KR20100123673A - Image sensor module - Google Patents

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KR20100123673A
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김성민
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Abstract

PURPOSE: An image sensor module is provided to reduce the size of an image sensor module and to flexibly arrange the image sensor module in various devices. CONSTITUTION: A photo diode unit(213) is arranged in an active area. The photo diode unit converts light into an electric signal. A semiconductor chip(210) is arranged in the peripheral region, which is arranged along the periphery of the active area. The semiconductor chip includes pads which are electrically connected to the photo diode unit.

Description

이미지 센서 모듈{IMAGE SENSOR MODULE}Image Sensor Module {IMAGE SENSOR MODULE}

본 발명은 이미지 센서 모듈에 관한 것이다.The present invention relates to an image sensor module.

일반적으로, 이미지 센서 모듈은 아날로그 신호인 광을 전기적 신호로 변환시키는 장치로서 정의된다.In general, an image sensor module is defined as a device for converting light, which is an analog signal, into an electrical signal.

이미지 센서 모듈은 이미지 센서들이 상면에 형성된 반도체 칩, 반도체 칩의 상면과 대향 하는 하면 상에 부착된 유리 기판 및 반도체 칩의 상면으로부터 유리 기판의 측면을 따라 유리 기판의 하면으로 연장된 배선 및 배선에 접속된 접속 부재를 포함한다.The image sensor module includes a semiconductor chip having image sensors formed on the upper surface, a glass substrate attached on a lower surface facing the upper surface of the semiconductor chip, and a wiring and wiring extending from the upper surface of the semiconductor chip to the lower surface of the glass substrate along the side of the glass substrate. It includes a connected connecting member.

이미지 센서들은 반도체 기판상에 광을 입사 받아 광량에 대응하는 광 전하를 생성하는 포토 다이오드들, 각 포토 다이오드들로부터 출력된 광 전하에 대응하는 전기적 신호를 출력하는 구동 유닛들, 각 포토 다이오드들 상에 배치된 컬러필터들 및 각 컬러필터들 상에 배치된 렌즈 유닛을 포함한다.Image sensors include photodiodes that receive light on a semiconductor substrate to generate photocharges corresponding to the amount of light, drive units that output electrical signals corresponding to photocharges output from each photodiode, and on each photodiode Color filters disposed on the lens unit and a lens unit disposed on the respective color filters.

종래 이미지 센서 모듈은 광이 입사되는 반도체 칩의 상면과 대향 하는 위치에 접속 부재가 배치되고 접속 부재는 외부 회로 기판 등과 전기적으로 접속된다.In the conventional image sensor module, a connection member is disposed at a position opposite to an upper surface of a semiconductor chip on which light is incident, and the connection member is electrically connected to an external circuit board or the like.

그러나, 종래 이미지 센서 모듈과 같이 접속 부재가 광이 입사되는 반도체 칩의 상면과 대향 하는 위치에 배치될 경우, 이미지 센서 모듈의 사이즈가 크게 증가되고, 이미지 센서 모듈 중 반도체 칩의 상면과 마주하는 위치에 회로 기판이 배치되는 구조에는 종래 이미지 센서 모듈을 적용하기 어려운 문제점을 갖는다.However, when the connection member is disposed at a position facing the upper surface of the semiconductor chip to which light is incident as in the conventional image sensor module, the size of the image sensor module is greatly increased, and the position facing the upper surface of the semiconductor chip among the image sensor modules. In the structure in which the circuit board is disposed, it is difficult to apply a conventional image sensor module.

본 발명은 구조 변경을 통해 사이즈를 보다 감소시킨 이미지 센서 모듈을 제공한다.The present invention provides an image sensor module that is further reduced in size through a structural change.

본 발명에 따른 이미지 센서 모듈은, 액티브 영역에 배치되어 광을 전기적 신호로 변환하는 포토 다이오드 유닛, 상기 액티브 영역의 주변을 따라 배치된 주변 영역에 배치되며 상기 포토 다이오드 유닛과 전기적으로 연결된 패드들을 포함하는 반도체 칩; 상기 포토 다이오드 유닛 및 상기 패드들을 덮고 상기 패드의 적어도 일부를 노출하는 관통홀을 갖는 투명 기판 몸체, 상기 관통홀을 통해 노출된 상기 패드와 전기적으로 연결된 관통 전극을 포함하는 투명 기판; 및 상기 관통 전극과 접속된 접속 부재;를 포함한다.The image sensor module according to the present invention includes a photodiode unit disposed in an active region and converting light into an electrical signal, and pads disposed in a peripheral region disposed along the periphery of the active region and electrically connected to the photodiode unit. A semiconductor chip; A transparent substrate including a transparent substrate body covering the photodiode unit and the pads and having a through hole exposing at least a portion of the pad, and a through electrode electrically connected to the pad exposed through the through hole; And a connection member connected to the through electrode.

상기 투명 기판은 투명한 유리 기판, 투명한 석영 기판 및 투명한 합성 수지 기판들 중 어느 하나를 포함한다. The transparent substrate includes any one of a transparent glass substrate, a transparent quartz substrate, and a transparent synthetic resin substrate.

본 발명에 따른 이미지 센서 모듈은, 상기 투명 기판 및 상기 반도체 칩 사이에 개재된 투명한 접착 부재를 더 포함한다. The image sensor module according to the present invention further includes a transparent adhesive member interposed between the transparent substrate and the semiconductor chip.

본 발명에 따른 이미지 센서 모듈은, 상기 투명 기판의 상기 상면 중 상기 액티브 영역과 대응하는 위치에 배치된 적어도 하나의 렌즈 유닛을 더 포함한다. The image sensor module according to the present invention further includes at least one lens unit disposed at a position corresponding to the active region of the upper surface of the transparent substrate.

본 발명에 따른 이미지 센서 모듈은, 상기 액티브 영역을 노출하는 개구를 갖고, 상기 개구 주변에 배치되며 상기 접속 부재와 전기적으로 접속되는 접속 패드들을 갖는 회로 기판을 더 포함한다. The image sensor module according to the present invention further comprises a circuit board having an opening exposing the active area and having connection pads disposed around the opening and electrically connected to the connection member.

본 발명에 따른 이미지 센서 모듈은, 상기 반도체 칩 및 상기 회로 기판을 감싸며, 상기 회로 기판의 상기 개구를 노출하는 홀더를 더 포함한다. The image sensor module according to the present invention further includes a holder surrounding the semiconductor chip and the circuit board and exposing the opening of the circuit board.

