KR20080051599A - Apparatus for measuring optical characteristics of liquid crystal panel - Google Patents

Apparatus for measuring optical characteristics of liquid crystal panel Download PDF

Info

Publication number
KR20080051599A
KR20080051599A KR1020060123033A KR20060123033A KR20080051599A KR 20080051599 A KR20080051599 A KR 20080051599A KR 1020060123033 A KR1020060123033 A KR 1020060123033A KR 20060123033 A KR20060123033 A KR 20060123033A KR 20080051599 A KR20080051599 A KR 20080051599A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
liquid crystal
crystal panel
polarizer
polarizing plate
unit
Prior art date
Application number
KR1020060123033A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR101318439B1 (en
Inventor
조명훈
김성주
김민중
김용진
이승우
이건희
임지철
Original Assignee
엘지디스플레이 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 엘지디스플레이 주식회사 filed Critical 엘지디스플레이 주식회사
Priority to KR1020060123033A priority Critical patent/KR101318439B1/en
Publication of KR20080051599A publication Critical patent/KR20080051599A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR101318439B1 publication Critical patent/KR101318439B1/en

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/892Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
    • G01N21/896Optical defects in or on transparent materials, e.g. distortion, surface flaws in conveyed flat sheet or rod
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/958Inspecting transparent materials or objects, e.g. windscreens
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306Details
    • G02F1/1309Repairing; Testing

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Textile Engineering (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Abstract

An apparatus for measuring optical characteristics of a liquid crystal panel is provided to easily measure black luminance by precisely rotating upper and lower polarizing plates at once. An apparatus(200) for measuring optical characteristics of a liquid crystal panel includes a panel array unit(210), a lower polarizing plate array unit(220), an upper polarizing plate array unit(230), a backlight loading unit(240), camera units(260,270), and a light detector(250). The panel array unit loads a liquid crystal panel(110) marked with an array mark. The lower and upper polarized array units are provided in a lower part and an upper part of the liquid crystal panel, respectively and array a lower polarizing plate(120) and an upper polarizing plate(130), respectively. The backlight loading unit provides light passing through the lower and upper polarizing plates, and the liquid crystal panel. The camera units acquire an array mark image of each of the liquid crystal panel, and the upper and lower liquid crystal panels. The light detector detects the light passing through the upper and lower liquid crystal panels, and the liquid crystal panel.

Description

액정 패널의 광학 특성 측정 장치 {Apparatus for measuring optical characteristics of liquid crystal panel}Apparatus for measuring optical characteristics of liquid crystal panel

도 1은 일반적인 액정 패널의 구성을 개략적으로 나타내는 도면이다.1 is a view schematically showing a configuration of a general liquid crystal panel.

도 2는 종래의 기술에 따른 액정 표시장치용 편광판의 편광 방향 측정 장치의 구성도이다.2 is a configuration diagram of a polarization direction measuring device of a polarizing plate for a liquid crystal display according to the related art.

도 3은 본 발명의 실시예에 따른 액정 패널의 광학 특성 측정 원리를 설명하기 위한 도면이다.3 is a view for explaining a principle of measuring optical characteristics of a liquid crystal panel according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 4는 본 발명의 실시예에 따른 액정 패널의 광학 특성 측정 장치의 구성도이다.4 is a configuration diagram of an optical property measuring apparatus of a liquid crystal panel according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 5는 본 발명의 실시예에 따른 카메라 제어 시스템의 개략적인 구성도이다.5 is a schematic diagram of a camera control system according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 6은 본 발명의 실시예에 따른 동면 스테이지를 나타내는 도면이다.6 is a diagram illustrating a hibernating stage according to an embodiment of the present invention.

도 7a는 액정 패널에 형성된 정렬마크를 카메라를 이용하여 영상을 획득하는 것을 나타내는 도면이고, 도 7b는 도 4의 카메라 유닛을 나타내는 도면이다.FIG. 7A is a diagram illustrating obtaining an image using a camera using an alignment mark formed on the liquid crystal panel, and FIG. 7B is a diagram illustrating the camera unit of FIG. 4.

