KR20110129644A - 액정표시장치의 백라이트 고장 검출회로 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 액정표시장치에 적용된 엘이디 스트링에서 어느 채널의 엘이디가 오픈 또는 쇼트의 고장이 발생되고, 각 채널의 엘이디 구동용 트랜지스터 중에서 어떤 채널의 트랜지스터에 쇼트 고장이 발생되었는지를 검출하는 기술에 관한 것으로, 엘이디 스트링 채널의 엘이디들이 턴온되는 구간에서, 채널정보가 포함된 엘이디 오픈 고장검출신호를 생성하는 엘이디 오픈 검출부; 상기 엘이디 스트링의 각 채널에서 마지막 엘이디의 캐소우드를 통해 출력되는 피드백전압을 쇼트기준전압과 비교하여 그에 따른 엘이디 쇼트 고장검출신호를 생성하여 채널정보와 함께 출력하는 엘이디 쇼트 검출부; 상기 해당 채널의 엘이디들이 턴오프되는 구간에서, 채널정보가 포함된 트랜지스터 쇼트 고장검출신호를 생성하는 트랜지스터 쇼트 검출부;를 포함하는 엘이디 구동제어부를 구비한 것을 특징으로 한다.

Description

액정표시장치의 백라이트 고장 검출회로{FAULT DETECTION CIRCUIT FOR BACKLIGHT OF LIQUID CRYSTALDISPLAY}
본 발명은 액정표시장치의 백라이트에 고장이 발생되는 것을 검출하는 기술에 관한 것으로, 특히 백라이트로 사용되는 엘이디 스트링의 전기적 특성을 분석하여 엘이디와 엘이디 구동용 트랜지스터의 고장을 검출할 수 있도록 한 액정표시장치의 백라이트 고장 검출회로에 관한 것이다.
일반적으로, 액정표시장치는 복수개의 게이트 라인과 데이터 라인이 서로 수직한 방향으로 배열되어 매트릭스 형태의 픽셀영역을 갖는 액정표시패널(이하, "액정패널" 이라 칭함)과, 액정패널에 구동 신호와 데이터 신호를 공급하는 구동회로부와, 액정패널에 광원을 제공하는 백라이트를 구비한다.
그리고, 상기 구동회로부는 액정패널의 각 데이터 라인에 데이터 신호를 공급하는 소스 드라이버와, 액정패널의 각 게이트 라인에 게이트 구동 펄스를 인가하는 게이트 드라이버와, 액정패널의 구동 시스템으로부터 입력되는 디스플레이 데이터와 수직 및 수평동기신호 그리고 클럭신호 등 제어신호를 입력받아 소스 드라이버와 게이트 드라이버가 화면을 재생하기에 적합한 타이밍으로 출력하는 타이밍 콘트롤러 등을 구비한다.
종래의 액정표시장치에서는 주로 냉음극선관(CCFL: Cold Cathode Fluorescent Lamp)의 백라이트가 사용되었으나, 근래들어 백라이트 시장에서 냉음극선관이 엘이디(LED)로 빠르게 대체되고 있는 추세에 있다. 일반적으로, 액정표시장치에 적용되는 엘이디는 스트링(string) 형태로 제작되는데, 그 중에서 고장(예: 애노드와 캐소우드의 쇼트나 오픈)이 발생된 엘이디가 존재하는 경우 화상에 나쁜 영향을 미치므로 이를 검출하여 수리하거나 교체해 주어야 한다.
그런데, 종래의 액정표시장치에 있어서는 백라이트용 엘이디 스트링에서 어느 채널에 존재하는 엘이디가 고장난 것인지 구별해서 검출하지 못하고, 모든 채널의 마지막 엘이디의 캐소우드 단의 출력전압 변화량을 근거로 고장이 발생된 사실만을 검출할 수 있게 되어 있었다. 따라서, 엘이디 고장에 적절히 대응하는데 어려움이 있었다.