상기 투명 기판은 상기 액티브 영역과 대응하는 제1 투명 기판부 및 상기 주변 영역과 대응하는 제2 투명 기판부를 포함하며, 상기 제1 투명 기판부는 제1 두께를 갖고, 상기 제2 투명 기판부는 상기 제1 두께보다 낮은 제2 두께를 갖는다. The transparent substrate includes a first transparent substrate portion corresponding to the active region and a second transparent substrate portion corresponding to the peripheral region, wherein the first transparent substrate portion has a first thickness, and the second transparent substrate portion is formed of the first transparent substrate portion. Have a second thickness less than one thickness.

본 발명에 따르면, 포토 다이오드 유닛이 형성된 투명 기판 상에 접속 부재를 배치하여 이미지 센서 모듈의 사이즈를 감소 및 이미지 센서 모듈을 다양한 기기에 자유롭게 배치할 수 있는 효과를 갖는다.According to the present invention, the connection member is disposed on the transparent substrate on which the photodiode unit is formed, thereby reducing the size of the image sensor module and freely arranging the image sensor module in various devices.

도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 이미지 센서 모듈을 도시한 단면도이다.
도 2는 액티브 영역에 도시된 포토 다이오드 유닛을 도시한 단면도이다.
도 3은 본 발명의 다른 실시예에 따른 이미지 센서 모듈을 도시한 단면도이다.
도 4는 도 3에 도시된 이미지 센서 모듈에 장착된 회로 기판 및 홀더를 도시한 단면도이다.
도 5는 본 발명의 다른 실시예에 따른 이미지 센서 모듈을 도시한 단면도이다.
도 6은 도 5에 도시된 이미지 센서 모듈에 장착된 회로 기판 및 홀더를 도시한 단면도이다.
도 7 내지 도 11들은 본 발명의 일실시예에 따른 이미지 센서 모듈의 제조 방법을 도시한 단면도들이다.1 is a cross-sectional view showing an image sensor module according to an embodiment of the present invention.
2 is a cross-sectional view illustrating a photodiode unit shown in an active region.
3 is a cross-sectional view illustrating an image sensor module according to another exemplary embodiment of the present invention.
4 is a cross-sectional view illustrating a circuit board and a holder mounted to the image sensor module illustrated in FIG. 3.
5 is a cross-sectional view illustrating an image sensor module according to another exemplary embodiment of the present invention.
6 is a cross-sectional view illustrating a circuit board and a holder mounted to the image sensor module illustrated in FIG. 5.
7 to 11 are cross-sectional views illustrating a method of manufacturing an image sensor module according to an embodiment of the present invention.

이하, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 실시예들에 따른 이미지 센서 모듈 및 이의 제조 방법에 대하여 상세하게 설명하지만, 본 발명이 하기의 실시예들에 제한되는 것은 아니며, 해당 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양한 다른 형태로 구현할 수 있을 것이다.Hereinafter, an image sensor module and a method of manufacturing the same according to embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. However, the present invention is not limited to the following embodiments, and is commonly known in the art. Persons having the present invention may implement the present invention in various other forms without departing from the spirit of the present invention.

도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 이미지 센서 모듈을 도시한 단면도이다.1 is a cross-sectional view showing an image sensor module according to an embodiment of the present invention.

도 1을 참조하면, 이미지 센서 모듈(100)은 반도체 칩(110), 재배선(120), 투명 기판(130), 접속 배선(140) 및 접속 부재(150)를 포함한다.Referring to FIG. 1, the image sensor module 100 includes a semiconductor chip 110, a redistribution 120, a transparent substrate 130, a connection wiring 140, and a connection member 150.

반도체 칩(110)은, 예를 들어, 직육면체 형상을 갖는다. 직육면체 형상을 갖는 반도체 칩(110)은 상면(111) 및 상면(111)과 대향 하는 하면(112)을 갖는다.The semiconductor chip 110 has a rectangular parallelepiped shape, for example. The semiconductor chip 110 having a rectangular parallelepiped shape has an upper surface 111 and a lower surface 112 facing the upper surface 111.

반도체 칩(110)의 상면(111)에는 액티브 영역(active region, AR), 주변 영역(peripheral region, PR) 및 연결 영역(connecting region, CR)이 형성된다.An active region AR, a peripheral region PR, and a connecting region CR are formed on the upper surface 111 of the semiconductor chip 110.

액티브 영역(AR)은 상면(111)의 중앙 부분에 배치되고, 주변 영역(PR)은 액티브 영역(AR)의 주변을 따라 띠 형상으로 형성되고, 연결 영역(CR)은 주변 영역(PR)의 주변을 따라 띠 형상으로 형성된다.The active area AR is disposed at the center portion of the upper surface 111, the peripheral area PR is formed in a band shape along the periphery of the active area AR, and the connection area CR is formed of the peripheral area PR. A strip is formed along the periphery.

도 2는 액티브 영역에 도시된 포토 다이오드 유닛을 도시한 단면도이다.2 is a cross-sectional view illustrating a photodiode unit shown in an active region.

액티브 영역(AR)에는 포토 다이오드 유닛(113)들이 배치된다. 포토 다이오드 유닛(113)들은 포토 다이오드(114)들, 구동 유닛(미도시)들, 평탄화막(115), 컬러필터(116)들 및 렌즈 유닛(117)들을 포함한다.Photodiode units 113 are disposed in the active region AR. The photodiode units 113 include photodiodes 114, driving units (not shown), planarization film 115, color filters 116, and lens units 117.

포토 다이오드(114)들은 액티브 영역(AR) 내에 복수개가 매트릭스 형태로 배치된다. 예를 들어, 이미지 센서 모듈(100)의 해상도가 1,024×768일 경우, 포토 다이오드(114)들은 액티브 영역(AR) 내에 1,024×768×3 개가 매트릭스 형태로 배치된다.The photo diodes 114 are arranged in a matrix form in the active region AR. For example, when the resolution of the image sensor module 100 is 1,024 × 768, 1,024 × 768 × 3 photo diodes 114 are arranged in a matrix in the active region AR.

구동 유닛들은 액티브 영역(AR) 내에 배치된 각 포토 다이오드(114)들과 전기적으로 연결된다. 구동 유닛들은, 예를 들어, 복수개의 구동 트랜지스터들을 포함할 수 있다.The driving units are electrically connected to the respective photodiodes 114 disposed in the active region AR. The driving units may include, for example, a plurality of driving transistors.

평탄화막(115)은 액티브 영역(AR) 내에 포함된 각 포토 다이오드(114)들을 덮는다. 평탄화막(115)은, 예를 들어, 유기막을 포함할 수 있다.The planarization layer 115 covers the respective photodiodes 114 included in the active region AR. The planarization film 115 may include, for example, an organic film.

