KR20110080796A - Light emitting diode having electrode pads - Google Patents

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Abstract

PURPOSE: A light emitting diode with electrode pads is provided to distribute an even amount of currents into each area of a light emitting diode. CONSTITUTION: A light emitting structure comprises a first conductive semiconductor layer, an active layer, and a second conductive semiconductor layer. The light emitting structure is located on a substrate. An electrode pad area is isolated from the light emitting structure. The electrode pad area includes the first conductive semiconductor layer and the second conductive semiconductor layer. A first electrode pad(35) is electrically connected to the first conductive semiconductor layer of the light-emitting structure. A second electrode pad(33) is located on the second conductive semiconductor layer of the electrode pad area.

Description

전극패드들을 갖는 발광 다이오드{LIGHT EMITTING DIODE HAVING ELECTRODE PADS}LIGHT EMITTING DIODE HAVING ELECTRODE PADS

본 발명은 발광 다이오드에 관한 것으로, 특히 전극패드들을 갖는 발광 다이오드에 관한 것이다.The present invention relates to a light emitting diode, and more particularly to a light emitting diode having electrode pads.

질화갈륨(GaN) 계열의 발광 다이오드가 개발된 이래, GaN 계열의 LED는 현재 천연색 LED 표시소자, LED 교통 신호기, 백색 LED 등 다양한 응용에 사용되고 있다.Since the development of gallium nitride (GaN) -based light emitting diodes, GaN-based LEDs have been used in various applications such as color LED display devices, LED traffic signals, and white LEDs.

질화갈륨 계열의 발광 다이오드는 일반적으로 사파이어와 같은 기판 상에 에피층들을 성장시키어 형성되며, n형 반도체층, p형 반도체층 및 이들 사이에 개재된 활성층을 포함한다. 한편, 상기 n형 반도체층 상에 N-전극패드가 형성되고, 상기 p형 반도체층 상에 P-전극패드가 형성된다. 상기 발광 다이오드는 상기 전극패드들을 통해 외부 전원에 전기적으로 연결되어 구동된다. 이때, 전류는 P-전극패드에서 상기 반도체층들을 거쳐 N-전극패드로 흐른다.A gallium nitride-based light emitting diode is generally formed by growing epi layers on a substrate such as sapphire, and includes an n-type semiconductor layer, a p-type semiconductor layer, and an active layer interposed therebetween. Meanwhile, an N-electrode pad is formed on the n-type semiconductor layer, and a P-electrode pad is formed on the p-type semiconductor layer. The light emitting diode is electrically connected to and driven by an external power source through the electrode pads. At this time, current flows from the P-electrode pad to the N-electrode pad via the semiconductor layers.

일반적으로 p형 반도체층은 높은 비저항을 가지므로, p형 반도체층 내에서 전류가 고르게 분산되지 못하고, 상기 P-전극패드가 형성된 부분에 전류가 집중되며, 모서리를 통해 전류가 집중적으로 흐르는 문제점이 발생된다. 전류 밀집(current crowding)은 발광영역의 감소로 이어지고, 결과적으로 발광효율을 저하시킨다. 이러한 문제점을 해결하기 위해, p형 반도체층 상에 비저항이 낮은 투명전극층을 형성하여 전류분산을 도모하는 기술이 사용된다. P-전극패드로부터 유입된 전류가 투명전극층에서 분산되어 상기 p형 반도체층으로 유입되기 때문에 발광 다이오드의 발광영역을 넓힐 수 있다.In general, since the p-type semiconductor layer has a high specific resistance, current is not evenly distributed in the p-type semiconductor layer, current is concentrated in a portion where the P-electrode pad is formed, and current flows intensively through a corner. Is generated. Current crowding leads to a reduction of the light emitting area, which in turn lowers the light emitting efficiency. In order to solve this problem, a technique of forming a transparent electrode layer having a low specific resistance on the p-type semiconductor layer to achieve current dispersion is used. Since the current flowing from the P-electrode pad is dispersed in the transparent electrode layer and flows into the p-type semiconductor layer, the light emitting area of the light emitting diode can be widened.

그러나, 투명전극층은 광을 흡수하기 때문에 그 두께가 제한되며, 따라서 전류분산에 한계가 있다. 특히, 고출력을 위해 사용되는 약 1㎟ 이상의 대면적 발광 다이오드에서 투명전극층을 이용한 전류분산은 한계가 있다.However, since the transparent electrode layer absorbs light, its thickness is limited, and thus there is a limit in current dispersion. In particular, current distribution using a transparent electrode layer is limited in a large area light emitting diode of about 1 mm 2 or more used for high power.

한편, 발광 다이오드 내의 전류 분산을 돕기 위해 전극패드들로부터 연장된 연장부들이 사용되고 있다. 예컨대, 미국특허공보 제6,650,018호에는 전극 접촉부들(117, 127), 즉 전극패드들로부터 다수의 연장부들이 서로 반대 방향으로 연장하여 전류 분산을 강화하는 것을 개시하고 있다.On the other hand, extensions extending from the electrode pads are used to help distribute current in the light emitting diode. For example, U. S. Patent No. 6,650, 018 discloses a plurality of extensions from electrode contacts 117, 127, i.e., electrode pads, extending in opposite directions to enhance current dispersion.

이러한 다수의 연장부들을 사용함으로써 발광 다이오드의 넓은 영역에 걸쳐 전류를 분산시킬 수 있으나, 전극패드들이 위치하는 부분에서 여전히 전류가 집중되는 전류 밀집 현상이 나타나고 있다.By using the plurality of extensions, the current can be distributed over a wide area of the light emitting diode, but a current density phenomenon in which current is still concentrated in a portion where the electrode pads are located is shown.

한편, 발광 다이오드의 크기가 대면적화함에 따라 발광 다이오드 내에 결함이 포함될 확률이 증가한다. 예컨대, 실전위(threading dislocation), 핀홀 등의 결함은 전류가 급격히 흐르는 통로를 제공하여 전류 분산을 방해한다.On the other hand, as the size of the light emitting diode becomes larger, the probability that defects are included in the light emitting diode increases. For example, defects such as threading dislocations, pinholes, and the like, provide passages through which current flows rapidly, thereby preventing current dispersion.

미국특허공보제6,650,018호United States Patent Publication No. 6,650,018

본 발명이 해결하려는 과제는 전극패드 근처에서 전류 밀집 현상이 발생되는 것을 방지할 수 있는 발광 다이오드를 제공하는 것이다.An object of the present invention is to provide a light emitting diode that can prevent the current dense phenomenon from occurring near the electrode pad.

본 발명이 해결하려는 다른 과제는 넓은 면적의 발광 다이오드에서 전류를 고르게 분산시킬 수 있는 발광 다이오드를 제공하는 것이다.Another object of the present invention is to provide a light emitting diode that can evenly distribute current in a large area light emitting diode.

