KR20120031547A - Apparatus for opening a latch of insert - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 인서트의 래치 개방 장치에 관한 것으로써, 더욱 상세하게는 테스트 트레이에 장착되어 전자 부품을 수납 고정하는 인서트의 상기 전자 부품을 고정하는 래치를 개방하는 장치에 관한 것이다. The present invention relates to a latch opening device for an insert, and more particularly, to an apparatus for opening a latch for fixing the electronic component of the insert, which is mounted to the test tray and holds and fixes the electronic component.
일반적으로, 전자 부품은 전자 기기에 사용되는 부품을 통칭하며, 일 예로 반도체 칩을 통하여 전기적인 특성을 갖도록 구성된 디램(DRAM), 에스램(SRAM) 등과 같은 부품을 포함할 수 있다. In general, an electronic component generally refers to a component used in an electronic device, and may include, for example, a component such as a DRAM, an SRAM, or the like configured to have electrical characteristics through a semiconductor chip.
이에, 상기 전자 부품은 제조의 완성 단계에서 그 전기적인 특성을 테스트하는 테스트 공정을 거치게 된다. 상기 테스트 공정은 실질적으로 상기 전자 부품을 대상으로 테스트를 수행하는 테스트 장치와 상기 테스트 장치에 상기 전자 부품을 제공하기 위한 테스트 핸들러를 통하여 진행된다.Accordingly, the electronic component is subjected to a test process for testing its electrical characteristics at the completion of manufacturing. The test process proceeds substantially through a test device for performing a test on the electronic component and a test handler for providing the electronic component to the test device.
상기 테스트 핸들러는 테스트 트레이에 다수의 전자 부품들을 수납한 상태로 상기 테스트 장치로 이송한 다음, 상기 테스트 트레이에 수납된 상태 그대로 상기 테스트 장치에 접속시킴으로써, 한번에 많은 개수의 전자 부품들을 동시에 테스트할 수 있도록 한다.The test handler may test a large number of electronic components at the same time by transferring a plurality of electronic components in a test tray to the test apparatus, and then connecting the test apparatus as it is stored in the test tray. Make sure
이때, 상기 테스트 트레이에는 상기 수납한 전자 부품들 각각을 고정하기 위한 래치를 갖는 다수의 인서트들이 장착된다. 이에, 상기 래치는 상기 전자 부품을 수납하고자 할 때 래치 개방 장치를 통해서 상기 전자 부품이 수납되는 공간이 개방되도록 동작한다.At this time, the test tray is equipped with a plurality of inserts having a latch for fixing each of the received electronic components. Thus, when the latch is intended to receive the electronic component, the latch operates to open a space in which the electronic component is received through the latch opening device.
그러나, 상기 래치 개방 장치는 상기 래치를 개방하기 위한 위치를 정렬시키는 동작과 상기 래치를 개방하는 동작을 두 개의 구동 기구들을 통해 두 번의 동작으로 나누어서 진행해야 하므로, 복잡한 구성을 가질 뿐만 아니라 상기 전자 부품들을 상기 인서트들에 수납하는 시간이 증가될 수 있다.However, the latch opening device has to be divided into two operations through two driving mechanisms to align the position for opening the latch and to open the latch, so that the latch opening device has not only a complicated configuration but also the electronic component. The time for storing them in the inserts can be increased.
본 발명의 목적은 구성을 단순화시키면서 전자 부품들을 인서트들에 수납하는 시간을 단축시킬 수 있는 인서트의 래치 개방 장치를 제공하는 것이다. It is an object of the present invention to provide a latch opening device for an insert that can simplify the construction and reduce the time for storing electronic components in the inserts.
상술한 본 발명의 목적을 달성하기 위하여, 일 특징에 따른 인서트의 래치 개방 장치는 제1 오픈 플레이트, 제2 오픈 플레이트 및 구동 기구를 포함한다.In order to achieve the above object of the present invention, the latch opening device of the insert according to one feature comprises a first open plate, a second open plate and a drive mechanism.
