KR20080112862A - Apparatus for processing a substrate having a cleaning unit - Google Patents
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Abstract
Description
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 기판 처리 장치를 설명하기 위한 개략적인 평면도이다.1 is a schematic plan view illustrating a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention.
도 2는 도 1에 도시된 기판 처리 장치의 제1 처리 블록을 설명하기 위한 개략적인 측면도이다.FIG. 2 is a schematic side view for explaining a first processing block of the substrate processing apparatus shown in FIG. 1.
도 3은 도 1에 도시된 기판 처리 장치의 제2 처리 블록을 설명하기 위한 개략적인 측면도이다.FIG. 3 is a schematic side view for describing a second processing block of the substrate processing apparatus shown in FIG. 1.
도 4는 도 3에 도시된 열처리 유닛들을 설명하기 위한 개략적인 평면도이다.4 is a schematic plan view for describing the heat treatment units shown in FIG. 3.
도 5는 도 3에 도시된 열처리 유닛들을 설명하기 위한 개략적인 측면도이다.FIG. 5 is a schematic side view for describing the heat treatment units shown in FIG. 3.
도 6은 도 1에 도시된 상부 및 하부 이송 로봇들을 설명하기 위한 개략적인 정면도이다.6 is a schematic front view for explaining the upper and lower transfer robot shown in FIG.
도 7은 도 6에 도시된 상부 및 하부 이송 로봇들을 설명하기 위한 개략적인 측면도이다.FIG. 7 is a schematic side view for explaining the upper and lower transfer robots shown in FIG. 6.
도 8은 도 6에 도시된 상부 및 하부 이송 로봇들의 다른 예를 설명하기 위한 개략적인 정면도이다.FIG. 8 is a schematic front view for explaining another example of the upper and lower transfer robots shown in FIG. 6.
도 9는 도 1에 도시된 제1 및 제2 보조 이송 로봇들을 설명하기 위한 개략적 인 측면도이다.FIG. 9 is a schematic side view for explaining the first and second auxiliary transfer robots shown in FIG. 1.
도 10은 도 1에 도시된 세정 유닛을 설명하기 위한 개략적인 측면도이다.10 is a schematic side view for explaining the cleaning unit shown in FIG. 1.
도 11은 건조 가스 제공부를 설명하기 위한 개략적인 구성도이다.11 is a schematic configuration diagram for explaining a dry gas providing unit.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 *Explanation of symbols on the main parts of the drawings
2 : 노광 장치 10 : 기판 처리 장치2: exposure apparatus 10: substrate processing apparatus
20 : 기판 처리 모듈 30 : 기판 이송 모듈20: substrate processing module 30: substrate transfer module
32 : 로드 포트 34 : 기판 이송 챔버32: load port 34: substrate transfer chamber
36 : 기판 이송 로봇 40 : 인터페이싱 모듈36: substrate transfer robot 40: interfacing module
42 : 인터페이싱 로봇 44 : 에지 노광 유닛42: interfacing robot 44: edge exposure unit
46 : 보관 스테이지 100 : 제1 처리 블록46: storage stage 100: first processing block
110 : 상부 단위 블록 112 : 제1 코팅 유닛110: upper unit block 112: first coating unit
114 : 제2 코팅 유닛 130 : 하부 단위 블록114: second coating unit 130: lower unit block
132 : 현상 유닛 150 : 중앙 단위 블록132: developing unit 150: central unit block
152 : 코팅 유닛 154 : 현상 유닛152
200 : 제2 처리 블록 210 : 제1 단위 블록200: second processing block 210: first unit block
230 : 제2 단위 블록 240 : 가열 플레이트230: second unit block 240: heating plate
242 : 냉각 플레이트 244 : 열처리 챔버242: cooling plate 244: heat treatment chamber
244a, 244b : 도어 246 : 챔버 내측 로봇244a, 244b: door 246: chamber inside robot
250 : 제3 단위 블록 300 : 메인 이송 블록250: third unit block 300: main transfer block
310 : 상부 이송 로봇 320 : 하부 이송 로봇310: upper transfer robot 320: lower transfer robot
330 : 로봇 제어부 400 : 제3 처리 블록330: robot control unit 400: third processing block
410 : 냉각 유닛 420 : 제1 이송 스테이지410: cooling unit 420: first transfer stage
500 : 제4 처리 블록 510 : 냉각 유닛500: fourth processing block 510: cooling unit
520 : 제2 이송 스테이지 600 : 제1 보조 이송 블록520: second transfer stage 600: first auxiliary transfer block
610 : 제1 보조 이송 로봇 700 : 제2 보조 이송 블록610: first auxiliary transfer robot 700: second auxiliary transfer block
710 : 제2 보조 이송 로봇 800 : 제5 처리 블록710: second auxiliary transfer robot 800: fifth processing block
810 : 세정 유닛 870 : 제2 기판 이송 로봇810: cleaning unit 870: second substrate transfer robot
본 발명은 기판 처리 장치에 관한 것이다. 보다 상세하게는, 실리콘웨이퍼와 같은 반도체 기판에 대하여 코팅 공정, 베이크 공정, 현상 공정 등을 수행하기 위한 기판 처리 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a substrate processing apparatus. More specifically, the present invention relates to a substrate processing apparatus for performing a coating process, a baking process, a developing process, and the like on a semiconductor substrate such as a silicon wafer.
일반적으로, 반도체 장치의 제조 공정에서 포토레지스트 패턴은 전기적 특성을 갖는 회로 패턴을 형성하기 위한 식각 공정을 위한 식각 마스크로서 사용될 수 있다. 상기 포토레지스트 패턴은 노광 장치와 연결된 기판 처리 장치(또는 포토레지스트 패턴 형성 장치)에 의해 형성될 수 있다.In general, in the manufacturing process of a semiconductor device, the photoresist pattern may be used as an etching mask for an etching process for forming a circuit pattern having electrical characteristics. The photoresist pattern may be formed by a substrate processing apparatus (or photoresist pattern forming apparatus) connected with the exposure apparatus.
상기 기판 처리 장치는 반도체 기판 상에 바텀 반사 방지막 및 포토레지스트막을 형성하기 위한 코팅 유닛들, 상기 반사 방지막 및 포토레지스트막을 경화시키기 위한 가열 유닛들, 노광 처리된 반도체 기판에 대하여 PEB(post exposure bake) 공정을 수행하기 위한 가열 유닛들, 노광 처리된 포토레지스트막을 현상하기 위한 현상 유닛들, 상기 반도체 기판 상에 형성된 포토레지스트 패턴을 경화시키기 위한 가열 유닛들, 상기 가열된 반도체 기판을 냉각시키기 위한 냉각 유닛들, 반도체 기판들을 수납하는 이송 스테이지들을 포함할 수 있다.The substrate processing apparatus includes coating units for forming a bottom antireflection film and a photoresist film on a semiconductor substrate, heating units for curing the antireflection film and a photoresist film, and a post exposure bake (PEB) for an exposed semiconductor substrate. Heating units for performing the process, developing units for developing the exposed photoresist film, heating units for curing the photoresist pattern formed on the semiconductor substrate, cooling units for cooling the heated semiconductor substrate For example, transfer stages for housing the semiconductor substrates.
상기와 같은 공정 유닛들 사이에는 기판 이송 로봇이 배치될 수 있으며, 상기 기판 이송 로봇은 기 설정된 공정 레시피에 따라 반도체 기판들을 상기 공정 유닛들 사이에서 이송한다.A substrate transfer robot may be disposed between the process units, and the substrate transfer robot transfers the semiconductor substrates between the process units according to a predetermined process recipe.
그러나, 상기 공정들에 소요되는 시간들이 서로 상이하기 때문에 상기 공정 유닛들 또는 이송 스테이지들에서 반도체 기판들이 대기하는 시간이 증가될 수 있으며, 상기 기판 이송 로봇에 과부하가 발생될 수 있다.However, since the time required for the processes are different from each other, the waiting time of the semiconductor substrates in the processing units or the transfer stages may be increased, and the substrate transfer robot may be overloaded.
또한, 공정 레시피, 포토레지스트 조성물, 목적하는 포토레지스트 패턴의 선폭 등에 따라 바텀 반사 방지막을 형성하지 않을 수 있다. 따라서, 상기 코팅 유닛들의 일부가 필요하지 않을 수도 있다.In addition, the bottom anti-reflection film may not be formed depending on the process recipe, the photoresist composition, the line width of the desired photoresist pattern, and the like. Thus, some of the coating units may not be necessary.
한편, 상기 종래의 기판 처리 장치가 액침 노광 장치와 연결되는 경우, 액침 노광 공정이 수행된 반도체 기판 상에는 상기 액침 노광 공정에서 사용되는 액체가 잔류할 수 있으며 이에 의한 물반점이 형성될 수 있다. 상기 물반점은 포토레지스트 패턴 형성에 영향을 줄 수 있으며, 이에 따라 목적하는 포토레지스트 패턴의 형성을 어렵게 할 수 있다.On the other hand, when the conventional substrate processing apparatus is connected to the immersion exposure apparatus, the liquid used in the immersion exposure process may remain on the semiconductor substrate on which the immersion exposure process is performed, thereby forming water spots. The water spots may affect the formation of the photoresist pattern, thereby making it difficult to form the desired photoresist pattern.
상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 본 발명의 일 목적은 액침 노광 공정 수행에 따른 물반점 형성을 방지할 수 있는 기판 처리 장치를 제공하는데 있다.One object of the present invention for solving the above problems is to provide a substrate processing apparatus that can prevent the formation of water spots by performing the immersion exposure process.
상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 본 발명의 다른 목적은 쓰루풋이 향상된 기판 처리 장치를 제공하는데 있다.Another object of the present invention for solving the above problems is to provide a substrate processing apparatus with improved throughput.
상기와 같은 목적들을 달성하기 위한 본 발명의 실시예들에 따른 기판 처리 장치는, 코팅 공정 및 현상 공정을 수행하기 위한 제1 처리 블록과, 상기 제1 처리 블록과 마주하여 배치되며 기판들을 열처리하기 위한 제2 처리 블록과, 상기 제1 처리 블록과 제2 처리 블록 사이에 배치되며 기판들을 이송하기 위한 메인 이송 블록과, 상기 제1 및 제2 처리 블록의 배치 방향에 대하여 수직하는 방향으로 상기 메인 이송 블록의 양측에 각각 배치되며 기판들의 온도를 조절하기 위한 제3 및 제4 처리 블록들과, 상기 제4 처리 블록과 액침 노광 장치 사이에 배치되며 액침 노광 공정이 수행된 기판들을 세정하기 위한 세정 유닛을 포함하는 제5 처리 블록을 포함할 수 있다.A substrate processing apparatus according to embodiments of the present invention for achieving the above objects, the first processing block for performing a coating process and the development process, and disposed to face the first processing block and heat-treating the substrates A second processing block for the main processing block, a main transport block for transferring substrates between the first processing block and the second processing block, and a main processing block in a direction perpendicular to an arrangement direction of the first and second processing blocks; Third and fourth processing blocks respectively disposed on both sides of the transfer block to adjust the temperature of the substrates, and disposed between the fourth processing block and the liquid immersion exposure apparatus and cleaned to clean the substrates on which the liquid immersion exposure process has been performed. The fifth processing block may include a unit.
