制模組，其包含：輸入單元，係用以接收需要來產生調光控制訊號的資訊輸入，該調光控制訊號是使用來控制至少一PSU的運作；訊號發射器，係用以將該調光控制訊號發射(transmit)至該至少一PSU；訊號接收器，係用以接收頻率訊號，該頻率訊號係對應至至少一光源所偵測的光；第一控制器，係用以基於該已接收資訊來產生該調光控制訊號；以及第二控制器，係用以使用該已接收頻率訊號來測量該至少一光源的閃爍，並基於藉由測量該閃爍所獲得的閃爍測量結果來測試該至少一PSU。

為了本發明的例示實施例，現在將詳細描述相關資訊，其中的範例將參照圖式來描述，其中，全文中相似的元件符號指出相似的元件。下面將參照圖式來描述例示實施例以解釋本發明。

第1圖係說明根據本發明的實施例的用以製造電源供應單元(PSU)的系統100的方塊圖。

參照第1圖，該系統100可包含PSU製造裝備110、第一測試裝備120、老化測試裝備(aging test equipment)130、第二測試裝備140、第三測試裝備150、與包裝裝備(packing equipment)160。

該PSU製造裝備110可提供至少一PSU。該至少一PSU可供應調光訊號至至少一光源，且可使該至少一光源發光。舉例來說，當PSU不正常運作時，接收供應自該PSU的調 光訊號的光源也可能不正常運作。因此，當該PSU製造裝備110製造PSU時，可進行判定該PSU是否正常運作的測試。

該第一測試裝備120可進行用於該至少一PSU的電性特性的第一測試，該至少一PSU是由該PSU製造裝備110所提供。

該老化測試裝備130可在嚴峻的環境中測試該至少一PSU。該老化測試裝備130可產生老化訊號(該老化訊號包含預先設定或輸入的老化條件與老化時間)，且可依據該老化訊號而在老化時間期間的老化條件中的該PSU上進行老化測試。

該第二測試裝備140可偵測發射自至少一光源的光、可測量該至少一光源的閃爍、且可依據藉由測量該閃爍所獲得的閃爍測量結果來進行該至少一PSU的狀態的第二測試。

該老化測試裝備130是從該第二測試裝備140分離出來，如第1圖所示，然而，該老化測試裝備130可包含在該第二測試裝備140中。換句話說，可在進行該老化測試之後，將該第二測試裝備140組構成用以進行該第二測試，即測量該閃爍。

在包裝一藉由該第一測試裝備120與該第二測試裝備140以判定將是在正常狀態的PSU之前，該第三測試裝備150可進行該PSU的消耗電源、該PSU的輸出電流、該PSU的輸出電壓、該PSU的耐受電壓(withstanding voltage)、 及該PSU是否正常運作之至少一者的第三測試。在該第一測試、該老化測試與該第二測試期間，可施加應力至屬於各測試環境的PSU。由於該應力可對於該PSU的電性特性有影響，當完成該第一測試、該老化測試與該第二測試時，可再次進行該第三測試以測試該PSU的電性特性。可不必定需要該第三測試裝備150，且當有必要時，可選擇性地將該第三測試裝備150包含在該系統100中。

該包裝裝備160可包裝一藉由該第一測試裝備120、該第二測試裝備140與該第三測試裝備150在該至少一PSU之中判定為正常狀態的PSU。尤其是，該包裝裝備160可用靜電消散乙烯基(static dissipative vinyl)包裝該PSU，且可在包含矽膠的包裝盒中的事先裝置的單元(preset unit)中儲存該已包裝的PSU。舉例來說，該包裝裝備160可將四個PSU儲存在具有二臺(stage)的單一包裝盒中，使得該二臺之各者可儲存二PSU。在包裝製程期間，該包裝裝備160可判定該包裝盒中的PSU的數量、使用來將水氣從該包裝盒移除的矽膠是否包含在包裝盒中、該靜電消散乙烯基是否使用來包裝、錯誤是否發生在波來鐵核心(pearlite core)中等等。

第2圖係說明第1圖的PSU製造裝備110的組構的方塊圖。

參照第2圖，該PSU製造裝備110可包含焊膏敷設裝置(solder paste applying apparatus)112、晶片元件安裝裝置113與回焊裝置114。

該焊膏敷設裝置112可在包含在PSU中的電路板111上敷設焊膏。尤其是，當將焊料遮罩(未圖示)置於該電路板111上時，該焊膏敷設裝置112可藉由印刷該焊膏來敷設該焊膏。

該晶片元件安裝裝置113可使用該焊膏將至少一晶片元件安裝在該電路板111上。在此例子中，該晶片元件可例如為需要來使該電路板111起PSU作用的被動元件(例如電阻電容(RC)電路元件、二極體元件等等)。

該回焊裝置114可使該焊膏在預定溫度回焊、且可將該晶片元件連接至該電路板111。

一般來說，可藉由將晶片元件安裝在該電路板111的表面上來製造PSU，但是不以此為限。因此，可藉由將晶片元件安裝在該電路板111的另一表面上來製造PSU，且當有必要時也可安裝在該電路板111的該表面。在此例子中，為了在該電路板111的另一表面上安裝該晶片元件，該PSU製造裝備110可進一步包含另一焊膏敷設裝置、另一晶片元件安裝裝置、與另一回焊裝置。

第3圖係說明第1圖的第一測試裝備120的組構的方塊圖。

參照第3圖，該第一測試裝備120可包含共面檢查裝置(coplanarity inspecting apparatus)121、波焊裝置(wave soldering apparatus)122、焊料修正裝置123、元件測試裝置124、電路板測試裝置125、與PSU測試裝置126。

該共面檢查裝置121可檢查至少一PSU的各者的組件(component)的共面。尤其是，該共面檢查裝置121可放射光線至該至少一PSU、可接收反射光、且可檢查該組件的共面(特別是該焊膏的共面)。在此，可放射雷射光、X光等等至該至少一PSU。

該波焊裝置122可基於組件是否抬起(lift)來再焊(re-solder)該焊膏。舉例來說，當該共面檢查裝置121判定PSU的組件已抬起時，可再焊敷設至該PSU的焊膏。

該焊膏修正裝置123可再接觸被附接至該再焊焊膏的組件，且可消除組件抬起現象。

該元件測試裝置124可測試被安裝在該電路板111上的至少一晶片元件的電性特性。

該電路板測試裝置125可測試該電路板111的電性特性。

該PSU測試裝置126可測試至少一PSU的已消耗電源、輸出電流、輸出電壓、耐受電壓以及該至少一PSU是否正常運作的至少一者。

第4圖係說明第1圖的第二測試裝備140的組構的方塊圖。可將第4圖的第二測試裝備140使用成為閃爍測量裝置，以測量回應供應自PSU的調光訊號而運作的光源的閃爍、且以判定該PSU的狀態。在本說明書中，該第二測試裝備140可視為閃爍測量裝置140。

參照第4圖，該閃爍測量裝置140可包含訊號輸入/輸出模組141、光源142A、光偵測模組142B、訊號處理模 組143、控制模組144、交流電(AC)電源單元145、與直流電(DC)電源單元142C。

該訊號輸入/輸出模組141可電性連接至使用來測量閃爍的PSU 146。此外，該訊號輸入/輸出模組141可接收來自外部裝置或來自包含在該閃爍測量裝置140中的其他元件的訊號，或可輸出該PSU 146的訊號。為了接收或輸出訊號，該訊號輸入/輸出模組141可包含接觸終端、及使用來電性連接至該PSU 146的訊號輸入/輸出終端。

