KR20090013731A - Spark plug for internal combustion engine and method of manufacturing the same - Google Patents
Spark plug for internal combustion engine and method of manufacturing the same Download PDFInfo
- Publication number
- KR20090013731A KR20090013731A KR1020080075650A KR20080075650A KR20090013731A KR 20090013731 A KR20090013731 A KR 20090013731A KR 1020080075650 A KR1020080075650 A KR 1020080075650A KR 20080075650 A KR20080075650 A KR 20080075650A KR 20090013731 A KR20090013731 A KR 20090013731A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- ground electrode
- metal chip
- noble metal
- tip
- cross
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01T—SPARK GAPS; OVERVOLTAGE ARRESTERS USING SPARK GAPS; SPARKING PLUGS; CORONA DEVICES; GENERATING IONS TO BE INTRODUCED INTO NON-ENCLOSED GASES
- H01T13/00—Sparking plugs
- H01T13/20—Sparking plugs characterised by features of the electrodes or insulation
- H01T13/32—Sparking plugs characterised by features of the electrodes or insulation characterised by features of the earthed electrode
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01T—SPARK GAPS; OVERVOLTAGE ARRESTERS USING SPARK GAPS; SPARKING PLUGS; CORONA DEVICES; GENERATING IONS TO BE INTRODUCED INTO NON-ENCLOSED GASES
- H01T13/00—Sparking plugs
- H01T13/20—Sparking plugs characterised by features of the electrodes or insulation
- H01T13/39—Selection of materials for electrodes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01T—SPARK GAPS; OVERVOLTAGE ARRESTERS USING SPARK GAPS; SPARKING PLUGS; CORONA DEVICES; GENERATING IONS TO BE INTRODUCED INTO NON-ENCLOSED GASES
- H01T21/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture or maintenance of spark gaps or sparking plugs
- H01T21/02—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture or maintenance of spark gaps or sparking plugs of sparking plugs
Abstract
Description
본 발명은 내연기관에 사용되는 스파크 플러그 및 그 제조방법에 관한 것이다.The present invention relates to a spark plug for use in an internal combustion engine and a method of manufacturing the same.
내연기관용 스파크 플러그는 내연기관(엔진)에 부착되어 연소실 내의 혼합기에 대한 착화를 위해서 이용되는 것이다. 일반적으로 스파크 플러그는 축구멍을 가지는 절연체와, 이 축구멍에 삽입되는 중심전극과, 절연체의 외주에 설치되는 금속 셸과, 금속 셸의 선단부에 설치되어 중심전극과의 사이에 불꽃방전 간극을 형성하는 접지전극을 구비한다.The spark plug for an internal combustion engine is attached to an internal combustion engine (engine) and used for ignition of the mixer in a combustion chamber. In general, a spark plug includes an insulator having a shaft hole, a center electrode inserted into the shaft hole, a metal shell provided at an outer circumference of the insulator, and a spark discharge gap between the center electrode provided at the tip of the metal shell. A ground electrode is provided.
또, 내(耐)불꽃 소모성 및 착화성의 향상을 목적으로 하여, 니켈 합금 등의 내열 내식성 금속으로 이루어지는 접지전극의 선단부분에 백금 등의 귀금속 합금으로 이루어지는 귀금속 칩이 접합된다. 귀금속 칩을 접지전극에 접합할 때에는 접지전극과 귀금속 칩의 접합면 외연부를 따라서 레이저 빔으로 스폿 용접을 하는 기술 이 제안되어 있다(예를 들면, 특허문헌 1 참조).Further, for the purpose of improving flame resistance and flammability, a noble metal chip made of a noble metal alloy such as platinum is bonded to a tip of a ground electrode made of a heat resistant corrosion resistant metal such as a nickel alloy. When joining a noble metal chip to a ground electrode, the technique of spot welding with a laser beam along the outer peripheral part of the junction surface of a ground electrode and a noble metal chip is proposed (for example, refer patent document 1).
특허문헌 1 : 일본국 특허 제3460087호 공보 Patent Document 1: Japanese Patent No. 3460087
그런데, 최근에는 엔진의 고출력화를 도모하기 위해서 고압축비의 엔진이 개발되고 있는 경향에 있고, 이러한 엔진의 연소실 내에 있어서는 귀금속 칩이나 접지전극 등이 보다 고온 조건하에 노출되게 된다. 이것에 더하여, 접지전극은 그 선단측에서 열이 방산되기 어려우므로, 접지전극의 선단측에 더 가까운 부위일수록 고온으로 되기 쉽다. 이 때문에, 귀금속 칩, 접지전극 및 양자의 접합부분에 있어서, 접지전극의 선단측 부위에 작용하는 열응력과 기단측 부위에 작용하는 열응력에 차이가 발생할 우려가 있다. 더 나아가서는, 귀금속 칩과 접지전극의 경계부분 등에서 산화 스케일이나 크랙 등이 발생하여 귀금속 칩이 접지전극에서 탈락되는 것이 우려된다.By the way, in recent years, in order to achieve high output of the engine, an engine having a high compression ratio has been developed. In the combustion chamber of such an engine, precious metal chips, ground electrodes, and the like are exposed to higher temperature conditions. In addition, since the heat is hardly dissipated at the tip side of the ground electrode, the closer to the tip side of the ground electrode, the higher the temperature becomes. For this reason, there exists a possibility that a difference may arise in the thermal stress which acts on the front-end side part of a ground electrode, and the thermal stress acting on a base-end side part in a noble metal chip, a ground electrode, and the junction part of both. Furthermore, there is a concern that oxidation scales, cracks, etc. occur at the boundary between the precious metal chip and the ground electrode, and the precious metal chip is dropped from the ground electrode.
또, 요즈음에는 엔진의 소형화의 요청에 따라서 스파크 플러그의 소형화가 도모되고 있어 금속 셸 자체가 그 두께 및 지름이 더 작아지게 되는 경향에 있으며, 이것에 접합되는 접지전극도 금속 셸과의 접합면적을 작게 하지 않을 수 없는 것이므로 사이즈를 더 감소시키지 않으면 안 된다. 이 결과, 접지전극의 열 방산(heat dissipation) 성능이 더 일층 저하되어 상술한 문제점이 일층 현저한 것으로 될 우려가 있다.In recent years, spark plugs are being miniaturized in response to requests for engine miniaturization, and the metal shell itself tends to have a smaller thickness and diameter. It must be made smaller, so the size must be further reduced. As a result, the heat dissipation performance of the ground electrode is further lowered, and there is a concern that the above-mentioned problem becomes more remarkable.
본 발명은 상기한 사정을 감안하여 이루어진 것으로서, 그 목적은 열응력의 차이에 기인하는 귀금속 칩의 탈락을 억제하고, 더 나아가서는 장수명화의 실현을 도모할 수 있는 내연기관용 스파크 플러그 및 그 제조방법을 제공하는 것에 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object thereof is to prevent the dropping of precious metal chips due to the difference in thermal stress, and furthermore, a spark plug for an internal combustion engine and a method of manufacturing the same, which can achieve long life. Is to provide.
이하, 상기 목적을 해결하는데 적합한 각 구성에 대해서 항목별로 나누어 설명한다. 또한, 필요에 따라서는 대응하는 구성에 특유의 작용 효과를 부기한다.Hereinafter, each structure suitable for solving the said objective is divided and demonstrated by item. Moreover, if necessary, the effect peculiar to a corresponding structure is added.
(구성 1)(Configuration 1)
본 구성의 내연기관용 스파크 플러그는, 축선방향으로 관통하는 축구멍을 가지는 통형상의 절연체와, 상기 축구멍에 삽입되어 설치된 중심전극과, 상기 절연체의 외주에 설치된 통형상의 금속 셸과, 자신의 선단측의 일측면에 귀금속을 주성분으로 하는 귀금속 칩의 기단(基端)이 접합되고, 이 귀금속 칩의 선단면이 상기 중심전극의 선단면과 대향하도록 상기 금속 셸의 선단부에 설치되는 접지전극을 구비한 내연기관용 스파크 플러그로서, 상기 귀금속 칩은 자신과 상기 접지전극이 서로 용해된 용융부가 자신의 주위에 형성됨에 의해서 접합되고, 상기 접지전극의 길이방향을 따름과 아울러 상기 귀금속 칩의 중심축을 포함하는 단면에 있어서의 상기 용융부를 보았을 때에, 상기 접지전극의 기단측에 위치하는 기단측 용융부(A)의 단면적과 상기 접지전극의 선단측에 위치하는 선단측 용융부(B)의 단면적의 합계 단면적을 4㎟ 이상으로 함과 아울러, 상기 선단측 용융부(B)의 단면적을 상기 기단측 용융부(A)의 단면적의 1.1∼1.3배로 한 것을 특징으로 한다.The spark plug for an internal combustion engine of this structure comprises a cylindrical insulator having a shaft hole penetrating in the axial direction, a center electrode inserted into the shaft hole, a tubular metal shell provided at an outer periphery of the insulator, and its tip. A base end of a noble metal chip, the main component of which is a noble metal, is bonded to one side of the side, and a ground electrode is provided at the tip of the metal shell so that the front end of the noble metal chip faces the front end of the center electrode. A spark plug for an internal combustion engine, wherein the precious metal chip is joined by forming a molten portion in which itself and the ground electrode are dissolved in each other, and along the longitudinal direction of the ground electrode, and including a central axis of the precious metal chip. When the molten portion in the cross section is seen, the cross-sectional area of the proximal end molten portion A located at the proximal side of the ground electrode is in contact with the cross section. The total cross-sectional area of the cross-sectional area of the tip-side melt part B located at the tip side of the electrode is 4
또한, 기단측 용융부(A) 및 선단측 용융부(B) 중 적어도 일방이 귀금속 칩의 중심축을 넘어서 양자가 겹쳐지게 형성되는 경우가 있다. 이 경우에는 다음과 같이 하여 단면적을 결정하는 것이 바람직하다. 즉, 접지전극의 길이방향을 따름과 아울러 상기 귀금속 칩의 중심축을 포함하는 단면에 있어서, 기단측 용융부(A)의 외형을 형성하는 외형선과 선단측 용융부(B)의 외형을 형성하는 외형선의 2교점을 직선으로 연결하고, 기단측 용융부(A)측으로 분할된 용융부분이 "기단측 용융부(A)"로서 결정되고, 선단측 용융부(B)측으로 분할된 용융부분이 "선단측 용융부(B)"로서 결정된다. 또, 귀금속재료는 백금(Pt)이나 이리듐(Ir) 등의 귀금속만으로 구성되는 것뿐만 아니라 귀금속을 주성분으로 하는 것을 포함한다.In addition, at least one of the base end side melting part A and the front end side melting part B may be formed so that both may be overlapped beyond the central axis of a noble metal chip. In this case, it is preferable to determine the cross-sectional area as follows. That is, in the cross section along the longitudinal direction of the ground electrode and including the central axis of the noble metal chip, an outline for forming the outline of the base-side melt part A and an outline of the tip-side melt part B are formed. The molten part which connected two intersection points of a line in a straight line, and divided | segmented into the proximal side side melting part A side was determined as "the proximal side side melting part A", and the molten part divided into the front side side melting part B side was "a front-end | tip. Side melt portion B ". The precious metal material is not only composed of precious metals such as platinum (Pt) and iridium (Ir) but also includes those having a precious metal as a main component.
상기한 구성 1에 의하면, 접지전극의 선단부분에 귀금속 칩이 접합되어 있기 때문에, 내불꽃 소모성 및 착화성의 향상을 도모할 수 있다.According to the
한편, 상술한 바와 같이 접지전극의 선단측에서 열이 방산되기 어려운 경향이 있기 때문에, 고온 조건하에서는 귀금속 칩이나 용융부 등에 있어서의 접지전극의 선단부에 더 가까운 부위에서 더 큰 열응력이 생기기 쉽다. 특히, 귀금속 칩의 중심을 기점으로 한 선단측과 기단측에 주목하면, 선단측에는 비교적 큰 열응력이 생기는 한편, 기단측에는 비교적 작은 열응력이 생기는 상태에 있다. 접지전극과 귀금속 칩의 사이에 용접에 의해서 형성되는 용융부는 양자의 열팽창 차이를 흡수하여 접지전극에서 귀금속 칩이 벗겨져 떨어지는 것을 억제하는 작용을 하지만, 선단측의 용융부와 후단측의 용융부가 같은 면적이라면, 상기 열응력의 차이가 흡수되는 일이 없어, 접지전극과 귀금속 칩의 경계부분에서의 귀금속 칩의 박리에 이를 우려가 있다.On the other hand, since heat tends to be hard to be dissipated at the front end side of the ground electrode as described above, greater thermal stress is likely to occur at a portion closer to the front end of the ground electrode in the precious metal chip, the melting part, or the like under high temperature conditions. In particular, when attention is paid to the tip side and the base end side starting from the center of the precious metal chip, relatively large thermal stress is generated at the tip side, while relatively small thermal stress is generated at the base side. The molten portion formed by welding between the ground electrode and the precious metal chip absorbs the difference in thermal expansion between the two to prevent peeling off of the precious metal chip from the ground electrode, but the molten portion at the front end side and the molten portion at the rear end side have the same area. In this case, the difference in thermal stress is not absorbed, and there is a fear that the noble metal chip is peeled off at the boundary between the ground electrode and the noble metal chip.