따라서, 본 발명의 목적은 액정표시장치에 적용된 엘이디 스트링에서 어느 채널의 엘이디가 오픈 또는 쇼트의 고장이 발생되고, 각 채널의 엘이디 구동용 트랜지스터 중에서 어떤 채널의 트랜지스터에 쇼트 고장이 발생되었는지를 검출할 수 있도록 하는데 있다.
본 발명의 목적들은 앞에서 언급한 목적으로 제한되지 않는다. 본 발명의 다른 목적 및 장점들은 아래 설명에 의해 더욱 분명하게 이해될 것이다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명은,
각 채널마다 직렬접속된 다수의 엘이디를 구비하여 액정패널에 백라이트를 제공하는 엘이디 스트링;
엘이디 구동용 트랜지스터를 이용하여 채널별로 상기 엘이디를 점등시키는 엘이디 구동부;
상기 해당 채널의 엘이디들이 턴온되는 구간에서, 상기 엘이디 구동용 트랜지스터의 출력전압을 오픈기준전압과 비교하여 그에 따른 엘이디 오픈 고장검출신호를 생성한 후, 엘이디 오픈 클럭신호를 근거로 획득한 해당 채널정보를 포함시켜 출력하는 엘이디 오픈 검출부;
상기 엘이디 스트링의 각 채널에서 마지막 엘이디의 캐소우드를 통해 출력되는 피드백전압을 쇼트기준전압과 비교하여 그에 따른 엘이디 쇼트 고장검출신호를 생성한 후, 엘이디 쇼트 클럭신호를 근거로 획득한 해당 채널정보를 포함시켜 출력하는 엘이디 쇼트 검출부;
상기 해당 채널의 엘이디들이 턴오프되는 구간에서, 상기 엘이디 구동용 트랜지스터의 출력전압을 티알쇼트기준전압과 비교하여 그에 따른 트랜지스터 쇼트 고장검출신호를 생성한 후, 트랜지스터 쇼트 클럭신호를 근거로 획득한 해당 채널정보를 포함시켜 출력하는 트랜지스터 쇼트 검출부;
상기 엘이디 오픈 고장검출신호, 엘이디 쇼트 고장검출신호 및, 트랜지스터 쇼트 고장검출신호를 입력받아 기 설정된 시간에 또는 사용자 요구가 있을 때 출력하는 고장검출 제어부;를 포함하여 구성함을 특징으로 한다.
본 발명은 액정표시장치에 적용된 엘이디 스트링에서 어느 채널의 엘이디가 오픈 또는 쇼트의 고장이 발생되고, 각 채널의 엘이디 구동용 트랜지스터 중에서 어떤 채널의 트랜지스터에 쇼트 고장이 발생되었는지 검출하여 사용자에게 알려줌으로써, 사용자가 보다 편리하고 신속하게 고장에 대응할 수 있는 효과가 있다.
도 1은 본 발명에 의한 액정표시장치의 백라이트 고장 검출회로도.
도 2는 엘이디 구동제어부에 대한 상세 블록도.
도 3은 고장검출 제어부에 대한 상세 블록도.
도 4는 입출력포트부의 상세 회로도.
도 5는 엘이디 오픈 검출부의 구현 예시도.
도 6은 엘이디 쇼트 검출부의 구현 예시도.
도 7은 트랜지스터 쇼트 검출부의 구현 예시도.
도 8의 (a)는 트랜지스터의 구동신호에 대한 파형도.
도 8의 (b)는 엘이디 오픈 클럭신호의 파형도.
도 8의 (c)는 트랜지스터 쇼트 클럭신호의 파형도.
도 8의 (d)는 엘이디 오픈 고장검출신호의 파형도.
도 8의 (e)는 트랜지스터 쇼트 클럭신호의 파형도.
도 9는 (a)-(c)는 쇼트인에이블신호의 파형도.
도 9는 (d)-(f)는 쇼트클럭호의 파형도.
도 9의 (g)는 엘이디 쇼트 고장검출신호의 파형도.
이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명하면 다음과 같다.
도 1은 본 발명에 의한 액정표시장치의 백라이트 고장 검출회로도로서 이에 도시한 바와 같이, 엘이디 스트링(110), 엘이디 구동부(120), 엘이디 구동제어부(130)를 구비한다.
