KR20120037768A - 엘이디를 이용한 자기 진단 장치 - Google Patents

엘이디를 이용한 자기 진단 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR20120037768A
KR20120037768A KR1020100099425A KR20100099425A KR20120037768A KR 20120037768 A KR20120037768 A KR 20120037768A KR 1020100099425 A KR1020100099425 A KR 1020100099425A KR 20100099425 A KR20100099425 A KR 20100099425A KR 20120037768 A KR20120037768 A KR 20120037768A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
led
clock signal
version
self
port
Prior art date
Application number
KR1020100099425A
Other languages
English (en)
Inventor
류현수
Original Assignee
현대모비스 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 현대모비스 주식회사 filed Critical 현대모비스 주식회사
Priority to KR1020100099425A priority Critical patent/KR20120037768A/ko
Publication of KR20120037768A publication Critical patent/KR20120037768A/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317—Testing of digital circuits
    • G01R31/3181—Functional testing
    • G01R31/319—Tester hardware, i.e. output processing circuits
    • G01R31/31917—Stimuli generation or application of test patterns to the device under test [DUT]
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L22/00—Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor
    • H01L22/30—Structural arrangements specially adapted for testing or measuring during manufacture or treatment, or specially adapted for reliability measurements

Abstract

본 발명은 LED를 이용한 자기 진단 장치에 관한 것이다. 본 발명에 따른 자기 진단 장치는, 클럭 신호를 발진하는 발진소자와, 외부기기와 연결되는 포트 및 클럭신호를 소정 시간 지연시켜 포트로 전송하는 제어부를 포함하는 IC와, IC에 전원을 공급하는 전원부와, IC의 포트를 통해 연결되어, IC로부터 전압을 전달받고, IC가 전송하는 지연 클럭 신호를 수신하여 규칙적으로 점멸하는 LED를 포함한다. 이에 의해, 제품을 분해하지 않고 IC가 정상동작중인지 여부를 인지할 수 있다.