此外，該訊號輸入/輸出模組141可被包含在提供該PSU 146要安裝的空間的托盤(tray)(未圖示)中。尤其是，當該接觸終端與該訊號輸入/輸出終端放置在該空間的內側與外側時，及當該PSU 146安裝在該空間中時，該托盤可使該接觸終端能夠連接至該PSU 146。因此，該訊號輸入/輸出模組141可經由該訊號輸入/輸出終端將訊號轉換成該PSU 146、或可從該PSU 146輸出訊號至該外部裝置。

該托盤可具有使複數PSU能同時被安裝的結構、或使單一PSU被安裝的結構。當該托盤具有使單一PSU被安裝的結構時，該閃爍測量裝置140可包含複數托盤。

安裝在該托盤中的該PSU 146可憑藉該訊號輸入/輸出模組141來接收包含調光控制訊號的各種訊號、且可輸出調光訊號。

該PSU 146可憑藉該訊號輸入/輸出模組141藉由接收供應自該AC電源單元145的AC電源來運作。

該PSU 146可供應調光訊號至該光源142A。該調光訊 號可使該光源142A發光。尤其是，當經由該訊號輸入/輸出模組141接收來自該控制模組144的該調光控制訊號時，該PSU 146可基於該調光控制訊號來供應該調光訊號至該光源142A。

該光源142A、該光偵測模組142B、與該DC電源單元142C可安裝在外罩(housing)142內。

當從該PSU 146接收該調光訊號時，該光源142A可發光。致使發光的該光源142A可包含，例如，發光二極體(LED)、螢光燈、燈等等。

該光偵測模組142B可藉由接收供應自該DC電源單元142C的DC電源來運作。該光偵測模組142B可置於該光源142A上方，以偵測從該光源142A發出的光並偵測該發出光的強度(intensity)。

該訊號處理模組143可將該光偵測模組142B所偵測到的光轉換成電訊號、並可處理該電訊號。換句話說，該訊號處理模組143可將已偵測光處理成為可被該控制模組144所處理的訊號。

該控制模組144可產生調光控制訊號、且可基於該已產生的調光控制訊號來控制該PSU 146。

此外，該控制模組144可使用該訊號處理模組143所處理的電訊號來測量該光源142A的閃爍。該控制模組144可基於藉由測量該光源142A的閃爍所獲得的閃爍測量結果來測試該PSU 146。

發生在該光源142A中的閃爍現象可被該PSU 146的 狀態所影響，且因此該控制模組144可測量該光源142A的閃爍，並可判定該PSU 146的狀態。為了準確地判定該PSU 146的狀態，可將正常運作的標準光源使用為該光源142A。

該控制模組144可基於該閃爍測量結果來判定該PSU 146是否在正常狀態或不正常狀態、且可儲存與管理藉由判定該PSU 146的狀態所獲得的結果資料。使用者可基於該結果資料確認該PSU 146的狀態，並可在運送產品之前挑出瑕疵產品。

第5圖係說明根據本發明的另一實施例的閃爍測量裝置200的組構的方塊圖。在下文中，第4圖的閃爍測量裝置140的組構與運作將進一步參照第5圖來描述。

參照第5圖，該閃爍測量裝置200可包含第一PSU 211、第二PSU 212、第三PSU 213、第四PSU 214、第五PSU 215、第六PSU 216、第七PSU 217、第八PSU 218、第一光源221、第二光源222、第三光源223、第四光源224、第五光源225、第六光源226、第七光源227、第八光源228、第一光偵測模組231、第二光偵測模組232、第三光偵測模組233、第四光偵測模組234、第五光偵測模組235、第六光偵測模組236、第七光偵測模組237、第八光偵測模組238、訊號處理模組240、控制模組250、與AC電源單元260。

該AC電源單元260可供應電源以驅動該第一PSU 211至該第八PSU 218。

雖然未顯示在第5圖中，該第一PSU 211至該第八PSU 218可接收來自該AC電源單元260的電源，其係經由分別連接至該第一PSU 211至該第八PSU 218的訊號輸入/輸出模組。

該第一PSU 211至該第八PSU 218可分別連接至該第一光源211至該第八光源228，以單獨供應調光訊號至該第一光源211至該第八光源228。可使用該調光訊號以調整該第一光源211至該第八光源228的照光強度或亮度。該調光訊號可為DC電壓訊號、脈衝寬度調變(pulse width modulation，簡稱PWM)訊號、與三極管交流(triode alternating current，簡稱TRIAC)訊號中的一者。

該第一光源221至該第八光源228可發光，以回應供應自該第一PSU 211至該第八PSU 218的調光訊號。

該第一光偵測模組231至該第八光偵測模組238可置於該第一光源221至該第八光源228上，以分別偵測發自該第一光源221至該第八光源228的光。尤其是，該第一光偵測模組231至該第八光偵測模組238可偵測發自該第一光源221至該第八光源228的光、且可偵測該光的強度。舉例來說，可將光二極體使用為該第一光偵測模組231至第八光偵測模組238。

雖然未顯示在第5圖，可將DC電源單元連接至該第一光偵測模組231至該第八光偵測模組238之各者，且可供應DC電源至該第一光偵測模組231至該第八光偵測模組238。

該訊號處理模組240可接收來自該第一光偵測模組231至該第八光偵測模組238的已偵測光、可將該已接收光轉換成電訊號、且可處理該電訊號。

該訊號處理模組240可包含訊號轉換器241、低帶通濾波器(low band pass filter)242、類比轉數位轉換器(analog-to-digital coverter，簡稱ADC)243與快速傅立葉變換(fast Fourier transfer，簡稱FFT)單元244。

該訊號轉換器241可將由該第一光偵測模組231至第八光偵測模組238所偵測的光轉換成電訊號。該電訊號可為對應至該光的強度的頻率波形訊號。

該低帶通濾波器242可在包含在該電訊號中的高頻訊號上進行濾波，且可使得低頻訊號通過，以從該電訊號移除雜訊。

該ADC 243可將低頻訊號轉換成數位訊號。

該FFT單元244可在從該ADC 243輸出的數位訊號上進行FFT，且可產生頻率訊號。因此，該頻率訊號可包含AC組件與DC組件。

該控制模組250可包含輸入單元251、訊號發射器(signal transmitter)252、訊號接收器253、儲存媒體254、顯示單元255、第一控制器256與第二控制器257。

該輸入單元251可接收被需要來產生老化訊號的資訊與被需要來產生調光控制訊號的資訊的輸入，且可接收資料讀取命令的輸入。

該訊號發射器252可發射預定訊號至該第一PSU 211 至該第八PSU 218。

該訊號接收器253可接收來自該訊號處理模組240的頻率訊號。

該儲存媒體254可儲存資訊輸入螢幕(information input screen)、資訊輸出螢幕與各種資料。

該顯示單元255可顯示該資訊輸入螢幕、資訊輸出螢幕與各種資料。

當用以產生老化訊號的資訊輸入螢幕顯示在該顯示單元255上時，且當憑藉該輸入單元251來輸入老化條件與老化時間時，該第一控制器256可產生包含該已輸入老化條件與該已輸入老化時間的老化訊號。

該第一控制器256可基於該已產生老化訊號來控制該第一PSU 211至該第八PSU 218的老化運作。尤其是，該第一控制器256可控制該訊號發射器252以發射該老化訊號至該第一PSU 211至該第八PSU 218。

