KR20100002123A - Apparatus for producing polycrystalline silicon - Google Patents

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KR20100002123A
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미쓰비시 마테리알 가부시키가이샤
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Abstract

PURPOSE: An apparatus for producing polycrystalline silicon is provided to maintain good insulating property while absorbing heat of an electrode holder and a bottom plate part of a furnace, and to prevent damage of the electrode holder and the bottom plate part. CONSTITUTION: A furnace of an apparatus for producing polycrystalline silicon includes a bottom plate part(2) and a bell jar. The bottom plate part has a plurality of electrode units(5), a nozzle, and a gas outlet. The furnace has two electrode units. An electrode holder is inserted into a penetration hole(21) formed on the bottom plate part of the furnace. The electrode maintains a silicon core bar(4), and formed on the top of the electrode holder. The electrode holder has a straight bar part(24), a hollow expansion part(25), and a male screw part(26). The electrode holder includes an inner container(30), and the inner container has a ring plate(31), a spot facing pat(33), an annular insulating material(34), a sleeve(35), a cone member(36), a flange(37), a nut(38), a ring washer(39a), and a belleville spring(39b).

Description

다결정 실리콘 제조 장치{APPARATUS FOR PRODUCING POLYCRYSTALLINE SILICON}Polycrystalline Silicon Manufacturing Equipment {APPARATUS FOR PRODUCING POLYCRYSTALLINE SILICON}

본 발명은, 가열된 실리콘 심봉의 표면에 다결정 실리콘을 석출시켜 다결정 실리콘의 막대를 제조하는 다결정 실리콘 제조 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a polycrystalline silicon manufacturing apparatus for producing a rod of polycrystalline silicon by depositing polycrystalline silicon on a surface of a heated silicon mandrel.

본원은, 2008년 6월 24일에 출원된 일본 특허출원 제2008-164298호 및 2009년 6월 5일에 출원된 일본 특허출원 제2009-135831호에 대하여 우선권을 주장하고, 그 내용을 여기에 원용한다.This application claims priority with respect to Japanese Patent Application No. 2008-164298 for which it applied on June 24, 2008, and Japanese Patent Application No. 2009-135831 for which it applied on June 5, 2009, The content here Use it.

종래, 다결정 실리콘 제조 장치로는, 지멘스법에 의한 것이 알려져 있다. 지멘스법에 의한 다결정 실리콘 제조 장치에서는, 반응로 내에 실리콘 심봉이 다수 배치 설치되어 있다. 반응로 내의 실리콘 심봉은 가열해 두고, 이 반응로에 클로로실란 가스와 수소 가스의 혼합 가스로 이루어지는 원료 가스를 공급하여 가열된 실리콘 심봉에 접촉시킨다. 그리고, 실리콘 심봉의 표면에 원료 가스의 열 분해 및 수소 환원에 의해 생성된 다결정 실리콘을 석출시킨다.Conventionally, what is known by the Siemens method is known as a polycrystalline silicon manufacturing apparatus. In the polycrystal silicon manufacturing apparatus by the Siemens method, many silicon core rods are arrange | positioned in a reaction furnace. The silicon mandrel in the reactor is heated, and the raw material gas comprising a mixed gas of chlorosilane gas and hydrogen gas is supplied to the reactor and brought into contact with the heated silicon mandrel. Then, polycrystalline silicon produced by thermal decomposition and hydrogen reduction of the raw material gas is deposited on the surface of the silicon mandrel.

이와 같은 다결정 실리콘 제조 장치에 있어서, 실리콘 심봉은, 반응로의 내저부에 배치 형성된 전극에 세워 설치된 상태로 고정된다. 그리고, 그 전극에 서 실리콘 심봉으로 통전시켜, 그 저항에 의해 실리콘 심봉을 발열시킨다. 이 때, 하방으로부터 분출되는 원료 가스를 실리콘 심봉 표면에 접촉시켜 다결정 실리콘의 막대를 형성한다. 이 실리콘 심봉을 유지하는 전극은, 반응로 내저면의 거의 전역에 걸쳐 분산되도록 복수 형성되어 있고, 일본 공개특허공보 2007-107030호에 기재되어 있는 바와 같이, 반응로 바닥판부의 관통공 내에 고리형 절연재에 둘러싸인 상태로 형성되어 있다.In such a polycrystalline silicon manufacturing apparatus, the silicon core rod is fixed in a state in which it is mounted on an electrode formed on the inner bottom of the reactor. Then, the electrode is energized by the silicon mandrel to generate the silicon mandrel by the resistance. At this time, the source gas ejected from below is brought into contact with the silicon core rod surface to form a rod of polycrystalline silicon. The electrodes holding the silicon mandrel are formed in plural so as to be distributed over almost the entire bottom surface of the reactor, and as described in Japanese Patent Laid-Open No. 2007-107030, an annular ring is formed in the through hole of the reactor bottom plate. It is formed in the state surrounded by the insulating material.

상기 서술한 다결정 실리콘 제조 장치에 있어서, 반응로 내의 가스 온도는 최고 500 ∼ 600℃ 로 고온이다. 그래서, 전극을 유지하는 전극 홀더는, 내부에 냉각수를 유통시켜 냉각되도록 하고 있다. 그러나, 반응로의 바닥판부와 전극 홀더 사이에 형성되는 절연재는 직접 냉각시킬 수 없기 때문에, 반응로 내의 열을 받아 형상이 손상되기 쉽고, 절연 기능 열화의 원인이 되기 쉽다. 이 경우, 세라믹스계의 절연재를 사용하는 것에서는, 반응로의 바닥판부와 전극 홀더의 열 팽창차를 흡수할 수 없어 파손에 이를 우려가 있다.In the above-mentioned polycrystal silicon manufacturing apparatus, the gas temperature in a reaction furnace is high temperature at the highest 500-600 degreeC. Therefore, the electrode holder holding the electrode is allowed to cool by flowing coolant therein. However, since the insulating material formed between the bottom plate portion of the reactor and the electrode holder cannot be directly cooled, the shape is easily damaged due to heat in the reactor, and is likely to cause deterioration of the insulation function. In this case, in the case of using a ceramic-based insulating material, the thermal expansion difference between the bottom plate portion of the reactor and the electrode holder cannot be absorbed, which may lead to breakage.

본 발명은, 이와 같은 사정을 감안하여 이루어진 것으로, 반응로의 바닥판부와 전극 홀더의 열 팽창차를 흡수할 수 있음과 함께, 양호한 절연성을 유지할 수 있는 다결정 실리콘 제조 장치의 제공을 목적으로 한다.This invention is made | formed in view of such a situation, Comprising: It aims at providing the polycrystal silicon manufacturing apparatus which can absorb the thermal expansion difference of the bottom plate part of an reactor and an electrode holder, and can maintain favorable insulation.

본 발명의 다결정 실리콘 제조 장치는, 원료 가스가 공급된 반응로 내에서 실리콘 심봉을 가열함으로써 실리콘 심봉의 표면에 다결정 실리콘을 석출시킨다. 본 발명의 다결정 실리콘 제조 장치는, 전극과 전극 홀더 및 고리형 절연재를 갖고 있다. 전극은, 상기 실리콘 심봉을 상하 방향으로 연장 유지한다. 전극 홀더는, 냉각 매체를 유통시키는 냉각 유로가 내부에 형성되고, 상기 반응로의 바닥판부에 형성된 관통공 내에 삽입되어 상기 전극을 유지한다. 고리형 절연재는, 상기 관통공의 내주면과 상기 전극 홀더의 외주면 사이에 배치되어, 상기 바닥판부와 상기 전극 홀더 사이를 전기적으로 절연시킨다. 또한, 본 발명의 다결정 실리콘 제조 장치에는, 상기 전극 홀더의 외주면에, 상기 고리형 절연재 상단부 상면의 적어도 일부에 접촉되고, 그 내부에 상기 냉각 유로의 일부가 형성된 확경부 (擴徑部) 가 형성되어 있다.The polycrystalline silicon manufacturing apparatus of the present invention deposits polycrystalline silicon on the surface of the silicon mandrel by heating the silicon mandrel in a reaction furnace supplied with a source gas. The polycrystal silicon manufacturing apparatus of this invention has an electrode, an electrode holder, and an annular insulating material. An electrode extends and holds the silicon mandrel in the vertical direction. The electrode holder has a cooling flow path through which a cooling medium flows, and is inserted into the through hole formed in the bottom plate of the reactor to hold the electrode. The annular insulating material is disposed between the inner circumferential surface of the through hole and the outer circumferential surface of the electrode holder to electrically insulate between the bottom plate portion and the electrode holder. Further, in the polycrystalline silicon manufacturing apparatus of the present invention, an enlarged diameter portion in contact with at least a portion of an upper surface of the upper end portion of the annular insulating material is formed on an outer circumferential surface of the electrode holder, and a portion of the cooling passage is formed therein. It is.

