KR20090069982A - 전기강판의 자구 미세화 장치 및 전기강판 - Google Patents

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Abstract

전기강판의 자구미세화 장치가 제공된다. 상기 전기강판의 자구미세화 장치는 레이저 발광부, 상기 레이저 발광부로부터 발광된 레이저 빔을 제 1 타원형 빔으로 변형시키는 토로이드(toroid) 미러, 서로 반대 방향으로 운동하는 한 쌍의 스캔 미러, 상기 토로이드 미러로부터 전송된 상기 제 1 타원형 빔을 상기 스캔 미러로 전송하는 스위치 미러, 및 상기 스캔 미러로부터 상기 제 1 타원형 빔을 전송받아 제 2 타원형 빔으로 변형시키며, 전기 강판에 상기 제 2 타원형 빔을 조사하는 실린더 미러를 포함한다.
자구미세화 장치, 토로이드 미러, 스캔 미러, 실린더 미러

Description

전기강판의 자구 미세화 장치 및 전기강판{APPARATUS FOR MINIATURIZING MAGNETIC DOMAIN WITH ELECTROMAGNETIC STEEL PLATE AND ELECTROMAGNETIC STEEL PLATE MANUFACTURED THEEROF}
본 발명은 전기강판의 자구미세화 장치 및 전기강판에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 레이저 빔을 이용한 전기강판의 자구미세화 장치 및 전기강판에 관한 것이다.
방향성 전기강판은 압연방향으로 {110}<001>방위의 집합조직을 발달시킨 것으로 미국특허 제1,965,559호에 처음으로 그 제조방법이 제시되었다. 그 후 제조방법의 많은 개선과 더불어 새로운 제조방법이 제시되어 왔다. 방향성 전기강판의 제조에 있어서 공통적인 것이 있는데, 이는 억제제라 불리는 1차 재결정립의 성장억제 기능을 하는 석출물이나 입계 편석원소를 이용하는 것이다. 이 억제제는 1차 재결정된 결정립의 성장을 억제하여, 성장이 억제된 결정립들 중에서 {110}<001>방위의 결정립들이 우선적으로 성장하도록 하는 역할을 하는 것이다. 이를 2차 재결정이라 하며, 이와 같이 적절한 억제제를 사용하여 {110}<001>방위의 2차 재결정립을 압연방향으로 발달시키는 것이 방향성 전기강판 제조기술의 핵심이다.
그러나 실제의 전기강판에 있어서는, 각 결정립의 (110)면은 판면에서 약간 경사지고, 또 [001]방향은 압연방향에서도 약간 기울어져 있다. 그런데, 전기강판의 자기적 특성은 이 기울어진 정도에 크게 영향을 받으며, 이 분야의 연구자들은 모든 결정립을 (110)[001] 이상 방위에 가깝도록 하므로 철손을 낮추는데 최대한 노력을 기울이고 있다. 그 결과 현재는 판두께 0.23mm일 때, W17/50이 0.85watt/kg 전후의 낮은 철손치를 갖는 전기강판이 공업적으로 생산된다. 여기서 W17/50은 자속밀도 1.7Tesla, 50Hz의 철손을 말한다.
그러나 각 결정립을 이상방위에 근접시키는 것만으로, 철손을 낮추는 것은 한계가 있다. 일반적으로 철손은 결정방위 이외에 결정립도의 크기에도 의존한다. 방향성 전기강판에서 결정립의 크기는 상기 언급한 (110)[001] 결정방위를 얻기 위하여 처리한 결과물로 그 크기는 수mm에서 수cm 크기로 나타난다. 이 결정립 크기는 현재로 연구자들이 임의로 조절하지 못하고 있다. 이유는 장시간의 열처리 과정을 통하여 (110)[001]결정방위를 우선적으로 얻어야 하기 때문이다. 따라서 연구자들은 인위적인 결정립 크기 조절을 위한 기술을 개발하기에 이르렀다. 인위적인 결정립 크기조절 기술은 2차 재결정이 완료되고 최종 절연 및 장력코팅이 도포된 후 큐링이 끝난 최종제품을 이용하여, US 3647575에서와 같이 강판표면에 끝이 날카로운 도구 즉 칼이나 쇠솔 등으로 날카로운 상처를 내는 방법이 등장하였다.
