KR20110061284A - Source gas supplying unit and deposition device having the same - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 소스 가스 공급 유닛 및 이를 구비하는 증착 장치에 관한 것으로, 일정한 소스 가스를 공급할 수 있는 소스 가스 공급 유닛 및 이를 구비하여 균일한 막을 증착할 수 있는 증착 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a source gas supply unit and a deposition apparatus having the same, and to a source gas supply unit capable of supplying a constant source gas and a deposition apparatus capable of depositing a uniform film having the same.
표시장치로서 두께가 얇고 가벼운 평판 표시장치가 널리 사용되고 있으며, 평판 표시장치로는 액정표시장치(LCD, Liquid Crystal Display), 플라즈마 디스플레이 패널(PDP, Plasma Display Panel) 및 유기 발광 표시장치(OLED, Organic Light Emitting Diode) 등이 있다.As a display device, a thin and light flat panel display device is widely used, and a flat panel display device includes a liquid crystal display (LCD), a plasma display panel (PDP), and an organic light emitting display device (OLED, Organic). Light Emitting Diode).
평판 표시장치는 발광 소자 및 발광 소자를 제어하기 위해 박막 트랜지스터를 형성하기 위해, 기판에 도전막, 유기막, 절연막 등이 다수 적층되어 형성된다.In the flat panel display, a plurality of conductive films, organic films, insulating films, and the like are stacked on a substrate to form a thin film transistor for controlling the light emitting device and the light emitting device.
기판에 박막을 형성하는 일반적인 방법으로는 진공 증착(evaporatiion)법, 이온 플레이팅(ion plating)법 및 스퍼터링(sputtering)법과 같은 물리 기상 증 착(PVD)법과, 가스 반응에 의한 화학 기상 증착(CVD)법 등이 있다.As a general method for forming a thin film on a substrate, physical vapor deposition (PVD) methods such as evaporation, ion plating, and sputtering, and chemical vapor deposition by gas reaction (CVD) Law).
종래의 화학 기상 증착법에 의한 박막 형성은 박막 형성을 위한 소스 가스가 저장된 캐니스터를 가열하고, 이와 함께 캐니스터 내부에 캐리어 가스를 유입시켜, 캐리어 가스와 기화되는 소스 가스가 혼합된 혼합 가스를 증착 챔버 내로 공급하여, 증착 챔버 내부에 위치하는 기판에 소스가 증착됨으로써 이루어진다.The thin film formation by the conventional chemical vapor deposition method heats the canister in which the source gas for forming the thin film is formed, and together with the carrier gas is introduced into the canister, a mixed gas in which the carrier gas and the source gas vaporized is mixed into the deposition chamber. By supplying, the source is deposited on a substrate located inside the deposition chamber.
이때, 캐니스터를 가열하는 가열부가 캐니스터의 외측에 위치하기 때문에, 캐니스터 내부 안에서의 온도 구배가 차이가 발생한다.At this time, since the heating part for heating the canister is located outside the canister, a temperature gradient inside the canister occurs.
즉, 가열부와 근접하여 위치하는 캐니스터의 가장자리 영역의 온도가 캐니스터의 중심 영역의 온도보다 높아, 캐니스터 내부의 온도가 불균일하게 되며, 이에 따라 증착 챔버 내부로 유입되는 소스의 양이 불균일하게 되는 문제점이 있다.That is, the temperature of the edge region of the canister positioned close to the heating portion is higher than the temperature of the center region of the canister, so that the temperature inside the canister becomes uneven, and thus the amount of the source flowing into the deposition chamber becomes uneven. There is this.
본 발명의 실시 예는 일정한 소스 가스를 증착 챔버로 공급하기 위한 소스 가스 공급 유닛을 제공한다.An embodiment of the present invention provides a source gas supply unit for supplying a constant source gas to a deposition chamber.
또한, 본 발명의 실시 예는 상기 소스 가스 공급 유닛을 구비하여 균일한 막을 증착할 수 있는 증착 장치를 제공한다.In addition, an embodiment of the present invention provides a deposition apparatus capable of depositing a uniform film having the source gas supply unit.
본 발명의 실시 예에 따르면, 소스 가스 공급 유닛은 소스가 저장되는 캐니스터, 상기 캐니스터에 캐리어 가스를 공급하는 캐리어 가스 공급부 및 상기 소스가 기화된 소스 가스와 상기 캐리어 가스가 혼합된 혼합 가스를 외부로 배출하는 혼합 가스 배출부를 포함하고, 상기 캐니스터의 폭과 높이의 비율이 1.0 ~ 3.0인 것을 특징으로 한다.According to an exemplary embodiment of the present invention, the source gas supply unit may include a canister in which a source is stored, a carrier gas supply unit supplying a carrier gas to the canister, and a mixed gas in which the source gas and the carrier gas are mixed. It includes a mixed gas discharge to discharge, characterized in that the ratio of the width and height of the canister is 1.0 ~ 3.0.