반응로의 바닥판부에 삽입 상태로 되어 있는 고리형 절연재는, 그 상단부의 상면이 반응로의 내부를 향한다. 따라서, 고리형 절연재가, 관통공의 내주면과 전극 홀더 사이에서 반응로 안으로 노출된 상태인 채이면, 반응로 내의 실리콘 심 봉 등으로부터의 복사열이 관통공의 내주면과 전극 홀더 사이를 경유하여 고리형 절연재의 상단부에 직접 작용하게 된다. 이 발명에서는, 고리형 절연재 상단부 상면의 적어도 일부에 접촉되는 확경부를 전극 홀더에 형성함으로써, 이 상면으로 향하는 복사열을 전극 홀더가 부담하므로, 고리형 절연재에 직접 작용하는 복사열을 줄일 수 있다. 게다가, 확경부 내에도 냉각 매체가 유통되고 있으므로, 고리형 절연재의 냉각 효과를 높일 수 있다.As for the annular insulating material inserted in the bottom plate part of a reactor, the upper surface of the upper end part faces the inside of a reactor. Therefore, if the annular insulating material remains exposed inside the reactor between the inner circumferential surface of the through hole and the electrode holder, the radiant heat from the silicon core rod or the like in the reactor passes through the inner circumferential surface of the through hole and the electrode holder. It acts directly on the upper end of the insulation. In this invention, since the electrode holder bears radiant heat directed toward the upper surface by forming an enlarged diameter portion in contact with at least a portion of the upper surface of the upper end of the annular insulating material, the radiant heat acting directly on the annular insulating material can be reduced. In addition, since the cooling medium is also distributed in the enlarged diameter portion, the cooling effect of the annular insulating material can be enhanced.

또한, 본 발명의 다결정 실리콘 제조 장치에 있어서, 상기 확경부는, 상기 고리형 절연재의 상기 상단부의 상기 상면 전체를 덮고 있는 것이 바람직하다.Moreover, in the polycrystal silicon manufacturing apparatus of this invention, it is preferable that the said wide diameter part covers the said upper surface whole part of the said upper end part of the said cyclic insulating material.

이 경우, 확경부가 고리형 절연재 상단부의 상면 전체를 덮도록 형성함으로써, 반응로로부터의 복사열이 확경부에 의해 차단되므로, 고리형 절연재를 복사열로부터 보다 유효하게 보호할 수 있다. 또한, 고리형 절연재 상단부의 상면 전체가 확경부에 의해 냉각되므로, 고리형 절연재의 형상이나 절연 기능의 열화를 보다 유효하게 방지할 수 있다.In this case, since the enlarged diameter portion is formed to cover the entire upper surface of the upper end of the annular insulating material, the radiant heat from the reaction furnace is blocked by the enlarged diameter portion, so that the annular insulating material can be more effectively protected from the radiant heat. In addition, since the entire upper surface of the upper end of the annular insulating material is cooled by the enlarged diameter portion, deterioration in the shape of the annular insulating material and the insulation function can be prevented more effectively.

또한, 본 발명의 다결정 실리콘 제조 장치에 있어서, 상기 냉각 매체는, 상기 확경부를 냉각시킨 후에, 상기 전극 근방을 냉각시키는 것이 바람직하다.Moreover, in the polycrystal silicon manufacturing apparatus of this invention, after cooling the said enlarged diameter part, it is preferable to cool the said electrode vicinity.

이 경우, 전극 홀더 내를 유통하는 냉각 매체가 비교적 저온인 확경부를 냉각시킨 후에 비교적 고온인 전극 근방을 냉각시킴으로써, 확경부를 저온으로 유지할 수 있으므로, 고리형 절연재가 고온이 되는 것을 보다 효과적으로 방지할 수 있다.In this case, the cooling medium circulating in the electrode holder cools the enlarged diameter portion having a relatively low temperature, and then cools the vicinity of the relatively high temperature electrode, thereby keeping the expanded diameter at a low temperature, thereby more effectively preventing the annular insulating material from becoming a high temperature. can do.

또한, 본 발명의 다결정 실리콘 제조 장치에 있어서, 상기 냉각 유로는, 상 기 전극 홀더 내의 외주부를 그 길이 방향을 따라 그 상단부를 향하여 상기 냉각 매체를 유통시키는 외주측 유로와, 상기 외주측 유로의 내측을 상기 길이 방향을 따라 상기 전극 홀더의 하단부를 향하여 상기 냉각 매체를 유통시키는 내주측 유로를 갖고, 상기 외주측 유로의 일부가 상기 확경부 내에 형성되어 있는 것이 바람직하다.Moreover, in the polycrystal silicon manufacturing apparatus of this invention, the said cooling flow path is an outer peripheral side flow path which distribute | circulates the said cooling medium toward the upper end part along the longitudinal direction in the said electrode holder, and the inside of the said outer peripheral side flow path. It is preferable to have an inner circumferential side flow path through which the cooling medium flows toward the lower end of the electrode holder along the longitudinal direction, and a part of the outer circumferential side flow path is formed in the enlarged diameter portion.

이 경우, 냉각 매체가 전극 홀더 내의 외주부를 상단부를 향하여 유통된 후, 그 내측을 하단부를 향하여 유통됨으로써, 전극 홀더를 상단부까지 효율적으로 냉각시킬 수 있다.In this case, after the cooling medium flows through the outer circumferential portion in the electrode holder toward the upper end portion, and the inside thereof is distributed through the lower end portion, the electrode holder can be efficiently cooled down to the upper end portion.

또한, 본 발명의 다결정 실리콘 제조 장치에 있어서, 상기 고리형 절연재가 탄성을 갖는 수지로 이루어지는 것이 바람직하다. 이 경우, 바닥판부 및 전극 홀더의 열 팽창차에 의한 고리형 절연재의 파손이 방지됨과 함께, 바닥판부와 전극 홀더의 열 팽창차가 고리형 절연재에 의해 흡수되어, 실리콘 심봉의 변위나 석출된 다결정 실리콘의 파손이 방지된다.Moreover, in the polycrystal silicon manufacturing apparatus of this invention, it is preferable that the said cyclic insulating material consists of resin which has elasticity. In this case, the breakage of the annular insulating material due to the thermal expansion difference between the bottom plate portion and the electrode holder is prevented, and the thermal expansion difference between the bottom plate portion and the electrode holder is absorbed by the annular insulating material, and the displacement of the silicon mandrel or the precipitated polycrystalline silicon Breakage is prevented.

본 발명의 다결정 실리콘 제조 장치에 의하면, 전극 홀더에 형성된 확경부가 실리콘 심봉에서 고리형 절연재에 이르는 복사열을 차단함과 함께 고리형 절연재를 냉각시키므로, 고리형 절연재를 반응시의 열로부터 유효하게 보호할 수 있어, 고리형 절연재의 절연성 및 탄성을 양호하게 유지할 수 있다. 따라서, 이 고리형 절연재로서 합성 수지 등을 사용할 수 있고, 바닥판부와 전극 사이의 절연을 확보하면서 열 팽창차를 흡수할 수 있는 등, 장치 전체의 건전성을 유지할 수 있다.According to the polycrystalline silicon manufacturing apparatus of the present invention, since the enlarged diameter portion formed in the electrode holder blocks the radiant heat from the silicon mandrel to the annular insulating material and cools the annular insulating material, the annular insulating material is effectively protected from the heat during the reaction. It is possible to maintain good insulation and elasticity of the annular insulating material. Therefore, a synthetic resin or the like can be used as the annular insulating material, and the soundness of the entire apparatus can be maintained, for example, the thermal expansion difference can be absorbed while securing the insulation between the bottom plate portion and the electrode.

이하, 본 발명의 다결정 실리콘 제조 장치의 일 실시형태에 대해, 도면에 기초하여 설명한다.EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, one Embodiment of the polycrystal silicon manufacturing apparatus of this invention is described based on drawing.

[제 1 실시형태][First embodiment]

도 1 은 본 발명이 적용되는 다결정 실리콘 제조 장치의 전체도이다. 그 다결정 실리콘 제조 장치의 반응로 (1) 는, 노 바닥을 구성하는 바닥판부 (2) 와, 이 바닥판부 (2) 상에 자유롭게 탈착할 수 있도록 장착된 조종 (釣鐘) 형상의 벨자 (3; bell jar) 를 구비하고 있다. 바닥판부 (2) 의 상면은 거의 평탄한 수평면으로 형성된다. 벨자 (3) 는 전체적으로 조종 형상을 하고 있어, 천정이 돔형이므로, 그 내부 공간은 중앙부가 가장 높고 외주부가 가장 낮게 형성되어 있다. 또한, 바닥판부 (2) 및 벨자 (3) 의 벽은 재킷 구조 (도시 생략) 로 되어, 냉각수에 의해 냉각되도록 되어 있다.1 is an overall view of a polycrystalline silicon manufacturing apparatus to which the present invention is applied. The reactor 1 of the polycrystalline silicon manufacturing apparatus includes a bottom plate portion 2 constituting the furnace bottom and a steering-shaped bell 3 attached to the bottom plate portion 2 so as to be freely detachable; bell jar). The upper surface of the bottom plate part 2 is formed in a substantially flat horizontal plane. The bell jar 3 has a steering shape as a whole, and since the ceiling is domed, the inner space is formed with the highest central portion and the lowest peripheral portion. In addition, the wall of the bottom board part 2 and the bell jar 3 becomes a jacket structure (not shown), and is cooled by cooling water.

바닥판부 (2) 에는, 실리콘 심봉 (4) 이 장착되는 복수의 전극 유닛 (5) 과, 클로로실란 가스와 수소 가스를 함유하는 원료 가스를 노 안으로 분출하기 위한 분출 노즐 (가스 공급구) (6) 과, 반응 후의 가스를 노 밖으로 배출하기 위한 가스 배출구 (7) 가 각각 복수 설치되어 있다.The bottom plate portion 2 has a plurality of electrode units 5 on which the silicon core rods 4 are mounted, and a jet nozzle (gas supply port) for blowing raw material gas containing chlorosilane gas and hydrogen gas into the furnace (6). ) And a plurality of gas outlets 7 for discharging the gas after the reaction out of the furnace are provided.

