KR20100099535A - Appratus for treating substrate and method for fabricating the same - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 기판처리장치에 관한 것으로, 보다 구체적으로는 가스분배수단을 포함하는 기판처리장치에 관한 것이다.The present invention relates to a substrate processing apparatus, and more particularly, to a substrate processing apparatus including a gas distribution means.
일반적으로, 반도체 소자, 표시장치 및 박막 태양전지를 제조하기 위해서는 기판에 특정 물질의 박막을 증착하는 박막증착공정, 감광성 물질을 사용하여 이들 박막 중 선택된 영역을 노출 또는 은폐시키는 포토공정, 선택된 영역의 박막을 제거하여 패터닝하는 식각공정 등을 거치게 된다. 이들 공정 중 박막증착공정 및 식각공정 등은 진공상태로 최적화된 기판처리장치에서 진행한다. In general, in order to manufacture a semiconductor device, a display device, and a thin film solar cell, a thin film deposition process of depositing a thin film of a specific material on a substrate, a photo process of exposing or hiding selected areas of the thin films using a photosensitive material, The thin film is removed and patterned through an etching process. Among these processes, a thin film deposition process and an etching process are performed in a substrate processing apparatus optimized in a vacuum state.
기판처리장치에서, 반응공간을 가진 공정챔버의 내부에 균일한 공정가스를 분포시키기 위하여 가스분배판을 사용한다. 일반적으로 기판 상에 박막을 증착시키기 위하여 주요한 방법으로 화학적 기상 증착(Chemical Vapor Phase Deposition: CVD)을 사용한다. CVD 방법을 사용하는 경우, 가스분배판의 온도가 상승하여 공정 챔버의 리드와 가스분배판 사이에서 공정가스가 분해 및 반응으로 분말(powder) 또는 이물질(particle)이 발생할 수 있다. 따라서, 분말 또는 이물질의 발생을 억제하기 위하여, 가스분배판을 냉각하기 위한 냉각장치를 설치한다. 그러나, 냉각장치의 설치는 기판처리장치의 원가를 상승시키는 원인이 된다.In a substrate processing apparatus, a gas distribution plate is used to distribute a uniform process gas inside a process chamber having a reaction space. In general, chemical vapor deposition (CVD) is used as a main method for depositing a thin film on a substrate. In the case of using the CVD method, the temperature of the gas distribution plate rises, and thus, powder or particles may be generated as the process gas is decomposed and reacted between the lead and the gas distribution plate of the process chamber. Therefore, in order to suppress the generation of powder or foreign matter, a cooling device for cooling the gas distribution plate is provided. However, the installation of the cooling device causes the cost of the substrate processing device to increase.
그리고, 종래기술에서 2 종류의 공정가스를 독립적으로 동시에 분사하기 위한 분사홀을 형성하고, 공정온도에 따라 승온되는 가스분배판을 냉각시키기 위해 냉매가 유동하는 공간을 확보하기 위하여, 일반적으로 3 개 이상의 가스분배판으로 구성되는 가스분배수단을 제작하여야 한다. 이러한 가스분배수단은 다수의 핀 타입의 튜브를 적절하게 배열하고 수차례의 브레이징(brazing)에 의해 결합시켜 제작한다. 그런데, 가스분배수단의 면적도 증가함에 따라, 튜브의 수도 증가하여, 브레이징에 결합에 있어서 페일(fail)이 발생할 확율이 높아진다. 또한, 반복되는 브레이징에 의해 열변형이 발생하고, 브레이징 부위에 응력이 내재되어 리크(leak)가 발생할 수 있다.In addition, in the prior art, in order to form two injection holes for simultaneously injecting two kinds of process gases independently, and to secure a space in which the refrigerant flows to cool the gas distribution plate heated according to the process temperature, generally three Gas distribution means composed of the above gas distribution plates shall be manufactured. Such gas distribution means are manufactured by arranging a plurality of fin-type tubes appropriately and joining by several brazings. However, as the area of the gas distribution means also increases, the number of tubes increases, so that the probability of failing in bonding to the brazing increases. In addition, thermal deformation may occur due to repeated brazing, and stress may be inherent in the brazing site, thereby causing leakage.
상기와 같은 종래기술의 문제를 해결하기 위하여, 본 발명은 굴삭 또는 판재 가공에 의해 제작된 다수의 통과홀이 형성되는 제 1 가스분배판과 다수의 튜브의 결합에 의해 제작되어 다수의 통과홀과 연통되는 다수의 노즐이 설치되는 제 2 가 스분배판에 의해, 안정적으로 2 종류 이상의 가스를 독립적으로 분사할 수 있는 가스분배수단을 포함하는 기판처리장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.In order to solve the problems of the prior art as described above, the present invention is manufactured by the combination of the first gas distribution plate and the plurality of tubes formed with a plurality of through-holes made by excavation or plate processing and a plurality of through-holes and An object of the present invention is to provide a substrate processing apparatus including gas distribution means capable of stably injecting two or more kinds of gases stably by a second gas distribution plate provided with a plurality of communicating nozzles.
본 발명은 냉매의 온도를 적정온도로 조절하기 위해, 다수의 분사노즐을 가지는 가스분배판에 온도측정수단을 설치한 가스분배수단을 포함한 기판처리장치를 제공하는 것을 다른 목적으로 한다. Another object of the present invention is to provide a substrate processing apparatus including gas distribution means in which a temperature measuring means is provided on a gas distribution plate having a plurality of injection nozzles in order to adjust the temperature of the refrigerant to an appropriate temperature.
본 발명은 제 1 내지 제 3 가스분배판의 각각을 다수의 제 1 내지 3 서브 가스분배판으로 구성하는 것에 의해, 제작이 용이한 가스분배수단을 포함하는 기판처리장치를 제공하는 것을 목적으로 한다. An object of the present invention is to provide a substrate processing apparatus including gas distribution means that is easy to manufacture by configuring each of the first to third gas distribution plates with a plurality of first to third sub gas distribution plates. .
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 기판처리장치의 가스분배수단은, 제 1 공정가스를 도입하는 제 1 가스도입관과 연결되고, 상기 제 1 공정가스를 통과시키는 다수의 제 1 통과홀을 포함하는 제 1 가스분배판; 제 2 공정가스를 도입하는 제 2 가스도입관과 연결되고, 상기 다수의 제 1 통과홀과 정렬되어 상기 제 1 공정가스를 통과시키는 다수의 제 2 통과홀 및 상기 제 2 공정가스를 통과시키는 다수의 제 3 통과홀을 포함하는 제 2 가스분배판; 상기 다수의 제 2 및 제 3 통과홀과 정렬되어 상기 제 1 및 제 2 공정가스를 각각 분사하는 다수의 제 1 및 제 2 노즐과 냉매가 유동하는 공간을 포함하는 제 3 가스분배판;을 포함하는 것을 특징으로 한다.Gas distribution means of the substrate processing apparatus according to the present invention for achieving the above object is connected to a first gas introduction pipe for introducing a first process gas, a plurality of first passages for passing the first process gas A first gas distribution plate including a hole; A plurality of second passage holes that are connected to a second gas introduction pipe for introducing a second process gas and aligned with the plurality of first passage holes to allow the first process gas to pass through and the second process gas to pass through the second process gas; A second gas distribution plate comprising a third through hole of the second gas distribution plate; And a third gas distribution plate aligned with the plurality of second and third passage holes and including a plurality of first and second nozzles for injecting the first and second process gases, respectively, and a space in which a refrigerant flows. Characterized in that.
상기와 같은 기판처리장치의 가스분배수단에 있어서, 상기 제 1 가스분배판 은, 상기 제 1 가스도입관에서 공급되는 상기 제 1 공정가스를 수용하는 공간을 포함하는 하우징과, 상기 공간의 내부에 설치되고 상기 제 1 가스도입관으로부터 도입되는 상기 제 1 공정가스를 균일하기 분포시키기 위한 분포수단을 포함하는 것을 특징으로 한다.In the gas distribution means of the substrate processing apparatus as described above, the first gas distribution plate includes a housing including a space for accommodating the first process gas supplied from the first gas introduction pipe, and inside the space. And distribution means for uniformly distributing the first process gas installed and introduced from the first gas introduction pipe.
상기와 같은 기판처리장치의 가스분배수단에 있어서, 상기 제 1 가스분배판은, 상기 제 1 가스도입관에서 공급되는 상기 제 1 공정가스를 수용하는 공간을 포함하는 하우징과, 상기 공간의 내부에 설치되고 상기 제 1 가스도입관으로부터 도입되는 상기 제 1 공정가스를 균일하기 분포시키기 위한 분포수단을 가지는 다수의 제 1 서브 가스분배판을 포함하는 것을 특징으로 한다.In the gas distribution means of the substrate processing apparatus as described above, the first gas distribution plate includes a housing including a space for accommodating the first process gas supplied from the first gas introduction pipe, and inside the space. And a plurality of first sub gas distribution plates having distribution means for uniformly distributing the first process gas introduced from the first gas introduction pipe.
상기와 같은 기판처리장치의 가스분배수단에 있어서, 상기 하우징의 내측벽은 단차부를 포함하고, 상기 단차부에 상기 분포수단이 위치하는 것을 특징으로 한다.In the gas distribution means of the substrate processing apparatus as described above, the inner wall of the housing includes a stepped portion, and the distribution means is located in the stepped portion.
상기와 같은 기판처리장치의 가스분배수단에 있어서, 상기 제 1 서브 가스분배판은 부채꼴 형태이고, 상기 제 1 가스분배판의 중심부와 인접한 단부에서 원호처리되는 것을 특징으로 한다.In the gas distribution means of the substrate processing apparatus as described above, the first sub gas distribution plate is in the shape of a fan, characterized in that the arc processing at the end portion adjacent to the central portion of the first gas distribution plate.
