KR20110006091A - Substrate processing apparatus and method, and in-line processing system and method comprising the same - Google Patents

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위규용
이병우
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Abstract

PURPOSE: A substrate processing apparatus, a method thereof, and an inline process system having the same, and a method thereof are provided to improve the productivity by shortening the process time by continuously processing the substrate. CONSTITUTION: A chamber(131) comprises the internal space. A transfer unit(141) supplies a cart(110) into the chamber or discharges the cart out of the chamber. A heating unit(151) heats a substrate(S) settled on the upper side. An elevating unit(161) raises or drops the substrate supplied into the chamber. The elevating unit comprises a plurality of lift pins(162).

Description

기판처리 장치 및 방법과, 이를 포함한 인라인 처리 시스템 및 방법{Substrate processing apparatus and method, and in-line processing system and method comprising the same}Substrate processing apparatus and method, and in-line processing system and method comprising the same

본 발명은 반도체 특히 솔라셀을 제조하는데 사용되는 기판처리 장치 및 방법과, 이를 포함한 인라인 처리 시스템 및 방법에 관한 것이다. The present invention relates to a substrate processing apparatus and method for use in manufacturing semiconductors, in particular, solar cells, and to inline processing systems and methods including the same.

국제적인 환경 문제와 에너지 문제를 해결하기 위하여, 세계 각국에서는 대체 에너지에 대한 연구 및 개발이 활발하게 진행되고 있다. 특히, 대체 에너지에 대한 관심은 최근의 국제적인 유가 급등 문제와, 화석연료의 고갈에 따라 더욱 고조되고 있다. 화석연료를 대체할 수 있는 대체 에너지로서는 환경적인 측면과 무한 에너지원이라는 측면에서 태양 에너지가 크게 각광받고 있다. In order to solve international environmental and energy problems, researches and developments on alternative energy are being actively conducted around the world. In particular, the interest in alternative energy has been heightened by recent international oil price hikes and the depletion of fossil fuels. As an alternative energy to replace fossil fuels, solar energy is receiving much attention in terms of environmental aspects and infinite energy sources.

그 예로, 태양광을 수광하여 이를 전기에너지로 변환시키는 솔라셀(solar cell)과 같은 반도체 소자가 이용되고 있다. 일반적으로, 솔라셀은 PN접합 다이오드 형태로서, 태양 에너지에 의해 여기된 소수 캐리어가 PN접합 면을 가로질러 확산되고 이로 인해 PN접합 다이오드의 양단에서 전압차가 발생함으로써, 기전력이 생기게 한다. For example, a semiconductor device such as a solar cell that receives sunlight and converts it into electrical energy is used. In general, a solar cell is in the form of a PN junction diode, in which minority carriers excited by solar energy diffuse across the PN junction surface, causing a voltage difference across the PN junction diode, resulting in electromotive force.

솔라셀을 제조하기 위해서는, 글라스 등의 기판에 P형 또는 N형 반도체층, 반사방지막, 전극 등의 박막을 증착하는 공정과, 에너지 변환효율을 개선하는데 필요한 패턴을 형성하기 위해 증착 박막을 식각하는 공정 등의 다양한 공정을 거치게 된다. 이러한 공정 중에는, 기판에 박막을 증착하기에 앞서, 기판을 프리 히팅하는 공정이 포함될 수 있다. In order to manufacture a solar cell, a process of depositing a thin film such as a P-type or N-type semiconductor layer, an antireflection film, an electrode, or the like on a substrate such as glass, and etching the deposited thin film to form a pattern necessary for improving energy conversion efficiency. It goes through various processes such as process. Such a process may include a step of preheating the substrate prior to depositing a thin film on the substrate.

그런데, 종래에 따르면, 기판은 카트(cart)에 구비된 판 형상의 지지 부재의 윗면에 얹혀진 상태에서 지지 부재와 함께 히팅된 후, 증착 공정이 수행된다. 이 과정에서, 히팅된 기판은 지지 부재로 인해 열을 빼앗겨 열 손실이 있을 수 있고, 이에 따라 기판에 균일한 온도 분포가 이루어지지 않을 수 있다. 그러면, 박막 증착 공정이 진행될 때, 박막의 균일성에 좋지 않은 영향을 미칠 수 있다. However, according to the related art, the substrate is heated together with the supporting member in a state where the substrate is placed on the upper surface of the plate-shaped supporting member provided in the cart, and then a deposition process is performed. In this process, the heated substrate may be deprived of heat due to the support member, resulting in heat loss, and thus may not be uniform temperature distribution on the substrate. Then, when the thin film deposition process is performed, it may adversely affect the uniformity of the thin film.

이러한 문제를 해소하고자, 지지 부재는 기판과의 접촉 면적을 줄이도록 기판의 가장자리를 일부 지지하는 구조로 이루어질 수 있다. 하지만, 전술한 경우에도, 기판이 지지 부재와 함께 히팅된 후, 기판과 지지 부재가 접촉되는 부위와 접촉되지 않은 부위 사이에 온도 차이가 유발될 수 있다. 따라서, 기판에 균일한 온도 분포가 이루어지지 않을 수 있다. In order to solve this problem, the support member may be configured to partially support the edge of the substrate to reduce the contact area with the substrate. However, even in the case described above, after the substrate is heated together with the supporting member, a temperature difference may be caused between the portion where the substrate and the supporting member are in contact with the portion which is not in contact. Therefore, a uniform temperature distribution may not be achieved on the substrate.

본 발명의 과제는 기판을 균일한 온도 분포로 히팅하여 열 손실을 최소화할 수 있는 기판처리 장치 및 방법을 제공함에 있다. An object of the present invention is to provide a substrate processing apparatus and method that can minimize the heat loss by heating the substrate in a uniform temperature distribution.

그리고, 본 발명의 과제는 기판에 대한 연속적인 처리가 가능하여 생산 효율을 향상시킬 수 있는 인라인 처리 시스템 및 방법을 제공함에 있다.In addition, an object of the present invention is to provide an inline processing system and method capable of continuously processing a substrate to improve production efficiency.

상기의 과제를 달성하기 위한 기판처리 장치는, 기판을 얹어서 기판이 이송되게 하는 것으로 기판의 가장자리 아래를 지지하도록 중앙이 개구되며 기판의 이송 방향을 기준으로 후단이 개구된 카트와, 상기 카트로부터 공급받은 기판을 처리하는 기판처리 챔버부를 포함하며, 상기 기판처리 챔버부는, 내부 공간을 갖는 챔버; 상기 카트를 상기 챔버 안으로 공급하거나 상기 챔버 밖으로 배출시키는 이송 유닛; 상기 챔버 내에 설치되며 윗면에 기판이 안착되는 히팅부; 및 상기 챔버 안으로 공급된 기판을 상승 또는 하강시켜 상기 카트와 히팅부에 기판이 로딩 또는 언로딩되게 하는 것으로, 상기 히팅부를 관통해서 승강되는 복수의 승강 핀들과 상기 승강 핀들을 승강시키는 승강 구동기구를 구비한 승강 유닛;을 포함한다. In order to achieve the above object, a substrate processing apparatus includes a cart having a center opened to support a substrate below an edge by placing a substrate on the substrate, and having a rear end opened in a transport direction of the substrate, and supplied from the cart. A substrate processing chamber portion for processing the received substrate, the substrate processing chamber portion comprising: a chamber having an internal space; A transfer unit for feeding the cart into or out of the chamber; A heating unit installed in the chamber and having a substrate seated thereon; And raising or lowering the substrate supplied into the chamber so that the substrate is loaded or unloaded to the cart and the heating unit, and the plurality of lifting pins and the lifting drive mechanism for lifting the lifting pins up and down through the heating unit. And a lifting unit provided.