원료 가스의 분출 노즐 (6) 은, 각 실리콘 심봉 (4) 에 대하여 균일하게 원료 가스를 공급할 수 있도록, 반응로 (1) 의 바닥판부 (2) 상면의 거의 전역에 분산되어 적절한 간격을 두면서 복수 설치되어 있다. 이들 분출 노즐 (6) 은, 반응로 (1) 외부의 원료 가스 공급원 (8) 에 접속되어 있다. 또한, 가스 배출구 (7) 는, 바닥판부 (2) 상의 외주부 부근에 둘레 방향으로 적절한 간격을 두고 복수 설치되고, 외부의 배기 가스 처리계 (9) 에 접속되어 있다. 전극 유닛 (5) 에는, 전원 회로 (10) 가 접속되어 있다. 바닥판부 (2) 는 재킷 구조로 되고, 그 내부에 냉각 유로 (도시 생략) 가 형성되어 있다.The blowing nozzles 6 of the source gas are dispersed in almost the entire area of the upper surface of the bottom plate portion 2 of the reactor 1 so that the source gas can be uniformly supplied to the silicon core rods 4, and a plurality of the nozzles are spaced at appropriate intervals. It is installed. These jet nozzles 6 are connected to the source gas supply source 8 outside the reaction furnace 1. In addition, a plurality of gas discharge ports 7 are provided at appropriate intervals in the circumferential direction near the outer circumferential portion on the bottom plate portion 2, and are connected to an external exhaust gas treatment system 9. The power supply circuit 10 is connected to the electrode unit 5. The bottom plate portion 2 has a jacket structure, and a cooling passage (not shown) is formed therein.

실리콘 심봉 (4) 은, 하단부가 전극 유닛 (5) 내에 삽입된 상태로 고정됨으로써, 상방으로 연장되어 세워 설치되어 있고, 그 중 2 개씩을 쌍으로 하여 연결하도록, 상단부에 1 개의 길이가 짧은 연결 부재 (12) 가 장착되어 있다. 이 연결 부재 (12) 도 실리콘 심봉 (4) 과 동일한 실리콘에 의해 형성된다. 2 본의 실리콘 심봉 (4) 과 이들을 연결하는 연결 부재 (12) 에 의해, 전체적으로 Π 자 형상 (역 U 자 형상) 이 되도록 시드 조립체 (13) 가 조립된다. 시드 조립체 (13) 는, 전극 유닛 (5) 이 반응로 (1) 의 중심으로부터 동심원형상으로 배치되어 있기 때문에, 반응로 (1) 의 중심으로부터 거의 동심원형상으로 배치되어 있다.The silicon mandrel 4 is fixed in a state in which the lower end is inserted into the electrode unit 5, and is installed to extend upward, and connect one short length to the upper end so as to connect two of them in pairs. The member 12 is attached. This connecting member 12 is also formed of the same silicon as the silicon mandrel 4. By the two silicon core rods 4 and the connection member 12 which connects them, the seed assembly 13 is assembled so that it may become a (pi) shape (inverted U shape) as a whole. The seed granules 13 are arranged concentrically from the center of the reactor 1 because the electrode units 5 are arranged concentrically from the center of the reactor 1.

구체적으로는, 도 2 에 나타내는 바와 같이, 반응로 (1) 내에 상기 전극 유닛 (5) 으로서, 1 본 실리콘 심봉 (4) 을 유지하는 1 본 실리콘 심봉용 전극 유닛 (5A) 과, 2 본 실리콘 심봉 (4) 을 유지하는 2 본 실리콘 심봉용 전극 유닛 (5B) 이 배치 형성되어 있다.Specifically, as shown in FIG. 2, as the electrode unit 5 in the reactor 1, one electrode core 5A for silicon core rods holding one silicon core 4 and two silicon The double silicon electrode core electrode unit 5B which holds the mandrel 4 is arrange | positioned.

이들 1 본 실리콘 심봉용 전극 유닛 (5A) 과 2 본 실리콘 심봉용 전극 유닛 (5B) 은, 도 2 에 나타내는 바와 같이, 예를 들어 3 세트의 시드 조립체 (13) 를 1 개의 유닛으로 하여 직렬로 접속시킬 수 있다. 이 때, 유닛열의 단 (端) 에서부터 1 개의 1 본 실리콘 심봉용 전극 유닛 (5A), 2 개의 2 본 실리콘 심봉용 전극 유닛 (5B), 1 개의 1 본 실리콘 심봉용 전극 유닛 (5A) 이 이 순서대로 나열되어 있으면 된다. 이 경우, 각 시드 조립체 (13) 는 4 개의 전극 유닛 (5A, 5B) 사이에 걸치도록 3 세트 형성되어 있다. 1 개의 시드 조립체 (13) 의 양 실리콘 심봉 (4) 은, 인접하는 상이한 전극에 의해 각각 유지되어 있다.As shown in FIG. 2, these single silicon mandrel electrode units 5A and two silicon mandrel electrode units 5B are arranged in series using, for example, three sets of seed assemblies 13 as one unit. You can connect. At this time, one single silicon electrode mandrel electrode unit 5A, two two silicon mandrel electrode units 5B, and one single silicon mandrel electrode unit 5A are connected from the end of the unit row. Just list them in order. In this case, each seed assembly 13 is formed in three sets so as to span between four electrode units 5A and 5B. Both silicon mandrels 4 of one seed assembly 13 are held by adjacent different electrodes, respectively.

요컨대, 1 본 실리콘 심봉용 전극 유닛 (5A) 에는 시드 조립체 (13) 의 2 본 실리콘 심봉 (4) 중 1 개가 유지되고, 2 본 실리콘 심봉용 전극 유닛 (5B) 에는, 2 세트의 시드 조립체 (13) 의 실리콘 심봉 (4) 이 1 개씩 유지되어 있다. 그리고, 열 양단의 1 본 실리콘 심봉용 전극 유닛 (5A) 에 전원 케이블이 접속되어 전류가 흐르도록 되어 있다. 이 때, 2 본 실리콘 심봉용 전극 유닛 (5B) 에 있어서는, 양 전극 (47) 사이가 아암부 (42) 를 경유하여 전류가 흐른다 (도 4 참조).In short, one of the two silicon mandrels 4 of the seed assembly 13 is held in the single silicon mandrel electrode unit 5A, and two sets of seed assembly (in the two silicon mandrel electrode units 5B). The silicon core rods 4 of 13) are held one by one. Then, a power cable is connected to the single silicon core rod electrode unit 5A at both ends of the column so that a current flows. At this time, in the two silicon heart-shaped electrode units 5B, a current flows between the two electrodes 47 via the arm part 42 (refer FIG. 4).

이와 같이 전극을 2 종류로 하여, 실리콘 심봉 (4) 을 1 개 유지하는 1 본 실리콘 심봉용 전극 유닛 (5A) 과 실리콘 심봉 (4) 을 2 개씩 유지하는 2 본 실리콘 심봉용 전극 유닛 (5B) 을 형성함으로써, 전부를 1 개씩 유지하는 경우에 비해 전극 유닛수를 줄일 수 있다 (예를 들어 2/3 정도). 이와 같이 전극 유닛수가 적은 경우, 반응로 (1) 의 바닥판부 (2) 에 형성되는 관통공도 줄일 수 있어, 바닥판부 (2) 를 강구조 (剛構造) 로 유지할 수 있다. 또한, 적은 전극 유닛수로 많은 실리콘 심봉 (4) 을 유지할 수 있으므로, 반응로 (1) 내에 많은 실리콘 심봉 (4) 을 설치할 수 있어, 생산성을 높일 수 있다. 또한, 전극 유닛수가 적으므로, 바닥판부 (2) 의 하방에 배치되는 냉각 배관이나 전원 케이블도 줄일 수 있어, 그 메인터넌스 작업성이 향상된다.In this manner, the two-core silicon mandrel electrode unit 5B holding two types of electrodes and holding one silicon mandrel 4 and two silicon mandrels 4 each holding two silicon mandrels 4. The number of electrode units can be reduced (for example, about 2/3) as compared with the case where all of them are held by forming the. When the number of electrode units is small in this manner, the through-holes formed in the bottom plate portion 2 of the reactor 1 can also be reduced, and the bottom plate portion 2 can be held in a steel structure. In addition, since a large number of silicon core rods 4 can be held with a small number of electrode units, many silicon core rods 4 can be provided in the reactor 1, and productivity can be improved. Moreover, since the number of electrode units is small, the cooling piping and power supply cable arrange | positioned under the bottom board part 2 can also be reduced, and the maintenance workability improves.

다음으로, 각 전극 유닛 구조의 상세한 내용에 대해 설명한다.Next, the detail of each electrode unit structure is demonstrated.

