KR20100066449A - 전기화학적 테스트 스트립 - Google Patents

Abstract

용이하게 제작된 테스트 스트립은 전기화학적 테스트 계측기로 삽입을 위해 마주보는 전극이지만 나란한 커넥터로 형성되어 있다. 전류는 간격층의 말단에 인접하게 위치하는 전도층에 의해, 또는 상기 층을 커넥터와 접촉하는 그 위의 전도 표면을 가져오도록 치환함으로써 하나의 층 상의 전극으로부터 다른 전극으로 인가된다.

Description

전기화학적 테스트 스트립{Electrochemical Test Strips}

본 출원은 2007년 7월 26일에 출원된, 미국 가출원 번호 제60/952,108호, 2007년 10월 10일에 출원된, 미국 가출원 번호 제60/978,848호 및 2007년 10월 11일에 출원된, 미국 가출원 번호 제60/979,123호의 우선권의 이익을 주장하며, 상기 출원은 참조에 의한 포함을 허용하는 모든 국가에서 전 내용이 참조에 의하여 본 명세서에 포함된다.

본 출원은 혈액의 글루코즈 수준을 테스트하는데 일반적으로 사용되는 형태의 전기화학적 화학적 테스트 스트립에 관한 것이다. 상기 테스트 스트립은 1회용이며, 상기 스트립 내부의 전극에 전원을 공급하고, 결과를 나타내기 위한 재사용 가능한 계측기 유니트와 결합되어 있다.

전기화학적 테스트 스트립은 당업계에 잘 알려져 있다. 테스트 스트립은 하루에 여러번 사용될 수 있고, 각각의 테스트 스트립은 단지 한 번만 사용될 수 있기 때문에, 상기 스트립은 가능한한 저렴하게 제조될 필요가 있다. 반면에, 혈액의 글루코즈를 모니터링하는 것이 부정확한 경우 사용자에게 심각한 건강상의 결과를 초래할 수 있으므로, 상기 테스트 스트립은 또한 요구되는 정확성의 수준을 제공하기 위해 상당히 엄격한 제작 공차(manufacturing tolerances)로 제조될 필요가 있다. 게다가, 모니터링은 일반적으로 훈련된 전문 의료인에 의해서라기 보다, 다양한 연령의 사람들 및 다양한 취급 능력의 수준에 의해 수행되므로, 상기 계측기가 결합된 스트립은 정확한 방법으로 측정될 수 있도록 사용이 용이해야 할 필요가 있다.

상기 기술에서, 일반적으로 2개의 기본적인 전극 배치가 있다: 전기화학적 측정을 수행하기 위한 전극이 테스트 셀을 가로질러 마주보는 배열로 서로 다른 기판 상에 배치되어 있는 마주보는 전극(facing electrode)과 테스트 셀 내의 공통된 기판 표면상 전극이 모두에 위치하는 나란히 있는 전극(side-by-side electrode). 이들 전극으로부터, 리드는 상기 전극 및 상기 계측기 유니트 사이를 전기적으로 연결하도록 확장되어 있다. 본 출원은 마주보는 배치로 전극을 갖는 전기화학적 테스트 스트립에 관한 것이다.

미국 특허 제5,437,999호는 스트립의 상부 표면으로부터 하나의 전극(상기 테스트 셀의 하부 상의 전극)에 대한 리드와 접촉되어 있는 동시에, 상기 테스트 스트립의 하부 표면으로부터 다른 전극(상기 테스트 셀의 상부 표면상의 전극)에 대한 리드와 접촉되어 있는, 마주보는 배치로 전극을 갖는 테스트 스트립을 개시하고 있다. 미국 특허 출원 공개 제2005/0258050호는 상부 및 하부로부터 접촉이 이루어진 다른 테스트 스트립의 배치를 개시하고 있다. 이들 경우 모두에서, 상기 기판의 전체 표면은 단일 물질로부터 형성된 상기 전극 및 그의 연결된 리드를 제공하기 위해 금속화 되어있다.