상기와 같은 기판처리장치의 가스분배수단에 있어서, 상기 분포수단은 플레이트와 상기 플레이트를 천공하는 다수의 공급홀을 포함하는 것을 특징으로 한다.In the gas distribution means of the substrate processing apparatus as described above, the distribution means comprises a plate and a plurality of supply holes for puncturing the plate.
상기와 같은 기판처리장치의 가스분배수단에 있어서, 상기 제 2 가스분배판은 상기 제 2 가스도입관으로부터 공급되는 제 2 공정가스를 수용하는 버퍼공간과 상기 버퍼공간으로부터 공급되는 상기 제 2 공정가스를 수용하는 제 2 공간을 가지 는 제 2 하우징을 포함하고, 상기 제 1 가스분배판의 상기 하우징의 측벽은 상기 제 2 하우징의 상기 버퍼공간의 커버하는 두께를 가지는 것을 특징으로 한다.In the gas distribution means of the substrate processing apparatus as described above, the second gas distribution plate is a buffer space for receiving the second process gas supplied from the second gas introduction pipe and the second process gas supplied from the buffer space. And a second housing having a second space for accommodating the sidewall, wherein the side wall of the housing of the first gas distribution plate has a thickness covering the buffer space of the second housing.
상기와 같은 기판처리장치의 가스분배수단에 있어서, 상기 제 2 가스분배판은, 상기 제 2 가스도입관과 연결되고 상기 제 2 공정가스를 수용하는 공간을 제공하는 하우징; 상기 공간에 상기 다수의 제 2 통과홀을 내장한 다수의 필라; 상기 하우징의 하부를 천공한 상기 다수의 제 3 통과홀;을 포함하는 것을 특징으로 한다.In the gas distribution means of the substrate processing apparatus as described above, the second gas distribution plate, the housing is connected to the second gas introduction pipe and provides a space for receiving the second process gas; A plurality of pillars in which the plurality of second passage holes are embedded in the space; And a plurality of third through holes formed through the lower portion of the housing.
상기와 같은 기판처리장치의 가스분배수단에 있어서, 상기 제 2 가스분배판은, 상기 공간의 내부에 설치되는 격벽; 상기 하우징의 측벽과 상기 격벽에 의해 구분되고, 상기 제 2 가스도입관으로부터 공급되는 상기 제 2 공정가스를 수용하는 버퍼공간;을 포함하는 것을 특징으로 한다.In the gas distribution means of the substrate processing apparatus as described above, the second gas distribution plate, the partition wall is provided in the interior of the space; And a buffer space divided by the side wall of the housing and the partition wall and accommodating the second process gas supplied from the second gas introduction pipe.
상기와 같은 기판처리장치의 가스분배수단에 있어서, 상기 제 2 가스분배판은, 상기 격벽에 상기 버퍼공간의 상기 제 2 공정가스를 상기 공간으로 공급하기 위해 설치된 공급홀을 포함하는 것을 특징으로 한다.In the gas distribution means of the substrate processing apparatus as described above, the second gas distribution plate, characterized in that it comprises a supply hole provided in the partition wall for supplying the second process gas of the buffer space to the space. .
상기와 같은 기판처리장치의 가스분배수단에 있어서, 상기 제 2 가스분배판은, 상기 제 2 가스도입관과 연결되고 상기 제 2 공정가스를 수용하는 공간을 제공하는 하우징; 상기 공간에 상기 다수의 제 2 통과홀을 내장한 다수의 필라; 상기 하우징의 하부를 천공한 상기 다수의 제 3 통과홀;을 가지는 다수의 제 2 서브 가스분배판을 포함하는 것을 특징으로 한다.In the gas distribution means of the substrate processing apparatus as described above, the second gas distribution plate, the housing is connected to the second gas introduction pipe and provides a space for receiving the second process gas; A plurality of pillars in which the plurality of second passage holes are embedded in the space; And a plurality of second sub gas distribution plates having a plurality of third through holes formed in the lower part of the housing.
상기와 같은 기판처리장치의 가스분배수단에 있어서, 상기 제 3 가스분배판 은, 상기 다수의 제 1 및 제 2 노즐이 설치되고 상기 냉매가 유동하는 상기 공간을 포함하는 하우징과 상기 하우징에 연결되어 상기 냉매를 공급 또는 배출시키는 냉매유동관을 포함하는 것을 특징으로 한다.In the gas distribution means of the substrate processing apparatus as described above, the third gas distribution plate is connected to the housing and the housing including the space in which the plurality of first and second nozzles are installed and the refrigerant flows. It characterized in that it comprises a refrigerant flow pipe for supplying or discharging the refrigerant.
상기와 같은 기판처리장치의 가스분배수단에 있어서, 상기 하우징은 상기 공간의 측면을 감싸는 측벽, 상기 측벽의 상부에 위치하고, 상기 다수의 제 1 및 제 2 노즐과 연통되는 상판, 및 상기 측벽의 하부에 위치하고, 상기 다수의 제 1 및 제 2 노즐과 연통되는 하판을 포함하는 것을 특징으로 한다.In the gas distribution means of the substrate processing apparatus as described above, the housing is located on the side wall surrounding the side of the space, the upper side of the side wall, the upper plate in communication with the plurality of first and second nozzles, and the lower side of the side wall Located in, characterized in that it comprises a lower plate in communication with the plurality of first and second nozzles.
상기와 같은 기판처리장치의 가스분배수단에 있어서, 상기 하우징은 상기 공간의 측면을 감싸는 측벽 및 상기 제 2 가스분배판과 직접 접촉하는 상기 다수의 제 1 및 제 2 노즐이 위치하는 하판을 포함하는 것을 특징으로 한다.In the gas distribution means of the substrate processing apparatus as described above, the housing includes a side wall surrounding the side of the space and a lower plate on which the plurality of first and second nozzles in direct contact with the second gas distribution plate are located. It is characterized by.
상기와 같은 기판처리장치의 가스분배수단에 있어서, 상기 제 3 가스분배판은, 상기 다수의 제 1 및 제 2 노즐이 설치되고 상기 냉매가 유동하는 상기 공간을 포함하는 하우징과 상기 하우징에 연결되어 상기 냉매를 공급 또는 배출시키는 냉매유동관을 가지는 제 3 서브 가스분배판을 포함하는 것을 특징으로 한다.In the gas distribution means of the substrate processing apparatus as described above, the third gas distribution plate is connected to the housing and the housing including the space in which the plurality of first and second nozzles are installed and the refrigerant flows. And a third sub gas distribution plate having a refrigerant flow tube for supplying or discharging the refrigerant.
상기와 같은 기판처리장치의 가스분배수단에 있어서, 상기 제 1 가스분배판과 상기 제 2 가스분배판은 알루미늄으로 제작되고, 제 3 가스분배판은 스테인레스 스틸 또는 알루미늄으로 제작되는 것을 특징으로 한다.In the gas distribution means of the substrate treating apparatus as described above, the first gas distribution plate and the second gas distribution plate are made of aluminum, and the third gas distribution plate is made of stainless steel or aluminum.
상기와 같은 기판처리장치의 가스분배수단에 있어서, 상기 제 3 가스분배판에 온도측정수단을 설치하는 것을 특징으로 한다.In the gas distribution means of the substrate processing apparatus as described above, a temperature measuring means is provided on the third gas distribution plate.
상기와 같은 기판처리장치의 가스분배수단에 있어서, 상기 제 2 가스분배판 및 상기 제 3 가스분배판에 각각 제 1 및 제 2 온도측정수단을 설치하는 것을 특징으로 한다.In the gas distribution means of the substrate processing apparatus as described above, first and second temperature measuring means are provided on the second gas distribution plate and the third gas distribution plate, respectively.
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 기판처리장치는, 반응공간을 제공하는 공정챔버; 상기 반응공간에 설치되고, 제 1 공정가스를 도입하는 제 1 가스도입관과 연결되고, 상기 제 1 공정가스를 통과시키는 다수의 제 1 통과홀을 포함하는 제 1 가스분배판, 제 2 공정가스를 도입하는 제 2 가스도입관과 연결되고, 상기 다수의 제 1 통과홀과 정렬되어 상기 제 1 공정가스를 통과시키는 다수의 제 2 통과홀 및 상기 제 2 공정가스를 통과시키는 다수의 제 3 통과홀을 포함하는 제 2 가스분배판, 및 상기 다수의 제 2 및 제 3 통과홀과 정렬되어 상기 제 1 및 제 2 공정가스를 각각 분사하는 다수의 제 1 및 제 2 노즐과 냉매가 유동하는 공간을 포함하는 제 3 가스분배판을 포함하는 가스분배수단; 상기 가스분배수단과 대향하고, 기판을 안치하는 기판안치수단;을 포함하는 것을 특징으로 한다.Substrate processing apparatus for achieving the above object, the process chamber for providing a reaction space; A first gas distribution plate and a second process gas installed in the reaction space and connected to a first gas introduction pipe for introducing a first process gas and including a plurality of first passage holes through which the first process gas passes; A plurality of second passage holes connected to a second gas introduction pipe for introducing a plurality of second passage holes to pass through the first process gas and aligned with the plurality of first passage holes to pass the second process gas; A second gas distribution plate including a hole, and a plurality of first and second nozzles which are aligned with the plurality of second and third passage holes to inject the first and second process gases, respectively, and a space in which the refrigerant flows. Gas distribution means comprising a third gas distribution plate comprising a; And substrate mounting means facing the gas distribution means, the substrate placing means being disposed thereon.
상기와 같은 기판처리장치에 있어서, 상기 공정챔버는 챔버몸체와 챔버리드로 구성되고, 상기 챔버리드에 상기 제 1 가스분배판이 결합되는 것을 특징으로 한다.In the substrate processing apparatus as described above, the process chamber is composed of a chamber body and a chamber lead, characterized in that the first gas distribution plate is coupled to the chamber lead.