먼저, 1 본 실리콘 심봉 (4) 을 유지하고 있는 1 본 실리콘 심봉용 전극 유닛 (5A) 에 대해 설명한다. 도 3 에 나타내는 바와 같이 전극 유닛 (5A) 은, 전극 홀더 (22) 와 전극 (23) 으로 구성되어 있다. 전극 홀더 (22) 는 반응로 (1) 의 바닥판부 (2) 에 형성된 관통공 (21) 내에 삽입 상태로 형성되고, 전극 (23) 은 그 전극 홀더 (22) 의 상단부에 형성되어 실리콘 심봉 (4) 을 유지한다.First, the single silicon core electrode electrode unit 5A holding the single silicon core rod 4 will be described. As shown in FIG. 3, the electrode unit 5A is composed of an electrode holder 22 and an electrode 23. The electrode holder 22 is formed in an inserted state in the through hole 21 formed in the bottom plate portion 2 of the reactor 1, and the electrode 23 is formed at the upper end of the electrode holder 22 to form a silicon core rod ( 4) Maintain

전극 홀더 (22) 는, 도 3 에 나타내는 바와 같이, 스테인리스강 등의 도전재에 의해 봉 형상으로 형성된다. 전극 홀더 (22) 는, 스트레이트형상의 막대부 (24) 와, 중공 원반형상의 확경부 (25) 와, 수나사부 (26) 가 일체로 되어 형성되어 있다. 스트레이트형상의 막대부 (24) 는 관통공 (21) 내에 상하 방향을 따라 삽입된다. 중공 원반형상의 확경부 (25) 는 전극 홀더 (22) 와 동축형상으로 형성되고, 스트레이트형상의 막대부 (24) 상단부에 형성되며, 그 막대부 (24) 보다 직경이 크다. 확경부 (25) 내부에는, 원고리형의 공간 (25a) 이 전극 홀더 (22) 와 동축형상으로 형성되고, 공간 (25a) 은 그 막대부 (24) 보다 직경이 크다. 수나사부 (26) 는, 그 확경부 (25) 의 상면으로부터 더욱 상방으로 돌출되어 있다. 또한, 막대부 (24) 의 하방에는 바닥판부 (2) 로부터 돌출되는 위치에 수나사부 (28) 가 형성되어 있다.As shown in FIG. 3, the electrode holder 22 is formed in rod shape by electrically conductive materials, such as stainless steel. The electrode holder 22 is formed by integrating a straight rod portion 24, a hollow disk-shaped enlarged diameter portion 25, and a male screw portion 26. The straight rod part 24 is inserted in the through-hole 21 along the up-down direction. The hollow disk-shaped enlarged diameter part 25 is formed coaxially with the electrode holder 22, is formed in the upper end part of the straight rod part 24, and is larger than the rod part 24 in diameter. Inside the enlarged diameter part 25, the circular space 25a is formed coaxially with the electrode holder 22, and the space 25a is larger in diameter than the rod part 24. As shown in FIG. The male screw portion 26 protrudes further upward from the upper surface of the enlarged diameter portion 25. Moreover, the male screw part 28 is formed in the position which protrudes from the bottom plate part 2 below the rod part 24. As shown in FIG.

전극 홀더 (22) 는 중공으로 형성되어 있다. 전극 홀더 (22) 의 내부에는, 전극 홀더 (22) 의 내경보다 작은 외경을 갖고, 전극 홀더 (22) 의 내부를 외주측의 공간과 내주측 (중심부) 의 공간으로 가로막는 내통 (30) 이, 전극 홀더 (22) 와 동축형상으로 구비되어 있다. 내통 (30) 의 상단은 전극 홀더 (22) 의 상단 내면에 맞닿아 있고, 이 상단부에는 그 내통 (30) 의 내외를 연통하는 개구부 (30a) 가 형성되어 있다. 이로써, 전극 홀더 (22) 의 내부에는, 막대부 (24) 에서 수나사부 (26) 에 걸쳐, 이 내통 (30) 과 전극 홀더 (22) 사이에 형성된 외주측 유로 (27A) 와 내통 (30) 내에 형성된 내주측 유로 (27B) 가 개구부 (30a) 에 의해 연통되어 이루어지는 냉각 유로 (27) 가 형성된다. 이 냉각 유로 (27) 에는 냉각 매체가 유통된다.The electrode holder 22 is formed hollow. The inner cylinder 30 which has an outer diameter smaller than the inner diameter of the electrode holder 22 in the inside of the electrode holder 22, and interrupts the inside of the electrode holder 22 by the space of the outer peripheral side and the space of the inner peripheral side (center part), It is provided coaxially with the electrode holder 22. The upper end of the inner cylinder 30 abuts on the inner surface of the upper end of the electrode holder 22, and an opening 30a communicating with the inside and the outside of the inner cylinder 30 is formed at this upper end. Thereby, the inner peripheral side flow path 27A and the inner cylinder 30 formed between the inner cylinder 30 and the electrode holder 22 from the rod part 24 to the male screw part 26 inside the electrode holder 22 by this. A cooling flow passage 27 is formed in which the inner circumferential side flow passage 27B formed therein communicates with the opening portion 30a. The cooling medium flows through this cooling flow path 27.

내통 (30) 의 외주면에는, 확경부 (25) 의 내부 공간 (25a) 에 대응하는 위치에 있어서 내통 (30) 에 대략 직교하도록 링판 (31) 이 형성되어 있다. 이 링판 (31) 에 의해, 외주측 유로 (27A) 에서 유통되는 냉각 매체의 유통 방향이 확경부 (25) 내의 공간 (25a) 으로 유도된다. 내통 (30) 의 외주면에는 추가로, 수나사부 (28) 에 대응하는 위치에 있어서 전극 홀더 (22) 의 내주면과 내통 (30) 의 외주면의 간격을 확보하는 판상의 스페이서 (32) 가, 내통 (30) 의 축선 방향을 따라 연장되어 있다.On the outer circumferential surface of the inner cylinder 30, a ring plate 31 is formed so as to be substantially orthogonal to the inner cylinder 30 at a position corresponding to the inner space 25a of the enlarged diameter portion 25. By this ring plate 31, the circulation direction of the cooling medium circulated in the outer circumferential side flow path 27A is guided to the space 25a in the enlarged diameter portion 25. On the outer circumferential surface of the inner cylinder 30, a plate-shaped spacer 32 which secures a gap between the inner circumferential surface of the electrode holder 22 and the outer circumferential surface of the inner cylinder 30 at a position corresponding to the male screw portion 28 is further provided. 30) extends along the axial direction.

한편, 전극 홀더 (22) 를 삽입 상태로 하고 있는 바닥판부 (2) 의 관통공 (21) 은, 하부가 스트레이트부 (21A), 상부가 상방을 향하여 점차 확경되는 테이퍼부 (21B) 로 되어 있다. 스트레이트부 (21A) 는, 그 내경이 전극 홀더 (22) 의 막대부 (24) 의 외경보다 크게 형성되어 있다. 이로써, 그 막대부 (24) 주위에 링형상의 공간이 형성되어 있다. 테이퍼부 (21B) 는, 예를 들어 수직축에 대하여 5°∼15°의 경사각으로 형성되어 있다. 테이퍼부 (21B) 의 상단 개구부에 는, 이 테이퍼부 (21B) 의 최대 내경보다 더욱 확경된 스폿 페이싱부 (33) 가 형성되어 있다.On the other hand, the through hole 21 of the bottom plate portion 2 having the electrode holder 22 in the inserted state is a straight portion 21A and a tapered portion 21B in which the upper portion gradually expands upward. . 21 A of straight parts are formed in the inner diameter larger than the outer diameter of the rod part 24 of the electrode holder 22. As shown in FIG. As a result, a ring-shaped space is formed around the rod part 24. The tapered portion 21B is formed at an inclination angle of 5 ° to 15 ° with respect to the vertical axis, for example. In the upper end opening portion of the tapered portion 21B, a spot facing portion 33 having a diameter larger than the maximum inner diameter of the tapered portion 21B is formed.

이 관통공 (21) 의 내주면과 전극 홀더 (22) 의 막대부 (24) 사이에, 고리형 절연재 (34) 가 전극 홀더 (22) 를 둘러싸도록 형성되어 있다. 이 고리형 절연재 (34) 는, 예를 들어 폴리테트라플루오로에틸렌 (PTFE), 퍼플루오로알콕시알칸 (PFA) 으로 대표되는 불소계 수지 등, 탄성을 갖는 고융점의 절연 수지에 의해 형성된다. 고리형 절연재 (34) 는, 관통공 (21) 의 스트레이트부 (21A) 에 삽입되는 플랜지가 부착된 슬리브 (35) 와, 관통공 (21) 의 테이퍼부 (21B) 에 배치되는 콘 부재 (36) 의 2 개 부재로 구성되어 있다. 예를 들어, 고리형 절연재 (34) 의 재료로서 사용되는 PTFE 는, 융점 (ASTM 규격 : D792) 327℃, 굽힘 탄성률 (ASTM 규격 : D790) 0.55㎬, 인장 탄성률 (ASTM 규격 : D638) 0.44 ∼ 0.55㎬, 선팽창 계수 (ASTM 규격 : D696) 10 × 10-5/℃ 이다.An annular insulating material 34 is formed between the inner circumferential surface of the through hole 21 and the rod part 24 of the electrode holder 22 so as to surround the electrode holder 22. This cyclic insulating material 34 is formed of an insulating resin having a high melting point, such as a fluororesin represented by polytetrafluoroethylene (PTFE) and perfluoroalkoxyalkane (PFA), for example. The annular insulating material 34 includes a sleeve 35 with a flange inserted into the straight portion 21A of the through hole 21 and a cone member 36 disposed in the tapered portion 21B of the through hole 21. It consists of two members). For example, PTFE used as the material for the annular insulating material 34 has a melting point (ASTM standard: D792) of 327 ° C, a bending modulus of elasticity (ASTM standard: D790) of 0.55 kPa, and a tensile modulus of elasticity (ASTM standard: D638) of 0.44 to 0.55. 선, the coefficient of linear expansion (ASTM standard: D696) is 10 × 10 -5 / ℃.

