KR20110061284A - Source gas supplying unit and deposition device having the same - Google Patents

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KR20110061284A
KR20110061284A KR1020090117888A KR20090117888A KR20110061284A KR 20110061284 A KR20110061284 A KR 20110061284A KR 1020090117888 A KR1020090117888 A KR 1020090117888A KR 20090117888 A KR20090117888 A KR 20090117888A KR 20110061284 A KR20110061284 A KR 20110061284A
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나흥열
이기용
서진욱
정민재
홍종원
강유진
장석락
양태훈
정윤모
소병수
박병건
이동현
이길원
백원봉
박종력
최보경
이반 마이단축
정재완
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Abstract

PURPOSE: A source gas supply unit and a depositing device including the same are provided to improve the uniformity of an inner temperature in a canister by reducing the temperature difference between the edge and the center of the canister. CONSTITUTION: A canister(110) accepts a source(S). A carrier gas supply unit(130) supplies carrier gas and including a carrier gas storage(131). A mixed gas discharge unit(150) discharges the mixed gas of the evaporated source gas and the carrier gas to the outside. The mixed gas discharge unit includes a mixed gas discharge line(151) and a discharge valve(153) which controls the movement of the discharged mixed gas.

Description

소스 가스 공급 유닛 및 이를 구비하는 증착 장치{Source gas supplying unit and deposition device having the same}Source gas supply unit and deposition apparatus having the same {Source gas supplying unit and deposition device having the same}

본 발명은 소스 가스 공급 유닛 및 이를 구비하는 증착 장치에 관한 것으로, 일정한 소스 가스를 공급할 수 있는 소스 가스 공급 유닛 및 이를 구비하여 균일한 막을 증착할 수 있는 증착 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a source gas supply unit and a deposition apparatus having the same, and to a source gas supply unit capable of supplying a constant source gas and a deposition apparatus capable of depositing a uniform film having the same.

표시장치로서 두께가 얇고 가벼운 평판 표시장치가 널리 사용되고 있으며, 평판 표시장치로는 액정표시장치(LCD, Liquid Crystal Display), 플라즈마 디스플레이 패널(PDP, Plasma Display Panel) 및 유기 발광 표시장치(OLED, Organic Light Emitting Diode) 등이 있다.As a display device, a thin and light flat panel display device is widely used, and a flat panel display device includes a liquid crystal display (LCD), a plasma display panel (PDP), and an organic light emitting display device (OLED, Organic). Light Emitting Diode).

평판 표시장치는 발광 소자 및 발광 소자를 제어하기 위해 박막 트랜지스터를 형성하기 위해, 기판에 도전막, 유기막, 절연막 등이 다수 적층되어 형성된다.In the flat panel display, a plurality of conductive films, organic films, insulating films, and the like are stacked on a substrate to form a thin film transistor for controlling the light emitting device and the light emitting device.

기판에 박막을 형성하는 일반적인 방법으로는 진공 증착(evaporatiion)법, 이온 플레이팅(ion plating)법 및 스퍼터링(sputtering)법과 같은 물리 기상 증 착(PVD)법과, 가스 반응에 의한 화학 기상 증착(CVD)법 등이 있다.As a general method for forming a thin film on a substrate, physical vapor deposition (PVD) methods such as evaporation, ion plating, and sputtering, and chemical vapor deposition by gas reaction (CVD) Law).

종래의 화학 기상 증착법에 의한 박막 형성은 박막 형성을 위한 소스 가스가 저장된 캐니스터를 가열하고, 이와 함께 캐니스터 내부에 캐리어 가스를 유입시켜, 캐리어 가스와 기화되는 소스 가스가 혼합된 혼합 가스를 증착 챔버 내로 공급하여, 증착 챔버 내부에 위치하는 기판에 소스가 증착됨으로써 이루어진다.The thin film formation by the conventional chemical vapor deposition method heats the canister in which the source gas for forming the thin film is formed, and together with the carrier gas is introduced into the canister, a mixed gas in which the carrier gas and the source gas vaporized is mixed into the deposition chamber. By supplying, the source is deposited on a substrate located inside the deposition chamber.