이 점에 대해서, 상기한 구성 1에서는, 접지전극의 길이방향을 따름과 아울러 귀금속 칩의 중심축을 포함하는 단면에 있어서의 상기 용융부를 보았을 때에, 선단측 용융부(B)의 단면적이 기단측 용융부(A)의 단면적의 1.1∼1.3배가 된다. 이 때문에, 선단측 용융부(B)와 귀금속 칩의 경계의 길이(선단측의 용융부와 귀금속 칩의 접촉면적) 및 선단측 용융부(B)와 접지전극의 경계의 길이(선단측의 용융부와 접지전극의 접촉면적)를 더 증대시킬 수 있다. 따라서, 상기 선단측의 용융부에서 더 많은 에너지를 흡수할 수 있게 되기 때문에, 귀금속 칩에 가해지는 열응력의 변형을 완화시킬 수 있다. 이것에 의해서, 열응력의 밸런스의 붕괴를 억제할 수 있어 귀금속 칩의 내박리성(耐剝離性){내탈락성(耐脫落性)}의 향상을 도모할 수 있다. 더 나아가서는, 스파크 플러그의 장수명화를 도모하는 것이 가능하게 된다.In this regard, in the above-described
또, 상기한 구성 1에서는 기단측 용융부(A)의 단면적과 선단측 용융부(B)의 단면적의 합계 단면적이 4.O㎟ 이상이 된다. 이것에 의해서 충분한 용접강도를 확보할 수 있음과 아울러, 상기한 작용 효과가 더 확실하게 얻어지게 된다.In addition, in the said
또한, 기단측 용융부(A)의 단면적과 선단측 용융부(B)의 단면적의 합계 단면적이 4.O㎟ 미만인 경우, 용접강도가 불충분한 것으로 되어 상술한 작용 효과가 충분히 얻어지지 않을 우려가 있다. 또, 선단측 용융부(B)의 단면적이 기단측 용융부(A)의 단면적의 1.1배 미만인 경우, 접지전극 선단측에서의 열응력의 완화가 충분하게 되지 않아 상술한 작용 효과가 충분히 얻어지지 않을 우려가 있다. 한편, 선단측 용융부(B)의 단면적이 기단측 용융부(A)의 단면적의 1.3배보다 큰 경우에 는, 접지전극의 선단측에서 귀금속 칩에 가해지는 열응력이 극단적으로 너무 완화될 우려가 있다. 이 결과, 접지전극의 선단측에서 귀금속 칩에 가해지는 열응력이 접지전극의 기단측에서 귀금속 칩에 가해지는 열응력보다 작은 것으로 되어, 열응력의 밸런스가 상기와는 반대방향으로 붕괴될 우려가 있다.In addition, when the total cross-sectional area of the cross-sectional area of the base-side melt part A and the cross-sectional area of the tip-side melt part B is less than 4.
(구성 2)(Configuration 2)
본 구성의 내연기관용 스파크 플러그는, 상기 구성 1에 있어서, 상기 귀금속 칩은 자신의 기단이 상기 접지전극에 매립되어 있고, 상기 기단측 용융부(A) 및 상기 선단측 용융부(B)는 각각 상기 용융부 형성전의 상기 귀금속 칩의 직사각형상의 제 1 가상 외형선으로 구획된 영역 중 상기 귀금속 칩측의 귀금속 칩측 용융부(C1,C2)와, 상기 제 1 가상 외형선으로 구획된 영역 중 상기 접지전극측의 영역에 있어서, 상기 용융부 형성전의 상기 접지전극의 제 2 가상 외형선으로 구획된 상기 접지전극측의 접지전극측 용융부(D1,D2)로 더 구분되고, 상기 기단측 용융부(A) 및 상기 선단측 용융부(B) 중 적어도 일방에 있어서, 상기 접지전극의 길이방향을 따름과 아울러 상기 귀금속 칩의 중심축을 포함하는 단면에 있어서의 상기 접지전극측 용융부(D1(D2))의 단면적을 상기 귀금속 칩측 용융부(C1(C2))의 단면적의 1.0∼2.0배로 한 것을 특징으로 한다.In the spark plug for an internal combustion engine of this configuration, in the
상기한 구성 2에 의하면, 기단측 용융부(A) 및 선단측 용융부(B) 중 적어도 일방에 대해서, 접지전극측 용융부(D1(D2))의 단면적이 귀금속 칩측 용융부(C1(C2))의 단면적의 1.0배∼2.0배가 된다. 이것에 의해서, 용융부의 선팽창계수가 귀금속재료 혹은 금속재료 중 어느 일방의 선팽창계수에만 너무 가깝게 되는 일 이 없게 된다. 즉, 열팽창에 수반되는 용융부의 체적변화와 귀금속재료의 체적변화가 크게 상이하게 되는 일이 없게 되고, 또한 용융부의 체적변화와 금속재료의 체적변화에 대해서도 크게 상이하게 되는 일이 없게 된다. 이 결과, 용융부와 귀금속 칩의 경계부분 혹은 용융부와 접지전극의 경계부분에 있어서의 열팽창에 수반되는 전단력의 증대를 억제할 수 있고, 더 나아가서는 각 경계에서의 산화 스케일이나 크랙 등의 발생을 억제할 수 있다. 이 결과로서 내박리성의 향상을 더 일층 도모할 수 있다.According to the above-mentioned
또한, 접지전극측 용융부(D1,D2)의 단면적이 귀금속 칩측 용융부(C1,C2)의 단면적의 1배 미만으로 된 경우, 용융부의 선팽창계수는 귀금속재료의 선팽창계수에 더 가까운 것이 되기 때문에, 용융부와 접지전극 간의 선팽창계수의 차이가 더 큰 것이 된다. 이 결과, 열팽창에 수반하여 용융부와 접지전극의 경계부분에 있어서의 전단력이 증대하여, 용융부와 접지전극의 사이에서 크랙 등이 발생할 우려가 있다. 한편, 접지전극측 용융부(D1,D2)의 단면적이 귀금속 칩측 용융부(C1,C2)의 단면적의 2배보다 크게 된 경우, 용융부의 선팽창계수는 금속재료의 선팽창계수에 더 가까운 것이 된다. 따라서, 용융부와 귀금속 칩의 경계부분에 있어서의 전단력의 증대를 초래하고, 더 나아가서는 용융부와 귀금속 칩의 사이에 크랙 등이 발생할 우려가 있다.In addition, when the cross-sectional area of the ground electrode side melted portions D1 and D2 is less than 1 times the cross-sectional area of the noble metal chip side melted portions C1 and C2, the coefficient of linear expansion of the melted portion is closer to that of the precious metal material. The difference in linear expansion coefficient between the melted portion and the ground electrode becomes larger. As a result, the shear force at the boundary between the molten portion and the ground electrode increases with thermal expansion, and there is a fear that cracks or the like occur between the molten portion and the ground electrode. On the other hand, when the cross-sectional area of the ground electrode side melted portions D1 and D2 becomes larger than twice the cross-sectional area of the precious metal chip side melted portions C1 and C2, the linear expansion coefficient of the melted portion becomes closer to the linear expansion coefficient of the metal material. Therefore, the shear force at the boundary between the molten portion and the precious metal chip is increased, and there is a possibility that a crack or the like occurs between the molten portion and the precious metal chip.
(구성 3)(Configuration 3)
본 구성의 내연기관용 스파크 플러그는, 상기 구성 1 또는 구성 2에 있어서, 상기 접지전극의 길이방향을 따름과 아울러 상기 귀금속 칩의 중심축을 포함하는 단면에 있어서, 상기 귀금속 칩의 선단에서 상기 기단측 용융부(A)까지의 최단거리를 E(㎜)로 하고, 상기 귀금속 칩의 선단에서 상기 선단측 용융부(B)까지의 최단거리를 F(㎜)로 하였을 때, 다음의 식 (1) 및 식 (2)를 만족하는 것을 특징으로 한다.In the
1.05 ≤ E/F ≤ 1.25 … (1) 1.05 ≦ E / F ≦ 1.25... (One)
0.3㎜ ≤ E ≤ 0.5㎜ … (2) 0.3 mm E 0.5 mm (2)
일반적으로 귀금속 칩은 고온 조건하에 놓이게 되면 내산화성이 저하되고, 더 나아가서는 내소모성이 저하된다. 여기서, 상술한 바와 마찬가지로 접지전극에 있어서는 그 선단측에서 열이 방산되기 어렵고, 접지전극의 선단측에 더 가까운 부위일수록 고온으로 되기 쉽기 때문에, 접지전극에 접합되는 귀금속 칩에 관해서도 접지전극의 선단측에 위치하는 부위일수록 고온으로 되기 쉽다. 그러므로, 귀금속 칩에 있어서의 접지전극의 선단측에 위치하는 부위는 기단측에 위치하는 부위보다도 방전에 수반되는 소모가 진행되기 쉬우므로, 귀금속 칩이 편소모(偏消耗)될 우려가 있다. 귀금속 칩이 편소모되면 방전위치가 불안정하게 되기 때문에, 불꽃이 퍼지는 쪽으로 분산이 생겨 연소효율의 저하를 초래할 우려가 있다.In general, when the noble metal chip is placed under high temperature conditions, the oxidation resistance is lowered, and further, the wear resistance is lowered. Here, as described above, in the ground electrode, heat is hardly dissipated at the front end side, and since a portion closer to the front end side of the ground electrode tends to be high in temperature, the tip side of the ground electrode is also used for the precious metal chip bonded to the ground electrode. It is easy to become high temperature as it is a site located in. Therefore, the portion located on the tip side of the ground electrode of the noble metal chip is more likely to be consumed due to discharge than the portion located on the proximal side, so that the precious metal chip may be worn down. When the noble metal chip is worn out, the discharge position becomes unstable, and thus there is a fear that dispersion occurs in the direction of spreading the sparks, resulting in a decrease in combustion efficiency.
이 점에 대해서, 상기한 구성 3에 의하면, 귀금속 칩의 선단에서 기단측 용융부(A)까지의 최단거리를 E(㎜)로 하고, 귀금속 칩의 선단에서 선단측 용융부(B)까지의 최단거리를 F(㎜)로 하였을 때, "1.05≤E/F≤1.25"를 만족하도록 용융부가 형성되어 있다. 즉, 귀금속 칩에 있어서의 접지전극의 선단측에 위치하는 부위의 표면적이 접지전극의 기단측에 위치하는 부위의 표면적보다도 작게 되어 있다. In this regard, according to the above-described
따라서, 보다 고온으로 되기 쉬운 귀금속 칩에 있어서의 접지전극의 선단측에 위치하는 부위가 받는 열량을 저감할 수 있고, 더 나아가서는 귀금속 칩에 있어서의 접지전극의 선단측에 위치하는 부위와 기단측에 위치하는 부위의 온도차를 저감시킬 수 있다. 이것에 의해서, 귀금속 칩의 편소모를 효과적으로 방지할 수 있음과 아울러 방전위치의 안정화를 도모할 수 있고, 더 나아가서는 연소효율의 향상을 도모할 수 있다.Therefore, the amount of heat received by the portion located at the front end side of the ground electrode in the noble metal chip that tends to be higher in temperature can be reduced, and further, the portion and the proximal side located at the front end side of the ground electrode in the noble metal chip. The temperature difference of the site | part located in can be reduced. As a result, uneven wear of the noble metal chip can be effectively prevented, the discharge position can be stabilized, and further, the combustion efficiency can be improved.
