KR20090009129U

KR20090009129U - device for magnetic flux density measurement

Info

Publication number: KR20090009129U
Application number: KR2020080003053U
Authority: KR
Inventors: 윤여훈; 김기영
Original assignee: 노틸러스효성 주식회사
Priority date: 2008-03-07
Filing date: 2008-03-07
Publication date: 2009-09-10

Abstract

본 고안은 자속밀도 측정장치에 관한 것으로서, 베이스 플레이트(100)와, 베이스 플레이트(100)의 상면에 설치되는 고정뭉치(110)와, 고정뭉치(110)에 가로 방향으로 관통 설치되는 마이크로미터 헤드(120)와, 마이크로미터 헤드(120)의 단부측에 설치되어 수평 이동되는 자석(130)과, 자석(130)과 마주하는 위치에 수직하게 설치되는 고정부(140)와, 고정부(140)에 위치되며 복수의 홀센서(152)가 마련된 회로기판(150)과, 회로기판(150)에 전기적 전압이 인가되면 근접하는 자석(130)과 홀센서(152)간의 이격거리에 따라 변화되는 출력전압을 측정할 수 있는 측정기(170)를 포함한다. 따라서 본 고안에 의하면 홀센서와 자석의 공극 거리에 따라 변화되는 자속밀도를 측정할 수 있으며, 더욱이 홀센서의 설계 위치에 따른 자속밀도의 변화를 측정할 수 있는 테스트 장치의 개발로 하여 홀센서를 이용하는 이매검지장치의 적용시 이매검지 신뢰성을 높이는 효과를 가진다.The present invention relates to a magnetic flux density measuring apparatus, the base plate 100, the fixed bundle 110 is installed on the upper surface of the base plate 100, the micrometer head is installed through the fixed bundle 110 in the horizontal direction 120, a magnet 130 installed at an end side of the micrometer head 120 and horizontally moved, a fixing part 140 vertically installed at a position facing the magnet 130, and a fixing part 140. And a circuit board 150 provided with a plurality of Hall sensors 152 and changed according to a separation distance between a magnet 130 and a Hall sensor 152 adjacent to each other when an electrical voltage is applied to the circuit board 150. It includes a meter 170 that can measure the output voltage. Therefore, according to the present invention, it is possible to measure the magnetic flux density that varies depending on the pore distance between the hall sensor and the magnet. When the double sheet detecting device is used, the double sheet detecting reliability is improved.

자속밀도, 자석, 홀센서, 이매검지장치 Magnetic flux density, magnet, hall sensor, double sheet detector

Description

Device for magnetic flux density measurement

본 고안은 자속밀도 측정장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 투입되는 지폐류의 이매를 검지하기 위한 장치의 설치시 홀센서의 설계 위치에 따른 변화와 홀센서와 자석간의 거리에 따른 자속밀도를 측정할 수 있는 자속밀도 측정장치에 관한 것이다.The present invention relates to a magnetic flux density measuring device, and more particularly, to measure the magnetic flux density according to the design position of the Hall sensor and the distance between the Hall sensor and the magnet when installing a device for detecting double sheets of paper money. It relates to a magnetic flux density measuring device that can be.

일반적으로, 은행 등에는 각종 금융자동화기기가 널리 보급되어 이용되고 있으며, 그 중에는 낱장의 지폐, 수표와 같은 지폐류를 투입 받아 자동으로 수납 처리하는 기기도 있으며, 이러한 지폐류 자동 수납처리기에서는 투입된 지폐에 대해 진위여부를 확인하고 정상인 경우에만 수납 처리하게 되는데, 상세하게는 일측의 투입구를 통해 외부로부터 투입된 지폐를 계속적으로 이송시키면서, 해당 지폐를 스캔닝(scanning)하는 등의 방법을 통해 해당 지폐의 정보를 획득하고, 획득된 해당 정보를 이용하여 해당 지폐의 진위여부를 확인한 다음, 이상이 없을 경우에만 최종적으로 수납처리하게 되고, 만약 이상이 있을 경우에는 해당 지폐를 반출 처리하게 된다. In general, banks and the like are widely used in various types of banking automation equipment, and among them, a banknote, a check such as a check, such as a device that accepts and automatically receive processing, such bills automatic bill acceptor The authenticity of the banknote is confirmed and stored only in the normal case. Specifically, the banknotes of the banknote are scanned through a method such as scanning the banknote continuously while continuously transferring the banknotes inputted from the outside through the slot of one side. After acquiring the information, and confirming the authenticity of the banknote by using the obtained information, and finally if there is no abnormality is finally stored processing, if there is a problem, the banknote is carried out.

