KR20120031547A - Apparatus for opening a latch of insert - Google Patents

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KR20120031547A
KR20120031547A KR1020100092978A KR20100092978A KR20120031547A KR 20120031547 A KR20120031547 A KR 20120031547A KR 1020100092978 A KR1020100092978 A KR 1020100092978A KR 20100092978 A KR20100092978 A KR 20100092978A KR 20120031547 A KR20120031547 A KR 20120031547A
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Abstract

PURPOSE: A latch opening apparatus of an insert is provided to shorten time to purchase electronic components in the inserts by simplifying configuration for opening a latch and to improve productivity. CONSTITUTION: A latch opening apparatus(1000) of an insert comprises a first open plate(100), a second open plate(200), and a driving mechanism(300). The first open plate is arranged in order to put opposite to one side of a test tray. The first open plate comprises a pusher and an opener. The pusher pushes the one side of the test tray. The opener opens a latch. The second open plate is arranged in order to put opposite to the other side of the test tray. The driving mechanism is connected to one of the first open plate and the second open plate. The driving mechanism compresses an elastic body in a state that the test tray adheres closely to the second open plate by using the pusher.

Description

인서트의 래치 개방 장치{APPARATUS FOR OPENING A LATCH OF INSERT}Latch opening device of insert {APPARATUS FOR OPENING A LATCH OF INSERT}

본 발명은 인서트의 래치 개방 장치에 관한 것으로써, 더욱 상세하게는 테스트 트레이에 장착되어 전자 부품을 수납 고정하는 인서트의 상기 전자 부품을 고정하는 래치를 개방하는 장치에 관한 것이다. The present invention relates to a latch opening device for an insert, and more particularly, to an apparatus for opening a latch for fixing the electronic component of the insert, which is mounted to the test tray and holds and fixes the electronic component.

일반적으로, 전자 부품은 전자 기기에 사용되는 부품을 통칭하며, 일 예로 반도체 칩을 통하여 전기적인 특성을 갖도록 구성된 디램(DRAM), 에스램(SRAM) 등과 같은 부품을 포함할 수 있다. In general, an electronic component generally refers to a component used in an electronic device, and may include, for example, a component such as a DRAM, an SRAM, or the like configured to have electrical characteristics through a semiconductor chip.

이에, 상기 전자 부품은 제조의 완성 단계에서 그 전기적인 특성을 테스트하는 테스트 공정을 거치게 된다. 상기 테스트 공정은 실질적으로 상기 전자 부품을 대상으로 테스트를 수행하는 테스트 장치와 상기 테스트 장치에 상기 전자 부품을 제공하기 위한 테스트 핸들러를 통하여 진행된다.Accordingly, the electronic component is subjected to a test process for testing its electrical characteristics at the completion of manufacturing. The test process proceeds substantially through a test device for performing a test on the electronic component and a test handler for providing the electronic component to the test device.

상기 테스트 핸들러는 테스트 트레이에 다수의 전자 부품들을 수납한 상태로 상기 테스트 장치로 이송한 다음, 상기 테스트 트레이에 수납된 상태 그대로 상기 테스트 장치에 접속시킴으로써, 한번에 많은 개수의 전자 부품들을 동시에 테스트할 수 있도록 한다.The test handler may test a large number of electronic components at the same time by transferring a plurality of electronic components in a test tray to the test apparatus, and then connecting the test apparatus as it is stored in the test tray. Make sure

이때, 상기 테스트 트레이에는 상기 수납한 전자 부품들 각각을 고정하기 위한 래치를 갖는 다수의 인서트들이 장착된다. 이에, 상기 래치는 상기 전자 부품을 수납하고자 할 때 래치 개방 장치를 통해서 상기 전자 부품이 수납되는 공간이 개방되도록 동작한다.At this time, the test tray is equipped with a plurality of inserts having a latch for fixing each of the received electronic components. Thus, when the latch is intended to receive the electronic component, the latch operates to open a space in which the electronic component is received through the latch opening device.

그러나, 상기 래치 개방 장치는 상기 래치를 개방하기 위한 위치를 정렬시키는 동작과 상기 래치를 개방하는 동작을 두 개의 구동 기구들을 통해 두 번의 동작으로 나누어서 진행해야 하므로, 복잡한 구성을 가질 뿐만 아니라 상기 전자 부품들을 상기 인서트들에 수납하는 시간이 증가될 수 있다.However, the latch opening device has to be divided into two operations through two driving mechanisms to align the position for opening the latch and to open the latch, so that the latch opening device has not only a complicated configuration but also the electronic component. The time for storing them in the inserts can be increased.

본 발명의 목적은 구성을 단순화시키면서 전자 부품들을 인서트들에 수납하는 시간을 단축시킬 수 있는 인서트의 래치 개방 장치를 제공하는 것이다. It is an object of the present invention to provide a latch opening device for an insert that can simplify the construction and reduce the time for storing electronic components in the inserts.