상기와 같은 기판처리장치에 있어서, 상기 챔버리드는 상기 제 1 가스분배판과 대응되는 부분에 형성되고 상기 제 1 가스도입관과 연결되는 함몰부를 포함하고, 상기 제 1 가스분배판은 상기 제 1 공정가스를 수용하는 공간을 포함하고, 상기 함몰부와 상기 공간 사이에 상기 제 1 공정가스를 균일하게 분포시키는 배플을 포함하는 것을 특징으로 한다.In the substrate processing apparatus as described above, the chamber lead includes a recess formed in a portion corresponding to the first gas distribution plate and connected to the first gas introduction pipe, and the first gas distribution plate is the first gas distribution plate. And a space for accommodating the process gas, and a baffle for uniformly distributing the first process gas between the recess and the space.
상기와 같은 기판처리장치에 있어서, 상기 챔버리드에는 냉매가 순환하는 냉매유로가 형성되는 것을 특징으로 한다.In the substrate processing apparatus as described above, the chamber lead is characterized in that the refrigerant passage through which the refrigerant is circulated.
상기와 같은 기판처리장치에 있어서, 상기 챔버리드와 이격되어 상기 제 1 가스분배판이 설치되는 것을 특징으로 한다.In the substrate processing apparatus as described above, the first gas distribution plate is installed spaced apart from the chamber lead.
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 기판처리장치의 가스분배수단의 제조방법은, 제 1 공정가스를 도입하는 제 1 가스도입관과 연결되고, 상기 제 1 공정가스를 통과시키는 다수의 제 1 통과홀을 포함하는 제 1 가스분배판을 형성하는 단계; 제 2 공정가스를 도입하는 제 2 가스도입관과 연결되고, 상기 다수의 제 1 통과홀과 정렬되어 상기 제 1 공정가스를 통과시키는 다수의 제 2 통과홀 및 상기 제 2 공정가스를 통과시키는 다수의 제 3 통과홀을 포함하는 제 2 가스분배판을 형성하는 단계; 상기 다수의 제 2 및 제 3 통과홀과 정렬되어 상기 제 1 및 제 2 공정가스를 각각 분사하는 다수의 제 1 및 제 2 노즐과 냉매가 유동하는 공간을 포함하는 제 3 가스분배판을 형성하는 단계; 상기 제 1 가스분배판에 상기 제 2 가스분배판과, 상기 제 2 가스분배판에 상기 제 3 가스분배판을 결합시키는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 한다.A method of manufacturing the gas distribution means of the substrate processing apparatus for achieving the above object is connected to the first gas introduction pipe for introducing a first process gas, a plurality of first through holes for passing the first process gas Forming a first gas distribution plate comprising a; A plurality of second passage holes that are connected to a second gas introduction pipe for introducing a second process gas and aligned with the plurality of first passage holes to allow the first process gas to pass through and the second process gas to pass through the second process gas; Forming a second gas distribution plate including a third through hole of the second gas distribution plate; Forming a third gas distribution plate including a plurality of first and second nozzles which are aligned with the plurality of second and third through holes, respectively, and a space in which a refrigerant flows, and a plurality of first and second nozzles respectively injecting the first and second process gases; step; And coupling the second gas distribution plate to the first gas distribution plate and the third gas distribution plate to the second gas distribution plate.
상기와 같은 기판처리장치의 가스분배수단의 제조방법에 있어서, 상기 제 3 가스분배판은, 제 1 판재 및 제 2 판재를 준비하는 단계; 상기 제 1 판재 및 상기 제 2 판재에 상기 다수의 제 1 및 제 2 노즐과 대응되는 다수의 개구를 천공하는 단계; 상기 제 1 판재 및 상기 제 2 판재의 사이에, 상기 다수의 개구와 대응되도록 다수의 튜브를 배열시키는 단계; 상기 제 1 판재 및 상기 제 2 판재와 상기 다 수의 튜브를 브레이징 방법을 이용하여 접합시키는 단계; 상기 제 1 판재 및 상기 제 2 판재의 주변부를 제 3 판재와 결합시켜 하우징을 형성하는 단계; 상기 하우징의 측벽에 냉매를 공급 및 배출하는 냉매유동관을 연결하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 한다.In the method of manufacturing a gas distribution means of the substrate processing apparatus as described above, the third gas distribution plate, comprising the steps of preparing a first plate and a second plate; Drilling a plurality of openings corresponding to the plurality of first and second nozzles in the first plate and the second plate; Arranging a plurality of tubes between the first plate and the second plate to correspond to the plurality of openings; Bonding the first plate and the second plate to the plurality of tubes using a brazing method; Coupling a peripheral portion of the first plate and the second plate with a third plate to form a housing; And connecting a refrigerant flow tube for supplying and discharging the refrigerant to the side wall of the housing.
상기와 같은 기판처리장치의 가스분배수단의 제조방법에 있어서, 상기 제 3 가스분배판은, 판재를 준비하는 단계; 상기 판재에 상기 다수의 제 1 및 제 2 노즐과 대응되는 다수의 개구를 천공하는 단계; 상기 판재의 상기 다수의 개구와 대응되도록 다수의 튜브를 배열시키는 단계; 상기 판재와 상기 다수의 튜브를 브레이징 방법을 이용하여 접합시키는 단계; 상기 판재의 주변부를 제 3 판재와 결합시켜 하우징을 형성하는 단계; 상기 다수의 제 1 및 제 2 노즐의 상부를 상기 제 2 가스분배판의 하부에 접촉시켜 연결시키는 단계; 상기 하우징의 측벽에 냉매를 공급 및 배출하는 냉매유동관을 연결하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 한다.In the method of manufacturing a gas distribution means of the substrate processing apparatus as described above, the third gas distribution plate, the step of preparing a plate; Drilling a plurality of openings corresponding to the plurality of first and second nozzles in the plate; Arranging a plurality of tubes to correspond with the plurality of openings of the plate; Joining the plate with the plurality of tubes using a brazing method; Coupling a peripheral portion of the plate with a third plate to form a housing; Connecting upper portions of the plurality of first and second nozzles to contact lower portions of the second gas distribution plate; And connecting a refrigerant flow tube for supplying and discharging the refrigerant to the side wall of the housing.
본 발명의 실시예에 따른 가스분배수단을 포함하는 기판처리장치는 다음과 같은 효과가 있다.Substrate processing apparatus including a gas distribution means according to an embodiment of the present invention has the following effects.
2 종류의 공정가스를 독립적으로 동시에 분사하고, 3 개의 가스분배판으로 구성되는 가스분배판에 있어서, 공정가스를 기판 상에 분사하는 노즐을 포함하는 가스분배판에 냉매가 유동하는 공간을 설치함으로써, 공정가스의 분해에 따른 이물 질의 발생을 방지하고, 또한 가스분배수단의 열변형을 예방할 수 있다. 2 개의 가스분배판은 굴삭 또는 판재 가공에 의해 제작하고, 노즐을 포함하는 가스분배판 만을 브레이징 방법을 사용하여 제작함으로써, 단순화된 구조를 실현하고 제작비용을 절감할 수 있다. In a gas distribution plate composed of three gas distribution plates which simultaneously inject two kinds of process gases independently, by providing a space in which a refrigerant flows in a gas distribution plate including a nozzle for injecting the process gas onto a substrate. In addition, it is possible to prevent the occurrence of foreign substances due to the decomposition of the process gas, and also to prevent thermal deformation of the gas distribution means. The two gas distribution plates are manufactured by excavation or sheet metal processing, and only the gas distribution plates including nozzles are manufactured by using a brazing method, thereby realizing a simplified structure and reducing manufacturing costs.
노즐을 포함한 가스분배판에 온도측정수단을 설치하여, 브레이징 방법으로 가공할 때 또는 기판처리공정 중에 가스분배판이 적정온도 이상으로 승온하는 경우, 가공작업 또는 기판처리공정을 중단하는 신호를 제공하고, 중단신호에 의한 작업 또는 기판처리공정을 자동적으로 중단할 수 있어, 제작과정 또는 기판처리과정에서 발생되는 문제를 예방할 수 있다. By providing a temperature measuring means to the gas distribution plate including the nozzle, when processing by the brazing method or when the gas distribution plate rises above the proper temperature during the substrate processing process, it provides a signal to stop the processing or substrate processing process, It is possible to automatically stop the work or the substrate processing process by the stop signal, it is possible to prevent problems caused during the manufacturing process or substrate processing.
제 1 내지 제 3 가스분배판의 각각을 다수의 제 1 내지 3 서브 가스분배판으로 구성하는 것에 의해, 가스분배수단의 제작이 용이하다. By constructing each of the first to third gas distribution plates with a plurality of first to third sub gas distribution plates, the gas distribution means can be easily manufactured.
도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다. 그러나 본 발명은 실시예에서 설명하는 내용으로 한정하는 것이 아니라, 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있고, 단지 본 발명의 실시예는 통상의 지식을 가진 자에 본 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이다. 도면상에서 동일 부호는 동일한 요소를 지칭한다. With reference to the drawings will be described a preferred embodiment of the present invention; However, the present invention is not limited to the contents described in the embodiments, but may be embodied in various different forms, and only the embodiments of the present invention to fully inform the person skilled in the art the scope of the present invention. It is provided. Like numbers refer to like elements in the figures.
