KR20100001914A - 디스플레이장치의 화질평가방법 및 화질평가장치 - Google Patents

디스플레이장치의 화질평가방법 및 화질평가장치 Download PDF

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Abstract

디스플레이장치의 화질평가방법 및 화질평가장치가 개시된다. 본 화질평가방법은 디스플레이장치에 표시되는 측정패턴의 콘트라스트, 배경 화면의 밝기, 및 해상도 등을 조정하면서, 측정패턴의 휘도 특성을 검출한 후, 휘도 특성으로부터 검출되는 웨이브 수와 웨이브의 변조비 MTF(Modulation Transfer Function)를 이용하여 디스플레이장치의 화질을 평가하는 방법이다. 이러한 화질평가방법을 사용함에 따라 디스플레이장치의 화질평가를 객관적으로 수행할 수 있게 된다.
디스플레이장치, 화질평가, 측정패턴, 콘트라스트, 배경 화면, 해상도

Description

디스플레이장치의 화질평가방법 및 화질평가장치{Picture quality assessment method and picture quality assessment apparatus for display device}
본 발명은 디스플레이장치의 화질평가방법 및 화질평가장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 디지털 텔레비전이나 모니터 등의 화질을 평가하는 디스플레이장치의 화질평가방법 및 화질평가장치에 관한 것이다.
최근 들어, CRT(Cathode Ray Rube), LCD(Liquid Crystal Display), PDP(Plasma Display Panel), 및 유기 EL(Electro Luminescence) 등과 같은 디스플레이장치들의 사용이 증가하고 있다. 이에 따라, 디스플레이장치의 화질을 평가하여 제품의 우수성을 알릴 필요성도 커지고 있다. 종래에는 디스플레이장치의 화질을 평가하기 위한 여러 가지 방법이 제시되고 있으나, 종래에 제시된 방법들은 시감(Visual Sensitivity)과의 상관도가 낮게 나온다. 그러므로, 시각적 객관성을 확립할 수 있는 화질평가방법이 필요하다. 또한, 움직이는 물체의 디테일(detail) 정도를 정량적으로 표시하기 위한 화질평가방법이 필요하다.
본 발명의 목적은 시각적 객관성을 확립하기 위해, 디스플레이장치에 표시된 측정패턴에 대한 웨이브 수와 웨이브의 변조비 MTF(Modulation Transfer Function)를 이용하여 디스플레이장치의 화질을 평가하는 디스플레이장치의 화질평가방법 및 화질평가장치를 제공함에 있다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 다양한 실시예에 따라, 디스플레이장치의 화질을 평가하는 화질평가장치의 화질평가방법은 상기 디스플레이장치에 표시된 측정패턴의 휘도 특성으로부터 웨이브 수를 검출하는 단계, 및 상기 웨이브 수와 상기 측정패턴의 주기가 일치되는지 여부를 통해, 상기 디스플레이장치의 화질을 평가하는 단계를 포함한다.
여기서, 상기 웨이브 수는 상기 측정패턴의 휘도 특성을 필터링하여 얻는 것을 특징으로 한다.
상기 웨이브 수는 상기 측정패턴의 휘도 특성을 BFP(Band Pass Filter)로 필터링하여 얻는 것을 특징으로 한다.
상기 화질을 평가하는 단계는 상기 측정패턴의 휘도 특성이 변경되는 단계, 상기 휘도 특성이 변경될 때마다, 상기 웨이브 수와 상기 측정패턴의 주기가 일치될 때의 상기 측정패턴의 최대 해상도를 선택하는 단계, 및 상기 최대 해상도를 평균하여 상기 디스플레이의 화질평가 결과로 출력하는 단계를 포함한다.
이때, 상기 휘도 특성이 변경되는 단계는 상기 측정패턴의 콘트라스트(Contrast) 및 상기 측정패턴의 배경 밝기가 조정되는 단계인 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명의 다양한 실시예에 따른 화질평가방법은 상기 측정패턴의 휘도 특성으로부터 웨이브의 변조비를 검출하는 단계를 더 포함하며, 상기 화질을 평가하는 단계는 상기 웨이브 수와 상기 측정패턴의 주기가 일치되는지 여부 및 상기 웨이브의 변조비를 기 설정된 값과 비교한 결과를 이용하여, 상기 디스플레이장치의 화질을 평가하는 것을 특징으로 한다.
