KR20090044004A - Array substrate for liquid crystal display device - Google Patents

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KR20090044004A
KR20090044004A KR1020070109850A KR20070109850A KR20090044004A KR 20090044004 A KR20090044004 A KR 20090044004A KR 1020070109850 A KR1020070109850 A KR 1020070109850A KR 20070109850 A KR20070109850 A KR 20070109850A KR 20090044004 A KR20090044004 A KR 20090044004A
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채지은
안중성
문수환
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엘지디스플레이 주식회사
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Abstract

본 발명은, 기판 상에 일 방향으로 연장된 제 1 게이트 배선과;상기 제 1 게이트 배선과 교차하여 제 1 화소영역을 정의하는 데이터 배선과; 상기 제 1 게이트 배선 및 상기 데이터 배선과 연결되며, 상기 화소영역 내에서 게이트 전극과, 상기 게이트 전극과 중첩되며 서로 대칭되는 구조의 요입부를 갖는 소스전극과, 요입부 내부에 삽입되며 서로 대칭적인 구조를 갖는 제 1 및 제 2 드레인 전극을 포함하는 제 1 박막트랜지스터와; 상기 제 1 박막트랜지스터의 상기 제 1 및 제 2 드레인 전극과 동시에 접촉하며 상기 화소영역 내에 형성된 화소전극을 포함하는 어레이 기판을 제공한다.According to an aspect of the present invention, there is provided a semiconductor device comprising: a first gate wiring extending in one direction on a substrate; a data wiring defining a first pixel region crossing the first gate wiring; A source electrode connected to the first gate line and the data line and having a gate electrode in the pixel region, a source electrode having a concave portion overlapping with the gate electrode and symmetrical with each other, and a symmetrical structure inserted into the concave portion A first thin film transistor comprising a first and a second drain electrode having a first thin film transistor; An array substrate including a pixel electrode formed in the pixel area while simultaneously contacting the first and second drain electrodes of the first thin film transistor.

어레이기판, 액정, 데이터배선, 공유, 기생용량 Array board, liquid crystal, data wiring, sharing, parasitic capacitance

Description

액정표시장치용 어레이 기판{Array substrate for liquid crystal display device}Array substrate for liquid crystal display device

본 발명은 액정표시장치에 관한 것으로 특히, 구동 IC를 줄이기 위해, 하나의 데이터 배선으로 두 개의 화소를 구동하기 위한 데이터 할당 배선 구조(data line sharing structure)를 가지는 액정표시장치용 어레이 기판에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a liquid crystal display device, and more particularly, to an array substrate for a liquid crystal display device having a data line sharing structure for driving two pixels with one data line to reduce a driving IC. .

최근에 액정표시장치는 소비전력이 낮고, 휴대성이 양호한 기술 집약적이며, 부가가치가 높은 차세대 첨단 디스플레이(display)소자로 각광받고 있다. Recently, liquid crystal displays have been spotlighted as next generation advanced display devices having low power consumption, good portability, high technology value, and high added value.

이러한 액정표시장치 중에서도 각 화소(pixel)별로 전압의 온(on),오프(off)를 조절할 수 있는 스위칭 소자인 박막트랜지스터가 구비된 액티브 매트릭스형 액정표시장치가 해상도 및 동영상 구현능력이 뛰어나 가장 주목받고 있다.Among the liquid crystal display devices, an active matrix liquid crystal display device having a thin film transistor, which is a switching element that can control voltage on and off for each pixel, has the best resolution and video performance. I am getting it.

일반적으로, 액정표시장치는 박막트랜지스터 및 화소전극을 형성하는 어레이 기판 제조 공정과 컬러필터 및 공통 전극을 형성하는 컬러필터 기판 제조 공정을 통해 각각 어레이 기판 및 컬러필터 기판을 형성하고, 이들 두 기판 사이에 액정을 개재하는 셀 공정을 거쳐 완성된다. In general, an LCD device forms an array substrate and a color filter substrate through an array substrate manufacturing process for forming a thin film transistor and a pixel electrode, and a color filter substrate manufacturing process for forming a color filter and a common electrode, and between the two substrates. It completes through the cell process through liquid crystal in the process.

좀 더 자세히, 일반적인 액정표시장치의 분해사시도인 도 1을 참조하여 설명하면, 도시한 바와 같이, 액정층(30)을 사이에 두고 어레이 기판(10)과 컬러필터 기판(20)이 대면 합착된 구성을 갖는데, 이중 하부의 어레이 기판(10)은 투명한 기판(12)의 상면으로 종횡 교차 배열되어 다수의 화소영역(P)을 정의하는 복수개의 게이트 배선(14)과 데이터 배선(16)을 포함하며, 이들 두 배선(14, 16)의 교차지점에는 박막트랜지스터(T)가 구비되어 각 화소영역(P)에 마련된 화소전극(18)과 일대일 대응 접속되어 있다.In more detail, referring to FIG. 1, which is an exploded perspective view of a general liquid crystal display device, as illustrated, the array substrate 10 and the color filter substrate 20 face each other with the liquid crystal layer 30 interposed therebetween. The array substrate 10 of the lower part includes a plurality of gate lines 14 and data lines 16 arranged vertically and horizontally on the upper surface of the transparent substrate 12 to define a plurality of pixel regions P. Thin film transistors T are provided at the intersections of the two wires 14 and 16 so as to correspond one-to-one with the pixel electrodes 18 provided in the pixel regions P. FIG.

또한, 상기 어레이 기판(10)과 마주보는 상부의 컬러필터 기판(20)은 투명기판(22)의 배면으로 상기 게이트 배선(14)과 데이터 배선(16) 그리고 박막트랜지스터(T) 등의 비표시영역을 가리도록 각 화소영역(P)을 테두리하는 격자 형상의 블랙매트릭스(25)가 형성되어 있으며, 이들 격자 내부에서 각 화소영역(P)에 대응되게 순차적으로 반복 배열된 적(R), 녹(G), 청(B)색의 컬러필터 패턴(26a, 26b, 26c)을 포함하는 컬러필터층(26)이 형성되어 있으며, 상기 블랙매트릭스(25)와 컬러필터층(26)의 전면에 걸쳐 투명한 공통전극(28)이 구비되어 있다.In addition, the upper color filter substrate 20 facing the array substrate 10 is a rear surface of the transparent substrate 22, and the non-display of the gate wiring 14, the data wiring 16, the thin film transistor T, and the like. A grid-like black matrix 25 is formed around the pixel region P so as to cover the region, and red (R) and green are sequentially arranged in order to correspond to the pixel region (P) in the grid. A color filter layer 26 including (G) and blue (B) color filter patterns 26a, 26b, and 26c is formed, and is transparent over the entire surface of the black matrix 25 and the color filter layer 26. The common electrode 28 is provided.

