KR20110071348A - Substrate for a display device and method of manufacturing the same - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 표시 장치용 기판 및 이의 제조 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 표시 특성을 향상시키는 표시 장치용 기판 및 이의 제조 방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE
최근, 액정 표시 장치(LCD: Liquid Crystal Display device) 등을 포함하는 표시 장치에서 원가 절감을 위해 값비싼 기존의 무알칼리 유리를 대신 값싼 소다라임 유리(soda lime silicate glass)를 사용하고 있다.Recently, in order to reduce costs in display devices including liquid crystal display devices (LCDs), cheap soda lime silicate glass is used instead of expensive conventional alkali free glass.
기존의 무알칼리 유리는 알칼리 이온을 함유하고 있지 않으므로, 알칼리 이온이 상기 무알칼리 유리로 이루어진 기판 상에 형성되는 금속 배선, 반도체층 등으로 침투되지 않았다.Since the existing alkali free glass does not contain alkali ion, alkali ion did not penetrate into the metal wiring, semiconductor layer, etc. formed on the board | substrate which consists of said alkali free glass.
하지만, 소다라임 유리는 나트륨(Na), 칼륨(K) 및 라임(Ca) 등의 알칼리 이온을 상당량 함유하고 있으므로, 상기 알칼리 이온이 상기 소다라임 유리로 이루어진 기판 상에 형성되는 금속 배선, 반도체층 등으로 확산 및 침투되어, 상기 금속 배선의 저항 특성을 변화시키고, TFT의 특성을 저하시킨다.However, since soda-lime glass contains a considerable amount of alkali ions such as sodium (Na), potassium (K), and lime (Ca), the metal wiring and semiconductor layer are formed on the substrate made of the soda-lime glass. Diffuses and penetrates, etc., to change the resistance characteristics of the metal wirings and to deteriorate the TFT characteristics.
예를 들어, 상기 알칼리 이온이 TFT의 a-Si층에 침투되어, a-Si층의 유동성(mobility), 전류 등의 특성을 악화시키고, 상기 알칼리 이온이 유전체에 침투되어, 유전율을 감소시킨다. 따라서, 표시 장치의 불량을 유발하고, 제품의 신뢰성을 떨어뜨린다.For example, the alkali ions penetrate into the a-Si layer of the TFT, deteriorating characteristics such as mobility, current, etc. of the a-Si layer, and the alkali ions penetrate into the dielectric, thereby reducing the dielectric constant. Therefore, the display device may be defective and the reliability of the product may be degraded.
상기 알칼리 이온의 확산 및 침투를 방지하기 위해, 소다라임 유리 기판 표면에 화학기상증착(CVD: Chemical Vapor Deposition) 또는 코팅(coating)으로 질화규소(SiNx) 및 산화실리콘(SiOx)으로 이루어진 배리어(barrier)막을 형성하여 나트륨 이온(Na+)의 확산을 방지하고 있다.In order to prevent the diffusion and penetration of the alkali ions, a barrier made of silicon nitride (SiNx) and silicon oxide (SiOx) by chemical vapor deposition (CVD) or coating (coating) on the surface of the soda lime glass substrate. A film is formed to prevent the diffusion of sodium ions (Na +).
또한, 상기 소다라임 유리 기판 표면에 화학적 에칭을 하여 나트륨 이온을 제거하고 있다.In addition, sodium ions are removed by chemical etching on the surface of the soda lime glass substrate.
하지만, 상기 소다라임 유리 기판 상에 배리어막을 형성하거나 화학적 에칭을 하는 것은 나트륨 이온이 용출되는 시간을 충분히 지연시키기 어렵기 때문에 여전히 불량 발생의 확률이 높다.However, the formation of a barrier film or chemical etching on the soda-lime glass substrate still has a high probability of defects because it is difficult to sufficiently delay the time that sodium ions are eluted.
이에 본 발명의 기술적 과제는 이러한 점에서 착안된 것으로, 본 발명의 목적은 표시 특성을 향상시키는 표시 장치용 기판을 제공하는 것이다.Accordingly, the technical problem of the present invention was conceived in this respect, and an object of the present invention is to provide a substrate for a display device that improves display characteristics.
본 발명의 다른 목적은 상기 표시 장치용 기판의 제조 방법을 제공하는 것이다.Another object of the present invention is to provide a method of manufacturing the substrate for a display device.
상기한 본 발명의 목적을 달성하기 위하여, 일 실시예에 따른 표시 장치용 기판은 베이스 기판 및 전극층을 포함한다. 상기 베이스 기판은 알칼리 이온을 갖는 소다 라임 유리 기판의 상부면 및 하부면에 상기 알칼리 이온과 금속 이온이 혼합된 이온 혼합층을 갖는다. 상기 전극층은 상기 베이스 기판 상에 형성된 전압이 인가된다.In order to achieve the above object of the present invention, a substrate for a display device according to an embodiment includes a base substrate and an electrode layer. The base substrate has an ion mixed layer in which the alkali ions and the metal ions are mixed on the upper and lower surfaces of the soda lime glass substrate having alkali ions. The electrode layer is applied with a voltage formed on the base substrate.
상기한 본 발명의 다른 목적을 달성하기 위하여, 일 실시예에 따른 표시 장치용 기판의 제조 방법이 개시된다. 상기 표시 장치용 기판의 제조 방법은, 알칼리 이온을 갖는 소다 라임 유리 기판이 금속 이온을 갖는 용융염에 담지된다. 상기 소다 라임 유리 기판에 함유된 알칼리 이온이 상기 용융염에 함유된 금속 이온과 이온 교환되어 이온 혼합층을 갖는 베이스 기판이 형성된다. 상기 베이스 기판 상에 전압이 인가되는 전극층이 형성된다.In order to achieve the above object of the present invention, a method of manufacturing a substrate for a display device according to an embodiment is disclosed. In the method of manufacturing the display device substrate, a soda lime glass substrate having alkali ions is supported by a molten salt having metal ions. Alkali ions contained in the soda lime glass substrate are ion exchanged with metal ions contained in the molten salt to form a base substrate having an ion mixed layer. An electrode layer to which a voltage is applied is formed on the base substrate.
이러한 표시 장치용 기판 및 이의 제조 방법에 따르면, 소다 라임 유리 기판에 이온 혼합층을 형성함으로써, 외부의 충격에 대한 압축 응력을 증가시키고, 상기 소다 라임 유리 기판 상에 형성되는 스위칭 소자의 특성이 저하되는 것을 방지할 수 있다.According to such a display device substrate and a method of manufacturing the same, by forming an ion mixed layer on a soda lime glass substrate, the compressive stress against external impact is increased, and the characteristics of the switching element formed on the soda lime glass substrate are degraded. Can be prevented.