엘이디 스트링(110)은 각 채널(CH0~CHn)별로 직렬접속된 다수의 엘이디(LED)를 구비하여 액정패널(도면에 미표시)에 백라이트를 제공한다.
엘이디 구동부(120)는 상기 엘이디 스트링(110)의 각 채널(CH0~CHn)의 마지막 엘이디(LED)의 캐소우드에 콜렉터가 접속되고 베이스측이 엘이디 구동제어부(130)에 각기 접속된 엘이디 구동용 트랜지스터(예, BJT : Bipolar Junction Transisteor)(Q0~Qn)를 구비하여 이들을 통해 상기 엘이디 스트링(110)의 엘이디(LED)를 각 채널별로 구동한다.
엘이디 구동제어부(130)는 상기 엘이디 구동부(120)의 각 트랜지스터(Q0~Qn)의 구동을 제어하고, 이에 의해 상기 상기 엘이디 스트링(110)에서 해당 채널의 엘이디들이 구동된다. 이와 별도로, 상기 엘이디 구동제어부(130)는 클럭신호를 이용하여 상기 엘이디 스트링(110)에서 어느 채널의 엘이디에 오픈 또는 쇼트 고장(애노드와 캐소우드가 오픈되거나 쇼트되는 고장)이 발생되는지 검출함과 아울러, 상기 엘이디 구동부(120)에서 어느 채널의 트랜지스터에 쇼트 고장이 발생되는지 검출한다.
이하, 상기 엘이디 구동제어부(130)의 다양한 실시예에 대하여 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명한다.
도 2는 상기 엘이디 구동제어부(130)에 대한 상세 블록도로서 이에 도시한 바와 같이, 입출력 포트부(210), 엘이디 오픈 검출부(220), 엘이디 쇼트 검출부(230), 트랜지스터 쇼트 검출부(240), 고장검출 제어부(250)를 구비한다.
도 3은 상기 고장검출 제어부(250)에 대한 상세 블록도로서 이에 도시한 바와 같이, 엘이디 오픈 클럭신호 발생기(310), 엘이디 쇼트 클럭신호 발생기(320), 트랜지스터 쇼트 클럭신호 발생기(330), 폴트 데이터 처리기(340)를 구비한다.
엘이디 오픈 클럭신호 발생기(310)는 n 비트의 출력포트(BG[0:n])로 출력되는 신호와 클럭신호(CLOCK)를 근거로 하여 n 비트의 엘이디 오프 클럭신호 (LED_OPEN_CK[0:n])를 발생한다.
엘이디 쇼트 클럭신호 발생기(320)는 상기 n 비트의 출력포트(BG[0:n])로 출력되는 신호와 클럭신호(CLOCK)를 근거로 하여 n 비트의 엘이디 쇼트 클럭신호 (LED_SHORT_CK[0:n])와, 쇼트 인에이블신호(SHORT_EN)를 발생한다.
트랜지스터 쇼트 클럭신호 발생기(330)는 상기 n 비트의 출력포트(BG[0:n])로 출력되는 신호와 클럭신호(CLOCK)를 근거로 하여 n 비트의 트랜지스터 쇼트 클럭신호(TR_SHORT_CK[0:n])를 발생한다.
폴트 데이터 처리기(340)는 상기 엘이디 오픈 검출부(220)에서 출력되는 엘이디 오픈 검출신호(LED_OPEN_FLAG[0:n]), 상기 엘이디 쇼트 검출부(230)에서 출력되는 엘이디 쇼트 검출신호(LED_SHORT_FLAG[0:n]), 트랜지스터 쇼트 검출부(240)에서 출력되는 트랜지스터 쇼트 검출신호(TR_SHORT_FLAG[0:n]) 및 클럭신호(CLOCK)를 근거로 하여 고장신호(ERROR)를 출력한다.
상기 엘이디 구동제어부(130)내의 각부의 작용을 관련 도면을 참조하여 상세히 설명하면 다음과 같다.