콘 부재 (36) 는, 그 외면이 관통공 (21) 의 테이퍼부 (21B) 의 내주면과 동일한 경사 각도의 테이퍼형상으로 형성된다. 콘 부재 (36) 는, 바닥판부 (2) 의 상방으로부터 관통공 (21) 에 삽입되어 그 테이퍼부 (21B) 의 내면에 맞닿아 있다. 이 콘 부재 (36) 상단부의 상면에는, 전극 홀더 (22) 의 확경부 (25) 의 하면이 맞닿아 있다. 확경부 (25) 는, 그 외경이 콘 부재 (36) 의 최대 외경, 즉 상단부 상면의 외경에 대하여 거의 동등하거나 약간 작게 설정되어 있어, 콘 부재 (36) (고리형 절연재 (34)) 의 상면 전체를 덮고 있다. 또한, 확경부 (25) 와 스폿 페이싱부 (33) 측면의 거리가 단락되지 않을 정도로 충분히 떨어져 있는 경우에는, 냉각 효과를 높이기 위해 확경부 (25) 의 외경을 콘 부재 (36) 상단부 상면의 외경보다 약간 크게 할 수 있다. 반면, 확경부 (25) 와 스폿 페이싱부 (33) 측면의 거리가 짧은 경우에는, 단락을 일으키지 않기 위해 확경부 (25) 의 외경을 콘 부재 (36) 상단부 상면의 외경보다 약간 작게 할 수 있다.The cone member 36 is formed in the taper shape of the inclination-angle whose outer surface is the same as the inner peripheral surface of the taper part 21B of the through-hole 21. As shown in FIG. The cone member 36 is inserted into the through hole 21 from above the bottom plate portion 2 and abuts against the inner surface of the tapered portion 21B. The lower surface of the enlarged diameter part 25 of the electrode holder 22 is in contact with the upper surface of the upper end of the cone member 36. As for the enlarged diameter part 25, the outer diameter is set to be substantially equal to or slightly smaller with respect to the maximum outer diameter of the cone member 36, ie, the outer diameter of the upper end part upper surface, and the upper surface of the cone member 36 (ring-type insulation material 34) Covering the whole. If the distance between the enlarged diameter portion 25 and the spot facing portion 33 is sufficiently separated from each other so as not to be short-circuited, the outer diameter of the enlarged diameter portion 25 may be adjusted to increase the cooling effect. You can make it slightly larger. On the other hand, when the distance between the enlarged diameter portion 25 and the spot facing portion 33 is short, the outer diameter of the enlarged diameter portion 25 can be made slightly smaller than the outer diameter of the upper surface of the upper end of the cone member 36 in order not to cause a short circuit. .

콘 부재 (36) 의 외주면 및 상단면의 내주부에는, 각각 O 링 (43) 이 형성되어 있다. 이들 O 링 (43) 에 의해, 콘 부재 (36) 와 전극 홀더 (22) 및 바닥판부 (2) 사이의 기밀성, 즉 반응로 (1) 의 관통공 (21) 에 있어서의 기밀성이 유지된다.The O-ring 43 is formed in the inner peripheral part of the outer peripheral surface and the upper end surface of the cone member 36, respectively. By these O rings 43, the airtightness between the cone member 36, the electrode holder 22, and the bottom plate part 2, ie, the airtightness in the through-hole 21 of the reaction furnace 1, is maintained.

플랜지가 부착된 슬리브 (35) 는, 그 하단부에 일체로 형성된 플랜지부 (37) 가 반응로 (1) 바닥판부 (2) 의 이면에 맞닿도록, 스트레이트부 (21A) 에 삽입되어 있다. 플랜지부 (37) 의 상면은, 전극 홀더 (22) 의 수나사부 (28) 에 끼워진 너트 (38) 에 의해, 바닥판부 (2) 의 이면으로 가압되어 있다. 플랜지부 (37) 의 하면과 너트 (38) 사이에는, 링 와셔 (39a), 접시 스프링 (39b) 및 링 와셔 (39a) 가 순서대로 배치되어 있다. 플랜지부 (37) 의 상면을 너트 (38) 에 의해 바닥판부 (2) 의 이면으로 가압할 때, 접시 스프링 (39b) 에 의해 적절한 압력으로 한다. 링 와셔 (39a) 는 스테인리스 (SUS304) 제인 것이 바람직하고, 접시 스프링 (39b) 은 스테인리스 (SUS631) 제인 것이 바람직하다.The flanged sleeve 35 is inserted into the straight portion 21A so that the flange portion 37 integrally formed at the lower end portion thereof abuts against the rear surface of the bottom plate portion 2 of the reactor 1. The upper surface of the flange portion 37 is pressed to the rear surface of the bottom plate portion 2 by a nut 38 fitted to the male screw portion 28 of the electrode holder 22. Between the lower face of the flange portion 37 and the nut 38, the ring washer 39a, the disc spring 39b, and the ring washer 39a are arranged in this order. When pressing the upper surface of the flange portion 37 to the rear surface of the bottom plate portion 2 by the nut 38, the plate spring 39b is used to make an appropriate pressure. It is preferable that the ring washer 39a is made of stainless steel (SUS304), and it is preferable that the disc spring 39b is made of stainless steel (SUS631).

이 너트 (38) 를 단단히 조임으로써 확경부 (25) 와 너트 (38) 의 간격이 작아지므로, 전극 홀더 (22) 가 바닥판부 (2) 에 대하여 하방으로 잡아당겨져, 확경 부 (25) 와 너트 (38) 사이에 고리형 절연재 (34) 가 끼워진다. 또한, 그 끼움력에 의해 관통공 (21) 의 테이퍼부 (21B) 내주면에 콘 부재 (36) 의 외주면이 가압되어, 이들 고리형 절연재 (34) 와 전극 홀더 (22) 가 바닥판부 (2) 에 일체적으로 고정된다. 이 때, 전극 홀더 (22) 의 확경부 (25) 하면의 높이 위치 (바닥판부 (2) 표면으로부터의 돌출 높이) 를 확인하면서, 확경부 (25) 의 하부를 바닥판부 (2) 에 접근시킨다. 이 때, 확경부 (25) 의 하부와 바닥판부 (2) 사이에 전기적 단락이 발생하지 않도록, 너트 (38) 의 끼움량이 조절된다.By tightening the nut 38 firmly, the gap between the enlarged diameter portion 25 and the nut 38 becomes small, so that the electrode holder 22 is pulled downward with respect to the bottom plate portion 2, so that the expanded diameter portion 25 and the nut The annular insulating material 34 is sandwiched between the 38. Moreover, the outer peripheral surface of the cone member 36 is pressed against the inner peripheral surface of the tapered portion 21B of the through hole 21 by the fitting force, so that the annular insulating material 34 and the electrode holder 22 are the bottom plate portion 2. It is fixed integrally to. At this time, while confirming the height position (protrusion height from the bottom plate portion 2 surface) of the lower surface of the enlarged diameter portion 25 of the electrode holder 22, the lower portion of the enlarged diameter portion 25 is brought close to the bottom plate portion 2. . At this time, the fitting amount of the nut 38 is adjusted so that an electric short circuit does not occur between the lower part of the enlarged diameter part 25 and the bottom plate part 2.

접시 스프링 (39b) 및 고리형 절연재 (34) (수지제의 플랜지가 부착된 슬리브 (35) 및 콘 부재 (36)) 의 탄성 변형에 의해, 전극 홀더 (22) 와 바닥판부 (2) 사이의 상하 방향의 상대 이동이 허용된다. 따라서, 전극 홀더 (22) 와 바닥판부 (2) 의 열 팽창차가 흡수된다.By elastic deformation of the disc spring 39b and the annular insulator 34 (the flanged sleeve 35 and the cone member 36 made of resin) between the electrode holder 22 and the bottom plate portion 2 Relative movement up and down is allowed. Thus, the thermal expansion difference between the electrode holder 22 and the bottom plate portion 2 is absorbed.

이 고정 상태에서, 고리형 절연재 (34) 의 콘 부재 (36) 의 상단부는, 관통공 (21) 의 테이퍼부 (21B) 의 상단부보다 약간 상방으로 돌출되어 스폿 페이싱부 (33) 내에 면해 있다. 이 때문에, 콘 부재 (36) 는, 그 상단부가 스폿 페이싱부 (33) 의 저면으로부터 돌출되고, 또한 스폿 페이싱부 (33) 의 상단부보다 상방으로 돌출되지 않도록, 상단부의 외경이 테이퍼부 (21B) 의 최대 외경보다 크게 설정되어 있다.In this fixed state, the upper end of the cone member 36 of the annular insulating material 34 projects slightly upward from the upper end of the tapered portion 21B of the through hole 21 and faces in the spot facing portion 33. For this reason, the outer diameter of the cone member 36 is tapered part 21B so that the upper end part may protrude from the bottom face of the spot facing part 33, and the upper end part may not protrude upward from the upper end part of the spot facing part 33. It is set larger than the maximum outer diameter of.

한편, 전극 (23) 은 카본 등에 의해 전체적으로 원기둥형상으로 형성된다. 전극 (23) 은, 하단부에 전극 홀더 (22) 의 수나사부 (26) 에 끼워지는 암나사부 (43) 를 갖고, 그 상단부에 실리콘 심봉 (4) 을 삽입 상태로 고정시키는 구멍 (23a) 을 갖고, 구멍 (23a) 은 축심을 따라 형성되어 있다.On the other hand, the electrode 23 is formed in a cylindrical shape entirely by carbon or the like. The electrode 23 has a female screw portion 43 fitted to the male screw portion 26 of the electrode holder 22 at the lower end thereof, and has a hole 23a for fixing the silicon core rod 4 in the inserted state at the upper end thereof. , The hole 23a is formed along the shaft center.