이하, 도면들을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예들을 보다 상세하게 설명하기로 한다. 본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 형태를 가질 수 있는 바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 본문에 상세하게 설명하고자 한다. 그 러나, 이는 본 발명을 특정한 개시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 각 도면을 설명하면서 유사한 참조부호를 유사한 구성요소에 대해 사용하였다. 첨부된 도면에 있어서, 구조물들의 치수는 본 발명의 명확성을 위하여 실제보다 확대하여 도시한 것이다. 제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 예를 들어, 본 발명의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소도 제1 구성요소로 명명될 수 있다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. As the inventive concept allows for various changes and numerous embodiments, particular embodiments will be illustrated in the drawings and described in detail in the text. However, this is not intended to limit the present invention to the specific disclosed form, it should be understood to include all modifications, equivalents, and substitutes included in the spirit and scope of the present invention. Like reference numerals are used for like elements in describing each drawing. In the accompanying drawings, the dimensions of the structures are shown in an enlarged scale than actual for clarity of the invention. The terms first, second, etc. may be used to describe various components, but the components should not be limited by the terms. The terms are used only for the purpose of distinguishing one component from another. For example, without departing from the scope of the present invention, the first component may be referred to as the second component, and similarly, the second component may also be referred to as the first component. Singular expressions include plural expressions unless the context clearly indicates otherwise.
본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서 상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.In this application, the terms "comprises", "having", and the like are used to specify that a feature, a number, a step, an operation, an element, a part or a combination thereof is described in the specification, But do not preclude the presence or addition of one or more other features, integers, steps, operations, components, parts, or combinations thereof.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치용 패널의 평면도이다.1 is a plan view of a panel for a display device according to an exemplary embodiment of the present invention.
도 1을 참조하면, 본 실시예에 따른 표시 장치용 패널(1000)은 제1 표시 기판(100), 제2 표시 기판(200), 제1 터치 기판(400) 및 제2 터치 기판(500)을 포함한다.Referring to FIG. 1, the
상기 제1 표시 기판(100) 및 상기 제2 표시 기판(200)은 표시 영역(DA) 및 상기 표시 영역(DA)을 둘러싸는 주변 영역(PA)으로 이루어진다. 상기 주변 영역(PA)에는 데이터 회로부 및 게이트 회로부가 형성된다. 상기 표시 영역(DA)에는 복수의 화소부들(P)이 형성된다. 상기 화소부(P) 각각은 게이트 라인(GL), 상기 게이트 라인(GL)에 교차하는 데이터 라인(DL), 상기 게이트 라인(GL) 및 상기 데이터 라인(DL)에 연결된 스위칭 소자(TR), 상기 스위칭 소자(TR)에 전기적으로 연결된 액정 커패시터(CLC) 및 스토리지 커패시터(CST)를 포함한다.The
도 2는 도 1의 I-I를 따라 절단한 단면도이다.FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line II of FIG. 1.
도 1 및 도 2를 참조하면, 본 실시예에 따른 표시 장치용 패널(1000)은 제1 표시 기판(100), 제2 표시 기판(200) 제1 터치 기판(400) 및 제2 터치 기판(500)을 포함한다. 상기 표시 장치용 패널(1000)은 액정층(300) 및 접착부(600)를 더 포함할 수 있다.1 and 2, the
상기 제1 표시 기판(100)은 제1 베이스 기판(110), 스위칭 소자(TR) 및 화소 전극(130)을 포함한다. 상기 제1 표시 기판(100)은 게이트 절연막(140), 유기 절연막(150) 및 배향막(160)을 더 포함할 수 있다. 상기 스위칭 소자(TR), 상기 화소 전극(130), 게이트 절연막(140), 유기 절연막(150) 및 제1 배향막(160)은 상기 제1 베이스 기판(110) 상에 형성된다.The