도 1은 본 발명의 제 1 실시예에 따른 기판처리장치의 모식도이고, 도 2는 본 발명의 제 1 실시예에 따른 기판처리장치의 가스분배수단의 상세 단면도이고, 도 3은 본 발명의 제 1 실시예에 따른 가스분배수단의 분해 사시도이고, 도 4a 내지 도 4c는 본 발명의 제 1 실시예에 따른 제 3 가스분배판의 제조 사시도이고, 도 5는 본 발명의 제 1 실시예에 따른 제 2 가스분배판의 평면도이다. 도 1 내지 도 5를 참조하여, 본 발명의 제 1 실시예를 설명하면 다음과 같다.1 is a schematic diagram of a substrate processing apparatus according to a first embodiment of the present invention, FIG. 2 is a detailed cross-sectional view of a gas distribution means of the substrate processing apparatus according to the first embodiment of the present invention, and FIG. 4 is an exploded perspective view of a gas distribution means according to an embodiment, Figures 4a to 4c is a perspective view of manufacturing a third gas distribution plate according to a first embodiment of the present invention, Figure 5 is a first embodiment of the present invention It is a top view of a 2nd gas distribution board. Referring to Figures 1 to 5, the first embodiment of the present invention will be described.
도 1과 같이, 기판처리장치(110)는 반응공간을 제공하는 공정챔버(112), 공정챔버(112) 내부의 상부에 위치하며, 공정가스를 공급하는 가스분배수단(114), 가스분배수단(114)과 대향하고 기판(116)이 안치되는 기판안치수단(118), 기판(116)을 출입시키기 위한 기판출입구(120), 및 반응공간의 반응가스 및 부산물을 배출하기 위한 배출구(122)를 포함하여 구성된다. 가스분배수단(114)은 RF전원(124)과 연결되고, 가스분배수단(114)과 RF전원(124) 사이에는 임피던스 정합을 위한 매처(126)가 설치된다. 그러나, 가스분배수단(114)이 RF전원(124)과 연결되지 않고, 단순히 공정가스를 반응공간에 공급하여 성막하는 CVD(Chemical Vapor Depostion)방법을 사용할 수 있다. As shown in FIG. 1, the
공정챔버(112)는 챔버몸체(128)와 챔버몸체(110)에 착탈가능하도록 결합되어 반응공간을 밀봉시키는 챔버리드(130)를 포함한다. 챔버몸체(110)는 상부가 개방된 원통형 또는 다각형의 형태로 제작되고, 챔버리드(130)는 챔버몸체(110)와 대응되는 형태를 가지는 플레이트(plate) 형상으로 제작된다. 도면에서 도시하지 않았지만, 챔버리드(130)와 챔버몸체(110)는 밀봉부재, 예를 들면 오링(O-ring) 또는 가스켓을 개재하고, 고정부재를 사용하여 결합시킨다. The
도 2와 같이, 반응공간에서 기판(116)을 처리할 때, 반응공간의 온도가 가스분배수단(114)과 결합되는 챔버리드(130)에 전달되어, 챔버리드(130)의 온도가 상승하는 것을 방지하기 위해, 온도조절수단으로써 제 1 냉매가 제 1 냉매순환장치(도시하지 않음)에 의해 순환하는 제 1 유로(146)를 설치한다. 제 1 냉매가 챔버리드(130)의 내부에 설치되는 제 1 유로(146)를 순환하면서, 반응공간의 승온에 따라 챔버리드(130)의 온도가 상승하는 것을 억제하고, 부가적으로 챔버리드(130)의 상부 또는 인접하여 설치되는 주변장치가 승온되는 것을 방지한다. As illustrated in FIG. 2, when the
도 1과 같이, 기판안치수단(118)은 지지대(132)에 의해 지지되고, 지지대(132)에 의해 승하강 및 회전한다. 지지대(132)는 구동력을 제공하는 구동수단(131)과 연결된다. 지지대(132)와 구동수단(131)의 사이에는, 지지대(132)가 승하강 및 회전할 때 기밀을 유지하기 위한 벨로우즈(도시하지 않음) 및 회전 밀봉수단(도시하지 않음)으로써 마그네틱 실이 연결된다. 기판안치수단(118)은 기판(116)과 동일한 형태로 제작된다. 도 1에서는 하나의 기판(116)이 안치되는 기판안치수단(118)을 도시하였지만, 다수의 기판(116)이 안치될 수 있도록, 기판안치수 단(118)은 기판이 안치되는 다수의 서셉터와, 다수의 서셉터의 각각이 설치되는 다수의 삽입구를 가지는 디스크로 구성될 수 있다. As shown in FIG. 1, the substrate mounting means 118 is supported by the
도 2 및 도 3과 같이, 가스분배수단(114)은, 제 1 공정가스를 공급받아 수용하고, 제 1 공정가스를 통과시키는 제 1 가스분배판(134), 제 2 공정가스를 공급받아 수용하고 제 1 및 제 2 공정가스를 통과시키는 제 2 가스분배판(136), 및 제 1 및 제 2 공정가스를 기판안치대(118)의 방향으로 분사하는 제 3 가스분배판(138)을 포함한다. 2 and 3, the gas distribution means 114 receives and receives the first process gas, receives the first
제 1 가스분배판(134)은 챔버리드(130)의 중앙부를 관통하여 제 1 공정가스를 도입하는 제 1 가스도입관(134a), 제 1 공정가스를 수용하는 제 1 공간(160)을 가지는 제 1 하우징(134b), 제 1 가스도입관(134a)으로부터 공급되는 제 1 공정가스를 제 1 하우징(134b)의 내부에 균일하게 분포시키기 위한 분포수단으로써 배플(baffle)(134c), 및 제 1 하우징(134b)의 저면에 설치되고, 제 1 공정가스를 통과시키기 위한 다수의 제 1 통과홀(134d)을 포함하여 구성된다.The first
제 2 가스분배판(136)은 챔버리드(130)를 관통하여 제 2 공정가스를 도입하는 제 2 가스도입관(136a), 제 2 공정가스를 수용하는 제 2 공간(162)을 가지는 제 2 하우징(136b), 제 2 하우징(136b)의 측면공간을 격벽(140)에 의해 분할하고, 제 2 가스도입관(136a)과 연결되어, 제 2 공정가스를 제 2 공간(162)에 공급하기 전에 제 2 공정가스를 수용하는 버퍼공간(136c), 다수의 제 1 통과홀(134d)과 연통되어 제 1 공정가스를 통과시키는 다수의 제 2 통과홀(136d), 제 2 하우징(136b)의 저면에 설치되고 제 2 공정가스를 통과시키는 다수의 제 3 통과홀(136e)을 포함하여 구성된다. The second
버퍼공간(136c)은 제 2 하우징(136b)의 측면에 설치되고, 제 2 공정가스를 제 2 공간(162)에 균일하게 공급하기 위해 격벽(140)에는 공급구(142)가 설치된다. 격벽(140)은 제 2 하우징(136b)의 측벽을 따라 측벽과 일정간격을 두고 측벽의 내부에 형성된다. 격벽(140)과 제 2 하우징(136b)의 측벽 사이에 버퍼공간(136c)이 형성되고, 버퍼공간(136c)은 제 2 가스도입관으로부터 공급되는 제 2 공정가스를 수용한다. 버퍼공간(136c)은 가스분배수단(114)의 형태에 따라, 원형 또는 다각형의 링 형상을 가진다. The
그러나, 제 2 가스도입관(136a)이 다수로 설치되고, 각각의 제 2 가스도입관(136a)이 제 2 하우징(136b)의 측면에 연결되는 경우에는 서로 차폐되는 다수의 버퍼공간(136c)이 형성될 수 있다. 또한 다수의 버퍼공간(136c)은 서로 연통될 수 있다. 다시 말하면, 제 2 가스분배판(136)이 사각형의 형태인 경우, 각각의 변에 하나의 제 2 가스도입관(136a)과 버퍼공간(136c)이 설치될 수 있다. 그리고, 격벽(140)에 설치되는 공급구(142)는 연속적으로 연장되고 동일한 높이를 가지는 슬릿(slit) 형태 또는 단속적으로 연장되어 고립패턴으로 형성되는 다수의 개구로 형 성될 수 있다. However, when a plurality of second
제 3 가스분배판(138)은, 제 2 냉매가 유동하는 제 3 공간(164)을 가지는 제 3 하우징(138a), 제 3 하우징(138a)의 내부에 형성되고 다수의 제 2 통과홀(136d)의 각각과 연통되고 제 1 공정가스를 분사하는 다수의 제 1 노즐(138b), 다수의 제 3 통과홀(136e)과 연통되고 제 2 공정가스를 분사하는 다수의 제 2 노즐(138c) 및 제 3 하우징(138a)과 연결되어 제 2 냉매를 순환시키는 냉매유동관(152)을 포함하여 구성된다. 냉매유동관(152)은 제 3 공간(164)에 제 2 냉매를 공급하는 냉매공급관과 제 3 공간(164)의 냉매를 배출하는 냉매배출관을 포함한다. 냉매유동관(152)은 챔버리드(130)를 관통하여 공정챔버(112)의 내부로 인입되어 제 3 하우징(138a)의 측면에 연결된다. 제 2 냉매는 제 2 냉매순환장치(도시하지 않음)에 순환한다.The third
기판처리장치(110)에서, 대략적으로 1000도 이상의 고온으로 기판(116) 상에 박막을 증착하는 공정을 장시간 진행하면, 가스분배수단(114)이 내열온도 이상으로 과열될 수 있다. 특히, 기판안치수단(118)과 대향하는 가스분배수단(114)의 제 3 가스분배판(138)에서 과열현상이 심하게 발생된다. 따라서, 가스분배수단(114)의 과열을 방지하기 위한 냉각장치로 제 3 가스분배판(138)의 내부에 제 2 냉매가 순환하는 제 2 냉매순환장치를 설치한다. 그리고, 제 2 냉매순환장치에서 이상이 발생하는 경우를 대비하여, 제 3 가스분배판(138)에 제 1 열전쌍(thermo couple)(144)을 설치하여, 가스분배판(114)의 온도를 측정하고, 내열온도 이상으로 과열되면 공정챔버(112)의 가열을 중지하도록 한다.In the