그리고, 도면상에 도시되지는 않았지만, 이들 두 기판(10, 20)은 그 사이로 개재된 액정층(30)의 누설을 방지하기 위하여 가장자리 따라 실링제(sealant) 등으로 봉함된 상태에서 각 기판(10, 20)과 액정층(30)의 경계부분에는 액정의 분자배열 방향에 신뢰성을 부여하는 상, 하부 배향막이 개재되며, 각 기판(10, 20)의 적어도 하나의 외측면에는 편광판이 구비되어 있다. Although not shown in the drawings, each of the two substrates 10 and 20 is sealed with a sealant or the like along the edge to prevent leakage of the liquid crystal layer 30 interposed therebetween. 10 and 20 are interposed between upper and lower alignment layers that provide reliability in the molecular alignment direction of the liquid crystal at a boundary portion of the liquid crystal layer 30, and at least one outer surface of each substrate 10 and 20 is provided with a polarizing plate. have.

또한, 어레이 기판(10)의 외측면으로는 백라이트(back-light)가 구비되어 빛을 공급하는 바, 게이트 배선(14)으로 박막트랜지스터(T)의 온(on)/오프(off) 신호가 순차적으로 스캔 인가되어 선택된 화소영역(P)의 화소전극(18)에 데이터배선(16)의 화상신호가 전달되면 이들 사이의 수직전계에 의해 그 사이의 액정분자가 구동되고, 이에 따른 빛의 투과율 변화로 여러 가지 화상을 표시할 수 있다.In addition, a back-light is provided on the outer surface of the array substrate 10 to supply light, and the on / off signal of the thin film transistor T is transmitted to the gate wiring 14. When the image signal of the data wiring 16 is transferred to the pixel electrode 18 of the selected pixel region P by being sequentially scanned and applied, the liquid crystal molecules are driven by the vertical electric field therebetween, and thus the transmittance of light Various images can be displayed by a change.

한편, 전술한 바와 같이 구성되는 액정표시장치는 대면적 및 고정세로 갈수록 게이트 및 데이터 배선의 수가 많아지며 이에 따른 구동회로의 수도 증가하고 있다. 특히 최근에는 디지털 방송이 활성화되어 그 면적비(가로:세로)가 16:9인 화상표시장치가 주를 이루고 있으며, 이에 따라 게이트 배선의 증가보다는 데이터 배선의 증가가 더욱 급격히 늘고 있으며, 따라서, 데이터 배선 및 이와 관련되는 구동회로의 개수를 줄이기 위한 한 방법이 모색되고 있으며, 그 중 하나의 방법으로 하나의 데이터 배선으로 두 개의 화소영역을 구동할 수 있는 기술이 제안되고 있다. On the other hand, in the liquid crystal display device configured as described above, the number of gates and data lines increases as the area and the resolution become larger, and the number of driving circuits increases accordingly. In particular, in recent years, digital broadcasting has been activated, and an image display device having an area ratio (horizontal: vertical) of 16: 9 is mainly used. As a result, an increase in data wiring is increasing more rapidly than an increase in gate wiring. And a method for reducing the number of driving circuits related thereto have been sought, and a technique for driving two pixel areas with one data line has been proposed.

이러한 기술은 박막트랜지스터의 점멸로서, 상기 데이터 배선과 동시에 연결된 화소영역 내의 화소전극에 신호인가 타임편차를 발생시켜 결국에는 종합적으로 순차적인 데이터 신호가 인가되도록 하는 방법이다.This technique is a method of flickering a thin film transistor to generate a signal application time deviation to a pixel electrode in a pixel region connected to the data line at the same time so that a sequential data signal is comprehensively applied.

도 2는 데이터 배선이 두 개의 화소영역을 구동하는 일반적인 어레이 기판의 표시영역 일부를 간략히 도시한 개략도이며, 도 3은 데이터 배선이 두 개의 화소영역을 구동하는 일반적인 어레이 기판에 있어 데이터 배선을 서로 공유하는 두 개의 화소영역에 대한 평면도이다.FIG. 2 is a schematic diagram illustrating a part of a display area of a general array substrate in which data lines drive two pixel regions, and FIG. 3 illustrates sharing of data lines in a general array substrate in which data lines drive two pixel regions. A plan view of two pixel areas.

도시한 바와 같이, 서로 이웃한 제 1 및 제 2 게이트 배선(43a, 43b)을 하나의 그룹(n-1, n)으로 하여 이격하며 일 방향으로 연장되고 있으며, 이들 그룹 게이트 배선(n-1, n) 사이에 공통배선(47)이 형성되어 있다. 또한, 상기 그룹 게이트 배선(n-1, n)과 교차하여 화소영역(P1, P2)을 정의하는 데이터 배선(60)이 연장 형성되고 있으며, 이때, 상기 데이터 배선(60)을 기준으로 이웃한 좌우 화소영역(P1, P2)은 상기 데이터 배선(60)을 공유하여 신호전압을 인가받는 구조를 이루고 있다. 또한, 각 화소영역(P1, P2) 내에는 게이트 전극(45)과 게이트 절연막(미도시)과 반도체층(미도시)과 소스 및 드레인 전극(62, 65)으로 구성된 박막트랜지스터(Tr1, Tr2)가 구비되고 있으며, 상기 박막트랜지스터(Tr1, Tr2)의 드레인 전극(65)과 연결되며 화소전극(70)이 구성되고 있다.As shown in the drawing, the first and second gate lines 43a and 43b adjacent to each other are separated by one group n-1 and n, and extend in one direction. , a common wiring 47 is formed between n). In addition, the data line 60 defining the pixel areas P1 and P2 is extended to intersect the group gate lines n-1 and n. In this case, the data line 60 is adjacent to the data line 60. The left and right pixel areas P1 and P2 share the data line 60 to receive a signal voltage. Further, thin film transistors Tr1 and Tr2 each having a gate electrode 45, a gate insulating film (not shown), a semiconductor layer (not shown), and source and drain electrodes 62 and 65 are formed in each pixel region P1 and P2. And a drain electrode 65 of the thin film transistors Tr1 and Tr2 and a pixel electrode 70.