컬러필터(116)들은 평탄화막(115) 상에 배치된다. 컬러필터(116)들은 적색 컬러필터, 녹색 컬러 필터 및 청색 컬러필터를 포함한다. 백색광은 레드 컬러 필터에 의하여 적색광으로 필터링되고, 백색광은 그린 컬러 필터에 의하여 녹색광으로 필터링 되며 백색광은 블루 컬러 필터에 의하여 청색광으로 필터링된다. 적색 컬러필터, 녹색 컬러필터 및 청색 컬러필터들은 각 포토 다이오드(114) 상에 교대로 배치된다.The color filters 116 are disposed on the planarization film 115. The color filters 116 include a red color filter, a green color filter, and a blue color filter. White light is filtered by the red color filter into red light, white light is filtered by the green color filter into green light, and white light is filtered by the blue color filter into blue light. Red color filters, green color filters, and blue color filters are alternately disposed on each photodiode 114.

한편, 주변 영역(PR)에는 패드(118)들이 배치된다. 패드(118)들은 포토 다이오드 유닛(113)과 전기적으로 연결된다. 패드(118)들은 주변 영역(PR)의 양쪽에 대칭 형상으로 배치될 수 있다.Meanwhile, the pads 118 are disposed in the peripheral area PR. The pads 118 are electrically connected to the photodiode unit 113. The pads 118 may be disposed symmetrically on both sides of the peripheral area PR.

재배선(120)들은, 평면상에서 보았을 때, 라인 형상을 갖고, 각 재배선(120)들의 일측 단부는 각 패드(118)들과 전기적으로 연결되고, 각 재배선(120)들의 일측 단부와 대향 하는 타측 단부는 연결 영역(CR)으로 연장된다. 본 실시예에서, 재배선(120)은 우수한 도전 특성을 갖는 구리를 포함할 수 있다.The redistribution lines 120 have a line shape when viewed in a plan view, and one end of each redistribution line 120 is electrically connected to the respective pads 118 and faces one end of each redistribution line 120. The other end is extended to the connection region (CR). In this embodiment, the redistribution 120 may include copper having excellent conductive properties.

투명 기판(130)은 액티브 영역(AR)에 배치된 포토 다이오드 유닛(113) 및 주변 영역(PR)에 배치된 패드(118)들을 덮는다. 투명 기판(130)은, 예를 들어, 투명한 유리 기판, 투명한 석영 기판 및 투명한 합성 수지 기판들 중 어느 하나일 수 있다.The transparent substrate 130 covers the photodiode unit 113 disposed in the active region AR and the pads 118 disposed in the peripheral region PR. The transparent substrate 130 may be, for example, any one of a transparent glass substrate, a transparent quartz substrate, and a transparent synthetic resin substrate.

투명 기판(130)은 복수개의 측면들을 갖고, 투명 기판(130)의 측면들 중 재배선(120)과 만나는 측면들은 경사 측면들로서 정의된다. 구체적으로, 각 경사 측면들 및 투명 기판(130)의 상면이 이루는 각도(θ)는, 예를 들어, 둔각이다.The transparent substrate 130 has a plurality of side surfaces, and sides of the transparent substrate 130 that meet the redistribution line 120 are defined as inclined sides. Specifically, the angle θ formed between the respective inclined sides and the upper surface of the transparent substrate 130 is, for example, an obtuse angle.

투명 기판(130) 및 반도체 칩(110)의 사이에는 접착 부재(125)가 개재된다. 접착 부재(125)는 투명한 접착 물질을 포함할 수 있다. 본 실시예에서, 접착 부재(125)는 투명한 에폭시 접착제일 수 있다. 접착 부재(125)는, 예를 들어, 반도체 칩(110)의 액티브 영역(AR)의 포토 다이오드 유닛(113) 및 주변 영역(PR)의 패드(118)들을 덮고 이로 인해 재배선(120)들 중 연결 영역(CR)으로 연장된 부분은 접착 부재(125)로부터 노출된다.An adhesive member 125 is interposed between the transparent substrate 130 and the semiconductor chip 110. The adhesive member 125 may include a transparent adhesive material. In the present embodiment, the adhesive member 125 may be a transparent epoxy adhesive. The adhesive member 125 may cover, for example, the photodiode unit 113 of the active region AR of the semiconductor chip 110 and the pads 118 of the peripheral region PR and thereby the redistribution 120. The portion extending to the connection region CR is exposed from the adhesive member 125.

접속 배선(140)은, 평면상에서 보았을 때, 라인 형상을 갖는다. 접속 배선(140)의 일측 단부는 연결 영역(CR)에 배치된 재배선(120)의 일부와 전기적으로 연결되고, 접속 배선(140)의 일측 단부와 대향 하는 타측 단부는 투명 기판(130)의 경사 측면을 따라 투명 기판(130)의 상면으로 연장된다. 접속 배선(140)의 타측 단부에는 후술 될 접속 부재(160)가 부착되기 위한 원판 형상의 랜드부(미도시)가 형성될 수 있다.The connection wiring 140 has a line shape when viewed on a plane. One end of the connection wire 140 is electrically connected to a part of the redistribution line 120 disposed in the connection area CR, and the other end of the connection wire 140 facing the one end of the connection wire 140 is formed of the transparent substrate 130. It extends to the upper surface of the transparent substrate 130 along the inclined side. At the other end of the connection line 140, a disc-shaped land portion (not shown) for attaching the connection member 160 to be described later may be formed.

한편, 이미지 센서 모듈(100)은 레지스트 패턴(145)를 더 포함할 수 있다. 레지스트 패턴(145)은 주변 영역(PR) 및 연결 영역(CR)에 배치되며, 액티브 영역(AR)에는 형성되지 않는다. 레지스트 패턴(145)은 주변 영역(PR) 및 연결 영역(CR)에 배치된 접속 배선(140)은 덮고 랜드부는 노출하는 개구를 갖는다.The image sensor module 100 may further include a resist pattern 145. The resist pattern 145 is disposed in the peripheral area PR and the connection area CR and is not formed in the active area AR. The resist pattern 145 has an opening that covers the connection line 140 disposed in the peripheral area PR and the connection area CR and exposes the land part.

접속 부재(150)는 투명 기판(130)의 상면 상에 형성된 랜드부에 전기적으로 접속된다. 본 실시예에서, 접속 부재(150)는, 예를 들어, 솔더와 같은 낮은 용융점을 갖는 금속을 포함하는 도전볼 일 수 있다. 이와 다르게, 접속 부재(150)는 구 형상 대신 플레이트 형상을 가질 수 있다.The connection member 150 is electrically connected to the land portion formed on the upper surface of the transparent substrate 130. In the present embodiment, the connection member 150 may be a conductive ball including a metal having a low melting point such as, for example, solder. Alternatively, the connection member 150 may have a plate shape instead of a spherical shape.

