KR20100088193A - Method of manufacturing semiconductor module - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 반도체 모듈의 제조 방법에 관한 것으로, 보다 구체적으로 본 발명은 반도체 칩으로부터 반도체 모듈을 제조하는데 소요되는 공정수 및 제조 시간을 크게 단축시킨 반도체 모듈의 제조 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a method for manufacturing a semiconductor module, and more particularly, the present invention relates to a method for manufacturing a semiconductor module that greatly shortens the number of steps and manufacturing time required for manufacturing the semiconductor module from the semiconductor chip.
최근 들어, 방대한 데이터를 저장 및 방대한 데이터를 단 시간내 처리하는것이 가능한 반도체 칩, 반도체 칩을 포함하는 반도체 패키지 및 복수개의 반도체 패키지를 포함하는 반도체 모듈이 개발되고 있다. 반도체 모듈은 최종적으로 컴퓨터와 같은 외부 기기와 전기적으로 연결된다.In recent years, semiconductor chips, semiconductor packages including semiconductor chips, and semiconductor modules including a plurality of semiconductor packages capable of storing massive data and processing massive data in a short time have been developed. The semiconductor module is finally electrically connected to an external device such as a computer.
반도체 모듈을 제조하기 위해서는 반도체 패키지를 제조하는 공정 및 모듈 공정을 필요로 한다.In order to manufacture a semiconductor module, a process of manufacturing a semiconductor package and a module process are required.
반도체 패키지를 제조하는 공정은 크게 웨이퍼에 복수개의 반도체 칩들을 형성하는 공정, 웨이퍼의 후면을 그라인딩 하는 백 그라인딩 공정, 웨이퍼의 반도체 칩들을 개별화하는 공정, 개별화된 반도체 칩들을 기판에 어탯치하는 공정, 반도체 칩들의 본딩 패드 및 기판의 회로 패턴을 도전성 와이어로 본딩하는 공정, 반도체 칩을 몰딩하는 공정 등을 포함한다.The process of manufacturing a semiconductor package is largely a process of forming a plurality of semiconductor chips on a wafer, a back grinding process of grinding the back surface of the wafer, a process of individualizing the semiconductor chips of the wafer, attaching the individualized semiconductor chips to the substrate, Bonding a circuit pad of a semiconductor chip and a circuit pattern of a substrate with a conductive wire, molding a semiconductor chip, and the like.
모듈 공정은 모듈 기판을 준비하는 공정, 모듈 기판에 페이스트 상태의 솔더를 프린팅하는 공정, 프린팅된 솔더를 검사하는 공정, 모듈 기판의 솔더에 반도체 패키지를 마운팅하는 공정, 리플로우 공정에 의하여 반도체 패키지를 모듈 기판에 접속하는 공정 및 검사 공정 등을 필요로 한다.The module process includes a process of preparing a module substrate, a process of printing a solder in a paste state on the module substrate, a process of inspecting printed solder, a process of mounting a semiconductor package on solder of the module substrate, and a reflow process. The process of connecting to a module substrate, an inspection process, etc. are required.
상술된 바와 같이 반도체 모듈을 제조하기 위해서는 독립된 반도체 패키지 제조 공정 및 모듈 공정을 수행해야 하기 때문에 반도체 모듈을 제조하기 위해 많은 시간이 소요되는 문제점을 갖는다.As described above, in order to manufacture a semiconductor module, an independent semiconductor package manufacturing process and a module process have to be performed.
본 발명은 반도체 패키지 제조 공정 및 모듈 공정을 함께 진행하여 제조 공정수를 크게 감소시킨 반도체 모듈의 제조 방법을 제공한다.The present invention provides a method for manufacturing a semiconductor module, which has a significant reduction in the number of manufacturing steps by going through a semiconductor package manufacturing process and a module process.
본 발명에 따른 반도체 모듈의 제조 방법은 회로 패턴 및 상기 회로 패턴과 연결된 단자 패턴을 갖는 서브 기판들을 메인 기판 상에 배치하는 단계, 상기 서브 기판들 상에 본딩 패드들을 갖는 적어도 하나의 반도체 칩을 부착하는 단계, 상기 본딩 패드들 및 상기 회로 패턴을 도전성 와이어로 본딩하는 단계, 상기 메인 기판을 수납하는 리세스를 갖는 몰드 내에 메인 기판을 배치 및 상기 단자 패턴을 덮는 단계, 상기 단자 패턴은 노출하고 나머지 부분을 몰딩 물질로 몰딩하여 몰딩 부재를 형성하는 단계 및 상기 서브 기판들의 테두리를 따라 상기 메인 기판을 절단하는 단계를 포함한다.According to an exemplary embodiment of the present disclosure, a method of manufacturing a semiconductor module includes arranging sub substrates having a circuit pattern and a terminal pattern connected to the circuit pattern on a main substrate, and attaching at least one semiconductor chip having bonding pads to the sub substrates. Bonding the bonding pads and the circuit pattern with conductive wires, placing a main substrate in a mold having a recess for receiving the main substrate and covering the terminal pattern, exposing the terminal pattern and remaining Molding a portion with a molding material to form a molding member and cutting the main substrate along an edge of the sub substrates.