도 1은 종래의 지폐류 자동 수납처리기의 개략적인 구성 단면도이다. 1 is a schematic configuration cross-sectional view of a conventional banknote automatic storage processor.

지폐류 자동 수납처리기는, 이용자가 지폐(p)를 낱장으로 투입하거나 반환받게 되는 투입구(10)와, 투입된 지폐(p)를 반송로(21)를 따라 이송시키는 반송부(20)와, 반송로(21)상에 구비되어 이송되는 지폐(p)를 스캐닝하여 지폐정보로서 이미지 정보를 획득하게 되는 CIS(Contact Image Sensor ; 접촉식 이미지센서)부(30)와, 반송로(21)상에 구비되어 이송되는 지폐(p)상에 인자되어 있는 자기문자 정보를 지폐정보로서 획득하게 되는 MICR(Magnetic Ink Character Recognition ; 자기잉크문자인식)부(40) 등을 구비하며, 즉 CIS부(30) 및 MICR부(40)를 통해 지폐정보, 즉 이미지 정보와 자기문자 정보를 획득하고, 해당 지폐정보를 이용하여 해당 지폐(p)의 이상여부를 자체 판단 및 전산망 조회 등을 통해 확인하게 된다. The bills automatic storage processor includes an inlet 10 through which the user inserts or returns a sheet of paper p, a conveying section 20 for conveying the inserted bills p along the conveying path 21, and conveying. On the conveying path 21 and the CIS (Contact Image Sensor) unit 30 which acquires image information as banknote information by scanning the banknote p provided on the furnace 21 and conveyed. It is provided with a MICR (Magnetic Ink Character Recognition) unit 40 for acquiring the magnetic character information printed on the banknote (p) provided and transferred as banknote information, that is, the CIS unit 30 And through the MICR unit 40 obtains the bill information, that is, image information and magnetic character information, using the bill information check whether the abnormality of the bill (p) through the self-determination and computer network inquiry.

여기서, 투입된 지폐(p)를 계속적으로 이송시키기 위해 투입구(10) 다음부터 형성되게 되는 반송부(20)는, 양측(상하부측) 가이드벽(22-t, 22-b) 사이에 형성되어 지폐(p)가 이송되게 되는 반송로(21)와, 이 반송로(21) 즉, 상하부측 가이드벽(22-t, 22-b)을 따라 소정간격마다 상하 한 쌍씩 다수개 구비되어 지폐(p)에 접촉하여 이송시키게 되는 반송롤러(24)와, 이 반송롤러(24)에 회전구동력을 제공하기 위한 반송모터(미도시)로 구성되게 된다. Here, the conveyance part 20 formed after the injection opening 10 in order to continuously convey the inserted banknote p is formed between the both side (upper and lower side) guide walls 22-t, 22-b, and is a banknote. (p) A plurality of upper and lower pairs are provided at predetermined intervals along the conveying path 21 and the conveying path 21, that is, the upper and lower side guide walls 22-t and 22-b. ) And a conveying roller 24 to be conveyed in contact with the conveyance roller 24 and a conveying motor (not shown) for providing a rotational driving force to the conveying roller 24.

그리고, CIS부(30) 및 MICR부(40)는 각기 지폐(p)에 접촉하여 정보를 획득하기 위한 스캐닝헤드(32-t, 32-b)와 자기인식헤드(42)를 구비하며, CIS부(30)의 스캐닝헤드(32-t, 32-b)는 지폐(p)의 전면측과 후면측에 각기 접촉하여 스캐닝함으로써 양면 모두의 정보를 획득할 수 있도록 두개가 구비되게 된다. The CIS unit 30 and the MICR unit 40 each have scanning heads 32-t and 32-b and magnetic recognition heads 42 for contacting the banknote p to obtain information. The scanning heads 32-t and 32-b of the unit 30 are provided with two pieces so as to obtain information on both sides by scanning the front and rear sides of the banknote p respectively.