기판처리 방법은, 카트에 기판을 로딩해서 챔버 안으로 이송하는 단계; 챔버 내의 승강 핀들을 상승시켜 기판을 들어올림에 따라 기판을 카트로부터 언로딩하는 단계; 기판이 언로딩된 카트를 챔버 밖으로 이송하는 단계; 챔버 내의 승강 핀들을 하강시켜 기판을 히팅부 윗면에 안착시킨 후, 기판을 처리하는 단계; The substrate processing method includes loading a substrate into a cart and transferring the substrate into a chamber; Unloading the substrate from the cart as the lift pins in the chamber are raised to lift the substrate; Transferring the cart with the substrate unloaded out of the chamber; Lowering the lifting pins in the chamber to seat the substrate on the heating surface, and then processing the substrate;

챔버 내의 승강 핀들을 상승시켜 처리된 기판을 들어올린 후, 챔버 밖에 있는 카트를 챔버 안으로 이송하는 단계; 및 챔버 내의 승강 핀들을 하강시켜 처리된 기판을 카트에 로딩한 후, 챔버 밖으로 이송하는 단계;를 포함한다. Raising the lift pins in the chamber to lift the processed substrate and then transferring the cart outside the chamber into the chamber; And lowering the lifting pins in the chamber to load the processed substrate into the cart and to transport it out of the chamber.

인라인 처리 시스템은, 기판을 얹어서 기판이 이송되게 하는 것으로, 기판의 가장자리 아래를 지지하도록 중앙이 개구되고, 기판의 이송 방향을 기준으로 후단이 개구된 카트; 공급받은 기판에 대해 프리 히팅하는 로드락 챔버부; 상기 로드락 챔버부로부터 공급받은 기판에 대해 공정 처리하는 것으로, 공정 챔버와, 상기 카트에 얹혀진 기판을 상기 공정 챔버 안으로 공급하거나 상기 공정 챔버 밖으로 배출시키는 이송 유닛과, 상기 공정 챔버 내에 설치되며 윗면에 기판이 안착되는 히팅부, 및 기판을 상승 또는 하강시켜 상기 카트와 상기 히팅부에 기판이 로딩 또는 언로딩되게 하는 것으로 상기 히팅부를 관통해서 승강되는 복수의 승강 핀들과 상기 승강 핀들을 승강시키는 승강 구동기구를 구비한 승강 유닛을 포함한 공정 챔버부; 및 상기 공정 챔버부로부터 공급받은 기판에 대해 냉각을 행하는 언로드락 챔버부;를 포함한다. An inline processing system includes: a cart on which a substrate is placed to be transported, the center being opened to support under the edge of the substrate, and the rear end being opened relative to the transport direction of the substrate; A load lock chamber unit preheating the supplied substrate; Process processing of the substrate supplied from the load lock chamber unit, the transfer chamber for supplying the substrate mounted on the cart into the process chamber or discharged out of the process chamber, and installed in the process chamber and on the upper surface Lifting drive for raising and lowering the heating unit on which the substrate is seated, and the lifting pins and the lifting pins which are lifted and lowered through the heating unit by raising or lowering the substrate to load or unload the substrate to the cart and the heating unit. A process chamber portion including an elevation unit having a mechanism; And an unload lock chamber unit configured to cool the substrate supplied from the process chamber unit.

인라인 처리 방법은, 카트에 기판을 로딩해서 로드락 챔버 안으로 이송한 후, 이송된 기판에 대해 프리 히팅하는 단계; 프리 히팅된 기판이 로딩된 카트를 공정 챔버 안으로 이송하는 단계; 공정 챔버 내의 승강 핀들을 상승시켜 기판을 들어올림에 따라 기판을 카트로부터 언로딩하는 단계; 기판이 언로딩된 카트를 언로드락 챔버 안으로 이송하는 단계; 공정 챔버 내의 승강 핀들을 하강시켜 기판을 히팅부 윗면에 안착시킨 후, 공정 처리하는 단계; 공정 챔버 내의 승강 핀들을 상승 시켜 공정 처리된 기판을 들어올린 후, 언로드락 챔버 내에 있는 카트를 공정 챔버 안으로 이송하는 단계; 공정 챔버 내의 승강 핀들을 하강시켜 공정 처리된 기판을 카트에 로딩하는 단계; 및 공정 처리된 기판이 로딩된 카트를 언로드락 챔버 안으로 이송한 후, 이송된 기판에 대해 냉각 처리하는 단계;를 포함한다. The inline processing method includes loading a substrate into a cart and transferring the substrate into a load lock chamber and then preheating the transferred substrate; Transferring the cart loaded with the preheated substrate into the process chamber; Lifting the lifting pins in the process chamber to unload the substrate from the cart as it lifts the substrate; Transferring the cart with the substrate unloaded into the unload lock chamber; Lowering the lifting pins in the process chamber to seat the substrate on the upper surface of the heating part, and then processing the process; Raising the lift pins in the process chamber to lift the processed substrate and then transferring the cart in the unload lock chamber into the process chamber; Lowering the lifting pins in the process chamber to load the processed substrate into a cart; And transferring the cart loaded with the processed substrate into the unload lock chamber and then cooling the transferred substrate.

본 발명에 따르면, 기판이 카트와 함께 히팅되는 것이 아니라, 기판만이 히팅될 수 있으므로, 히팅된 기판에 균일한 온도 분포가 이루어질 수 있다. 따라서, 히팅된 기판에 박막 증착 공정이 행해질 때, 기판에 박막이 균일하게 증착될 수 있다. According to the present invention, not only the substrate is heated with the cart, but only the substrate can be heated, so that a uniform temperature distribution can be made on the heated substrate. Thus, when the thin film deposition process is performed on the heated substrate, the thin film may be uniformly deposited on the substrate.

그리고, 본 발명에 따르면, 기판을 연속적으로 처리할 수 있으므로, 공정 시간이 단축되고 생산성이 향상될 수 있다. In addition, according to the present invention, since the substrate can be continuously processed, the process time can be shortened and productivity can be improved.

또한, 본 발명에 따르면, 카트를 이송하는 이송 유닛이 모든 롤러들에 회전력을 제공하므로, 카트가 원활하게 이송될 수 있고, 증착 공정 중 롤러들 중 일부에 증착되더라도 카트가 원활하게 이송될 수 있다. In addition, according to the present invention, since the conveying unit for conveying the cart provides rotational force to all the rollers, the cart can be smoothly transported, and even if the cart is deposited on some of the rollers during the deposition process, the cart can be smoothly transported. .

이하 첨부된 도면을 참조하여, 바람직한 실시예에 따른 본 발명을 상세히 설명하기로 한다. Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 기판처리 장치에 대한 사시도이며, 도 2는 도 1에 있어서 챔버 내에 기판이 로딩된 카트가 공급된 상태에 대한 단면도이다. 그리고, 도 3은 도 1에 있어서 이송 유닛과 승강 유닛을 발췌하여 도시한 사 시도이다. FIG. 1 is a perspective view of a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a cross-sectional view of a state in which a cart loaded with a substrate is supplied into a chamber in FIG. 1. 3 is a trial drawing which shows the transfer unit and the lifting unit in FIG.

도 1 내지 도 3을 참조하면, 기판처리 장치(100)는 기판(S)을 프리 히팅하거나, 기판(S)에 박막을 증착하는 등의 다양한 공정 처리를 하는 것으로, 카트(cart, 110)와, 기판처리 챔버부(120)를 포함한다. 여기서, 기판(S)은 글라스 등의 기판일 수 있다. 1 to 3, the substrate processing apparatus 100 performs various processes such as preheating the substrate S or depositing a thin film on the substrate S. And a substrate processing chamber 120. Here, the substrate S may be a substrate such as glass.

