KR20090041212A - Tester automatic all-purpose and measurement method it uses - Google Patents

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Abstract

An automatic tester for all purpose and measurement method using the same can reduce the cost by performing the functional testing of the electricity/electronic products and the durability and aging inspection. The automatic tester for all purpose comprises the controller(20). The controller interfaces LPT of PC or USB wtih data. The controller stores the measured value by the measurement card in the hard disk of PC. The controller varies the setting according to the property of the inspection product and character. The controller comprises the power supply unit(21), and the interface(2) and sub board unit(22). The power supply unit supplies the power source to the system. The interface generates the system control signal. The interface is connected to the PC. The various kinds of subboard are mounted on the subboard part.

Description

범용 자동 검사기 및 이를 이용한 측정방법{tester automatic all-purpose and measurement method it uses}Tester automatic all-purpose and measurement method it uses}

본 발명은 범용 자동 검사기 및 이를 이용한 측정방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 자동차전장품, 휴대폰, 복사기 콘트롤러, 마우스, 힌지, 핸즈프리, 카본저항 PCB, 블루터스 등의 기능검사 및 내구성, 에이징 검사등을 수행함에 있어 특히 자동 검사기의 프로그램과 시스템을 일체화시켜 전문적인 지식이 없는 사람들도 쉽고 빠르게 접근할 수 있도록 정형화하였으며 요소요소 필요한 검사항목에 해당되는 카드만 추가하여 시스템을 구성할 수 있도록 한 것이며, 이로 인해 제품의 품질과 신뢰성을 대폭 향상시켜 소비자로 하여금 좋은 이미지를 심어줄 수 있도록 한 것이다.The present invention relates to a general-purpose automatic tester and a measuring method using the same, and more particularly, the functional test and durability, aging test of automotive electronics, mobile phones, copier controllers, mice, hinges, hands-free, carbon resistance PCB, Bluetooth, etc. In doing so, the program and system of the automatic tester are integrated to make it easy and quick to access even those who do not have professional knowledge, and the system can be configured by adding only the cards corresponding to the necessary test items. As a result, the quality and reliability of the products have been greatly improved, allowing consumers to plant good images.

주지하다시피 검사기란 인간의 눈으로 어떠한 대상을 취급할 때 인간의 눈 만으로는 대상을 제대로 검사할 수 없는 것을 어떠한 기구, 시스템 등을 활용하여 검사하는 기계를 말한다.As is well known, an inspection machine refers to a machine that inspects an object by using any device or system when the object cannot be properly inspected by the human eye.

예를 들어, 100㎛이하의 것을 현미경을 사용하여 검사하는 것 등을 일예로 들수 있고 더 나아가 PC 및 전자 시스템을 이용하여 자동으로 검사하여 자동 판단하는 시스템과 여기에다 로보트를 적용하여 무인 자동판단 및 자동처리장치를 흔히 검사기라 말한다.For example, the inspection of 100 µm or less by using a microscope is an example. Furthermore, the system automatically inspects and judges automatically by using a PC and an electronic system, and the robot is applied to the unmanned automatic judgment and automatic. The processing unit is commonly referred to as the inspector.

핵심기술은 조명(광학)기술, 렌즈, 카메라, 영상캡쳐, PC 기술, 프로그램 설계기술, 영상처리기술, 기계기술, 전기&전자기술, 로봇기술, 반도체 기술 등 상당히 많은 경험과 종합기술을 필요로 하는 기계이다.Core technologies require quite a lot of experience and comprehensive technology such as lighting (optical) technology, lens, camera, image capture, PC technology, program design technology, image processing technology, mechanical technology, electrical & electronic technology, robot technology, and semiconductor technology. It is a machine.

그러나 상기한 종래의 검사기는 다음과 같은 많은 문제점이 발생되어 사용을 기피하게 되었다.However, the above-described conventional inspection machine has been a lot of problems, such as to avoid the use.

즉, 종래 검사기는 현재 국내외를 막론하고 대부분이 주문제작에 의존함으로써 고급인력의 확보가 필요하며, 제작기간이 길고. 비용이 비싸며. 신뢰성의 확보가 부족한 등 많은 문제점이 산재해 있는 것이 현실이다. 그렇다고 이런 시스템을 중소기업에서 고급인력을 확보하여 시스템을 구축하기란 부담스러운 일이며 또한 만들더라도 담당했던 엔지니어가 퇴사할 경우 불용장비로서 녹슬게 되는 경우가 허다한 실정이다. In other words, the conventional inspection machine is now required to secure high-quality manpower, because most of them rely on custom-made, both domestic and foreign, and the production period is long. It's expensive. The reality is that many problems are scattered, including lack of reliability. However, it is burdensome to build such a system by securing high-quality manpower from small and medium-sized companies, and even if the engineer who is in charge of the company leaves the company, it is often rusted as an unusable equipment.

아울러 상품으로는 시장에 개별적인 DAQ 카드 등 단일항목을 측정검사하는 시스템들은 많이 나와있으나 이를 사용할 경우 별도의 프로그램을 짜야하며 하드웨어 구성까지도 검사 대상물에 맞추어 제작해야 하므로 항상 새롭게 개발이 되어야 하며 많은 시간가 비용을 필요로 하게 되는 것이다. 이러한 이유로 중소기업에서 자동 검사기를 도입하기란 쉽지 않으며 고급인력 또한 확보가 쉽지 않은 것이 현실 이다.In addition, there are many systems that measure and test single items such as individual DAQ cards on the market, but if you use them, you have to write a separate program, and even the hardware configuration must be tailored to the test object. It is necessary. For this reason, it is difficult for small and medium-sized companies to introduce automatic testers, and it is difficult to secure high-quality manpower.

상기 DAQ 카드를 이용해서 자동 검사기를 제작할 경우 실 측정카드 비용만 수백만원에 이르며 여기에 설계 프로그램 비용 등을 합하면 자동 검사기 1대 제작 비용만 수천 만원을 호가하게 된다. 이러한 이유로 이런 시스템은 대기업 중심으로 사용되고 있으나 중소기업에서는 인건비 비중이 높아지는 현시점에서 대체하고 싶어도 할 수 없는 경우가 대부분이다.When the automatic tester is manufactured using the DAQ card, the actual measuring card costs only several million won, and the design program cost, etc., adds up to tens of thousands of won. For this reason, these systems are mainly used by large corporations, but most of them are unable to replace them at the present time when labor costs increase.

또한 종래 기술인 전용시스템은 몇 개의 기능들이 고정적으로 조합되어 전용의 동작만을 하여 비 융통적인 문제점을 가지고 있어서 만약 사용자가 현재 보유하고 있는 전용시스템의 기능을 추가하거나 개선하는 등의 작업을 수행할 때 사용자는 고정적인 부분을 수정하는데 상당한 노력과 많은 시간이 필요하게 되었다.In addition, the prior art dedicated system has a non-flexible problem by fixedly combining a number of functions only by dedicated operation, so if the user performs operations such as adding or improving the function of the dedicated system that the user currently possesses, It takes a lot of effort and time to fix the fixed part.

