KR20100048060A - Resistance measuring apparatus and method - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 내부 회로를 전기장 또는 자기장으로부터 보호하고, 브리지 회로의 누설효과를 응용하여 듀얼 소스 브리지 방식으로 절연저항에 대한 선택 범위를 다양하게 할 수 있도록 개선시킨 저항 측정장치에 관한 것이다.The present invention relates to a resistance measuring apparatus which improves the internal circuits from electric or magnetic fields and improves the selection range for insulation resistance in a dual source bridge method by applying the leakage effect of the bridge circuit.
절연저항 측정은 각종 평판 디스플레이장치, 터치패널, 비휘발성 메모리 반도체, 태양전지 등 전자소자 및 그 패키지, 전선, 스위치, 커넥터 등 전기기구의 성능 및 그 신뢰성 검사를 위해 광범위하게 사용되는 필수 측정항목이다. Insulation resistance measurement is an essential measurement item that is widely used to test the performance and reliability of electronic devices such as various flat panel display devices, touch panels, nonvolatile memory semiconductors, solar cells, packages, wires, switches and connectors. .
그러나, 절연저항은 그 특성상 측정시 관여하는 전류의 크기가 매우 작아서, 직접 전압 또는 전류를 가하여 나타나는 전류 또는 전압을 측정하는 방식의 일반적인 저항 측정방법으로는 신뢰성 있는 측정이 어렵고, 노이즈를 제거하기 위하여 피측정 절연체에 대한 차폐가 필요하고 장시간의 측정이 요구되는 등 측정상의 곤란한 점이 존재한다. However, since the insulation resistance has a very small magnitude of the current involved in the measurement, it is difficult to measure reliably with a general resistance measurement method of measuring a current or voltage by directly applying a voltage or current, and to remove noise. There are difficulties in measurement, such as shielding of the insulation to be measured and long-term measurement required.
더욱이, 신호크기를 측정 감도 이상으로 증대시키기 위하여 높은 전압을 사용하는 것이 요구되지만 반도체 소자 등 전자소자의 경우에 절연이 파괴될 우려가 있어 높은 전압을 적용하기 곤란한 문제점이 있다. In addition, it is required to use a high voltage to increase the signal size beyond the measurement sensitivity, but in the case of electronic devices such as semiconductor devices, there is a risk that the insulation may be broken, so that it is difficult to apply a high voltage.
도 1은 종래의 누설효과를 응용한 저항 측정장치의 회로도를 도시한 것으로, 휘트스톤 브리지 회로(Wheatstone Bridge Circuit)의 각 브리지를 구성하는 저항(10, 12, 14, 16)값은 모두 같은 값이나, 실질적으로 미세한 저항값의 차이가 존재하며 검출기(V, 22)는 균형점(0)에서 벗어날 수 있다. FIG. 1 is a circuit diagram of a resistance measuring apparatus using a conventional leakage effect, and the values of the
이러한 균형점에서 벗어난 검출기(22)의 영점을 맞추기 위해서, 린덱(Lindeck)형 회로의 가변저항값(26)을 조절하여 브리지 균형을 잡을 수 있다. 균형을 잡은 휘트스톤 브리지 회로의 한쪽 브리지 저항(16)에 피측정 절연저항(18)을 연결하면 각 브리지의 저항값의 균형이 깨지고 이로 인한 전류의 누설효과로 검출기(22)에 전압이 검지되며, 상기 검지전압과 회로 파라미터들로부터 피측정 절연저항을 계산할 수 있다. In order to zero the
이러한 종래의 절연체의 절연저항 측정장치는 다음과 같은 문제점이 존재한다. 첫째, 검출기의 입력이 접지로부터 일정한 저항을 통해 분리되어 있어서 노이즈 영향이 크게 나타나고, 둘째, 높은 절연저항을 측정할 경우 r1(10), r2(12), r3(14) 및 r4(16) 값도 큰 값을 선택해야 하므로 노이즈의 영향이 더욱 커지는 문제점이 있으며, 셋째, 최선의 측정 감도를 얻기 위해서 피측정 절연저항의 저항값 크기에 따라 측정 범위 선택 과정시 r1(10), r2(12), r3(14) 및 r4(16) 4개의 저항값을 동시에 바꿔 선택해야 하는 문제가 있다. The insulation resistance measuring apparatus of such a conventional insulator has the following problems. First, the input of the detector is separated from the ground through a constant resistor, resulting in a large noise effect. Second, when measuring high insulation resistance, r 1 (10), r 2 (12), r 3 (14), and
따라서 본 발명은 상기한 종래 기술에 따른 문제점을 해결하기 위한 것으로, 검출기의 입력이 잘 정의된 접지전위에 직접 연결되어 노이즈 영향을 감소시키고 이에 따라 보다 높은 절연저항값의 측정이 가능하고, 측정범위 선택 과정시 우수한 측정감도를 유지하며 2개의 저항만을 교환 선택함으로써 회로구성이 간단한 절연체의 절연저항 측정장치를 제공하는 것을 그 목적으로 한다. Therefore, the present invention is to solve the problems according to the prior art described above, the input of the detector is directly connected to a well-defined ground potential to reduce the noise effect and thus the measurement of higher insulation resistance value, the measurement range It is an object of the present invention to provide an insulation resistance measuring apparatus for an insulator having a simple circuit configuration by selecting and replacing only two resistors while maintaining excellent measurement sensitivity during the selection process.
