KR20090126285A

KR20090126285A - 광원

Info

Publication number: KR20090126285A
Application number: KR1020097020545A
Authority: KR
Inventors: 켈리 스톡윌; 에드워드 키글; 낸시 엠 브라운; 제프리 에스 코걸; 크리스토퍼 씨 콜터
Original assignee: 크로마 테크놀러지 코포레이션
Priority date: 2007-03-20
Filing date: 2008-03-20
Publication date: 2009-12-08
Also published as: WO2008116070A3; CA2681512A1; WO2008116070A2; JP2010530075A; EP2135128A2; US20090040763A1; CN101681016A

Abstract

광발생기-벌브, 아크, 필라멘트와 같은-의 수명 동안 시료에 대하여 상대적으로 일정한 광속(루멘)를 제공하는 형광 현미경검사용 광원에 대한 것이다. 또 다른 측면에서, 본 발명은 적절한 필요 여기 파장(required excitation wavelengths)의 광을 전송하면서도 상기 광발생기로부터 광학부재로의 열전송을 감소시키도록 구성된 형광 현미경검사용 광원을 제공한다.

Description

광원 {LIGHT SOURCE}

본 발명은 형광 현미경검사용 광원에 대한 것이다.

형광 현미경 검사는 반사와 흡수 대신에, 또는 반사와 흡수에 더하여 형광 현상 또는 인광 현상을 이용하는 유기물 또는 무기물에 대한 미시적 특성에 대한 연구이다.

대부분의 경우, 물질에 있어서의 관심이 있는 구성요소는 특히 형광체(fluorophore)(다양한 종류 중에서도 Texas Red, FURA, 녹색 형광 단백질 등과 같은 것)라고 불리는 형광 분자(fluorescent molecule)로 분류된다. 시료는 일반적으로 형광체(fluorophore)에 의하여 흡수되는 여기 파장(excitation wavelength)이라고 불리는 특정한 파장(들)의 광으로 조명된다.

특정한 형광체에 대하여 특정한 여기 파장은 형광체로 하여금 그 여기 파장과는 다른 파장을 가지는 빛(형광)을 방사하도록 만든다.

전형적인 와이드 필드 형광 현미경(wide field fluorescence microscopes)은 넓은 스펙트럼을 가지는 고광도의 광-자외선과 가시광선에서부터 적외선에 이르는 파장범위-을 제공하는 광원을 포함한다.

전형적인 광원은 제논(Xenon) 램프 또는 수은 아크 방전(Mercury arc- discharge) 램프와 같은 램프를 포함한다. 광원의 스펙트럼 범위는 여기 필터(excitation filter), 다이크로익 미러(dichroic mirror)(또는 다이크로익 빔스필리터), 이미션 필터(emission filter)로 제어될 수 있다.

필터와 다이크로익 미러는 여기 스펙트럼(spectral excitation)과 시료를 분류하기 위하여 사용되는 형광체의 방사 특성(emission characteristics)을 매칭시키기 위하여 선택된다.

특정한 용도에 따라, 차단제(blockers), 편광판(polarizers), 대역통과필터(bandpass filters), 중성밀도필터(neutral density filters) 등과 같은 다른 필터를 포함할 수 있다.

입수가능한 형광체의 범위와 타입 뿐만이 아니라 형광 현미경검사의 적용분야가 빠르게 확장되고 계속적으로 변하고 있으며, 형광 현미경검사 분야에서 발전 속도를 맞추기 위하여 광원을 포함해서 현미경, 필터 및 기타 장치에 대한 설계자가 요구되고 있다. (참고: Handbook of Optical Filters for Fluorescence Microscopy, HB 1.1., June 2000, www.chroma.com)

형광 현미경검사의 응용에 있어서, 시료를 비추기 위한 고광도의 입력 조명이 더욱더 요구된다. 그러한 더 높은 수준의 조명은 더 강한 출력을 가진 광원을 필요로 하며, 이에 상응하여 더 많은 열과 빛을 발산하게 된다.