상술한 본 발명의 목적을 달성하기 위하여, 일 특징에 따른 인서트의 래치 개방 장치는 제1 오픈 플레이트, 제2 오픈 플레이트 및 구동 기구를 포함한다.In order to achieve the above object of the present invention, the latch opening device of the insert according to one feature comprises a first open plate, a second open plate and a drive mechanism.

상기 제1 오픈 플레이트는 전자 부품을 고정하기 위한 래치를 갖는 다수의 인서트들이 장착된 테스트 트레이의 일면과 마주하도록 배치되며, 상기 일면과 마주하는 부위에 상기 일면을 향해 탄성을 제공하는 탄성체를 사이로 상기 일면을 푸싱하는 푸셔 및 상기 래치를 개방하는 오프너를 갖는다. The first open plate is disposed to face one surface of a test tray equipped with a plurality of inserts having a latch for fixing an electronic component, and the elastic body providing elasticity toward the one surface at a portion facing the one surface. And a pusher for pushing one side and an opener for opening the latch.

상기 제2 오픈 플레이트는 상기 테스트 트레이의 상기 일면과 반대되는 타면과 마주하도록 배치된다. 상기 구동 기구는 상기 제1 및 제2 오픈 플레이들 중 어느 하나와 연결되며, 상기 푸셔를 통해 상기 테스트 트레이를 상기 제2 오픈 플레이트에 밀착시킨 상태에서 상기 탄성체가 압축되면서 상기 오프너가 상기 래치를 개방하도록 상기 어느 하나를 구동시킨다. The second open plate is disposed to face the other surface opposite to the one surface of the test tray. The drive mechanism is connected to any one of the first and second open plays, and the opener opens the latch while the elastic body is compressed while the test tray is in close contact with the second open plate through the pusher. To drive any one of them.

여기서, 상기 제1 오픈 플레이트는 상기 오프너가 상기 래치를 개방하는 위치를 상기 테스트 트레이와 정렬홈과 정렬 돌기의 결합 구조를 다수 가질 수 있다. Here, the first open plate may have a plurality of coupling structures of the test tray, the alignment groove, and the alignment protrusion at positions where the opener opens the latch.

또한, 상기 제1 오픈 플레이트는 상기 탄성체와 상기 푸셔가 삽입되는 삽입홈을 가질 수 있다. In addition, the first open plate may have an insertion groove into which the elastic body and the pusher are inserted.

한편, 상기 제1 오픈 플레이트는 상기 인서트의 상기 전자 부품이 고정되는 공간을 외부로 노출시켜 상기 공간에 상기 전자 부품이 수납되도록 하기 위한 개구를 가질 수 있다. Meanwhile, the first open plate may have an opening for exposing the space where the electronic component of the insert is fixed to the outside to accommodate the electronic component in the space.

또한, 상기 오프너는 상기 인서트들의 래치들을 모두 한번에 개방하도록 상기 래치들 각각과 일대일로 대응되도록 다수 구성될 수 있다. In addition, the opener may be configured in plural to correspond one-to-one with each of the latches to open the latches of the inserts all at once.

이러한 인서트의 래치 개방 장치에 따르면, 제1 오픈 플레이트의 푸셔를 통해 전자 부품을 고정하기 위한 래치를 갖는 다수의 인서트들이 장착된 테스트 트레이를 제2 오픈 플레이트에 밀착시킨 상태에서 상기 제1 오픈 플레이트와 상기 푸셔의 사이에 장착된 탄성체가 압축되면서 상기 제1 오픈 플레이트의 오프너가 상기 래치를 개방하는 일련의 동작을 하나의 구동 기구를 통해 구현함으로써, 상기 래치를 개방하는 구성을 배경 기술보다 단순화시킬 수 있다. 또한, 상기 일련의 동작이 한번에 진행됨으로써, 상기 래치를 개방하는 시간을 단축시켜 생산성 향상을 기대할 수 있다. According to the latch opening device of the insert, the first open plate and the test tray equipped with a plurality of inserts having a latch for fixing the electronic component through the pusher of the first open plate are in close contact with the second open plate. The configuration of opening the latch can be simplified than in the background art by implementing, through one drive mechanism, a series of operations in which the opener of the first open plate opens the latch while the elastic body mounted between the pushers is compressed. have. In addition, since the series of operations are performed at one time, it is possible to shorten the time for opening the latch and improve productivity.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 인서트의 래치 개방 장치를 개략적으로 나타낸 사시도이다.
도 2는 도 1에 도시된 래치 개방 장치의 일부분을 확대한 도면이다.
도 3a 및 도 3b는 도 2의 Ⅰ-Ⅰ`선을 따라 절단하여 상기 래치 개방 장치가 래치를 개방하는 과정을 나타낸 도면들이다.
도 4a 및 도 4b는 본 발명의 다른 실시예에 따른 인서트의 래치 개방 장치를 도 2의 Ⅰ-Ⅰ`선과 동일한 선을 따라 절단하여 래치를 개방하는 과정을 나타낸 도면들이다.
1 is a perspective view schematically showing a latch opening device of an insert according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is an enlarged view of a part of the latch opening device shown in FIG. 1.
3A and 3B are views illustrating a process of opening the latch by the latch opening device by cutting along the line II ′ of FIG. 2.
4A and 4B are views illustrating a process of opening a latch by cutting a latch opening device of an insert according to another embodiment of the present invention along the same line as the line II of FIG. 2.

