KR20110079743A - Ｅｓｄ 현상을 완화시키기 위한 방법 및 장치 - Google Patents

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Abstract

정전기 방전 동안에 전위 시스템 또는 스크린이 작동을 멈추는 것을 완화시키기 위한 다양한 실시예가 설명 및 예시된다.

Description

ＥＳＤ 현상을 완화시키기 위한 방법 및 장치{METHODS AND DEVICES FOR MITIGATING ESD EVENTS}
일정 상황 하에서, 정전기 방전(electrostatic discharge, ESD)이 의료 장치에 문제를 일으킬 수 있다. 의료 장치의 전형적인 취급은 25 킬로볼트 이상의 ESD 전압을 발생시킬 수 있다. 각각의 방전은 지속 시간이 극히 짧을 수 있지만, 그러한 고전압은 메모리의 손실, 장치 리셋, 또는 심지어 장치 구성요소의 파열 또는 퓨즈 녹음(fusing)으로 이어지는 물리적 손상과 같은 전자 장치의 혼란을 야기할 수 있다. 예를 들어, 충분히 강한 ESD 현상은 의료 장치의 디스플레이를 멈추게 하여, 장치가 작동하지 않는 것처럼 보이게 할 수 있다. 의료 장치의 디스플레이는 주입된 ESD의 소스(source)에 흔히 근접한 전자 구성요소이기 때문에 특히 취약할 수 있다. 따라서, 발명자는 의료 장치의 디스플레이 또는 다른 민감한 전자 구성요소에서 ESD 현상의 위험을 더 잘 완화시키는 것이 필요하다고 믿는다.
시험 측정기(test meter)의 디스플레이 상에 스크린 이미지를 디스플레이하는 단계; 스크린 이미지를 메모리에 저장하는 단계; 디스플레이에서의 전기 서지(electrical surge)를 감시하는 단계; 소정의 범위 내에 있지 않은 전기 서지의 크기(magnitude)를 검출하는 단계; 및 전기 서지의 크기가 소정의 범위 내에 있지 않을 때 저장된 스크린 이미지를 갖도록 디스플레이를 리프레시(refresh)하는 단계에 의해 달성될 수 있는 시험 측정기를 작동시키는 방법이 제공된다.
도킹 스테이션(docking station)에 시험 측정기를 결합하는 단계; 도킹 스테이션의 디스플레이 상에 스크린 이미지를 디스플레이하는 단계; 스크린 이미지를 메모리에 저장하는 단계; 디스플레이에서의 전기 서지를 감시하는 단계; 소정의 범위 내에 있지 않은 전기 서지의 크기를 검출하는 단계; 및 전기 서지의 크기가 소정의 범위 내에 있지 않을 때 저장된 스크린 이미지를 갖도록 디스플레이를 리프레시하는 단계에 의해 달성될 수 있는 도킹 스테이션을 작동시키는 방법이 제공된다.
정합 인터페이스(mating interface); 디스플레이; 메모리; 비교기(comparator) 및 마이크로프로세서를 포함하는 도킹 스테이션이 제공된다. 정합 인터페이스는 시험 측정기에 결합되도록 구성된다. 디스플레이는 도킹 스테이션 상에 배치되며 스크린 이미지를 보여주도록 구성된다. 도킹 스테이션의 메모리는 스크린 이미지를 저장하도록 구성된다. 도킹 스테이션의 비교기 회로는 디스플레이에서의 전기 서지를 감시하도록 구성된다. 비교기 회로는 디스플레이 및 마이크로프로세서에 전기적으로 접속된다. 마이크로프로세서는 디스플레이가 ESD 현상 동안에 작동을 멈추지 않도록 전기 서지의 크기가 소정의 범위 내에 있지 않을 때 디스플레이를 저장된 스크린 이미지로 리프레시하도록 구성된다.
디스플레이, 메모리, 비교기 및 마이크로프로세서를 포함하는 시험 측정기가 제공된다. 디스플레이는 시험 측정기 상에 배치되며 스크린 이미지를 보여주도록 구성된다. 시험 측정기의 메모리는 스크린 이미지를 저장하도록 구성된다. 시험 측정기의 비교기 회로는 디스플레이에서의 전기 서지를 감시하도록 구성되며, 비교기 회로는 디스플레이 및 마이크로프로세서에 전기적으로 접속된다. 마이크로프로세서는 디스플레이가 ESD 현상 동안에 작동을 멈추지 않도록 전기 서지의 크기가 소정의 범위 내에 있지 않을 때 디스플레이를 저장된 스크린 이미지로 리프레시하도록 구성된다.
본 명세서에 포함되고 이 명세서의 일부를 구성하는 첨부 도면은 본 발명의 현재 바람직한 실시예를 예시하며, 위에서 제공된 일반적인 설명 및 아래에 제공되는 상세한 설명과 함께, 본 발명의 특징을 설명하는 역할을 한다.
<도 1>
도 1은 도킹 스테이션을 도시하는 상부 사시도.
<도 2>
도 2는 도킹 스테이션을 도시하는 저면도.
<도 3>
도 3은 시험 스트립(strip)에 연결된 시험 측정기를 도시하는 평면도.
<도 4>
도 4는 시험 측정기 및 서버에 결합된 도킹 스테이션을 도시하는 상부 사시도.
<도 5>
도 5는 도킹 스테이션의 기능적 구성요소를 도시하는 개략도.
<도 6>
도 6은 ESD를 흡수하기 위한 커패시턴스 회로(capacitance circuit)의 예시적인 실시예를 도시하는 도면.
<도 7a 및 도 7b>
도 7a 및 도 7b는 전기 서지를 감시하기 위한 비교기 회로를 포함하는 회로의 예시적인 실시예를 도시하는 도면.
<도 8a 및 도 8b>
도 8a 및 도 8b는 마이크로프로세서의 예시적인 실시예를 도시하는 도면.
<도 9>
도 9는 시험 측정기의 기능적 구성요소를 도시하는 개략도.
하기의 상세한 설명은 상이한 도면들에서 동일 요소가 동일 도면 부호로 표기되는 도면들을 참조하여 이해되어야 한다. 반드시 일정한 축척으로 도시되지는 않은 도면은 선택된 예시적인 실시예를 도시하는 것이며, 본 발명의 범주를 제한하는 것으로 의도되지 않는다. 상세한 설명은 본 발명의 원리를 제한이 아닌 예로서 기술한다. 이러한 상세한 설명은 명백하게 당업자가 본 발명을 제조 및 사용하도록 할 것이고, 현재 본 발명을 수행하는 최선의 실시 형태로 여겨지는 것을 비롯한, 본 발명의 몇몇 실시예, 개작, 변형, 대안 및 사용을 기술한다.