상기 과제를 해결하기 위해, 본 발명의 실시예들에 따른 발광 다이오드는, 기판; 상기 기판 상에 위치하고, 제1 도전형 반도체층, 활성층 및 제2 도전형 반도체층을 포함하는 발광 구조체; 상기 발광 구조체로부터 고립되고, 제1 도전형 반도체층, 활성층 및 제2 도전형 반도체층을 포함하는 전극 패드 영역; 상기 발광 구조체의 제1 도전형 반도체층에 전기적으로 접속된 제1 전극 패드; 상기 전극 패드 영역의 상기 제2 도전형 반도체층 상에 위치하는 제2 전극 패드; 및 상기 제2 전극패드에 연결되어 상기 발광 구조체의 제2 도전형 반도체층에 전기적으로 접속된 적어도 하나의 상부 연장부를 포함한다. 상기 제2 전극패드가 위치하는 전극 패드 영역이 상기 발광 구조체로부터 고립되기 때문에, 상기 제2 전극패드 근처에 전류가 밀집되는 것을 방지할 수 있다.In order to solve the above problems, a light emitting diode according to embodiments of the present invention, a substrate; A light emitting structure on the substrate, the light emitting structure comprising a first conductivity type semiconductor layer, an active layer, and a second conductivity type semiconductor layer; An electrode pad region isolated from the light emitting structure and including a first conductivity type semiconductor layer, an active layer, and a second conductivity type semiconductor layer; A first electrode pad electrically connected to the first conductive semiconductor layer of the light emitting structure; A second electrode pad on the second conductive semiconductor layer in the electrode pad region; And at least one upper extension part connected to the second electrode pad and electrically connected to the second conductivity-type semiconductor layer of the light emitting structure. Since the electrode pad region in which the second electrode pad is located is isolated from the light emitting structure, the current can be prevented from being concentrated near the second electrode pad.

한편, 상기 발광 다이오드는 상기 상부 연장부와 상기 제2 전극패드를 연결하는 연결부를 더 포함할 수 있다. 이때, 상기 연결부는 상기 발광 구조체로부터 절연될 수 있다. 예컨대, 상기 연결부와 상기 발광 구조체 사이에 절연층이 개재되어 상기 연결부를 상기 발광 구조체로부터 절연시킬 수 있다.The light emitting diode may further include a connection part connecting the upper extension part and the second electrode pad. In this case, the connection part may be insulated from the light emitting structure. For example, an insulating layer may be interposed between the connection part and the light emitting structure to insulate the connection part from the light emitting structure.

또한, 상기 발광 다이오드는 상기 발광 구조체의 제2 도전형 반도체층을 덮는 절연층을 더 포함할 수 있다. 상기 절연층은 적어도 하나의 개구부를 가지며, 상기 적어도 하나의 상부 연장부는 상기 개구부를 통해 상기 발광 구조체의 제2 도전형 반도체층에 전기적으로 접속될 수 있다.The light emitting diode may further include an insulating layer covering the second conductive semiconductor layer of the light emitting structure. The insulating layer may have at least one opening, and the at least one upper extension may be electrically connected to the second conductive semiconductor layer of the light emitting structure through the opening.

나아가, 상기 발광 다이오드는 상기 발광 구조체의 제2 도전형 반도체층에 오믹콘택하는 투명전극층을 더 포함할 수 있다. 이 경우, 상기 투명전극층이 상기 절연층의 개구부에 의해 노출되고, 상기 적어도 하나의 상부 연장부는 상기 투명전극층에 접속될 수 있다.Furthermore, the light emitting diode may further include a transparent electrode layer that is ohmic contacted with the second conductive semiconductor layer of the light emitting structure. In this case, the transparent electrode layer may be exposed by the opening of the insulating layer, and the at least one upper extension may be connected to the transparent electrode layer.

상기 제1 전극패드는 상기 제2 전극패드에 대향하여 상기 발광 구조체의 제1 도전형 반도체층 상에 위치할 수 있다. 또한, 제1 하부 연장부가 상기 제1 전극패드에서 상기 제2 전극패드를 향해 연장할 수 있다. 상기 제1 하부 연장부는 상기 발광 구조체의 제1 도전형 반도체층에 전기적으로 접속된다. 나아가, 상기 제1 하부 연장부의 단부는 상기 제1 전극패드보다 상기 제2 전극패드에 더 가까울 수 있다.The first electrode pad may be positioned on the first conductive semiconductor layer of the light emitting structure to face the second electrode pad. The first lower extension part may extend from the first electrode pad toward the second electrode pad. The first lower extension part is electrically connected to a first conductivity type semiconductor layer of the light emitting structure. Furthermore, an end portion of the first lower extension portion may be closer to the second electrode pad than the first electrode pad.

또한, 상기 발광 다이오드는 상기 제1 전극패드에서 연장하는 제2 하부 연장부를 더 포함할 수 있는데, 상기 제2 하부 연장부는 상기 기판의 가장자리를 따라 연장한다.In addition, the light emitting diode may further include a second lower extension extending from the first electrode pad, wherein the second lower extension extends along an edge of the substrate.

몇몇 실시예들에 있어서, 상기 발광 구조체의 제2 도전형 반도체층 및 활성층은 적어도 두 개의 발광 영역들을 정의하도록 분할될 수 있다. 상기 적어도 두 개의 발광 영역들 상에 각각 상기 제2 전극 패드에 연결된 상부 연장부가 위치한다. 상기 발광 구조체를 복수개의 발광 영역들로 분할함으로써 특정 위치에 핀홀이나 실전위 등의 결함이 있더라도 이들 결함에 전류가 과도하게 집중되는 것을 방지할 수 있으며, 따라서 넓은 영역에 걸쳐 전류를 고르게 분산시킬 수 있다.In some embodiments, the second conductivity-type semiconductor layer and the active layer of the light emitting structure may be divided to define at least two light emitting regions. Upper extensions connected to the second electrode pads are disposed on the at least two light emitting regions, respectively. By dividing the light emitting structure into a plurality of light emitting regions, even if there are defects such as pinholes or actual potentials in a specific position, it is possible to prevent excessive concentration of currents in these defects, thus distributing the current evenly over a wide area. have.

한편, 상기 발광 구조체의 제1 도전형 반도체층은 상기 적어도 두 개의 발광 영역들에 의해 공유될 수 있다. 나아가, 상기 제1 전극 패드는 상기 제2 전극 패드에 대향하여 상기 발광 구조체의 제1 도전형 반도체층 상에 위치할 수 있다.Meanwhile, the first conductivity type semiconductor layer of the light emitting structure may be shared by the at least two light emitting regions. In addition, the first electrode pad may be positioned on the first conductive semiconductor layer of the light emitting structure to face the second electrode pad.

또한, 상기 제1 전극패드에서 제2 전극패드를 향해 연장하는 제1 하부 연장부는 상기 발광 영역들 사이에 위치할 수 있다. 나아가, 상기 제1 하부 연장부와 상기 상부 연장부들은 서로 평행할 수 있다.The first lower extension part extending from the first electrode pad toward the second electrode pad may be located between the light emitting regions. Furthermore, the first lower extension and the upper extension may be parallel to each other.

몇몇 실시예들에 있어서, 상기 발광 다이오드는 상기 전극패드 영역의 제2 도전형 반도체층과 상기 제2 전극패드 사이에 위치하는 투명전극층 및/또는 절연층을 더 포함할 수 있다.In some embodiments, the light emitting diode may further include a transparent electrode layer and / or an insulating layer positioned between the second conductive semiconductor layer of the electrode pad region and the second electrode pad.