커넥터(connector)가 스트립의 상부 및 하부로부터 표적이 되는 스트립 커넥터에 대한 디자인의 유용성에도 불구하고, 일부 환경에서(예를 들어, 한쪽-표면 연결에 맞도록 커넥터를 갖는 이미 존재하는 계측기 유니트와 함께 상기 스트립을 사용하도록 하는 환경) 마주보는 전극이나 단일 표면 상에 상기 커넥터 양자를 가진 마주보는 전극을 사용하는 것이 바람직할 수 있다. 미국 특허 제6,071,391호는 양쪽 리드가 상기 기판의 한쪽상에 존재하는 마주보는 전극의 테스트 스트립을 개시한다. 이는 상부 및 하부 기판 사이의 접착층 및/또는 간격층 내의 구멍을 통과하는 그의 리드 부분으로 전도되는 상부의 전극에 의해 달성된다. 이러한 접근은 제조에 있어서 여러 별도의 과정 및 추가적인 어려움이 따르는데, 이는 구멍은 상기 전극으로부터 별도로 패턴화된 하부의 전도성 리드 및 확장과 정렬된 접착/간격층에서 형성될 필요가 있고, 이후 전도성 물질이 2개의 표면 위의 상기 전극 및 상기 리드 사이에 접촉을 형성하도록 상기 구멍 내에 채워져야 하기 때문이다. 미국 특허 출원 공개 제2005/0000808호는 간격층이 테스트 스트립의 한 측면으로부터 다른 측면으로 이어지는 틈을 갖는 2개의 분리된 부분으로서 형성된 테스트 스트립 구조를 개시한다. 리드는 다른 기판 상의 전극과 접촉하도록 이 구멍을 가로질러 확장되는 전극 커넥터와 함께 한쪽 기판 상에 형성된다. 이 전극은 상기 전체 내부 표면 상에 인쇄될 수 있으며, 구멍 대신에 2개의 분리된 조각(pieces)을 가진 간격(spacer)의 사용과 결합된 이것은 상기 전극 커넥터의 위치가 한쪽 방향(상기 스트립의 길이 방향)으로만 중요하다는 것을 의미한다. 이는 구멍의 경우에서 요구되는 2차원적 조절에 대한 향상이지만, 작동하지 않는 테스트 스트립을 초래할 수 있는 제조상 에러의 위험을 증가시켜 사용가능한 스트립 당 가격을 증가시킬 수 있다.

본 발명은 테스트 셀 내의 전극은 마주보는 배치로 되어있고, 커넥터는 테스트 스트립이 용이하게 제조되는 단일 표면상에 배치되어 있는 대안적인 스트립의 디자인을 제공한다. 본 발명에 따르면, 상기 테스트 스트립은 다음을 포함한다:

(a) 제1 전극 및 커넥터 트랙이 위에 배치되며, 상기 제1 전극 및 커넥터 트랙은 제1 전극 커넥터, 및 제2 전극 커넥터를 포함하는 것인 기저 기판,

(b) 상기 기저 기판을 따라 세로로 방향으로 확장된 2개 스트립의 유전 물질을 포함하는 것으로, 상기 유전성 스트립은 내부의 세로 방향의 경계에 의해 정의된 그 사이에 열린 공간을 가지며, 상기 열린 공간은 제1 전극의 부분 및 커넥터 트랙을 노출시키고, 상기 기저 기판의 전체 길이보다 작게 확장되어, 상기 유전체의 제1 스트립은 노출된 제1 전극 커넥터의 부분을 남기고, 상기 유전체의 제2 스트립은 노출된 제2 전극 커넥터의 부분을 남기며, 상기 노출된 제2 전극 커넥터의 부분의 길이는 노출된 제1 전극 커넥터의 부분의 길이보다 길도록 된 것인 유전체 층,

(c) 상기 유전체 층 위에 배치된 절연 물질의 2개의 스트립을 포함하는 것으로, 상기 절연 스트립은 상기 유전성 스트립 내부의 세로 방향으로 경계를 노출시키는 그 사이에 열린 공간을 가지고, 상기 기저 기판의 전체 길이보다 작게 확장되어, 상기 유전체의 제1 스트립은 노출된 제1 전극 커넥터의 부분을 남기고, 상기 유전체의 제2 스트립은 노출된 제2 전극 커넥터의 부분을 남기며, 상기 노출된 제2 전극 커넥터의 부분의 길이는 노출된 제1 전극 커넥터의 부분의 길이보다 길도록 된 것인 간격층,