본 명세서에 사용되는 바와 같이, 임의의 수치 값 또는 수치 범위에 대한 용어 "약" 또는 "대략"은 구성요소들의 일부 또는 집합체가 본 명세서에 설명된 그의 의도된 목적으로 기능할 수 있게 하는 적합한 치수 공차(dimensional tolerance)를 나타낸다. 추가적으로, 본 명세서에 사용되는 바와 같이, 용어 "환자", "호스트", "사용자", 및 "대상"은 임의의 사람 또는 동물 대상을 말하며 본 시스템 또는 방법을 사람에 대한 용도로 제한하고자 하는 것은 아니지만, 사람 환자에 대한 본 발명의 사용이 바람직한 실시예를 나타낸다.
포도당 측정기와 같은 의료 장치는 사용자의 생리학적 상태를 반영하는 데이터를 시간에 걸쳐 수집할 수 있다. 일단 데이터가 수집되면, 사용자 또는 건강 관리 제공자는 그 데이터가 분석될 수 있도록 데이터를 서버로 전송하기를 원할 수 있다. 모뎀을 포함하는 도킹 스테이션이 포도당 측정기와 인터페이스시킨 후에 데이터를 서버에 전송하기 위해 사용될 수 있다. 데이터를 전송하기 위해 도킹 스테이션을 사용하는 것은, 사용자가 데이터를 수동으로 입력하거나 포도당 측정기에 인터페이스시키기 위한 어댑터 케이블을 제공할 필요가 없는 자동 프로세스일 수 있다.
도 1, 도 2 및 도 4는 제1 디스플레이(102), 제1 사용자 인터페이스 버튼(104), 정합 인터페이스(106) 및 모뎀 포트(108)를 포함하는 도킹 스테이션(100)을 도시한다. 제1 디스플레이(102)는 스크린 이미지를 보여주도록 구성된 액정 디스플레이 또는 쌍안정 디스플레이(bistable display)일 수 있다. 스크린 이미지의 예에는 의료 장치로부터 데이터를 업로드하는 방법을 사용자에게 알려주는 사용자 인터페이스 및 이미 다운로드된 데이터의 백분율을 보여주는 상태 표시기가 포함될 수 있다. 정합 인터페이스(106)는 데이터가 도킹 스테이션(100)으로 전송될 수 있도록 의료 장치의 데이터 포트와 접촉하도록 구성될 수 있다. 모뎀 포트(108)는 도 2 및 도 4에 도시된 바와 같이 데이터가 서버(300)로 전송될 수 있도록 전화선(302)에 인터페이스하도록 구성될 수 있다. 도킹 스테이션(100)은 크레이들(cradle)로 불릴 수도 있음에 유의하여야 한다.
도 3은 이 경우에 시험 측정기(200)인 다른 의료 장치를 도시한다. 시험 측정기의 일 예는 라이프스캔 인크.(LifeScan Inc.)(미국 캘리포니아주 밀피타스 소재)로부터의 구매가능한 원터치(OneTouch)® 울트라(Ultra)® 2 포도당 측정기일 수 있다. 시험 측정기의 예는 본 명세서에 참고로 포함된 미국 특허 출원 공개 제2007/0084734호 및 제2007/0087397호에서 알 수 있다. 시험 측정기(200)는 제2 디스플레이(202), 제2 사용자 인터페이스 버튼(204), 스트립 포트 커넥터(209), 데이터 포트(206) 및 하우징(207)을 포함한다. 도킹 스테이션(100)과 유사하게, 제2 디스플레이(202)는 스크린 이미지를 보여주도록 구성된 액정 디스플레이 또는 쌍안정 디스플레이일 수 있다. 스크린 이미지의 예에는 포도당 농도, 날짜 및 시간, 에러 메시지, 및 시험을 수행하는 방법을 사용자에게 알려주는 사용자 인터페이스가 포함될 수 있다.
스트립 포트 커넥터(209)는 도 3에 도시된 바와 같이 시험 스트립(211)과 정합하도록 구성될 수 있다. 시험 스트립의 일 예는 라이프스캔 인크.(미국 캘리포니아주 밀피타스 소재)로부터 구매가능한 원터치® 울트라® 포도당 시험 스트립일 수 있는 전기화학 시험 스트립일 수 있다. 시험 스트립의 예는 본 명세서에 참고로 포함된 미국 특허 제5,708,247호, 제5,951,836호, 제6,241,862호, 제6,284,125호, 제6,413,410호, 제6,733,655호, 제7,112,265호, 제7,241,265호 및 제7,250,105호에서 알 수 있다. 일단 시험 스트립(211)이 시험 측정기(100)와 적절하게 정합되면, 혈액 샘플(215)이 샘플 수용 챔버(213) 내로 투입될 수 있다. 일 실시예에서, 시험 스트립(211)은 분석물을 다른 화학적 형태로 선택적으로 그리고 정량적으로 변환시킬 수 있는 효소를 포함할 수 있다. 예를 들어, 시험 스트립(211)은 포도당이 산화된 형태로 물리적으로 변환될 수 있도록 페리시안산염 및 포도당 산화효소를 포함할 수 있다.
도킹 스테이션(100)의 정합 인터페이스(106)는 도 4에 나타낸 바와 같이 시험 측정기(200)의 데이터 포트(206)와 정합하도록 구성될 수 있다. 정합 인터페이스(106)는 하우징(207)의 형상과 정합하는 리세스 영역을 포함할 수 있다. 정합 인터페이스(106)는 또한, 도 2에 도시된 바와 같이, 데이터 포트(206)에 접속되는 전기 접점(128)을 포함할 수 있다. 데이터 포트(206)는 정합 인터페이스(106)의 수형(male) 전기 접점과 인터페이스하도록 구성된 암형 스테레오 잭 리셉터(female stereo jack receptor)의 형태일 수 있다. 정합 인터페이스(106)는 전기적 인터페이스로 제한되어서는 안되며, RF, 마이크로파, 유도, 및 IR과 같은 다른 데이터 전송 도관이 사용될 수 있음에 유의하여야 한다.
도 5는 제1 커패시턴스 회로(110), 제1 메모리(112), 모뎀(114), 제1 클록(clock)(116), 제1 전원 공급 장치(118), 제1 비교기 회로(120) 및 제1 마이크로프로세서(122)를 추가로 포함하는 도킹 스테이션(100)의 기능적 구성요소의 예시적인 개략도를 도시한다. 도킹 스테이션(100)은 RF, 마이크로파, IR 및 휴대폰 네트워크와 같은 다른 전자 구성요소가 사용될 수 있다는 점에서 데이터를 전송하기 위해 모뎀(114)을 사용하는 것으로 제한되어서는 안된다. 커패시턴스 회로(110)는 전기 서지 또는 ESD 공격(ESD strike)을 완화시키는 것을 돕기 위해 제1 디스플레이(102)에 비교적 근접하게 위치되는 복수의 커패시터를 포함할 수 있다.