1 본 실리콘 심봉용 전극 유닛 (5A) 에 형성된 냉각 유로 (27) 에 대해 설명한다. 냉각 매체는, 도 3 에 나타내는 바와 같이, 전극 홀더 (22) 의 하단부에 형성된 유입구 (127A) 를 통해 외주측 유로 (27A) 로 유입되고, 상방으로 유통된다. 그리고, 냉각 매체는 링판 (31) 에 의해 유도되어 확경부 (25) 내의 공간 (25a) 을 유통한 후, 수나사부 (26) 의 내부 즉 전극 (23) 근방에 도달한다. 냉각 매체는, 외주측 유로 (27A) 안을 전극 홀더 (22) 의 상단부 내면에 접촉될 때까지 가득 채우면, 내통 (30) 의 상단부에 형성된 개구부 (30a) 로부터 내통 (30) 안으로 유입된다. 그 후, 냉각 매체는, 내통 (30) 의 내부 즉 내주측 유로 (27B) 에서 하방을 향하여 유통되어, 내통 (30) 의 하단부에 형성된 유출구 (127B) 로부터 전극 홀더 (22) 의 외부로 유출된다. 요컨대, 냉각 매체는, 외주측 유로 (27A) 를 유통하는 동안에 비교적 저온인 확경부 (25) 를 냉각시킨 후, 비교적 고온인 전극 (23) 근방을 냉각시키고, 내주측 유로 (27B) 를 통해 전극 홀더 (22) 로부터 배출된다.1 The cooling channel 27 formed in the electrode unit 5A for silicon mandrel will be described. As shown in FIG. 3, the cooling medium flows into the outer circumferential side flow path 27A through the inlet 127A formed at the lower end of the electrode holder 22, and flows upward. The cooling medium is guided by the ring plate 31 and flows through the space 25a in the enlarged diameter portion 25, and then reaches the inside of the male screw portion 26, i.e., the vicinity of the electrode 23. As shown in FIG. The cooling medium flows into the inner cylinder 30 from the opening 30a formed in the upper end of the inner cylinder 30 when the inside of the outer circumferential side flow path 27A is filled up until it comes in contact with the inner surface of the upper end of the electrode holder 22. Thereafter, the cooling medium flows downward from the inside of the inner cylinder 30, that is, the inner circumferential side flow path 27B, and flows out from the outlet 127B formed at the lower end of the inner cylinder 30 to the outside of the electrode holder 22. . In other words, the cooling medium cools the relatively low temperature expansion part 25 during the flow of the outer circumferential side flow path 27A, and then cools the vicinity of the relatively high temperature electrode 23 and passes the electrode through the inner circumferential side flow path 27B. It is discharged from the holder 22.

[제 2 실시형태]Second Embodiment

2 본 실리콘 심봉용 전극 유닛 (5B) 에 대해 설명한다. 2 본 실리콘 심봉용 전극 유닛 (5B) 은, 도 4 에 확대시켜 나타낸다. 2 본 실리콘 심봉용 전극 유닛 (5B) 은, 반응로 (1) 의 바닥판부 (2) 에 형성된 관통공 (21) 내에 삽입 상태로 형성된 전극 홀더 (46) 와 그 전극 홀더 (46) 의 상단부에 형성된 전극 (47) 을 구비하는 구성으로 되어 있는 점은, 1 본 실리콘 심봉용 전극 유닛 (5A) 과 동일한 구성이다. 2 본 실리콘 심봉용 전극 유닛 (5B) 은, 전극 홀더 (46) 가 상단부에서 두 갈래형상으로 분기되어 있고, 그 양단부에 각각 전극 (47) 이 형성되는 구성으로 되어 있어, 이 점이 1 본 실리콘 심봉용 전극 유닛 (5A) 과 상이하다.2 This silicon core rod electrode unit 5B will be described. 2 This silicon heart-shaped electrode unit 5B is enlarged and shown in FIG. 2 The electrode unit 5B for silicon mandrel is inserted into an electrode holder 46 formed in an inserted state in a through hole 21 formed in the bottom plate portion 2 of the reactor 1 and an upper end of the electrode holder 46. The point of having the structure provided with the formed electrode 47 is the same structure as 5 A of electrode cores for silicon core rods. In the double silicon electrode rod 5B, the electrode holder 46 is bifurcated at the upper end, and the electrodes 47 are formed at both ends thereof. It differs from the rod electrode unit 5A.

전극 유닛 (5B) 의 전극 홀더 (46) 는, 봉 형상을 이루는 막대부 (41) 와, 그 막대부 (41) 의 상단에 직교하는 아암부 (42) 가 일체로 형성된 구성으로 되어 있다. 전극 홀더 (46) 는, 스테인리스강 등의 도전재에 의해 형성된다. 막대부 (41) 의 길이 방향의 도중 위치에는, 중공 고리형의 확경부 (45) 가 형성되어 있다. 또한, 막대부 (41) 의 바닥판부 (2) 하면으로부터 돌출된 위치에, 제 1 실시형태에 있어서의 수나사부 (28) 와 동일한 수나사부 (46a) 가 형성되어 있다.The electrode holder 46 of the electrode unit 5B has a structure in which a rod portion 41 forming a rod shape and an arm portion 42 orthogonal to an upper end of the rod portion 41 are integrally formed. The electrode holder 46 is formed of a conductive material such as stainless steel. The hollow annular enlarged diameter part 45 is formed in the middle position of the rod part 41 in the longitudinal direction. Moreover, the male screw part 46a similar to the male screw part 28 in 1st Embodiment is formed in the position which protruded from the lower surface of the bottom board part 2 of the rod part 41. As shown in FIG.

이 전극 홀더 (46) 를 삽입 상태로 하고 있는 바닥판부 (2) 의 관통공 (21) (스트레이트부 (21A), 테이퍼부 (21B)), 그 테이퍼부 (21B) 의 상단 개구부에 형성된 스폿 페이싱부 (33), 관통공 (21) 의 내주면과 전극 홀더 (46) 의 막대부 (41) 사이에 형성된 고리형 절연재 (34) (플랜지가 부착된 슬리브 (35), 콘 부재 (36)), 막대부 (41) 의 수나사부 (46a) 에 나사 결합된 너트 부재 (38) 및 링 와셔 (39a) 등에 대해서는, 1 본 실리콘 심봉용 전극 유닛 (5A) 과 동일한 구성 및 효과를 갖기 때문에 여기서는 설명을 생략한다.Spot facing formed in the through hole 21 (straight portion 21A, tapered portion 21B) of the bottom plate portion 2 having the electrode holder 46 inserted therein, and the upper opening of the tapered portion 21B. Part 33, annular insulating material 34 (sleeve 35 with flange, cone member 36) formed between the inner circumferential surface of the through hole 21 and the rod part 41 of the electrode holder 46, The nut member 38, ring washer 39a, and the like, which are screwed to the male screw portion 46a of the rod portion 41, have the same configuration and effect as those of the one-core silicon mandrel electrode unit 5A. Omit.

전극 홀더 (46) 의 아암부 (42) 는, 막대부 (41) 의 상단으로부터 좌우 방향으로 각각 수평하게 연장됨으로써, 막대부 (41) 와 함께 T 자를 이루고 있다. 아암부 (42) 에는, 그 좌우 양단부를 각각 수직 방향으로 관통하여 전극 (47) 을 나사 결합시키는 암나사공 (42a) 이 형성되어 있다. 전극 (47) 은, 이 암나사공 (42a) 에 나사 결합되어 아암부 (42) 상부로 노출되어 있다. 아암부 (42) 상의 전극 (47) 의 기단부 (基端部) 에는, 너트 부재 (44) 가 장착되어 있다. 너트 부재 (44) 는 원기둥형상으로 형성되고, 그 내주부에 전극 (47) 에 나사 결합되는 암나사부가 형성되어 있다. 너트 부재 (44) 는 카본 등에 의해 형성되는 것이 바람직하다.The arm part 42 of the electrode holder 46 extends horizontally from the upper end of the rod part 41 to the left-right direction, respectively, and forms the T shape with the rod part 41. FIG. The arm part 42 is provided with the female screw hole 42a which penetrates the left and right both ends in the vertical direction, respectively and screwes the electrode 47 together. The electrode 47 is screwed into this female screw hole 42a and is exposed to the upper portion of the arm portion 42. The nut member 44 is attached to the base end of the electrode 47 on the arm part 42. The nut member 44 is formed in the column shape, and the internal thread part which is screwed to the electrode 47 is formed in the inner peripheral part. The nut member 44 is preferably formed of carbon or the like.

아암부 (42) 에는, 좌우 방향으로 연장되는 스트레이트형상 내부 공간 (42b) 과, 각 암나사공 (42a) 의 외주를 C 자 형상으로 둘러싸고, 각각 상기 스트레이트형상 내부 공간 (42b) 에 연통되어 있는 원호형상 내부 공간 (42c) 이 형성되어 있다. 스트레이트형상 내부 공간 (42b) 은, 제 3 칸막이판 (48C) 에 의해 상하로 구획되어 있다.The arm portion 42 surrounds the straight inner space 42b extending in the left-right direction and the outer circumference of each female threaded hole 42a in a C-shape, and is in communication with the straight inner space 42b, respectively. The shape inner space 42c is formed. The straight inner space 42b is partitioned up and down by the third partition plate 48C.