該第一PSU 211至該第八PSU 218可接收該老化訊號，且可在該老化時間期間進行該老化條件中的老化運作。舉例來說，當將「40℃」與「10分鐘」設定為該老化條件與老化時間時，該第一PSU 211至該第八PSU 218可進行該老化運作，且同時維持40℃的溫度10分鐘。因此，該第一PSU 211至該第八PSU 218可各包含發光組構與溫度感測器。此外，除了溫度之外，該老化條件可包含高電壓或震動。

當用以產生調光控制訊號的資訊輸入螢幕顯示在該 顯示單元255上時，且當憑藉該輸入單元251輸入資訊片段時，該第一控制器256可產生包含該資訊片段的調光控制訊號。

可單獨為了該第一PSU 211至該第八PSU 218之各者產生該調光控制訊號，且該調光控制訊號可包含與該第一PSU 211至該第八PSU 218相關聯的通道資訊。此外，該調光控制訊號可包含調光訊號範圍，其中，調光訊號是供應至該第一PSU 211至該第八PSU 218之各者，調光訊號間隔(interval)是調整在該調光訊號範圍與週期內，該週期是調光訊號要供應其中且對應至該調光訊號間隔。

該第一控制器256可基於該已產生的調光控制訊號來控制該第一PSU 211至該第八PSU 218。

該第一PSU 211至該第八PSU 218可接收調光控制訊號、可在週期期間調整調光訊號間隔在調光訊號範圍內，且可分別供應調光訊號至該第一光源221至該第八光源228。

舉例來說，當該第一PSU 211的第一通道資訊的調光訊號範圍、調光訊號間隔與週期分別設定成0.1V至10V的範圍、0.5V與15秒時，該第一PSU 211可調整該調光訊號間隔以在0.1V至10V的範圍中每15秒增加0.5V，且可供應DC電壓訊號至該第一光源211。該第一光源211可進行調光運作以每15秒改變照度(luminance)，以回應該DC電壓訊號。

該第二控制器257可測量該第一光源221至該第八光 源228之各者的閃爍，且可基於閃爍測量結果來判定該第一PSU 211至該第八PSU 218的狀態。

當該訊號接收器253接收該頻率訊號時，該第二控制器257可從該頻率訊號分離出該AC組件與該DC組件、可計算AC組件與DC組件的比例、且可測量該第一光源221至該第八光源228之各者的閃爍。

該頻率訊號可包含與該第一光源221至該第八光源228相關聯的辨識資訊。該第二控制器257可在該頻率訊號中驗證該辨識資訊、可將該第一光源221至該第八光源228之各者的頻率訊號分類、且可將該已分類頻率訊號分為該AC組件與DC組件。

此外，該第二控制器257可計算該AC組件與DC組件的比例、且可測量該第一光源221至該第八光源228之各者的閃爍。該比例可使用下列方程式1或2來計算。換句話說，可使用下例方程式1或2來測量該第一光源221至該第八光源228之各者的閃爍：

在方程式1與2中，ACrms表示AC組件的峰值，且DC表示DC組件。由該方程式1與2所計算的閃爍比例可 用「%」或「dB」來表示。

當使用方程式1或2所測量的閃爍是小於預定閾值時，該第二控制器257可判定該第一PSU 211至該第八PSU 218是在正常狀態。

當該已測量閃爍是等於或大於該預定閾值時，該第二控制器257可判定該第一PSU 211至該第八PSU 218是在不正常狀態。

該第二控制器257可使用單一PSU的單一組、單一光源與單一光偵測模組來測量閃爍，且可基於閃爍測量結果來判定對應PSU的狀態。舉例來說，可使用第5圖的一組該第一PSU 211、第一光源221與第一光偵測模組231來測量該第一光源221的閃爍。

當判定該第一PSU 211至該第八PSU 218的狀態時，該第二控制器257可藉由匹配發射至該第一PSU 211至該第八PSU 218的調光控制訊號來產生結果資料、產生對應至由該第一光偵測模組231至該第八光偵測模組238所偵測的光的頻率訊號、產生該第一光源221至該第八光源228的閃爍測量結果、以及產生該第一PSU 211至該第八PSU 218的已判定狀態。

該第二控制器257可基於資料產生時間、PSU的規格、光源的規格等來分類結果資料，且可將該已分類結果資料儲存在該儲存媒體254中。

此外，當從該輸入單元251接收到讀取結果資料的命令時，該第二控制器257可從該儲存媒體254讀取對應至 該命令的結果資料，且可在該顯示單元255上顯示該讀取結果資料。

該控制模組250可如同單一元件地包含在資料處理裝置中，例如電腦，或可如分離模組地實施該控制模組250。

如上所述，第5圖的閃爍測量裝置200可供應調光訊號至該第一光源221至該第八光源228，使得可基於預定閾值來自動測量閃爍。因此，可基於閃爍測量結果來精確判定該第一PSU 211至該第八PSU 218的狀態。

此外，該第一PSU 211至該第八PSU 218的已判定狀態可用可讀形式來儲存與管理，且因此較容易使用該結果資料。

第6圖係說明根據本發明的另一實施例的閃爍測量裝置300的外部的結構的圖式。

第6圖的該閃爍測量裝置300可包含第一PSU 311、第二PSU 312、第三PSU 313、第四PSU 314、第五PSU 315、第六PSU 316、第七PSU 317、第八PSU 318、第一外罩321、第二外罩322、第三外罩323、第四外罩324、第五外罩325、第六外罩326、第七外罩327、第八外罩328、訊號處理模組330、控制模組340、顯示裝置350與AC電源單元360。

該第一外罩321至該第八外罩328之各者可包含至少一光源與光偵測模組。該至少一光源可裝載在該第一外罩321至該第八外罩328之各者中，且可使用來測量閃爍。可使用該光偵測模組來偵測發射自該至少一光源的光。

該第一外罩321至該第八外罩328可具有相同結構。 在下文中，將參照第7圖來描述該第一外罩321的結構。

第7圖係說明第6圖的第一外罩321的結構的圖式。如第7圖所示，該第一外罩321可包含裝載盒321A與外罩蓋321B。

該裝載盒321A可包含光源10裝載入的空間、及使用來轉移從外部來源供應至該光源10的調光訊號的訊號線(未圖示)。

該光源10可如同單獨元件、或封裝形式與模組形式之其中一者地裝載在該裝載盒321A。裝載在該第一外罩321至該第八外罩328之各者的裝載盒中的光源的樣式或類型可彼此相同或不同。

當該光源10裝載在該裝載盒321A中時，可設置該訊號線以物理地連接至被包含在該光源10中的電極。

該外罩蓋321B可安裝在該裝載盒321A上方、或可從該裝載盒321A分離。雖然未顯示在第7圖中，具有可調整高度的光偵測模組可包含在該外罩蓋321B中。尤其是，可將該光偵測模組放置在該外罩蓋321B的側壁上，且可藉由調整該光偵測模組的高度來調整在該光偵測模組與裝載在該裝載盒中的光源10之間的距離。

可依據在該光偵測模組與該光源10之間的距離來變化該光偵測模組的光偵測效能。舉例來說，當相較於在該光偵測模組與該光源10之間的長距離來說，該距離是短的時，可測量高照度。因此，為了防止不正確地測量照度，可藉由基於裝載在該裝載盒321A中的光源10的形狀、尺 寸等地調整該光偵測模組的高度來調整在該光偵測模組與光源10之間的距離。