본 발명의 실시예들에 따르면, 발광 구조체로부터 고립된 전극 패드 영역 상에 제2 전극 패드가 위치함으로써 제2 전극 패드 근처에 전류가 집중되는 것을 방지할 수 있다. 또한, 대면적 발광 다이오드의 경우, 핀홀, 실전위 등의 반도체층 내 결함들에 전류가 집중되기 쉬우나, 발광 구조체를 복수개의 발광 영역들로 분할함으로써 발광 다이오드의 각 영역들에 전류를 고르게 분산시킬 수 있다.According to the exemplary embodiments of the present invention, the second electrode pad is positioned on the electrode pad region isolated from the light emitting structure to prevent the current from being concentrated near the second electrode pad. In addition, in the case of a large area light emitting diode, current is easily concentrated on defects in the semiconductor layer such as pinholes and real potentials, but by dividing the light emitting structure into a plurality of light emitting regions, current can be evenly distributed in each region of the light emitting diode. Can be.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 발광 다이오드를 설명하기 위한 평면도이다.
도 2a, 2b 및 2c는 각각 도 1의 절취선 A-A, B-B 및 C-C를 따라 취해진 단면도들이다.
도 3a 내지 3e는 본 발명의 일 실시예에 따른 발광 다이오드를 제조하는 방법을 설명하기 위한 평면도들이다.
도 4는 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 발광 다이오드를 설명하기 위한 평면도이다.
도 5는 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 발광 다이오드를 설명하기 위한 평면도이다.
1 is a plan view illustrating a light emitting diode according to an exemplary embodiment of the present invention.
2A, 2B and 2C are cross-sectional views taken along the cut lines AA, BB and CC of FIG. 1, respectively.
3A to 3E are plan views illustrating a method of manufacturing a light emitting diode according to an embodiment of the present invention.
4 is a plan view illustrating a light emitting diode according to still another embodiment of the present invention.
5 is a plan view illustrating a light emitting diode according to still another embodiment of the present invention.

이하, 첨부한 도면들을 참조하여 본 발명의 실시예들을 상세히 설명하기로 한다. 다음에 소개되는 실시예들은 당업자에게 본 발명의 사상이 충분히 전달될 수 있도록 하기 위해 예로서 제공되는 것이다. 따라서, 본 발명은 이하 설명되는 실시예들에 한정되지 않고 다른 형태로 구체화될 수도 있다. 그리고, 도면들에 있어서, 구성요소의 폭, 길이, 두께 등은 편의를 위하여 과장되어 표현될 수 있다. 명세서 전체에 걸쳐서 동일한 참조번호들은 동일한 구성요소들을 나타낸다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. The following embodiments are provided as examples to ensure that the spirit of the present invention to those skilled in the art will fully convey. Accordingly, the present invention is not limited to the embodiments described below and may be embodied in other forms. And, in the drawings, the width, length, thickness, etc. of the components may be exaggerated for convenience. Like numbers refer to like elements throughout.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 발광 다이오드를 설명하기 위한 평면도이고, 도 2a, 2b 및 2c는 각각 도 1의 절취선 A-A, B-B 및 C-C를 따라 취해진 단면도들이다.1 is a plan view illustrating a light emitting diode according to an exemplary embodiment of the present invention, and FIGS. 2A, 2B, and 2C are cross-sectional views taken along the cutting lines A-A, B-B, and C-C of FIG. 1, respectively.

도 1, 도 2a 내지 2c를 참조하면, 상기 발광 다이오드는 기판(21), 발광 영역들(LE1, LE2)을 포함하는 발광 구조체, 상기 발광 구조체로부터 고립된 전극패드 영역(EP), 제1 전극패드(35), 제2 전극패드(33) 및 상부 연장부들(33a)을 포함한다. 또한, 상기 발광 다이오드는 투명전극층(29), 절연층(31), 연결부들(33b), 제1 하부 연장부(35a) 및 제2 하부 연장부들(35b)을 포함할 수 있다. 나아가, 상기 발광 구조체 및 상기 전극패드 영역(EP)은 각각 제1 도전형 반도체층(23), 활성층(25), 제2 도전형 반도체층(27)을 포함한다.1, 2A to 2C, the light emitting diode includes a substrate 21, a light emitting structure including light emitting regions LE1 and LE2, an electrode pad region EP isolated from the light emitting structure, and a first electrode. And a pad 35, a second electrode pad 33, and upper extensions 33a. In addition, the light emitting diode may include a transparent electrode layer 29, an insulating layer 31, connection parts 33b, a first lower extension part 35a, and a second lower extension part 35b. In addition, the light emitting structure and the electrode pad region EP each include a first conductive semiconductor layer 23, an active layer 25, and a second conductive semiconductor layer 27.

상기 기판(11)은 특별히 한정되는 것은 아니며, 예컨대 사파이어 기판일 수 있다. 상기 발광 구조체 및 전극 패드 영역(EP)이 상기 기판(21) 상에 위치한다.The substrate 11 is not particularly limited and may be, for example, a sapphire substrate. The light emitting structure and the electrode pad region EP are positioned on the substrate 21.

상기 제1 도전형 반도체층(23)이 상기 기판(21) 상에 위치하고, 상기 제1 도전형 반도체층(23) 상에 제2 도전형 반도체층(27)이 위치하고, 제1 도전형 반도체층과 제2 도전형 반도체층 사이에 활성층(25)이 개재된다. 상기 제1 도전형 반도체층(23), 활성층(25) 및 제2 도전형 반도체층(27)은 질화갈륨 계열의 화합물 반도체 물질 즉, (Al, In, Ga)N으로 형성될 수 있다. 상기 활성층(25)은 요구되는 파장의 광, 예컨대 자외선 또는 청색광을 방출하도록 조성 원소 및 조성비가 결정된다.The first conductive semiconductor layer 23 is positioned on the substrate 21, the second conductive semiconductor layer 27 is positioned on the first conductive semiconductor layer 23, and the first conductive semiconductor layer is disposed on the substrate 21. The active layer 25 is interposed between the second conductive semiconductor layer and the second conductive semiconductor layer. The first conductive semiconductor layer 23, the active layer 25, and the second conductive semiconductor layer 27 may be formed of a gallium nitride-based compound semiconductor material, that is, (Al, In, Ga) N. The active layer 25 has a composition element and composition ratio determined so as to emit light of a desired wavelength, such as ultraviolet light or blue light.

상기 제1 도전형 반도체층(23)은 n형 질화물 반도체층이고, 제2 도전형 반도체층(27)은 p형 질화물 반도체층일 수 있으며, 그 반대일 수도 있다.The first conductive semiconductor layer 23 may be an n-type nitride semiconductor layer, and the second conductive semiconductor layer 27 may be a p-type nitride semiconductor layer or vice versa.

상기 제1 도전형 반도체층(23) 및/또는 제2 도전형 반도체층(27)은, 도시한 바와 같이, 단일층으로 형성될 수 있으나, 다층 구조로 형성될 수도 있다. 또한, 활성층(25)은 단일 양자웰 또는 다중 양자웰 구조를 가질 수 있다. 또한, 상기 기판(21)과 제1 도전형 반도체층(23) 사이에 버퍼층(도시하지 않음)이 개재될 수 있다. 상기 반도체층들(23, 25, 27)은 MOCVD 또는 MBE 기술을 사용하여 형성될 수 있다.The first conductive semiconductor layer 23 and / or the second conductive semiconductor layer 27 may be formed as a single layer, as shown, but may be formed in a multilayer structure. In addition, the active layer 25 may have a single quantum well or multiple quantum well structures. In addition, a buffer layer (not shown) may be interposed between the substrate 21 and the first conductivity-type semiconductor layer 23. The semiconductor layers 23, 25, 27 may be formed using MOCVD or MBE technology.