Description

엘이디를 이용한 자기 진단 장치{Automatic self-diagnosis apparatus by using LED}
본 발명은 LED를 이용한 자기 진단 장치에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 회로를 분해하지 않고 IC의 작동상태이상 혹은 IC의 버전(version)을 LED를 통해 확인 할 수 있는 LED를 이용한 자기 진단 장치에 관한 것이다.
하나의 제품은 수백개 많게는 수만개의 IC로 구성되는데, 그 중 어느하나의 IC의 오류나 비정상적인 동작이 있게 되면, 제품을 분해하여, 주요 IC의 상태를 오실로스코프 등과 같은 측정장비의 도움을 받아 판단하게 된다.
또한, 어느 하나의 주요한 IC를 새로운 버전의 IC로 교체하고자 할 경우, 제품을 분해하여 주요 IC의 버전을 확인하는 방법으로 교체가 필요한 IC를 판단한다.
이와 같이, 회로기판의 IC중에 하나가 오작동 혹은 미작동할 경우, 제품 전체를 분해하여, 측정장비의 도움을 받아 오동작 또는 미동작하는 IC를 찾아내야 하는 문제점이 있다. 또한 주요 IC의 버전을 교체하는 경우, 제품을 분해하여, 일일이 IC의 버전을 확인해야 하는 문제점이 있다.
따라서, 본 발명의 목적은, 회로를 분해하지 않고 주요 IC의 작동상태이상 혹은 IC의 버전을 LED를 통해 확인할 수 있는 LED를 이용한 자기 진단 장치를 제공하는데 그 목적이 있다.
상술한 과제를 해결하기 위한 본 발명의 실시예에 따른 LED를 이용한 자기 진단 장치는, 클럭 신호를 발진하는 발진소자, 외부기기와 연결되는 포트 및 클럭 신호를 소정 시간 지연시켜 상기 포트로 전송하는 제어부를 포함하는 IC와, IC의 포트를 통해 연결되어, IC로부터 전압을 전달받고, IC가 전송하는 지연 클럭 신호를 수신하여 규칙적으로 점멸하는 LED를 포함한다.
본 발명의 실시예에 따르면, 정상적으로 IC가 동작시, 규칙적인 클럭 신호를 보내어, 규칙적으로 LED가 점멸하게 되므로, 제품을 분해하지 않고, 해당 IC와 연결된 LED를 확인하여, IC가 정상동작 중인지 여부를 알 수 있는 장점이 있다.
특히, 신뢰성 실험등을 수행하는 경우, 고온, 고압 조건에서 오동작하거나, 미동작하더라도, 상온 및 대기압에서 정상동작하는 경우, 고온, 고압조건에서 어떤 IC에 오류가 있는 것인지를 알 수 있는 장점이 있다.
또한, IC가 새로 개발되어 교체를 하려고 할 때, 제품을 분해하지 않고, 현재 IC의 버전을 LED의 광색을 통해 간단히 확인할 수 있는 장점이 있다.
도 1은 LED를 이용한 자기 진단 장치의 구성요소를 도시한 블록 구성도(block diagram).
도 2는 클럭 신호의 흐름을 간략하게 도시한 도.
도 3(a) 내지 도3(b)는 제어부의 클럭 신호 지연을 예시한 도.
도 4(a) 내지 도 4(c)는 IC의 오작동시 LED로 전송되는 클럭 신호를 도시한 도.
도 5(a) 내지 도 5(c)는 본 발명의 일실시예에 따른 구현 회로를 도시한 도.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 IC의 버전에 따른 LED의 광색변화를 도시한 도.
도 1은 LED를 이용한 자기 진단 장치의 구성요소를 도시한 블록 구성도(block diagram)이다.
도 1의 블록 구성도를 참조하여 본 발명의 일실시예에 따른 LED를 이용한 자기 진단 장치를 기능에 따른 구성요소 관점에서 살펴보면 다음과 같다.
본 LED를 이용한 자기 진단 장치는 IC(110), 발진소자(112), 전원부(114), 제어부(116), 입력부(118), 저장부(120), LED(130)를 포함한다.
이와 같은 구성요소들은 실제 응용에서 구현될 때 필요에 따라 2 이상의 구성요소가 하나의 구성요소로 합쳐지거나, 혹은 하나의 구성요소가 2 이상의 구성요소로 세분되어 구성될 수 있다.
IC(Integrated Circuit)는, 집적회로를 뜻하며, 많은 전자 회로 소자가 하나의 기판 위 또는 기판 자체에 분리가 불가능한 상태로 결합되어 있는 초소형 구조의 기능적인 복합적 전자소자 또는 시스템이다. 현재 집적회로의 주축을 이루고 있는 것은 두께 1mm, 한 변이 5mm 정도의 칩 위에 전자회로를 형성시켜서 만드는 모놀리식 집적회로이다. 후술하는 도면에서 IC의 종류는 FPGA(Field Programmable Gate Array), DSP(Digital Signal Processor), MICOM을 예시하고 있으며, 이에 한정되지 않고, 전자 회로내에 포함되는 모든 종류의 IC를 포함한다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, IC 내부의 발진 소자(112)는, 클럭 신호를 발진하여 제어부(116)으로 공급한다. 클럭 신호는, 0과 1을 반복적으로 출력하는 신호를 말한다. 발진 소자의 구동전원은 전원부(114)로부터 공급받는다. 외부전원(미도시)은 IC의 전원부(114)로 IC(110) 내부에 구동전원을 공급한다.
