KR20100107415A - Anti-glare film - Google Patents

Anti-glare film Download PDF

Info

Publication number
KR20100107415A
KR20100107415A KR1020100026321A KR20100026321A KR20100107415A KR 20100107415 A KR20100107415 A KR 20100107415A KR 1020100026321 A KR1020100026321 A KR 1020100026321A KR 20100026321 A KR20100026321 A KR 20100026321A KR 20100107415 A KR20100107415 A KR 20100107415A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
film
plating
glare
fine
energy spectrum
Prior art date
Application number
KR1020100026321A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR101598637B1 (en
Inventor
츠토무 후루야
히로시 미야모토
도루 진노
Original Assignee
스미또모 가가꾸 가부시키가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤 filed Critical 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤
Publication of KR20100107415A publication Critical patent/KR20100107415A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR101598637B1 publication Critical patent/KR101598637B1/en

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/02Diffusing elements; Afocal elements
    • G02B5/0205Diffusing elements; Afocal elements characterised by the diffusing properties
    • G02B5/021Diffusing elements; Afocal elements characterised by the diffusing properties the diffusion taking place at the element's surface, e.g. by means of surface roughening or microprismatic structures
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1335Structural association of cells with optical devices, e.g. polarisers or reflectors
    • G02F1/133502Antiglare, refractive index matching layers

Abstract

PURPOSE: An antiglare film according to the present invention is provided to improve the contrast by preventing the deterioration of the visibility due to whitening. CONSTITUTION: An antiglare film(1) has an antiglare layer. A fine convexo-concave(2) is formed on the antiglare layer. The height of the fine convexo-concave surface can be represented by two dimensional function on a coordinate. The overall surface of the film is displayed as a transparent surface(3).

Description

방현 필름{ANTI-GLARE FILM}Anti-glare film {ANTI-GLARE FILM}

본 발명은, 저헤이즈이면서 방현 특성이 우수한 방현(안티 글레어) 필름에 관한 것이다. This invention relates to the anti-glare (anti glare) film which is low haze and is excellent in anti-glare characteristic.

액정 디스플레이나 플라즈마 디스플레이 패널, 브라운관(음극선관: CRT) 디스플레이, 유기 전계 발광(EL) 디스플레이 등의 화상 표시 장치는, 그 표시면에 외광이 투영되면 시인성(視認性)이 현저하게 손상되어 버린다. 이러한 외광의 투영을 방지하기 위해서, 화질을 중시하는 텔레비전이나 퍼스널 컴퓨터, 외광이 강한 옥외에서 사용되는 비디오 카메라나 디지털 카메라, 반사광을 이용하여 표시를 행하는 휴대 전화 등에 있어서는, 종래부터 화상 표시 장치의 표면에 외광의 투영을 방지하는 필름층이 형성되어 있다. 이 필름층은, 광학 다층막에 의한 간섭을 이용한 무반사 처리가 실시된 필름으로 이루어지는 것과, 표면에 미세한 요철을 형성함으로써 입사광을 산란시켜 투영상을 흐릿하게 하는 방현 처리가 실시된 필름으로 이루어지는 것으로 크게 구별된다. 이 중, 전자의 무반사 필름은, 균일한 광학막 두께의 다층막을 형성할 필요가 있기 때문에, 비용이 높아진다. 이에 비하여 후자의 방현 필름은, 비교적 저렴하게 제조할 수 있기 때문에, 대형의 퍼스널 컴퓨터나 모니터 등의 용도로 널리 이용되고 있다.In an image display device such as a liquid crystal display, a plasma display panel, a cathode ray tube (cathode ray tube: CRT) display, an organic electroluminescence (EL) display, and the like, when external light is projected on the display surface, visibility is remarkably impaired. In order to prevent such projection of external light, the surface of an image display device has conventionally been used in televisions and personal computers which value image quality, video cameras and digital cameras used outdoors with strong external light, and mobile phones which display using reflected light. The film layer which prevents projection of external light is provided in this. This film layer is largely classified into a film formed by an antireflective treatment using interference by an optical multilayer film and a film subjected to an antiglare treatment that scatters incident light by blurring incident light by forming fine irregularities on the surface. do. Among these, since the former antireflection film needs to form a multilayer film having a uniform optical film thickness, the cost is high. On the other hand, since the latter antiglare film can be produced relatively inexpensively, it is widely used for applications such as large personal computers and monitors.

이러한 방현 필름은 종래부터, 예컨대 미립자를 분산시킨 수지 용액을 기재 시트 상에 도포하고, 도포막 두께를 조정하여 미립자를 도포막 표면에 노출시킴으로써 랜덤한 요철을 시트 상에 형성하는 방법 등에 의해 제조되고 있다. 그러나, 이러한 미립자를 분산시킴으로써 제조된 방현 필름은, 수지 용액 중의 미립자의 분산 상태나 도포 상태 등에 따라 요철의 배치나 형상이 좌우되어 버리기 때문에, 의도한 대로의 요철을 얻는 것이 곤란하고, 헤이즈가 낮은 것에서는 충분한 방현 효과가 얻어지지 않는다는 문제가 있었다. 또한, 이러한 종래의 방현 필름을 화상 표시 장치의 표면에 배치한 경우, 산란광에 의해 표시면 전체가 흰 빛을 띠게 되어, 표시가 탁한 색이 되는, 이른바 「백화」가 발생하기 쉽다는 문제가 있었다. 또한, 최근의 화상 표시 장치의 고선명화에 따라, 화상 표시 장치의 화소와 방현 필름의 표면 요철 형상이 간섭하여, 결과적으로 휘도 분포가 발생하여 보기 어려워지는, 이른바 「번쩍임」 현상이 발생하기 쉽다는 문제도 있었다. 번쩍임을 해소하기 위해서, 바인더 수지와 분산 미립자 사이에 굴절률 차를 마련하여 빛을 산란시키는 시도도 있으나, 그러한 방현 필름을 화상 표시 장치의 표면에 배치했을 때에는, 미립자와 바인더 수지 계면에 있어서의 빛의 산란에 의해, 콘트라스트가 저하되기 쉽다는 문제도 있었다.Such anti-glare films are conventionally produced by a method of forming random irregularities on a sheet by, for example, applying a resin solution in which fine particles are dispersed on a base sheet, and adjusting the coating film thickness to expose the fine particles on the surface of the coating film. have. However, the antiglare film produced by dispersing such fine particles is difficult to obtain the unevenness as intended, because the arrangement and shape of the unevenness depends on the dispersed state, the coated state, and the like of the fine particles in the resin solution. There was a problem that a sufficient anti-glare effect could not be obtained. Moreover, when such a conventional anti-glare film was arrange | positioned on the surface of an image display apparatus, there existed a problem that what is called "whitening" which the whole display surface became white light by scattered light and became a cloudy color was easy to generate | occur | produce. . In addition, with the recent sharpening of image display apparatuses, the so-called "sparkling" phenomenon that the pixels of the image display apparatuses and the surface irregularities of the antiglare film interfere with each other, resulting in a luminance distribution that is difficult to see. There was a problem. In order to eliminate the glare, there are attempts to scatter the light by providing a refractive index difference between the binder resin and the dispersed fine particles, but when such an anti-glare film is placed on the surface of the image display device, the light at the fine particles and the binder resin interface There was also a problem that contrast tends to be lowered by scattering.

한편, 미립자를 함유시키지 않고, 투명 수지층의 표면에 형성된 미세한 요철만으로 방현성을 발현시키는 시도도 있다. 예컨대, 일본 특허 공개 제2002-189106호 공보(특허 문헌 1)에는, 엠보스 주형과 투명 수지 필름 사이에 전리 방사선 경화성 수지를 끼운 상태에서 그 전리 방사선 경화성 수지를 경화시킴으로써, 삼차원 10점 평균 거칠기 및 삼차원 거칠기 기준면 상에 있어서의 인접하는 볼록부끼리의 평균 거리가, 각각 소정값을 만족하는 미세한 요철을 형성시키고, 그 요철이 형성된 전리 방사선 경화성 수지층을 상기 투명 수지 필름 상에 설치한 형태의 방현 필름이 개시되어 있다. 그러나, 특허 문헌 1에 개시되는 방현 필름에 의해서도, 충분한 방현 효과, 백화의 억제, 고콘트라스트, 및 번쩍임의 억제를 달성하는 것은 어려웠다.On the other hand, there exists an attempt to express anti-glare only by the fine unevenness | corrugation formed in the surface of a transparent resin layer, without containing microparticles | fine-particles. For example, Japanese Patent Laid-Open No. 2002-189106 (Patent Document 1) discloses a three-dimensional 10-point average roughness by curing the ionizing radiation curable resin in a state where an ionizing radiation curable resin is sandwiched between an embossing mold and a transparent resin film. Anti-glare of the form which the average distance of adjacent convex parts on a three-dimensional roughness reference plane forms fine unevenness which respectively satisfy | fills predetermined value, and provided the ionizing radiation curable resin layer in which the unevenness was formed on the said transparent resin film. Films are disclosed. However, even with the antiglare film disclosed in Patent Document 1, it was difficult to achieve sufficient antiglare effect, suppression of whitening, high contrast, and suppression of glare.

또한, 표시 장치의 표시면에 배치되는 방현 필름이 아니라, 액정 표시 장치의 배면측에 배치되는 광확산층으로서, 표면에 미세한 요철이 형성된 필름을 이용하는 것도, 예컨대 일본 특허 공개 평성 제6-34961호 공보(특허 문헌 2), 일본 특허 공개 제2004-45471호 공보(특허 문헌 3), 일본 특허 공개 제2004-45472호 공보(특허 문헌 4) 등에 개시되어 있다. 이 중 특허 문헌 3, 4에는, 필름의 표면에 요철을 형성하는 수법으로서, 요철을 반전시킨 형상을 갖는 엠보스롤에 전리 방사선 경화성 수지액을 충전하고, 충전된 수지에 롤 오목판의 회전 방향에 동기하여 주행하는 투명 기재를 접촉시키며, 투명 기재가 롤 오목판에 접촉하고 있을 때에, 롤 오목판과 투명 기재 사이에 있는 수지를 경화시키고, 경화와 동시에 경화 수지와 투명 기재를 밀착시킨 후, 경화 후의 수지와 투명 기재의 적층체를 롤 오목판으로부터 박리하는 방법이 개시되어 있다.Further, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 6-34961 also uses a film having fine irregularities formed on its surface as a light diffusion layer disposed on the back side of the liquid crystal display device, not an antiglare film disposed on the display surface of the display device. (Patent Document 2), Japanese Patent Laid-Open No. 2004-45471 (Patent Document 3), Japanese Patent Laid-Open No. 2004-45472 (Patent Document 4) and the like. Among these, Patent Literatures 3 and 4 are filled with an ionizing radiation curable resin liquid in an embossing roll having a shape in which irregularities are inverted as a method of forming irregularities on the surface of the film, and the filled resin is used in the direction of rotation of the roll recess plate. After contacting the transparent base material traveling synchronously, and when the transparent base material is in contact with the roll recess plate, the resin between the roll recess plate and the transparent base material is cured, and the cured resin and the transparent base material are brought into close contact with each other at the same time as the curing. The method of peeling the laminated body of a transparent base material from a roll recessed board is disclosed.

그러나 이러한 특허 문헌 3, 4에 개시된 방법에서는, 이용할 수 있는 전리 방사선 경화성 수지액의 조성이 한정되고, 또한 용매로 희석하여 도포했을 때와 같은 레벨링을 기대할 수 없기 때문에, 막 두께의 균일성에 과제가 있을 것이 예상된다. 또한, 특허 문헌 3, 4에 개시된 방법에서는, 엠보스롤 오목판에 직접 수지액을 충전할 필요가 있기 때문에, 요철면의 균일성을 확보하기 위해서는, 엠보스롤 오목판에 높은 기계 정밀도가 요구되어, 엠보스롤의 제작이 어렵다는 과제가 있었다. However, in the methods disclosed in Patent Documents 3 and 4, the composition of the ionizing radiation curable resin liquid that can be used is limited, and the same leveling as when diluted and applied with a solvent cannot be expected. It is expected to be. In addition, in the methods disclosed in Patent Documents 3 and 4, it is necessary to fill the resin liquid directly into the embossed roll recessed plate. Therefore, in order to ensure uniformity of the uneven surface, high mechanical precision is required for the embossed roll recessed plate, There was a problem that the production of emboss roll was difficult.

다음으로, 표면에 요철을 갖는 필름의 제작에 이용되는 롤의 제작 방법으로서는, 예컨대, 상술한 특허 문헌 2에는, 금속 등을 이용하여 원통체를 제조하고, 그 표면에 전자 조각, 에칭, 샌드 블라스트 등의 수법에 의해 요철을 형성하는 방법이 개시되어 있다. 또한, 일본 특허 공개 제2004-29240호 공보(특허 문헌 5)에는, 비즈샷(beads shot)법에 의해 엠보스롤을 제작하는 방법이 개시되어 있고, 일본 특허 공개 제2004-90187호 공보(특허 문헌 6)에는, 엠보스롤의 표면에 금속 도금층을 형성하는 공정, 금속 도금층의 표면을 경면 연마하는 공정, 또한 필요에 따라 피닝(peening) 처리를 하는 공정을 거쳐, 엠보스롤을 제작하는 방법이 개시되어 있다.Next, as a manufacturing method of the roll used for manufacture of the film which has an unevenness | corrugation on the surface, the patent document 2 mentioned above manufactures a cylindrical body using a metal etc., for example, an electron engraving, an etching, a sandblast on the surface is carried out. The method of forming an unevenness | corrugation by the technique of these etc. is disclosed. In addition, Japanese Patent Laid-Open No. 2004-29240 (Patent Document 5) discloses a method for producing an emboss roll by a beads shot method, and Japanese Patent Laid-Open No. 2004-90187 (Patent In Document 6), an embossing roll is produced through a step of forming a metal plating layer on the surface of an embossing roll, a step of mirror polishing the surface of the metal plating layer, and a step of peening as necessary. Is disclosed.

그러나, 이와 같이 엠보스롤의 표면에 블라스트 처리를 실시한 채의 상태에서는, 블라스트 입자의 입경 분포에 기인하는 요철 직경의 분포가 발생함과 아울러, 블라스트에 의해 얻어지는 오목부의 깊이를 제어하는 것이 곤란하여, 방현 기능이 우수한 요철의 형상을 재현성 좋게 얻는 것에 과제가 있었다.However, in the state with the blasting process on the surface of the embossing roll in this way, distribution of the uneven | corrugated diameter resulting from the particle size distribution of a blast particle generate | occur | produces, and it is difficult to control the depth of the recessed part obtained by blasting. There existed a problem in obtaining reproducible shape of the uneven | corrugated material excellent in the anti-glare function.

또한, 상술한 특허 문헌 1에는, 바람직하게는 철의 표면에 크롬 도금한 롤러를 이용하여, 샌드 블라스트법이나 비즈샷법에 의해 요철형 면을 형성하는 것이 기재되어 있다. 또한, 이와 같이 요철이 형성된 형면에는, 사용 시의 내구성을 향상시킬 목적으로, 크롬 도금 등을 실시하고 나서 사용하는 것이 바람직하며, 그에 따라 경막화(硬膜化) 및 부식 방지를 도모할 수 있다는 취지의 기재도 있다. 한편, 상술한 특허 문헌 3, 4의 각각의 실시예에는, 철심 표면에 크롬 도금하고, #250의 액체 샌드 블라스트 처리를 한 후에, 재차 크롬 도금 처리하여, 표면에 미세한 요철 형상을 형성하는 것이 기재되어 있다.In addition, Patent Document 1 described above preferably describes the formation of an uneven surface by a sand blasting method or a bead shot method using a roller chromium-plated on the surface of iron. Moreover, in order to improve the durability at the time of use, it is preferable to use it after the chromium plating etc. on the mold surface in which the unevenness | corrugation was formed in this way, and it can achieve hardening and corrosion prevention accordingly. There is also a description. On the other hand, in each of the above-described examples of Patent Documents 3 and 4, it is described that the surface of the iron core is chrome plated, the liquid sand blasting treatment of # 250 is performed, and then the chromium plating is performed again to form fine concavo-convex shapes on the surface. It is.

그러나, 이러한 엠보스롤의 제작법에서는, 경도가 높은 크롬 도금 위에 블라스트나 샷을 행하기 때문에, 요철이 형성되기 어렵고, 또한 형성된 요철의 형상을 정밀하게 제어하는 것이 곤란하였다. 또한, 일본 특허 공개 제2004-29672호 공보(특허 문헌 7)에도 기재되는 바와 같이, 크롬 도금은, 하지(下地)가 되는 재질 및 그 형상에 의존하여 표면이 거칠어지는 경우가 많아, 블라스트에 의해 형성된 요철 상에 크롬 도금으로 발생한 미세한 크랙이 형성되기 때문에, 어떠한 요철이 생길지의 설계가 어렵다고 하는 과제가 있었다. 또한, 크롬 도금으로 발생하는 미세한 크랙이 있기 때문에, 최종적으로 얻어지는 방현 필름의 산란 특성이 바람직하지 않은 방향으로 변화된다는 과제도 있었다. 나아가서는, 엠보스롤 모재(母材) 표면의 재질과 도금종의 조합에 따라, 완성된 롤 표면이 가지각색으로 변화하기 때문에, 필요로 하는 표면 요철 형상을 정밀도 좋게 얻기 위해서는, 적절한 롤 표면의 재질과 적절한 도금종을 선택하지 않으면 안 된다는 과제도 있었다. 또한, 원하는 표면 요철 형상이 얻어졌다고 해도, 도금종에 따라서는 사용 시의 내구성이 불충분해지는 경우도 있었다.However, in the manufacturing method of such an embossing roll, since blasting and shot are performed on chromium plating with high hardness, unevenness | corrugation is hard to form and it was difficult to control the shape of the unevenness | corrugation formed precisely. In addition, as described in Japanese Patent Laid-Open No. 2004-29672 (Patent Document 7), chromium plating often has a rough surface depending on the material and its shape to form a base. Since fine cracks formed by chromium plating are formed on the formed unevenness, there is a problem that it is difficult to design what unevenness will occur. Moreover, since there exist the minute crack which arises by chromium plating, there also existed a subject that the scattering characteristic of the finally obtained anti-glare film changes to an undesirable direction. Furthermore, since the finished roll surface changes in various ways according to the combination of the material of the embossing roll base material surface and the plating type, in order to obtain the required surface irregularities precisely, the material of the appropriate roll surface Another problem was that an appropriate plating species must be selected. Moreover, even if desired surface irregularities were obtained, the durability at the time of use may become inadequate depending on the plating type.

일본 특허 공개 제2000-284106호 공보(특허 문헌 8)에는, 기재에 샌드 블라스트 가공을 실시한 후, 에칭 공정 및/또는 박막의 적층 공정을 실시하는 것이 기재되어 있으나, 샌드 블라스트 공정 전에 금속 도금층을 형성하는 것에 대해서는 기재도 시사도 되어 있지 않다. 또한, 일본 특허 공개 제2006-53371호 공보(특허 문헌 9)에는 기재를 연마하고, 샌드 블라스트 가공을 실시한 후, 무전해 니켈 도금을 실시하는 것이 기재되어 있다. 또한, 일본 특허 공개 제2007-187952호 공보(특허 문헌 10)에는 기재에 구리 도금 또는 니켈 도금을 실시한 후, 연마하고, 샌드 블라스트 가공을 실시한 후, 크롬 도금을 실시하여 엠보스판을 제작하는 것이 기재되어 있고, 또한, 일본 특허 공개 제2007-237541호 공보(특허 문헌 11)에는 구리 도금 또는 니켈 도금을 실시한 후, 연마하고, 샌드 블라스트 가공을 실시한 후, 에칭 공정 또는 구리 도금 공정을 실시한 후에 크롬 도금을 실시하여 엠보스판을 제작하는 것이 기재되어 있다. 이들 샌드 블라스트 가공을 이용하는 제법에서는 표면 요철 형상을 정밀하게 제어된 상태에서 형성하는 것이 어렵기 때문에, 표면 요철 형상에 50 ㎛ 이상의 주기를 갖는 비교적 큰 요철 형상도 제작되어 버린다. 결과적으로, 이들의 큰 요철 형상과 화상 표시 장치의 화소가 간섭해서, 휘도 분포가 발생하여 보기 어려워지는, 이른바 번쩍임이 발생하기 쉽다는 문제가 있었다.Japanese Unexamined Patent Application Publication No. 2000-284106 (Patent Document 8) discloses performing a sand blasting process on a substrate and then performing an etching process and / or laminating a thin film, but forming a metal plating layer before the sand blasting process. There is neither description nor suggestion about what to do. In addition, Japanese Patent Laid-Open No. 2006-53371 (Patent Document 9) describes polishing of a substrate, sand blasting, and then electroless nickel plating. In addition, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2007-187952 (Patent Document 10) discloses that a substrate is subjected to copper plating or nickel plating, then polished, sandblasted, and then chrome plated to produce an embossed plate. In addition, Japanese Unexamined Patent Publication No. 2007-237541 (Patent Document 11) discloses chromium plating after copper plating or nickel plating, followed by polishing, sandblasting, and then etching or copper plating. It is described to produce an embossed plate by carrying out. Since it is difficult to form a surface uneven | corrugated shape in the precisely controlled state by the manufacturing method using these sandblasting processes, the comparatively large uneven | corrugated shape which has a period of 50 micrometers or more in surface uneven | corrugated shape is also produced. As a result, there has been a problem that so-called sparkling is liable to occur because these large irregularities and the pixels of the image display device interfere with each other, and thus the luminance distribution occurs and becomes difficult to see.