카트(110)는 기판(S)을 얹어서 기판(S)이 이송되게 한다. 카트(110)는 기판(S)의 가장자리 아래를 지지하도록 중앙이 개구되며, 기판(S)의 이송 방향을 기준으로 후단이 개구된다. 예컨대, 카트(110)는 ㄷ 형상으로 형성될 수 있으며, 내측 가장자리를 따라 기판(S)의 가장자리 부위가 안착될 수 있게 오목한 안착 면(111)이 연속되게 형성될 수 있다. 그리고, 카트(110)에는 기판(S)이 안착 면(111)에 안착된 상태에서 후방으로 수평 이동되어 이탈되지 않도록, 후단의 양쪽 가장자리들에 걸림 턱(112)이 각각 형성될 수 있다. The cart 110 mounts the substrate S so that the substrate S is transferred. The center of the cart 110 is opened to support under the edge of the substrate (S), the rear end is opened based on the transport direction of the substrate (S). For example, the cart 110 may be formed in a c shape, and the concave seating surface 111 may be continuously formed to allow the edge portion of the substrate S to be seated along the inner edge. In addition, the locking jaw 112 may be formed at both edges of the rear end of the cart 110 to prevent the substrate S from being horizontally moved backward in the state where the substrate S is seated on the seating surface 111.

전술한 카트(110)는 중앙에 개구가 형성됨에 따라, 승강 핀(162)들이 중앙 개구를 통해 승강하면서 기판(S)을 들어올리고 내릴 수 있다. 그리고, 카트(110)는 후단에 개구가 형성됨에 따라, 승강 핀(162)들이 기판(S)을 카트(110)로부터 언로딩시키도록 들어올린 상태에서, 카트(110)가 챔버(131) 밖으로 이송될 때 후단 개구에 의해 승강 핀(162)들과 간섭 없이 이송될 수 있다. As the above-described cart 110 has an opening formed in the center thereof, the lifting pins 162 may lift and lower the substrate S as the lifting pins 162 move up and down through the center opening. In addition, as the cart 110 has an opening formed at a rear end thereof, the cart 110 moves out of the chamber 131 in a state in which the lifting pins 162 are lifted to unload the substrate S from the cart 110. When conveyed it may be conveyed without interference with the lift pins 162 by the trailing opening.

기판처리 챔버부(120)는 카트(110)로부터 기판(S)을 공급받으며, 공급받은 기판(S)에 대해 프리 히팅하거나, 기판(S)에 대해 박막 증착 등의 다양한 공정을 수행한다. 기판처리 챔버부(120)는 챔버(131)와, 이송 유닛(141)과, 히팅부(151), 및 승강 유닛(161)을 포함한다. The substrate processing chamber unit 120 receives the substrate S from the cart 110 and performs various processes such as preheating of the supplied substrate S or thin film deposition on the substrate S. The substrate processing chamber 120 includes a chamber 131, a transfer unit 141, a heating unit 151, and a lifting unit 161.

챔버(131)는 진공 분위기가 형성되는 내부 공간을 갖는다. 진공 분위기는 펌프(미도시)에 의해 형성될 수 있다. 챔버(131)에는 기판(S)이 공급 및 배출될 수 있게 기판(S)의 이송 방향을 기준으로 선단과 후단에 게이트(132)들이 각각 형성될 수 있다. 그리고, 챔버(131)에는 게이트(132)들의 개폐를 위한 게이트 밸브(미도시)들이 설치될 수 있다. 챔버(131) 내에서 박막 증착 공정이 행해지는 경우, 원료 가스 및 반응 가스를 기판으로 공급하기 위한 샤워 헤드(미도시)가 장착될 수 있다. The chamber 131 has an internal space in which a vacuum atmosphere is formed. The vacuum atmosphere may be formed by a pump (not shown). In the chamber 131, gates 132 may be formed at the front and rear ends of the substrate S based on the transport direction of the substrate S so that the substrate S may be supplied and discharged. In the chamber 131, gate valves (not shown) for opening and closing the gates 132 may be installed. When the thin film deposition process is performed in the chamber 131, a shower head (not shown) for supplying source gas and reactant gas to the substrate may be mounted.

이송 유닛(141)은 카트(110)를 챔버(131) 안으로 공급하거나 챔버(131) 밖으로 배출시킨다. 따라서, 이송 유닛(141)은 기판(S)이 로딩된 카트(110)를 전달받아서 챔버(131) 안으로 공급하거나, 챔버(131) 밖으로 일시적으로 배출되어 있던 카트(110)를 챔버(131) 안으로 공급할 수 있다. 그리고, 이송 유닛(141)은 공정 처리된 기판(S)이 로딩된 카트(110)를 챔버(131) 밖으로 배출하거나, 기판(S)이 언로딩된 카트(110)를 챔버(131) 밖으로 일시적으로 배출할 수 있다. The transfer unit 141 supplies the cart 110 into or out of the chamber 131. Accordingly, the transfer unit 141 receives the cart 110 loaded with the substrate S and supplies the gas into the chamber 131, or transfers the cart 110 temporarily discharged out of the chamber 131 into the chamber 131. Can supply Then, the transfer unit 141 discharges the cart 110 loaded with the processed substrate S out of the chamber 131, or temporarily moves the cart 110 with the substrate S unloaded out of the chamber 131. Can be discharged.

히팅부(151)는 챔버(131) 내에 설치되며, 윗면에 안착된 기판(S)을 히팅한다. 즉, 히팅부(151)는 승강 유닛(161)에 의해 윗면에 기판(S)이 로딩되면 기판(S)에 열을 가해 히팅한다. The heating unit 151 is installed in the chamber 131 and heats the substrate S mounted on the upper surface. That is, the heating unit 151 applies heating to the substrate S when the substrate S is loaded on the upper surface by the elevating unit 161.

승강 유닛(161)은 챔버(131) 안으로 공급된 기판(S)을 상승 또는 하강시켜 카트(110)와 히팅부(151)에 기판(S)이 로딩 또는 언로딩되게 한다. 승강 유닛(161)은 복수의 승강 핀(162)들과 승강 구동기구(163)를 포함한다. The lifting unit 161 raises or lowers the substrate S supplied into the chamber 131 so that the substrate S is loaded or unloaded to the cart 110 and the heating unit 151. The lifting unit 161 includes a plurality of lifting pins 162 and a lifting drive mechanism 163.

승강 핀(162)들은 히팅부(151)를 관통해서 승강되게 설치된다. 승강 핀(162)들은 카트(110)가 챔버(131) 내에 위치한 상태에서, 카트(110)의 중앙 개구에 대응되게 배열되며, 기판(S)을 안정되게 들어올리고 내릴 수 있는 간격으로 배열된다. 승강 핀(162)들은 승강 프레임(164)을 매개로 승강 구동기구(163)에 의해 동시에 승강할 수 있다. Lift pins 162 are installed to be elevated through the heating unit 151. The lifting pins 162 are arranged to correspond to the central opening of the cart 110 with the cart 110 positioned in the chamber 131, and are arranged at intervals to stably lift and lower the substrate S. The elevating pins 162 may be simultaneously elevated by the elevating drive mechanism 163 via the elevating frame 164.

승강 프레임(164)에는 승강 핀(162)들의 각 하단이 고정되어 상부로 돌출되며, 승강 프레임(164)의 아랫면에 승강 구동기구(163)가 연결될 수 있다. 승강 구동기구(163)는 승강 프레임(164)을 승강시킬 수 있는 다양한 리니어 구동기구가 이용될 수 있다. 예컨대, 승강 구동기구(163)는 전동 실린더, 에어 실린더 등이 이용될 수 있다. 이 경우, 실린더의 몸체가 챔버(131)에 고정되고, 실린더의 몸체로부터 인출입되는 로드가 승강 프레임(164)의 아랫면에 고정될 수 있다. Each lower end of the elevating pins 162 is fixed to the elevating frame 164 to protrude upward, and the elevating drive mechanism 163 may be connected to the lower surface of the elevating frame 164. The lifting drive mechanism 163 may use various linear driving mechanisms capable of lifting the lifting frame 164. For example, the lifting drive mechanism 163 may be an electric cylinder, an air cylinder, or the like. In this case, the body of the cylinder is fixed to the chamber 131, the rod drawn out from the body of the cylinder may be fixed to the lower surface of the lifting frame 164.