이때, 캐니스터를 가열하는 가열부가 캐니스터의 외측에 위치하기 때문에, 캐니스터 내부 안에서의 온도 구배가 차이가 발생한다.At this time, since the heating part for heating the canister is located outside the canister, a temperature gradient inside the canister occurs.

즉, 가열부와 근접하여 위치하는 캐니스터의 가장자리 영역의 온도가 캐니스터의 중심 영역의 온도보다 높아, 캐니스터 내부의 온도가 불균일하게 되며, 이에 따라 증착 챔버 내부로 유입되는 소스의 양이 불균일하게 되는 문제점이 있다.That is, the temperature of the edge region of the canister positioned close to the heating portion is higher than the temperature of the center region of the canister, so that the temperature inside the canister becomes uneven, and thus the amount of the source flowing into the deposition chamber becomes uneven. There is this.

본 발명의 실시 예는 일정한 소스 가스를 증착 챔버로 공급하기 위한 소스 가스 공급 유닛을 제공한다.An embodiment of the present invention provides a source gas supply unit for supplying a constant source gas to a deposition chamber.

또한, 본 발명의 실시 예는 상기 소스 가스 공급 유닛을 구비하여 균일한 막을 증착할 수 있는 증착 장치를 제공한다.In addition, an embodiment of the present invention provides a deposition apparatus capable of depositing a uniform film having the source gas supply unit.

본 발명의 실시 예에 따르면, 소스 가스 공급 유닛은 소스가 저장되는 캐니스터, 상기 캐니스터에 캐리어 가스를 공급하는 캐리어 가스 공급부 및 상기 소스가 기화된 소스 가스와 상기 캐리어 가스가 혼합된 혼합 가스를 외부로 배출하는 혼합 가스 배출부를 포함하고, 상기 캐니스터의 폭과 높이의 비율이 1.0 ~ 3.0인 것을 특징으로 한다.According to an exemplary embodiment of the present invention, the source gas supply unit may include a canister in which a source is stored, a carrier gas supply unit supplying a carrier gas to the canister, and a mixed gas in which the source gas and the carrier gas are mixed. It includes a mixed gas discharge to discharge, characterized in that the ratio of the width and height of the canister is 1.0 ~ 3.0.

또한, 증착 장치는 캐니스터에 저장된 소스 가스와 캐리어 가스 공급부로부터 제공되는 캐리어 가스가 혼합된 혼합 가스를 혼합 가스 배출부를 통하여 공급하는 소스 가스 공급 유닛 및 상기 혼합 가스를 공급받아 증착 공정을 실시하는 증착 챔버를 포함하고, 상기 캐니스터의 폭과 높이의 비율이 1.0 ~ 3.0인 것을 특징으로 한다.In addition, the deposition apparatus includes a source gas supply unit for supplying a mixed gas in which a source gas stored in a canister and a carrier gas provided from a carrier gas supply unit are mixed through a mixed gas discharge unit, and a deposition chamber that receives the mixed gas and performs a deposition process. It includes, characterized in that the ratio of the width and height of the canister is 1.0 ~ 3.0.

상기와 같은 본 발명의 구성에 따르면, 캐니스터의 가장자리 영역과 중심 영역에서의 온도 차이를 줄일 수 있으므로, 캐니스터 내부 온도의 균일성을 향상시킬 수 있다. According to the configuration of the present invention as described above, since the temperature difference in the edge region and the center region of the canister can be reduced, the uniformity of the canister internal temperature can be improved.

따라서, 증착 챔버 내부로 유입되는 소스의 양이 균일하기 때문에, 균일하게 증착된 막을 형성할 수 있다.Therefore, since the amount of the source flowing into the deposition chamber is uniform, a uniformly deposited film can be formed.

이하, 바람직한 실시 예를 도시한 도면들을 참조하여, 본 발명의 실시 예에 따른 소스 가스 공급 유닛 및 이를 구비하는 증착 장치를 설명하며, 평판 표시장치의 분야에 한정되는 것은 아니며, 증착막을 형성하기 위한 분야에서 폭 넓게 사용할 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.Hereinafter, a source gas supply unit and a deposition apparatus including the same according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings showing preferred embodiments, and the present invention is not limited to the field of a flat panel display device. It will be appreciated that it can be widely used in the field.