형광 현미경검사를 위한 광원은 편리하게도 현미경, 시료, 특수용도의 광학필터와 별도의 장치로 제공될 수 있다. 또한, 광원은 광원과 현미경을 연결하는 광가이드(light guide)에 의하여 현미경과 시료로부터 소정 거리를 두고 마련될 수 있다.

또한, 광원은 램프나 광가이드와 같이 열에 민감한 광원의 구성요소의 온도를 제어하기 위한 팬, 배플 그리고 플로우 조절장치(flow adjusters)을 포함할 수 있다.

광학기구는 핫 미러(hot mirror)를 포함할 수 있으며, 이것은 열을 광원으로 다시 반사시킴으로써 광학시스템을 보호하기 위하여 흔히 적용되는 특수한 유전체미러(dielectric mirror) 또는 이색간섭필터(dichromatic interference filter)이다.

핫 미러는 0도에서 45도 범위에서 변화하는 입사각을 가지도록 광학시스템 내부에 삽입되도록 설계될 수 있으며, 열축적(heat build-up)이 구성요소에 손상을 입힐 수 있거나 광원의 스펙트럼 특성에 대해 불리한 영향을 미칠 수 있는 다양한 애플리케이션에 있어서 유용하다.

전형적인 적외선 핫 미러에 의하여 반사된 빛의 파장은 약 750nm에서 1250nm 사이에 분포한다. 적외선 파장은 반사하는 반면에, 가시광선 영역과 그 이하 영역에서 여기파장을 전송함에 의하여, 핫 미러는 형광 현미경검사에 있어서의 특수한 응용을 위한 이색 빔 스플리터(dichromatic beam splitters)로서 사용될 수 있다.

본 발명의 일측면에 있어서, 고광도(high intensity) 램프, 광학출력기(optical output), 램프와 광학출력기 사이에 위치하는 미러를 포함하는 형광 현미경에 사용하기 위한 광원이다. 고광도 램프는 기존 메탈 할라이드 광원보다 우수한 광출력을 제공하며 기존 수은 램프와 자외선 범위에서 동일한 광출력을 제공한다.

미러는 램프로부터의 광을 수광하도록 마련되며, 320nm이하의 파장과 680nm이상의 파장 범위의 광이 광학출력기측으로 전송되는 것을 막으면서 동시에 320nm에서 680nm까지 범위의 파장을 가지는 광을 광학출력기측으로 상당량 전송한다.

본 발명의 또다른 측면에 있어서, 광원은 램프, 상기 램프를 위한 전원, 광학출력기, 상기 램프의 운용을 함수로 하여 상기 램프에 공급되는 동력(전력)의 량을 변화시키는 컨트롤러를 포함한다. 이러한 측면에 대한 실시예들은 다음에 기술하는 특징을 하나 또는 그 이상 포함할 수 있다.

미러는 340나노미터에서 85% 이상 전송하며, 320nm에서 680nm까지 범위에서 90% 이상 전송하며, 약 800나노미터 이상의 파장범위에서 광학출력기로의 광전송을 방지한다.

미러는 가급적으로 파이렉스 기판(Pyrex substrate)에서 스퍼터링 프로세스에 의하여 제조되는 다층유전체 코팅(multi-layer dielectric coatings)을 포함한다. 미러는 0도에서 대략45도(예를 들어, 10도) 범위의 입사각을 가지도록 마련된다.

광원은 상기 입사각을 가지도록 상기 미러를 위치시키기 위한 앵글 마운팅 브래킷(angle mounting bracket)을 포함한다. 미러는 램프와 액상 광가이드(liquid light guide) 가운데에 위치한다.

미러는 램프에 의하여 생산되거나 발생된 열에너지를 반사하도록 마련된다. 광원은 하나 또는 그 이상의 플로우 조절장치(flow adjusters), 중성밀도필터(neutral density filters) 또는 스크린, 셔터(shutters) 그리고 램프와 광학출력기 사이에 위치하는 히트 싱크(heat sinks)를 더 포함할 수 있다.