한편, 이송 유닛(141)은 복수의 롤러(142)들과, 롤러 구동기구(143)를 포함할 수 있다. 롤러(142)들은 카트(110)의 이송 방향을 따라 챔버(131) 내의 양측에 2열로 수평 배열되며, 카트(110)를 얹어서 이송시킬 수 있는 방향으로 회전 가능하게 설치된다. 그리고, 롤러(142)들은 카트(110)의 이송 방향을 따라 상호 이격되게 배열된다. The transfer unit 141 may include a plurality of rollers 142 and a roller driving mechanism 143. The rollers 142 are horizontally arranged in two rows on both sides of the chamber 131 along the conveyance direction of the cart 110 and are rotatably installed in a direction in which the cart 110 can be mounted and conveyed. The rollers 142 are arranged to be spaced apart from each other along the conveyance direction of the cart 110.

롤러 구동기구(143)는 롤러(142)들 모두에 회전력을 제공한다. 이는 롤러(142)들 모두가 동일한 회전력으로 회전하게 하여, 카트(110)가 어느 한쪽 방향으로 치우치지 않고 원활하게 이송될 수 있도록 하기 위함이다. 또한, 증착 공정 중 롤러(142)들 중 일부에 증착되더라도, 카트(110)가 원활하게 이송될 수 있다.The roller drive mechanism 143 provides rotational force to all of the rollers 142. This is to allow all of the rollers 142 to rotate with the same rotational force, so that the cart 110 can be smoothly transferred without biasing in either direction. In addition, even if deposited on some of the rollers 142 during the deposition process, the cart 110 may be smoothly transferred.

롤러 구동기구(143)는 제1 기어(144)들과, 제2 기어(145)들과, 연결 기어(146)들과, 모터(147), 및 구동 연결축(148)을 포함할 수 있다. 제1 기어(144)들은 롤러(142)들에 각각 동축상으로 결합된다. 제2 기어(145)들은 제1 기어(144)들과 각각 치합되며, 일정 간격으로 이격된다. 연결 기어(146)들은 제2 기어(145)들 사이에 각각 개재되고, 제2 기어(145)들에 치합된다. 연결 기어(146)들은 제2 기어(145)들이 모두 동일한 방향으로 회전하게 하여, 제1 기어(144)들과 이와 결합된 롤러(142)들 모두가 동일한 방향으로 회전할 수 있게 한다. The roller drive mechanism 143 may include first gears 144, second gears 145, connecting gears 146, a motor 147, and a driving connecting shaft 148. . The first gears 144 are respectively coaxially coupled to the rollers 142. The second gears 145 are meshed with the first gears 144, respectively, and are spaced apart at regular intervals. The connecting gears 146 are interposed between the second gears 145, respectively, and mesh with the second gears 145. The connecting gears 146 allow the second gears 145 to all rotate in the same direction, so that both the first gears 144 and the rollers 142 associated therewith can rotate in the same direction.

모터(147)는 제1 기어(144)와 제2 기어(145)와 연결 기어(146) 중 어느 하나에 풀리와 벨트를 포함한 동력전달수단에 의해 연결되어 회전력을 제공한다. 모터(147)는 정역 회전이 가능한 회전 모터 등이 이용될 수 있다. The motor 147 is connected to any one of the first gear 144, the second gear 145, and the connecting gear 146 by a power transmission means including a pulley and a belt to provide rotational force. The motor 147 may be a rotary motor or the like capable of forward and reverse rotation.

구동 연결축(148)은 제2 기어(145)들 중 좌측에 위치한 적어도 어느 하나와, 이와 동축상으로 우측에 위치한 것을 서로 연결하여 함께 회전시킨다. 이에 따라, 챔버(131) 내의 좌우측 중 어느 한쪽에만 하나의 모터(147)가 설치되더라도, 롤러(142)들 모두에 구동력이 제공될 수 있다. The driving connecting shaft 148 rotates by connecting at least one of the second gears 145 located on the left side and the coaxially located right side thereof with each other. Accordingly, even if one motor 147 is installed on either of the left and right sides of the chamber 131, the driving force may be provided to all of the rollers 142.

다른 예로, 구동 연결축(148)은 연결 기어(146)들 중 좌측에 위치한 적어도 어느 하나와 이와 동축상으로 우측에 위치한 것을 서로 연결하여 함께 회전시킬 수도 있다. As another example, the driving connecting shaft 148 may rotate together by connecting at least one of the connecting gears 146 located at the left side and the coaxially located right side thereof with each other.

히팅부(151)는 히팅 스테이지(152)와, 서셉터(susceptor, 153)를 포함할 수 있다. 히팅 스테이지(152)는 발열 가능하게 히터(미도시)가 내장될 수 있다. 서 셉터(153)는 히팅 스테이지(152) 상에 고정될 수 있다. 서셉터(153)는 윗면에 안착된 기판(S)에 히팅 스테이지(152)로부터 발생된 열을 고르게 전달하도록 그라파이트(graphite) 재질로 형성될 수 있다. The heating unit 151 may include a heating stage 152 and a susceptor 153. The heating stage 152 may include a heater (not shown) to generate heat. The susceptor 153 may be fixed on the heating stage 152. The susceptor 153 may be formed of a graphite material to evenly transfer heat generated from the heating stage 152 to the substrate S mounted on the top surface.

챔버(131)에는 카트 위치센서(171)가 더 구비될 수 있다. 카트 위치센서(171)는 챔버(131) 내에서의 카트(110)의 위치를 감지해서 챔버(131) 내에 기판(S)이 정위치될 수 있게 한다. 예컨대, 카트 위치센서(171)로부터 감지된 정보는 기판처리 장치(100)를 전반적으로 제어하는 제어부(미도시)로 제공될 수 있다. 제어부는 카트 위치센서(171)로부터 제공되는 정보를 토대로 이송 유닛(141)을 제어하여 카트(110)를 설정 위치에 위치시킴에 따라 기판(S)을 정위치시킬 수 있다. The chamber 131 may further include a cart position sensor 171. The cart position sensor 171 detects the position of the cart 110 in the chamber 131 so that the substrate S may be positioned in the chamber 131. For example, the information detected from the cart position sensor 171 may be provided to a controller (not shown) for overall control of the substrate processing apparatus 100. The controller may control the transfer unit 141 based on the information provided from the cart position sensor 171 to position the cart S at a predetermined position, thereby positioning the substrate S correctly.

전술한 바와 같이, 승강 유닛(161)과 이송 유닛(141)에 의해 기판(S)이 카트(110)로부터 언로딩되고 카트(110)는 챔버(131) 밖으로 배출되어 기판(S)만이 히팅부(151)에 의해 히팅될 수 있다. 따라서, 기판(S)은 균일한 온도 분포로 히팅될 수 있다. 또한, 히팅된 기판(S)에 대해 박막 증착 공정이 수행되는 경우, 기판(S)에 박막이 균일하게 증착될 수 있다. As described above, the substrate S is unloaded from the cart 110 by the lifting unit 161 and the transfer unit 141, and the cart 110 is discharged out of the chamber 131 so that only the substrate S is heated. 151 may be heated. Thus, the substrate S can be heated with a uniform temperature distribution. In addition, when a thin film deposition process is performed on the heated substrate S, the thin film may be uniformly deposited on the substrate S. FIG.

상기의 구성을 갖는 기판처리 장치(100)에 의해 기판(S)을 처리하는 방법에 대해 도 4 내지 도 7을 참조해서 설명하면 다음과 같다. A method of processing the substrate S by the substrate processing apparatus 100 having the above configuration will be described below with reference to FIGS. 4 to 7.

