KR20100110329A - 패시브-매트릭스 멀티컨택트 촉각 센서에 대한 서플라이 축/검출 축 교체를 구비하는 전자 분석 회로 - Google Patents

패시브-매트릭스 멀티컨택트 촉각 센서에 대한 서플라이 축/검출 축 교체를 구비하는 전자 분석 회로 Download PDF

Info

Publication number
KR20100110329A
KR20100110329A KR1020107015946A KR20107015946A KR20100110329A KR 20100110329 A KR20100110329 A KR 20100110329A KR 1020107015946 A KR1020107015946 A KR 1020107015946A KR 20107015946 A KR20107015946 A KR 20107015946A KR 20100110329 A KR20100110329 A KR 20100110329A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
axis
matrix
electronic circuit
axes
detection
Prior art date
Application number
KR1020107015946A
Other languages
English (en)
Inventor
빠스깔 조게
기욤 라르질리에
쥴리앙 올리비에
Original Assignee
스땅뜀
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 스땅뜀 filed Critical 스땅뜀
Publication of KR20100110329A publication Critical patent/KR20100110329A/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F1/00—Details not covered by groups G06F3/00 - G06F13/00 and G06F21/00
    • G06F1/26—Power supply means, e.g. regulation thereof
    • G06F1/32—Means for saving power
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/0416—Control or interface arrangements specially adapted for digitisers
    • G06F3/04166—Details of scanning methods, e.g. sampling time, grouping of sub areas or time sharing with display driving
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/047—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means using sets of wires, e.g. crossed wires

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Human Computer Interaction (AREA)
  • Force Measurement Appropriate To Specific Purposes (AREA)
  • User Interface Of Digital Computer (AREA)
  • Position Input By Displaying (AREA)

Abstract

본 발명은 매트릭스의 2개의 축들 중 하나에 전력공급하기 위한 전기적 서플라이 수단, 및 2개의 축들 사이의 교차들에서 매트릭스의 나머지 축을 따라 전기적 특성들을 검출하기 위한 수단을 포함하는 멀티컨택트 패시브-매트릭스 촉각 센서(1)의 전자 분석 회로에 관한 것으로, 서플라이 축 및 검출 축이 교체되는 것을 특징으로 한다. 본 발명은 또한 매트릭스의 2개의 축들 중 하나에 전력공급하기 위한 전기적 서플라이 수단, 및 2개의 축들 사이의 교차들에서 매트릭스의 나머지 축을 따라 전기적 특성들을 검출하기 위한 수단을 포함하는 멀티컨택트 패시브-매트릭스 촉각 센서(1)에 관한 것으로, 상기 촉각 센서(2)는 또한 그러한 전자 회로를 포함한다.