도 8은 도 4의 상부 편광판 정렬 유닛을 나타내는 도면이다.FIG. 8 is a diagram illustrating the upper polarizer alignment unit of FIG. 4.

<도면의 주요 부분에 관한 부호의 설명><Explanation of symbols on main parts of the drawings>

110: 액정 패널 120: 하부 편광판110: liquid crystal panel 120: lower polarizing plate

130: 상부 편광판 140: 백라이트 유닛130: upper polarizing plate 140: backlight unit

150, 150' 휘도계 160, 170: 카메라 유닛150, 150 'luminance meter 160, 170: camera unit

111, 112: 정렬마크 200: 광학 특성 측정 장치111, 112: alignment mark 200: optical property measuring apparatus

210: 패널 정렬 유닛 220: 하부 편광판 정렬 유닛210: panel alignment unit 220: lower polarizer alignment unit

230: 상부 편광판 정렬 유닛 240: 백라이트 로딩 유닛230: upper polarizer alignment unit 240: backlight loading unit

250: 동면 스테이지 250: hibernation stage

본 발명은 액정 표시장치에 관한 것으로, 보다 구체적으로, 액정 패널의 광학 특성 측정 장치에 관한 것이다.TECHNICAL FIELD The present invention relates to a liquid crystal display device, and more particularly, to an optical property measuring apparatus of a liquid crystal panel.

일반적으로, 액정 표시장치(LCD)는 액정 분자의 광학적 이방성과 복굴절 특성을 이용하여 화상을 표현하는 장치이다. 액정 표시장치는 전계 생성 전극이 각각 형성되어 있는 두 기판을 두 전극이 형성되어 있는 면이 마주 대하도록 배치하고, 두 기판 사이에 액정 물질을 주입하며, 이후, 두 전극에 전압을 인가하여 생성되는 전기장에 의해 상기 액정 분자 배열을 변경시키고, 이를 통하여 투명 절연 기판에 투과되는 빛의 양을 조절함으로써, 원하는 화상을 표현하게 된다.In general, a liquid crystal display (LCD) is an apparatus that expresses an image by using optical anisotropy and birefringence characteristics of liquid crystal molecules. In the liquid crystal display, two substrates on which the field generating electrodes are formed are disposed so that the surfaces on which the two electrodes are formed face each other, a liquid crystal material is injected between the two substrates, and then a voltage is applied to the two electrodes. By changing the arrangement of the liquid crystal molecules by the electric field, and by controlling the amount of light transmitted through the transparent insulating substrate, the desired image is expressed.

도 1은 일반적인 액정 패널의 구성을 개략적으로 나타내는 도면이다.1 is a view schematically showing a configuration of a general liquid crystal panel.

도 1을 참조하면, 액정 표시장치 내에 구비되는 일반적인 액정 패널은, 제1 기판(10), 제2 기판(20), 액정층(30), 제1 편광판(50), 제2 편광판(60) 및 백라이 트 유닛(40)을 구비하며, 제1 배향막(15) 및 제2 배향막(25)이 각각 제1 기판(10)과 제2 기판(20) 상에 러빙 방식으로 형성된다.Referring to FIG. 1, a general liquid crystal panel included in the liquid crystal display includes a first substrate 10, a second substrate 20, a liquid crystal layer 30, a first polarizing plate 50, and a second polarizing plate 60. And a backlight unit 40, and the first alignment layer 15 and the second alignment layer 25 are formed on the first substrate 10 and the second substrate 20 in a rubbing manner, respectively.

도 1의 구조는 앤티-패러렐(anti-parallel) 배향되어 있는 액정 패널 구조로서, 횡전계(In-Plane Switching: IPS) 방식의 액정 패널 또는 ECB(Electrically Controllable Birefringence) 액정 패널 등이 이와 같은 구조를 갖고 있다. 이때, 제1 편광판(50) 및 제2 편광판(60)은 크로스-니콜(cross-nicol) 방식으로 배치된다.The structure of FIG. 1 is an anti-parallel oriented liquid crystal panel structure, such as an in-plane switching (IPS) liquid crystal panel or an electrically controlled liquid crystal panel (ECB) liquid crystal panel. Have In this case, the first polarizing plate 50 and the second polarizing plate 60 are arranged in a cross-nicol manner.