(d) 제2 전극 커넥터의 노출된 부분과 접촉하여 전도성을 갖도록 배치된 전도성 물질, 및

(e) 그 위에 제2 전극 및 커넥터 트랙을 갖는 기판을 포함하는 것으로, 상기 제2 전극의 부분 및 커넥터 트랙은 제1 전극의 노출된 부분 및 커넥터 트랙의 반대편에 배치되고, 제2 커넥터 트랙의 부분은 전도성 물질과 접촉하여 배치되는 것인 상층.

도 1a 내지 도 1e는 본 발명에 따른 테스트 스트립의 일 구체예의 층(layer)을 나타낸다.
도 2는 작업 전극을 통하여 조립된 장치를 통과하는 단면도를 나타낸다.
도 3은 상대(counter) 커넥터 트랙(12)을 통과하는 선을 따라 상기 테스트 스트립의 커넥터 말단을 통과하는 종단면도를 나타낸다.
도 4는 본 발명의 다른 구체예를 나타낸다.
도 5 내지 도 11은 본 발명의 다양한 다른 구체예의 측단면도를 나타낸다.

도 1a 내지 1e는 본 발명에 따른 테스트 스트립의 제1 구체예의 층을 나타낸다. 도 1a는 기초 층이다. 상기 기초 층은 작업 전극 및 커넥터 트랙(11), 및 상대 커넥터 트랙(12)이 형성된 기판(10)을 포함한다. 작업 전극 및 커넥터 트랙(11) 및 상대 커넥터 트랙(12)은 전도성 잉크로 스크린 인쇄에 의해 적절하게 형성된다. 도 1a에서 보는 바와 같이, 상기 작업 전극 및 커넥터 트랙(11)은 작업 전극 커넥터 (11')를 형성하는 확장부를 갖는 루프(loop)의 형태이다.

도 1b는 유전체 층이다. 이 층은 채널이 상기 테스트 스트립의 길이 방향으로 연장되도록 상기 기초 층 상에 침적된 2개의 스트립(13 및 14)으로부터 형성된다. 스트립(13)은 스트립(14)보다 길며, 상기 상대 커넥터 트랙(12)의 반대편에 정렬된 상기 작업 전극 및 커넥터 트랙(11)의 커넥터 부분(11')의 부분을 덮는다. 제1 전극 트랙(11)의 부분(110)은 유전성 스트립(12), 및 (14) 사이에 노출된 채로 남겨진다.

도 1c는 간격층(spacer layer)이며, 양면 접착성 절연 필름으로부터 적절하게 형성된다. 이 층은 스트립(13 및 14)과 동일한 길이지만 이들 스트립보다 더 좁은 2개의 간격 스트립(15 및 16)으로부터 형성된다. 제1 전극 트랙(11)의 부분(110)은 노출된 상태로 남겨진다.

도 1d는 전도성 접착제(glue)와 같은 전도성 물질(17)의 스트립만을 포함하는 층이다. 이 층은 상대 커넥터 스트립(12)과 접촉되도록 간격 스트립(16) 및 유전성 스트립(14)의 말단으로부터 오프셋(offset)된다. 따라서 도 1b 및 1c의 층과 상기 스트립 내에 동일한 수직면 내에 있으나, 분리되어 형성된 것이므로 분리되어 나타낸다.

도 1e는 상부 기판(18) 및 상대 전극 및 커넥터 트랙(19)을 포함하는 층이다. 상기 상대 전극 및 커넥터 트랙(19)은 전도성 잉크로 스크린 인쇄에 의해 적절하게 형성되어 있으며, 상기 상부 기판(18)이 상기 기판(10)보다 짧아서 상기 층이 조립될 때 상기 상대 전극 트랙(12) 및 상기 작업 전극 트랙 (11')의 말단이 노출되는 것을 제외하고는, 상기 작업 전극 및 커넥터 트랙(11)과 동일한 모양을 갖는다.