도 4에 도시된 바와 같이, 기판(S)이 로딩된 카트(110)를 이송 유닛(141)에 의해 챔버(131) 안으로 공급한다. 기판(S)이 정위치되면, 도 5에 도시된 바와 같이, 챔버(131) 내의 승강 핀(162)들을 상승시켜 기판(S)을 들어올린다. 그러면, 기판(S)은 카트(110)로부터 분리되어 언로딩된다. 이후, 기판(S)이 언로딩되어 비어 있는 카트(110)를 챔버(131) 밖으로 일시적으로 배출시킨다. As shown in FIG. 4, the cart 110 loaded with the substrate S is supplied into the chamber 131 by the transfer unit 141. When the substrate S is in position, as shown in FIG. 5, the lifting pins 162 in the chamber 131 are raised to lift the substrate S. As shown in FIG. Then, the substrate S is separated from the cart 110 and unloaded. Thereafter, the substrate S is unloaded to temporarily discharge the empty cart 110 out of the chamber 131.

이어서, 도 6에 도시된 바와 같이, 챔버(131) 내의 승강 핀(162)들을 하강시켜 기판(S)을 히팅부(151) 윗면에 안착시킨다. 이후, 기판(S)에 대해 프리 히팅하거나, 기판에 대한 박막 증착 등의 공정을 처리한다. Subsequently, as shown in FIG. 6, the lifting pins 162 in the chamber 131 are lowered to seat the substrate S on the upper surface of the heating unit 151. Thereafter, the substrate S is preheated, or a process such as thin film deposition on the substrate is processed.

공정 처리가 완료되면, 도 7에 도시된 바와 같이, 챔버(131) 내의 승강 핀(162))들을 상승시켜 공정 처리된 기판(S)을 들어올린다. 이어서, 일시적으로 챔버(131) 밖으로 배출되어 있던 카트(110)를 챔버(131) 안으로 다시 이송시킨다. 카트(110)가 기판 로딩 위치로 위치하면, 챔버(131) 내의 승강 핀(162)들을 하강시켜 공정 처리된 기판(S)을 카트(110)에 로딩한다. 이어서, 공정 처리된 기판(S)이 로딩된 카트(110)를 챔버(131) 밖으로 배출한다. When the process is completed, as shown in FIG. 7, the lifting pins 162 in the chamber 131 are raised to lift the processed substrate S. As shown in FIG. Subsequently, the cart 110 temporarily discharged out of the chamber 131 is transferred back into the chamber 131. When the cart 110 is positioned at the substrate loading position, the lifting pins 162 in the chamber 131 are lowered to load the processed substrate S into the cart 110. Subsequently, the cart 110 loaded with the processed substrate S is discharged out of the chamber 131.

도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 인라인 처리 시스템에 대한 사시도이다. 8 is a perspective view of an inline processing system according to one embodiment of the invention.

도 8을 참조하면, 인라인 처리 시스템(1000)는 기판(S)을 프리 히팅하는 공정과 기판(S)에 박막을 증착하는 등의 공정과 기판(S)을 냉각하는 등의 공정을 연속적으로 처리한다. 인라인 처리 시스템(1000)은 카트(110)와, 로드락(load lock) 챔버부(1100)와, 공정 챔버부(1200), 및 언로드락(unload lock) 챔버부(1300)를 포함하여 구성된다. 여기서, 공정 챔버부(1200)는 전술한 기판처리 장치(100)의 기판처리 챔버부(120)가 박막 증착 등의 공정을 수행하도록 구성된 경우, 이와 동일한 구성으로 이루어질 수 있다. Referring to FIG. 8, the inline processing system 1000 continuously processes a process of preheating the substrate S, a process of depositing a thin film on the substrate S, and a process of cooling the substrate S. do. The inline processing system 1000 includes a cart 110, a load lock chamber unit 1100, a process chamber unit 1200, and an unload lock chamber unit 1300. . Here, the process chamber unit 1200 may be configured in the same configuration when the substrate processing chamber 120 of the substrate processing apparatus 100 described above is configured to perform a process such as thin film deposition.

로드락 챔버부(1100)와 공정 챔버부(1200)와 언로드락 챔버부(1300)는 기판(S)의 이송 방향을 따라 순서대로 배열된다. 공정 챔버부(1200)는 하나로 구비된 것으로 도시되어 있지만, 다양한 공정을 행할 수 있게 복수 개로 구비되어 일렬로 배열될 수도 있다. 카트(110)는 로드락 챔버부(1100)와 공정 챔버부(1200)와 언로드락 챔버부(1300) 사이를 왕복해서 이송하게 된다. The load lock chamber part 1100, the process chamber part 1200, and the unload lock chamber part 1300 are arranged in order along the transfer direction of the substrate S. Although the process chamber part 1200 is illustrated as being provided as one, a plurality of process chambers 1200 may be provided and arranged in a line to perform various processes. The cart 110 reciprocates and transfers between the load lock chamber 1100, the process chamber 1200, and the unload lock chamber 1300.

로드락 챔버부(1100)는 기판(S)에 대해 프리 히팅을 행할 수 있다. 이는 공정 챔버부(1200)에서 기판(S)을 히팅하기에 앞서 프리 히팅을 함으로써, 공정 챔버부(1200)에서의 공정 처리를 보다 신속하게 수행할 수 있도록 하기 위함이다. The load lock chamber 1100 may perform preheating on the substrate S. FIG. This is to preheat before the substrate S is heated in the process chamber part 1200, so that the process process in the process chamber part 1200 can be performed more quickly.

로드락 챔버부(1100)는 로드락 챔버(1110)와, 카트(110)에 얹혀진 기판(S)을 로드락 챔버(1110) 안으로 공급하거나 로드락 챔버(1110) 밖으로 배출시키는 이송 유닛과, 로드락 챔버(1110) 내에 설치되며 윗면에 기판(S)이 안착되는 히팅부를 포함할 수 있다. 로드락 챔버부(1100)에 설치되는 이송 유닛과 히팅부는 전술한 공정 챔버부(1200)에 설치되는 이송 유닛(141)과, 히팅부(151)와 동일하게 구성될 수 있다. The load lock chamber unit 1100 may include a load lock chamber 1110, a transfer unit for supplying the substrate S mounted on the cart 110 into the load lock chamber 1110, or discharging the load lock chamber 1110 out of the load lock chamber 1110. It is installed in the lock chamber 1110 and may include a heating unit on which the substrate (S) is mounted on the upper surface. The transfer unit and the heating unit installed in the load lock chamber unit 1100 may be configured in the same manner as the transfer unit 141 and the heating unit 151 installed in the above-described process chamber unit 1200.

로드락 챔버(1110) 내에서 기판(S)은 카트(110)에 로딩된 채로 카트(110)와 함께 프리 히팅될 수 있다. 일 예로, 카트(110)를 얹고 있는 이송 유닛의 롤러들이 하강하여 기판이 히팅부의 윗면에 안착될 수 있게 하여, 기판이 카트(110)에 로딩된 채로 프리 히팅될 수 있다. 다른 예로, 히팅부가 기판 쪽으로 상승하여 히팅부의 윗면에 기판이 맞닿을 수 있게 하여, 기판이 카트(110)에 로딩된 채로 프리 히팅될 수 있다. In the load lock chamber 1110, the substrate S may be preheated together with the cart 110 while being loaded in the cart 110. For example, the rollers of the transfer unit on which the cart 110 is mounted may be lowered to allow the substrate to be seated on the upper surface of the heating unit, so that the substrate may be preheated while being loaded in the cart 110. As another example, the heating unit may be raised toward the substrate to allow the substrate to contact the upper surface of the heating unit so that the substrate may be preheated while being loaded in the cart 110.