상기 제1 오픈 플레이트는 전자 부품을 고정하기 위한 래치를 갖는 다수의 인서트들이 장착된 테스트 트레이의 일면과 마주하도록 배치되며, 상기 일면과 마주하는 부위에 상기 일면을 향해 탄성을 제공하는 탄성체를 사이로 상기 일면을 푸싱하는 푸셔 및 상기 래치를 개방하는 오프너를 갖는다. The first open plate is disposed to face one surface of a test tray equipped with a plurality of inserts having a latch for fixing an electronic component, and the elastic body providing elasticity toward the one surface at a portion facing the one surface. And a pusher for pushing one side and an opener for opening the latch.
상기 제2 오픈 플레이트는 상기 테스트 트레이의 상기 일면과 반대되는 타면과 마주하도록 배치된다. 상기 구동 기구는 상기 제1 및 제2 오픈 플레이들 중 어느 하나와 연결되며, 상기 푸셔를 통해 상기 테스트 트레이를 상기 제2 오픈 플레이트에 밀착시킨 상태에서 상기 탄성체가 압축되면서 상기 오프너가 상기 래치를 개방하도록 상기 어느 하나를 구동시킨다. The second open plate is disposed to face the other surface opposite to the one surface of the test tray. The drive mechanism is connected to any one of the first and second open plays, and the opener opens the latch while the elastic body is compressed while the test tray is in close contact with the second open plate through the pusher. To drive any one of them.
여기서, 상기 제1 오픈 플레이트는 상기 오프너가 상기 래치를 개방하는 위치를 상기 테스트 트레이와 정렬홈과 정렬 돌기의 결합 구조를 다수 가질 수 있다. Here, the first open plate may have a plurality of coupling structures of the test tray, the alignment groove, and the alignment protrusion at positions where the opener opens the latch.
또한, 상기 제1 오픈 플레이트는 상기 탄성체와 상기 푸셔가 삽입되는 삽입홈을 가질 수 있다. In addition, the first open plate may have an insertion groove into which the elastic body and the pusher are inserted.
한편, 상기 제1 오픈 플레이트는 상기 인서트의 상기 전자 부품이 고정되는 공간을 외부로 노출시켜 상기 공간에 상기 전자 부품이 수납되도록 하기 위한 개구를 가질 수 있다. Meanwhile, the first open plate may have an opening for exposing the space where the electronic component of the insert is fixed to the outside to accommodate the electronic component in the space.
또한, 상기 오프너는 상기 인서트들의 래치들을 모두 한번에 개방하도록 상기 래치들 각각과 일대일로 대응되도록 다수 구성될 수 있다. In addition, the opener may be configured in plural to correspond one-to-one with each of the latches to open the latches of the inserts all at once.
이러한 인서트의 래치 개방 장치에 따르면, 제1 오픈 플레이트의 푸셔를 통해 전자 부품을 고정하기 위한 래치를 갖는 다수의 인서트들이 장착된 테스트 트레이를 제2 오픈 플레이트에 밀착시킨 상태에서 상기 제1 오픈 플레이트와 상기 푸셔의 사이에 장착된 탄성체가 압축되면서 상기 제1 오픈 플레이트의 오프너가 상기 래치를 개방하는 일련의 동작을 하나의 구동 기구를 통해 구현함으로써, 상기 래치를 개방하는 구성을 배경 기술보다 단순화시킬 수 있다. 또한, 상기 일련의 동작이 한번에 진행됨으로써, 상기 래치를 개방하는 시간을 단축시켜 생산성 향상을 기대할 수 있다. According to the latch opening device of the insert, the first open plate and the test tray equipped with a plurality of inserts having a latch for fixing the electronic component through the pusher of the first open plate are in close contact with the second open plate. The configuration of opening the latch can be simplified than in the background art by implementing, through one drive mechanism, a series of operations in which the opener of the first open plate opens the latch while the elastic body mounted between the pushers is compressed. have. In addition, since the series of operations are performed at one time, it is possible to shorten the time for opening the latch and improve productivity.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 인서트의 래치 개방 장치를 개략적으로 나타낸 사시도이다.
도 2는 도 1에 도시된 래치 개방 장치의 일부분을 확대한 도면이다.
도 3a 및 도 3b는 도 2의 Ⅰ-Ⅰ`선을 따라 절단하여 상기 래치 개방 장치가 래치를 개방하는 과정을 나타낸 도면들이다.