본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 세정 유닛은, 기판을 지지하며 회전시키기 위한 회전척과, 상기 회전척 상의 기판 상으로 세정액을 제공하기 위한 세정액 공급 노즐과, 상기 세정액에 의해 세정된 기판을 건조시키기 위하여 상기 기판 상으로 건조 가스를 제공하는 가스 공급 노즐과, 상기 회전척을 감싸도록 배치되며 상기 기판의 회전에 의해 상기 기판으로부터 비산된 세정액을 차단하기 위한 보울을 포함할 수 있다.According to embodiments of the present invention, the cleaning unit includes a rotating chuck for supporting and rotating a substrate, a cleaning liquid supply nozzle for providing a cleaning liquid onto the substrate on the rotating chuck, and drying the substrate cleaned by the cleaning liquid. And a gas supply nozzle for providing a dry gas onto the substrate, and a bowl disposed to surround the rotary chuck and blocking the cleaning liquid scattered from the substrate by the rotation of the substrate.
본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 세정액은 물, 예를 들면, 탈이온수를 포 함할 수 있으며, 상기 건조 가스는 이소프로필 알코올 증기 및 질소 가스를 포함할 수 있다.According to embodiments of the present invention, the cleaning liquid may include water, for example, deionized water, and the dry gas may include isopropyl alcohol vapor and nitrogen gas.
본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 세정 유닛은 상기 건조 가스를 제공하는 건조 가스 제공부를 더 포함할 수 있으며, 상기 건조 가스 제공부는, 질소 가스를 저장하는 제1 용기와, 액상의 이소프로필 알코올을 저장하는 제2 용기와, 상기 제1 용기와 연결되어 상기 질소 가스를 가열하기 위한 제1 히터와, 상기 제2 용기, 상기 제1 히터 및 상기 가스 공급 노즐과 연결되며, 상기 제2 용기로부터 제공된 액상의 이소프로필 알코올을 기화시키고, 상기 기화된 이소프로필 알코올과 상기 가열된 질소 가스를 혼합하며, 상기 혼합된 이소프로필 알코올 증기와 가열된 건조 가스를 상기 가스 공급 노즐로 제공하기 위한 제2 히터를 포함할 수 있다.According to embodiments of the present invention, the cleaning unit may further include a dry gas providing unit for providing the dry gas, wherein the dry gas providing unit includes a first container for storing nitrogen gas and a liquid isopropyl alcohol. A second container for storing water, a first heater connected with the first container for heating the nitrogen gas, and a second container, the first heater, and the gas supply nozzle, from the second container. A second heater for vaporizing a provided liquid isopropyl alcohol, mixing the vaporized isopropyl alcohol and the heated nitrogen gas, and providing the mixed isopropyl alcohol vapor and heated dry gas to the gas supply nozzle It may include.
본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 기판 처리 장치는, 상기 제2 처리 블록과 상기 제3 처리 블록에 인접하도록 배치되어 상기 제2 처리 블록과 상기 제3 처리 블록 사이에서 기판들을 이송하기 위한 제1 보조 이송 블록과, 상기 제2 처리 블록과 상기 제4 처리 블록에 인접하도록 배치되어 상기 제2 처리 블록과 상기 제4 처리 블록 사이에서 기판들을 이송하기 위한 제2 보조 이송 블록을 더 포함할 수 있다.According to embodiments of the present invention, the substrate processing apparatus is disposed adjacent to the second processing block and the third processing block to transfer substrates between the second processing block and the third processing block. And a second auxiliary transfer block disposed adjacent to the second processing block and the fourth processing block to transfer substrates between the second processing block and the fourth processing block. have.
본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 제1 처리 블록은, 수직 방향으로 적층되며, 기판 상에 막을 형성하기 위한 적어도 하나의 코팅 유닛과 기판 상의 포토레지스트막을 현상하기 위한 적어도 하나의 현상 유닛을 각각 포함하는 상부 단위 블록 및 하부 단위 블록과, 상기 상부 및 하부 단위 블록들 사이에 분리 가능하도록 배 치되며, 코팅 유닛과 현상 유닛 중 적어도 하나를 포함하는 중앙 단위 블록을 포함할 수 있다.According to embodiments of the present invention, the first processing block is stacked in a vertical direction and each includes at least one coating unit for forming a film on a substrate and at least one developing unit for developing a photoresist film on the substrate. An upper unit block and a lower unit block to include, and may be disposed to be separated between the upper and lower unit blocks, and may include a central unit block including at least one of the coating unit and the developing unit.
본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 메인 이송 블록 내에는 상기 상부 단위 블록, 상기 중앙 단위 블록, 상기 제2 처리 블록, 상기 제3 처리 블록 및 상기 제4 처리 블록 사이에서 기판들을 이송하기 위한 상부 메인 로봇과, 상기 하부 단위 블록, 상기 중앙 단위 블록, 상기 제2 처리 블록, 상기 제3 처리 블록 및 상기 제4 처리 블록 사이에서 기판들을 이송하기 위한 하부 메인 로봇이 배치될 수 있다.According to embodiments of the present invention, an upper portion for transferring substrates between the upper unit block, the central unit block, the second processing block, the third processing block, and the fourth processing block in the main transport block. A lower main robot for transferring substrates may be disposed between the main robot and the lower unit block, the central unit block, the second processing block, the third processing block, and the fourth processing block.
본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 제2 처리 블록은 상기 제1 처리 블록과 마주하도록 수평 방향으로 배치된 제1, 제2 및 제3 단위 블록들을 포함할 수 있고, 상기 제1 및 제3 단위 블록들 각각은 복층으로 적층되며 기판들을 가열하기 위한 다수의 가열 유닛들을 포함할 수 있으며, 상기 제2 단위 블록은 상기 제1 및 제3 단위 블록들 사이에서 복층으로 적층되며 기판들을 열처리하기 위한 다수의 열처리 유닛들을 포함할 수 있다.According to embodiments of the present invention, the second processing block may include first, second and third unit blocks arranged in a horizontal direction to face the first processing block, and the first and third processing blocks may be disposed. Each of the unit blocks may be stacked in multiple layers and may include a plurality of heating units for heating the substrates, and the second unit block may be stacked in multiple layers between the first and third unit blocks to heat the substrates. It may comprise a plurality of heat treatment units.
본 발명의 실시예들에 따르면, 각각의 열처리 유닛들은, 기판을 가열하기 위한 가열 플레이트와, 상기 제1, 제2 및 제3 단위 블록들의 배치 방향과 동일한 방향으로 상기 가열 플레이트의 일측에 배치되며 기판을 냉각시키기 위한 냉각 플레이트와, 상기 가열 플레이트와 상기 냉각 플레이트를 수용하며, 상기 기판들을 반입 및 반출하기 위한 한 쌍의 출입구들을 갖는 열처리 챔버를 포함할 수 있다.According to embodiments of the present invention, each of the heat treatment units may be disposed on one side of the heating plate for heating the substrate and in the same direction as the arrangement direction of the first, second and third unit blocks. And a heat treatment chamber for receiving a cooling plate for cooling a substrate, the heat plate and the cooling plate, and a pair of entrances and exits for carrying in and taking out the substrates.
본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 각각의 열처리 유닛들은, 상기 열처리 챔버 내에 배치되어 상기 가열 플레이트와 상기 냉각 플레이트 사이에서 상기 기판 들을 이송하기 위한 챔버 내측 로봇과, 상기 가열 플레이트 및 냉각 플레이트를 통하여 수직 방향으로 이동 가능하도록 배치되며 상기 기판들을 상기 가열 플레이트 및 냉각 플레이트 상으로 로딩하고 상기 가열 플레이트 및 냉각 플레이트로부터 언로딩하기 위한 다수의 리프트 핀들을 더 포함할 수 있다.According to embodiments of the present invention, each of the heat treatment units is disposed in the heat treatment chamber and through a chamber inside robot for transferring the substrates between the heating plate and the cooling plate, and through the heating plate and the cooling plate. The apparatus may further include a plurality of lift pins arranged to be movable in the vertical direction and for loading the substrates onto the heating plate and the cooling plate and unloading from the heating plate and the cooling plate.
본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 기판 처리 장치는, 제3 처리 블록과 연결되며, 다수의 기판들이 수납된 용기와 상기 제3 처리 블록 사이에서 기판들을 이송하기 위한 기판 이송 모듈과, 상기 제5 처리 블록과 연결되며, 상기 액침 노광 장치와 상기 제5 처리 블록 사이에서 기판들을 이송하기 위한 인터페이싱 모듈을 더 포함할 수 있다.According to embodiments of the present disclosure, the substrate processing apparatus may be connected to a third processing block, and may include a substrate transfer module configured to transfer substrates between a container containing a plurality of substrates and the third processing block. And an interfacing module connected to the fifth processing block and configured to transfer substrates between the immersion exposure apparatus and the fifth processing block.
본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 인터페이싱 모듈 내에는 상기 기판들을 이송하기 위한 인터페이싱 로봇과 상기 기판들을 적재하기 위한 스테이지가 구비될 수 있다.According to embodiments of the present invention, an interfacing robot for transferring the substrates and a stage for loading the substrates may be provided in the interfacing module.
본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 제5 처리 블록 내에는 상기 인터페이싱 모듈의 스테이지와 상기 세정 유닛 및 상기 제4 처리 블록 사이에서 기판들을 이송하기 위한 기판 이송 로봇이 배치될 수 있다.According to embodiments of the present invention, a substrate transfer robot for transferring substrates between the stage of the interfacing module and the cleaning unit and the fourth processing block may be disposed in the fifth processing block.
상기와 같은 본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 액침 노광 장치에 의한 액침 노광 처리된 기판은 상기 세정 유닛에 의해 세정 및 건조되므로 물반점 생성을 방지할 수 있다. 또한, 상기 기판 처리 장치 내에서 다수의 기판들에 대한 코팅 공정, 베이크 공정, 현상 공정, 냉각 공정 등이 수행되는 동안 상기 상부 및 하부 메인 로봇들에 인가되는 부하는 상기 제1 및 제2 보조 이송 로봇들 및 상기 열처리 유닛들의 챔버 내측 로봇들에 의해 충분히 감소될 수 있다. 결과적으로, 반도체 기판 상에 형성되는 포토레지스트 패턴의 불량이 감소될 수 있으며, 상기 기판 처리 장치의 쓰루풋이 크게 향상될 수 있다.According to the embodiments of the present invention as described above, since the liquid immersion exposure process by the liquid immersion exposure apparatus is cleaned and dried by the cleaning unit, it is possible to prevent the generation of water spots. In addition, a load applied to the upper and lower main robots during a coating process, a baking process, a developing process, a cooling process, and the like for a plurality of substrates in the substrate processing apparatus, may be performed. It can be sufficiently reduced by robots and robots inside the chamber of the heat treatment units. As a result, the defect of the photoresist pattern formed on the semiconductor substrate can be reduced, and the throughput of the substrate processing apparatus can be greatly improved.