본 발명은, 우수한 방현 성능을 나타내면서, 백화에 의한 시인성의 저하가 방지되고, 고선명도 화상 표시 장치의 표면에 배치했을 때에, 번쩍임을 발생시키지 않고 높은 콘트라스트를 발현하는 방현 필름을 제공하는 것을 목적으로 한다.SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide an antiglare film that exhibits high contrast without causing glare when the excellent visibility of antiglare performance is prevented and the deterioration of visibility due to whitening is prevented and disposed on the surface of a high-definition image display device. do.

본 발명의 방현 필름은, 투명 지지체 상에, 미세한 요철 표면을 갖는 방현층이 형성되어 이루어지는 방현 필름으로서, 상기 미세 요철 표면의 표고(標高)의 공간 주파수 0.01 ㎛-1에 있어서의 에너지 스펙트럼 H1 2와, 공간 주파수 0.04 ㎛-1에 있어서의 에너지 스펙트럼 H2 2의 비 H1 2/H2 2가 3∼15의 범위 내이다.An anti-glare film of the present invention, the transparent support on, as an anti-glare film comprising an anti-glare layer is formed with a fine concavo-convex surface, the energy spectrum of the spatial frequency of 0.01 ㎛ -1 elevation (標高) of the fine concave-convex surface H 1 2 and the ratio H 1 2 / H 2 2 of the energy spectrum H 2 2 at the spatial frequency of 0.04 μm −1 are within the range of 3 to 15.

본 발명의 방현 필름은, 상기 미세 요철 표면의 표고의 공간 주파수 0.1 ㎛-1에 있어서의 에너지 스펙트럼 H3 2와, 공간 주파수 0.04 ㎛-1에 있어서의 에너지 스펙트럼 H2 2의 비 H3 2/H2 2가 0.01 이하인 것이 바람직하다.An anti-glare film of the present invention, the minute uneven surface of the energy spectrum of the spatial frequency of 0.1 ㎛ -1 elevation 3 H 2, and a ratio of the energy spectrum H H 2 2 according to the spatial frequency of 0.04 ㎛ -1 3 2 / H 2 is preferably 2 or less is 0.01.

본 발명의 방현 필름은, 미세 요철 표면의 경사 각도가 5°이하인 면의 비율이 95% 이상인 것이 바람직하다.As for the anti-glare film of this invention, it is preferable that the ratio of the surface whose inclination-angle of the surface of a fine unevenness | corrugation is 5 degrees or less is 95% or more.

또한 본 발명의 방현 필름은, 방현층이 0.4 ㎛ 이상의 미립자를 포함하지 않는 것이 바람직하다.Moreover, it is preferable that the anti-glare film of this invention does not contain microparticles | fine-particles of 0.4 micrometer or more.

본 발명의 상기 및 다른 목적, 특징, 국면 및 이점은, 첨부된 도면과 관련하여 이해되는 본 발명에 관한 다음의 상세한 설명으로부터 명백해질 것이다.These and other objects, features, aspects and advantages of the present invention will become apparent from the following detailed description of the invention which is understood in connection with the accompanying drawings.

도 1은 본 발명의 방현 필름의 표면을 모식적으로 도시하는 사시도이다.
도 2는 표고(標高)를 나타내는 함수 h(x, y)가 이산적(離散的)으로 얻어지는 상태를 도시하는 모식도이다.
도 3은 본 발명의 방현 필름의 미세 요철 표면 형상의 표고를 이차원의 이산 함수 h(x, y)로 나타낸 것이다.
도 4는 도 3에 도시한 이차원 함수 h(x, y)를 이산 푸리에 변환하여 얻어진 에너지 스펙트럼 H2(fx, fy)를 백과 흑의 그라데이션으로 나타낸 것이다.
도 5는 도 4에 도시한 에너지 스펙트럼 H2(fx, fy)의 fx=0에 있어서의 단면을 도시하는 도면이다.
도 6은 미세 요철 표면의 경사 각도의 측정 방법을 설명하기 위한 모식도이다.
도 7은 방현 필름의 미세 요철 표면의 경사 각도 분포의 막대 그래프의 일례를 도시하는 그래프이다.
도 8은 본 발명의 방현 필름을 제작하기 위해서 이용한 패턴인 화상 데이터의 일부를, 계조(階調)의 이차원 이산 함수 g(x, y)로 나타낸 도면이다.
도 9는 도 8에 도시한 계조의 이차원 이산 함수 g(x, y)를 이산 푸리에 변환하여 얻어진 에너지 스펙트럼 G2(fx, fy)를 백과 흑의 그라데이션으로 나타낸 도면이다.
도 10은 도 9에 도시한 에너지 스펙트럼 G2(fx, fy)의 fx=0에 있어서의 단면을 도시하는 도면이다.
도 11은 금형의 제조 방법의 전반 부분의 바람직한 일례를 모식적으로 도시하는 도면이다.
도 12는 금형의 제조 방법의 후반 부분의 바람직한 일례를 모식적으로 도시하는 도면이다.
도 13은 제1 에칭 공정에서 사이드 에칭이 진행되는 상태를 모식적으로 도시하는 도면이다.
도 14는 제1 에칭 공정에 의해 형성된 요철면이 제2 에칭 공정에 의해 무뎌지는 상태를 모식적으로 도시하는 도면이다.
도 15는 실시예 2의 금형 제작 시에 사용한 패턴으로부터 얻어진 화상 데이터의 계조를 이차원 함수로 나타낸 도면이다.
도 16은 비교예 1의 금형 제작 시에 사용한 패턴으로부터 얻어진 화상 데이터의 계조를 이차원 함수로 나타낸 도면이다.
도 17은 비교예 2의 금형 제작 시에 사용한 패턴으로부터 얻어진 화상 데이터의 계조를 이차원 함수로 나타낸 도면이다.
도 18은 방현 필름 B∼F의 미세 요철 표면 형상의 표고의 이차원 함수로부터 얻어진 에너지 스펙트럼의 fx=0에 있어서의 단면을 나타낸 도면이다.
도 19는 실시예 2, 비교예 1 및 비교예 2에 사용한 패턴의 에너지 스펙트럼의 fx=0에 있어서의 단면을 나타낸 도면이다.
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS It is a perspective view which shows typically the surface of the anti-glare film of this invention.
FIG. 2 is a schematic diagram showing a state in which a function h (x, y) representing elevation is obtained discretely. FIG.
Fig. 3 shows the elevation of the fine concavo-convex surface shape of the antiglare film of the present invention as a two-dimensional discrete function h (x, y).
FIG. 4 shows energy spectra H 2 (f x , f y ) obtained by the Discrete Fourier Transform of the two-dimensional function h (x, y) shown in FIG. 3 as white and black gradations.
5 is a view showing a cross-section of the f x = 0 of the energy spectrum H 2 (f x, f y ) shown in Fig.
It is a schematic diagram for demonstrating the measuring method of the inclination angle of a fine uneven | corrugated surface.
It is a graph which shows an example of the bar graph of the inclination-angle distribution of the fine uneven surface of an anti-glare film.
It is a figure which shows a part of image data which is a pattern used in order to produce the anti-glare film of this invention by the two-dimensional discrete function g (x, y) of gradation.
FIG. 9 is a diagram showing energy spectra G 2 (f x , f y ) obtained by discrete Fourier transforming the two-dimensional discrete functions g (x, y) of the gray scale shown in FIG.
10 is a view showing a cross-section of the f x = 0 of the energy spectrum G 2 (f x, f y ) shown in Fig.
It is a figure which shows typically a preferable example of the first half part of the manufacturing method of a metal mold | die.
It is a figure which shows typically a preferable example of the latter part of the manufacturing method of a metal mold | die.
It is a figure which shows typically the state in which side etching advances in a 1st etching process.
It is a figure which shows typically the state in which the uneven surface formed by the 1st etching process dulls by the 2nd etching process.
FIG. 15 is a diagram showing the gradation of image data obtained from the pattern used during fabrication of the mold of Example 2 as a two-dimensional function. FIG.
FIG. 16 is a diagram showing the gradation of image data obtained from the pattern used during fabrication of the mold of Comparative Example 1 as a two-dimensional function. FIG.
It is a figure which showed the gradation of image data obtained from the pattern used at the time of metal mold manufacture of the comparative example 2 as a two-dimensional function.
18 is a view showing a cross section of the f x = 0 of the energy spectra obtained from the two-dimensional function of the elevation of the micro concavo-convex surface shape of the anti-glare film B~F.
19 is a view showing a cross-section according to the second embodiment and Comparative Example 1 and Comparative Example 2 f x = 0 of the energy spectrum of the pattern used for.

<방현 필름><Antiglare film>

이하, 본 발명의 적합한 실시형태에 대해서, 상세히 설명한다.EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, preferred embodiment of this invention is described in detail.

본 발명의 방현 필름은, 투명 지지체 상에, 미세한 요철 표면 형상(미세 요철 표면)을 갖는 방현층이 형성된 것이며, 미세 요철 표면의 표고(標高)의 공간 주파수 0.01 ㎛-1에 있어서의 에너지 스펙트럼 H1 2와, 공간 주파수 0.04 ㎛-1에 있어서의 에너지 스펙트럼 H2 2의 비 H1 2/H2 2가 3∼15의 범위 내인 것을 특징으로 한다. 지금까지 방현 필름의 미세 요철 표면의 주기에 대해서는 JIS B 0601에 기재되는 거칠기 곡선 요소의 평균 길이(RSm), 단면 곡선 요소의 평균 길이(PSm), 및 기복 곡선 요소의 평균 길이(WSm) 등으로 평가되고 있었다. 그러나, 이러한 종래의 평가 방법에서는, 미세 요철 표면에 포함되는 복수의 주기를 정확하게 평가할 수 없었다. 따라서, 번쩍임과 미세 요철 표면의 상관 및 방현성과 미세 요철 표면의 상관에 대해서도 정확하게 평가할 수 없어, 번쩍임의 억제와 충분한 방현 성능을 겸비하는 방현 필름을 제작하는 것이 곤란하였다.The antiglare film of the present invention has an antiglare layer having a fine concavo-convex surface shape (fine concave-convex surface) on the transparent support, and has an energy spectrum H at a spatial frequency of 0.01 μm −1 at an elevation of the fine concavo-convex surface. 12, a non-H 1 2 / H 2 2 2 H 2 of the energy spectrum of the spatial frequency is 0.04 ㎛ -1 characterized in that the range of 3 to 15. So far, the period of the fine uneven surface of the antiglare film includes the average length (RSm) of the roughness curve element, the average length (PSm) of the cross-sectional curve element, and the average length (WSm) of the undulation curve element described in JIS B 0601. It was evaluated. However, in such a conventional evaluation method, it was not possible to accurately evaluate a plurality of cycles included in the fine uneven surface. Therefore, the correlation between the glare and the fine concavo-convex surface and the correlation between the antiglare and the fine concavo-convex surface cannot be evaluated accurately, and it has been difficult to produce an antiglare film having both glare suppression and sufficient antiglare performance.

본 발명자들은, 투명 지지체 상에 미세 요철 표면을 갖는 방현층이 형성되어 이루어지는 방현 필름에 있어서, 미세 요철 표면이 특정한 공간 주파수 분포를 나타내도록 하면, 충분한 방현 효과를 발현하면서, 번쩍임이 충분히 방지되는 것을 발견하였다. 즉, 본 발명에 따르면, 미세 요철 표면의 표고의 공간 주파수 0.01 ㎛-1에 있어서의 에너지 스펙트럼 H1 2와, 공간 주파수 0.04 ㎛-1에 있어서의 에너지 스펙트럼 H2 2의 비 H1 2/H2 2를 특정한 범위 내로 함으로써, 우수한 방현 성능을 나타내면서, 백화에 의한 시인성의 저하가 방지되고, 또한, 고선명도 화상 표시 장치의 표면에 배치했을 때에, 번쩍임을 발생시키지 않고 높은 콘트라스트를 발현하는 방현 필름이 제공된다.MEANS TO SOLVE THE PROBLEM In the anti-glare film in which the anti-glare layer in which the anti-glare layer which has a fine uneven surface was formed on the transparent support body is made to show a specific spatial frequency distribution, when the fine uneven surface expresses a sufficient anti-glare effect, it is understood that the glare is sufficiently prevented. Found. That is, according to the present invention, the energy spectrum of the spatial frequency of 0.01 ㎛ -1 elevation of the minute uneven surface H 1 and 2, the spatial frequency 0.04 ㎛ -1 1 ratio H 2 / H of the energy spectrum in the H 2 2 By setting 2 2 within a specific range, anti-glare film that exhibits high contrast without causing glare when the visibility of the high-definition image display device is prevented from being lowered due to whitening is prevented while exhibiting excellent anti-glare performance. This is provided.

먼저, 방현 필름의 미세 요철 표면의 표고의 에너지 스펙트럼에 대해서 설명한다. 도 1은 본 발명의 방현 필름의 표면을 모식적으로 도시하는 사시도이다. 도 1에 도시되는 바와 같이, 본 발명의 방현 필름(1)은, 그 표면에 미세한 요철(2)이 형성된 방현층을 갖는다. 여기서, 본 발명에서 말하는 「미세 요철 표면의 표고」란, 필름(1) 표면의 임의의 점 P에 있어서의, 미세 요철 표면의 최저점의 높이에 있어서 당해 높이를 갖는 가상적인 평면(표고는 기준으로서 0 ㎛)으로부터의 필름의 주(主)법선 방향(5)(상기 가상적인 평면에 있어서의 법선 방향)에 있어서의 직선 거리를 의미한다. 도 1에 도시하는 바와 같이, 필름면 내의 직교 좌표를 (x, y)로 표시했을 때에는, 미세 요철 표면의 표고는 좌표 (x, y)의 이차원 함수 h(x, y)로 나타낼 수 있다. 도 1에는, 필름 전체의 면을 투영면(3)으로 표시하고 있다.First, the energy spectrum of the elevation of the fine uneven surface of an anti-glare film is demonstrated. BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS It is a perspective view which shows typically the surface of the anti-glare film of this invention. As shown in FIG. 1, the anti-glare film 1 of this invention has an anti-glare layer in which the fine unevenness | corrugation 2 was formed in the surface. Here, the "elevation of the fine concavo-convex surface" referred to in the present invention is an imaginary plane having the height at the height of the lowest point of the fine concavo-convex surface at an arbitrary point P on the surface of the film 1 (the elevation is used as a reference). The straight line distance in the main normal direction 5 (normal direction in the said imaginary plane) of the film from 0 micrometer is meant. As shown in FIG. 1, when the Cartesian coordinates in a film plane are represented by (x, y), the elevation of a fine uneven surface can be represented by the two-dimensional function h (x, y) of coordinates (x, y). In FIG. 1, the surface of the whole film is shown by the projection surface 3. As shown in FIG.

미세 요철 표면의 표고는, 공초점 현미경, 간섭 현미경, 원자간력 현미경(AFM) 등의 장치에 의해 측정되는 표면 형상의 삼차원 정보로부터 구할 수 있다. 측정기에 요구되는 수평 분해능은, 적어도 5 ㎛ 이하, 바람직하게는 2 ㎛ 이하이고, 또한 수직 분해능은, 적어도 0.1 ㎛ 이하, 바람직하게는 0.01 ㎛ 이하이다. 이 측정에 적합한 비접촉 삼차원 표면 형상·거칠기 측정기로서는, New View 5000 시리즈[Zygo Corporation사 제조, 일본에서는 자이고(주)에서 입수 가능], 삼차원 현미경 PLμ2300[Sensofar사 제조] 등을 들 수 있다. 측정 면적은, 표고의 에너지 스펙트럼의 분해능이 0.01 ㎛-1 이하일 필요가 있기 때문에, 적어도 200 ㎛×200 ㎛ 이상으로 하는 것이 바람직하고, 보다 바람직하게는, 500 ㎛×500 ㎛ 이상이다.The elevation of the fine concavo-convex surface can be obtained from three-dimensional information of the surface shape measured by a device such as a confocal microscope, an interference microscope, an atomic force microscope (AFM). The horizontal resolution required for the measuring device is at least 5 µm or less, preferably 2 µm or less, and the vertical resolution is at least 0.1 µm or less, preferably 0.01 µm or less. Examples of the non-contact three-dimensional surface shape and roughness measuring instrument suitable for this measurement include the New View 5000 series (manufactured by Zygo Corporation, available from Zaigo Co., Ltd. in Japan), three-dimensional microscope PLμ2300 (manufactured by Sensofar Corporation), and the like. Since the resolution of the energy spectrum of the elevation is required to be 0.01 μm −1 or less, the measurement area is preferably at least 200 μm × 200 μm or more, and more preferably 500 μm × 500 μm or more.

다음으로, 이차원 함수 h(x, y)로부터 표고의 에너지 스펙트럼을 구하는 방법에 대해서 설명한다. 먼저, 이차원 함수 h(x, y)로부터, 식 (1)로 정의되는 이차원 푸리에 변환에 의해 이차원 함수 H(fx, fy)를 구한다.Next, the method of obtaining the energy spectrum of the elevation from the two-dimensional function h (x, y) will be described. First, from the two-dimensional function h (x, y), the two-dimensional function H (f x , f y ) is obtained by the two-dimensional Fourier transform defined by the formula (1).

Figure pat00001
Figure pat00001

여기서 fx 및 fy는 각각 x방향 및 y방향의 주파수이며, 길이의 역수의 차원을 갖는다. 또한, 식 (1) 중의 π는 원주율, i는 허수 단위이다. 얻어진 이차원 함수 H(fx, fy)를 제곱함으로써, 에너지 스펙트럼 H2(fx, fy)를 구할 수 있다. 이 에너지 스펙트럼 H2(fx, fy)는 방현 필름의 미세 요철 표면의 공간 주파수 분포를 나타내고 있다.Where f x and f y are frequencies in the x and y directions, respectively, and have dimensions of the inverse of the length. In addition, (pi) in Formula (1) is a circumference and i is an imaginary unit. By squaring the obtained two-dimensional functions H (f x , f y ), the energy spectrum H 2 (f x , f y ) can be obtained. The energy spectrum H 2 (f x, f y ) denotes the spatial frequency distribution of the minute uneven surface of the antiglare film.

이하, 방현 필름의 미세 요철 표면의 에너지 스펙트럼을 구하는 방법을 더 구체적으로 설명한다. 상기한 공초점 현미경, 간섭 현미경, 원자간력 현미경 등에 의해 실제로 측정되는 표면 형상의 삼차원 정보는 일반적으로 이산적인 값, 즉, 다수의 측정점에 대응하는 표고로서 얻어진다. 도 2는 표고를 나타내는 함수 h(x, y)가 이산적으로 얻어지는 상태를 도시하는 모식도이다. 도 2에 도시하는 바와 같이, 필름면 내의 직교 좌표를 (x, y)로 표시하고, 필름 투영면(3) 상에 x축 방향으로 Δx마다 분할한 선 및 y축 방향으로 Δy마다 분할한 선을 파선으로 나타내면, 실제 측정에서는 미세 요철 표면의 표고는 필름 투영면(3) 상의 각 파선의 교점마다의 이산적인 표고값으로서 얻어진다.Hereinafter, the method of obtaining the energy spectrum of the fine uneven surface of an anti-glare film is demonstrated more concretely. Three-dimensional information of the surface shape actually measured by the above confocal microscope, interference microscope, atomic force microscope, or the like is generally obtained as a discrete value, that is, an elevation corresponding to a plurality of measurement points. Fig. 2 is a schematic diagram showing a state where a function h (x, y) representing an elevation is obtained discretely. As shown in FIG. 2, the rectangular coordinates in the film plane are represented by (x, y), and the line divided by Δx in the x-axis direction and the line divided by Δy in the y-axis direction on the film projection surface 3. In broken lines, in actual measurement, the elevation of the fine uneven surface is obtained as a discrete elevation value for each intersection of each broken line on the film projection surface 3.

얻어지는 표고값의 수는 측정 범위와 Δx 및 Δy에 의해 결정되며, 도 2에 도시하는 바와 같이 x축 방향의 측정 범위를 X=MΔx라고 하고, y축 방향의 측정 범위를 Y=NΔy라고 하면, 얻어지는 표고값의 수는 (M+1)×(N+1)개이다.The number of elevation values obtained is determined by the measurement range and Δx and Δy. When the measurement range in the x-axis direction is X = MΔx and the measurement range in the y-axis direction is Y = NΔy, as shown in FIG. The number of elevation values obtained is (M + 1) x (N + 1) pieces.