그런데, 귀금속 칩에 있어서의 접지전극의 선단측에 위치하는 부위의 표면적을 작게 하면, 용융부에 있어서의 접지전극의 선단측에 위치하는 부위의 표면적이 증대하게 된다. 따라서, 상기 부위에서 받는 열량이 증대하여 내박리성이나 내구성이 저하되는 것이 우려된다. 그러나, 일반적으로 접지전극을 형성하는 금속재료(예를 들면, Ni 합금)는 귀금속 칩을 형성하는 귀금속재료에 비해서 열전도율이 낮기 때문에, 접지전극을 형성하는 금속재료와 귀금속재료가 용해되어 이루어지는 용융부의 열전도율은 귀금속 칩의 열전도율보다도 작은 것이 된다. 따라서, 용융부에 대해서는 연소가스로부터의 열이 비교적 전달되기 어려우므로, 용융부의 표면적이 증대하더라 용융부가 받는 열량이 극단적으로 증대한다는 사태가 일어나기 어렵고, 내박리성이나 내구성의 저하라는 사태도 일어나기 어렵다.By the way, if the surface area of the site | part located in the front end side of a ground electrode in a noble metal chip is made small, the surface area of the site | part located in the front end side of the ground electrode in a melting part will increase. Therefore, it is concerned that the amount of heat received at the said site | part increases and peeling resistance and durability fall. However, in general, the metal material (for example, Ni alloy) forming the ground electrode has a lower thermal conductivity than the precious metal material forming the precious metal chip, so that the molten portion is formed by melting the metal material and the precious metal material forming the ground electrode. The thermal conductivity is smaller than that of the precious metal chip. Therefore, since heat from the combustion gas is relatively difficult to be transferred to the molten portion, the surface area of the molten portion is increased and the heat quantity of the molten portion is extremely increased. .
또한, "1.05>E/F"로 한 경우에는, 귀금속 칩에 있어서의 접지전극의 선단측에 위치하는 부위가 받는 열량을 충분히 저감시킬 수 없고, 더 나아가서는 상술한 작용 효과가 충분히 얻어지지 않을 우려가 있다. 또, "E/F>1.25"로 한 경우에는, 귀금속 칩에 있어서의 접지전극의 선단측에 위치하는 부위가 받는 열량이 극도로 저감되게 되어, 귀금속 칩에 있어서의 접지전극의 기단측에 위치하는 부위에서의 소모가 쉽게 진행될 우려가 있다.In addition, when it is set to "1.05> E / F", the amount of heat received by the site | part located in the front end side of the ground electrode in a noble metal chip cannot fully be reduced, Furthermore, the above-mentioned effect will not fully be acquired. There is concern. In the case of " E / F > 1.25 ", the amount of heat received by the portion located at the tip side of the ground electrode in the noble metal chip is extremely reduced, and is located at the proximal side of the ground electrode in the noble metal chip. There is a fear that the consumption at the site to proceed easily.
또한, "0.3㎜>E"로 한 경우에는, 불꽃방전 간극에 대해서 용융부가 비교적 접근한 위치에 형성되는 것으로 되기 때문에, 용융부와의 사이에서 방전이 쉽게 발생하게 되고, 더 나아가서는 방전위치의 안정화를 충분히 도모할 수 없을 우려가 있다. 아울러, "E>0.5㎜"로 한 경우에는, 귀금속 칩이 접지전극으로부터 더 돌출되어 귀금속 칩이 받는 열량이 증대하기 때문에, 귀금속 칩에 있어서의 접지전극의 선단측에 위치하는 부위와 기단측에 위치하는 부위의 온도차의 밸런스가 붕괴되고, 더 나아가서는 상술한 작용 효과가 충분히 얻어지지 않을 우려가 있다.In the case of "0.3 mm> E", since the molten portion is formed at a position relatively close to the spark discharge gap, discharge is easily generated between the molten portions, and furthermore, There is a fear that stabilization cannot be sufficiently achieved. In addition, in the case of "E> 0.5 mm", since the precious metal chip further protrudes from the ground electrode and the amount of heat received by the precious metal chip increases, the portion located at the front end side and the proximal side of the ground electrode of the precious metal chip is increased. There exists a possibility that the balance of the temperature difference of the site | part located may collapse, and furthermore, the above-mentioned effect may not be fully acquired.
(구성 4)(Configuration 4)
본 구성의 스파크 플러그의 제조방법은, 축선방향으로 관통하는 축구멍을 가지는 통형상의 절연체와, 상기 축구멍에 삽입되어 설치된 중심전극과, 상기 절연체의 외주에 설치된 통형상의 금속 셸과, 자신의 선단측의 일측면에 귀금속을 주성분으로 하는 귀금속 칩의 기단이 접합되고, 이 귀금속 칩의 선단면이 상기 중심전극의 선단면과 대향하도록 상기 금속 셸의 선단부에 설치된 접지전극을 구비하고, 상기 귀금속 칩은 자신과 상기 접지전극이 서로 용해된 용융부가 자신의 주위에 형성됨에 의해서 접합되어 이루어지는 스파크 플러그의 제조방법으로서, 상기 접지전극과 상기 귀금속 칩의 접합면 외연부에 대해서 레이저 빔을 조사함에 의해서 상기 용융부를 형성하여 상기 귀금속 칩을 상기 접지전극에 접합하는 접합공정을 포함하고, 상기 접합공정에 있어서, 상기 접지전극의 선단측에 위치하는 부위에 대한 용 융 에너지가 상기 접지전극의 기단측에 위치하는 부위에 대한 용융 에너지보다도 크게 되도록 레이저 빔을 조사하는 것을 특징으로 한다.The spark plug manufacturing method of this configuration includes a cylindrical insulator having a shaft hole penetrating in the axial direction, a center electrode inserted into the shaft hole, a cylindrical metal shell provided at an outer periphery of the insulator, and A base end of a noble metal chip composed mainly of a noble metal is joined to one side of the tip side, and a ground electrode provided at the tip of the metal shell so that the front end surface of the noble metal chip faces the front end surface of the center electrode, wherein the precious metal The chip is a method of manufacturing a spark plug which is joined by forming a molten part in which the ground electrode and the ground electrode are melted around each other, and by irradiating a laser beam to the outer edge of the bonding surface of the ground electrode and the precious metal chip. Forming a molten part to bond the noble metal chip to the ground electrode; In the tablet, and the energy for melting of the portion positioned at the front end side of the ground electrode is characterized in that a laser beam to be larger than melting energy for the area which is located on the base end side of the ground electrode.
상기한 구성 4에 의하면, 용융부에 있어서의 접지전극의 선단측에 위치하는 부분(선단측 용융부(B))이 기단측에 위치하는 부분(기단측 용융부(A))보다도 크게 된다. 따라서, 상기한 구성 1 등과 같은 작용 효과가 얻어지는 스파크 플러그를 비교적 용이하게 또한 확실하게 제조할 수 있다.According to the
(구성 5)(Configuration 5)
본 구성의 스파크 플러그의 제조방법은, 상기 구성 1 또는 구성 2에 기재된 내연기관용 스파크 플러그의 제조방법으로서, 상기 접지전극과 상기 귀금속 칩의 접합면 외연부에 대해서 레이저 빔을 조사함에 의해서 상기 용융부를 형성하여 상기 귀금속 칩을 상기 접지전극에 접합하는 접합공정을 포함하고, 상기 접합공정에 있어서, 상기 접지전극의 선단측에 위치하는 부위에 대한 용융 에너지가 상기 접지전극의 기단측에 위치하는 부위에 대한 용융 에너지보다도 크게 되도록 레이저 빔을 조사하는 것을 특징으로 한다.The manufacturing method of the spark plug of this structure is a manufacturing method of the spark plug for internal combustion engines of the said
상기한 구성 5에 의하면, 기본적으로는 상기한 구성 4와 같은 작용 효과가 얻어지게 된다.According to the
(구성 6)(Configuration 6)
본 구성의 스파크 플러그의 제조방법은, 상기 구성 4에 있어서, 상기 접지전극의 기단측에 위치하는 부위에서 상기 접지전극의 선단측에 위치하는 부위로 용융 에너지를 증대시켜 가도록 하면서 레이저 빔을 조사하는 것을 특징으로 한다. In the method for manufacturing a spark plug according to the present invention, in the
상기한 구성 6에 의하면, 기본적으로는 상기한 구성 4와 같은 작용 효과가 얻어지게 된다. 또한, 본 구성 6에 의하면, 용융부가 접지전극의 기단측에 위치하는 부분에서 선단측에 위치하는 부분으로 서서히 증대하여 가도록 형성된다. 이것에 의해서, 귀금속 칩에 가해지는 열응력의 밸런스의 붕괴를 더 일층 억제할 수 있어 귀금속 칩의 내박리성을 일층 향상시킬 수 있다.According to the configuration 6 described above, basically the same operation and effect as the
(구성 7)(Configuration 7)
본 구성의 스파크 플러그의 제조방법은, 상기 구성 4 또는 구성 6에 있어서, 상기 접합공정에 있어서, 레이저 빔의 조사방향을 고정한 상태에서, 상기 귀금속 칩의 중심축을 상기 귀금속 칩의 중심축과 상기 접지전극의 일측면을 포함하는 평면과의 교점을 기점으로 하여 상기 접지전극의 기단측으로 기울여서 이루어지는 축을 회전축으로 하여 상기 귀금속 칩 및 상기 접지전극을 회전시킴에 의해서 상기 용융부를 형성하는 것을 특징으로 한다.In the manufacturing method of the spark plug of this structure, in the said
상기한 구성 3을 실현하는 방법으로서는, 예를 들면, 접지전극의 선단측에 위치하는 부분과 기단측에 위치하는 부분에서 레이저 빔의 조사방향(레이저 빔이 맞닿는 위치)을 변경하는 것을 생각할 수 있다. 그러나, 이 방법을 이용한 경우에는 조사방향을 변경하기 위한 수단을 별도로 설치할 필요가 있어, 장치의 복잡화나 생산효율의 저하라는 사태를 초래할 우려가 있다.As a method of realizing the above-described
이 점에 대해서는, 상기한 구성 7과 같이 귀금속 칩의 중심축을 기울인 축을 회전축으로 하여 귀금속 칩 및 접지전극을 회전시킴에 의해서, 레이저 빔의 조사방향을 고정상태 그대로 하더라도 상기한 구성 3을 실현할 수 있다. 즉, 본 구성 7에 의하면, 특별한 곤란성을 수반하는 일 없이 상기한 구성 3을 실현할 수 있어, 장치의 복잡화나 생산효율의 저하를 더 확실하게 방지할 수 있다.In this regard, by rotating the noble metal chip and the ground electrode with the axis of inclination of the center axis of the noble metal chip as the rotation axis as described above, the above-described
이하, 본 발명의 실시형태에 대해서 도면을 참조하여 설명한다.EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, embodiment of this invention is described with reference to drawings.