이후 보다 진보한 방법으로 레이저를 강판의 표면에 조사하여 인위적인 결정립계와 같은 불연속면을 제공하므로 철손을 감소시키는 것이 나타났다. 또한 레이저 종류는 Nd-YAG 레이저이며, Q-switch mode가 사용되고 있다. 이는 강판에 레이 저 빔을 조사시 강판의 표면에 도포된 코팅층이 레이저 빔의 충격으로 증발되므로 다시 코팅을 해야하며, 이는 생산성을 저해하는 요인이 된다.
본 발명의 목적은 철손을 개선하는 전기강판의 자구미세화 장치를 제공하는 것이다.
상기 전기강판의 자구미세화 장치는 레이저 발광부, 상기 레이저 발광부로부터 발광된 레이저 빔을 제 1 타원형 빔으로 변형시키는 토로이드(toroid) 미러, 서로 반대 방향으로 운동하는 한 쌍의 스캔 미러, 상기 토로이드 미러로부터 전송된 상기 제 1 타원형 빔을 상기 스캔 미러로 전송하는 스위치 미러, 및 상기 스캔 미러로부터 상기 제 1 타원형 빔을 전송받아 제 2 타원형 빔으로 변형시키며, 전기 강판에 상기 제 2 타원형 빔을 조사하는 실린더 미러를 포함한다. 상기 전기 강판은 그 표면에 코팅층을 포함한다.
상기 전기강판의 자구미세화 장치는 상기 레이저 빔을 상기 토로이드 미러에 전송하는 한 쌍의 반사 거울을 더 포함할 수 있다.
상기 전기강판의 자구미세화 장치는 상기 레이저 발광부, 상기 토로이드 미러, 상기 한 쌍의 스캔 미러, 상기 스위치 미러, 상기 실린더 미러를 포함하는 제 1 광학계, 및 상기 레이저 발광부, 상기 토로이드 미러, 상기 한 쌍의 스캔 미러, 상기 스위치 미러, 상기 실린더 미러를 포함하는 제 2 광학계를 포함하되, 상기 제 1 광학계는 전기강판의 폭 방향의 2분의 1 영역에 상기 제 2 타원형 빔을 조사하고, 상기 제 2 광학계는 전기강판 폭 방향의 2분의 1 영역에 상기 제 2 타원형의 빔을 조사한다.
상기 제 1 광학계 및 상기 제 2 광학계는 각각 상기 레이저 빔을 상기 토로이드 미러에 전송하는 한 쌍의 반사 거울을 더 포함할 수 있다.
상기 한 쌍의 스캔 미러는 제 1 스캔 미러와 제 2 스캔 미러를 포함하되, 상기 스위치 미러는 상기 제 1 스캔 미러와 상기 제 2 스캔 미러에 교대로 상기 제 1 타원형 빔을 전송한다.
상기 제 1 스캔 미러 및 상기 제 2 스캔 미러는 상기 실린더 미러의 길이 방향을 따라 상기 제 1 타원형 빔을 전송한다.
상기 교대로 전송된 제 1 타원형 빔은 상기 제 2 타원형 빔으로 변형되어 상기 전기강판에 교대로 조사된다.
상기 실린더 미러는 그 길이 방향이 상기 전기 강판의 폭 방향에 대하여 비스듬히 배치되어, 상기 제 2 타원형 빔이 상기 전기 강판의 폭 방향에 평행하게 조사된다.
본 발명의 실시예에 따르면, 방향성 전기강판의 자구미세화 장치를 이용하여 철손을 10% 이상 개선하면서 동시에 코팅층이 열화되지 않을 수 있다. 또한, 소형의 평면 거울인 스위치 미러 2개, 스캔 미러 4개를 사용하여 타원형의 빔을 강판에 조사함으로써, 빠른 라인 속도에 대응이 가능할 수 있다. 본 발명의 실시예에 따른 자구 미세화 장치는 무소음이면서 유지보수가 극히 간단하기 때문에, 친환경적이고 생산원가를 절감할 수 있는 유리한 효과가 있다.
이하에서는 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명의 기술적 사상을 용이하게 실시할 수 있도록 본 발명의 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 설명하기로 한다. 그러나, 본 발명은 여기서 설명되어지는 실시예들에 한정되지 않고 다른 형태로 구체화될 수도 있다. 오히려, 여기서 소개되는 실시예는 개시된 내용이 철저하고 완전해질 수 있도록 그리고 당업자에게 본 발명의 기술적 사상이 충분히 전달될 수 있도록 제공되는 것이다.