따라서, 투입구(10)를 통해 외부로부터 투입된 지폐(p)는 반송로(21)를 따라 소정간격마다 구비된 반송롤러(24)의 회전구동에 따라 해당 반송롤러(24)들에 접촉되어 마찰됨으로써 이송되게 되고, 그 이송되는 과정에서 순차적으로 CIS부(30) 및 MICR부(40)를 통과하면서 이미지 정보와 자기문자 정보가 획득되게 되고, 이후 또한 반송롤러들(24)에 의해 계속적으로 이송되게 된다. Therefore, the banknote p introduced from the outside through the inlet 10 is in contact with the conveying rollers 24 in accordance with the rotational driving of the conveying roller 24 provided at predetermined intervals along the conveying path 21, thereby rubbing The image information and the magnetic character information are acquired while sequentially passing through the CIS unit 30 and the MICR unit 40 in the process of being transferred, and then also continuously transferred by the conveying rollers 24. do.

한편, 이상과 같은 지폐류 자동 수납처리기에서는 정확하게 한장씩의 지폐(p)에 대해서 처리가 이루어져야만 하며, 만약 처리되는 지폐(p)가 2매 이상 겹쳐져 있는 경우에는 한 장의 지폐(p)에 대해서는 정확하게 정보 획득 등이 이루어질 수 있으나 나머지 다른 지폐(p)에 대해서는 그 처리가 정확하게 이루어지지 않게 되므로, 처리되는 지폐(p)의 이매여부를 검출하여 이매인 경우에는 반출처리하고, 정확히 낱장인 경우에만 수납 처리해야 할 필요성이 있게 된다. On the other hand, in the automatic bill processor as described above, the treatment must be performed on exactly one bill (p), and if two or more bills (p) to be processed are stacked on the bill (p) correctly, Information acquisition may be made, but the other banknotes (p) will not be processed correctly. Therefore, if the banknotes (p) are processed and detected in the case of double sheets, they will be taken out and stored only if they are exactly one sheet. There is a need to deal with it.

따라서, 매우 정확하면서 완벽하게 이매 여부를 검출할 수 있는 수단이 강력히 요청되고 있는 실정이다. Therefore, there is a strong demand for a means to detect whether the sheet is very accurate and perfectly.

이에 본 고안의 출원인에 의하여 출원번호 10-2004-112510에서 "지류 겹침이송 감지장치 및 그 방법"이라는 명칭으로 출원된 바 있으나, 장치가 복잡하고, 정확한 이매 검지 성능을 발휘하지 못하는 문제점이 있었다.Thus, the applicant of the present invention has been filed in the application number 10-2004-112510 under the name "feeder overlap transfer detection device and method thereof," but the device is complex, there was a problem that does not exhibit accurate double sheet detection performance.

따라서 종래의 이매검지장치 보다 간단한 구조를 가지면서도 정확한 이매검지 성능을 가질 수 있는 장치의 개발이 요구되었으며, 이에 홀센서와 자석간에 발생되는 전기적 신호를 이용하여 홀센서와 자석의 사이로 지폐류의 투입시 변화되는 전기적 신호를 가지고서 이매 검지를 할 수 있도록 홀센서를 이용한 이매검지장치의 개발이 이루어지고 있다.Therefore, the development of a device capable of accurate double sheet detection performance while having a simpler structure than the conventional double sheet detecting device has been required. Thus, bills are introduced between the hall sensor and the magnet by using an electrical signal generated between the hall sensor and the magnet. Development of a double sheet detection device using a hall sensor to detect the double sheet with an electrical signal that is changed in time.

따라서 본 고안에서는 홀센서를 이용하는 이매검지장치에서 홀센서와 자석의 거리에 따라 변화되는 자속밀도를 측정할 수 있으며, 더욱이 홀센서의 설계 위치에 따른 자속밀도의 변화를 측정할 수 있는 테스트 장치의 개발로 하여 제품에 신뢰성을 가지고서 이매검지 장치에 장착되어질 수 있도록 하는 자속밀도 측정장치를 제공하는 것을 그 목적으로 한다.Therefore, the present invention can measure the magnetic flux density that changes according to the distance between the Hall sensor and the magnet in the double sheet detection device using the Hall sensor, and furthermore, the test device capable of measuring the change of magnetic flux density according to the design position of the Hall sensor. Its purpose is to provide a magnetic flux density measuring apparatus that can be mounted on a double sheet detecting device with reliability.