도 4는 상기 엘이디 스트링(110)에서 한 채널의 엘이디에 대한 입출력 포트부(210)의 구현예를 나타낸 것이다. 비교기(CP210)는 엘이디 구동용 트랜지스터(Q0)의 에미터에 접속된 입력포트(ES)를 통해 피드백되는 엘이디 구동전압을 펄스폭변조신호(PWM)와 비교하여 그에 따른 구동신호를 출력포트(BG)를 통해 그 트랜지스터(Q0)의 베이스 측으로 출력한다. 상기와 같은 비교기(CP210)는 상기 엘이디 스트링(110)의 채널수 만큼 구비된다.
도 5는 상기 엘이디 오픈 검출부(220)의 구현예를 나타낸 것이다. 백라이트 모듈이 동작하는 동안 엘이디 스트링(110)의 엘이디(LED)들은 온,오프를 반복한다. 그런데, 상기 엘이디 스트링(110)의 각 엘이디(LED)의 오프(OFF) 구간에서 상기 입력포트(ES)에 입력되는 전압의 레벨은 오픈 고장이 발생되었을 때 입력되는 전압의 레벨과 거의 같으므로 그 오프 구간에서는 오픈 고장을 검출할 수 없다.
이를 감안하여, 도 8의 (a)와 같이 상기 출력포트(BG)에 "하이"를 출력하여 해당 채널(CH0)의 엘이디(LED)들이 턴온되는 구간에서 비교기(CP220)는 상기 입력포트(ES)에 입력되는 전압을 오픈기준전압(OPENV)과 비교하여 그에 따른 엘이디 오픈 고장검출신호(LED_OPEN)를 출력한다.
예를 들어, 트랜지스터(Q0)의 콜렉터에 직렬접속된 채널(CH0)의 엘이디(LED)들이 모두 정상인 경우, 온 구간에서 상기 입력포트(ES)에 입력되는 전압은 접지전압의 레벨보다 어느 정도 높게 나타난다. 따라서, 이때 상기 비교기(CP220)는 상기 입력포트(ES)에 입력되는 전압을 오픈기준전압(OPENV)과 비교하여 상기 엘이디 오픈 고장검출신호(LED_OPEN)를 "로우"로 출력한다.
그러나, 상기 트랜지스터(Q0)의 콜렉터에 직렬접속된 채널(CH0)의 엘이디(LED) 중에서 하나 이상이 오픈된 경우, 온 구간에서 상기 입력포트(ES)에 입력되는 전압은 접지전압의 레벨로 유지된다. 이때, 상기 비교기(CP220)는 상기 입력포트(ES)에 입력되는 전압을 오픈기준전압(OPENV)과 비교하여 상기 엘이디 오픈 고장검출신호(LED_OPEN)를 "하이"로 출력한다.
저장 소자(221)는 상기 비교기(CP220)에서 상기와 같이 출력되는 엘이디 오픈 고장검출신호(LED_OPEN)를 상기 고장검출 제어부(250)의 엘이디 오픈 클럭신호 발생기(310)에서 도 8의 (b)와 같이 출력되는 해당 타이밍의 엘이디 오픈 클럭신호(LED_OPEN_CK)를 이용하여 저장한 후 도 8의 (d)와 같은 타이밍으로 상기 폴트 데이터 처리기(340)에 출력한다. 이때, 상기 저장 소자(221)에서 출력되는 엘이디 오픈 고장검출신호(LED_OPEN_FLAG)에는 상기 엘이디 오픈 클럭신호(LED_OPEN_CK)를 근거로 한 채널정보가 포함되어 있다.
상기와 같은 엘이디 오픈 검출부(220)를 상기 엘이디 스트링(110)의 채널수(CH0~CHn) 만큼 구비하고, 상기와 같이 각 채널에 대한 엘이디 오픈 고장을 검출하여 그에 따른 엘이디 오픈 고장검출신호(LED_OPEN_FLAG)를 상기와 같은 타이밍으로 상기 폴트 데이터 처리기(340)에 출력한다.