Description

패시브-매트릭스 멀티컨택트 촉각 센서에 대한 서플라이 축/검출 축 교체를 구비하는 전자 분석 회로{ELECTRONIC ANALYSIS CIRCUIT WITH SUPPLY AXIS/DETECTION AXIS ALTERNATION FOR PASSIVE-MATRIX MULTICONTACT TACTILE SENSOR}
본 발명은 패시브-매트릭스 멀티컨택트 촉각 센서들에 대한 에너지공급(energization) 축/검출 축 교체를 가지는 분석기 전자 회로에 관한 것이다.
본 발명은 투명 패시브-매트릭스 멀티컨택트 촉각 센서들의 분야에 관한 것이다.
이러한 타입의 센서는 양호하게는 그래픽 인터페이스를 통해, 디바이스를 제어하기 위해, 그 표면 상의 다수의 손가락들의 위치, 압력, 크기, 형태 및 이동의 동시 획득을 위한 수단을 구비하고 있다.
상기 센서들은 퍼스널 컴퓨터들, 휴대용 또는 기타, 셀룰러 전화기들, 자동 출납기들(은행들, POS(point of sale), 티켓 판매), 게임 콘솔들, 휴대용 멀티미디어 플레이어들(디지털 워크맨), 오디오비주얼 장비 또는 가정내 전기 가전들의 제어, 산업 장비의 제어, GPS 네비게이션 디바이스들(상기 리스트는 본 발명을 제한하는 것은 아니다)에 대한 인터페이스들로서 이용될 수 있다.
종래의 기술 분야에서 투명 멀티컨택트 촉각 센서들이 알려져 있다. 그러한 센서는 2개의 비-평행 어레이들을 특징으로 하는 촉각 인터액션 표면을 포함한다. 각 어레이는 일반적으로 평행인 트랙들의 세트를 포함한다. 이들 어레이들은 이들 사이에서 하나의 어레이의 다른 하나 상으로의 교차의 프로젝션에 배치되는 노드들을 정의한다. 이들 노드들에는, 대응하는 컨택트 영역 상의 존재의 함수로서 정보를 전달하는 물리적 측정 수단이 제공된다. 이들 센서들은 복수의 컨택트 영역들의 상태를 동시에 알 수 있게 한다. 각 노드에서 달성되는 측정은 관련된 노드와 연관된 2개의 어레이 요소들의 단자들에서의 전압 또는 커패시턴스의 측정에 대응한다. 각 어레이는 순차적으로 그리고 신속하게 스캐닝되어 초당 수번씩 센서의 이미지를 생성한다. 적합한 응답 시간을 보장하기 위해, 20밀리초의 최대 레이턴시 시간으로 손가락의 활동을 측정할 수 있는 것이 절대 필요하다.
종래 기술분야에서 제안되었던 하나의 솔루션은 특허 FR 2,866,726호에 기재된 것으로, 멀티컨택트 촉각 디스플레이 상에서 가상 그래픽 오브젝트들을 조작하기 위한 제어 디바이스를 목표로 하고 있다. 상기 디바이스는 100Hz의 샘플링 주파수를 이용하여 센서로부터 데이터를 획득하여 분석할 수 있게 하는 분석 전자 회로를 더 포함한다. 센서는 상기 영역들의 병렬 처리를 달성하기 위해 복수의 영역들로 분할될 수 있다.
이것은 도전성 트랙들의 매트릭스를 포함하고, 상기 매트릭스는 2개의 축들 중 하나 상의 에너지공급 수단, 및 2개의 축들 사이의 교차들에서, 나머지 축 상의 전기적 특성 검출 수단을 포함한다.
이러한 솔루션의 단점은 상기 분석 전자 회로에 의해 측정되고 처리된 데이터는, 무엇보다도 피착된 ITO(인듐-주석 산화물) 투명 도전성 재료들의 경우에, 재료들의 저항도에 링크된 간섭 현상들 및 문제들에 종속되기 쉽다는 점이다. 그리고나서, 측정되고 처리된 상기 데이터는 채용된 촉각 센서의 정확도 및 민감도에 크게 영향을 미친다.
본 발명의 목적은 가능한 인공물(artifact)들을 검출하고 회피하는 방식으로 구성된 분석 전자 회로를 제안함으로써 이러한 단점을 치유하는 것이다.
이를 위해, 본 발명은 매트릭스의 2개의 축들 중 하나의 에너지공급을 위한 수단, 및 2개의 축들 사이의 교차들에서 매트릭스의 나머지 축 상의 전기적 특성들을 검출하기 위한 수단을 포함하는 패시브-매트릭스 멀티컨택트 촉각 센서의 분석기 전자 회로를 제안하고, 에너지공급 축 및 검출 축이 교체되는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제1 실시예에서, 측정된 전기적 특성은 저항이다.
본 발명의 제2 실시예에서, 측정된 전기적 특성은 커패시턴스이다.
본 발명의 하나의 특정 실시예에서, 에너지공급 축/검출 축 교체는 주기적이다.
본 발명의 또 하나의 특정 실시예에서, 에너지공급 축/검출 축 교체는 인공물의 검출에 의해 컨디셔닝된다.