상기 테스트 스트립은 나타낸 상기 층으로부터 조립된다. 상부 기판(18)의 적용 전에, 시약 용액을 상기 작업 전극 및 커넥터 트랙(11)의 상기 노출된 부분(110) 기판 위에 올려 놓고 건조시켜 작업 전극을 형성한다. 상기 작업 전극의 면적은 상기 도 1b의 유전성 스트립 (도 2 참조) 사이의 간격 및 상기 유전체 층 사이의 틈(gap)과의 교차점에서 상기 작업 전극 및 커넥터 트랙(11)의 차원에 의해 정의된다.

도 2는 상기 작업 전극을 통과하는 상기 조립된 장치의 단면이다. 이 도면에서, 작업 전극(210), 상대 전극(219) 및 상기 유전성 스트립 (13, 14)은 명확성을 위해 일정 척도를 벗어나 확장된 두께로 나타내었다. 또한 도 2는 상기 작업 전극(210)의 위에 시약 층(201)이 침적된 것도 나타낸다. 상기 간격 스트립(15/16)은 상기 장치의 길이 방향을 따라가는 열린 채널(202)을 정의한다. 따라서, 모세관 현상에 의해 상기 테스트 셀로 액체 시료가 빨아들여지도록 하기 위한 별도의 통기공(vent)을 필요로 하지 않는다.

도 3은 상대 커넥터 트랙(12)을 관통하는 선을 따라 테스트 스트립의 커넥터 말단을 통과하는 종단면도를 나타낸다. 나타낸 바와 같이, 상기 전도성 물질(17)은 상기 상대 전극 및 커넥터(19)를 상기 상대 커넥터 트랙(12)에 연결시킨다.

도 1a 내지 1e, 2 및 3에서 나타낸 바와 같은 상기 장치에서 제조될 수 있는 변형은 다양하다. 예를 들어, 도 4에서 나타낸 바와 같이, 상기 전도성 물질(17)의 견고성(intergrity)을 유지하도록 돕기 위해 상기 테스트 스트립의 말단 위에 보호 테이프(40)를 적용시킬 수 있다.

상기에서 언급된 바와 같이, 상기 테스트 스트립의 길이를 따라 확장하는 상기 채널(202)은 별도의 통기공이 형성될 필요가 없음을 의미한다. 그러나, 이 채널의 길이는 전극 영역을 지나서 시료가 빨려지게 하는 경향이 있으며, 따라서 상기 기저 기판(10) 및 상기 상부 기판(18)이 노출된 상기 영역 내의 채널을 변경하여 물질이 상기 전극을 지나서 흐르는 것을 제한하는 것이 바람직할 수 있다. 이러한 결과를 달성하기 위한 하나의 접근법으로, 상기 장치의 조립 전 또는 후에, 상기 채널(예를 들어, 도 1a에 표시된 영역(150) 내)을 절단하도록 상기 기초 층의 한쪽 또는 양쪽을 통과하는 구멍을 뚫어, 상기 시료가 통과하여 흐를 수 있는 상기 채널의 길이를 제한할 수 있다. 다른 접근법은 영역(150) 내의 표면 성질을 변경시키는 것으로, 예를 들어 이 영역 내에 소수성 코팅을 적용시킴으로써 수성 액체 시료 (혈액과 같은)가 상기 전극(110)을 지나서 흘러가는 능력을 감소시킬 수 있다.

본 발명의 테스트 스트립에서 사용된 전도성 물질은 측정을 하는데 있어서 상쇄될 수 없는 방법으로 상대 전극(19) 및 상대 커넥터를 위한 커넥터 트랙(12) 사이의 연결에서 저항을 증가시키지 않고 적당하게 정의된 위치에 편리하게 적용될 수 있는 어떠한 물질도 가능하다. 적절한 전도성 물질의 하나의 예는 전도성 접착제로, 이는 원하는 모양으로 인쇄될 수 있는 것이다. Kolbe 등(Microelectroics Reliability, Volume 47, Issues 2-3, February-March 2007, Pages 331-334)은 상기 접착제의 전도성 성분의 작은 입자 크기로 인해 잉크젯 기술을 사용하여 인쇄될 수 있는 전도성 접착제를 개시한다. 대안적으로, 상기 전도성 접착제는 전도성의 압력 민감성 접착 필름의 형태일 수 있다. 이러한 형태의 필름은 이방성(anisotropic) 즉, Z-방향으로 전도성인 50 ㎛ 두께의 필름을 제공하는 3M^TM 전기적으로 전도성인 접착 전이(transfer) 테이프 9705와 같은, 필름의 두께를 통하여만 전도하는 것, 또는 3M XYZ 등방성 전기적으로 전도성인 접착 전이 테이프 9708 또는 9709와 같은 모든 방향으로 전류를 전도할 수 있는 것일 수 있다. 상기 전도성 물질이 접착성 필름인 경우, 원한다면 절연 스트립 (15, 16) 위에까지 확장될 수 있다.