따라서, 상기 폴트 데이터 처리기(340)는 기 설정된 시간에 자동으로 또는 사용자의 요구가 있을 때, 상기와 같은 과정을 통해 입력받은 상기 채널정보가 포함된 엘이디 오픈 고장검출신호(LED_OPEN_FLAG)를 근거로 엘이디 오픈에 관련된 고장신호(ERROR)를 출력한다. 이에 따라, 사용자는 상기 엘이디 스트링(110)의 각 채널(CH0~CHn)의 엘이디(LED) 중에서 어느 채널의 엘이디(LED)에 오픈 고장이 발생되었는지의 여부를 확인할 수 있게 된다.
도 6은 상기 엘이디 쇼트 검출부(230)의 구현예를 나타낸 것이다. 엘이디구동신호 피드백부(231)는 상기 엘이디 스트링(110)의 각 채널(CH0~CHn)에서 쇼트된 엘이디가 존재하는지 확인하기 위해 각 채널(CH0~CHn)의 마지막 엘이디(LED)의 캐소우드를 통해 출력되는 전압을 피드백시키는 역할을 수행한다.
이를 위해 상기 엘이디 스트링(110)의 각 채널(CH0~CHn)의 마지막 엘이디(LED)의 캐소우드에 각 다이오드(D1~Dn)의 애노드를 접속하고, 이들의 캐소우드를 제너다이오드(ZD)를 통해 베이스측에 전원단자전압(VCC)이 출력되는 트랜지스터(Qa)의 콜렉터에 접속한다. 그리고, 상기 트랜지스터(Qa)의 에미터를 쇼트인에이블신호(SHORT_EN)에 의해 턴온되는 스위치(SW231)를 통해 후술할 비교기(CP230)의 비반전입력단자에 접속하고 그 접속점을 저항(R3b)을 통해 접지단자에 접속한다.
상기 엘이디 쇼트 클럭신호 발생기(320)로부터 스위치(SW231)에 공급되는 쇼트인에이블신호(SHORT_EN)는 도 9의 (a)-(c)에서와 같이 상기 엘이디 스트링(110)의 각 채널(CH0~CHn)의 엘이디들을 구동시키기 위한 구동신호와 동기하여 겹치지 않게 소정의 시차를 두고 공급된다.
비교기(CP230)는 상기와 같이 동작되는 스위치(SW231)를 통해 피드백되는 전압을 쇼트기준전압(SHORTV)과 비교하여 그에 따른 엘이디 쇼트 고장검출신호(LED_SHORT)를 출력한다.
예를 들어, 상기 엘이디 스트링(110)의 각 채널(CH0~CHn)의 엘이디(LED) 중에서 쇼트된 엘이디가 존재하지 않는 경우 상기 엘이디구동신호 피드백부(231)를 통해 상기 비교기(CP230)의 반전입력단자에 입력되는 전압은 비반전입력단자에 공급되는 상기 쇼트기준전압(SHORTV)보다 낮게 된다. 따라서, 이때 상기 비교기((CP230))는 엘이디 쇼트 고장검출신호(LED_SHORT)를 "로우"로 출력한다.
그러나, 상기 엘이디 스트링(110)의 각 채널(CH0~CHn) 중에서 하나 이상의 채널에 쇼트된 엘이디가 존재하는 경우 상기 엘이디구동신호 피드백부(231)를 통해 상기 비교기(CP230)의 반전입력단자에 입력되는 전압 중에서 해당 채널의 전압은 비반전입력단자에 공급되는 상기 쇼트기준전압(SHORTV)보다 높게 된다. 따라서, 이때 상기 비교기(CP230)는 엘이디 쇼트 고장검출신호(LED_SHORT)를 "하이"로 출력한다.
상기 비교기(CP230)에서 출력되는 엘이디 쇼트 고장검출신호(LED_SHORT)는 상기 엘이디 쇼트 클럭신호 발생기(320)에서 출력되는 도 9의 (d)-(f)에서와 같은 n 비트의 엘이디 쇼트 클럭신호(LED_SHORT_CK[0:n])에 의하여 저장소자(232A~232N)에 해당 타이밍으로 순차적으로 저장된다.