한편, 국내 회사에서 ICT 기능과 기능검사가 포함된 장비가 출시되고 있으나 이 역시 고급 엔지니어의 기술을 빌리지 않으면 쉽지 않으며 비용이 수천 만원대에 이르는 고가품으로서 중소기업에서 적용하기에는 많은 부담이 있을 수 밖에 없다.On the other hand, domestic companies are launching equipment that includes ICT functions and functional tests, but this too is not easy without borrowing the skills of advanced engineers, and it is expensive to reach tens of millions of won.

본 발명은 상기와 같은 종래 기술의 제반 문제점을 해소하기 위하여 안출한 것으로, 특정한 제품을 대상으로 하는 전용 검사기가 아니라 모든 측정카드를 정형화하여 사용자가 쉽게 접근할 수 있도록 함을 제1목적으로 한 것이고, 따라서 제2목적은 자동차전장품, 휴대폰, 복사기 콘트롤러, 마우스, 힌지, 핸즈프리, 카본저항 PCB, 블루터스 등의 모든 제품의 기능검사 및 내구성, 에이징 검사 등을 수행할 수 있도록 한 것이며, 제3목적은 특히 자동 검사기의 프로그램과 시스템을 일체화시켜 전문적인 지식이 없는 사람들도 쉽고 빠르게 접근할 수 있도록 정형화하였으며, 제4목적은 요소요소 필요한 검사항목에 해당되는 카드만 추가하여 시스템을 구성할 수 있도록 한 것이며, 제5목적은 운용프로그램을 무상으로 공급하고 시스템 중 필요한 카드만을 선별해서 구매하고 해당업체에서 직접 제작을 할 수 있도록 하여 비용을 절감시키고 제작 이후에도 자체적으로 관리가 가능하도록 한 것이고, 제6목적은 전용시스템에서 고정되어 있는 기능들을 탈부착이 가능하도록 만들어 최대한 전용시스템의 틀에서 벗어나 확장서 및 융통성이 높아지도록 구축한 것이며, 제7목적은 이로 인해 제품의 품질과 신뢰성을 대폭 향상시켜 소비자로 하여금 좋은 이미지를 심어줄 수 있도록 한 범용 자동 검사기 및 이를 이용한 측정방법을 제공한다.The present invention has been made to solve the problems of the prior art as described above, and the first object of the present invention is to make it easy for the user to easily access by measuring all measurement cards rather than a dedicated tester for a specific product. Therefore, the second purpose is to enable the functional inspection, durability, and aging inspection of all products such as automotive electronics, mobile phones, copier controllers, mice, hinges, hands-free, carbon resistor PCB, Bluetooth, etc. In particular, the program and system of the automatic inspection machine are integrated to make it easy and quick to access even those who do not have professional knowledge.The fourth purpose is to add a card that corresponds to the necessary inspection items for the element. The fifth purpose is to supply the operating program free of charge and select only the necessary cards in the system. In order to reduce the cost and to be able to manage the product itself after the production, the 6th objective is to make it possible to attach and detach the functions fixed in the dedicated system. The purpose of the seventh objective is to provide a general-purpose automatic inspector and a measuring method using the same to greatly improve the quality and reliability of the product, thereby allowing consumers to plant a good image.

이러한 목적 달성을 위하여 본 발명은 검사기에 구비되어 PC(1)의 LPT 또는 USB와 데이터를 인터페이스 하며 각 카드들을 제어하고 각 카드에서 측정한 값을 PC의 하드디스크에 저장하고 필요한 날짜의 데이터를 로드할 수 있으며 검사대상물인 제품의 특성 및 성격에 따라 설정을 가변할 수 있도록 하면서 생산에 대한 이력 관리와 모델 추가에 따른 업그레이드를 사용업체 자체적으로 운용할 수 있도록 콘트롤러가 구비되되, 이 콘트롤러는 시스템의 전원을 공급하기 위한 전원부와, 시스템을 제어하기 위해 신호를 발생하는 부분으로 컴퓨터와 연결하여 사용하는 인터페이스와, 자동검사를 위한 신호의 발생 및 측정에 사용되는 여러 종류의 서브보드(Sub Board)를 장착하는 서브보드부로 이루어짐을 특징으로 하는 범용 자동 검사기를 제공한다.In order to achieve this purpose, the present invention is provided with a tester to interface data with LPT or USB of the PC 1, to control the respective cards, to store the values measured on each card in the hard disk of the PC and to load the data of the required date It is possible to change the setting according to the characteristics and characteristics of the product to be inspected, and the controller is equipped to manage the production history and upgrade according to the addition of the model. The power supply unit for power supply, the interface that connects to a computer to generate signals to control the system, and the various types of sub boards used for generating and measuring signals for automatic inspection It provides a universal automatic tester, characterized in that consisting of a sub-board unit for mounting.

또한 본 발명은 (1) 테스트 모드 선택 (2) 검사 모델 선택 (3) 시작버튼 (4) lnitializing (5) 상기 (1)번 스탭출력 설정값 읽어옴 (6) 상기 (1)번 스탭출력 제어 신호 전달 (7) 인터페이스에서 출력제어 신호접수 (8) PC에서 전송받은 정보를 마더보드에서 필요로 하는 슬롯의 서브 카드로 제어를 위한 신호 전송 (9) 출력 제어한 신호의 내용을 확인하여 서브 카드로 정보전송 (10) 서브 보드부엣 PC에서 전송된 해당 시그널 출력 (11) 검사 대상물인 제품에 신호전환 하기 위해 MUX로 전송신호 입력제어신호 전달 (12) 검사대상 제품의 반응 (13) 상기 (1)번 입력에 대한 정보를 PC에서 읽어옴 (14) 인터페이스에서 입력 카드 및 포트 측정 내용에 대한 정보 입수 (15) 인터페이스에서 받은 정보를 분배해서 서브 카드로 정보 전송 (16) 해당 서브카드에서 값 읽어옴 (17) 서브 보드에서 읽은 정보를 마더보드에서 인터 페이스로 전송 (18) 인터페이스에서 읽은 값을 정형하여 PC로 전송 (19) 검사화면에 표시 (20) 상기 (2)번을 분리 상기 (1)∼(20)의 순서에 의해 범용 자동 검사기를 이용한 측정방법을 수행함을 특징으로 하는 범용 자동 검사기를 이용한 측정방법을 제공한다.In addition, the present invention (1) test mode selection (2) test model selection (3) start button (4) lnitializing (5) (1) step output value reading (6) step (1) step output control Signal transmission (7) Receive output control signal from interface (8) Signal transmission for controlling the information received from PC to the sub card of slot required from the motherboard (9) Sub card by checking the contents of output control signal (10) Transmit signal output from PC at sub-board part (11) Transmit signal input control signal to MUX to switch signal to product to be inspected (12) Response of product to be inspected (13) Above (1) Read information about Input No.) from PC (14) Obtain information about input card and port measurement contents from interface (15) Distribute information received from interface and send information to sub card (16) Read value from relevant sub card Ohm 17 in sub board Transfer the read information from the motherboard to the interface (18) Shape the value read from the interface and transfer it to the PC (19) Display on the test screen (20) Remove the above (2) Steps (1) to (20) By providing a measuring method using a universal automatic tester, characterized in that for performing a measuring method using a universal automatic tester.