상기 발광 구조체의 제2 도전형 반도체층 및 활성층은 적어도 두 개의 발광 영역들(LE1, LE2)을 정의하도록 분할될 수 있다. 이들 발광 영역들(LE1, LE2)은 대칭 구조를 갖도록 형성될 수 있으며, 이러한 분할 공정은 메사 식각 공정에 의해 수행될 수 있다. 상기 메사 식각 공정에 의해 만입부(30b)가 형성되어 상기 제2 도전형 반도체층(27) 및 상기 활성층(25)이 두개의 영역들로 분할될 수 있다. 또한, 상기 메사 식각 공정에 의해 형성되는 발광 구조체의 측면들은 바람직하게 기판(21) 면에 대해 30~70도 범위 내의 경사각을 가질 수 있다. 또한, 상기 발광 영역들(LE1, LE2)의 제1 도전형 반도체층(23)은 상기 발광 영역들에 의해 공유될 수 있으며, 따라서, 상기 발광 영역들 사이에 제1 도전형 반도체층(23)이 노출된다.The second conductivity-type semiconductor layer and the active layer of the light emitting structure may be divided to define at least two light emitting regions LE1 and LE2. These emission regions LE1 and LE2 may be formed to have a symmetrical structure, and this division process may be performed by a mesa etching process. An indentation 30b may be formed by the mesa etching process so that the second conductivity-type semiconductor layer 27 and the active layer 25 may be divided into two regions. In addition, side surfaces of the light emitting structure formed by the mesa etching process may preferably have an inclination angle within the range of 30 to 70 degrees with respect to the surface of the substrate 21. In addition, the first conductivity-type semiconductor layer 23 of the emission regions LE1 and LE2 may be shared by the emission regions, and thus, the first conductivity-type semiconductor layer 23 is disposed between the emission regions. Is exposed.

나아가, 상기 발광 구조체의 제2 도전형 반도체층(29) 상에 투명전극층(29)이 위치할 수 있다. 상기 투명전극층(29)은 ITO 또는 Ni/Au로 형성될 수 있으며, 제2 도전형 반도체층(29)에 오믹콘택된다.In addition, the transparent electrode layer 29 may be positioned on the second conductive semiconductor layer 29 of the light emitting structure. The transparent electrode layer 29 may be formed of ITO or Ni / Au and is ohmic contacted to the second conductivity-type semiconductor layer 29.

한편, 상기 전극패드 영역(EP)은 상기 발광 구조체로부터 고립된다. 즉, 상기 전극패드 영역의 제1 도전형 반도체층(23), 활성층(25) 및 제2 도전형 반도체층(27)은 상기 발광 구조체의 제1 도전형 반도체층(23), 활성층(25) 및 제2 도전형 반도체층(27)으로부터 이격된다. 따라서, 상기 전극패드 영역(EP)은 상기 발광 구조체로부터 전기적으로 절연된다. 상기 전극패드 영역(EP)은 제1 도전형 반도체층(27) 내에 형성된 트렌치 영역(TI)에 의해 상기 발광 구조체로부터 고립될 수 있다. 한편, 상기 전극패드 영역(EP) 상에 ITO 또는 Ni/Au와 같은 투명전극층(29)이 위치할 수 있다.Meanwhile, the electrode pad region EP is isolated from the light emitting structure. That is, the first conductive semiconductor layer 23, the active layer 25, and the second conductive semiconductor layer 27 in the electrode pad region may be the first conductive semiconductor layer 23 and the active layer 25 of the light emitting structure. And the second conductive semiconductor layer 27. Thus, the electrode pad region EP is electrically insulated from the light emitting structure. The electrode pad region EP may be isolated from the light emitting structure by the trench region TI formed in the first conductivity type semiconductor layer 27. Meanwhile, a transparent electrode layer 29 such as ITO or Ni / Au may be positioned on the electrode pad region EP.

한편, 절연층(31)이 상기 발광 구조체의 제2 도전형 반도체층(27)(또는 상기 투명전극층(29))을 덮을 수 있다. 절연층(31)은 또한 메사 식각에 의해 노출된 제2 도전형 반도체층(29) 및 활성층(25)의 측면을 덮을 수 있다. 나아가, 상기 절연층(31)은 상기 발광 영역들(LE1, LE2) 상의 투명전극층(29)을 노출시키는 개구부들(31a)을 갖는다. 상기 개구부들(31a)에 의해 상기 투명전극층(29)(또는 제2 도전형 반도체층(27))이 노출된다. 또한, 상기 절연층(31)은 상기 전극패드 영역(EP)의 제2 도전형 반도체층(27)(또는 투명전극층(29))을 덮을 수 있으며, 상기 전극패드 영역(EP)의 측면을 덮을 수 있다. 상기 절연층(31)은 활성층(25)에서 생성된 광이 투과할 수 있는 투명한 재료이면 특별히 한정되지 않으며, 예컨대 SiO2로 형성될 수 있다.The insulating layer 31 may cover the second conductive semiconductor layer 27 (or the transparent electrode layer 29) of the light emitting structure. The insulating layer 31 may also cover side surfaces of the second conductive semiconductor layer 29 and the active layer 25 exposed by mesa etching. In addition, the insulating layer 31 has openings 31a exposing the transparent electrode layers 29 on the light emitting regions LE1 and LE2. The transparent electrode layer 29 (or the second conductive semiconductor layer 27) is exposed by the openings 31a. In addition, the insulating layer 31 may cover the second conductive semiconductor layer 27 (or the transparent electrode layer 29) of the electrode pad region EP, and may cover the side surface of the electrode pad region EP. Can be. The insulating layer 31 is not particularly limited as long as it is a transparent material through which light generated by the active layer 25 can pass, and may be formed of, for example, SiO 2 .

한편, 상기 발광 구조체의 노출된 제1 도전형 반도체층(23) 상에 제1 전극패드(35)가 위치할 수 있으며, 상기 전극패드 영역(EP) 상에 제2 전극패드(33)가 위치한다. 상기 제1 전극패드(35)는, 도시한 바와 같이, 상기 제2 전극패드(33)와 대향하여 위치할 수 있다. 상기 제1 및 제2 전극패드들(35, 33)은 와이어를 본딩하기 위한 본딩 패드들로서 와이어를 본딩할 수 있도록 상대적으로 넓은 면적을 갖는다. Meanwhile, a first electrode pad 35 may be positioned on the exposed first conductive semiconductor layer 23 of the light emitting structure, and a second electrode pad 33 is positioned on the electrode pad region EP. do. As illustrated, the first electrode pad 35 may be disposed to face the second electrode pad 33. The first and second electrode pads 35 and 33 have relatively large areas to bond the wires as bonding pads for bonding the wires.

상기 제1 전극패드(35)는 제1 도전형 반도체층(23)에 전기적으로 접속된다. 또한, 제1 하부 연장부(35a)가 상기 제1 전극패드(35)로부터 제2 전극패드(33)를 향해 연장할 수 있다. 상기 제1 하부 연장부(35a)는 상기 발광 구조체의 제1 도전형 반도체층(23) 상에 위치하여 제1 도전형 반도체층(23)에 전기적으로 접속한다. 도시된 바와 같이, 상기 제1 하부 연장부(35a)는 상기 발광 영역들(LE1, LE2) 사이에서 상기 만입부(30b) 내에 위치하며, 그 단부가 상기 제2 전극패드(33)에 가까이 위치할 수 있다. 나아가, 제2 하부 연장부들(35b)이 상기 제1 전극패드(35)로부터 연장할 수 있으며, 이들 제2 하부 연장부들(35b)은 상기 제1 전극패드(35)로부터 기판(21)의 가장자리를 따라 연장할 수 있다.The first electrode pad 35 is electrically connected to the first conductive semiconductor layer 23. In addition, the first lower extension part 35a may extend from the first electrode pad 35 toward the second electrode pad 33. The first lower extension part 35a is positioned on the first conductivity type semiconductor layer 23 of the light emitting structure and electrically connected to the first conductivity type semiconductor layer 23. As shown, the first lower extension part 35a is located in the indentation part 30b between the light emitting regions LE1 and LE2, and an end thereof is located close to the second electrode pad 33. can do. Furthermore, second lower extensions 35b may extend from the first electrode pad 35, and the second lower extensions 35b may extend from the first electrode pad 35 to the edge of the substrate 21. Can extend along.

