KR20090132945A - 시정계에서의 오염도 모니터링 방법 및 이를 구현하는시정계 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 36
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 title claims abstract description 17
- 238000011109 contamination Methods 0.000 title description 7
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 13
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 16
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 9
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 abstract description 3
- 239000000356 contaminant Substances 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 1
- 239000003595 mist Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
- 201000008827 tuberculosis Diseases 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Chemical compound O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
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- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
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- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
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- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/49—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid
- G01N21/51—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid inside a container, e.g. in an ampoule
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/94—Investigating contamination, e.g. dust
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Abstract
Description
Claims (16)
- 렌즈를 통해 빛을 방출하고, 렌즈 표면의 이물질에 의해 산란되는 산란광을 측정하기 위한 제1 포토 디텍터를 구비하는 발광기;상기 발광기에서 나온 빛을 수광하는 수광기;상기 발광기에서 발광된 빛의 양과 수광기에서 수광된 빛의 양을 측정하여 시정거리를 산출하고, 상기 발광기의 제1 포토 디텍터에서 측정된 산란광을 이용하여 렌즈 표면의 이물질 존재 여부를 모니터링하여 발광기에 인가되는 전류를 조절하는 컨트롤러를 포함하는 시정계.
- 제1항에 있어서, 상기 발광기는렌즈;상기 렌즈를 통해 적외선을 발광시키기 위한 적외선 LED;상기 제1 포토 디텍터의 전기적 신호를 증폭시키기 위한 제1 앰프;상기 제1 앰프에서 나온 아날로그 신호를 디지털 신호로 변환시키기 위한 제1 ADC(Analog to Digital Converter);적외선 LED에 인가되는 전류를 조절하기 위한 전류조절부를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 시정계.
- 제2항에 있어서, 상기 수광기는상기 발광기에서 방출된 적외선을 수광하기 위한 제2 포토 디텍터;상기 제2 포토 디텍터의 전기적 신호를 증폭시키기 위한 제2 앰프;상기 제2 앰프에서 나온 아날로그 신호를 디지털 신호로 변환시키기 위한 제2 ADC를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 시정계.
- 제3항에 있어서, 상기 컨트롤러는전원을 공급하기 위한 전원부;시정계의 전반적인 제어를 하며, 상기 발광기에서 발광된 빛의 양과 수광기에서 수광된 빛의 양을 측정하여 시정거리를 산출하고, 상기 발광기의 제1 포토 디텍터에서 측정된 산란광을 이용하여 렌즈 표면의 이물질 존재 여부를 모니터링하여 적외선 LED에 인가되는 전류를 조절하도록 전류조절부를 제어하는 제어부;외부 장치와 통신하기 위한 통신 인터페이스부를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 시정계.
- 제4항에 있어서,상기 제어부는 발광기에서 측정된 산란광을 이용하여 렌즈 표면에 이물질이 존재하는지 여부를 확인하고, 렌즈 표면에 이물질이 존재하면 산란광 수치에 따라 적외선 LED에 인가되는 전류를 조절하도록 상기 전류조절부를 제어하는 것을 특징 으로 하는 시정계.
- 제5항에 있어서,상기 제어부는 렌즈 표면에 이물질이 존재하면 산란광 수치가 클수록 적외선 LED에 인가되는 전류가 많아지도록 상기 전류조절부를 제어하는 것을 특징으로 하는 시정계.
- 제4항에 있어서,상기 제어부는 발광기에서 측정된 산란광을 이용하여 렌즈 표면에 이물질이 존재하는지 여부를 확인하고, 렌즈 표면에 이물질이 존재하면 산란광 수치에 따라 수광기에 수광된 적외선 수치를 보상하는 것을 특징으로 하는 시정계.
- 제7항에 있어서,상기 제어부는 렌즈 표면에 이물질이 존재하면 산란광 수치에 비례하는 보상 수치를 산출하고, 산출된 보상 수치를 수광기에서 수광된 적외선 수치에 보상하는 것을 특징으로 하는 시정계.
- 제4항 내지 제8항 중 어느 한 항에 있어서,상기 발광기는 렌즈 표면을 촬영하기 위한 카메라를 더 포함하고,상기 제어부는 발광기에서 측정된 산란광을 미리 정해진 기준치와 비교하여 산란광 수치가 기준치를 초과하면 카메라를 구동하여 렌즈 표면을 촬영하도록 제어하는 것을 특징으로 하는 시정계.
- 적외선을 발광하는 발광기, 출력된 적외선을 수광하는 수광기, 발광기에서 발광된 빛의 양과 수광기에서 수광된 빛의 양을 측정하여 시정거리를 산출하는 컨트롤러를 포함하는 시정계에서,발광기에서 적외선을 출력하는 단계;발광기의 렌즈 표면의 이물질에 의해 산란되는 적외선인 산란광을 측정하는 단계;산란광 수치를 이용하여 렌즈 표면에 이물질이 존재하는지 여부를 확인하는 단계;렌즈 표면에 이물질이 존재하면 상기 산란광 수치에 따라 적외선 출력을 조절하는 출력 조절 단계를 포함하는 시정계에서의 오염도 모니터링 방법.