도 4a 및 도 4b는 본 발명의 다른 실시예에 따른 인서트의 래치 개방 장치를 도 2의 Ⅰ-Ⅰ`선과 동일한 선을 따라 절단하여 래치를 개방하는 과정을 나타낸 도면들이다. 1 is a perspective view schematically showing a latch opening device of an insert according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is an enlarged view of a part of the latch opening device shown in FIG. 1.
3A and 3B are views illustrating a process of opening the latch by the latch opening device by cutting along the line II ′ of FIG. 2.
4A and 4B are views illustrating a process of opening a latch by cutting a latch opening device of an insert according to another embodiment of the present invention along the same line as the line II of FIG. 2.
이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 인서트의 래치 개방 장치에 대해 상세히 설명한다. 본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 형태를 가질 수 있는 바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 본문에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명을 특정한 개시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 각 도면을 설명하면서 유사한 참조부호를 유사한 구성요소에 대해 사용하였다. 첨부된 도면에 있어서, 구조물들의 치수는 본 발명의 명확성을 기하기 위하여 실제보다 확대하여 도시한 것이다.Hereinafter, a latch opening device of an insert according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. As the inventive concept allows for various changes and numerous embodiments, particular embodiments will be illustrated in the drawings and described in detail in the text. However, this is not intended to limit the present invention to the specific disclosed form, it should be understood to include all modifications, equivalents, and substitutes included in the spirit and scope of the present invention. Like reference numerals are used for like elements in describing each drawing. In the accompanying drawings, the dimensions of the structures are shown in an enlarged scale than actual for clarity of the invention.
제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 예를 들어, 본 발명의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소도 제1 구성요소로 명명될 수 있다.The terms first, second, etc. may be used to describe various components, but the components should not be limited by the terms. The terms are used only for the purpose of distinguishing one component from another. For example, without departing from the scope of the present invention, the first component may be referred to as the second component, and similarly, the second component may also be referred to as the first component.
본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서 상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.The terminology used herein is for the purpose of describing particular example embodiments only and is not intended to be limiting of the present invention. Singular expressions include plural expressions unless the context clearly indicates otherwise. In this application, the terms "comprises", "having", and the like are used to specify that a feature, a number, a step, an operation, an element, a part or a combination thereof is described in the specification, But do not preclude the presence or addition of one or more other features, integers, steps, operations, components, parts, or combinations thereof.
한편, 다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가지고 있다. 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥 상 가지는 의미와 일치하는 의미를 가지는 것으로 해석되어야 하며, 본 출원에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.
On the other hand, unless otherwise defined, all terms used herein, including technical or scientific terms, have the same meaning as commonly understood by one of ordinary skill in the art. Terms such as those defined in the commonly used dictionaries should be construed as having meanings consistent with the meanings in the context of the related art and shall not be construed in ideal or excessively formal meanings unless expressly defined in this application. Do not.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 인서트의 래치 개방 장치를 개략적으로 나타낸 사시도이며, 도 2는 도 1에 도시된 래치 개방 장치의 일부분을 확대한 도면이다.1 is a perspective view schematically showing a latch opening device of an insert according to an embodiment of the present invention, Figure 2 is an enlarged view of a portion of the latch opening device shown in FIG.