본 발명의 추가 특정 실시예에서, 에너지공급 축/검출 축 교체는 제어 신호의 수신에 의해 컨디셔닝된다.
본 발명의 또 하나의 특정 실시예에서, 분석기 전자 회로는 스캐닝 페이즈 동안에, 네트워크들 중 하나의 연속적인 트랙들에 에너지공급하고 제2 네트워크의 트랙들 각각에서의 응답을 검출함으로써 센서를 제어한다.
본 발명의 또 하나의 특정 실시예에서, 에너지공급 축 및 검출 축의 교체는 에너지공급 축으로서의 칼럼들(columns) 및 검출 축으로서의 로우들(rows)을 가지는 스캐닝 페이즈와, 에너지공급 축으로서의 로우들 및 검출 축으로서의 칼럼들을 가지는 스캐닝 페이즈 사이의 교체에 대응한다.
본 발명은 또한 매트릭스의 2개의 축들 중 하나의 에너지공급을 위한 수단, 및 2개의 축들 사이의 교차들에서 매트릭스의 나머지 축 상의 전기적 특성들을 검출하기 위한 수단을 포함하는 패시브-매트릭스 멀티컨택트 촉각 센서에 관한 것으로, 상기 촉각 센서는 또한 전자 회로를 포함한다.
본 발명은 도면들과 동반되는 본 발명의 하나의 비-제한적 실시예의 상세한 설명을 읽은 후에 더 잘 이해될 것이다.
도 1은 패시브-매트릭스 멀티컨택트 촉각 디스플레이의 뷰이다.
도 2는 에너지공급 축으로서의 칼럼들 및 검출 축으로서의 로우들을 구비하는 전자 회로에 의해 이용되는 촉각 센서의 전체에 대한 데이터의 획득 방법의 다이어그램이다.
도 3은 에너지공급 축으로서의 로우들 및 검출 축으로서의 칼럼들을 구비하는 전자 회로에 의해 이용되는 촉각 센서의 전체에 대한 데이터의 획득 방법의 다이어그램이다.
도 4는 전자 회로에 의해 이용되는 데이터 분석 방법의 다이어그램이다.
도 5는 본 발명의 제1 실시예의 전자 회로에 의해 이용되는 획득 및 분석 방법의 다이어그램으로서, 상기 방법은 주기적인 에너지공급 축/검출 축 교체를 포함한다.
도 6은 본 발명의 제2 실시예의 전자 회로에 의해 이용되는 획득 및 분석 방법의 다이어그램으로서, 상기 방법은 인공물(artifact)의 검출 - 존재하는 경우에 - 에 의해 컨디셔닝되는 에너지공급 축/검출 축 교체를 포함한다.
도 7은 본 발명의 제3 실시예의 전자 회로에 의해 이용되는 획득 및 분석 방법의 다이어그램으로서, 상기 방법은 제어 신호에 의해 컨디셔닝되는 에너지공급 축/검출 축을 포함한다.
본 발명의 분석기 전자 회로는 패시브-매트릭스 멀티컨택트 촉각 센서에 통합시키려는 것이다.
도 1은 이하를 포함하는 촉각 전자 디바이스의 뷰를 나타낸다.
- 매트릭스 촉각 센서(1),
- 표시 스크린(2),
- 캡쳐 인터페이스(3),
- 메인 프로세서(4), 및
- 그래픽 프로세서(5).
상기 촉각 디바이스의 제1 기본 요소는, 캡쳐 인터페이스(3)의 도움으로 멀티컨택트 획득 및 조작을 위해 필요한 촉각 센서(1)이다. 이러한 캡쳐 인터페이스(3)는 획득 및 분석 전자 회로들을 포함한다.
상기 촉각 센서(1)는 매트릭스 타입의 것이다. 상기 센서는 캡쳐를 가속시키기 위해 복수의 부분들로 분할될 수 있고, 각 부분은 동시에 스캐닝될 수 있다.
캡쳐 인터페이스(3)로부터의 데이터는 필터링 이후에 메인 프로세서(4)에 송신된다. 후자는 패드로부터의 데이터를, 조작되기 위해 스크린(2) 상에 표시되는 그래픽 오브젝트들과 연관시킬 수 있게 하는 로컬 프로그램을 실행한다.
메인 프로세서(4)는 또한 표시 스크린(2) 상에 표시될 데이터를 그래픽 사용자 인터페이스에 전송한다. 이러한 그래픽 사용자 인터페이스는 그래픽 프로세서(5)에 의해 구동될 수 있다.
촉각 센서는 이하의 방식으로 제어된다: 제1 스캐닝 페이즈 동안에, 네트워크들 중 하나의 네트워크의 트랙들은 연속적으로 에너지공급되고, 제2 네트워크의 트랙들 각각에서의 응답이 검출된다. 컨택트 영역들은 그 상태가 유휴상태에 대해 변형되는 노드들에 대응하는 이들 응답들의 함수로서 결정된다. 그 상태가 변형되는 인접하는 노드들의 하나 이상의 세트들이 결정된다. 그러한 인접하는 노드들의 세트가 컨택트 영역을 정의한다. 본 특허에서 커서로서 지칭되는 위치 정보는 이러한 노드들의 세트로부터 산출된다. 비-액티브 영역들에 의해 분리되는 복수의 노드들의 세트들의 경우에, 복수의 독립적인 커서들은 동일한 스캐닝 페이즈 동안에 결정된다.
이러한 정보는 새로운 스캐닝 페이즈들 동안에 주기적으로 리프레시된다.