상기에서 상세히 살펴본 바와 같이 본 발명은 특정한 제품을 대상으로 하는 전용 검사기가 아니라 모든 측정카드를 정형화하여 사용자가 쉽게 접근할 수 있도록 한 것이다.As described in detail above, the present invention is not intended to be a dedicated tester for a specific product, but to standardize all measurement cards to allow the user to easily access.

따라서 본 발명은 자동차전장품, 휴대폰, 복사기 콘트롤러, 마우스, 힌지, 핸즈프리, 카본저항 PCB, 블루터스 등의 모든 제품의 기능검사 및 내구성, 에이징 검사 등을 수행할 수 있도록 한 것이다.Therefore, the present invention is to be able to perform the functional test, durability, aging test of all products such as automotive electronics, mobile phones, copier controller, mouse, hinge, hands-free, carbon resistance PCB, Bluetooth.

특히 본 발명은 자동 검사기의 프로그램과 시스템을 일체화시켜 전문적인 지식이 없는 사람들도 쉽고 빠르게 접근할 수 있도록 정형화한 것이다.In particular, the present invention is to integrate the program and the system of the automatic checker is formulated to be easily and quickly accessible to people without professional knowledge.

또한 본 발명은 요소요소 필요한 검사항목에 해당되는 카드만 추가하여 시스템을 구성할 수 있도록 한 것이다.In addition, the present invention is to add only the card corresponding to the required inspection items of the element element to configure the system.

그리고 본 발명은 운용프로그램을 무상으로 공급하고 시스템 중 필요한 카드만을 선별해서 구매하고 해당업체에서 직접 제작을 할 수 있도록 하여 비용을 절감시키고 제작 이후에도 자체적으로 관리가 가능하도록 한 것이다.In addition, the present invention is to supply the operation program free of charge and to purchase only the necessary cards in the system and to make the production directly from the company to reduce the cost and to be able to manage itself after production.

더하여 본 발명은 전용시스템에서 고정되어 있는 기능들을 탈부착이 가능하 도록 만들어 최대한 전용시스템의 틀에서 벗어나 확장서 및 융통성이 높아지도록 구축한 것이다.In addition, the present invention is built to enable the detachable functions that are fixed in the dedicated system to be as far as possible from the framework of the dedicated system to expand and increase flexibility.

본 발명은 상기한 효과로 인해 제품의 품질과 신뢰성을 대폭 향상시켜 소비자로 하여금 좋은 이미지를 심어줄 수 있도록 한 매우 유용한 발명인 것이다.The present invention is a very useful invention that can significantly improve the quality and reliability of the product due to the above-described effect so that consumers can plant a good image.

이하에서는 이러한 효과 달성을 위한 본 발명의 바람직한 실시 예를 첨부된 도면에 따라 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, described in detail with reference to the accompanying drawings a preferred embodiment of the present invention for achieving this effect are as follows.

본 발명에 적용된 범용 자동 검사기 및 이를 이용한 측정방법은 도 1 내지 도 22 에 도시된 바와 같이 구성되는 것이다.Universal automatic tester applied to the present invention and the measuring method using the same is configured as shown in Figs.

하기에서 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 기능 또는 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략할 것이다.In the following description of the present invention, if it is determined that a detailed description of a related known function or configuration may unnecessarily obscure the subject matter of the present invention, the detailed description thereof will be omitted.

그리고 후술되는 용어들은 본 발명에서의 기능을 고려하여 설정된 용어들로서 이는 생산자의 의도 또는 관례에 따라 달라질 수 있으므로 그 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 할 것이다.The following terms are terms set in consideration of functions in the present invention, which may vary depending on the intention or custom of the producer, and their definitions should be made based on the contents throughout the specification.

먼저, 본 발명은 도 1, 2 에 도시된 바와 같이 검사기에 구비되어 PC(1)의 LPT 또는 USB와 데이터를 인터페이스 하며 각 카드들을 제어하고 각 카드에서 측정한 값을 PC의 하드디스크에 저장하고 필요한 날짜의 데이터를 로드할 수 있으며 검 사대상물인 제품의 특성 및 성격에 따라 설정을 가변할 수 있도록 하면서 생산에 대한 이력 관리와 모델 추가에 따른 업그레이드를 사용업체 자체적으로 운용할 수 있도록 한 콘트롤러(20)가 구비된다. 이때 상기 콘트롤러(20)는 시스템의 전원을 공급하기 위한 전원부(21)와, 시스템을 제어하기 위해 신호를 발생하는 부분으로 컴퓨터와 연결하여 사용하는 인터페이스(2)와, 자동검사를 위한 신호의 발생 및 측정에 사용되는 여러 종류의 서브보드(Sub Board)를 장착하는 서브보드부(22)로 이루어진다.First, the present invention is provided with a tester as shown in Figs. 1 and 2 to interface data with the LPT or USB of the PC (1), to control the respective cards and to store the values measured in each card to the hard disk of the PC It is possible to load the data of the required date, and to change the setting according to the characteristics and characteristics of the product to be inspected, and to manage the history of production and upgrade according to the model addition. 20). At this time, the controller 20 is a power supply unit 21 for supplying power to the system, an interface 2 used to connect a computer to generate a signal to control the system, and the generation of a signal for automatic inspection And a sub board unit 22 for mounting various kinds of sub boards used for measurement.

그리고 본 발명에 적용된 상기 인터페이스(2)는 도 3 에 도시된 바와 같이 신호해석기(2b)와 연결된 PC신호입출력장치(2a)와 시스템제어신호발생기(2d) 그리고 제어신호발생기(2c) 및 시스템버스발생기(2e)가 구비되어 PC(1)로부터 들어오는 명령을 해석하여 시스템에게 적절한 명령을 내리고 시스템으로부터 데이터를 수집하여 PC에 전달하게 된다.In addition, the interface 2 applied to the present invention includes a PC signal input / output device 2a, a system control signal generator 2d, a control signal generator 2c, and a system bus connected to the signal analyzer 2b as shown in FIG. Generator (2e) is provided to interpret the command coming from the PC (1) to give the appropriate command to the system to collect data from the system and deliver it to the PC.

또한 본 발명에 적용된 상기 서브보드부(22)에는 신호의 입출력을 담당하는 I/O보드; 아날로그 신호를 디지털신호로 변환해 주는 AD보드; 디지털 값을 아날로그신호로 변환해 주는 DA보드; 입력되는 파형을 분석하는 프리퀸시인보드(Frequency In Board); 임의의 주파수 및 펄스를 발생시키는 프리퀸시아웃보드(Frequency Out Board); 서브 및 스텝핑모터 제어를 위한 모터콘트롤보드; 저항값을 사용자가 프로그래밍적으로 가변시킬 수 있는 저항값 콘트롤보드;가 구비된다.In addition, the sub-board unit 22 applied to the present invention I / O board which is responsible for the input and output of the signal; An AD board for converting an analog signal into a digital signal; DA board for converting digital values into analog signals; A frequency inboard analyzing the input waveform; Frequency Out Board for generating arbitrary frequency and pulses; A motor control board for controlling the sub and stepping motors; There is provided a resistance value control board that allows the user to programmatically change the resistance value.

상기한 기술적 구성을 보다 상세히 설명하면 다음과 같다.The technical configuration described above will be described in more detail as follows.