도 1 및 도 2를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 인서트의 래치 개방 장치(1000)는 제1 오픈 플레이트(100), 제2 오픈 플레이트(200) 및 구동 기구(300)를 포함한다.1 and 2, the latch
상기 제1 오픈 플레이트(100)는 테스트 트레이(10)의 하부면과 마주하도록 상기 테스트 트레이(10)의 하부에 배치된다. 상기 테스트 트레이(10)는 테스트 공정에서 전자 부품(SD)을 테스트 장치에 접속시키기 위한 테스트 핸들러의 운반 수단으로 사용된다. 여기서, 상기 전자 부품(SD)은 일 예로, 디램(DRAM), 에스램(SRAM) 등과 같은 메모리 소자를 포함할 수 있다.The first
상기 테스트 트레이(10)에는 상기 전자 부품(SD)이 수납 고정되는 다수의 인서트(20)들이 장착된다. 이에, 상기 테스트 트레이(10)는 상기 인서트(20)들을 수납하는 수납홀(12)들을 가지며, 각 인서트(20)는 상기 전자 부품(SD)을 수납하기 위한 공간을 갖는다. 여기서, 상기 전자 부품(SD)이 수납되는 공간은 상기 전자 부품(SD)의 수납이 실질적으로 가능하도록 상부로 노출된 구조를 가질 수 있다. The
또한, 상기 테스트 트레이(10)는 상기 수납홀(12)의 안쪽에 상기 수납된 인서트(20)가 하방으로 빠지지 않도록 단차부(14)를 가질 수 있다. 이에, 상기 인서트(20)의 하단 부위도 상기 단차부(14)에 안착되는 구조를 가질 수 있다. In addition, the
상기 인서트(20)는 상기 전자 부품(SD)이 상기 테스트 트레이(10)가 이송되는 도중에도 떨어지지 않도록 상기 수납된 전자 부품(SD)을 고정하는 래치(22)를 갖는다. 상기 래치(22)는 도 2에서와 같이 수납된 전자 부품(SD)의 대향하는 양 측면들을 밀어서 고정하는 타입으로 이루어질 수도 있고, 상기 수납된 전자 부품(SD)의 상부면을 가압하는 타입으로 이루어질 수도 있다.The
상기 제1 오픈 플레이트(100)는 상기 테스트 트레이(10)의 하부면과 마주하는 부위에 푸셔(110) 및 오프너(120)를 갖는다. 상기 푸셔(110)는 상기 테스트 트레이(10)의 수납홀(12)이 형성되지 않는 부위와 마주하도록 형성되고, 상기 오프너(120)는 상기 테스트 트레이(10)의 수납홀(12)에 수납된 인서트(20)와 마주하도록 형성되어 상기 래치(22)를 개방한다. The first
이때, 상기 제1 오픈 플레이트(100) 및 상기 테스트 트레이(10) 각각은 상기 오프너(120)가 상기 래치(22)를 개방하는 위치를 정렬시키기 위해 정렬 돌기(130) 및 정렬홈(16)을 가질 수 있다. In this case, each of the first
상기 정렬 돌기(130) 및 상기 정렬홈(16) 각각은 다른 구성에 간섭되지 않도록 상기 제1 오픈 플레이트(100) 및 상기 테스트 트레이(10)의 에지 부위에 형성될 수 있다. 또한, 상기와 다르게 상기 정렬 돌기(130) 및 상기 정렬홈(16)은 반대로 상기 테스트 트레이(10) 및 상기 제1 오픈 플레이트(100) 각각에 형성될 수 있다. Each of the
상기 제2 오픈 플레이트(200)는 상기 테스트 트레이(10)의 상부면과 마주하도록 상기 테스트 트레이(10)의 상부에 배치된다. 상기 제2 오픈 플레이트(200)는 상기 인서트(20)에 전자 부품(SD)이 수납되도록 상기 전자 부품(SD)이 수납되는 공간이 상부로 노출되도록 하는 개구(210)를 갖는다. The second
이에, 상기 개구(210)는 상기 인서트(20)들을 일정 개수마다 전체적으로 한번에 노출되도록 형성될 수 있다. 일 예로, 상기 개구(210)는 도 1에서와 같이 가로 방향을 따라 배열된 인서트(20)들이 한번에 노출되도록 형성될 수 있다. Thus, the
상기 구동 기구(300)는 상기 제1 오픈 플레이트(100)의 하부에 연결되어 상기 제1 오픈 플레이트(100)를 상승 및 하강시킨다. 이러한 구동 기구(300)는 에어 또는 오일에 의해서 직선 구동력을 발생시키는 실린더(cylinder)로 이루어질 수 있다. The
이와 달리, 상기 구동 기구(300)는 회전력을 발생하는 모터(motor)를 주동력으로 하여 직선 구동력으로 전환하는 렉(rack) 기어와 피니언(pinion) 기어의 결합 구조 및 정밀 제어가 가능한 볼 스크류(ball screw) 구조를 포함하여 이루어질 수 있다.On the contrary, the
이하, 상기 제1 오픈 플레이트(100)의 구체적인 구조 및 상기 래치 개방 장치(1000)를 통해서 상기 인서트(20)의 래치(22)를 개방하는 구조에 대해서 도 3a 및 도 3b를 추가적으로 참조하여 보다 상세하게 설명하고자 한다.Hereinafter, a detailed structure of the first
도 3a 및 도 3b는 도 2의 Ⅰ-Ⅰ`선을 따라 절단하여 상기 래치 개방 장치가 래치를 개방하는 과정을 나타낸 도면들이다.3A and 3B are views illustrating a process of opening the latch by the latch opening device by cutting along the line II ′ of FIG. 2.