제1 커패시턴스 회로(110)의 예시적인 실시예가 도 6에 도시되어 있다. 제1 커패시턴스 회로(110)는 제1 디스플레이 커패시턴스 회로(124) 및 백라이트 커패시턴스 회로(126)를 포함한다. 제1 디스플레이(102)는 사용자가 광이 적은 상태에서 제1 디스플레이(102)를 더 용이하게 판독하는 것을 돕기 위한 백라이트를 포함할 수 있다. 제1 디스플레이 커패시턴스 회로(124)는 회로의 일 단부가 제1 전원 공급 장치(118)에 접속되고 타 단부가 접지에 접속되어 있는 병렬로 배치된 5개의 커패시터(C124, C125, C77, C78, C79)를 포함한다. 백라이트 커패시턴스 회로(126)는 또한 회로의 일 단부가 백라이트용 전원 공급 장치에 접속되고 타 단부가 접지에 접속되어 있는 병렬로 배치된 5개의 커패시터(C126, C127, C80, C81, C82)를 포함한다. 제1 디스플레이 커패시턴스 회로(124) 및 백라이트 커패시턴스 회로(126)의 커패시터에 관한 커패시턴스 값은 약 0.1 마이크로패럿 내지 약 22 마이크로패럿의 범위일 수 있다.
커패시턴스 회로(110)가 ESD로부터의 손상의 위험을 완화시키는 것을 돕지만, 충분히 큰 ESD 공격은 예를 들어 제1 디스플레이(102)의 작동을 멈추게 하는 것과 같이 여전히 제1 디스플레이(102)에 문제를 일으킬 수 있다. 도킹 스테이션(100)은 흔히 접지된 전화선(302)에 접속되기 때문에 다른 의료 장치보다 ESD 공격에 대해 더 민감할 수 있다. ESD는 전화선(302)이 어스 접지에 접속되어 있는 경우 도킹 스테이션(100)의 전자 장치를 통해 이동하는 경향이 있을 수 있다. 도킹 스테이션이 무선으로 데이터를 서버로 전송하도록 구성되거나 접지된 전화선으로부터 분리된다면, ESD는 도킹 스테이션의 전자 장치 대신에 전지의 음 단자로 지향될 수 있다. 그러나, 발명자는 본 명세서에 설명된 바와 같이 도킹 스테이션(100)이 전형적으로 어스 접지에 부착되어 더 효율적인 ESD 보호가 필요하도록 만든다고 이해한다.
ESD 공격은 제1 디스플레이(102)에 인가되는 전압을 증가 또는 감소시킬 수 있다. 예를 들어, ESD는 제1 전원 공급 장치(118)로부터 제1 디스플레이(102)에 인가되는 전압을 감쇠시킬 수 있다. 대안적으로, 일정의 상황 하에서는, ESD는 제1 전원 공급 장치(118)로부터 인가되는 전압을 증가시킬 수 있다. 일 실시예에서, 제1 전원 공급 장치(118)로부터의 전압보다 더 높은 상승된 전압을 제1 디스플레이(103)에 인가하기 위해 전압 부스트 회로(voltage boost circuit)가 사용될 수 있다. 제1 디스플레이에 인가되는 전압이 일정 범위 내에 있지 않을 때, 제1 디스플레이(102)는 예를 들어 모든 픽셀이 꺼지거나, 모든 픽셀이 켜지거나, 랜덤하게 섞인 일부 픽셀은 꺼지고 다른 픽셀은 켜지거나, 모든 픽셀이 마지막 스크린 이미지로부터 정적으로 남아 있는 것과 같이 작동이 멈춤 상태를 나타낼 수 있다. 일정한 상황 하에서, 도킹 스테이션(100)에서 전지를 제거하고 재삽입함으로써 또는 전원을 끈 다음에 켬으로써 작동이 멈춘 제1 디스플레이(102)가 회복될 수 있다. 그러나, 전지 또는 전원 스위치를 조작하는 것은 시간이 소요되기 때문에 바람직하지 않으며, 사용자에게는 귀찮은 일이고, 혼란을 야기할 수 있다.
일 실시예에서, 도킹 스테이션(100)은 전원 스위치 또는 교체가능한 전지를 갖지 않도록 간단하게 설계될 수 있다. 도킹 스테이션(100)은 시험 측정기(200)가 정합 인터페이스(106)와 정합될 때 자동적으로 켜질 수 있기 때문에 사용자는 전원을 켤 필요가 없을 것이다. 도킹 스테이션(100)은 아무런 작동 없이 소정의 시간이 경과된 후에 자동적으로 꺼질 수 있다. 또한, 전지가 장치의 수명까지 유지되도록 설계되었다면 사용자는 전지를 교체할 필요가 없을 것이다. 그러한 상황에서, 전지 격납 도어가 밀봉 폐쇄될 수 있다. 이러한 실시예는 전지를 제거 및 재삽입함으로써 또는 전원을 끈 다음에 켬으로써 ESD 공격으로부터 회복될 수 없을 것이기 때문에, 발명자는 더 강인한 ESD 메커니즘이 필요하다고 이해한다.
제1 메모리(112)는 도 5에 도시된 바와 같이 제1 디스플레이(102) 상에 도시된 스크린 이미지를 저장하도록 구성될 수 있다. 일 실시예에서, 제1 메모리(112)는 제1 마이크로프로세서(122)와 일체일 수 있다. 모뎀(114)은 도킹 스테이션(100)으로부터 전화선(302)을 통해 서버(300)로 데이터를 전송하도록 구성될 수 있다. 제1 전원 공급 장치(118)는 교류 전원 또는 전지에 의해 도킹 스테이션(100)에 전력을 공급하도록 구성될 수 있다. 제1 디스플레이(102)는 제1 전원 공급 장치(118)로부터의 전압을 증가시키도록 구성된 전압 부스트 회로를 포함할 수 있다. 전압 부스트 회로는 제1 디스플레이(102)와 일체일 수 있다.
제1 비교기 회로(120)는 도 5에 도시된 바와 같이 제1 디스플레이(102)에서의 전기 서지를 감시하도록 구성될 수 있다. 일 실시예에서, 제1 비교기 회로(120)는 제1 디스플레이(102) 및 제1 마이크로프로세서(122)에 전기적으로 접속될 수 있다. 더 구체적으로, 제1 비교기 회로(120)는 제1 디스플레이(102)의 전압 부스트 회로 및 제1 마이크로프로세서(122)에 전기적으로 접속될 수 있다.