전극 홀더 (46) 의 막대부 (41) 의 상부 공간은, 상기 제 3 칸막이판 (48C) 에 접속되는 제 2 칸막이판 (48B) 에 의해 좌측 공간 (41c) 과 우측 공간 (41d) 으로 구획되어 있다. 이 제 2 칸막이판 (48B) 의 하단에는, 막대부 (41) 의 축선 방향에 대략 직교하여 막대부 (41) 내를 상하로 구획하는 원판상의 제 1 칸막이판 (48A) 이 접속되어 있다. 이 제 1 칸막이판 (48A) 에는, 제 2 칸막이판 (48B) 의 우측에만 개구된 관통공 (148A) 이 형성되어 있다. 추가로 막대부 (41) 에는, 제 1 칸막이판 (48A) 의 하방에 형성된 제 1 개구부 (41a) 와, 제 1 칸막이판 (48A) 의 상방 또한 제 1 개구부 (41a) 에 대하여 막대부 (41) 의 축선을 사이에 두고 180° 반대측에 형성된 제 2 개구부 (41b) 가 형성되어 있다.The upper space of the rod part 41 of the electrode holder 46 is divided into the left space 41c and the right space 41d by the second partition plate 48B connected to the third partition plate 48C. have. At the lower end of the second partition plate 48B, a first disk-shaped partition plate 48A is formed which is substantially orthogonal to the axial direction of the rod portion 41 and partitions the inside of the rod portion 41 up and down. In the first partition plate 48A, a through hole 148A opened only on the right side of the second partition plate 48B is formed. Furthermore, the rod part 41 is provided in the rod part 41 with respect to the 1st opening part 41a formed below the 1st partition plate 48A, and the upper part of the 1st partition plate 48A, and the 1st opening part 41a. The second opening part 41b formed in the 180 degree opposite side through the axis line of () is formed.

확경부 (45) 는, 막대부 (41) 의 외주면에 끼워 맞춤으로써, 막대부 (41) 의 외주면에 고리형 공간 (45b) 을 형성하는 고리형 부재이다. 이 확경부 (45) 내의 고리형 공간 (45b) 은, 제 1 칸막이판 (48A) 의 하방으로 개구되는 제 1 개구부 (41a) 및 제 1 칸막이판 (48A) 의 상방으로 개구되는 제 2 개구부 (41b) 를 통하여 막대부 (41) 내에 연통되어 있다. 또한, 확경부 (45) 의 상면 외주부에는, 둥글게 에워싼 형상 (周狀) 의 벽부 (45a) 가 형성되어 있다.The enlarged diameter part 45 is an annular member which forms the annular space 45b in the outer peripheral surface of the rod part 41 by fitting to the outer peripheral surface of the rod part 41. The annular space 45b in the enlarged diameter portion 45 has a first opening portion 41a opened downward of the first partition plate 48A and a second opening portion opened upward of the first partition plate 48A ( It communicates with the rod part 41 via 41b). Moreover, the rounded wall part 45a is formed in the outer peripheral part of the upper surface of the enlarged diameter part 45. As shown in FIG.

또한, 이 제 1 칸막이판 (48A) 의 하면에는, 관통공 (148A) 을 통해 우측 공간 (41d) 에 연통되는 내통 (49) 이 막대부 (41) 와 거의 동축형상으로 장착되어 있다. 이 내통 (49) 은, 제 1 칸막이판 (48A) 의 하방에 있어서 막대부 (41) 의 내부를 외주측의 공간 (외주측 유로 (40A)) 과 내주측의 공간 (내주측 유로 (40B)) 으로 가로막고 있다.Moreover, the inner cylinder 49 which communicates with 41 d of right side spaces through the through-hole 148A is attached to the lower surface of 48 A of 1st partition plates substantially coaxially with the rod part 41. As shown in FIG. The inner cylinder 49 has a space on the outer circumferential side (the outer circumferential side flow path 40A) and an inner circumferential side (the inner circumferential side flow path 40B) below the first partition plate 48A. ) Is blocked.

이와 같이 2 본 실리콘 심봉용 전극 유닛 (5B) 이 구성됨으로써, 전극 홀더 (46) 내에는, 막대부 (41) 하부의 외주측 유로 (40A) 및 내주측 유로 (40B), 확경부 (45) 의 고리형 공간 (45b), 막대부 (41) 상부의 좌측 공간 (41c) 및 우측 공간 (41d), 아암부 (42) 의 스트레이트형상 내부 공간 (42b) 및 원호형상 내부 공간 (42c) 에 의한 냉각 유로 (40) 가 형성된다.In this way, since the two silicon core rod electrode units 5B are configured, the outer circumferential side flow passage 40A, the inner circumferential side flow passage 40B and the enlarged diameter portion 45 in the lower portion of the rod part 41 are formed in the electrode holder 46. By the annular space 45b, the left space 41c and the right space 41d above the rod portion 41, the straight inner space 42b of the arm portion 42 and the arc-shaped inner space 42c. The cooling flow path 40 is formed.

냉각 유로 (40) 에 있어서, 냉각 매체는, 전극 홀더 (46) 의 하단부로부터 내통 (49) 의 외주면과 막대부 (41) 의 내주면 사이에 형성된 외주측 유로 (40A) 로 유입되고, 상방으로 유통된다. 제 1 칸막이판 (48A) 에 도달하면, 냉각 매체는 이 제 1 칸막이판 (48A) 에 의해 차단되어 제 1 개구부 (41a) 를 통해 확경부 (45) 내의 고리형 공간 (45b) 으로 유입되고, 확경부 (45) 를 냉각시킨다. 그 후, 냉각 매체는, 제 2 개구부 (41b) 를 통해 제 1 칸막이판 (48A) 의 상측 또한 제 2 칸막이판 (48B) 의 좌측, 즉 좌측 공간 (41c) 으로 유통된다.In the cooling flow path 40, a cooling medium flows in from the lower end part of the electrode holder 46 to the outer peripheral side flow path 40A formed between the outer peripheral surface of the inner cylinder 49, and the inner peripheral surface of the rod part 41, and flows upwards. do. When the first partition plate 48A is reached, the cooling medium is blocked by the first partition plate 48A and flows into the annular space 45b in the enlarged diameter portion 45 through the first opening 41a, The enlarged diameter part 45 is cooled. Thereafter, the cooling medium flows through the second opening portion 41b to the upper side of the first partition plate 48A and to the left side of the second partition plate 48B, that is, to the left space 41c.

좌측 공간 (41c) 으로 유입된 냉각 매체는, 제 2 칸막이판 (48B) 및 제 3 칸막이판 (48C) 에 의해 아암부 (42) 의 스트레이트형상 내부 공간 (42b) 의 좌측 하부에서 좌측의 원호형상 내부 공간 (42c) 으로 유도된다. 그 후, 냉각 매체는, 스트레이트형상 내부 공간 (42b) 에 있어서 제 3 칸막이판 (48C) 의 상측을 유통하고, 우측의 원호형상 내부 공간 (42c) 을 통해 스트레이트형상 내부 공간 (42b) 의 우측 하부로 유도된다. 냉각 매체는, 그 동안에 전극 (47) 근방을 냉각시킨다. 그리고, 냉각 매체는, 제 2 칸막이판 (48B) 을 따라 우측 공간 (41d) 을 유통하여 제 1 칸막이판 (48A) 에 도달하면, 관통공 (148A) 을 통해 내통 (49) 내의 내주측 유로 (40B) 로 유입되고, 전극 홀더 (46) 로부터 배출된다.The cooling medium which flowed into the left space 41c is an arc shape of the left side from the lower left of the straight inner space 42b of the arm part 42 by the 2nd partition board 48B and the 3rd partition board 48C. It is led to the interior space 42c. Thereafter, the cooling medium flows through the upper side of the third partition plate 48C in the straight inner space 42b, and the lower right side of the straight inner space 42b through the right arc-shaped inner space 42c. Is induced. In the meantime, the cooling medium cools the vicinity of the electrode 47. And when a cooling medium flows through 41 d of right spaces along the 2nd partition board 48B, and reaches the 1st partition board 48A, the inner peripheral side flow path in the inner cylinder 49 through the through-hole 148A. 40B), and is discharged from the electrode holder 46.

이와 같이 구성되는 다결정 실리콘 제조 장치에 있어서, 각 전극 유닛 (5) (전극 유닛 (5A), 전극 유닛 (5B)) 에서 실리콘 심봉 (4) 으로 통전시키면, 실리콘 심봉 (4) 을 저항 발열 상태로 함과 함께, 각 실리콘 심봉 (4) 끼리의 사이에서도, 인접하는 실리콘 심봉 (4) 으로부터의 복사열을 받아 상호 가열되고, 그것들이 상승 (相乘) 하여 고온 상태가 된다. 이 고온 상태의 실리콘 심봉 (4) 의 표면에 접촉된 원료 가스가 반응하여 다결정 실리콘을 석출시킨다.In the polycrystalline silicon manufacturing apparatus configured as described above, when the electrode core 5 (electrode unit 5A, electrode unit 5B) is energized by the silicon core 4, the silicon core 4 is placed in a resistance heating state. In addition, even between each silicon core rod 4, it receives mutual radiant heat from the adjacent silicon core rod 4, mutually heats them, and raises them, and it becomes a high temperature state. The source gas in contact with the surface of the silicon core rod 4 in this high temperature state reacts to precipitate polycrystalline silicon.