[제 1 실시형태][First embodiment]
도 1은 스파크 플러그(1)를 나타내는 일부 파단 정면도이다. 또한, 도 1에서는 스파크 플러그(1)의 축선(X)방향을 도면에 있어서의 상하방향으로 하고, 하측을 스파크 플러그(1)의 선단측, 상측을 스파크 플러그(1)의 후단측으로 하여 설명한다.1 is a partially broken front view of the
스파크 플러그(1)는 통형상을 이루는 절연체로서의 절연애자(2), 이것을 유지하는 통형상의 금속 셸(3) 등으로 구성되는 것이다.The
절연애자(2)에는 축선(X)을 따라서 축구멍(4)이 관통형성되어 있다. 그리고, 축구멍(4)의 선단부측에는 중심전극(5)이 삽입되어 고정되고, 후단부측에는 단자전극(6)이 삽입되어 고정된다. 축구멍(4) 내에 있어서의 중심전극(5)과 단자전극(6)의 사이에는 저항체(7)가 배치되어 있으며, 이 저항체(7)의 양단부는 도전성의 유리밀봉층(8,9)을 통해서 중심전극(5)과 단자전극(6)에 각각 전기적으로 접속되어 있다.A
중심전극(5)은 절연애자(2)의 선단에서 돌출되어 있고, 단자전극(6)은 절연애자(2)의 후단에서 돌출된 상태로 각각 고정되어 있다. 또, 중심전극(5)에는 그 선단부에 귀금속 칩(31)이 용접에 의해서 접합되어 있다(이것에 대해서는 후술한다).The
한편, 절연애자(2)는 주지된 바와 같이 알루미나 등을 소성함에 의해서 형성되며, 그 외형부에 있어서 후단측에 형성된 후단측 몸통부(10)와, 이 후단측 몸통부(10)보다도 선단측에서 지름방향 외측으로 돌출형성된 큰 지름부(11)와, 이 큰 지름부(11)보다도 선단측에서 이것보다도 작은 지름으로 형성된 중간측 몸통부(12)와, 이 중간측 몸통부(12)보다도 선단측에서 이것보다도 작은 지름으로 형성된 다리부(13)를 구비하고 있다. 절연애자(2)에 있어서의 큰 지름부(11), 중간측 몸통부(12) 및 대부분의 다리부(13)는 금속 셸(3)의 내부에 수용되어 있다. 그리고, 다리부(13)와 중간측 몸통부(12)의 연접부에는 테이퍼형상의 단차부(21)가 형성되어 있으며, 이 단차부(21)에 의해서 절연애자(2)가 금속 셸(3)에 걸어 맞춰져 있다.On the other hand, the
금속 셸(3)은 저탄소강 등의 금속에 의해서 통형상으로 형성되며, 그 외주면에는 스파크 플러그(1)를 엔진헤드에 부착하기 위한 나사부(수나사부)(15)가 형성되어 있다. 또, 나사부(15)의 후단측의 외주면에는 안착부(16)가 형성되고, 나사부(15) 후단의 나사 목부(17)에는 링형상의 개스킷(18)이 끼워져 있다. 또한, 금속 셸(3)의 후단측에는 이 금속 셸(3)을 엔진헤드에 부착할 때에 렌치 등의 공구를 걸어 맞추기 위한 단면 육각형상의 공구 걸어맞춤부(19)가 형성됨과 아울러, 후단부에 있어서 절연애자(2)를 유지하기 위한 코킹부(20)가 형성되어 있다.The
또, 금속 셸(3)의 내주면에는 절연애자(2)를 걸어 맞추기 위한 테이퍼형상의 단차부(14)가 형성되어 있다. 그리고, 절연애자(2)는 금속 셸(3)의 후단측에서 선 단측을 향하여 삽입되며, 자신의 단차부(21)가 금속 셸(3)의 단차부(14)에 걸어 맞춰진 상태에서 금속 셸(3)의 후단측의 개구부를 지름방향 내측으로 코킹함으로써, 즉 상기 코킹부(20)를 형성함에 의해서 고정된다. 또한, 절연애자(2)의 단차부(21)와 금속 셸(3)의 단차부(14)의 사이에는 원환형상의 평판 패킹(22)이 개재되어 있다. 이것에 의해서, 연소실 내에 노출되는 절연애자(2)의 다리부(13)와 금속 셸(3)의 내주면의 틈새로 파고 들어오는 연료공기가 외부로 누출되지 않게 됨으로써, 연소실 내의 기밀성이 유지된다.In addition, a tapered stepped
또한, 코킹에 의한 밀폐를 더 완전하게 하기 위해서, 금속 셸(3)의 후단측에 있어서는 금속 셸(3)과 절연애자(2)의 사이에 환형상의 링부재(23,24)가 개재되고, 이들 링부재(23,24) 사이에는 탤크(활석)(25)의 분말이 충전되어 있다. 즉, 금속 셸(3)은 평판 패킹(22), 링부재(23,24) 및 탤크(25)를 개재하여 절연애자(2)를 유지하고 있다.Furthermore, in order to more completely seal by caulking, on the rear end side of the
또, 금속 셸(3)의 선단부(26)에는 대략 L자 형상을 이루는 접지전극(27)이 접합되어 있다. 즉, 접지전극(27)은 상기 금속 셸(3)의 선단부(26)에 대해서 그 후단부가 용접됨과 아울러, 선단측이 굽혀지되 그 측면이 중심전극(5)의 선단부{귀금속 칩(31)}와 대향하도록 배치되어 있다. 또한, 본 실시형태에 있어서, 상기 접지전극(27)은 Ni-23Cr-14.4Fe-1.4Al[Incone1601(일본등록상표)]에 의해서 형성되어 있으며, 이 금속재료의 열전도율은 약 0.111W/㎝·K로 되어 있다.Further, a
또한, 상기 접지전극(27)에는 상기 귀금속 칩(31)에 대향하도록 한 귀금속 칩(32)이 접합되어 있다(이것에 대해서는 후술한다). 그리고, 이들 귀금속 칩(31,32) 사이의 간격이 불꽃방전 간극(33)으로 되어 있다. 또한, 본 실시형태에 있어서, 상기 귀금속 칩(31)은 공지의 귀금속재료(예를 들면, Pt-Ir 합금 등)에 의해서 구성되어 있고, 또 귀금속 칩(32)은 Pt-20Ir-5Rh 합금으로 형성되어 있다. 또한, 상기 귀금속재료의 열전도율은 약 0.262W/㎝·K이며, 상기 접지전극(27)을 구성하는 금속재료보다도 큰 열전도율을 가지고 있다.In addition, the
중심전극(5)은 구리 또는 구리 합금으로 이루어지는 내층(5A)과 니켈(Ni) 합금으로 이루어지는 외층(5B)에 의해 구성되어 있다. 또, 접지전극(27)은 Ni 합금으로 구성되어 있다.The
중심전극(5)은 그 선단측으로 갈수록 지름이 점차 작아지게 되나 전체적으로 봉형상(원기둥형상)을 이루며, 그 선단면이 평탄하게 형성되어 있다. 여기에 원기둥형상을 이루는 상기 귀금속 칩(31)을 겹쳐 놓고, 그 접합면 외연부를 따라서 레이저 용접, 전자빔 용접 혹은 저항용접 등을 실시함에 의해서 귀금속 칩(31)과 중심전극(5)이 접합된다.The diameter of the
한편, 귀금속 칩(31)에 대향하는 귀금속 칩(32)은 접지전극(27)의 소정 위치에 위치 맞춤한 상태에서 저항용접에 의해서 그 기단이 접지전극(27)에 매립되고, 이 상태에서 그 접합면 외연부를 따라서 레이저 빔으로 스폿 용접된다. 이것에 의해서, 귀금속재료와 Ni 합금이 용융된 용융부(34)가 형성되어 접지전극(27)과 귀금속 칩(32)이 접합된다. 또한, 중심전극(5)측의 귀금속 칩(31)을 생략하는 구성으로 하여도 된다. 이 경우에는 중심전극(5)의 선단부와 귀금속 칩(32)의 사이에 불꽃방전 간극(33)이 형성된다.On the other hand, the
또한, 본 실시형태에 있어서, 용융부(34)는 접지전극(27)의 기단측(도면의 좌측)에 위치하는 기단측 용융부(A)에서 접지전극(27)의 선단측(도면의 우측)에 위치하는 선단측 용융부(B)에 걸쳐서 서서히 그 볼륨(용융량)이 증대하도록 형성되어 있다. 더 상세하게는, 도 2에 나타낸 바와 같이, 접지전극(27)의 길이방향을 따름과 아울러 귀금속 칩(32)의 중심축(Y)을 포함하는 단면(이하 "중심축 단면"이라 한다)에 있어서, 선단측 용융부(B)의 단면적이 기단측 용융부(A)의 단면적의 1.1∼1.3배(예를 들면, 1.2배)가 되도록 형성되어 있다. 또한, 상기 기단측 용융부(A)의 단면적과 선단측 용융부(B)의 단면적의 합계 단면적이 4.O㎟ 이상(예를 들면, 5.O㎟)으로 되어 있다.In addition, in this embodiment, the
또한, 도 3에 나타낸 바와 같이, 상기 기단측 용융부(A) 및 상기 선단측 용융부(B)는 각각 용융부(34) 형성전{귀금속 칩(32)의 기단이 접지전극(27)에 매립된 상태}의 귀금속 칩(32)의 직사각형상의 제 1 가상 외형선(N1)으로 구획된 영역 중 상기 귀금속 칩(32)측의 귀금속 칩측 용융부(C1,C2)와, 상기 제 1 가상 외형선(N1)으로 구획된 영역 중 상기 접지전극(27)측의 영역에 있어서, 용융부(34) 형성전의 상기 접지전극(27)의 제 2 가상 외형선(N2)으로 더 구획된 상기 접지전극(27)측의 접지전극측 용융부(D1,D2)로 구분된다. 또한, 귀금속 칩측 용융부(C1,C2)는 좌측하부에서 우측상부로 경사지는 사선으로 도시되어 있고, 접지전극측 용융부(D1,D2)는 좌측상부에서 우측하부로 경사지는 사선으로 도시되어 있다.As shown in Fig. 3, the proximal end melted part A and the proximal end melted part B are each formed before the melting part 34 (the proximal end of the
또한, 상기 중심축 단면에 있어서, 접지전극측 용융부(D1)의 단면적이 귀금속 칩측 용융부(C1)의 단면적의 1.0∼2.0배(예를 들면, 1.5배)로 됨과 아울러, 접 지전극측 용융부(D2)의 단면적이 귀금속 칩측 용융부(C2)의 단면적의 1.0∼2.0배(예를 들면, 1.7배)로 되어 있다.Further, in the cross section of the central axis, the cross-sectional area of the ground electrode side melting portion D1 is 1.0 to 2.0 times (for example, 1.5 times) the cross-sectional area of the noble metal chip side melting portion C1, and the ground electrode side The cross-sectional area of the molten portion D2 is 1.0 to 2.0 times (for example, 1.7 times) of the cross-sectional area of the noble metal chip side molten portion C2.
이어서, 상기한 바와 같이 구성되어 이루어지는 스파크 플러그(1)의 제조방법에 대해서 설명한다.Next, the manufacturing method of the
우선, 금속 셸(3)을 미리 가공하여 둔다. 즉, 원기둥형상의 금속소재(예를 들면, S17C나 S25C라는 철계 소재나 스테인리스 소재)를 냉간단조가공에 의해서 관통구멍을 형성하면서 개형(槪形)을 제조한다. 그 후, 절삭가공을 실시함에 의해서 외형을 조정하여 금속 셸 중간체를 얻는다.First, the
계속해서, 금속 셸 중간체의 선단면에 Ni 합금(예를 들면, 인코넬계 합금 등)으로 이루어지는 접지전극(27)이 저항용접된다. 이 용접시에는 이른바 "드립(drip)"이 생기기 때문에, 이 "드립"을 제거한 후, 금속 셸 중간체의 소정 부위에 나사부(15)가 전조에 의해서 형성된다. 이것에 의해서, 접지전극(27)이 용접된 금속 셸(3)이 얻어진다. 또한, 후술하는 귀금속 칩(32)을 접지전극(27)에 설치한 후에, 접지전극(27)을 금속 셸 중간체에 용접하는 것으로 하여도 된다. 접지전극(27)이 용접된 금속 셸(3)에는 아연 도금 혹은 니켈 도금이 실시된다. 또한, 내식성 향상을 도모하기 위해서 그 표면에 크로메이트 처리가 더 실시되는 것으로 하여도 된다.Subsequently, a
또한, 접지전극(27)의 선단부분에는 상술한 귀금속 칩(32)이 접합된다. 더 상세하게는, 우선 저항용접에 의해서 접지전극(27)의 소정 부위에 귀금속 칩(32)의 기부가 접지전극(27)에 매립된 상태로 임시 고정된다. 그리고, 레이저 조사수단에 대해서 귀금속 칩(32)의 중심축(Y)을 회전축으로 하여 귀금속 칩(32)을 상대 회전시키면서 접지전극(27)과 귀금속 칩(32)의 접합면 외연부에 대해서 레이저 빔이 간헐적으로 조사된다. 더 상세하게는, 레이저 빔이 조사되는 용융점의 중심끼리의 간격이 대략 같게 되도록 하여 소정 횟수(예를 들면, 8회)의 레이저 빔이 조사된다. 이것에 의해서, 귀금속 칩(32)의 선단측에서 보았을 때 환형상으로 연이어지는 다수의 용융점{용융부(34)}이 형성되어 접지전극(27)과 귀금속 칩(32)이 접합된다(스폿용접법).In addition, the above-described
또, 레이저 빔을 조사할 때에는 출력 에너지를 단계적으로 증감시키면서 상기 접합면 외연부에 대해서 소정 각도에서 레이저 빔이 조사된다. 구체적으로는 접합면 외연부 중, 접지전극(27)의 기단측에 위치하는 부위에 대해서는 비교적 저에너지의 레이저 빔이 조사되는 한편, 접지전극(27)의 선단측에 위치하는 부위에 대해서는 비교적 고에너지의 레이저 빔이 조사된다. 이것에 의해서, 접지전극(27)의 선단측에 형성되는 선단측 용융부(B)의 용융량이 접지전극(27)의 기단측에 형성되는 기단측 용융부(A)의 용융량에 비해서 더 커지게 된다. Moreover, when irradiating a laser beam, a laser beam is irradiated at the predetermined angle with respect to the said outer peripheral surface part, increasing or decreasing an output energy step by step. Specifically, a relatively low energy laser beam is irradiated to a portion located at the proximal side of the
또한, 상기한 바와 같이 출력 에너지를 증감시키는 일 없이, 레이저 빔의 초점거리를 변경함에 의해서 기단측 용융부(A) 및 선단측 용융부(B)의 용융량을 증감시키는 것으로 하여도 된다.As described above, the melt amount of the base-side melt part A and the tip-side melt part B may be increased or decreased by changing the focal length of the laser beam without increasing or decreasing the output energy.