상기 제1 베이스 기판(110)은 상기 제1 베이스 기판(110)은 산화 나트륨(Na2O), 산화 칼슘(CaO) 및 이산화 규소(SiO2)를 포함하는 소다 라임 유리 기판으 로서 이온 혼합층(111)을 포함한다. 소다 라임 유리 기판에 포함된 상기 산화 나트륨(Na2O), 산화 칼슘(CaO) 및 이산화 규소(SiO2)의 비는, 예를 들어, 13:12:70일 수 있다. 상기 제1 베이스 기판(110)은 나트륨 이온(Na+), 라임 이온(Ca+) 등의 알칼리 이온을 함유하고 있다.The
상기 이온 혼합층(111)은 상기 제1 베이스 기판(110)에 포함된 상기 나트륨 이온(Na+), 라임 이온(Ca+) 등의 알칼리 이온이 외부로 용출되어, 상기 제1 베이스 기판(110) 상에 형성된 상기 스위칭 소자(TR), 상기 데이터 구동부(DCP) 및 게이트 구동부(GCP)의 특성을 저하시키는 것을 방지한다.In the ion mixed
상기 이온 혼합층(111)은 제1 이온 혼합층(ION1), 제2 이온 혼합층(ION2) 및 사이층(BT)을 포함할 수 있다. 상기 제1 이온 혼합층(ION1)은 상기 제1 베이스 기판(110)의 상부 표면에 형성되고, 상기 스위칭 소자(TR), 데이터 구동부(DCP) 및 게이트 구동부(GCP)가 직접 형성된다. 상기 제2 이온 혼합층(ION2)은 상기 제1 베이스 기판(110)의 하부 표면에 형성되어, 상기 제1 이온 혼합층(ION1)과 대향한다. 상기 사이층(BT)은 상기 제1 이온 혼합층(ION1) 및 상기 제2 이온 혼합층(ION2) 사이에 배치되고, 이온 교환이 거의 일어나지 않은 층이다.The ion mixed
상기 스위칭 소자(TR)는 상기 제1 베이스 기판(110)의 제1 이온 혼합층(ION1) 상에 형성된다. 상기 스위칭 소자(TR)는 상기 게이트 라인(GL)으로부터 분기된 게이트 전극(121), 상기 데이터 라인(DL)으로부터 분기되고, 상기 게이트 절연막(140)에 의해 상기 게이트 전극(121)과 절연된 소스 전극(122), 상기 화소 전극(130)과 전기적으로 연결된 드레인 전극(123) 및 액티브 패턴(124)을 포함한다. 상기 액티브 패턴(124)은 상기 게이트 절연막(140) 상에 순차적으로 형성된 반도체층(125) 및 오믹 콘택층(126)을 포함할 수 있다.The switching element TR is formed on the first ion mixed layer ION1 of the
상기 스위칭 소자(TR)가 형성된 제1 베이스 기판(110) 상에 상기 유기 절연막(150)을 형성한다. 상기 유기 절연막(150)에는 상기 화소 전극(130)과 상기 스위칭 소자(TR)를 전기적으로 절연시키기 위한 컨택홀(151)이 형성된다. 상기 컨택홀(151)이 형성된 유기 절연막(150)이 형성된 제2 베이스 기판(110) 상에 상기 화소 전극(130)이 형성된다.The
상기 화소 전극(130)이 형성된 상기 제1 베이스 기판(110) 상에 상기 제1 배향막(160)이 형성된다.The
상기 제2 표시 기판(200)은 제2 베이스 기판(210), 블랙 매트릭스(220), 컬러 필터(230) 및 공통 전극(240)을 포함한다. 상기 제2 표시 기판(200)은 오버 코팅층(250) 및 제2 배향막(260)을 더 포함할 수 있다. 상기 블랙 매트릭스(220), 컬러 필터(230), 공통 전극(240), 오버 코팅층(250) 및 제2 배향막(260)은 상기 제2 베이스 기판(210) 상에 형성된다.The
상기 제2 베이스 기판(210)은 상기 제1 베이스 기판(110)과 대향하여 배치된다. 상기 제2 베이스 기판(220)은 산화 나트륨(Na2O), 산화 칼슘(CaO) 및 이산화 규소(SiO2)를 포함하는 소다 라임 유리 기판으로서, 내부에 이온 혼합층(211)을 포함한다. 상기 제2 베이스 기판(220)에 포함된 상기 산화 나트륨(Na2O), 산화 칼슘(CaO) 및 이산화 규소(SiO2)의 비는, 예를 들어, 13:12:70일 수 있다. 상기 제1 베이스 기판(110)은 나트륨 이온(Na+), 라임 이온(Ca+) 등과 같은 알칼리 이온을 함유하고 있다.The
상기 이온 혼합층(211)은 제1 이온 혼합층(ION1), 제2 이온 혼합층(ION2) 및 사이층(BT)을 포함할 수 있다. 상기 제1 이온 혼합층(ION1)은 상기 제2 베이스 기판(210)의 상부 표면에 형성되고, 상기 블랙 매트릭스(220) 및 상기 컬러 필터(230)가 직접 형성된다. 상기 제2 이온 혼합층(ION2)은 상기 제2 베이스 기판(210)의 하부 표면에 형성되어, 상기 제1 이온 혼합층(ION1)에 대향한다. 상기 사이층(BT)은 상기 제1 이온 혼합층(ION1) 및 상기 제2 이온 혼합층(ION2) 사이에 배치되고, 이온 교환이 거의 일어나지 않은 층이다.The ion
상기 블랙 매트릭스(220) 및 상기 컬러 필터(230)는 상기 제2 베이스 기판(210)의 제1 이온 혼합층(ION1) 상에 형성된다. 상기 블랙 매트릭스(220) 및 상기 컬러 필터(230)가 형성된 상기 제2 베이스 기판(210) 상에 상기 오버 코팅층(240)을 형성하고, 상기 오버 코팅층(240)이 형성된 상기 제2 베이스 기판(210) 상에 공통 전극(250)을 형성한다. 상기 공통 전극(250)은 별도의 패터닝 공정 없이 상기 제2 베이스 기판(210)의 전면에 형성될 수 있다.The
상기 공통 전극(250)이 형성된 상기 제2 베이스 기판(210) 상에 제2 배향막(260)을 형성한다A
상기 제1 배향막(160)이 상기 제2 배향막(260)에 대향하도록 상기 제1 표시 기판(100)이 상기 제2 표시 기판(200)과 결합된다. 상기 제1 표시 기판(100)과 상기 제2 표시 기판(200) 사이에는 상기 액정층(300)이 개재된다.The
상기 제1 터치 기판(400)은 상기 제2 표시 기판(200) 상에 배치된다. 상기 제1 터치 기판(400)은 제3 베이스 기판(410), 제1 터치 전극(420) 및 배선 전극(440)을 포함한다. 상기 제1 터치 기판(400)은 스페이서(430)을 더 포함할 수 있다. 상기 제1 터치 전극(420) 및 상기 스페이서(430)는 상기 제3 베이스 기판(410) 상에 형성된다.The
상기 제3 베이스 기판(410)은 산화 나트륨(Na2O), 산화 칼슘(CaO) 및 이산화 규소(SiO2)를 포함하는 소다 라임 유리 기판으로서 이온 교환층(411)을 포함한다. 소다 라임 유리 기판에 포함된 상기 산화 나트륨(Na2O), 산화 칼슘(CaO) 및 이산화 규소(SiO2)의 비는, 예를 들어, 13:12:70일 수 있다. 따라서, 상기 제3 베이스 기판(410)은 나트륨 이온(Na+), 라임 이온(Ca+) 등의 알칼리 이온을 함유하고 있다.The
상기 이온 교환층(411)은 상기 제3 베이스 기판(410)에 포함된 상기 나트륨 이온(Na+), 라임 이온(Ca+) 등의 알칼리 이온이 외부로 용출되어, 상기 제3 베이스 기판(410) 상에 형성된 상기 제1 터치 전극(420)의 특성을 저하시키는 것을 방지한다.In the ion exchange layer 411, alkali ions such as sodium ions (Na +) and lime ions (Ca +), which are included in the