여기서, 상기 웨이브의 변조비는 상기 측정패턴의 휘도 특성을 필터링하여 얻는 것을 특징으로 한다.
즉, 상기 웨이브의 변조비는 상기 측정 패턴의 휘도 특성을 BPF(Band Pass Filter)로 필터링하여 얻은 제1파형과 상기 측정패턴의 휘도 특성을 LPF(Low Pass Filter)로 필터링하여 얻은 제2파형을 결합하여 검출되는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 웨이브 변조비는 상기 휘도 특성을 필터링하여 얻은 웨이브들의 피크 투 피크(Peak to Peak) 비인 것을 특징으로 한다.
즉, 상기 웨이브 변조비는 상기 제1파형의 상측 포락선(Upper Envelop)을 상기 제2파형과 결합한 제3파형, 및 상기 제1파형의 하측 포락선(Upper Envelop)을 상기 제2파형과 결합한 제4파형 간의 피크 투 피크(Peak to Peak) 비인 것을 특징으로 한다.
상기 화질을 평가하는 단계는 상기 측정패턴의 휘도 특성이 변경되는 단계, 상기 휘도 특성이 변경될 때마다, 상기 웨이브 수와 상기 측정패턴의 주기가 일치되고, 상기 웨이브 변조비가 기 설정된 값 이상일 때의 상기 측정패턴의 최대 해상도를 추출하는 단계, 및 상기 최대 해상도를 평균하여 상기 디스플레이의 화질평가 결과로 출력하는 단계를 포함한다.
여기서, 상기 측정패턴은 1주기 이상의 수직 라인으로 구성되고, 라인 수, 굵기, 및 색 중, 하나 이상이 변경 가능한 패턴인 것을 특징으로 한다.
그리고, 디스플레이장치에 표시된 측정패턴의 휘도 특성은 상기 디스플레이장치의 전체 화면 혹은 부분 화면을 촬영한 영상신호로부터 검출되는 것을 특징으로 한다.
한편, 본 발명의 다양한 실시예에 따른 화질평가장치는 디스플레이장치에 표시된 측정패턴의 휘도 특성으로부터 웨이브 수를 검출하여, 상기 측정패턴의 주기와 비교하는 비교부, 및 상기 비교부의 비교결과에 따라, 상기 디스플레이장치의 화질평가 결과를 출력하는 산출부를 포함한다.
또한, 본 발명의 다양한 실시예에 따른 화질평가장치는 상기 측정패턴의 휘도 특성을 필터링하는 필터부를 더 포함한다. 상기 필터부는 BFP(Band Pass Filter)인 것을 특징으로 한다.
상기 비교부는 상기 웨이브 수와 상기 측정패턴의 주기가 일치될 때의 상기 측정패턴의 최대 해상도를 선택하여 출력하며, 상기 평균값산출부는 상기 측정패턴의 휘도 특성이 변경될 때마다 상기 비교부에서 출력되는 상기 최대 해상도를 평균하여, 상기 디스플레이의 화질평가 결과로 출력하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명의 다양한 실시예에 따른 화질평가장치는 상기 측정패턴의 콘트라스트(Contrast) 및 배경 밝기의 조정에 따라 변경되는 상기 측정패턴의 휘도 특성을 검출하는 휘도특성검출부를 더 포함한다.
그리고, 상기 측정패턴의 휘도 특성으로부터 웨이브 변조비를 검출하는 변조비검출부를 더 포함하며, 상기 비교부는 상기 웨이브 수와 상기 측정패턴의 주기가 일치되는지 여부 및 상기 웨이브 변조비를 기 설정된 값과 비교하는 것을 특징으로 한다.
상기 변조비검출부는 상기 상기 측정패턴의 휘도 특성을 필터링하여 웨이브의 변조비는 얻는 것을 특징으로 한다. 즉, 상기 변조비검출부는 상기 측정패턴의 휘도 특성을 BPF(Band Pass Filter)로 필터링하여 얻은 제1파형과 상기 측정패턴의 휘도 특성을 LPF(Low Pass Filter)로 필터링하여 얻은 제2파형을 결합하여 상기 웨이브 변조비를 검출하는 것을 특징으로 한다.