본 발명의 실시예들에서 제 1, 제 2 등의 용어가 각각의 구성요소를 기술하기 위하여 설명되었지만, 각각의 구성요소는 이 같은 용어들에 의하여 한정되어서는 안 된다. 이러한 용어들은 단지 소정의 구성요소를 다른 구성요소와 구별시키기 위해서 사용되었을 뿐이다.
도면들에 있어서, 각각의 구성요소는 명확성을 기하기 위하여 과장되게 표현될 수 있다. 명세서 전체에 걸쳐서 동일한 참조번호로 표시된 부분은 동일한 구성요소들을 나타낸다.
도 1은 전기 강판의 자구 미세화 과정을 설명하는 전체 모식도이다. 도 1을 참조하면, 롤 상태의 강판(2)은 페이오프 릴(pay off reel,1)에서 풀려나와 제 1 핀치 롤(pinch roll,3) 및 제 2 핀치 롤(13)에 의하여 경로 라인(path line)이 이루어진다. 이에 의하여, 강판(2)은 페이오프 릴(1)로부터 풀려나와 권취롤(14)에 재권취된다. 제 1 레이저 발광부(6)로부터 발광된 제 1 레이저 빔(9)은 한 쌍의 제 1 스캔 미러(12)에 도달한다. 한 쌍의 제 1 스캔 미러(12)는 좌우 왕복운동을 하면 서 제 1 레이저 빔을 포물 반사경인 실린더 미러(5)로 조사한다.
실린더 미러(5)는 바로 아래 이송되는 강판(2) 상에 레이저 빔을 조사하여 강판(2)의 자구 미세화가 이루어진다. 동일한 방식으로, 제 2 레이저 발광부(7), 제 2 레이저 빔(8), 한 쌍의 제 2 스캔 미러(13), 실린더 미러(5)에 의하여, 강판(2)의 자구 미세화가 이루어진다.
레이저 빔이 조사된 강판(2)은 연속식 철손측정기(12)를 통과하면서 철손이 측정된다. 자구미세화 장치를 통과하기 전에 강판(2) 상에 X-ray 두께 측정기(4)가 배치된다. 측정된 철손과 X-ray 두께측정기(4)로부터 측정된 두께 신호에 의하여, 단위무게당 철손을 디스플레이 할 수 있다. 이에 의하여, 작업자가 자구미세화 효과를 알 수 있다.
도 2를 참조하여, 본 발명의 실시예에 따른 전기강판의 자구 미세화 장치를 자세히 설명한다.
전기강판의 자구 미세화 장치(100)는 제 1 광학계와 제 2 광학계로 이루어지며, 제 1 광학계와 제 2 광학계는 강판(2)의 폭방향으로 각각 2분의 1 영역에 레이저 빔을 조사한다. 예를 들면, 제 1, 제 2 광학계는 각각 폭방향으로 600㎜에 레이저 빔을 조사한다. 상기 제 1 광학계는 제 1 레이저 발광부(6), 한 쌍의 제 1 반사 거울(15,16), 제 1 토로이드(toroid) 미러(17), 제 1 스위치 미러(11), 한 쌍의 제 1 스캔 미러(12), 실린더 미러(5)로 구성된다. 상기 제 2 광학계는 제 2 레이저 발광부(7), 한 쌍의 제 2 반사 거울(18,19), 제 2 토로이드(toroid) 미러(20), 제 1 스위치 미러(10), 한 쌍의 제 1 스캔 미러(13), 실린더 미러(5)로 구성된다.
상기 제 1 광학계와 제 2 광학계는 동일한 방식으로 구동하므로, 제 1 광학계에 대하여만 이하에서 설명하기로 한다.