본 발명의 효과중의 하나로서, 형광 현미경검사를 위한 광원은 벌브(bulb), 아크(arc), 또는 필라멘트(filament) 등과 같은 광발생기의 수명이 유지되는 동안 시료에 대하여 고광도이면서도 상대적으로 일정한 광속(루멘)을 제공한다.

고광도 광출력과 요구되는 여기 파장의 광전송을 제공하면서도, 광원은 광발생기로부터 광학 부재로의 열관류(heat transmission)를 감소시킨다.

도 1은 현미경용 광원에 대한 블록 다이어그램이다.

도 2는 도 1의 광원을 도시한 것이다.

도 3은 현미경용 광원의 다른 실시예에 대한 블록 다이어그램이다.

도 4는 도 3의 광원의 일부분을 도시한 것이다.

도 5는 도 3의 광원과 함께 사용되는 핫 미러의 전송특성을 도시한 것이다.

도 1에 대하여, 광원(100)은 광을 형광 현미경(102)으로 제공한다. 광원(100)은 200와트 램프(104), 예를 들어 우시오 아메리카(USHIO AMERICA, INC., Cypress, CA)의 모델 SMR-200/D1을 포함한다. 램프(104)는 메탈 할라이드 램프일 수 있다.

램프(104)는 액상 광가이드(108)(liquid light guide)(예를 들어, 루만 텍(Lumatec, Deisenhofen, Germany)의 5mm 코어 직경을 가지는 1미터 길이 광가이드)를 통하여 현미경(102)으로 연결된 광학 출력 인터페이스(106)로의 조명(illumination)을 제공한다. 광원(100)은 또한 램프에 대한 동력(전력)을 제공하는 전원(110)을 포함한다.

일 실시예에 있어서, 램프(104)의 특성이 시간경과에 따라 변화됨에 따라, 광학 출력 인터페이스(106)로 제공되는 광량(광속)(루멘 차원)은 실질적으로 일정하도록 동력 수준(파워 레벨)이 변화되도록 전원(110)에 의하여 제공된 동력 수준이 제어된다. 예를 들어, 램프(104)로부터 방출된 광량은 시간경과에 따라 꾸준하게 감소할 수 있다.

램프 광도의 감소가 상대적으로 동일 모델의 램프들에 있어서 반복될 수 있기 때문에, 특정 모델의 램프는 시간함수에 대한 감쇄특성이 테스트될 수 있다. 램프(104)로부터의 동일 광량을 유지하기 위하여 램프로 제공되는 전력은 시간경과에 따라 증가된다. 그래서, 램프(104)로부터의 광강도의 수준은 상대적으로 램프의 운용수명 동안 일정하다.

나아가, 램프의 운용수명이 연장된다. 전원(110)에 의하여 램프(104)로 제공되는 전력량의 증가는 컨트롤러(112)를 이용하여 제어된다. 컨트롤러(112)는 램프(104)가 운용중이었던 시간의 양을 추적하는 메모리(114)를 포함한다. 또한, 메모리(114)는 램프(104)가 운용중이었던 시간의 양과 파워 레벨을 연관시키는 데이터를 저장한다.

예를 들어, 일 실시예에 있어서 시간경과에 따른 램프출력의 감쇄에 대한 실 험적(경험적)으로 수집된 데이터에 기초한 동일한 타임 인터벌 동안의 램프출력의 감소에 상응하는 모든 타임 인터벌에서 파워 레벨이 약 2 와트 증가할 수 있다.

일 실시예에 있어서, 데이터는 일련의 지속시간과 대응되는 파워 레벨에 대한 테이블(116)에 저장된다. 테이블(116)의 값은 램프(104)의 각 모델에 대한 실험적(경험적)으로 수집된 데이터를 통하여 도출된다.