도 2에 도시하는 바와 같이 필름 투영면(3) 상의 주목점 A의 좌표를 (jΔx, kΔy)(여기서 j는 0 이상 M 이하이고, k는 0 이상 N 이하임)라고 하면, 주목점 A에 대응하는 필름면 상의 점 P의 표고는 h(jΔx, kΔy)로 나타낼 수 있다.As shown in FIG. 2, if the coordinate of the point A on the film projection surface 3 is (jΔx, kΔy) (where j is 0 or more and M or less and k is 0 or more and N or less), it corresponds to the point A. The elevation of the point P on the film surface can be represented by h (jΔx, kΔy).

여기서, 측정 간격 Δx 및 Δy는 측정 기기의 수평 분해능에 의존하며, 정밀도 좋게 미세 요철 표면을 평가하기 위해서는, 상술한 바와 같이 Δx 및 Δy 모두 5 ㎛ 이하인 것이 바람직하고, 2 ㎛ 이하인 것이 보다 바람직하다. 또한, 측정 범위 X 및 Y는 상술한 바와 같이, 모두 200 ㎛ 이상이 바람직하고, 모두 500 ㎛ 이상이 보다 바람직하다.Here, the measurement intervals Δx and Δy depend on the horizontal resolution of the measuring device, and in order to accurately evaluate the fine uneven surface, it is preferable that both Δx and Δy are 5 μm or less, and more preferably 2 μm or less, as described above. In addition, as mentioned above, 200 micrometers or more are preferable and, as for the measurement range X and Y, all 500 micrometers or more are more preferable.

이와 같이 실제 측정에서는 미세 요철 표면의 표고를 나타내는 함수는 (M+1)×(N+1)개의 값을 갖는 이산 함수 h(x, y)로서 얻어진다. 측정에 의해 얻어진 이산 함수 h(x, y)와 식 (2)로 정의되는 이산 푸리에 변환에 의해 이산 함수 H(fx, fy)가 구해지고, 이산 함수 H(fx, fy)를 제곱함으로써 에너지 스펙트럼의 이산 함수 H2(fx, fy)가 구해진다. 식 (2) 중의 l은 -(M+1)/2 이상 (M+1)/2 이하의 정수이고, m은 -(N+1)/2 이상 (N+1)/2 이하의 정수이다. 또한, Δfx 및 Δfy는 각각 x방향 및 y방향의 주파수 간격이며, 식 (3) 및 식 (4)로 정의된다.Thus, in the actual measurement, a function representing the elevation of the surface of the fine unevenness is obtained as a discrete function h (x, y) having (M + 1) × (N + 1) values. A discrete function h (x, y) and equation (2) (f x, f y) that is obtained discrete function H (f x, f y) by a discrete Fourier transform, a discrete function H, defined as obtained by the measurement By squared, the discrete function H 2 (f x , f y ) of the energy spectrum is obtained. L in Formula (2) is an integer of-(M + 1) / 2 or more (M + 1) / 2 or less, m is an integer of-(N + 1) / 2 or more (N + 1) / 2 or less . Δf x and Δf y are frequency intervals in the x direction and the y direction, respectively, and are defined by equations (3) and (4).

Figure pat00002
Figure pat00002

Figure pat00003
Figure pat00003

Figure pat00004
Figure pat00004

도 3은 본 발명의 방현 필름의 미세 요철 표면의 표고를 이차원의 이산 함수 h(x, y)로 나타낸 것이다. 도 3에 있어서 표고는 백과 흑의 그라데이션으로 나타내고 있다. 도 3에 도시한 이산 함수 h(x, y)는 512×512개의 값을 가지며, 수평 분해능 Δx 및 Δy는 1.66 ㎛이다.Figure 3 shows the elevation of the surface of the fine irregularities of the anti-glare film of the present invention by the discrete function h (x, y) of two dimensions. In FIG. 3, the elevation is shown by the gradation of white and black. The discrete functions h (x, y) shown in FIG. 3 have 512 × 512 values, and the horizontal resolutions Δx and Δy are 1.66 μm.

또한, 도 4는 도 3에 도시한 이차원 함수 h(x, y)를 이산 푸리에 변환하여 얻어진 에너지 스펙트럼 H2(fx, fy)를 백과 흑의 그라데이션으로 나타낸 것이다. 도 4에 도시한 에너지 스펙트럼 H2(fx, fy)도 512×512개의 값을 갖는 이산 함수이며, 수평 분해능 Δfx 및 Δfy는 0.0012 ㎛-1이다.4 shows energy spectra H 2 (f x , f y ) obtained by discrete Fourier transforming the two-dimensional functions h (x, y) shown in FIG. 3 in white and black gradations. The energy spectrum H 2 (f x , f y ) shown in FIG. 4 is also a discrete function having 512 × 512 values, and the horizontal resolutions Δf x and Δf y are 0.0012 μm −1 .

도 3에 도시한 바와 같이 본 발명의 방현 필름의 미세 요철 표면은 요철이 랜덤하게 형성되어 있기 때문에, 도 4의 에너지 스펙트럼은 원점을 중심으로 대칭이 된다. 따라서, 공간 주파수 0.01 ㎛-1에 있어서의 에너지 스펙트럼 H1 2와, 공간 주파수 0.04 ㎛-1에 있어서의 에너지 스펙트럼 H2 2는 이차원 함수인 에너지 스펙트럼 H2(fx, fy)의 원점을 지나는 단면으로부터 구할 수 있다. 도 5에 도 4에 도시한 에너지 스펙트럼 H2(fx, fy)의 fx=0에 있어서의 단면을 도시하였다. 이것으로부터 공간 주파수 0.01 ㎛-1에 있어서의 에너지 스펙트럼 H1 2는 4.8, 공간 주파수 0.04 ㎛-1에 있어서의 에너지 스펙트럼 H2 2는 0.35이고, 비 H1 2/H2 2는 14인 것을 알 수 있다.As shown in FIG. 3, since the uneven surface of the anti-glare film of the present invention is irregularly formed at random, the energy spectrum of FIG. 4 is symmetric about the origin. Thus, the energy spectrum of the spatial frequency H 1 2 0.01 ㎛ -1, the zero point of the energy spectrum is a two-dimensional function, H 2 2 2 energy spectrum H (f x, f y) in the spatial frequency 0.04 ㎛ -1 It can be obtained from the cross section that passes. FIG. 5 shows a cross section at f x = 0 of the energy spectrum H 2 (f x , f y ) shown in FIG. 4. This shows that the energy spectrum H 1 2 at the spatial frequency of 0.01 μm −1 is 4.8, the energy spectrum H 2 2 at the spatial frequency of 0.04 μm −1 is 0.35, and the ratio H 1 2 / H 2 2 is 14. Can be.

상술한 바와 같이, 본 발명의 방현 필름은, 상기 미세 요철 표면의 표고의 공간 주파수 0.01 ㎛-1에 있어서의 에너지 스펙트럼 H1 2와, 공간 주파수 0.04 ㎛-1에 있어서의 에너지 스펙트럼 H2 2의 비 H1 2/H2 2가 3∼15인 것을 특징으로 한다. 에너지 스펙트럼의 비 H1 2/H2 2가 3을 하회하는 것은, 방현 필름의 미세 요철 표면에 포함되는 100 ㎛ 이상의 장주기의 요철 형상이 적고, 25 ㎛ 미만의 단주기의 요철 형상이 많은 것을 나타내고 있다. 그러한 경우에는 외광의 투영을 효과적으로 방지할 수 없어, 충분한 방현 성능이 얻어지지 않는다. 또한 이에 비하여, 에너지 스펙트럼의 비 H1 2/H2 2가 15를 상회하는 것은, 미세 요철 표면에 포함되는 100 ㎛ 이상의 장주기의 요철 형상이 많고, 25 ㎛ 미만의 단주기의 요철 형상이 적은 것을 나타내고 있다. 그러한 경우에는, 방현 필름은 고선명도 화상 표시 장치에 배치했을 때에 번쩍임을 발생시키는 경향이 있다. 또한, 미세 요철 표면에 포함되는 10 ㎛ 미만의 단주기 성분은, 방현성에 효과적으로 기여하지 않고, 미세 요철 표면에 입사된 빛을 산란시켜 백화의 원인이 되기 때문에, 적은 편이 바람직하다. 구체적으로는 공간 주파수 0.1 ㎛-1에 있어서의 에너지 스펙트럼을 H3 2라고 하면, 에너지 스펙트럼의 비 H3 2/H2 2는 0.1 이하인 것이 바람직하고, 0.01 이하인 것이 보다 바람직하다. 도 5에 도시한 에너지 스펙트럼에서는, 공간 주파수 0.1 ㎛-1에 있어서의 에너지 스펙트럼 H3 2는 0.00076이다. 이것으로부터 비 H3 2/H2 2는 0.0022인 것을 알 수 있다.As described above, according to the present invention an anti-glare film is, the energy spectrum of the spatial frequency of 0.01 ㎛ -1 elevation of the minute uneven surface H 1 and 2, the energy spectrum 2 H 2 in the spatial frequency 0.04 ㎛ -1 It characterized in that the ratio H 1 2 / H 2 2 is 3 to 15. When the ratio H 1 2 / H 2 2 of the energy spectrum is less than 3 indicates that there are few long-period irregularities of 100 μm or more included in the fine uneven surface of the antiglare film, and there are many short-period irregularities of less than 25 μm. have. In such a case, projection of external light cannot be prevented effectively, and sufficient anti-glare performance cannot be obtained. On the other hand, the ratio H 1 2 / H 2 2 of the energy spectrum exceeding 15 indicates that there are many long-period irregularities of 100 μm or more included in the fine uneven surface, and that there are few short-period irregularities of less than 25 μm. It is shown. In such a case, the antiglare film tends to generate glare when placed on a high definition image display device. Moreover, since the short period component of less than 10 micrometers contained in a fine uneven | corrugated surface does not contribute effectively to anti-glare property, and scatters the light incident on the fine uneven | corrugated surface, it becomes a cause of whitening, so it is preferable to use less. Specifically, when the energy spectrum at the spatial frequency of 0.1 μm −1 is H 3 2 , the ratio H 3 2 / H 2 2 of the energy spectrum is preferably 0.1 or less, and more preferably 0.01 or less. In the energy spectrum shown in FIG. 5, the energy spectrum H 3 2 at a spatial frequency of 0.1 μm −1 is 0.00076. This shows that ratio H 3 2 / H 2 2 is 0.0022.

본 발명자들은 또한, 방현 필름에 있어서, 미세 요철 표면이 특정한 경사 각도 분포를 나타내도록 하면, 우수한 방현 성능을 나타내면서, 백화를 효과적으로 방지하는 데 있어서 한층 더 유효한 것을 발견하였다. 즉, 본 발명의 방현 필름은, 미세 요철 표면의 경사 각도가 5°이하인 면의 비율이 95% 이상인 것이 바람직하다. 미세 요철 표면의 경사 각도가 5°이하인 면의 비율이 95%를 하회하거나 하면, 요철 표면의 경사 각도가 급해지고, 주위로부터의 빛을 집광하여, 표시면이 전체적으로 하얗게 되는 백화가 발생하기 쉬워진다. 이러한 집광 효과를 억제하여, 백화를 방지하기 위해서는, 미세 요철 표면의 경사 각도가 5°이하인 면의 비율이 높으면 높을수록 좋고, 97% 이상인 것이 바람직하며, 99% 이상인 것이 보다 바람직하다.The present inventors also found that, in the antiglare film, when the fine uneven surface shows a specific inclination angle distribution, it is more effective in effectively preventing whitening while exhibiting excellent antiglare performance. That is, it is preferable that the ratio of the surface whose inclination-angle of the surface of fine unevenness | corrugation is 5 degrees or less of the anti-glare film of this invention is 95% or more. When the ratio of the surface where the inclination angle of the fine uneven surface is 5 ° or less is less than 95%, the inclination angle of the uneven surface becomes steep, condensing light from the surroundings, and whitening of the display surface becomes white as a whole easily occurs. . In order to suppress such a light condensing effect and prevent whitening, the higher the ratio of the surface whose inclination-angle of the fine uneven | corrugated surface is 5 degrees or less is high, it is preferable that it is 97% or more, and it is more preferable that it is 99% or more.

여기서, 본 발명에서 말하는 「미세 요철 표면의 경사 각도」란, 도 1에 도시하는 방현 필름(1) 표면의 임의의 점 P에 있어서, 필름의 주법선 방향(5)에 대한, 거기에서의 요철을 가미한 국소적인 법선(6)이 이루는 각도(ψ)를 의미한다. 미세 요철 표면의 경사 각도에 대해서도 표고와 마찬가지로, 공초점 현미경, 간섭 현미경, 원자간력 현미경(AFM) 등의 장치에 의해 측정되는 표면 형상의 삼차원 정보로부터 구할 수 있다.Here, the "inclination angle of the fine uneven | corrugated surface" said by this invention is the unevenness | corrugation in the main normal direction 5 of a film in arbitrary point P of the anti-glare film 1 surface shown in FIG. It means the angle (ψ) formed by the local normal (6) with the addition of. Similarly to the elevation, the inclination angle of the fine uneven surface can be obtained from three-dimensional information of the surface shape measured by a device such as a confocal microscope, an interference microscope, and an atomic force microscope (AFM).

여기서, 도 6은 미세 요철 표면의 경사 각도의 측정 방법을 설명하기 위한 모식도이다. 구체적인 경사 각도의 결정 방법을 설명하면, 도 6에 도시하는 바와 같이, 점선으로 나타나는 가상적인 평면 FGHI 상의 주목점 A를 결정하고, 거기를 지나는 x축 상의 주목점 A의 근방에, 점 A에 대하여 거의 대칭으로 점 B 및 D를, 또한 점 A를 지나는 y축 상의 주목점 A의 근방에, 점 A에 대하여 거의 대칭으로 점 C 및 E를 취하고, 이들 점 B, C, D, E에 대응하는 필름면 상의 점 Q, R, S, T를 결정한다. 또한 도 6에서는, 필름면 내의 직교 좌표를 (x, y)로 표시하고, 필름 두께 방향의 좌표를 z로 표시하고 있다. 평면 FGHI는, y축 상의 점 C를 지나는 x축에 평행한 직선, 및 마찬가지로 y축 상의 점 E를 지나는 x축에 평행한 직선과, x축 상의 점 B를 지나는 y축에 평행한 직선, 및 마찬가지로 x축 상의 점 D를 지나는 y축에 평행한 직선의 각각의 교점 F, G, H, I에 의해 형성되는 면이다. 또한 도 6에서는, 평면 FGHI에 대하여, 실제의 필름면의 위치가 상방에 오도록 그려져 있으나, 주목점 A가 취하는 위치에 따라 당연하지만, 실제의 필름면의 위치가 평면 FGHI의 상방에 오는 경우도 있고, 하방에 오는 경우도 있다.Here, FIG. 6: is a schematic diagram for demonstrating the measuring method of the inclination-angle of the fine uneven | corrugated surface. Referring to Fig. 6, a method for determining a specific inclination angle is to determine a point A on an imaginary plane FGHI, which is indicated by a dotted line, and to the point A near the point A on the x-axis passing therethrough. Points B and D almost symmetrically, and near points of interest A on the y-axis passing through point A, take points C and E almost symmetrically with respect to point A, corresponding to these points B, C, D, E The points Q, R, S and T on the film plane are determined. In addition, in FIG. 6, the rectangular coordinates in a film plane are represented by (x, y), and the coordinate of the film thickness direction is represented by z. The plane FGHI is a straight line parallel to the x axis passing through point C on the y axis, and similarly a straight line parallel to the x axis passing through the point E on the y axis, a straight line parallel to the y axis passing through the point B on the x axis, and Similarly, it is a surface formed by the intersections F, G, H, and I of a straight line parallel to the y axis passing through the point D on the x axis. In addition, in FIG. 6, although the actual film surface position is drawn upwards with respect to the plane FGHI, although the position of the attention point A is taken as a matter of course, the actual film surface position may come above the plane FGHI in some cases. If you come down.

그리고, 얻어지는 표면 형상 데이터의 경사 각도는, 주목점 A에 대응하는 실제의 필름면 상의 점 P와, 그 근방에 취해진 4점 B, C, D, E에 대응하는 실제의 필름면 상의 점 Q, R, S, T의 합계 5점에 의해 뻗어나가는 폴리곤 4평면, 즉, 4개의 삼각형 PQR, PRS, PST, PTQ의 각 법선 벡터(6a, 6b, 6c, 6d)를 평균하여 얻어지는 평균 법선 벡터(6)의 극각(極角)을 구함으로써 얻을 수 있다. 각 측정점에 대해서 경사 각도를 구한 후, 막대 그래프가 계산된다.And the inclination angle of the surface shape data obtained is the point P on the actual film surface corresponding to the attention point A, the point Q on the actual film surface corresponding to 4 points B, C, D, E taken in the vicinity, An average normal vector obtained by averaging four normal planes of a polygon extending from five points of R, S, and T, that is, four normal vectors 6a, 6b, 6c, and 6d of four triangles PQR, PRS, PST, and PTQ. This can be obtained by obtaining the polar angle of 6). After obtaining the inclination angle for each measurement point, a bar graph is calculated.

도 7은 방현 필름의 미세 요철 표면의 경사 각도 분포의 막대 그래프의 일례를 도시하는 그래프이다. 도 7에 도시하는 그래프에 있어서, 가로축은 경사 각도이며, 0.5°피치로 분할되어 있다. 예컨대, 가장 좌측의 세로 막대는, 경사 각도가 0°∼0.5°의 범위에 있는 집합의 분포를 나타내고, 이하, 우측으로 감에 따라 각도가 0.5°씩 커지고 있다. 도면에서는, 가로축의 2눈금마다 값의 하한값을 표시하고 있으며, 예컨대, 가로축에서 「1」이라고 되어 있는 부분은, 경사 각도가 1°∼1.5°의 범위에 있는 집합의 분포를 나타낸다. 또한, 세로축은 경사 각도의 분포를 나타내며, 합계하면 1이 되는 값이다. 이 예에서는, 경사 각도가 5°이하인 면의 비율은 대략 100%이다.It is a graph which shows an example of the bar graph of the inclination-angle distribution of the fine uneven surface of an anti-glare film. In the graph shown in FIG. 7, the horizontal axis is an inclination angle and is divided into 0.5 ° pitches. For example, the leftmost vertical bar represents the distribution of a set in which the inclination angle is in the range of 0 ° to 0.5 °, and the angle is increased by 0.5 ° as it goes to the right. In the figure, the lower limit of the value is displayed for every two divisions of the horizontal axis. For example, the portion labeled "1" on the horizontal axis shows the distribution of the set in which the inclination angle is in the range of 1 ° to 1.5 °. In addition, the vertical axis | shaft shows the distribution of the inclination-angle, and when it adds up, it is a value. In this example, the proportion of the face at the inclination angle of 5 degrees or less is approximately 100%.

본 발명의 방현 필름은 또한, 화상 표시 장치의 표면에 배치했을 때에, 높은 콘트라스트를 효과적으로 발현할 수 있는 관점에서, 방현층 중에 0.4 ㎛ 이상의 미립자를 포함하지 않는 것이 바람직하다. 종래의 방현 필름은 미립자를 분산시킨 수지 용액을 기재 시트 상에 도포하고, 도포막 두께를 조정하여 미립자를 도포막 표면에 노출시킴으로써 랜덤한 요철을 시트 상에 형성하는 방법 등에 의해 제조되고 있다. 이러한 미립자를 분산시킴으로써 제조된 방현 필름은, 번쩍임을 해소하기 위해서, 바인더 수지와 미립자 사이에 굴절률 차를 마련하여 빛을 산란시키고 있는 경우가 많다. 그러한 방현 필름을 화상 표시 장치의 표면에 배치했을 때에는, 미립자와 바인더 수지 계면에 있어서의 빛의 산란에 의해, 콘트라스트가 저하된다. 본 발명의 방현 필름에 있어서는, 미세 요철 표면의 주파수 분포를 적절하게 설계하고 있기 때문에, 빛을 산란시켜 번쩍임을 해소할 필요가 없다. 따라서, 콘트라스트의 저하의 원인이 되는 0.4 ㎛ 이상의 미립자는 포함하지 않는 것이 바람직하다. It is preferable that the anti-glare film of this invention does not contain 0.4 micrometer or more in an anti-glare layer from a viewpoint which can express high contrast effectively, when arrange | positioned on the surface of an image display apparatus. The conventional anti-glare film is manufactured by the method of apply | coating the resin solution which disperse | distributed microparticles | fine-particles on a base sheet, adjusting a coating film thickness, and exposing microparticles | fine-particles to a coating film surface, and forming random unevenness | corrugation on a sheet | seat. The antiglare film produced by dispersing such fine particles often scatters light by providing a difference in refractive index between the binder resin and the fine particles in order to eliminate glare. When arrange | positioning such an anti-glare film on the surface of an image display apparatus, contrast falls by scattering of the light in a microparticle and binder resin interface. In the anti-glare film of the present invention, since the frequency distribution on the surface of the fine unevenness is appropriately designed, it is not necessary to scatter the light and eliminate the glare. Therefore, it is preferable not to contain microparticles | fine-particles 0.4 micrometers or more which cause a fall of contrast.