또, 용접을 더 확실하게 하기 위해서, 이 용접에 선행하여 용접부위의 도금을 제거하거나 혹은 도금 공정시에 용접예정부위에 마스킹을 실시하거나 한다. 또, 상기 귀금속 칩(32)의 용접을 후술하는 조립 후에 실시하는 것으로 하여도 된다.In order to further ensure welding, plating of the welded portion is removed prior to the welding or masked on the weld preliminary portion during the plating process. The welding of the
한편, 상기 금속 셸(3)과는 별도로 절연애자(2)를 성형가공하여 둔다. 예를 들면, 알루미나를 주체로 하되 바인더 등을 포함하는 재료분말을 이용하여 성형용 소지 조립물(造粒物)을 조제하고, 이것을 이용하여 러버 프레스 성형을 실시함에 의해서 통형상의 성형체가 얻어진다. 얻어진 성형체에 대해서 연삭가공이 실시되어 정형(整形)된다. 그리고, 정형된 것이 소성로에 투입되어 소성된다. 소성 후, 각종의 연마가공을 실시함에 의해서 절연애자(2)가 얻어진다.On the other hand, the
또, 상기 금속 셸(3) 및 절연애자(2)와는 별도로 중심전극(5)을 제조하여 둔다. 즉, Ni 합금이 단조가공되고, 그 중앙부에 방열성 향상을 도모하기 위해서 구리 합금으로 이루어지는 내층(5A)이 형성된다. 그리고, 그 선단부에는 상술한 귀금속 칩(31)이 저항용접이나 레이저 용접 등에 의해서 접합된다.In addition, the
그리고, 상기한 바와 같이 하여 얻어진 절연애자(2) 및 중심전극(5)과 저항체(7)와 단자전극(6)이 유리밀봉층(8,9)에 의해서 봉합 고정된다. 유리밀봉층(8,9)으로서는 일반적으로 붕규산 유리와 금속분말이 혼합되어 조제되고, 이 조제된 것을 저항체(7)를 사이에 두고서 절연애자(2)의 축구멍(4) 내에 주입하고, 상기 단자전극(6)을 후방에서 압압한 상태로 한 후 소성로 내에서 구워 굳힌다. 또한, 이때 절연애자(2)의 후단측 몸통부(10) 표면에는 유약층이 동시에 소성되는 것으로 하여도 되고, 사전에 유약층이 형성되는 것으로 하여도 된다.Then, the
그 후, 상기한 바와 같이 각각 작성된 중심전극(5) 및 단자전극(6)을 구비하는 절연애자(2)와 접지전극(27)을 구비하는 금속 셸(3)이 조립된다. 더 상세하게는, 비교적 두께가 얇게 형성된 금속 셸(3)의 후단측의 개구부를 지름방향 내측으 로 코킹함에 의해서, 즉 상기 코킹부(20)를 형성함에 의해서 고정된다.Thereafter, the
그리고, 최후로 접지전극(27)을 꺾어 구부림에 의해서, 중심전극(5)의 선단부에 설치된 귀금속 칩(31) 및 접지전극(27)에 설치된 귀금속 칩(32) 간의 상기 불꽃방전 간극(33)을 조정하는 가공이 실시된다.Finally, by bending the
이와 같이 일련의 공정을 거침에 의해서 상술한 구성을 가지는 스파크 플러그(1)가 제조된다.Thus, the
이어서, 본 실시형태에 의해서 얻어지는 작용 효과를 확인하기 위해서, 다음과 같은 시험을 실시하였다. Next, in order to confirm the effect by which this embodiment is obtained, the following test was done.
즉, 접지전극에 귀금속 칩이 접합됨과 아울러, 이 접지전극의 길이방향을 따름과 아울러 귀금속 칩의 중심축을 통과하는 단면에 있어서의 용융부를 보았을 때의 기단측 용융부의 단면적(이하, "SA"라 한다) 및 선단측 용융부의 단면적(이하, "SB"라 한다)의 합계 단면적(이하, "SA+SB"라 한다), SA 및 SB의 단면적 비율(이하, "SB/SA"라 한다), 선단측 용융부측의 귀금속 칩측 용융부의 단면적(이하, "SC"라 한다) 및 선단측 용융부측의 접지전극측 용융부의 단면적(이하, "SD"라 한다)의 단면적 비율(이하, "SD/SC"라 한다)을 여러 가지로 변경한 스파크 플러그의 샘플을 제작하고, 각 샘플에 대해서 내박리성 평가시험을 실시하였다. 이 시험의 결과를 도 4∼도 9의 꺾은선 그래프 및 등고선 그래프로 나타낸다. That is, when the noble metal chip is joined to the ground electrode, along the longitudinal direction of the ground electrode, and the molten part in the cross section passing through the central axis of the noble metal chip, the cross-sectional area of the base-side molten part (hereinafter referred to as "SA") Total cross-sectional area (hereinafter referred to as "SA + SB"), cross-sectional area ratio of SA and SB (hereinafter referred to as "SB / SA"), and tip side The cross sectional area ratio (hereinafter referred to as "SC") of the noble metal chip side melted portion on the melted portion side and the cross-sectional area of the melted portion on the ground electrode side (hereinafter referred to as "SD") at the tip side melted portion side (hereinafter referred to as "SD / SC"). The sample of the spark plug which changed various) was produced, and the peeling resistance evaluation test was done about each sample. The result of this test is shown by the line graph and contour line graph of FIGS.
여기서, 상기 내박리성 평가시험의 개요는 다음과 같다. 즉, 각 스파크 플러그의 샘플을 2000㏄ 직렬 6기통 엔진에 부착하고, 1분간의 전부하 상태(엔진 회전수 = 5000rpm)로 한 후에 1분간 아이들링 상태로 하는 것을 1사이클로 하고, 귀금 속 칩의 박리가 생길 때까지의 사이클 횟수(칩 박리 사이클 횟수)를 측정하였다. 또, 상기 시험에서는 칩 박리 사이클 횟수가 10000 사이클 이상으로 된 경우에 충분한 내박리 성능을 가지는 것으로 판단하는 것으로 하였다.Here, the outline of the peeling resistance evaluation test is as follows. That is, a sample of each spark plug is attached to a 2000 kW series 6-cylinder engine, and it is set as 1 cycle after making it into a 1 minute full load state (engine speed = 5000rpm) for 1 minute, and peeling a chip | tip in a precious metal The number of cycles (the number of chip peel cycles) until the occurrence of was measured. In addition, in the said test, it was decided that it had sufficient peeling-resistant performance when the number of chip peel cycles became 10000 cycles or more.
또한, 도 4 및 도 5에서는 SA+SB를 3㎟로 한 경우의 꺾은선 그래프 및 등고선 그래프를, 도 6 및 도 7에서는 SA+SB를 4㎟로 한 경우의 꺾은선 그래프 및 등고선 그래프를, 도 8 및 도 9에서는 SA+SB를 6㎟로 한 경우의 꺾은선 그래프 및 등고선 그래프를 각각 나타내고 있다.4 and 5 show a line graph and a contour graph when SA + SB is 3
또, 각 꺾은선 그래프(도 4, 도 6, 도 8)에 있어서는 세로축을 칩 박리 사이클 횟수, 가로축을 SD/SC로 함과 아울러, SB/SA가 "1.0"인 샘플에 대해서는 원형 흑점으로, "1.1"인 샘플에 대해서는 삼각형 흑점으로, "1.2"인 샘플에 대해서는 마름모꼴 흑점으로, "1.3"인 샘플에 대해서는 정사각형 흑점으로, "1.4"인 샘플에 대해서는 ×표시로 각각 구성하고 있다. 또한, 충분한 내박리 성능을 가지는 것으로서 평가 가능한 한계치(박리한계)인 10000 사이클을 굵은 선으로 표시하고 있다.4, 6, and 8, the vertical axis represents the number of chip peel cycles, the horizontal axis represents SD / SC, and the sample with SB / SA of "1.0" is a circular black spot. A sample of "1.1" is composed of a triangle black dot, a sample of "1.2" is a rhombic black spot, a sample of "1.3" is a square black dot, and a sample of "1.4" is composed of a x mark. In addition, a thick line indicates 10000 cycles which can be evaluated as having sufficient peeling resistance.
또한, 각 등고선 그래프(도 5, 도 7, 도 9)에 있어서는 세로축을 SB/SA, 가로축을 SD/SC로 하고, 칩 박리 사이클 횟수가 10000 사이클 이상으로 된 영역을 백색으로 표시하고 있다. 여기서, 칩 박리 사이클 횟수가 13000 사이클 이상으로 된 경우에는 극히 우수한 내박리 성능을 가지는 것이라 인정되기 때문에, 영역 내의 교차선을 특히 점선으로 표시하는 것으로 하였다. 이것에 대해서, 칩 박리 사이클 횟수가 10000 사이클 미만으로 된 경우에는 내박리 성능이 충분하지 않은 것으로 하여, 그 영역 내를 점이 산재하는 형상으로 표시하고 있다. 이 경우, 점의 밀도가 클수록(농도가 진할수록) 내박리 성능이 불충분한 것을 나타내고 있다.In addition, in each contour graph (FIG. 5, FIG. 7, FIG. 9), the vertical axis | shaft is SB / SA, the horizontal axis is SD / SC, and the area | region where the number of chip peel cycles became 10000 cycles or more is displayed in white. Here, since it is recognized that when the number of chip peel cycles becomes 13000 cycles or more, it is recognized to have extremely excellent peeling resistance, the intersecting line in the region is particularly indicated by a dotted line. On the other hand, when the number of chip peel cycles is less than 10,000 cycles, the peeling resistance is not sufficient, and the inside of the area is displayed in a shape scattered with dots. In this case, the larger the density of the point (the higher the concentration), the less the peeling performance.
도 4∼도 9에 나타낸 바와 같이, SA+SB의 값에 의하는 일 없이, SB/SA를 "1.1∼1.3"으로 함으로써, SB/SA를 "1.0" 혹은 "1.4"로 한 경우에 비해서 칩 박리 사이클 횟수가 증가한 것이 확인되었다. 이것은 선단측 용융부와 귀금속 칩의 경계 면적 및 선단측 용융부와 접지전극의 경계 면적이 더 증대되었기 때문에, 접지전극의 선단측에 위치하는 용융부나 접지전극 부위에서 귀금속 칩으로 가해지는 열응력이 완화되고, 더 나아가서는 접지전극의 선단측에서의 열응력과 접지전극의 기단측에서의 열응력의 밸런스가 유지된 것에 기인한다고 생각된다.As shown in Fig. 4 to Fig. 9, by removing SB / SA from " 1.1 to 1.3 " without depending on the value of SA + SB, the chip peel cycle is compared with the case of SB / SA being " 1.0 " It was confirmed that the number of times increased. This is because the boundary area between the tip-side melt part and the precious metal chip and the border area between the tip-side melt part and the ground electrode are further increased, so that the thermal stress applied to the precious metal chip at the melt part or the ground electrode part located at the tip side of the ground electrode is increased. It is thought that this is due to the relaxation of the thermal stress at the front end side of the ground electrode and further relaxation of the ground electrode.
또한, SD/SC를 "1.0∼2.0"로 한 것에 의해서 칩 박리 사이클 횟수가 더 일층 증가하는 것이 분명하게 되었다. 이것은 용융부의 선팽창계수가 귀금속재료 혹은 금속재료 중 어느 일방의 선팽창계수에만 너무 가깝게 되는 일이 없기 때문에, 용융부와 귀금속 칩의 경계부분 혹은 용융부와 접지전극의 경계부분에 있어서의 전단력의 증대를 억제할 수 있고, 더 나아가서는 각 경계에서의 산화 스케일이나 크랙 등의 발생을 억제할 수 있던 것에 의한다고 생각된다.Moreover, it became clear that the number of chip peel cycles further increased by setting SD / SC to "1.0-2.0". This is because the coefficient of linear expansion of the melted portion does not become too close to only the coefficient of linear expansion of either the precious metal material or the metal material, so that the shear force at the boundary between the melted portion and the precious metal chip or the boundary between the melted portion and the ground electrode is increased. It can be suppressed, and furthermore, it is thought that it was based on being able to suppress generation | occurrence | production of the oxidation scale, a crack, etc. in each boundary.