該光偵測模組可包含使用來接收發自該光源10的光的光二極體。該光二極體可藉由約30V的電壓來運作。

當該外罩蓋321B安裝在該裝載盒321A上方時，可使該第一外罩321的內部空間變暗，使得光可被阻擋。因此，藉由防止已發出光漏到該第一外罩321之外、且同時防止光進入該第一外罩321，光偵測模組僅可偵測從該光源10發出的光。

該第一PSU 311至該第八PSU 318分別可配置在該第一外罩321至該第八外罩328的前面、可連接至裝載在該第一外罩321至該第八外罩328中的光源、且可供應調光訊號至該第一外罩321至該第八外罩328。

該訊號處理模組330可位於中心，且可連接至裝載在該第一外罩321至該第八外罩328中的光偵測模組，且可接收由該光偵測模組所偵測的光。此外，該訊號處理模組330可將已接收光轉換成電訊號、可處理該電訊號以產生頻率訊號、且可發射該頻率訊號至該控制模組340。該頻率訊號可含AC組件與DC組件。

該控制模組340可位於該訊號處理模組330的上方。該控制模組340可產生調光控制訊號、可測量被裝載在該第一外罩321至該第八外罩328中的各光源的閃爍、且可基於閃爍測量結果來判定該第一PSU 311至該第八PSU 318的狀態。

此外，該控制模組340可儲存與管理在儲存媒體(未圖示)中藉由判定該第一PSU 311至該第八PSU 318的狀態所獲得的結果資料、可讀取該結果資料以回應讀取命令、且可在該顯示裝置上顯示該讀取結果資料。

已經描述該第一PSU 311至該第八PSU 318、及該第一外罩321至該第八外罩328。然而，可不限制PSU的數量與外罩的數量，且因此可依據實施例來改變PSU的數量與外罩的數量。

第8圖係說明根據本發明的實施例而使用來產生調光控制訊號的資訊輸入螢幕500的圖式。第8圖的該資訊輸入螢幕500(在下文中稱為「輸入螢幕500」)可由第4圖的該控制模組144、第5圖的該控制模組250、或第6圖的該控制模組340來提供。

該輸入螢幕500可包含第一子螢幕510、第二子螢幕520、第三子螢幕530、第四子螢幕540、儲存按鈕550、執行按鈕560與相關資訊按鈕570。

該第一子螢幕510至該第四子螢幕540可顯示光源的輸入螢幕與閃爍測量狀態。該輸入螢幕可使得使用來產生調光控制訊號的資訊的輸入。舉例來說，該第一子螢幕510至該第四子螢幕540可分別對應至該第一PSU 311至該第四PSU 314、及裝載在第6圖的該第一外罩321至該第四外罩324中的光源。

該相關資訊按鈕570可包含自動按鈕571、輸入按鈕572、搜尋按鈕573與手動按鈕574。可使用該自動按鈕571 與該輸入按鈕572來輸入資訊，該資訊係需要來產生調光控制訊號以控制該第一PSU 311至該第四PSU 314。

舉例來說，當使用者選擇該自動按鈕571時，輸入螢幕500可輸入使用來產生調光控制訊號的資訊。此外，當該使用者選擇該輸入按鈕572時，該輸入螢幕500可顯示個別資訊輸入視窗。舉例來說，該輸入螢幕500可用彈出(popup)形式來顯示包含複數數入空間的資訊輸入視窗，該輸入空間使得能夠輸入老化條件、老化時間、調光訊號範圍、調光訊號間隔、時間週期等。

當使用來產生調光控制訊號的資訊片段是使用該自動按鈕571或輸入按鈕572來輸入時，及當該使用者選擇該儲存按鈕550時，該控制模組144、250或340可在儲存媒體中儲存資訊片段。

當使用來產生調光控制訊號的資訊片段是使用該自動按鈕571或輸入按鈕572來輸入時，及當該使用者選擇該執行按鈕560時，該控制模組144、250或340可產生調光控制訊號、且可將該已產生調光控制訊號發射至該第一PSU 311至該第四PSU 314。

當該第一PSU 311至該第四PSU 314基於該調光控制訊號來分別供應調光訊號至該第一外罩321至該第四外罩324中的光源時，該控制模組144、250或340可接收對應至發射自各該光源的光的頻率訊號，且可測量閃爍。可在該第一子螢幕510至該第四子螢幕540上顯示測量閃爍的程序。因此，該使用者可驗證閃爍測量狀態，並同時監控 該第一子螢幕510至該第四子螢幕540。

可使用該搜尋按鈕573來搜尋閃爍測量結果資料、及藉由基於閃爍測量結果來判定該第一PSU 311至該第四PSU 314的狀態所獲得的結果資料。此外，可使用該手動按鈕574以驗證各種設定與使用該輸入螢幕500的方法。

第8圖說明四個子螢幕(也就是第一子螢幕510至第四子螢幕540)，但不以此為限。因此，可依照PSU的數量與包含在閃爍測量裝置中的外罩的數量來變化顯示在單一螢幕上的子螢幕的數量。

第9圖係說明根據本發明的實施例的製造PSU的方法的流程圖。可藉由第1圖的系統100來進行第9圖的方法。

參照第9圖，在運作610中，該系統100可提供至少一PSU，該至少一PSU係使用來供應調光訊號至至少一光源。

在運作620中，該系統100可進行該至少一PSU的電性特性的第一測試。

在運作630中，該系統100可基於老化訊號而在老化時間期間的老化條件中在該至少一PSU上進行老化測試。在此處，該老化訊號可包含該老化條件與老化時間。

在運作640中，該系統100可偵測從該至少一光源發出的光、可測量該至少一光源的閃爍、及可基於閃爍測量結果來進行該至少一PSU的狀態的第二測試。

在該第二測試之後，在運作650中，該系統100可進行用於PSU的至少一消耗電源、該PSU的輸出電流、該PSU 的輸出電壓、該PSU的耐受電壓、及該PSU是否正常運作的第三測試。

在運作660中，該系統100可包裝由於在該至少一PSU之中的該第一測試、第二測試與第三測試而判定是在正常狀態中的PSU。

第10圖係進一步說明第9圖的運作610的流程圖。可藉由第2圖所示的該PSU製造裝備110來進行第10圖的運作611至613。

參照第10圖，在運作611中，該PSU製造裝備110可敷設焊膏在該電路板111上。

在運作612中，該PSU製造裝備110可使用該焊膏來在該電路板111上安裝至少一晶片元件。

在運作613中，該PSU製造裝備110可使得該焊膏在預定溫度回焊。

可進行運作611至613以藉由在該電路板111的表面(例如上表面)上附接晶片元件來製造PSU。舉例來說，當晶片元件附接在該電路板111的另一表面(例如下表面)上時，可在另一表面上進行運作611至613。

第11圖係進一步說明第9圖的運作620的流程圖。可藉由第3圖所示的第一測試裝備120來進行第11圖的運作621至627。

參照第11圖，在運作621中，該第一測試裝備120可檢查該至少一PSU之各者的組件的共面。

當具有已抬起組件的PSU係存在於運作622中時，該 第一測試裝備120可在運作623中將敷設至該PSU的焊膏再回焊。在運作624中，該第一測試裝備120可再接觸被附接至該已再回焊焊膏的組件，且可消除組件抬起現象。

當具有已抬起組件的PSU不存在於運作622中時，或當該組件抬起現象經由運作623與624而消除時，該第一測試裝備120可在運作625中測試已安裝在該電路板111上的至少一晶片元件的電性特性。換句話說，可測試該晶片元件是否正常運作。