이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 인서트의 래치 개방 장치에 대해 상세히 설명한다. 본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 형태를 가질 수 있는 바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 본문에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명을 특정한 개시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 각 도면을 설명하면서 유사한 참조부호를 유사한 구성요소에 대해 사용하였다. 첨부된 도면에 있어서, 구조물들의 치수는 본 발명의 명확성을 기하기 위하여 실제보다 확대하여 도시한 것이다.Hereinafter, a latch opening device of an insert according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. As the inventive concept allows for various changes and numerous embodiments, particular embodiments will be illustrated in the drawings and described in detail in the text. However, this is not intended to limit the present invention to the specific disclosed form, it should be understood to include all modifications, equivalents, and substitutes included in the spirit and scope of the present invention. Like reference numerals are used for like elements in describing each drawing. In the accompanying drawings, the dimensions of the structures are shown in an enlarged scale than actual for clarity of the invention.

제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 예를 들어, 본 발명의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소도 제1 구성요소로 명명될 수 있다.The terms first, second, etc. may be used to describe various components, but the components should not be limited by the terms. The terms are used only for the purpose of distinguishing one component from another. For example, without departing from the scope of the present invention, the first component may be referred to as the second component, and similarly, the second component may also be referred to as the first component.

본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서 상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.The terminology used herein is for the purpose of describing particular example embodiments only and is not intended to be limiting of the present invention. Singular expressions include plural expressions unless the context clearly indicates otherwise. In this application, the terms "comprises", "having", and the like are used to specify that a feature, a number, a step, an operation, an element, a part or a combination thereof is described in the specification, But do not preclude the presence or addition of one or more other features, integers, steps, operations, components, parts, or combinations thereof.

한편, 다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가지고 있다. 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥 상 가지는 의미와 일치하는 의미를 가지는 것으로 해석되어야 하며, 본 출원에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.
On the other hand, unless otherwise defined, all terms used herein, including technical or scientific terms, have the same meaning as commonly understood by one of ordinary skill in the art. Terms such as those defined in the commonly used dictionaries should be construed as having meanings consistent with the meanings in the context of the related art and shall not be construed in ideal or excessively formal meanings unless expressly defined in this application. Do not.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 인서트의 래치 개방 장치를 개략적으로 나타낸 사시도이며, 도 2는 도 1에 도시된 래치 개방 장치의 일부분을 확대한 도면이다.1 is a perspective view schematically showing a latch opening device of an insert according to an embodiment of the present invention, Figure 2 is an enlarged view of a portion of the latch opening device shown in FIG.

도 1 및 도 2를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 인서트의 래치 개방 장치(1000)는 제1 오픈 플레이트(100), 제2 오픈 플레이트(200) 및 구동 기구(300)를 포함한다.1 and 2, the latch opening device 1000 of an insert according to an embodiment of the present invention includes a first open plate 100, a second open plate 200, and a driving mechanism 300. .

상기 제1 오픈 플레이트(100)는 테스트 트레이(10)의 하부면과 마주하도록 상기 테스트 트레이(10)의 하부에 배치된다. 상기 테스트 트레이(10)는 테스트 공정에서 전자 부품(SD)을 테스트 장치에 접속시키기 위한 테스트 핸들러의 운반 수단으로 사용된다. 여기서, 상기 전자 부품(SD)은 일 예로, 디램(DRAM), 에스램(SRAM) 등과 같은 메모리 소자를 포함할 수 있다.The first open plate 100 is disposed below the test tray 10 so as to face the bottom surface of the test tray 10. The test tray 10 is used as a transport means of a test handler for connecting the electronic component SD to the test apparatus in a test process. Here, the electronic component SD may include, for example, a memory device such as DRAM, SRAM, or the like.