본 발명의 테스트 스트립에서, 상기 패턴화된(patterned) 전극 및 커넥터 트랙의 모양은 중요하지 않다. L 모양을 포함한, 그러한 패턴화된 침적의 다양한 모양이 알려져 있다. 그러나, 상기 작업 전극 및 커넥터 트랙(11) 및 상기 상대 전극 및 커넥터 트랙(19) 양쪽 모두로부터의 패턴이 동일하기 때문에, 도면에 나타난 구조는 편리하다. 상기 전극은 또한 상기 기초 층 위의 어떠한 놓여진 금속 코팅으로부터 상기 상대 전극 커넥터(12)를 분리하는데 필요하도록 배치된 절연 층을 가진 코팅된 기판(예를 들어 금 코팅된 폴리에스테르)으로써 형성될 수 있다.

본 발명의 테스트 스트립은 시료의 부피를 최소화하여 사용할 수 있도록 매우 작은 테스트 셀을 가질 수 있다. 예를 들어, 상기 시료의 부피는 1 ㎕ 이하, 바람직하게는 500 나노리터 이하, 더욱 바람직하게는 200 나노리터 이하일 수 있다.

본 발명의 테스트 스트립은 용액 중 분석물의 검출을 위하여 알려진 어떠한 다양한 화학 물질도 사용할 수 있다. 특히, 글루코즈의 검출의 경우, 상기 테스트 스트립은 글루코즈 옥시다아제 및 페로시아나이드, 오스뮴 화합물, 또는 루테늄 화합물과 같은 산화 환원 매개체를 포함할 수 있다.

본 발명의 테스트 스트립의 구조는 계측기의 연결을 위해 상기 상대 전극 리드를 상기 맞은편 기판으로 바꾸는 전도성 물질(17)의 특별한 정렬을 요구하지 않는 이점을 제공한다. 이는 다음을 포함하는 테스트 스트립에 의해 달성될 수 있다:

(a) 제1 전극 및 커넥터 트랙이 위에 배치되며, 상기 제1 전극 및 커넥터 트랙은 제1 전극 커넥터, 및 제2 전극 커넥터를 포함하는 것인 기저 기판,

(b) 상기 기저 기판을 따라 세로로 방향으로 확장된 2개 스트립의 유전 물질을 포함하는 것으로, 상기 유전성 스트립은 내부의 세로 방향의 경계에 의해 정의된 그 사이에 열린 공간을 가지며, 상기 열린 공간은 제1 전극의 부분 및 커넥터 트랙을 노출시키고, 상기 기저 기판의 전체 길이보다 작게 확장되어, 상기 유전체의 제1 스트립은 노출된 제1 전극 커넥터의 부분을 남기고, 상기 유전체의 제2 스트립은 노출된 제2 전극 커넥터의 부분을 남기며, 상기 노출된 제2 전극 커넥터의 부분의 길이는 노출된 제1 전극 커넥터의 부분의 길이보다 길도록 된 것인 유전체 층,

(c) 상기 유전체 층 위에 배치된 절연 물질의 2개의 스트립을 포함하는 것으로, 상기 절연 스트립은 상기 유전성 스트립 내부의 세로 방향으로 경계를 노출시키는 그 사이에 열린 공간을 가지고, 상기 기저 기판의 전체 길이보다 작게 확장되어, 상기 유전체의 제1 스트립은 노출된 제1 전극 커넥터의 부분을 남기고, 상기 유전체의 제2 스트립은 노출된 제2 전극 커넥터의 부분을 남기며, 상기 노출된 제2 전극 커넥터의 부분의 길이는 노출된 제1 전극 커넥터의 부분의 길이보다 길도록 된 것인 간격층,