한편, 도 4 및 도 5에 나타낸 바와 같이 SA+SB를 3㎟로 한 경우에는 SB/SA를 "1.1∼1.3"으로 하거나 SD/SC를 "1.0∼2.0"으로 함으로써 내박리성의 향상은 인정되었지만 충분한 내박리 성능을 가지는 것까지는 인정되지 않았다. 이것은 용융부의 용융량이 너무 적었기 때문에, 용접강도가 불충분했던 것이 원인이라고 생각된다.On the other hand, as shown in Figs. 4 and 5, when SA + SB is 3
이것에 대해서, 도 6 및 도 7에 나타낸 바와 같이 SA+SB를 4㎟로 한 경우에 는 SB/SA를 "1.1∼1.3"으로 하고 또한 SD/SC를 "1.0∼2.0"으로 함으로써(도 7의 굵은 선으로 에워싸인 영역 내), 칩 박리 사이클 횟수가 10000 사이클을 넘었으며, 충분한 내박리 성능을 실현할 수 있는 것이 확인되었다.On the other hand, when SA + SB is 4 mm <2> as shown to FIG. 6 and FIG. 7, SB / SA is set to "1.1-1.3" and SD / SC is set to "1.0-2.0" (bold in FIG. 7). In the area enclosed by lines), the number of chip peel cycles exceeded 10,000 cycles, and it was confirmed that sufficient peeling resistance could be realized.
또한, 도 8 및 도 9에 나타낸 바와 같이 SA+SB를 6㎟로 한 경우에 있어서는 SB/SA가 "1.1∼1.3"이고 또한 SD/SC가 "1.0∼2.0"인 영역(도 9의 굵은 선으로 에워싸인 영역 내)에 있어서, 칩 박리 사이클 횟수가 13000 사이클을 넘는 부분이 상기 영역의 대부분을 차지함으로써, 매우 우수한 내박리 성능을 실현할 수 있는 것이 확인되었다.As shown in Figs. 8 and 9, when SA + SB is 6 mm2, the area where SB / SA is "1.1 to 1.3" and SD / SC is "1.0 to 2.0" (enclosed by a thick line in Fig. 9). In the region where the number of chip peel cycles exceeded 13,000 cycles occupy most of the region, it was confirmed that very excellent peeling resistance could be realized.
이상과 같이, SA+SB를 4㎟ 이상으로 함과 아울러, SB/SA를 "1.1∼1.3", SD/SC를 "1.0∼2.0"으로 함으로써 귀금속 칩의 내박리성의 향상을 충분히 도모할 수 있다고 말할 수 있다.As mentioned above, SA + SB is 4 mm <2> or more, and SB / SA is "1.1-1.3" and SD / SC is "1.0-2.0", and it can be said that the peeling resistance of a noble metal chip can be improved sufficiently. have.
〔제 2 실시형태〕[2nd Embodiment]
이어서, 제 2 실시형태에 대해서 도 11∼도 16을 참조하여 설명한다. 또한, 본 실시형태에서는 특히 용융부(34)의 구성 및 접지전극(27)과 귀금속 칩(32)의 접합방법이 상기한 제 1 실시형태와 다르기 때문에, 이하에서는 이것들을 중심으로 하여 설명한다.Next, 2nd Embodiment is described with reference to FIGS. 11-16. In addition, in this embodiment, since the structure of the fusion | melting
또한, 본 실시형태에서도 상기한 제 1 실시형태와 마찬가지로, 상기 중심축 단면에 있어서, 선단측 용융부(B)의 단면적이 기단측 용융부(A)의 단면적의 1.1∼1.3배가 되도록 형성됨과 아울러, 기단측 용융부(A)의 단면적과 선단측 용융부(B)의 단면적의 합계 단면적이 4.O㎟ 이상으로 되어 있다. 또, 상기 중심축 단면에 있 어서, 접지전극측 용융부(D1,D2)의 단면적이 귀금속 칩측 용융부(C1,C2)의 단면적의 1.0∼2.0배로 되어 있다.Also in the present embodiment, similarly to the first embodiment described above, in the cross section of the central axis, the cross-sectional area of the tip-side melt part B is formed so as to be 1.1 to 1.3 times the cross-sectional area of the base-side melt part A. The total cross-sectional area of the cross-sectional area of the base-side melt part A and the cross-sectional area of the tip-side melt part B is at least 4.0
이하, 본 제 2 실시형태에 있어서의 특유한 용융부(34)의 구성에 대해서 설명한다.Hereinafter, the structure of the
도 11에 나타낸 바와 같이, 본 실시형태에 있어서의 용융부(34)는 귀금속 칩(32)의 선단측에 위치하는 단부 가장자리가 접지전극(27)의 기단측에 위치하는 부위에서 선단측에 위치하는 부위로 갈수록 서서히 귀금속 칩(32)의 선단에 접근하도록 형성되어 있다. 즉, 도 12에 나타낸 바와 같이, 기단측 용융부(A)에 비해서 선단측 용융부(B)가 귀금속 칩(32)의 선단에 대해서 더 접근한 상태로 형성되어 있다. 더 상세하게는, 상기 중심축 단면에 있어서의 상기 귀금속 칩(32)의 선단에서 기단측 용융부(A)까지의 최단거리를 E(㎜)라 하고, 귀금속 칩(32)의 선단에서 선단측 용융부(B)까지의 최단거리를 F(㎜)라 하였을 때, 1.05≤E/F≤1.25를 만족하도록 하는 용융부(34)가 형성되어 있다. 또한, 본 실시형태에 있어서는 0.3㎜≤E≤0.5㎜를 만족하도록 하는 용융부(34)가 형성되어 있다.As shown in FIG. 11, the
또, 도 12에 나타낸 바와 같이, 귀금속 칩(32)은 그 선단면(32f)이 접지전극(27)의 중심전극(5)측의 단면(27b)과 평행하게 되도록 접합되어 있다. 즉, 귀금속 칩(32)의 선단면(32f)에 있어서의 접지전극(27)의 선단측에 위치하는 선단측 단부(32f1)와 상기 접지전극(27)의 단면(27b)의 사이의 귀금속 칩(32)의 중심축(Y)을 따른 거리(선단측 돌출길이)(L1)와, 상기 귀금속 칩(32)의 선단면(32f)에 있어서의 접지전극(27)의 기단측에 위치하는 기단측 단부(32f2)와 상기 접지전극(27)의 단 면(27b)의 사이의 귀금속 칩(32)의 중심축(Y)을 따른 거리(기단측 돌출길이)(L2)가 같게 되어 있다.As shown in Fig. 12, the
또한, 상기 귀금속 칩(32)은 그 선단면(32f)이 상기 접지전극(27)의 단면(27b)에서 상기 중심축(Y)을 따라서 0.8㎜ 돌출되도록 하여 접합되어 있다.The
이어서, 접지전극(27)과 귀금속 칩(32)의 접합방법에 대해서 설명한다.Next, the bonding method of the
우선 저항용접에 의해서 접지전극(27)의 소정 부위에 귀금속 칩(32)의 기단이 접지전극(27)에 매립된 상태로 임시 고정된다. First, the base end of the
그리고, 도 13 및 도 14에 나타낸 바와 같이, 귀금속 칩(32)의 중심축(Y)을 이 중심축(Y)과 접지전극(27)의 일측면을 포함하는 평면과의 교점(BP)을 기점으로 하여 접지전극(27)의 기단측으로 소정 각도만큼 기울임에 의해서 이루어지는 축(AR)을 회전축으로 하여 접지전극(27) 및 귀금속 칩(32)을 상대 회전시키면서, 조사방향이 고정된 레이저 빔(LB)을 접지전극(27)과 귀금속 칩(32)의 접합면 외연부에 대해서 간헐적으로 조사한다. 13 and 14, an intersection point BP of the central axis Y of the
이것에 의해서, 접지전극(27)의 선단측에 위치하는 부위에서는 귀금속 칩(32)의 선단에 비교적 접근한 위치에 레이저 빔(LB)이 조사되게 되는 한편, 접지전극(27)의 기단측에 위치하는 부위에서는 귀금속 칩(32)의 선단에서 비교적 이간(離間)한 위치에 레이저 빔(LB)이 조사되게 된다. 따라서, 선단측 용융부(B)가 귀금속 칩(32)의 선단에 대해서 더 접근한 상태로 형성되고, 기단측 용융부(A)가 귀금속 칩(32)의 선단에서 비교적 이간한 위치에 형성된다.As a result, the laser beam LB is irradiated at a position relatively near the distal end of the
이상, 상술한 제조방법을 이용함으로써, 장치의 복잡화나 생산효율의 저하를 초래하는 일 없이, 용융부(34)에 있어서의 귀금속 칩(32)의 선단측에 위치하는 단부 가장자리가 접지전극(27)의 기단측에 위치하는 부위에서 선단측에 위치하는 부위로 갈수록 서서히 귀금속 칩(32)의 선단에 접근하도록 한 용융부(34)를 형성할 수 있다.As described above, by using the above-described manufacturing method, the end edge located at the front end side of the
이어서, 본 실시형태에 의해서 얻어지는 작용 효과를 확인하기 위해서, 도 15에 나타낸 바와 같이, 접지전극(27)측의 귀금속 칩(32)의 선단과 선단측 용융부(B)의 사이의 최단거리 "SF"에 대한 상기 귀금속 칩(32)의 선단과 기단측 용융부(A)의 사이의 최단거리 "SE"의 비율("SE/SF")과, 상기 최단거리 "SE"를 여러 가지로 변경한 스파크 플러그의 샘플을 제작하고, 각 샘플에 대해서 내구성 평가시험을 실시하였다. 내구성 평가시험의 개요는 다음과 같다.Next, in order to confirm the operation and effect obtained by this embodiment, as shown in FIG. 15, the shortest distance between the front-end | tip of the
즉, 각 스파크 플러그의 샘플을 2000㏄ 직렬 6기통 엔진에 부착하고, 전부하 상태(엔진 회전수 = 5000rpm)로 엔진을 100시간에 걸쳐서 동작시켰다. 그 후, 중심전극(5)측의 귀금속 칩(31)과 접지전극(27)측의 귀금속 칩(32)에 대해서, 접지전극의 기단측에 위치하는 부위끼리의 거리 "G1" 및 접지전극의 선단측에 위치하는 부위끼리의 거리 "G2"를 측정함과 아울러, 양자의 차의 절대치(|G1-G2|)를 산출하였다. 도 16에 SE/SF와 |G1-G2|의 관계를 나타내는 그래프를 나타낸다.That is, a sample of each spark plug was attached to a 2000 kPa inline 6-cylinder engine, and the engine was operated over 100 hours in a full load state (engine rotation speed = 5000 rpm). Thereafter, with respect to the
또한, 도 16에 있어서는, SE를 0.3㎜로 한 때의 시험결과를 마름모꼴로 구성하고, SE를 0.4㎜로 한 때의 시험결과를 삼각형으로 구성하고, SE를 0.5㎜로 한 때의 시험결과를 원형으로 구성하고, SE를 0.6㎜로 한 때의 시험결과를 ×표시로 구성하였다. 또, 귀금속 칩은 Pt-20Ir-5Rh 합금에 의해서 형성하고, 접지전극은 Incone1601(일본등록상표)에 의해서 형성하였다.In Fig. 16, the test results when the SE is 0.3 mm are formed in a rhombus, the test results when the SE is 0.4 mm is formed in a triangle, and the test results when the SE is 0.5 mm. It consisted of a circle and the test result when SE was set to 0.6 mm was comprised by the x mark. The precious metal chip was formed of Pt-20Ir-5Rh alloy, and the ground electrode was formed of Incone1601 (Japanese registered trademark).
도 16에 나타낸 바와 같이, SE를 0.3㎜ 이상 0.5㎜ 이하로 함과 아울러, SE/SF를 1.05 이상 1.25 이하로 한 샘플에 대해서는 |Gl-G2|가 0.05㎜ 이하로 되어, 귀금속 칩의 편소모를 효과적으로 억제할 수 있는 것을 알 수 있었다. 이것은 SE/SF를 1.05 이상 1.25 이하로 함에 의해서, 접지전극측의 귀금속 칩에 있어서의 접지전극의 선단측에 위치하는 부위의 표면적이 접지전극의 기단측에 위치하는 부위의 표면적보다도 작아지게 되었기 때문에, 보다 고온으로 되기 쉬운 접지전극의 선단측에 위치하는 부위가 받는 열량을 저감할 수 있고, 더 나아가서는 접지전극의 선단측에 위치하는 부위와 기단측에 위치하는 부위의 온도차를 저감시킬 수 있었던 것에 의한다고 생각된다.As shown in Fig. 16, for samples having SE of 0.3 mm or more and 0.5 mm or less and SE / SF of 1.05 or more and 1.25 or less, | Gl-G2 | It can be seen that can effectively suppress the. This is because when the SE / SF is set to 1.05 or more and 1.25 or less, the surface area of the portion located on the front end side of the ground electrode in the precious metal chip on the ground electrode side becomes smaller than the surface area of the portion located on the proximal side of the ground electrode. In addition, it is possible to reduce the amount of heat received by the portion located at the tip side of the ground electrode, which tends to become higher, and furthermore, to reduce the temperature difference between the portion located at the tip side of the ground electrode and the portion located at the base end. I think it is by thing.