상기 테스트 트레이(10)에는 상기 전자 부품(SD)이 수납 고정되는 다수의 인서트(20)들이 장착된다. 이에, 상기 테스트 트레이(10)는 상기 인서트(20)들을 수납하는 수납홀(12)들을 가지며, 각 인서트(20)는 상기 전자 부품(SD)을 수납하기 위한 공간을 갖는다. 여기서, 상기 전자 부품(SD)이 수납되는 공간은 상기 전자 부품(SD)의 수납이 실질적으로 가능하도록 상부로 노출된 구조를 가질 수 있다. The test tray 10 is equipped with a plurality of inserts 20 in which the electronic component SD is received and fixed. Thus, the test tray 10 has a receiving hole 12 for receiving the insert 20, each insert 20 has a space for accommodating the electronic component (SD). In this case, the space in which the electronic component SD is accommodated may have a structure exposed upwardly to substantially accommodate the electronic component SD.

또한, 상기 테스트 트레이(10)는 상기 수납홀(12)의 안쪽에 상기 수납된 인서트(20)가 하방으로 빠지지 않도록 단차부(14)를 가질 수 있다. 이에, 상기 인서트(20)의 하단 부위도 상기 단차부(14)에 안착되는 구조를 가질 수 있다. In addition, the test tray 10 may have a stepped portion 14 so that the inserted insert 20 does not fall downward inside the receiving hole 12. Thus, the lower end portion of the insert 20 may also have a structure seated on the step portion (14).

상기 인서트(20)는 상기 전자 부품(SD)이 상기 테스트 트레이(10)가 이송되는 도중에도 떨어지지 않도록 상기 수납된 전자 부품(SD)을 고정하는 래치(22)를 갖는다. 상기 래치(22)는 도 2에서와 같이 수납된 전자 부품(SD)의 대향하는 양 측면들을 밀어서 고정하는 타입으로 이루어질 수도 있고, 상기 수납된 전자 부품(SD)의 상부면을 가압하는 타입으로 이루어질 수도 있다.The insert 20 has a latch 22 that fixes the accommodated electronic component SD so that the electronic component SD does not fall even while the test tray 10 is being transferred. As shown in FIG. 2, the latch 22 may be formed by pushing and fixing opposite sides of the electronic component SD, and pressurizing an upper surface of the electronic component SD. It may be.

상기 제1 오픈 플레이트(100)는 상기 테스트 트레이(10)의 하부면과 마주하는 부위에 푸셔(110) 및 오프너(120)를 갖는다. 상기 푸셔(110)는 상기 테스트 트레이(10)의 수납홀(12)이 형성되지 않는 부위와 마주하도록 형성되고, 상기 오프너(120)는 상기 테스트 트레이(10)의 수납홀(12)에 수납된 인서트(20)와 마주하도록 형성되어 상기 래치(22)를 개방한다. The first open plate 100 has a pusher 110 and an opener 120 at a portion facing the lower surface of the test tray 10. The pusher 110 is formed to face a portion where the storage hole 12 of the test tray 10 is not formed, and the opener 120 is stored in the storage hole 12 of the test tray 10. It is formed to face the insert 20 to open the latch 22.

이때, 상기 제1 오픈 플레이트(100) 및 상기 테스트 트레이(10) 각각은 상기 오프너(120)가 상기 래치(22)를 개방하는 위치를 정렬시키기 위해 정렬 돌기(130) 및 정렬홈(16)을 가질 수 있다. In this case, each of the first open plate 100 and the test tray 10 may use the alignment protrusion 130 and the alignment groove 16 to align the position where the opener 120 opens the latch 22. Can have

상기 정렬 돌기(130) 및 상기 정렬홈(16) 각각은 다른 구성에 간섭되지 않도록 상기 제1 오픈 플레이트(100) 및 상기 테스트 트레이(10)의 에지 부위에 형성될 수 있다. 또한, 상기와 다르게 상기 정렬 돌기(130) 및 상기 정렬홈(16)은 반대로 상기 테스트 트레이(10) 및 상기 제1 오픈 플레이트(100) 각각에 형성될 수 있다. Each of the alignment protrusions 130 and the alignment grooves 16 may be formed at edge portions of the first open plate 100 and the test tray 10 so as not to interfere with other components. In addition, unlike the above, the alignment protrusion 130 and the alignment groove 16 may be formed on the test tray 10 and the first open plate 100, respectively.

상기 제2 오픈 플레이트(200)는 상기 테스트 트레이(10)의 상부면과 마주하도록 상기 테스트 트레이(10)의 상부에 배치된다. 상기 제2 오픈 플레이트(200)는 상기 인서트(20)에 전자 부품(SD)이 수납되도록 상기 전자 부품(SD)이 수납되는 공간이 상부로 노출되도록 하는 개구(210)를 갖는다. The second open plate 200 is disposed on the test tray 10 so as to face the top surface of the test tray 10. The second open plate 200 has an opening 210 to expose a space in which the electronic component SD is accommodated so that the insert 20 is accommodated in the insert 20.