<방현 필름의 제조 방법><Method for Producing Anti-glare Film>

본 발명의 방현 필름은, 상기한 주파수 분포를 갖는 미세 요철 표면을 정밀도 좋게 형성하기 위해서, 에너지 스펙트럼이 0 ㎛-1 초과 0.04 ㎛-1 이하에 극대값을 갖지 않는 패턴을 이용하여 제작하는 것이 바람직하다. 여기서, 「패턴」이란, 본 발명의 방현 필름의 미세 요철 표면을 형성하기 위한 화상 데이터나 투광부와 차광부를 갖는 마스크 등을 의미한다.In order to form the fine uneven | corrugated surface which has said frequency distribution with high precision, it is preferable to produce the anti-glare film of this invention using the pattern which does not have a local maximum in more than 0 micrometer -1 and 0.04 micrometer -1 or less. . Here, a "pattern" means the image data for forming the fine uneven surface of the anti-glare film of this invention, the mask which has a light transmission part, and a light shielding part.

패턴의 에너지 스펙트럼은, 예컨대 화상 데이터이면, 화상 데이터를 256계조의 그레이 스케일로 변환한 후, 화상 데이터의 계조를 이차원 함수 g(x, y)로 나타내고, 얻어진 이차원 함수 g(x, y)를 푸리에 변환하여 이차원 함수 G(fx, fy)를 계산하며, 얻어진 이차원 함수 G(fx, fy)를 제곱함으로써 구해진다. 또한, 투광부와 차광부를 갖는 마스크이면, 투과율을 이차원 함수 t(x, y)로 나타내고, 얻어진 이차원 함수 t(x, y)를 푸리에 변환하여 이차원 함수 T(fx, fy)를 계산하며, 얻어진 이차원 함수 T(fx, fy)를 제곱함으로써 구해진다. 여기서, x 및 y는 화상 데이터면 내 또는 마스크면 내의 직교 좌표를 나타내고, fx 및 fy는 x방향의 주파수 및 y방향의 주파수를 나타내고 있다.If the energy spectrum of the pattern is, for example, image data, after converting the image data to 256 gray scales, the gray scale of the image data is represented by the two-dimensional function g (x, y), and the obtained two-dimensional function g (x, y) is represented. Fourier transform is used to calculate the two-dimensional function G (f x , f y ), and is obtained by squaring the obtained two-dimensional function G (f x , f y ). In the case of a mask having a light transmitting portion and a light shielding portion, the transmittance is represented by a two-dimensional function t (x, y), and the obtained two-dimensional function t (x, y) is Fourier transformed to calculate the two-dimensional function T (f x , f y ). Is obtained by squaring the obtained two-dimensional functions T (f x , f y ). Here, x and y represent rectangular coordinates in the image data plane or in the mask plane, and f x and f y represent frequencies in the x direction and frequencies in the y direction.

미세 요철 표면의 표고의 에너지 스펙트럼을 구하는 경우와 마찬가지로, 패턴의 에너지 스펙트럼을 구하는 경우에 대해서도, 계조의 이차원 함수 g(x, y)나 투과율의 이차원 함수 t(x, y)는 이산 함수로서 얻어지는 경우가 일반적이다. 그 경우에는, 미세 요철 표면의 표고의 에너지 스펙트럼을 구하는 경우와 마찬가지로, 이산 푸리에 변환에 의해, 에너지 스펙트럼을 계산하면 된다.As in the case of obtaining the energy spectrum of the elevation of the fine uneven surface, also in the case of obtaining the energy spectrum of the pattern, the two-dimensional function g (x, y) of gray level and the two-dimensional function t (x, y) of transmittance are obtained as discrete functions. The case is common. In that case, the energy spectrum may be calculated by the Discrete Fourier Transform as in the case of obtaining the energy spectrum of the elevation of the fine uneven surface.

도 8은 본 발명의 방현 필름을 제작하기 위해서 이용한 패턴(후술하는 실시예 1의 금형 제작 시에 사용한 패턴)인 화상 데이터의 일부를, 계조의 이차원 이산 함수 g(x, y)로 나타낸 도면이다. 도 8에 도시한 이차원 이산 함수 g(x, y)는 512×512개의 값을 가지며, 수평 분해능 Δx 및 Δy는 2 ㎛이다. 또한, 도 8에 도시한 패턴인 화상 데이터는 2 ㎜×2 ㎜의 크기이며, 12800 dpi로 작성하였다. FIG. 8 is a diagram showing a part of image data that is a pattern (a pattern used in fabrication of the mold of Example 1 to be described later) used for producing the antiglare film of the present invention as a gray scale two-dimensional discrete function g (x, y). FIG. . The two-dimensional discrete functions g (x, y) shown in FIG. 8 have values of 512 × 512, and the horizontal resolutions Δx and Δy are 2 μm. In addition, the image data which is the pattern shown in FIG. 8 was 2 mm x 2 mm in size, and was created at 12800 dpi.

도 9는 도 8에 도시한 계조의 이차원 이산 함수 g(x, y)를 이산 푸리에 변환하여 얻어진 에너지 스펙트럼 G2(fx, fy)를 백과 흑의 그라데이션으로 나타낸 도면이다. 도 8에 도시한 이산 함수 G2(fx, fy)도 512×512개의 값을 가지며, 수평 분해능 Δfx 및 Δfy는 0.0010 ㎛-1이다. 도 8에 도시한 바와 같이 본 발명의 방현 필름을 제조하기 위해서 작성한 패턴은 랜덤하기 때문에, 도 9의 에너지 스펙트럼은 원점을 중심으로 대칭이 된다. 따라서, 패턴의 에너지 스펙트럼의 극대값은 에너지 스펙트럼의 원점을 지나는 단면으로부터 구할 수 있다. 도 10은 도 9에 도시한 에너지 스펙트럼 G2(fx, fy)의 fx=0에 있어서의 단면을 도시하는 도면이다. 이것으로부터 도 8에 도시한 패턴은 공간 주파수 0.045 ㎛-1에 극대값을 갖지만, 0 ㎛-1 초과 0.04 ㎛-1 이하에는 극대값을 갖지 않는 것을 알 수 있다.FIG. 9 is a diagram showing energy spectra G 2 (f x , f y ) obtained by discrete Fourier transforming the two-dimensional discrete functions g (x, y) of the gray scale shown in FIG. The discrete functions G 2 (f x , f y ) shown in FIG. 8 also have 512 × 512 values, and the horizontal resolutions Δf x and Δf y are 0.0010 μm −1 . As shown in FIG. 8, since the pattern created in order to manufacture the anti-glare film of this invention is random, the energy spectrum of FIG. 9 becomes symmetric about an origin. Therefore, the local maximum of the energy spectrum of the pattern can be obtained from the cross section passing through the origin of the energy spectrum. 10 is a view showing a cross-section of the f x = 0 of the energy spectrum G 2 (f x, f y ) shown in Fig. This shows that the pattern shown in FIG. 8 has a maximum value at the spatial frequency of 0.045 μm −1 , but does not have a maximum value of more than 0 μm −1 and 0.04 μm −1 or less.

방현 필름을 제작하기 위한 패턴의 에너지 스펙트럼이 0 ㎛-1 초과 0.04 ㎛-1 이하에 극대값을 갖는 경우에는, 결과로서 얻어지는 방현 필름의 미세 요철 표면의 주파수 분포가, 본 발명의 요건을 만족시키지 않게 되기 때문에, 번쩍임의 해소와 충분한 방현성을 겸비할 수 없다. When the energy spectrum of the pattern for producing an antiglare film has a local maximum of more than 0 µm -1 and 0.04 µm -1 or less, the frequency distribution of the fine uneven surface of the resulting antiglare film does not satisfy the requirements of the present invention. Therefore, it cannot combine the elimination of glare and sufficient anti-glare.

에너지 스펙트럼이 0 ㎛-1 초과 0.04 ㎛-1 이하에는 극대값을 갖지 않는 패턴을 작성하기 위해서는, 20 ㎛ 미만의 도트 직경을 랜덤하고 균일하게 배치하면 된다. 랜덤하게 배치하는 도트 직경은 1종류여도 되고, 복수 종류여도 된다.What is necessary is just to arrange the dot diameter less than 20 micrometers randomly and uniformly in order to produce the pattern which does not have a maximum in the energy spectrum more than 0 micrometer -1 and 0.04 micrometer -1 or less. One type or two or more types of dot diameters which are arrange | positioned at random may be sufficient.

상술한 패턴을 이용한 미세 요철 표면을 갖는 방현 필름은, 인쇄법, 패턴 노광법, 엠보스법 등에 의해 제조할 수 있다. 예컨대, 인쇄법에서는, 광경화성 수지 또는 열경화성 수지를 이용한 플렉소 인쇄, 스크린 인쇄, 잉크젯 인쇄 등에 의해, 상술한 패턴을 투명 지지체 상에 인쇄하여 제작한 후, 건조, 또는, 활성 광선 또는 가열에 의해 경화시킴으로써, 본 발명의 방현 필름을 제조할 수 있다.The anti-glare film which has a fine uneven surface using the pattern mentioned above can be manufactured by the printing method, the pattern exposure method, the embossing method, etc. For example, in the printing method, the above-described pattern is printed on the transparent support by flexographic printing, screen printing, inkjet printing using a photocurable resin or a thermosetting resin, and then produced, followed by drying or by actinic light or heating. By hardening, the anti-glare film of this invention can be manufactured.

예컨대, 플렉소 인쇄에 있어서는, 상술한 패턴에 기초한 볼록판인 플렉소판을 제작하고, 플렉소판의 볼록부에 광경화성 수지를 도포하며, 도포된 광경화성 수지를 투명 지지체 상에 전사한 후, 활성 광선에 의해 경화함으로써, 상술한 패턴에 기초한 미세 요철을 투명 지지체 상에 형성할 수 있다. 스크린 인쇄이면, 상술한 패턴에 기초한 공판(孔版)인 스크린을 제작하고, 그 스크린과 광경화성 수지를 이용하여, 상술한 패턴을 투명 지지체 상에 인쇄한 후, 활성 광선에 의해 광경화성 수지를 경화함으로써, 미세 요철을 투명 지지체 상에 형성할 수 있다. 잉크젯 인쇄이면, 상술한 패턴을 투명 지지체 상에 직접적으로 광경화성 수지를 이용하여 인쇄하고, 그 후, 광경화성 수지를 활성 광선에 의해 경화함으로써, 미세 요철을 투명 지지체 상에 형성할 수 있다. 이러한 인쇄법에 의해 형성된 미세 요철은 일반적으로 경사 각도가 급하며, 투명 지지체 상에 수지층이 형성되어 있지 않은 부위가 존재하기 때문에, 인쇄법에 의해 형성된 미세 요철 상에 또한 광경화성 수지를 도공하여, 경사 각도를 평활화함과 아울러, 투명 지지체 상 전체면에 수지층을 형성하는 것이 바람직하다.For example, in flexographic printing, after producing a flexo plate, which is a convex plate based on the above-described pattern, applying a photocurable resin to the convex portion of the flexo plate, transferring the applied photocurable resin onto the transparent support, and then actinic light By hardening by, fine unevenness | corrugation based on the pattern mentioned above can be formed on a transparent support body. If it is screen printing, the screen which is a stencil based on the above-mentioned pattern is produced, and after printing the above-mentioned pattern on a transparent support body using the screen and photocurable resin, hardening a photocurable resin by actinic light. Thereby, fine unevenness | corrugation can be formed on a transparent support body. In the case of inkjet printing, fine irregularities can be formed on the transparent support by printing the above-mentioned pattern directly on the transparent support using a photocurable resin, and then curing the photocurable resin with actinic light. Since the fine concavo-convex formed by this printing method generally has a steep inclination and there is a portion where the resin layer is not formed on the transparent support, a photocurable resin is also coated on the fine concave-convex formed by the printing method. It is preferable to smooth the inclination angle and to form a resin layer on the entire surface on the transparent support.

패턴 노광법에서는 광경화성 수지를 투명 지지체 상에 도포한 후, 상술한 패턴을 이용한 레이저에 의한 직접 묘화 노광이나, 상술한 패턴을 갖는 마스크를 통한 전면 노광에 의해, 패턴 노광을 행하고, 필요에 따라 현상한 후, 활성 광선 또는 가열에 의해 경화시킴으로써, 본 발명의 방현 필름을 제조할 수 있다. 레이저에 의한 직접 묘화 노광에서는, 광경화성 수지를 투명 지지체 상에 도포한 후, 상술한 패턴을 레이저광에 의해 직접 묘화 노광하고, 현상에 의해 노광된 부위를 잔존 또는 용해시키며, 또한 잔존한 광경화성 수지에 활성 광선을 조사하여 완전히 경화시킴으로써, 상술한 패턴에 기초한 미세 요철을 투명 지지체 상에 형성할 수 있다. 이러한 레이저에 의한 직접 묘화 노광에 의해 형성된 미세 요철은, 일반적으로 경사 각도가 급하기 때문에, 레이저에 의한 직접 묘화 노광에 의해 형성된 미세 요철 상에 더 광경화성 수지를 도공하여, 경사 각도를 평활화하는 것이 바람직하다. 마스크를 통한 전면 노광에 있어서는, 상술한 패턴을 갖는 마스크를 제작하고, 광경화성 수지를 투명 지지체 상에 도포한 후, 그 마스크를 통해 광경화성 수지를 노광하며, 현상 공정에 있어서 노광된 부위를 잔존 또는 용해시키고, 또한 잔존한 광경화성 수지에 활성 광선을 조사하여 완전히 경화시킴으로써, 상술한 패턴에 기초한 미세 요철을 투명 지지체 상에 형성할 수 있다. 마스크를 통한 전면 노광에 있어서는, 미세 요철의 경사 각도는 프록시미티 갭(proximity gap)을 적절하게 제어함으로써 제어할 수도 있고, 마스크를 계조 마스크로서 제작함으로써 노광 정도를 제어하는 것에 의해서도 제어할 수 있다.In the pattern exposure method, after apply | coating photocurable resin on a transparent support body, pattern exposure is performed by direct drawing exposure by the laser which used the pattern mentioned above, or the front surface exposure through the mask which has the pattern mentioned above, and if necessary, After developing, the antiglare film of the present invention can be produced by curing by actinic light or heating. In the direct drawing exposure by a laser, after apply | coating photocurable resin on a transparent support body, the above-mentioned pattern is directly drawn and exposed by a laser beam, the site | part exposed by development remains or melt | dissolves, and the remaining photocurable By irradiating active light to resin and fully hardening, fine unevenness | corrugation based on the pattern mentioned above can be formed on a transparent support body. Since the fine indentations formed by the direct drawing exposure by such a laser generally have a steep inclination, it is preferable to coat the photocurable resin on the fine unevenness formed by the direct drawing exposure by a laser to smooth the inclination angle. desirable. In the whole surface exposure through a mask, after manufacturing the mask which has the above-mentioned pattern, apply | coated photocurable resin on a transparent support body, photocurable resin is exposed through the mask, and the site | part exposed by the development process remains. Alternatively, the fine concavo-convex based on the above-described pattern can be formed on the transparent support by dissolving and completely curing the remaining photocurable resin by irradiating active light. In the entire surface exposure through the mask, the inclination angle of the fine unevenness can be controlled by appropriately controlling the proximity gap, and can also be controlled by controlling the exposure degree by producing the mask as a gradation mask.

엠보스법에서는, 상술한 패턴을 이용하여 미세 요철 표면을 갖는 금형을 제조하고, 제조된 금형의 요철면을 투명 지지체 상에 전사하며, 이어서 요철면이 전사된 투명 지지체를 금형으로부터 박리함으로써, 본 발명의 방현 필름을 제조할 수 있다. 여기서, 본 발명의 방현 필름은, 미세 요철 표면을 정밀도 좋게, 또한, 재현성 좋게 제조하는 관점에서, 엠보스법에 의해 제조되는 것이 바람직하다.In the embossing method, a mold having a fine concavo-convex surface is produced using the above-described pattern, the concavo-convex surface of the manufactured mold is transferred onto a transparent support, and then the transparent support on which the concave-convex surface is transferred is peeled off from the mold. The anti-glare film of the invention can be produced. Here, it is preferable that the anti-glare film of this invention is manufactured by the embossing method from a viewpoint of manufacturing fine uneven | corrugated surface with high precision and reproducibility.

여기서, 엠보스법으로서는, 광경화성 수지를 이용하는 UV 엠보스법, 열가소성 수지를 이용하는 핫엠보스법이 예시되고, 그 중에서도, 생산성의 관점에서, UV 엠보스법이 바람직하다.Here, as an embossing method, the UV embossing method using a photocurable resin and the hot embossing method using a thermoplastic resin are illustrated, Especially, a UV embossing method is preferable from a viewpoint of productivity.

UV 엠보스법은, 투명 지지체의 표면에 광경화성 수지층을 형성하고, 그 광경화성 수지층을 금형의 요철면에 밀어붙이면서 경화시킴으로써, 금형의 요철면이 광경화성 수지층에 전사되는 방법이다. 구체적으로는, 투명 지지체 상에 자외선 경화형 수지를 도공하고, 도공한 자외선 경화형 수지를 금형의 요철면에 밀착시킨 상태에서 투명 지지체측으로부터 자외선을 조사하여 자외선 경화형 수지를 경화시키며, 그 후 금형으로부터, 경화 후의 자외선 경화형 수지층이 형성된 투명 지지체를 박리함으로써, 금형의 형상을 자외선 경화형 수지에 전사한다.The UV embossing method is a method in which the uneven surface of the mold is transferred to the photocurable resin layer by forming a photocurable resin layer on the surface of the transparent support and curing the photocurable resin layer while pushing the concave and convex surface of the mold. Specifically, the ultraviolet curable resin is coated on the transparent support, the ultraviolet curable resin is irradiated from the transparent support side in the state in which the coated ultraviolet curable resin is brought into close contact with the uneven surface of the mold, and the ultraviolet curable resin is cured. The shape of the metal mold | die is transferred to ultraviolet curable resin by peeling the transparent support body in which the ultraviolet curable resin layer after hardening was formed.

UV 엠보스법을 이용하는 경우, 투명 지지체로서는, 실질적으로 광학적으로 투명한 필름이면 되고, 예컨대 트리아세틸셀룰로오스 필름, 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름, 폴리메틸메타크릴레이트 필름, 폴리카보네이트 필름, 노르보르넨계 화합물을 모노머로 하는 비결정성 환상 폴리올레핀 등의 열가소성 수지의 용제 캐스트 필름이나 압출 필름 등의 수지 필름을 들 수 있다.When the UV embossing method is used, the transparent support may be a substantially optically transparent film. For example, a triacetyl cellulose film, a polyethylene terephthalate film, a polymethyl methacrylate film, a polycarbonate film, or a norbornene-based compound may be used as a monomer. And resin films such as solvent cast films and extruded films of thermoplastic resins such as amorphous cyclic polyolefins.

또한 UV 엠보스법을 이용하는 경우에 있어서의 자외선 경화형 수지의 종류는 특별히 한정되지 않으나, 시판되는 적절한 것을 이용할 수 있다. 또한, 자외선 경화형 수지에 적절하게 선택된 광개시제를 조합하여, 자외선보다 파장이 긴 가시광에서도 경화가 가능한 수지를 이용하는 것도 가능하다. 구체적으로는, 트리메틸올프로판트리아크릴레이트, 펜타에리스리톨테트라아크릴레이트 등의 다관능 아크릴레이트를 각각 단독으로, 또는 이들 2종 이상을 혼합하여 이용하고, 그것과 이르가큐어 907(치바 스페셜티 케미컬즈사 제조), 이르가큐어 184(치바 스페셜티 케미컬즈사 제조), 루시린 TPO(BASF사 제조) 등의 광중합 개시제를 혼합한 것을 적합하게 이용할 수 있다.Moreover, although the kind of ultraviolet curable resin in the case of using the UV embossing method is not specifically limited, A commercially available suitable thing can be used. Moreover, it is also possible to use the resin which can harden | cure even visible light which has a wavelength longer than an ultraviolet-ray by combining the photoinitiator suitably selected with ultraviolet curable resin. Specifically, polyfunctional acrylates, such as trimethylol propane triacrylate and pentaerythritol tetraacrylate, are used alone or in combination of two or more thereof, and Irgacure 907 (Ciba Specialty Chemicals, Inc.) is used. ), A mixture of photopolymerization initiators such as Irgacure 184 (manufactured by Chiba Specialty Chemicals) and Lucirin TPO (manufactured by BASF) can be suitably used.