이때, 이렇게 하나의 데이터 배선(60)을 공유하는 이웃한 두 개의 화소영역(P1, P2)의 경우, 각 화소영역(P1, P2) 내의 화소전극(70)을 구동하는 박막트랜지스터(Tr1, Tr2)의 형성 위치를 달리하고 있음을 알 수 있다. 즉, 데이터 배선(60)을 기준으로 그 좌측에 위치한 화소영역(이하 제 1 화소영역(P1)이라 칭함) 내의 박막트랜지스터(이하 제 1 박막트랜지스터(Tr1)라 칭함)는 제 n-1 그룹(n-1)의 제 1 게이트 배선(43a)과 연결되며 상기 제 1 화소영역(P1) 내에서 우상측에 형성되고 있으며, 우측에 위치한 화소영역(이하 제 2 화소영역(P2)이라 칭함) 내의 박막트랜지스터(이하 제 2 박막트랜지스터(Tr2)라 칭함)는 제 n 그룹(n)의 제 2 게이트 배선(43b)과 연결되며 상기 제 2 화소영역(P2) 내의 좌하측에 형성되고 있다. In this case, in the case of two neighboring pixel regions P1 and P2 sharing one data line 60, the thin film transistors Tr1 and Tr2 driving the pixel electrodes 70 in the pixel regions P1 and P2, respectively. It can be seen that the formation position of the) is different. That is, the thin film transistor (hereinafter referred to as the first thin film transistor Tr1) in the pixel area (hereinafter referred to as the first pixel area P1) positioned on the left side of the data line 60 is referred to as the n-1 group ( is connected to the first gate line 43a of n-1 and formed on the upper right side in the first pixel region P1 and is located in the pixel region (hereinafter referred to as the second pixel region P2) located on the right side. The thin film transistor (hereinafter referred to as a second thin film transistor Tr2) is connected to the second gate wire 43b of the nth group n and is formed on the lower left side of the second pixel region P2.

하지만, 전술한 바와같은 구조를 갖는 어레이 기판(41)의 경우, 그 제조 공 정 진행시 게이트 배선(43a, 43b) 및 게이트 전극(45) 형성을 위한 게이트 레이어(gate layer)와 데이터 배선(60)과 소스 및 드레인 전극(62, 65) 형성을 위한 소스 레이어(source layer) 형성 시 편차에 의해 상하 또는 좌우 방향으로 틀어져 패터닝이 되었을 경우, 상기 두 화소영역간(P1, P2)의 박막트랜지스터(Tr, Tr2)의 기생용량인 Cgs(게이트 전극과 드레인 전극의 중첩에 의한 기생용량)가 이웃한 상기 제 1 및 제 2 화소영역(P1, P2)간에 틀어진 정도의 2배 만큼의 차이가 발생하게 된다. 즉, 도 2를 참조하면, 패터닝 편차에 의해 게이트 레이어에 대해 소스 레이어가 상측으로 치우쳐 형성되었다 가정하면, 제 1 화소영역(P1)에 있어서는 제 1 박막트랜지스터(Tr1)가 우상측에 위치하는 바 드레인 전극(65)이 게이트 전극(45)과 중첩되는 영역이 증가하게 되는 반면, 제 2 화소영역(P2) 있어서는 제 2 박막트랜지스터(Tr2)가 좌하측에 위치하는 바 드레인 전극(65)이 게이트 전극(45)과 중첩되는 영역이 감소하게 됨으로써 상기 제 1 화소영역(P1)과 제 2 화소영역(P2) 내에서의 Cgs는 차이가 발생하게 된다. 이 경우, 이러한 기생용량의 차이에 기인하여 각 화소영역별로 ΔVp(feed through voltage) 크기 차이가 발생하며, 이로 인해 두 화소영역(P1, P2) 간에 인가되는 데이터 신호전압 차이가 발생하고 따라서 휘도 차이가 발생하여 최종적으로 화질이 저하되는 문제가 발생하고 있다. However, in the case of the array substrate 41 having the structure described above, the gate layer and the data line 60 for forming the gate lines 43a and 43b and the gate electrode 45 during the manufacturing process thereof. ) And a thin film transistor Tr between the two pixel areas P1 and P2 when the source layer is formed in the vertical direction or the left or right direction due to the deviation in forming the source layer for forming the source and drain electrodes 62 and 65. , Cgs (parasitic capacitance due to overlapping of the gate electrode and the drain electrode), which is a parasitic capacitance of Tr2, is generated by a difference of twice as much as the degree of twisting between the adjacent first and second pixel regions P1 and P2. . That is, referring to FIG. 2, when the source layer is formed to be biased upward with respect to the gate layer due to the patterning deviation, the first thin film transistor Tr1 is positioned on the upper right side in the first pixel region P1. Whereas the region where the drain electrode 65 overlaps with the gate electrode 45 increases, in the second pixel region P2, the bar drain electrode 65 in which the second thin film transistor Tr2 is positioned on the lower left side is gated. As the area overlapping with the electrode 45 is reduced, a difference occurs between Cgs in the first pixel area P1 and the second pixel area P2. In this case, ΔVp (feed through voltage) magnitude difference occurs for each pixel region due to the parasitic capacitance difference, which causes a difference in the data signal voltage applied between the two pixel regions P1 and P2 and thus the luminance difference. Occurs and finally the image quality is deteriorated.

본 발명은 전술한 문제를 해결하기 위한 목적으로 제안된 것으로, 본 발명에 따른 데이터 배선 공유 구조 어레이 기판에 있어서, 게이트 레이어와 데이터 레이어 형성 시 패터닝 오차에 의해 틀어짐이 발생한다 하여도 서로 데이터 배선을 공유하는 화소영역 간에 게이트 전극과 드레인 전극간의 중첩영역이 달라짐으로 인한 기생용량의 차이가 발생시키지 않음으로 이러한 기생용량에 의해 발생하는 표시품질이 저하되는 것을 방지할 수 있는 어레이 기판을 제공하는 것을 그 목적으로 한다. SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been proposed for the purpose of solving the above-described problem, and in the data wiring sharing structure array substrate according to the present invention, even if a distortion occurs due to a patterning error when the gate layer and the data layer are formed, the data wiring is mutually separated. Providing an array substrate capable of preventing the display quality caused by the parasitic capacitance from deteriorating due to the difference in parasitic capacitance caused by the difference in the overlapping region between the gate electrode and the drain electrode between the shared pixel regions. The purpose.