본 발명의 일 측면에 따른 저항 측정장치는 두 개의 고정 전압원으로 정전압을 공급하는 전원공급부, 상기 전원공급부와 병렬 연결되며, 포텐시오미터를 사이에 두고 직렬 연결된 두 개의 기준 저항을 포함하는 저항부, 상기 두 개의 고정 전압원의 연결 노드와 상기 포텐시오미터의 가변단자 노드 사이의 전압을 측정하는 전압계, 및 두 개의 기준 저항 중 어느 하나에 피측정저항을 병렬 연결할 수 있는 전기접속수단을 포함한다. Resistance measuring apparatus according to an aspect of the present invention is a power supply unit for supplying a constant voltage to two fixed voltage source, a resistance unit including two reference resistors connected in parallel with the power supply, and connected in series with a potentiometer, And a voltmeter for measuring a voltage between the connection node of the two fixed voltage sources and the variable terminal node of the potentiometer, and an electrical connection means capable of connecting the resistance under test to one of two reference resistors in parallel.
본 발명의 다른 측면에 따른 저항 측정방법은 상기의 저항 측정장치를 이용하여 피측정 저항값을 측정하는 방법에 있어서, 포텐시오미터의 가변단자를 조정하여 전압계의 영점을 맞추는 단계, 피측정 저항을 전기접속수단에 전기적으로 접속시키는 단계, 상기 전압계의 전압 편이값을 읽는 단계, 및 상기 피측정 저항의 저 항값 Rx를 하기 수학식에 의하여 계산하는 단계를 포함한다.In the resistance measurement method according to another aspect of the present invention, in the method for measuring the resistance value to be measured using the resistance measurement device, adjusting the variable terminal of the potentiometer to zero the voltmeter, the resistance to be measured Electrically connecting to an electrical connection means, reading a voltage shift value of the voltmeter, and calculating a resistance value R x of the resistance under measurement by the following equation.
(여기서, Rx : 절연저항 값, R : 고정저항의 명목치(nominal value), U : 정전압값, V : 검출된 전압편이값)(Where R x : insulation resistance value, R: nominal value of fixed resistance, U: constant voltage value, V: detected voltage shift value)
상기한 바와 같이 본 발명에 따른 저항 측정장치 및 측정방법은 검출기의 입력이 잘 정의된 공통 접지에 직접 연결되어 노이즈 영향을 감소시키고, 이에 따라 높은 절연저항의 측정이 가능하며, 측정 범위 선택 과정시 측정감도의 희생이 없이 2개의 저항만 교환 선택함으로써 회로 구성이 간단하고 신뢰성 있는 측정 결과를 얻을 수 있는 효과가 있다.As described above, the resistance measuring apparatus and the measuring method according to the present invention are directly connected to a common ground with a well-defined input of a detector to reduce the noise effect, and thus the measurement of high insulation resistance is possible. By selecting only two resistors without sacrificing measurement sensitivity, the circuit configuration is simple and reliable measurement results can be obtained.