도 3a 및 도 3b를 추가적으로 참조하면, 상기 제1 오픈 플레이트(100)는 상기 푸셔(110)가 삽입되면서 그 안쪽에 탄성체(150)가 장착된 삽입홈(140)을 갖는다. 여기서, 상기 탄성체(150)는 상기 테스트 트레이(10)의 하부면을 향하는 탄성을 상기 푸셔(110)에 제공한다. 이러한 탄성체(150)는 일 예로, 압축 스프링(compression spring)으로 이루어질 수 있다.3A and 3B, the first
또한, 상기 삽입홈(140)의 입구 부위는 상기 탄성체(150)가 빠지지 않도록 안쪽보다 좁은 폭을 가질 수 있다. 이에, 상기 푸셔(110)는 상기 삽입홈(140)의 안쪽에서 입구 부위에 걸리도록 돌출된 걸림부(112)를 가질 수 있다. In addition, the inlet portion of the
이로써, 상기 푸셔(110)는 외부로부터 가해지는 힘이 없다면 상기 탄성체(150)의 탄성에 의해 항상 상기 걸림부(112)가 상기 삽입홈(140)의 입구 부위에 걸린 상태를 유지하게 된다.Thus, the
한편, 상기 오프너(120)는 상기 제1 오픈 플레이트(100)로부터 돌출되어 상기 인서트(20)의 하부로부터 상기 래치(22)와 연결되도록 돌출된 래치 연결부(24)를 눌러서 상기 래치(22)를 개방할 수 있다. Meanwhile, the
상기와 같은 래치 개방 장치(1000)를 통해서 상기 인서트(20)의 래치(22)를 개방하는 과정을 간단하게 설명하면, 상기 푸셔(110)가 상기 테스트 트레이(10)와 접촉한 상태에서 상기 테스트 트레이(10)가 상기 제2 오픈 플레이트(200)에 밀착되도록 상기 구동 기구(300)를 통해 상기 제1 오픈 플레이트(100)를 상승시킨다. 이때, 상기 제1 오픈 플레이트(100)의 정렬 돌기(130)가 상기 테스트 트레이(10)의 정렬홈(16)에 삽입되도록 하여 이들을 정렬시킨다. Briefly describing the process of opening the
이어, 상기 오프너(120)가 상기 래치 연결부(24)를 누르도록 상기 구동 기구(300)를 통해 상기 제1 오픈 플레이트(100)를 연속적으로 상승시킨다. 이때, 상기 푸셔(110)는 상기 오프너(120)의 누름이 가능하도록 상기 탄성체(150)가 압축되면서 상기 삽입홈(140)으로 삽입된다. Subsequently, the
이와 같이, 상기 제1 오픈 플레이트(100)의 푸셔(110)를 통해 상기 테스트 트레이(10)를 제2 오픈 플레이트(200)에 밀착시킨 상태에서 상기 탄성체(150)가 압축되면서 상기 제1 오픈 플레이트(100)의 오프너(120)가 상기 래치(22)를 개방하는 일련의 동작을 하나의 구동 기구(300)를 통해 구현함으로써, 상기 래치(22)를 개방하는 구성을 배경 기술보다 단순화시킬 수 있다. 또한, 상기 일련의 동작이 한번에 진행됨으로써, 상기 래치(22)를 개방하는 시간을 단축시켜 생산성 향상을 기대할 수 있다. As such, the
한편, 상기 래치 개방 장치(1000)가 상기와 같은 구성을 가지게 될 경우, 상기 제1 오픈 플레이트(100)를 상기 테스트 트레이(10)의 전체 영역에 대응하도록 구성한 다음 상기 오프너(120)를 상기 인서트(20)들 각각의 모든 래치(22)들에 일대일로 대응되도록 구성할 수 있다.On the other hand, when the
이러면, 상기 일련의 동작을 1회 수행하여 모든 래치(22)들을 한번에 개방할 수 있음에 따라, 다수의 전자 부품(SD)들을 상기 인서트(20)들 각각에 수납하는 공정 시간을 더욱 단축하여 효율적인 공정을 수행할 수 있다. In this case, since the
또한, 본 실시예에서는 상기 구동 기구(300)가 상기 제1 오픈 플레이트(100)에 연결된 구조로 설명하였지만, 상기 제2 오픈 플레이트(200)에 연결되어 상기 제2 오픈 플레이트(200)를 상승 및 하강시켜도 동일한 결과를 기대할 수 있다. In addition, in the present embodiment, the
도 4a 및 도 4b는 본 발명의 다른 실시예에 따른 인서트의 래치 개방 장치를 도 2의 Ⅰ-Ⅰ`선과 동일한 선을 따라 절단하여 래치를 개방하는 과정을 나타낸 도면들이다. 4A and 4B are views illustrating a process of opening a latch by cutting a latch opening device of an insert according to another embodiment of the present invention along the same line as the line II of FIG. 2.
