KR20110105541A - Method for fabricating multiple-scale surface and solid substrate with the multiple-scale surface by the same method - Google Patents
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Abstract
마이크로미터 스케일의 구조물과 나노미터 스케일의 구조물이 혼합된 다중 스케일 표면 가공 방법 및 이 방법에 의해 제조된 다중 스케일 표면을 가지는 고체 기재를 제공한다. 본 발명에 따른 다중 스케일 표면 가공 방법은, 실리콘 웨이퍼를 준비하는 단계와, 실리콘 웨이퍼 위에 마이크로미터 크기의 희생층을 형성하여 실리콘 웨이퍼 표면을 희생층 형성 영역과 그 이외의 노출 영역으로 분리하는 단계와, 보호막 공정과 식각 공정이 주기적으로 반복되는 심도 반응성 이온 식각을 희생층이 제거된 이후까지 진행하여 희생층 형성 영역에 마이크로미터 스케일 구조물을 형성함과 동시에 희생층 형성 영역과 노출 영역 전체에 나노미터 스케일의 나노그라스(nanograss)를 형성하는 단계를 포함한다.Provided are a multi-scale surface processing method in which a micrometer-scale structure and a nanometer-scale structure are mixed, and a solid substrate having a multi-scale surface produced by the method. The multi-scale surface processing method according to the present invention comprises the steps of preparing a silicon wafer, forming a sacrificial layer having a micrometer size on the silicon wafer, and separating the silicon wafer surface into a sacrificial layer forming region and other exposed regions; After the sacrificial layer is removed, the depth-reactive ion etching in which the protective film process and the etching process are periodically repeated is performed to form a micrometer scale structure in the sacrificial layer forming region, and at the same time, the nanometers are formed in the sacrificial layer forming region and the entire exposed region. Forming nanograss on a scale.
Description
본 발명은 다중 스케일 표면 가공 방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 마이크로미터 스케일의 구조물과 나노미터 스케일의 구조물이 혼합된 다중 스케일 표면 가공 방법 및 이 방법에 의해 제조된 다중 스케일 표면을 가지는 고체 기재에 관한 것이다.The present invention relates to a multi-scale surface processing method, and more particularly, to a multi-scale surface processing method in which a micrometer-scale structure and a nanometer-scale structure are mixed, and to a solid substrate having a multi-scale surface manufactured by the method. It is about.
마이크로미터 스케일의 구조물과 나노미터 스케일의 구조물이 융합된 다중 스케일 구조는 자연에서 다양하게 발견되는 프랙탈(fractal)과 유사한 복합 구조로서, 기존의 마이크로미터 스케일 또는 나노미터 스케일의 한 가지 크기를 가지는 구조에 비해 진보된 구조라 할 수 있다.The multi-scale structure, in which micrometer-scale and nanometer-scale structures are fused, is a complex structure similar to fractals found in nature, and has one size of a conventional micrometer scale or nanometer scale. Compared to the advanced structure.
이러한 다중 스케일 구조는 표면적 극대화, 무반사, 및 표면 코팅을 통한 초소수성(super-hydrophobic)/초친수성(super-hydrophilic) 등 다양한 특성을 가진다. 따라서 다중 스케일 구조는 전술한 특성을 이용하여 표면적을 극대화할 수 있는 초소수성/초친수성 표면, 열전달 재료, 높은 전자기파 흡수율을 이용한 고성능 전자기파 측정용 소자, 및 태양 전지 등에 응용될 수 있다.Such multi-scale structures have various properties such as super-hydrophobic / super-hydrophilic surface maximization, antireflection, and surface coating. Therefore, the multi-scale structure can be applied to a superhydrophobic / superhydrophilic surface that can maximize the surface area by using the aforementioned characteristics, a heat transfer material, a high-performance electromagnetic wave measuring device using a high electromagnetic wave absorption rate, and a solar cell.
그러나 이러한 다중 스케일 구조는 제작 자체가 어려울 뿐만 아니라 제조 방법이 매우 복잡하고 원하는 모양과 스케일의 형상을 얻기 어려운 한계가 있다.However, such a multi-scale structure is not only difficult to manufacture itself, but also has a limitation in that the manufacturing method is very complicated and difficult to obtain a desired shape and scale shape.