이에, 상기 개구(210)는 상기 인서트(20)들을 일정 개수마다 전체적으로 한번에 노출되도록 형성될 수 있다. 일 예로, 상기 개구(210)는 도 1에서와 같이 가로 방향을 따라 배열된 인서트(20)들이 한번에 노출되도록 형성될 수 있다. Thus, the opening 210 may be formed to expose the inserts 20 at a time as a whole. For example, the opening 210 may be formed such that the inserts 20 arranged in the horizontal direction are exposed at one time as shown in FIG. 1.

상기 구동 기구(300)는 상기 제1 오픈 플레이트(100)의 하부에 연결되어 상기 제1 오픈 플레이트(100)를 상승 및 하강시킨다. 이러한 구동 기구(300)는 에어 또는 오일에 의해서 직선 구동력을 발생시키는 실린더(cylinder)로 이루어질 수 있다. The driving mechanism 300 is connected to the lower portion of the first open plate 100 to raise and lower the first open plate 100. The drive mechanism 300 may be formed of a cylinder that generates a linear driving force by air or oil.

이와 달리, 상기 구동 기구(300)는 회전력을 발생하는 모터(motor)를 주동력으로 하여 직선 구동력으로 전환하는 렉(rack) 기어와 피니언(pinion) 기어의 결합 구조 및 정밀 제어가 가능한 볼 스크류(ball screw) 구조를 포함하여 이루어질 수 있다.On the contrary, the driving mechanism 300 is a ball screw capable of combining the structure of the rack gear and the pinion gear and converting the pinion gear into a linear driving force using the motor generating the rotation force as the main driving force. ball screw) structure may be included.

이하, 상기 제1 오픈 플레이트(100)의 구체적인 구조 및 상기 래치 개방 장치(1000)를 통해서 상기 인서트(20)의 래치(22)를 개방하는 구조에 대해서 도 3a 및 도 3b를 추가적으로 참조하여 보다 상세하게 설명하고자 한다.Hereinafter, a detailed structure of the first open plate 100 and a structure of opening the latch 22 of the insert 20 through the latch opening device 1000 will be described in more detail with reference to FIGS. 3A and 3B. I will explain it.

도 3a 및 도 3b는 도 2의 Ⅰ-Ⅰ`선을 따라 절단하여 상기 래치 개방 장치가 래치를 개방하는 과정을 나타낸 도면들이다.3A and 3B are views illustrating a process of opening the latch by the latch opening device by cutting along the line II ′ of FIG. 2.

도 3a 및 도 3b를 추가적으로 참조하면, 상기 제1 오픈 플레이트(100)는 상기 푸셔(110)가 삽입되면서 그 안쪽에 탄성체(150)가 장착된 삽입홈(140)을 갖는다. 여기서, 상기 탄성체(150)는 상기 테스트 트레이(10)의 하부면을 향하는 탄성을 상기 푸셔(110)에 제공한다. 이러한 탄성체(150)는 일 예로, 압축 스프링(compression spring)으로 이루어질 수 있다.3A and 3B, the first open plate 100 has an insertion groove 140 in which an elastic body 150 is mounted therein while the pusher 110 is inserted therein. Here, the elastic body 150 provides the pusher 110 with elasticity toward the lower surface of the test tray 10. The elastic body 150 may be formed of, for example, a compression spring.

또한, 상기 삽입홈(140)의 입구 부위는 상기 탄성체(150)가 빠지지 않도록 안쪽보다 좁은 폭을 가질 수 있다. 이에, 상기 푸셔(110)는 상기 삽입홈(140)의 안쪽에서 입구 부위에 걸리도록 돌출된 걸림부(112)를 가질 수 있다. In addition, the inlet portion of the insertion groove 140 may have a narrower width than the inner side so that the elastic body 150 does not fall out. Thus, the pusher 110 may have a locking portion 112 protruding to be caught in the inlet portion from the inside of the insertion groove 140.

이로써, 상기 푸셔(110)는 외부로부터 가해지는 힘이 없다면 상기 탄성체(150)의 탄성에 의해 항상 상기 걸림부(112)가 상기 삽입홈(140)의 입구 부위에 걸린 상태를 유지하게 된다.Thus, the pusher 110 maintains a state in which the locking portion 112 is caught by the inlet of the insertion groove 140 by the elasticity of the elastic body 150 when there is no force applied from the outside.