커서들은 연속적인 스캔들 동안에 얻어지는 정보의 함수로서 생성되거나, 추적되거나 또는 파괴된다. 예를 들면, 커서는 컨택트 영역 무게중심 함수에 의해 산출된다.
일반적인 원리는 촉각 센서 상에서 검출되는 영역들이 존재하는 만큼 커서들을 생성하고, 이들의 시간에서의 전개를 따르는 것이다. 사용자가 센서로부터 그의 손가락들을 제거하는 경우, 연관된 커서들이 파괴된다. 이와 같이, 촉각 센서 상에서 복수의 손가락들의 위치 및 이동을 동시에 캡쳐하는 것이 가능하다.
로우가 칼럼과 접촉하게 되었는지를 알기 위해, 또한 센서(1) 상의 컨택트 포인트를 결정하기 위해, 매트릭스의 각 노드의 단자들에서의 전기적 특성들 - 전압, 커패시턴스 또는 인덕턴스 - 이 측정된다.
메인 프로세서(4)는 센서로부터의 데이터를, 조작되기 위해 표시 스크린(2) 상에 표시되는 그래픽 오브젝트들과 연관시키는 것을 가능하게 하는 프로그램을 실행한다.
도 2는 에너지공급 축으로서의 칼럼들 및 검출 축으로서의 로우들을 가지는, 전자 회로에 의해 이용되는 촉각 센서의 전체에 대한 데이터의 획득의 "획득 1" 방법(11)의 다이어그램을 표현하고 있다. 상기 센서는 M개의 로우들 및 N개의 칼럼들을 포함한다.
이 방법의 기능은 매트릭스 센서(1)의 각 노드의 상태, 즉 상기 노드가 활성화되어 있는지 여부를 결정하는 것이다.
상기 방법은 "전압" 매트릭스의 모든 노드들을 측정하는 것에 대응한다. 상기 매트릭스는 각 포인트(I,J)에서 로우 I 및 칼럼 J의 교차 포인트의 단자들에서 측정된 전압값을 포함하는 [N,M] 매트릭스로서, 1≤I≤N 및 1≤J≤M이다. 이러한 매트릭스는 주어진 시간에 매트릭스 센서(1)의 각 포인트의 상태를 제공할 수 있게 한다.
획득의 방법(11)은 이전(preceding) 획득 동안에 얻어진 데이터를 초기화하는 단계 12로 시작된다.
칼럼 축은 에너지공급 축을 구성하고 로우 축은 검출 축을 구성한다.
방법(11)은 우선 제1 칼럼을 스캐닝한다. 이것은 예를 들면 5볼트로 에너지공급된다. 전자 회로는 상기 칼럼과, 로우들 1 내지 N의 각각 사이의 교차 포인트에서 전기적 특성을 측정한다.
N번째 로우에 대한 측정이 달성된 경우, 방법은 다음 칼럼으로 진행하여, 새로운 칼럼 및 로우들 1 내지 N의 각각의 교차에서 전기적 특성들을 측정하기 시작한다.
모든 칼럼들이 스캐닝된 경우, 매트릭스 센서의 포인트들 각각의 전기적 특성들이 측정되었다. 이것은 방법을 종료시키고, 전자 회로(10)는 얻어진 "전압" 매트릭스를 분석하려고 진행할 수 있다.
도 3은 에너지공급 축으로서의 로우들 및 검출 축으로서의 칼럼들을 구비하는, 전자 회로에 의해 이용되는 센서의 전체에 대한 데이터 획득의 "획득 2"방법(21)의 다이어그램을 표현하고 있다.
상기 방법(21)은 데이터 획득 방법(11)(획득 1)과 유사하다. 사실상, 단지 에너지공급 및 검출 축들만이 상호교환되었다.
획득의 방법은 이전 획득 동안에 얻어진 데이터를 초기화하는 단계 12로 시작된다.
그리고나서, 방법은 우선 제1 로우를 스캐닝한다. 이것은 예를 들면 5볼트에서 에너지공급된다. 전자 회로는 상기 로우, 및 칼럼들 1 내지 M의 각각 사이의 노드의 단자들에서 전압을 측정한다.
M번째 칼럼에 대해 측정이 달성된 경우, 방법은 다음 로우로 진행하고, 새로운 로우 및 칼럼들 1 내지 M의 각각의 교차의 단자들에서 전압을 측정하기 시작한다.
모든 로우들이 스캐닝된 경우, 매트릭스 센서(1)의 포인트들 각각의 전기적 특성들이 측정되었다. 이것은 방법을 종료시키고 전자 회로(10)는 얻어진 "전압" 매트릭스를 분석하려고 진행할 수 있다.
도 4는 전자 회로에 의해 이용되는 데이터를 분석하는 "분석" 방법(31)의 다이어그램을 표현하고 있다.
상기 방법(31)은 이하의 단계들을 수행하는 일련의 알고리즘들을 포함한다.
- 하나 이상의 필터 단계들(32),
- 각 컨택트 영역을 포함하는 영역들의 결정(33),
- 각 컨택트 영역의 무게중심의 결정(34),
- 컨택트 영역의 보간(35), 및
- 컨택트 영역의 궤적의 예측(36).
일단 분석의 방법(31)이 종료되면, 소프트웨어는 상기 촉각 전자 디바이스를 실시간으로 리프레시하기 위해 촉각 전자 디바이스 상의 가상 그래픽 오브젝트에 특정 처리 오퍼레이션들을 적용할 수 있다. 데이터 획득 단계(11 또는 21) 동안에 검출된 컨택트 영역들을 포함하는 영역들이 또한 정의된다.