본 발명은 한 번의 공정으로 마이크로미터 스케일의 구조물과 나노미터 스케일의 구조물이 융합된 다중 스케일 표면을 가공하는 방법 및 이 방법에 의해 가공된 다중 스케일 표면을 가지는 고체 기재를 제공하고자 한다.The present invention seeks to provide a method for processing a multi-scale surface in which a micrometer-scale structure and a nanometer-scale structure are fused in one process and a solid substrate having a multi-scale surface processed by the method.
본 발명의 일 실시예에 따른 다중 스케일 표면 가공 방법은 실리콘 웨이퍼를 준비하는 단계와, 실리콘 웨이퍼 위에 마이크로미터 크기의 희생층을 형성하여 실리콘 웨이퍼 표면을 희생층 형성 영역과 그 이외의 노출 영역으로 분리하는 단계와, 보호막 공정과 식각 공정이 주기적으로 반복되는 심도 반응성 이온 식각을 희생층이 제거된 이후까지 진행하여 희생층 형성 영역에 마이크로미터 스케일 구조물을 형성함과 동시에 희생층 형성 영역과 노출 영역 전체에 나노미터 스케일의 나노그라스(nanograss)를 형성하는 단계를 포함한다.In the multi-scale surface processing method according to an embodiment of the present invention, the step of preparing a silicon wafer, and forming a micrometer-sized sacrificial layer on the silicon wafer to separate the silicon wafer surface into a sacrificial layer forming region and other exposed regions And the depth-reactive ion etching in which the protective film process and the etching process are repeated periodically until after the sacrificial layer is removed to form a micrometer scale structure in the sacrificial layer forming region, and simultaneously the entire sacrificial layer forming region and the exposed region. Forming nanograss at nanometer scale.
희생층은 포토레지스트 물질로 형성되며, 포토리소그래피 공정으로 패터닝 될 수 있다.The sacrificial layer is formed of a photoresist material and can be patterned by a photolithography process.
희생층은 일정한 두께로 형성될 수 있다. 이 경우 마이크로미터 스케일 구조물은 희생층과 같은 평면 형상을 가지면서 일정한 두께로 형성될 수 있다. 나노그라스는 희생층 형성 영역과 노출 영역 각각에서 균일한 밀도와 일정한 높이로 형성될 수 있다.The sacrificial layer may be formed to a certain thickness. In this case, the micrometer scale structure may have a planar shape such as a sacrificial layer and may be formed to have a constant thickness. Nanograss may be formed to have a uniform density and a constant height in each of the sacrificial layer forming region and the exposed region.
나노그라스는 노출 영역보다 희생층 형성 영역에서 높은 밀도와 낮은 높이로 형성될 수 있다. 나노그라스는 심도 반응성 이온 식각이 진행될수록 윗면이 평평한 칵테일 잔 모양에서 윗면이 뾰족한 스파이크 모양으로 변화할 수 있다.Nanograss may be formed at a higher density and lower height in the sacrificial layer forming region than in the exposed region. Nanograss can change from a flat cocktail glass to a sharp spike on top as depth-reactive ion etching proceeds.
다른 한편으로, 희생층은 가운데 부분의 두께가 가장 큰 볼록 렌즈 모양으로 형성될 수 있다. 이 경우 마이크로미터 스케일 구조물은 희생층과 동일한 평면 형상을 가지면서 불균일한 두께로 형성될 수 있다.On the other hand, the sacrificial layer may be formed in the shape of a convex lens having the largest thickness of the center portion. In this case, the micrometer scale structure may have the same planar shape as the sacrificial layer and have a non-uniform thickness.
희생층 형성 영역에서 나노그라스는 심도 반응성 이온 식각이 진행될수록 점차 균일한 밀도로 형성될 수 있다. 나노그라스는 희생층 형성 영역과 노출 영역에서 윗면이 뾰족한 스파이크 모양으로 형성될 수 있다.In the sacrificial layer forming region, the nanograss may be formed to have a uniform density as the depth reactive ion etching proceeds. The nanograss may be formed in a spike shape having a sharp top at the sacrificial layer forming area and the exposed area.
본 발명의 일 실시예에 따른 고체 기재는 전술한 방법으로 제조되며, 마이크로미터 스케일 구조물과 나노그라스가 융합된 다중 스케일 표면을 가진다. 나노그라스는 50nm 내지 1,000nm의 폭과, 1㎛ 내지 100㎛의 높이를 가질 수 있다.The solid substrate according to the embodiment of the present invention is manufactured by the above-described method, and has a multi-scale surface in which a micrometer scale structure and nanograss are fused. The nanograss may have a width of 50 nm to 1,000 nm and a height of 1 μm to 100 μm.