즉, 상기 신호의 입출력을 담당하는 I/O보드는 도 4 에 도시된 바와 같이 제어부(22a-2)가 AD버스(22a-1) 및 I/O 버퍼(22a-3)와 연결되어 시스템의 제어로 64핀의 I/O 기능을 수행하게 되고, 만약 사용자가 64핀 이상의 I/O를 필요로 한다면 I/O 보드를 추가로 설치하여 사용할 수 있다.That is, as shown in FIG. 4, the control unit 22a-2 is connected to the AD bus 22a-1 and the I / O buffer 22a-3. The control performs 64 pin I / O function and if user needs more than 64 pin I / O board can be installed.

또한 상기 아날로그 신호를 디지털신호로 변환해 주는 AD보드는 도 5 에 도시된 바와 같이 AD콘트롤러(22b-2)가 AD버스(22b-1) 및 AD컨버터(22b-3)와 연결되어 채널로 들어오는 아날로그 신호를 디지털 신호로 변환하는 기능을 수행한다. 이때 보드는 기본적으로 4개의 채널을 가지고 있으며 사용자가 보다 많은 수의 채널을 필요로 한다면 AD보드를 추가함으로써 쉽게 구현할 수 있게 된다.In addition, the AD board for converting the analog signal into a digital signal has an AD controller 22b-2 connected to the AD bus 22b-1 and the AD converter 22b-3 as shown in FIG. It converts analog signals to digital signals. At this time, the board basically has 4 channels, and if the user needs more channels, it can be easily implemented by adding an AD board.

이러한 AD보드를 이용하여, 전압측정, 전류측정, 저항측정을 담당하게 된다.Using this AD board, it is in charge of voltage measurement, current measurement and resistance measurement.

또한 상기 디지털 값을 아날로그신호로 변환해 주는 DA보드는 도 6 에 도시된 바와 같이 제어부(22c-2)가 AD버스(22c-1) 및 DA컨버터(22c-3)와 연결되어 측정 대상이 필요로 하는 전압 값을 발생하는 기능을 수행한다. 이때 측정 대상은 자신에 맞는 전압을 설정하여 측정에 필용한 출력 전압을 얻을 수 있고, 보드에는 2개의 출력 채널이 마련되어 있으며 DA보드를 추가함으로써 채널을 확장할 수 있다.In addition, the DA board for converting the digital value into an analog signal requires a measurement target because the controller 22c-2 is connected to the AD bus 22c-1 and the DA converter 22c-3 as shown in FIG. It performs the function of generating voltage value. In this case, the measurement target can set an appropriate voltage to obtain an output voltage necessary for measurement, and the board has two output channels, and the channel can be expanded by adding a DA board.

또한 상기 입력되는 파형을 분석하는 프리퀸시인보드(Frequency In Board)는 도 7 에 도시된 바와 같이 제어부(22d-2)가 AD버스(22d-1)와 프리퀀시샘플러(22d-3) 및 타이밍컨트롤러(22d-4)와 연결되어 외부의 파형신호를 포착하여 그 파형의 주파수 및 효율 등 파형정보를 검출하는 기능을 수행하는 것으로, 보드에는 1개의 채널이 마련되어 있으며 프리퀸시인보드를 추가함으로써 채널을 확장할 수 있음은 물론이다.In addition, as shown in FIG. 7, the controller 22d-2 includes the AD bus 22d-1, the frequency sampler 22d-3, and the timing controller. It is connected to (22d-4) to capture the external waveform signal and to detect the waveform information such as frequency and efficiency of the waveform. The board is provided with one channel. Of course, it can be extended.

또한 상기 임의의 주파수 및 펄스를 발생시키는 프리퀸시아웃보드(Frequency Out Board)는 도 8 에 도시된 바와 같이 제어부(22e-2)가 AD버스(22e-1)와 파형발생기(22e-3) 및 타이밍컨트롤러(22e-4)와 연결되어 측정 대상에 파형신호를 출력시키는 기능을 수행하게 된다. 이때 출력은 측정 대상물에 따라 사용할 수 있도록 3가지의 기본 파형을 제공한다. 보드에는 각각의 출력 파형이 1개씩 마련되어 있으며 프리퀸시아웃보드를 추가함으로써 채널을 확장할 수 있다.In addition, as shown in FIG. 8, the frequency controller 22e-2 generates an arbitrary frequency and pulse, and the controller 22e-2 includes the AD bus 22e-1 and the waveform generator 22e-3. It is connected to the timing controller 22e-4 to perform a function of outputting a waveform signal to a measurement target. The output provides three basic waveforms for use depending on the object being measured. Each board has one output waveform and the channel can be expanded by adding a frequency outboard.

또한 상기 서브 및 스텝핑모터 제어를 위한 모터콘트롤보드는 도 9 에 도시된 바와 같이 제어부(22f-2)에 AD버스(22f-1)와 모터구동신호발생부(22f-3), 모터제어신호발생부(22f-4), 센서입력부(22f-5)가 연결되어 서브 및 스탭핑모터의 구동을 위한 신호를 발생시키는 기능을 담당하는 것으로, 시스템의 제어에 따라 보드의 출력을 서브모터나 스탭핑모터로 선택할 수 있게 된다. 보드에는 2개의 출력 채널으 제공하며 모터 콘트롤러 보드를 추가함으로써 채널을 확장할 수 있다.In addition, the motor control board for controlling the sub and stepping motor has an AD bus 22f-1, a motor drive signal generator 22f-3, and a motor control signal generated on the controller 22f-2 as shown in FIG. The unit 22f-4 and the sensor input unit 22f-5 are connected to perform a function for generating a signal for driving the sub and stepping motors. It can be selected by a motor. The board provides two output channels and can be expanded by adding a motor controller board.

마지막으로 상기 저항값을 사용자가 프로그래밍적으로 가변시킬 수 있는 저항값 콘트롤보드는 도 10 에 도시된 바와 같이 제어부(22g-2)가 AD버스(22g-1) 및 저항값설정부(22g-3)와 연결되어 A, B 양단의 저항값을 사용자가 프로그래밍적으로 가변시킬 수 있는 기능을 수행하는 것으로, 보드에는 1쌍의 저항값 출력단자를 제공하며 저항값 콘트롤러보드를 추가함으로써 저항값 출력단자 쌍을 확장할 수 있다.Lastly, as shown in FIG. 10, the controller 22g-2 includes the AD bus 22g-1 and the resistor value setting unit 22g-3. ) Is a function that the user can programmatically change the resistance value of both A and B terminals, and it is provided with a pair of resistance value output terminals on the board and the resistance value output terminal by adding a resistance value controller board. You can extend the pair.

도면상 부호 3은 마더보드이고, 부호 4 내지 17 은 각각의 서브보드로, 4는 I/O, 5는 주파수출력, 6은 전압출력, 7은 저항출력, 8은 서보출력, 9는 통신출력, 10은 기타출력카드, 11은 digitacin, 12는 ac/dc전압 입력, 13은 ac/dc전류 입력, 14는 저항입력, 15는 주파수 타임 더티 입력, 16은 통신입력, 17은 기타 측정 입력카드, 18은 MUX, 19는 검사대상 제품이다.In the drawing, reference numeral 3 is a motherboard, and 4 to 17 are respective subboards, 4 is I / O, 5 is frequency output, 6 is voltage output, 7 is resistance output, 8 is servo output, 9 is communication output. , 10 is other output card, 11 is digitacin, 12 is ac / dc voltage input, 13 is ac / dc current input, 14 is resistance input, 15 is frequency time dirty input, 16 is communication input, 17 is other measurement input card , 18 is the MUX and 19 is the product to be inspected.