또한, 제 2 가스분배판(136)에 제 2 열전쌍(도시하지 않음)을 설치할 수 있다. 제 3 가스분배판(138) 및 제 2 가스분배판(136)의 각각의 온도를 제 1 및 제 2 열전쌍으로 측정하고, 제 2 및 제 3 가스분배판(136, 138)의 온도를 비교하여 제 2 냉매의 온도를 조절한다. 제 2 및 제 3 가스분배판(136, 138)의 온도차이가 크게 되면, 열팽창의 차이에 기인하여, 서로 연통되는 다수의 제 2 통과홀(136d)과 다수의 제 1 노즐(138b) 및, 다수의 제 3 통과홀(136e)과 다수의 제 2 노즐(138c)이 오정렬될 수 있다. 따라서, 제 2 및 제 3 가스분배판(136, 138)이 서로 온도차이가 발생하지 않도록 제 2 냉매의 온도를 조절함으로써, 열팽창에 기인한 다수의 제 2 통과홀(136d)과 다수의 제 1 노즐(138b) 및, 다수의 제 3 통과홀(136e)과 다수의 제 2 노즐(138c)이 오정렬되는 것을 방지할 수 있다.In addition, a second thermocouple (not shown) may be provided in the second
도 2 및 도 3과 같이, 가스분배수단(114)의 제 1 가스분배판(134)은 챔버리드(130)에 고정되고, 챔버리드(130)와 제 1 가스분배판(134) 사이에, 제 1 가스도입관(134a)을 통하여 도입되는 제 1 공정가스를 수용하는 제 1 공간(160)이 형성된다. 제 1 가스분배판(134)과 대응되는 챔버리드(130)에는 함몰부(148)가 형성되고, 함몰부(148)과 제 1 하우징(134b)에 의해서 형성되는 제 1 공간(160) 사이에는 배플(134c)가 설치된다. 배플(134c)은 플레이트(149)와 플레이트(149)를 천공한 다수의 공급홀(150)로 구성되고, 함물부(148)의 제 1 공정가스를 제 1 공간(160)으로 균일하게 공급하기 위한 기능을 한다. 2 and 3, the first
가능하면, 함몰부(148)의 제 1 공정가스를 제 1 공간(160)에 균일하게 공급하기 위하여, 다수의 공급홀(150) 중 어느 하나라도 제 1 가스도입관(134a)과 일치되지 않도록 한다. 다시 말하면, 제 1 가스도입관(134a)을 통하여 공급되는 제 1 공정가스가 배플(134c)에 의해 반사되고 함몰부(148)에 수용된 후에 다수의 공급홀(150)을 통하여 제 1 공간(160)으로 공급되게 한다.If possible, in order to uniformly supply the first process gas of the
제 1 가스분배판(134)은 가공성이 용이한 알루미늄을 사용하여 제작한다. 벌크(bulk) 알루미늄을 사용하여 내부를 굴삭하여 제 1 공정가스를 수용하는 제 1 공간(160)을 형성하고, 제 1 공간(160)의 저면을 천공하여 제 1 공정가스를 통과시키기 위한 다수의 제 1 통과홀(134d)을 형성한다. 벌크 알루미늄을 사용하지 않고, 판재의 알루미늄을 용접 등의 방법으로 서로 결합시키고, 하부의 천공하여 제 1 가스분배판(134)을 형성할 수 있다. The first
제 1 하우징(134b)의 측벽은, 최소한 제 2 가스분배판(136)에서 제 2 하우징(136b)에 설치되는 버퍼공간(136c)을 복개할 수 있을 정도의 두께를 가지도록 가공한다. 제 1 하우징(134b)의 측벽이 버퍼공간(136c)을 커버할 수 있을 정도의 두께를 가지는 이유는, 버퍼공간(136c)과 연결되는 제 2 가스도입관(136a)이 챔버리드(130) 및 제 1 하우징(134b)의 측벽을 통하여 인입되기 때문이다. 따라서, 제 1 하우징(134b)의 측벽 두께는, 제 2 하우징(136b)의 측벽 및 버퍼공간(136c)의 너비를 합한 두께와 동일한 두께와 되도록 가공하는 것이 바람직하다. The side wall of the
제 1 가스분배판(134)의 다수의 제 1 통과홀(134d)과 제 2 가스분배판(136)의 다수의 제 2 통과홀(136d)이 연통되도록 정렬시킨 후에, 제 2 가스분배판(136)을 제 1 가스분배판(134)에 결합시킨다. 제 2 가스분배판(136)은 가공성이 용이한 알루미늄을 사용하여 제작한다. 벌크 알루미늄에 상하를 관통하는 다수의 제 2 통과홀(136d)을 형성하고, 벌크 알루미늄의 양측과 다수의 제 2 통과홀(136d) 사이를 굴삭하여 버퍼공간(136c)과 제 2 공정가스를 수용하는 제 2 공간(162)을 형성한다. 그리고, 다수의 제 2 통과홀(136d) 사이를 천공하여 다수의 제 3 통과홀(136e)을 형성한다. After the plurality of first through
도 3 및 도 5와 같이, 벌크 알루미늄을 저면이 일정한 두께을 유지하도록 굴삭하여, 제 2 통과홀(136d)이 내장되는 다수의 필라(pillar)(166)를 형성한다. 다수의 필라(166)의 하부는 다수의 제 3 통과홀(136e)이 형성되는 제 2 하우징(136b)의 저면을 구성한다. 다수의 필라(166)는 고립패턴으로 형성되고, 다수의 필라(166) 사이는 굴삭되어 서로 연통되는 제 2 공간(162)을 형성한다. 다수의 필라(166)의 각각은 제 2 통과홀(136d)과 같은 형태인 원통형으로 형성될 수 있지만, 가공의 편의성을 고려하여, 도 5와 같이 사각형 형태로 형성할 수 있다. 3 and 5, the bulk aluminum is excavated to maintain a constant thickness, thereby forming a plurality of
다수의 필라(166)의 각각을 사각형 형태로 형성하는 경우, 제 2 공정가스가 원활하게 유동하기 위하여, 모서리 부분을 곡면(rounding)처리할 수 있다. 벌크 알루미늄의 굴삭에 의해, 제 2 공간(162)이 형성되는 제 2 하우징(136b)의 측벽과, 버퍼공간(136c)을 구분시키는 격벽(140)이 형성된다. 격벽(140)을 가공하여, 격벽의 상부에 제 2 공정가스가 공급되는 공급홀(142)을 형성한다. When each of the
도 3 및 도 5에서는, 하나의 필라(166)에 하나의 제 2 통과홀(136d)이 내장되는 것을 도시하였지만, 필요에 따라, 하나의 필라(166)에 2 개이 이상의 제 2 통과홀(136d)을 내장시킬 수 있다. 그러나, 하나의 필라(166)에 2 개 이상의 제 2 통과홀(136d)을 내장시키는 경우는, 상대적으로 제 3 통과홀(136e)이 제 2 통과홀(136d)보다 적은 개수로 설치되기 때문에, 다수의 제 1 및 제 2 통과홀(134d, 136d)을 통과하는 제 2 공정가스가 제 1 공정가스보다 많은 유량으로 공급되는 경우에 적당하다. 따라서, 제 1 및 제 2 공정가스의 공급비율을 고려하여, 하나의 필라(166)에 내장되는 제 2 통과홀(136d)의 개수를 조절하여 설계한다. 3 and 5 illustrate that one pillar 166d is built in one
제 1 가스분배판(134)의 다수의 제 1 통과홀(134d)과 제 2 가스분배판(136)의 다수의 제 2 통과홀(136d)이 연통되도록 정렬시키고, 제 2 가스분배판(136)을 제 1 가스분배판(134)에 결합시키면, 제 1 가스분배판(134)의 제 1 하우징(134b)의 하부와 다수의 필라(166)의 상부가 면접촉한다. 따라서, 제 1 공정가스는 기밀을 유지하면서, 제 1 가스분배판(134)의 다수의 제 1 통과홀(134d)을 통하여 제 2 가 스분배판(136)의 다수의 제 2 통과홀(136d)에 전달된다. A plurality of first through
하나의 제 3 통과홀(136e)에서 인접한 제 2 통과홀(136d)의 거리는 모두 동일하다. 다시 말하면, 4 개의 제 2 통과홀(136d)의 중심에 제 3 통과홀(136e)이 위치한다. 제 2 가스분배판(136)을 제 1 가스분배판(134)와 체결하였을 때, 제 2 가스도입관(136a)은 챔버리드(130)와 제 1 가스분배판(134)을 통하여 버퍼공간(136c)에 인입된다. 버퍼공간(136c)과 제 2 공간(162)의 가공에 의해, 버퍼공간(136c)과 제 2 공간(162) 사이에는 격벽(140)이 형성되고, 버퍼공간(136c)에 수용된 제 2 공정가스는 공급홀(142)을 통하여 제 2 공간(162)으로 공급된다.The distances of the adjacent second through
제 2 가스분배판(136)의 다수의 제 2 및 제 3 통과홀(136d, 136e)의 각각을 제 3 가스분배판(138)의 다수의 제 1 및 제 2 노즐(138b, 138c)과 연통되도록 제 3 가스분배판(138)을 제 2 가스분배판(136)에 체결한다. 제 3 가스분배판(138)은 내열성 및 내부식성이 강한 스테인레스 스틸 또는 알루미늄을 사용하여 제작한다. Each of the plurality of second and third through
제 3 가스분배판(138)은, 도 4a와 같이, 스테인레스 스틸의 재료를 사용하는 제 1 및 제 2 판재(170, 172)를 준비하고, 다수의 제 1 및 제 2 노즐(138b, 138c)에 대응되는 다수의 제 1 및 제 2 개구(174, 176)를 천공하는 단계, 도 4b와 같이, 제 1 및 제 2 공정가스를 분사하기 위한 다수의 제 1 및 제 2 노즐(138b, 138c)로 사용하기 위한 핀 타입의 다수의 튜브(178)를 준비하는 단계, 다수의 튜브(178)를 다수의 제 1 및 제 2 개구(174, 176)에 삽입하여 배열시키는 단계, 다수의 튜브(178)가 배열된 제 1 및 제 2 판재(170, 172) 상에 용가재를 포함하는 페이스트(paste)(180)를 도포하는 단계, As shown in FIG. 4A, the third