또한, 증착 장치는 캐니스터에 저장된 소스 가스와 캐리어 가스 공급부로부터 제공되는 캐리어 가스가 혼합된 혼합 가스를 혼합 가스 배출부를 통하여 공급하는 소스 가스 공급 유닛 및 상기 혼합 가스를 공급받아 증착 공정을 실시하는 증착 챔버를 포함하고, 상기 캐니스터의 폭과 높이의 비율이 1.0 ~ 3.0인 것을 특징으로 한다.In addition, the deposition apparatus includes a source gas supply unit for supplying a mixed gas in which a source gas stored in a canister and a carrier gas provided from a carrier gas supply unit are mixed through a mixed gas discharge unit, and a deposition chamber that receives the mixed gas and performs a deposition process. It includes, characterized in that the ratio of the width and height of the canister is 1.0 ~ 3.0.
상기와 같은 본 발명의 구성에 따르면, 캐니스터의 가장자리 영역과 중심 영역에서의 온도 차이를 줄일 수 있으므로, 캐니스터 내부 온도의 균일성을 향상시킬 수 있다. According to the configuration of the present invention as described above, since the temperature difference in the edge region and the center region of the canister can be reduced, the uniformity of the canister internal temperature can be improved.
따라서, 증착 챔버 내부로 유입되는 소스의 양이 균일하기 때문에, 균일하게 증착된 막을 형성할 수 있다.Therefore, since the amount of the source flowing into the deposition chamber is uniform, a uniformly deposited film can be formed.
이하, 바람직한 실시 예를 도시한 도면들을 참조하여, 본 발명의 실시 예에 따른 소스 가스 공급 유닛 및 이를 구비하는 증착 장치를 설명하며, 평판 표시장치의 분야에 한정되는 것은 아니며, 증착막을 형성하기 위한 분야에서 폭 넓게 사용할 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.Hereinafter, a source gas supply unit and a deposition apparatus including the same according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings showing preferred embodiments, and the present invention is not limited to the field of a flat panel display device. It will be appreciated that it can be widely used in the field.
도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 소스 가스 공급 유닛을 설명하기 위한 개략적인 구성도이고, 도 2는 본 발명의 실시 예에 따른 증착 장치를 설명하기 위한 개략적인 구성도이다.1 is a schematic diagram illustrating a source gas supply unit according to an exemplary embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a schematic diagram illustrating a deposition apparatus according to an exemplary embodiment of the present invention.
도 1을 참조하면, 소스 가스 공급 유닛(100)은 소스(S)를 기체화하여 외부로 공급하기 위한 것으로, 소스(S)가 저장되는 캐니스터(110), 캐리어 가스를 공급하는 캐리어 가스 공급부(130) 및 소스(S)가 기화된 소스 가스와 캐리어 가스의 혼합 가스를 외부로 배출하는 혼합 가스 배출부(150)를 포함한다.Referring to FIG. 1, the source
상기 캐니스터(110)는 그 내부에 저장된 소스(S)를 가열하는 가열부(111)를 그 외벽에 구비하고 있으며, 상기 가열부(111)는 캐니스터(110)와 일체로 구비될 수 있으며, 탈부착 가능하도록 구비될 수 있으며, 본 실시 예에서는 가열부(111)가 캐니스터(110)와 일체로 구비된 것을 도시하고 있다. The
또한, 가열부(111)는 캐니스터(110)의 전면에 설치될 수 있으며, 하부면 또는 측면 등과 같이 일부 영역에만 선택적으로 설치될 수도 있다. 가열부(111)는 램프 히터 또는 코일 히터일 수 있다.In addition, the
따라서, 가열부(111)에 의해 열이 공급되면, 캐니스터(110) 내부에 저장된 소스(S)는 공급되는 열에 의해 기체화가 될 수 있으며, 상기 소스(S)는 증착을 통해 막을 형성하기 위한 물질로서, 액체 상태로 존재한다.Therefore, when heat is supplied by the
이때, 상기 캐니스터(110)는 중공의 실린더 형태 또는 중공의 육면체 형태를 가질 수 있고, 폭(W)과 높이(H)의 비율이 1.0 ~ 3.0이 되도록 형성되고, 바람직하게는 1.0 ~ 2.3이 되도록 형성되며, 이에 대해서는 표1을 참조하여 후술하도록 한다.At this time, the