도 5는 본 발명의 제1 실시예의 전자 회로에 의해 이용되는 획득 및 분석 방법(41)의 다이어그램을 표현하고 있다. 상기 방법(41)은 에너지공급 축/검출 축 교체 방법으로서, 상기 교체는 주기적이다.
본 실시예에서, 전자 회로는 획득 단계(11) 및 분석 단계(31)를 연속적으로 수행한다. 단계들(11 및 31)의 연속은 에너지공급 축으로서의 칼럼들 및 검출 축으로서의 로우들을 가지는 획득-분석에 대응한다.
단계들(11 및 31) 이후에, 획득 단계(21) 및 분석 단계(31)의 새로운 연속이달성되어, 에너지공급 축으로서의 로우들 및 검출 축으로서의 칼럼들을 가지는 획득-분석을 수행한다.
방법(41)은 연속하는 단계들(11, 31, 21 및 31)을 포함하는 루프를 실행한다. 이것은 에너지공급 및 검출 축들을 교체할 수 있게 한다.
본 실시예의 또 하나의 변동에서, 방법은 제1 연속하는 단계들(11 및 31)을 K번 수행한 후, 제2 연속하는 단계들(21 및 31)을 L번 수행하고, K 및 L은 적어도 하나가 엄격하게 1보다 큰 정수들이다.
리프레시 주파수는 예를 들면 100Hz의 수준을 가지고 있다.
도 6은 본 발명의 제2 실시예의 전자 회로에 의해 이용되는 획득 및 분석 방법(51)의 다이어그램을 표현하고 있다. 상기 방법(51)은 에너지공급 축/검출 축 교체 방법으로서, 상기 교체는 인공물의 검출 - 존재하는 경우에 - 에 의해 컨디셔닝된다.
본 발명의 이러한 실시예에서, 방법(51)은 연속하는 단계들(11, 31) 및 (21, 31)을 수행한다.
단계들(11, 31) 및 (21, 31)의 하나에서 다른 하나로의 패시지(passage)는 수행되는 분석 단계들(31)의 각각으로부터 기인하는 인공물의 검출 - 존재하는 경우에 - 에 의해 컨디셔닝된다.
연속하는 단계들(11, 31) 또는 (21, 31) 동안에 수행되는 단계 31이 종료할 때마다, 전자 회로는 노드들 각각의 상태 데이터가 획득되고 분석되었던 매트릭스 센서(1)의 적어도 일부에 대해 인공물 타입 간섭 현상이 존재하는지를 결정한다. 연속하는 단계들(11, 31) 또는 (21, 31)로부터의 출구에서 어떠한 인공물도 검출되지 않는 경우, 방법은 동일한 단계들 상에서 루프(loop)한다. 인공물이 검출된 경우, 방법은 연속하는 단계들을 교체한다. 예를 들면, 인공물이 단계들(11, 31)로부터의 출구에서 검출되지 않은 경우, 방법은 상기 단계들(11, 31) 상에서 루프하지만, 인공물이 실제로 검출되는 경우, 방법은 단계들(21, 31)로 교체된다.
도 7은 본 발명의 제3 실시예의 전자 회로에 의해 이용되는 획득 및 분석 방법(61)의 다이어그램을 표현하고 있다. 상기 방법(61)은 에너지공급 축/검출 축 교체 방법으로서, 상기 교체는 제어 신호에 의해 컨디셔닝된다.
본 발명의 이러한 실시예에서, 방법은 연속하는 단계들(11, 31) 및 (21, 31)을 수행한다.
단계들(11, 31) 및 (21, 31)의 하나로부터 다른 하나로의 패시지는 제어 신호에 의해 컨디셔닝된다.
연속하는 단계들(11, 31) 또는 (21, 31) 동안에 수행되는 단계 31이 종료할 때마다, 전자 회로는 상기 연속하는 단계들 및 그 이전 단계 사이에서 제어 신호를 수신하였는지를 결정한다. 어떠한 제어 신호도 수신되지 않은 경우, 방법은 동일한 단계들 상에서 루프한다. 제어 신호가 수신된 경우, 방법은 연속하는 단계들을 교체한다. 예를 들면, 제어 신호가 단계들(11, 31)로부터의 출구에서 수신되었다면, 방법은 상기 단계들(11, 31) 상에서 루프하지만, 제어 신호가 실제로 수신되었다면, 방법은 단계들(21, 31)로 교체한다.
상기 설명된 본 발명의 임의의 실시예들의 하나의 분석 전자 회로를 통합하는 멀티컨택트 촉각 센서를 구비하는 촉각 전자 디바이스는 재료들의 저항도에 링크된 간섭 현상들 및 문제들의 발생에 적합한 솔루션을 제공하는 장점을 가지고 있다.
전술한 본 발명의 실시예들은 예를 들어 설명된 것이고 어떠한 방식으로든 본 발명을 제한하려는 것은 아니다. 본 기술분야의 숙련자들이라면 본 발명의 범주에서 벗어나지 않고 본 발명의 변형을 생성할 수 있는 위치에 있다는 것은 자명하다할 것이다.