본 발명의 실시예에 따르면, 희생층을 사용함으로써 마이크로미터 스케일 구조물과 나노미터 스케일의 나노그라스가 융합된 다중 스케일 표면을 한 번의 심도 반응성 이온 식각 공정을 통해 쉽고 간단하게 형성할 수 있다. 다중 스케일 표면을 가지는 고체 기재는 초소수성 표면 개발, 대면적의 열전달 표면을 가지는 열전달 재료 개발, 반사율을 최소화한 고성능 전자기파 측정용 소자 개발, 및 태양광선 흡수율을 높인 태양전지 개발 등에 적용될 수 있다.According to an embodiment of the present invention, by using a sacrificial layer, a multi-scale surface in which a micrometer-scale structure and nanometer-scale nanograss are fused may be easily and simply formed through a single depth reactive ion etching process. The solid substrate having a multi-scale surface can be applied to the development of a super hydrophobic surface, a heat transfer material having a large heat transfer surface, the development of a high-performance electromagnetic wave measuring device with minimized reflectance, and the development of a solar cell with high solar absorption.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 다중 스케일 표면 가공 방법을 나타낸 공정도이다.
도 2는 일정 두께의 희생층을 사용하는 경우 다중 스케일 표면 가공 방법을 나타낸 공정도이다.
도 3은 불균일한 두께의 희생층을 사용하는 경우 다중 스케일 표면 가공 방법을 나타낸 공정도이다.
도 4와 도 5는 일정한 두께의 희생층을 사용하여 제작된 나노그라스의 주사전자현미경 사진이다.
도 6과 도 7은 불균일한 두께의 희생층을 사용하여 제작된 다중 스케일 표면의 주사전자현미경 사진이다.
도 8은 특정 알파벳 모양으로 패터닝된 마이크로미터 스케일 구조물을 가지는 다중 스케일 표면을 촬영한 주사전자현미경 사진이다.
도 9는 정사각 모양으로 패터닝된 마이크로미터 스케일 구조물을 가지는 다중 스케일 표면을 촬영한 주사전자현미경 사진이다.
도 10과 도 11은 도 9의 부분 확대 사진이다.
도 12는 원형으로 패터닝된 마이크로미터 스케일 구조물을 가지는 다중 스케일 표면을 촬영한 주사전자현미경 사진이다.1 is a process chart showing a multi-scale surface processing method according to an embodiment of the present invention.
2 is a process chart showing a multi-scale surface processing method when using a sacrificial layer of a predetermined thickness.
3 is a process chart showing a multi-scale surface processing method when using a sacrificial layer of non-uniform thickness.
4 and 5 are scanning electron micrographs of nanograss fabricated using a sacrificial layer of a constant thickness.
6 and 7 are scanning electron micrographs of multi-scale surfaces fabricated using non-uniform thickness sacrificial layers.
8 is a scanning electron micrograph of a multi-scale surface having a micrometer scale structure patterned into a specific alphabet.
9 is a scanning electron micrograph of a multi-scale surface having a micrometer scale structure patterned in a square shape.
10 and 11 are partially enlarged photographs of FIG. 9.
12 is a scanning electron micrograph of a multi-scale surface having a micrometer scale structure patterned in a circle.
이하, 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시예에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings so that those skilled in the art may easily implement the present invention. As those skilled in the art would realize, the described embodiments may be modified in various different ways, all without departing from the spirit or scope of the present invention.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 다중 스케일 표면 가공 방법을 나타낸 공정도이다.1 is a process chart showing a multi-scale surface processing method according to an embodiment of the present invention.