- 제10항에 있어서, 상기 출력 조절 단계 후에상기 산란광 수치와 기준치를 비교하는 기준치 비교 단계;상기 산란광 수치가 기준치를 초과하면 렌즈표면을 촬영하도록 카메라를 구동시키는 카메라 구동 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 시정계에서의 오염도 모니터링 방법.
- 제10항 또는 제11항에 있어서,상기 출력 조절 단계는 측정된 산란광의 수치가 클수록 적외선이 많이 출력되도록 적외선 출력을 조절하는 것을 특징으로 하는 시정계에서의 오염도 모니터링 방법.
- 제11항에 있어서, 상기 카메라 구동 단계 후에촬영된 영상 데이터를 저장하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 시정계에서의 오염도 모니터링 방법.
- 제11항에 있어서, 상기 카메라 구동 단계 후에촬영된 영상 데이터를 외부 장치에 전송하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 시정계에서의 오염도 모니터링 방법.
- 적외선을 발광하는 발광기, 출력된 적외선을 수광하는 수광기, 발광기에서 발광된 빛의 양과 수광기에서 수광된 빛의 양을 측정하여 시정거리를 산출하는 컨트롤러를 포함하는 시정계에서,발광기에서 적외선을 출력하는 단계;발광기의 렌즈 표면의 이물질에 의해 산란되는 적외선인 산란광을 측정하는 단계;산란광 수치를 이용하여 렌즈 표면에 이물질이 존재하는지 여부를 확인하는 단계;렌즈 표면에 이물질이 존재하면 상기 산란광 수치를 이용하여 수광기에서 수광한 적외선 수치를 보상하는 수치 보상 단계를 포함하는 시정계에서의 오염도 모니터링 방법.
- 제15항에 있어서,상기 수치 보상 단계는 상기 산란광 수치에 비례하는 보상 수치를 산출하고, 산출된 보상 수치를 수광기에서 수광한 적외선 수치에 보상하는 것을 특징으로 하는 시정계에서의 오염도 모니터링 방법.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020080059156A KR100961533B1 (ko) | 2008-06-23 | 2008-06-23 | 시정계에서의 오염도 모니터링 방법 및 이를 구현하는시정계 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020080059156A KR100961533B1 (ko) | 2008-06-23 | 2008-06-23 | 시정계에서의 오염도 모니터링 방법 및 이를 구현하는시정계 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20090132945A true KR20090132945A (ko) | 2009-12-31 |
KR100961533B1 KR100961533B1 (ko) | 2010-06-07 |
Family
ID=41691866
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020080059156A KR100961533B1 (ko) | 2008-06-23 | 2008-06-23 | 시정계에서의 오염도 모니터링 방법 및 이를 구현하는시정계 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100961533B1 (ko) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101311312B1 (ko) * | 2011-12-30 | 2013-10-14 | (주)이엔쓰리 환경 | 이종광원융합형 시정 현천 측정장치 |
CN109187437A (zh) * | 2018-09-11 | 2019-01-11 | 安徽省大气探测技术保障中心 | 前向散射能见度仪线性度检测装置 |
CN112345497A (zh) * | 2020-11-24 | 2021-02-09 | 河南省计量科学研究院 | 大气能见度仪校准系统及其校准方法 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101525488B1 (ko) * | 2014-01-10 | 2015-06-03 | 한국표준과학연구원 | 대면적 광원을 이용한 시정거리 측정 장치 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6369386B1 (en) | 1999-03-10 | 2002-04-09 | Melexis Nv | IR sensor with reflective calibration |
-
2008
- 2008-06-23 KR KR1020080059156A patent/KR100961533B1/ko active IP Right Grant
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101311312B1 (ko) * | 2011-12-30 | 2013-10-14 | (주)이엔쓰리 환경 | 이종광원융합형 시정 현천 측정장치 |
CN109187437A (zh) * | 2018-09-11 | 2019-01-11 | 安徽省大气探测技术保障中心 | 前向散射能见度仪线性度检测装置 |
CN109187437B (zh) * | 2018-09-11 | 2023-12-22 | 安徽省大气探测技术保障中心 | 前向散射能见度仪线性度检测装置 |
CN112345497A (zh) * | 2020-11-24 | 2021-02-09 | 河南省计量科学研究院 | 大气能见度仪校准系统及其校准方法 |
CN112345497B (zh) * | 2020-11-24 | 2024-03-15 | 河南省计量测试科学研究院 | 大气能见度仪校准系统及其校准方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100961533B1 (ko) | 2010-06-07 |
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A201 | Request for examination | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
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FPAY | Annual fee payment |
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|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140523 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20150520 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160427 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170508 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180502 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
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