상기 변조비검출부는 상기 휘도 특성을 필터링하여 얻은 웨이브들의 피크 투 피크(Peak to Peak) 비를 상기 웨이브 변조비로 검출하는 것을 특징으로 한다. 즉, 상기 변조비검출부는 상기 제1파형의 상측 포락선(Upper Envelop)을 상기 제2파형과 결합한 제3파형, 및 상기 제1파형의 하측 포락선(Lower Envelop)을 상기 제2파형과 결합한 제4파형 간의 피크 투 피크(Peak to Peak) 비를 상기 웨이브 변조비로 검출하는 것을 특징으로 한다.
상기 비교부는 상기 웨이브 수와 상기 측정패턴의 주기가 일치되고, 상기 MTF가 기 설정된 값 이상일 때의 상기 측정패턴의 최대 해상도를 선택하며, 상기 평균값산출부는 상기 측정패턴의 휘도 특성이 변경될 때마다 상기 비교부로부터 출력되는 상기 최대 해상도를 평균하여, 상기 디스플레이의 화질평가 결과로 출력하는 것을 특징으로 한다.
상기 측정패턴은 1주기 이상의 수직 라인으로 구성되고, 라인 수, 굵기, 및 색 중, 하나 이상이 변경 가능한 패턴인 것을 특징으로 한다.
상기 휘도특성검출부는 상기 디스플레이장치의 전체 화면 혹은 부분 화면을 촬영한 촬영장치로부터 전송되는 영상신호로부터 상기 휘도 특성을 검출하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 따르면, 디스플레이장치에 표시된 측정패턴의 휘도 특성 및 해상도를 조정하면서, 측정패턴의 웨이브 수 및 MTF(Modulation Transfer Function)를 검출하여 기 설정된 값과 비교함으로써, 디스플레이장치의 화질을 손쉽게 평가하고, 화질 평가하는데 있어서 객관성을 확립할 수 있게 된다.
이하에서는 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 일 실시예를 보다 상세하게 설명한다. 다만, 본 발명을 설명함에 있어서, 관련된 공지 기능 혹은 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우, 그에 대한 상세한 설명은 축약하거나 생략한다.
도 1은 본 발명에 따른 화질평가방법을 수행하기 위한 화질평가 시스템을 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 1을 참조하면, 패턴생성기(120)에서 생성된 측정패턴이 디스플레이장치(110)에 전달되어 표시된다. 디스플레이장치(110)에 표시된 측정패턴은 촬영장치(130)를 통해 촬영되고, 촬영된 측정패턴의 영상신호는 화질평가장치(150)에 전송된다. 화질평가장치(150)는 측정패턴의 영상신호를 분석하여, 측정패턴의 휘도 특성을 검출한다. 그리고, 화질평가장치(150)는 휘도 특성으로부터 측정패턴의 웨이브 수 및 웨이브 변조비인 MTF(Modulation Transfer Function)를 검출하여, 디스플레이장치(110)의 화질을 평가한다. 모니터(140)에는 화질평가 과정을 사용자가 확인할 수 있도록 그래프나 수치 등이 표시된다. 여기서, 촬영장치(130)는 디스플레이장치(110)의 전체화면을 촬영할 수도 있으며, 가로 100픽셀 정도의 부분화면을 촬영할 수도 있다.
도 2는 본 발명에 따른 화질평가방법에 사용되는 측정패턴을 예시한 도면이다.
도 2에 나타낸 측정패턴은 패턴생성기(120)에서 생성된 300 TV Line으로, 라인의 그레이 레벨(gray level)은 '0'이고, 배경화면의 그레이 레벨은 '255'이다. 그리고, 도 2에 나타낸 측정패턴은 4주기를 갖는 수직 라인으로 구성되지만, 1주기 이상을 갖는 수직 라인으로 구성될 수도 있다. 또한, 패턴생성기(120)에서는 350, 400, 450, 500, ..., 1000, 1050 TV Line과 같이 수치가 다른 측정패턴을 생성하여, 디스플레이장치(110)에 전달할 수도 있다. 여기서, 수치가 커질수록 디스플레이장치(110)에는 수직 라인의 밀도가 높아져 측정패턴이 촘촘하게 표시된다. 즉, 수치가 커질수록 측정패턴의 해상도가 높아진다.