반도체 모듈의 제조 방법은 상기 반도체 칩을 상기 서브 기판들 상에 부착하는 단계 이전에, 상기 웨이퍼로부터 상기 반도체 칩을 개별화하는 단계를 더 포함한다.The method of manufacturing a semiconductor module further comprises individualizing the semiconductor chip from the wafer prior to attaching the semiconductor chip onto the sub-substrates.
상기 몰딩 부재를 형성하는 단계 이후, 상기 몰딩 부재에 마크를 형성하는 단계를 더 포함한다.After the forming of the molding member, the method may further include forming a mark on the molding member.
상기 몰딩 부재를 형성하는 단계는 파우더 형태의 상기 몰딩 물질을 상기 몰드 내에 제공하는 단계 및 상기 파우더 형태의 상기 몰딩 물질을 용융시키는 단계 를 포함한다.Forming the molding member includes providing the molding material in powder form into the mold and melting the molding material in powder form.
상기 서브 기판은 상기 메인 기판의 양쪽면에 각각 배치된다.The sub substrates are disposed on both sides of the main substrate, respectively.
상기 리세스를 갖는 상기 몰드 내에 상기 메인 기판을 배치하는 단계 이전에 상기 몰드의 상기 리세스 내에 상기 몰드로부터 상기 메인 기판을 분리하기 위한 분리 필름을 배치하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 모듈의 제조 방법.And disposing a separation film for separating the main substrate from the mold in the recess of the mold prior to placing the main substrate in the mold having the recess. Method of preparation.
본 발명에 따르면, 반도체 모듈을 제조하는데 소요되는 제조 공정 및 제조 시간을 크게 단축시킬 수 있는 효과를 갖는다.According to the present invention, the manufacturing process and manufacturing time required to manufacture the semiconductor module can be significantly shortened.
이하, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 실시예들에 따른 반도체 모듈의 제조 방법에 대하여 상세하게 설명하지만, 본 발명이 하기의 실시예들에 제한되는 것은 아니며, 해당 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양한 다른 형태로 구현할 수 있을 것이다.Hereinafter, a method of manufacturing a semiconductor module in accordance with embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. However, the present invention is not limited to the following embodiments, and has ordinary skill in the art. It will be apparent to those skilled in the art that the present invention may be embodied in various other forms without departing from the spirit of the invention.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 반도체 모듈의 제조 방법을 도시한 순서도이다. 도 2는 반도체 모듈을 제조하기 위한 서브 기판 및 메인 기판을 도시한 평면도이다. 도 3은 도 2의 I-I' 선을 따라 절단한 단면도이다.1 is a flowchart illustrating a method of manufacturing a semiconductor module according to an embodiment of the present invention. 2 is a plan view illustrating a sub substrate and a main substrate for manufacturing a semiconductor module. 3 is a cross-sectional view taken along the line II ′ of FIG. 2.
도 1 내지 도 3들을 참조하면, 반도체 모듈을 제조하기 위해서, 먼저 회로 패턴(10) 및 단자 패턴(20)을 갖는 서브 기판(30)을 플레이트 형상을 갖는 메인 기판(40) 상에 배치하는 단계가 수행된다.(단계 S100)1 to 3, in order to manufacture a semiconductor module, first, placing a
본 실시예에서, 서브 기판(30)은 도 3에 도시된 바와 같이 메인 기판(40)의 일측면에 배치될 수 있다. 이와 다르게, 서브 기판(30)은 메인 기판(40)의 일측면 및 상기 일측면과 대향하는 타측면에 각각 배치될 수 있다.In the present embodiment, the
서브 기판(30)은 메인 기판(40) 상에 적어도 하나 바람직하게 복수개가 매트릭스 형태로 배치될 수 있다. 본 실시예에서, 서브 기판(30)은 메인 기판(40) 상에 2×2 매트릭스 형태로 배치되며, 각 서브 기판(30)들은 상호 이격된다.At least one
각 서브 기판(30)에는 적어도 하나의 칩 실장 영역(32)이 형성되고, 각 칩 실장 영역(32)의 주변에는 단자 패턴(20)들이 형성된다.At least one
도 4는 도 2의 서브 기판 상에 반도체 칩을 배치 및 와이어 본딩을 수행한 것을 도시한 단면도이다.4 is a cross-sectional view illustrating a semiconductor chip disposed and wire bonding performed on the sub-substrate of FIG. 2.