실시예Example
이하, 본 발명에 따른 실시예들을 첨부된 도면을 참조하여 상세하게 설명하면 다음과 같다. 그러나, 본 발명은 하기의 실시예들에 한정되지 않고 다른 형태로 구현될 수도 있다. 여기서 소개되는 실시예들은 개시된 내용이 보다 완전해질 수 있도록 그리고 당업자에게 본 발명의 사상과 특징이 충분히 전달될 수 있도록 하기 위해 제공된다. 도면들에 있어서, 각각의 장치, 요소들, 막(층) 및 영역들의 두께는 본 발명의 명확성을 기하기 위하여 과장되게 도시되었으며, 또한 각각의 장치 또는 요소들은 본 명세서에서 설명되지 아니한 다양한 부가 장치들 또는 부가 요소들을 구비할 수 있으며, 각각의 요소 또는 막(층)이 다른 요소 또는 막(층) 상에 위치하는 것으로 언급되는 경우, 다른 요소 또는 막(층) 상에 직접 배치 또는 형성되거나 그들 사이에 추가적인 요소 또는 막(층)이 개재될 수 있다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. However, the present invention is not limited to the following embodiments and may be implemented in other forms. The embodiments introduced herein are provided to make the disclosure more complete and to fully convey the spirit and features of the invention to those skilled in the art. In the drawings, the thicknesses of individual devices, elements, films (layers) and regions have been exaggerated for the sake of clarity of the invention, and each of the various devices or elements are various additional devices not described herein. Or additional elements, where each element or film (layer) is referred to as being located on another element or film (layer), disposed or formed directly on the other element or film (layer), or Additional elements or films (layers) may be interposed therebetween.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 기판 처리 장치를 설명하기 위한 개략적인 평면도이다. 도 2는 도 1에 도시된 기판 처리 장치의 제1 처리 블록을 설명하기 위한 개략적인 측면도이고, 도 3은 도 1에 도시된 기판 처리 장치의 제2 처리 블록을 설명하기 위한 개략적인 측면도이다.1 is a schematic plan view illustrating a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a schematic side view for explaining a first processing block of the substrate processing apparatus illustrated in FIG. 1, and FIG. 3 is a schematic side view for explaining a second processing block of the substrate processing apparatus illustrated in FIG. 1.
도 1 내지 도 3을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 기판 처리 장 치(10)는 실리콘웨이퍼와 같은 반도체 기판을 처리하기 위하여 사용될 수 있다. 예를 들면, 상기 반도체 기판 상에 포토레지스트막 또는 바텀 반사 방지막(bottom anti-reflective coating layer)을 형성하기 위한 코팅 공정, 상기 포토레지스트막에 회로 패턴을 전사하기 위하여 노광 공정을 수행한 후 상기 반도체 기판 상에 포토레지스트 패턴을 형성하기 위한 현상 공정, 상기 포토레지스트막 또는 상기 포토레지스트 패턴을 경화시키기 위한 베이크 공정 등을 수행하기 위하여 사용될 수 있다.1 to 3, the
상기 기판 처리 장치(10)는 반도체 기판을 처리하기 위한 기판 처리 모듈(20)과, 반도체 기판의 이송을 위한 기판 이송 모듈(30), 및 노광 장치(2)와 상기 기판 처리 모듈(20) 사이에 배치되는 인터페이싱 모듈(40)을 포함할 수 있다. 특히, 상기 기판 처리 장치(10)는 액침 노광 장치(2)와 연결될 수 있다.The
상기 기판 이송 모듈(30)은 다수의 반도체 기판들을 수용하는 용기들(4)을 지지하는 다수의 로드 포트들(32)을 포함할 수 있으며, 상기 용기들(4)과 상기 기판 처리 모듈(20) 사이에서 반도체 기판들을 이송하기 위하여 구비된다. 예를 들면, 각각의 로드 포트들(32) 상에는 FOUP(Front Opening Unified Pod)이 놓여질 수 있다.The
상기 기판 처리 모듈(20)과 연결되는 기판 이송 챔버(34) 내에는 반도체 기판들의 이송을 위한 제1 기판 이송 로봇(36)이 배치될 수 있다. 상기 제1 기판 이송 로봇(36)은 수평 및 수직 방향, 예를 들면, Y축 방향 및 Z축 방향으로 이동 가능하도록 구성될 수 있다. 또한, 상기 제1 기판 이송 로봇(36)의 로봇 암은 회전 가능하도록 그리고 신장 및 신축 가능하도록 구성될 수 있다.A first
상기 기판 이송 챔버(34)의 상부에는 정화된 공기를 기판 이송 챔버(34) 내부로 공급하기 위한 팬 필터 유닛(38)이 배치될 수 있다. 또한, 상기 기판 이송 모듈(30)은 로드 포트들(32)에 놓여진 FOUP들의 도어들을 개방하기 위한 도어 오프너들(미도시)을 포함할 수 있다.A
상기 기판 처리 모듈(20)은 반도체 기판 상에 포토레지스트 조성물 또는 반사 방지 물질을 도포하여 포토레지스트막 또는 바텀 반사 방지막을 형성하며, 상기 액침 노광 장치(2)에 의해 처리된 반도체 기판 상의 포토레지스트막을 현상하기 위한 제1 처리 블록(100)을 포함할 수 있다.The
상기 제1 처리 블록(100)은 수직 방향으로 적층된 상부 단위 블록들(110)과 하부 단위 블록들(130) 포함할 수 있다. 상기 상부 단위 블록들(110)은 다수의 코팅 유닛들을 포함할 수 있으며, 상기 하부 단위 블록들(130)은 다수의 현상 유닛들을 포함할 수 있다. 이와 다르게, 상기 상부 단위 블록들(110)은 다수의 현상 유닛들을 포함할 수 있으며, 상기 하부 단위 블록들(130)은 다수의 코팅 유닛들을 포함할 수도 있다.The
도시된 바에 의하면, 상기 제1 처리 블록(100)은 두 개의 상부 단위 블록들(110)과 두 개의 하부 단위 블록들(130)은 포함한다. 그러나, 본 발명의 범위는 상기 상부 및 하부 단위 블록들(110, 130)의 수량에 의해 한정되지는 않는다.As shown, the
본 발명의 일 실시예에 따르면, 각각의 상부 단위 블록들(110)은 바텀 반사 방지막을 형성하기 위한 제1 코팅 유닛(112)과 포토레지스트막을 형성하기 위한 제 2 코팅 유닛(114)을 포함할 수 있다. 상세히 도시되지는 않았으나, 상기 제1 코팅 유닛(112)의 내부에는 반도체 기판을 지지하고 회전시키기 위한 회전척과 반사 방지 물질을 상기 반도체 기판 상으로 제공하기 위한 노즐이 배치될 수 있고, 상기 제2 코팅 유닛(114)의 내부에는 반도체 기판들을 지지하고 회전시키기 위한 다수의 회전척들과 포토레지스트 물질을 상기 반도체 기판들 상으로 제공하기 위한 다수의 노즐들이 배치될 수 있다. 한편, 상기 제1 코팅 유닛(112)과 제2 코팅 유닛(114)은 X축 방향으로 배치될 수 있다.According to one embodiment of the present invention, each of the upper unit blocks 110 may include a
본 발명의 다른 실시예에 따르면, 각각의 상부 단위 블록들(110)은 수평 방향으로 배열된 다수의 코팅 유닛들을 포함할 수 있다. 각각의 코팅 유닛들은 반도체 기판 상에 포토레지스트막을 형성하기 위하여 제공된다. 상세히 도시되지는 않았으나, 각각의 코팅 유닛들은 코팅 공정이 수행되는 코팅 챔버, 반도체 기판 상에 포토레지스트 조성물을 제공하기 위한 노즐 및 상기 반도체 기판을 지지하고 회전시키기 위한 회전척을 포함할 수 있다. 그러나, 하나의 코팅 챔버 내에 다수의 회전척들과 다수의 노즐들이 배치될 수도 있다.According to another embodiment of the present invention, each of the upper unit blocks 110 may include a plurality of coating units arranged in a horizontal direction. Each coating unit is provided to form a photoresist film on a semiconductor substrate. Although not shown in detail, each coating unit may include a coating chamber in which a coating process is performed, a nozzle for providing a photoresist composition on a semiconductor substrate, and a rotary chuck for supporting and rotating the semiconductor substrate. However, multiple rotating chucks and multiple nozzles may be arranged in one coating chamber.