제1 비교기 회로(120)를 포함하는 회로의 예시적인 실시예가 도 7a 및 도 7b에 도시되어 있다. 핀(8 내지 13)은 도 7a에 V5, V4, V3, V2, V1 및 V0로 각각 나타낸 제1 디스플레이(102)를 위한 다양한 전압 부스트이다. 제1 비교기 회로(120)는 도 7b에 U1A로 표시된 연산 증폭기(operational amplifier)의 형태이다. 포지티브 입력부(positive input)(3)는 약 1.65 볼트의 고정 전압을 수용한다. 네거티브 입력부(negative input)(2)는 약 1.8 볼트 내지 약 2 볼트인 V0의 일정 비율 강하된 전압(scaled down voltage)을 수용한다. 이러한 경우, V0은 약 0.167배만큼 일정 비율 강하된다. 전압 V0은 핀(13)에서 제1 디스플레이(102)에 인가되는 전압을 나타내며 약 11 볼트 내지 약 12 볼트의 범위이다. V0은 제1 디스플레이(102)의 일부인 전압 부스트 회로에 의해 발생된 전압이다. 제1 비교기 회로(120)는, 이러한 경우에 V0인 가장 높은 전압 크기를 갖는 전압 부스트를 감시할 수 있어서, 전압의 감소가 비교적 용이하게 검출될 것이다. 따라서, ESD가 핀(13)에서의 전압 부스트가 꺼지도록 한다면, V0에서의 전압 강하는 다른 전압 부스트(V1, V2, V3, V4, V5)에 비해 가장 큰 크기 변화를 가질 것이다. 다른 실시예에서, 1개 초과의 전압 부스트가 예를 들어 도 7b의 연산 증폭기(U1B)를 사용하여 ESD 현상에 대해 감시될 수 있다.
출력부(1)는 전기 서지 또는 ESD의 결과로서 전압(V0)이 특정 전압 범위로부터 상당히 증가하거나 감소할 때 높은 논리 상태를 제공하도록 구성된다. 전압(V0)이 특정 전압 범위 내에 유지된다면, 출력부(1)는 낮은 논리 상태를 제공할 것이다. 출력부(1)는 제1 마이크로프로세서(122)의 인터럽트(interrupt)에 접속된다. 더 구체적으로, 출력부(1)는 도 8b에 LCD_Vboost로 표시된 핀(17)에 접속된다. 제1 비교기(120)는 도 7b에 도시된 전기 회로로 제한될 필요는 없으며, A/D 컨버터 및 제1 디스플레이(102)에 인가되는 전압을 감시하기 위한 다른 마이크로프로세서를 포함하는 회로와 같은 다른 전자 회로로 대체될 수 있다.
제1 마이크로프로세서(122)는 전기 서지의 크기가 소정의 범위 내에 있지 않을 때 제1 디스플레이(102)를 리셋 및/또는 저장된 스크린 이미지로 리프레시하도록 구성될 수 있다. 제1 마이크로프로세서(122)는 또한 모뎀(114)을 통한 시험 측정기(200)로부터의 데이터 다운로드 프로세스 및 서버(300)로의 업로드 프로세스를 제어하는 제1 메모리(112) 내의 펌웨어 또는 소프트웨어를 구동시키도록 구성될 수 있다. 제1 마이크로프로세서(122)는 제1 디스플레이(102)가 ESD 현상 동안에 작동을 멈추지 않도록 정합 인터페이스(106), 제1 디스플레이(102), 제1 메모리(112) 및 제1 비교기 회로(120)에 전기적으로 접속될 수 있다. 제1 마이크로프로세서(122)의 예시적인 실시예가 도 8a 및 도 8b에 도시되어 있다. 제1 마이크로프로세서(122)는 제1 비교기 회로(120)의 출력부(1)에 접속된 핀(17), 및 제1 디스플레이(102)의 리셋 핀에 접속된 핀(43)을 포함한다. 출력부(1)로부터 핀(17)으로 높은 논리 상태를 수용할 때, 제1 마이크로프로세서는 제1 디스플레이(102)를 리셋하고 그 다음에 제1 디스플레이(102)를 이전에 저장된 스크린 이미지로 리프레시할 수 있다.
하기의 내용은 도킹 스테이션(100)과 유사한 전자 구성요소를 사용하는, ESD 완화 메커니즘을 구현하는 시험 측정기(200)를 설명할 것이다. 도 9는 제2 커패시턴스 회로(210), 제2 메모리(212), 제2 클록(216), 제2 전원 공급 장치(218), 제2 비교기 회로(220), 일정 전위기(potentiostat)(224), 전류 측정 회로(226) 및 제2 마이크로프로세서(222)를 추가로 포함하는 시험 측정기(200)의 기능적 구성요소의 개략도이다.
제2 커패시턴스 회로(210)는 제1 커패시턴스 회로(110)와 유사할 수 있다. 제2 메모리(212)는 제2 디스플레이(202) 상에 도시된 스크린 이미지를 저장하도록 구성될 수 있다. 제2 비교기 회로(220)는 제2 디스플레이(202)에서의 전기 서지를 감시하도록 구성될 수 있다. 일 실시예에서, 제2 비교기 회로(220)는 제2 디스플레이(202) 및 제2 마이크로프로세서(222)에 전기적으로 접속될 수 있다. 제2 비교기 회로(220)는 제1 비교기 회로(120)와 유사할 수 있다.
제2 디스플레이(202)는 제2 전원 공급 장치(218)로부터의 전압을 증가시키도록 구성된 전압 부스트 회로를 포함할 수 있다. 전압 부스트 회로는 제2 디스플레이(202)와 일체일 수 있다.
일정 전위기(224)는 적어도 2개의 전극 사이에 시험 전압을 인가하기 위한 전자 회로를 포함할 수 있다. 전류 측정 회로(226)는 인가된 시험 전압으로부터 기인하는 시험 전류의 크기를 정량화하도록 구성된 회로를 포함할 수 있다. 전류 측정 회로(226)의 일 예에는 전류-대-전압 컨버터가 포함될 수 있다.
제2 마이크로프로세서(222)는 전기 서지의 크기가 소정의 범위 내에 있지 않을 때 제2 디스플레이(202)를 리셋 및/또는 저장된 스크린 이미지로 리프레시하도록 구성될 수 있다. 제2 마이크로프로세서(222)는 제2 디스플레이(202)가 ESD 현상 동안에 작동을 멈추지 않도록 제2 디스플레이(202), 제2 메모리(212) 및 제2 비교기 회로(220)에 전기적으로 접속될 수 있다. 더 구체적으로, 제2 마이크로프로세서(222)는 제2 디스플레이(202)의 전압 부스트에 전기적으로 접속될 수 있다.
도킹 스테이션(100) 및 시험 측정기(200)가 설명되었으므로, 하기의 내용은 도킹 스테이션(100)을 작동시키는 방법 그리고 또한 시험 측정기(200)를 작동시키는 방법을 설명할 것이다. 도킹 스테이션(100)을 작동시키는 방법은 시험 측정기(200)를 도킹 스테이션(100)에 결합하는 단계를 포함한다. 시험 측정기(200)의 데이터 포트(206)가 도킹 스테이션(100)의 정합 인터페이스(106)에 접속될 수 있다. 하우징(207)은 시험 측정기(200)를 도킹 스테이션(100)에 결합할 때 정합 인터페이스(106)의 리세스 부분과 정합할 수 있다.