Claims (9)

  1. 패시브-매트릭스 멀티컨택트 촉각 센서(1)의 분석기 전자 회로로서,
    매트릭스의 2개의 축들 중 하나의 에너지공급(energization)을 위한 수단, 및
    상기 2개의 축들 사이의 교차들에서 상기 매트릭스의 나머지 축 상의 전기적 특성들을 검출하기 위한 수단
    을 포함하고,
    상기 에너지공급 축 및 검출 축은 교체되는 것을 특징으로 하는 분석기 전자 회로.
  2. 제1항에 있어서, 측정된 상기 전기적 특성은 저항인 것을 특징으로 하는 분석기 전자 회로.
  3. 제1항에 있어서, 측정된 상기 전기적 특성은 커패시턴스인 것을 특징으로 하는 분석기 전자 회로.
  4. 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 에너지공급 축/검출 축 교체는 주기적인 것을 특징으로 하는 분석기 전자 회로.
  5. 제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 에너지공급 축/검출 축 교체는 인공물의 검출에 의해 컨디셔닝되는 것을 특징으로 하는 분석기 전자 회로.
  6. 제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 에너지공급 축/검출 축 교체는 제어 신호의 수신에 의해 컨디셔닝되는 것을 특징으로 하는 분석기 전자 회로.
  7. 제1항 내지 제6항 중 어느 한 항에 있어서, 네트워크들 중 하나의 연속적인 트랙들에 에너지공급하고, 제2 네트워크의 트랙들 각각에서의 응답을 검출함으로써 스캐닝 페이즈(scanning phase) 동안에 상기 센서를 제어하는 것을 특징으로 하는 분석기 전자 회로.
  8. 제1항 내지 제7항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 에너지공급 축 및 검출 축의 교체는 에너지공급 축으로서의 칼럼들(columns) 및 검출 축으로서의 로우들(rows)을 가지는 스캐닝 페이즈와, 에너지공급 축으로서의 로우들 및 검출 축으로서의 칼럼들을 가지는 스캐닝 페이즈 사이의 교체에 대응하는 것을 특징으로 하는 분석기 전자 회로.
  9. 패시브-매트릭스 멀티컨택트 촉각 센서(1)로서,
    매트릭스의 2개의 축들 중 하나의 에너지공급을 위한 수단, 및
    상기 2개의 축들 사이의 교차들에서 상기 매트릭스의 나머지 축 상의 전기적 특성들을 검출하기 위한 수단
    을 포함하고,
    상기 센서(1)는 또한 제1항 내지 제8항 중 어느 한 항에 따른 전자 회로를 포함하는 패시브-매트릭스 멀티컨택트 촉각 센서.
KR1020107015946A 2007-12-19 2008-12-19 패시브-매트릭스 멀티컨택트 촉각 센서에 대한 서플라이 축/검출 축 교체를 구비하는 전자 분석 회로 KR20100110329A (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR0760018A FR2925715B1 (fr) 2007-12-19 2007-12-19 Circuit electronique d'analyse a alternance axe d'alimentaiton/axe de detection pour capteur tactile multicontacts a matrice passive
FR0760018 2007-12-19