상기 목적을 달성하기 위하여 본 고안은, 자속밀도 측정장치에 있어서, 베이스 플레이트와, 베이스 플레이트의 상면에 설치되는 고정뭉치와, 고정뭉치에 가로 방향으로 관통 설치되는 마이크로미터 헤드와, 마이크로미터 헤드의 단부측에 설치되어 수평 이동되는 자석과, 자석과 마주하는 위치에 수직하게 설치되는 고정부와, 고정부에 위치되며 복수의 홀센서가 마련된 회로기판과, 회로기판에 전기적 전압이 인가되면 근접하는 자석과 홀센서간의 이격거리에 따라 변화되는 출력전압을 측정할 수 있는 측정기를 포함하는 자속밀도 측정장치를 제공한다. In order to achieve the above object, the present invention, in the magnetic flux density measuring device, a base plate, a fixed bundle provided on the upper surface of the base plate, a micrometer head penetrating in the horizontal direction in the fixed bundle, and the micrometer head of A magnet installed on the end side and horizontally moved; The present invention provides a magnetic flux density measuring apparatus including a measuring device capable of measuring an output voltage that varies according to a separation distance between a magnet and a hall sensor.

그리고 바람직하게는 회로기판을 고정부에 고정시킬 수 있도록 고정뭉치의 상면으로부터 이어져서 고정부에 직교 방향으로 고정플레이트가 설치된다.Preferably, the fixing plate is installed in the orthogonal direction to the fixing part so as to extend from the upper surface of the fixing bundle so as to fix the circuit board to the fixing part.

이상 설명한 바와 같이 본 고안의 자속밀도 측정장치에 따르면, 홀센서와 자석의 거리에 따라 변화되는 자속밀도를 측정할 수 있으며, 더욱이 홀센서의 설계 위치에 따른 자속밀도의 변화를 측정할 수 있는 테스트 장치의 개발로 하여 홀센서를 이용하는 이매검지장치의 적용시 이매검지 신뢰성을 높이는 효과를 가진다.As described above, according to the magnetic flux density measuring apparatus of the present invention, the magnetic flux density that is changed according to the distance between the hall sensor and the magnet can be measured, and further, a test that can measure the change in magnetic flux density according to the design position of the hall sensor. The development of the device has an effect of increasing the reliability of the double sheet detection when the double sheet detecting device using the Hall sensor is applied.

이하 첨부된 도면을 참조하여 본 고안의 동작 원리를 상세히 설명한다. 하기에서 본 고안을 설명함에 있어서 공지 기능 또는 구성에 대한 구체적인 설명이 본 고안의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명을 생략할 것이다. 그리고 후술되는 용어들은 본 고안에서의 기능을 고려하여 정의된 용어들로서 이는 사용자, 운용자의 의도 또는 관례 등에 따라 달라질 수 있다. 그러므로 그 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 할 것이다. Hereinafter, the operation principle of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In the following description of the present invention, if it is determined that a detailed description of a known function or configuration may unnecessarily obscure the subject matter of the present invention, the detailed description thereof will be omitted. In addition, terms to be described below are terms defined in consideration of functions in the present invention, which may vary according to intention or custom of a user or an operator. Therefore, the definition should be made based on the contents throughout the specification.