일단 시험 측정기(200)가 도킹 스테이션(100)에 결합되면, 그 다음에 도킹 스테이션(100)은 저 전원 슬립 모드(sleep mode)로부터 전원이 켜지고, 시험 측정기(200)로부터 데이터를 다운로드하고, 데이터를 처리하고, 그 후, 처리된 데이터를 서버(300)로 전송할 수 있다. 도킹 스테이션(100)이 데이터를 서버(300)로 성공적으로 전송하지 않으면, 도킹 스테이션(100)은 자동적으로 재시도할 수 있다. 데이터를 처리하는 것은 포도당 농도, 측정 단위, 밀 플래그(meal flag), 코멘트(comment), 측정기 일련 번호, 대조 용액 예/아니오, 도킹 스테이션 일련 번호, 및 도킹 스테이션 전지 수준을 수집하는 것을 포함할 수 있다. 그 다음, 의사, 간호사, 당뇨병 지도사 또는 건강 관리 제공자는 서버(300)로 전송된 데이터를 검토하여 사용자의 전반적인 건강 상태를 평가하고 가능하게는 치료상의 권고를 할 수 있다. 서버(300)로 데이터를 전송하기 전에, 도킹 스테이션(100)은 예를 들어 데이터의 어느 부분이 이미 전송되었는지를 결정하고 전송되지 않은 부분만을 전송함으로써와 같이 데이터를 필터링할 수 있다. 도킹 스테이션 전지 수준은 의사, 간호사, 당뇨병 지도사 또는 건강 관리 제공자가 사용자에게 전력이 낮으면 전지를 교체하거나 새 전지를 갖는 다른 도킹 스테이션을 사용하라고 조언할 수 있도록 전송될 수 있다. 도킹 스테이션(100)은 데이터가 서버(300)로 전송되기 전에 시험 측정기(200)의 일련 번호에 기초한 데이터 키(data key)를 사용하여 데이터를 암호화할 수 있다.
도킹 스테이션(100)의 제1 클록(116)은 날짜 및 시간을 서버(300)로 전송할 수 있다. 날짜 및 시간이 서버(300) 상의 것과 상이하다면, 제1 클록(116)의 날짜 및 시간은 수정될 수 있다. 도킹 스테이션(100)은 시험 측정기(200)가 제거된 때를 판단한 다음 그러한 제거가 데이터 전부가 전송되기 전이었다면 제1 디스플레이(102) 상에 사용자에게 메시지를 제공할 수 있다.
제1 디스플레이(102)는 사용자에게 피드백을 제공하는 스크린 이미지를 디스플레이할 수 있다. 예를 들어, 스크린 이미지는 서버(300)로 전송된 과거의 포도당 수치에 기초한 사용자의 건강 관리 제공자로부터의 메시지를 포함할 수 있다. 제1 디스플레이(102)는 도킹 스테이션(100)이 사용 중일 때에는 켜지지만 비작동 동안에는 꺼질 백라이트를 가질 수 있다. 제1 디스플레이(102) 상의 스크린 이미지는 제1 메모리(112)에 저장될 수 있다. 스크린 이미지가 변할 때마다, 새로운 스크린 이미지가 제1 메모리(112)에 저장될 수 있다.
도킹 스테이션(100)은 제1 디스플레이(102)에서의 전기 서지에 대해 감시할 수 있다. 더 구체적으로, 도킹 스테이션(100)은 제1 디스플레이(102)의 전압 부스트에서의 전기 서지에 대해 감시할 수 있다. 제1 디스플레이(102) 및 제1 마이크로프로세서(122)에 전기적으로 접속된 제1 비교기 회로(120)는 인가된 전압의 감소 또는 증가를 검출함으로써 전기 서지에 대해 감시할 수 있다. 발명자는 전압 부스트의 인가된 전압이 충분히 강한 ESD 현상 후에 공급 중단되는 경향이 있음을 발견하였다. 그러나, 일정 상황 하에서, ESD 현상은 전압 부스트에서 인가된 전압을 증가시킬 수 있다. 제1 디스플레이(102)에 인가된 전압이 소정의 범위 내에 있지 않다는 점에서 전기 서지가 검출되면, 제1 디스플레이(102)는 저장된 스크린 이미지로 리프레시되어야 한다. 일단 제1 비교기 회로(120)가 소정의 범위 내에 있지 않은 전기 서지를 검출하면, 제1 비교기 회로는 제1 디스플레이(102)가 재초기화된 다음 저장된 스크린 이미지로 리프레시되도록 제1 마이크로프로세서(122)의 인터럽트를 기동시킬 수 있다.
소정의 범위는 하한 및 상한을 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 하한은 약 10 볼트 미만일 수 있으며 상한은 무한대일 수 있다. 하한은 도 7b에 도시된 바와 같이 포지티브 입력부(3)로 공급되는 1.65 볼트의 기준 전압에 기초할 수 있다. 따라서, 하한은 9.9 볼트와 동일한 값인, 0.167 척도 인자(scaling factor)로 나누어진 1.65 볼트일 수 있다. ESD 현상이 전압 부스트가 인가된 전압을 증가시키게 하지 않는 상황의 경우, 상한은 무한대로 설정될 수 있다.
ESD에 의해 전압 부스트가 인가된 전압을 증가 또는 감소시킬 수 있는 다른 실시예에서, 하한은 약 10 볼트 미만일 수 있으며 상한은 약 12 볼트 내지 약 13 볼트의 범위일 수 있다. 상한은 전압 부스트 회로의 상한 규격값(upper specification value)이 되도록 설정될 수 있거나, 대안적으로 상한 규격값에 인가된 전압의 일상적인 단기적 변화를 고려한 증분값(incremental value)을 더한 값이 되도록 설정될 수 있다. 전압 부스트가 약 11 볼트 내지 약 12 볼트 범위의 통상적인 작동 특성을 갖는 상황의 경우, 상한은 약 12 볼트 이상으로 설정될 수 있다.
발명자는 전기 서지를 검출하기 위한 제1 비교기 회로(120)의 사용 및 각각의 스크린 이미지를 저장하기 위한 제1 메모리의 사용이 제1 디스플레이(102)가 작동을 멈출 가능성을 감소시키는 것을 돕는다는 것을 발견하였다. 더욱이, 제1 커패시턴스 회로(110)의 사용은 ESD로부터 발생하는 문제의 위험을 추가로 감소시킨다.
도킹 스테이션(100)을 시험 측정기(200)에 결합하기 전에, 시험 측정기(200)는 1개 이상의 시험 스트립으로 시험될 수 있다. 시험을 위해, 시험 스트립(211)은 시험 측정기(200)와 정합될 수 있다. 다음으로, 혈액 샘플(215)이 시험 스트립(211)에 적용될 수 있다. 그 다음, 시험 측정기(200)는 혈액 샘플(215)의 포도당 농도를 측정할 수 있다. 포도당 농도를 측정하는 공정은 포도당의 산화된 형태로의 물리적 변환을 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 시험 측정기(200)를 작동시키는 방법은 제2 디스플레이(202) 상에 스크린 이미지를 디스플레이하는 단계를 포함한다. 제2 디스플레이(202) 상의 스크린 이미지는 제2 메모리(212)에 저장될 수 있다. 스크린 이미지가 변할 때마다, 새로운 스크린 이미지가 제2 메모리(212)에 저장될 수 있다.