도 1은 실제로 각각의 매질들이 모두 접촉되어 있으나, 편의상 분리시켜 표현한 것이며, 이때, LCD의 광학 특성을 결정하는 것은 액정 배향층(15, 25)의 배향 방향과 편광판(50, 60)의 편광 방향이다. 이들의 조합에 의해 광학 특성이 결정되므로, 정확한 배향 방향과 정확한 편광 방향, 즉, 배향축과 편광축을 알아야 할 필요가 있다.1 illustrates that the respective media are actually in contact with each other, but is expressed separately for convenience. In this case, the optical characteristics of the LCD may be determined by the alignment directions of the liquid crystal alignment layers 15 and 25 and the polarization directions of the polarizers 50 and 60. to be. Since the optical properties are determined by the combination thereof, it is necessary to know the exact alignment direction and the correct polarization direction, that is, the alignment axis and the polarization axis.

다시 말하면, 광을 편광시키기 위한 제1 편광판(50) 및 제2 편광판(60)의 편광 조건에 따라 액정 표시장치의 특성이 크게 달라지기 때문에, 이에 대한 최적 설계가 필요하며, 또한 편광판(50, 60)의 정확한 편광 방향을 알고 있어야만 한다.In other words, since the characteristics of the liquid crystal display device vary greatly according to the polarization conditions of the first polarizing plate 50 and the second polarizing plate 60 for polarizing light, an optimum design thereof is required, and the polarizing plate 50, The exact polarization direction of 60) must be known.

여기서, 제1 편광판(50)은 편광자(polarizer)라 하고, 제2 편광판(60)은 검광자(analyzer)라 하기도 한다. 상기 편광자(50)와 검광자(60)의 편광 방향이 정확하게 제어되지 않을 경우, 액정 표시장치 내의 액정층을 정확하게 제어할 수 없게 되므로, 액정 표시장치의 화질에 심각한 영향을 미치게 된다.The first polarizer 50 may be referred to as a polarizer, and the second polarizer 60 may be referred to as an analyzer. If the polarization directions of the polarizer 50 and the analyzer 60 are not accurately controlled, the liquid crystal layer in the liquid crystal display device cannot be accurately controlled, which seriously affects the image quality of the liquid crystal display device.

한편, 도 2는 종래의 기술에 따른 액정 표시장치용 편광판의 편광 방향 측정 장치의 구성도로서, 액정 패널의 광학 특성 중에서 편광판의 편광 방향을 측정하는 것을 나타낸다.2 is a block diagram of the polarization direction measuring device of the polarizing plate for liquid crystal display according to the prior art, which shows the measurement of the polarization direction of the polarizing plate among the optical properties of the liquid crystal panel.

도 2를 참조하면, 종래의 기술에 따른 액정 표시장치용 편광판의 편광 방향 측정 장치는, 광원(71), 제1 편광판(72), 측정시료 홀더(73), 측정시료(74) 및 광검출기(75)로 구성되며, 광원(71)으로부터 광이 제공되며, 제1 편광판(72) 및 측정시료(74)를 통과한 광량을 광검출기(75)가 검출하는 구조를 갖는다.Referring to FIG. 2, a polarization direction measuring apparatus of a polarizing plate for a liquid crystal display according to the related art includes a light source 71, a first polarizing plate 72, a measurement sample holder 73, a measurement sample 74, and a photodetector. It consists of 75, light is provided from the light source 71, and the photodetector 75 detects the quantity of light which passed the 1st polarizing plate 72 and the measurement sample 74.