在運作626中，該第一測試裝備120可測試該電路板111的電性特性。換句話說，可測試該電路板111是否正常運作。

在運作627中，該第一測試裝備120可測試該PSU的已消耗電能、該PSU的輸出電流、該PSU的輸出電壓、該PSU的耐受電壓、與該PSU是否正常運作的至少一者。

該第一測試裝備120可藉由測試各該晶片元件與電路板111的電性特性來單獨測試該晶片元件或該電路板111。此外，該第一測試裝備120可藉由測試該PSU的電性特性來測試在該晶片元件與該電路板111之間的相互(mutual)電性特性。

第12圖係進一步說明第9圖的運作640的流程圖。可藉由測量光源的閃爍來進行運作640的第二測試以判定PSU的狀態，該測量是藉由接收供應自該PSU的調光訊號。在本說明書中，可進行第12圖的運作641至646以製造PSU。

可藉由第4圖所示的閃爍測量裝置140來進行第12 圖的運作641至646。

參照第12圖，在運作641中，該閃爍測量裝置140可基於該調光控制訊號來控制該PSU 146。該調光控制訊號可包含通道資訊、調光訊號範圍、調光訊號間隔、與週期，該通道資訊係與該PSU 146相關聯，該調光訊號範圍中的調光訊號是要供應至該光源142A，該調光訊號間隔是要被調整在該調光訊號範圍內，且該週期是該調光訊號要供應的週期且對應至該調光訊號間隔。

在運作642中，該閃爍測量裝置140可供應調光訊號至該光源142A。具體而言，該閃爍測量裝置140中的PSU 146可供應該調光訊號至該光源142A。在此，該調光訊號可為DC電壓訊號、PWM訊號與TRIAC訊號中之一者。

在運作643中，該閃爍測量裝置140可偵測來自該光源142A的光，且可將該已偵測光轉換成電訊號。在運作644中，該閃爍測量裝置140可處理該電訊號。

在運作645中，該閃爍測量裝置140可使用該已處理電訊號來測量該光源142A的閃爍。在運作646中，該閃爍測量裝置140可基於該閃爍測量結果來判定該PSU 146的狀態。

如上所述，可使用市售的PSU來進行閃爍測量，可基於閃爍測量結果來判定該PSU的狀態，且可提供已判定在正常狀態中的PSU。然而，製造PSU的方法不限於此，且可進一步包含設計該PSU的電路與組合該PSU。此外，在測量該閃爍之後，該PSU製造方法可進一步包含包裝已判 定在正常狀態中的PSU。

第13圖係說明根據本發明的另一實施例來藉由進行第二測試(即測量閃爍)的製造PSU的方法的流程圖。可藉由第5圖的閃爍測量裝置200或第6圖的閃爍測量裝置300來進行第13圖的方法。

在運作710中，該閃爍測量裝置200或300可產生老化訊號。當輸入例如老化條件或老化時間的資訊時，該閃爍測量裝置200或300可產生包含該老化條件與該老化時間的老化訊號。

在運作715中，該閃爍測量裝置200或300可基於該老化訊號來控制至少一PSU。具體而言，該至少一PSU可基於該老化訊號而在該老化時間期間的老化條件中進行老化運作。當該至少一PSU接收相同的老化訊號時，可在相同時間的相同條件中進行該老化運作。

在運作720中，該閃爍測量裝置200或300可產生調光控制訊號。在運作725中，該閃爍測量裝置200或300可基於該調光控制訊號來控制該至少一PSU。

在運作730中，該閃爍測量裝置200或300可供應調光訊號至至少一光源。該至少一光源可發光以回應該調光訊號。

在運作735中，該閃爍測量裝置200或300可偵測發射自該至少一光源的光。

在運作740中，該閃爍測量裝置200或300可將該已偵測光轉換成電訊號。在運作745中，該閃爍測量裝置200 或300可處理該電訊號，且可產生頻率訊號。在此，該頻率訊號可包含AC組件與DC組件。

在運作750中，該閃爍測量裝置200或300可從該頻率訊號分離出該AC組件與DC組件。

在運作755中，該閃爍測量裝置200或300可計算該AC組件與DC組件的比例。在運作760中，當該已計算的比例小於預定的閾值時，該閃爍測量裝置200或300可在運作765中判定對應的PSU是在正常狀態中。相反地，在運作760中，當該已計算比例等於或大於該預定閾值時，該閃爍測量裝置200或300可在運作770中判定對應PSU是在不正常狀態中。

在運作775中，該閃爍測量裝置200或300可產生關於該PSU的狀態的結果資料，該PSU的狀態是在運作765或770中判定。

第14至16圖係分別說明利用PSU的照明裝置800、900與1000的圖式，該PSU是使用根據本發明的各種實施例的PSU製造方法來製造。

該照明裝置800、900與1000可分別利用PSU 813、912與1130。可使用第1圖的系統100、第4圖的閃爍測量裝置140、第9圖的方法、與第12和13圖的第二測試方法的其中一者來製造該PSU 813、912與1130。該PSU 813、912與1130可藉由用於電性特性的第一測試與包含閃爍測量的第二測試來判定是在正常狀態中。

參照第14圖，可將該照明裝置800使用為L管照明 (L-tube lighting)，且該照明裝置800可包含照明單元810、調光器(dimmer)820與電源單元830。

該照明單元810可包含主體811、用以照明的光源812與該PSU 813。

該主體811可具有要安裝該光源812的空間與要安裝該PSU 813的空間。該光源812可包含，例如，LED、螢光燈、燈等。參照第14圖，可在該主體811中的空間中安裝該光源812與PSU 813。該光源812可連接至該PSU 813，且可接收來自該PSU 813的電源，又該光源812的亮度可藉由該調光器820來調整。

因為是基於該閃爍測量結果來判定該PSU 813是在正常狀態中，所以該光源812可藉由接收來自該PSU 813的電源來正常地發光。此外，儘管正調整該電源，因為該PSU 813是正常運作，所以該調光器820可精確地調整該光源812的亮度。

參照第15圖，可使用該照明裝置900為平面照明裝置，且該照明裝置900可包含照明單元910、調光器920與電源單元930。

該照明單元910可包含主體911、用於照明的光源(未圖示)與該PSU 912。

該主體911可具有要安裝該光源的空間與要安裝該PSU 912的空間。該光源可包含，例如，LED、螢光燈、燈等。

該光源可連接至該PSU 912，且可接收來自該PSU 912的電源，又該光源的亮度可藉由該調光器920來調整。

因為是基於該閃爍測量結果來判定該PSU 912是在正常狀態中，所以該光源可藉由接收來自該PSU 912的電源來正常地發光。此外，儘管正調整該電源，因為該PSU 912是正常運作，所以該調光器920可精確地調整該光源的亮度。

參照第16圖，可使用該照明裝置1000為向下照明裝置以將光導引向下。該照明裝置1000可包含照明單元1100、調光器1200與電源單元1300。

該照明單元1100可包含主體1110、用於照明的光源1120與該PSU 1130。

該主體1110可具有要安裝該光源1120的空間與要安裝該PSU 1130的空間。該光源1120可包含，例如，LED、螢光燈、燈等。

該光源1120可連接至該PSU 1130，且可接收來自該PSU 1130的電源，又該光源1120的亮度可藉由該調光器1200來調整。

因為是基於該閃爍測量結果來判定該PSU 1130是在正常狀態中，所以該光源1120可藉由接收來自該PSU 1130的電源來正常地發光。

該照明裝置800、900與1000可使用於戰場、以及工業與家庭。

該PSU 813、912與1130係應用至該照明裝置800、900與1000，如第14至16圖所示，但不以此為限。因此，該PSU 813、912與1130也可應用至各種照明裝置，例如 雲幕燈(ceiling light)、聚光燈等。