도 1을 참고하면, 본 실시예에 따른 다중 스케일 표면 가공 방법은 실리콘 웨이퍼(10)를 준비하는 단계와, 실리콘 웨이퍼(10) 전체에 희생층(12)을 형성하고 희생층(12)을 마이크로미터 크기로 패터닝하는 단계와, 희생층(12)이 제거된 이후까지 보호막 공정과 식각 공정이 주기적으로 반복되는 심도 반응성 이온 식각(deep reactive ion etching, DRIE)을 진행하여 마이크로미터 스케일 구조물(14)과 나노미터 스케일의 나노그라스(nanograss)(16)를 동시에 형성하는 단계를 포함한다.Referring to FIG. 1, in the multi-scale surface processing method according to the present embodiment, preparing a
본 실시예에서 마이크로미터 스케일은 1㎛ 이상 1,000㎛ 미만의 범위에 속하는 크기를 의미하고, 나노미터 스케일은 1nm 이상 1,000nm 미만의 범위에 속하는 크기를 의미한다. 그리고 다중 스케일 표면은 마이크로미터 스케일의 구조물과 나노미터 스케일의 나노그라스가 융합된 구조를 의미한다.In the present embodiment, the micrometer scale means a size in the range of 1 μm or more and less than 1,000 μm, and the nanometer scale means a size in the range of 1 nm or more and less than 1,000 nm. The multi-scale surface refers to a structure in which a micrometer-scale structure and a nanometer-scale nanograss are fused together.
실리콘 웨이퍼(10)로는 통상의 실리콘 웨이퍼가 모두 적용 가능하며, 특정 종류로 한정되지 않는다.As the silicon wafer 10, all conventional silicon wafers are applicable, and are not limited to a specific kind.
희생층(12)은 포토레지스트 물질로 형성되어 공지의 포토리소그래피 방법으로 패터닝될 수 있다. 희생층(12)은 실리콘 웨이퍼(10) 전체에 도포된 후 마이크로미터 스케일의 폭을 가지도록 패터닝된다. 희생층(12)의 모양은 특정 모양으로 한정되지 않는다.The
희생층(12)은 제조 공정 중에만 사용되는 층으로서 공정 완료 후에는 잔류하지 않는다. 본 실시예에서 희생층(12)은 다음에 이어지는 심도 반응성 이온 식각의 진행을 늦추는 역할을 한다. 즉, 실리콘 웨이퍼(10)는 희생층 형성 영역(A10)과 그 이외의 노출 영역(A20)으로 나뉘어지며, 희생층 형성 영역(A10)의 식각 정도는 노출 영역(A20)의 식각 정도보다 훨씬 느려진다.The
심도 반응성 이온 식각은 보호막(passivation) 공정과 식각(etch) 공정을 반복하여 실리콘 웨이퍼(10)를 큰 깊이까지 안정적으로 식각할 수 있는 공정이다.Depth reactive ion etching is a process capable of stably etching the
보호막 공정에 사용되는 가스는 C4F8 가스일 수 있으며, 이 가스를 이용하여 실리콘 웨이퍼(10) 표면에 보호막(도시하지 않음)을 형성한다. 식각 공정에 사용되는 가스는 SF6/O2 플라즈마 가스일 수 있고, 이 가스를 단방향(실리콘 웨이퍼의 두께 방향)으로 주입하여 보호막과 실리콘 웨이퍼(10)를 식각한다.The gas used in the protective film process may be a C 4 F 8 gas, and the gas is used to form a protective film (not shown) on the surface of the
보호막 공정은 대략 4초간 진행되고, 식각 공정은 대략 6초간 진행될 수 있다. 한 번의 보호막 공정과 한 번의 식각 공정이 하나의 사이클을 이루며, 한 사이클은 대략 10초로 이루어진다. 심도 반응성 이온 식각은 대략 100사이클 내지 300사이클 진행될 수 있다.The passivation process may be performed for about 4 seconds, and the etching process may be performed for about 6 seconds. One passivation process and one etching process constitute one cycle, and one cycle is approximately 10 seconds. Depth-reactive ion etching can proceed approximately 100 to 300 cycles.