도 2는 본 고안의 일실시예에 따른 자속밀도 측정장치의 사시도이고, 도 3은 본 고안의 일실시예에 따른 자속밀도 측정장치의 측면도이다.2 is a perspective view of a magnetic flux density measuring apparatus according to an embodiment of the present invention, Figure 3 is a side view of the magnetic flux density measuring apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 2 내지 도 3에 도시된 본 고안의 자속밀도 측정장치는, 크게 베이스 플레이트(100)와, 베이스 플레이트(100)의 상면에 설치되는 고정뭉치(110)와, 고정뭉치(110)에 설치되는 마이크로미터 헤드(120)와, 마이크로미터 헤드(120)의 단부측 에 설치되는 자석(130)과, 자석(130)과 마주하여 베이스 플레이트(100)에 설치되는 고정부(140)와, 고정부(140)에 설치되며 홀센서(152)가 마련된 회로기판(150)과, 자석(130)과 홀센서(152)간의 출력전압 변화를 측정할 수 있는 측정기(170)로 구성된다.The magnetic flux density measuring apparatus of the present invention shown in Figures 2 to 3, the base plate 100, the fixed bundle 110 is installed on the upper surface of the base plate 100, and the fixed bundle 110 is installed The micrometer head 120, the magnet 130 installed on the end side of the micrometer head 120, the fixing part 140 installed on the base plate 100 facing the magnet 130, and the fixing part. The circuit board 150 is installed at the 140 and provided with a hall sensor 152, and a measuring device 170 capable of measuring a change in output voltage between the magnet 130 and the hall sensor 152.

여기서 베이스 플레이트(100)는, 편평한 금속재의 판상으로 이루어지며 바람직하게 판상에는 복수의 체결홀(102)이 형성되고, 이 체결홀(102)을 통하여 고정뭉치(110)와 고정부(140)가 나사(S) 등의 체결수단으로 하여 설치가 이루어진다.Here, the base plate 100 is made of a flat metal plate shape, and preferably, a plurality of fastening holes 102 are formed in the plate shape, and the fixed bundle 110 and the fixed portion 140 are formed through the fastening holes 102. Installation is performed by means of fastening means such as screws (S).

고정뭉치(110)는 편평한 하부뭉치(112)와 하부뭉치(112)의 상측으로 하부뭉치(112)보다 작은 면적을 가지고서 단차진 일체의 상부뭉치(114)로 구성되며, 하부뭉치(112)의 양측으로는 장공(112a)이 형성되어 나사(S)와 체결홀(102)의 결합시 장공(112a)의 범위내에서 고정뭉치(110)의 이동 설치가 가능하다.The fixed bundle 110 has a smaller area than the lower bundle 112 to the upper side of the flat lower bundle 112 and the lower bundle 112 is composed of a stepped integral upper bundle 114, of the lower bundle 112 Long holes 112a are formed at both sides, and the fixed bundle 110 can be moved and installed within the range of the long holes 112a when the screw S and the fastening hole 102 are coupled to each other.

그리고 고정뭉치(110)의 상부뭉치(114)에 가로 방향으로 관통하여 마이크로미터 헤드(120)가 설치된다.The micrometer head 120 is installed to penetrate the upper bundle 114 of the fixed bundle 110 in the horizontal direction.

마이크로미터 헤드(micrometer head:120)는 일반적으로 마이크로미터에서 프레임을 제거한 형태로 고정뭉치(110)에 결부하여 사용한다.Micrometer head (120) is generally used in conjunction with the fixed bundle 110 in the form of removing the frame from the micrometer.

이러한 마이크로미터 헤드(120)의 단부측에 자석(130)이 설치된다.The magnet 130 is installed at the end side of the micrometer head 120.

자석(130)은 일반적으로 자력이 발생하는 것이면 가능하다.The magnet 130 is generally possible as long as the magnetic force is generated.

그리고 자석(130)과 마주하는 위치에 고정부(140)가 나사(S)를 통하여 베이스 플레이트(100)의 체결홀(102)에 수직하게 설치된다.The fixing part 140 is installed perpendicularly to the fastening hole 102 of the base plate 100 through the screw S at a position facing the magnet 130.

고정부(140)는 베이스 플레이트(100)에 설치되는 수평부(142)와 수평부(142) 의 일측면에 직각 방향으로 나사(S)를 통하여 수식하게 설치되는 수직부(144)로 구성되며, 이 수직부(144)의 일면에 자석(130)을 향하도록 회로기판(150)이 설치된다.The fixing part 140 is composed of a horizontal part 142 installed on the base plate 100 and a vertical part 144 that is mathematically installed through a screw S in a direction perpendicular to one side of the horizontal part 142. The circuit board 150 is installed to face the magnet 130 on one surface of the vertical portion 144.

회로기판(150)에는 바람직하게 홀센서(152)가 설치된 것으로 예컨대, 지폐류의 투입시 전기적 신호를 가지고서 이매 검지를 할 수 있도록 하는 이매검지장치에 장착되어 사용되는 것이다.The circuit board 150 is preferably provided with a hall sensor 152, for example, to be used in a double sheet detecting device for detecting double sheets with an electrical signal when the bills are inserted.