한편 본 발명은 상기의 구성부를 적용함에 있어 다양하게 변형될 수 있고 여러 가지 형태를 취할 수 있다.On the other hand, the present invention may be variously modified and may take various forms in applying the above configuration.

그리고 본 발명은 상기의 상세한 설명에서 언급되는 특별한 형태로 한정되는 것이 아닌 것으로 이해되어야 하며, 오히려 첨부된 청구범위에 의해 정의되는 본 발명의 정신과 범위 내에 있는 모든 변형물과 균등물 및 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.And it is to be understood that the invention is not limited to the specific forms referred to in the above description, but rather includes all modifications, equivalents and substitutions within the spirit and scope of the invention as defined by the appended claims. It should be understood that.

상기와 같이 구성된 본 발명 범용 자동 검사기 및 이를 이용한 측정방법의 작용효과를 설명하면 다음과 같다.Referring to the effect of the present invention universal automatic tester configured as described above and the measuring method using the same as follows.

우선, 본 발명의 검사 방법 설정은, 기능 검사(FUNCTIONAL TEST: 검사대상물의 특성 /기능을 검사 하여 불량 또는 양품을 선별함을 목적으로 함 ), 내구성 검사(같은 기능을 반복적으로 검사 하는 것으로 시간 / 일 / 월 / 년 또는 횟수를 저장하여 설정된 만큼 반복적 검사하여 데이터를 취득하고 저장하며 불량과 검사 제품의 수명에 대한 판정을 하기 위한 것)주로 기구물에 대한 수명을 검사하기 위한 방법으로 사용, AGING 검사(내구성과 비슷한 취지의 검사이나 전원이 끈기지 않은 상태에서 검사 제품의 전기적 특성 및 동작상태의 변화를 검사하기 위해 시간/ 일/월/년/또는 횟수를 설정하여 검사하는 것이다. First, the inspection method setting of the present invention is a function test (FUNCTIONAL TEST: for the purpose of screening for defective or good products by inspecting the characteristics / functions of the test object), durability test (time / It is a method to check the life of the equipment mainly by acquiring and storing data by repeatedly inspecting the set date / month / year or the number of times and setting the data. (It is to set up time / day / month / year / or number of times to check the change of electrical characteristics and operation state of the product without inspection of durability for the purpose similar to durability or inspection.

모델 추가 방법 및 순서는, 메인 화면에서 메뉴바의 모델을 클릭하면 모델설정 화면이 나타난다. 만일모델을 추가 하려면 모델추가 화면이 나타나면 MODEL TABLE 에서 설명내용에 따라 모델을 추가하고 기존 모델에 대한 항목의 수정 삽입 삭제를 하려면 우측 테이블에 마우스를 위치하고 직접 수정하면 된다.For model addition method and order, click Model on the menu bar in main screen, then model setting screen appears. If you want to add a model, if the Add Model screen appears, add a model according to the description in MODEL TABLE and modify and insert the item for the existing model.

각 항목에 대한 세부 내용을 수정 또는 재설정하려면 스펙 세부 설정을 누르면 설정 화면이 나타나는 것으로, 이때 먼저 아날로그값/ 디지털 값/ 통신값 중 어떤항목을 수정할지를 선택한다. 수정 또는 재설정해야할 스텝 번호의 위치에 마우스를 위치하고 NEXT 를 클릭하면 화면이 나타난다. 도움말은 현재 화면에 대한 사용 설명 및 기능이 표시되어 있다.If you want to modify or reset the details of each item, press the detailed specification and the setting screen appears. At this time, select which item among analog value, digital value and communication value to modify. Place the mouse on the step number to be modified or reset and click NEXT to display the screen. Help displays the usage description and functions for the current screen.

본 발명에 적용된 범용 자동 검사기를 이용한 측정방법의 작용을 도 12 및 아래의 (1)∼(20)의 순서에 의해 보다 상세히 설명하면 다음과 같다.The operation of the measuring method using the universal automatic tester applied to the present invention will be described in more detail by the procedures of FIGS. 12 and (1) to (20) below.

(1) 테스트 모드 선택(1) Select test mode

(2) 검사 모델 선택(2) Select inspection model

(3) 시작버튼(3) Start button

(4) lnitializing(4) lnitializing

(5) 상기 (1)번 스탭출력 설정값 읽어옴(5) Read step output setting value of (1) above

(6) 상기 (1)번 스탭출력 제어 신호 전달(6) transfer of step output control signal (1)

(7) 인터페이스에서 출력제어 신호접수(7) Reception of output control signal at interface

(8) PC에서 전송받은 정보를 마더보드에서 필요로 하는 슬롯의 서브 카드로 제어를 위한 신호 전송(8) Transmit signal for control to sub card of slot needed from motherboard

(9) 출력 제어한 신호의 내용을 확인하여 서브 카드로 정보전송(9) Check the contents of the output control signal and send information to the sub card

(10) 서브보드부에서 PC에서 전송된 해당 시그널 출력(10) Corresponding signal output from PC in sub board

(11) 검사 대상물인 제품에 신호전환 하기 위해 MUX로 전송신호 입력제어신호 전달(11) Transmit signal input control signal to MUX for signal conversion to the product to be inspected

(12) 검사대상 제품의 반응(12) Response of the product to be inspected

(13) 상기 (1)번 입력에 대한 정보를 PC에서 읽어옴(13) Read information about input (1) from PC

(14) 인터페이스에서 입력 카드 및 포트 측정 내용에 대한 정보 입수(14) Obtain information on input card and port measurements from the interface

(15) 인터페이스에서 받은 정보를 분배해서 서브 카드로 정보 전송(15) Distributing the information received from the interface and sending the information to the sub card

(16) 해당 서브카드에서 값 읽어옴(16) Read value from subcard

(17) 서브 보드에서 읽은 정보를 마더보드에서 인터페이스로 전송(17) Transfer information read from sub board to interface

(18) 인터페이스에서 읽은 값을 정형하여 PC로 전송(18) Format the value read from the interface and transfer it to the PC

(19) 검사화면에 표시(19) Display on inspection screen

(20) 상기 (2)번을 분리(20) remove the above (2)

아울러 본 발명에 적용된 상기 서브카드는 사용자가 12개의 마더보드의 슬롯중 어떤 위치에 삽입할 수 있으며 이 정보는 자동으로 PC로 전송되고 이후 PC는 이 정보를 기준으로 해당 서브 카드의 제어를 하게 된다.In addition, the sub-card applied to the present invention can be inserted in any position of the slot of the 12 motherboards, the information is automatically transmitted to the PC and then the PC to control the sub-card based on this information .

상기한 작동의 흐름을 도 13 내지 도 22 를 보면서 보다 상세히 설명하면 다음과 같다.The flow of the above operation will be described in more detail with reference to FIGS. 13 to 22 as follows.

우선, 도 13 은 메인화면으로서 프로그램 로딩시 초기 화면으로,First, FIG. 13 is an initial screen when loading a program as a main screen.