(d) 제2 전극 커넥터의 노출된 부분과 접촉하여 전도성을 갖도록 배치된 전도성 물질, 및

(e) 그 위에 제2 전극 및 커넥터 트랙을 갖는 기판을 포함하는 것으로, 상기 제2 전극의 부분 및 커넥터 트랙은 제1 전극의 노출된 부분 및 커넥터 트랙의 반대편에 배치되고, 제2 커넥터 트랙의 부분은 전도성 물질과 접촉하여 배치되는 것인 상층.

도 5 내지 도 11은 본 발명의 다양한 다른 구체예의 측단면도를 나타낸다. 도 5는 선택적인 보호 테이프(40)를 갖는 측단면도를 나타낸다. 도 6에서, 전도성 물질(17)에 인접하는 스트립의 제2 부분에 배치된 간격(65)이 있고 스트립의 제1 부분 내의 상기 간격(15)은 상기 스트립의 제2 부분 내의 상기 간격(65)과 동일한 평면에 있지 않다.

도 7은 전도성 물질(17)이 전도성 트랙(12) 아래 유전체 물질(14)의 침적(build-up)의 결과로써 상기 간격(spacer) 두께의 실질적으로 중간인 평면에서(in a plane substantially mid-way) 전도성 트랙(12)과 만나는 구체예를 나타낸다.

도 8은 전도성 물질(17)이 없는 구체예를 나타낸다. 상부 기판(18) 및 트랙(19)은 아래로 기울어져 트랙(12)과 접촉하고, 트랙(12)으로서 계속된다.

도 9는 상기 전도성 물질(17)이 전도성 에폭시와 같은 접착제인 구체예를 나타낸다.

도 10은 도 7 및 8의 구체예를 조합한 것이다. 전도성 물질(17)은 없으며, 트랙(19) 및 트랙(12)의 접촉은 전도성 트랙(12) 아래 유전체 물질(13)의 침적의 결과로써 상기 간격 두께의 실질적으로 중간인 평면에 있다. 상기 도면은 또한 선택적인 덮개 층(40)을 나타낸다.

또한, 계측기 내에 상기 스트립이 삽입되었을 때 상기 스트립을 수용한 장치(계측기)가 상기 스트립의 보호 덮개 또는 상층을 누르게 하도록 된 것이 바람직하다. 도 11은 스트립 포트 커넥터(strip port connector, SPC) 내의 예시적인 스트립의 측면도를 나타낸다. 상기 SPC의 구조는 테이프(40) (또는 상기 스트립의 상부 표면)를 눌러 측정하는 동안 테이프가 제 위치에 있도록 고정시킨다.

삽입하는 경우 상기 스트립을 압축하는 도 11에 나타난 타입의 상기 SPC의 사용은 상기 전도성 물질(17) 및 상부 테이프(40)의 사용을 불필요하게 할 수 있다. 도 12에서 보는 바와 같이, 상기 SPC 상 구조의 작용은 상층 자체에 대항하여, 상기 스트립이 SPC 내로 삽입될 때 그의 말단 부분을 아래 방향으로 눌러 트랙(19) 및 트랙(12) 사이의 전기적 접촉을 형성하도록 한다.

도 13은 본 발명의 다른 구체예를 나타낸다. 이 경우, 상층(10)은 지짐 접착(heat-staking) (즉, 2개의 층이 결합하도록 플라스틱을 용융시킴) 또는 초음파/고주파 용접과 같은 기계적인 결합에 의해 아래 방향의 위치로 고정된다. 도(13)은 전도성 물질(17)을 나타내지만, 기계적 결합 부위에서 트랙(19)이 트랙(12)과 접촉하고 있기 때문에 이는 선택적이다.