상기 저장소자(232A~232N)에서 상기와 같이 저장된 엘이디 쇼트 고장검출신호(LED_SHORT)는 도 9의 (g)와 같은 타이밍으로 상기 고장검출 제어부(250)의 폴트 데이터 처리기(340)에 전달된다. 이때, 상기 저장 소자(232A~232N)에서 출력되는 엘이디 쇼트 고장검출신호(LED_SHORT_FLAG)에는 상기 엘이디 쇼트 클럭신호(LED_SHORT_CK)를 근거로 한 채널정보가 포함되어 있다.
따라서, 상기 폴트 데이터 처리기(340)는 기 설정된 시간에 자동으로 또는 사용자의 요구가 있을 때, 상기와 같은 과정을 통해 입력받은 상기 채널정보가 포함된 엘이디 쇼트 고장검출신호(LED_SHORT_FLAG)를 근거로 엘이디 쇼트에 관련된 고장신호(ERROR)를 출력한다. 이에 따라, 사용자는 상기 엘이디 스트링(110)의 각 채널(CH0~CHn)의 엘이디(LED) 중에서 어느 채널의 엘이디(LED)에 쇼트 고장이 발생되었는지의 여부를 확인할 수 있게 된다.
도 7은 상기 트랜지스터 쇼트 검출부(240)의 구현예를 나타낸 것이다. 상기 설명에서와 같이 백라이트 모듈이 동작하는 동안 엘이디 스트링(110)의 엘이디(LED)들은 온,오프를 반복한다. 그런데, 상기 엘이디 스트링(110)의 각 엘이디(LED)의 온 구간에서 상기 입력포트(ES)에 입력되는 전압의 레벨은 쇼트 고장이 발생되었을 때 입력되는 전압의 레벨과 거의 같으므로 그 온 구간에서는 쇼트 고장을 검출할 수 없다.
이를 감안하여, 상기 출력포트(BG)에 "로우"를 출력하여 해당 채널(CH0)의 엘이디(LED)들이 턴오프되는 구간에서 비교기(CP240)는 상기 입력포트(ES)에 입력되는 전압을 티알쇼트기준전압(TR_SHORTV)과 비교하여 그에 따른 트랜지스터 쇼트 고장검출신호(TR_SHORT)를 출력한다.
예를 들어, 트랜지스터(Q0)가 정상인 경우, 오프 구간에서 상기 입력포트(ES)에 입력되는 전압은 접지전압의 레벨과 유사하게 나타난다. 따라서, 이때 상기 비교기(CP240)는 상기 입력포트(ES)에 입력되는 전압을 티알쇼트기준전압(TR_SHORTV)과 비교하여 상기 트랜지스터 고장검출신호(TR_SHORT)를 "로우"로 출력한다.
그러나, 상기 트랜지스터(Q0)의 콜렉터와 에미터가 쇼트된 경우, 상기 입력포트(ES)에 입력되는 전압은 상기 채널(CH0)의 엘이디(LED) 중에서 마지막 엘이디의 캐소우드의 전압과 유사한 높은 레벨의 전압으로 유지된다. 이때, 상기 비교기(CP240)는 상기 입력포트(ES)에 입력되는 전압을 티알쇼트기준전압(TR_SHORTV)과 비교하여 상기 트랜지스터 고장검출신호(TR_SHORT)를 "하이"로 출력한다.
저장 소자(241)는 상기 비교기(CP240)에서 상기와 같이 출력되는 트랜지스터 고장검출신호(TR_SHORT)를 상기 고장검출 제어부(250)의 트랜지스터 쇼트 클럭신호 발생기(330)에서 도 8의 (c)와 같이 출력되는 해당 타이밍의 트랜지스터 쇼트 클럭신호(TR_SHORT_CK)를 이용하여 저장한 후 도 8의 (e)와 같은 타이밍으로 상기 폴트 데이터 처리기(340)에 출력한다. 상기 저장 소자(241)는 플립플롭이나 래치로 구현할 수 있다.