발진 소자(112)는, 자기 유도 계수와 용량을 가진 진동 회로로 구성될 수 있다. 진동 회로는 증폭 회로와 되먹임 회로로 구성될 수 있다. 되먹임 회로와 증폭 회로에서 양 되먹임하면 외부의 입력 없이 증폭작용이 계속된다. 이러한 증폭 작용을 이용하여 회로 자체에서 교류 파형을 만드는 전기 진동을 발생시킬 수 있다. 진동이 일어나기 위해서는 되먹임된 신호가 원래의 신호와 위상이 일치해야 하며, 전체 회로의 증폭도는 1보다 커야 한다.
발진소자(112)를 구성하는 발진 회로는 특정한 주파수의 전류만이 회로에 흐르게 한다. 특정한 주파수의 전류에 공진하는 회로와 공진전류를 지속적으로 공급하는 증폭회로로 이루어진다. 공진하는 회로에는 전기회로소자의 인덕턴스와 커패시턴스를 조합한 회로나, 커패시턴스와 저항을 조합한 회로가 있을 수 있다.
일 예로, 발진 소자(112)에서 100MHZ로 진동하는 신호를 발진한다면, 1초에 백만번 1과 0을 반복하는 클럭 신호를 발진하는 것이다. 이는 일 예일뿐 발진 소자(112)의 종류에 따라 주파수는 상이 할 수 있다.
전원부(114)는, 외부전원을 받아, IC(110)내부의 발진 소자(112)와 제어부(116)으로 구동전원을 공급한다. 또한, IC(110)에 공급된 전원은 IC(110)와 LED(130)를 연결하는 포트를 통해 LED(130)의 구동전원으로 사용된다.
제어부(116)는, 발진 소자(112)에서 발진한 클럭 신호를 전송받아, 클럭 신호를 지연시킨다. 제어부(116)에서 클럭 신호를 지연(딜레이)시키는 이유는, 상술한 예를 들어서 설명하면, 발진 소자(112)에서 100MHZ로 진동하는 신호를 발진한다면, 1초에 백만번 클럭 신호의 1과 0이 반복되어, 사람의 육안으로는 변화를 느낄 수 없게 되기 때문이다. 일 예로, 제어부(116)는 전송받은 클럭 신호에 대해 100ms씩 딜레이(delay)를 줄 수 있다. 이 경우, 1과 0신호가 기존보다 100ms 더 길게 출력되어, 사람이 변화를 감지할 수 있다. 상술한 100ms는 일예일 뿐, 사람이 변화를 감지할 수 있는 정도라면, 딜레이(delay)를 가하는 시간은 다양하게 변화할 수 있다.
제어부(116)는, 전송받은 클럭 신호를 지연시킨 신호인 지연 클럭 신호를 LED(130)로 전송할 수 있다. LED(130)로 전송하는 루트는 IC(110)와 외부기기를 연결하는 포트를 통한다. 포트의 종류는 다양하나, GPIO(General Purpose I/O)를 사용함이 바람직하다. GPIO(General Purpose I/O)는, 하드웨어 적으로 1개의 핀으로 구성되며, Tristate Buffer(3상태 버퍼)를 사용한다.
한편, 제어부(116)에서 클럭 신호를 전송함에 따라서, LED(130)는, 송신받은 클럭 신호의 크기가 1인 경우, 점등하게 되고, 송신 받은 클럭 신호의 크기가 0인 경우, 멸등하게 된다. 따라서, 지연 클럭 신호를 수신함에 따라, 사용자는 지연 클럭 신호(Delayed Clock signal)에 맞추어 점멸을 반복하는 LED(130)의 점멸을 육안으로 감지할 수 있다.
한편, 제어부(116)는, 입력부(118)와 저장부(120)에 연결되어, 사용자가 입력하는 제어 프로그램을 입력부(118)로부터 입력받아, 저장부(120)에 저장할 수 있다.
입력부(118)는, 제어부(116)의 내부의 프로그램을 설정하도록 사용자의 프로그램 설정을 입력 받을 수 있다. 사용자는 제어부(116)에서 전송받는 클럭 신호를 얼마나 딜레이 할 것인지에 대해 프로그램하여, 입력부(118)로 입력할 수 있다. 또한, IC(130)의 버전(version) 정보와 그에 대한 LED 광색에 대한 설정시, 사용자는 입력부(118)를 통하여 제어부(116)의 동작프로그램을 입력할 수 있다.
저장부(120)는, 사용자가 입력한 제어부(116)의 동작프로그램을 저장할 수 있다. 제어부(116)는 필요한 경우, 저장부(160)에 저장된 동작 프로그램에 따라, 전송받은 클럭 신호의 딜레이시간을 조절 할 수 있고, IC(110)의 종류와 버전(version)에 따라, 상이한 색의 LED빛을 출력할 수 있도록, LED(130)를 제어할 수 있다. LED(130)는 제어부(160)로부터 전송받은 지연 클럭 신호에 대응하여 동작한다. 즉, 클럭 신호의 크기가 1인 경우, LED는 점등하고, 클럭 신호의 크기가 0인 경우, LED는 멸등한다.