Claims (20)

1. (a) 제1 전극 및 커넥터 트랙이 위에 배치된 기저 기판으로서, 상기 제1 전극 및 커넥터 트랙은 제1 전극 커넥터, 및 제2 전극 커넥터를 포함하는 것인 기저 기판,
   (b) 상기 기저 기판을 따라 세로 방향으로 확장된 유전 물질의 2개 스트립을 포함하는 유전 층으로서, 상기 유전성 스트립은 내부의 세로 방향의 경계(edge)에 의해 정의된 그 사이에 열린 공간을 가지며, 상기 열린 공간은 제1 전극 및 커넥터 트랙의 부분을 노출시키고, 상기 기저 기판의 전체 길이보다 작게 확장되어, 상기 유전체의 제1 스트립은 제1 전극 커넥터가 노출된 부분을 남기고, 상기 유전체의 제2 스트립은 제2 전극 커넥터가 노출된 부분을 남기며, 제2 전극 커넥터의 상기 노출된 부분의 길이는 제1 전극 커넥터의 상기 노출된 부분의 길이보다 길도록 된 것인 유전체 층,
   (c) 상기 유전체 층 위에 배치된 절연 물질의 2개의 스트립을 포함하는 간격층으로서, 상기 절연 스트립은 상기 유전성 스트립 내부의 세로 방향 경계를 노출시키는 그 사이에 열린 공간을 가지고, 상기 기저 기판의 전체 길이보다 작게 확장되어, 상기 제1 절연 스트립은 제1 전극 커넥터의 상기 노출된 부분을 남기고, 상기 제2 절연 스트립은 제2 전극 커넥터의 상기 노출된 부분을 남기며, 상기 제2 전극 커넥터의 상기 노출된 부분의 길이는 제1 전극 커넥터의 상기 노출된 부분의 길이보다 길도록 된 것인 간격층,
   (d) 제2 전극 커넥터의 상기 노출된 부분과 전도성 접촉이 되도록 배치된 전도성 물질, 및
   (e) 그 위에 제2 전극 및 커넥터 트랙이 배치된 기판을 포함하는 상층으로서, 상기 제2 전극 및 커넥터 트랙의 부분은 제1 전극 및 커넥터 트랙의 상기 노출된 부분의 반대편에 배치되고, 상기 제2 커넥터 트랙의 부분은 상기 전도성 물질과 접촉하여 배치되며, 상기 상층은 상기 기저 기판보다 더 짧아, 제1 전극 커넥터 및 제2 전극 커넥터의 상기 노출된 일부를 갖는 상기 기저 기판의 커넥터 부분이 노출된 상태로 유지되도록 된 것인 상층을 포함하는 테스트 스트립.
2. 제1항에 있어서, 상기 제1 전극 및 커넥터 트랙 및 상기 제2 전극 및 커넥터 트랙은 각각 상기 제1 전극 커넥터를 형성하는 확장부를 갖는 루프(loop)의 형태인 것인 테스트 스트립.
3. 제2항에 있어서, 상기 기저 기판의 커넥터 부분에 상기 상층의 외부 표면에 부착되고 그 사이를 연장하는 보호층을 더 포함하고, 상기 보호층은 상기 기저 기판의 커넥터 부분이 완전하게 덮혀지지 않도록 된 크기인 것인 테스트 스트립.
4. 제2항에 있어서, 상기 구멍은 제1 전극 및 커넥터 트랙의 상기 노출된 부분의 안쪽 경계에 인접한 위치에서 한쪽 또는 양쪽 모두의 상기 기판을 통과하도록 뚫려 있는 것인 테스트 스트립.
5. 제2항에 있어서, 상기 기저 기판은 제1 전극 및 커넥터 트랙의 상기 노출된 부분의 안쪽 경계에 인접한 영역에 소수성 코팅으로 코팅된 것인 테스트 스트립.
6. 제2항에 있어서, 상기 제1 전극 트랙의 상기 노출된 부분, 및 유전체 층, 상기 간격층 및 상층은 1 ㎕ 이하의 부피를 갖는 테스트 셀을 정의하는 것인 테스트 스트립.
7. 제1항에 있어서, 상기 제1 전극 및 커넥터 트랙 및 상기 제2 전극 및 커넥터 트랙은 각각 상기 제1 전극 커넥터를 형성하는 확장부를 갖는 루프(loop)의 형태인 것인 테스트 스트립.