이상과 같은 여러 가지 측정패턴이 디스플레이장치(110)에 표시되면, 이를 촬영장치(130)를 사용하여 촬영한다. 그리고, 화질평가장치(150)는 촬영된 영상신호로부터 측정패턴의 휘도 특성을 계측하고, 휘도 특성으로부터 웨이브 수 및 MTF를 검출하여 디스플레이장치(110)의 화질을 평가하는데 이용한다. 화질평가장치(150)의 구체적인 동작에 관해서는 도 3 내지 도 4d를 통해 상세하게 후술한다.
도 3은 본 발명에 따른 화질평가장치의 구성을 개략적으로 나타낸 블럭도이다. 그리고, 도 4a 내지 도 4d는 본 발명에 따른 화질평가장치에서 측정패턴의 휘도 특성으로부터 웨이브 수 및 MTF를 검출하는 방법을 설명하기 위한 그래프이다.
도 3을 참조하면, 화질평가장치(150)는 휘도특성검출부(151), 필터부(152), MTF검출부(153), 기준값저장부(154), 비교부(155), 및 평균값산출부(156)를 포함한다.
휘도특성검출부(151)는 촬영장치(130)에서 촬영된 영상신호가 전송되면, 영상신호로부터 측정패턴의 휘도 특성을 검출한다. 휘도특성검출부(151)에서 검출된 휘도 특성은 도 4a에 나타낸 바와 같이 파형으로 나타낼 수 있다. 도 4a에서 가로축은 촬영장치(130)에 구비된 CCD(Charge-Coupled Device)(미도시)의 화소 위치를 나타내며, 세로축은 휘도를 나타낸다.
필터부(152)는 검출된 휘도 특성을 LPF(Low Pass Filter) 및 BPF(Band Pass Filter)로 필터링하여 출력한다. 도 4b에는 휘도 특성을 LPF로 필터링한 결과를 나타내었으며, 도 4c에는 휘도 특성을 BPF로 필터링한 결과를 나타내었다. 휘도 특성을 BPF로 필터링하게 되면, 측정패턴의 웨이브 수를 알 수 있으며, 도 4c를 참조하 면, 측정패턴의 웨이브 수는 4개임을 알 수 있다.
MTF검출부(153)는 필터부(152)에서 필터링한 결과를 이용하여, 측정패턴의 MTF(Modulation Transfer Function)를 검출한다. 즉, MTF검출부(153)는 도 4b에 나타낸 파형과 도 4c에 나타낸 파형의 상측 포락선(Upper Envelop)을 합하여 도 4d에 나타낸 상측 파형을 생성하고, 도 4b에 나타낸 파형과 도 4c에 나타낸 파형의 하측 포락선(Lower Envelop)을 합하여 도 4d에 나타낸 하측 파형을 생성한다. 그리고, 상측 파형과 하측 파형 사이의 피크 투 피크(Peak to Peak) 비를 측정패턴의 MTF로 출력한다.
기준값저장부(154)에는 패턴생성기(120)에서 생성된 측정패턴의 주기가 저장되어 있으며, MTF 기준값이 기 설정되어 저장된다. MTF 기준값은 사람의 눈으로 본 결과에 가장 근접한 수치로 설정되어 저장된다.
비교부(155)는 필터부(152)에서 BPF를 통해 필터링된 결과로부터 검출된 웨이브 수와 기준값저장부(154)에 저장된 측정패턴의 주기를 비교한다. 그리고, 비교부(155)는 MTF검출부(153)에서 검출된 MTF가 기 설정된 MTF 기준값 이상인지를 판단한다. 즉, 패턴생성기(120)를 사용하여 디스플레이장치(110)에 표시되는 측정패턴의 해상도를 조정해 가면서, 각 해상도에서 웨이브 수 및 MTF가 기 설정된 조건을 만족하는지 판단한다. 이러한 비교부(155)의 동작은 표 1을 통해 좀 더 상세하게 알아보기로 한다.