상기와 같은 트랜지스터 쇼트 검출부(240)를 상기 엘이디 스트링(110)의 채널수(CH0~CHn) 만큼 구비하고, 나머지의 각 트랜지스터(Q1~Qn)에 대해서도 상기와 같이 트랜지스터 쇼트 고장을 검출하여 그에 따른 트랜지스터 쇼트 고장검출신호(TR_SHORT_FLAG)를 상기 폴트 데이터 처리기(340)에 출력한다. 이때, 각 채널에 대응하는 상기 저장 소자(241)에서 출력되는 트랜지스터 쇼트 고장검출신호(TR_SHORT_FLAG)에는 상기 트랜지스터 쇼트 클럭신호(TR_SHORT_CK)를 근거로 한 채널정보가 포함되어 있다.
따라서, 상기 폴트 데이터 처리기(340)는 기 설정된 시간에 자동으로 또는 사용자의 요구가 있을 때, 상기와 같은 과정을 통해 입력받은 상기 채널정보가 포함된 트랜지스터 쇼트 고장검출신호(TR_SHORT_FLAG)를 근거로 하여 트랜지스터 쇼트에 관련된 고장신호(ERROR)를 출력한다. 이에 따라, 사용자는 상기 각 채널의 트랜지스터(Q0~Qn) 중에서 어느 채널의 트랜지스터에 쇼트 고장이 발생되었는지의 여부를 확인할 수 있게 된다.
이상에서 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 상세히 설명하였지만, 본 발명의 권리범위가 이에 한정되는 것이 아니라 다음의 청구범위에서 정의하는 본 발명의 기본 개념을 바탕으로 보다 다양한 실시예로 구현될 수 있으며, 이러한 실시예들 또한 본 발명의 권리범위에 속하는 것이다.
110 : 엘이디 스트링
120 : 엘이디 구동부
130 : 엘이디 구동제어부
210 : 입출력 포트부
220 : 엘이디 오픈 검출부
230 : 엘이디 쇼트 검출부
240 : 트랜지스터 쇼트 검출부
250 : 고장검출 제어부
310 : 엘이디 오픈 클럭신호 발생기
320 : 엘이디 쇼트 클럭신호 발생기
330 : 트랜지스터 쇼트 클럭신호 발생기
340 : 폴트 데이터 처리기

Claims (8)

  1. 각 채널마다 직렬접속된 다수의 엘이디를 구비하여 액정패널에 백라이트를 제공하는 엘이디 스트링;
    엘이디 구동용 트랜지스터를 이용하여 채널별로 상기 엘이디를 점등시키는 엘이디 구동부;를 구비한 액정표시장치의 백라이트 고장 검출회로에 있어서,
    상기 해당 채널의 엘이디들이 턴온되는 구간에서, 상기 엘이디 구동용 트랜지스터의 출력전압을 오픈기준전압과 비교하여 그에 따른 엘이디 오픈 고장검출신호를 생성한 후, 엘이디 오픈 클럭신호를 근거로 획득한 해당 채널정보를 포함시켜 출력하는 상기 채널 개수의 엘이디 오픈 검출부;
    상기 엘이디 스트링의 각 채널에서 마지막 엘이디의 캐소우드를 통해 출력되는 피드백전압을 쇼트기준전압과 비교하여 그에 따른 엘이디 쇼트 고장검출신호를 생성한 후, 엘이디 쇼트 클럭신호를 근거로 획득한 해당 채널정보를 포함시켜 출력하는 엘이디 쇼트 검출부;
    상기 해당 채널의 엘이디들이 턴오프되는 구간에서, 상기 엘이디 구동용 트랜지스터의 출력전압을 티알쇼트기준전압과 비교하여 그에 따른 트랜지스터 쇼트 고장검출신호를 생성한 후, 트랜지스터 쇼트 클럭신호를 근거로 획득한 해당 채널정보를 포함시켜 출력하는 상기 채널 개수의 트랜지스터 쇼트 검출부;
    상기 엘이디 오픈 고장검출신호, 엘이디 쇼트 고장검출신호 및 트랜지스터 쇼트 고장검출신호를 입력받아 기 설정된 시간에 또는 사용자 요구가 있을 때 출력하는 고장검출 제어부;를 포함하는 엘이디 구동제어부를 포함하여 구성한 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 백라이트 고장 검출회로.