1) Master Mode 는 검사중 측정 콘트롤러(20)의 측정상태 및 제어상태를 확인할수 있는 화면이다.1) Master Mode is a screen to check the measurement status and control status of the measurement controller 20 during the inspection.

2) Worker Mode 는 전문적지식이 없는 일반 작업자가 사용하는 모드이다.2) Worker Mode is a mode used by ordinary workers without professional knowledge.

3) other mode는 Master Mode 에서 표현할수 없는 정보및 세부내용을 표시한다 .3) other mode displays information and details that cannot be displayed in Master Mode.

4) error code mode는 사용중 각종 에러메세지를 표시한다.4) Error code mode displays various error messages during use.

5). helf mode는 사용상의 도움말을 확인할수 있다.5). The helf mode can be used for help.

메뉴바의 "model"은 세부항목으로 진입하여 각종 설정 및 세팅을 행할수 있다."Model" in the menu bar allows you to enter various items and make various settings and settings.

메뉴바의"manual " 은 콘트롤러(20)에 장착된 각종 카드의 조작을 수동으로 조작 할수 있다."Manual" of the menu bar can be operated manually to operate the various cards mounted on the controller (20).

메뉴바의 "datal"은 검사한 실측값의 날짜별 데이터를 출력할 수 있다."Datal" on the menu bar can output date-specific data of the measured actual value.

또한 도 14 는 모델 관리 화면창으로 측정 및 검사하고자 하는 제품 및 모델을 추가할 수 있다.In addition, FIG. 14 may add a product and a model to be measured and inspected as a model management screen window.

또한 조 15 는 아날로그/디지털/통신/내구성 설정 화면으로, 해당모드의 스텝별 아날로그 입력 및 출력 통신값을 설택한다.In addition, Article 15 is an analog / digital / communication / durability setting screen, and selects analog input and output communication values for each step of the corresponding mode.

그리고 도 16 은 아날로그 세부 설정화면으로, 콘트롤러(20)에 들어가는 아날로그 관련 카드들의 주소 및 정보 활용 용도 설정 화면이며, AC/DC/전압/전류/저항/주파수 등에 대한 세부 설정을 하게 된다.16 is an analog detailed setting screen, which is a setting screen for using addresses and information of analog related cards entering the controller 20, and performs detailed settings for AC / DC / voltage / current / resistance / frequency.

즉, SLOT위치(CARD NO), CARD 내의 CH NO, 전압/전류/저항/AC/DC/주파수/TIME/MOTOR, DELAY, 출력할 값, 검사모드, 동시검사 대수 등을 설정할 수 있는 출력 설정 부분이 잇고, 또한 SLOT위치(CARD NO), CARD 내의 CH NO, 전압/전류/저항/AC/DC/주파수/TIME/MOTOR, DELAY, 입력 값에 대한 상한설정, 입력 값에 대한 하한설정, 동시검사 대수 등을 설정할 수 있는 입력모드 설정이 있다. 아울러 현재 설정된 값들을 그대로 다른 스탭으로 복사할 수 있음은 물론이다.In other words, output setting part that can set slot position (CARD NO), CH NO in CARD, voltage / current / resistance / AC / DC / frequency / TIME / MOTOR, DELAY, output value, test mode, number of simultaneous test In addition, SLOT position (CARD NO), CH NO in the CARD, voltage / current / resistance / AC / DC / frequency / TIME / MOTOR, DELAY, upper limit setting for input value, lower limit setting for input value, simultaneous inspection There is input mode setting that can set number and so on. In addition, it is possible to copy the currently set values to other staff as it is.

또한 도 17 은 디지털 세부 설정화면으로, 콘트롤러(20)에 들어가는 디지털 입출력카드의 주소 및 정보 활용 용도 등을 설정한다.In addition, FIG. 17 is a detailed digital setting screen for setting the address and information utilization of the digital input / output card entering the controller 20. FIG.

즉, SLOT위치(CARD NO), CARD 내의 CH NO, DELAY, 출력할 값(8BIT/16BIT), 검사모드, 동시검사대수 등을 설정할 수 있는 출력 설정 부분이 있고, 또한 SLOT위치(CARD NO), CARD 내의 CH NO, DELAY, 16비트 입력값에 대한 판정 설정, 8비트 입력값에 대한 판정 설정, 1비트 입력값에 대한 판정 설정, ACTIVE LOW 또는 HIGH 입력으로 판정할 것인가에 대한 선택, 동시검사 대수 등을 설정할 수 있는 입력모드 설정이 있다. 아울러 현재 설정된 값들을 그대로 다른 스탭으로 복사할 수 있음은 물론이다.That is, there is an output setting part that can set SLOT position (CARD NO), CH NO, DELAY in CARD, value to be output (8BIT / 16BIT), inspection mode, number of simultaneous inspections, and also SLOT position (CARD NO), CH NO, DELAY in CHARD, judgment setting for 16-bit input value, judgment setting for 8-bit input value, judgment setting for 1-bit input value, selection for judging by ACTIVE LOW or HIGH input, simultaneous check There is an input mode setting that can be set. In addition, it is possible to copy the currently set values to other staff as it is.

또한 도 18 은 통신설정 화면창으로, 콘트롤러(20)에 들어가는 통신카드의 주소 및 정보 활용 용도 등을 설정한다.In addition, FIG. 18 is a communication setting screen window, which sets the address of the communication card used for the controller 20 and the purpose of utilizing information.

즉, SLOT위치(CARD NO), 통신종류/속도/모드/프로토콜/byte, DELAY, 출력할 값(8BIT/16BIT), 검사모드, 동시검사대수, 입력된 통신값을 비교 판정, 반복요구를 설정할 수 있고, 아울러 현재 설정된 값들을 그대로 다른 스탭으로 복사할 수 있음 은 물론이다.That is, it compares and determines the slot position (CARD NO), communication type / speed / mode / protocol / byte, DELAY, output value (8BIT / 16BIT), test mode, simultaneous test number, input communication value and repeat request. Of course, you can also copy the currently set values to other staff.

그리고 도 19 는 내구성 설정시 아날로그 설정 화면에서 직접 관련 항목 등을 설정하게 되는 화면창이다.19 is a screen window for directly setting related items in the analog setting screen when setting durability.

더하여 도 20 은 수동조작 화면창으로, 콘트롤러(20)에 들어가는 카드의 개별적 제어 또는 이상유무를 확인할 경우 활용하게 되고, 하드웨어 점검시 사용하게 된다.In addition, FIG. 20 is a manual operation screen window, which is used when checking the individual control or abnormality of the card entering the controller 20, and is used when checking hardware.

아울러 도 21 은 데이터 화면창으로, 측정 및 검사한 실측데이터를 확인할 수 잇으며 엑셀데이터로 로딩이 가능하다.In addition, FIG. 21 is a data screen window, in which measured and inspected measured data can be checked and loaded into Excel data.

마지막으로 도 22 는 기능검사/내구성/에이징 검사 선택 화면창으로, 메뉴바에서 테스트 모델로 선택하는 것을 보여주는 것이다.Lastly, FIG. 22 is a function test / durability / aging test selection screen window, which shows selection of a test model from a menu bar.