뿐만 아니라, LED는 다양한 색깔의 빛을 방출 할 수 있다. 발광되는 빛의 파장 (색)은 PN 접합을 형성하는 소재의 띠간격의 크기와 관련이 있다. 예를 들면, 알루미늄 갈륨 비소(AlGaAs)의 경우엔 빨간색, 갈륨 비소 인(GaAsP)의 경우, 빨간색, 오랜지색, 노란색의 빛을 방출할 수 있다. 또한 인듐 질화 갈륨 (InGaN),질화 갈륨(GaN), 알루미늄 질화 갈륨(AlGaN)은, 오랜지색, 노란색, 녹색, 파란색, 보라색의 빛을 방출할 수 있고, 인화 갈륨(GaP)은, 빨간색, 노란색, 녹색의 빛을 방출할 수 있다. 셀렌화 아연(ZnSe)의 경우, 녹색과 파란색의 빛을 방출할 수 있다. 알루미늄 인듐 갈륨 인(AlGaInP)의 경우, 오랜지색, 노란색 및 녹색의 빛을 방출할 수 있다.
도 2는 클럭 신호의 흐름을 간략하게 도시한 도이다.
도면을 참조하면, 발진 소자(112)에서 발진된 클럭 신호는 제어부(116)으로 전송된다. 클럭 신호를 전송받은 제어부(116)는, 이 클럭 신호를 딜레이하여, 지연 클럭 신호를 생성하고, 제어부와 LED를 연결하는 포트를 통하여, 지연 클럭 신호를 전송한다. LED(130)는 지연 클럭 신호에 대응하여 점멸을 규칙적으로 수행하게 된다.
IC(110)가 정상적으로 동작하는 경우, IC(110) 내부의 제어부(116)는 발진 소자(112)로부터 전송받은 규칙적인 클럭 신호를 일률적으로 지연시켜 규칙적인 지연 클럭 신호를 LED(130)로 송신하게 된다.
그러나, IC(110)가 정상적으로 동작하지 않는 경우, 제어부(116)는 클럭 신호를 수신하지 못할 수도 있고, 전송받은 클럭 신호를 지연시키는 작업을 수행할 수 없을 수 있다. 또한, 클럭 신호를 전송받아, 지연시키되 규칙적으로 지연 시키지 못하여, 불규칙적으로 지연된 클럭 신호를 LED(130)로 송신할 수 있다.
이 경우, 사용자는 IC(110)외부의 LED(130)를 통하여, LED(130)가 연결된 IC(110)의 정상동작 여부를 체크할 수 있다. 사용자는 외부의 LED(130)의 불빛이 계속 켜져 있는 경우, 외부 LED(130)의 불빛이 계속 꺼져 있는 경우 혹은 외부 LED(130)의 불빛이 불규칙적으로 깜빡이는 경우에 어떤 IC가 정상 동작하지 않는지 육안으로 확인 할 수 있다. 따라서, 사용자는 정상 동작 중이 아닌 IC부분에 대해서만 분해하여, 새 IC로 교체할 수도 혹은 기존의 IC를 수리할 수도 있다.
IC(110)의 비정상적인 동작의 예시는 도 4에서 후술한다.
도 3(a) 내지 도3(b)는 제어부의 클럭 신호 지연을 예시한 도이다.
도 3(a)는 발진 소자(112)에서 처음 발진한 클럭 신호를 도시한 것이다. 상술한 바와 같이 일 예로 발진 소자(112)에서 100MHZ로 진동하는 신호를 발진한다면, 1초에 백만번 클럭 신호의 1과 0이 반복되게 된다. 매우 짧은 시간동안 1과 0이 반복되어, 이러한 클럭 신호에 의해 LED가 점멸된다면, 육안으로는 LED의 점멸을 감지할 수 없다.
제어부(116)는 도 3(a)에서 예시한 클럭 신호를 전송받아, 클럭 신호를 지연시켜, 지연 클럭 신호를 생성한다. 도 3(b)을 참조하여 설명하면, 기존의 클럭 신호에서 100ms시간 지연된 지연 클럭 신호를 생성한다. 기존 클럭 신호에서 1값을 가졌던 짧은 시간에 100ms시간을 추가하여 1값을 유지하게 되어, 이 시간만큼 LED(130)를 점등시킬 수 있다.
기존 클럭 신호에서 0값을 가졌던 짧은 시간에 100ms시간을 추가하여 0값을 유지하게 되어, 이 시간만큼 LED(130)를 오프(off)시켜, 사용자로 하여금 LED(130)의 점멸을 확실히 구분할 수 있도록 한다. 규칙적인 클럭 신호에 따라, LED(130)는 규칙적으로 점멸된다.
또한, 지연시간 동안, 제어부(116)에서 IC(110)의 문제에 대해 검사할 수도 있다.
도 4(a) 내지 도 4(c)는 IC의 오작동시 LED로 전송되는 클럭 신호를 도시한 도이다.
도 4(a)를 참조하여 설명하면, 발진 소자(120)는, 도 3(a)와 같은 형태의 클럭 신호를 발진하여, 제어부(116)로 전송하나, 제어부(116)가 정상 동작을 하지 못하는 경우, 전송된 클럭 신호를 일률적으로 지연시키지 못할 수 있다.
예를 들면, 지연시간을 100ms로 설정한 경우, 클럭 신호의 주기별로 첫주기에서는 140ms, 두번째 주기에서는 20ms, 세번째 주기에서는 80ms와 같이 주기별로 다른 지연 시간이 적용된다. 주기별로 다른 지연 시간이 적용된 지연 클럭 신호가 LED(130)로 전송되면, LED(130)는 불규칙적으로 점멸한다.
사용자는 LED(130)가 불규칙적으로 점멸하는 경우, 해당 LED(130)가 연결된 IC(110)가 오작동함을 감지하여, 제품을 분해하지 않고도, 해당 IC(110)가 존재하는 부분만 분해하여, 현재 오작동중인 IC를 수리하거나, 교체할 수 있다.
도 4(b)는 발진 소자(120) 자체의 오작동으로, 클럭 신호가 전송되지 못하는 경우를 예시한다. 또는 정상적으로 발진되어 전송된 클럭 신호에 대해 제어부(116)의 오동작으로 클럭 신호의 크기를 1로 계속 유지하는 경우도 있을 수 있다. 클럭 신호의 크기가 지속적으로 1을 유지함에 따라, 연결된 LED(130)는 계속 점등되어 있게 된다.