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20100110329A true KR20100110329A (ko) 2010-10-12

Family

ID=39575685

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020107015946A KR20100110329A (ko) 2007-12-19 2008-12-19 패시브-매트릭스 멀티컨택트 촉각 센서에 대한 서플라이 축/검출 축 교체를 구비하는 전자 분석 회로

Country Status (8)

Country Link
US (1) US8363023B2 (ko)
EP (1) EP2235616A1 (ko)
JP (1) JP2011507124A (ko)
KR (1) KR20100110329A (ko)
CN (1) CN101903856A (ko)
CA (1) CA2709838A1 (ko)
FR (1) FR2925715B1 (ko)
WO (1) WO2009112650A1 (ko)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2925714B1 (fr) * 2007-12-19 2010-01-15 Stantum Circuit electronique d'analyse a alternance de mesure capacitive/resistive pour capteur tactile multicontacts a matrice passive
US20090237374A1 (en) * 2008-03-20 2009-09-24 Motorola, Inc. Transparent pressure sensor and method for using
US9018030B2 (en) * 2008-03-20 2015-04-28 Symbol Technologies, Inc. Transparent force sensor and method of fabrication
US8988191B2 (en) 2009-08-27 2015-03-24 Symbol Technologies, Inc. Systems and methods for pressure-based authentication of an input on a touch screen
US8963874B2 (en) 2010-07-31 2015-02-24 Symbol Technologies, Inc. Touch screen rendering system and method of operation thereof
JP5260694B2 (ja) * 2011-02-28 2013-08-14 株式会社コナミデジタルエンタテインメント 情報処理装置、情報処理装置の制御方法、及びプログラム
CN102768589B (zh) * 2011-05-06 2015-09-23 东莞莫仕连接器有限公司 触控面板
CN102768588B (zh) * 2011-05-06 2015-11-25 东莞莫仕连接器有限公司 触控面板
US9501168B2 (en) * 2011-08-10 2016-11-22 Cypress Semiconductor Corporation Methods and apparatus to detect a presence of a conductive object

