KR20110002984A - 구동소자의 뒤집힘 불량 검출방법 - Google Patents
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 title abstract description 9
- 230000002950 deficient Effects 0.000 title 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 50
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 25
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 claims description 17
- 238000000605 extraction Methods 0.000 claims description 7
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 11
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 7
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 5
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 4
- 230000009471 action Effects 0.000 description 2
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
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- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
- G06T7/0004—Industrial image inspection
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- H—ELECTRICITY
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- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K13/00—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
- H05K13/08—Monitoring manufacture of assemblages
-
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/956—Inspecting patterns on the surface of objects
- G01N2021/95638—Inspecting patterns on the surface of objects for PCB's
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Operations Research (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
Description
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- 몸체와 상기 몸체로부터 돌출된 적어도 하나의 터미널을 포함하는 구동소자가 베어기판 상에 뒤집혀서 장착되는 뒤집힘 불량을 검출하기 위한 구동소자의 뒤집힘 불량 검출방법에 있어서,3차원 형상 측정장치를 통해 상기 구동소자의 3차원 형상을 측정하여, 위치에 따른 높이정보를 포함하는 3차원 이미지 데이터를 획득하는 단계;상기 3차원 이미지 데이터로부터 상기 몸체의 높이 및 상기 터미널의 높이를 추출하는 단계(이하, 높이 추출단계라고 함); 및상기 몸체의 높이 및 상기 터미널의 높이를 서로 비교하여, 상기 뒤집힘 불량이 발생했는지 여부를 판단하는 단계(이하, 뒤집힘 불량 판단단계라고 함)를 포함하는 구동소자의 뒤집힘 불량 검출방법.
- 제1항에 있어서, 상기 높이 추출단계는상기 3차원 이미지 데이터로부터 상기 구동소자의 몸체를 확인한 후, 상기 몸체의 높이를 추출하는 단계; 및상기 3차원 이미지 데이터로부터 상기 몸체로부터 돌출된 상기 구동소자의 터미널을 확인한 후, 상기 터미널의 높이를 추출하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 구동소자의 뒤집힘 불량 검출방법.
- 제1항에 있어서, 상기 뒤집힘 불량 판단단계에서는상기 몸체의 높이에서 상기 터미널의 높이를 뺀 값인 높이 차이값이 기준치 이상일 때, 상기 구동소자가 상기 베어기판 상에 정상적으로 장착되었다고 판단하고,상기 높이 차이값이 상기 기준치 미만이거나 영(zero)보다 작을 때, 상기 구동소자에서 상기 뒤집힘 불량이 발생했다고 판단하는 것을 특징으로 하는 구동소자의 뒤집힘 불량 검출방법.
- 제1항에 있어서, 상기 몸체의 높이 및 상기 터미널의 높이는상기 베어기판의 표면을 기준 높이로 해서 측정된 것을 특징으로 하는 구동소자의 뒤집힘 불량 검출방법.
- 제1항에 있어서, 상기 구동소자가 상기 베어기판 상에 정상적으로 배치되었을 때의 상기 터미널의 위치는상기 구동소자가 상기 베어기판 상에 뒤집혀서 배치되었을 때의 상기 터미널의 위치와 실질적으로 동일한 것을 특징으로 하는 구동소자의 뒤집힘 불량 검출방법.
- 제1항에 있어서, 상기 몸체는 상면, 상기 상면과 대향하는 하면 및 상기 상면과 상기 하면을 연결하는 측면으로 구성되고,상기 터미널은 상기 몸체의 측면 중 상기 하면과 인접하는 하단부로부터 돌출되어 형성된 것을 특징으로 하는 구동소자의 뒤집힘 불량 검출방법.
- 제6항에 있어서, 상기 터미널의 높이는상기 터미널을 덮도록 형성되어 상기 터미널를 상기 베어기판의 패드와 전기적으로 연결시키는 솔더부까지 포함한 상태의 높이인 것을 특징으로 하는 구동소자의 뒤집힘 불량 검출방법.
- 몸체와 상기 몸체로부터 돌출된 적어도 하나의 터미널을 포함하는 구동소자가 베어기판 상에 뒤집혀서 장착되는 뒤집힘 불량을 검출하기 위한 구동소자의 뒤집힘 불량 검출방법에 있어서,3차원 형상 측정장치를 통해 상기 구동소자의 3차원 형상을 측정하여, 위치에 따른 높이정보를 포함하는 3차원 이미지 데이터를 획득하는 단계;상기 3차원 이미지 데이터로부터 상기 터미널의 높이를 추출하는 단계; 및상기 터미널의 높이를 기준높이와 비교하여 상기 뒤집힘 불량이 발생했는지 여부를 판단하는 단계(이하, 뒤집힘 불량 판단단계라고 함)를 포함하는 구동소자의 뒤집힘 불량 검출방법.
- 제8항에 있어서, 상기 뒤집힘 불량 판단단계에서는상기 터미널의 높이가 상기 기준높이 이하일 때, 상기 구동소자가 상기 베어 기판 상에 정상적으로 장착되었다고 판단하고,상기 터미널의 높이가 상기 기준높이를 초과할 때, 상기 구동소자에서 상기 뒤집힘 불량이 발생했다고 판단하는 것을 특징으로 하는 구동소자의 뒤집힘 불량 검출방법.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020090060551A KR20110002984A (ko) | 2009-07-03 | 2009-07-03 | 구동소자의 뒤집힘 불량 검출방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020090060551A KR20110002984A (ko) | 2009-07-03 | 2009-07-03 | 구동소자의 뒤집힘 불량 검출방법 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20110002984A true KR20110002984A (ko) | 2011-01-11 |
Family
ID=43611043
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020090060551A KR20110002984A (ko) | 2009-07-03 | 2009-07-03 | 구동소자의 뒤집힘 불량 검출방법 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR20110002984A (ko) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN107154364A (zh) * | 2016-03-03 | 2017-09-12 | Ap系统股份有限公司 | 激光剥离工序间对象物反转检测方法 |
-
2009
- 2009-07-03 KR KR1020090060551A patent/KR20110002984A/ko not_active Application Discontinuation
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN107154364A (zh) * | 2016-03-03 | 2017-09-12 | Ap系统股份有限公司 | 激光剥离工序间对象物反转检测方法 |
CN107154364B (zh) * | 2016-03-03 | 2023-06-16 | Ap系统股份有限公司 | 激光剥离工序间对象物反转检测方法 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20090703 |
|
PA0201 | Request for examination | ||
PG1501 | Laying open of application | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20110207 Patent event code: PE09021S01D |
|
E601 | Decision to refuse application | ||
PE0601 | Decision on rejection of patent |
Patent event date: 20111104 Comment text: Decision to Refuse Application Patent event code: PE06012S01D Patent event date: 20110207 Comment text: Notification of reason for refusal Patent event code: PE06011S01I |