상기 제 1 광학계는 제 1 레이저 발광부(6)으로부터 원형의 제 1 레이저 빔(9)이 발광된다. 상기 제 1 레이저 빔(9)은 한 쌍의 제 1 반사 거울(15,16)에서 경로를 수정하여 제 1 토로이드 미러(17)에 도달한다. 상기 제 1 토로이드 미러(17)는 곡면의 거울로서 원형의 제 1 레이저 빔(9)을 제 1 타원형 빔(21)으로 변형시킨다. 제 1 타원형 빔(21)은 제 1 토로이드 미러(17)로부터 제 1 스위치 미러(11)로 전송된다. 제 1 스위치 미러(11)는 한 쌍의 제 1 스캔 미러(12) 중 어느 하나에 제 1 타원형 빔(21)을 교대로 전송한다. 두 개의 제 1 스캔 미러(12)는 서로 반대 방향으로 왕복 운동한다. 즉, 제 1 스캔 미러(12) 중 어느 하나(12a)가 실린더 미러(5)의 왼쪽에서 오른쪽으로 스캔하기 위해 제 1 스위치 미러(11)로부터 제 1 타원형 빔(21)을 전송받는 순간, 제 1 스캔 미러(12) 중 다른 하나(12b)는 실린더 미러(5)에 제 1 타원형 빔(21)을 전송하고 오른쪽에서 왼쪽으로 복귀한다.
실린더 미러(5)에 도달한 제 1 타원형 빔(21)은 실린더 미러(5)에 의하여 제 2 타원형 빔(22)으로 변형된다. 제 2 타원형 빔(22)이 강판(2)에 조사됨으로써, 강판(2)의 자구 미세화가 이루어진다.
실시예에서, 레이저 빔이 미러(토로이드 미러, 스위치 미러, 스캔 미러, 실린더 미러 등)에 계속적으로 조사되므로, 미러의 온도 상승을 막기 위한 냉각과 먼지에 의한 오염을 방지하는 것이 필요하다. 미러의 냉각을 위하여 냉각수를 이용할 수 있다. 예를 들면, 받침대 위에 미러를 접착시키고, 받침대 내부에 미세한 관을 만들어 냉각수를 흘릴 수 있으며(또는 미러 자체를 몸체로 사용할 경우에는 미러 자체에 냉각수를 흘릴 수 있다), 냉각수의 유량조절로 냉각능을 조절할 수 있다. 한편, 레이저 빔이 닿는 미러의 표면에 먼지 오염을 방지하기 위하여, 미러 표면 위에 에어 커튼을 형성할 수 있다. 예를 들면, 미러 표면에 냉각용 질소를 공급하여 미러의 먼지 오염 및 미러의 온도 상승을 동시에 방지할 수 있다.
도 3을 참조하여, 자구 미세화 장치의 레이저 빔 형상 변화를 설명한다. 제 1 레이저 빔(9)은 원형이다. 제 1 레이저 빔(9)은 토로이드 미러(5)에 의하여 제 1 타원형 빔(21)으로 변형된다. 제 1 타원형 빔(21)은 실린더 미러(5)에 의하여 길쭉한 형태의 제 2 타원형 빔(22)로 변형된다. 한 쌍의 제 1 스캔 미러(12) 및 제 2 스캔 미러(13)에 의하여, 강판(2) 상에 조사선(23,24)이 교대로 형성된다. 본 발명의 실시예에 따르면, 원형의 빔이 아닌 타원형 빔을 사용하여 자구 미세화를 진행하므로, 빠른 라인 속도에 대응할 수 있다. 이는 타원형 빔이 원형의 빔보다 짧은 시간 동안 자구 미세화를 진행할 수 있기 때문이다.
도 4를 참조하면, 한 쌍의 제 1 스캔 미러(12) 및 제 2 스캔 미러(13)는 상기 실린더 미러(5)의 길이방향을 따라 상기 제 1 타원형 빔(21)을 전송한다. 상기 실린더 미러(5)는 그 길이방향이 강판(2)의 폭 방향에 대하여 비스듬히 배치되어, 제 2 타원형 빔(22)이 강판(2)의 폭 방향에 평행하게 조사된다(도 4에서 화살표는 강판의 진행방향이다). 따라서, 강판에 빔이 지그재그로 조사되지 않음으로써, 조사선의 간격이 일정하여 자구미세화 효과가 균일할 수 있다.
본 발명의 실시예에서, 레이저 빔은 연속식 모드(continuous wave mode)의 이산화 탄소(CO2) 레이저이다. 레이저 출력 강도는 철손 개선율이 양호하면서도 강판 표면의 코팅층이 증발하지 않는 적정 범위로 조절한다.
본 발명의 실시예에 따르면, 전기강판의 자구미세화 장치는 소음이 적고, 유지 보수가 극히 간단하여 비용이 적게 드는 장점이 있다. 또한, 전기강판의 코팅층이 열화되지 않으므로, 재코팅을 할 필요가 없다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 전기 강판의 자구 미세화 과정을 설명하는 전체 모식도이다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 전기강판의 자구 미세화 장치를 상세히 설명하는 도면이다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 자구 미세화 장치의 레이저 빔 형상 변화를 설명하는 도면이다.