한편, SE/SF가 1.05 미만인 샘플 및 SE/SF가 1.25를 넘는 샘플에 대해서는 |G1-G2|가 0.05㎜를 넘게 되어 귀금속 칩에 편소모가 생기는 것이 분명하게 되었다. 이것은 다음의 이유에 의한다고 생각된다. 즉, SE/SF를 1.05 미만으로 한 경우에는, 귀금속 칩에 있어서의 접지전극의 선단측에 위치하는 부위가 받는 열량이 충분히 저감되지 않았기 때문에, 이 부위에서의 소모가 쉽게 진행되었던 것에 기인한다고 생각된다. 한편, SE/SF가 1.25를 넘는 경우에는, 귀금속 칩에 있어서의 접지전극의 선단측에 위치하는 부위가 받는 열량이 극도로 저감되었기 때문에, 접지전극의 기단측에 위치하는 부위에서의 소모가 쉽게 진행되었던 것에 의한다고 생각된다.On the other hand, for samples having a SE / SF of less than 1.05 and samples having a SE / SF of more than 1.25, | G1-G2 | became over 0.05 mm, and it became clear that noble metal chips had a single wear. This is considered to be based on the following reason. In other words, when the SE / SF is less than 1.05, the amount of heat received by the portion located at the tip side of the ground electrode in the noble metal chip is not sufficiently reduced, and it is considered that the consumption at this portion is easily performed. do. On the other hand, when the SE / SF exceeds 1.25, since the amount of heat received by the portion located at the tip side of the ground electrode in the noble metal chip is extremely reduced, the consumption at the portion located at the base end side of the ground electrode is easy. It seems to be due to what went on.
또, SE를 0.6㎜로 한 샘플에 대해서는 SE/SF의 값에 관계없이 |G1-G2|가 0.05㎜보다도 커지게 되어, 귀금속 칩에 편소모가 생기는 것이 분명하게 되었다. 이것은 접지전극측의 귀금속 칩이 접지전극에서 일층 돌출되는 것으로 되었기 때문에, 귀금속 칩이 받는 열량이 증대하고, 더 나아가서는 귀금속 칩에 있어서의 접지전극의 선단측에 위치하는 부위와 기단측에 위치하는 부위의 온도차의 밸런스가 붕괴된 것에 의한다고 생각된다.In addition, for the sample having SE of 0.6 mm, | G1-G2 | became larger than 0.05 mm regardless of the value of SE / SF, and it became clear that uneven wear occurred in the noble metal chip. Since the precious metal chip on the ground electrode side protrudes further from the ground electrode, the amount of heat received by the precious metal chip increases, and furthermore, the precious metal chip is located at the proximal side and the portion located at the front end side of the ground electrode. It is considered that the balance of the temperature difference between the sites is collapsed.
또한, 본 발명은 상기한 실시형태의 기재내용에 한정하지 않고, 예를 들면 다음과 같이 실시하여도 된다. 물론, 이하에서 예시하지 않은 다른 적용예, 변경예도 당연히 가능하다.In addition, this invention is not limited to description of said embodiment, For example, you may carry out as follows. Of course, other applications and modifications not exemplified below are naturally possible.
(a) 상기한 실시형태에서는 기단측 용융부(A) 및 선단측 용융부(B)가 귀금속 칩(32)의 중심축(Y)을 넘는 일 없이 형성되어 있으나, 기단측 용융부(A) 및 선단측 용융부(B) 중 적어도 일방이 상기 중심축(Y)을 넘어서 형성되는 것으로 하여도 된다. 이때, 도 10의 (a)에 나타낸 바와 같이 기단측 용융부(A)와 선단측 용융부(B)가 서로 중복되는 경우도 있게 되는데, 이러한 경우에는 다음과 같이 하여 기단측 용융부(A)의 단면적 및 선단측 용융부(B)의 단면적을 결정하는 것이 바람직하다. 즉, 도 10의 (b)에 나타낸 바와 같이, 상기 중심축 단면에 있어서, 기단측 용융부(A)의 외형을 형성하는 외형선(H1)과 선단측 용융부(B)의 외형을 형성하는 외형선(H2)의 2교점(K1,K2)을 가상 직선(S)으로 연결한다. 그리고, 도 10의 (c)에 나타낸 바와 같이, 기단측 용융부(A)측으로 분할된 용융부분(A1)이 "기단측 용융부(A)"로서 결정되고, 선단측 용융부(B)측으로 분할된 용융부분(B1)이 "선단측 용융부(B)"로서 결정된다.(a) In the above-described embodiment, the proximal end melted portion A and the proximal side melted portion B are formed without exceeding the central axis Y of the
(b) 상기한 실시형태에서는, 기단측 용융부(A)에 있어서의 접지전극측 용융부(D1)의 단면적이 귀금속 칩측 용융부(C1)의 단면적의 1.0∼2.0배로 됨과 아울러, 선단측 용융부(B)에 있어서의 접지전극측 용융부(D2)의 단면적이 귀금속 칩측 용융부(C2)의 단면적의 1.0∼2.0배로 되어 있다. 이것에 대해서, 기단측 용융부(A) 및 선단측 용융부(B) 중 어느 일방에 있어서의 접지전극측 용융부(D1(D2))의 단면적을 귀금속 칩측 용융부(C1(C2))의 단면적의 1.0∼2.0배로 하는 것으로 하여도 된다.(b) In the above embodiment, the cross-sectional area of the ground electrode side melting part D1 in the base-side melting part A becomes 1.0 to 2.0 times the cross-sectional area of the precious metal chip side melting part C1, and the tip-side melting is performed. The cross-sectional area of the ground electrode side melted portion D2 in the portion B is 1.0 to 2.0 times the cross-sectional area of the noble metal chip side melted portion C2. On the other hand, the cross-sectional area of the ground electrode side melting part D1 (D2) in either one of the proximal side melting part A and the tip side melting part B is determined by the noble metal chip side melting part C1 (C2). It may be set to 1.0 to 2.0 times the cross-sectional area.
(c) 상기한 실시형태에서는 특히 언급하고 있지는 않지만, 최근의 스파크 플러그의 소형화의 요청을 감안하여 접지전극(27)으로서 그 선단부분의 단면적이 비교적 작은(예를 들면, 2.0㎟ 이상 3.5㎟ 이하) 것을 이용하는 것으로 하여도 된다. 이와 같이 단면적이 비교적 작은 경우에는 접지전극(27)의 열 방산 성능이 저하되기 때문에 접지전극(27)이 더 고온으로 되기 쉽고, 더 나아가서는 귀금속 칩(32)에 가해지는 열응력의 밸런스가 일층 붕괴되기 쉬워지게 되는 것이 우려된다. 이 점에 대해서 상기한 구성을 채용함으로써 열응력의 밸런스의 붕괴를 안정적으로 억제할 수 있다. 즉, 접지전극(27)이 보다 고온으로 되기 쉬운 조건하에서 상기한 구성으로 함에 의한 작용 효과가 일층 효과적으로 얻어진다.(c) Although not specifically mentioned in the above embodiment, the cross-sectional area of the tip portion of the
(d) 상기한 실시형태에서는 귀금속 칩(32)이 Pt-20Ir-5Rh 합금에 의해서 형성되었으나, 귀금속 칩(32)을 다른 귀금속이나 귀금속 합금에 의해서 형성하는 것으로 하여도 된다. 따라서, 예를 들면 Pt-20Rh 합금에 의해서 형성하는 것으로 하여도 된다.(d) In the above embodiment, the
그런데, 귀금속 칩(32)의 조성을 변경함에 의해서 용융부(34)의 열전도율을 변화시킬 수 있다. 여기서, 귀금속 칩(32)의 조성을 변경한 경우에 상기한 실시형태의 작용 효과가 얻어지는지를 확인하기 위해서, Pt-20Rh 합금으로 이루어지는 귀금속 칩을 구비함과 아울러, 접지전극측의 귀금속 칩의 선단과 선단측 용융부의 사이의 최단거리 "SF"에 대한 이 귀금속 칩의 선단과 기단측 용융부의 사이의 최단거리 "SE"의 비율("SE/SF")과, 상기 최단거리 "SE"를 여러 가지로 변경한 스파크 플러그의 샘플을 제작하고, 각 샘플에 대해서 상술한 내구성 평가시험을 실시하였다. 이 평가시험의 결과를 도 17에 나타낸다. 또한, Pt-20Rh 합금의 열전도율은 약 0.372W/㎝·K이다. 또, 접지전극은 Incone1601(일본등록상표)에 의해서 형성하였다.By the way, the thermal conductivity of the fusion | melting
도 17에 나타낸 바와 같이, Pt-20Rh 합금으로 이루어지는 귀금속 칩에 대해서도 상기한 실시형태와 마찬가지로, SE를 0.3㎜ 이상 0.5㎜ 이하로 함과 아울러, SE/SF를 1.05 이상 1.25 이하로 한 샘플에 대해서는 |G1-G2|가 0.05㎜ 이하로 되어 귀금속 칩의 편소모를 효과적으로 억제할 수 있는 것이 분명하게 되었다. 즉, 접지전극을 형성하는 금속재료의 열전도율보다도 큰 열전도율을 가지는 귀금속재료로 귀금속 칩을 형성함에 의해서 상기한 실시형태에 있어서의 작용 효과가 얻어진다고 생각된다. 따라서, 이와 같은 관계를 만족하는 한, 상술한 Pt을 주성분으로 하는 합금에 한정하지 않고, 예를 들면 Ir을 주성분으로 하는 합금에 의해서 형성된 귀금속 칩이라 하더러도 같은 작용 효과가 얻어진다고 말할 수 있다.As shown in Fig. 17, the precious metal chip made of the Pt-20Rh alloy was similarly to the above-described embodiment, and the sample made SE of 0.3 mm or more and 0.5 mm or less and SE / SF of 1.05 or more and 1.25 or less. It became clear that | G1-G2 | became 0.05 mm or less and can effectively suppress the single-wear of a noble metal chip. That is, it is thought that the effect in the above-mentioned embodiment is obtained by forming a noble metal chip from the noble metal material which has a thermal conductivity larger than the thermal conductivity of the metal material which forms a ground electrode. Therefore, as long as such a relationship is satisfied, it is not limited to the alloy containing Pt as the main component described above, and even the precious metal chips formed by the alloy containing Ir as a main component can be said to have the same effect. .
(e) 상기한 실시형태에서는 접지전극(27)을 Incone1601(일본등록상표)에 의해서 형성하고 있으나, 접지전극(27)을 구성하는 금속재료는 이것에 한정되는 것이 아니다. 또한, 귀금속 칩(32)의 편소모를 효과적으로 억제한다는 관점에서는, 귀금속 칩(32)을 구성하는 귀금속재료의 열전도율보다도 작은 열전도율을 가지는 금속재료에 의해서 접지전극(27)을 형성하는 것이 바람직하다. 따라서, 예를 들면, 열전도율이 약 0.149W/㎝·K로 비교적 작은 금속재료인 Ni-15.5Cr-8Fe 합금[Incone1600(일본등록상표)]에 의해서 접지전극(27)을 형성하는 것으로 하여도 된다.(e) In the above embodiment, the
(f) 상기한 제 2 실시형태에서는 접지전극(27)의 단면(27b)과 귀금속 칩(32)의 선단면(32f)이 평행하게 되도록, 즉 선단측 돌출길이(L1)와 기단측 돌출길이(L2)가 같게 되도록 귀금속 칩(32)이 접지전극(27)에 접합되어 있으나, 귀금속 칩(32)은 상기 단면(27b)과 선단면(32f)이 거의 평행한 상태가 되도록 접지전극(27)에 접합되어 있으면 된다. 따라서, 상기 선단측 돌출길이(Ll)와 기단측 돌출길이(L2)의 차이가 소정 범위(예를 들면, 0.05㎜) 이내가 되도록, 귀금속 칩(32)을 접지전극(27)에 대해서 접합하는 것으로 하여도 된다.(f) In the second embodiment described above, the
(g) 상기한 실시형태에서는 금속 셸(3)의 선단부(26)에 접지전극(27)이 접합되는 경우에 대해서 구체화하고 있으나, 금속 셸의 일부(또는, 금속 셸에 미리 용접되어 있는 선단 셸의 일부)를 깎아내도록 하여 접지전극을 형성하는 경우에 대해서도 적용 가능하다(예를 들면, 일본국 특개 2006-236906호 공보 등).(g) In the above embodiment, the case where the
(h) 상기한 실시형태에서는 공구 걸어맞춤부(19)가 단면 육각형상으로 되어 있으나, 공구 걸어맞춤부(19)의 형상에 관해서는 이러한 형상에 한정되는 것이 아니다. 예를 들면, Bi-HEX(변형 12각)형상[ISO22977:2005(E)] 등으로 되어 있어도 된다.(h) Although the
도 1은 본 실시형태에 있어서의 스파크 플러그를 나타내는 일부 파단 정면도1 is a partially broken front view illustrating a spark plug according to the present embodiment.