도 3은 본 발명의 다른 실시예에 따른 이미지 센서 모듈을 도시한 단면도이다. 도 3의 실시예에 따른 이미지 센서 모듈은 투명 기판 및 렌즈 유닛을 제외하면 앞서 도 1 및 도 2를 참조하여 설명한 이미지 센서 모듈과 실질적으로 동일한 구성을 갖는다. 따라서, 동일한 구성 요소에 대한 중복된 설명은 생략하기로 하며 동일한 구성 요소에 대해서는 동일한 명칭 및 동일한 참조부호를 부여하기로 한다.3 is a cross-sectional view illustrating an image sensor module according to another exemplary embodiment of the present invention. The image sensor module according to the embodiment of FIG. 3 has substantially the same configuration as the image sensor module described above with reference to FIGS. 1 and 2 except for the transparent substrate and the lens unit. Therefore, duplicate descriptions of the same components will be omitted, and the same components and the same reference numerals will be given to the same components.

도 3을 참조하면, 이미지 센서 모듈(100)은 반도체 칩(110), 재배선(120), 투명 기판(130), 접속 배선(140), 접속 부재(150) 및 렌즈 유닛(160)을 포함한다.Referring to FIG. 3, the image sensor module 100 includes a semiconductor chip 110, a redistribution 120, a transparent substrate 130, a connection wiring 140, a connection member 150, and a lens unit 160. do.

반도체 칩(110)의 액티브 영역(AR) 및 주변 영역(PR) 상에 배치된 투명 기판(130)은 제1 투명 기판부(132) 및 제2 투명 기판부(134)를 포함한다.The transparent substrate 130 disposed on the active region AR and the peripheral region PR of the semiconductor chip 110 includes a first transparent substrate portion 132 and a second transparent substrate portion 134.

본 실시예에서, 제1 투명 기판부(132)는 주변 영역(PR)과 대응하는 위치에 배치되며, 제2 투명 기판부(134)는 액티브 영역(AR)과 대응하는 위치에 배치된다.In the present embodiment, the first transparent substrate portion 132 is disposed at a position corresponding to the peripheral region PR, and the second transparent substrate portion 134 is disposed at a position corresponding to the active region AR.

투명 기판(130)의 하면으로부터 측정하였을 때, 제1 투명 기판부(132)는 제1 두께(T1)를 갖는다. 제2 투명 기판부(134)는, 투명 기판(130)의 하면으로부터 측정하였을 때, 제1 두께(T1)보다 두꺼운 제2 두께(T2)를 갖는다. 본 실시예에서, 제2 두께(T2)를 갖는 제2 투명 기판부(134)는 후술 될 렌즈 유닛(160)의 촛점 길이에 의하여 결정된다.When measured from the bottom surface of the transparent substrate 130, the first transparent substrate portion 132 has a first thickness T1. The second transparent substrate portion 134 has a second thickness T2 that is thicker than the first thickness T1 when measured from the bottom surface of the transparent substrate 130. In the present embodiment, the second transparent substrate portion 134 having the second thickness T2 is determined by the focal length of the lens unit 160 to be described later.

접속 배선(140)은 투명 기판(130)의 제1 투명 기판부(132) 상에 배치되고, 접속 부재(150)는 제1 투명 기판부(132)에 배치된 접속 배선(140) 상에 배치된다. 본 실시예에서, 접속 배선(140)의 상면으로부터 측정된 접속 부재(150)의 제1 높이(H1)는 제1 투명 기판부(132)의 상면으로부터 측정된 제2 투명 기판부(134)의 제2 높이(H2) 보다 낮은 높이를 갖는다. 이와 같이 접속 부재(150)의 높이(H1)가 상기 제2 높이(H2) 보다 낮을 경우, 회로 기판이 제2 투명 기판부(134)로부터 돌출되는 것을 방지하여 이미지 센서 모듈의 부피 및 두께를 추가적으로 감소시킬 수 있다.The connection wiring 140 is disposed on the first transparent substrate 132 of the transparent substrate 130, and the connection member 150 is disposed on the connection wiring 140 disposed in the first transparent substrate 132. do. In the present embodiment, the first height H1 of the connection member 150 measured from the upper surface of the connection wiring 140 is the second transparent substrate portion 134 measured from the upper surface of the first transparent substrate portion 132. It has a height lower than the second height H2. As such, when the height H1 of the connection member 150 is lower than the second height H2, the circuit board is prevented from protruding from the second transparent substrate 134 to further increase the volume and thickness of the image sensor module. Can be reduced.

렌즈 유닛(160)은 투명 기판(130)의 제2 투명 기판부(134) 상에 배치된다. 본 실시예에서, 반도체 칩(110)으로 입사되는 광의 광량 및 광학 분포를 향상시키기 위해서, 렌즈 유닛(160)은 적어도 하나의 렌즈(미도시)를 포함할 수 있다. 본 실시예에서, 렌즈는 볼록 렌즈, 오목 렌즈 등을 포함할 수 있다.The lens unit 160 is disposed on the second transparent substrate 134 of the transparent substrate 130. In the present exemplary embodiment, the lens unit 160 may include at least one lens (not shown) in order to improve the amount of light and the optical distribution of the light incident on the semiconductor chip 110. In this embodiment, the lens may include a convex lens, a concave lens, and the like.

도 4는 도 3에 도시된 이미지 센서 모듈에 장착된 회로 기판 및 홀더를 도시한 단면도이다.4 is a cross-sectional view illustrating a circuit board and a holder mounted to the image sensor module illustrated in FIG. 3.

도 4를 참조하면, 이미지 센서 모듈(100)은 회로 기판(170) 및 홀더(180)를 더 포함할 수 있다.Referring to FIG. 4, the image sensor module 100 may further include a circuit board 170 and a holder 180.

회로 기판(170)은 플레이트 형상을 갖고, 회로 기판(170)은 반도체 칩(110)의 액티브 영역(AR)을 노출하는 개구를 갖는다. 회로 기판(170)은 각 접속 부재(150)와 대응하는 위치에 배치된 접속 패드(175)를 포함한다. 회로 기판(170)의 각 접속 패드(175)들은 각 접속 부재(150)에 전기적으로 접속된다. 본 실시예에서, 접속 부재(150)는 투명 기판(130)의 제2 투명 기판부(134)보다 낮은 위치에 배치되기 때문에 회로 기판(170)은 투명 기판(130)의 제2 투명 기판부(134)로부터 돌출되지 않고, 이로 인해 이미지 센서 모듈(100)의 부피 및 두께를 추가적으로 감소시킬 수 있다.The circuit board 170 has a plate shape, and the circuit board 170 has an opening that exposes the active region AR of the semiconductor chip 110. The circuit board 170 includes connection pads 175 disposed at positions corresponding to the connection members 150. Each connection pad 175 of the circuit board 170 is electrically connected to each connection member 150. In the present exemplary embodiment, since the connection member 150 is disposed at a position lower than the second transparent substrate portion 134 of the transparent substrate 130, the circuit board 170 is formed of the second transparent substrate portion of the transparent substrate 130 ( It does not protrude from 134, which can further reduce the volume and thickness of the image sensor module 100.