본 발명 범용 자동 검사기 및 이를 이용한 측정방법의 기술적 사상은 실제로 동일결과를 반복 실시 가능한 것으로, 특히 이와 같은 본원발명을 실시함으로써 기술발전을 촉진하여 산업발전에 이바지할 수 있어 보호할 가치가 충분히 있다.The technical idea of the general-purpose automatic tester and the measuring method using the present invention is actually capable of repeating the same result. Particularly, by carrying out the present invention, it is possible to promote technology development and contribute to industrial development, which is worth protecting.

도 1 은 본 발명에 적용된 범용 자동 검사기의 전체 간략 구성도.1 is a simplified overall configuration diagram of a general-purpose automatic tester applied to the present invention.

도 2 는 본 발명에 적용된 범용 자동 검사기의 요부 구성도.2 is a main configuration diagram of a general-purpose automatic tester applied to the present invention.

도 3 은 본 발명에 적용된 PC 인터페이스 보드의 블럭 구성도.Figure 3 is a block diagram of a PC interface board applied to the present invention.

도 4 는 본 발명에 적용된 I/O 보드의 블럭 구성도.Figure 4 is a block diagram of an I / O board applied to the present invention.

도 5 는 본 발명에 적용된 AD 보드의 블럭 구성도.Figure 5 is a block diagram of an AD board applied to the present invention.

도 6 은 본 발명에 적용된 DA 보드의 블럭 구성도.Figure 6 is a block diagram of a DA board applied to the present invention.

도 7 은 본 발명에 적용된 Frequency In 보드의 블럭 구성도.Figure 7 is a block diagram of a frequency in board applied to the present invention.

도 8 은 본 발명에 적용된 Frequency Out 보드의 블럭 구성도.Figure 8 is a block diagram of a Frequency Out board applied in the present invention.

도 9 는 본 발명에 적용된 모터 콘트롤러의 블럭 구성도.9 is a block diagram of a motor controller applied to the present invention.

도 10 은 본 발명에 적용된 저항값 콘트롤러 보드의 블럭 구성도.Figure 10 is a block diagram of a resistance controller board applied to the present invention.

도 11 은 본 발명에 적용된 범용 자동 검사기의 전체 상세 구성도.11 is an overall detailed configuration diagram of a general purpose automatic tester applied to the present invention.

도 12 는 본 발명에 적용된 범용 자동 검사기의 작동 흐름도.12 is an operation flowchart of a general purpose automatic tester applied to the present invention.

도 13 은 본 발명 로딩화면의 초기화면창.13 is an initial screen of the loading screen of the present invention.

도 14 는 본 발명 모델관리 화면창.14 is a model management screen window of the present invention.

도 15 는 본 발명 아날로그, 디지털, 통신, 내구성 설정화면창.15 is the present invention analog, digital, communication, durability setting screen window.

도 16 은 본 발명 아날로그 세부 설정화면창.16 is the present invention analog setting screen window.

도 17 은 본 발명 디지털 세부 설정화면창.17 is a digital detail setting screen window of the present invention.

도 18 은 본 발명 통신 세부 설정화면창.18 is a communication detail setting screen window of the present invention.

도 19 는 본 발명 내구성 설정시 아날로그 설정 화면에서 직접 관련 항목을 19 is a related item directly on the analog setting screen when setting the durability of the present invention

설정하는 화면창.         Screen to set.

도 20 은 본 발명 수동조작 화면창.20 is the present invention manual operation screen window.

도 21 은 본 발명 데이터 화면창.21 shows the present invention data window;

도 22 는 본 발명 기능검사, 내구성, 에이징 검사 선택 화면창.22 is the present invention functional test, durability, aging test selection screen window.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>

1: PC1: PC

2: 인터페이스2: interface

20: 콘트롤러20: controller

21: 전원부21: power supply

22: 서브보드부22: sub board

Claims (12)