도 4c와 같이, 브레이징(brazing) 처리하여, 다수의 튜브(178)를 제 1 및 제 2 판재(170, 172)에 결합시켜 제 1 및 제 2 공정가스를 분사시킬 수 있는 다수의 제 1 및 제 2 노즐(138b, 138c)을 형성하는 단계, 제 3 공간(164)의 외부에 위치하고, 제 1 및 판재(170)로부터 돌출된 다수의 튜브(178)를 절단하는 단계, 및 제 1 및 제 2 판재(170, 172) 사이의 측면을 스테인레 스틸을 사용하는 측면 판재(182)를 배열시키고, 용접 등의 방법을 이용하여 결합시킴으로써, 제 2 냉매가 유동하는 제 3 공간(164)을 가지는 제 3 하우징(138a)을 형성하는 단계를 포함하여 제작된다. 제 3 하우징(138a)의 측면에는 챔버리드(130)를 관통하여, 가스분배수단(114)의 측면으로 인입되는 냉매유동관(152)이 연결된다.제 3 냉매의 유동에 의해, 가스분배수단(114)을 냉각시킨다. As shown in FIG. 4C, a plurality of first and second caps may be brazed to couple the plurality of
도 4b에서, 다수의 제 1 및 제 2 개구(174, 176)에 삽입된 다수의 튜브(178)는 제 1 및 제 2 판재(170, 172)의 외부로 돌출되고, 용가재를 포함한 페이스트는 제 1 판재(170, 172)의 상부에 도포된다. 다시 말하면, 제 1 판재(170)의 상부에 도포되는 페이스트는 제 3 공간(164)의 외부에 위치하고, 제 2 판재(172)의 상부에 도포되는 페이스트는 제 3 공간(164)의 내부에 위치하게 된다. 그리고, 도 4c와 같 이, 제 3 공간(164)의 외부에 위치하고, 제 1 및 제 2 판재(170, 172)로부터 돌출된 다수의 튜브(178)를 절단하여, 제 1 및 제 2 판재(170, 172)와 다수의 튜브(178)가 동일한 평면을 유지하도록 한다.In FIG. 4B, the plurality of
도 4a 내지 도 4c에서는 도시하지 않았지만, 제 1 또는 제 2 판재(170, 172)에 온도측정수단, 예를 들면 열전쌍을 설치하여, 브레이징 처리과정에서 측정된 온도가 적정온도를 초과하는 경우, 작업을 중단시킬 수 있다. 핀 타입(pin type)의 다수의 튜브(tube)는 제 1 및 제 2 판재(170, 172)와 동일한 재료를 사용하지만, 필요에 따라 다른 재료의 사용도 가능하다. 브레이징은 450°C 이상의 온도에서 접합하고자 하는 두 개의 모재를 용융점(melting point) 이하에서 용가재(filler metal)를 첨가하여 접합하는 방법이고, 접합 대상의 모재, 용가재를 포함한 페이스트의 종류에 따라 브레이징의 온도가 달라질 수 있다.Although not shown in FIGS. 4A to 4C, when a temperature measuring means, for example, a thermocouple is installed on the first or
제 2 가스분배판(136)의 다수의 제 2 통과홀(136d) 및 다수의 제 3 통과홀(136e)의 각각이 제 3 가스분배판(138)의 다수의 제 1 및 제 2 노즐(138b, 138c)이 연통되도록 정렬시키고, 제 3 가스분배판(138)을 제 2 가스분배판(136)에 결합시키면, 제 2 가스분배판(136)의 제 2 하우징(136b)의 하부와 제 3 가스분배판(138)의 제 3 하우징(138a)의 상부가 면접촉한다. 따라서, 제 1 및 제 2 공정가스가 기밀을 유지하면서, 다수의 제 2 및 제 3 통과홀(136d, 136e)과 다수의 제 1 및 제 2 노즐(138b, 138c)을 통하여 기판안치수단(118)으로 분사된다.Each of the plurality of second through
도 2 및 도 3에서는, 챔버리드(130)에 가스분배수단(114)이 결합되는 형태를 도시하였지만, 챔버리드(130)에서 이격되어 가스분배수단(114)이 설치될 수 있다. 챔버리드(130)과 가스분배수단(114)이 이격되는 경우에는, 제 1 가스분배판(134)의 상부에는 제 1 가스도입관(134a)과 연결되는 후방 플레이트가 별도로 설치된다. 본 발명의 실시예에서, 기판(116) 상에 GaN를 형성하는 경우, 제 1 공정가스로 TMG을 사용하고, 제 2 공정가스로 NH3을 사용한다. In FIGS. 2 and 3, the gas distribution means 114 is coupled to the
도 6은 본 발명의 제 2 실시예에 따른 가스분배수단의 분해 사시도이고, 도 7a 내지 도 7c는 본 발명의 제 2 실시예에 따른 제 3 가스분배판의 제조 사시도이다. 본 발명의 제 2 실시예에서는, 제 1 실시예의 가스분배수단과 비교하여, 동일한 기능을 가지면서 구성요소를 간략화하여, 원가절감에 기여할 수 있다. 본 발명의 제 2 실시예에서 제 1 실시예와 동일한 구성요소에 대해서는 동일한 부호를 사용한다.6 is an exploded perspective view of a gas distribution means according to a second embodiment of the present invention, Figure 7a to 7c is a perspective view of the manufacturing of the third gas distribution plate according to a second embodiment of the present invention. In the second embodiment of the present invention, compared with the gas distribution means of the first embodiment, the components can be simplified while contributing to cost reduction. In the second embodiment of the present invention, the same reference numerals are used for the same components as those of the first embodiment.
도 6과 같이, 가스분배수단(114)은, 제 1 공정가스를 공급받아 수용하고, 제 1 공정가스를 통과시키는 제 1 가스분배판(134), 제 2 공정가스를 공급받아 수용하고 제 1 및 제 2 공정가스를 통과시키는 제 2 가스분배판(136), 및 제 1 및 제 2 공정가스를 기판안치대(118)의 방향으로 분사하는 제 3 가스분배판(138)을 포함한다. As shown in FIG. 6, the gas distribution means 114 receives and receives the first process gas, receives the first
제 1 가스분배판(134)은 챔버리드(130)의 중앙부를 관통하여 제 1 공정가스를 도입하는 제 1 가스도입관(134a), 제 1 공정가스를 수용하는 제 1 공간(160)을 가지는 제 1 하우징(134b), 제 1 가스도입관(134a)으로부터 공급되는 제 1 공정가스를 제 1 하우징(134b)의 내부에 균일하게 분포시키기 위한 분포수단으로써 배플(baffle)(134c), 및 제 1 하우징(134b)의 저면에 설치되고, 제 1 공정가스를 통과시키기 위한 다수의 제 1 통과홀(134d)을 포함하여 구성된다. 제 1 하우징(134b)은, 제 1 공간(160)을 감싸는 제 1 측벽(190a) 및 제 1 측벽(190a)의 하부에 위치하고, 다수의 제 1 통과홀(134d)이 설치되는 제 1 하판(190b)을 포함한다.The first
제 2 가스분배판(136)은 챔버리드(130)를 관통하여 제 2 공정가스를 도입하는 제 2 가스도입관(136a), 제 2 공정가스를 수용하는 제 2 공간(162)을 가지는 제 2 하우징(136b), 제 2 하우징(136b)의 측면공간을 격벽(140)에 의해 분할하고, 제 2 가스도입관(136a)과 연결되어, 제 2 공정가스를 제 2 공간(162)에 공급하기 전에 제 2 공정가스를 수용하는 버퍼공간(136c), 다수의 제 1 통과홀(134d)과 연통되어 제 1 공정가스를 통과시키는 다수의 제 2 통과홀(136d), 제 2 하우징(136b)의 저면에 설치되고 제 2 공정가스를 통과시키는 다수의 제 3 통과홀(136e)을 포함하여 구성된다. The second
제 2 하우징(136b)은 제 2 공간(162)의 주변부를 감싸는 제 2 측벽(192a) 및 제 2 측벽(192a)의 하부에 위치하고, 다수의 제 1 관통홀(134d) 및 다수의 제 3 통과홀(136e)이 형성되는 제 2 하판(192b)으로 구성된다. 버퍼공간(136c)은 제 2 하우징(136b)의 측면공간에 설치되고, 제 2 공정가스를 제 2 공간(162)에 균일하게 공급하기 위해 격벽(140)에는 공급구(142)가 설치된다. 격벽(140)은 제 2 하우징(136b)의 측벽(190a)을 따라 측벽(190a)과 일정간격을 두고 형성된다. 격벽(140)과 제 2 하우징(136b)의 측벽(190a) 사이에 버퍼공간(136c)이 형성되고, 버퍼공간(136c)은 제 2 가스도입관으로부터 공급되는 제 2 공정가스를 수용한다. 버퍼공간(136c)은 가스분배수단(114)의 형태에 따라, 원형 또는 다각형의 링 형상을 가진다. The
그러나, 제 2 가스도입관(136a)이 다수로 설치되고, 각각의 제 2 가스도입관(136a)이 제 2 하우징(136b)의 측벽(190a)에 연결되는 경우에는 서로 차폐되는 다수의 버퍼공간(136c)이 형성될 수 있다. 또한 다수의 버퍼공간(136c)은 서로 연통될 수 있다. 다시 말하면, 제 2 가스분배판(136)이 사각형의 형태인 경우, 각각의 변에 하나의 제 2 가스도입관(136a)과 버퍼공간(136c)이 설치될 수 있다. 그리고, 격벽(140)에 설치되는 공급구(142)는 연속적으로 연장되고 동일한 높이를 가지는 슬릿(slit) 형태 또는 단속적으로 연장되어 고립패턴으로 형성되는 다수의 개구로 형성될 수 있다. However, when a plurality of second