캐리어 가스 공급부(130)는 캐리어 가스를 저장 및 공급하는 캐리어 가스 저장부(131), 캐리어 가스 저장부(131)와 캐니스터(110)에 설치되어, 캐리어 가스가 캐니스터(110) 내부로 이동되는 경로를 형성하는 캐리어 가스 공급라인(133), 캐리어 가스 공급라인(133)에 설치되어, 일정한 양의 캐리어 가스를 공급하기 위한 질량유랑계(Mass Flow Contrller, MFC)(135) 및 질량유량계(135)의 후단에 설치되며, 질량유량계(135)를 거쳐 공급되는 캐리어 가스의 이동을 제어하는 공급 밸브(137)를 포함한다.The carrier
혼합 가스 배출부(150)는 캐니스터(110) 내부에 저장된 소스(S)가 기화된 소스 가스와 캐리어 가스 공급부(130)에 의해 제공되는 캐리어 가스의 혼합 가스가 외부로 이동되는 경로를 형성하는 혼합 가스 배출라인(151) 및 혼합 가스 배출라인(151)에 설치되며, 배출되는 혼합 가스의 이동을 제어하는 배출 밸브(153)를 포함한다.The mixed
상기 표1은 캐니스터의 높이는 변화시키지 않고, 폭만 변화시키면서, 폭과 높이의 비율에 따른 캐니스터의 가장자리 영역과 중심 영역의 온도차를 나타낸 것이다.Table 1 shows the temperature difference between the edge region and the center region of the canister according to the ratio of the width and the height, without changing the height of the canister.
비교예1을 참조하면, 종래에 사용되고 있는 캐니스터는 폭과 높이의 비율이 0.4이고, 캐니스터의 가장자리 영역과 중심 영역의 온도차가 23℃였다.Referring to Comparative Example 1, the canister used in the related art had a width-to-height ratio of 0.4 and a temperature difference of 23 ° C between the edge region and the center region of the canister.
한편, 실시예1 내지 실시예7를 참조하면, 캐니스터의 폭과 높이의 비율이 점점 증가할수록 캐니스터의 가장자리의 영역과 중심 영역의 온도차가 1℃, 3℃ 또는 5℃의 폭으로 줄어드는 것을 확인할 수 있다.Meanwhile, referring to Examples 1 to 7, it can be seen that as the ratio of the width and height of the canister gradually increases, the temperature difference between the edge region and the center region of the canister decreases to a width of 1 ° C, 3 ° C, or 5 ° C. have.
하지만, 비교예2 및 비교예3을 참조하면, 캐니스터의 폭과 높이의 비율이 3.3, 3.7인 경우에는 캐니스터의 가장자리의 영역과 중심 영역의 온도차가 줄어들지 않는 것을 확인할 수 있다.However, referring to Comparative Example 2 and Comparative Example 3, it can be seen that when the ratio of the width and the height of the canister is 3.3 and 3.7, the temperature difference between the edge region and the center region of the canister does not decrease.
상기와 같은 본 발명의 실시 예에 따른 소스 가스 공급 유닛(100)의 동작을 살펴보면, Looking at the operation of the source
증착 공정이 시작되면, 가열부(111)를 이용하여 캐니스터(110)를 가열함으로써, 소스(S)를 기화시킨다.When the deposition process is started, the source S is vaporized by heating the
이와 함께, 캐리어 가스 저장부(131)로부터 캐리어 가스가 공급되어 캐니스터(110) 내부에 유입된다.In addition, the carrier gas is supplied from the carrier
이때, 질량유량계(135)는 캐리어 가스가 일정하게 공급되도록, 캐리어 가스의 양을 조절하며, 공급 밸브(137)는 열려진 상태이다.At this time, the
캐니스터(110) 내부로 유입된 캐리어 가스와 기화된 소스 가스가 혼합된 혼합 가스가 배출라인(151)을 따라 이동되어 외부로 배출된다. 이때, 배출 밸브(153)는 열려진 상태이다.The mixed gas in which the carrier gas and the vaporized source gas introduced into the
도 2를 참조하면, 증착 장치(500)는 캐리어 가스와 소스 가스가 혼합된 혼합 가스를 배출하는 소스 가스 공급 유닛(100) 및 혼합 가스를 공급받아 증착 공정을 실시하는 증착 챔버(200)를 포함한다.Referring to FIG. 2, the deposition apparatus 500 includes a source
상기 소스 가스 공급 유닛(100)은 도 1을 참조하여 설명한 소스 가스 공급 유닛(100)과 동일하므로, 구체적인 설명은 생략한다.Since the source
상기 증착 챔버(200)는 챔버 본체(210), 서셉터(230) 및 샤워 헤드(250)를 포함한다.The
챔버 본체(210)는 증착 공정이 진행되는 공간을 제공하며, 원통형 또는 박스 형상을 가질 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.The chamber body 210 provides a space in which the deposition process is performed, and may have a cylindrical or box shape, but is not limited thereto.