한편, 상기 오프너(120)는 상기 제1 오픈 플레이트(100)로부터 돌출되어 상기 인서트(20)의 하부로부터 상기 래치(22)와 연결되도록 돌출된 래치 연결부(24)를 눌러서 상기 래치(22)를 개방할 수 있다. Meanwhile, the opener 120 protrudes from the first open plate 100 and pushes the latch connection part 24 protruding from the lower portion of the insert 20 to connect with the latch 22. Can open

상기와 같은 래치 개방 장치(1000)를 통해서 상기 인서트(20)의 래치(22)를 개방하는 과정을 간단하게 설명하면, 상기 푸셔(110)가 상기 테스트 트레이(10)와 접촉한 상태에서 상기 테스트 트레이(10)가 상기 제2 오픈 플레이트(200)에 밀착되도록 상기 구동 기구(300)를 통해 상기 제1 오픈 플레이트(100)를 상승시킨다. 이때, 상기 제1 오픈 플레이트(100)의 정렬 돌기(130)가 상기 테스트 트레이(10)의 정렬홈(16)에 삽입되도록 하여 이들을 정렬시킨다. Briefly describing the process of opening the latch 22 of the insert 20 through the latch opening device 1000 as described above, the tester in a state in which the pusher 110 is in contact with the test tray 10. The first open plate 100 is lifted through the driving mechanism 300 such that the tray 10 is in close contact with the second open plate 200. At this time, the alignment protrusion 130 of the first open plate 100 is inserted into the alignment groove 16 of the test tray 10 to align them.

이어, 상기 오프너(120)가 상기 래치 연결부(24)를 누르도록 상기 구동 기구(300)를 통해 상기 제1 오픈 플레이트(100)를 연속적으로 상승시킨다. 이때, 상기 푸셔(110)는 상기 오프너(120)의 누름이 가능하도록 상기 탄성체(150)가 압축되면서 상기 삽입홈(140)으로 삽입된다. Subsequently, the opener 120 continuously raises the first open plate 100 through the driving mechanism 300 so as to press the latch connection portion 24. At this time, the pusher 110 is inserted into the insertion groove 140 while the elastic body 150 is compressed so that the opener 120 can be pressed.

이와 같이, 상기 제1 오픈 플레이트(100)의 푸셔(110)를 통해 상기 테스트 트레이(10)를 제2 오픈 플레이트(200)에 밀착시킨 상태에서 상기 탄성체(150)가 압축되면서 상기 제1 오픈 플레이트(100)의 오프너(120)가 상기 래치(22)를 개방하는 일련의 동작을 하나의 구동 기구(300)를 통해 구현함으로써, 상기 래치(22)를 개방하는 구성을 배경 기술보다 단순화시킬 수 있다. 또한, 상기 일련의 동작이 한번에 진행됨으로써, 상기 래치(22)를 개방하는 시간을 단축시켜 생산성 향상을 기대할 수 있다. As such, the elastic body 150 is compressed while the test tray 10 is in close contact with the second open plate 200 through the pusher 110 of the first open plate 100. By implementing a series of operations by which the opener 120 of 100 opens the latch 22 through one drive mechanism 300, the configuration of opening the latch 22 can be simplified than the background art. . In addition, since the series of operations are performed at one time, it is possible to shorten the time for opening the latch 22 to improve productivity.

한편, 상기 래치 개방 장치(1000)가 상기와 같은 구성을 가지게 될 경우, 상기 제1 오픈 플레이트(100)를 상기 테스트 트레이(10)의 전체 영역에 대응하도록 구성한 다음 상기 오프너(120)를 상기 인서트(20)들 각각의 모든 래치(22)들에 일대일로 대응되도록 구성할 수 있다.On the other hand, when the latch opening device 1000 has the configuration described above, the first open plate 100 is configured to correspond to the entire area of the test tray 10, and then the opener 120 is inserted into the insert. Each latch 22 of each of the 20 may be configured to correspond one-to-one.

이러면, 상기 일련의 동작을 1회 수행하여 모든 래치(22)들을 한번에 개방할 수 있음에 따라, 다수의 전자 부품(SD)들을 상기 인서트(20)들 각각에 수납하는 공정 시간을 더욱 단축하여 효율적인 공정을 수행할 수 있다. In this case, since the latches 22 may be opened at once by performing the series of operations once, the process time for storing the plurality of electronic components SD in each of the inserts 20 may be further shortened. The process can be carried out.

또한, 본 실시예에서는 상기 구동 기구(300)가 상기 제1 오픈 플레이트(100)에 연결된 구조로 설명하였지만, 상기 제2 오픈 플레이트(200)에 연결되어 상기 제2 오픈 플레이트(200)를 상승 및 하강시켜도 동일한 결과를 기대할 수 있다. In addition, in the present embodiment, the driving mechanism 300 has been described as being connected to the first open plate 100, but is connected to the second open plate 200 to raise and lower the second open plate 200. The same result can be expected by lowering.

도 4a 및 도 4b는 본 발명의 다른 실시예에 따른 인서트의 래치 개방 장치를 도 2의 Ⅰ-Ⅰ`선과 동일한 선을 따라 절단하여 래치를 개방하는 과정을 나타낸 도면들이다. 4A and 4B are views illustrating a process of opening a latch by cutting a latch opening device of an insert according to another embodiment of the present invention along the same line as the line II of FIG. 2.