도 1 및 도 4를 참조하면, 단계 S200을 참조하면, 서브 기판(30)의 각 칩 실장 영역(32)에는 반도체 칩(40)이 어탯치 된다. 본 실시예에서, 반도체 칩(40)은 백 그라인딩 공정이 수행되지 않는다.1 and 4, referring to step S200, a
반도체 칩(40)은 회로부(미도시) 및 회로부와 연결된 본딩 패드(42)들을 포함한다. 회로부는 데이터를 저장하는 데이터 저장부(미도시) 및 데이터를 처리하는 데이터 처리부(미도시)를 포함한다.The
이어서, 도 1의 단계 S30에서, 반도체 칩(40)의 본딩 패드(42)들 및 서브 기판(30)의 회로 패턴(10)은 도전성 와이어(50)에 의하여 전기적으로 연결된다. 이와 다르게, 본 실시예에서, 반도체 칩(40)의 본딩 패드(42) 및 서브 기판(30)의 회로 패턴(10)은 범프 등을 이용한 플립 칩 방식으로 본딩 되어도 무방하다.Subsequently, in step S30 of FIG. 1, the
도 5는 도 2의 메인 기판을 몰드 내에 배치 및 몰딩을 수행한 것을 도시한 단면도이다.FIG. 5 is a cross-sectional view illustrating that the main substrate of FIG. 2 is disposed and molded in a mold.
도 1 및 도 5를 참조하면, 단계 S400에서, 반도체 칩(40) 및 서브 기판(30)이 도전성 와이어(50)에 의하여 전기적으로 연결된 후, 메인 기판(40)은 상부가 개구된 몰드(60) 내에 배치된다. 이때, 몰드(60) 내에 메인 기판(40)이 배치되기 이전에 몰드(60)의 내측면에는 메인 기판(40)을 몰드(60)로부터 분리하기 위한 리젝트 필름(70)이 배치된다.1 and 5, in step S400, after the
도 1의 S500 및 도 5를 참조하면, 몰드(60) 내에 메인 기판(40)이 배치된 후, 서브 기판(30)의 단자 패턴(20)은 커버 부재(미도시)에 의하여 덮이고, 몰드(60) 내에는 파우더 형태로 열에 의하여 용융되는 몰딩 물질(미도시)들이 배치된다.Referring to S500 and FIG. 5 of FIG. 1, after the
파우드 형태의 몰딩 물질들이 몰드(60) 내에 배치된 후, 몰딩 물질에는 열이 가해져 몰딩 물질은 용융되어 반도체 칩(40) 및 도전성 와이어(50)를 덮는 몰딩 부재(80)가 형성된다.After the molding materials in the form of the pads are disposed in the mold 60, heat is applied to the molding materials so that the molding materials are melted to form a
도 6은 커버 부재를 제거하여 서브 기판의 단자를 노출한 것을 도시한 단면도이다.6 is a cross-sectional view illustrating the terminal of the sub-substrate exposed by removing the cover member.
도 6을 참조하면, 단자 패턴(20)을 덮고 있던 커버 부재를 서브 기판(30)으로부터 제거함으로써 단자 패턴(20)은 외부로 노출된다. 이어서, 다이아몬드 블레이드(90) 등을 이용하여 몰드 부재(80), 서브 기판(30) 및 메인 기판(40)은 순차적으로 절단되고, 이 결과 반도체 모듈(100)이 제조된다.Referring to FIG. 6, the
이상에서 상세하게 설명한 바에 의하면, 반도체 모듈을 제조하는데 소요되는 제조 공정 및 제조 시간을 크게 단축시킬 수 있는 효과를 갖는다.As described in detail above, the manufacturing process and manufacturing time required for manufacturing the semiconductor module can be greatly shortened.
앞서 설명한 본 발명의 상세한 설명에서는 본 발명의 실시예들을 참조하여 설명하였지만, 해당 기술분야의 숙련된 당업자 또는 해당 기술분야에 통상의 지식을 갖는 자라면 후술 될 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 기술 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.In the detailed description of the present invention described above with reference to the embodiments of the present invention, those skilled in the art or those skilled in the art having ordinary knowledge in the scope of the present invention described in the claims and It will be appreciated that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the scope of the art.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 반도체 모듈의 제조 방법을 도시한 순서도이다.1 is a flowchart illustrating a method of manufacturing a semiconductor module according to an embodiment of the present invention.
도 2는 반도체 모듈을 제조하기 위한 서브 기판 및 메인 기판을 도시한 평면도이다.2 is a plan view illustrating a sub substrate and a main substrate for manufacturing a semiconductor module.
도 3은 도 2의 I-I' 선을 따라 절단한 단면도이다.3 is a cross-sectional view taken along the line II ′ of FIG. 2.
도 4는 도 2의 서브 기판 상에 반도체 칩을 배치 및 와이어 본딩을 수행한 것을 도시한 단면도이다.4 is a cross-sectional view illustrating a semiconductor chip disposed and wire bonding performed on the sub-substrate of FIG. 2.
도 5는 도 2의 메인 기판을 몰드 내에 배치 및 몰딩을 수행한 것을 도시한 단면도이다.FIG. 5 is a cross-sectional view illustrating that the main substrate of FIG. 2 is disposed and molded in a mold.
도 6은 커버 부재를 제거하여 서브 기판의 단자를 노출한 것을 도시한 단면도이다.6 is a cross-sectional view illustrating the terminal of the sub-substrate exposed by removing the cover member.
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