사용자는 LED(130)가 지속적으로 점등되어 있는 경우, 해당 LED(130)가 연결된 IC(110)가 오작동함을 감지하여, 제품을 분해하지 않고도, 해당 IC(110)가 존재하는 부분만 분해하여, 현재 오작동중인 IC를 수리하거나, 교체할 수 있다.
도 4(c)는 IC(110)내부의 문제가 발생하여, 클럭 신호자체가 전송되지 않는 경우를 예시한다. 또한, 정상적으로 발진되어 전송된 클럭 신호에 대해 제어부(116)의 오동작으로 클럭 신호의 크기를 0으로 계속 유지하는 경우도 있을 수 있다. 클럭 신호의 크기가 지속적으로 0을 유지함에 따라, 연결된 LED(130)은 계속 오프(off)상태로 있게 된다.
사용자는 LED(130)가 규칙적으로 점멸하지 않고, 지속적으로 오프(off)상태인 경우, 해당 LED(130)가 연결된 IC(110)가 오작동 혹은 미작동함을 감지하여, 제품을 분해하지 않고도, 해당 IC(110)가 존재하는 부분만 분해하여, 현재 오작동중인 IC를 수리하거나, 교체할 수 있다.
도 5(a) 내지 도 5(c)는 본 발명의 일실시예에 따른 구현 회로를 도시한 도이다.
공통적으로, 다이오드로 구성된 발진 소자(112)를 구비하며, 발진 소자(112)는 구동 전원을 받아 동작한다. 도면을 참조하면, 발진 소자(112)는 D1105, D1111, D1110의 다이오드를 발진 소자(112)의 일 예로 도시한다. 이는 일 예일뿐 다양한 발진 소자(112)가 사용될 수 있다.
상술한 바와 같이 IC(110)는 다양한 종류의 IC소자를 포함하며, 일 예로,
도 5(a)는 IC(110) 중에서 FPGA(Field Programmable Gate Array)를 예시하고,
도 5(b)는 IC(110) 중에서 DSP(Digital Signal Processor)를 예시한다. 도 5(c)는 IC(110) 중에서 마이컴(MCU)인 경우를 예시한다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 IC의 버전에 따른 LED의 광색변화를 도시한 도이다.
도면을 참조하여 설명하면, IC(110)의 버전이 1인 경우(version 1) LED(132)는 빨간색으로 점등 될 수 있다. 반면에 IC(110)의 버전이 2인 경우(version 2) LED(134)는 주황색으로 점등될 수 있다. IC(110)의 버전이 3인 경우(version 3) LED(136)는 노랑색으로 점등될 수 있다. IC(110)의 버전이 4인 경우(version 4) LED(138)는 초록색으로 점등될 수 있다. IC(110)의 버전이 5인 경우(version 5) LED(139)는 파란색으로 점등될 수 있다.
버전(version)과 LED(130)가 점등되는 색깔과의 상관관계는 사용자에 의해 입력부(118)를 통해 저장부(120)에 저장되어, 제어부(116)에서 판단한다. 따라서, 사용자가 입력하는 프로그램에 따라, 버전과 색깔과의 상관관계는 가변할 수 있으며, 도면의 빨강, 주황, 노랑, 초록, 파랑의 색은 일 예에 불과할 뿐, LED(130)가 발광할 수 있는 색깔의 빛이라면, 어느 색이든 적용 가능하다.
예를 들면, 알루미늄 갈륨 비소(AlGaAs)의 경우엔 빨간색, 갈륨 비소 인(GaAsP)의 경우, 빨간색, 오랜지색, 노란색의 빛을 방출할 수 있다. 또한 인듐 질화 갈륨 (InGaN),질화 갈륨(GaN), 알루미늄 질화 갈륨(AlGaN)은, 오랜지색, 노란색, 녹색, 파란색, 보라색의 빛을 방출할 수 있고, 인화 갈륨(GaP)은, 빨간색, 노란색, 녹색의 빛을 방출할 수 있다.
셀렌화 아연(ZnSe)의 경우, 녹색과 파란색의 빛을 방출할 수 있다. 알루미늄 인듐 갈륨 인(AlGaInP)의 경우, 오랜지색, 노란색 및 녹색의 빛을 방출할 수 있다.
사용자는 LED(130)를 구성하는 재료의 종류를 선별하고, LED(130)와 연결되는 해당 IC(110)의 버전(version)과의 상관관계에 대한 설정을 하여, 제품을 분해하지 않고 IC(110)의 버전(version)을 확인 할 수 있다.
교체하고자 하는 IC와 연결된 LED(130)를 확인하여, 해당 IC(110)가 존재하는 부분만 분해하여, 구 버전인 IC를 새 버전으로 교체할 수 있다.
이상에서는 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 도시하고 설명하였지만, 본 발명은 상술한 특정의 실시예에 한정되지 아니하며, 청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진자에 의해 다양한 변형실시가 가능한 것은 물론이고, 이러한 변형실시들은 본 발명의 기술적 사상이나 전망으로부터 개별적으로 이해되어져서는 안될 것이다.
100 : LED를 이용한 자기 진단 장치 110 : IC
112 : 발진소자 114 : 전원부
116 : 제어부 118 : 입력부
120 : 저장부 130 : LED