본 발명에 따른 어레이기판은, 기판 상에 일 방향으로 연장된 제 1 게이트 배선과; 상기 제 1 게이트 배선과 교차하여 제 1 화소영역을 정의하는 데이터 배선과; 상기 제 1 게이트 배선 및 상기 데이터 배선과 연결되며, 상기 화소영역 내에서 게이트 전극과, 상기 게이트 전극과 중첩되며 서로 대칭되는 구조의 제 1 및 제 2 요입부를 갖는 소스전극과, 상기 제 1 및 제 2 요입부 내부에 삽입되며 서로 대칭적인 구조를 갖는 제 1 및 제 2 드레인 전극을 포함하는 제 1 박막트랜지스터와; 상기 제 1 박막트랜지스터의 상기 제 1 및 제 2 드레인 전극과 동시에 접촉하며 상기 화소영역 내에 형성된 화소전극을 포함한다. An array substrate according to the present invention comprises: a first gate wiring extending in one direction on a substrate; A data line crossing the first gate line and defining a first pixel area; A source electrode connected to the first gate line and the data line, the source electrode having a gate electrode in the pixel region, first and second concave portions overlapping with the gate electrode and symmetrical with each other; A first thin film transistor inserted into the second recessed portion and including first and second drain electrodes having symmetrical structures; And a pixel electrode in contact with the first and second drain electrodes of the first thin film transistor and formed in the pixel region.

상기 제 1 박막트랜지스터는 상기 게이트 전극과 상기 소스 및 제 1, 2 드레인 전극 사이에 순차 적층된 게이트 절연막과, 액티브층과, 서로 이격하는 제 1, 2 및 3 오믹콘택층을 포함하며, 이때, 상기 소스 전극은 상기 제 2 오믹콘택층 상부에, 그리고 상기 제 1 및 제 2 드레인 전극은 각각 상기 제 1 및 제 3 오믹콘택층 상부에 형성된 것이 특징이다. The first thin film transistor includes a gate insulating film sequentially stacked between the gate electrode, the source, and the first and second drain electrodes, an active layer, and first, second and third ohmic contact layers spaced apart from each other. The source electrode is formed on the second ohmic contact layer, and the first and second drain electrodes are formed on the first and third ohmic contact layers, respectively.

상기 제 1 및 제 2 요입부는 상기 게이트 전극의 중심부를 기준으로 상기 데이터 배선의 길이방향에 대해서 대칭적인 구조를 갖는 것이 특징이다. The first and second recesses have a symmetrical structure with respect to the longitudinal direction of the data line with respect to the center of the gate electrode.

상기 제 1 게이트 배선과 평행하게 연장되고 상기 데이터 배선과의 교차에 의해 제 2 화소영역을 정의하는 제 2 게이트 배선을 포함하고, 상기 제 2 게이트 배선 및 상기 데이터 배선과 연결되며, 상기 제 2 화소영역에는 상기 제 2 게이트 배선과 상기 데이터 배선과 연결되며 상기 제 1 박막트랜지스터와 동일한 구조를 갖는 제 2 박막트랜지스터가 더 구성된 것이 특징이며, 상기 제 1 및 제 2 화소영역은 상기 데이터 배선을 공유하는 것이 특징이다. A second gate wiring extending in parallel with the first gate wiring and defining a second pixel region by crossing with the data wiring, and connected to the second gate wiring and the data wiring; A second thin film transistor having a same structure as that of the first thin film transistor and connected to the second gate line and the data line is further configured in an area, wherein the first and second pixel areas share the data line. Is characteristic.

상기 제 1 박막트랜지스터 상부에는 상기 제 1 및 제 2 드레인 전극을 각각 노출시키는 제 1 및 제 2 드레인 콘택홀을 갖는 보호층이 더욱 구성된 것이 특징이다. A protective layer having first and second drain contact holes exposing the first and second drain electrodes, respectively, is further formed on the first thin film transistor.

상기 제 1 화소영역에는 그 내측으로 3면을 둘러싸는 형태를 가지며 이웃한 화소영역간에 서로 연결된 공통배선이 더욱 형성된 것이 특징이며, 상기 화소전극은 상기 공통배선과 중첩하여 형성됨으로써 중첩된 부분이 스토리지 커패시터를 이루는 것이 특징이다. The first pixel region has a shape that surrounds three surfaces inwardly, and common wiring connected to each other between adjacent pixel regions is further formed. The pixel electrode is formed by overlapping with the common wiring, so that the overlapped portions are stored. It is characterized by forming a capacitor.

본 발명에 따른 데이터 배선 공유 구조 어레이 기판은, 각 화소영역 내에 하나의 게이트 전극에 대해 서로 대칭적인 요입부를 갖는 소스 전극을 구성하고 이러 한 요입부에 대해 삽입되는 형태의 제 1 및 제 2 드레인 전극을 구성한 구조를 갖는 박막트랜지스터를 구성함으로써 게이트 레이어와 소스 레이어의 틀어짐에 의해 발생할 수 있는 기생용량 크기의 변화를 원천적으로 방지하는 효과가 있으며, 나아가 각 화소영역 내의 기생용량 크기 변화에 기인한 표시품질 저하를 방지하는 효과가 있다.The data wiring sharing structure array substrate according to the present invention comprises a source electrode having concave portions which are symmetrical with respect to one gate electrode in each pixel region, and is inserted into the concave portions. By constructing a thin film transistor having a structure in which the structure is configured to be effective, it is possible to fundamentally prevent the change of the parasitic capacitance caused by the distortion of the gate layer and the source layer, and furthermore, the display quality due to the parasitic capacitance change in each pixel region. It is effective in preventing a decrease.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 바람직한 실시예를 설명한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

도 4는 본 발명의 실시예에 따른 데이터 배선이 두 개의 화소영역을 구동하는 어레이 기판에 있어 데이터 배선을 서로 공유하는 두 개의 화소영역에 대한 평면도이다.4 is a plan view of two pixel regions in which data lines share data lines in an array substrate in which data lines drive two pixel regions according to an exemplary embodiment of the present invention.