각각의 하부 단위 블록들(130)은 X축 방향으로 배열된 다수의 현상 유닛들(132)을 포함할 수 있다. 각각의 현상 유닛들은 노광 장치(2)에 의해 처리된 반도체 기판 상의 포토레지스트막을 현상하기 위하여 제공된다. 상세히 도시되지는 않았으나, 각각의 현상 유닛들(132)은 현상 공정이 수행되는 현상 챔버, 반도체 기판 상에 현상액을 제공하기 위한 노즐 및 상기 반도체 기판을 지지하고 회전시키기 위한 회전척을 포함할 수 있다. 그러나, 하나의 현상 챔버 내에 다수의 회전척들과 다수의 노즐들이 배치될 수도 있다. 또한, 각각의 현상 유닛들(132)은 현상액에 의한 처리 이후에 반도체 기판을 세정하기 위한 세정액을 공급하는 세정 노즐을 더 포함할 수 있다.Each
본 발명의 일 실시예에 따르면, 상기 상부 단위 블록들(110)과 하부 단위 블록들(130) 사이에는 중앙 단위 블록(150)이 배치될 수 있다. 상기 중앙 단위 블록(150)은 코팅 유닛들과 현상 유닛들을 선택적으로 포함할 수 있다. 예를 들면, 상기 중앙 단위 블록(150)은 코팅 유닛들만을 포함할 수도 있으며, 현상 유닛들만을 포함할 수도 있다. 이와는 다르게, 상기 중앙 단위 블록(150)은 하나의 코팅 유닛과 다수의 현상 블록들을 포함할 수도 있다. 또한, 상기 중앙 단위 블록(150)은 다수의 코팅 유닛과 하나의 현상 블록들 포함할 수도 있다. 추가적으로, 상기 중앙 단위 블록(150)은 다수의 코팅 유닛들과 다수의 현상 유닛들을 포함할 수도 있다.According to an embodiment of the present invention, a
도시된 바에 의하면, 상기 중앙 단위 블록(150)이 하나의 코팅 유닛(152)과 두 개의 현상 유닛들(154)을 포함하고 있으나, 상기 중앙 단위 블록(150)을 구성하는 코팅 유닛(들)과 현상 유닛(들)의 수량은 본 발명의 범위를 한정하지 않는다.As shown, although the
특히, 상기 중앙 단위 블록(150)을 구성하는 코팅 유닛(들)과 현상 유닛(들)은 상기 상부 단위 블록들(110)과 하부 단위 블록들(130) 사이에서 분리 가능하도록 배치될 수 있다. 즉, 상기 중앙 단위 블록(150)은 기 설정된 공정 레시피에 따라 구성이 변화될 수 있으며, 이에 따라, 상기 기판 처리 장치(10)의 쓰루풋이 크게 향상될 수 있다.In particular, the coating unit (s) and the developing unit (s) constituting the
상기 기판 처리 모듈(20)은 상기 제1 처리 블록(100)과 마주하여 배치되는 제2 처리 블록(200)을 더 포함할 수 있다. 상기 제2 처리 블록(200)은 X축 방향으로 배열되는 다수의 단위 블록들을 포함할 수 있으며, 반도체 기판의 열처리를 위하여 구비될 수 있다. 특히, 상기 제2 처리 블록(200)은 반도체 기판 상에 형성된 포토레지스트막, 바텀 반사 방지막, 포토레지스트 패턴 등을 경화시키기 위한 베이크 공정 및 포토레지스트 리플로우 공정을 수행하기 위하여 구비될 수 있으며, 또한 상기 베이크 공정을 수행한 후 반도체 기판을 냉각시키기 위하여 구비될 수 있다.The
예를 들면, 상기 제2 처리 블록(200)은 제1, 제2 및 제3 단위 블록들(210, 230, 250)을 포함할 수 있으며, 상기 제2 단위 블록(230)은 상기 제1 및 제3 단위 블록들(210, 250) 사이에 배치될 수 있다. 상기 제1 및 제3 단위 블록들(210, 250)은 반도체 기판을 가열하기 위한 다수의 가열 유닛들(212, 214, 252, 254)을 포함할 수 있으며, 상기 제2 단위 블록(230)은 반도체 기판을 가열하고 냉각시키기 위한 다수의 열처리 유닛들(232, 234)을 포함할 수 있다. 상기 가열 유닛들(212, 214, 252, 254)과 상기 열처리 유닛들(232, 234)은 수직 방향으로 적층될 수 있다.For example, the
각각의 가열 유닛들(212, 214, 252, 254)은 반도체 기판을 지지하며 가열하기 위한 가열 플레이트와 상기 가열 플레이트를 수용하는 가열 챔버를 포함할 수 있다. 상세히 도시되지는 않았으나, 상기 각각의 가열 유닛들(212, 214, 252, 254)은 상기 가열 플레이트를 통하여 수직 방향으로 이동 가능하도록 배치된 리프트 핀들을 더 포함할 수 있다. 상기 가열 플레이트의 하부에는 상기 리프트 핀들과 연결되어 상기 리프트 핀들을 수직 방향으로 이동시키기 위한 구동부가 배치될 수 있 다.Each of the
상기 가열 유닛들(212, 214, 252, 254)은 소수화 처리, 소프트 베이크 공정, PEB(post exposure bake) 공정, 하드 베이크 공정 등을 수행하기 위하여 사용될 수 있다.The
상기 소수화 처리는 반도체 기판의 표면 특성을 소수성으로 변화시키기 위하여 수행될 수 있다. 예를 들면, 예를 들면, 상기 가열 유닛들(212, 214, 252, 254) 중 일부는 상기 반도체 기판 상으로 HMDS(hexamethyldisilazane) 가스를 공급하기 위한 노즐을 각각 포함할 수 있다.The hydrophobization treatment may be performed to change the surface properties of the semiconductor substrate to hydrophobicity. For example, some of the
상기 소프트 베이크 공정은 포토레지스트 코팅 공정에 의해 반도체 기판 상에 형성된 포토레지스트막을 경화시키기 위하여, 즉 포토레지스트막 내의 용제를 제거하기 위하여 수행될 수 있다.The soft bake process may be performed to cure the photoresist film formed on the semiconductor substrate by the photoresist coating process, that is, to remove the solvent in the photoresist film.
상기 PEB 공정은 노광 공정 후 포토레지스트 패턴의 측면 프로파일을 개선하기 위하여 수행될 수 있으며, 상기 하드 베이크 공정은 현상 공정 후 포토레지스트 패턴을 경화시키기 위하여 수행될 수 있다.The PEB process may be performed to improve the side profile of the photoresist pattern after the exposure process, and the hard bake process may be performed to cure the photoresist pattern after the developing process.
예를 들면, 상기 제1 단위 블록(210)은 소수화 처리(또는 HMDS 처리)를 위한 제1 가열 유닛들(212)과 하드 베이크 공정을 위한 제2 가열 유닛들(214)을 포함할 수 있으며, 제3 단위 블록(250)은 소프트 베이크 공정을 위한 제3 가열 유닛들(252)과 PEB 공정을 위한 제4 가열 유닛들(254)을 포함할 수 있다.For example, the
또한, 상기 제1 가열 유닛들(212)은 제1 단위 블록(210)의 상부에 배치될 수 있으며, 제2 가열 유닛들(214)은 제1 단위 블록(210)의 하부에 배치될 수 있다. 그 리고, 상기 제3 가열 유닛들(252)은 상기 제3 단위 블록(250)의 상부에 배치될 수 있으며, 상기 제4 가열 유닛들(254)은 상기 제3 단위 블록(250)의 하부에 배치될 수 있다. 이는 상기 소수화 처리 및 소프트 베이크 공정을 위한 제1 및 제3 가열 유닛들(212, 252)을 코팅 유닛들(112, 114)과 인접하게 배치하고, 상기 하드 베이크 공정 및 PEB 공정을 위한 제2 및 제4 가열 유닛들(214, 254)을 상기 현상 유닛들(132)과 인접하게 배치하기 위함이다. 그러나, 본 발명의 범위는 상기 가열 유닛들(212, 214, 252, 254)의 위치에 의해 한정되지는 않을 것이다.In addition, the
도 4는 도 3에 도시된 열처리 유닛들을 설명하기 위한 개략적인 평면도이고, 도 5는 도 3에 도시된 열처리 유닛들을 설명하기 위한 개략적인 측면도이다.4 is a schematic plan view for describing the heat treatment units shown in FIG. 3, and FIG. 5 is a schematic side view for explaining the heat treatment units shown in FIG. 3.
도 4 및 도 5를 참조하면, 각각의 열처리 유닛들(232, 234)은 반도체 기판을 가열하기 위한 가열 플레이트(240)와, X축 방향으로 상기 가열 플레이트(240)의 일측에 배치되며 반도체 기판을 냉각시키기 위한 냉각 플레이트(242)와, 상기 가열 플레이트(240)와 상기 냉각 플레이트(242)를 수용하며 상기 반도체 기판들의 이송을 위한 한 쌍의 도어들(244a, 244b)을 갖는 열처리 챔버(244)를 포함할 수 있다.4 and 5, each of the
상기 열처리 유닛들(232, 234)은 반도체 기판들에 대한 베이크 공정 또는 포토레지스트 리플로우 공정을 수행하기 위하여 구비될 수 있다. 예를 들면, 상기 제2 단위 블록(230)은 바텀 반사 방지막을 경화시키기 위한 베이크 공정 및 냉각 공정을 수행하기 위한 상부 열처리 유닛들(232)과 포토레지스트 리플로우 공정 및 냉각 공정을 수행하기 위한 하부 열처리 유닛들(234)을 포함할 수 있다.The
또한, 상기 각각의 열처리 유닛들(232, 234)은 상기 열처리 챔버(244) 내에 서 상기 가열 플레이트(240)와 냉각 플레이트(242) 사이에서 반도체 기판을 이송하기 위한 챔버 내측 로봇(intra-chamber robot; 246)을 포함할 수 있다.In addition, each of the
상기 챔버 내측 로봇(246)은 X축 방향 로봇 암(246b)을 이동시키기 위한 가이드 레일(246a)을 포함할 수 있다. 상기 로봇 암(246b)은 상기 가이드 레일(246a)에 X축 방향으로 이동 가능하도록 결합될 수 있으며, 상기 가열 플레이트(240)와 냉각 플레이트(242)를 향하여 Y축 방향으로 연장할 수 있다.The chamber
상세히 도시되지는 않았으나, 상기 각각의 열처리 유닛들(232, 234)은 상기 가열 플레이트(240)와 냉각 플레이트(242)를 통하여 수직 방향으로 이동 가능하도록 배치된 리프트 핀들(248a, 248b)을 더 포함할 수 있다. 상기 가열 플레이트(240) 및 냉각 플레이트(242)의 하부에는 상기 리프트 핀들(248a, 248b)과 연결되어 상기 리프트 핀들(248a, 248b)을 수직 방향으로 이동시키기 위한 구동부들(249)이 각각 배치될 수 있다.Although not shown in detail, each of the
상기 가열 플레이트(240)는 상기 반도체 기판을 가열하기 위한 히터와 연결될 수 있으며, 상기 냉각 플레이트(242)는 상기 반도체 기판을 냉각시키기 위한 냉각 라인을 가질 수 있다. 특히, 상기 가열 플레이트(240) 내에는 전기 저항 열선이 내장될 수 있으며, 상기 냉각 플레이트(242) 내에는 냉매를 순환시키기 위한 순환 유로가 형성될 수 있다.The
또한, 상기 가열 플레이트(240)와 냉각 플레이트(242) 각각은 반도체 기판을 약 0.1 내지 0.3mm 정도의 높이로 부상시킨 상태에서 상기 반도체 기판을 지지하기 위한 다수의 돌기들을 가질 수 있다.In addition, each of the
다시 도 1 내지 도 3을 참조하면, 상기 제1 처리 블록(100)과 제2 처리 블록(200) 사이에는 반도체 기판들의 이송을 위한 메인 이송 블록(300)이 배치될 수 있다. 상기 메인 이송 블록(300) 내에는 반도체 기판들을 이송하기 위한 이송 로봇들(310, 320)이 배치될 수 있다. 예를 들면, 메인 이송 블록(300) 내에는 상부 메인 로봇(310)과 하부 메인 로봇(320)이 배치될 수 있다.Referring back to FIGS. 1 to 3, a
도 6은 도 1에 도시된 상부 및 하부 메인 로봇들을 설명하기 위한 개략적인 정면도이고, 도 7은 도 6에 도시된 상부 및 하부 메인 로봇들을 설명하기 위한 개략적인 측면도이다. 도 8은 도 6에 도시된 상부 및 하부 메인 로봇들의 다른 예를 설명하기 위한 개략적인 정면도이다.FIG. 6 is a schematic front view for explaining the upper and lower main robots shown in FIG. 1, and FIG. 7 is a schematic side view for explaining the upper and lower main robots shown in FIG. 6. FIG. 8 is a schematic front view illustrating another example of the upper and lower main robots shown in FIG. 6.