홀더(180)는 반도체 칩(110), 투명 기판(130) 및 회로 기판(170)을 감싸고, 홀더(180)는 반도체 칩(110)의 액티브 영역(AR)을 노출하는 개구를 갖는다. 홀더(180)의 개구에 의하여 형성된 홀더(180)의 내측면에는 렌즈 유닛(160)과 결합 되는 단턱이 형성된다. 홀더(180)가 렌즈 유닛(160)과 결합 됨에 따라 홀더(180) 내로 파티클과 같은 이물질이 유입되는 것을 방지할 수 있다.The holder 180 surrounds the semiconductor chip 110, the transparent substrate 130, and the circuit board 170, and the holder 180 has an opening that exposes the active region AR of the semiconductor chip 110. On the inner surface of the holder 180 formed by the opening of the holder 180, a stepped portion coupled to the lens unit 160 is formed. As the holder 180 is coupled to the lens unit 160, foreign matters such as particles may be prevented from flowing into the holder 180.

한편, 홀더(180)의 개구에 의하여 노출된 렌즈 유닛(160)이 손상되는 것을 방지하기 위해 이미지 센서 모듈(100)은 홀더(180)의 개구에 의하여 노출된 렌즈 유닛(160)을 덮는 보호 부재(190)를 더 포함할 수 있다.Meanwhile, in order to prevent the lens unit 160 exposed by the opening of the holder 180 from being damaged, the image sensor module 100 covers the lens unit 160 exposed by the opening of the holder 180. 190 may further include.

도 5는 본 발명의 다른 실시예에 따른 이미지 센서 모듈을 도시한 단면도이다.5 is a cross-sectional view illustrating an image sensor module according to another exemplary embodiment of the present invention.

도 5를 참조하면, 이미지 센서 모듈(200)은 반도체 칩(210), 투명 기판(230), 관통 전극(240) 및 접속 부재(250)를 포함한다.Referring to FIG. 5, the image sensor module 200 includes a semiconductor chip 210, a transparent substrate 230, a through electrode 240, and a connection member 250.

반도체 칩(210)은, 예를 들어, 직육면체 형상을 갖는다. 직육면체 형상을 갖는 반도체 칩(210)은 상면(211) 및 상면(211)과 대향 하는 하면(212)을 갖는다.The semiconductor chip 210 has a rectangular parallelepiped shape, for example. The semiconductor chip 210 having a rectangular parallelepiped shape has an upper surface 211 and a lower surface 212 facing the upper surface 211.

반도체 칩(210)의 상면(211)에는 액티브 영역(AR) 및 주변 영역(PR)이 형성된다.The active region AR and the peripheral region PR are formed on the upper surface 211 of the semiconductor chip 210.

액티브 영역(AR)은 상면(211)의 중앙 부분에 배치되고, 주변 영역(PR)은 액티브 영역(AR)의 주변을 따라 띠 형상으로 형성된다.The active area AR is disposed at the center portion of the upper surface 211, and the peripheral area PR is formed in a band shape along the periphery of the active area AR.

액티브 영역(AR)에는 포토 다이오드 유닛(213)들이 배치된다. 포토 다이오드 유닛(213)들은 도 2에 도시된 바와 같이 포토 다이오드들, 구동 유닛들, 평탄화막, 컬러필터들 및 마이크로 렌즈들을 포함한다.Photodiode units 213 are disposed in the active region AR. The photodiode units 213 include photodiodes, drive units, planarization layers, color filters, and micro lenses as shown in FIG. 2.

주변 영역(PR)에는 패드(218)들이 배치된다. 패드(218)들은 포토 다이오드 유닛(213)과 전기적으로 연결된다. 패드(218)들은 포토 다이오드 유닛(213)을 기준으로 주변 영역(PR)에 대칭 형상으로 배치될 수 있다.Pads 218 are disposed in the peripheral area PR. The pads 218 are electrically connected to the photodiode unit 213. The pads 218 may be disposed in a symmetrical shape in the peripheral area PR based on the photodiode unit 213.

투명 기판(230)은 액티브 영역(AR)에 배치된 포토 다이오드 유닛(213) 및 주변 영역(PR)에 배치된 패드(218)들을 덮는다. 투명 기판(230)은, 예를 들어, 투명한 유리 기판, 투명한 석영 기판 및 투명한 합성 수지 기판들 중 어느 하나일 수 있다. 본 실시예에서, 투명 기판(230)은 반도체 칩(210)과 동일한 형상 및 동일한 사이즈를 갖는 플레이트 형상을 가질 수 있다.The transparent substrate 230 covers the photodiode unit 213 disposed in the active region AR and the pads 218 disposed in the peripheral region PR. The transparent substrate 230 may be, for example, any one of a transparent glass substrate, a transparent quartz substrate, and a transparent synthetic resin substrate. In the present embodiment, the transparent substrate 230 may have a plate shape having the same shape and the same size as the semiconductor chip 210.

투명 기판(230)은 반도체 칩(210)의 주변 영역(PR) 상에 배치된 각 패드(218)들을 노출하는 관통홀(231)들을 포함한다.The transparent substrate 230 includes through holes 231 exposing respective pads 218 disposed on the peripheral area PR of the semiconductor chip 210.

관통홀(231)을 갖는 투명 기판(230) 및 반도체 칩(210)의 사이에는 접착 부재(225)가 개재된다. 접착 부재(225)는 투명한 접착 물질을 포함할 수 있다. 본 실시예에서, 접착 부재(225)는 투명한 에폭시 접착제일 수 있다. 접착 부재(225)는, 예를 들어, 반도체 칩(210)의 액티브 영역(AR) 및 주변 영역(PR)을 덮는다. 한편, 접착 부재(225)는 각 패드(218)들을 노출하는 개구를 갖는다.An adhesive member 225 is interposed between the transparent substrate 230 having the through hole 231 and the semiconductor chip 210. The adhesive member 225 may include a transparent adhesive material. In this embodiment, the adhesive member 225 may be a transparent epoxy adhesive. The adhesive member 225 covers, for example, the active region AR and the peripheral region PR of the semiconductor chip 210. On the other hand, the adhesive member 225 has an opening exposing the respective pads 218.

관통 전극(240)은 투명 기판(230)의 관통홀(231) 내에 배치되며, 관통 전극(240)은 반도체 칩(210)의 패드(218)들과 전기적으로 접속된다.The through electrode 240 is disposed in the through hole 231 of the transparent substrate 230, and the through electrode 240 is electrically connected to the pads 218 of the semiconductor chip 210.