도시한 바와 같이, 본 발명에 따른 어레이 기판(101)은 서로 이웃한 제 1 및 제 2 게이트 배선(105a, 105b)을 하나의 그룹으로 하는 다수의 게이트 배선 그룹(n, n+1)이 일방향으로 연장하고 있으며, 다수의 데이터 배선(138)이 상기 다수의 게이트 배선 그룹(n, n+1)과 교차하여 화소영역(P1, P2)을 정의하며 형성되고 있다. 이때, 설명의 편의를 위해 상기 데이터 배선(138)을 기준으로 그 좌측에 위치하는 제 1 화소영역(P1)과 우측에 위치하는 제 2 화소영역(P2)이라 정의한다.As illustrated, the array substrate 101 according to the present invention has a plurality of gate wiring groups n and n + 1 having one group of adjacent first and second gate wirings 105a and 105b as one group. A plurality of data lines 138 intersect with the plurality of gate line groups n and n + 1 to define pixel regions P1 and P2. In this case, for convenience of description, the first pixel area P1 positioned on the left side of the data line 138 and the second pixel region P2 positioned on the right side are defined.

상기 각 화소영역(P1, P2)에는 공통배선(109)이 상기 각 화소영역(P1, P2)의 3면을 둘러싸며 이웃한 화소영역(P1, P2)간에 서로 연결되며 형성되고 있는 것이 특징이다. The common wiring 109 surrounds three surfaces of the pixel areas P1 and P2 and is connected to each other between the adjacent pixel areas P1 and P2 in the pixel areas P1 and P2. .

또한, 각 화소영역(P1, P2)에는 상기 제 1 또는 제 2 게이트 배선(105a, 105b)과 연결되며, 동시에 상기 데이터 배선(138)과 연결되는 스위칭 소자인 박막트랜지스터(Tr1, Tr2)가 형성되고 있다. 이때, 본 발명의 가장 특징적인 구성으로서 각 화소영역(P1, P2)에 형성되는 박막트랜지스터(Tr1, Tr2)는 그 위치가 상기 화소영역(P1, P2) 내의 상측 중앙부 또는 하측 중앙부가 되고 있다는 것이며, 특히 박막트랜지스터(Tr1, Tr2)를 구성하는 구성요소 중 드레인 전극(142)이 상기 박막트랜지스터(Tr1, Tr2)의 중앙부를 기준으로 대칭적으로 제 1 및 제 2 드레인 전극(142a, 142b)으로 나뉘어 구성되고 있는 것이 특징이다. 또한, 이러한 구성을 갖는 각 화소영역(P1, P2)에는 상기 2개의 각 드레인 전극(142a, 142b)과 각각 연결되며 화소전극(155)이 형성되고 있다. In addition, thin film transistors Tr1 and Tr2, which are switching elements connected to the first or second gate wires 105a and 105b and simultaneously connected to the data wires 138, are formed in each pixel area P1 and P2. It is becoming. In this case, the most characteristic configuration of the present invention is that the thin film transistors Tr1 and Tr2 formed in each of the pixel areas P1 and P2 are positioned at an upper center part or a lower center part in the pixel areas P1 and P2. In particular, among the components constituting the thin film transistors Tr1 and Tr2, the drain electrode 142 is symmetrically with respect to the center of the thin film transistors Tr1 and Tr2 to the first and second drain electrodes 142a and 142b. It is characterized by being divided. In addition, each of the pixel regions P1 and P2 having such a configuration is connected to the two drain electrodes 142a and 142b, respectively, and a pixel electrode 155 is formed.

조금 더 상세히 설명하면, 데이터 배선(138)을 기준으로 그 좌측 및 우측에 위치하며 상기 데이터 배선(138)에 의해 공동으로 신호전압을 인가받는 제 1 및 제 2 화소영역(P1, P2)의 구조를 살펴보면, 도면에 있어서는 제 1 게이트 배선(105a)의 상측에 그리고 제 2 게이트 배선(105b)의 하측에 각각 위치하고 있으며, 이때, 이들 화소영역(P1, P2)을 정의하는 상기 제 1 게이트 배선(105a)은 n+1번째 그룹(n+1)에 속하며 상기 제 2 게이트 배선(105b)은 n 번째 그룹(n)에 속해 있음을 알 수 있다. In more detail, the structures of the first and second pixel regions P1 and P2, which are located on the left and right sides of the data line 138 and are jointly applied with a signal voltage by the data line 138. In the drawings, the first gate wiring 105a is positioned above the second gate wiring 105b and the first gate wiring 105b defines the pixel regions P1 and P2. It can be seen that 105a belongs to the n + 1th group n + 1 and the second gate line 105b belongs to the nth group n.

이러한 구성을 통해 상기 제 1 화소영역(P1)은 상기 제 1 게이트 배선(105a)과 상기 제 2 화소영역(P2)은 제 2 게이트 배선(105b)과만 관련되며, 또한 각 화소영역(P1, P2) 내의 박막트랜지스터(Tr1, Tr2)에 있어서도 상기 제 1 화소영역(P1) 내에 형성되는 제 1 박막트랜지스터(Tr1)는 상기 제 1 게이트 배선(105a)과 연결되며, 상기 제 2 화소영역(P2) 내에 형성되는 제 2 박막트랜지스터(Tr2)는 상기 제 2 게이트 배선(105b)과 연결되고 있다. 따라서, 이러한 구조적 특성상 제 1 화소영역(P1) 내의 제 1 박막트랜지스터(Tr1)는 하측에 그리고 제 2 화소영역(P2) 내의 제 2 박막트랜지스터(Tr2)는 상측에 위치하게 된다. Through this configuration, the first pixel region P1 is associated with the first gate wiring 105a and the second pixel region P2 only with the second gate wiring 105b, and the respective pixel regions P1 and P2. Also in the thin film transistors Tr1 and Tr2 in the first and second thin film transistors Tr1 and Tr2, the first thin film transistor Tr1 formed in the first pixel region P1 is connected to the first gate line 105a and the second pixel region P2. The second thin film transistor Tr2 formed therein is connected to the second gate line 105b. Therefore, due to this structural feature, the first thin film transistor Tr1 in the first pixel region P1 is positioned below and the second thin film transistor Tr2 in the second pixel region P2 is positioned above.