제 3 가스분배판(138)은, 제 2 냉매가 유동하는 제 3 공간(164)을 가지는 제 3 하우징(138a), 제 3 하우징(138a)의 내부에 형성되고 다수의 제 2 통과홀(136d)의 각각과 연통되고 제 1 공정가스를 분사하는 다수의 제 1 노즐(138b), 다수의 제 3 통과홀(136e)과 연통되고 제 2 공정가스를 분사하는 다수의 제 2 노즐(138c) 및 제 3 하우징(138a)과 연결되어 제 2 냉매를 순환시키는 냉매유동관(도시하지 않음)을 포함하여 구성된다. 제 3 하우징(138a)은 제 3 공간(164)을 감싸는 제 3 측벽(194a) 및 제 3 측벽(194a)의 하부에 위치하고, 다수의 제 1 및 제 2 노즐(138b, 138c)이 설치되는 제 3 하판(194b)을 포함한다.The third
냉매유동관은 제 3 공간(164)에 제 2 냉매를 공급하는 냉매공급관과 제 3 공간(164)의 냉매를 배출하는 냉매배출관을 포함한다. 냉매유동관(152)은 챔버리드(130)를 관통하여 공정챔버(112)의 내부로 인입되어 제 3 하우징(138a)의 제 3 측벽(194a)에 연결된다. 제 2 냉매는 제 2 냉매순환장치(도시하지 않음)에 순환한다.The refrigerant flow pipe includes a refrigerant supply pipe for supplying a second refrigerant to the
제 3 가스분배판(138)은, 도 7a와 같이, 스테인레스 스틸 또는 알루미늄의 재료를 사용하는 판재(220)를 준비하고, 다수의 제 1 및 제 2 노즐(138b, 138c)에 대응되는 다수의 제 1 및 제 2 개구(174, 176)를 천공하는 단계, 도 7b와 같이, 제 1 및 제 2 공정가스를 분사하기 위한 다수의 제 1 및 제 2 노즐(138b, 138c)로 사용하기 위한 핀 타입의 다수의 튜브(178)를 준비하는 단계, 다수의 튜브(178)를 다수의 제 1 및 제 2 개구(174, 176)에 삽입하여 배열시키는 단계, 다수의 튜브(178) 가 배열된 판재(220) 상에 용가재를 포함하는 페이스트(paste)(180)를 도포하는 단계, As shown in FIG. 7A, the third
도 7c와 같이, 브레이징(brazing) 처리하여, 다수의 튜브(178)를 판재(220)에 결합시켜 제 1 및 제 2 공정가스를 분사시킬 수 있는 다수의 제 1 및 제 2 노즐(138b, 138c)을 형성하는 단계, 및 제 3 공간(164)을 측면을 감싸고 판재(220)의 주연부와 연결되도록 스테인레 스틸 또는 알루미늄을 사용하는 측면 판재(182)를 배열시키고, 용접 등의 방법을 이용하여 결합시킴으로써, 제 2 냉매가 유동하는 제 3 공간(164)을 가지는 제 3 하우징(138a)을 형성하는 단계를 포함하여 제작된다. 제 3 하우징(138a)의 측면에는 챔버리드(130)를 관통하여, 가스분배수단(114)의 측면으로 인입되는 냉매유동관(152)이 연결된다.제 3 냉매의 유동에 의해, 가스분배수단(114)을 냉각시킨다. As shown in FIG. 7C, a plurality of first and
본 발명의 제 2 실시예에서는, 제 3 가스분배판(138)의 제 3 하우징(138a)은 상판을 포함하지 않고, 제 3 측벽(194a) 및 제 3 하판(194b)으로 구성되고, 다수의 제 2 통과홀(136d) 및 제 3 통과홀(136e)과 연통되는 튜브 형태의 다수의 제 1 및 제 2 노즐(138b, 138c)이 제 2 가스분배판(136)을 구성하는 제 2 하우징(136b)의 제 2 하판(192b)과 직접 접촉한다. 다수의 제 1 및 제 2 노즐(138b, 138c)은 일정한 두께를 가진 튜브형태이므로, 다수의 제 1 및 제 2 노즐(138b, 138c)의 상부가 제 2 하판(192b)의 하부에서 면접촉한다. 따라서, 제 2 실시예는 제 3 가스분배 판(138)를 제 1 실시예와 비교하여 단수한 공정에 의해 형성된다.In the second embodiment of the present invention, the
도 8은 본 발명의 제 3 실시예에 따른 가스분배수단의 분해 사시도이고, 도 9는 본 발명의 제 3 실시예에 따른 기판안치수단의 평면도이다. 본 발명의 제 3 실시예는, 제 1 및 제 2 실시예와 비교하여 가스분배수단이 대형화하는 경우, 제 1 내지 제 3 가스분배판을 분할하여 제작한 것을 특징으로 한다. 본 발명의 제 3 실시예에서 제 1 및 제 2 실시예와 동일한 구성요소에 대해서는 동일한 부호를 사용한다.8 is an exploded perspective view of a gas distribution means according to a third embodiment of the present invention, and FIG. 9 is a plan view of a substrate placing means according to a third embodiment of the present invention. The third embodiment of the present invention is characterized in that the first to third gas distribution plates are divided and manufactured when the gas distribution means is enlarged as compared with the first and second embodiments. In the third embodiment of the present invention, the same reference numerals are used for the same components as those of the first and second embodiments.
도 8과 같이, 가스분배수단(114)은, 제 1 공정가스를 공급받아 수용하고, 제 1 공정가스를 통과시키는 제 1 가스분배판(134), 제 2 공정가스를 공급받아 수용하고 제 1 및 제 2 공정가스를 통과시키는 제 2 가스분배판(136), 및 제 1 및 제 2 공정가스를 공정챔버의 기판안치대(도시하지 않음)의 방향으로 분사하는 제 3 가스분배판(138)을 포함한다. As illustrated in FIG. 8, the
제 1 가스분배판(134)은 챔버리드(130)를 관통하여 제 1 공정가스를 도입하는 제 1 가스도입관(134a), 제 1 공정가스를 수용하는 제 1 공간(160)을 가지는 제 1 하우징(134b), 제 1 가스도입관(134a)으로부터 공급되는 제 1 공정가스를 제 1 하우징(134b)의 내부에 균일하게 분포시키기 위한 분포수단으로써 배플(baffle)(134c), 및 제 1 하우징(134b)의 저면에 설치되고, 제 1 공정가스를 통 과시키기 위한 다수의 제 1 통과홀(134d)을 포함하는 다수의 제 1 서브 가스분배판(200)으로 구성된다.The first
제 1 서브 가스분배판(200)은 공정챔버의 형태에 따라 다르게 형성된다. 본 발명의 제 3 실시예에서는 원통형의 공정챔버을 사용하고 기판으로 원형의 웨이퍼를 다수 적재하여 처리하는 경우에 적당하도록, 제 1 서브 가스분배판(200)을 부채꼴 형태로 제작하고, 제 1 가스분배판(134)의 중심부에 인접한 제 1 서브 가스분배판(200)의 단부는 원호형태로 처리한다. 다수의 제 1 서브 가스분배판(200)을 조합하여, 제 1 가스분배판(134)을 조립하면, 중앙부에 공동을 가지는 원형이 된다. The first sub
기판으로써 웨이퍼를 사용하고, 기판안치수단(118)에 다수의 기판(116)을 적재하는 경우, 도 9와 같이, 기판안치수단(118)은 기판(116)이 안치되는 다수의 서셉터(210)과 다수의 서셉터(210)이 설치되는 디스크(212)로 구성된다. 제 1 가스분배판(134)이 원형인 경우, 다수의 제 1 서브 가스분배판(200)은 제 1 가스분배판(134)의 중심을 지난 다수의 직선에 의해 분할되고, 다수의 제 1 서브 가스분배판(200)은 동일한 크기를 가진다. 제 1 가스분배판(134)이 6 개의 제 1 서브 가스분배판(200)으로 구성되는 경우, 제 1 가스분배판(134)의 중심부와 인접한 각각의 제 1 서브 가스분배판(200)의 각도는 60도이다. 제 1 가스분배판(134)이 사각형인 경우, 제 1 서브 가스분배판(200)을 균일한 크기의 다수의 사각형으로 분할한다.When using a wafer as a substrate and loading a plurality of
제 1 하우징(134b)은 제 1 공간(160)을 감싸는 제 1 측벽(190a) 및 제 1 측벽(190a)의 하부에 위치하고, 다수의 제 1 통과홀(134d)이 설치되는 제 1 하판(190b)을 포함한다. 도 9와 같이, 다수의 서셉터(210)는 디스크(212)의 중앙부에는 설치되지 않는다. 따라서, 디스크(212)의 중앙부에는 기판(116)이 안치되지 않기 때문에, 제 1 가스분배판(134)의 중앙부를 공동(202)으로 형성하여도, 기판(116)을 처리하는 공정에 영향을 주지 않는다. The
또한. 제 1 가스분배판(134)의 중앙부에 동공을 형성하기 위해, 제 1 서브 가스분배판(200)의 단부를 원호처리하기 때문에, 제 1 서브 가스분배판(200)의 제작 및 조립이 용이하다. 제 1 서브 가스분배판(200)의 단부를 공정챔버의 중심부까지 연장하여 형성하게 되면, 단부와 대응되는 제 1 하우징(134b)의 제 1 하판(190b)에 다수의 제 1 통과홀(134d)을 균일하게 형성되기 어려워진다.Also. Since the end portion of the first sub