한편, 상기 전극패드 영역(EP) 상에 제2 전극패드(33)가 위치한다. 상기 제2 전극패드(33)는 제2 도전형 반도체층 상에 위치하며, 투명전극층(29) 및/또는 절연층(31)이 상기 제2 전극패드(33)와 제2 도전형 반도체층(27) 사이에 개재될 수 있다. 절연층(31)이 제2 전극패드(33)와 제2 도전형 반도체층(27)(또는 투명전극층(29)) 사이에 개재된 경우, 제2 전극 패드를 전극패드 영역(EP)으로부터 전기적으로 절연시킬 수 있다.The second electrode pad 33 is positioned on the electrode pad region EP. The second electrode pad 33 is positioned on the second conductive semiconductor layer, and the transparent electrode layer 29 and / or the insulating layer 31 are formed of the second electrode pad 33 and the second conductive semiconductor layer ( 27) may be intervened. When the insulating layer 31 is interposed between the second electrode pad 33 and the second conductive semiconductor layer 27 (or the transparent electrode layer 29), the second electrode pad is electrically connected from the electrode pad region EP. Can be insulated.

한편, 상기 발광 영역들(LE1, LE2) 상에 상부 연장부들(33a)이 위치한다. 상기 상부 연장부들(33a)은 상기 절연층(31)의 개구부들(31a)을 통해 상기 투명전극층(29)(또는 제2 도전형 반도체층(27))에 전기적으로 접속될 수 있다. 상기 개구부들(31a)을 통해 상기 제2 도전형 반도체층(27)이 노출될 수도 있으며, 상기 상부 연장부들(33a)은 상기 제2 도전형 반도체층(27)에 직접 접속될 수도 있다. 상부 연장부들(33a)은 제2 도전형 반도체층(27)에 전류를 고르게 분산시킬 수 있도록 배치되며, 예컨대, 상기 상부 연장부들(33a)은 서로 평행하게 연장할 수 있다. 또한, 상기 상부 연장부들(33a)은 상기 제1 하부 연장부(35a)와 평행할 수 있다. 상기 상부 연장부들(33a)은 각각 연결부들(33b)을 통해 제2 전극패드(33)에 연결될 수 있다. 여기서, 상기 연결부들(33b)은 절연층(31)에 의해 투명전극층(27)(또는 제2 도전형 반도체층(27))으로부터 절연된다. 또한, 상기 연결부들(33a)은 절연층(31)에 의해 발광 구조체의 측면으로부터 절연될 수 있다.Meanwhile, upper extensions 33a are positioned on the emission regions LE1 and LE2. The upper extensions 33a may be electrically connected to the transparent electrode layer 29 (or the second conductive semiconductor layer 27) through the openings 31a of the insulating layer 31. The second conductive semiconductor layer 27 may be exposed through the openings 31a, and the upper extensions 33a may be directly connected to the second conductive semiconductor layer 27. The upper extensions 33a may be disposed to evenly distribute current in the second conductivity type semiconductor layer 27. For example, the upper extensions 33a may extend in parallel to each other. In addition, the upper extensions 33a may be parallel to the first lower extensions 35a. The upper extensions 33a may be connected to the second electrode pads 33 through the connecting portions 33b, respectively. Here, the connection parts 33b are insulated from the transparent electrode layer 27 (or the second conductivity type semiconductor layer 27) by the insulating layer 31. In addition, the connection parts 33a may be insulated from the side surface of the light emitting structure by the insulating layer 31.

상기 전극패드들(33, 35), 상부 연장부들(33a), 연결부들(33b) 및 제1 및 제2 하부 연장부들(35a, 35b)은 동일한 금속 재료, 예컨대 Cr/Au로 동일 공정을 이용하여 함께 형성될 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다. 예컨대, 상부 연장부들(33a)과 상기 제2 전극패드(33)를 별개의 공정으로 형성할 수도 있으며, 서로 다른 재료로 형성할 수도 있다.The electrode pads 33 and 35, the upper extensions 33a, the connecting portions 33b and the first and second lower extensions 35a and 35b use the same process with the same metal material, for example, Cr / Au. It may be formed together, but is not limited thereto. For example, the upper extensions 33a and the second electrode pad 33 may be formed by separate processes, or may be formed of different materials.

본 실시예에 있어서, 상기 발광 다이오드는 제1 전극패드(35)와 제2 전극패드(33)를 가로지르는 선, 예컨대 도 1의 절취선 B-B에 대해 대칭구조를 가질 수 있다. 상기 투명전극층(29), 상기 상부 연장부들(33a)이 서로 대칭으로 배치될 수 있으며, 상기 제2 하부 연장부들(35b)이 서로 대칭으로 배치될 수 있다. 이에 따라, 상기 발광 다이오드는 상기 만입부(30b)의 양측에서 동일한 발광 특성을 나타낼 수 있다. 따라서, 발광 영역들이 두개의 영역들로 분할됨으로써 핀홀이나 실전위와 같은 결함에 전류가 집중되는 것을 완화하여 전류를 분산시킬 수 있다.In the present embodiment, the light emitting diode may have a symmetrical structure with respect to a line crossing the first electrode pad 35 and the second electrode pad 33, for example, the cutting line B-B of FIG. 1. The transparent electrode layer 29 and the upper extensions 33a may be symmetrically disposed with each other, and the second lower extensions 35b may be symmetrically disposed with each other. Accordingly, the light emitting diode may exhibit the same light emission characteristics at both sides of the indentation portion 30b. Thus, by dividing the light emitting regions into two regions, current can be dispersed by reducing current concentration in defects such as pinholes or real potentials.

본 실시예에 있어서, 제1 전극패드(35)가 제1 도전형 반도체층(23) 상에 위치하는 것으로 설명하였지만, 상기 기판(21)이 도전성인 경우, 상기 제1 전극패드(35)는 기판(21)의 바닥면 또는 기판(21) 상에 위치할 수도 있다. 이 경우, 상기 제2 전극패드(33)는 절연층(31)에 의해 상기 전극패드 영역(EP)으로부터 절연된다.In the present embodiment, it has been described that the first electrode pad 35 is positioned on the first conductive semiconductor layer 23. However, when the substrate 21 is conductive, the first electrode pad 35 is It may be located on the bottom surface of the substrate 21 or on the substrate 21. In this case, the second electrode pad 33 is insulated from the electrode pad region EP by the insulating layer 31.

도 3a 내지 도 3e는 본 발명의 일 실시예에 따른 발광 다이오드를 제조하는 방법을 설명하기 위한 평면도들이다. 반도체층들(23, 25, 27), 투명전극층(29) 및 절연층(31)의 형성 방법은 일반적으로 잘 알려져 있으므로 구체적인 설명은 생략한다.3A to 3E are plan views illustrating a method of manufacturing a light emitting diode according to an embodiment of the present invention. Since the method of forming the semiconductor layers 23, 25, 27, the transparent electrode layer 29, and the insulating layer 31 is generally well known, a detailed description thereof will be omitted.