한편, 각 화소영역(P1, P2) 내에 형성된 박막트랜지스터(Tr1, Tr2)의 구조에 대해 살펴보면, 상기 제 1 및 제 2 게이트 배선(105a, 105b)으로부터 각각 상기 제 1 및 제 2 화소영역(P1, P2) 내측으로 게이트 전극(107)이 분기하고 있으며, 상기 게이트 전극(107)과 중첩하며 대칭적인 구조로 형성된 제 1 및 제 2 요입부(A1, A2)를 갖는 소스 전극(140)이 상기 데이터 배선(138)에서 분기한 데이터 연결패턴(139)과 연결되며 형성되고 있으며, 상기 제 1 요입부 및 제 2 요입부(A1, A2)에 각각 삽입되는 형태를 가지며 대칭적으로 제 1 및 제 2 드레인 전극(142a, 142b)이 형성되고 있는 것이 특징이다. Meanwhile, the structure of the thin film transistors Tr1 and Tr2 formed in the pixel areas P1 and P2 will be described. The first and second pixel areas P1 may be formed from the first and second gate lines 105a and 105b, respectively. The source electrode 140 having the first and second concave portions A1 and A2 formed in a symmetrical structure overlapping with the gate electrode 107 is formed by branching the gate electrode 107 into the P2. It is connected to the data connection pattern 139 branched from the data line 138 and is formed to be inserted into the first concave portion and the second concave portion (A1, A2), respectively, symmetrically the first and the first It is a feature that two drain electrodes 142a and 142b are formed.

이러한 구조적 특징에 의해 상기 각 화소영역(P1, P2) 내에 형성된 공통배선(109)은 상기 각 화소영역(P1, P2)에 관련되는 제 1 또는 제 2 게이트 배선(105a, 105b)이 형성된 면에는 형성되지 않고 그 외의 3면에 대해서만 형성되고 있으며, 이러한 구조를 갖는 공통배선(109)은 상기 각 화소영역(P1, P2) 내에서 상기 2개로 나누어진 제 1 및 제 2 드레인 전극(142a, 142b)과 제 1 및 제 2 드레인 콘택홀(152a, 152b)을 통해 동시에 접촉하며 형성된 화소전극(155)과 중첩함으로써 이들 중첩된 부분이 스토리지 커패시터(StgC)를 구성하고 있다.Due to this structural feature, the common wiring 109 formed in each of the pixel regions P1 and P2 may be formed on the surface on which the first or second gate wirings 105a and 105b are formed. The common wiring 109 having such a structure is not formed but is formed only on the other three surfaces, and the first and second drain electrodes 142a and 142b divided into two in each of the pixel regions P1 and P2. ) And the pixel electrode 155 formed while simultaneously contacting through the first and second drain contact holes 152a and 152b to form the storage capacitor StgC.

전술한 구조를 갖는 어레이 기판(101)의 경우, 상기 게이트 배선(105a, 105b)과 게이트 전극(107)과 공통배선(109)을 포함하는 게이트 레이어와 상기 데이터 배선(138)과 소스 및 드레인 전극(140, 142)을 포함하는 소스 레이어를 형성하는 과정에서 상/하 또는 좌/우로 치우쳐 형성된다 할지라도 상기 각 화소영역(P1, P2) 내의 제 1 및 제 2 드레인 전극(142a, 142b)이 상기 게이트 전극(107)과 중첩되는 영역이 서로 보상되는 구조가 됨으로써 기생용량(Cgs)은 각 화소영역(P1, P2)에 동일한 크기가 되므로 종래에서와 같은 틀어짐에 의해 각 제 1 및 제 2 화소영역(P1, P2)별로 기생용량(Cgs)의 크기가 변함으로써 발생하는 표시품질 저하는 발생하지 않게된다.In the case of the array substrate 101 having the above-described structure, the gate layer including the gate lines 105a and 105b, the gate electrode 107, and the common line 109, the data line 138, the source and drain electrodes The first and second drain electrodes 142a and 142b in the pixel areas P1 and P2 may be formed even if they are formed upside down or left / right in the process of forming the source layer including the 140 and 142. Since the overlapping regions of the gate electrode 107 are compensated with each other, the parasitic capacitance Cgs becomes the same size in each of the pixel regions P1 and P2. The display quality degradation caused by changing the size of the parasitic capacitance Cgs for each of the regions P1 and P2 does not occur.

일례로 종래와 동일하게 상기 게이트 레이어에 대해 소스 레이어가 상측 또는 하측으로 치우쳐 형성되었다 할 경우는 기생용량(Cgs)에 변화가 없으며, 좌측으로 치우쳐 형성되었다 할 경우는 각 화소영역(P1, P2) 내에서 좌측에 위치한 제 1 드레인 전극(142a)이 상기 게이트 전극(107)과 중첩되는 부분이 작아지게 되지만 반대로 우측에 형성된 제 2 드레인 전극(142b)이 상기 게이트 전극(107)과 중첩되는 영역이 늘어나게 되므로 실질적으로 상기 게이트 전극(107)과 중첩되는 제 1 및 제 2 드레인 전극(142a, 142b)의 면적에는 변함이 없게 되는 바, 이들 게이트 전극(107)과 제 1 및 제 2 드레인 전극(142a, 142b)이 중첩됨으로써 발생하는 기생용량(Cgs)의 크기에는 변함이 없게 됨을 알 수 있다.For example, when the source layer is formed to be biased upward or downward with respect to the gate layer, there is no change in the parasitic capacitance Cgs, and when formed to the left, the pixel regions P1 and P2 are formed. The portion where the first drain electrode 142a positioned on the left side overlaps with the gate electrode 107 becomes smaller, whereas the region where the second drain electrode 142b formed on the right side overlaps with the gate electrode 107 As it extends, the area of the first and second drain electrodes 142a and 142b substantially overlapping with the gate electrode 107 is not changed. The gate electrodes 107 and the first and second drain electrodes 142a are not changed. , 142b) can be seen that there is no change in the size of the parasitic capacitance (Cgs) generated by overlapping.

따라서, 본 발명에 따른 어레이 기판(101)의 경우는 데이터 배선(138)과 이에 대해 신호전압을 인가받는 제 1 및 제 2 화소영역(P1, P2)에 있어서 패터닝 오 차에 의해 발생하는 게이트 레이어 및 데이터 레이어간의 틀어짐에 의한 기생용량(Cgs) 크기 변화에 따른 표시품질 저하를 방지할 수 있다.Therefore, in the case of the array substrate 101 according to the present invention, the gate layer generated by the patterning error in the data line 138 and the first and second pixel regions P1 and P2 to which the signal voltage is applied. And display quality deterioration due to a change in the parasitic capacitance (Cgs) size due to the distortion between the data layers.