도 4a 및 도 4b를 참조하면, 본 발명의 다른 실시예에 따른 인서트의 래치 개방 장치(1100)의 래치(도 2의 22)를 개방하기 위한 래치 연결부(44)는 테스트 트레이(30)에 장착된 인서트(40)의 상부로 돌출된다.4A and 4B, a latch connection 44 for opening a latch (22 of FIG. 2) of the latch opening device 1100 of the insert according to another embodiment of the present invention is mounted to the test tray 30. The upper part of the insert 40 is protruded.

이에, 상기 래치 연결부(44)를 눌러서 상기 래치(도 2의 22)를 개방하는 오프너(420)를 갖는 제1 오픈 플레이트(400)는 상기 테스트 트레이(30)의 상부면과 마주하도록 상기 테스트 트레이(30)의 상부에 배치된다. 이때, 상기 제1 오픈 플레이트(400)는 전자 부품(SD)이 상부로부터 수납되도록 상기 인서트(40)의 전자 부품(SD)이 수납되는 공간을 외부로 노출시키기 위한 개구(460)를 갖는다. Accordingly, the first open plate 400 having the opener 420 to open the latch (22 of FIG. 2) by pressing the latch connection part 44 may face the upper surface of the test tray 30. It is arranged on top of 30. In this case, the first open plate 400 has an opening 460 for exposing a space in which the electronic component SD of the insert 40 is housed to the outside so that the electronic component SD is received from the top.

제2 오픈 플레이트(500)는 상기 테스트 트레이(30)의 하부면과 마주하도록 상기 테스트 트레이(30)의 하부에 배치된다. 이에, 구동 기구(600)는 상기 제2 오픈 플레이트(500)와 연결되어 상기 제2 오픈 플레이트(500)를 상승 및 하강시킨다. 이와 달리, 상기 구동 기구(600)는 상기 제1 오픈 플레이트(400)와 연결될 수 있다.The second open plate 500 is disposed below the test tray 30 so as to face the bottom surface of the test tray 30. Thus, the driving mechanism 600 is connected to the second open plate 500 to raise and lower the second open plate 500. Alternatively, the driving mechanism 600 may be connected to the first open plate 400.

상기와 같은 래치 개방 장치(1100)를 통해서 상기 인서트(40)의 래치(도 2의 22)를 개방하는 과정을 간단하게 설명하면, 상기 제2 오픈 플레이트(500)가 상기 테스트 트레이(30)와 접촉한 상태에서 상기 테스트 트레이(30)가 상기 제1 오픈 플레이트(400)의 푸셔(410)에 밀착되도록 상기 구동 기구(600)를 통해 상기 제2 오픈 플레이트(500)를 상승시킨다. 이때, 상기 제1 오픈 플레이트(400)의 정렬 돌기(430)가 상기 테스트 트레이(30)의 정렬홈(36)에 삽입되도록 하여 이들을 정렬시킨다. The process of opening the latch (22 of FIG. 2) of the insert 40 through the latch opening device 1100 as described above is briefly described. The second open plate 500 may be connected to the test tray 30. The second open plate 500 is raised through the driving mechanism 600 such that the test tray 30 is in close contact with the pusher 410 of the first open plate 400 in a contact state. At this time, the alignment protrusion 430 of the first open plate 400 is inserted into the alignment groove 36 of the test tray 30 to align them.

이어, 상기 래치 연결부(44)가 상기 오프너(420)에 의해 눌려지도록 상기 구동 기구(600)를 통해 상기 제2 오픈 플레이트(500)를 연속적으로 상승시킨다. 이때, 상기 푸셔(410)는 상기 래치 연결부(44)의 눌려짐이 가능하도록 상기 탄성체(450)가 압축되면서 상기 삽입홈(440)으로 삽입된다. Subsequently, the second open plate 500 is continuously raised through the driving mechanism 600 so that the latch connection portion 44 is pressed by the opener 420. At this time, the pusher 410 is inserted into the insertion groove 440 while the elastic member 450 is compressed so that the latch connection portion 44 can be pressed.

이와 같이, 상기 인서트(40)의 래치 연결부(44)가 상부에 위치할 경우에도 상기 제1 오픈 플레이트(400)를 상기 테스트 트레이(30)의 상부로 간단하게 배치시킴으로써, 상기 래치(도 2의 22)를 개방하는 위치가 변경되어도 상기 래치 개방 장치(1100)를 호환하여 사용할 수 있다. 즉, 상기 인서트(40)의 종류에 따라 상기 래치 개방 장치(1100)를 추가로 제작할 필요가 없으므로, 이에 따른 비용도 절감할 수 있다. As such, even when the latch connection portion 44 of the insert 40 is positioned at the upper portion, the latch (by FIG. 2 of FIG. 2) may be disposed by simply disposing the first open plate 400 at the upper portion of the test tray 30. Even if the position of opening 22 is changed, the latch opening device 1100 can be used interchangeably. That is, since the latch opening device 1100 does not need to be additionally manufactured according to the type of the insert 40, the cost may be reduced accordingly.