한편, 로드락 챔버부(1100)가 공정 챔버부(1200)의 승강 유닛(161)을 더 포함하여, 기판(S)만이 프리 히팅될 수도 있다. 즉, 로드락 챔버(1110) 내의 승강 핀들을 상승시켜 기판을 들어올림으로써, 기판을 카트로부터 분리한 후, 카트를 공정 챔버(1210) 내로 일시적으로 배출시킨다. 이후, 로드락 챔버(1110) 내의 승강 핀들을 하강시켜 기판을 히팅부 윗면에 안착시켜 기판만이 히팅되게 할 수 있다. Meanwhile, since the load lock chamber 1100 further includes a lifting unit 161 of the process chamber 1200, only the substrate S may be preheated. That is, the lift pins in the load lock chamber 1110 are raised to lift the substrate, thereby separating the substrate from the cart and then temporarily discharging the cart into the process chamber 1210. Thereafter, the lifting pins in the load lock chamber 1110 may be lowered to seat the substrate on the upper surface of the heating unit so that only the substrate is heated.

로드락 챔버(1110)에는 기판(S)을 공급 및 배출하기 위한 게이트들과, 게이트들을 개폐하기 위한 게이트 밸브와, 내부 공간을 진공으로 형성하기 위한 펌프가 설치될 수 있다. 그리고, 로드락 챔버(1110)에는 카트 위치센서가 더 구비될 수 있다. The load lock chamber 1110 may be provided with gates for supplying and discharging the substrate S, a gate valve for opening and closing the gates, and a pump for forming an internal space in a vacuum. The load lock chamber 1110 may further include a cart position sensor.

언로드락 챔버부(1300)는 공정 챔버부(1200)로부터 기판(S)을 공급받으며, 공급받은 기판(S)에 대해 냉각을 행한다. 언로드락 챔버부(1300)는 언로드락 챔버(1310)와, 카트(110)에 얹혀진 기판(S)을 언로드락 챔버(1310) 안으로 공급하거나 언로드락 챔버(1310) 밖으로 배출시키는 이송 유닛을 포함한다. 이송 유닛은 전술한 로드락 챔버부(1100)와 공정 챔버부(1200)에 설치되는 이송 유닛과 동일하게 구성될 수 있으므로, 상세한 설명은 생략하기로 한다. The unload lock chamber 1300 receives the substrate S from the process chamber 1200 and cools the supplied substrate S. FIG. The unload lock chamber unit 1300 includes an unload lock chamber 1310 and a transfer unit that supplies the substrate S mounted on the cart 110 into the unload lock chamber 1310 or discharges it out of the unload lock chamber 1310. . Since the transfer unit may be configured in the same manner as the transfer unit installed in the load lock chamber 1100 and the process chamber 1200 described above, a detailed description thereof will be omitted.

그리고, 도시하고 있지 않지만, 언로드락 챔버(1310)에는 기판(S)을 냉각하기 위한 냉각수단, 예컨대, 냉각 매체를 공급하는 수단 등이 구비될 수 있다. 언로드락 챔버(1310)에는 내부 공간을 진공으로 형성하기 위한 펌프가 설치될 수 있다. 언로드락 챔버(1310)에는 카트 위치센서가 더 구비될 수 있다Although not shown, the unload lock chamber 1310 may include cooling means for cooling the substrate S, for example, a means for supplying a cooling medium. The unload lock chamber 1310 may be provided with a pump for forming the internal space in a vacuum. The unload lock chamber 1310 may further include a cart position sensor.

한편, 로드락 챔버부(1100)의 일측에는 기판(S)을 카트(110)에 로딩해서 로 드락 챔버부(1100)로 공급하기 위한 로딩 스테이션이 구비되고, 언로드락 챔버부(1300)의 일측에는 카트(110)로부터 기판(S)을 언로딩하고 카트(110)를 배출하는 언로딩 스테이션이 구비될 수 있다. 언로딩 스테이션으로부터 배출되는 카트(110)는 언로딩 스테이션에서 하강한 후, 언로드락 챔버부(1300)와 공정 챔버부(1200)와 로드락 챔버부(1100)의 아래 쪽을 차례로 거쳐 로딩 스테이션으로 이송됨으로써, 순환할 수 있다. On the other hand, one side of the load lock chamber unit 1100 is provided with a loading station for loading the substrate (S) to the cart 110 to the low lock chamber unit 1100, one side of the unload lock chamber unit 1300 An unloading station may be provided to unload the substrate S from the cart 110 and to discharge the cart 110. The cart 110 discharged from the unloading station descends from the unloading station, and then passes through the unload lock chamber 1300, the process chamber 1200, and the lower side of the load lock chamber 1100 to the loading station. By being conveyed, it can circulate.

상기의 구성을 갖는 인라인 처리 장치(1000)에 의해 기판(S)을 인라인 처리하는 방법에 대해 설명하면 다음과 같다. A method of inlining the substrate S by the inline processing apparatus 1000 having the above configuration will be described below.

먼저, 카트(110)에 기판(S)을 로딩해서 로드락 챔버(1110) 안으로 이송한 후, 로드락 챔버(1110) 안에서 기판을 프리 히팅한다. First, the substrate S is loaded into the cart 110 and transferred to the load lock chamber 1110, and then the substrate is preheated in the load lock chamber 1110.

이어서, 프리 히팅된 기판이 로딩된 카트(110)를 공정 챔버(1210) 안으로 이송한다. 공정 챔버(1210) 내에 기판이 정위치되면, 공정 챔버(1210) 내의 승강 핀들을 상승시켜 기판을 들어올린다. 그러면, 기판은 카트(110)로부터 분리되어 언로딩된다. 이어서, 기판이 언로딩되어 비어 있는 카트(110)를 언로드락 챔버(1310) 안으로 이송해서 공정 챔버(1210) 밖으로 배출시킨다. The cart 110 loaded with the preheated substrate is then transferred into the process chamber 1210. When the substrate is positioned in the process chamber 1210, the lifting pins in the process chamber 1210 are raised to lift the substrate. The substrate is then separated from the cart 110 and unloaded. Subsequently, the substrate is unloaded and the empty cart 110 is transferred into the unload lock chamber 1310 and discharged out of the process chamber 1210.

카트(110)가 공정 챔버(1210)로부터 완전히 배출된 후, 공정 챔버(1210) 내의 승강 핀들을 하강시켜 기판을 히팅부 윗면에 안착시킨다. 이어서, 기판을 히팅하고, 히팅된 기판에 대해 박막 증착 등의 공정을 수행한다. After the cart 110 is completely discharged from the process chamber 1210, the lifting pins in the process chamber 1210 are lowered to seat the substrate on the heating surface. Subsequently, the substrate is heated, and a process such as thin film deposition is performed on the heated substrate.

기판에 대한 공정 처리가 완료되면, 공정 챔버(1210) 내의 승강 핀들을 상승 시켜 공정 처리된 기판을 들어올린다. 이때, 기판을 들어올린 높이는 기판을 카트(110)로부터 로딩시키기 위한 높이와 동일하게 설정될 수 있다. When the processing of the substrate is completed, the lifting pins in the process chamber 1210 are raised to lift the processed substrate. At this time, the height of lifting the substrate may be set equal to the height for loading the substrate from the cart (110).

이어서, 언로드락 챔버(1310) 내에 일시적으로 배출되어 있던 카트(110)를 공정 챔버(1210) 안으로 다시 이송한다. 카트(110)가 기판 로딩 위치로 위치하면, 공정 챔버(1210) 내의 승강 핀들을 하강시켜 공정처리된 기판을 카트(110)에 로딩한다. Subsequently, the cart 110 that has been temporarily discharged into the unload lock chamber 1310 is transferred back into the process chamber 1210. When the cart 110 is positioned at the substrate loading position, the lifting pins in the process chamber 1210 are lowered to load the processed substrate into the cart 110.

이어서, 공정처리된 기판이 로딩된 카트(110)를 언로드락 챔버(1310) 안으로 이송한 후, 언로드락 챔버(1310) 안으로 이송된 기판에 대해 냉각 처리한다. Subsequently, the cart 110 loaded with the processed substrate is transferred into the unload lock chamber 1310 and then cooled to the substrate transferred into the unload lock chamber 1310.