도 4는 본 발명의 실시예에 따라 실린더 미러가 강판에 대하여 비스듬히 배치되는 것을 설명하는 도면이다.
*도면의 주요부분에 대한 부호의 설명*
2: 강판 5: 실린더 미러
6,7: 레이저 발광부 8,9: 레이저 빔
10,11: 스위치 미러 12,13: 스캔 미러

Claims (11)

  1. 레이저 발광부;
    상기 레이저 발광부로부터 발광된 레이저 빔을 제 1 타원형 빔으로 변형시키는 토로이드(toroid) 미러;
    서로 반대 방향으로 운동하는 한 쌍의 스캔 미러;
    상기 토로이드 미러로부터 전송된 상기 제 1 타원형 빔을 상기 스캔 미러로 전송하는 스위치 미러; 및
    상기 스캔 미러로부터 상기 제 1 타원형 빔을 전송받아 제 2 타원형 빔으로 변형시키며, 전기 강판에 상기 제 2 타원형 빔을 조사하는 실린더 미러를 포함하는 전기강판의 자구 미세화 장치.
  2. 청구항 1에 있어서,
    상기 레이저 빔은 연속식 파형을 가지는 이산화탄소 레이저인 것을 특징으로 하는 전기강판의 자구 미세화 장치.
  3. 청구항 1에 있어서,
    상기 전기 강판은 그 표면에 코팅층을 포함하는 것을 특징으로 하는 전기강판의 자구 미세화 장치.
  4. 청구항 1에 있어서,
    상기 레이저 빔을 상기 토로이드 미러에 전송하는 한 쌍의 반사 거울을 더 포함하는 전기강판의 자구 미세화 장치.
  5. 청구항 1에 있어서,
    상기 레이저 발광부, 상기 토로이드 미러, 상기 한 쌍의 스캔 미러, 상기 스위치 미러, 상기 실린더 미러를 포함하는 제 1 광학계; 및
    상기 레이저 발광부, 상기 토로이드 미러, 상기 한 쌍의 스캔 미러, 상기 스위치 미러, 상기 실린더 미러를 포함하는 제 2 광학계를 포함하되,
    상기 제 1 광학계는 전기강판의 폭 방향의 2분의 1 영역에 상기 제 2 타원형 빔을 조사하고, 상기 제 2 광학계는 전기강판 폭 방향의 2분의 1 영역에 상기 제 2 타원형의 빔을 조사하는 전기강판의 자구 미세화 장치.
  6. 청구항 5에 있어서,
    상기 제 1 광학계 및 상기 제 2 광학계는 각각 상기 레이저 빔을 상기 토로이드 미러에 전송하는 한 쌍의 반사 거울을 더 포함하는 전기강판의 자구 미세화 장치.
  7. 청구항 1에 있어서,
    상기 한 쌍의 스캔 미러는 제 1 스캔 미러와 제 2 스캔 미러를 포함하되,
    상기 스위치 미러는 상기 제 1 스캔 미러와 상기 제 2 스캔 미러에 교대로 상기 제 1 타원형 빔을 전송하는 전기강판의 자구 미세화 장치.
  8. 청구항 7에 있어서,
    상기 제 1 스캔 미러 및 상기 제 2 스캔 미러는 상기 실린더 미러의 길이 방향을 따라 상기 제 1 타원형 빔을 전송하는 전기강판의 자구 미세화 장치.
  9. 청구항 7에 있어서,
    상기 교대로 전송된 제 1 타원형 빔은 상기 제 2 타원형 빔으로 변형되어 상기 전기강판에 교대로 조사되는 전기강판의 자구 미세화 장치.
  10. 청구항 9에 있어서,
    상기 실린더 미러는 그 길이 방향이 상기 전기 강판의 폭 방향에 대하여 비스듬히 배치되어, 상기 제 2 타원형 빔이 상기 전기 강판의 폭 방향에 평행하게 조사되는 것을 특징으로 하는 전기강판의 자구 미세화 장치.
  11. 청구항 1의 전기강판의 자구 미세화 장치를 이용하여 생산되는 방향성 전기강판.
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