이하, 본 발명에 따른 저항 측정장치 및 측정방법에 대하여 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, a resistance measuring apparatus and a measuring method according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 절연체의 절연저항 측정장치의 회로도를 도시한 것으로, 듀얼 소스 브리지 회로의 균형조절 방식의 실시예를 포텐시오미터(potentiometer)형을 적용하여 구성한 것이다. 본 발명의 저항 측정장치는 공급 전원부(30, 32), 저항부(34, 38), 전압계(42) 및 전기접속수단을 포함하여 구성된다. FIG. 2 is a circuit diagram of an insulation resistance measuring apparatus of an insulator according to an embodiment of the present invention, and an embodiment of a balance control method of a dual source bridge circuit is applied by applying a potentiometer type. The resistance measuring apparatus of the present invention includes a
상기 공급전원부(30, 32)는 두 개의 고정 전압원으로 정전압을 공급하며, 상기 두 개의 고정 전압원의 전압값은 실질적으로 동일한 것을 사용하므로 저항부로 동일한 크기의 반대 전위의 전압을 제공한다. 즉, 크기가 "U"인 두 개의 고정전압이 직렬연결되고 상기 고정전압을 연결하는 노드를 기준으로 "+U" 볼트와 "-U" 볼트의 전압이 인가된다.The
상기 저항부는 상기 전원공급부(30, 32)와 병렬 연결되며, 포텐시오미터(36)를 사이에 두고 직렬 연결된 두 개의 기준 저항(34, 38)을 포함하며, 상기 저항부를 구성하는 두 개의 기준 저항(34, 38)의 저항값은 실질적으로 동일한 것으로 선택된다.The resistor unit includes two
상기 전압계(42)는 상기 두 개의 고정 전압원(30, 32)의 연결 노드(n23)와 상기 포텐시오미터(36)의 가변단자 노드(n24) 사이에 전위차를 측정하며, 상기 전기접속수단은 두 개의 기준 저항(34, 38) 중 어느 하나에 피측정저항(40)을 병렬 연결할 수 있는 스위칭 수단으로 구성될 수 있다. 상기 저항 측정장치의 각 구성부분은 전자기 차폐 케이스에 내장되도록 구성될 수 있고, 상기 두 개의 기준저항(34, 38)과 상기 전압계(42)에 직렬로 연결되어 전류를 조정하는 원점 밸런스부를 더 포함할 수 있다. The
상기 전압계(42)는 DVM(Digital Voltage Meter)와 같이 입력저항이 큰 것을 사용하는 경우 전압 편이량 "V"를 직접 검출기로부터 읽을 수 있으며, 상기 원점 밸런스부가 린덱(Lindeck)형 고분할 비저항 가변 분할기로 구성되는 경우 검출기를 통과하는 전류가 항상 "0"이 되도록 조정함으로써 전압 편이량을 측정할 수 있다. When the
상기 두 개의 고정 전압원(30, 32)의 연결노드(n23)와 상기 전압계(42)는 공통 접지됨으로써 노이즈 영향을 감소시킬 수 있다. 또한, 상기 두 개의 기준 저항(34, 38)은 연동되는 측정범위 선택 스위치에 의하여 교체 가능하므로 두 개의 저항만을 교환하여 측정 범위를 선택할 수 있다. The connection node n 23 and the
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 저항 측정장치의 회로도를 도시한 것으로, 기준저항 "R" 값의 범위가 "10R" 또는 "100R" 등으로 연동하여 교체된 회로도이다. 3 is a circuit diagram of a resistance measuring apparatus according to an exemplary embodiment of the present invention, in which a range of reference resistance "R" values is replaced with "10R" or "100R".
두 개의 고정 전압원으로 정전압을 공급하는 전원공급부, 상기 전원공급부와 병렬 연결되며, 포텐시오미터를 사이에 두고 직렬 연결된 두 개의 기준 저항을 포함하는 저항부, 상기 두 개의 고정 전압원의 연결 노드와 상기 포텐시오미터의 가변단자 노드 사이의 전압을 측정하는 전압계, 및 두 개의 기준 저항 중 어느 하나에 피측정저항을 병렬 연결할 수 있는 전기접속수단을 포함하는 저항 측정장치를 이용하여 피측정 저항값을 측정하는 방법은 포텐시오미터의 가변단자를 조정하여 전압계의 영점을 맞추는 단계, 피측정 저항을 전기접속수단에 전기적으로 접속시키는 단계, 상기 전압계의 전압 편이값을 읽는 단계, 및 상기 피측정 저항의 저항값 Rx를 하기 수학식에 의하여 계산하는 단계를 포함하여 구성된다. A power supply unit for supplying a constant voltage to two fixed voltage sources, a resistor unit connected in parallel with the power supply unit, the resistor unit including two reference resistors connected in series with a potentiometer therebetween, a connection node of the two fixed voltage sources, and the pot Measuring resistance value by using a resistance measuring device including a voltmeter for measuring the voltage between the variable terminal node of the thermometer, and an electrical connection means that can be connected in parallel to any one of the two reference resistance The method includes adjusting a variable terminal of a potentiometer to zero a voltmeter, electrically connecting a resistance under measurement to an electrical connection means, reading a voltage shift value of the voltmeter, and a resistance value of the resistance under measurement. Calculating R x by the following equation.