한편, 핫엠보스법은, 열가소성 수지로 형성된 투명 지지체를 가열 상태에서 금형에 밀어붙여, 금형의 표면 형상을 투명 지지체에 전사하는 방법이다. 핫엠보스법에 이용하는 투명 지지체로서는, 실질적으로 투명한 것이면 어떠한 것이어도 되고, 예컨대, 폴리메틸메타크릴레이트, 폴리카보네이트, 폴리에틸렌테레프탈레이트, 트리아세틸셀룰로오스, 노르보르넨계 화합물을 모노머로 하는 비결정성 환상 폴리올레핀 등의 열가소성 수지의 용제 캐스트 필름이나 압출 필름 등을 이용할 수 있다. 이들 투명 수지 필름은 또한, 위에서 설명한 UV 엠보스법에 있어서의 자외선 경화형 수지를 도공하기 위한 투명 지지체로서도 적합하게 이용할 수 있다.On the other hand, the hot embossing method is a method in which a transparent support formed of a thermoplastic resin is pushed onto a mold in a heated state to transfer the surface shape of the mold to the transparent support. As a transparent support body used for a hot embossing method, what kind of thing may be sufficient as it is substantially transparent, For example, amorphous cyclic polyolefin etc. which make polymethyl methacrylate, a polycarbonate, a polyethylene terephthalate, a triacetyl cellulose, a norbornene-type compound as a monomer Solvent cast films, extruded films, and the like of thermoplastic resins may be used. These transparent resin films can also be used suitably also as a transparent support body for coating the ultraviolet curable resin in the UV embossing method demonstrated above.

<방현 필름 제조용 금형의 제조 방법><Method for producing mold for antiglare film production>

이하에서는, 본 발명의 방현 필름의 제조에 이용하는 금형을 제조하는 방법에 대해서 설명한다. 본 발명의 방현 필름의 제조에 이용하는 금형의 제조 방법에 대해서는, 상술한 패턴을 이용한 소정의 표면 형상이 얻어지는 방법이면, 특별히 제한되지 않으나, 미세 요철 표면을 정밀도 좋게, 또한, 재현성 좋게 제조하기 위해서, 〔1〕제1 도금 공정과, 〔2〕연마 공정과, 〔3〕감광성 수지막 도포 공정과, 〔4〕노광 공정과, 〔5〕현상 공정과, 〔6〕제1 에칭 공정과, 〔7〕감광성 수지막 박리 공정과, 〔8〕제2 도금 공정을 기본적으로 포함하는 것이 바람직하다. 도 11은 금형의 제조 방법의 전반 부분의 바람직한 일례를 모식적으로 도시하는 도면이다. 도 11에는 각 공정에서의 금형의 단면을 모식적으로 도시되어 있다. 도 11을 참조하면서, 본 금형의 제조 방법의 각 공정에 대해서 상세히 설명한다. Hereinafter, the method of manufacturing the metal mold | die used for manufacture of the anti-glare film of this invention is demonstrated. The manufacturing method of the metal mold | die used for manufacture of the anti-glare film of this invention will not be restrict | limited especially if it is a method of obtaining the predetermined surface shape using the pattern mentioned above, In order to manufacture fine uneven | corrugated surface with high precision and reproducibility, [1] first plating step, [2] polishing step, [3] photosensitive resin film coating step, [4] exposure step, [5] developing step, [6] first etching step, [ 7] It is preferable to basically include a photosensitive resin film peeling process and a [8] 2nd plating process. It is a figure which shows typically a preferable example of the first half part of the manufacturing method of a metal mold | die. 11, the cross section of the metal mold | die in each process is shown typically. Each process of the manufacturing method of this metal mold is demonstrated in detail, referring FIG.

〔1〕제1 도금 공정[1] first plating process

본 금형의 제조 방법에서는 먼저, 금형에 이용하는 기재의 표면에, 구리 도금 또는 니켈 도금을 실시한다. 이와 같이, 금형용 기재의 표면에 구리 도금 또는 니켈 도금을 실시함으로써, 이후의 제2 도금 공정에서의 크롬 도금의 밀착성이나 광택성을 향상시킬 수 있다. 즉, 배경 기술로서 상술한 바와 같이, 철 등의 표면에 크롬 도금을 실시한 경우, 또는 크롬 도금 표면에 샌드 블라스트법이나 비즈샷법 등으로 요철을 형성하고 나서 재차 크롬 도금을 실시한 경우에는, 표면이 거칠어지기 쉽고, 미세한 크랙이 발생하여, 금형 표면의 요철 형상이 제어하기 어려워진다. 이에 비하여, 먼저, 기재 표면에 구리 도금 또는 니켈 도금을 실시해 둠으로써, 이러한 문제를 없앨 수 있다. 이것은, 구리 도금 또는 니켈 도금은, 피복성이 높고, 또한 평활화 작용이 강하기 때문에, 금형용 기재의 미소한 요철이나 공동(cavity) 등을 메워 평탄하고 광택이 있는 표면을 형성하기 때문이다. 이들 구리 도금 또는 니켈 도금의 특성에 의해, 후술하는 제2 도금 공정에 있어서 크롬 도금을 실시했다고 해도, 기재에 존재하고 있던 미소한 요철이나 공동(cavity)에 기인한다고 생각되는 크롬 도금 표면의 거칠음이 해소되고, 또한, 구리 도금 또는 니켈 도금의 높은 피복성에 의해, 미세한 크랙의 발생이 저감된다. In the manufacturing method of this metal mold | die, first, copper plating or nickel plating is given to the surface of the base material used for a metal mold | die. Thus, by performing copper plating or nickel plating on the surface of the base material for metal mold | die, the adhesiveness and glossiness of chrome plating in a subsequent 2nd plating process can be improved. That is, as described above as a background art, when chromium plating is performed on the surface of iron or the like, or when chromium plating is performed again after the unevenness is formed on the surface of the chromium plating by sandblasting, bead shot, or the like, the surface is rough. It tends to be liable to occur and fine cracks occur, making it difficult to control the uneven shape of the mold surface. On the other hand, such a problem can be eliminated by giving copper plating or nickel plating to the surface of a base material first. This is because copper plating or nickel plating has a high coating property and a strong smoothing action, and thus forms a flat and glossy surface by filling minute irregularities, cavities, and the like of the base material for a mold. Due to the characteristics of these copper platings or nickel platings, even if chromium plating is performed in the second plating step described later, the roughness of the chromium plating surface, which is considered to be caused by the minute unevenness and cavity existing in the substrate, It is eliminated, and generation | occurrence | production of a fine crack is reduced by the high coating property of copper plating or nickel plating.

제1 도금 공정에서 이용되는 구리 또는 니켈로서는, 각각의 순금속일 수 있는 것 외에, 구리를 주체로 하는 합금, 또는 니켈을 주체로 하는 합금이어도 되고, 따라서, 본 명세서에서 말하는 「구리」는, 구리 및 구리 합금을 포함하는 의미이며, 또한 「니켈」은, 니켈 및 니켈 합금을 포함하는 의미이다. 구리 도금 및 니켈 도금은, 각각 전해 도금으로 행해도 되고 무전해 도금으로 행해도 되지만, 통상은 전해 도금이 채용된다.As copper or nickel used in a 1st plating process, besides what may be each pure metal, the alloy which mainly consists of copper, or the alloy which mainly consists of nickel may be sufficient. Therefore, "copper" said in this specification is copper And it is a meaning containing a copper alloy, and "nickel" is a meaning containing nickel and a nickel alloy. Copper plating and nickel plating may be performed by electrolytic plating or electroless plating, respectively, but electrolytic plating is employ | adopted normally.

구리 도금 또는 니켈 도금을 실시할 때에는, 도금층이 너무 얇으면, 하지(下地) 표면의 영향을 배제할 수 없기 때문에, 그 두께는 50 ㎛ 이상인 것이 바람직하다. 도금층 두께의 상한은 임계적이지 않으나, 비용 등과의 관계로부터, 일반적으로는 500 ㎛ 정도까지로 충분하다.When carrying out copper plating or nickel plating, if the plating layer is too thin, since the influence of the under surface cannot be excluded, the thickness is preferably 50 µm or more. The upper limit of the thickness of the plating layer is not critical, but from a relationship with cost or the like, it is generally sufficient to be about 500 µm.

또한, 본 금형의 제조 방법에 있어서, 기재의 형성에 적합하게 이용되는 금속 재료로서는, 비용의 관점에서 알루미늄, 철 등을 들 수 있다. 또한 취급의 편리성으로부터, 경량인 알루미늄이 보다 바람직하다. 여기서 말하는 알루미늄이나 철도, 각각 순금속일 수 있는 것 외에, 알루미늄 또는 철을 주체로 하는 합금이어도 된다.Moreover, in the manufacturing method of this metal mold | die, aluminum and iron etc. are mentioned from a viewpoint of cost as a metal material used suitably for formation of a base material. Moreover, lightweight aluminum is more preferable from the convenience of handling. In addition to aluminum and a railway, it may be a pure metal, respectively, and may be an alloy mainly containing aluminum or iron.

또한, 기재의 형상은, 당분야에 있어서 종래부터 채용되고 있는 적절한 형상이면 특별히 제한되지 않고, 평판 형상이어도 되고, 원기둥 형상 또는 원통 형상의 롤이어도 된다. 롤 형상의 기재를 이용하여 금형을 제작하면, 방현 필름을 연속적인 롤 형상으로 제조할 수 있다는 이점이 있다.In addition, the shape of a base material will not be restrict | limited especially if it is a suitable shape conventionally employ | adopted in the art, A flat form may be sufficient, and a cylindrical roll or a cylindrical roll may be sufficient. When a metal mold | die is produced using a roll-shaped base material, there exists an advantage that an anti-glare film can be manufactured in continuous roll shape.

〔2〕연마 공정[2] polishing process

이어지는 연마 공정에서는, 상술한 제1 도금 공정에서 구리 도금 또는 니켈 도금이 실시된 기재 표면을 연마한다. 본 금형의 제조 방법에서는, 이 공정을 거쳐, 기재 표면을, 경면에 가까운 상태로 연마하는 것이 바람직하다. 이것은, 기재가 되는 금속판이나 금속롤은, 원하는 정밀도로 하기 위해서, 절삭이나 연삭 등의 기계 가공이 실시되어 있는 경우가 많고, 이에 따라 기재 표면에 가공 흔적이 남아 있어, 구리 도금 또는 니켈 도금이 실시된 상태에서도, 이들 가공 흔적이 남는 경우가 있으며, 또한, 도금한 상태에서, 표면이 완전히 평활해진다고는 할 수 없기 때문이다. 즉, 이러한 깊은 가공 흔적 등이 남은 표면에 후술하는 공정을 실시했다고 해도, 각 공정을 실시한 후에 형성되는 요철보다도 가공 흔적 등의 요철 쪽이 깊은 경우가 있어, 가공 흔적 등의 영향이 남을 가능성이 있고, 그러한 금형을 이용하여 방현 필름을 제조한 경우에는, 광학 특성에 예기하지 못한 영향을 미치는 경우가 있다. 도 11(a)에는, 평판 형상의 금형용 기재(7)가, 제1 도금 공정에 있어서 구리 도금 또는 니켈 도금이 그 표면에 실시되고(그 공정에서 형성한 구리 도금 또는 니켈 도금의 층에 대해서는 도시하지 않음), 또한 연마 공정에 의해 경면 연마된 표면(8)을 갖게 된 상태를 모식적으로 도시하고 있다.In the subsequent polishing step, the surface of the base material subjected to copper plating or nickel plating in the above-described first plating step is polished. In the manufacturing method of this metal mold | die, it is preferable to grind the surface of a base material near a mirror surface through this process. This is because the metal plate and the metal roll serving as the base material are often machined such as cutting or grinding in order to achieve a desired precision, and thus, traces of processing remain on the surface of the base material, and copper plating or nickel plating is performed. It is because these processing traces may remain | survive even in the obtained state, and it cannot be said that the surface becomes completely smooth in the plated state. That is, even if the process described later is performed on the surface where such a deep processing trace etc. remain, the unevenness | corrugation, such as a process trace, may be deeper than the unevenness | corrugation formed after each process, and there exists a possibility that the influence of a process trace etc. may remain. In the case where an antiglare film is produced using such a mold, an unexpected effect may be exerted on the optical characteristics. In FIG. 11 (a), the base material 7 for flat metal mold | die is copper plating or nickel plating in the surface in a 1st plating process (The copper plating or nickel plating layer formed in the process is shown. Not shown) and the state which had the surface 8 polished by the mirror process is shown typically.

구리 도금 또는 니켈 도금이 실시된 기재 표면을 연마하는 방법에 대해서는 특별히 제한되는 것은 아니며, 기계 연마법, 전해 연마법, 화학 연마법의 어떠한 것이라도 사용할 수 있다. 기계 연마법으로서는, 초마무리법, 랩핑, 유체 연마법, 버프 연마법 등이 예시된다. 연마 후의 표면 조도는, JIS B 0601의 규정에 준거한 중심선 평균 거칠기(Ra)가 0.1 ㎛ 이하인 것이 바람직하고, 0.05 ㎛ 이하인 것이 보다 바람직하다. 연마 후의 중심선 평균 거칠기(Ra)가 0.1 ㎛보다 크면, 최종적인 금형 표면의 요철 형상에 연마 후의 표면 조도의 영향이 남을 가능성이 있다. 또한, 중심선 평균 거칠기(Ra)의 하한에 대해서는 특별히 제한되지 않고, 가공 시간이나 가공 비용의 관점에서, 자연히 한계가 있기 때문에, 특별히 지정할 필요성은 없다.The method for polishing the surface of the substrate subjected to copper plating or nickel plating is not particularly limited, and any of mechanical polishing, electrolytic polishing and chemical polishing can be used. Examples of the mechanical polishing method include ultrafinishing, lapping, fluid polishing, buff polishing, and the like. As for the surface roughness after grinding | polishing, it is preferable that centerline average roughness Ra based on the specification of JISB0601 is 0.1 micrometer or less, and it is more preferable that it is 0.05 micrometer or less. If the centerline average roughness Ra after polishing is larger than 0.1 µm, there is a possibility that the influence of surface roughness after polishing remains on the uneven shape of the final mold surface. The lower limit of the center line average roughness Ra is not particularly limited, and since there is naturally a limit in terms of processing time and processing cost, there is no need to specify it in particular.

〔3〕감광성 수지막 도포 공정[3] photosensitive resin film coating step

이어지는 감광성 수지막 도포 공정에서는, 상술한 연마 공정에 의해 경면 연마를 실시한 기재(7)의 표면(8)에, 감광성 수지를 용매에 용해한 용액으로서 도포하고, 가열·건조함으로써, 감광성 수지막을 형성한다. 도 11(b)에는, 기재(7)의 표면(8)에 감광성 수지막(9)이 형성된 상태를 모식적으로 도시하고 있다.In the following photosensitive resin film application | coating process, the photosensitive resin film is formed by apply | coating as a solution which melt | dissolved photosensitive resin in the solvent, and heating and drying it to the surface 8 of the base material 7 which performed mirror-polishing by the above-mentioned grinding | polishing process, and a photosensitive resin film is formed. . FIG. 11B schematically shows a state in which the photosensitive resin film 9 is formed on the surface 8 of the substrate 7.

감광성 수지로서는 종래 공지되어 있는 감광성 수지를 이용할 수 있다. 예컨대, 감광 부분이 경화하는 성질을 가진 네거티브형의 감광성 수지로서는 분자 중에 아크릴기 또는 메타아크릴기를 갖는 아크릴산에스테르의 단량체나 프리폴리머, 비스아지드와 디엔고무의 혼합물, 폴리비닐신나메이트계 화합물 등을 이용할 수 있다. 또한, 현상에 의해 감광 부분이 용출되고, 미감광 부분만이 남는 성질을 가진 포지티브형의 감광성 수지로서는 페놀 수지계나 노볼락 수지계 등을 이용할 수 있다. 또한, 감광성 수지에는, 필요에 따라, 증감제, 현상 촉진제, 밀착성 개질제, 도포성 개량제 등의 각종 첨가제를 배합해도 된다.Conventionally well-known photosensitive resin can be used as photosensitive resin. For example, a negative photosensitive resin having a property of curing the photosensitive portion may be a monomer or prepolymer of an acrylic ester having an acrylic group or a methacryl group, a mixture of a bisazide and a diene rubber, a polyvinyl cinnamate compound, or the like. Can be. Moreover, a phenol resin type, a novolak resin type, etc. can be used as a positive photosensitive resin which has the property which a photosensitive part elutes by development and only an unphotosensitive part remains. In addition, you may mix | blend various additives, such as a sensitizer, a development promoter, an adhesive modifier, and a coating property improving agent, with photosensitive resin as needed.

이들 감광성 수지를 기재(7)의 표면(8)에 도포할 때에는, 양호한 도막을 형성하기 위해서, 적당한 용매에 희석하여 도포하는 것이 바람직하고, 셀로솔브계 용매, 프로필렌글리콜계 용매, 에스테르계 용매, 알코올계 용매, 케톤계 용매, 고극성 용매 등을 사용할 수 있다.When applying these photosensitive resins to the surface 8 of the base material 7, in order to form a favorable coating film, it is preferable to dilute and apply in a suitable solvent, and it is a cellosolve solvent, a propylene glycol solvent, an ester solvent, Alcohol solvents, ketone solvents, high polar solvents and the like can be used.

감광성 수지 용액을 도포하는 방법으로서는, 메니스커스 코트, 파운틴(fountain) 코트, 딥 코트, 회전 도포, 롤 도포, 와이어바 도포, 에어나이프 도포, 블레이드 도포, 커튼 도포 등의 공지되어 있는 방법을 이용할 수 있다. 도포막의 두께는 건조 후에 1 ㎛∼6 ㎛의 범위로 하는 것이 바람직하다.As a method for applying the photosensitive resin solution, known methods such as meniscus coat, fountain coat, dip coat, rotary coating, roll coating, wire bar coating, air knife coating, blade coating, curtain coating, etc. may be used. Can be. It is preferable to make the thickness of a coating film into the range of 1 micrometer-6 micrometers after drying.

〔4〕노광 공정[4] exposure process

이어지는 노광 공정에서는, 상기한 에너지 스펙트럼이 0 ㎛-1 초과 0.04 ㎛-1 이하에는 극대값을 갖지 않는 패턴을 상술한 감광성 수지막 도포 공정에서 형성된 감광성 수지막(9) 상에 노광한다. 노광 공정에 이용하는 광원은 도포된 감광성 수지의 감광 파장이나 감도 등에 맞춰 적절하게 선택하면 되고, 예컨대, 고압 수은등의 g선(파장: 436 ㎚), 고압 수은등의 h선(파장: 405 ㎚), 고압 수은등의 i선(파장: 365 ㎚), 반도체 레이저(파장: 830 ㎚, 532 ㎚, 488 ㎚, 405 ㎚ 등), YAG 레이저(파장: 1064 ㎚), KrF 엑시머 레이저(파장: 248 ㎚), ArF 엑시머 레이저(파장: 193 ㎚), F2 엑시머 레이저(파장: 157 ㎚) 등을 이용할 수 있다.In the following exposure process, the pattern which does not have a maximum value above 0 micrometer < -1 > -0.04 micrometer <-1> is exposed on the photosensitive resin film 9 formed in the photosensitive resin film application | coating process mentioned above. What is necessary is just to select suitably the light source used for an exposure process according to the photosensitive wavelength, sensitivity, etc. of the apply | coated photosensitive resin, For example, g line (wavelength: 436 nm) of high pressure mercury lamp, h line (wavelength: 405 nm) of high pressure mercury lamp, high pressure I-ray (wavelength: 365 nm), mercury lamp, semiconductor laser (wavelength: 830 nm, 532 nm, 488 nm, 405 nm, etc.), YAG laser (wavelength: 1064 nm), KrF excimer laser (wavelength: 248 nm), ArF Excimer laser (wavelength: 193 nm), F2 excimer laser (wavelength: 157 nm), and the like.

본 금형의 제조 방법에 있어서 표면 요철 형상을 정밀도 좋게 형성하기 위해서는, 노광 공정에 있어서, 상술한 패턴을 감광성 수지막 상에 정밀하게 제어된 상태로 노광하는 것이 바람직하다. 본 발명의 금형의 제조 방법에서는, 상술한 패턴을 감광성 수지막 상에 정밀도 좋게 노광하기 위해서, 컴퓨터 상에서 패턴을 화상 데이터로서 작성하고, 그 화상 데이터에 기초한 패턴을, 컴퓨터 제어된 레이저 헤드로부터 발생되는 레이저광에 의해 묘화하는 것이 바람직하다. 레이저 묘화를 행할 때에는 인쇄판 작성용 레이저 묘화 장치를 사용할 수 있다. 이러한 레이저 묘화 장치로서는, 예컨대 Laser Stream FX[(주)싱크 래버러토리 제조] 등을 들 수 있다.In order to form surface uneven | corrugated shape with high precision in the manufacturing method of this metal mold | die, it is preferable to expose the above-mentioned pattern in the state controlled precisely on the photosensitive resin film in an exposure process. In the manufacturing method of the metal mold | die of this invention, in order to expose the above-mentioned pattern on a photosensitive resin film with high precision, a pattern is created on a computer as image data, and the pattern based on the image data is generated from a computer-controlled laser head. It is preferable to draw by a laser beam. When performing laser drawing, the laser drawing apparatus for printing plate preparation can be used. Examples of such a laser drawing apparatus include Laser Stream FX (manufactured by Sync Laboratories).