심도 반응성 이온 식각 공정에서 희생층 형성 영역(A10)과 노출 영역(A20) 전체에 걸쳐 도트 모양의 셀프-마스크(self-mask)(20)가 형성된다. 이 셀프-마스크(20)에 의해 셀프-마스크(20)로 덮이지 않은 실리콘 웨이퍼(10) 부위가 깊게 식각되면서 뾰족한 나노그라스(nanograss, NG)(16)가 형성된다.In the depth reactive ion etching process, a dot-shaped self-
셀프-마스크(20) 형성과 관련해서는 심도 반응성 이온 식각 공정에서 생성되는 각종 화합물이 실리콘 웨이퍼(10) 표면에 침전하여 셀프-마스크(20)를 형성한다는 이론과, 보호막이 불균일하게 식각되어 남은 잔여물이 셀프-마스크(20)를 형성한다는 이론이 알려져 있다. 공정 조건에 따라 나노그라스(16)는 50nm 내지 1,000nm의 폭과, 수㎛ 내지 수십㎛의 높이, 예를 들어 1㎛ 내지 100㎛의 높이를 가질 수 있다.Regarding the formation of the self-
심도 반응성 이온 식각 공정에서 희생층 형성 영역(A10)은 노출 영역(A20)보다 낮은 비율로 식각되나, 희생층(12)이 완전히 제거된 이후까지 공정 시간을 유지한다. 따라서 희생층 형성 영역(A10)에는 희생층(12)과 같은 패턴을 가지는 마이크로미터 스케일 구조물(14)이 형성되며, 마이크로미터 스케일 구조물(14) 위에 나노그라스(16)가 형성된다.In the depth reactive ion etching process, the sacrificial layer forming region A10 is etched at a lower ratio than the exposed region A20, but the process time is maintained until the
이때, 희생층 형성 영역(A10)과 노출 영역(A20)의 식각 정도 차이에 따라 마이크로미터 스케일 구조물(14) 위의 나노그라스(16)는 노출 영역(A20)에 형성된 나노그라스(16)에 비해 작은 높이를 가진다.In this case, the
이와 같이 본 실시예에 따르면 한 번의 심도 반응성 이온 식각 공정으로 마이크로미터 스케일 구조물(14)과 나노미터 스케일의 나노그라스(16)를 동시에 형성할 수 있으며, 그 결과 쉽고 단순한 방법으로 다중 스케일 표면을 가공할 수 있다. 이는 희생층(12) 형성으로 희생층 형성 영역(A10)과 노출 영역(A20)의 식각 정도에 차이를 두었기 때문에 가능하다.As described above, according to the present embodiment, the
한편, 본 실시예에 따른 다중 스케일 표면은 희생층(12)의 모양과 심도 반응성 이온 식각의 공정 시간에 따라 다양한 형상을 가질 수 있다. 희생층(12)은 일정한 두께로 형성된 경우와, 가운데 부분의 두께가 가장 큰 볼록 렌즈 모양으로 형성된 경우로 나누어 가정할 수 있다.Meanwhile, the multi-scale surface according to the present exemplary embodiment may have various shapes depending on the shape of the
도 2는 일정 두께의 희생층을 사용하는 경우 다중 스케일 표면 가공 방법을 나타낸 공정도이다.2 is a process chart showing a multi-scale surface processing method when using a sacrificial layer of a predetermined thickness.
도 2를 참고하면, 희생층(12)은 스핀 코팅(spin coating)법 등을 이용하여 균일한 두께로 형성될 수 있다. 이 경우, 마이크로미터 스케일 구조물(14)은 일정한 높이를 가지며, 희생층 형성 영역(A10)과 노출 영역(A20) 각각에서 나노그라스(16)는 균일한 밀도와 일정한 높이로 형성된다. 이때 희생층 형성 영역(A10)의 나노그라스(16)는 노출 영역(A20)의 나노그라스(16)보다 높은 밀도를 가질 수 있으며, 식각이 늦게 진행됨에 따라 노출 영역(A20)의 나노그라스(16)보다 낮은 높이를 가질 수 있다.Referring to FIG. 2, the
특히 심도 반응성 이온 식각의 초기 단계에서 나노그라스(16)는 평평한 윗면을 가지는 칵테일 잔 모양을 이루며, 공정 시간이 증가할수록 나노그라스(16)는 평평한 윗면이 사라진 뾰족한 스파이크 모양을 이룬다.In particular, at the initial stage of the depth-reactive ion etching, the
칵테일 잔 모양의 나노그라스(16)는 표면 접착력을 최대로 높일 수 있는 구조로서, 이를 이용하여 초소수성 표면을 개발할 수 있다. 스파이크 모양의 나노그라스(16)는 반사율을 극도로 낮출 수 있는 구조로서, 무반사 구조물 또는 저반사 구조물에 응용할 수 있고, 액체와 닿는 면적을 최소화하여 초소수성 표면을 개발할 수 있다. 또한, 스파이크 모양의 나노그라스(16)는 실리콘 웨이퍼의 표면적을 극대화할 수 있으므로 센서나 전극 캐패시터와 같은 다양한 분야에 응용 가능하다.
도 3은 불균일한 두께의 희생층을 사용하는 경우 다중 스케일 표면 가공 방법을 나타낸 공정도이다.3 is a process chart showing a multi-scale surface processing method when using a sacrificial layer of non-uniform thickness.