다른 실시예에 있어서, 램프(104)로부터의 광강도의 레벨은 조정되지 않는다. 컨트롤러(112)에는 멀티플 모드에서 작동가능한 유저 인터페이스(300)가 마련된다. 유저 인터페이스(300)는 메뉴스크린과 운용 파라미터(operational parameter)의 상태에 대한 메시지를 표시하도록 액정표시장치와 같은 디스플레이를 포함한다.

또한, 유저 인터페이스(300)는 사용자가 운용 파라미터를 입력하거나 변경하거나 운용모드를 전환하기 위하여 누를 수 있는 스위치를 포함한다. 제1 작동모드에서는, 유저 인터페이스(300)는 램프(104)가 운용중이었던 시간의 양과 같은 광원(100)의 운용상태를 디스플레이한다.

다른 작동모드에서는, 사용자는 유저 인터페이스의 운용 설정을 변경할 수 있다. 예를 들어, 사용자는 알람의 볼륨이나 디스플레이의 콘트라스트 또는 백라이트의 밝기를 변경할 수 있다. 다른 모드에서는, 유저 인터페이스(300)는 진단모드(diagnostic mode)에서 운용될 수 있다.

도 2와 관련하여, 광원(100)은 램프(104)가 한 쌍의 플로우 조절장치(118a, 118b)를 통하여 광학 출력 인터페이스(106)에 광학적으로 연결됨을 보여준다. 각각 의 플로우 조절장치(118a, 118b)는 그것의 경로 말단에 램프 마운트(120)를 가진다.

플로우 조절장치(118a, 118b)는 특정한 운용범위에서 램프의 애노드와 캐소드 사이의 온도를 유지하도록 위치가 정해지도록 마련된다. 램프(104)에 가장 가까이 위치한 플로우 조절장치(118a)는 램프(104)의 온도를 제어하는 팬(122)을 포함한다.

또한, 광원(100)은 조절장치로서 작동하는 밸러스트(124)를 포함한다. 밸러스트(124)는 램프(104)를 위하여 전력을 소모하고, 변환하며, 전력을 제어하고, 램프(104)를 시동 및 운용하는데 필요한 회로조건을 제공한다.

광원(100)은 램프(104)와 밸러스트(124) 각각의 온도를 모니터하는 램프 열센서와 밸러스트 열센서(미도시), 그리고 램프(104)를 보호하는 램프 인터락(lamp interlocks)을 더 포함한다.

광원(100)은 하우징의 프론트 패널(130)에 마련된 온/오프 스위치(128)와 하우징의 리어 패널(134)에 마련된 AC 리셉터클(132)을 포함하는 하우징(126) 내측에 위치한다.

또한, 광원(100)은 AC전원이 공급되지 않을 때(예를 들어, 광원이 꺼진 경우) 저전력 모드에서 광원이 작동하도록 전력을 제공하는 배터리(미도시)를 가진다. 배터리는 리튬-이온 배터리일 수 있다.

광원(100)은 램프(104)가 전원(110)과 단절되었을 때를 감지하는 램프센서를 포함한다. 램프 센서는 광원(100)이 켜지거나 꺼진 경우에도 램프(104)의 현상황을 계속적으로 모니터하도록 마련된다.

램프 센서는 램프(104)의 연결이 끊어졌다는 것을 감지한 경우, 램프 변화 상태(lamp change status)가 메모리(114)에 세팅된다. 램프 변화 상태는 설사 새로운 램프(104)가 그 다음에 연결된 경우에도 세팅된 상태로 유지된다.

광원(100)은 다음에 켜지면, 사용자에게 새로운 램프(104)가 연결되었음의 확인을 구하는 메시지가 유저 인터페이스(300)의 디스플레이에 디스플레이된다. 사용자가 확인하면, 컨트롤러(112)는 상기 램프 변화 상태와 램프(104)가 운용중이었던 시간의 양을 메모리(114)에 리셋한다.

사용자가 일정한 시간, 예를 들어 2분 내에 응답하지 않으면, 컨트롤러(112)는 새로운 램프(104)가 연결되었다고 판단할 수 있으며 사용자가 응답한 것과 마찬가지로 액션을 취할 수 있다.