도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 소스 가스 공급 유닛을 설명하기 위한 개략적인 구성도이고, 도 2는 본 발명의 실시 예에 따른 증착 장치를 설명하기 위한 개략적인 구성도이다.1 is a schematic diagram illustrating a source gas supply unit according to an exemplary embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a schematic diagram illustrating a deposition apparatus according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 1을 참조하면, 소스 가스 공급 유닛(100)은 소스(S)를 기체화하여 외부로 공급하기 위한 것으로, 소스(S)가 저장되는 캐니스터(110), 캐리어 가스를 공급하는 캐리어 가스 공급부(130) 및 소스(S)가 기화된 소스 가스와 캐리어 가스의 혼합 가스를 외부로 배출하는 혼합 가스 배출부(150)를 포함한다.Referring to FIG. 1, the source gas supply unit 100 is for gasifying the source S and supplying it to the outside, the canister 110 in which the source S is stored, and a carrier gas supply unit supplying a carrier gas ( 130 and the mixed gas discharge unit 150 for discharging the mixed gas of the source gas and the carrier gas vaporized to the outside.

상기 캐니스터(110)는 그 내부에 저장된 소스(S)를 가열하는 가열부(111)를 그 외벽에 구비하고 있으며, 상기 가열부(111)는 캐니스터(110)와 일체로 구비될 수 있으며, 탈부착 가능하도록 구비될 수 있으며, 본 실시 예에서는 가열부(111)가 캐니스터(110)와 일체로 구비된 것을 도시하고 있다. The canister 110 is provided with a heating unit 111 for heating the source (S) stored therein on the outer wall, the heating unit 111 may be provided integrally with the canister 110, detachable. It may be provided to be possible, in the present embodiment shows that the heating unit 111 is provided integrally with the canister (110).

또한, 가열부(111)는 캐니스터(110)의 전면에 설치될 수 있으며, 하부면 또는 측면 등과 같이 일부 영역에만 선택적으로 설치될 수도 있다. 가열부(111)는 램프 히터 또는 코일 히터일 수 있다.In addition, the heating unit 111 may be installed on the front surface of the canister 110, and may be selectively installed only in a partial region such as a lower surface or a side surface. The heating unit 111 may be a lamp heater or a coil heater.

따라서, 가열부(111)에 의해 열이 공급되면, 캐니스터(110) 내부에 저장된 소스(S)는 공급되는 열에 의해 기체화가 될 수 있으며, 상기 소스(S)는 증착을 통해 막을 형성하기 위한 물질로서, 액체 상태로 존재한다.Therefore, when heat is supplied by the heating unit 111, the source S stored in the canister 110 may be gasified by the supplied heat, and the source S is a material for forming a film through deposition. As a liquid.

이때, 상기 캐니스터(110)는 중공의 실린더 형태 또는 중공의 육면체 형태를 가질 수 있고, 폭(W)과 높이(H)의 비율이 1.0 ~ 3.0이 되도록 형성되고, 바람직하게는 1.0 ~ 2.3이 되도록 형성되며, 이에 대해서는 표1을 참조하여 후술하도록 한다.At this time, the canister 110 may have a hollow cylinder shape or hollow hexahedral shape, the ratio of the width (W) and height (H) is formed to be 1.0 to 3.0, preferably to 1.0 to 2.3 Is formed, this will be described later with reference to Table 1.

캐리어 가스 공급부(130)는 캐리어 가스를 저장 및 공급하는 캐리어 가스 저장부(131), 캐리어 가스 저장부(131)와 캐니스터(110)에 설치되어, 캐리어 가스가 캐니스터(110) 내부로 이동되는 경로를 형성하는 캐리어 가스 공급라인(133), 캐리어 가스 공급라인(133)에 설치되어, 일정한 양의 캐리어 가스를 공급하기 위한 질량유랑계(Mass Flow Contrller, MFC)(135) 및 질량유량계(135)의 후단에 설치되며, 질량유량계(135)를 거쳐 공급되는 캐리어 가스의 이동을 제어하는 공급 밸브(137)를 포함한다.The carrier gas supply unit 130 is installed in the carrier gas storage unit 131, the carrier gas storage unit 131, and the canister 110 to store and supply the carrier gas so that the carrier gas is moved into the canister 110. Is installed in the carrier gas supply line 133, the carrier gas supply line 133 to form a mass flow meter (MFC) 135 and the mass flow meter 135 for supplying a constant amount of carrier gas Is installed at the rear end of the, and includes a supply valve 137 for controlling the movement of the carrier gas supplied via the mass flow meter 135.