도 6 및 도 7을 참조하면, 상기 상부 메인 로봇(310)은 한 쌍의 상부 수직 가이드 레일(312)과, 상기 상부 수직 가이드 레일들(312)에 수직 방향으로 이동 가능하도록 결합된 상부 수평 가이드 레일(314)과, 상기 상부 수평 가이드 레일(314)에 수평 방향으로 이동 가능하도록 결합되며 회전 가능하도록 그리고 신장 및 신축 가능하도록 구성된 상부 로봇 암(316)을 포함할 수 있다.6 and 7, the upper
상기 하부 메인 로봇(320)은 한 쌍의 하부 수직 가이드 레일(322)과, 상기 하부 수직 가이드 레일들(322)에 수직 방향으로 이동 가능하도록 결합된 하부 수평 가이드 레일(324)과, 상기 하부 수평 가이드 레일(324)에 수평 방향으로 이동 가능하도록 결합되며 회전 가능하도록 그리고 신장 및 신축 가능하도록 구성된 하부 로봇 암(326)을 포함할 수 있다.The lower
한편, 상기 기판 처리 모듈(20)은 반도체 기판들의 온도 조절을 위한 제3 처 리 블록(400) 및 제4 처리 블록(500)을 더 포함할 수 있다. 상기 제3 및 제4 처리 블록들(400, 500)은 상기 제1 및 제2 처리 블록들(100, 200)이 배열된 방향에 대하여 수직하는 방향, 즉, X 방향으로 상기 메인 이송 블록(300)의 양측 부위에 배치될 수 있다. 구체적으로, 상기 제3 및 제4 처리 블록들(400, 500)은 기판 이송 모듈(30)과 메인 이송 블록(300) 및 인터페이싱 모듈(40) 사이에 각각 배치될 수 있다.The
상기 상부 메인 로봇(310)은 노광 공정 이전에 상기 제1, 제2, 제3 및 제4 처리 블록들(100, 200, 400, 500) 사이에서 반도체 기판들을 이송하기 위하여 사용될 수 있다. 특히, 상기 상부 메인 로봇(310)은 상부 단위 블록들(110), 중앙 단위 블록(150), 제1 및 제3 가열 유닛들(212, 252), 그리고 제3 및 제4 처리 블록들(400, 500) 사이에서 반도체 기판들을 이송하도록 구성될 수 있다.The upper
상기 하부 메인 로봇(320)은 노광 공정 이후에 상기 제1, 제2, 제3 및 제4 처리 블록들(100, 200, 400, 500) 사이에서 반도체 기판들을 이송하기 위하여 사용될 수 있다. 특히, 상기 하부 메인 로봇(320)은 하부 단위 블록들(130), 중앙 단위 블록(150), 제2 및 제4 가열 유닛들(214, 254), 그리고 제3 및 제4 처리 블록들(400, 500) 사이에서 반도체 기판들을 이송하도록 구성될 수 있다.The lower
상기 상부 수직 가이드 레일들(312)은 상기 제1 처리 블록(100)에 인접하여 배치될 수 있으며, 상기 하부 수직 가이드 레일들(322)은 상기 제2 처리 블록(200)에 인접하여 배치될 수 있다. 이는 상기 상부 메인 로봇(310)과 하부 메인 로봇(320) 모두가 상기 중앙 단위 블록(150)에 대하여 반도체 기판을 로딩 또는 언로 딩 가능하도록 하기 위함이다. 상기 상부 메인 로봇(310)과 하부 메인 로봇(320)이 상기 중앙 단위 블록(150)과 인접한 영역에서 동작하는 경우, 상기 상부 및 하부 메인 로봇들(310, 320)의 동작은 서로 간섭되지 않도록 로봇 제어부(330)에 의해 제어될 수 있다.The upper
본 발명의 다른 실시예에 따르면, 도 8에 도시된 바와 같이, 상부 로봇 암(346)은 아래를 향하도록 상부 수평 가이드 레일(344)에 결합될 수 있으며, 하부 로봇 암(356)은 위를 향하도록 하부 수평 가이드 레일(354)에 결합될 수 있다. 이 경우, 상부 수직 가이드 레일들(342)과 하부 수직 가이드 레일들(352)은 상기 제1 처리 블록(100) 또는 제2 처리 블록(200)에 인접하여 배치될 수 있다.According to another embodiment of the present invention, as shown in FIG. 8, the
다시 도 4 및 도 5를 참조하면, 반도체 기판은 상기 열처리 챔버(244)의 제1 도어(244a)를 통해 열처리 챔버(244) 내부로 반입될 수 있으며, 이어서, 상기 가열 플레이트(240)를 통해 배치된 리프트 핀들(248a)에 의해 상기 가열 플레이트(240) 상에 로딩될 수 있다. 상기 가열 플레이트(240) 상에서 베이크 공정 또는 포토레지스트 리플로우 공정이 수행된 반도체 기판은 상기 리프트 핀들(248a)에 의해 상기 가열 플레이트(240)로부터 들어올려진다. 상기 챔버 내측 로봇(246)의 로봇 암(246b)은 상기 들어올려진 반도체 기판의 아래로 이동하며, 상기 리프트 핀들(248a)의 하강에 의해 상기 반도체 기판은 상기 로봇 암(246b)에 의해 지지된다. 상기 로봇 암(246b)에 의해 지지된 반도체 기판은 로봇 암(246b)의 이동에 의해 상기 냉각 플레이트(242)의 위로 이동하며, 상기 냉각 플레이트(242)를 통해 상승하는 리프트 핀들(248b)에 의해 상기 로봇 암(246b)으로부터 들어올려진다. 상기 로 봇 암(246b)이 되돌아간 후, 상기 리프트 핀들(248b)의 하강에 의해 상기 반도체 기판은 상기 냉각 플레이트(242) 상에 놓여질 수 있다. 상기 냉각 플레이트(242) 상에서 소정의 온도, 예를 들면, 약 30 내지 50℃ 정도의 온도로 냉각된 반도체 기판은 상기 열처리 챔버(244)의 제2 도어(244b)를 통해 반출될 수 있다.4 and 5, the semiconductor substrate may be loaded into the
상기와 같이 열처리 챔버(244) 내에서 가열 플레이트(240)와 냉각 플레이트(242) 사이의 반도체 기판 이송이 상기 챔버 내측 로봇(246)에 의해 이루어지므로, 상기 메인 이송 블록(300)의 상부 및 하부 메인 로봇들(310, 320)의 부하를 감소시킬 수 있다. 또한, 상기 냉각 플레이트(242)에 의해 반도체 기판이 냉각되는 동안 다른 반도체 기판에 대한 베이크 공정 또는 포토레지스트 리플로우 공정이 상기 가열 플레이트(240)에 의해 동시에 또는 연속적으로 이루어질 수 있다. 이에 따라, 상기 기판 처리 장치(10)의 쓰루풋이 크게 향상될 수 있다.Since the transfer of the semiconductor substrate between the
다시 도 1 내지 도 3을 참조하면, 상기 제3 및 제4 처리 블록들(400, 500)은 상기 제2 처리 블록(200)에 의해 가열된 반도체 기판을 냉각시키기 위하여 구비될 수 있다. 예를 들면, 상기 제3 및 제4 처리 블록들(400, 500) 각각은 반도체 기판을 소정의 온도, 예를 들면, 약 23℃의 온도로 냉각시키기 위한 다수의 냉각 유닛들(410, 510)을 포함할 수 있다. 상기 냉각 유닛들(410, 510)은 수직 방향으로 적층될 수 있다.Referring back to FIGS. 1 to 3, the third and fourth processing blocks 400 and 500 may be provided to cool the semiconductor substrate heated by the
또한, 상기 제3 및 제4 처리 블록들(400, 500)은 상기 상부 또는 하부 열처리 유닛(232 또는 234)의 냉각 플레이트(242)에 의해 일차 냉각된 반도체 기판을 약 23℃의 온도로 이차 냉각시키기 위하여 사용될 수 있다. 상기 열처리 유닛(232 또는 234)의 냉각 플레이트(242)는 반도체 기판의 온도를 약 30 내지 50℃ 정도의 온도로 일차 냉각시킬 수 있다.In addition, the third and fourth processing blocks 400 and 500 may secondary cool the semiconductor substrate primarily cooled by the
각각의 냉각 유닛들(410, 510)은 냉각 챔버와 그 내부에 배치된 냉각 플레이트를 포함할 수 있다. 상세히 도시되지는 않았으나, 상기 냉각 플레이트의 내부에는 냉각수의 순환을 위한 유로가 구비될 수 있으며, 상기 냉각수의 순환에 의해 상기 냉각 플레이트는 약 23℃ 정도의 온도로 유지될 수 있다.Each of the cooling
상기 냉각 유닛들(410, 510) 각각은 냉각 플레이트를 통해 수직 방향으로 이동 가능하도록 배치되어 반도체 기판의 로딩 및 언로딩 동작을 수행하는 다수의 리프트 핀들을 포함할 수 있다. 상기 리프트 핀들은 냉각 플레이트를 통해 수직 방향으로 이동 가능하도록 배치되며, 상기 냉각 플레이트의 하부에는 상기 리프트 핀들과 연결되어 상기 리프트 핀들을 수직 방향으로 이동시키기 위한 구동부가 배치될 수 있다.Each of the cooling
또한, 상기 제3 및 제4 처리 블록들(400, 500)은 반도체 기판들을 적재하기 위한 제1 이송 스테이지(420) 및 제2 이송 스테이지(520)를 각각 더 포함할 수 있다. 상기 제1 및 제2 이송 스테이지들(420, 520)은 상기 냉각 유닛들(410, 510) 사이에 배치될 수 있다. 예를 들면, 상기 제1 및 제2 이송 스테이지들(420, 520)은 상기 제1 처리 블록(100)의 중앙 단위 블록(150)과 대응하도록 배치될 수 있다. 이는 상기 상부 및 하부 메인 로봇들(310, 320) 모두가 상기 제1 및 제2 이송 스테이지들(420, 520)을 경유하여 반도체 기판들을 이송할 수 있도록 하기 위함이다.In addition, the third and fourth processing blocks 400 and 500 may further include a
도 9는 도 1에 도시된 제1 및 제2 보조 이송 로봇들을 설명하기 위한 개략적 인 측면도이다.FIG. 9 is a schematic side view for explaining the first and second auxiliary transfer robots shown in FIG. 1.