관통 전극(240)은 도전 핀(conductive pin) 또는 도금층일 수 있다. 투명 기판(230)의 상면에 배치된 관통 전극(240)의 일측 단부에는 랜드부(245)가 형성될 수 있다. 관통 전극(240)은, 예를 들어, 구리를 포함할 수 있다.The through electrode 240 may be a conductive pin or a plating layer. The land portion 245 may be formed at one end of the through electrode 240 disposed on the upper surface of the transparent substrate 230. The through electrode 240 may include, for example, copper.

접속 부재(250)는 투명 기판(230)의 상면 상에 형성된 랜드부(245)에 전기적으로 접속된다. 본 실시예에서, 접속 부재(250)는, 예를 들어, 솔더와 같은 낮은 용융점을 갖는 금속을 포함하는 플레이트 형상을 갖는다. 이와 다르게, 접속 부재(250)는 플레이트 형상 대신 구 형상을 가질 수 있다.The connection member 250 is electrically connected to the land portion 245 formed on the upper surface of the transparent substrate 230. In this embodiment, the connection member 250 has a plate shape including a metal having a low melting point, for example, solder. Alternatively, the connection member 250 may have a spherical shape instead of a plate shape.

투명 기판(230)의 상면 상에는 렌즈 유닛(260)이 배치될 수 있다. 렌즈 유닛(260)은 포토 다이오드 유닛(213)으로 입사되는 광의 광량 또는 광학 분포를 향상시킨다. 렌즈 유닛(260)은 적어도 하나의 렌즈를 포함할 수 있고, 렌즈 유닛(260)은 볼록 렌즈 또는 오목 렌즈를 포함할 수 있다.The lens unit 260 may be disposed on the upper surface of the transparent substrate 230. The lens unit 260 improves the amount of light or the optical distribution of the light incident on the photodiode unit 213. The lens unit 260 may include at least one lens, and the lens unit 260 may include a convex lens or a concave lens.

본 실시예에서, 투명 기판(230)은 플레이트 형상을 가질 수 있지만, 이와 다르게, 투명 기판(230)은 주변 영역(PR)에서는 제1 두께를 갖고, 액티브 영역(AR)에서는 제1 두께보다 두꺼운 제2 두께를 가질 수 있다. 액티브 영역(AR)에서 투명 기판(230)의 두께를 두껍게 형성할 경우, 렌즈 유닛(260) 및 포토 다이오드 유닛 사이의 촛점 거리를 정밀하게 조절할 수 있다.In the present embodiment, the transparent substrate 230 may have a plate shape, but, alternatively, the transparent substrate 230 has a first thickness in the peripheral region PR and is thicker than the first thickness in the active region AR. It may have a second thickness. When the thickness of the transparent substrate 230 is formed in the active region AR, the focal length between the lens unit 260 and the photodiode unit can be precisely adjusted.

도 6은 도 5에 도시된 이미지 센서 모듈에 장착된 회로 기판 및 홀더를 도시한 단면도이다.6 is a cross-sectional view illustrating a circuit board and a holder mounted to the image sensor module illustrated in FIG. 5.

도 6을 참조하면, 이미지 센서 모듈(200)은 회로 기판(270) 및 홀더(280)를 더 포함할 수 있다.Referring to FIG. 6, the image sensor module 200 may further include a circuit board 270 and a holder 280.

회로 기판(270)은 플레이트 형상을 갖고, 회로 기판(270)은 반도체 칩(210)의 액티브 영역(AR)을 노출하는 개구를 갖는다. 회로 기판(270)은 각 접속 부재(250)와 대응하는 위치에 배치된 접속 패드(275)를 포함한다. 회로 기판(270)의 각 접속 패드(275)들은 각 접속 부재(250)에 전기적으로 접속된다.The circuit board 270 has a plate shape, and the circuit board 270 has an opening that exposes the active region AR of the semiconductor chip 210. The circuit board 270 includes connection pads 275 disposed at positions corresponding to the connection members 250. Each connection pad 275 of the circuit board 270 is electrically connected to each connection member 250.

홀더(280)는 반도체 칩(210), 투명 기판(230) 및 회로 기판(270)을 감싸고, 홀더(280)는 반도체 칩(210)의 액티브 영역(AR)을 노출하는 개구를 갖는다.The holder 280 surrounds the semiconductor chip 210, the transparent substrate 230, and the circuit board 270, and the holder 280 has an opening that exposes the active region AR of the semiconductor chip 210.

도 7 내지 도 11들은 본 발명의 일실시예에 따른 이미지 센서 모듈의 제조 방법을 도시한 단면도들이다.7 to 11 are cross-sectional views illustrating a method of manufacturing an image sensor module according to an embodiment of the present invention.

도 7을 참조하면, 이미지 센서 모듈을 제조하기 위하여, 웨이퍼의 스크라이브 영역(SR) 양쪽에 각각 배치된 제1 및 제2 반도체 칩(110a, 110b)들의 제1 및 제2 액티브 영역(AR1, AR2)들에 각각 광을 전기적 신호로 변환하는 제1 및 제2 포토 다이오드 유닛(113a, 113b)들을 형성한다.Referring to FIG. 7, in order to fabricate an image sensor module, first and second active regions AR1 and AR2 of first and second semiconductor chips 110a and 110b respectively disposed on both sides of a scribe region SR of a wafer. The first and second photodiode units 113a and 113b respectively convert light into electrical signals.

이어서, 제1 및 제2 액티브 영역(AR1,AR2)들의 주변을 따라 배치된 제1 및 제2 주변 영역(PR1, PR2) 내에 제1 및 제2 포토 다이오드 유닛(113a,113b)들과 전기적으로 연결된 제1 및 제2 패드(118a,118b)들을 각각 형성한다. 본 실시예에서, 제1 및 제2 패드(118a,118b)들은 스크라이브 영역(SR)의 양쪽에 상호 마주하게 배치된다.Next, the first and second photodiode units 113a and 113b are electrically connected to the first and second peripheral regions PR1 and PR2 disposed along the peripheries of the first and second active regions AR1 and AR2. Connected first and second pads 118a and 118b are formed, respectively. In the present embodiment, the first and second pads 118a and 118b are disposed opposite to each other on the scribe region SR.

제1 액티브 영역(AR1)에는 제1 포토 다이오드 유닛(113a)이 형성되고, 제2 액티브 영역(AR2)에는 제2 포토 다이오드 유닛(113b)이 형성된다. 각 제1 및 제2 포토 다이오드 유닛(113a, 113b)들은 포토 다이오드, 포토 다이오드를 구동하는 구동 유닛, 포토 다이오드의 상면을 덮는 평탄화막, 평탄화막 상에 배치된 컬러필터 및 각 컬러필터 상부에 배치된 마이크로 렌즈들을 포함한다.The first photodiode unit 113a is formed in the first active region AR1, and the second photodiode unit 113b is formed in the second active region AR2. Each of the first and second photodiode units 113a and 113b includes a photodiode, a driving unit for driving the photodiode, a planarization film covering an upper surface of the photodiode, a color filter disposed on the planarization film, and an upper portion of each color filter. Micro lenses.