此外，可藉由顯示手段(display means)來利用該PSU 813、912與1130，該顯示手段係例如為顯示裝置，而取代該照明裝置800、900與1000。

雖然已經圖示與描述本發明的許多例示實施例，但是本發明並不限於所述的例示實施例。反而是，能瞭解所屬技術領域中具有通常知識者可在不背離本發明的原則與精神下對這些例示實施例做改變，而本發明的範疇是由申請專利範圍與其等效物所定義。

10、142A、812、1120‧‧‧光源

100‧‧‧系統

110‧‧‧PSU製造裝備

111‧‧‧電路板

112‧‧‧焊膏敷設裝置

113‧‧‧晶片元件安裝裝置

114‧‧‧回焊裝置

120‧‧‧第一測試裝備

121‧‧‧共面檢查裝置

122‧‧‧波焊裝置

123‧‧‧焊料修正裝置

124‧‧‧元件測試裝置

125‧‧‧電路板測試裝置

126‧‧‧PSU測試裝置

130‧‧‧老化測試裝備

140‧‧‧第二測試裝備

141‧‧‧訊號輸入/輸出模組

142‧‧‧外罩

142B‧‧‧光偵測模組

142C‧‧‧直流電電源單元

143‧‧‧訊號處理模組

144‧‧‧控制模組

145‧‧‧交流電電源單元

146、813、912、1130‧‧‧PSU

150‧‧‧第三測試裝備

160‧‧‧包裝裝備

200、300‧‧‧閃爍測量裝置

211、311‧‧‧第一PSU

212、312‧‧‧第二PSU

213、313‧‧‧第三PSU

214、314‧‧‧第四PSU

215、315‧‧‧第五PSU

216、316‧‧‧第六PSU

217、317‧‧‧第七PSU

218、318‧‧‧第八PSU

221‧‧‧第一光源

222‧‧‧第二光源

223‧‧‧第三光源

224‧‧‧第四光源

225‧‧‧第五光源

226‧‧‧第六光源

227‧‧‧第七光源

228‧‧‧八光源

231‧‧‧第一光偵測模組

232‧‧‧第二光偵測模組

233‧‧‧第三光偵測模組

234‧‧‧第四光偵測模組

235‧‧‧第五光偵測模組

236‧‧‧第六光偵測模組

237‧‧‧第七光偵測模組

238‧‧‧第八光偵測模組

240‧‧‧訊號處理模組

241‧‧‧訊號轉換器

242‧‧‧低帶通濾波器

243‧‧‧類比轉數位轉換器

244‧‧‧快速傅立葉變換單元

250‧‧‧控制模組

251‧‧‧輸入單元

252‧‧‧訊號發射器

253‧‧‧訊號接收器

254‧‧‧儲存媒體

255‧‧‧顯示單元

256‧‧‧第一控制器

257‧‧‧第二控制器

260、360AC‧‧‧電源單元

321‧‧‧第一外罩

321A‧‧‧裝載盒

321B‧‧‧外罩蓋

322‧‧‧第二外罩

323‧‧‧第三外罩

324‧‧‧第四外罩

325‧‧‧第五外罩

326‧‧‧第六外罩

327‧‧‧第七外罩

328‧‧‧第八外罩

330‧‧‧訊號處理模組

340‧‧‧控制模組

350‧‧‧顯示裝置

500‧‧‧資訊輸入螢幕

510‧‧‧第一子螢幕

520‧‧‧第二子螢幕

530‧‧‧第三子螢幕

540‧‧‧第四子螢幕

550‧‧‧儲存按鈕

560‧‧‧執行按鈕

570‧‧‧相關資訊按鈕

571‧‧‧自動按鈕

572‧‧‧輸入按鈕

573‧‧‧搜尋按鈕

574‧‧‧手動按鈕

610、611、612、613、620、621、622、623、624、625、626、627、630、640、641、642、643、644、645、646、650、660、710、715、720、725、730、735、740、745、750、755、760、765、770、775‧‧‧運作

800、900、1000‧‧‧照明裝置

810、910、1100‧‧‧照明單元

811、911、1110‧‧‧主體

820、920、1200‧‧‧調光器

830、930、1300‧‧‧電源單元

在上述例示實施例的描述並參照其所附圖式之後，本發明的這些及/或其他態樣、特徵與優點將變得顯而易知且更容易瞭解，其中：第1圖係說明根據本發明的實施例的用以製造電源供應單元(PSU)的系統的方塊圖；第2圖係說明第1圖的系統中的PSU製造裝備的組構的方塊圖；第3圖係說明第1圖的系統中的第一測試裝備的組構的方塊圖；第4圖係說明第1圖的系統中的第二測試裝備的組構的方塊圖；第5圖係說明根據本發明的另一實施例的第二測試裝備的另一組構的方塊圖；第6圖係說明根據本發明的實施例的閃爍測量裝置的 外部的結構的圖式；第7圖係說明第6圖的第一外罩的結構的圖式；第8圖係說明根據本發明的實施例而使用來產生調光控制訊號的資訊輸入螢幕的圖式；第9圖係說明根據本發明的實施例的製造PSU的方法的流程圖；第10圖係進一步說明第9圖的方法中的提供至少一PSU的運作的流程圖；第11圖係進一步說明第9圖的方法中的進行第一測試的運作的流程圖；第12圖係進一步說明第9圖的方法中的進行第二測試的運作的流程圖；第13圖係說明根據本發明的另一實施例的進行第二測試的運作的流程圖；以及第14至16圖係分別說明利用PSU的各種照明裝置的圖式，該PSU是藉由根據本發明的各種實施例的PSU製造方法來製造。

100‧‧‧系統

110‧‧‧PSU製造裝備

120‧‧‧第一測試裝備

130‧‧‧老化測試裝備

140‧‧‧第二測試裝備

150‧‧‧第三測試裝備

160‧‧‧包裝裝備

Claims (48)