도 1 및 도 9를 참조하면, 상기 기판 처리 모듈(20)은 제1 보조 이송 블록(600) 및 제2 보조 이송 블록(700)을 더 포함할 수 있다. 상기 제1 보조 이송 블록(600)은 상기 제3 처리 블록(400)과 상기 제2 처리 블록(200)의 제1 단위 블록(210) 사이에서 반도체 기판들을 이송하기 위하여 제공되며, 제2 보조 이송 블록(700)은 상기 제4 처리 블록(500)과 상기 제2 처리 블록(200)의 제3 단위 블록(250) 사이에서 반도체 기판들을 이송하기 위하여 제공된다.1 and 9, the
상기 제1 보조 이송 블록(600)은 상기 제3 처리 블록(400), 제1 단위 블록(210) 및 기판 이송 모듈(30) 사이에 배치되며, 수직 방향으로 이송 가능하도록 배치된 제1 보조 이송 로봇(610)을 포함할 수 있다. 상기 제1 보조 이송 로봇(610)은 상기 제1 보조 이송 블록(600) 내에서 수직 방향으로 연장하는 제1 수직 가이드 레일(612)과, 상기 제1 수직 가이드 레일(612)에 수직 방향으로 이동 가능하도록 결합된 제1 로봇 암(614)을 포함할 수 있다. 상기 제1 로봇 암(614)은 회전 가능하도록 그리고 신장 및 신축 가능하도록 구성될 수 있다.The first
상기 제1 보조 이송 블록(600)은 상기 제1 단위 블록(210)의 가열 유닛들, 즉, 상기 제1 가열 유닛들(212)과 제2 가열 유닛들(214)에 의해 처리된 반도체 기판들을 상기 제3 처리 블록(400)의 냉각 유닛들(410)에 이송하기 위하여 구비된다.The first
상기 제1 및 제2 가열 유닛들(212, 214) 각각은 상기 메인 이송 블록(300)과 인접하는 전면 도어(220)와 상기 제1 보조 이송 블록(600)과 인접하는 측면 도어(222)를 가질 수 있다. 또한, 상기 제3 처리 블록(400)의 냉각 유닛들(410) 각각 은 상기 메인 이송 블록(300)과 인접하는 전면 도어(412)와 상기 제1 보조 이송 블록(600)과 인접하는 측면 도어(414)를 가질 수 있다.Each of the first and
반도체 기판들은 상기 상부 또는 하부 메인 로봇(310, 320)에 의해 제1 단위 블록(210)의 전면 도어들(220)을 통해 제1 단위 블록(210)으로 반입될 수 있으며, 제1 보조 이송 로봇(610)에 의해 제1 단위 블록(210)의 측면 도어들(222)을 통해 제1 단위 블록(210)으로부터 반출될 수 있다. 또한, 제1 보조 이송 로봇(610)에 의해 제3 처리 블록(400)의 측면 도어들(414)을 통해 제3 처리 블록(400)으로 이송될 수 있다. 따라서, 상기 상부 및 하부 메인 로봇들(310, 320)의 부하가 크게 감소될 수 있으며, 이에 따라 기판 처리 장치(10)의 쓰루풋이 향상될 수 있다.The semiconductor substrates may be loaded into the
상기 제2 보조 이송 블록(700)은 상기 제4 처리 블록(500), 제3 단위 블록(250) 및 인터페이싱 모듈(40) 사이에 배치되며, 수직 방향으로 이송 가능하도록 배치된 제2 보조 이송 로봇(710)을 포함할 수 있다. 상기 제2 보조 이송 로봇(710)은 상기 제2 보조 이송 블록(700) 내에서 수직 방향으로 연장하는 제2 수직 가이드 레일(712)과, 상기 제2 수직 가이드 레일(712)에 수직 방향으로 이동 가능하도록 결합된 제2 로봇 암(714)을 포함할 수 있다. 상기 제2 로봇 암(714)은 회전 가능하도록 그리고 신장 및 신축 가능하도록 구성될 수 있다.The second
상기 제2 보조 이송 블록(700)은 상기 제3 단위 블록(250)의 가열 유닛들, 즉, 상기 제3 가열 유닛들(252)과 제4 가열 유닛들(254)에 의해 처리된 반도체 기판들을 상기 제4 처리 블록(500)의 냉각 유닛들(510)에 이송하기 위하여 구비된다.The second
상기 제3 및 제4 가열 유닛들(252, 254) 각각은 상기 메인 이송 블록(300)과 인접하는 전면 도어(260)와 상기 제2 보조 이송 블록(700)과 인접하는 측면 도어(262)를 가질 수 있다. 또한, 상기 제4 처리 블록(500)의 냉각 유닛들(510) 각각은 상기 메인 이송 블록(300)과 인접하는 전면 도어(512)와 상기 제2 보조 이송 블록(700)과 인접하는 측면 도어(514)를 가질 수 있다.Each of the third and
반도체 기판들은 상기 상부 또는 하부 메인 로봇(310, 320)에 의해 제3 단위 블록(250)의 전면 도어들(260)을 통해 제3 단위 블록(250)으로 반입될 수 있으며, 제2 보조 이송 로봇(710)에 의해 제3 단위 블록(250)의 측면 도어들(262)을 통해 제3 단위 블록(250)으로부터 반출될 수 있다. 또한, 제2 보조 이송 로봇(710)에 의해 제4 처리 블록(500)의 측면 도어들(514)을 통해 제4 처리 블록(500)으로 이송될 수 있다. 따라서, 상기 상부 및 하부 메인 로봇들(310, 320)의 부하가 크게 감소될 수 있으며, 이에 따라 기판 처리 장치(10)의 쓰루풋이 향상될 수 있다.The semiconductor substrates may be loaded into the
본 발명의 다른 실시예에 따르면, 반도체 기판들은 상기 상부 또는 하부 메인 로봇(310 또는 320)에 의해 상기 제1 단위 블록(210)으로부터 상기 제3 처리 블록(400)으로 이송될 수 있다. 또한, 반도체 기판들은 상기 상부 또는 하부 메인 로봇(310 또는 320)에 의해 상기 제3 단위 블록(250)으로부터 상기 제4 처리 블록(500)으로 이송될 수 있다. 즉, 반도체 기판들은 상기 상부 메인 로봇(310), 하부 메인 로봇(320), 제1 보조 이송 로봇(610) 및 제2 보조 이송 로봇(710)에 의해 선택적으로 이송될 수 있으며, 이에 따라 반도체 기판들을 이송하는데 소요되는 시간이 단축될 수 있다.According to another embodiment of the present invention, the semiconductor substrates may be transferred from the
또한, 상기 제3 처리 블록(400)의 냉각 유닛들(410)에 의해 처리된 반도체 기판들은 상기 상부 또는 하부 메인 로봇(310 또는 320) 또는 제1 보조 이송 로봇(610)에 의해 제1 이송 스테이지(420)로 이송될 수 있으며, 상기 제4 처리 블록(500)의 냉각 유닛들(510)에 의해 처리된 반도체 기판들은 상기 상부 또는 하부 메인 로봇(310 또는 320) 또는 제2 보조 이송 로봇(710)에 의해 제2 이송 스테이지(520)로 이송될 수 있다.In addition, the semiconductor substrates processed by the cooling
추가적으로, 상기 제1 이송 스테이지(420)에 수납된 반도체 기판들은 상기 제1 보조 이송 로봇(610)에 의해 제1 단위 블록(210) 또는 제3 처리 블록(400)의 냉각 유닛들(410)로 이송될 수 있으며, 상기 제2 이송 스테이지(520)에 수납된 반도체 기판들은 상기 제2 보조 이송 로봇(710)에 의해 제3 단위 블록(250) 또는 제4 처리 블록(500)의 냉각 유닛들(510)로 이송될 수 있다.In addition, the semiconductor substrates accommodated in the
상기 로봇 제어부(330)는 상기 제1 및 제2 보조 이송 로봇들(610, 710)의 동작들을 제어할 수 있다. 예를 들면, 상기 로봇 제어부(330)는 상기 상부 및 하부 메인 로봇들(310, 320) 그리고 상기 제1 및 제2 보조 이송 로봇들(610, 710)이 상호 보완적으로 동작할 수 있도록 이들의 동작을 제어할 수 있다. 따라서, 상기 상부 및 하부 메인 로봇들(310, 320)의 과부하가 방지될 수 있다.The robot controller 330 may control operations of the first and second
다시 도 1을 참조하면, 상기 제4 처리 블록(500) 및 상기 인터페이싱 모듈(40) 사이에는 제5 처리 블록(800)이 배치될 수 있다. 상기 제5 처리 블록(800)은 액침 노광 공정이 수행된 반도체 기판을 세정하기 위한 세정 유닛(810)을 포함할 수 있다. 상기 액침 노광 공정이 수행된 반도체 기판 상에는 상기 액침 노광 공정에서 사용된 액체, 예를 들면, 물방울들 또는 수분이 잔류할 수 있으며, 이에 의 해 상기 반도체 기판 상에는 다량의 물반점들이 생성될 수 있다. 상기 세정 유닛(810)은 상기 반도체 기판 상에 물반점이 생성되는 것을 방지하기 위한 세정 및 건조 공정을 수행할 수 있다.Referring back to FIG. 1, a
도 10은 도 1에 도시된 세정 유닛을 설명하기 위한 개략적인 측면도이다.10 is a schematic side view for explaining the cleaning unit shown in FIG. 1.
도 10을 참조하면, 상기 세정 유닛(810)은 기판을 지지하고 회전시키기 위한 회전척(812)과 세정액을 공급하기 위한 세정액 공급 노즐(820) 및 상기 기판을 건조시키기 위하여 건조 가스를 공급하는 가스 공급 노즐(830)을 포함할 수 있다.Referring to FIG. 10, the
상기 세정액 공급 노즐(820)은 세정 노즐 암(822)과 세정 노즐 구동부(824)에 의해 상기 회전척(812) 상에 지지된 반도체 기판의 상부로 이동될 수 있으며, 상기 가스 공급 노즐(830)은 가스 노즐 암(832)과 가스 노즐 구동부(834)에 의해 상기 회전척(812) 상에 지지된 반도체 기판의 상부로 이동될 수 있다. 특히, 상기 세정액 공급 노즐(820)과 가스 공급 노즐(830)은 세정 단계와 건조 단계에서 각각 반도체 기판 상부에 배치될 수 있다.The cleaning
상기 회전척(812)은 회전축(814)을 통해 회전 구동부(816)와 연결되어 있으며, 회전척(812)의 주위에는 보울(840)이 배치될 수 있다. 상기 보울(840)은 회전척(812)의 회전에 의해 상기 반도체 기판으로부터 비산된 세정액을 차단하기 위하여 구비된다. 도시되지는 않았으나, 상기 보울(840)은 사용된 세정액을 배출하기 위한 드레인 라인(미도시)과 연결될 수 있다.The
상기 세정액으로는 물, 예를 들면, 탈이온수가 사용될 수 있으며, 특히 세정 효과를 상승시키기 위하여 약 30 내지 70℃ 정도로 가열된 탈이온수가 사용될 수 있다.As the cleaning liquid, water, for example, deionized water may be used, and in particular, deionized water heated to about 30 to 70 ° C. may be used to increase the cleaning effect.