도 8을 참조하면, 스크라이브 영역(SR)의 양쪽에 각각 배치된 제1 및 제2 패드(118a,118b)들을 연결하는 라인 형상의 예비 연결 배선(120a)이 형성된다. 본 실시예에서, 예비 연결 배선(120a)은, 예를 들어, 포토리소그라피 공정 또는 도금 공정에 의하여 형성될 수 있다.Referring to FIG. 8, preliminary connection lines 120a having a line shape connecting the first and second pads 118a and 118b respectively disposed on both sides of the scribe region SR are formed. In the present embodiment, the preliminary connection wiring 120a may be formed by, for example, a photolithography process or a plating process.

도 9를 참조하면, 제1 및 제2 패드(118a,118b)들을 전기적으로 연결하는 예비 연결 배선(120a)들이 형성된 후, 제1 및 제2 반도체 칩(110a,110b)들 상에는 제1 및 제2 포토 다이오드 유닛(113a,113b)들을 덮는 투명한 접착 부재(125)가 형성된다.Referring to FIG. 9, after preliminary connection lines 120a are formed to electrically connect the first and second pads 118a and 118b, the first and second semiconductor chips 110a and 110b may be formed on the first and second pads 118a and 118b. The transparent adhesive member 125 covering the two photodiode units 113a and 113b is formed.

투명한 접착 부재(125)가 제1 및 제2 반도체 칩(110a,110b)들 상에 배치된 후, 접착 부재(125) 상에는 투명 기판(130)이 배치된다.After the transparent adhesive member 125 is disposed on the first and second semiconductor chips 110a and 110b, the transparent substrate 130 is disposed on the adhesive member 125.

본 실시예에서, 투명 기판(130)은, 예를 들어, 플레이트 형상을 가질 수 있다. 투명 기판(130)은, 예를 들어, 투명한 유리 기판, 투명한 석영 기판 및 투명한 합성 수지 기판들 중 어느 하나일 수 있다. 이와 다르게, 투명기판은 제1 두께를 갖는 제1 투명 기판부 및 제1 두께보다 두꺼운 제2 두께를 갖는 제2 투명 기판부를 포함할 수 있다. 제1 투명 기판부는 스크라이브 영역(SR)과 대응하는 위치에 배치되며, 제2 투명 기판부는 제1 및 제2 액티브 영역(AR1,AR2)들에 각각 배치될 수 있다.In the present embodiment, the transparent substrate 130 may have a plate shape, for example. The transparent substrate 130 may be, for example, any one of a transparent glass substrate, a transparent quartz substrate, and a transparent synthetic resin substrate. Alternatively, the transparent substrate may include a first transparent substrate portion having a first thickness and a second transparent substrate portion having a second thickness thicker than the first thickness. The first transparent substrate portion may be disposed at a position corresponding to the scribe region SR, and the second transparent substrate portion may be disposed at the first and second active regions AR1 and AR2, respectively.

도 10을 참조하면, 투명 기판(130)이 제1 및 제2 반도체 칩(110a, 110b)들 상에 부착된 후, 투명 기판(130) 및 접착 부재(125)들 중 스크라이브 영역(SR)에 대응하는 부분은 식각 공정에 의하여 식각 된다. 투명 기판(130) 및 접착 부재(125)들은, 예를 들어, 에천트를 이용하는 습식 식각 공정 또는 건식 식각 공정에 의하여 식각 될 수 있다. 스크라이브 영역(SR)에 대응하는 투명 기판(130) 및 접착 부재(125)들이 식각 됨에 따라 스크라이브 영역(SR)에 배치된 예비 연결 배선(120a)들은 투명 기판(130) 및 접착 부재(125)들로부터 노출된다.Referring to FIG. 10, after the transparent substrate 130 is attached on the first and second semiconductor chips 110a and 110b, the transparent substrate 130 may be attached to the scribe region SR of the transparent substrate 130 and the adhesive members 125. The corresponding part is etched by the etching process. The transparent substrate 130 and the adhesive member 125 may be etched by, for example, a wet etching process or a dry etching process using an etchant. As the transparent substrate 130 and the adhesive members 125 corresponding to the scribe region SR are etched, the preliminary connection wires 120a disposed in the scribe region SR may be the transparent substrate 130 and the adhesive members 125. Are exposed from.

식각 된 투명 기판(130)의 측면은, 예를 들어, 투명 기판(130)의 상면에 대하여 경사지게 형성된다. 본 실시예에서, 투명 기판(130)의 측면 및 투명 기판(130)의 상면이 이루는 각도는, 예를 들어, 둔각일 수 있다.The side surface of the etched transparent substrate 130 is, for example, is formed to be inclined with respect to the upper surface of the transparent substrate 130. In this embodiment, the angle formed by the side of the transparent substrate 130 and the upper surface of the transparent substrate 130 may be, for example, an obtuse angle.

도 11을 참조하면, 투명 기판(130)이 식각 된 후, 예비 연결 배선(120a)과 일측 단부가 전기적으로 연결되고, 일측 단부와 대향 하는 타측 단부는 투명 기판(130)의 경사진 측면을 따라 투명 기판(130)의 상면으로 연장된 라인 형상의 제1 및 제2 재배선(140a, 140b)들이 형성된다. 제1 및 제2 재배선(140)들은, 예를 들어, 포토리소그라피 공정에 의하여 형성 또는 도금 공정에 의하여 형성될 수 있다.Referring to FIG. 11, after the transparent substrate 130 is etched, one end of the preliminary connection wire 120a and the one end thereof are electrically connected, and the other end facing the one end thereof is along the inclined side of the transparent substrate 130. Line-shaped first and second redistribution lines 140a and 140b extending to the upper surface of the transparent substrate 130 are formed. The first and second redistribution 140 may be formed by, for example, a photolithography process or a plating process.

제1 및 제2 재배선(140a, 140b)들이 형성된 후 스크라이브 라인 영역(SR)과 대응하는 부분, 투명 기판(130)의 측면을 덮는 유기막(145)이 형성된다. 유기막(145)은 투명 기판(130)의 상면에 배치된 제1 및 제2 재배선(140a,140b)들의 일부를 덮는다.After the first and second redistribution lines 140a and 140b are formed, a portion corresponding to the scribe line region SR and an organic layer 145 covering the side surface of the transparent substrate 130 is formed. The organic layer 145 covers portions of the first and second redistribution lines 140a and 140b disposed on the upper surface of the transparent substrate 130.