상기 이온 교환층(411)은 제1 이온 교환층(ION1), 제2 이온 교환층(ION2) 및 사이층(BT)을 포함할 수 있다. 상기 제1 이온 교환층(ION1)은 상기 제3 베이스 기판(410)의 상부 표면으로부터 일정 깊이를 갖도록 형성된다. 상기 제2 이온 교환층(ION2)은 상기 제3 베이스 기판(410)의 하부 표면에 형성되어, 상기 제1 이온 교환층(ION1)에 대향한다. 상기 사이층(BT)은 상기 제1 이온 교환층(ION1) 및 상기 제2 이온 교환층(ION2) 사이에 배치되고, 이온 교환이 거의 일어나지 않은 층이다.The ion exchange layer 411 may include a first ion exchange layer ION1, a second ion exchange layer ION2, and an interlayer BT. The first ion exchange layer ION1 is formed to have a predetermined depth from an upper surface of the
상기 제1 터치 전극(420)은 제1 방향으로 나란하게 배열된다. 상기 제1 터치 전극(420)은 상기 제3 베이스 기판(410) 상에 스트라이프 형상으로 형성될 수 있다. 상기 제1 터치 전극(420)은 일정 면저항을 갖는다.The
상기 제2 터치 기판(500)은 제4 베이스 기판(510), 제2 터치 전극(520) 및 배선 전극(540)을 포함한다. 상기 제2 터치 기판(500)은 스페이서(미도시)을 더 포함할 수 있다. 상기 제2 터치 전극(520)은 상기 제4 베이스 기판(510) 상에 형성된다.The
상기 제4 베이스 기판(510)은 산화 나트륨(Na2O), 산화 칼슘(CaO) 및 이산화 규소(SiO2)를 포함하는 소다 라임 유리 기판으로서 이온 교환층(511)을 포함한다. 소다 라임 유리 기판에 포함된 상기 산화 나트륨(Na2O), 산화 칼슘(CaO) 및 이산화 규소(SiO2)의 비는, 예를 들어, 13:12:70일 수 있다. 상기 제4 베이스 기판(510)은 나트륨 이온(Na+), 라임 이온(Ca+) 등의 알칼리 이온을 함유하고 있다.The
상기 이온 교환층(511)은 상기 제4 베이스 기판(510)에 포함된 상기 나트륨 이온(Na+), 라임 이온(Ca+) 등의 알칼리 이온이 외부로 용출되어, 상기 제4 베이스 기판(510) 상에 형성된 상기 제2 터치 전극(520)의 특성을 저하시키는 것을 방지한다.In the ion exchange layer 511, alkali ions such as sodium ions (Na +) and lime ions (Ca +), which are included in the
상기 이온 교환층(511)은 제1 이온 교환층(ION1), 제2 이온 교환층(ION2) 및 사이층(BT)을 포함할 수 있다. 상기 제1 이온 교환층(ION1)은 상기 제4 베이스 기판(510)의 상부 표면으로부터 일정 깊이를 갖도록 형성된다. 상기 제2 이온 교환 층(ION2)은 상기 제4 베이스 기판(510)의 하부 표면에 형성되어, 상기 제1 이온 교환층(ION1)에 대향한다. 상기 사이층(BT)은 상기 제1 이온 교환층(ION1) 및 상기 제2 이온 교환층(ION2) 사이에 배치되고, 이온 교환이 거의 일어나지 않은 층이다.The ion exchange layer 511 may include a first ion exchange layer ION1, a second ion exchange layer ION2, and an interlayer BT. The first ion exchange layer ION1 is formed to have a predetermined depth from an upper surface of the
상기 제2 터치 전극(520)은 상기 제1 방향에 교차하는 제2 방향으로 나란하게 배열된다. 상기 제2 터치 전극(520)은 상기 제4 베이스 기판(510) 상에 스트라이프 형상으로 형성될 수 있다. 상기 제2 터치 전극(520)은 일정 면저항을 갖는다.The
상기 제1 터치 전극(420)이 상기 제2 터치 전극(520)에 대향하도록, 상기 제1 터치 기판(400)은 상기 제2 터치 기판(500)과 상기 접착부(600)에 의해 결합된다.The
따라서, 상기 제2 터치 기판(500)이 스타일러스 펜 또는 외부 작용에 의해 터치될 때, 상기 제2 터치 기판(500)에 형성된 제2 터치 전극(520)이 상기 제1 터치 기판(400)에 형성된 제1 터치 전극(420)과 접촉된다. 상기 제1 터치 전극(420)과 상기 제2 터치 전극(520)의 접촉하면, 어떤 전압 강하가 발생되어 상기 제1 터치 전극(420)과 상기 제2 터치 전극(520)이 접촉된 위치를 계산한다.Therefore, when the
도 3a 및 도 3b는 도 2의 베이스 기판의 제조 방법을 설명하기 위한 단면도들이다.3A and 3B are cross-sectional views illustrating a method of manufacturing the base substrate of FIG. 2.
도 2 내지 도 3b를 참조하여, 상기 제1 내지 제4 베이스 기판(110 내지 510)을 제조하는 방법을 설명할 것이다.2 to 3B, a method of manufacturing the first to
도 3a은 용융염(900)에 담지된 소다 라임 유리 기판(120)을 도시하고 있다. 상기 소다 라임 유리 기판(120)은 상기 제1 내지 제4 베이스 기판(110 내지 510)의 원재료이다.3A illustrates a soda
상기 용융염은(900)은 금속 이온을 포함한다. 예를 들어, 상기 금속 이온은 리튬 이온(Li+), 칼륨 이온(K+) 또는 은 이온(Ag+)일 수 있다. 상기 금속 이온을 포함하는 상기 용융염(900)은 질산칼륨(KNO3) 및 질산은(AgNO3)일 수 있다. 도 3a에서는 상기 용융염(900)이 칼륨 이온(K+)을 함유하고 있는 것을 예로서 설명할 것이다.The
상기 소다 라임 유리 기판(120)은 산화 나트륨(Na2O), 산화 칼슘(CaO) 및 이산화 규소(SiO2)를 포함한다. 따라서, 상기 소다 라임 유리 기판(120)은 나트륨 이온(Na+)을 알칼리 이온으로서 함유하고 있다.The soda
도 3b는 용융염(900)에 함유된 칼륨 이온(K+)과 상기 소다 라임 유리 기판(120)에 함유된 나트륨 이온(Na+)의 이온 교환을 도시하고 있다. 여기서, 상기 이온 교환의 온도는 약 370도 내지 약 450일 수 있다.3B illustrates ion exchange of potassium ions (K +) contained in