사용자가 램프가 새로운 램프가 아니라고 응답하면, 램프(104)가 운용중이었던 시간의 양은 리셋되지 않으며, 램프 변화 상태가 메모리(114)에 리셋된다. 유저 인터페이스(300)는 경고조건이나 에러조건이 각각 발생한 경우에 경고나 에러 메시지를 디스플레이에 표시한다.

광원(100)이 운용중인 동안에 경고나 에러 조건은 탐지된다. 또한, 컨트롤러(112)는 경고나 에러 조건의 존재여부를 확인하기 위하여 최초로 켜질 때 분석 테스트를 수행한다.

경고조건은 예를 들어: 램프 인터락의 고장; 램프 변화 상태가 세팅되었을 때; 램프(104)의 운용중이었던 시간의 양이 제1사전설정 한계(first preset limit) 에 접근할 때, 예를 들어 램프의 운용중이었던 시간의 양이 1750시간을 초과할 때; 램프(104)에 의하여 발산된 광량이 제2사전설정 한계(second preset limit)에 접근할 때; 램프(104)의 온도가 제1기선택(first preselected)램프온도를 초과할 때, 예를 들어 램프의 온도가 90℃를 초과할 때; 밸러스트(124)의 온도가 제1기선택 밸러스트 온도를 초과할 때, 예를 들어 밸러스트의 온도가 55℃를 초과할 때; 또는 하우징(126)이 개방상태일 때;를 포함할 수 있다.

에러 조건은, 예를 들어: 전원(110)의 고장; 배터리의 저전압; 램프(104)가 연결해제 상태일 때; 밸러스트(124)가 연결해제 상태일 때; 램프(104)의 운용중이었던 시간의 양이 제1사전설정 한계를 초과할 때, 예를 들어 램프의 운용중이었던 시간의 양이 2000시간을 초과할 때; 램프(104)에 의하여 발산된 광량이 제2사전설정 한계를 초과할 때; 램프(104)의 온도가 제2기선택램프 온도를 초과할 때, 예를 들어 램프의 온도가 100℃를 초과할 때; 또는 밸러스트(124)의 온도가 제2기선택밸러스트 온도를 초과할 때, 예를 들어 밸러스트의 온도가 70℃를 초과할 때;를 포함할 수 있다.

에러 조건이 탐지되면, 램프의 파열 방지를 위하여 램프(104) 및/또는 밸러스트(124)를 차단할 수 있다. 램프 열센서, 밸러스트 열센서 또는 램프센서중의 어느 하나가 파손되거나 연결해제되는 경우에는 램프(104) 및/또는 밸러스트(124)를 안전을 위해서 불능화시킬 수 있다.

유저 인터페이스(300)는 여기서 언급되지 않은 다른 조건에 대한 에러 또는 경고 메시지를 디스플레이하도록 마련될 수 있다.

유저 인터페이스(300)는 청각적 알람(alarm)을 포함할 수 있다. 알람은 예를 들어, 스위치가 눌려지거나 경고 또는 에러 조건이 존재하는 경우를 알리도록 사용될 수 있다.

알람은 특정한 상황에 상응하는 소리를 발산할 수 있다. 예를 들어, 스위치가 눌려지면 알람은 낮은 볼륨으로 100밀리세컨드의 비프(beep)를 발산한다.

경고를 위하여, 알람은 예를 들어 200밀리세컨드 간격으로 100밀리세컨드의 3회의 비프의 경고 시퀀스를 발산한다. 이러한 경고 시퀀스는 30초 간격으로 반복될 수 있다.

에러에 대하여, 알람은 예를 들어 50밀리세컨드의 간격으로 50밀리세컨드의 5회의 비프의 에러 시퀀스를 발산한다. 이러한 에러 시퀀스는 10초 간격으로 반복될 수 있다. 상기 경고 및 에러 시퀀스는 높은 볼륨으로 이루어질 수 있다.