상기 건조 가스로는 질소 가스와 이소프로필 알코올 증기가 사용될 수 있다. 상기 건조 가스는 상기 가스 공급 노즐(830)과 연결된 건조 가스 제공부로부터 제공될 수 있다.Nitrogen gas and isopropyl alcohol vapor may be used as the dry gas. The dry gas may be provided from a dry gas providing unit connected to the
도 11은 건조 가스 제공부를 설명하기 위한 개략적인 구성도이다.11 is a schematic configuration diagram for explaining a dry gas providing unit.
도 11을 참조하면, 건조 가스 제공부(850)는 질소 가스를 저장하는 제1 용기(852)와 액상의 이소프로필 알코올을 저장하는 제2 용기(854)와 상기 질소 가스를 가열하기 위한 제1 히터(856) 및 상기 액상의 이소프로필 알코올을 기화시켜 이소프로필 알코올 증기를 생성하기 위한 제2 히터(858)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 11, the dry
상기 제1 히터(856)는 상기 제1 용기(852)와 연결되어 상기 질소 가스를 기 설정된 온도로 가열하며, 상기 제2 히터(858)는 상기 제1 히터(856)와 연결될 수 있다. 또한, 상기 제2 히터(858)는 상기 제2 용기(854)와 연결되며 액상의 이소프로필 알코올이 상기 제2 히터(858)로 공급된다. 상기 액상의 이소프로필 알코올은 상기 제2 히터(858) 내에서 기화되며 상기 제1 히터(856)로부터 공급되는 가열된 건조 가스와 혼합된다. 상기 가열된 건조 가스와 이소프로필 알코올 증기가 혼합된 건조 가스는 상기 제2 히터(858)와 연결된 가스 공급 노즐(830)을 통해 반도체 기판 상으로 제공될 수 있다.The
한편, 제1 용기(852)와 제1 히터(856) 사이에는 공급되는 질소 가스의 유량을 제어하기 위한 제1 유량 제어 밸브(860)가 설치될 수 있으며, 상기 제2 용기(854)와 제2 히터(858) 사이에는 상기 액상의 이소프로필 알코올의 유량을 조절 하기 위한 제2 유량 제어 밸브(862)가 설치될 수 있다. 또한, 상기 제2 히터(858)와 가스 공급 노즐(830) 사이에는 온/오프 밸브(864)와 질량 유량 제어기(866, mass flow controller; MFC)가 설치될 수 있다.Meanwhile, a first flow
상기 세정액 공급 노즐(820)은 회전척(812)에 의해 회전하는 반도체 기판의 중심 부위 상으로 세정액을 공급하며, 상기 가스 공급 노즐(830)은 세정 단계가 수행된 후 상기 회전척(812)에 의해 회전하는 반도체 기판의 중심 부위 상으로 건조 가스를 공급한다. 특히, 상기 세정액 공급 노즐(820)과 가스 공급 노즐(830)은 세정 단계 및 건조 단계를 각각 수행하는 동안 상기 반도체 기판의 중심 부위로부터 가장자리를 향하여 이동할 수 있다. 상기와 같이 반도체 기판의 세정과 건조가 순차적으로 수행되므로 반도체 기판 상에 물반점이 생성되는 것을 방지할 수 있다.The cleaning
다시 도 1을 참조하면, 상기 제5 처리 블록(800) 내에는 상기 인터페이싱 모듈(40), 상기 세정 유닛(810) 및 상기 제4 처리 블록(500)의 제2 이송 스테이지(520) 사이에서 반도체 기판들을 이송하기 위한 제2 기판 이송 로봇(870)이 배치될 수 있다. 상기 제2 기판 이송 로봇(870)은 수평 및 수직 방향, 예를 들면, Y축 방향 및 Z축 방향으로 이동 가능하게 배치될 수 있다. 또한, 상기 제2 기판 이송 로봇(870)의 로봇 암은 회전 가능하도록 그리고 신장 및 신축 가능하도록 구성될 수 있다.Referring back to FIG. 1, in the
상기 인터페이싱 모듈(40)은 상기 제5 처리 블록(800)과 액침 노광 장치(2) 사이에 배치될 수 있다. 상기 인터페이싱 모듈(40) 내에는 상기 제5 처리 블록(800)과 액침 노광 장치(2) 사이에서 반도체 기판을 이송하기 위한 인터페이싱 로봇(42)이 배치될 수 있다. 상기 인터페이싱 로봇(42)은 수직 방향으로 이동 가능하도록 구성될 수 있으며, 상기 인터페이싱 로봇(42)의 로봇 암은 회전 가능하도록 그리고 신장 및 신축이 가능하도록 구성될 수 있다.The
또한, 상기 인터페이싱 모듈(40) 내에는 에지 노광 유닛(44)과 보관 스테이지(46)가 배치될 수 있다. 상기 에지 노광 유닛(44)은 반도체 기판의 에지 부위 상의 포토레지스트막 부위를 제거하기 위하여 구비될 수 있으며, 상기 보관 스테이지(46)는 반도체 기판이 노광 장치(2)로 투입되기 전 또는 노광 공정이 수행된 후 반도체 기판의 대기를 위해 구비될 수 있다. 상기 에지 노광 유닛(44)과 보관 스테이지(46)는 상기 인터페이싱 로봇(42)을 중심으로 Y축 방향으로 서로 마주하여 배치될 수 있다.In addition, an
특히, 제2 기판 이송 로봇(870)은 상기 제4 처리 블록(500)의 제2 이송 스테이지(520)로부터 반도체 기판들을 인터페이싱 모듈(40)의 보관 스테이지(46)로 이송한다. 상기 인터페이싱 로봇(42)은 상기 보관 스테이지(46)로부터 반도체 기판을 에지 노광 유닛(44)으로 이송하며, 에지 노광 유닛(44)에 의해 처리된 반도체 기판을 보관 스테이지(46) 또는 액침 노광 장치(2)로 이송하고, 액침 노광 장치(2)에 의해 노광 공정이 수행된 반도체 기판들을 상기 보관 스테이지(46)로 이송한다. 상기 제2 기판 이송 로봇(870)은 상기 보관 스테이지(46)에 적재된 반도체 기판을 인출하여 상기 세정 유닛(810)으로 이송하며, 상기 세정 유닛(810)에 의해 처리된 반도체 기판을 제2 이송 스테이지(520)로 이송한다. 상세하게 도시되지는 않았으나, 상기 제2 기판 이송 로봇(870) 및 상기 인터페이싱 로봇(42)의 동작들은 로봇 제어 부(330)에 의해 제어될 수 있다.In particular, the second
상기 에지 노광 유닛(44)은 반도체 기판을 지지하고 회전시키기 위한 회전척과, 상기 회전척 상에 지지된 반도체 기판의 가장자리 부위로 광 빔을 조사하기 위한 광원을 포함할 수 있다.The
한편, 상기 기판 처리 모듈(20) 내에서 상기 상부 및 하부 메인 로봇들(310, 320)의 동작들은 상기 로봇 제어부(330)에 의해 제어될 수 있다. 특히, 상기 로봇 제어부(330)는 상기 상부 및 하부 메인 로봇들(310, 320)이 상기 메인 이송 블록(300)의 중앙 공간, 즉 상기 중앙 단위 블록(150)과 인접한 공간에서 서로 간섭되지 않도록 상기 상부 및 하부 메인 로봇들(310, 320)의 동작들을 제어할 수 있다.Meanwhile, operations of the upper and lower
예를 들면, 상기 기판 이송 모듈(30)의 기판 이송 로봇(36)에 의해 상기 제1 이송 스테이지(420)에 적재된 반도체 기판은 상기 메인 이송 블록(300)의 상부 메인 로봇(310)에 의해 소수화 처리를 위하여 제1 가열 유닛들(212) 중 하나로 이송될 수 있다. 상기 반도체 기판은 상기 제1 가열 유닛(212)의 가열 플레이트에 의해 약 85 내지 120℃ 정도의 온도로 가열될 수 있으며, 상기 반도체 기판 상으로 HMDS 가스가 공급될 수 있다.For example, the semiconductor substrate loaded on the
상기 제1 가열 유닛(212)에 의해 처리된 반도체 기판은 상기 상부 메인 로봇(310)에 의해 제3 또는 제4 처리 블록(400 또는 500)으로 이송될 수 있으며, 이어서 약 23℃ 정도의 온도로 냉각될 수 있다. 이와는 다르게, 상기 제1 가열 유닛(212)에 의해 처리된 반도체 기판은 상기 제1 보조 이송 로봇(610)에 제3 처리 블록(400)으로 이송될 수 있으며, 이어서 약 23℃ 정도의 온도로 냉각될 수 있다.The semiconductor substrate processed by the
상기 상부 메인 로봇(310)은 상기 제3 또는 제4 처리 블록(400 또는 500)으로부터 상부 단위 블록들(110) 또는 중앙 단위 블록(150)의 제1 코팅 유닛들(112) 중 하나로 반도체 기판을 이송할 수 있으며, 상기 제1 코팅 유닛(112)에 의해 상기 반도체 기판 상에는 바텀 반사 방지막이 코팅될 수 있다.The upper
상기 상부 메인 로봇(310)은 바텀 반사 방지막이 형성된 반도체 기판을 제2 단위 블록(230)의 상부 열처리 유닛들(232) 중 하나로 이송할 수 있으며, 상기 상부 열처리 유닛(232)에 의해 상기 바텀 반사 방지막을 경화시키기 위한 베이크 공정(이하, ‘BARC 베이크 공정’이라 한다) 및 냉각 공정이 수행될 수 있다. 특히, 상기 상부 열처리 유닛(232)에서 약 120 내지 180℃ 정도의 온도에서 일차 베이크 공정이 수행될 수 있으며, 이어서 상기 일차 베이크 공정 온도보다 높은 온도, 예를 들면, 약 150 내지 250℃에서 이차 베이크 공정이 수행될 수 있다. 상기 BARC 베이크 공정이 종료되면, 상기 반도체 기판은 챔버 내측 로봇(246)에 의해 상기 상부 열처리 유닛(232) 내부의 냉각 플레이트(242) 상으로 이송될 수 있으며, 상기 냉각 플레이트(242)에 의해 약 30 내지 50℃ 정도의 온도로 일차 냉각될 수 있다.The upper
상기 상부 열처리 유닛(232)에 의해 처리된 반도체 기판은 상기 상부 메인 로봇(310)에 의해 제3 또는 제4 처리 블록(400 또는 500)으로 이송될 수 있으며, 이어서 약 23℃ 정도의 온도로 냉각될 수 있다.The semiconductor substrate processed by the upper
상기 상부 메인 로봇(310)은 상기 제3 또는 제4 처리 블록(400 또는 500)으로부터 상기 상부 단위 블록들(110) 또는 중앙 단위 블록(150)의 제2 코팅 유닛 들(114) 중 하나로 반도체 기판을 이송할 수 있으며, 상기 제2 코팅 유닛(114)에 의해 상기 반도체 기판 상에 포토레지스트막이 코팅될 수 있다.The upper
상기 포토레지스트막이 형성된 반도체 기판은 상부 메인 로봇(310)에 의해 제3 가열 유닛들(252) 중 하나로 이송될 수 있으며, 상기 제3 가열 유닛(252)에 의해 상기 반도체 기판에 대한 소프트 베이크 공정이 수행될 수 있다. 예를 들면, 상기 반도체 기판은 상기 제3 가열 유닛(252)에 의해 약 70 내지 120℃ 정도의 온도로 가열될 수 있다.The semiconductor substrate on which the photoresist layer is formed may be transferred to one of the
상기 소프트 베이크 공정이 수행된 반도체 기판은 상기 상부 메인 로봇(310) 또는 상기 제2 보조 이송 로봇(710)에 의해 제4 처리 블록(500)으로 이송될 수 있으며, 상기 제4 처리 블록(500)의 냉각 유닛들(510) 중 하나에 의해 약 23℃ 정도의 온도로 냉각될 수 있다.The semiconductor substrate on which the soft bake process is performed may be transferred to the
상기 제4 처리 블록(500)의 냉각 유닛(510)에 의해 냉각된 반도체 기판은 상기 상부 메인 로봇(310) 또는 상기 제2 보조 이송 로봇(710)에 의해 제2 이송 스테이지(520)로 이송될 수 있으며, 이어서 상기 제2 기판 이송 로봇(870) 및 인터페이싱 로봇(42)에 의해 액침 노광 장치(2)로 이송될 수 있다.The semiconductor substrate cooled by the