혼합 가스 배출부(150)는 캐니스터(110) 내부에 저장된 소스(S)가 기화된 소스 가스와 캐리어 가스 공급부(130)에 의해 제공되는 캐리어 가스의 혼합 가스가 외부로 이동되는 경로를 형성하는 혼합 가스 배출라인(151) 및 혼합 가스 배출라인(151)에 설치되며, 배출되는 혼합 가스의 이동을 제어하는 배출 밸브(153)를 포함한다.The mixed gas discharge unit 150 mixes a path in which the mixed gas of the source gas vaporized from the source S stored in the canister 110 and the carrier gas provided by the carrier gas supply unit 130 is moved to the outside. It is installed in the gas discharge line 151 and the mixed gas discharge line 151, and includes a discharge valve 153 for controlling the movement of the mixed gas discharged.

폭(mm)Width (mm) 높이(mm)Height (mm) 폭과 높이 비율Width to height ratio 온도차(℃)Temperature difference (℃) 비교예1Comparative Example 1 5555 150150 0.40.4 2323 실시예1Example 1 150150 150150 1.01.0 1717 실시예2Example 2 200200 150150 1.31.3 1414 실시예3Example 3 250250 150150 1.71.7 1111 실시예4Example 4 300300 150150 2.02.0 88 실시예5Example 5 350350 150150 2.32.3 55 실시예6Example 6 400400 150150 2.72.7 44 실시예7Example 7 450450 150150 3.03.0 33 비교예2Comparative Example 2 500500 150150 3.33.3 33 비교예3Comparative Example 3 550550 150150 3.73.7 33

상기 표1은 캐니스터의 높이는 변화시키지 않고, 폭만 변화시키면서, 폭과 높이의 비율에 따른 캐니스터의 가장자리 영역과 중심 영역의 온도차를 나타낸 것이다.Table 1 shows the temperature difference between the edge region and the center region of the canister according to the ratio of the width and the height, without changing the height of the canister.

비교예1을 참조하면, 종래에 사용되고 있는 캐니스터는 폭과 높이의 비율이 0.4이고, 캐니스터의 가장자리 영역과 중심 영역의 온도차가 23℃였다.Referring to Comparative Example 1, the canister used in the related art had a width-to-height ratio of 0.4 and a temperature difference of 23 ° C between the edge region and the center region of the canister.

한편, 실시예1 내지 실시예7를 참조하면, 캐니스터의 폭과 높이의 비율이 점점 증가할수록 캐니스터의 가장자리의 영역과 중심 영역의 온도차가 1℃, 3℃ 또는 5℃의 폭으로 줄어드는 것을 확인할 수 있다.Meanwhile, referring to Examples 1 to 7, it can be seen that as the ratio of the width and height of the canister gradually increases, the temperature difference between the edge region and the center region of the canister decreases to a width of 1 ° C, 3 ° C, or 5 ° C. have.

하지만, 비교예2 및 비교예3을 참조하면, 캐니스터의 폭과 높이의 비율이 3.3, 3.7인 경우에는 캐니스터의 가장자리의 영역과 중심 영역의 온도차가 줄어들지 않는 것을 확인할 수 있다.However, referring to Comparative Example 2 and Comparative Example 3, it can be seen that when the ratio of the width and the height of the canister is 3.3 and 3.7, the temperature difference between the edge region and the center region of the canister does not decrease.

상기와 같은 본 발명의 실시 예에 따른 소스 가스 공급 유닛(100)의 동작을 살펴보면, Looking at the operation of the source gas supply unit 100 according to an embodiment of the present invention as described above,

증착 공정이 시작되면, 가열부(111)를 이용하여 캐니스터(110)를 가열함으로써, 소스(S)를 기화시킨다.When the deposition process is started, the source S is vaporized by heating the canister 110 using the heating unit 111.