증착 공정에 따른 잔류 가스를 배출하기 위한 배출구(211)가 챔버 본체(210)에 형성되며, 본 실시 예에서는 배출구(211)가 챔버 본체(210) 하부에 위치하는 것을 도시하고 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.An
또한, 챔버 본체(210)의 일측에는 기판(G)을 투입 및 배출하기 위한 출입구(미도시)가 구비된다.In addition, one side of the chamber body 210 is provided with an entrance (not shown) for inputting and discharging the substrate (G).
서셉터(230)는 챔버 본체(210) 내측 하부에 위치하며, 챔버 본체(210)의 내부로 투입되는 기판(G)이 안착되며, 공정이 진행되는 동안 기판(G)을 지지한다.The
샤워 헤드(250)는 소스 가스 공급 유닛(100), 특히 혼합 가스 배출라인(151)과 연결되며, 혼합 가스 배출라인(151)을 통해 혼합 가스를 공급받아, 소스를 이루는 물질을 기판(G)에 고르게 증착되도록 분사한다.The
상기와 같은 본 발명의 실시 예에 따른 증착 장치(500)의 동작을 살펴보면,Looking at the operation of the deposition apparatus 500 according to an embodiment of the present invention as described above,
증착을 위한 공정이 시작되면, 가열부(111)를 이용하여 캐니스터(110)를 가열함으로써, 소스(S)를 기화시킨다.When the process for deposition is started, the source S is vaporized by heating the
이와 함께, 캐리어 가스 저장부(131)로부터 캐리어 가스가 공급되어 캐니스터(110) 내부에 유입된다. 이때, 질량유량계(135)는 캐리어 가스가 일정하게 공급되도록, 캐리어 가스의 양을 조절한다.In addition, the carrier gas is supplied from the carrier
캐니스터(110) 내부로 유입된 캐리어 가스와 기화된 소스 가스가 혼합된 혼합 가스가 배출라인(151)을 따라 이동되어 증착 장치(200)의 샤워 헤드(250)로 공급된다.The mixed gas mixed with the carrier gas and the vaporized source gas introduced into the
샤워 헤드(250)는 혼합 가스를 공급받아 소스를 이루는 물질을 서셉터에 안착된 기판(G)에 고르게 증착도록 분사하다.The
본 발명은 도면에 도시된 실시 예를 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 당해 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 다양한 변경 및 균등한 다른 실시 예가 가능하다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의하여 정해져야 할 것이다.Although the present invention has been described with reference to the embodiments shown in the drawings, this is merely exemplary, and it will be understood by those skilled in the art that various changes and equivalent other embodiments are possible. Therefore, the technical protection scope of the present invention will be defined by the technical spirit of the appended claims.
도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 소스 가스 공급 유닛을 설명하기 위한 개략적인 구성도이다.1 is a schematic diagram illustrating a source gas supply unit according to an exemplary embodiment of the present invention.
도 2는 본 발명의 실시 예에 따른 증착 장치를 설명하기 위한 개략적인 구성도이다.2 is a schematic diagram illustrating a deposition apparatus according to an embodiment of the present invention.
[도면의 주요부호에 대한 설명][Description of Major Symbols in Drawing]
100 : 소스 가스 공급 유닛 110 : 캐니스터100: source gas supply unit 110: canister
111 : 가열부 130 : 캐리어 가스 공급부111
131 : 캐리어 가스 저장부 133 : 캐리어 가스 공급라인131: carrier gas storage unit 133: carrier gas supply line
135 : 질량유량계 137 : 공급 밸브135
150 : 혼합 가스 배출부 151 : 혼합 가스 배출라인150: mixed gas discharge unit 151: mixed gas discharge line
153 : 배출 밸브 200 : 증착 챔버153: discharge valve 200: deposition chamber
210 : 챔버 본체 211 : 배출구210: chamber body 211: outlet
230 : 서셉터 250 : 샤워 헤드230: susceptor 250: shower head
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