1. 一種製造電源供應單元的方法，該方法包括下列步驟：提供至少一電源供應單元，其供應調光訊號至至少一光源；進行第一測試，其係針對該至少一電源供應單元的電性特性；利用一閃爍測量裝置偵測發自該至少一光源的光，利用該閃爍測量裝置測量該至少一光源的閃爍，並基於由測量該閃爍所獲得的閃爍測量結果來進行針對該至少一電源供應單元的狀態的第二測試；以及包裝電源供應單元，該電源供應單元是由於該第一測試與該第二測試而在該至少一電源供應單元之中被判定是在正常狀態中。
2. 如申請專利範圍第1項所述之方法，其中，該提供之步驟係包括：於電路板上敷設焊膏；使用該焊膏以在該電路板上安裝至少一晶片元件；以及使得該焊膏在預定溫度回焊。
3. 如申請專利範圍第2項所述之方法，其中，該進行之步驟係包括：檢查該至少一電源供應單元之各者的組件的共面；基於該組件是否抬起來再回焊該焊膏；再接觸被附接至該已再回焊焊膏的該組件，並消除 組件抬起現象；測試被安裝在該電路板上的該至少一晶片元件的電性特性；以及測試該電路板的電性特性。
4. 如申請專利範圍第3項所述之方法，其中，該進行之步驟復包括：測試該至少一電源供應單元的已消耗電能、輸出電流、輸出電壓、耐受電壓、及該至少一電源供應單元是否正常運作中的至少一者。
5. 如申請專利範圍第1項所述之方法，其中，該偵測之步驟係包括：基於調光控制訊號來控制該至少一電源供應單元去供應調光訊號至該至少一光源；偵測發自該至少一光源的光；將該已偵測光轉換成電訊號，並處理該電訊號；使用該已處理電訊號來測量該至少一光源的閃爍；以及基於該閃爍測量結果來判定該至少一電源供應單元的狀態。
6. 如申請專利範圍第1項所述之方法，復包括，在進行該第二測試之前：基於老化訊號而在老化時間期間的老化條件中的該至少一電源供應單元上進行老化測試，該老化訊號包括該老化條件與該老化時間。
7. 如申請專利範圍第5項所述之方法，其中，該調光控制訊號包括通道資訊、調光訊號範圍、調光訊號間隔、與週期，該通道資訊係與該至少一電源供應單元相關聯，而該調光訊號範圍中的調光訊號是要供應至該至少一光源，該調光訊號間隔是要被調整在該調光訊號範圍內，及該週期是該調光訊號要供應的週期且對應至該調光訊號間隔。
8. 如申請專利範圍第5項所述之方法，其中，該控制之步驟係包括基於該調光控制訊號來在用於該週期的調光訊號範圍內調整該調光訊號間隔，並供應該調光訊號至該至少一光源。
9. 如申請專利範圍第5項所述之方法，其中，該調光訊號是直流電壓訊號、脈衝寬度調變訊號、與三極管交流訊號中的一者。
10. 如申請專利範圍第5項所述之方法，其中，該轉換之步驟係包括：將該已偵測光轉換成該電訊號；使低頻訊號通過，該低頻訊號包含在該電訊號中；將該低頻訊號轉換成數位訊號；以及藉由在該數位訊號上進行快速傅立葉變換來產生頻率訊號，該頻率訊號包括交流組件與直流組件。
11. 如申請專利範圍第10項所述之方法，其中，該測量之步驟係包括：從該頻率訊號分離該交流組件與該直流組件；以及 計算該交流組件與該直流組件的比例，並測量該閃爍。
12. 如申請專利範圍第11項所述之方法，其中，該判定之步驟係包括：當該已計算比例小於預定閾值時，判定該至少一電源供應單元是在正常狀態中；以及當該已計算比例等於或大於該預定閾值時，判定該至少一電源供應單元是在不正常狀態中。
13. 如申請專利範圍第12項所述之方法，復包括：藉由匹配該調光控制訊號、該頻率訊號、該閃爍測量結果、與判定該至少一電源供應單元的狀態所得到的結果來產生結果資料；以及將該已產生結果資料儲存在儲存媒體中。
14. 如申請專利範圍第1項所述之方法，復包括，在該包裝之步驟之前：對於該電源供應單元的已消耗電能、該電源供應單元的輸出電流、該電源供應單元的輸出電壓、該電源供應單元的耐受電壓、與該電源供應單元是否正常運作的至少一者進行第三測試。
15. 如申請專利範圍第1項所述之方法，其中，該包裝之步驟復包括：用靜電消散乙烯基包裝該電源供應單元；以及在包含矽膠的包裝盒中的事先裝置的單元中儲存該已包裝的電源供應單元。
16. 一種照明裝置，係利用如申請專利範圍第1至15項中任一項所述之方法所製造的該至少一電源供應單元。
17. 一種用以製造電源供應單元的系統，該系統包括：電源供應單元製造裝備，係用以提供至少一電源供應單元，該至少一電源供應單元供應調光訊號至至少一光源；第一測試裝備，係用以進行第一測試，該第一測試係針對由該電源供應單元製造裝備所提供的該至少一電源供應單元的電性特性；第二測試裝備，係用以偵測發自該至少一光源的光、測量該至少一光源的閃爍、與基於測量該閃爍所獲得的閃爍測量結果而進行第二測試，該第二測試係針對由該電源供應單元製造裝備所提供的該至少一電源供應單元的狀態；以及包裝裝備以包裝電源供應單元，係用以藉由該第一測試裝備與該第二測試裝備來在由該電源供應單元製造裝備所提供的該至少一電源供應單元之中判定該電源供應單元是在正常狀態中。
18. 如申請專利範圍第17項所述之系統，其中，該電源供應單元製造裝備係包括：焊膏敷設裝置，係用以在電路板上敷設焊膏；晶片元件安裝裝置，係用以使用該焊膏來在該電路板上安裝至少一晶片元件；以及回焊裝置，係用以使該焊膏在預定溫度回焊。
19. 如申請專利範圍第18項所述之系統，其中，該第一測試裝備係包括：共面檢查裝置，係用以檢查該至少一電源供應單元之各者的組件的共面；波焊裝置，係用以基於該組件是否抬起來回焊該焊膏；焊料修正裝置，係用以再接觸被附接至該已再回焊焊膏的該組件，並消除組件抬起現象；元件測試裝置，係用以測試被安裝在該電路板上的該至少一晶片元件的電性特性；電路板測試裝置，係用以測試該電路板的電性特性；以及電源供應單元測試裝置，係用以測試該至少一電源供應單元，該測試係針對已消耗電能、輸出電流、輸出電壓、耐受電壓、及該至少一電源供應單元是否正常運作中的至少一者。
20. 如申請專利範圍第17項所述之系統，其中，該第二測試裝備係包括：光偵測模組，係用以偵測發自該至少一光源的光；該至少一電源供應單元，係用以供應該調光訊號至該至少一光源；訊號處理模組，係用以轉換該已偵測光成為電訊號，並處理該電訊號；以及控制模組，係用以基於調光控制訊號來控制該至少 一電源供應單元、使用該已處理電訊號來測量該至少一光源的閃爍、與基於該閃爍測量結果來判定該至少一電源供應單元的狀態。
21. 如申請專利範圍第17項所述之系統，復包括：老化測試裝備，係用以基於老化訊號而在老化時間期間的老化條件中在判定在該正常狀態中的該電源供應單元上進行老化測試，該老化訊號包括該老化條件與該老化時間。
22. 如申請專利範圍第17項所述之系統，復包括：第三測試裝備，係用以在包裝該電源供應單元之前進行第三測試，其係針對該電源供應單元的已消耗電能、該電源供應單元的輸出電流、該電源供應單元的輸出電壓、該電源供應單元的耐受電壓、及該至少一電源供應單元是否正常運作中的至少一者。
23. 一種電源供應單元的閃爍測量裝置，該閃爍測量裝置包括：光偵測模組，係用以偵測發自至少一光源的光；訊號輸入/輸出模組，係用以輸入與輸出訊號，該訊號輸入/輸出模組連接至至少一電源供應單元，該至少一電源供應單元供應調光訊號至該至少一光源；訊號處理模組，係用以轉換該已偵測光成為電訊號，並處理該電訊號；以及控制模組，係用以基於調光控制訊號來控制該至少一電源供應單元、使用該已處理電訊號來測量該至少一 光源的閃爍、與基於藉由測量該閃爍所得到的該閃爍測量結果來判定該至少一電源供應單元的狀態。