시험 측정기(200)는 제2 디스플레이(202)에서의 전기 서지에 대해 감시할 수 있다. 더 구체적으로, 시험 측정기(200)는 제2 디스플레이(202)의 전압 부스트에서의 전기 서지에 대해 감시할 수 있다. 제2 디스플레이(202) 및 제2 마이크로프로세서(222)에 전기적으로 접속된 제2 비교기 회로(220)는 인가된 전압의 감소 또는 증가를 검출함으로써 전기 서지에 대해 감시할 수 있다. 발명자는 전압 부스트의 인가된 전압이 충분히 강한 ESD 현상 후에 공급 중단되는 경향이 있음을 발견하였다. 그러나, 일정 상황 하에서, ESD 현상은 전압 부스트에서 인가된 전압을 증가시킬 수 있다. 제2 디스플레이(202)에 인가된 전압이 소정의 범위 내에 있지 않다는 점에서 전기 서지가 검출되면, 제2 디스플레이(202)는 저장된 스크린 이미지로 리프레시되어야 한다. 일단 제2 비교기 회로(220)가 소정의 범위 내에 있지 않은 전기 서지를 검출하면, 제2 비교기 회로는 제2 디스플레이(202)가 재초기화된 다음 저장된 스크린 이미지로 리프레시되도록 제2 마이크로프로세서(222)의 인터럽트를 기동시킬 수 있다. 시험 측정기(200)에 대한 소정의 범위는 도킹 스테이션(100)과 대략 동일할 수 있다.
일정 상황 하에서, ESD 공격이 디스플레이에서 검출될 수 있지만, ESD는 마이크로프로세서의 기능을 방해하지 않는다. 따라서, ESD 공격이 디스플레이에서 검출될 때, 마이크로프로세서는 저장된 스크린 이미지를 리프레시하고 시험을 계속할 수 있다. 디스플레이가 ESD로 인해 일시적으로 작동이 멈출 수 있더라도, 마이크로프로세서가 디스플레이를 리셋하고 즉시 이전에 저장된 이미지로 리프레시할 수 있기 때문에, 사용자는 이를 실감하지 않고 시험을 계속할 것이다.
예를 들어, 시험 측정기(200)는 시험 스트립, 손가락, 및 사용자가 혈액을 시험 스트립에 적용할 수 있음을 나타내는 혈액의 방울을 보여주는 몇몇 아이콘을 제2 디스플레이(202) 상에서 번쩍이게 할 수 있다. ESD 완화 메커니즘이 활용되지 않는 제1 상황에서, 충분히 강한 ESD 현상은 디스플레이가 작동을 멈추게 할 수 있다. 시험 스트립에 혈액을 투여할 것을 사용자에게 상기시키는 아이콘이 여전히 나타나 있을 수 있기 때문에, 따라서 사용자는 시험 스트립에 혈액을 투여할 수 있다. 그 다음, 시험 측정기는 시험을 수행할 것이지만, 디스플레이가 작동을 하지 않기 때문에 포도당 농도는 나타나지 않을 것이다. 마이크로프로세서가 여전히 작동 중일 수 있기 때문에, 실제 포도당 농도가 계산되었을 것이지만, 작동을 멈춘 디스플레이 때문에 보일 수 없다. 스크린을 작동시키기 위해, 사용자는 마이크로프로세서가 리셋되고 다음으로 디스플레이를 리프레시할 수 있도록 전지를 제거 및 재삽입하거나 측정기를 끈 다음에 켜야 할 것이다. 제1 상황에서, 사용자가 포도당 농도 출력을 판단할 수 없기 때문에 시험 스트립은 어쩌면 낭비될 것이다.
본 명세서에 설명된 ESD 완화 방법이 사용되는 제2 상황에서, 비교적 강한 ESD 현상이 디스플레이에서 일어나더라도 시험은 중단됨이 없이 수행될 수 있다. 여기서, 충분히 강한 ESD는 디스플레이가 작동을 멈추게 할 수 있다. 예를 들어, 시험 스트립에 혈액을 투여할 것을 사용자에게 상기시키는 아이콘이 디스플레이 상에서 변하지 않은 채로 있을 것이다. 그러나, 비교기 회로는 전기 서지를 인지하고 자동적으로 디스플레이를 재초기화하여, 이후의 마이크로프로세서 명령에 기초하여 디스플레이가 리프레시되게 할 것이다. ESD 현상이 일어났었음을 사용자가 실감하는 일 없이 디스플레이는 시험 스트립에 혈액을 투여할 것을 사용자에게 상기시키는 이전에 저장된 아이콘을 나타내도록 리프레시될 수 있다. 디스플레이가 작동을 멈추지 않기 때문에, 디스플레이는 이후의 마이크로프로세서 명령에 응답하여 시험을 수행하고 계산된 포도당 농도를 보여줄 수 있다. 따라서, 비교적 강한 ESD 현상이 일시적으로 디스플레이의 작동을 멈추게 하더라도, 시험 스트립을 낭비하는 곤란함 없이 유효한 포도당 농도가 스크린 이미지로서 보여질 수 있다.
본 발명의 바람직한 실시예가 본 명세서에 도시되고 기술되었지만, 그러한 실시예가 단지 예로서 제공되는 것은 당업자에게 명백할 것이다. 예를 들어, 본 발명은 도킹 스테이션 및 포도당 측정기에 적용될 수 있을 뿐만 아니라, 인슐린 주입 펌프, 연속 포도당 감시 시스템 등과 같이 전원 공급 장치를 필요로 하고 리셋될 수 있는 임의의 전자 장치에도 적용될 수 있다. 이제 본 발명으로부터 벗어나지 않고서 여러 변형, 변경, 및 대체가 당업자에 의해 안출될 것이다. 본 명세서에 기술된 본 발명의 실시예에 대한 다양한 대안이 본 발명을 실시하는데 사용될 수 있다. 다음의 특허청구범위는 본 발명의 범주를 한정하며, 이에 의해 이들 특허청구범위 및 그 등가물의 범주 내에 있는 방법 및 구성이 포괄되는 것으로 의도된다.

Claims (57)

  1. 시험 측정기(test meter)를 작동시키는 방법으로서,
    상기 시험 측정기의 디스플레이 상에 스크린 이미지를 디스플레이하는 단계;
    상기 스크린 이미지를 메모리에 저장하는 단계;
    상기 디스플레이에서의 전기 서지(electrical surge)를 감시하는 단계;
    소정의 범위 내에 있지 않은 전기 서지의 크기(magnitude)를 검출하는 단계; 및
    상기 전기 서지의 크기가 상기 소정의 범위 내에 있지 않을 때 상기 저장된 스크린 이미지를 갖도록 상기 디스플레이를 리프레시(refresh)하는 단계를 포함하는, 시험 측정기를 작동시키는 방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 디스플레이는 액정 디스플레이를 포함하는, 시험 측정기를 작동시키는 방법.