도 2 및 3b를 참조하면, 상기 소다 라임 유리 기판(120)의 나트륨 이온(Na+)이 상기 용윰염으로 용출되어 상기 소다 라임 유리 기판(120) 상부 및 하부 표면의 나트륨 이온(Na+)의 함량이 감소되고, 상기 용융염(900)의 칼륨 이온(K+)이 상기 소다 라임 유리 기판(120)으로 침투되어 상기 소다 라임 유리 기판(120) 상부 및 하부 표면의 칼륨 이온(K+)의 함량이 증가된다. 상기 이온 교환에 의해, 나트륨 이온(Na+)과 칼륨 이온(K+)이 혼합된 이온 혼합층(111 내지 511)이 형성되어 상기 이온 혼합층(111 내지 511)을 포함하는 상기 제1 내지 제4 베이스 기판(110 내지 510)이 형성된다.Referring to FIGS. 2 and 3B, sodium ions (Na +) of the soda
상기 이온 혼합층(111 내지 511)은 상기 제1 내지 제4 베이스 기판(110 내지 510)에 함유된 나트륨 이온(Na+)이 상기 용윰염에 함유된 칼륨 이온(K+)과 이온 교환하여 상기 제1 내지 제4 베이스 기판(110 내지 510)의 표면으로부터 일정 깊이(D)만큼 형성된다.In the ion
상기 깊이(D)는 상기 제1 내지 제4 베이스 기판(110 내지 510)의 표면으로부터 상기 나트륨 이온(Na+) 및 상기 칼륨 이온(K+)이 혼합되어 있는 곳까지의 거리이다. 상기 깊이(D)는 상기 제1 내지 제4 베이스 기판(110 내지 510)이 상기 용융염(900)에 담지된 시간, 상기 제1 내지 제4 베이스 기판(110 내지 510)의 구성물, 또는 상기 용융염(900)의 농도에 따라 결정될 수 있다. 상기 깊이(D)의 범위는 약 1㎛ 내지 100㎛일 수 있다. 상기 제1 내지 제4 베이스 기판(110 내지 510)의 나트륨 이온(Na+)에 대한 상기 용융염의 칼륨 이온(K+)의 비는 약 0.01 내지 1일 수 있다.The depth D is a distance from the surfaces of the first to
상기 칼륨 이온(K+) 또는 상기 은 이온(Ag+)은 주로 상기 나트륨 이온(Na+)보다 이온 반경이 크다. 상기 이온 혼합층(111 내지 511)은 이온 반경이 서로 다른 상기 칼륨 이온(K+) 또는 상기 은 이온(Ag+)과 상기 나트륨 이온(Na+)이 공존함으로써 이온의 유동성(mobility)가 감소되는 혼합 이온 효과(mixed ion effect)를 갖는다. 따라서, 상기 제1 내지 제4 베이스 기판(110 내지 510)에 함유된 나트륨 이온(Na+)이 용출되는 시간이 상기 이온 혼합층(111 내지 511)에 의해 지연될 수 있다.The potassium ion (K +) or the silver ion (Ag +) is mainly larger in ionic radius than the sodium ion (Na +). The ion
또한, 상기 제1 내지 제4 베이스 기판(110 내지 510)의 표면에 형성된 상기 이온 혼합층(111 내지 511)은 이온 반경이 큰 상기 칼륨 이온(K+) 또는 상기 은 이온(Ag+)을 포함함으로써, 압축 응력이 발생된다. 따라서, 상기 제1 내지 제4 베이스 기판(110 내지 510)은 외부의 충격 및 변형에 의한 파괴 응력이 증가하여 내충격성이 향상될 수 있다.In addition, the ion mixing layers 111 to 511 formed on the surfaces of the first to
도 4a 내지 도 4d는 도 2의 제1 표시 기판을 제조하는 방법을 설명하기 위한 단면도들이다.4A through 4D are cross-sectional views illustrating a method of manufacturing the first display substrate of FIG. 2.
도 2 및 도 4a를 참조하면, 상기 제1 표시 기판(100)은 상기 이온 혼합층(111)을 포함하는 상기 제1 베이스 기판(110)을 포함한다. 상기 이온 혼합층(111)은 나트륨 이온(Na+)과 칼륨 이온(K+)이 혼합된 층이다. 상기 이온 혼합층(111)은 상기 제1 베이스 기판(110) 내부의 상부 및 하부 표면으로부터 일정 깊이(D)로 형성된다. 상기 깊이(D)의 범위는 약 1㎛ 내지 100㎛일 수 있다.2 and 4A, the
상기 제1 베이스 기판(110)에 게이트 전극(121) 및 게이트 라인(GL)을 포함하는 게이트 패턴을 형성하기 위한 제1 도전층(GP)을 형성한다. 상기 제1 도전층(GP)이 형성된 상기 제1 베이스 기판(110) 상에 포토레지스트층을 형성하고, 마스크를 이용해 상기 포토레지스트층을 패터닝하여 게이트 패턴을 형성하기 위한 포토레지스트 패턴(PR)을 잔류시킨다.A first conductive layer GP is formed on the
상기 포토레지스트 패턴(PR)을 이용하여 상기 제1 도전층(GP)을 패터닝하여 상기 제1 베이스 기판(110) 상에 상기 게이트 패턴을 형성한다.The gate pattern is formed on the
도 2 및 도 4b를 참조하면, 상기 게이트 패턴이 형성된 상기 제1 베이스 기 판(110) 상에 게이트 절연층(140)을 형성한다. 상기 게이트 절연층(130)이 형성된 상기 제1 베이스기판(110) 상에 상기 반도체층(125) 및 상기 오믹 콘택층(126)을 형성한다. 포토레지스트 패턴(PR)을 이용해 상기 반도체층(140)을 패터닝하여 상기 게이트 전극(121) 상에 상기 반도체층(125) 및 상기 오믹 콘택층(126)을 형성한다.2 and 4B, a
도 2 및 도 4c을 참조하면, 상기 반도체층(125) 및 상기 오믹 콘택층(126)이 형성된 상기 제1 베이스 기판(110) 상에 상기 소스 전극(124), 상기 드레인 전극(123) 및 상기 데이터 라인(DL)을 포함하는 데이터 패턴을 형성하기 위한 제2 도전층(DP)을 형성한다. 상기 제2 도전층(DP)이 형성된 제2 베이스 기판(110) 상에 포토레지스트층을 형성하고, 슬릿 마스크를 이용해 상기 포토레지스트층을 패터닝하여 데이터 패턴을 형성하기 위한 포토레지스트 패턴(PR)을 잔류시킨다.2 and 4C, the
상기 포토레지스트 패턴(PR)은 상기 데이터 패턴이 형성되는 영역에는 제1 두께로 형성되고, 상기 스위칭 소자(TR)의 채널 영역에 대응되는 영역에는 상기 제1 두께보다 얇은 제2 두께로 형성된다.The photoresist pattern PR is formed to have a first thickness in a region where the data pattern is formed, and is formed to a second thickness that is thinner than the first thickness in a region corresponding to the channel region of the switching element TR.