이와 함께, 캐리어 가스 저장부(131)로부터 캐리어 가스가 공급되어 캐니스터(110) 내부에 유입된다.In addition, the carrier gas is supplied from the carrier gas storage unit 131 and flows into the canister 110.

이때, 질량유량계(135)는 캐리어 가스가 일정하게 공급되도록, 캐리어 가스의 양을 조절하며, 공급 밸브(137)는 열려진 상태이다.At this time, the mass flow meter 135 adjusts the amount of the carrier gas so that the carrier gas is constantly supplied, and the supply valve 137 is in an open state.

캐니스터(110) 내부로 유입된 캐리어 가스와 기화된 소스 가스가 혼합된 혼합 가스가 배출라인(151)을 따라 이동되어 외부로 배출된다. 이때, 배출 밸브(153)는 열려진 상태이다.The mixed gas in which the carrier gas and the vaporized source gas introduced into the canister 110 are mixed is moved along the discharge line 151 and discharged to the outside. At this time, the discharge valve 153 is in an open state.

도 2를 참조하면, 증착 장치(500)는 캐리어 가스와 소스 가스가 혼합된 혼합 가스를 배출하는 소스 가스 공급 유닛(100) 및 혼합 가스를 공급받아 증착 공정을 실시하는 증착 챔버(200)를 포함한다.Referring to FIG. 2, the deposition apparatus 500 includes a source gas supply unit 100 that discharges a mixed gas in which a carrier gas and a source gas are mixed, and a deposition chamber 200 that receives a mixed gas and performs a deposition process. do.

상기 소스 가스 공급 유닛(100)은 도 1을 참조하여 설명한 소스 가스 공급 유닛(100)과 동일하므로, 구체적인 설명은 생략한다.Since the source gas supply unit 100 is the same as the source gas supply unit 100 described with reference to FIG. 1, a detailed description thereof will be omitted.

상기 증착 챔버(200)는 챔버 본체(210), 서셉터(230) 및 샤워 헤드(250)를 포함한다.The deposition chamber 200 includes a chamber body 210, a susceptor 230, and a shower head 250.

챔버 본체(210)는 증착 공정이 진행되는 공간을 제공하며, 원통형 또는 박스 형상을 가질 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.The chamber body 210 provides a space in which the deposition process is performed, and may have a cylindrical or box shape, but is not limited thereto.

증착 공정에 따른 잔류 가스를 배출하기 위한 배출구(211)가 챔버 본체(210)에 형성되며, 본 실시 예에서는 배출구(211)가 챔버 본체(210) 하부에 위치하는 것을 도시하고 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.An outlet 211 is formed in the chamber body 210 for discharging the residual gas according to the deposition process. In this embodiment, the outlet 211 is shown below the chamber body 210. It is not.

또한, 챔버 본체(210)의 일측에는 기판(G)을 투입 및 배출하기 위한 출입구(미도시)가 구비된다.In addition, one side of the chamber body 210 is provided with an entrance (not shown) for inputting and discharging the substrate (G).

서셉터(230)는 챔버 본체(210) 내측 하부에 위치하며, 챔버 본체(210)의 내부로 투입되는 기판(G)이 안착되며, 공정이 진행되는 동안 기판(G)을 지지한다.The susceptor 230 is positioned below the inside of the chamber body 210, and the substrate G, which is introduced into the chamber body 210, is seated and supports the substrate G during the process.

샤워 헤드(250)는 소스 가스 공급 유닛(100), 특히 혼합 가스 배출라인(151)과 연결되며, 혼합 가스 배출라인(151)을 통해 혼합 가스를 공급받아, 소스를 이루는 물질을 기판(G)에 고르게 증착되도록 분사한다.The shower head 250 is connected to the source gas supply unit 100, in particular, the mixed gas discharge line 151, and receives the mixed gas through the mixed gas discharge line 151 so that the material constituting the source is the substrate G. Spray to ensure even deposition on.

상기와 같은 본 발명의 실시 예에 따른 증착 장치(500)의 동작을 살펴보면,Looking at the operation of the deposition apparatus 500 according to an embodiment of the present invention as described above,

증착을 위한 공정이 시작되면, 가열부(111)를 이용하여 캐니스터(110)를 가열함으로써, 소스(S)를 기화시킨다.When the process for deposition is started, the source S is vaporized by heating the canister 110 using the heating unit 111.