우선, 도 3a를 참조하면, 기판(21) 상에 제1 도전형 반도체층(23), 활성층(25) 및 제2 도전형 반도체층(27)을 포함하는 반도체층들이 형성된다. 이어서, 상기 반도체층들을 메사 식각하여 제1 도전형 반도체층(23)을 노출시킨다. 상기 반도체층들은 예컨대 30 내지 70도의 경사각으로 경사지게 형성될 수 있다. 이때, 도 1에 도시된 바와 같은 제1 전극패드(35)가 형성될 영역(30a), 제1 하부 연장부(35a)가 형성될 영역(30b) 및 제2 하부 연장부들(35b)이 형성될 영역(30c)의 제1 도전형 반도체층(23)이 노출된다. 상기 제1 하부 연장부(35a)가 형성될 영역(30b)이 상기 발광 다이오드의 내측으로 침입하는 만입부(30b)가 된다. 상기 만입부(30b)는 상기 제1 전극 패드가 형성될 영역(30a)으로부터 내측으로 침입한다. 한편, 상기 메사식각 공정에 의해 전극패드 영역(EP) 주위의 제1 도전형 반도체층(23)이 노출되며, 전극패드 영역(EP)의 제2 도전형 반도체층 및 활성층은 식각되지 않고 남겨진다. 이에 따라, 상기 메사 식각 공정에 의해 제2 도전형 반도체층(27) 및 활성층(23)이 두개의 발광 영역들(LE1, LE2)을 정의하도록 분할되며, 전극패드 영역(EP)이 정의된다.First, referring to FIG. 3A, semiconductor layers including the first conductive semiconductor layer 23, the active layer 25, and the second conductive semiconductor layer 27 are formed on the substrate 21. Subsequently, the semiconductor layers are mesa-etched to expose the first conductive semiconductor layer 23. The semiconductor layers may be formed to be inclined at an inclination angle of 30 to 70 degrees, for example. At this time, the region 30a in which the first electrode pad 35 is to be formed, the region 30b in which the first lower extension 35a is to be formed, and the second lower extension 35b are formed in FIG. 1. The first conductive semiconductor layer 23 in the region 30c to be exposed is exposed. An area 30b in which the first lower extension part 35a is to be formed becomes an indentation part 30b that penetrates into the light emitting diode. The indentation portion 30b penetrates inwardly from the region 30a in which the first electrode pad is to be formed. Meanwhile, the first conductive semiconductor layer 23 around the electrode pad region EP is exposed by the mesa etching process, and the second conductive semiconductor layer and the active layer of the electrode pad region EP are left without being etched. . Accordingly, the second conductive semiconductor layer 27 and the active layer 23 are divided to define two light emitting regions LE1 and LE2 by the mesa etching process, and the electrode pad region EP is defined.

도 3b를 참조하면, 상기 전극패드 영역(EP) 주위를 따라 제1 도전형 반도체층(23)을 식각하여 트렌치(TI)를 형성한다. 상기 트렌치(TI)에 의해 상기 전극패드 영역(EP)이 발광 영역들(LE1, LE2)을 포함하는 발광 구조체의 제1 도전형 반도체층(23)으로부터 아일랜드 형태로 고립된다. Referring to FIG. 3B, the trench TI is formed by etching the first conductive semiconductor layer 23 around the electrode pad region EP. The electrode pad region EP is isolated from the first conductivity type semiconductor layer 23 of the light emitting structure including the light emitting regions LE1 and LE2 by the trench TI in an island shape.

도 3c를 참조하면, 상기 발광 영역들(LE1, LE2)의 제2 도전형 반도체층(27) 상에 투명전극층(29)이 형성될 수 있다. 투명전극층(29)은 상기 전극패드 영역(EP) 상에도 형성될 수 있다. 상기 투명전극층(29)은 상기 만입부(30b)를 지나는 선에 대해 대칭구조를 갖도록 형성될 수 있다. 투명전극층(29)은 ITO 또는 Ni/Au로 형성될 수 있으며, 제2 도전형 반도체층(27)에 오믹콘택된다.Referring to FIG. 3C, a transparent electrode layer 29 may be formed on the second conductive semiconductor layer 27 of the emission regions LE1 and LE2. The transparent electrode layer 29 may also be formed on the electrode pad region EP. The transparent electrode layer 29 may be formed to have a symmetrical structure with respect to the line passing through the indentation part 30b. The transparent electrode layer 29 may be formed of ITO or Ni / Au, and is ohmic contacted to the second conductive semiconductor layer 27.

도 3d를 참조하면, 상기 발광 구조체 상에 절연층(31)이 형성된다. 상기 절연층(31)은 발광 구조체의 투명전극층(29)을 덮으며, 또한, 상기 전극패드 영역(EP) 상의 투명 전극층(29)을 덮을 수 있다. 상기 절연층(31)은 또한 메사식각에 의해 노출된 제2 도전형 반도체층(27) 및 활성층(23)의 측면들을 덮을 수 있다. 한편, 상기 절연층(31)은 사진 및 식각 공정에 의해 패터닝되어 상기 발광 영역들(LE1, LE2) 상의 투명전극층(29)을 노출시키는 개구부들(31a)이 형성된다. 상기 투명전극층(29)을 노출시키는 개구부들(31a)은 서로 평행하게 대칭으로 형성될 수 있다. 또한, 제1 전극패드(35), 제1 하부 연장부(35a) 및 제2 하부 연장부들(35b)이 형성될 영역의 제1 도전형 반도체층(23)이 노출된다.Referring to FIG. 3D, an insulating layer 31 is formed on the light emitting structure. The insulating layer 31 may cover the transparent electrode layer 29 of the light emitting structure, and may also cover the transparent electrode layer 29 on the electrode pad region EP. The insulating layer 31 may also cover side surfaces of the second conductive semiconductor layer 27 and the active layer 23 exposed by mesa etching. The insulating layer 31 is patterned by photolithography and etching to form openings 31a exposing the transparent electrode layers 29 on the light emitting regions LE1 and LE2. The openings 31a exposing the transparent electrode layer 29 may be symmetrically formed in parallel to each other. In addition, the first conductive semiconductor layer 23 in the region where the first electrode pad 35, the first lower extension part 35a, and the second lower extension parts 35b are to be formed is exposed.

도 3e를 참조하면, 상기 발광 구조체의 노출된 제1 도전형 반도체층(23) 상에 제1 전극패드(35), 제1 하부 연장부(35a) 및 제2 하부 연장부들(35b)이 형성된다. 또한, 상기 전극패드 영역(EP) 상에 제2 전극패드(33)가 형성되고, 상기 개구부들(31a)에 상부 연장부들(33a)이 형성되며, 상기 제2 전극패드(33)와 상기 상부 연장부들(33a)을 연결하는 연결부들(33b)이 형성된다.Referring to FIG. 3E, the first electrode pad 35, the first lower extension part 35a, and the second lower extension parts 35b are formed on the exposed first conductive semiconductor layer 23 of the light emitting structure. do. In addition, a second electrode pad 33 is formed on the electrode pad area EP, upper extensions 33a are formed in the openings 31a, and the second electrode pad 33 and the upper part are formed. Connections 33b are formed to connect the extensions 33a.

상기 상부 연장부들(33a)은 상기 투명전극층(29)에 접속되며, 상기 제1 하부 연장부(35a)와 평행하게 형성될 수 있다. 이에 따라, 도 1에 도시된 바와 같은 발광 다이오드가 완성된다.The upper extensions 33a may be connected to the transparent electrode layer 29, and may be formed in parallel with the first lower extensions 35a. Thus, a light emitting diode as shown in FIG. 1 is completed.