상기 포토레지스트 패턴(PR)을 이용하여 상기 제2 도전층(DP)을 패터닝하여 상기 제1 베이스 기판(110) 상에 상기 스위칭 소자(TR)의 전극 패턴 및 상기 데이터 라인(DL)을 포함하는 상기 데이터 패턴을 형성한다. 상기 포토레지스트 패턴(PR)을 일정 두께만큼 제거하여 상기 스위칭 소자(TR)의 채널 영역(C) 상에 상기 전극 패턴들을 노출시키고, 상기 데이터 패턴 상에 포토레지스트 패턴(PR)을 잔류시킨다. 상기 잔류된 포토레지스트 패턴(PR)을 이용해 상기 채널 영역(C) 상의 상기 전극 패턴들을 패터닝하여 서로 이격된 소스 전극(124) 및 드레인 전극(123)을 형성한다. 따라서, 상기 스위칭 소자(TR)가 완성된다.The second conductive layer DP is patterned using the photoresist pattern PR to include an electrode pattern of the switching element TR and the data line DL on the
도 2 및 도 4d를 참조하면, 상기 스위칭 소자(TR)가 형성된 상기 제1 베이스 기판(110) 상에 상기 유기 절연막(150)을 형성한다. 상기 유기 절연막(150)을 식각하여 상기 드레인 전극(123)을 노출시키는 콘택홀(150)을 형성한다.2 and 4D, the organic insulating
상기 콘택홀(150)이 형성된 상기 제1 베이스 기판(110) 상에 제3 도전층(PP)을 형성한다. 상기 제3 도전층(PP)은 산화 인듐 주석(ITO), 산화 인듐 아연(IZO), 아몰퍼스 산화 인듐 주석(a-ITO)와 같은 투명 도전성 물질로 이루어질 수 있다. 상기 제3 도전층(PP) 상에 포토레지스트층을 형성하고, 마스크를 이용해 상기 포토레지스트층을 패터닝하여 포토레지스트 패턴(PR)을 형성한다. 상기 포토레지스트 패턴(PR)을 이용해 상기 제3 도전층(PP)을 패터닝하여 상기 화소 전극(130)을 포함하는 화소 전극 패턴을 형성한다.A third conductive layer PP is formed on the
도 5는 도 2의 제2 표시 기판의 제조 방법을 설명하기 위한 단면도이다.5 is a cross-sectional view for describing a method of manufacturing the second display substrate of FIG. 2.
도 2 및 도 5를 참조하면, 상기 제2 표시 기판(200)은 상기 이온 혼합층(211)을 포함하는 상기 제2 베이스 기판(210)을 포함한다. 상기 이온 혼합층(211)은 나트륨 이온(Na+)과 칼륨 이온(K+)이 혼합된 층이다. 상기 이온 혼합층(211)은 상기 제2 베이스 기판(210) 내부의 상부 및 하부 표면으로부터 일정 깊이(D)로 형성된다. 상기 깊이(D)의 범위는 약 1㎛ 내지 100㎛일 수 있다.2 and 5, the
상기 제2 베이스 기판(110) 상에 포토레지스트 패턴을 이용하여 블랙 매트릭스(220)를 형성한다. 상기 블랙 매트릭스(220)가 형성된 상기 제2 베이스 기판(110) 상에 컬러 필터층을 패터닝하여 컬러 필터(230)를 포함하는 컬러 필터 패 턴을 형성한다.The
상기 컬러 필터(230)가 형성된 상기 제2 베이스 기판(110) 상에 상기 블랙 매트릭스(220) 및 상기 컬러 필터(230)을 두께를 일정하게 하는 오버 코팅층(250)이 형성된다. 상기 오버 코팅층(250)이 형성된 상기 제2 베이스 기판(110) 상에 공통 전극(240)을 형성한다.An
도 6은 온도에 따라 이온 혼합층에서 이온 교환된 나트륨 이온과 칼륨 이온의 함유량을 나타내는 표이다.6 is a table showing the content of sodium ions and potassium ions ion-exchanged in the ion mixed layer with temperature.
도 2 및 도 6을 참조하여, 410도 및 430도에서 상기 소다 라임 유리 기판을 용융염에 담지하여 이온 교환시킨 경우를 예로서 설명할 것이다.Referring to FIGS. 2 and 6, a case in which the soda lime glass substrate is ion exchanged by supporting the molten salt at 410 degrees and 430 degrees will be described as an example.
410도에서 이온 교환시킨 경우, 제1 실험 기판(CS_410)의 나트륨 이온(Na+)의 함유량이 제1 이온 혼합층(ION1)에서 2.84 원자백분율(atomic percent: 원자수의 백분율)(이하, 단위 생략)이고, 제2 이온 혼합층(ION2)에서 3.86이며, 제1 이온 혼합층(ION1) 및 제2 이온 혼합층(ION2) 사이층(BT)에서 7.05이다. 따라서, 이온 교환이 일어난 제1 이온 혼합층(ION1) 및 제2 이온 혼합층(ION2)의 나트륨 이온(Na+)의 함유량이 이온 교환이 일어나지 않은 사이층(BT)의 나트륨 이온(Na+)의 함유량보다 감소하였음을 알 수 있다.When ion-exchanged at 410 degrees, the content of sodium ions (Na +) in the first experimental substrate CS_410 is 2.84 atomic percent in the first ion mixed layer ION1 (hereinafter, unit is omitted). And 3.86 in the second ion mixed layer ION2, and 7.05 in the layer BT between the first ion mixed layer ION1 and the second ion mixed layer ION2. Therefore, the content of sodium ions (Na +) in the first ion mixed layer ION1 and the second ion mixed layer ION2 in which ion exchange has occurred is reduced than the content of sodium ions (Na +) in the interlayer BT in which no ion exchange occurs. It can be seen that.
또한, 410도에서 이온 교환시킨 경우, 제1 실험 기판(CS_410)의 칼륨 이온(K+)의 함유량이 제1 이온 혼합층(ION1)에서 4.22이고, 제2 이온 혼합층(ION2)에서 5.41이며, 제1 이온 혼합층(ION1) 및 제2 이온 혼합층(ION2) 사이층(BT)에서 0.48이다. 따라서, 이온 교환이 일어난 제1 이온 혼합층(ION1) 및 제2 이온 혼합 층(ION2)의 칼륨 이온(K+)의 함유량이 증가하였음을 알 수 있다.In addition, when ion-exchanged at 410 degree | times, content of the potassium ion (K +) of the 1st experiment board | substrate CS_410 is 4.22 in the 1st ion mixed layer ION1, 5.41 in the 2nd ion mixed layer ION2, and 1st 0.48 between the ion mixing layer ION1 and the second ion mixing layer ION2. Therefore, it can be seen that the content of potassium ions (K +) in the first ion mixed layer ION1 and the second ion mixed layer ION2 in which ion exchange has occurred has increased.