이와 함께, 캐리어 가스 저장부(131)로부터 캐리어 가스가 공급되어 캐니스터(110) 내부에 유입된다. 이때, 질량유량계(135)는 캐리어 가스가 일정하게 공급되도록, 캐리어 가스의 양을 조절한다.In addition, the carrier gas is supplied from the carrier gas storage unit 131 and flows into the canister 110. At this time, the mass flow meter 135 adjusts the amount of the carrier gas so that the carrier gas is constantly supplied.

캐니스터(110) 내부로 유입된 캐리어 가스와 기화된 소스 가스가 혼합된 혼합 가스가 배출라인(151)을 따라 이동되어 증착 장치(200)의 샤워 헤드(250)로 공급된다.The mixed gas mixed with the carrier gas and the vaporized source gas introduced into the canister 110 is moved along the discharge line 151 and supplied to the shower head 250 of the deposition apparatus 200.

샤워 헤드(250)는 혼합 가스를 공급받아 소스를 이루는 물질을 서셉터에 안착된 기판(G)에 고르게 증착도록 분사하다.The shower head 250 receives the mixed gas and sprays the material forming the source evenly on the substrate G seated on the susceptor.

본 발명은 도면에 도시된 실시 예를 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 당해 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 다양한 변경 및 균등한 다른 실시 예가 가능하다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의하여 정해져야 할 것이다.Although the present invention has been described with reference to the embodiments shown in the drawings, this is merely exemplary, and it will be understood by those skilled in the art that various changes and equivalent other embodiments are possible. Therefore, the technical protection scope of the present invention will be defined by the technical spirit of the appended claims.

도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 소스 가스 공급 유닛을 설명하기 위한 개략적인 구성도이다.1 is a schematic diagram illustrating a source gas supply unit according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 2는 본 발명의 실시 예에 따른 증착 장치를 설명하기 위한 개략적인 구성도이다.2 is a schematic diagram illustrating a deposition apparatus according to an embodiment of the present invention.

[도면의 주요부호에 대한 설명][Description of Major Symbols in Drawing]

100 : 소스 가스 공급 유닛 110 : 캐니스터100: source gas supply unit 110: canister

111 : 가열부 130 : 캐리어 가스 공급부111 heating unit 130 carrier gas supply unit

131 : 캐리어 가스 저장부 133 : 캐리어 가스 공급라인131: carrier gas storage unit 133: carrier gas supply line

135 : 질량유량계 137 : 공급 밸브135 mass flow meter 137 supply valve

150 : 혼합 가스 배출부 151 : 혼합 가스 배출라인150: mixed gas discharge unit 151: mixed gas discharge line

153 : 배출 밸브 200 : 증착 챔버153: discharge valve 200: deposition chamber

210 : 챔버 본체 211 : 배출구210: chamber body 211: outlet

230 : 서셉터 250 : 샤워 헤드230: susceptor 250: shower head

Claims (12)