도 2를 참조하면, 종래의 기술에 따른 편광 방향을 결정하기 위해서, 편광 방향을 정확하게 알고 있는 제1 편광판(72)과 기준축에 대해 측정시료(74)를 정확하게 거치할 수 있는 측정시료 홀더(73)가 필요하다. 즉, 제1 편광판(72)의 편광 방향에 대해 소정 각도만큼 기울어져 있는 측정시료 홀더(73)의 기준면을 따라서 측정시료(74)를 거치한 후, 측정시료(74)를 방위각 방향으로 회전시킨다. 이때, 광검출기(75)에서 검출되는 광량이 최소가 되는 회전각을 찾음으로써, 상기 측정시료(74)가 기준면으로부터 편광 방향이 얼마만큼 틀어져 있는지 찾을 수 있다.Referring to FIG. 2, in order to determine the polarization direction according to the related art, a measurement sample holder capable of accurately mounting the measurement sample 74 with respect to the first polarizing plate 72 and the reference axis that accurately knows the polarization direction ( 73) is required. That is, after passing the measurement sample 74 along the reference plane of the measurement sample holder 73 inclined by a predetermined angle with respect to the polarization direction of the first polarizing plate 72, the measurement sample 74 is rotated in the azimuth direction. . At this time, by finding the rotation angle of the minimum amount of light detected by the photodetector 75, it can be found how much the polarization direction of the measurement sample 74 is distorted from the reference plane.

그러나, 종래 기술에 따른 편광 방향 측정 방법은 측정시료의 정확한 편광 방향을 알 수 있다는 장점이 있지만, 기준이 되는 제1 편광판의 편광 방향을 정확하게 알고 있어야 하는 것과 동시에 측정시료를 거치할 때 측정시료의 절단면을 일치시킨 측정시료 홀더의 기준축도 정확하게 알고 있어야 한다. 즉, 기준이 되는 제1 편광판의 정확한 편광 방향과, 측정시료를 정확하게 거치시킬 수 있는 측정시료 홀더의 기준면인 기준축을 모두 알고 있어야만 측정시료의 편광 방향을 정확하게 측정할 수 있다.However, the polarization direction measuring method according to the prior art has an advantage in that it is possible to know the exact polarization direction of the measurement sample. The reference axis of the sample holder with the cutting plane coincided is also known correctly. That is, the polarization direction of the measurement sample can be accurately measured only if both the correct polarization direction of the first polarizing plate as a reference and the reference axis, which is a reference plane of the measurement sample holder that can accurately mount the measurement sample, are known.

한편, 종래 기술에 따르면, 휘도계 자체 프로브에 편광판을 부착함으로써, 편광판의 회전에 의해서 휘도를 측정할 수 있었다. 이와 같이 휘도를 측정하는 휘도계는 있었지만, 블랙 휘도를 정확하게 측정할 수 있는 장비는 없는 실정이다.On the other hand, according to the prior art, by attaching the polarizing plate to the luminance meter itself probe, the luminance could be measured by the rotation of the polarizing plate. Although there was a luminance meter for measuring the luminance as described above, there is no equipment that can accurately measure the black luminance.

또한, 종래 기술에 따르면, 편광판과 액정 패널을 측정자가 눈으로 정렬하기 때문에 편광판과 액정 패널을 정확하게 정렬시킬 수 없었고, 특히, 각 측정자가 측정한 블랙 휘도값의 편차가 크게 나타났다. 즉, 종래에는 측정된 블랙 휘도값이 정확한 블랙 휘도값인지 검증하기 어렵다는 문제점이 있다. 또한, 편광판의 회전도 측정자가 수행하기 때문에 측정자 자신이 측정한 값이 정확하게 몇 도를 회전시켜서 얻은 데이터인지 확인하기 어렵다는 문제점이 있었다.Further, according to the prior art, the polarizer and the liquid crystal panel could not be accurately aligned because the polarizer and the liquid crystal panel were aligned by the eye, and in particular, the deviation of the black luminance value measured by each of the measurers was large. That is, conventionally, it is difficult to verify whether the measured black luminance value is an accurate black luminance value. In addition, since the degree of rotation of the polarizer is performed by the measurer, there is a problem in that it is difficult to confirm whether the value measured by the measurer is data obtained by accurately rotating a few degrees.