  3. 제1항에 있어서, 상기 전기 서지는 정전기 방전(electrostatic discharge)을 포함하는, 시험 측정기를 작동시키는 방법.
  4. 제1항에 있어서, 상기 전기 서지는 상기 디스플레이에 인가되는 전압을 감쇠시키는, 시험 측정기를 작동시키는 방법.
  5. 제1항에 있어서, 상기 전기 서지는 상기 디스플레이에 인가되는 전압을 증가시키는, 시험 측정기를 작동시키는 방법.
  6. 제1항에 있어서, 상기 리프레시하는 단계는 상기 디스플레이를 재초기화하는 단계를 포함하는, 시험 측정기를 작동시키는 방법.
  7. 제1항에 있어서, 상기 감시하는 단계는 비교기 회로(comparator circuit)를 포함하는, 시험 측정기를 작동시키는 방법.
  8. 제7항에 있어서, 상기 비교기 회로는 마이크로프로세서를 기동시켜 상기 디스플레이를 리프레시하는, 시험 측정기를 작동시키는 방법.
  9. 제1항에 있어서, 상기 감시하는 단계는 아날로그-대-디지털 컨버터에 접속된 마이크로프로세서를 포함하는 회로를 포함하며, 상기 회로는 전기 서지를 감시하도록 구성되는, 시험 측정기를 작동시키는 방법.
  10. 제7항에 있어서, 상기 비교기 회로는 상기 디스플레이 및 상기 시험 측정기의 마이크로프로세서에 전기적으로 접속되는, 시험 측정기를 작동시키는 방법.
  11. 제10항에 있어서, 상기 비교기 회로는 상기 디스플레이의 전압 부스트(voltage boost) 및 상기 시험 측정기의 마이크로프로세서에 전기적으로 접속되는, 시험 측정기를 작동시키는 방법.
  12. 제11항에 있어서, 상기 소정의 범위는 하한 및 상한을 포함하며, 상기 하한은 상기 비교기 회로의 연산 증폭기의 포지티브 입력부(positive input)로 공급되는 기준 전압에 기초하고 상기 상한은 무한대인, 시험 측정기를 작동시키는 방법.
  13. 제11항에 있어서, 상기 소정의 범위는 하한 및 상한을 포함하며, 상기 하한은 상기 비교기 회로의 연산 증폭기의 포지티브 입력부로 공급되는 기준 전압에 기초하고 상기 상한은 상기 전압 부스트의 상한 규격값(upper specification value)에 기초하는, 시험 측정기를 작동시키는 방법.
  14. 제12항에 있어서, 상기 하한은 약 10 볼트 미만인, 시험 측정기를 작동시키는 방법.
  15. 제12항 또는 제13항에 있어서, 상기 하한은 약 10 볼트 미만이며 상기 상한은 약 12 볼트 초과인, 시험 측정기를 작동시키는 방법.
  16. 제1항에 있어서,
    상기 시험 측정기에 시험 스트립(strip)을 결합하는 단계;
    상기 시험 스트립에 샘플을 적용하는 단계; 및
    상기 샘플의 농도를 측정하는 단계를 추가로 포함하는, 시험 측정기를 작동시키는 방법.
  17. 제16항에 있어서, 상기 측정하는 단계는 포도당의 산화된 형태로의 물리적 변환을 포함하는, 시험 측정기를 작동시키는 방법.
  18. 도킹 스테이션(docking station)을 작동시키는 방법으로서,
    상기 도킹 스테이션에 시험 측정기를 결합하는 단계;
    상기 도킹 스테이션의 디스플레이 상에 스크린 이미지를 디스플레이하는 단계;
    상기 스크린 이미지를 메모리에 저장하는 단계;
    상기 디스플레이에서의 전기 서지를 감시하는 단계;
    소정의 범위 내에 있지 않은 전기 서지의 크기를 검출하는 단계; 및
    상기 전기 서지의 크기가 상기 소정의 범위 내에 있지 않을 때 상기 저장된 스크린 이미지를 갖도록 상기 디스플레이를 리프레시하는 단계를 포함하는, 도킹 스테이션을 작동시키는 방법.
  19. 제18항에 있어서, 상기 디스플레이는 액정 디스플레이를 포함하는, 도킹 스테이션을 작동시키는 방법.
  20. 제18항에 있어서, 상기 전기 서지는 정전기 방전을 포함하는, 도킹 스테이션을 작동시키는 방법.
  21. 제18항에 있어서, 상기 전기 서지는 상기 디스플레이에 인가되는 전압을 감쇠시키는, 도킹 스테이션을 작동시키는 방법.
  22. 제18항에 있어서, 상기 전기 서지는 상기 디스플레이에 인가되는 전압을 증가시키는, 도킹 스테이션을 작동시키는 방법.
  23. 제18항에 있어서, 상기 리프레시하는 단계는 상기 디스플레이를 재초기화하는 단계를 포함하는, 도킹 스테이션을 작동시키는 방법.
  24. 제18항에 있어서, 상기 감시하는 단계는 비교기 회로를 포함하는, 도킹 스테이션을 작동시키는 방법.
  25. 제18항에 있어서, 상기 비교기 회로는 마이크로프로세서를 기동시켜 상기 디스플레이를 리프레시하는, 도킹 스테이션을 작동시키는 방법.
  26. 제18항에 있어서, 상기 감시하는 단계는 아날로그-대-디지털 컨버터에 접속된 마이크로프로세서를 포함하는 회로를 포함하며, 상기 회로는 전기 서지를 감시하도록 구성되는, 도킹 스테이션을 작동시키는 방법.
  27. 제24항에 있어서, 상기 비교기 회로는 상기 디스플레이 및 상기 도킹 스테이션의 마이크로프로세서에 전기적으로 접속되는, 도킹 스테이션을 작동시키는 방법.
  28. 제27항에 있어서, 상기 비교기 회로는 상기 디스플레이의 전압 부스트 및 상기 시험 측정기의 마이크로프로세서에 전기적으로 접속되는, 도킹 스테이션을 작동시키는 방법.
  29. 제28항에 있어서, 상기 소정의 범위는 하한 및 상한을 포함하며, 상기 하한은 상기 비교기 회로의 연산 증폭기의 포지티브 입력부로 공급되는 기준 전압에 기초하고 상기 상한은 무한대인, 도킹 스테이션을 작동시키는 방법.
  30. 제28항에 있어서, 상기 소정의 범위는 하한 및 상한을 포함하며, 상기 하한은 상기 비교기 회로의 연산 증폭기의 포지티브 입력부로 공급되는 기준 전압에 기초하고 상기 상한은 상기 전압 부스트의 상한 규격값에 기초하는, 도킹 스테이션을 작동시키는 방법.