소스가 저장되는 캐니스터;A canister in which the source is stored; 상기 캐니스터에 캐리어 가스를 공급하는 캐리어 가스 공급부; 및A carrier gas supply unit supplying a carrier gas to the canister; And 상기 소스가 기화된 소스 가스와 상기 캐리어 가스가 혼합된 혼합 가스를 외부로 배출하는 혼합 가스 배출부를 포함하고,A mixed gas discharge unit configured to discharge the mixed gas in which the source gas is vaporized and the carrier gas to the outside, 상기 캐니스터의 폭과 높이의 비율이 1.0 ~ 3.0인 것을 특징으로 하는 소스 가스 공급 유닛.Source gas supply unit, characterized in that the ratio of the width and height of the canister is 1.0 ~ 3.0. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 캐니스터의 폭과 높이의 비율이 1.0 ~ 2.3인 것을 특징으로 하는 소스 가스 공급 유닛.Source gas supply unit, characterized in that the ratio of the width and height of the canister is 1.0 ~ 2.3. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 캐니스터는 가열부를 포함하는 것을 특징으로 하는 소스 가스 공급 유닛.And the canister comprises a heating unit. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 캐리어 가스 공급부는 상기 캐리어 가스를 저장 및 공급하는 캐리어 가스 저장부;The carrier gas supply unit may include a carrier gas storage unit configured to store and supply the carrier gas; 상기 캐리어 가스 저장부와 상기 캐니스터 사이에 설치되는 캐리어 가스 공급라인;A carrier gas supply line installed between the carrier gas storage unit and the canister; 상기 캐리어 가스 공급라인에 설치되는 질량유량계; 및A mass flow meter installed in the carrier gas supply line; And 상기 질량유량계 후단에 설치되는 공급 밸브를 포함하는 것을 특징으로 하는 소스 가스 공급 유닛.And a supply valve installed at a rear end of the mass flow meter. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 혼합 가스 배출부는 상기 혼합 가스가 이동되는 혼합 가스 배출라인; 및The mixed gas discharge unit comprises a mixed gas discharge line to which the mixed gas is moved; And 상기 혼합 가스 배출라인에 설치되는 배출 밸브를 포함하는 것을 특징으로 하는 소스 가스 공급 유닛.And a discharge valve installed in the mixed gas discharge line. 제 3 항에 있어서,The method of claim 3, wherein 상기 가열부는 램프 히터 또는 코일 히터인 것을 특징으로 하는 소스 가스 공급 유닛.The heating unit is a source gas supply unit, characterized in that the lamp heater or coil heater. 캐니스터에 저장된 소스 가스와 캐리어 가스 공급부로부터 제공되는 캐리어 가스가 혼합된 혼합 가스를 혼합 가스 배출부를 통하여 공급하는 소스 가스 공급 유닛; 및A source gas supply unit for supplying a mixed gas mixed with a source gas stored in the canister and a carrier gas provided from the carrier gas supply part through the mixed gas discharge part; And 상기 혼합 가스를 공급받아 증착 공정을 실시하는 증착 챔버를 포함하고,A deposition chamber configured to receive the mixed gas and perform a deposition process; 상기 캐니스터의 폭과 높이의 비율이 1.0 ~ 3.0인 것을 특징으로 하는 증착 장치.Deposition apparatus, characterized in that the ratio of the width and height of the canister is 1.0 ~ 3.0. 제 7 항에 있어서,The method of claim 7, wherein 상기 캐니스터의 폭과 높이의 비율이 1.0 ~ 2.3인 것을 특징으로 하는 증착 장치.Deposition apparatus, characterized in that the ratio of the width and height of the canister is 1.0 ~ 2.3. 제 7 항에 있어서,The method of claim 7, wherein 상기 캐니스터는 가열부를 포함하는 것을 특징으로 하는 증착 장치.And the canister includes a heating unit. 제 7 항에 있어서,The method of claim 7, wherein 상기 캐리어 가스 공급부는 상기 캐리어 가스를 저장 및 공급하는 캐리어 가스 저장부;The carrier gas supply unit may include a carrier gas storage unit configured to store and supply the carrier gas; 상기 캐리어 가스 저장부와 상기 캐니스터 사이에 설치되는 캐리어 가스 공급라인;A carrier gas supply line installed between the carrier gas storage unit and the canister; 상기 캐리어 가스 공급라인에 설치되는 질량유량계; 및A mass flow meter installed in the carrier gas supply line; And 상기 질량유량계 후단에 설치되는 공급 밸브를 포함하는 것을 특징으로 하는 증착 장치.And a supply valve installed at a rear end of the mass flow meter. 제 7 항에 있어서,The method of claim 7, wherein 상기 혼합 가스 배출부는 상기 혼합 가스가 이동되는 혼합 가스 배출라인; 및The mixed gas discharge unit comprises a mixed gas discharge line to which the mixed gas is moved; And 상기 혼합 가스 배출라인에 설치되는 배출 밸브를 포함하는 것을 특징으로 하는 증착 장치.And a discharge valve installed in the mixed gas discharge line. 제 9 항에 있어서,The method of claim 9, 상기 가열부는 램프 히터 또는 코일 히터인 것을 특징으로 하는 증착 장치.And the heating unit is a lamp heater or a coil heater.
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