배경밝기 콘트라스트 300 ... 600 650 ... 800 850 900 950 1000 1080
Bright High 0.443[4] ... 0.104[4] 0.085[3] ... 0.025[3] 0.019[2] 0.027[2] 0.032[2] 0.026[1] 0.025[1]
Bright Medium 0.485[4] ... 0.207[4] 0.171[4] ... 0.084[4] 0.057[4] 0.045[3] 0.022[2] 0.030[3] 0.016[2]
Bright Low 0.334[4] ... 0.204[4] 0.084[4] ... 0.123[4] 0.079[4] 0.062[4] 0.033[4] 0.023[3] 0.036[3]
Medium High 0.436[4] ... 0.185[4] 0.089[3] ... 0.039[2] 0.056[4] 0.032[2] 0.038[1] 0.032[1] 0.047[1]
Medium Medium 0.537[4] ... 0.246[4] 0.176[4] ... 0.087[4] 0.067[3] 0.058[3] 0.034[3] 0.022[2] 0.036[2]
Medium Low 0.478[4] ... 0.224[4] 0.195[4] ... 0.113[4] 0.070[4] 0.050[4] 0.039[3] 0.016[3] 0.015[3]
Dark High 0.514[4] ... 0.237[4] 0.104[4] ... 0.033[4] 0.045[3] 0.050[2] 0.047[2] 0.030[1] 0.066[1]
Dark Medium 0.562[4] ... 0.208[4] 0.167[4] ... 0.100[4] 0.078[4] 0.066[4] 0.030[3] 0.025[2] 0.030[3]
Dark Low 0.480[4] ... 0.108[4] 0.161[4] ... 0.079[4] 0.068[4] 0.053[4] 0.028[4] 0.011[3] 0.026[3]
표 1에서, []안의 수치는 웨이브 수를 나타내고, 소수점으로 나타낸 수치는 측정패턴의 MTF를 나타낸다. 배경 밝기 및 콘트라스트는 패턴생성기(120)에서 조정되며, 디스플레이장치(110)에는 배경 밝기 및 콘트라스트가 단계별로 조정된 측정패턴이 전송된다. 그리고, 촬영장치(130)는 디스플레이장치(110)에 표시된 측정패턴을 촬영하여 영상신호를 휘도특성검출부(151)로 전송한다. 결국, 휘도특성검출부(151)는 배경 밝기 및 콘트라스트가 조정된 측정패턴의 휘도 특성을 검출하게 된다. 다시 말해서, 측정패턴의 휘도 특성은 측정패턴의 배경 밝기 및 콘트라스트 조정에 따라 변경된다.
표 1에 예시한 바와 같이, 비교부(155)는 측정패턴의 배경 밝기가 Bright이고, 콘트라스트가 High일 때, 웨이브 수가 측정패턴의 주기인 4와 동일한지를 비교하고, MTF가 기 설정된 값인 0.03이상이 되는지를 비교한다. 같은 방법으로, 비교부(155)는 측정패턴의 배경 밝기가 Bright이고, 콘트라스트가 Medium일 때, 웨이브 수가 측정패턴의 주기인 4와 동한지를 비교하고, MTF가 기 설정된 값인 0.03이상이 되는지를 비교한다. 측정패턴의 배경 밝기가 Bright이고, 콘트라스트가 Low일 때도 비교부(155)는 같은 방법으로 웨이브 수와 MTF를 기 설정된 값과 비교한다.
이상과 같이, 측정패턴의 배경 밝기를 Bright, Medium, 및 Dark로 조정하고, 콘트라스트를 High, Medium, 및 Low로 조정하면서 각각의 경우에 있어서 웨이브 수와 MTF를 기 설정된 값과 비교한다. 이렇게 비교한 결과, 측정패턴의 배경 밝기가 Bright이고, 콘트라스트가 High인 경우, 측정패턴의 해상도가 650이 되는 경우, 웨이브 수가 4가 아니라는 점을 알 수 있다. 측정패턴의 배경 밝기가 Bright이고, 콘트라스트가 High인 경우, 기 설정된 조건을 만족하는 최대 해상도는 600이다. 다른 경우에 대해서도 같은 방법으로 최대 해상도를 선택하여, 표 2와 같은 결과를 얻을 수 있다.
배경 밝기
Bright Medium Dark
콘트라스트 High 600 600 650
Medium 850 800 900
Low 950 900 900
평균값산출부(156)는 측정패턴의 휘도 특성이 변경될 때마다 선택된 최대 해상도를 모두 합한 후, 평균하여 화질평가 결과로 출력한다. 표 2의 예를 들면, 화질평가 결과는 794가 된다.