전술한 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 인라인 처리 장치(1000)와 인라인 처리 방법에 따르면, 기판을 연속적으로 처리할 수 있으므로, 공정 시간을 단축시키고 생산성을 향상시킬 수 있게 된다.As described above, according to the in-line processing apparatus 1000 and the in-line processing method according to an embodiment of the present invention, since the substrate can be processed continuously, it is possible to shorten the process time and improve productivity.

한편, 로드락 챔버(1110) 안에서 기판을 프리 히팅하는 단계는, 기판을 카트(110)에 로딩한 채로 카트(110)와 함께 프리 히팅하는 과정을 포함할 수 있다. 다른 예로, 로드락 챔버(1110) 안에서 기판을 프리 히팅하는 단계는, 기판을 카트(110)에서 언로딩하여 기판만을 히팅부에 의해 프리 히팅하는 과정을 포함할 수도 있다. 여기서, 기판을 카트(110)에서 언로딩하여 기판만을 히팅부에 의해 프리 히팅하는 과정은 전술한 공정 챔버(1210) 내에서 수행되는 과정과 동일하게 이루어질 수 있다. Meanwhile, the preheating of the substrate in the load lock chamber 1110 may include a preheating process with the cart 110 while the substrate is loaded in the cart 110. As another example, preheating the substrate in the load lock chamber 1110 may include unloading the substrate from the cart 110 to preheat only the substrate by the heating unit. Here, the process of unloading the substrate from the cart 110 and preheating only the substrate by the heating unit may be the same as the process performed in the above-described process chamber 1210.

본 발명은 첨부된 도면에 도시된 일 실시예를 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 당해 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다 양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 보호 범위는 첨부된 청구 범위에 의해서만 정해져야 할것이다.Although the present invention has been described with reference to one embodiment shown in the accompanying drawings, this is merely exemplary, and various modifications and equivalent other embodiments are possible to those skilled in the art. I can understand. Accordingly, the true scope of protection of the invention should be defined only by the appended claims.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 기판처리 장치에 대한 사시도. 1 is a perspective view of a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 2는 도 1에 있어서, 챔버 내에 기판이 로딩된 카트가 공급된 상태에 대한 단면도. FIG. 2 is a cross-sectional view of a state in which a cart loaded with a substrate is supplied into a chamber in FIG. 1; FIG.

도 3은 도 1에 있어서, 이송 유닛과 승강 유닛을 발췌하여 도시한 사시도. FIG. 3 is a perspective view of the transfer unit and the lift unit shown in FIG. 1;

도 4 내지 도 7은 도 1에 있어서, 기판이 카트와 히팅부에 로딩 또는 언로딩되는 과정을 설명하기 위한 단면도. 4 to 7 are cross-sectional views for explaining a process of loading or unloading the substrate to the cart and the heating unit in FIG.

도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 인라인 처리 시스템에 대한 사시도.8 is a perspective view of an inline processing system according to one embodiment of the invention.

〈도면의 주요 부호에 대한 간단한 설명〉<Brief description of the major symbols in the drawings>

110..카트 120..기판처리 챔버부110. Cart 120. Processing chamber part

131..챔버 141..이송 유닛131. Chamber 141. Transfer unit

151..히팅부 161..승강 유닛151..Heating section 161 .. Lifting unit

1100..로드락 챔버부 1200..공정 챔버부1100..Loadlock chamber part 1200..Process chamber part

1300..언로드락 챔버부1300..Unload Lock Chamber

Claims (13)