도 3을 참고하면, 희생층(12)은 전기 분무 방식 등을 이용하여 가운데 부분의 두께가 가장 큰 볼록 렌즈 모양으로 형성될 수 있다. 이 경우, 마이크로미터 스케일 구조물(14)은 희생층(12) 모양에 대응하여 불균일한 두께의 언덕 모양으로 형성되며, 희생층 형성 영역(A10)의 나노그라스(16)는 불균일한 밀도와 불균일한 높이로 형성된다. 반면 노출 영역(A20)의 나노그라스(16)는 균일한 밀도와 균일한 높이로 형성된다.Referring to FIG. 3, the
공정 시간에 상관없이 희생층 형성 영역(A10)과 노출 영역(A20) 전체에서 나노그라스(16)는 스파이크 모양으로 형성되며, 공정 시간이 증갈수록 희생층 형성 영역(A10)의 나노그라스(16)는 균일한 밀도로 형성된다.Regardless of the process time, the
다음으로, 다중 스케일 표면의 실제 가공예에 대해 설명한다.Next, an example of actual processing of the multi-scale surface will be described.
먼저 4인치 n-타입 일반 실리콘 웨이퍼를 준비하고, 포토레지스트 물질로 희생층을 형성한 다음 이를 마이크로미터 크기로 패터닝하였다. 이후 Surface Technology Systems 사(社)의 유도 플라즈마 멀티플랙스 시스템을 이용하여 심도 반응성 이온 식각을 진행하였다. 다중 스케일 표면 가공을 위한 심도 반응성 이온 식각 조건은 하기 표 1과 같다.First, a 4 inch n-type general silicon wafer was prepared, a sacrificial layer was formed of photoresist material, and then patterned to a micrometer size. Subsequently, depth-reactive ion etching was performed using an induction plasma multiplex system of Surface Technology Systems. Depth reactive ion etching conditions for multi-scale surface processing are shown in Table 1 below.
도 4는 일정한 두께의 희생층을 사용하고 심도 반응성 이온 식각을 400 사이클 진행 후 촬영한 나노그라스의 주사전자현미경 사진이다. 도 4를 참고하면, 평평한 윗면을 가지는 칵테일 잔 모양의 나노그라스가 균일한 밀도와 균일한 높이로 형성된 것을 확인할 수 있다.FIG. 4 is a scanning electron micrograph of nanograss, which is taken after 400 cycles of depth reactive ion etching using a sacrificial layer having a constant thickness. Referring to FIG. 4, it can be seen that the cocktail glass-shaped nanograss having a flat top surface is formed with a uniform density and a uniform height.
도 5는 일정한 두께의 희생층을 사용하고 심도 반응성 이온 식각을 500 사이클 진행 후 촬영한 나노그라스의 주사전자현미경 사진이다. 도 5를 참고하면, 공정 시간이 증가할수록 나노그라스의 평평한 윗면이 식각으로 제거되면서 윗면이 뾰족한 스파이크 모양의 나노그라스가 형성된 것을 확인할 수 있다.FIG. 5 is a scanning electron micrograph of nanograss, which is taken after 500 cycles of depth reactive ion etching using a sacrificial layer having a constant thickness. Referring to FIG. 5, it can be seen that as the process time increases, the flat top surface of the nanograss is removed by etching, so that the top surface has a sharp spike-shaped nanograss.
도 6은 볼록 렌즈 모양의 희생층을 사용하고 심도 반응성 이온 식각을 300 사이클 진행 후 촬영한 다중 스케일 표면의 주사전자현미경 사진이다. 도 6을 참고하면, 사진 가운데의 원형은 마이크로미터 스케일의 구조물을 의미하며, 희생층 형성 영역과 노출 영역 전체에서 불균일한 밀도의 나노그라스가 형성된 것을 확인할 수 있다.FIG. 6 is a scanning electron micrograph of a multi-scale surface taken after using a convex lens-shaped sacrificial layer and performing 300 cycles of depth reactive ion etching. Referring to FIG. 6, the circle in the photograph refers to a structure having a micrometer scale, and it can be seen that nanograss having a non-uniform density is formed in the entire sacrificial layer forming region and the exposed region.