따라서 회로기판(150)에는 일정거리 이격하여 복수의 홀센서(152)가 마련된다.Therefore, the circuit board 150 is provided with a plurality of Hall sensors 152 spaced apart by a predetermined distance.

홀센서(152)는 참고로, 자계에 반응해서 내부저항이 변화하는 소자이다The Hall sensor 152 is a device for changing the internal resistance in response to a magnetic field.

이러한 회로기판(150)을 고정부(140)의 수직부(144)에 고정하기 위하여 고정플레이트(160)가 설치된다.The fixing plate 160 is installed to fix the circuit board 150 to the vertical part 144 of the fixing part 140.

고정플레이트(160)는 편평한 판상으로 상부뭉치(114)에 나사(S) 체결되며, 고정부(140)를 향하는 단부측에는 회로기판(150)을 매개로 하여 수직부(144)에 직교 방향으로 나사(S)를 통하여 체결된다. The fixing plate 160 is screwed to the upper bundle 114 in a flat plate shape, and the end side facing the fixing portion 140 is screwed in a direction perpendicular to the vertical portion 144 via the circuit board 150. It is fastened through (S).

한편, 회로기판(150)에는 전기적으로 연결된 측정기(170)가 설치되며, 측정기(170)는 출력 전압의 변화를 측정할 수 있는 것으로, 자석(130)과 홀센서(152)간의 이격거리에 따라 변화되는 출력전압을 측정할 수 있는 오실로스스코프(oscilloscope)이면 가능하다.On the other hand, the circuit board 150 is provided with an electrically connected measuring device 170, the measuring device 170 can measure the change in the output voltage, according to the separation distance between the magnet 130 and the Hall sensor 152. This can be done with an oscilloscope that can measure changing output voltages.

이하, 이와 같이 구성된 자속밀도 측정장치의 적용 상태를 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, the application state of the magnetic flux density measuring device configured as described above is as follows.

다시 도 3을 참고하면, 베이스 플레이트(100)의 상면으로 나사(S)와 체결홀(102)을 통하여 마이크로미터 헤드(120) 및 자석(130)이 포함된 고정뭉치(110)와, 고정뭉치(110)와 마주하여 수평부(142)와 수직부(144)로 이루어진 고정부(140)를 설치하고, 이 수직부(144)에 고정플레이트(160)를 통하여 회로기판(150)을 고정 설치한다.Referring back to FIG. 3, the fixed bundle 110 including the micrometer head 120 and the magnet 130 and the fixed bundle through the screw S and the fastening hole 102 to the upper surface of the base plate 100. The fixing part 140 including the horizontal part 142 and the vertical part 144 is installed to face the 110, and the circuit board 150 is fixed to the vertical part 144 through the fixing plate 160. do.

다음과 같은 상태에서 회로기판(150)에서 하나의 홀센서(152)와 자석(130)간의 공극 거리를 마이크로미터 헤드(120)를 통하여 일정하게 유지한 후, 회로기판(150)에 전기를 인가하게 된다.In the following state, the gap between the Hall sensor 152 and the magnet 130 in the circuit board 150 is kept constant through the micrometer head 120, and then electricity is applied to the circuit board 150. Done.

이에 따라 홀센서(152)에 미치는 자석(130)의 자계 세기를 출력 전압의 세기로 변환되어 측정기(170)에 출력되며, 이때 마이크로미터 헤드(120)를 사용하여 1/100mm의 정밀도를 통하여 자석(130)과 홀센서(152)간의 공극 거리의 변화에 따른 출력 전압의 변화를 측정기(170)에서 펄스를 카운터하는 방법으로 확인하게 된다.Accordingly, the magnetic field strength of the magnet 130 affecting the hall sensor 152 is converted into the intensity of the output voltage and output to the measuring device 170. The change in the output voltage according to the change in the gap distance between the 130 and the hall sensor 152 is confirmed by a method of countering the pulses in the measuring unit 170.