이후에는, 전술한 평면 구조를 갖는 본 발명에 따른 어레이 기판의 단면구조에 대해 설명한다.Hereinafter, the cross-sectional structure of the array substrate according to the present invention having the planar structure described above will be described.

도 5는 도 4를 절단선 V-V를 따라 절단한 부분에 대한 단면도이다. 이때 단면구조는 제 1 화소영역과 제 2 화소영역 있어서 동일하므로 제 1 화소영역에 대해서만 설명한다. 설명의 편의를 위해 각 화소영역 내에 박막트랜지스터가 형성되는 영역을 스위칭 영역이라 정의한다.5 is a cross-sectional view of a portion taken along the cutting line V-V of FIG. 4. In this case, since the cross-sectional structure is the same in the first pixel area and the second pixel area, only the first pixel area will be described. For convenience of description, an area in which a thin film transistor is formed in each pixel area is defined as a switching area.

도시한 바와 같이, 투명한 절연기판(101) 상에 제 1 게이트 배선(미도시)이 일방향으로 연장 형성되고 있으며, 상기 제 1 게이트 배선(미도시)에서 분기하여 게이트 전극(107)이 형성되어 있으며, 동일한 층에 공통배선(미도시)이 이웃한 화소영역(P1)과 연결되며 동시에 상기 각 화소영역(P1)의 내측 가장자리에 3면을 둘러싸며 형성되어 있다.As illustrated, a first gate wiring (not shown) extends in one direction on the transparent insulating substrate 101, and a gate electrode 107 is formed by branching from the first gate wiring (not shown). The common wiring (not shown) is connected to the adjacent pixel region P1 on the same layer, and is formed to surround three surfaces at the inner edge of each pixel region P1.

또한, 상기 제 1 게이트 배선(미도시)과 공통배선(미도시) 및 게이트 전극(107) 위로 전면에 게이트 절연막(112)이 형성되어 있으며, 상기 게이트 절연막(112) 위로 상기 스위칭 영역(TrA)에는 상기 게이트 전극(107)에 대응하여 순수 비정질 실리콘의 액티브층(120)이 형성되어 있으며, 상기 액티브층(120) 위로 서로 이격하며 불순물 비정질 실리콘의 오믹콘택층(123a, 123b, 123c)이 형성되어 있다. 이때 상기 오믹콘택층(123a, 123b, 123c)은 본 발명의 특성상 상기 스위칭 영역(TrA)에서 3개의 부분으로 나뉘어져 제 1, 2 및 3 오믹콘택층(123a, 123b, 123c) 으로 이루어지고 있는 것이 특징이다. In addition, a gate insulating layer 112 is formed on the entire surface of the first gate wiring (not shown), the common wiring (not shown), and the gate electrode 107, and the switching region TrA is disposed on the gate insulating layer 112. The active layer 120 of pure amorphous silicon is formed in correspondence with the gate electrode 107, and the ohmic contact layers 123a, 123b, and 123c of impurity amorphous silicon are spaced apart from each other on the active layer 120. It is. In this case, the ohmic contact layers 123a, 123b, and 123c may be divided into three parts in the switching region TrA and include first, second, and third ohmic contact layers 123a, 123b, and 123c. It is characteristic.

또한, 상기 3개의 부분으로 나뉘어진 오믹콘택층(123a, 123b, 123c) 중 상기 게이트 전극(107)의 중앙부에 대응하여 형성된 제 2 오믹콘택층(123b) 위로 서로 대칭되는 위치에 제 1 및 제 2 요입부(A1, A2)를 갖는 소스 전극(140)이 형성되고 있으며, 상기 소스 전극(140)의 양측으로 상기 제 1 및 제 3 오믹콘택층(123a, 123c) 위에는 각각 제 1, 2 요입부(A1, A2)에 대응하여 제 1 드레인 전극(142a)과 제 2 드레인 전극(142b)이 형성되고 있다.In addition, the first and the second portions of the ohmic contact layers 123a, 123b, and 123c divided into three parts are symmetrical with each other on the second ohmic contact layer 123b formed corresponding to the central portion of the gate electrode 107. Source electrodes 140 having two recesses A1 and A2 are formed, and the first and second ohmic contact layers 123a and 123c are formed on both sides of the source electrode 140, respectively. The first drain electrode 142a and the second drain electrode 142b are formed to correspond to the entrances A1 and A2.

또한, 상기 소스 전극(140) 및 제 1, 2 드레인 전극(142a, 142b) 위로 상기 제 1 및 제 2 드레인 전극(142a, 142b) 각각을 노출시키는 제 1 및 제 2 드레인 콘택홀(152a, 152b)을 갖는 보호층(150)이 형성되어 있으며, 상기 제 1 및 제 2 드레인 콘택홀(152a, 152b)을 통해 상기 제 1 및 제 2 드레인 전극(142a, 142b)과 동시에 접촉하며 화소전극(155)이 형성되고 있으며, 이때 상기 화소전극(155)은 상기 화소영역(P1) 내측으로 3면을 둘러싸며 형성된 공통배선(미도시)과 중첩하도록 형성됨으로써 상기 중첩된 부분이 스토리지 커패시터(미도시)를 이루며 본 발명의 실시예에 따른 어레이 기판(101)이 완성되고 있다. In addition, first and second drain contact holes 152a and 152b exposing the first and second drain electrodes 142a and 142b over the source electrode 140 and the first and second drain electrodes 142a and 142b. Is formed on the passivation layer 150 and simultaneously contacts the first and second drain electrodes 142a and 142b through the first and second drain contact holes 152a and 152b. In this case, the pixel electrode 155 is formed to overlap the common wiring (not shown) formed to surround three surfaces inside the pixel region P1, so that the overlapped portion is a storage capacitor (not shown). The array substrate 101 according to the embodiment of the present invention is completed.

도 1은 일반적인 액정표시장치의 구성을 개략적으로 도시한 분해 사시도.1 is an exploded perspective view schematically illustrating a configuration of a general liquid crystal display device.

도 2는 데이터 배선이 두 개의 화소영역을 구동하는 일반적인 어레이 기판의 표시영역 일부를 간략히 도시한 개략도.2 is a schematic diagram schematically showing a part of a display area of a general array substrate in which data wirings drive two pixel areas;

도 3은 데이터 배선이 두 개의 화소영역을 구동하는 일반적인 어레이 기판에 있어 데이터 배선을 서로 공유하는 두 개의 화소영역에 대한 평면도.3 is a plan view of two pixel regions in which a data line shares two data lines in a general array substrate driving two pixel regions.