도 7은 볼록 렌즈 모양의 희생층을 사용하고 심도 반응성 이온 식각을 400 사이클 진행 후 촬영한 다중 스케일 표면의 주사전자현미경 사진이다. 도 7을 참고하면, 마이크로미터 스케일 구조물 위에 형성된 나노그라스의 밀도가 도 6과 비교하여 보다 균일해진 것을 확인할 수 있다. 도 6과 도 7에서 나노그라스는 스파이크 형상으로 이루어진다.FIG. 7 is a scanning electron micrograph of a multi-scale surface taken after using a convex lens-shaped sacrificial layer and performing 400 cycles of depth reactive ion etching. Referring to FIG. 7, it can be seen that the density of the nanograss formed on the micrometer scale structure is more uniform than that of FIG. 6. 6 and 7 the nanograss is formed in a spike shape.
도 8 내지 도 12에 다양한 모양으로 패터닝된 다중 스케일 표면을 나타내었다. 도 8은 특정 알파벳 모양으로 패터닝된 마이크로미터 스케일 구조물을 가지는 다중 스케일 표면을 촬영한 주사전자현미경 사진이다. 도 8 (a)사진의 스케일 바는 50㎛를 나타내고, (b)확대 사진의 스케일 바는 5㎛를 나타낸다.8 to 12 show multi-scale surfaces patterned in various shapes. 8 is a scanning electron micrograph of a multi-scale surface having a micrometer scale structure patterned into a specific alphabet. The scale bar of FIG. 8 (a) photograph shows 50 micrometers, and (b) The scale bar of enlarged photograph shows 5 micrometers.
도 9는 정사각 모양으로 패터닝된 마이크로미터 스케일 구조물을 가지는 다중 스케일 표면을 촬영한 주사전자현미경 사진이고, 도 10과 도 11은 도 9의 부분 확대 사진이다. 도 12는 원형으로 패터닝된 마이크로미터 스케일 구조물을 가지는 다중 스케일 표면을 촬영한 주사전자현미경 사진이다.9 is a scanning electron microscope photograph of a multi-scale surface having a micrometer scale structure patterned in a square shape, and FIGS. 10 and 11 are partially enlarged photographs of FIG. 9. 12 is a scanning electron micrograph of a multi-scale surface having a micrometer scale structure patterned in a circle.
희생층의 형상과 두께 및 심도 반응성 이온 식각의 공정 시간 등에 따라 다양한 모양의 마이크로미터 스케일 구조물과 다양한 높이와 밀도를 가지는 나노미터 스케일의 나노그라스를 용이하게 제작할 수 있다.According to the shape and thickness of the sacrificial layer and the processing time of the reactive ion etching, nanoglasses having nanometer scales having various shapes and various heights and densities can be easily manufactured.
본 실시예에 따른 고체 기재는 전술한 방법으로 제작된 다중 스케일 표면을 가진다. 다중 스케일 표면을 가지는 고체 기재는 초소수성 표면 개발, 대면적의 열전달 표면을 가지는 열전달 재료 개발, 반사율을 최소화한 고성능 전자기파 측정용 소자 개발, 및 태양광선 흡수율을 높인 태양전지 개발 등에 적용될 수 있다.The solid substrate according to this embodiment has a multi-scale surface fabricated by the method described above. The solid substrate having a multi-scale surface can be applied to the development of a super hydrophobic surface, a heat transfer material having a large heat transfer surface, the development of a high-performance electromagnetic wave measuring device with minimized reflectance, and the development of a solar cell with high solar absorption.
상기에서는 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 설명하였지만, 본 발명은 이에 한정되는 것이 아니고 특허청구범위와 발명의 상세한 설명 및 첨부한 도면의 범위 안에서 여러 가지로 변형하여 실시하는 것이 가능하고 이 또한 본 발명의 범위에 속하는 것은 당연하다.While the present invention has been described in connection with what is presently considered to be practical exemplary embodiments, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed embodiments, but, on the contrary, Of course.