여기서, 상기 사이층(BT)의 칼륨 이온(K+)의 함유량은 2.0 이하인 것이 바람직할 수 있다. 또한, 상기 사이층(BT)의 칼륨 이온(K+)의 함유량은 1.0 이하인 것이 더 바람직할 수 있다. 상기 사이층(BT)의 칼륨 이온(K+)의 함유량은 2.0 이상이면, 상기 제1 실험 기판의 표면의 압축 강도(compressive strength)는 제한될 수 있다. 본 실시예에서, 상기 사이층(BT)의 칼륨 이온(K+)의 함유량은 0.48이므로, 칼륨 이온(K+) 대 나트륨 이온(Na+)의 비는 14. 69이다. 즉, 상기 사이층(BT)의 칼륨 이온(K+)의 함유량에는 큰 변화가 없으므로, 상기 제1 실험 기판(CS_410)은 더 큰 부피 변화를 가질 수 있어, 큰 압축 강도를 가질 수 있다. Herein, the content of potassium ions (K +) in the interlayer BT may be 2.0 or less. In addition, the content of potassium ions (K +) of the interlayer BT may be more preferably 1.0 or less. If the content of potassium ions (K +) of the interlayer BT is 2.0 or more, the compressive strength of the surface of the first test substrate may be limited. In this embodiment, since the content of potassium ions (K +) in the interlayer (BT) is 0.48, the ratio of potassium ions (K +) to sodium ions (Na +) is 14.69. That is, since there is no large change in the content of potassium ions K + of the interlayer BT, the first test substrate CS_410 may have a larger volume change, and thus may have a large compressive strength.
430도에서 이온 교환시킨 경우, 제2 실험 기판(CS_430)의 나트륨 이온(Na+)의 함유량이 제1 이온 혼합층(ION1)에서 3.78이고, 제2 이온 혼합층(ION2)에서 2.07이며, 제1 이온 혼합층(ION1) 및 제2 이온 혼합층(ION2) 사이층(BT)에서 8.05이다. 따라서, 이온 교환이 일어난 제1 이온 혼합층(ION1) 및 제2 이온 혼합층(ION2)의 나트륨 이온(Na+)의 함유량이 이온 교환이 일어나지 않은 사이층(BT)의 나트륨 이온(Na+)의 함유량보다 감소하였음을 알 수 있다.When ion-exchanged at 430 degrees, the content of sodium ions (Na +) in the second experimental substrate CS_430 is 3.78 in the first ion mixed layer ION1, 2.07 in the second ion mixed layer ION2, and the first ion mixed layer. 8.05 between the layer ION1 and the second ion mixed layer ION2. Therefore, the content of sodium ions (Na +) in the first ion mixed layer ION1 and the second ion mixed layer ION2 in which ion exchange has occurred is reduced than the content of sodium ions (Na +) in the interlayer BT in which no ion exchange occurs. It can be seen that.
또한, 430도에서 이온 교환시킨 경우, 제2 실험 기판(CS_430)의 칼륨 이온(K+)의 함유량이 제1 이온 혼합층(ION1)에서 5.82이고, 제2 이온 혼합층(ION2)에서 7.64이며, 제1 이온 혼합층(ION1) 및 제2 이온 혼합층(ION2) 사이층(BT)에서 0.49이다. 따라서, 이온 교환이 일어난 제1 이온 혼합층(ION1) 및 제2 이온 혼합층(ION2)의 칼륨 이온(K+)의 함유량이 증가하였음을 알 수 있다.In addition, when ion-exchanged at 430 degree | times, content of the potassium ion (K +) of the 2nd experiment board | substrate CS_430 is 5.82 in the 1st ion mixed layer ION1, 7.64 in the 2nd ion mixed layer ION2, and 1st 0.49 between the ion mixing layer ION1 and the second ion mixing layer ION2. Therefore, it can be seen that the content of potassium ions (K +) in the first ion mixed layer ION1 and the second ion mixed layer ION2 in which ion exchange has occurred has increased.
여기서, 상기 사이층(BT)의 칼륨 이온(K+)의 함유량은 2.0 이하인 것이 바람직할 수 있다. 또한, 상기 사이층(BT)의 칼륨 이온(K+)의 함유량은 1.0 이하인 것이 더 바람직할 수 있다. 상기 사이층(BT)의 칼륨 이온(K+)의 함유량은 2.0 이상이면, 상기 제1 실험 기판의 표면의 압축 강도(compressive strength)는 제한될 수 있다. 본 실시예에서, 상기 사이층(BT)의 칼륨 이온(K+)의 함유량은 0.49이므로, 칼륨 이온(K+) 대 나트륨 이온(Na+)의 비는 16.43이다. 즉, 상기 사이층(BT)의 칼륨 이온(K+)의 함유량에는 큰 변화가 없으므로, 상기 제2 실험 기판(CS_430)은 더 큰 부피 변화를 가질 수 있어, 큰 압축 강도(compressive strength)를 가질 수 있다. 상기 제2 실험 기판(CS_430)의 경우가 상기 제1 실험 기판(CS_410)의 경우보다 고온에서 실험이 진행됨에 따라, 상기 제2 실험 기판(CS_430)의 경우는 상기 제1 실험 기판(CS_410) 경우보다 응력 이완이 더 크게 발생하였다. 따라서, 제2 실험 기판(CS_430)의 경도가 상기 제1 실험 기판(CS_410)의 경도보다 낮다.Herein, the content of potassium ions (K +) in the interlayer BT may be 2.0 or less. In addition, the content of potassium ions (K +) of the interlayer BT may be more preferably 1.0 or less. If the content of potassium ions (K +) of the interlayer BT is 2.0 or more, the compressive strength of the surface of the first test substrate may be limited. In this embodiment, since the content of potassium ions (K +) in the interlayer BT is 0.49, the ratio of potassium ions (K +) to sodium ions (Na +) is 16.43. That is, since there is no large change in the content of potassium ions (K +) of the interlayer BT, the second test substrate CS_430 may have a larger volume change, and thus may have a large compressive strength. have. As the experiment is performed at a higher temperature than that of the first experiment substrate CS_430 in the case of the second experiment substrate CS_430, in the case of the first experiment substrate CS_410 in the case of the second experiment substrate CS_430. More stress relaxation occurred. Therefore, the hardness of the second experimental substrate CS_430 is lower than the hardness of the first experimental substrate CS_410.