본 실시예에 있어서, 발광 구조체가 두개의 발광 영역들(LE1, LE2)로 분할되는 것으로 설명하였으나, 이에 한정되는 것은 아니며, 더 많은 수의 영역들로 분할될 수도 있다. 또한, 메사 식각 공정 후에 투명전극층(29)이 형성되는 것으로 설명하였으나, 투명전극층(29)을 형성한 후에 메사 식각 공정이 수행될 수도 있다. 또한, 메사 식각 공정 후에 트렌치(TI)를 형성하는 것으로 설명하였으나, 트렌치(TI)를 먼저 형성하고 메사 식각 공정을 수행할 수 있다.In the present exemplary embodiment, the light emitting structure is described as being divided into two light emitting regions LE1 and LE2, but the present invention is not limited thereto and may be divided into a larger number of regions. In addition, although the transparent electrode layer 29 is formed after the mesa etching process, the mesa etching process may be performed after the transparent electrode layer 29 is formed. In addition, although the trenches TI are formed after the mesa etching process, the trenches TI may be formed first and the mesa etching process may be performed.

도 4는 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 발광 다이오드를 설명하기 위한 평면도이다.4 is a plan view illustrating a light emitting diode according to still another embodiment of the present invention.

도 1의 실시예에서, 제1 전극패드(35) 및 제2 전극패드(33)가 발광 다이오드의 장축 방향을 따라 배치되고, 만입부(30b)가 발광 다이오드의 장축 방향을 따라 형성되는 것으로 도시되어 있으나, 본 실시예에 있어서는 전극패드들(53, 55)이 발광 다이오드의 단축 방향을 따라 배치되고, 만입부(60b)가 발광 다이오드의 단축 방향을 따라 형성되어 있다. 투명전극층(29), 상부 연장부들(53a) 및 하부 연장부들(55a)은 대칭 구조로 배치되어 있다.In the embodiment of FIG. 1, the first electrode pad 35 and the second electrode pad 33 are arranged along the long axis direction of the light emitting diode, and the indentation 30b is formed along the long axis direction of the light emitting diode. However, in the present embodiment, the electrode pads 53 and 55 are disposed along the short axis direction of the light emitting diode, and the indentation portion 60b is formed along the short axis direction of the light emitting diode. The transparent electrode layer 29, the upper extensions 53a and the lower extensions 55a are arranged in a symmetrical structure.

여기서, 상기 상부 연장부들(53a)은 발광 다이오드의 바깥측으로 연장되어 발광 다이오드를 감싸는 형태로 배치되고, 또한, 발광 다이오드의 바깥쪽에서 내측으로 침입하는 연장부(53b)를 갖는다. 한편, 하부 연장부들(55a)은 발광 다이오드의 안쪽에서 바깥쪽으로 향해 연장하고 있다. 또한, 하부 연장부들(55a)은 각각 발광 영역들 내에서 상기 연장부(53b)를 감싸도록 두 갈래로 갈라질 수 있다.Here, the upper extensions 53a extend in the outer side of the light emitting diode so as to surround the light emitting diode, and further include an extension 53b that penetrates inward from the outside of the light emitting diode. On the other hand, the lower extensions 55a extend from the inside to the outside of the light emitting diode. In addition, the lower extensions 55a may be bifurcated so as to surround the extension 53b in the light emitting regions, respectively.

한편, 상기 상부 연장부들(53a)은 절연층(31)의 개구부들(31a)을 통해 발광 영역들(LE1, LE2) 상의 투명전극층(29)에 접속하며, 연결부들(53b)에 의해 제2 전극패드(53)에 접속된다. 상기 연결부들(53b)은 절연층(31)에 의해 발광 구조체로부터 절연된다.Meanwhile, the upper extensions 53a are connected to the transparent electrode layer 29 on the light emitting regions LE1 and LE2 through the openings 31a of the insulating layer 31, and are connected to each other by the connecting portions 53b. It is connected to the electrode pad 53. The connection parts 53b are insulated from the light emitting structure by the insulating layer 31.

한편, 전극패드 영역(EP)은, 도 1을 참조하여 설명한 바와 같이, 트렌치(TI)에 의해 발광 구조체로부터 고립된다.Meanwhile, as described with reference to FIG. 1, the electrode pad region EP is isolated from the light emitting structure by the trench TI.

본 실시예에 있어서, 제1 전극패드(55)에서 제2 전극패드(53)로 연장하는 제1 하부 연장부(도 1의 35a)는 생략된다.In the present embodiment, the first lower extension part 35a of FIG. 1 extending from the first electrode pad 55 to the second electrode pad 53 is omitted.

도 5는 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 발광 다이오드를 설명하기 위한 평면도이다.5 is a plan view illustrating a light emitting diode according to still another embodiment of the present invention.

도 5를 참조하면, 본 실시예에 따른 발광 다이오드는 도 4를 참조하여 설명한 발광 다이오드와 대체로 유사하나 하부 연장부들(65a) 및 상부 연장부들(63a)의 배치에 차이가 있다.Referring to FIG. 5, the light emitting diode according to the present embodiment is generally similar to the light emitting diode described with reference to FIG. 4, but there are differences in the arrangement of the lower extensions 65a and the upper extensions 63a.

즉, 하부 연장부들(65a)이 발광 다이오드의 바깥쪽으로 연장된 후 내측으로 침입하고, 상부 연장부들(63a)은 각 투명전극층(29) 상에 두개의 연장부들을 포함하고, 이들 두개의 연장부들이 상기 내측으로 침입한 하부 연장부(65a)를 감싸도록 배치된다.That is, the lower extensions 65a extend outwardly of the light emitting diodes and then penetrate inward, and the upper extensions 63a include two extensions on each transparent electrode layer 29, and these two extensions It is arrange | positioned so as to surround the lower extension part 65a which penetrated in this inside.

상기 상부 연장부들(63a)은 절연층(31)의 개구부들(31a)을 통해 발광 영역들(LE1, LE2) 상의 투명전극층(29)에 접속하고, 연결부들(63b)에 의해 제2 전극패드(53)에 접속된다. 상기 연결부들(63b)은 절연층(31)에 의해 발광구조체로부터 절연된다.The upper extensions 63a are connected to the transparent electrode layer 29 on the light emitting regions LE1 and LE2 through the openings 31a of the insulating layer 31, and the second electrode pads are connected to each other by the connecting portions 63b. 53 is connected. The connecting portions 63b are insulated from the light emitting structure by the insulating layer 31.

앞에서 본 발명의 몇몇 실시예들에 대해 설명하지만, 전극패드들 및 연장부들의 배치에 대해서 다양한 실시예들 및 변형이 가능하다.While some embodiments of the invention have been described above, various embodiments and variations are possible with respect to the arrangement of electrode pads and extensions.