검사기에 구비되어 PC(1)의 LPT 또는 USB와 데이터를 인터페이스 하며 각 카드들을 제어하고 각 카드에서 측정한 값을 PC의 하드디스크에 저장하고 필요한 날짜의 데이터를 로드할 수 있으며 검사대상물인 제품의 특성 및 성격에 따라 설정을 가변할 수 있도록 하면서 생산에 대한 이력 관리와 모델 추가에 따른 업그레이드를 사용업체 자체적으로 운용할 수 있도록 콘트롤러(20)가 구비되되, 이 콘트롤러는 시스템의 전원을 공급하기 위한 전원부(21)와, 시스템을 제어하기 위해 신호를 발생하는 부분으로 컴퓨터와 연결하여 사용하는 인터페이스(2)와, 자동검사를 위한 신호의 발생 및 측정에 사용되는 여러 종류의 서브보드(Sub Board)를 장착하는 서브보드부(22)로 이루어짐을 특징으로 하는 범용 자동 검사기.It is equipped with a tester to interface data with LPT or USB of PC (1), to control each card, to store the value measured from each card to the hard disk of PC, and to load the data of the required date. The controller 20 is provided to enable the user to operate the history management for production and the upgrade according to the addition of the model while allowing the setting to be changed according to the characteristics and the personality. The power supply unit 21, the interface 2 used to connect a computer to generate a signal to control the system, and the various types of sub boards used for generating and measuring signals for automatic inspection. Universal automatic tester, characterized in that made of a sub-board unit 22 for mounting. 제 1 청구항에 있어서,According to claim 1, 상기 인터페이스(2)는 신호해석기(2b)와 연결된 PC신호입출력장치(2a)와 시스템제어신호발생기(2d) 그리고 제어신호발생기(2c) 및 시스템버스발생기(2e)가 구비되어 PC로부터 들어오는 명령을 해석하여 시스템에게 적절한 명령을 내리고 시스템으로부터 데이터를 수집하여 PC에 전달함을 특징으로 하는 범용 자동 검사기.The interface 2 is provided with a PC signal input / output device 2a, a system control signal generator 2d and a control signal generator 2c and a system bus generator 2e connected to the signal analyzer 2b to receive commands from the PC. A general purpose automatic checker that interprets and commands the system appropriately, collects data from the system and passes it to the PC. 제 1 청구항에 있어서,According to claim 1, 상기 서브보드부(22)에는 The sub board unit 22 신호의 입출력을 담당하는 I/O보드;An I / O board in charge of input and output of signals; 아날로그 신호를 디지털신호로 변환해 주는 AD보드;An AD board for converting an analog signal into a digital signal; 디지털 값을 아날로그신호로 변환해 주는 DA보드;DA board for converting digital values into analog signals; 입력되는 파형을 분석하는 프리퀸시인보드(Frequency In Board);A frequency inboard analyzing the input waveform; 임의의 주파수 및 펄스를 발생시키는 프리퀸시아웃보드(Frequency Out Board);Frequency Out Board for generating arbitrary frequency and pulses; 서브 및 스텝핑모터 제어를 위한 모터콘트롤보드;A motor control board for controlling the sub and stepping motors; 저항값을 사용자가 프로그래밍적으로 가변시킬 수 있는 저항값 콘트롤보드;가 구비됨을 특징으로 하는 범용 자동 검사기.Resistor value control board that the user can programmatically change the resistance value; universal automatic tester characterized in that it is provided. 제 3 청구항에 있어서,According to claim 3, 상기 신호의 입출력을 담당하는 I/O보드는 제어부(22a-2)가 AD버스(22a-1) 및 I/O 버퍼(22a-3)와 연결되어 시스템의 제어로 64핀의 I/O 기능을 수행함을 특징으로 하는 범용 자동 검사기.In the I / O board which is in charge of input / output of the signal, the controller 22a-2 is connected to the AD bus 22a-1 and the I / O buffer 22a-3 to control the system. Universal automatic checker characterized in that for performing. 제 3 청구항에 있어서,According to claim 3, 상기 아날로그 신호를 디지털신호로 변환해 주는 AD보드는 AD콘트롤러(22b-2)가 AD버스(22b-1) 및 AD컨버터(22b-3)와 연결되어 채널로 들어오는 아날로그 신호를 디지털 신호로 변환함을 특징으로 하는 범용 자동 검사기.In the AD board converting the analog signal into a digital signal, the AD controller 22b-2 is connected to the AD bus 22b-1 and the AD converter 22b-3 to convert the analog signal coming into the channel into a digital signal. Universal automatic checker characterized in that. 제 3 청구항에 있어서,According to claim 3, 상기 디지털 값을 아날로그신호로 변환해 주는 DA보드는 제어부(22c-2)가 AD버스(22c-1) 및 DA컨버터(22c-3)와 연결되어 측정 대상이 필요로 하는 전압 값을 발생함을 특징으로 하는 범용 자동 검사기.The DA board converting the digital value into an analog signal is connected to the AD bus 22c-1 and the DA converter 22c-3 to generate a voltage value required by the measurement target. Universal automatic checker characterized by. 제 3 청구항에 있어서,According to claim 3, 상기 입력되는 파형을 분석하는 프리퀸시인보드(Frequency In Board)는 제어부(22d-2)가 AD버스(22d-1)와 프리퀀시샘플러(22d-3) 및 타이밍컨트롤러(22d-4)와 연결되어 외부의 파형신호를 포착하여 그 파형의 주파수 및 효율 등 파형정보를 검출함을 특징으로 하는 범용 자동 검사기.The frequency inboard (Frequency In Board) for analyzing the input waveform (controller 22d-2) is connected to the AD bus 22d-1, the frequency sampler (22d-3) and the timing controller (22d-4) A general purpose automatic tester, which captures an external waveform signal and detects waveform information such as the frequency and efficiency of the waveform. 제 3 청구항에 있어서,According to claim 3, 상기 임의의 주파수 및 펄스를 발생시키는 프리퀸시아웃보드(Frequency Out Board)는 제어부(22e-2)가 AD버스(22e-1)와 파형발생기(22e-3) 및 타이밍컨트롤러(22e-4)와 연결되어 측정 대상에 파형신호를 출력시킴을 특징으로 하는 범용 자동 검사기.The frequency out board for generating the arbitrary frequency and pulse is controlled by the controller 22e-2, the AD bus 22e-1, the waveform generator 22e-3, and the timing controller 22e-4. General purpose automatic tester characterized in that connected to output the waveform signal to the measurement object. 제 3 청구항에 있어서,According to claim 3, 상기 서브 및 스텝핑모터 제어를 위한 모터콘트롤보드는 제어부(22f-2)에 AD버스(22f-1)와 모터구동신호발생부(22f-3), 모터제어신호발생부(22f-4), 센서입력부(22f-5)가 연결되어 서브 및 스탭핑모터의 구동을 위한 신호를 발생시킴을 특징으로 하는 범용 자동 검사기.The motor control board for controlling the sub and stepping motors includes an AD bus 22f-1, a motor drive signal generator 22f-3, a motor control signal generator 22f-4, and a sensor in the controller 22f-2. The input unit 22f-5 is connected to generate a signal for driving the sub and stepping motor. 제 3 청구항에 있어서,According to claim 3, 상기 저항값을 사용자가 프로그래밍적으로 가변시킬 수 있는 저항값 콘트롤보드는 제어부(22g-2)가 AD버스(22g-1) 및 저항값설정부(22g-3)와 연결되어 A, B 양단의 저항값을 사용자가 프로그래밍적으로 가변시킬 수 있는 기능을 수행함을 특징으로 하는 범용 자동 검사기.In the resistance value control board that the user can programmatically change the resistance value, the control unit 22g-2 is connected to the AD bus 22g-1 and the resistance value setting unit 22g-3 to connect both ends of A and B. A general purpose automatic checker characterized in that it performs a function to programmatically change the resistance value. (1) 테스트 모드 선택(1) Select test mode (2) 검사 모델 선택(2) Select inspection model (3) 시작버튼(3) Start button (4) lnitializing(4) lnitializing (5) 상기 (1)번 스탭출력 설정값 읽어옴(5) Read step output setting value of (1) above (6) 상기 (1)번 스탭출력 제어 신호 전달(6) transfer of step output control signal (1) (7) 인터페이스에서 출력제어 신호접수(7) Reception of output control signal at interface (8) PC에서 전송받은 정보를 마더보드에서 필요로 하는 슬롯의 서브 카드로 제어를 위한 신호 전송(8) Transmit signal for control to sub card of slot needed from motherboard (9) 출력 제어한 신호의 내용을 확인하여 서브 카드로 정보전송(9) Check the contents of the output control signal and send information to the sub card (10) 서브보드부에서 PC에서 전송된 해당 시그널 출력(10) Corresponding signal output from PC in sub board (11) 검사 대상물인 제품에 신호전환 하기 위해 MUX로 전송신호 입력제어신호 전달(11) Transmit signal input control signal to MUX for signal conversion to the product to be inspected (12) 검사대상 제품의 반응(12) Response of the product to be inspected (13) 상기 (1)번 입력에 대한 정보를 PC에서 읽어옴(13) Read information about input (1) from PC (14) 인터페이스에서 입력 카드 및 포트 측정 내용에 대한 정보 입수(14) Obtain information on input card and port measurements from the interface (15) 인터페이스에서 받은 정보를 분배해서 서브 카드로 정보 전송(15) Distributing the information received from the interface and sending the information to the sub card (16) 해당 서브카드에서 값 읽어옴(16) Read value from subcard (17) 서브 보드에서 읽은 정보를 마더보드에서 인터페이스로 전송(17) Transfer information read from sub board to interface (18) 인터페이스에서 읽은 값을 정형하여 PC로 전송(18) Format the value read from the interface and transfer it to the PC (19) 검사화면에 표시(19) Display on inspection screen (20) 상기 (2)번을 분리(20) remove the above (2) 상기 (1)∼(20)의 순서에 의해 범용 자동 검사기를 이용한 측정방법을 수행함을 특징으로 하는 범용 자동 검사기를 이용한 측정방법.Measuring method using a universal automatic tester, characterized in that performing the measuring method using a universal automatic tester in the order of (1) to (20). 제 11 청구항에 있어서,The method according to claim 11, 상기 서브카드는 사용자가 12개의 마더보드의 슬롯중 어떤 위치에 삽입할 수 있으며 이 정보는 자동으로 PC로 전송되고 이후 PC는 이 정보를 기준으로 해당 서브 카드의 제어를 하게 됨을 특징으로 하는 범용 자동 검사기를 이용한 측정방법.The sub-card can be inserted in any position of the slot of the 12 motherboards, this information is automatically transmitted to the PC, and then the PC controls the sub-card based on this information Measurement method using a tester.
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