도 3의 경우, 또 다른 실시예에 있어서 광원(200)은 전원(206)에 의하여 작동되는 램프(204)를 포함한다. 램프(204)는 출력 인터페이스(208)를 통하여 현미경(미도시)으로 광을 제공한다.

이러한 실시예에 있어서, 특정한 운용 범위내에서 램프의 애노드와 캐소드 사이의 온도를 제어하도록 램프 어댑터(210) 및 플로우 조절장치(212)가 사용되며, 램프(204)와 액상광가이드(liquid light guide)(222) 사이에 설치되도록 도시되어 있다.

램프(204)는 하우징의 배플(미도시)에 설치될 수 있으며, 여기에서 설명되는 스팩트럼 특성을 가지는 핫 미러(214)와 정렬될 수 있으며, 램프와 액상광가이드 사이의 광경로에 마련될 수 있다.

핫 미러(214)는 앵글 마운팅 브래킷(216)을 사용하여 설치되며, 핫 미러의 사양을 위한 바람직한 또는 최적의 각도에서 에폭시로 고정된다.

일 실시예에 있어서, 핫 미러(214)의 각도는 램프의 길이방향에 대하여 수직인 평면에 대해 10도를 이룬다. 핫 미러(214)는 특정 용도에 요구되거나 바람직한 파장을 전송하면서 특정 범위의 운용온도에서 액상광가이드를 유지하기 위하여 광경로로부터 램프(204)에 의해 생성된 열에너지의 상당한 부분을 반사한다.

도 5와 관련하여, 특히 핫 미러(214)는 형광체 FURA와 함께 사용하는 340nm 파장 광의 86%이상을 발산하며, 320nm에서 680nm범위의 가시광선 영역의 광을 90% 이상 발산한다. 동시에, 약 320nm이하와 680nm이상-적외선 영역 근처 및 열을 전달하는 파장 이상-의 파장 범위의 광의 90% 이상은 차단된다.

바람직한 실시예로서, 핫 미러는 도 5에서의 스펙트럼 특성을 가지는 365nm와 577nm사이의 광의 최소한 90%를 전송하도록 파이렉스(Pyrex) 기판상에서 스퍼터링 프로세스에 의하여 제조된다.

핫 미러(214)의 스펙트럼 특성은 도 5에 도시되어 있으며, 아래의 전송특성(T)으로 구해진다.

T at 365 nm ≥ 91%

T at 405 nm ≥ 92%

T at 436 nm ≥ 93%

T at 546 nm ≥ 93%

T at 577 nm ≥ 94%

도 4와 관련하여, 광원(200)은 핫 미러와 광학광가이드 사이의 광경로에 중성밀도필터(neutral density filters) 또는 스크린(218)을 사용하도록 마련될 수 있다.

경우에 따라 전송각도를 변경할 수 있는 중성밀도필터 또는 스크린의 호환사용이 가능하도록 하나 또는 그 이상의 중성밀도필터 또는 스크린이 가동카트리지 또는 캐러셀(220)에 설치될 수 있다.

핫 미러와 중성밀도필터 또는 스크린을 통과한 다음에 광은 램프와 일직선상에 있는 하우징의 외측에 부착된 액상광가이드(222)(도3)로 진행한다. 전도된 열과 함께 램프의 열을 방출하는 히트 싱크(224)는 액상광가이드와 물리적으로 연결되도록 마련될 수 있다.

또한, 우발적 광노출 및/또는 액상광가이드가 제거될 때 하우징으로부터의 누출을 방지하기 위하여 가동셔터(226)는 램프와 액상광가이드 사이의 경로상에 마련될 수 있다.

바람직한 실시예에 있어서, 구리 또는 다른 금속셔터가 45도 각도로 액상광가이드를 위한 부착위치에 인접하여 설치된다.

발명의 범위는 청구항의 범위에 의하여 정해져야 하며, 상기 기재는 발명의 범위를 제한하기 위함이 아니라 설명을 돕기 위한 것으로 이해되어야 하고, 변형된 실시예의 경우도 청구항의 범위에 포함된다고 보아야 한다.