도 2는 본 실시형태에 있어서의 용융부 등의 단면을 나타내는 부분 확대 단면도2 is a partially enlarged cross-sectional view showing a cross section of a melted part or the like according to the present embodiment.
도 3은 본 실시형태에 있어서의 귀금속 칩측 용융부 및 접지전극측 용융부를 나타내는 부분 확대 모식도Fig. 3 is a partially enlarged schematic diagram showing the noble metal chip side melting part and the ground electrode side melting part according to the present embodiment.
도 4는 내박리성 평가시험에 있어서, 귀금속 칩측 용융부의 단면적과 접지전극측 용융부의 단면적의 합계 단면적이 3㎟인 경우의 시험결과를 나타내는 꺾은선 그래프Fig. 4 is a graph showing test results when the total cross-sectional area of the cross-sectional area of the noble metal chip side melted portion and the ground electrode side melted portion is 3
도 5는 내박리성 평가시험에 있어서, 귀금속 칩측 용융부의 단면적과 접지전극측 용융부의 단면적의 합계 단면적이 3㎟인 경우의 시험결과를 나타내는 등고선 그래프Fig. 5 is a contour graph showing test results when the total cross-sectional area of the cross-sectional area of the noble metal chip side melted portion and the ground electrode side melted portion is 3
도 6은 내박리성 평가시험에 있어서, 귀금속 칩측 용융부의 단면적과 접지전극측 용융부의 단면적의 합계 단면적이 4㎟인 경우의 시험결과를 나타내는 꺾은선 그래프Fig. 6 is a graph showing test results when the total cross-sectional area of the cross-sectional area of the noble metal chip side melted portion and the ground electrode side melted portion is 4
도 7은 내박리성 평가시험에 있어서, 귀금속 칩측 용융부의 단면적과 접지전극측 용융부의 단면적의 합계 단면적이 4㎟인 경우의 시험결과를 나타내는 등고선 그래프Fig. 7 is a contour graph showing the test results when the total cross-sectional area of the cross-sectional area of the noble metal chip side melted portion and the ground electrode side melted portion is 4
도 8은 내박리성 평가시험에 있어서, 귀금속 칩측 용융부의 단면적과 접지전극측 용융부의 단면적의 합계 단면적이 6㎟인 경우의 시험결과를 나타내는 꺾은선 그래프Fig. 8 is a graph showing test results when the total cross-sectional area of the cross-sectional area of the noble metal chip side melted portion and the ground electrode side melted portion is 6
도 9는 내박리성 평가시험에 있어서, 귀금속 칩측 용융부의 단면적과 접지전극측 용융부의 단면적의 합계 단면적이 6㎟인 경우의 시험결과를 나타내는 등고선 그래프Fig. 9 is a contour graph showing test results when the total cross-sectional area of the cross-sectional area of the noble metal chip side melted portion and the ground electrode side melted portion is 6
도 10에 있어서, (a)는 다른 실시형태에 있어서의 선단측 용융부 및 기단측 용융부 등을 나타내는 부분 확대 단면도, (b) 및 (c)는 다른 실시형태에 있어서의 선단측 용융부의 단면적 및 기단측 용융부의 단면적의 결정방법을 설명하는 모식도In FIG. 10, (a) is the partial expanded sectional drawing which shows the front side melt part, the base side melt part, etc. in another embodiment, (b), (c) is the cross-sectional area of the front side melt part in another embodiment. And schematic diagram for explaining the method for determining the cross-sectional area of the proximal side melted portion.
도 11은 제 2 실시형태에 있어서의 접지전극과 귀금속 칩의 용융부의 구성을 나타내는 부분 확대 정면도Fig. 11 is a partially enlarged front view showing the structure of the melting section of the ground electrode and the noble metal chip in the second embodiment.
도 12는 제 2 실시형태에 있어서의 기단측 용융부 및 선단측 용융부와 귀금속 칩의 위치관계를 나타내는 부분 단면도12 is a partial cross-sectional view showing the positional relationship between the proximal end melted portion, the distal end melted portion, and the precious metal chip according to the second embodiment;
도 13은 제 2 실시형태에 있어서의 접지전극과 귀금속 칩의 접합방법을 설명하기 위한 단면 모식도FIG. 13 is a schematic sectional view referred to for describing the bonding method for the ground electrode and the noble metal chip according to the second embodiment; FIG.
도 14는 제 2 실시형태에 있어서의 접지전극과 귀금속 칩의 접합방법을 설명하기 위한 단면 모식도14 is a schematic cross-sectional view for explaining a bonding method between a ground electrode and a noble metal chip according to the second embodiment.
도 15는 내구성 평가시험에서 이용하는 샘플의 개념을 설명하기 위한 단면도(단, 편의상 해칭을 생략하고 있다)15 is a cross-sectional view for explaining the concept of a sample used in the durability evaluation test (however, hatching is omitted for convenience).
도 16은 SE 및 SE/SF가 여러 가지로 변경된 샘플에 대해서 내구성 평가시험의 결과를 나타내는 그래프16 is a graph showing the results of the endurance evaluation test for the samples in which SE and SE / SF are variously changed.
도 17은 다른 귀금속 칩에 있어서, SE 및 SE/SF가 여러 가지로 변경된 샘플 의 내구성 평가시험의 결과를 나타내는 그래프17 is a graph showing the results of durability evaluation tests of samples in which SE and SE / SF are variously changed in other precious metal chips.
* 도면 중 주요 부분에 대한 부호의 설명 *Explanation of symbols on the main parts of the drawings
1 - 내연기관용 스파크 플러그 2 - 절연애자(절연체)1-spark plug for internal combustion engine 2-insulator (insulator)
3 - 금속 셸 4 - 축구멍3-metal shell 4-shaft hole
5 - 중심전극 26 - 금속 셸의 선단부5-center electrode 26-tip of metal shell
27 - 접지전극 32 - 귀금속 칩27-Grounding Electrode 32-Precious Metal Chip
33 - 불꽃방전 간극 34 - 용융부33-flame discharge gap 34-melt
A - 기단측 용융부 B - 선단측 용융부A-Proximal Melt B-Proximal Melt
Cl,C2 - 귀금속 칩측 용융부 Dl,D2 - 접지전극측 용융부Cl, C2-Melt side of precious metal chip Dl, D2-Melt side of ground electrode
Nl - 제 1 가상 외형선 N2 - 제 2 가상 외형선Nl-the first virtual outline N2-the second virtual outline
X - 축선 Y - 중심축X-axis Y-center axis
Claims (7)
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JPJP-P-2007-00200283 | 2007-08-01 | ||
JP2007200283 | 2007-08-01 | ||
JPJP-P-2008-00161565 | 2008-06-20 | ||
JP2008161565A JP4402731B2 (en) | 2007-08-01 | 2008-06-20 | Spark plug for internal combustion engine and method of manufacturing spark plug |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20090013731A true KR20090013731A (en) | 2009-02-05 |
KR101123501B1 KR101123501B1 (en) | 2012-03-23 |
Family
ID=40332181
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020080075650A KR101123501B1 (en) | 2007-08-01 | 2008-08-01 | Spark plug for internal combustion engine and method of manufacturing the same |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4402731B2 (en) |
KR (1) | KR101123501B1 (en) |
CN (1) | CN101359811B (en) |
DE (1) | DE602008005675D1 (en) |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4999945B2 (en) * | 2009-02-10 | 2012-08-15 | 日本特殊陶業株式会社 | Manufacturing method of spark plug |
JP5213782B2 (en) * | 2009-03-31 | 2013-06-19 | 日本特殊陶業株式会社 | Spark plug |
JP5319692B2 (en) * | 2009-03-31 | 2013-10-16 | 日本特殊陶業株式会社 | Manufacturing method of spark plug |
US8692447B2 (en) * | 2009-04-09 | 2014-04-08 | Ngk Spark Plug Co., Ltd. | Spark plug for internal combustion engine and manufacturing method thereof |
JP5167211B2 (en) * | 2009-07-29 | 2013-03-21 | 日本特殊陶業株式会社 | Spark plug manufacturing apparatus and manufacturing method |
JP4928596B2 (en) * | 2009-12-04 | 2012-05-09 | 日本特殊陶業株式会社 | Spark plug and manufacturing method thereof |
JP5337057B2 (en) * | 2010-01-05 | 2013-11-06 | 日本特殊陶業株式会社 | Spark plug |
JP5044665B2 (en) * | 2010-01-26 | 2012-10-10 | 日本特殊陶業株式会社 | Spark plug |
JP4759090B1 (en) * | 2010-02-18 | 2011-08-31 | 日本特殊陶業株式会社 | Spark plug |
JP6069082B2 (en) * | 2013-04-24 | 2017-01-25 | 日本特殊陶業株式会社 | Spark plug and manufacturing method thereof |
JP6174971B2 (en) * | 2013-11-11 | 2017-08-02 | 日本特殊陶業株式会社 | Glow plug manufacturing method |
JP5980247B2 (en) * | 2014-01-24 | 2016-08-31 | 日本特殊陶業株式会社 | Spark plug |
JP5987013B2 (en) * | 2014-01-24 | 2016-09-06 | 日本特殊陶業株式会社 | Spark plug |
WO2015174008A1 (en) * | 2014-05-15 | 2015-11-19 | 日本特殊陶業株式会社 | Spark plug |
JP6293107B2 (en) * | 2015-12-03 | 2018-03-14 | 日本特殊陶業株式会社 | Spark plug |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4271379B2 (en) * | 2001-02-08 | 2009-06-03 | 株式会社デンソー | Spark plug |
JP4069826B2 (en) * | 2003-07-30 | 2008-04-02 | 株式会社デンソー | Spark plug and manufacturing method thereof |
-
2008
- 2008-06-20 JP JP2008161565A patent/JP4402731B2/en active Active
- 2008-07-31 DE DE602008005675T patent/DE602008005675D1/en active Active
- 2008-08-01 CN CN2008101354173A patent/CN101359811B/en active Active
- 2008-08-01 KR KR1020080075650A patent/KR101123501B1/en active IP Right Grant
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN101359811A (en) | 2009-02-04 |
CN101359811B (en) | 2012-06-13 |
KR101123501B1 (en) | 2012-03-23 |
DE602008005675D1 (en) | 2011-05-05 |
JP2009054572A (en) | 2009-03-12 |
JP4402731B2 (en) | 2010-01-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR101123501B1 (en) | Spark plug for internal combustion engine and method of manufacturing the same | |
JP5341752B2 (en) | Spark plug for internal combustion engine and method for manufacturing the same | |
JP5118695B2 (en) | Spark plug for internal combustion engine and method of manufacturing spark plug | |
KR101395376B1 (en) | Spark plug and its manufacturing method | |
JP4912459B2 (en) | Spark plug | |
JP5048063B2 (en) | Spark plug for internal combustion engine | |
US8115372B2 (en) | Spark plug for internal combustion engine and method of manufacturing the same | |
JP5092012B2 (en) | Spark plug for internal combustion engine | |
JP5044665B2 (en) | Spark plug | |
JP5200013B2 (en) | Spark plug for internal combustion engine | |
JP2011034826A (en) | Spark plug | |
JP2010021136A (en) | Spark plug | |
JP2009070810A (en) | Spark plug for internal combustion engine | |
JP5022465B2 (en) | Spark plug for internal combustion engine and method for manufacturing the same | |
JP2008053017A (en) | Spark plug for internal combustion engine | |
JP2008053018A (en) | Spark plug for internal combustion engine | |
JP4680513B2 (en) | Spark plug manufacturing method and spark plug | |
JP4426614B2 (en) | Spark plug for internal combustion engine | |
JP2012099461A (en) | Plasma jet spark plug, and method of manufacturing the same | |
EP2933887B1 (en) | Spark plug | |
JP5337057B2 (en) | Spark plug | |
JP5449114B2 (en) | Spark plug and manufacturing method thereof | |
JP5973928B2 (en) | Spark plug and manufacturing method thereof | |
JP4746192B2 (en) | Spark plug manufacturing method and spark plug | |
JP2008103147A (en) | Spark plug for internal combustion engine |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20150130 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160127 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170202 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180219 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190218 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20200218 Year of fee payment: 9 |