앞서 설명한 본 발명의 상세한 설명에서는 본 발명의 바람직한 실시예들을 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자 또는 해당 기술분야에 통상의 지식을 갖는 자라면 후술될 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 기술 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다. While the present invention has been described in connection with what is presently considered to be practical and exemplary embodiments, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed embodiments, but, on the contrary, It will be understood by those skilled in the art that various changes in form and details may be made therein without departing from the spirit and scope of the invention as defined by the appended claims.

SD : 전자 부품 10, 30 : 테스트 트레이
12 : 수납홀 16, 36 : 정렬홈
20, 40 : 인서트 22 : 래치
24, 44 : 래치 연결부 100, 400 : 제1 오픈 플레이트
110, 410 : 푸셔 120, 420 : 오프너
130, 430 : 정렬 돌기 140, 440 : 삽입홈
150, 450 : 탄성체 200, 500 : 제2 오픈 플레이트
210, 460 : 개구 300, 600 : 구동 기구
1000 : 인서트의 래치 개방 장치
SD: electronic components 10, 30: test tray
12: storage hole 16, 36: alignment groove
20, 40: insert 22: latch
24, 44: latch connection portion 100, 400: first open plate
110, 410: pusher 120, 420: opener
130, 430: Alignment projection 140, 440: Insertion groove
150, 450: elastic body 200, 500: second open plate
210, 460: opening 300, 600: driving mechanism
1000: latch release device of insert

Claims (5)

전자 부품을 고정하기 위한 래치를 갖는 다수의 인서트들이 장착된 테스트 트레이의 일면과 마주하도록 배치되며, 상기 일면과 마주하는 부위에 상기 일면을 향해 탄성을 제공하는 탄성체를 사이로 상기 일면을 푸싱하는 푸셔 및 상기 래치를 개방하는 오프너를 갖는 제1 오픈 플레이트;
상기 테스트 트레이의 상기 일면과 반대되는 타면과 마주하도록 배치된 제2 오픈 플레이트; 및
상기 제1 및 제2 오픈 플레이들 중 어느 하나와 연결되며, 상기 푸셔를 통해 상기 테스트 트레이를 상기 제2 오픈 플레이트에 밀착시킨 상태에서 상기 탄성체가 압축되면서 상기 오프너가 상기 래치를 개방하도록 상기 어느 하나를 구동시키는 구동 기구를 포함하는 인서트의 래치 개방 장치.
A pusher disposed to face one surface of a test tray on which a plurality of inserts having a latch for fixing an electronic component is mounted, and pushing the one surface between an elastic body providing elasticity toward the one surface at a portion facing the surface; A first open plate having an opener for opening the latch;
A second open plate disposed to face the other surface opposite to the one surface of the test tray; And
Any one of the first and second open plays, wherein the opener opens the latch while the elastic body is compressed while the test tray is in close contact with the second open plate through the pusher. The latch opening device of the insert comprising a drive mechanism for driving the.
제1항에 있어서, 상기 제1 오픈 플레이트는 상기 오프너가 상기 래치를 개방하는 위치를 정렬시키기 위하여 상기 테스트 트레이와 정렬홈과 정렬 돌기의 결합 구조를 다수 갖는 것을 특징으로 하는 인서트의 래치 개방 장치.The latch opening device of the insert of claim 1, wherein the first open plate has a plurality of coupling structures of the test tray, the alignment groove, and the alignment protrusion to align the position at which the opener opens the latch. 제1항에 있어서, 상기 제1 오픈 플레이트는 상기 탄성체와 상기 푸셔가 삽입되는 삽입홈을 갖는 것을 특징으로 하는 인서트의 래치 개방 장치.The latch opening device of the insert of claim 1, wherein the first open plate has an insertion groove into which the elastic body and the pusher are inserted. 제1항에 있어서, 상기 오프너는 상기 인서트들의 래치들을 모두 한번에 개방하도록 상기 래치들 각각과 일대일로 대응되도록 다수 구성된 것을 특징으로 하는 인서트의 래치 개방 장치.The apparatus of claim 1, wherein the openers are configured to correspond in one-to-one correspondence with each of the latches to open the latches of the inserts all at once. 제1항에 있어서, 상기 제1 오픈 플레이트는 상기 인서트의 상기 전자 부품이 고정되는 공간을 외부로 노출시켜 상기 공간에 상기 전자 부품이 수납되도록 하기 위한 개구를 갖는 것을 특징으로 하는 인서트의 래치 개방 장치.The latch opening device of the insert of claim 1, wherein the first open plate has an opening for exposing a space in which the electronic component of the insert is fixed to the outside to accommodate the electronic component in the space. .
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