유기막(145)에 의하여 노출된 제1 및 제2 재배선(140a,140b)들에는 각각 제1 및 제2 접속 부재(150a,150b)들이 형성된다. 제1 및 제2 접속 부재(150a,150b)들은, 예를 들어, 솔더와 같은 저융점 금속을 포함할 수 있다.First and second connection members 150a and 150b are formed in the first and second redistribution lines 140a and 140b exposed by the organic layer 145, respectively. The first and second connection members 150a and 150b may include, for example, a low melting metal such as solder.

제1 및 제2 접속 부재(150a,150b)들이 제1 및 제2 재배선(140a,140b)들에 각각 형성된 후, 스크라이브 라인 영역(SR)은 절단되어 제1 반도체 칩(110a) 및 제2 반도체 칩(110b)를 포함하는 제1 이미지 센서 모듈 및 제2 이미지 센서 모듈이 제조된다.After the first and second connection members 150a and 150b are formed in the first and second redistribution lines 140a and 140b, respectively, the scribe line region SR is cut to cut the first semiconductor chip 110a and the second. The first image sensor module and the second image sensor module including the semiconductor chip 110b are manufactured.

제1 및 제2 이미지 센서 모듈에는 추가적으로 회로 기판 및 홀더가 결합 될 수 있다.The circuit board and the holder may be additionally coupled to the first and second image sensor modules.

이상에서 상세하게 설명한 바에 의하면, 포토 다이오드 유닛이 형성된 투명 기판 상에 접속 부재를 배치하여 이미지 센서 모듈의 사이즈를 감소 및 이미지 센서 모듈을 다양한 기기에 자유롭게 배치할 수 있는 효과를 갖는다.As described in detail above, the connection member is disposed on the transparent substrate on which the photodiode unit is formed, thereby reducing the size of the image sensor module and freely arranging the image sensor module in various devices.

앞서 설명한 본 발명의 상세한 설명에서는 본 발명의 실시예들을 참조하여 설명하였지만, 해당 기술분야의 숙련된 당업자 또는 해당 기술분야에 통상의 지식을 갖는 자라면 후술 될 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 기술 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.In the detailed description of the present invention described above with reference to the embodiments of the present invention, those skilled in the art or those skilled in the art having ordinary knowledge in the scope of the present invention described in the claims and It will be appreciated that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the scope of the art.

200; 이미지 센서 모듈 210; 반도체 칩
211; 상면 212; 하면
213; 포토 다이오드 유닛 218; 패드
225; 접착 부재 230; 투명 기판
231; 관통홀 240; 관통 전극
245; 랜드부 250; 접속 부재
260; 렌즈 유닛 270; 회로 기판
275; 접속 패드 280; 홀더
AR; 액티브 영역 PR; 주변 영역200; Image sensor module 210; Semiconductor chip
211; Top 212; if
213; Photodiode unit 218; pad
225; Adhesive member 230; Transparent substrate
231; Through-hole 240; Through electrode
245; Land portion 250; Connection member
260; Lens unit 270; Circuit board
275; Connection pad 280; holder
AR; Active area PR; Surrounding area

Claims (7)

액티브 영역에 배치되어 광을 전기적 신호로 변환하는 포토 다이오드 유닛, 상기 액티브 영역의 주변을 따라 배치된 주변 영역에 배치되며 상기 포토 다이오드 유닛과 전기적으로 연결된 패드들을 포함하는 반도체 칩;
상기 포토 다이오드 유닛 및 상기 패드들을 덮고 상기 패드의 적어도 일부를 노출하는 관통홀을 갖는 투명 기판 몸체, 상기 관통홀을 통해 노출된 상기 패드와 전기적으로 연결된 관통 전극을 포함하는 투명 기판; 및
상기 관통 전극과 접속된 접속 부재;
를 포함하는 이미지 센서 모듈.A photodiode unit disposed in an active region and converting light into an electrical signal, a semiconductor chip including pads disposed in a peripheral region disposed along a periphery of the active region and electrically connected to the photodiode unit;
A transparent substrate including a transparent substrate body covering the photodiode unit and the pads and having a through hole exposing at least a portion of the pad, and a through electrode electrically connected to the pad exposed through the through hole; And
A connection member connected to the through electrode;
Image sensor module comprising a. 제 1 항에 있어서,
상기 투명 기판은 투명한 유리 기판, 투명한 석영 기판 및 투명한 합성 수지 기판들 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 이미지 센서 모듈.The method of claim 1,
The transparent substrate is an image sensor module, characterized in that any one of a transparent glass substrate, a transparent quartz substrate and a transparent synthetic resin substrate. 제 1 항에 있어서,
상기 투명 기판 및 상기 반도체 칩 사이에 개재된 투명한 접착 부재를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 이미지 센서 모듈.The method of claim 1,
And a transparent adhesive member interposed between the transparent substrate and the semiconductor chip. 제 1 항에 있어서,
상기 투명 기판의 상기 상면 중 상기 액티브 영역과 대응하는 위치에 배치된 적어도 하나의 렌즈 유닛을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 이미지 센서 모듈.The method of claim 1,
And at least one lens unit disposed at a position corresponding to the active region of the upper surface of the transparent substrate. 제 1 항에 있어서,
상기 액티브 영역을 노출하는 개구를 갖고, 상기 개구 주변에 배치되며 상기 접속 부재와 전기적으로 접속되는 접속 패드들을 갖는 회로 기판을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 이미지 센서 모듈.The method of claim 1,
And a circuit board having an opening exposing said active area, said circuit board having connection pads disposed around said opening and electrically connected with said connection member. 제 5 항에 있어서,
상기 반도체 칩 및 상기 회로 기판을 감싸며, 상기 회로 기판의 상기 개구를 노출하는 홀더를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 이미지 센서 모듈.The method of claim 5, wherein
And a holder surrounding the semiconductor chip and the circuit board and exposing the opening of the circuit board. 제 1 항에 있어서,
상기 투명 기판은 상기 액티브 영역과 대응하는 제1 투명 기판부 및 상기 주변 영역과 대응하는 제2 투명 기판부를 포함하며, 상기 제1 투명 기판부는 제1 두께를 갖고, 상기 제2 투명 기판부는 상기 제1 두께보다 낮은 제2 두께를 갖는 것을 특징으로 하는 이미지 센서 모듈.The method of claim 1,
The transparent substrate includes a first transparent substrate portion corresponding to the active region and a second transparent substrate portion corresponding to the peripheral region, wherein the first transparent substrate portion has a first thickness, and the second transparent substrate portion is formed of the first transparent substrate portion. And a second thickness less than one thickness.
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KR101505906B1 (en) * 2013-02-06 2015-03-26 (주)옵토레인 Wafer level packaging method of electronic device and wafer level package

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