또한, 하나의 홀센서(152)의 측정시 근접된 다른 홀센서(152)에 미치는 자속밀도의 변화도 측정할 수 있다. 이는 회로기판(150)에 복수개 설치되는 홀센서(152)의 설계시 설치 위치를 결정할 수 있다.In addition, a change in magnetic flux density affecting another hall sensor 152 in proximity when measuring one hall sensor 152 may be measured. This may determine an installation position when designing a plurality of hall sensors 152 installed on the circuit board 150.

그러므로 본 고안에서의 자속밀도 측정장치는 홀센서(152)와 자석(130)간의 기본원리를 이용하여 자계의 세기를 출력전압의 세기 변화를 측정함으로써, 이매검지장치 등에 응용하여 실전에 효과적으로 사용할 수 있다. 즉, 자석(130)과 홀센서(152)의 사이로 지폐류가 통과하게 되면, 지폐류의 두께에 따라 자석(130)과 홀센서(152)간의 공극 거리가 멀어짐에 따라 지폐류의 유무는 물론, 두께를 통하여 몇 장인지를 테스트 장치를 통한 결과를 바탕으로 하여 신뢰성 있게 감지할 수 있다.Therefore, the magnetic flux density measuring device of the present invention can be effectively used in practice by applying the magnetic field intensity to the variation of the output voltage by using the basic principle between the Hall sensor 152 and the magnet 130. have. That is, when bills pass between the magnet 130 and the Hall sensor 152, as the gap distance between the magnet 130 and the Hall sensor 152 increases according to the thickness of the bills, as well as the presence or absence of bills As a result, the number of sheets through the thickness can be reliably detected based on the results of the test apparatus.

이상에서 설명한 것은 본 고안에 따른 자속밀도 측정장치는 하나의 바람직한 실시예에 불과한 것으로서, 본 고안은 상기한 실시예에 한정되지 않고, 이하의 실용신안청구범위에서 청구하는 바와 같이 본 고안의 요지를 벗어남이 없이 당해 고안이 속하는 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 누구든지 다양한 변경 실시가 가능한 범위까지 본 고안의 기술적 정신이 있다고 할 것이다.As described above, the magnetic flux density measuring apparatus according to the present invention is just one preferred embodiment, and the present invention is not limited to the above-described embodiment, and the subject matter of the present invention is claimed in the following utility model claims. Without departing, anyone with ordinary knowledge in the field to which the present invention belongs will have a technical spirit of the present invention to the extent that various modifications can be made.

도 1은 종래의 지폐류 자동 수납처리기의 개략적인 구성 단면도이고, 1 is a schematic configuration cross-sectional view of a conventional banknote automatic storage processor,

도 2는 본 고안의 일실시예에 따른 자속밀도 측정장치의 사시도이고,2 is a perspective view of a magnetic flux density measuring apparatus according to an embodiment of the present invention,

도 3은 본 고안의 일실시예에 따른 자속밀도 측정장치의 측면도이다.Figure 3 is a side view of the magnetic flux density measuring apparatus according to an embodiment of the present invention.

<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명><Description of the symbols for the main parts of the drawings>

100 : 베이스 플레이트 102 : 체결홀100: base plate 102: fastening hole

110 : 고정뭉치 120 : 마이크로미터 헤드110: fixed bundle 120: micrometer head

130 : 자석 140 : 고정부130: magnet 140: fixed part

150 : 회로기판 152 : 홀센서150: circuit board 152: Hall sensor

160 : 고정플레이트 170 : 측정기160: fixed plate 170: measuring instrument

Claims

In the magnetic flux density measuring device,

With base plate,

A fixed bundle installed on an upper surface of the base plate,

A micrometer head penetrating and installed in the transverse direction in the fixed bundle;

A magnet installed on an end side of the micrometer head and horizontally moved;

A fixing part vertically installed at a position facing the magnet;

A circuit board positioned in the fixed part and provided with a plurality of Hall sensors;

When the electrical voltage is applied to the circuit board, the measuring device for measuring the output voltage which changes according to the separation distance between the magnet and the Hall sensor in close proximity

Magnetic flux density measuring apparatus comprising a.

The method of claim 1,

The magnetic flux density measuring apparatus of claim 1, wherein a fixing plate is installed in an orthogonal direction to the fixing part so as to extend from the upper surface of the fixing bundle so as to fix the circuit board to the fixing part.