이상에서는 웨이브 수 및 MTF를 모두 이용하는 경우를 예로 들었으나, 웨이브 수만을 이용하여 화질을 평가하는 것도 가능하다. 즉, 표 1에서 웨이브 수만을 이용하는 경우, 최대 해상도는 표 3과 같이 얻을 수 있으며, 화질평가 결과는 800이 된다.
배경 밝기
Bright Medium Dark
콘트라스트 High 600 600 650
Medium 850 800 900
Low 950 900 950
이상과 같은 화질평가 방법을 이용하여, 디스플레이장치(110)의 화질을 평가할 수 있게 된다.
도 5는 본 발명에 따른 화질평가방법을 설명하기 위한 흐름도이다.
도 5를 참조하면, 먼저, 화질평가장치(150)는 디스플레이장치(110)에 표시된 측정패턴을 촬영한 영상신호로부터 휘도 특성을 검출한다(S200). 그리고, 휘도 특성을 BPF 및 LPF로 필터링한 후(S210), 필터링 결과로부터 웨이브 수 및 MTF를 검출한다(S220). 즉, 휘도 특성을 BPF한 결과 파형으로부터 웨이브 수를 검출하고, 휘도 특성을 BPF한 결과 파형과 휘도 특성을 LPF한 결과 파형을 합한 파형을 이용하여 MTF를 검출한다.
여기서, 웨이브 수 및 MTF가 기 설정된 조건을 만족하는지 판단하여(S230), 기 설정된 조건을 만족하는 경우(S230-Y), 측정패턴의 해상도를 높여서(S240), 단계 S200 내지 S220을 반복한다. 본 화질평가 방법에서는 측정패턴의 해상도를 높여가면서 웨이브 수 및 MTF가 기 설정된 조건을 만족하는지를 판단하는 것으로 예를 들었다.
단계 S230에서, 웨이브 수 및 MTF가 기 설정된 조건을 만족하지 않는 경우(S230-N), 화질평가장치(150)는 현재 디스플레이장치(110)에 표시된 측정패턴의 해상도보다 낮은 해상도를 최대 해상도로 선택한다(S250). 표 1을 참고하여 설명하면, 현재 디스플레이장치(110)에 표시된 측정패턴의 해상도가 650이고, 웨이브 수 및 MTF가 기 설정된 조건을 만족하지 않으면, 650보다 낮은 600을 최대 해상도로 선택한다.
여기서, 측정패턴의 휘도 특성이 변경되면(S260-Y), 단계 S200 내지 S250을 반복하여 수행한다. 그리고, 더 이상 측정패턴의 휘도 특성이 변경되지 않으면(S260-N), 화질평가장치(150)는 측정패턴의 휘도 특성이 변경될 때마다 선택된 최대 해상도를 모두 합한 후, 평균하여 화질평가 결과로 출력한다(S270).
이상과 같은 과정에 의해, 디스플레이장치(110)의 화질을 용이하게 평가할 수 있게 된다.
이상에서는 본 발명의 바람직한 실시 예에 대하여 도시하고 설명하였지만, 본 발명은 상술한 특정의 실시 예에 한정되지 아니하며, 청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 누구든지 다양한 변형 실시 가능한 것은 물론이고, 그와 같은 변경은 청구범위 기재의 범위 내에 있게 된다.