  2. 제1항에 있어서, 엘이디 오픈 검출부는
    해당 채널의 엘이디들이 턴온되는 온 구간에서 상기 엘이디 구동용 트랜지스터의 출력전압을 오픈기준전압과 비교하여 그에 따른 엘이디 오픈 고장검출신호를 출력하는 비교기;
    상기 비교기에서 출력되는 엘이디 오픈 고장검출신호를 해당 타이밍의 엘이디 오픈 클럭신호를 이용하여 저장한 후 해당 채널정보와 함께 출력하는 저장소자;를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 백라이트 고장 검출회로.
  3. 제1항에 있어서, 엘이디 쇼트 검출부는
    상기 엘이디 스트링의 각 채널의 마지막 엘이디의 캐소우드를 통해 출력되는 전압을 피드백시키는 엘이디구동신호 피드백부;
    상기 엘이디구동신호 피드백부를 통해 출력되는 피드백 전압을 쇼트기준전압과 비교하여 그에 따른 엘이디 쇼트 고장검출신호를 출력하는 비교기;
    상기 비교기에서 출력되는 각 채널의 엘이디 쇼트 고장검출신호를 n 비트의 엘이디 쇼트 클럭신호를 이용하여 저장한 후 해당 채널정보와 함께 출력하는 상기 채널 개수의 저장소자;를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 백라이트 고장 검출회로.
  4. 제3항에 있어서, 엘이디구동신호 피드백부는 상기 엘이디 스트링의 각 채널의 마지막 엘이디의 캐소우드가 각각의 다이오드를 통해 공통접속된 후 제너다이오드, 트랜지스터 및 쇼트인에이블신호에 의해 턴온되는 스위치를 순차적으로 통해 상기 비교기의 비반전입력단자에 접속되고 그 접속점이 저항을 통해 접지단자에 접속되어 구성된 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 백라이트 고장 검출회로.
  5. 제4항에 있어서, 스위치에 공급되는 쇼트인에이블신호는 상기 각 채널의 엘이디들을 구동시키기 위한 구동신호와 동기하여 겹치지 않게 소정의 시차를 두고 공급되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 백라이트 고장 검출회로.
  6. 제1항에 있어서, 트랜지스터 쇼트 검출부는
    해당 채널의 엘이디들이 턴오프는 구간에서 상기 엘이디 구동용 트랜지스터의 출력전압을 티알쇼트기준전압과 비교하여 그에 따른 트랜지스터 쇼트 고장검출신호를 출력하는 비교기;
    상기 비교기에서 출력되는 트랜지스터 쇼트 고장검출신호를 해당 타이밍의 트랜지스터 쇼트 클럭신호를 이용하여 저장한 후 해당 채널정보와 함께 출력하는 저장소자;를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 백라이트 고장 검출회로.
  7. 제6항에 있어서, 저장소자는 플립플롭이나 래치를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 백라이트 고장 검출회로.
  8. 제1항에 있어서, 고장검출 제어부는
    n 비트의 출력포트로 출력되는 신호와 클럭신호를 근거로 하여 n 비트의 엘이디 오프 클럭신호를 발생하는 엘이디 오픈 클럭신호 발생기;
    상기 n 비트의 출력포트로 출력되는 신호와 상기 클럭신호를 근거로 하여 n 비트의 엘이디 쇼트 클럭신호와 쇼트 인에이블신호를 발생하는 엘이디 쇼트 클럭신호 발생기;
    상기 n 비트의 출력포트로 출력되는 신호와 상기 클럭신호를 근거로 하여 n 비트의 트랜지스터 쇼트 클럭신호를 발생하는 트랜지스터 쇼트 클럭신호 발생기;
    상기 엘이디 오픈 검출신호, 상기 엘이디 쇼트 검출신호, 상기 트랜지스터 쇼트 검출신호 및 상기 클럭신호를 근거로 하여 고장신호를 출력하는 폴트 데이터 처리기;를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 백라이트 고장 검출회로.
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