Claims

램프;

광학출력기; 및

상기 램프와 상기 광학출력기 사이에 위치하며, 상기 램프로부터 수광하도록 마련되고, 상기 광학출력기측으로 320나노미터와 680나노미터 사이의 파장의 광을 상당량 전송하면서도 320나노미터 이하 및 680나노미터 이상의 파장의 광을 상기 광학출력기로 전송하는 것을 방지하도록 마련된 미러;를 포함하는 광원.
제1항에 있어서,

상기 미러는 약 800나노미터 이상의 파장의 빛을 상기 광학출력기로 전송을 방지하는 것을 특징으로 하는 광원.
제1항에 있어서,

상기 미러는 340나노미터의 파장의 빛을 상기 광학출력기로 85% 이상 전송하는 것을 특징으로 하는 광원.
제1항에 있어서,

상기 미러는 다층유전체코팅을 포함하는 광원.
제1항에 있어서,

상기 미러는 0도에서 약 45도 사이의 입사각을 가지도록 위치하는 광원.
제5항에 있어서,

상기 미러는 약 10도의 입사각을 가지도록 마련된 광원.
제1항에 있어서,

상기 입사각에서 상기 미러를 위치시키도록 앵글 마운팅 브래킷을 더 포함하는 광원.
제1항에 있어서,

상기 미러는 상기 램프와 상기 광학출력기의 중간에 위치하도록 마련된 광원.
제1항에 있어서,

상기 미러는 상기 램프에 의하여 생산되거나 발생한 열에너지를 반사하도록 마련된 광원.
제1항에 있어서,

상기 램프와 상기 광학출력기 사이에 마련된 최소한 하나의 플로우 조절장치 를 더 포함하는 광원.
제1항에 있어서,

상기 미러와 상기 광학출력기의 중간에 위치하는 최소한 하나의 중성밀도필터 또는 스크린을 더 포함하는 광원.
제1항에 있어서,

상기 램프와 상기 광학출력기 사이에 위치하며, 약 45도의 입사각을 가지도록 마련된 셔터를 더 포함하는 광원.
제1항에 있어서,

상기 광학출력기와 물리적으로 연결되도록 위치한 히트 싱크(heat sink)를 더 포함하는 광원.
램프;

상기 램프를 위한 전원;

광학출력기; 및

상기 램프의 운용을 함수로 하여 상기 램프에 공급되는 동력의 양을 변화시키도록 마련된 컨트롤러;를 포함하는 광원.
제14항에 있어서,

상기 컨트롤러는 상기 램프가 운용되었던 시간의 양을 함수로 하여 상기 램프에 공급되는 동력의 양을 변화시키도록 마련된 광원.
제14항에 있어서,

상기 컨트롤러는 상기 램프에 공급되는 동력 수준을 상기 램프의 운용의 지속시간과 연관시킨 데이터를 저장하기 위한 메모리를 포함하는 광원.
제16항에 있어서,

상기 메모리에 저장된 상기 데이터는 실험적 데이터에 기초한 것인 광원.
제14항에 있어서,

상기 램프와 상기 광학출력기 사이에 위치하는 미러를 더 포함하는 광원.
제18항에 있어서,

상기 미러는 상기 램프로부터 수광하도록 마련되며, 상기 광학출력기측으로 340나노미터의 파장의 광을 상당량 전송하며 약 320nm이하의 파장의 광을 상기 광학출력기로 전송하는 것을 방지하도록 마련된 광원.
제18항에 있어서,

상기 미러는 약 45도의 입사각을 가지도록 마련된 광원.
제14항에 있어서,

상기 램프와 상기 광학출력기 사이에 위치하는 최소한 하나의 플로우 조절장치를 더 포함하는 광원.
제14항에 있어서,

최소한 하나의 중성밀도필터 또는 스크린을 더 포함하는 광원.
제14항에 있어서,

상기 램프는 120와트 이상의 출력을 가지는 형광 현미경검사용 광원.