다수의 제 1 서브 가스분배판(200)의 제 1 공간(160)에 제 1 공정가스를 공급하기 위해, 제 1 가스도입관(134a)은 다수의 제 1 서브 가스도입관(204)로 분기된다. 제 1 서브 가스도입관(204)은 제 1 서브 가스분배판(200)에 하나 또는 2 이상으로 균일하게 연결된다. 제 1 서브 가스도입관(204)은 챔버리드(130)에 매설되어, 제 1 서브 가스분배판(200)의 중심부에서 제 1 공정가스를 공급하거나, 또는 공정챔버의 외부에서 제 1 가스도입관(134a)로부터 제 1 서브 가스도입관(204)으로 분기되고, 제 1 서브 가스도입관(204)이 챔버리드(130)를 관통하여, 제 1 서브 가 스분배판(200)의 제 1 공간(160)에 제 1 공정가스를 공급할 수 있다.In order to supply the first process gas to the
제 3 실시예에서는 제 1 및 제 2 실시예와 다르게, 챔버리드(130)에 함몰부(148)을 형성하지 않을 수 있다. 제 1 하우징(134b)의 측벽(190a)의 내주연을 따라 단차부(230)를 설치하고, 단차부(230)에 배플(134c)을 위치시키면, 제 1 하우징(134b)의 내부에서 배플(134c)의 상측에 제 1 서브 가스도입관(204)으로부터 공급되는 제 1 공정가스를 수용하는 수용공간(232)이 형성된다. 배플(134c)은 수용공간(232)의 제 1 공정가스를 제 1 공간(160)으로 균일하게 공급하는 기능을 한다.In the third embodiment, unlike the first and second embodiments, the
제 2 가스분배판(136)은 챔버리드(130)를 관통하여 제 2 공정가스를 도입하는 제 2 가스도입관(도 1의 136a), 제 2 공정가스를 수용하는 제 2 공간(162)을 가지는 제 2 하우징(136b), 제 2 하우징(136b)의 측면공간을 격벽(140)에 의해 분할하고, 제 2 가스도입관(136a)과 연결되어, 제 2 공정가스를 제 2 공간(162)에 공급하기 전에 제 2 공정가스를 수용하는 버퍼공간(136c), 다수의 제 1 통과홀(134d)과 연통되어 제 1 공정가스를 통과시키는 다수의 제 2 통과홀(136d), 제 2 하우징(136b)의 저면에 설치되고 제 2 공정가스를 통과시키는 다수의 제 3 통과홀(136e)을 포함하는 다수의 제 2 서브 가스분배판(206)으로 구성된다. The second
제 2 서브 가스분배판(206)은 제 1 서브 가스분배판(200)과 동일한 형태로 제작된다. 따라서, 제 1 서브 가스분배판(200)과 동일하게 제 2 서브 가스분배 판(206)은 부채꼴 형태로 제작되고, 제 2 가스분배판(136)의 중심과 인접한 제 2 서브 가스분배판(206)의 단부는 원호형태로 처리된다. 그리고, 제 2 가스분배판(136)을 조립하기 위하여 다수의 제 2 서브 가스분배판(200)을 조립하면, 제 2 가스분배판(136)은 중앙부에 공동을 가지는 원형이 된다. 제 2 하우징(136b)은 제 2 공간(162)의 주변부를 감싸는 제 2 측벽(192a) 및 제 2 측벽(192a)의 하부에 위치하고, 다수의 제 1 관통홀(134d) 및 다수의 제 3 통과홀(136e)이 형성되는 제 2 저면(192b)으로 구성된다. The second sub
버퍼공간(136c)은 제 2 하우징(136b)의 측면공간에 설치되고, 제 2 공정가스를 제 2 공간(162)에 균일하게 공급하기 위해 격벽(140)에는 공급구(142)가 설치된다. 격벽(140)은 제 2 하우징(136b)의 측벽을 따라 측벽과 일정간격을 두고 측벽의 내부에 형성된다. 격벽(140)과 제 2 하우징(136b)의 측벽 사이에 버퍼공간(136c)이 형성되고, 버퍼공간(136c)은 제 2 가스도입관으로부터 공급되는 제 2 공정가스를 수용한다. 격벽(140)에 설치되는 공급구(142)는 연속적으로 연장되고 동일한 높이를 가지는 슬릿(slit) 형태 또는 단속적으로 연장되어 고립패턴으로 형성되는 다수의 개구로 형성될 수 있다. The
제 3 가스분배판(138)은, 제 2 냉매가 유동하는 제 3 공간(164)을 가지는 제 3 하우징(138a), 제 3 하우징(138a)의 내부에 형성되고 다수의 제 2 통과홀(136d)의 각각과 연통되고 제 1 공정가스를 분사하는 다수의 제 1 노즐(138b), 다수의 제 3 통과홀(136e)과 연통되고 제 2 공정가스를 분사하는 다수의 제 2 노즐(138c) 및 제 3 하우징(138a)과 연결되어 제 2 냉매를 순환시키는 냉매유동관)을 포함하는 다수의 제 3 서브 가스분배판(208)으로 구성된다. The third
냉매유동관은 제 3 공간(164)에 제 2 냉매를 공급하는 냉매공급관과 제 3 공간(164)의 냉매를 배출하는 냉매배출관을 포함한다. 냉매유동관은 챔버리드(130)를 관통하여 공정챔버의 내부로 인입되어 제 3 하우징(138a)의 측면에 연결된다. 제 2 냉매는 제 2 냉매순환장치(도시하지 않음)에 순환한다.The refrigerant flow pipe includes a refrigerant supply pipe for supplying a second refrigerant to the
제 3 서브 가스분배판(208)은 제 1 및 제 2 서브 가스분배판(200, 206)과 동일한 형태로 제작된다. 따라서, 제 1 및 제 2 서브 가스분배판(200, 206)과 동일하게 제 3 서브 가스분배판(208)은 부채꼴 형태로 제작되고, 제 3 가스분배판(138)의 중심과 인접한 제 3 서브 가스분배판(208)의 단부는 원호형태로 처리된다. 그리고, 다수의 제 3 서브 가스분배판(208)을 조립하여 제 3 가스분배판(138)을 형성하면, 제 3 가스분배판(138)은 중앙부에 공동을 가지는 원형이 된다. 제 3 하우징(138b)은 제 3 공간(164)의 주변부를 감싸는 제 3 측벽(194a) 및 제 3 측벽(194a)의 하부에 위치하고, 다수의 제 1 및 제 2 노즐(138b, 138c)이 설치되는 제 3 하판(194b)으로 구성된다. The third sub gas distribution plate 208 is manufactured in the same form as the first and second sub
본 발명의 제 3 실시예에서는, 제 3 서브 가스분배판(138)의 제 3 하우 징(138a)은 제 3 측벽(194a) 및 제 3 하판(194b)로 구성되고, 다수의 제 2 통과홀(136d) 및 제 3 통과홀(136e)과 연통되는 튜브 형태의 다수의 제 1 및 제 2 노즐(138b, 138c)이 제 2 가스분배판(136)을 구성하는 제 2 하우징(136b)의 제 2 하판(192b)과 직접 접촉한다. 필요에 따라 제 3 하우징(138a)은 다수의 제 1 및 제 2 노즐(138b, 138c)이 연통되는 상판을 포함할 수 있다. 다수의 제 1 및 제 2 노즐(138b, 138c)은 일정한 두께를 가진 튜브형태이므로, 다수의 제 1 및 제 2 노즐(138b, 138c)의 상부가 제 2 히판(192b)의 하부에서 면접촉한다. 따라서, 제 2 실시예는 제 3 가스분배판(138)를 제 1 실시예와 비교하여 단순한 공정에 의해 형성된다.In the third embodiment of the present invention, the
도 1은 본 발명의 제 1 실시예에 따른 기판처리장치의 모식도1 is a schematic view of a substrate processing apparatus according to a first embodiment of the present invention;
도 2는 본 발명의 제 1 실시예에 따른 기판처리장치의 가스분배수단의 상세 단면도2 is a detailed cross-sectional view of the gas distribution means of the substrate processing apparatus according to the first embodiment of the present invention.
도 3은 본 발명의 제 1 실시예에 따른 가스분배수단의 분해 사시도3 is an exploded perspective view of a gas distribution means according to a first embodiment of the present invention;
도 4a 내지 도 4c는 본 발명의 제 1 실시예에 따른 제 3 가스분배판의 제조 사시도4A to 4C are perspective views of the third gas distribution plate according to the first embodiment of the present invention.
도 5는 본 발명의 제 1 실시예에 따른 제 2 가스분배판의 평면도5 is a plan view of a second gas distribution plate according to the first embodiment of the present invention;
도 6은 본 발명의 제 2 실시예에 따른 가스분배수단의 분해 사시도6 is an exploded perspective view of a gas distribution means according to a second embodiment of the present invention;
도 7a 내지 도 7c는 본 발명의 제 2 실시예에 따른 제 3 가스분배판의 제조 사시도7A to 7C are perspective views of the third gas distribution plate according to the second embodiment of the present invention.
도 8은 본 발명의 제 3 실시예에 따른 가스분배수단의 분해 사시도8 is an exploded perspective view of a gas distribution means according to a third embodiment of the present invention;
도 9는 본 발명의 제 3 실시예에 따른 기판안치수단의 평면도이다.9 is a plan view of a substrate setter according to a third embodiment of the present invention.
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