21: 기판, 23: 제1 도전형 반도체층, 25: 활성층,
27: 제2 도전형 반도체층, 29: 투명전극층,
30a: 제1 전극패드 형성 영역, 30b: 만입부,
30c: 제2 하부 연장부 형성 영역, 31: 절연층, 31a: 개구부,
33, 53: 제2 전극패드, 33a: 상부 연장부, 33b, 53b, 63b: 연결부,
35, 55: 제1 전극패드, 35a: 제1 하부 연장부,
35b: 제2 하부 연장부, 53b: 연장부, 55a, 65a: 하부 연장부,
LE1, LE2: 발광 영역, EP: 전극패드 영역, TI: 트렌치
21 is a substrate, 23 is a first conductive semiconductor layer, 25 is an active layer,
27 is a second conductive semiconductor layer, 29 is a transparent electrode layer,
30a: first electrode pad forming region, 30b: indentation portion,
30c: second lower extension forming region, 31: insulating layer, 31a: opening,
33, 53: second electrode pad, 33a: upper extension portion, 33b, 53b, 63b: connection portion,
35, 55: first electrode pad, 35a: first lower extension portion,
35b: second lower extension, 53b: extension, 55a, 65a: lower extension,
LE1, LE2: light emitting area, EP: electrode pad area, TI: trench

Claims (15)

기판;
상기 기판 상에 위치하고, 제1 도전형 반도체층, 활성층 및 제2 도전형 반도체층을 포함하는 발광 구조체;
상기 발광 구조체로부터 고립되고, 제1 도전형 반도체층, 활성층 및 제2 도전형 반도체층을 포함하는 전극 패드 영역;
상기 발광 구조체의 제1 도전형 반도체층에 전기적으로 접속된 제1 전극 패드;
상기 전극 패드 영역의 상기 제2 도전형 반도체층 상에 위치하는 제2 전극 패드; 및
상기 제2 전극패드에 연결되어 상기 발광 구조체의 제2 도전형 반도체층에 전기적으로 접속된 적어도 하나의 상부 연장부를 포함하는 발광 다이오드.
Board;
A light emitting structure on the substrate, the light emitting structure comprising a first conductivity type semiconductor layer, an active layer, and a second conductivity type semiconductor layer;
An electrode pad region isolated from the light emitting structure and including a first conductivity type semiconductor layer, an active layer, and a second conductivity type semiconductor layer;
A first electrode pad electrically connected to the first conductive semiconductor layer of the light emitting structure;
A second electrode pad on the second conductive semiconductor layer in the electrode pad region; And
And at least one upper extension connected to the second electrode pad and electrically connected to the second conductive semiconductor layer of the light emitting structure.
청구항 1에 있어서,
상기 상부 연장부와 상기 제2 전극패드를 연결하는 연결부를 더 포함하되,
상기 연결부는 상기 발광 구조체로부터 절연된 발광 다이오드.
The method according to claim 1,
Further comprising a connecting portion connecting the upper extension and the second electrode pad,
And the connection portion is insulated from the light emitting structure.
청구항 2에 있어서,
상기 발광 구조체의 제2 도전형 반도체층을 덮는 절연층을 더 포함하되,
상기 절연층은 적어도 하나의 개구부를 갖고,
상기 적어도 하나의 상부 연장부는 상기 개구부를 통해 상기 발광 구조체의 제2 도전형 반도체층에 전기적으로 접속된 발광 다이오드.
The method according to claim 2,
Further comprising an insulating layer covering the second conductivity-type semiconductor layer of the light emitting structure,
The insulating layer has at least one opening,
And the at least one upper extension is electrically connected to a second conductivity type semiconductor layer of the light emitting structure through the opening.
청구항 3에 있어서,
상기 발광 구조체의 제2 도전형 반도체층에 오믹콘택하는 투명전극층을 더 포함하고,
상기 투명전극층이 상기 절연층의 개구부에 의해 노출되고,
상기 적어도 하나의 상부 연장부는 상기 투명전극층에 접속된 발광 다이오드.
The method according to claim 3,
Further comprising a transparent electrode layer in ohmic contact with the second conductivity-type semiconductor layer of the light emitting structure,
The transparent electrode layer is exposed by an opening of the insulating layer,
And the at least one upper extension part is connected to the transparent electrode layer.
청구항 1에 있어서,
상기 제1 전극패드는 상기 제2 전극패드에 대향하여 상기 발광 구조체의 제1 도전형 반도체층 상에 위치하는 발광 다이오드.
The method according to claim 1,
The first electrode pad is disposed on the first conductive semiconductor layer of the light emitting structure facing the second electrode pad.
청구항 5에 있어서,
상기 제1 전극패드에서 상기 제2 전극패드를 향해 연장하고, 상기 발광 구조체의 제1 도전형 반도체층에 전기적으로 접속된 제1 하부 연장부를 더 포함하는 발광 다이오드.
The method according to claim 5,
And a first lower extension part extending from the first electrode pad toward the second electrode pad and electrically connected to the first conductive semiconductor layer of the light emitting structure.
청구항 6에 있어서,
상기 제1 하부 연장부의 단부는 상기 제1 전극패드보다 상기 제2 전극패드에 더 가까운 발광 다이오드.
The method of claim 6,
An end portion of the first lower extension part is closer to the second electrode pad than the first electrode pad.
청구항 7에 있어서,
상기 제1 전극패드에서 연장하는 제2 하부 연장부를 더 포함하되, 상기 제2 하부 연장부는 상기 기판의 가장자리를 따라 연장하는 발광 다이오드.
The method according to claim 7,
And a second lower extension extending from the first electrode pad, wherein the second lower extension extends along an edge of the substrate.
청구항 1에 있어서,
상기 발광 구조체의 제2 도전형 반도체층 및 활성층은 적어도 두 개의 발광 영역들을 정의하도록 분할되고,
상기 적어도 두 개의 발광 영역들 상에 각각 상기 제2 전극 패드에 연결된 상부 연장부가 위치하는 발광 다이오드.
The method according to claim 1,
The second conductivity type semiconductor layer and the active layer of the light emitting structure are divided to define at least two light emitting regions,
And an upper extension connected to the second electrode pads on the at least two light emitting regions, respectively.
청구항 9에 있어서,
상기 발광 구조체의 제1 도전형 반도체층은 상기 적어도 두 개의 발광 영역들에 의해 공유되는 발광 다이오드.
The method according to claim 9,
And a first conductivity type semiconductor layer of the light emitting structure is shared by the at least two light emitting regions.
청구항 10에 있어서,
상기 제1 전극 패드는 상기 제2 전극 패드에 대향하여 상기 발광 구조체의 제1 도전형 반도체층 상에 위치하는 발광 다이오드.
The method according to claim 10,
The first electrode pad is disposed on the first conductivity type semiconductor layer of the light emitting structure facing the second electrode pad.
청구항 11에 있어서,
상기 제1 전극패드에서 상기 제2 전극패드를 향해 연장하는 제1 하부 연장부를 더 포함하되,
상기 제1 하부 연장부는 상기 발광 영역들 사이에 위치하는 발광 다이오드.
The method of claim 11,
Further comprising a first lower extension extending from the first electrode pad toward the second electrode pad,
The first lower extension portion is positioned between the light emitting regions.
청구항 12에 있어서,
상기 제1 하부 연장부와 상기 상부 연장부들은 서로 평행한 발광 다이오드.
The method of claim 12,
The first lower extension and the upper extension are parallel to each other.
청구항 1에 있어서,
상기 전극패드 영역의 제2 도전형 반도체층과 상기 제2 전극패드 사이에 위치하는 투명전극층을 더 포함하는 발광 다이오드.
The method according to claim 1,
And a transparent electrode layer disposed between the second conductive semiconductor layer in the electrode pad region and the second electrode pad.
청구항 1에 있어서,
상기 전극패드 영역의 제2 도전형 반도체층과 상기 제2 전극패드 사이에 위치하는 절연층을 더 포함하는 발광 다이오드.
The method according to claim 1,
And an insulating layer disposed between the second conductive semiconductor layer in the electrode pad region and the second electrode pad.
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