본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는, 액정 패널 및 편광판을 정확하게 정렬함으로써 액정 패널의 광학 특성을 정밀하게 측정할 수 있는 액정 패널의 광학 특성 측정 장치를 제공하기 위한 것이다.An object of the present invention is to provide an optical characteristic measuring apparatus for a liquid crystal panel capable of precisely measuring the optical characteristics of the liquid crystal panel by accurately aligning the liquid crystal panel and the polarizing plate.

본 발명이 이루고자 하는 다른 기술적 과제는, 편광판과 액정 패널의 정렬 오류에 따른 블랙 휘도의 왜곡을 제거할 수 있는 액정 패널의 광학 특성 측정 장치를 제공하기 위한 것이다.Another object of the present invention is to provide an apparatus for measuring optical characteristics of a liquid crystal panel capable of removing distortion of black luminance due to misalignment of a polarizing plate and a liquid crystal panel.

본 발명이 이루고자 하는 다른 기술적 과제는, 상부 및 하부 편광판을 다양한 각도로 회전시켜 휘도를 측정함으로써, 액정의 블랙 휘도, 액정의 광축 또는 편광판의 광축을 용이하게 측정할 수 있는 액정 패널의 광학 특성 측정 장치를 제공하기 위한 것이다.Another technical problem to be achieved by the present invention is to measure the luminance by rotating the upper and lower polarizers at various angles, thereby measuring the optical characteristics of the liquid crystal panel that can easily measure the black luminance of the liquid crystal, the optical axis of the liquid crystal, or the optical axis of the polarizing plate. It is for providing a device.

본 발명의 목적들은 이상에서 언급한 목적으로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 목적들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다. The objects of the present invention are not limited to the above-mentioned objects, and other objects which are not mentioned will be clearly understood by those skilled in the art from the following description.

상기 기술적 과제를 달성하기 위한 수단으로서, 본 발명에 따른 액정 패널의 광학 특성 측정 장치는, 정렬마크가 새겨진 액정 패널을 로딩하는 패널 정렬 유닛; 상기 액정 패널의 하부에 배치되는 하부 편광판을 정렬하기 위한 하부 편광판 정렬 유닛; 상기 액정 패널의 상부에 배치되는 상부 편광판을 정렬하기 위한 상부 편광판 정렬 유닛; 상기 하부 편광판, 상기 액정 패널 및 상기 상부 편광판을 경유하는 광을 제공하는 백라이트 로딩 유닛; 상기 액정 패널, 상부 편광판 및 하부 편광판 각각의 정렬마크 영상을 획득하기 위한 카메라 유닛; 및 상기 하부 편광판, 상기 액정 패널 및 상기 상부 편광판을 경유하는 광을 검출하는 광 검출기를 포함하여 구성된다.As a means for achieving the above technical problem, the optical property measuring apparatus of the liquid crystal panel according to the present invention, the panel alignment unit for loading the liquid crystal panel engraved alignment mark; A lower polarizer alignment unit for aligning a lower polarizer disposed under the liquid crystal panel; An upper polarizer alignment unit for aligning an upper polarizer disposed on the liquid crystal panel; A backlight loading unit configured to provide light passing through the lower polarizer, the liquid crystal panel, and the upper polarizer; A camera unit for acquiring an alignment mark image of each of the liquid crystal panel, the upper polarizer and the lower polarizer; And a photo detector for detecting light passing through the lower polarizer, the liquid crystal panel, and the upper polarizer.

여기서, 상기 하부 편광판 및 상부 편광판은 각각 정렬마크가 새겨진 글래스 기판 상에 부착되는 것을 특징으로 한다.Here, the lower polarizing plate and the upper polarizing plate are each characterized in that attached to the glass substrate engraved alignment mark.