(여기서, Rx : 절연저항 값, R : 고정저항의 명목치(nominal value), U : 정전압값, V : 검출된 전압편이값)(Where R x : insulation resistance value, R: nominal value of fixed resistance, U: constant voltage value, V: detected voltage shift value)
상기 포텐시오미터의 가변단자를 조정하여 전압계의 영점을 맞추는 단계는 두 개의 전압원을 직렬로 연결하고 그 연결 노드를 공통접지(n23)로 정의하고, 실질적으로 동일한 저항값을 같는 두 개의 기준저항 r1(R), r2(R)를 상기 전압원에 병렬로 연결하고, 상기 두 개의 기준저항 사이에 포텐시오미터를 배치하고 상기 포텐시오미터의 가변접점과 공통접지 사이에 전압계를 연결한다. The zeroing of the voltmeter by adjusting the variable terminal of the potentiometer may be performed by connecting two voltage sources in series and defining the connection node as a common ground (n 23 ), and having two reference resistors having substantially the same resistance value. r 1 (R) and r 2 (R) are connected in parallel to the voltage source, a potentiometer is arranged between the two reference resistors, and a voltmeter is connected between the variable contact of the potentiometer and the common ground.
먼저, 상기 두 개의 기준저항이 실질적으로 동일한 저항값을 갖는 저항이 배치되더라도 미세한 저항값의 차이로 인해 미세 전류가 흐르게 되므로 상기 포텐시오미터의 저항값을 조정하여 전압계의 영점을 맞추어야 한다.First, even though a resistor having two resistors having substantially the same resistance value is disposed, a minute current flows due to a difference in a minute resistance value, so the resistance value of the potentiometer must be adjusted to zero the voltmeter.
그리고, 상기 피측정 저항을 전기접속수단에 전기적으로 접속시키는 단계는 피측정 저항을 두 개의 기본저항 중 한 개의 저항과 피측정 저항을 병렬 연결시키고, 상기 피측정 저항의 전기적 접속(예를 들어, 스위치를 이용하여 피측정 저항 연결)으로 인하여 발생된 전압 편이값을 전압계로부터 읽은 후, 피측정 저항의 저항값 Rx를 하기 수학식에 의하여 계산한다. In the step of electrically connecting the measured resistance to the electrical connection means, the resistance to be measured is connected in parallel with one of the two basic resistances and the resistance to be measured, and the electrical connection (eg, After reading the voltage shift value generated due to the connection of the resistance under measurement using a switch from the voltmeter, the resistance value R x of the resistance under measurement is calculated by the following equation.
(여기서, Rx : 절연저항 값, R : 고정저항의 명목치(nominal value), U : 정전압값, V : 검출된 전압편이값)(Where R x : insulation resistance value, R: nominal value of fixed resistance, U: constant voltage value, V: detected voltage shift value)
여기서, 상기 [수학식1]은 검출된 전압 편이값이 정전압값 U와 비교하여 무시할 수 있을 정도로 작은 수치를 나타내는 경우 아래의 [수학식3]으로 근사화될 수 있으며, R값을 아래 [수학식2]로 계산될 수 있다. Here, Equation 1 may be approximated by Equation 3 below when the detected voltage shift value is small enough to be negligible compared to the constant voltage value U, and R value is expressed by Equation 3 below. 2].
(여기서, R : 고정저항의 명목치(nominal value), r : 포텐시오미터 가변저항값, r1 또는 r2 : 기본저항값)Where R is the nominal value of the fixed resistor, r is the potentiometer variable resistance, and r 1 or r 2 is the basic resistance.