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0253132A (ja) * 1988-08-18 1990-02-22 Nippon Intaakeepu:Kk タッチパネル
US5880411A (en) * 1992-06-08 1999-03-09 Synaptics, Incorporated Object position detector with edge motion feature and gesture recognition
TW408277B (en) * 1996-11-15 2000-10-11 Alps Electric Co Ltd Small current detector circuit and locator device using the same
US7663607B2 (en) * 2004-05-06 2010-02-16 Apple Inc. Multipoint touchscreen
US6762752B2 (en) * 2001-11-29 2004-07-13 N-Trig Ltd. Dual function input device and method
KR100456155B1 (ko) * 2002-11-13 2004-11-09 엘지.필립스 엘시디 주식회사 터치패널장치 및 그 제어 방법
JP4408431B2 (ja) * 2005-12-19 2010-02-03 アルプス電気株式会社 入力装置

Also Published As

Publication number Publication date
FR2925715B1 (fr) 2010-06-18
US20100302197A1 (en) 2010-12-02
EP2235616A1 (fr) 2010-10-06
CA2709838A1 (fr) 2009-09-17
JP2011507124A (ja) 2011-03-03
US8363023B2 (en) 2013-01-29
FR2925715A1 (fr) 2009-06-26
WO2009112650A1 (fr) 2009-09-17
CN101903856A (zh) 2010-12-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8363023B2 (en) Analyzer electronic circuit with energization axis/detection axis alternation for passive-matrix multicontact tactile sensor
US20100289508A1 (en) Electronic analysis circuit with alternation of capacitive/resistive measurement for passive-matrix multicontact tactile sensor
US20110025619A1 (en) Electronic analysis circuit with modulation of scanning characteristics for passive-matrix multicontact tactile sensor
US20110134067A1 (en) Method for the acquisition and analysis of a multi-contact tactile sensor using a dichotomous principle, and electronic circuit and multi-contact tactile sensor implementing one such method
EP2831709B1 (en) Method and system for multi-touch decoding
CN105677074B (zh) 对触摸的粗略扫描和有针对性的活动模式扫描
CN104407796B (zh) 原始数据跟踪板设备和系统
US20110141026A1 (en) Multicontact touch-sensitive sensor including variable-size and variable-impedance spacing means
US8427180B2 (en) Multicontact tactile sensor with single-contact idle mode
KR20120085737A (ko) 고속 터치 응답을 위한 동적 모드 스위칭
CN101027631B (zh) 原始数据跟踪板设备和系统
US10540044B2 (en) Capacitive sensing with multi-pattern scan
KR20130035885A (ko) 예측 터치 표면 스캐닝
JP2011507121A5 (ko)
CN109857275A (zh) 对触摸的粗略扫描和有针对性的活动模式扫描
KR101848534B1 (ko) 멀티-터치 크로스바-네트워크 센서로부터 데이터를 획득하기 위한 방법 및 장치
CN109906428A (zh) 在电容传感器上定位有源触控笔
JP6125812B2 (ja) 電気触覚提示装置、電気触覚提示装置の制御方法及びプログラム、並びに電気触覚ディスプレイを有する携帯機器
CN209674344U (zh) 触摸屏控制器
US11720205B2 (en) Touch report rate of touchscreen
EP4130946A1 (en) Method and system for calibrating and operating a capacitive sensor
JP2018097820A (ja) タッチパネルシステム

Legal Events

Date Code Title Description
WITN Application deemed withdrawn, e.g. because no request for examination was filed or no examination fee was paid