24. 如申請專利範圍第23項所述之閃爍測量裝置，其中，該調光控制訊號係包括通道資訊、調光訊號範圍、調光訊號間隔、與週期，該通道資訊係與該至少一電源供應單元相關聯，而該調光訊號範圍中的調光訊號是要供應至該至少一光源，該調光訊號間隔是要被調整在該調光訊號範圍內，及該週期是該調光訊號要供應的週期且對應至該調光訊號間隔。
25. 如申請專利範圍第24項所述之閃爍測量裝置，其中，該至少一電源供應單元接收該調光控制訊號、在用於該週期的該調光訊號範圍內調整該調光訊號間隔、並供應該調光訊號至該至少一光源。
26. 如申請專利範圍第23項所述之閃爍測量裝置，其中，該調光訊號是直流電壓訊號、脈衝寬度調變訊號、與三極管交流訊號中的一者。
27. 如申請專利範圍第23項所述之閃爍測量裝置，其中，該訊號處理模組係包括：訊號轉換器，係用以將該已偵測光轉換成該電訊號；低帶通濾波器，係用以使低頻訊號通過，該低頻訊號係包含在該電訊號中；類比轉數位轉換器，係用以將該低頻訊號轉換成數位訊號；以及 快速傅立葉變換單元，係用以藉由在該數位訊號上進行快速傅立葉變換來產生頻率訊號，該頻率訊號包括交流組件與直流組件。
28. 如申請專利範圍第27項所述之閃爍測量裝置，其中，該控制模組係包括：輸入單元，係用以接收需要來產生該調光控制訊號的資訊的輸入；訊號接收器，係用以接收來自該訊號處理模組的該頻率訊號；訊號發射器，係用以將該調光控制訊號發射至該至少一電源供應單元；第一控制器，係用以基於該已接收資訊來產生該調光控制訊號；以及第二控制器，係用以從該頻率訊號分離該交流組件與該直流組件、計算該交流組件與該組件直流的比例、及測量該閃爍。
29. 如申請專利範圍第28項所述之閃爍測量裝置，其中，當該已計算比例小於預定閾值時，該第二控制器判定該至少一電源供應單元是在正常狀態中，以及其中，當該已計算比例等於或大於該預定閾值時，該第二控制器判定該至少一電源供應單元是在不正常狀態中。
30. 如申請專利範圍第29項所述之閃爍測量裝置，其中，該第二控制器藉由匹配該調光控制訊號、該頻率訊號、 該閃爍測量結果、與判定該至少一電源供應單元的狀態所得到的結果來產生結果資料，並將該已產生結果資料儲存在儲存媒體中。
31. 如申請專利範圍第30項所述之閃爍測量裝置，其中，當從該輸入單元接收到讀取該結果資料的命令時，該第二控制器從該儲存媒體讀取對應至該命令的結果資料，並在螢幕上顯示該已讀取結果資料。
32. 如申請專利範圍第23項所述之閃爍測量裝置，其中，該控制模組將包含老化條件與老化時間的老化訊號轉移至該至少一電源供應單元，並在該老化時間期間的老化條件中控制要被進行在該至少一電源供應單元上的老化測試。
33. 如申請專利範圍第23項所述之閃爍測量裝置，復包括：外罩，係包括該至少一光源與該光偵測模組。
34. 如申請專利範圍第33項所述之閃爍測量裝置，其中，該外罩係包括：裝載盒，其中係裝載有該至少一光源；以及外罩蓋，係安裝在該裝載盒上方，該外罩蓋係包括該光偵測模組。
35. 一種照明裝置，係基於如申請專利範圍第23至34項中任一項所述之閃爍測量裝置所測量的閃爍來利用在該至少一電源供應單元之中被判定是在該正常狀態中的電源供應單元。
36. 一種製造電源供應單元的方法，該方法包括下列步驟： 基於調光控制訊號來控制至少一電源供應單元，該至少一電源供應單元供應調光訊號至至少一光源；利用一閃爍測量裝置偵測發自該至少一光源的光；將該已偵測光轉換成電訊號，並處理該電訊號；使用利用該閃爍測量裝置以及該已處理電訊號來測量該至少一光源的閃爍；以及基於藉由測量該閃爍所得到的閃爍測量結果來判定該至少一電源供應單元的狀態。
37. 如申請專利範圍第36項所述之方法，其中，該調光控制訊號包括通道資訊、調光訊號範圍、調光訊號間隔、與週期，而該通道資訊係與該至少一電源供應單元相關聯，而該調光訊號範圍中的調光訊號是要供應至該至少一光源，該調光訊號間隔是要被調整在該調光訊號範圍內，及該週期是該調光訊號要供應的週期且對應至該調光訊號間隔。
38. 如申請專利範圍第37項所述之方法，其中，該控制之步驟係包括基於該調光控制訊號來在用於該週期的調光訊號範圍內調整該調光訊號間隔，並供應該調光訊號至該至少一光源。
39. 如申請專利範圍第36項所述之方法，其中，該調光訊號是直流電壓訊號、脈衝寬度調變訊號、與三極管交流訊號中的一者。
40. 如申請專利範圍第36項所述之方法，其中，該轉換之步驟係包括： 將該已偵測光轉換成該電訊號；使低頻訊號通過，該低頻訊號包含在該電訊號中；將該低頻訊號轉換成數位訊號；以及藉由在該數位訊號上進行快速傅立葉變換來產生頻率訊號，該頻率訊號包括交流組件與直流組件。
41. 如申請專利範圍第40項所述之方法，其中，該測量之步驟係包括：從該頻率訊號分離該交流組件與該直流組件；以及計算該交流組件與該直流組件的比例，並測量該閃爍。
42. 如申請專利範圍第41項所述之方法，其中，該判定之步驟係包括：當該已計算比例小於預定閾值時，判定該至少一電源供應單元是在正常狀態中；以及當該已計算比例等於或大於該預定閾值時，判定該至少一電源供應單元是在不正常狀態中。
43. 如申請專利範圍第41項所述之方法，復包括：藉由匹配該調光控制訊號、該頻率訊號、該閃爍測量結果、與判定該至少一電源供應單元的狀態所得到的結果來產生結果資料；以及將該已產生結果資料儲存在儲存媒體中。
44. 如申請專利範圍第36項所述之方法，復包括：基於老化訊號而在老化時間期間的老化條件中的該至少一電源供應單元上進行老化測試，該老化訊號包 括該老化條件與該老化時間。
45. 一種照明裝置，係利用如申請專利範圍第36至44項中任一項所述之方法所製造的該至少一電源供應單元。
46. 一種控制模組，係包括：輸入單元，係用以接收需要來產生調光控制訊號的資訊的輸入，該調光控制訊號是使用來控制至少一電源供應單元的運作；訊號發射器，係用以將基於該輸入單元的該已接收資訊所產生的該調光控制訊號發射至該至少一電源供應單元；訊號接收器，係用以接收頻率訊號，該頻率訊號係對應至至少一光源所偵測的光，該至少一光源是由一調光訊號來驅動，且該調光訊號是基於該至少一電源供應單元的該調光控制訊號來產生；第一控制器，係用以基於該輸入單元的該已接收資訊來產生該調光控制訊號；以及第二控制器，係用以使用該已接收頻率訊號來測量該至少一光源的閃爍，該已接收頻率訊號由該訊號接收器來接收，並基於藉由測量該閃爍所獲得的閃爍測量結果來測試該至少一電源供應單元。
47. 如申請專利範圍第46項所述之控制模組，其中，該第二控制器係分離被包含在該頻率訊號中的交流組件與直流組件、計算該交流組件與該直流組件的比例、及測量該閃爍。
48. 如申請專利範圍第47項所述之控制模組，其中，當該已計算比例小於預定閾值時，該第二控制器判定該至少一電源供應單元是在正常狀態中，以及其中，當該已計算比例等於或大於該預定閾值時，該第二控制器判定該至少一電源供應單元是在不正常狀態中。