즉, 도 3에 도시된 실시예에 따르면, 측정범위를 기본 범위외에 기본 범위의 10배 및 100배 측정 범위를 갖는 것을 나타내며, 다른 저항을 병렬 연결함으로써 측정범위를 다양하게 변화시킬 수 있다. That is, according to the embodiment shown in FIG. 3, the measurement range indicates that the measurement range has a measurement range of 10 times and 100 times the base range, and the measurement range may be variously changed by connecting different resistors in parallel.
따라서, 공급된 정전압 U, 전압 편이량 V, 각 브리지의 저항값을 이용하여 절연저항값(Rx)을 계산할 수 있다. 상기 공급된 정전압 U, 전압 편이량 V, 각 브리지의 저항값은 레지스터에 저장될 수 있다. Therefore, the insulation resistance value R x can be calculated using the supplied constant voltage U, the voltage shift amount V, and the resistance value of each bridge. The supplied constant voltage U, the voltage shift amount V, and the resistance value of each bridge may be stored in a resistor.
즉, 상기 저항 측정장치는 제 1 내지 제 3 레지스터가 내장되며, 상기 전원공급부로부터 공급된 정전압값 및 검출된 전압편이값을 상기 제 1 레지스터와 제 2 레지스터에 각각 저장하고, 상기 제 1부하 저항값과 상기 제 1부하 측에 연결된 가변저항값의 합을 제 3 레지스터에 저장시킨 후, 하기 [수학식1]에 의하여 절연저항 값을 계산할 수 있다. That is, the resistance measuring device includes a first to third resistors, and stores the constant voltage value and the detected voltage shift value supplied from the power supply unit in the first register and the second register, respectively, and the first load resistance. After the sum of the value and the variable resistance value connected to the first load side is stored in the third register, the insulation resistance value may be calculated by Equation 1 below.
이상과 같이 본 발명은 비록 한정된 실기예와 도면에 의해 설명되었으나, 본 발명은 상기의 실시예에 한정되는 것은 아니며, 본 발명이 속하는 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이러한 기재로부터 다양한 수정 및 변형이 가능하다.As described above, the present invention has been described by means of limited practical examples and drawings, but the present invention is not limited to the above embodiments, and those skilled in the art to which the present invention pertains various modifications and variations from such descriptions. This is possible.
그러므로, 본 발명의 범위는 설명된 실시예에 국한되어 정해져서는 아니되며, 후술하는 특허청구범위뿐 아니라 이 특허청구범위와 균등한 것들에 의해 정해져야 한다. Therefore, the scope of the present invention should not be limited to the described embodiments, but should be determined not only by the claims below but also by the equivalents of the claims.
도 1은 종래의 누설효과를 응용한 절연체의 절연저항 측정장치의 회로도.1 is a circuit diagram of an insulation resistance measuring apparatus of an insulator to which the conventional leakage effect is applied.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 저항 절연체의 절연저항 측정장치의 회로도.2 is a circuit diagram of an insulation resistance measuring apparatus of a resistance insulator according to an embodiment of the present invention.
도 3은 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 절연체의 절연저항 측장장치의 회로도.Figure 3 is a circuit diagram of the insulation resistance measuring device of the insulator according to another embodiment of the present invention.
Claims (8)
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020080107059A KR100974650B1 (en) | 2008-10-30 | 2008-10-30 | Resistance Measuring Apparatus and Method |
PCT/KR2009/005077 WO2010050673A2 (en) | 2008-10-30 | 2009-09-08 | Resistance measuring apparatus and measuring method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020080107059A KR100974650B1 (en) | 2008-10-30 | 2008-10-30 | Resistance Measuring Apparatus and Method |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20100048060A true KR20100048060A (en) | 2010-05-11 |
KR100974650B1 KR100974650B1 (en) | 2010-08-06 |
Family
ID=42129407
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020080107059A KR100974650B1 (en) | 2008-10-30 | 2008-10-30 | Resistance Measuring Apparatus and Method |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100974650B1 (en) |
WO (1) | WO2010050673A2 (en) |
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US11906591B2 (en) | 2019-01-03 | 2024-02-20 | Lg Energy Solution, Ltd. | Insulation resistance measurement apparatus and method thereof |
Also Published As
Publication number | Publication date |
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WO2010050673A3 (en) | 2010-06-24 |
KR100974650B1 (en) | 2010-08-06 |
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