도 11(c)에는, 감광성 수지막(9)에 패턴이 노광된 상태를 모식적으로 도시하고 있다. 감광성 수지막을 네거티브형의 감광성 수지로 형성한 경우에는, 노광된 영역(10)은 노광에 의해 수지의 가교 반응이 진행되어, 후술하는 현상액에 대한 용해성이 저하된다. 따라서, 현상 공정에 있어서 노광되어 있지 않은 영역(11)이 현상액에 의해 용해되고, 노광된 영역(10)만 기재 표면 상에 남아 마스크가 된다. 한편, 감광성 수지막을 포지티브형의 감광성 수지로 형성한 경우에는, 노광된 영역(10)은 노광에 의해 수지의 결합이 절단되어, 후술하는 현상액에 대한 용해성이 증가한다. 따라서, 현상 공정에 있어서 노광된 영역(10)이 현상액에 의해 용해되고, 노광되어 있지 않은 영역(11)만 기재 표면 상에 남아 마스크가 된다.FIG. 11 (c) schematically shows a state where the pattern is exposed on the photosensitive resin film 9. When the photosensitive resin film is formed of negative photosensitive resin, crosslinking reaction of resin advances in the exposed area | region 10 by exposure, and the solubility with respect to the developing solution mentioned later falls. Therefore, the area | region 11 which is not exposed in the image development process is melt | dissolved by the developing solution, and only the exposed area | region 10 remains on a surface of a base material, and becomes a mask. On the other hand, when the photosensitive resin film is formed of positive photosensitive resin, the bond of resin is cut | disconnected by exposure in the exposed area | region 10, and the solubility to the developing solution mentioned later increases. Therefore, the exposed region 10 in the developing step is dissolved by the developing solution, and only the unexposed region 11 remains on the substrate surface to become a mask.

〔5〕현상 공정[5] Development Process

이어지는 현상 공정에서는, 감광성 수지막(9)에 네거티브형의 감광성 수지를 이용한 경우에는, 노광되어 있지 않은 영역(11)은 현상액에 의해 용해되고, 노광된 영역(10)만 금형용 기재 상에 잔존하여, 이어지는 제1 에칭 공정에 있어서 마스크로서 작용한다. 한편, 감광성 수지막(9)에 포지티브형의 감광성 수지를 이용한 경우에는, 노광된 영역(10)만 현상액에 의해 용해되고, 노광되어 있지 않은 영역(11)이 금형용 기재 상에 잔존하여, 이어지는 제1 에칭 공정에서의 마스크로서 작용한다. In the subsequent developing step, when a negative photosensitive resin is used for the photosensitive resin film 9, the unexposed region 11 is dissolved by a developer, and only the exposed region 10 remains on the mold substrate. It acts as a mask in the subsequent first etching step. On the other hand, when positive type photosensitive resin is used for the photosensitive resin film 9, only the exposed area | region 10 is melt | dissolved with a developing solution, and the area | region 11 which is not exposed remains on the base material for metal mold | die, and the following agent It acts as a mask in one etching process.

현상 공정에 이용하는 현상액에 대해서는 종래 공지되어 있는 것을 사용할 수 있다. 예컨대, 수산화나트륨, 수산화칼륨, 탄산나트륨, 규산나트륨, 메타규산나트륨, 암모니아수 등의 무기 알칼리류, 에틸아민, n-프로필아민 등의 제1 아민류, 디에틸아민, 디-n-부틸아민 등의 제2 아민류, 트리에틸아민, 메틸디에틸아민 등의 제3 아민류, 디메틸에탄올아민, 트리에탄올아민 등의 알코올아민류, 테트라메틸암모늄히드록시드, 테트라에틸암모늄히드록시드, 트리메틸히드록시에틸암모늄히드록시드 등의 제4급 암모늄염, 피롤, 피페리딘 등의 환상 아민류 등의 알칼리성 수용액, 크실렌, 톨루엔 등의 유기 용제 등을 들 수 있다.As the developing solution used in the developing step, a conventionally known one can be used. For example, inorganic alkalis, such as sodium hydroxide, potassium hydroxide, sodium carbonate, sodium silicate, sodium metasilicate, and ammonia water, 1st amines, such as ethylamine and n-propylamine, diethylamine, di-n-butylamine, etc. Tertiary amines such as amines, triethylamine and methyldiethylamine, alcoholamines such as dimethylethanolamine and triethanolamine, tetramethylammonium hydroxide, tetraethylammonium hydroxide and trimethylhydroxyethylammonium hydroxide And alkaline aqueous solutions such as cyclic amines such as quaternary ammonium salts, pyrrole and piperidine, and organic solvents such as xylene and toluene.

현상 공정에서의 현상 방법에 대해서는 특별히 제한되지 않고, 침지 현상, 스프레이 현상, 브러시 현상, 초음파 현상 등의 방법을 이용할 수 있다.The developing method in the developing step is not particularly limited, and methods such as immersion development, spray development, brush development, and ultrasonic development can be used.

도 11(d)에는, 감광성 수지막(9)에 네거티브형의 감광성 수지를 이용하여, 현상 처리를 행한 상태를 모식적으로 도시하고 있다. 도 11(c)에 있어서 노광되어 있지 않은 영역(11)이 현상액에 의해 용해되고, 노광된 영역(10)만 기재 표면 상에 남아 마스크(12)가 된다. 도 11(e)에는, 감광성 수지막(9)에 포지티브형의 감광성 수지를 이용하여, 현상 처리를 행한 상태를 모식적으로 도시하고 있다. 도 11(c)에 있어서 노광된 영역(10)이 현상액에 의해 용해되고, 노광되어 있지 않은 영역(11)만 기재 표면 상에 남아 마스크(12)가 된다.FIG. 11 (d) schematically shows a state in which the developing treatment is performed using a negative photosensitive resin for the photosensitive resin film 9. In FIG.11 (c), the area | region 11 which is not exposed melt | dissolves with a developing solution, and only the exposed area | region 10 remains on the surface of a base material, and becomes the mask 12. FIG. FIG. 11E schematically illustrates a state in which the developing treatment is performed using a positive photosensitive resin on the photosensitive resin film 9. In FIG. 11C, the exposed region 10 is dissolved by the developer, and only the unexposed region 11 remains on the substrate surface to form the mask 12.

〔6〕제1 에칭 공정[6] first etching process

이어지는 제1 에칭 공정에서는, 상술한 현상 공정 후에 금형용 기재 표면 상에 잔존한 감광성 수지막을 마스크로서 이용하여, 주로 마스크가 없는 부위의 금형용 기재를 에칭한다. 도 12는 본 금형의 제조 방법의 후반 부분의 바람직한 일례를 모식적으로 도시하는 도면이다. 도 12(a)에는 제1 에칭 공정에 의해, 주로 마스크가 없는 부위(13)의 금형용 기재(7)가 에칭되는 상태를 모식적으로 도시하고 있다. 마스크(12)의 하부의 금형용 기재(7)는 금형용 기재 표면으로부터는 에칭되지 않으나, 에칭의 진행과 함께 마스크가 없는 영역(13)으로부터의 에칭이 진행된다. 따라서, 마스크(12)와 마스크가 없는 영역(13)의 경계 부근에서는, 마스크(12)의 하부의 금형용 기재(7)도 에칭된다. 이러한 마스크(12)와 마스크가 없는 영역(13)의 경계 부근에 있어서, 마스크(12)의 하부의 금형용 기재(7)도 에칭되는 것을, 이하에서는 사이드 에칭이라고 부른다. 도 13에는 사이드 에칭의 진행을 모식적으로 도시하였다. 도 13의 점선(14)은 에칭의 진행과 함께 변화하는 금형용 기재의 표면을 단계적으로 나타내고 있다.In the following 1st etching process, the base material for metal mold | die of the site | part without a mask is mainly etched using the photosensitive resin film which remained on the surface of the metal mold | die base material after the above-mentioned image development process as a mask. It is a figure which shows typically a preferable example of the latter part of the manufacturing method of this metal mold | die. 12A schematically shows a state in which the mold base 7 in the portion 13 without a mask is etched mainly by the first etching step. The mold base 7 in the lower part of the mask 12 is not etched from the surface of the mold base, but etching proceeds from the region 13 without a mask as the etching proceeds. Therefore, in the vicinity of the boundary between the mask 12 and the maskless region 13, the base material 7 for the mold under the mask 12 is also etched. In the vicinity of the boundary between the mask 12 and the maskless region 13, the metal substrate 7 for the mold under the mask 12 is also etched, hereinafter referred to as side etching. 13, the progress of side etching is shown typically. The dotted line 14 of FIG. 13 has shown the surface of the metal mold | die base material which changes with progress of an etching step by step.

제1 에칭 공정에서의 에칭 처리는, 통상, 염화제2철(FeCl3)액, 염화제2 구리(CuCl2)액, 알칼리 에칭액(Cu(NH3)4Cl2) 등을 이용하여, 금속 표면을 부식시킴으로써 행해지지만, 염산이나 황산 등의 강산을 이용할 수도 있으며, 전해 도금 시와 반대의 전위를 가하는 것에 의한 역전해 에칭을 이용할 수도 있다. 에칭 처리를 실시했을 때의 금형용 기재에 형성되는 오목 형상은, 하지 금속의 종류, 감광성 수지막의 종류 및 에칭 수법 등에 따라 다르기 때문에, 일률적으로는 말할 수 없으나, 에칭량이 10 ㎛ 이하인 경우에는, 에칭액에 접촉하고 있는 금속 표면으로부터 대략 등방적으로 에칭된다. 여기서 말하는 에칭량이란, 에칭에 의해 깎여지는 기재의 두께이다.The etching treatment in the first etching step is usually performed using a ferric chloride (FeCl 3 ) solution, a cupric chloride (CuCl 2 ) solution, an alkali etching solution (Cu (NH 3 ) 4 Cl 2 ), or the like. Although it is performed by corroding a surface, strong acids, such as hydrochloric acid and a sulfuric acid, can also be used, and reverse electrolytic etching by applying the reverse electric potential at the time of electroplating can also be used. Since the concave shape formed on the base material for a metal mold | die at the time of an etching process differs with the kind of base metal, the kind of photosensitive resin film, the etching method, etc., it cannot say uniformly, but when etching amount is 10 micrometers or less, It is etched approximately isotropically from the metal surface in contact. Etching amount here is the thickness of the base material shaved by etching.

제1 에칭 공정에서의 에칭량은 바람직하게는 1 ㎛∼50 ㎛이다. 에칭량이 1 ㎛ 미만인 경우에는, 금속 표면에 요철 형상이 거의 형성되지 않고, 거의 평탄한 금형이 되어 버리기 때문에, 방현성을 나타내지 않게 되어 버린다. 또한, 에칭량이 50 ㎛를 초과하는 경우에는, 금속 표면에 형성되는 요철 형상의 고저차가 커져, 얻어진 금형을 사용하여 제작한 방현 필름이 백화하게 되기 때문에 바람직하지 않다. 제1 에칭 공정에서의 에칭 처리는 1회의 에칭 처리에 의해 행해도 되고, 에칭 처리를 2회 이상으로 나누어 행해도 된다. 여기서 에칭 처리를 2회 이상으로 나누어 행하는 경우에는, 2회 이상의 에칭 처리에 있어서의 에칭량의 합계가 1 ㎛∼50 ㎛인 것이 바람직하다. The etching amount in the first etching step is preferably 1 µm to 50 µm. In the case where the etching amount is less than 1 µm, almost no irregularities are formed on the metal surface and the mold becomes almost flat, so that the anti-glare property is not exhibited. In addition, when the etching amount exceeds 50 micrometers, since the height difference of the uneven | corrugated shape formed in a metal surface becomes large, and the anti-glare film produced using the obtained metal mold | die becomes white, it is unpreferable. The etching treatment in the first etching step may be performed by one etching treatment or may be performed by dividing the etching treatment into two or more times. In the case where the etching treatment is divided into two or more times, the total amount of etchings in the two or more etching treatments is preferably 1 µm to 50 µm.

〔7〕감광성 수지막 박리 공정[7] photosensitive resin film peeling step

이어지는 감광성 수지막 박리 공정에서는, 제1 에칭 공정에서 마스크로서 사용한 잔존하는 감광성 수지막을 완전히 용해하여 제거한다. 감광성 수지막 박리 공정에서는 박리액을 이용하여 감광성 수지막을 용해한다. 박리액으로서는, 상술한 현상액과 동일한 것을 이용할 수 있고, pH, 온도, 농도 및 침지 시간 등을 변화시킴으로써, 네거티브형의 감광성 수지막을 이용한 경우에는 노광부의, 포지티브형의 감광성 수지막을 이용한 경우에는 비노광부의 감광성 수지막을 완전히 용해하여 제거한다. 감광성 수지막 박리 공정에서의 박리 방법에 대해서도 특별히 제한되지 않고, 침지 현상, 스프레이 현상, 브러시 현상, 초음파 현상 등의 방법을 이용할 수 있다.In the following photosensitive resin film peeling process, the remaining photosensitive resin film used as a mask in a 1st etching process is melt | dissolved and removed completely. In the photosensitive resin film peeling process, a photosensitive resin film is melt | dissolved using a peeling liquid. As the stripping solution, the same developer as described above can be used, and by changing the pH, temperature, concentration, and immersion time, and the like, when the negative photosensitive resin film is used, the non-exposed part when the positive photosensitive resin film is used Of the photosensitive resin film is completely dissolved and removed. The peeling method in the photosensitive resin film peeling step is not particularly limited, and methods such as immersion development, spray development, brush development, and ultrasonic development can be used.

도 12(b)는 감광성 수지막 박리 공정에 의해, 제1 에칭 공정에서 마스크로서 사용한 감광성 수지막을 완전히 용해하여 제거한 상태를 모식적으로 도시하고 있다. 감광성 수지막에 의한 마스크(12)와 에칭에 의해, 제1 표면 요철 형상(15)이 금형용 기재 표면에 형성된다.FIG. 12 (b) schematically shows a state in which the photosensitive resin film used as a mask in the first etching step is completely dissolved and removed by the photosensitive resin film peeling step. By the mask 12 and etching by the photosensitive resin film, the 1st surface uneven | corrugated shape 15 is formed in the surface of the metal mold | die base material.

〔8〕제2 도금 공정[8] second plating process

이어서, 크롬 도금을 실시함으로써, 표면의 요철 형상을 무디게 한다. 도 12(c)에는, 상술한 바와 같이 제1 에칭 공정의 에칭 처리에 의해 형성된 표면 요철 형상에 크롬 도금층(16)을 형성하여, 표면(17)을 무디게 한 상태가 도시되어 있다.Subsequently, the surface unevenness is blunted by chromium plating. 12 (c) shows a state in which the chromium plating layer 16 is formed on the surface irregularities formed by the etching process of the first etching step, thereby blunting the surface 17.

본 금형의 제조 방법에서는, 평판이나 롤 등의 표면에, 광택이 있고, 경도가 높으며, 마찰 계수가 작고, 양호한 이형성을 부여할 수 있는 크롬 도금을 채용한다. 크롬 도금의 종류는 특별히 제한되지 않으나, 이른바 광택 크롬 도금이나 장식용 크롬 도금 등으로 불리는, 양호한 광택을 발현하는 크롬 도금을 이용하는 것이 바람직하다. 크롬 도금은 통상, 전해에 의해 행해지며, 그 도금욕으로서는, 무수크롬산(CrO3)과 소량의 황산을 포함하는 수용액이 이용된다. 전류 밀도와 전해 시간을 조절함으로써, 크롬 도금의 두께를 제어할 수 있다.In the manufacturing method of this metal mold | die, chrome plating which has gloss, the hardness is high, the friction coefficient is small, and can give favorable mold release property is employ | adopted on the surfaces, such as a flat plate and a roll. Although the kind of chromium plating is not specifically limited, It is preferable to use chromium plating which expresses favorable gloss called so-called gloss chrome plating, decorative chromium plating, etc. Chromium plating is usually performed by electrolysis, and an aqueous solution containing chromic anhydride (CrO 3 ) and a small amount of sulfuric acid is used as the plating bath. By adjusting the current density and the electrolysis time, the thickness of the chromium plating can be controlled.

상술한 일본 특허 공개 제2002-189106호 공보, 일본 특허 공개 제2004-45472호 공보, 일본 특허 공개 제2004-90187호 공보 등에는, 크롬 도금을 채용하는 것이 개시되어 있으나, 금형의 도금 전의 하지와 크롬 도금의 종류에 따라서는, 도금 후에 표면이 거칠어지거나, 크롬 도금에 의한 미소한 크랙이 다수 발생하는 경우가 많고, 그 결과, 제작되는 방현 필름의 광학 특성이 바람직하지 않은 방향으로 진행된다. 도금 표면이 거칠어진 상태의 금형은, 방현 필름의 제조용으로 적합하지 않다. 왜냐하면, 일반적으로 꺼칠함을 없애기 위해서 크롬 도금 후에 도금 표면을 연마하는 것이 행해지고 있으나, 후술하는 바와 같이, 본 발명에서는 도금 후의 표면의 연마가 바람직하지 않기 때문이다. 본 금형의 제조 방법에서는, 하지 금속에 구리 도금 또는 니켈 도금을 실시함으로써, 크롬 도금에서 발생하기 쉬운 이러한 문제를 해소하고 있다.Although Japanese Patent Laid-Open Publication No. 2002-189106, Japanese Patent Laid-Open Publication No. 2004-45472, Japanese Patent Laid-Open Publication No. 2004-90187 and the like have been disclosed to employ chromium plating, they have been described with a base material before plating of a mold. Depending on the type of chromium plating, the surface becomes rough after plating or a large number of minute cracks due to chromium plating are often generated. As a result, the optical characteristics of the produced antiglare film proceed in an undesirable direction. The metal mold | die of the state with which the plating surface was rough is not suitable for manufacture of an anti-glare film. This is because, in general, polishing of the plating surface after chromium plating is performed in order to eliminate tackiness, but as described later, polishing of the surface after plating is not preferable in the present invention. In the manufacturing method of this metal mold | die, this problem which is easy to generate | occur | produce in chromium plating is eliminated by giving copper plating or nickel plating to a base metal.

또한, 제2 도금 공정에 있어서, 크롬 도금 이외의 도금을 실시하는 것은 바람직하지 않다. 왜냐하면, 크롬 이외의 도금에서는, 경도나 내마모성이 낮아지기 때문에, 금형으로서의 내구성이 저하되어, 사용 중에 요철이 닳거나, 금형이 손상된다. 그러한 금형으로부터 얻어진 방현 필름에서는, 충분한 방현 기능이 얻어지기 어려울 가능성이 높고, 또한, 필름 상에 결함이 발생할 가능성도 높아진다. In addition, it is not preferable to perform plating other than chromium plating in a 2nd plating process. Because in plating other than chromium, hardness and abrasion resistance are lowered, so that durability as a mold decreases, irregularities are worn out during use, and the mold is damaged. In the anti-glare film obtained from such a metal mold | die, it is highly unlikely that sufficient anti-glare function will be obtained, and also the possibility of a defect generate | occur | producing on a film will become high.

또한, 상술한 일본 특허 공개 제2004-90187호 공보 등에 개시되어 있는 바와 같이 도금 후의 표면을 연마하는 것도, 본 금형의 제조 방법에서는 바람직하지 않다. 연마함으로써, 최외측 표면에 평탄한 부분이 발생하기 때문에, 광학 특성의 악화를 초래할 가능성이 있는 것, 또한, 형상의 제어 인자가 증가하기 때문에, 재현성이 좋은 형상 제어가 곤란해지는 것 등의 이유에 의한다. In addition, as disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 2004-90187 and the like, it is also not preferable to polish the surface after plating in the method of manufacturing the mold. By polishing, flat portions are generated on the outermost surface, which may lead to deterioration of the optical characteristics, and also because of the increase in the control factor of the shape, making it difficult to control shape with good reproducibility. All.

이와 같이 본 금형의 제조 방법에서는, 크롬 도금을 실시한 후, 표면을 연마하지 않고, 그대로 크롬 도금면을 금형의 요철면으로서 이용하는 것이 바람직하다. 미세 표면 요철 형상이 형성된 표면에 크롬 도금을 실시함으로써, 요철 형상이 무뎌짐과 아울러, 그 표면 경도가 높아진 금형이 얻어지기 때문이다. 이때의 요철의 무딤 상태는, 하지 금속의 종류, 제1 에칭 공정으로부터 얻어진 요철의 사이즈와 깊이, 또한 도금의 종류나 두께 등에 따라 다르기 때문에, 일률적으로는 말할 수 없으나, 무딤 상태를 제어하는 데 있어서 가장 큰 인자는, 역시 도금 두께이다. 크롬 도금의 두께가 얇으면, 크롬 도금 가공 전에 얻어진 요철의 표면 형상을 무디게 하는 효과가 불충분하여, 그 요철 형상을 투명 필름에 전사하여 얻어지는 방현 필름의 광학 특성이 그다지 좋아지지 않는다. 한편, 도금 두께가 지나치게 두꺼우면, 생산성이 나빠지고, 또한, 노듈(nodule)이라고 불리는 돌기 형상의 도금 결함이 발생해 버리기 때문에 바람직하지 않다. 그래서, 크롬 도금의 두께는 1 ㎛∼10 ㎛의 범위 내인 것이 바람직하고, 3 ㎛∼6 ㎛의 범위 내인 것이 보다 바람직하다.Thus, in the manufacturing method of this metal mold, after performing chromium plating, it is preferable to use a chromium plating surface as an uneven surface of a metal mold as it is, without grind | polishing the surface. This is because by performing chromium plating on the surface on which the fine surface irregularities are formed, the mold having the uneven shape becomes dull and the surface hardness thereof is increased. The unevenness at this time varies depending on the type of the underlying metal, the size and depth of the unevenness obtained from the first etching process, the type and thickness of the plating, and the like. The biggest factor is also the plating thickness. When the thickness of chromium plating is thin, the effect of blunting the surface shape of the unevenness obtained before chrome plating process is inadequate, and the optical characteristic of the anti-glare film obtained by transferring the uneven | corrugated shape to a transparent film does not improve very much. On the other hand, when the plating thickness is too thick, the productivity is poor, and a projection-like plating defect called nodule is generated, which is not preferable. Therefore, the thickness of the chromium plating is preferably in the range of 1 µm to 10 µm, and more preferably in the range of 3 µm to 6 µm.