Claims (6)

  1. 클럭 신호를 발진하는 발진소자, 외부기기와 연결되는 포트 및 상기 클럭신호를 소정 시간 지연시켜 상기 포트로 전송하는 제어부를 포함하는 IC;
    상기 IC에 전원을 공급하는 전원부;및
    상기 IC의 상기 포트를 통해 연결되어, 상기 IC로부터 전압을 전달받고, 상기 IC가 전송하는 지연 클럭 신호를 수신하여 규칙적으로 점멸하는 LED;를 포함하는 LED를 이용한 자기 진단 장치.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 LED는 상기 IC의 이상동작으로 상기 지연 클럭 신호를 불규칙적으로 전송받은 경우, 불규칙적으로 점멸하는 것을 특징으로 하는 LED를 이용한 자기 진단 장치.
  3. 제 1항에 있어서,
    상기 LED는 상기 IC의 미동작으로 상기 지연 클럭 신호를 전송 받지 못한 경우, 지속적으로 오프(off)되는 것을 특징으로 하는 LED를 이용한 자기 진단 장치.
  4. 제 1항에 있어서,
    상기 LED는 상기 IC가 오동작인 경우, 지속적으로 온(on)되는 것을 특징으로 하는 LED를 이용한 자기 진단 장치.
  5. 제 1항에 있어서,
    상기 제어부는,
    상기 IC의 버전(version)에 따라, 상기 LED의 광색을 달리하도록 설정된 프로그램을 저장하는 저장부;와 상기 프로그램을 입력받을 수 있는 입력부;를 포함하고,
    상기 IC의 버전(version)을 확인하여, 상기 LED로 상이한 신호를 전송하는 것을 특징으로 하는 LED를 이용한 자기 진단 장치.
  6. 제 5항에 있어서,
    상기 LED는,
    상기 IC의 버전(version)의 순서에 따라, 빨간색, 주황색, 노란색, 초록색, 파란색의 빛을 출력하는 LED를 이용한 자기 진단 장치.
KR1020100099425A 2010-10-12 2010-10-12 엘이디를 이용한 자기 진단 장치 KR20120037768A (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020100099425A KR20120037768A (ko) 2010-10-12 2010-10-12 엘이디를 이용한 자기 진단 장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020100099425A KR20120037768A (ko) 2010-10-12 2010-10-12 엘이디를 이용한 자기 진단 장치