10: 실리콘 웨이퍼 12: 희생층
14: 마이크로미터 스케일 구조물 16: 나노그라스
20: 셀프-마스크 A10: 희생층 형성 영역
A20: 노출 영역10
14: micrometer scale structure 16: nanograss
20: self-mask A10: sacrificial layer forming area
A20: exposed area
Claims (11)
상기 실리콘 웨이퍼 위에 마이크로미터 크기의 희생층을 형성하여 상기 실리콘 웨이퍼 표면을 희생층 형성 영역과 그 이외의 노출 영역으로 분리하는 단계; 및
보호막 공정과 식각 공정이 주기적으로 반복되는 심도 반응성 이온 식각을 상기 희생층이 제거된 이후까지 진행하여 상기 희생층 형성 영역에 마이크로미터 스케일 구조물을 형성함과 동시에 상기 희생층 형성 영역과 상기 노출 영역 전체에 나노미터 스케일의 나노그라스(nanograss)를 형성하는 단계
를 포함하는 다중 스케일 표면 가공 방법.Preparing a silicon wafer;
Forming a sacrificial layer having a micrometer size on the silicon wafer to separate the silicon wafer surface into a sacrificial layer forming region and other exposed regions; And
Depth-reactive ion etching in which the protective film process and the etching process are repeatedly performed is performed until the sacrificial layer is removed to form a micrometer scale structure in the sacrificial layer forming region, and simultaneously the entire sacrificial layer forming region and the exposed region. Forming nanograss on the nanometer scale
Multi-scale surface processing method comprising a.
상기 희생층은 포토레지스트 물질로 형성되며, 포토리소그래피 공정으로 패터닝되는 다중 스케일 표면 가공 방법.The method of claim 1,
Wherein said sacrificial layer is formed of a photoresist material and patterned by a photolithography process.
상기 희생층은 일정한 두께로 형성되며, 상기 마이크로미터 스케일 구조물은 상기 희생층과 같은 평면 형상을 가지면서 일정한 두께로 형성되는 다중 스케일 표면 가공 방법.The method of claim 1,
The sacrificial layer is formed of a constant thickness, the micrometer scale structure is a multi-scale surface processing method having a planar shape and the same thickness as the sacrificial layer.
상기 나노그라스는 상기 희생층 형성 영역과 상기 노출 영역 각각에서 균일한 밀도와 일정한 높이로 형성되는 다중 스케일 표면 가공 방법.The method of claim 3,
And the nanograss is formed to have a uniform density and a constant height in each of the sacrificial layer forming region and the exposed region.
상기 나노그라스는 상기 노출 영역보다 상기 희생층 형성 영역에서 높은 밀도와 낮은 높이로 형성되는 다중 스케일 표면 가공 방법.The method of claim 4, wherein
Wherein said nanograss is formed at a higher density and lower height in said sacrificial layer forming region than said exposed region.
상기 나노그라스는 상기 심도 반응성 이온 식각이 진행될수록 윗면이 평평한 칵테일 잔 모양에서 윗면이 뾰족한 스파이크 모양으로 변화하는 다중 스케일 표면 가공 방법.The method of claim 4, wherein
The nanograss is a multi-scale surface processing method that changes as the depth of the reactive ion etching proceeds from the flat cocktail glass shape of the top surface to the sharp spike shape of the top surface.
상기 희생층은 가운데 부분의 두께가 가장 큰 볼록 렌즈 모양으로 형성되며, 상기 마이크로미터 스케일 구조물은 상기 희생층과 동일한 평면 형상을 가지면서 불균일한 두께로 형성되는 다중 스케일 표면 가공 방법.The method of claim 1,
The sacrificial layer is formed in the shape of a convex lens having the largest thickness of the center portion, the micrometer scale structure is formed with a non-uniform thickness while having the same planar shape as the sacrificial layer.
상기 희생층 형성 영역에서 상기 나노그라스는 상기 심도 반응성 이온 식각이 진행될수록 점차 균일한 밀도로 형성되는 다중 스케일 표면 가공 방법.The method of claim 7, wherein
In the sacrificial layer forming region, the nanograss is formed with a uniform density gradually as the depth reactive ion etching proceeds.
상기 나노그라스는 상기 희생층 형성 영역과 상기 노출 영역에서 윗면이 뾰족한 스파이크 모양으로 형성되는 다중 스케일 표면 가공 방법.The method of claim 8,
The nanograss is a multi-scale surface processing method wherein the top surface is formed in the shape of a spike spike on the sacrificial layer forming region and the exposed region.
상기 나노그라스는 50nm 내지 1,000nm의 폭과, 1㎛ 내지 100㎛의 높이를 가지는 고체 기재.The method of claim 10,
The nanograss is a solid substrate having a width of 50nm to 1,000nm, and a height of 1㎛ 100㎛.
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KR100933560B1 (en) * | 2007-08-22 | 2009-12-28 | 부산대학교 산학협력단 | How to make patterned silicon nanotips |
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