그 제2 도금 공정에서 형성되는 크롬 도금층은, 비커스 경도가 800 이상이 되도록 형성되어 있는 것이 바람직하고, 1000 이상이 되도록 형성되어 있는 것이 보다 바람직하다. 크롬 도금층의 비커스 경도가 800 미만인 경우에는, 금형 사용 시의 내구성이 저하되고, 또한 크롬 도금으로 경도가 저하되는 것은 도금 처리 시에 도금욕 조성, 전해 조건 등에 이상이 발생하고 있을 가능성이 높으며, 결함의 발생 상황에 대해서도 바람직하지 않은 영향을 줄 가능성이 높기 때문이다.It is preferable that the chromium plating layer formed in the 2nd plating process is formed so that Vickers hardness may be 800 or more, and it is more preferable to form so that it may be 1000 or more. When the Vickers hardness of the chromium plating layer is less than 800, the durability at the time of use of the mold decreases, and the decrease in the hardness due to the chromium plating is likely to cause an abnormality in the plating bath composition, electrolytic conditions, and the like during the plating treatment. This is because it is highly likely to have an undesirable effect on the occurrence situation of.

또한, 본 발명의 방현 필름을 제작하기 위한, 금형의 제조 방법에 있어서는 상술한 〔7〕감광성 수지막 박리 공정과 〔8〕제2 도금 공정 사이에, 제1 에칭 공정에 의해 형성된 요철면을 에칭 처리에 의해 무디게 하는 제2 에칭 공정을 포함하는 것이 바람직하다. 제2 에칭 공정에서는, 감광성 수지막을 마스크로서 이용한 제1 에칭 공정에 의해 형성된 제1 표면 요철 형상(15)을, 에칭 처리에 의해 무디게 한다. 이 제2 에칭 처리에 의해, 제1 에칭 처리에 의해 형성된 제1 표면 요철 형상(15)에 있어서의 표면 경사가 급한 부분이 없어져, 얻어진 금형을 이용하여 제조된 방현 필름의 광학 특성이 바람직한 방향으로 변화한다. 도 14에는, 제2 에칭 처리에 의해, 기재(7)의 제1 표면 요철 형상(15)이 둔화되어, 표면 경사가 급한 부분이 무뎌져, 완만한 표면 경사를 갖는 제2 표면 요철 형상(18)이 형성된 상태가 도시되어 있다.Moreover, in the manufacturing method of a metal mold | die for producing the anti-glare film of this invention, the uneven surface formed by the 1st etching process is etched between the above-mentioned [7] photosensitive resin film peeling process and [8] 2nd plating process. It is preferred to include a second etching process that blunts the treatment. In a 2nd etching process, the 1st surface uneven | corrugated shape 15 formed by the 1st etching process which used the photosensitive resin film as a mask is blunted by an etching process. By this 2nd etching process, the part in which the surface inclination in the 1st surface uneven | corrugated shape 15 formed by the 1st etching process is abrupt is eliminated, and the optical characteristic of the anti-glare film manufactured using the obtained metal mold | die in the preferable direction Change. In FIG. 14, the first surface uneven shape 15 of the substrate 7 is blunted by the second etching process, the portion having a sharp surface slope is blunted, and the second surface uneven shape 18 having a gentle surface slope. Is formed.

제2 에칭 공정의 에칭 처리도, 제1 에칭 공정과 마찬가지로, 통상, 염화제2철(FeCl3)액, 염화제2구리(CuCl2)액, 알칼리 에칭액(Cu(NH3)4Cl2) 등을 이용하여, 표면을 부식시킴으로써 행해지지만, 염산이나 황산 등의 강산을 이용할 수도 있고, 전해 도금 시와 반대의 전위를 가하는 것에 의한 역전해 에칭을 이용할 수도 있다. 에칭 처리를 실시한 후의 요철의 무딤 상태는, 하지 금속의 종류, 에칭 수법, 및 제1 에칭 공정에 의해 얻어진 요철의 사이즈와 깊이 등에 따라 다르기 때문에, 일률적으로는 말할 수 없으나, 무딤 상태를 제어하는 데 있어서 가장 큰 인자는 에칭량이다. 여기서 말하는 에칭량도, 제1 에칭 공정과 마찬가지로, 에칭에 의해 깎여지는 기재의 두께이다. 에칭량이 작으면, 제1 에칭 공정에 의해 얻어진 요철의 표면 형상을 무디게 하는 효과가 불충분하여, 그 요철 형상을 투명 필름에 전사하여 얻어지는 방현 필름의 광학 특성이 그다지 좋아지지 않는다. 한편, 에칭량이 지나치게 크면, 요철 형상이 거의 없어져 버려, 거의 평탄한 금형이 되어 버리기 때문에, 방현성을 나타내지 않게 되어 버린다. 그래서, 에칭량은 1 ㎛∼50 ㎛의 범위 내인 것이 바람직하고, 4 ㎛∼20 ㎛의 범위 내인 것이 보다 바람직하다. 제2 에칭 공정에서의 에칭 처리에 대해서도, 제1 에칭 공정과 마찬가지로, 1회의 에칭 처리에 의해 행해도 되고, 에칭 처리를 2회 이상으로 나누어 행해도 된다. 여기서 에칭 처리를 2회 이상으로 나누어 행하는 경우에는, 2회 이상의 에칭 처리에 있어서의 에칭량의 합계가 1 ㎛∼50 ㎛인 것이 바람직하다.Similarly to the first etching step, the etching treatment of the second etching step also includes a ferric chloride (FeCl 3 ) solution, cupric chloride (CuCl 2 ) solution, and alkaline etching solution (Cu (NH 3 ) 4 Cl 2 ) Although it is carried out by corroding the surface with the like, a strong acid such as hydrochloric acid or sulfuric acid may be used, or reverse electrolytic etching by applying a potential opposite to that of electroplating may be used. Since the dull state of the unevenness after the etching treatment is different depending on the type of the underlying metal, the etching method, and the size and depth of the unevenness obtained by the first etching step, it cannot be said uniformly. The biggest factor is the etching amount. Etching amount here is also the thickness of the base material shaved by etching similarly to a 1st etching process. If the etching amount is small, the effect of blunting the surface shape of the unevenness obtained by the first etching step is insufficient, and the optical properties of the antiglare film obtained by transferring the unevenness shape to the transparent film are not very good. On the other hand, if the etching amount is too large, the uneven shape is almost eliminated, and the mold becomes almost flat. Therefore, the anti-glare property is not exhibited. Therefore, the etching amount is preferably in the range of 1 µm to 50 µm, and more preferably in the range of 4 µm to 20 µm. Also about the etching process in a 2nd etching process, you may perform by one etching process similarly to a 1st etching process, and may divide and perform an etching process in 2 or more times. In the case where the etching treatment is divided into two or more times, the total amount of etchings in the two or more etching treatments is preferably 1 µm to 50 µm.

이하에 실시예를 들어, 본 발명을 더 상세히 설명하지만, 본 발명은 이들 실시예에 한정되는 것은 아니다. 예 중, 함유량 내지 사용량을 나타내는 % 및 부는, 특별한 기재가 없는 한 중량 기준이다. 또한, 이하의 예에서의 금형 또는 방현 필름의 평가 방법은, 다음과 같다.Although an Example is given to the following and this invention is demonstrated in detail, this invention is not limited to these Examples. In the examples,% and parts representing the content to the amount used are based on weight unless otherwise specified. In addition, the evaluation method of the metal mold | die or anti-glare film in the following examples is as follows.

〔1〕방현 필름의 표면 형상의 측정[1] Measurement of surface shape of antiglare film

삼차원 현미경 PLμ2300(Sensofar사 제조)을 이용하여, 방현 필름의 표면 형상을 측정하였다. 샘플의 휘어짐을 방지하기 위해서, 광학적으로 투명한 점착제를 이용하여 요철면이 표면이 되도록 유리 기판에 접합하고 나서, 측정에 제공하였다. 측정 시, 대물렌즈의 배율은 10배로 하여 측정하였다. 수평 분해능 Δx 및 Δy는 모두 1.66 ㎛이고, 측정 면적은 850 ㎛×850 ㎛였다.The surface shape of the anti-glare film was measured using the three-dimensional microscope PLμ2300 (manufactured by Sensofar). In order to prevent curvature of a sample, it bonded to the glass substrate so that an uneven surface might become a surface using the optically transparent adhesive, and used for the measurement. In the measurement, the magnification of the objective lens was measured 10 times. The horizontal resolutions Δx and Δy were both 1.66 μm and the measurement area was 850 μm × 850 μm.

(에너지 스펙트럼의 비 H1 2/H2 2 및 H3 2/H2 2)(Ratio of energy spectra H 1 2 / H 2 2 and H 3 2 / H 2 2 )

위에서 얻어진 측정 데이터로부터, 방현 필름의 미세 요철 표면의 표고를 이차원 함수 h(x, y)로서 구하고, 얻어진 이차원 함수 h(x, y)를 이산 푸리에 변환하여 이차원 함수 H(fx, fy)를 구하였다. 이차원 함수 H(fx, fy)를 제곱하여 에너지 스펙트럼의 이차원 함수 H2(fx, fy)를 계산하고, fx=0의 단면 곡선인 H2(0, fy)로부터, 공간 주파수 0.01 ㎛-1에 있어서의 에너지 스펙트럼 H1 2 및 공간 주파수 0.04 ㎛-1에 있어서의 에너지 스펙트럼 H2 2를 구하며, 에너지 스펙트럼의 비 H1 2/H2 2를 계산하였다. 또한, 공간 주파수 0.1 ㎛-1에 있어서의 에너지 스펙트럼 H3 2를 구하고, 에너지 스펙트럼의 비 H3 2/H2 2에 대해서도 계산하였다.From the measurement data obtained above, the elevation of the fine concavo-convex surface of the antiglare film is obtained as the two-dimensional function h (x, y), the obtained two-dimensional function h (x, y) is discrete Fourier transformed, and the two-dimensional function H (f x , f y ) is obtained. Was obtained. Two-dimensional function H (f x, f y) square by calculating a two-dimensional function of the energy spectrum H 2 (f x, f y ), f x = 0 cross-sectional curve in H 2 (0, f y) from, the space the energy spectrum and the spatial frequency H 1 2 -1 0.04 ㎛ energy spectrum H 2 seek to Figure 2, non-H 2, the energy spectrum 1/2 H 2 in the calculated according to the frequency 0.01 ㎛ -1. In addition, the energy spectrum H 3 2 at the spatial frequency of 0.1 μm −1 was obtained and calculated for the ratio H 3 2 / H 2 2 of the energy spectrum.

(미세 요철 표면의 경사 각도)(Inclined angle of the fine uneven surface)

위에서 얻어진 측정 데이터를 기초로, 전술한 알고리즘에 기초하여 계산해서, 요철면의 경사 각도의 막대 그래프를 작성하고, 그것으로부터 경사 각도마다의 분포를 구하며, 경사 각도가 5°이하인 면의 비율을 계산하였다.Based on the measurement data obtained above, calculation is made based on the algorithm described above, a bar graph of the inclination angle of the uneven surface is created, the distribution for each inclination angle is obtained therefrom, and the proportion of the surface having an inclination angle of 5 ° or less is calculated. It was.

〔2〕방현 필름의 광학 특성의 측정[2] Measurement of optical properties of antiglare film

(헤이즈)(Haze)

방현 필름의 헤이즈는, JIS K 7136에 규정되는 방법으로 측정하였다. 구체적으로는, 이 규격에 준거한 헤이즈미터 HM-150형(무라카미 색채 기술 연구소 제조)을 이용하여 헤이즈를 측정하였다. 방현 필름의 휘어짐을 방지하기 위해서, 광학적으로 투명한 점착제를 이용하여 요철면이 표면이 되도록 유리 기판에 접합하고 나서, 측정에 제공하였다. 일반적으로 헤이즈가 커지면, 화상 표시 장치에 적용했을 때에 화상이 어두워지고, 그 결과, 정면 콘트라스트가 저하되기 쉬워진다. 그 때문에, 헤이즈는 낮은 편이 바람직하다.The haze of the antiglare film was measured by the method specified in JIS K 7136. Specifically, haze was measured using a haze meter HM-150 type (manufactured by Murakami Color Research Institute) in accordance with this standard. In order to prevent curvature of an anti-glare film, it bonded to the glass substrate so that an uneven surface might become a surface using the optically transparent adhesive, and used for the measurement. In general, when the haze increases, the image becomes dark when applied to the image display device, and as a result, the front contrast tends to decrease. For this reason, the lower one of the haze is preferable.

〔3〕방현 필름의 방현 성능의 평가[3] Evaluation of antiglare performance of antiglare film

(투영, 백화의 육안 평가)(Visual evaluation of projection and whitening)

방현 필름의 이면으로부터의 반사를 방지하기 위해서, 요철면이 표면이 되도록 흑색 아크릴 수지판에 방현 필름을 접합하고, 형광등이 켜진 밝은 실내에서 요철면측으로부터 육안으로 관찰하여, 형광등의 투영의 유무, 백화 정도를 육안으로 평가하였다. 투영, 백화 및 질감은, 각각 1∼3의 3단계로 다음의 기준에 의해 평가하였다.In order to prevent reflection from the back surface of the antiglare film, the antiglare film is bonded to the black acrylic resin plate so that the concave-convex surface becomes the surface, and visually observed from the concave-convex surface side in a bright room where the fluorescent lamp is lit, and whether or not the projection of the fluorescent lamp is whitened. The degree was visually evaluated. Projection, whitening, and texture were evaluated according to the following criteria in three steps of 1 to 3, respectively.

투영 1: 투영이 관찰되지 않는다.Projection 1: No projection is observed.

2: 투영이 약간 관찰된다.      2: The projection is slightly observed.

3: 투영이 명료하게 관찰된다.      3: The projection is clearly observed.

백화 1: 백화가 관찰되지 않는다.Whitening 1: Whitening is not observed.

2: 백화가 약간 관찰된다.      2: Slight whitening is observed.

3: 백화가 명료하게 관찰된다.      3: Whitening is observed clearly.

(번쩍임의 평가)(Evaluation of the flash)

번쩍임은, 이하의 방법으로 평가하였다. 즉, 시판의 액정 텔레비전 LC-32GH3[샤프(주) 제조]으로부터 표리 양면의 편광판을 박리하였다. 이들 오리지널 편광판 대신에, 배면측 및 표시면측 모두, 편광판 스미카란 SRDB31E[스미또모 가가쿠(주) 제조]를, 각각의 흡수축이 오리지널 편광판의 흡수축과 일치하도록 점착제를 통해 접합하고, 또한 표시면측 편광판 위에는, 이하의 각 예에 나타내는 방현 필름을 요철면이 표면이 되도록 점착제를 통해 접합하였다. 이 상태에서, 샘플로부터 약 30 ㎝ 떨어진 위치로부터, 육안으로 관찰함으로써, 번쩍임 정도를 7단계로 관능 평가하였다. 레벨 1은 번쩍임이 전혀 보여지지 않는 상태, 레벨 7은 심하게 번쩍임이 관찰되는 상태에 해당하고, 레벨 3은 아주 약간 번쩍임이 관찰되는 상태이다. Flashing was evaluated by the following method. That is, the polarizing plate of both front and back was peeled from commercial liquid crystal television LC-32GH3 (made by Sharp Co., Ltd.). Instead of these original polarizing plates, on both the back side and the display surface side, polarizing plates Sumikaran SRDB31E (manufactured by Sumitomo Kagaku Co., Ltd.) were bonded together via an adhesive so that each absorption axis coincided with the absorption axis of the original polarizing plate, and further, the display was performed. On the surface side polarizing plate, the anti-glare film shown in each of the following examples was bonded through the adhesive so that the uneven surface may be a surface. In this state, the degree of glare was sensory evaluated in seven steps by visual observation from a position about 30 cm away from the sample. Level 1 is a state where no glare is seen at all, level 7 corresponds to a state where severe flashes are observed, and level 3 is a state where very little flashes are observed.

〔4〕방현 필름 제조용 패턴의 평가[4] Evaluation of pattern for antiglare film production

작성한 패턴 데이터를 256계조의 그레이 스케일의 화상 데이터로 하고, 계조를 이차원의 이산 함수 g(x, y)로 나타내었다. 이산 함수 g(x, y)의 수평 분해능 Δx 및 Δy는 모두 2 ㎛로 하였다. 얻어진 이차원 함수 g(x, y)를 이산 푸리에 변환하여, 이차원 함수 G(fx, fy)를 구하였다. 이차원 함수 G(fx, fy)를 제곱하여 에너지 스펙트럼의 이차원 함수 G2(fx, fy)를 계산하고, fx=0의 단면 곡선인 G2(0, fy)로부터, 공간 주파수가 0 ㎛-1보다 크고, 또한, 절대값이 가장 작은 공간 주파수에서의 극대값을 구하였다. The created pattern data was made into image data of 256 gray scales, and the gray scale was represented by the two-dimensional discrete function g (x, y). The horizontal resolutions Δx and Δy of the discrete functions g (x, y) were both 2 μm. The obtained two-dimensional function g (x, y) was discrete Fourier transformed, and the two-dimensional function G (f x , f y ) was obtained. Two-dimensional function G (f x, f y) square by calculating a two-dimensional function of the energy spectrum G 2 (f x, f y ), f x = 0 cross section curve of G, the space from the 2 (0, f y) of The maximum value in the spatial frequency whose frequency is larger than 0 micrometer <-1> and whose absolute value is the smallest was calculated | required.

<실시예 1>&Lt; Example 1 >

직경 200 ㎜의 알루미늄롤(JIS에 의한 A5056)의 표면에 구리 발라드(ballard) 도금이 실시된 것을 준비하였다. 구리 발라드 도금은, 구리 도금층/얇은 은 도금층/표면 구리 도금층으로 이루어지는 것이며, 도금층 전체의 두께는, 약 200 ㎛가 되도록 설정하였다. 그 구리 도금 표면을 경면 연마하고, 연마된 구리 도금 표면에 감광성 수지를 도포, 건조하여 감광성 수지막을 형성하였다. 이어서, 도 8에 도시하는 패턴을 반복해서 배열한 패턴을 감광성 수지막 상에 레이저광에 의해 노광하고, 현상하였다. 레이저광에 의한 노광, 및 현상은 Laser Stream FX[(주)싱크 래버러토리 제조]를 이용하여 행하였다. 감광성 수지막에는 포지티브형의 감광성 수지를 사용하였다.The thing which copper ballard plating was performed to the surface of the aluminum roll (A5056 by JIS) of diameter 200mm was prepared. Copper ballad plating consists of a copper plating layer / thin silver plating layer / surface copper plating layer, and the thickness of the whole plating layer was set so that it might be set to about 200 micrometers. The copper plating surface was mirror-polished, the photosensitive resin was apply | coated to the polished copper plating surface, and it dried, and formed the photosensitive resin film. Subsequently, the pattern which repeated and arranged the pattern shown in FIG. 8 was exposed and developed by the laser beam on the photosensitive resin film. Exposure by laser light and development were performed using Laser Stream FX (manufactured by Sync Laboratories). Positive photosensitive resin was used for the photosensitive resin film.

그 후, 염화제2구리액으로 제1 에칭 처리를 행하였다. 그때의 에칭량은 7 ㎛가 되도록 설정하였다. 제1 에칭 처리 후의 롤로부터 감광성 수지막을 제거하고, 재차, 염화제2구리액으로 제2 에칭 처리를 행하였다. 그때의 에칭량은 18 ㎛가 되도록 설정하였다. 그 후, 크롬 도금 가공을 행하여, 금형 A를 제작하였다. 이때, 크롬 도금 두께가 4 ㎛가 되도록 설정하였다.Then, the 1st etching process was performed with the cupric chloride liquid. The etching amount at that time was set to be 7 micrometers. The photosensitive resin film was removed from the roll after the first etching treatment, and the second etching treatment was again performed with cupric chloride liquid. The etching amount at that time was set to be 18 micrometers. Then, the chrome plating process was performed and the metal mold | die A was produced. At this time, the chromium plating thickness was set to 4 µm.