이 실리콘 심봉 (4) 으로부터의 복사열은 반응로 (1) 의 바닥판부 (2) 상의 각 전극 유닛 (5A), 전극 유닛 (5B) 에도 작용하여, 열에 약한 고리형 절연재 (34) 도, 상단부의 일부가 스폿 페이싱부 (33) 내에서 노출되어 있기 때문에 열의 영향을 받을 것으로 생각된다. 그러나, 이 고리형 절연재 (34) 상단부의 상면에는, 도 3 및 도 4 에 나타내는 바와 같이, 전극 홀더 (22) 의 확경부 (25) 및 전극 홀더 (46) 의 확경부 (45) 가 각각 덮이도록 배치되어 있으므로, 이 상단면에 직접 작용하는 복사열은 적어진다. 게다가, 전극 홀더 (22), 전극 홀더 (46) 는 내부를 유통하는 냉각 매체에 의해 냉각되고 있으므로, 고리형 절연재 (34) 도 유효하게 냉각된다. 특히, 고리형 절연재 (34) 는, 그 상단부의 상면을 덮는 확경부 (25), 확경부 (45) 의 내부에 형성된 공간에 냉각 매체가 유통됨으로써 유효하게 냉각된다.Radiant heat from this silicon mandrel 4 also acts on each electrode unit 5A and electrode unit 5B on the bottom plate portion 2 of the reactor 1, and the annular insulating material 34, which is weak to heat, also has an upper end portion. Since a part is exposed in the spot facing part 33, it is thought that it will be influenced by heat. However, as shown in FIGS. 3 and 4, the upper surface of the upper end portion of the annular insulating material 34 covers the enlarged diameter portion 25 of the electrode holder 22 and the enlarged diameter portion 45 of the electrode holder 46, respectively. Since it is arrange | positioned so that, the radiant heat which acts directly on this upper surface will become small. In addition, since the electrode holder 22 and the electrode holder 46 are cooled by a cooling medium circulating therein, the annular insulating material 34 is also effectively cooled. In particular, the annular insulating material 34 is effectively cooled by circulating a cooling medium in a space formed inside the enlarged diameter portion 25 and the enlarged diameter portion 45 covering the upper surface of the upper end portion.

이와 같이, 고온의 반응로 (1) 내에 있어서도 고리형 절연재 (34) 는 고온에 의한 변형이나 열화 등이 억제되어 그 탄성이 유지되므로, 각 부재의 열 변형을 흡수할 수 있고, 응력의 작용을 억제할 수 있어, 설비의 기능이 적절히 유지될 수 있다.Thus, even in the high temperature reaction furnace 1, since the deformation | transformation, deterioration, etc. by high temperature are suppressed and the elasticity is maintained, the cyclic | annular insulation material 34 can absorb the thermal deformation of each member, and the effect | action of a stress is suppressed. It can be suppressed, and the function of a facility can be maintained suitably.

또한, 본 발명은 상기 실시형태의 구성인 것에 한정되지 않고, 세부 구성에 있어서는, 본 발명의 취지를 일탈하지 않는 범위에서 다양한 변경을 부가할 수 있다.In addition, this invention is not limited to the structure of the said embodiment, In a detailed structure, various changes can be added in the range which does not deviate from the meaning of this invention.

예를 들어, 전극 홀더의 확경부는, 반드시 고리형 절연재 상단면의 상면 전체를 덮는 것이 아니어도 되고, 고리형 절연재의 변형이나 열화 등을 방지할 수 있을 정도로, 상기 상면의 적어도 일부를 덮도록 형성되어도 된다.For example, the enlarged diameter portion of the electrode holder may not necessarily cover the entire upper surface of the upper surface of the annular insulating material, and may cover at least a portion of the upper surface such that deformation or deterioration of the annular insulating material can be prevented. It may be formed.

또한, 상기 실시형태에 있어서는, 냉각 유로는 1 계통만 형성하고 있지만, 확경부를 냉각시키기 위한 냉각 유로와 전극 근방을 냉각시키기 위한 냉각 유로를 별도로 형성해도 된다.In addition, in the said embodiment, although only one system | path is provided, you may provide the cooling flow path for cooling the enlarged diameter part and the cooling flow path for cooling the electrode vicinity separately.

이상, 본 발명의 바람직한 실시예를 설명하였지만, 본 발명은 이들 실시예에 한정되지 않는다. 본 발명의 취지를 일탈하지 않는 범위에서 구성의 부가, 생략, 치환 및 그 밖의 변경이 가능하다. 본 발명은 전술한 설명에 의해 한정되지 않으며, 첨부된 클레임의 범위에 의해서만 한정된다.As mentioned above, although preferable Example of this invention was described, this invention is not limited to these Examples. Additions, omissions, substitutions, and other modifications can be made without departing from the spirit of the invention. The invention is not limited by the foregoing description, but only by the scope of the appended claims.

도 1 은 반응로의 벨자를 일부 잘라낸 사시도.1 is a perspective view partially cut out the bell jar of the reactor.

도 2 는 도 1 에 나타내는 반응로의 단면도.FIG. 2 is a cross-sectional view of the reactor shown in FIG. 1. FIG.

도 3 은 도 2 에 나타내는 반응로의 1 본 실리콘 심봉용 전극 유닛을 나타내는 확대 단면도.FIG. 3 is an enlarged cross sectional view showing an electrode unit for silicon core rods in the reactor shown in FIG. 2; FIG.

도 4 는 도 2 에 나타내는 반응로의 2 본 실리콘 심봉용 전극 유닛의 주요부를 나타내는 확대 단면도.4 is an enlarged cross-sectional view showing a main part of a two-core silicon mandrel electrode unit of the reactor shown in FIG. 2;

※ 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명※ Explanation of codes for main parts of drawing

1 : 반응로1: reactor

2 : 바닥판부2: bottom plate

4 : 실리콘 심봉4: silicone mandrel

5, 5A, 5B : 전극 유닛5, 5A, 5B: electrode unit

21 : 관통공21: through hole

22, 46 : 전극 홀더22, 46: electrode holder

23, 47 : 전극23, 47: electrode

25, 45 : 확경부25, 45: enlarged neck

27, 40 : 냉각 유로27, 40: cooling flow path

27A, 40A : 외주측 유로27A, 40A: Outer side flow path

27B, 40B : 내주측 유로27B, 40B: Inner circumference side flow path

34 : 고리형 절연재34: annular insulation

Claims (5)

원료 가스가 공급된 반응로 내에서 실리콘 심봉을 가열함으로써 실리콘 심봉의 표면에 다결정 실리콘을 석출시키는 다결정 실리콘 제조 장치로서,A polycrystalline silicon manufacturing apparatus for depositing polycrystalline silicon on the surface of a silicon mandrel by heating a silicon mandrel in a reaction furnace supplied with a source gas, 상기 실리콘 심봉을 상하 방향으로 연장 유지하는 전극과,An electrode for extending and maintaining the silicon mandrel in a vertical direction; 냉각 매체를 유통시키는 냉각 유로가 내부에 형성되고, 상기 반응로의 바닥판부에 형성된 관통공 내에 삽입되어, 상기 전극을 유지하는 전극 홀더와,An electrode holder having a cooling flow path through which a cooling medium is circulated, inserted into a through hole formed in the bottom plate of the reactor, and holding the electrode; 상기 관통공의 내주면과 상기 전극 홀더의 외주면 사이에 배치되어, 상기 바닥판부와 상기 전극 홀더 사이를 전기적으로 절연시키는 고리형 절연재를 갖고,A ring-shaped insulating material disposed between the inner circumferential surface of the through hole and the outer circumferential surface of the electrode holder to electrically insulate between the bottom plate portion and the electrode holder, 상기 전극 홀더의 외주면에, 상기 고리형 절연재의 상단부의 상면의 적어도 일부에 접촉되고, 그 내부에 상기 냉각 유로의 일부가 형성된 확경부가 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 다결정 실리콘 제조 장치.And an enlarged diameter portion formed in contact with at least a portion of an upper surface of the upper end portion of the annular insulating material on the outer circumferential surface of the electrode holder, and having a portion of the cooling passage formed therein. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 확경부는, 상기 고리형 절연재의 상기 상단부의 상기 상면 전체를 덮고 있는 것을 특징으로 하는 다결정 실리콘 제조 장치.The enlarged diameter portion covers the entire upper surface of the upper end portion of the annular insulating material. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 냉각 매체는, 상기 확경부를 냉각시킨 후에, 상기 전극 근방을 냉각시키는 것을 특징으로 하는 다결정 실리콘 제조 장치.The cooling medium cools the vicinity of the electrode after cooling the enlarged diameter part. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 냉각 유로는, 상기 전극 홀더 내의 외주부를 그 길이 방향을 따라 그 상단부를 향하여 상기 냉각 매체를 유통시키는 외주측 유로와, 상기 외주측 유로의 내측을 상기 길이 방향을 따라 상기 전극 홀더의 하단부를 향하여 상기 냉각 매체를 유통시키는 내주측 유로를 갖고, 상기 외주측 유로의 일부가 상기 확경부 내에 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 다결정 실리콘 제조 장치.The cooling passage includes an outer circumferential side passage through which the cooling medium flows toward the upper end portion along the longitudinal direction thereof, and an inner side of the outer circumferential side passage toward the lower end portion of the electrode holder along the longitudinal direction. A polycrystalline silicon manufacturing apparatus, comprising: an inner circumferential side flow path through which the cooling medium flows, and a part of the outer circumferential side flow path is formed in the enlarged diameter portion. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 고리형 절연재가 탄성을 갖는 수지로 이루어지는 것을 특징으로 하는 다결정 실리콘 제조 장치.The cyclic insulating material is made of a resin having elasticity polycrystalline silicon production apparatus, characterized in that.
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