도 4a 및 도 4b를 참조하면, 본 발명의 다른 실시예에 따른 인서트의 래치 개방 장치(1100)의 래치(도 2의 22)를 개방하기 위한 래치 연결부(44)는 테스트 트레이(30)에 장착된 인서트(40)의 상부로 돌출된다.4A and 4B, a
이에, 상기 래치 연결부(44)를 눌러서 상기 래치(도 2의 22)를 개방하는 오프너(420)를 갖는 제1 오픈 플레이트(400)는 상기 테스트 트레이(30)의 상부면과 마주하도록 상기 테스트 트레이(30)의 상부에 배치된다. 이때, 상기 제1 오픈 플레이트(400)는 전자 부품(SD)이 상부로부터 수납되도록 상기 인서트(40)의 전자 부품(SD)이 수납되는 공간을 외부로 노출시키기 위한 개구(460)를 갖는다. Accordingly, the first
제2 오픈 플레이트(500)는 상기 테스트 트레이(30)의 하부면과 마주하도록 상기 테스트 트레이(30)의 하부에 배치된다. 이에, 구동 기구(600)는 상기 제2 오픈 플레이트(500)와 연결되어 상기 제2 오픈 플레이트(500)를 상승 및 하강시킨다. 이와 달리, 상기 구동 기구(600)는 상기 제1 오픈 플레이트(400)와 연결될 수 있다.The second
상기와 같은 래치 개방 장치(1100)를 통해서 상기 인서트(40)의 래치(도 2의 22)를 개방하는 과정을 간단하게 설명하면, 상기 제2 오픈 플레이트(500)가 상기 테스트 트레이(30)와 접촉한 상태에서 상기 테스트 트레이(30)가 상기 제1 오픈 플레이트(400)의 푸셔(410)에 밀착되도록 상기 구동 기구(600)를 통해 상기 제2 오픈 플레이트(500)를 상승시킨다. 이때, 상기 제1 오픈 플레이트(400)의 정렬 돌기(430)가 상기 테스트 트레이(30)의 정렬홈(36)에 삽입되도록 하여 이들을 정렬시킨다. The process of opening the latch (22 of FIG. 2) of the
이어, 상기 래치 연결부(44)가 상기 오프너(420)에 의해 눌려지도록 상기 구동 기구(600)를 통해 상기 제2 오픈 플레이트(500)를 연속적으로 상승시킨다. 이때, 상기 푸셔(410)는 상기 래치 연결부(44)의 눌려짐이 가능하도록 상기 탄성체(450)가 압축되면서 상기 삽입홈(440)으로 삽입된다. Subsequently, the second
이와 같이, 상기 인서트(40)의 래치 연결부(44)가 상부에 위치할 경우에도 상기 제1 오픈 플레이트(400)를 상기 테스트 트레이(30)의 상부로 간단하게 배치시킴으로써, 상기 래치(도 2의 22)를 개방하는 위치가 변경되어도 상기 래치 개방 장치(1100)를 호환하여 사용할 수 있다. 즉, 상기 인서트(40)의 종류에 따라 상기 래치 개방 장치(1100)를 추가로 제작할 필요가 없으므로, 이에 따른 비용도 절감할 수 있다. As such, even when the
앞서 설명한 본 발명의 상세한 설명에서는 본 발명의 바람직한 실시예들을 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자 또는 해당 기술분야에 통상의 지식을 갖는 자라면 후술될 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 기술 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다. While the present invention has been described in connection with what is presently considered to be practical and exemplary embodiments, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed embodiments, but, on the contrary, It will be understood by those skilled in the art that various changes in form and details may be made therein without departing from the spirit and scope of the invention as defined by the appended claims.