도 4는 본 발명의 실시예에 따른 데이터 배선이 두 개의 화소영역을 구동하는 어레이 기판에 있어 데이터 배선을 서로 공유하는 두 개의 화소영역에 대한 평면도.4 is a plan view of two pixel regions in which data wirings share data wirings in an array substrate in which data wirings drive two pixel regions according to an embodiment of the present invention;

도 5는 도 4를 절단선 V-V를 따라 절단한 부분에 대한 단면도.FIG. 5 is a cross-sectional view of a portion taken along the line V-V of FIG. 4. FIG.

< 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 ><Description of Symbols for Main Parts of Drawings>

105a, 105b : 제 1 및 제 2 게이트 배선 105a, 105b: first and second gate wiring

107 : 게이트 전극107: gate electrode

140 : 소스 전극 140: source electrode

142a, 142b : 제 1 및 제 2 드레인 전극 142a, 142b: first and second drain electrodes

152a, 152b : 제 1 및 제 2 드레인 콘택홀152a, 152b: first and second drain contact holes

155 : 화소전극155 pixel electrode

A1, A2 : 제 1 및 제 2 요입부A1, A2: first and second recesses

P1, P2 : 제 1 및 제 2 화소영역P1, P2: first and second pixel areas

Tr1, Tr2 : 제 1 및 제 2 박막트랜지스터Tr1, Tr2: first and second thin film transistors

n, n+1 : 게이트 배선 그룹 n, n + 1: gate wiring group

Claims (9)

기판 상에 일 방향으로 연장된 제 1 게이트 배선과;A first gate wiring extending in one direction on the substrate; 상기 제 1 게이트 배선과 교차하여 제 1 화소영역을 정의하는 데이터 배선과;A data line crossing the first gate line and defining a first pixel area; 상기 제 1 게이트 배선 및 상기 데이터 배선과 연결되며, 상기 화소영역 내에서 게이트 전극과, 상기 게이트 전극과 중첩되며 서로 대칭되는 구조의 제 1 및 제 2 요입부를 갖는 소스전극과, 상기 제 1 및 제 2 요입부 내부에 각각 삽입되며 서로 대칭적인 구조를 갖는 제 1 및 제 2 드레인 전극을 포함하는 제 1 박막트랜지스터와;A source electrode connected to the first gate line and the data line, the source electrode having a gate electrode in the pixel region, first and second concave portions overlapping with the gate electrode and symmetrical with each other; A first thin film transistor having a first drain and a second drain electrode respectively inserted in the second recess and having a symmetrical structure; 상기 제 1 박막트랜지스터의 상기 제 1 및 제 2 드레인 전극과 동시에 접촉하며 상기 화소영역 내에 형성된 화소전극A pixel electrode formed in the pixel region in contact with the first and second drain electrodes of the first thin film transistor 을 포함하는 어레이 기판. Array substrate comprising a. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 제 1 박막트랜지스터는 상기 게이트 전극과 상기 소스 및 제 1, 2 드레인 전극 사이에 순차 적층된 게이트 절연막과, 액티브층과, 서로 이격하는 제 1, 2 및 3 오믹콘택층을 더 포함하는 어레이 기판.The first thin film transistor may further include a gate insulating layer sequentially stacked between the gate electrode, the source, and the first and second drain electrodes, an active layer, and first, second, and third ohmic contact layers spaced apart from each other. . 제 2 항에 있어서,The method of claim 2, 상기 소스 전극은 상기 제 2 오믹콘택층 상부에, 그리고 상기 제 1 및 제 2 드레인 전극은 각각 상기 제 1 및 제 3 오믹콘택층 상부에 형성된 어레이 기판.And the source electrode is formed on the second ohmic contact layer, and the first and second drain electrodes are formed on the first and third ohmic contact layer, respectively. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 제 1 및 제 2 요입부는 상기 게이트 전극의 중심부를 기준으로 상기 데이터 배선의 길이방향에 대해서 대칭적인 구조를 갖는 것이 특징인 어레이 기판.And the first and second recessed portions have a symmetrical structure with respect to the longitudinal direction of the data line with respect to the center of the gate electrode. 제 2 항에 있어서,The method of claim 2, 상기 제 1 게이트 배선과 평행하게 연장되고 상기 데이터 배선과의 교차에 의해 제 2 화소영역을 정의하는 제 2 게이트 배선을 포함하고,A second gate wiring extending in parallel with the first gate wiring and defining a second pixel region by crossing with the data wiring; 상기 제 2 게이트 배선 및 상기 데이터 배선과 연결되며, 상기 제 2 화소영역에는 상기 제 2 게이트 배선과 상기 데이터 배선과 연결되며 상기 제 1 박막트랜지스터와 동일한 구조를 갖는 제 2 박막트랜지스터가 더 구성된 것이 특징인 어레이 기판.A second thin film transistor connected to the second gate line and the data line and further connected to the second gate line and the data line and having the same structure as the first thin film transistor in the second pixel area. In-array substrate. 제 5 항에 있어서,The method of claim 5, wherein 상기 제 1 및 제 2 화소영역은 상기 데이터 배선을 공유하는 것이 특징인 어레이 기판.And the first and second pixel regions share the data line. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 제 1 박막트랜지스터 상부에는 상기 제 1 및 제 2 드레인 전극을 각각 노출시키는 제 1 및 제 2 드레인 콘택홀을 갖는 보호층이 더욱 구성된 어레이 기판.And a passivation layer on the first thin film transistor, the passivation layer having first and second drain contact holes that expose the first and second drain electrodes, respectively. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 제 1 화소영역에는 그 내측으로 3면을 둘러싸는 형태를 가지며 이웃한 화소영역간에 서로 연결된 공통배선이 더욱 형성된 어레이 기판.And a common wiring connected to each other between adjacent pixel areas, wherein the first pixel area surrounds three surfaces. 제 8 항에 있어서,The method of claim 8, 상기 화소전극은 상기 공통배선과 중첩하여 형성됨으로써 중첩된 부분이 스토리지 커패시터를 이루는 것이 특징인 어레이 기판.And the pixel electrode is formed to overlap the common wiring so that the overlapped portion forms a storage capacitor.
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KR20110066478A (en) * 2009-12-11 2011-06-17 엘지디스플레이 주식회사 Thin film transistor liquid crystal display device and method for fabricating thereof

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