  31. 제29항에 있어서, 상기 하한은 약 10 볼트 미만인, 도킹 스테이션을 작동시키는 방법.
  32. 제29항 또는 제30항에 있어서, 상기 하한은 약 10 볼트 미만이며 상기 상한은 약 12 볼트 초과인, 도킹 스테이션을 작동시키는 방법.
  33. 제18항에 있어서,
    상기 도킹 스테이션에 상기 시험 측정기를 결합하는 단계 전에, 상기 시험 측정기에 시험 스트립을 정합하는 단계;
    상기 시험 스트립에 샘플을 적용하는 단계; 및
    상기 샘플의 분석물 농도를 측정하는 단계를 추가로 포함하는, 도킹 스테이션을 작동시키는 방법.
  34. 제33항에 있어서, 상기 측정하는 단계는 포도당의 산화된 형태로의 물리적 변환을 포함하는, 도킹 스테이션을 작동시키는 방법.
  35. 도킹 스테이션으로서,
    시험 측정기에 결합되도록 구성된 정합 인터페이스(mating interface);
    상기 도킹 스테이션 상에 배치되며 스크린 이미지를 보여주도록 구성된 디스플레이;
    스크린 이미지를 저장하도록 구성된 상기 도킹 스테이션 내의 메모리;
    상기 디스플레이에서의 전기 서지를 감시하도록 구성된 상기 도킹 스테이션 내의 비교기 회로로서, 상기 비교기 회로는 상기 디스플레이 및 마이크로프로세서에 전기적으로 접속되는, 상기 도킹 스테이션 내의 비교기 회로를 포함하고,
    상기 마이크로프로세서는 상기 디스플레이가 ESD 현상 동안에 작동을 멈추지 않도록 전기 서지의 크기가 소정의 범위 내에 있지 않을 때 상기 디스플레이를 상기 저장된 스크린 이미지로 리프레시하도록 구성되는, 도킹 스테이션.
  36. 제35항에 있어서, 상기 메모리는 상기 마이크로프로세서와 일체로 된, 도킹 스테이션.
  37. 제35항에 있어서, 상기 도킹 스테이션으로부터 서버로 데이터를 전송하도록 구성된 모뎀을 추가로 포함하는, 도킹 스테이션.
  38. 제35항에 있어서, 상기 전기 서지를 흡수하도록 구성된 커패시턴스 회로를 추가로 포함하며, 상기 커패시턴스 회로는 상기 도킹 스테이션에 전기적으로 접속되는, 도킹 스테이션.
  39. 제35항에 있어서, 상기 디스플레이는 액정 디스플레이를 포함하는, 도킹 스테이션.
  40. 제35항에 있어서, 상기 마이크로프로세서는 또한 상기 디스플레이를 재초기화하도록 구성되는, 도킹 스테이션.
  41. 제35항에 있어서, 상기 비교기 회로는 상기 마이크로프로세서를 기동시켜 상기 디스플레이를 리프레시하도록 구성되는, 도킹 스테이션.
  42. 제35항에 있어서, 상기 비교기 회로는 상기 디스플레이의 전압 부스트에 전기적으로 접속되는, 도킹 스테이션.
  43. 제42항에 있어서, 상기 소정의 범위는 하한 및 상한을 포함하며, 상기 하한은 상기 비교기 회로의 연산 증폭기의 포지티브 입력부로 공급되는 기준 전압에 기초하고 상기 상한은 무한대인, 도킹 스테이션.
  44. 제42항에 있어서, 상기 소정의 범위는 하한 및 상한을 포함하며, 상기 하한은 상기 비교기 회로의 연산 증폭기의 포지티브 입력부로 공급되는 기준 전압에 기초하고 상기 상한은 상기 전압 부스트의 상한 규격값에 기초하는, 도킹 스테이션.
  45. 제43항에 있어서, 상기 하한은 약 10 볼트 미만인, 도킹 스테이션.
  46. 제43항 또는 제44항에 있어서, 상기 하한은 약 10 볼트 미만이며 상기 상한은 약 12 볼트 초과인, 도킹 스테이션.
  47. 시험 측정기로서,
    상기 시험 측정기 상에 배치되며 스크린 이미지를 보여주도록 구성된 디스플레이;
    스크린 이미지를 저장하도록 구성된 상기 시험 측정기 내의 메모리;
    상기 디스플레이에서의 전기 서지를 감시하도록 구성된 상기 시험 측정기 내의 비교기 회로로서, 상기 디스플레이 및 마이크로프로세서에 전기적으로 접속되는 상기 시험 측정기 내의 비교기 회로를 포함하고,
    상기 마이크로프로세서는 상기 디스플레이가 ESD 현상 동안에 작동을 멈추지 않도록 전기 서지의 크기가 소정의 범위 내에 있지 않을 때 상기 디스플레이를 상기 저장된 스크린 이미지로 리프레시하도록 구성되는, 시험 측정기.
  48. 제47항에 있어서, 상기 메모리는 상기 마이크로프로세서와 일체로 된, 시험 측정기.
  49. 제47항에 있어서, 상기 전기 서지를 흡수하도록 구성된 커패시턴스 회로를 추가로 포함하며, 상기 커패시턴스 회로는 상기 시험 측정기에 전기적으로 접속되는, 시험 측정기.
  50. 제47항에 있어서, 상기 디스플레이는 액정 디스플레이를 포함하는, 시험 측정기.
  51. 제47항에 있어서, 상기 마이크로프로세서는 또한 상기 디스플레이를 재초기화하도록 구성되는, 시험 측정기.
  52. 제47항에 있어서, 상기 비교기 회로는 상기 마이크로프로세서를 기동시켜 상기 디스플레이를 리프레시하도록 구성되는, 시험 측정기.
  53. 제47항에 있어서, 상기 비교기 회로는 상기 디스플레이의 전압 부스트에 전기적으로 접속되는, 시험 측정기.
  54. 제53항에 있어서, 상기 소정의 범위는 하한 및 상한을 포함하며, 상기 하한은 상기 비교기 회로의 연산 증폭기의 포지티브 입력부로 공급되는 기준 전압에 기초하고 상기 상한은 무한대인, 시험 측정기.
  55. 제53항에 있어서, 상기 소정의 범위는 하한 및 상한을 포함하며, 상기 하한은 상기 비교기 회로의 연산 증폭기의 포지티브 입력부로 공급되는 기준 전압에 기초하고 상기 상한은 상기 전압 부스트의 상한 규격값에 기초하는, 시험 측정기.
  56. 제54항에 있어서, 상기 하한은 약 10 볼트 미만인, 시험 측정기.
  57. 제54항 또는 제55항에 있어서, 상기 하한은 약 10 볼트 미만이며 상기 상한은 약 12 볼트 초과인, 시험 측정기.
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