SD : 전자 부품 10, 30 : 테스트 트레이
12 : 수납홀 16, 36 : 정렬홈
20, 40 : 인서트 22 : 래치
24, 44 : 래치 연결부 100, 400 : 제1 오픈 플레이트
110, 410 : 푸셔 120, 420 : 오프너
130, 430 : 정렬 돌기 140, 440 : 삽입홈
150, 450 : 탄성체 200, 500 : 제2 오픈 플레이트
210, 460 : 개구 300, 600 : 구동 기구
1000 : 인서트의 래치 개방 장치SD:
12:
20, 40: insert 22: latch
24, 44:
110, 410:
130, 430:
150, 450:
210, 460: opening 300, 600: driving mechanism
1000: latch release device of insert
Claims (5)
상기 테스트 트레이의 상기 일면과 반대되는 타면과 마주하도록 배치된 제2 오픈 플레이트; 및
상기 제1 및 제2 오픈 플레이들 중 어느 하나와 연결되며, 상기 푸셔를 통해 상기 테스트 트레이를 상기 제2 오픈 플레이트에 밀착시킨 상태에서 상기 탄성체가 압축되면서 상기 오프너가 상기 래치를 개방하도록 상기 어느 하나를 구동시키는 구동 기구를 포함하는 인서트의 래치 개방 장치.A pusher disposed to face one surface of a test tray on which a plurality of inserts having a latch for fixing an electronic component is mounted, and pushing the one surface between an elastic body providing elasticity toward the one surface at a portion facing the surface; A first open plate having an opener for opening the latch;
A second open plate disposed to face the other surface opposite to the one surface of the test tray; And
Any one of the first and second open plays, wherein the opener opens the latch while the elastic body is compressed while the test tray is in close contact with the second open plate through the pusher. The latch opening device of the insert comprising a drive mechanism for driving the.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020100092978A KR101585272B1 (en) | 2010-09-27 | 2010-09-27 | Apparatus for opening a latch of insert |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20120031547A true KR20120031547A (en) | 2012-04-04 |
KR101585272B1 KR101585272B1 (en) | 2016-01-13 |
Family
ID=46134957
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020100092978A KR101585272B1 (en) | 2010-09-27 | 2010-09-27 | Apparatus for opening a latch of insert |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR101585272B1 (en) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101469200B1 (en) * | 2013-08-06 | 2014-12-10 | 주식회사 티에프이 | Plate assembly enable to be detachally combined with object and latch open plate assembly using the same |
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KR20180055452A (en) * | 2016-11-17 | 2018-05-25 | 세메스 주식회사 | Apparatus for opening latches of insert assemblies |
KR102209062B1 (en) | 2020-03-03 | 2021-01-28 | 팸텍주식회사 | Latch opening and closing control device of semiconductor device test socket |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100693766B1 (en) | 2005-10-20 | 2007-03-12 | 주식회사 대성엔지니어링 | Test tray and latch open/close system of test tray insert for probing semiconductor device |
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- 2010-09-27 KR KR1020100092978A patent/KR101585272B1/en active IP Right Grant
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KR102209062B1 (en) | 2020-03-03 | 2021-01-28 | 팸텍주식회사 | Latch opening and closing control device of semiconductor device test socket |
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Publication number | Publication date |
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