도 7a 및 도 7b는 도 2의 터치 기판의 제조 방법을 설명하기 위한 단면도들이다.7A and 7B are cross-sectional views illustrating a method of manufacturing the touch substrate of FIG. 2.
도 2 및 도 7a를 참조하면, 상기 제1 터치 기판(400)은 상기 이온 혼합층(411)을 포함하는 상기 제3 베이스 기판(410)을 포함한다. 상기 이온 혼합층(411)은 나트륨 이온(Na+)과 칼륨 이온(K+)이 혼합된 층이다. 상기 이온 혼합층(411)은 상기 제3 베이스 기판(410) 내부의 상부 및 하부 표면으로부터 일정 깊이(D)로 형성된다. 상기 깊이(D)의 범위는 약 1㎛ 내지 100㎛일 수 있다.2 and 7A, the
상기 제3 베이스 기판(410)에 제1 터치 전극(420) 및 배선 전극(440)을 포 함하는 터치 전극 패턴을 형성하기 위한 터치 전극층(TP)을 형성한다. 상기 터치 전극층(TP)이 형성된 상기 제3 베이스 기판(410) 상에 포토레지스트층을 형성하고, 마스크를 이용해 상기 포토레지스트층을 패터닝하여 게이트 패턴을 형성하기 위한 포토레지스트 패턴(PR)을 잔류시킨다.A touch electrode layer TP is formed on the
상기 포토레지스트 패턴(PR)을 이용하여 상기 터치 전극층(TP)을 패터닝하여 상기 제4 베이스 기판(410) 상에 상기 터치 전극 패턴을 형성한다.The touch electrode layer TP is patterned using the photoresist pattern PR to form the touch electrode pattern on the
도 2 및 도 7b를 참조하면, 상기 터치 전극(420)이 형성된 상기 제3 베이스 기판(410) 상에 스페이서층(SP)을 형성한다. 상기 스페이서층(SP)이 형성된 상기 제3 베이스 기판(410) 상에 포토레지스트층을 형성하고, 마스크를 이용해 상기 포토레지스트층을 패터닝하여 스페이서 패턴을 형성한다. 따라서, 상기 제1 터치 기판(400)이 완성된다.2 and 7B, a spacer layer SP is formed on the
상기 제2 터치 기판(500)을 제조하는 방법은 상기 제1 터치 기판(400)을 제조하는 방법과 실질적으로 동일하므로, 중복되는 설명을 생략할 것이다.Since the method of manufacturing the
본 실시예에 따른 표시 장치용 패널(1000)은 표시 기판(100 및 200) 및 터치 기판(400 및 500)을 구성하는 제1 내지 제4 베이스 기판(110, 210, 410 및 510) 에 이온 혼합층(111, 211, 411, 511)을 형성함으로써, 스위칭 소자의 특성을 저하시키지 않고, 표시 특성을 향상시킬 수 있다. 또한, 외부의 충격에 대한 파괴 응력을 증가시킬 수 있다.In the
본 발명의 실시예들에 따르면, 소다 라임 유리 기판에 이온 혼합층을 형성 함으로써, 외부의 충격에 대한 압축 응력을 증가시키고, 상기 소다 라임 유리 기판 상에 형성되는 스위칭 소자의 특성이 저하되는 것을 방지할 수 있다.According to embodiments of the present invention, by forming an ion mixed layer on a soda lime glass substrate, it is possible to increase the compressive stress against external impact, and to prevent deterioration of the characteristics of the switching element formed on the soda lime glass substrate. Can be.
이상에서는 실시예들을 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다. Although described above with reference to the embodiments, those skilled in the art can be variously modified and changed within the scope of the present invention without departing from the spirit and scope of the invention described in the claims below. I can understand.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치용 패널의 평면도이다.1 is a plan view of a panel for a display device according to an exemplary embodiment of the present invention.
도 2는 도 1의 I-I를 따라 절단한 단면도이다. FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line II of FIG. 1.
도 3a 및 도 3b는 도 2의 베이스 기판의 제조 방법을 설명하기 위한 단면도들이다.3A and 3B are cross-sectional views illustrating a method of manufacturing the base substrate of FIG. 2.
도 4a 내지 도 4d는 도 2의 제1 표시 기판을 제조하는 방법을 설명하기 위한 단면도들이다.4A through 4D are cross-sectional views illustrating a method of manufacturing the first display substrate of FIG. 2.
도 5는 도 2의 제2 표시 기판의 제조 방법을 설명하기 위한 단면도이다.5 is a cross-sectional view for describing a method of manufacturing the second display substrate of FIG. 2.
도 6은 온도에 따라 이온 혼합층에서 이온 교환된 나트륨 이온과 칼륨 이온의 함유량을 나타내는 표이다.6 is a table showing the content of sodium ions and potassium ions ion-exchanged in the ion mixed layer with temperature.
도 7a 및 도 7b는 도 2의 터치 기판의 제조 방법을 설명하기 위한 단면도들이다.7A and 7B are cross-sectional views illustrating a method of manufacturing the touch substrate of FIG. 2.
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명><Description of the symbols for the main parts of the drawings>
100: 제1 표시 기판 110: 제1 베이스 기판100: first display substrate 110: first base substrate
200: 제2 표시 기판 220: 제2 베이스 기판200: second display substrate 220: second base substrate
300: 액정층 400: 제1 터치 기판300: liquid crystal layer 400: first touch substrate
410: 제3 베이스 기판 500: 제2 터치 기판410: third base substrate 500: second touch substrate
510: 제4 베이스 기판 600: 접착부510: fourth base substrate 600: bonding portion
1000: 표시 장치용 기판1000: substrate for display device
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CN105182589A (en) * | 2015-10-09 | 2015-12-23 | 信利(惠州)智能显示有限公司 | Touch display device and manufacturing method thereof |
KR20160136542A (en) * | 2015-05-19 | 2016-11-30 | 삼성디스플레이 주식회사 | Curved transparent substrate, curved display panel having the same and method of manufacturing the same |
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