기판을 얹어서 기판이 이송되게 하는 것으로 기판의 가장자리 아래를 지지하도록 중앙이 개구되며 기판의 이송 방향을 기준으로 후단이 개구된 카트와, 상기 카트로부터 공급받은 기판을 처리하는 기판처리 챔버부를 포함하며, A cart having a substrate open at a center thereof to support a substrate under the edge of the substrate and having a rear end opened based on a transport direction of the substrate, and a substrate processing chamber portion for processing the substrate supplied from the cart; 상기 기판처리 챔버부는, The substrate processing chamber portion, 내부 공간을 갖는 챔버; A chamber having an interior space; 상기 카트를 상기 챔버 안으로 공급하거나 상기 챔버 밖으로 배출시키는 이송 유닛; A transfer unit for feeding the cart into or out of the chamber; 상기 챔버 내에 설치되며 윗면에 기판이 안착되는 히팅부; 및 A heating unit installed in the chamber and having a substrate seated thereon; And 상기 챔버 안으로 공급된 기판을 상승 또는 하강시켜 상기 카트와 히팅부에 기판이 로딩 또는 언로딩되게 하는 것으로, 상기 히팅부를 관통해서 승강되는 복수의 승강 핀들과 상기 승강 핀들을 승강시키는 승강 구동기구를 구비한 승강 유닛;을 포함하는 기판처리 장치. Lifting or lowering the substrate supplied into the chamber so that the substrate is loaded or unloaded to the cart and the heating unit, and a plurality of lifting pins and the lifting drive mechanism for lifting the lifting pins up and down through the heating unit. And an elevating unit. 제 1항에 있어서, The method of claim 1, 상기 카트에는, 내측 가장자리를 따라 기판의 가장자리 부위가 안착될 수 있게 오목한 안착 면이 형성되고, 기판이 후방으로 수평 이동되어 이탈되지 않게 후단의 양쪽 가장자리들에 걸림 턱이 각각 형성된 것을 특징으로 하는 기판처리 장치. The cart has a concave seating surface formed so that the edge portion of the substrate can be seated along the inner edge, and the locking jaws are formed on both edges of the rear end so that the substrate is not moved away horizontally. Processing unit. 제 1항에 있어서, The method of claim 1, 상기 이송 유닛은: The transfer unit is: 상기 카트가 얹혀지고 상기 카트의 이송 방향을 따라 상호 이격되며 상기 챔버 내의 양측에 회전 가능하게 설치된 복수의 롤러들과, A plurality of rollers on which the cart is mounted and spaced apart from each other along the conveying direction of the cart and rotatably installed on both sides of the chamber; 상기 롤러들 모두에 회전력을 제공하는 롤러 구동기구를 포함하는 기판처리 장치. And a roller drive mechanism for providing rotational force to all of the rollers. 제 3항에 있어서, The method of claim 3, wherein 상기 롤러 구동기구는: The roller drive mechanism is: 상기 롤러들에 각각 동축상으로 결합된 제1 기어들과, First gears coaxially coupled to the rollers, respectively; 상기 제1 기어들과 각각 치합되고 서로 이격된 제2 기어들과, Second gears engaged with the first gears and spaced apart from each other, 상기 제2 기어들 사이에 각각 개재되고 상기 제2 기어들과 치합된 연결 기어들과, Connecting gears interposed between the second gears and engaged with the second gears, respectively; 상기 제1 기어와 제2 기어와 연결 기어 중 어느 하나에 연결되어 회전력을 제공하는 모터, 및 A motor connected to any one of the first gear, the second gear, and the connecting gear to provide a rotational force, and 상기 제2 기어들 또는 상기 연결 기어들 중 좌측에 위치한 적어도 어느 하나와 이와 동축상으로 우측에 위치한 것을 서로 연결하여 함께 회전시키는 구동 연결축을 포함하는 기판처리 장치. And at least one of the second gears and the connection gears on the left side, and a driving connecting shaft which connects and rotates together the ones on the right side of the second shaft. 제 1항에 있어서, The method of claim 1, 상기 챔버에는, 내부에 기판이 정위치되도록 상기 카트의 위치를 감지하는 카트 위치센서를 더 포함하는 기판처리 장치. The chamber further comprises a cart position sensor for sensing the position of the cart so that the substrate is positioned in the interior. 카트에 기판을 로딩해서 챔버 안으로 이송하는 단계; Loading the substrate into the cart and transferring it into the chamber; 챔버 내의 승강 핀들을 상승시켜 기판을 들어올림에 따라 기판을 카트로부터 언로딩하는 단계; Unloading the substrate from the cart as the lift pins in the chamber are raised to lift the substrate; 기판이 언로딩된 카트를 챔버 밖으로 이송하는 단계; Transferring the cart with the substrate unloaded out of the chamber; 챔버 내의 승강 핀들을 하강시켜 기판을 히팅부 윗면에 안착시킨 후, 기판을 처리하는 단계; Lowering the lifting pins in the chamber to seat the substrate on the heating surface, and then processing the substrate; 챔버 내의 승강 핀들을 상승시켜 처리된 기판을 들어올린 후, 챔버 밖에 있는 카트를 챔버 안으로 이송하는 단계; 및 Raising the lift pins in the chamber to lift the processed substrate and then transferring the cart outside the chamber into the chamber; And 챔버 내의 승강 핀들을 하강시켜 처리된 기판을 카트에 로딩한 후, 챔버 밖으로 이송하는 단계;를 포함하는 기판처리 방법. And lowering the lifting pins in the chamber to load the processed substrate into the cart and then to transport it out of the chamber. 기판을 얹어서 기판이 이송되게 하는 것으로, 기판의 가장자리 아래를 지지하도록 중앙이 개구되고, 기판의 이송 방향을 기준으로 후단이 개구된 카트; A cart having a substrate mounted thereon, the center of which is opened so as to support under the edge of the substrate and having a rear end opened based on the transfer direction of the substrate; 공급받은 기판에 대해 프리 히팅하는 로드락 챔버부; A load lock chamber unit preheating the supplied substrate; 상기 로드락 챔버부로부터 공급받은 기판에 대해 공정 처리하는 것으로, 공정 챔버와, 상기 카트에 얹혀진 기판을 상기 공정 챔버 안으로 공급하거나 상기 공 정 챔버 밖으로 배출시키는 이송 유닛과, 상기 공정 챔버 내에 설치되며 윗면에 기판이 안착되는 히팅부, 및 기판을 상승 또는 하강시켜 상기 카트와 상기 히팅부에 기판이 로딩 또는 언로딩되게 하는 것으로 상기 히팅부를 관통해서 승강되는 복수의 승강 핀들과 상기 승강 핀들을 승강시키는 승강 구동기구를 구비한 승강 유닛을 포함한 공정 챔버부; 및 Process processing on the substrate supplied from the load lock chamber unit, a transfer unit for supplying the substrate placed on the cart into the process chamber or discharged out of the process chamber, and installed in the process chamber A heating part on which a substrate is seated on the substrate, and a plurality of lifting pins and lifting pins for lifting up and down through the heating part by raising or lowering the substrate so that the substrate is loaded or unloaded from the cart and the heating part. A process chamber unit including a lifting unit having a drive mechanism; And 상기 공정 챔버부로부터 공급받은 기판에 대해 냉각을 행하는 언로드락 챔버부;를 포함하는 인라인 처리 시스템. And an unload lock chamber configured to cool the substrate supplied from the process chamber. 제 7항에 있어서, The method of claim 7, wherein 상기 카트에는, 내측 가장자리를 따라 기판의 가장자리 부위가 안착될 수 있게 오목한 안착 면이 형성되고, 기판이 후방으로 수평 이동되어 이탈되지 않게 후단의 양쪽 가장자리들에 걸림 턱이 각각 형성된 것을 특징으로 하는 인라인 처리 시스템. In the cart, the inclined seating surface is formed so that the edge portion of the substrate can be seated along the inner edge, and the locking jaw is formed on both edges of the rear end so that the substrate is not horizontally moved backward Processing system. 제 7항에 있어서, The method of claim 7, wherein 상기 이송 유닛은: The transfer unit is: 상기 카트가 얹혀지고 상기 카트의 이송 방향을 따라 상호 이격되며 상기 공정 챔버 내의 양측에 회전 가능하게 설치된 복수의 롤러들과, A plurality of rollers on which the cart is mounted and spaced apart from each other along the conveying direction of the cart and rotatably installed on both sides of the process chamber; 상기 롤러들 모두에 회전력을 제공하는 롤러 구동기구를 포함하는 인라인 처리 시스템. And a roller drive mechanism for providing rotational force to all of the rollers. 제 9항에 있어서, The method of claim 9, 상기 롤러 구동기구는: The roller drive mechanism is: 상기 롤러들에 각각 동축상으로 결합된 제1 기어들과, First gears coaxially coupled to the rollers, respectively; 상기 제1 기어들과 각각 치합되고 서로 이격된 제2 기어들과, Second gears engaged with the first gears and spaced apart from each other, 상기 제2 기어들 사이에 각각 개재된 연결 기어들과, Connecting gears interposed between the second gears; 상기 제1 기어와 제2 기어와 연결 기어 중 어느 하나에 연결되어 회전력을 제공하는 모터, 및 A motor connected to any one of the first gear, the second gear, and the connecting gear to provide a rotational force, and 상기 제2 기어들 또는 상기 연결 기어들 중 좌측에 위치한 적어도 어느 하나와 이와 동축상으로 우측에 위치한 것을 서로 연결하여 함께 회전시키는 구동 연결축을 포함하는 인라인 처리 시스템. And at least one of the second gears or the connecting gears on the left side and a driving connecting shaft which connects and rotates together the ones on the right side of the shaft coaxially to the right side. 제 7항에 있어서, The method of claim 7, wherein 상기 공정 챔버에는, 내부에 기판이 정위치되도록 상기 카트의 위치를 감지하는 카트 위치센서를 더 포함하는 인라인 처리 시스템. The process chamber, the in-line processing system further comprises a cart position sensor for detecting the position of the cart so that the substrate is positioned in the interior. 카트에 기판을 로딩해서 로드락 챔버 안으로 이송한 후, 이송된 기판에 대해 프리 히팅하는 단계; Loading the cart into a load lock chamber and preheating the transferred substrate; 프리 히팅된 기판이 로딩된 카트를 공정 챔버 안으로 이송하는 단계; Transferring the cart loaded with the preheated substrate into the process chamber; 공정 챔버 내의 승강 핀들을 상승시켜 기판을 들어올림에 따라 기판을 카트 로부터 언로딩하는 단계; Lifting the lift pins in the process chamber to unload the substrate from the cart as it lifts the substrate; 기판이 언로딩된 카트를 언로드락 챔버 안으로 이송하는 단계; Transferring the cart with the substrate unloaded into the unload lock chamber; 공정 챔버 내의 승강 핀들을 하강시켜 기판을 히팅부 윗면에 안착시킨 후, 공정 처리하는 단계; Lowering the lifting pins in the process chamber to seat the substrate on the upper surface of the heating part, and then processing the process; 공정 챔버 내의 승강 핀들을 상승시켜 공정 처리된 기판을 들어올린 후, 언로드락 챔버 내에 있는 카트를 공정 챔버 안으로 이송하는 단계; Raising the lift pins in the process chamber to lift the processed substrate and then transferring the cart in the unload lock chamber into the process chamber; 공정 챔버 내의 승강 핀들을 하강시켜 공정 처리된 기판을 카트에 로딩하는 단계; 및 Lowering the lifting pins in the process chamber to load the processed substrate into a cart; And 공정 처리된 기판이 로딩된 카트를 언로드락 챔버 안으로 이송한 후, 이송된 기판에 대해 냉각 처리하는 단계;를 포함하는 인라인 처리 방법. And transferring the cart loaded with the processed substrate into the unload lock chamber, followed by cooling the transferred substrate. 제 12항에 있어서, The method of claim 12, 이송된 기판에 대해 프리 히팅하는 단계는, 기판을 카트에 로딩한 채로 카트와 함께 프리 히팅하거나, 기판을 카트에서 언로딩하여 기판만을 프리 히팅하는 과정을 포함하는 인라인 처리 방법. Preheating the transferred substrate includes preheating the cart with the substrate loaded in the cart or unloading the substrate from the cart to preheat only the substrate.
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