상기 액침 노광 장치(2)에 의해 처리된 반도체 기판은 상기 인터페이싱 로봇(42) 및 상기 제2 기판 이송 로봇(870)에 의해 세정 유닛(810)으로 이송될 수 있으며, 상기 세정 유닛(810)에 의해 세정 및 건조 처리될 수 있다. 이에 따라, 상기 반도체 기판 상에 물반점이 생성되는 것이 방지될 수 있다.The semiconductor substrate processed by the
상기 세정 및 건조 공정이 수행된 반도체 기판은 제2 기판 이송 로봇(870)에 의해 상기 제2 이송 스테이지(520)로 이송될 수 있으며, 상기 하부 메인 로봇(320) 또는 상기 제2 보조 이송 로봇(710)에 의해 상기 제4 가열 유닛들(254) 중 하나로 이송될 수 있다.The semiconductor substrate on which the cleaning and drying process is performed may be transferred to the
상기 제4 가열 유닛(254)에 의해 상기 반도체 기판에 대한 PEB 공정이 수행될 수 있다. 상기 반도체 기판은 상기 제4 가열 유닛(254)에 의해 약 90 내지 150℃ 정도의 온도로 가열될 수 있다.A PEB process on the semiconductor substrate may be performed by the
상기 PEB 공정이 수행된 반도체 기판은 상기 하부 메인 로봇(320)에 의해 상기 제4 가열 유닛(254)으로부터 제3 및 제4 처리 블록(400, 500)의 냉각 유닛들(410, 510) 중 하나로 이송될 수 있으며, 상기 냉각 유닛(410 또는 510)에 의해 약 23℃ 정도의 온도로 냉각될 수 있다. 이와는 다르게, 상기 PEB 공정이 수행된 반도체 기판은 상기 제2 보조 이송 로봇(710)에 의해 상기 제4 가열 유닛(254)으로부터 상기 제4 처리 블록(500)의 냉각 유닛들(510) 중 하나로 이송될 수 있으며, 상기 냉각 유닛(510)에 의해 약 23℃ 정도의 온도로 냉각될 수 있다.The semiconductor substrate on which the PEB process is performed is performed by the lower
상기 하부 메인 로봇(320)은 상기 제3 또는 제4 처리 블록(400 또는 500)으로부터 현상 유닛들(132) 중 하나로 반도체 기판을 이송할 수 있으며, 상기 현상 유닛(132)에 의한 현상 공정이 수행될 수 있다.The lower
상기 현상 공정이 수행된 반도체 기판은 상기 하부 메인 로봇(320)에 의해 제2 가열 유닛들(214) 중 하나로 이송될 수 있으며, 상기 제2 가열 유닛(214)에 의한 하드 베이크 공정이 수행될 수 있다. 특히, 상기 반도체 기판은 상기 제2 가열 유닛(214)에 의해 약 110 내지 150℃ 정도의 온도로 가열될 수 있다.The semiconductor substrate on which the developing process is performed may be transferred to one of the
이와는 다르게, 상기 현상 공정이 수행된 반도체 기판은 상기 하부 메인 로봇(320)에 의해 상기 하부 열처리 유닛들(234) 중 하나로 이송될 수 있으며, 상기 하부 열처리 유닛(234)에 의한 포토레지스트 리플로우 공정이 수행될 수도 있다. 예를 들면, 상기 반도체 기판은 상기 하부 열처리 유닛(234)의 가열 플레이트(240)에 의해 약 150 내지 180℃ 정도의 온도로 가열될 수 있다. 상기 포토레지스트 리플로우 공정이 수행된 반도체 기판은 상기 하부 열처리 유닛(234)의 챔버 내측 로봇(246)에 의해 상기 하부 열처리 유닛(234) 내에서 가열 플레이트(240)로부터 냉각 플레이트(242)로 이송될 수 있다. 이어서, 상기 반도체 기판은 상기 냉각 플레이트(242)에 의해 약 30 내지 50℃ 정도의 온도로 냉각될 수 있다.Alternatively, the semiconductor substrate on which the development process is performed may be transferred to one of the lower
상기 하드 베이크 공정 또는 포토레지스트 리플로우 공정이 수행된 반도체 기판은 상기 하부 메인 로봇(320) 또는 상기 제1 보조 이송 로봇(610)에 의해 제3 처리 블록(400)의 냉각 유닛들(410) 중 하나로 이송될 수 있으며, 이어서 약 23℃ 정도의 온도로 냉각될 수 있다.The semiconductor substrate on which the hard bake process or the photoresist reflow process is performed is performed by the lower
상기 반도체 기판은 상기 하부 메인 로봇(320)또는 상기 제1 보조 이송 로봇(610)에 의해 상기 제3 처리 블록(400)의 냉각 유닛들(410)로부터 상기 제1 이송 스테이지(420)로 이송될 수 있으며, 이어서, 상기 기판 이송 로봇(36)에 의해 상기 기판 처리 장치(10)로부터 반출될 수 있다.The semiconductor substrate may be transferred from the cooling
상기에서 설명된 베이크 공정들 및 포토레지스트 리플로우 공정의 온도 범위들은 사용된 포토레지스트 조성물 및 반사 방지 물질 그리고 목적하는 포토레지스트 패턴의 선폭 등에 의해 다양하게 변경될 수 있으며, 이들에 의해 본 발명의 범 위가 제한되지는 않을 것이다.The temperature ranges of the bake processes and photoresist reflow process described above can be varied in various ways depending on the photoresist composition and antireflective material used and the linewidth of the desired photoresist pattern, thereby limiting the scope of the invention. The above will not be limited.
상기에서 설명된 공정들은 하나의 반도체 기판에 대하여 순차적으로 수행될 수 있으며, 다수의 반도체 기판들에 대하여 동시에 수행될 수 있다. 상기 공정들이 수행되는 동안 상기 상부 및 하부 메인 로봇들(310, 320)의 동작은 로봇 제어부(330)에 의해 서로 간섭되지 않도록 제어될 수 있으며, 상기 열처리 유닛들(232, 234)의 챔버 내측 로봇들(246)은 상기 상부 및 하부 메인 로봇들(310, 320)의 부하를 감소시킬 수 있다. 또한, 상기 상부 및 하부 메일 로봇들(310, 320)의 부하는 상기 제1 및 제2 보조 이송 로봇들(610, 710)에 의해 충분히 감소될 수 있다.The processes described above may be sequentially performed on one semiconductor substrate, and may be simultaneously performed on a plurality of semiconductor substrates. The operations of the upper and lower
상기와 같은 본 발명에 따르면, 상기 기판 처리 장치 내에서 다수의 반도체 기판들에 대한 코팅 공정, 베이크 공정, 현상 공정, 냉각 공정 등이 수행되는 동안 상기 상부 및 하부 메인 로봇들에 대한 부하는 상기 제1 및 제2 보조 이송 로봇들 및 상기 열처리 유닛들의 챔버 내측 로봇들에 의해 감소될 수 있다.According to the present invention as described above, the load on the upper and lower main robots during the coating process, the baking process, the developing process, the cooling process, etc. for a plurality of semiconductor substrates in the substrate processing apparatus is performed. It can be reduced by the first and second auxiliary transfer robots and the robots inside the chamber of the heat treatment units.
또한, 상기 제1 처리 블록의 중앙 단위 블록의 구성은 공정 레시피에 따라 다양하게 변경될 수 있으며, 각각의 열처리 유닛들 내에서 가열 플레이트에 의한 베이크 공정 또는 포토레지스트 리플로우 공정 및 냉각 플레이트에 의한 냉각 처리가 동시에 또는 연속적으로 수행될 수 있다. 이에 따라, 상기 기판 처리 장치의 쓰루풋이 크게 향상될 수 있다.In addition, the configuration of the central unit block of the first processing block may be variously changed according to the process recipe, the baking process by the heating plate or the photoresist reflow process and cooling by the cooling plate in each heat treatment unit The treatment may be performed simultaneously or sequentially. Accordingly, the throughput of the substrate processing apparatus can be greatly improved.
추가적으로, 액침 노광 공정이 수행된 반도체 기판을 세정 및 건조 처리함으로써 상기 반도체 기판 상에 물반점이 생성되는 것이 방지될 수 있다. 따라서, 상 기 반도체 기판 상에 형성되는 포토레지스트 패턴의 불량을 감소시킬 수 있다.Additionally, water spots may be prevented from being generated on the semiconductor substrate by cleaning and drying the semiconductor substrate on which the liquid immersion exposure process is performed. Therefore, the defect of the photoresist pattern formed on the semiconductor substrate can be reduced.
상기에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.Although described above with reference to a preferred embodiment of the present invention, those skilled in the art will be variously modified and changed within the scope of the invention without departing from the spirit and scope of the invention described in the claims below I can understand that you can.
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