광경화성 수지 조성물 GRANDIC 806T[다이닛폰 잉크 가가쿠 고교(주) 제조]를 아세트산에틸로 용해하여, 50 중량% 농도의 용액으로 하고, 또한, 광중합 개시제인 루시린 TPO[BASF사 제조, 화학명: 2,4,6-트리메틸벤조일디페닐포스핀옥사이드]를, 경화성 수지 성분 100 중량부당 5 중량부 첨가하여 도포액을 조제하였다. 두께 80 ㎛의 트리아세틸셀룰로오스(TAC) 필름 상에, 이 도포액을 건조 후의 도포 두께가 10 ㎛가 되도록 도포하고, 60℃로 설정한 건조기 속에서 3분간 건조시켰다. 건조 후의 필름을, 앞서 얻어진 금형 A의 요철면에, 광경화성 수지 조성물층이 금형측이 되도록 고무롤로 밀어붙여 밀착시켰다. 이 상태에서 TAC 필름측으로부터, 강도 20 mW/㎠의 고압 수은등으로부터의 빛을 h선 환산 광량으로 200 mJ/㎠가 되도록 조사하여, 광경화성 수지 조성물층을 경화시켰다. 이 후, TAC 필름을 경화 수지와 함께 금형으로부터 박리하여, 표면에 요철을 갖는 경화 수지와 TAC 필름의 적층체로 이루어지는 투명한 방현 필름 A를 제작하였다.Photocurable resin composition GRANDIC 806T (manufactured by Dainippon Ink & Chemicals Co., Ltd.) was dissolved in ethyl acetate to obtain a solution having a concentration of 50% by weight, and further, lucirin TPO (manufactured by BASF Corporation, chemical name: 2) as a photopolymerization initiator. , 4,6-trimethylbenzoyldiphenylphosphine oxide] was added 5 parts by weight per 100 parts by weight of the curable resin component to prepare a coating solution. On the 80-micrometer-thick triacetyl cellulose (TAC) film, this coating liquid was apply | coated so that the coating thickness after drying might be set to 10 micrometers, and it dried for 3 minutes in the dryer set to 60 degreeC. The film after drying was pressed by the rubber roll so that the photocurable resin composition layer might become a metal mold | die to the uneven surface of the metal mold A previously obtained, and it was made to adhere. In this state, the light from the high-pressure mercury lamp of 20 mW / cm <2> intensity | strength was irradiated so that it might become 200 mJ / cm <2> by h-ray-converted light quantity, and the photocurable resin composition layer was hardened. Thereafter, the TAC film was peeled from the mold together with the cured resin to prepare a transparent anti-glare film A made of a laminate of a cured resin having irregularities on the surface and a TAC film.

<실시예 2><Example 2>

레이저광에 의해 노광하는 패턴으로서 도 15에 도시하는 패턴을 이용한 것 이외에는 실시예 1과 동일하게 하여 금형 B를 얻었다. 도 15에 도시한 패턴인 화상 데이터는 1 ㎜×1 ㎜의 크기이며, 6400 dpi로 작성하였다. 얻어진 금형 B를 이용한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 방현 필름 B를 제작하였다.The metal mold | die B was obtained like Example 1 except having used the pattern shown in FIG. 15 as a pattern exposed by a laser beam. The image data which is the pattern shown in FIG. 15 was 1 mm x 1 mm in size, and was created at 6400 dpi. An anti-glare film B was produced in the same manner as in Example 1 except that the obtained mold B was used.

<비교예 1>Comparative Example 1

레이저광에 의해 노광하는 패턴으로서 도 16에 도시하는 패턴을 이용한 것 이외에는 실시예 1과 동일하게 하여 금형 C를 얻었다. 도 16에 도시한 패턴인 화상 데이터는 2 ㎜×2 ㎜의 크기이며, 12800 dpi로 작성하였다. 얻어진 금형 C를 이용한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 방현 필름 C를 제작하였다.The metal mold | die C was obtained like Example 1 except having used the pattern shown in FIG. 16 as a pattern exposed by a laser beam. The image data which is the pattern shown in FIG. 16 was 2 mm x 2 mm in size, and was created at 12800 dpi. An anti-glare film C was produced in the same manner as in Example 1 except that the obtained mold C was used.

<비교예 2>Comparative Example 2

레이저광에 의해 노광하는 패턴으로서 도 17에 도시하는 패턴을 이용하고, 제1 에칭 처리의 에칭량은 10 ㎛가 되도록 설정하며, 제2 에칭 처리의 에칭량은 30 ㎛가 되도록 설정한 것 이외에는 실시예 1과 동일하게 하여 금형 D를 얻었다. 도 17에 도시한 패턴인 화상 데이터는 20 ㎜×20 ㎜의 크기이며, 3200 dpi로 작성하였다. 얻어진 금형 D를 이용한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 방현 필름 D를 제작하였다.The pattern shown in FIG. 17 is used as a pattern to be exposed by laser light, except that the etching amount of the first etching treatment is set to 10 µm and the etching amount of the second etching treatment is set to 30 µm. Mold D was obtained in the same manner as in Example 1. The image data which is the pattern shown in FIG. 17 is 20 mm x 20 mm in size, and was created with 3200 dpi. An anti-glare film D was produced in the same manner as in Example 1 except that the obtained mold D was used.

<비교예 3>Comparative Example 3

직경 200 ㎜의 알루미늄롤(JIS에 의한 A5056)의 표면에 구리 발라드 도금이 실시된 것을 준비하였다. 구리 발라드 도금은, 구리 도금층/얇은 은 도금층/표면 구리 도금층으로 이루어지는 것이며, 도금층 전체의 두께는, 약 200 ㎛가 되도록 설정하였다. 그 구리 도금 표면을 경면 연마하고, 연마된 구리 도금면에, 블라스트 장치[(주)후지 세이사쿠쇼 제조]를 이용하여, 지르코니아 비즈 TZ-SX-17[도소(주) 제조, 평균 입경: 20 ㎛]을, 블라스트 압력 0.05 ㎫(게이지압, 이하 동일), 비즈 사용량 8 g/㎠(롤의 표면적 1 ㎠당의 사용량, 이하 동일)로 블라스트하여, 표면에 요철을 형성하였다. 얻어진 요철을 갖는 구리 도금 알루미늄롤에 크롬 도금 가공을 행하여, 금속 금형 E를 제작하였다. 이때, 크롬 도금 두께가 6 ㎛가 되도록 설정하였다. 얻어진 금형 E를 이용한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 방현 필름 E를 제작하였다.The thing which copper ballad plating was given to the surface of the aluminum roll (A5056 by JIS) of diameter 200mm was prepared. Copper ballad plating consists of a copper plating layer / thin silver plating layer / surface copper plating layer, and the thickness of the whole plating layer was set so that it might be set to about 200 micrometers. The copper-plated surface was mirror-polished and zirconia beads TZ-SX-17 (manufactured by Tosoh Corporation, average particle diameter: 20) was used on the polished copper plated surface using a blasting device (manufactured by Fuji Seisakusho Co., Ltd.). [Micro] m] was blasted at a blast pressure of 0.05 MPa (gauge pressure, the same as below) and the use amount of beads 8 g / cm 2 (the amount used per 1 cm 2 of the roll surface, the same below), to form irregularities on the surface. Chromium plating was performed to the copper plating aluminum roll which has the obtained unevenness | corrugation, and metal mold E was produced. At this time, the chromium plating thickness was set to 6 µm. An anti-glare film E was produced in the same manner as in Example 1 except that the obtained mold E was used.

<비교예 4><Comparative Example 4>

직경 300 ㎜의 알루미늄롤(JIS에 의한 A5056)의 표면을 경면 연마하고, 연마된 알루미늄면에, 블라스트 장치[(주)후지 세이사쿠쇼 제조]를 이용하여, 지르코니아 비즈 TZ-SX-17[도소(주) 제조, 평균 입경: 20 ㎛]을, 블라스트 압력 0.1 ㎫(게이지압, 이하 동일), 비즈 사용량 8 g/㎠(롤의 표면적 1 ㎠당의 사용량, 이하 동일)로 블라스트하여, 표면에 요철을 형성하였다. 얻어진 요철을 갖는 알루미늄롤에 대하여, 무전해 니켈 도금 가공을 행하여, 금형 F를 제작하였다. 이때, 무전해 니켈 도금 두께가 15 ㎛가 되도록 설정하였다. 얻어진 금형 F를 이용한 것 이외에는, 실시예 1과 동일하게 하여 방현 필름 F를 제작하였다.The surface of the aluminum roll (A5056 by JIS) with a diameter of 300 mm was mirror-polished, and zirconia beads TZ-SX-17 (Tosho) was used on a polished aluminum surface using a blasting device (manufactured by Fuji Seisakusho Co., Ltd.). (Manufacture), average particle diameter: 20 micrometers ", and it is blasted by blast pressure of 0.1 Mpa (gauge pressure or less, same), beads usage-amount 8 g / cm <2> (usage per 1 cm <2> of rolls, same or less), and uneven | corrugated to the surface Formed. The electroless nickel plating process was performed with respect to the obtained aluminum roll which has an unevenness | corrugation, and the metal mold | die F was produced. At this time, it set so that electroless nickel plating thickness might be set to 15 micrometers. An anti-glare film F was produced in the same manner as in Example 1 except that the obtained mold F was used.

결과를 표 1에 나타낸다. 또한, 도 18에 방현 필름 B∼F의 미세 요철 표면의 표고를 나타내는 이차원 함수로부터 얻어진 에너지 스펙트럼의 fx=0에 있어서의 단면을 도시하였다. 또한, 도 19에 방현 필름 B∼D의 제작에 사용한 패턴으로부터 얻어진 에너지 스펙트럼의 fx=0에 있어서의 단면을 도시하였다. 도 19로부터 방현 필름 B의 제작에 사용한 패턴의 에너지 스펙트럼은 공간 주파수가 0 ㎛-1 초과 0.04 ㎛-1 이하에 극대값을 갖지 않는 것을 알 수 있다. 이에 비하여, 방현 필름 C 및 D의 제작에 사용한 패턴의 에너지 스펙트럼은 공간 주파수가 0 ㎛-1 초과 0.04 ㎛-1 이하에 극대값을 갖는 것을 알 수 있다.The results are shown in Table 1. In addition, it shows a cross-section of the f x = 0 of the energy spectra obtained from the two-dimensional function representing the elevation of the minute uneven surface of the antiglare film B~F in Fig. In addition, it shows a cross-section of the f x = 0 of the energy spectrum resulting from a pattern used in the production of an anti-glare film B~D in Fig. From FIG. 19, it turns out that the energy spectrum of the pattern used for preparation of the anti-glare film B does not have a local maximum in the spatial frequency more than 0 micrometer -1 and 0.04 micrometer -1 or less. On the other hand, it can be seen that the energy spectrum of the pattern used for the production of the antiglare films C and D has a local maximum in the spatial frequency of more than 0 µm -1 and 0.04 µm -1 or less.

Figure pat00005
Figure pat00005

표 1에 나타내는 결과로부터, 본 발명의 요건을 모두 만족시키는 방현 필름 A 및 B는, 번쩍임이 발생하지 않고, 충분한 방현성을 나타내며, 백화도 발생하지 않았다. 또한, 헤이즈도 낮기 때문에, 화상 표시 장치에 배치했을 때에도 콘트라스트의 저하를 발생시키는 일이 없다. 에너지 스펙트럼이 0 ㎛-1 초과 0.04 ㎛-1 이하에 극대값을 갖는 패턴으로부터 작성된 방현 필름 C 및 D는, 에너지 스펙트럼의 비 H1 2/H2 2가 본 발명의 요건을 만족시키지 않기 때문에, 충분한 방현성을 나타내고, 백화도 발생하지 않았으나 번쩍임이 발생하고 있었다. 또한, 소정의 패턴을 이용하지 않고 작성한 방현 필름 E 및 F는, 에너지 스펙트럼의 비 H1 2/H2 2가 본 발명의 요건을 만족시키지 않기 때문에, 충분한 방현성과 번쩍임의 억제를 양립할 수 없었다. From the result shown in Table 1, the glare-proof films A and B which satisfy | fill all the requirements of this invention did not generate | occur | produce glare, showed sufficient anti-glare property, and also did not generate whitening. In addition, since the haze is also low, the degradation of the contrast does not occur even when disposed in the image display device. The anti-glare films C and D prepared from the patterns having an energy spectrum having a maximum value of more than 0 μm −1 and 0.04 μm −1 or less are sufficient because the ratio H 1 2 / H 2 2 of the energy spectrum does not satisfy the requirements of the present invention. It was anti-glare and whitening did not occur, but sparkling occurred. In addition, written without using the predetermined pattern antiglare film E and F, since the ratio H 1 2 / H 2 2 of the energy spectrum does not meet the requirements of the present invention, could not have both the inhibition of sufficient anti-glare and glare .

Claims (4)

투명 지지체 상에, 미세한 요철 표면을 갖는 방현층이 형성되어 이루어지는 방현 필름으로서, 상기 미세 요철 표면의 표고(標高)의 공간 주파수 0.01 ㎛-1에 있어서의 에너지 스펙트럼 H1 2와, 공간 주파수 0.04 ㎛-1에 있어서의 에너지 스펙트럼 H2 2의 비 H1 2/H2 2가 3∼15의 범위 내인 방현 필름. An antiglare film in which an antiglare layer having a fine concavo-convex surface is formed on a transparent support, the energy spectrum H 1 2 at a spatial frequency of 0.01 μm −1 of an elevation of the fine concavo-convex surface, and a space frequency of 0.04 μm -1 spectral energy ratio H 2 2 H 1 2 / H 2 2 is within the range of 3 to 15 of the anti-glare film according to the. 제1항에 있어서, 상기 미세 요철 표면의 표고의 공간 주파수 0.1 ㎛-1에 있어서의 에너지 스펙트럼 H3 2와, 공간 주파수 0.04 ㎛-1에 있어서의 에너지 스펙트럼 H2 2의 비 H3 2/H2 2가 0.01 이하인 것인 방현 필름. The method of claim 1, wherein the fine concavo-convex energy spectrum in the space frequency of 0.1 ㎛ -1 elevation of the surface 2 and H 3, the spatial frequency ratio 0.04 ㎛ -1 H 3 2 / H of the energy spectrum in the H 2 2 An antiglare film wherein 2 2 is 0.01 or less. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 미세 요철 표면의 경사 각도가 5°이하인 면의 비율이 95% 이상인 것인 방현 필름. The anti-glare film of Claim 1 or 2 whose ratio of the surface in which the inclination-angle of the said fine uneven | corrugated surface is 5 degrees or less is 95% or more. 제1항에 있어서, 상기 방현층이 0.4 ㎛ 이상의 미립자를 포함하지 않는 것인 방현 필름.The antiglare film according to claim 1, wherein the antiglare layer does not contain fine particles of 0.4 µm or more.
KR1020100026321A 2009-03-25 2010-03-24 Anti-glare film KR101598637B1 (en)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009074119A JP5158443B2 (en) 2009-03-25 2009-03-25 Antiglare film and method for producing the same, and method for producing a mold
JPJP-P-2009-074119 2009-03-25

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20100107415A true KR20100107415A (en) 2010-10-05
KR101598637B1 KR101598637B1 (en) 2016-02-29

Family

ID=43041646

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020100026321A KR101598637B1 (en) 2009-03-25 2010-03-24 Anti-glare film

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JP5158443B2 (en)
KR (1) KR101598637B1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20150106345A (en) * 2014-03-11 2015-09-21 다이니폰 인사츠 가부시키가이샤 Touch panel, display device, optical sheet, method for selecting optical sheet, and method for manufacturing optical sheet

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5354668B2 (en) * 2009-06-09 2013-11-27 住友化学株式会社 Method for producing antiglare film, method for producing antiglare film and mold
JP5801062B2 (en) * 2010-03-11 2015-10-28 住友化学株式会社 Anti-glare film and anti-glare polarizing plate
CN102906604B (en) 2010-05-28 2016-04-27 3M创新有限公司 Light-redirecting film and the display system comprising light-redirecting film
JP6181383B2 (en) * 2012-02-29 2017-08-16 住友化学株式会社 Anti-glare film
WO2014081693A1 (en) * 2012-11-21 2014-05-30 3M Innovative Properties Company Optical diffusing films and methods of making same
US10557973B2 (en) * 2012-12-14 2020-02-11 3M Innovative Properties Company Brightness enhancing film with embedded diffuser
JP6039397B2 (en) * 2012-12-14 2016-12-07 住友化学株式会社 Method for producing mold for producing antiglare film and method for producing antiglare film
JP2014119552A (en) * 2012-12-14 2014-06-30 Sumitomo Chemical Co Ltd Antiglare film and method for manufacturing mold for the film, and method for producing antiglare film
JP2014119650A (en) * 2012-12-18 2014-06-30 Sumitomo Chemical Co Ltd Antiglare polarizing plate and image display device
WO2015137196A1 (en) * 2014-03-14 2015-09-17 日本電気硝子株式会社 Display cover member and method for manufacturing same
JP2016150450A (en) 2015-02-16 2016-08-22 住友化学株式会社 Mold
JP6515566B2 (en) * 2015-02-16 2019-05-22 住友化学株式会社 Mold
JP6801723B2 (en) * 2019-01-16 2020-12-16 住友化学株式会社 Anti-glare film
EP3828308A1 (en) * 2019-11-29 2021-06-02 Toto Ltd. Wet-area device and method for manufacturing wet-area device
JP2024049403A (en) 2021-02-10 2024-04-10 サンテックオプト株式会社 Anti-glare optical film and method for producing same
WO2023073495A1 (en) * 2021-10-29 2023-05-04 3M Innovative Properties Company Light control film

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007108724A (en) * 2005-09-16 2007-04-26 Fujifilm Corp Antiglare antireflection film, polarizing plate using same and liquid crystal display device
JP2007187952A (en) * 2006-01-16 2007-07-26 Sumitomo Chemical Co Ltd Anti-glare film, method of manufacturing same, method of manufacturing die for same, and display device
JP2007237541A (en) * 2006-03-08 2007-09-20 Sumitomo Chemical Co Ltd Mold having minute uneven shape on surface, method for producing the mold, and method for producing glare-proof film by using the mold
KR20090024267A (en) * 2006-06-20 2009-03-06 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤 Anti-glare film and image display device

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5135871B2 (en) * 2007-05-08 2013-02-06 住友化学株式会社 Anti-glare film, anti-glare polarizing plate and image display device
JP2009288655A (en) * 2008-05-30 2009-12-10 Nitto Denko Corp Antiglare hard coat film, polarizing plate and image display apparatus using the same, method for evaluating the same and method for producing the same

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007108724A (en) * 2005-09-16 2007-04-26 Fujifilm Corp Antiglare antireflection film, polarizing plate using same and liquid crystal display device
JP2007187952A (en) * 2006-01-16 2007-07-26 Sumitomo Chemical Co Ltd Anti-glare film, method of manufacturing same, method of manufacturing die for same, and display device
JP2007237541A (en) * 2006-03-08 2007-09-20 Sumitomo Chemical Co Ltd Mold having minute uneven shape on surface, method for producing the mold, and method for producing glare-proof film by using the mold
KR20090024267A (en) * 2006-06-20 2009-03-06 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤 Anti-glare film and image display device

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20150106345A (en) * 2014-03-11 2015-09-21 다이니폰 인사츠 가부시키가이샤 Touch panel, display device, optical sheet, method for selecting optical sheet, and method for manufacturing optical sheet

Also Published As

Publication number Publication date
JP5158443B2 (en) 2013-03-06
KR101598637B1 (en) 2016-02-29
JP2010224427A (en) 2010-10-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5158443B2 (en) Antiglare film and method for producing the same, and method for producing a mold
JP5674292B2 (en) Antiglare film and method for producing the same, and method for producing a mold
JP6181383B2 (en) Anti-glare film
JP5076334B2 (en) Mold having fine irregularities on its surface, method for producing the die, and method for producing an antiglare film using the die
KR101608091B1 (en) Anti-glare film and manufacturing method thereof
TWI477822B (en) Anti-glare film
KR101629020B1 (en) Process for producing anti-glare film and mold used for the production of the same
JP5150945B2 (en) Method for producing mold and method for producing antiglare film using mold obtained by the method
JP5801062B2 (en) Anti-glare film and anti-glare polarizing plate
KR101625229B1 (en) Manufacturing method of antiglare film, antiglare film and manufacturing method of mold
KR20160100838A (en) Mold
KR101588460B1 (en) Method for producing mold and method for producing anti-glare film
JP2013176954A (en) Method for manufacturing die for forming antiglare film and method for forming the antiglare film
JP6049980B2 (en) Anti-glare film
JP2014119552A (en) Antiglare film and method for manufacturing mold for the film, and method for producing antiglare film
JP5294310B2 (en) Method for producing mold and method for producing antiglare film using mold obtained by the method
JP2011186386A (en) Antiglare film and antiglare polarizing plate
JP2010286528A (en) Method of manufacturing anti-glare film, anti-glare film, and method of manufacturing mold
JP2016150450A (en) Mold
JP6039397B2 (en) Method for producing mold for producing antiglare film and method for producing antiglare film

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20190218

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20200218

Year of fee payment: 5