도 1은 본 발명에 따른 화질평가방법을 수행하기 위한 화질평가 시스템을 개략적으로 나타낸 도면,
도 2는 본 발명에 따른 화질평가방법에 사용되는 측정패턴을 예시한 도면,
도 3은 본 발명에 따른 화질평가장치의 구성을 개략적으로 나타낸 블럭도,
도 4a 내지 도 4d는 본 발명에 따른 화질평가장치에서 측정패턴의 휘도 특성으로부터 웨이브 수 및 MTF를 검출하는 방법을 설명하기 위한 그래프, 그리고
도 5는 본 발명에 따른 화질평가방법을 설명하기 위한 흐름도이다.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 *
110 : 디스플레이장치 120 : 패턴생성기
130 : 촬영장치 140 : 모니터
150 : 화질평가장치 151 : 휘도특성검출부
152 : 필터부 153 : MTF검출부
154 : 기준값저장부 155 : 비교부
156 : 평균값산출부

Claims (28)

  1. 디스플레이장치의 화질을 평가하는 화질평가장치의 화질평가방법에 있어서,
    상기 디스플레이장치에 표시된 측정패턴의 휘도 특성으로부터 웨이브 수를 검출하는 단계; 및
    상기 웨이브 수와 상기 측정패턴의 주기가 일치되는지 여부를 통해, 상기 디스플레이장치의 화질을 평가하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 화질평가방법.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 웨이브 수는 상기 측정패턴의 휘도 특성을 필터링하여 얻는 것을 특징으로 하는 화질평가방법.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 웨이브 수는 상기 측정패턴의 휘도 특성을 BFP(Band Pass Filter)로 필터링하여 얻는 것을 특징으로 하는 화질평가방법.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 화질을 평가하는 단계는,
    상기 측정패턴의 휘도 특성이 변경되는 단계;
    상기 휘도 특성이 변경될 때마다, 상기 웨이브 수와 상기 측정패턴의 주기가 일치될 때의 상기 측정패턴의 최대 해상도를 선택하는 단계; 및
    상기 최대 해상도를 평균하여 상기 디스플레이의 화질평가 결과로 출력하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 화질평가방법.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 휘도 특성이 변경되는 단계는,
    상기 측정패턴의 콘트라스트(Contrast) 및 상기 측정패턴의 배경 밝기가 조정되는 단계인 것을 특징으로 하는 화질평가방법.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 측정패턴의 휘도 특성으로부터 웨이브의 변조비를 검출하는 단계;를 더 포함하며,
    상기 화질을 평가하는 단계는,
    상기 웨이브 수와 상기 측정패턴의 주기가 일치되는지 여부 및 상기 웨이브의 변조비를 기 설정된 값과 비교한 결과를 이용하여, 상기 디스플레이장치의 화질을 평가하는 것을 특징으로 하는 화질평가방법.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 웨이브의 변조비는 상기 측정패턴의 휘도 특성을 필터링하여 얻는 것을 특징으로 하는 화질평가방법.
  8. 제7항에 있어서,
    상기 웨이브의 변조비는 상기 측정 패턴의 휘도 특성을 BPF(Band Pass Filter)로 필터링하여 얻은 제1파형과 상기 측정패턴의 휘도 특성을 LPF(Low Pass Filter)로 필터링하여 얻은 제2파형을 결합하여 검출되는 것을 특징으로 하는 화질평가방법.
  9. 제7항에 있어서,
    상기 웨이브 변조비는 상기 휘도 특성을 필터링하여 얻은 웨이브들의 피크 투 피크(Peak to Peak) 비인 것을 특징으로 하는 화질평가방법.
  10. 제8항에 있어서,
    상기 웨이브 변조비는 상기 제1파형의 상측 포락선(Upper Envelop)을 상기 제2파형과 결합한 제3파형, 및 상기 제1파형의 하측 포락선(Upper Envelop)을 상기 제2파형과 결합한 제4파형 간의 피크 투 피크(Peak to Peak) 비인 것을 특징으로 하는 화질평가방법.
  11. 제6항에 있어서,
    상기 화질을 평가하는 단계는,
    상기 측정패턴의 휘도 특성이 변경되는 단계;
    상기 휘도 특성이 변경될 때마다, 상기 웨이브 수와 상기 측정패턴의 주기가 일치되고, 상기 웨이브 변조비가 기 설정된 값 이상일 때의 상기 측정패턴의 최대 해상도를 추출하는 단계; 및
    상기 최대 해상도를 평균하여 상기 디스플레이의 화질평가 결과로 출력하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 화질평가방법.
  12. 제1항에 있어서,
    상기 측정패턴은 1주기 이상의 수직 라인으로 구성된 것을 특징으로 하는 화질평가방법.
  13. 제1항에 있어서,
    상기 측정패턴은 라인 수, 굵기, 및 색 중, 하나 이상이 변경 가능한 패턴인 것을 특징으로 하는 화질평가방법.
  14. 제1항에 있어서,
    디스플레이장치에 표시된 측정패턴의 휘도 특성은 상기 디스플레이장치의 전체 화면 혹은 부분 화면을 촬영한 영상신호로부터 검출되는 것을 특징으로 하는 화질평가방법.