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20120037768A true KR20120037768A (ko) 2012-04-20

Family

ID=46138800

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020100099425A KR20120037768A (ko) 2010-10-12 2010-10-12 엘이디를 이용한 자기 진단 장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR20120037768A (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9867256B2 (en) 2016-01-14 2018-01-09 Samsung Electronics Co., Ltd. Display system and self-checking method of the display system

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9867256B2 (en) 2016-01-14 2018-01-09 Samsung Electronics Co., Ltd. Display system and self-checking method of the display system

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20100049454A1 (en) Light emitting diode fault monitoring
US9980334B2 (en) LED lighting system
US8669787B2 (en) Zero-crossing detector for industrial control with low heat dissipation
US9520830B2 (en) Crystal oscillator
US7129654B2 (en) Flashing light control apparatus and method thereof
MX2020012857A (es) Prueba de una red de dispositivos de advertencia de peligro.
JP2015511111A5 (ko)
KR20120037768A (ko) 엘이디를 이용한 자기 진단 장치
US9065434B2 (en) Input circuit for industrial control with low heat dissipation
CN106066817B (zh) 时钟监控电路及其方法
CN110750378A (zh) 一种多电源下电时序电路和下电方法
US10198329B2 (en) Power supply device
TWI554002B (zh) 充電電路中斷裝置以及充電電路自我偵測方法
US20150369658A1 (en) Light assembly employing uncharacterized light sources
EP2051089B1 (en) System and method for automated detection of singular faults in common diodes power bus circuits
CN110018730B (zh) 可检测电源负载的服务器装置
US9213383B2 (en) Switching circuit module, computer system, and method for controlling computer system reset thereof
EP1656001A1 (en) Flashing lights control apparatus and method thereof
JP2019029893A (ja) 判定装置
JP4745868B2 (ja) レギュレータ破損防止システム
KR100823720B1 (ko) 주기적으로 입력 채널의 입력 상태를 모니터링하는 진단능력을 갖는 ｐｌｃ 입력 모듈
TWI566639B (zh) Led發光裝置及相關的驅動電路
TW201642296A (zh) 具有故障提示功能的繼電器
KR102062833B1 (ko) 선박용 led 항해등 선교 감시 제어 장치
JP6812871B2 (ja) 照明機器および照明システム

Legal Events

Date Code Title Description
WITN Withdrawal due to no request for examination