8. 제7항에 있어서, 상기 기저 기판의 커넥터 부분에 상기 상층의 외부 표면에 부착되고 그 사이를 연장하는 보호층을 더 포함하고, 상기 보호층은 상기 기저 기판의 커넥터 부분이 완전하게 덮혀지지 않도록 된 크기인 것인 테스트 스트립.
9. 제7항에 있어서, 상기 구멍은 제1 전극 및 커넥터 트랙의 상기 노출된 부분의 안쪽 경계에 인접한 위치에서 한쪽 또는 양쪽 모두의 상기 기판을 통과하도록 뚫려 있는 것인 테스트 스트립.
10. 제7항에 있어서, 상기 기저 기판은 제1 전극 및 커넥터 트랙의 상기 노출된 부분의 안쪽 경계에 인접한 영역에 소수성 코팅으로 코팅된 것인 테스트 스트립.
11. 제7항에 있어서, 상기 제1 전극 트랙의 상기 노출된 부분, 및 유전체 층, 상기 간격층 및 상층은 1 ㎕ 이하의 부피를 갖는 테스트 셀을 정의하는 것인 테스트 스트립.
12. 제1항에 있어서, 상기 제2 전극 커넥터와 전도성 접촉을 형성하도록 배치된 상기 전도성 물질은 제2 전극 접촉 및 제2 전극 및 커넥터 트랙으로부터 구분된 전도성 물질의 층인 것인 테스트 스트립.
13. 제12항에 있어서, 상기 제1 전극 및 커넥터 트랙 및 상기 제2 전극 및 커넥터 트랙은 각각 상기 제1 전극 커넥터를 형성하는 확장부를 갖는 루프(loop)의 형태인 것인 테스트 스트립.
14. 제12항에 있어서, 상기 기저 기판의 커넥터 부분에 상기 상층의 외부 표면에 부착되고 그 사이를 연장하는 보호층을 더 포함하고, 상기 보호층은 상기 기저 기판의 커넥터 부분이 완전하게 덮혀지지 않도록 된 크기인 것인 테스트 스트립.
15. 제12항에 있어서, 상기 구멍은 제1 전극 및 커넥터 트랙의 상기 노출된 부분의 안쪽 경계에 인접한 위치에서 한쪽 또는 양쪽 모두의 상기 기판을 통과하도록 뚫려 있는 것인 테스트 스트립.
16. 제12항에 있어서, 상기 기저 기판은 제1 전극 및 커넥터 트랙의 상기 노출된 부분의 안쪽 경계에 인접한 영역에 소수성 코팅으로 코팅된 것인 테스트 스트립.
17. 제12항에 있어서, 상기 제1 전극 트랙의 상기 노출된 부분, 및 유전체 층, 상기 간격층 및 상층은 1 ㎕ 이하의 부피를 갖는 테스트 셀을 정의하는 것인 테스트 스트립.
18. 제1항 내지 제17항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 제2 전극 커넥터와 전도성 접촉을 형성하도록 배치된 상기 전도성 물질은 상기 제2 전극 및 커넥터 트랙의 부분(a part)이며, 상기 상층은 상기 제2 전극 및 커넥터 트랙을 상기 제2 전극 커넥터와 전도성 접촉을 형성하기 위하여 누를 수 있도록 전치될 수 있는 것인 테스트 스트립.
19. 제18항에 있어서, 상기 상층은 상기 기저 기판의 커넥터 부분에 상기 상층의 외부 표면에 부착되고 그 사이를 연장하는 보호층으로서, 상기 기저 기판의 상기 커넥터 부분이 완전하게 덮혀지지 않도록 된 크기인 것인 상기 보호층에 의해 전치되어(displace) 상기 제2 전극 및 커넥터 트랙을 눌러 상기 제2 전극 커넥터와 전도성 접촉이 형성된 것인 테스트 스트립.
20. 제18항에 있어서, 상기 상층은 상기 테스트 스트립을 테스트 계측기의 스트립 포트 커넥터로 삽입할 때 상기 제2 전극 커넥터와 전도성 접촉이 형성될 수 있도록 제2 전극 및 커넥터 트랙을 누를 수 있게 전치될 수 있는 것인 테스트 스트립.

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