  15. 디스플레이장치에 표시된 측정패턴의 휘도 특성으로부터 웨이브 수를 검출하여, 상기 측정패턴의 주기와 비교하는 비교부; 및
    상기 비교부의 비교결과에 따라, 상기 디스플레이장치의 화질평가 결과를 출력하는 산출부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 화질평가장치.
  16. 제12항에 있어서,
    상기 측정패턴의 휘도 특성을 필터링하는 필터부;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 화질평가장치.
  17. 제16항에 있어서,
    상기 필터부는 BFP(Band Pass Filter)인 것을 특징으로 하는 화질평가장치.
  18. 제15항에 있어서,
    상기 비교부는,
    상기 웨이브 수와 상기 측정패턴의 주기가 일치될 때의 상기 측정패턴의 최대 해상도를 선택하여 출력하며,
    상기 평균값산출부는,
    상기 측정패턴의 휘도 특성이 변경될 때마다 상기 비교부에서 출력되는 상기 최대 해상도를 평균하여, 상기 디스플레이의 화질평가 결과로 출력하는 것을 특징으로 하는 화질평가장치.
  19. 제18항에 있어서,
    상기 측정패턴의 콘트라스트(Contrast) 및 배경 밝기의 조정에 따라 변경되는 상기 측정패턴의 휘도 특성을 검출하는 휘도특성검출부;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 화질평가장치.
  20. 제15항에 있어서,
    상기 측정패턴의 휘도 특성으로부터 웨이브 변조비를 검출하는 변조비검출부;를 더 포함하며,
    상기 비교부는,
    상기 웨이브 수와 상기 측정패턴의 주기가 일치되는지 여부 및 상기 웨이브 변조비를 기 설정된 값과 비교하는 것을 특징으로 하는 화질평가장치.
  21. 제16항에 있어서,
    상기 변조비검출부는,
    상기 상기 측정패턴의 휘도 특성을 필터링하여 웨이브의 변조비는 얻는 것을 특징으로 하는 화질평가장치.
  22. 제21항에 있어서,
    상기 변조비검출부는,
    상기 측정패턴의 휘도 특성을 BPF(Band Pass Filter)로 필터링하여 얻은 제1파형과 상기 측정패턴의 휘도 특성을 LPF(Low Pass Filter)로 필터링하여 얻은 제2파형을 결합하여 상기 웨이브 변조비를 검출하는 것을 특징으로 하는 화질평가장치.
  23. 제21항에 있어서,
    상기 변조비검출부는,
    상기 휘도 특성을 필터링하여 얻은 웨이브들의 피크 투 피크(Peak to Peak) 비를 상기 웨이브 변조비로 검출하는 것을 특징으로 하는 화질평가장치.
  24. 제23항에 있어서,
    상기 변조비검출부는,
    상기 제1파형의 상측 포락선(Upper Envelop)을 상기 제2파형과 결합한 제3파형, 및 상기 제1파형의 하측 포락선(Lower Envelop)을 상기 제2파형과 결합한 제4파형 간의 피크 투 피크(Peak to Peak) 비를 상기 웨이브 변조비로 검출하는 것을 특징으로 하는 화질평가장치.
  25. 제20항에 있어서,
    상기 비교부는,
    상기 웨이브 수와 상기 측정패턴의 주기가 일치되고, 상기 웨이브 변조비가 기 설정된 값 이상일 때의 상기 측정패턴의 최대 해상도를 선택하며,
    상기 평균값산출부는,
    상기 측정패턴의 휘도 특성이 변경될 때마다 상기 비교부로부터 출력되는 상기 최대 해상도를 평균하여, 상기 디스플레이의 화질평가 결과로 출력하는 것을 특징으로 하는 화질평가장치.
  26. 제15항에 있어서,
    상기 측정패턴은 1주기 이상의 수직 라인으로 구성된 것을 특징으로 하는 화질평가장치.
  27. 제15항에 있어서,
    상기 측정패턴은 라인 수, 굵기, 및 색 중, 하나 이상이 변경 가능한 패턴인 것을 특징으로 하는 화질평가장치.
  28. 제15항에 있어서,
    상기 휘도특성검출부는,
    상기 디스플레이장치의 전체 화면 혹은 부분 화면을 촬영한 촬영장치로부터 전송되는 영상신호로부터 상기 휘도 특성을 검출하는 것을 특징으로 하는 화질평가장치.
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