여기서, 본 발명에 따른 액정 패널의 광학 특성 측정 장치는 상기 패널 정렬 유닛, 상기 상부 편광판 정렬 유닛 및 상기 하부 편광판 정렬 유닛 각각은 상기 액정 패널, 상기 상부 편광판 및 상기 하부 편광판 각각 이동 및 회전시키기 위한 동면 스테이지를 추가로 포함할 수 있다.Here, in the optical property measuring apparatus of the liquid crystal panel according to the present invention, each of the panel alignment unit, the upper polarizer alignment unit, and the lower polarizer alignment unit may be the same surface for moving and rotating the liquid crystal panel, the upper polarizer, and the lower polarizer, respectively. It may further comprise a stage.

여기서, 상기 동면 스테이지는 상기 액정 패널, 상기 상부 편광판 및 상기 하부 편광판 각각을 안착하기 위한 로딩 지그를 구비한다.Here, the hibernate stage includes a loading jig for mounting each of the liquid crystal panel, the upper polarizer and the lower polarizer.

여기서, 상기 동면 스테이지는 1개의 X축 스테핑 모터, 2개의 Y축 스테핑 모터를 구비하여, X축, Y축 및 Θ축으로 보정이 가능한 것을 특징으로 한다.Here, the hibernating stage is provided with one X-axis stepping motor and two Y-axis stepping motors, characterized in that the X-axis, Y-axis and Θ axis can be corrected.

여기서, 상기 액정 패널의 동면 스테이지는 액정 표시장치 모델의 크기에 대응하여 로딩 플레이트 및 액정 패널을 동시에 로딩하는 것을 특징으로 한다.Here, the hibernation stage of the liquid crystal panel may simultaneously load the loading plate and the liquid crystal panel corresponding to the size of the liquid crystal display model.

여기서, 상기 패널 정렬 유닛, 상기 상부 편광판 및 상기 하부 편광판 각각은 휘도 측정 영역을 고려하여 개구부가 형성된 것을 특징으로 하며, 상기 개구부는 상기 백라이트 로딩 유닛에 안착된 백라이트로부터 제공되는 광을 통과시키는 것을 특징으로 한다.Here, each of the panel alignment unit, the upper polarizing plate and the lower polarizing plate is characterized in that the opening is formed in consideration of the luminance measurement area, the opening is characterized in that passing through the light provided from the backlight seated in the backlight loading unit. It is done.

여기서, 상기 패널 정렬 유닛은 상기 액정 패널 로딩시, 상기 광검출기 및 카메라 유닛의 로딩 확보를 위해 후방으로 회피되는 구조를 갖는 것을 특징으로 한다.In this case, the panel alignment unit is characterized in that it has a structure that is avoided to the rear to secure the loading of the photodetector and the camera unit when the liquid crystal panel loading.

여기서, 상기 하부 편광판 정렬 유닛은 상기 하부 편광판이 탑재되는 부분은 상기 백라이트 로딩 유닛의 상부에 배치되고, 상기 하부 편광판의 위치를 조정하는 부분은 상기 백라이트 로딩 유닛 하부에 배치되는 것을 특징으로 한다.Here, the lower polarizing plate alignment unit is a portion on which the lower polarizing plate is mounted is disposed on the upper portion of the backlight loading unit, the portion for adjusting the position of the lower polarizing plate is characterized in that disposed under the backlight loading unit.

여기서, 상기 하부 편광판 정렬 유닛은 조정 볼트(Bolt)를 사용하여 상기 하부 편광판 높이를 조정하는 것을 특징으로 한다.Here, the lower polarizer alignment unit is characterized in that for adjusting the height of the lower polarizer using an adjustment bolt (Bolt).

여기서, 상기 하부 편광판 정렬 유닛은 상기 하부 편광판을 -10도에서 +10도까지 회전시키고, 상기 하부 편광판을 0.01도씩 회전시키는 것을 특징으로 한다.The lower polarizer alignment unit may rotate the lower polarizer from -10 degrees to +10 degrees, and rotate the lower polarizer by 0.01 degrees.

여기서, 상기 상부 편광판 정렬 유닛은 상기 상부 편광판이 탑재되는 부분은 상기 광 검출기 하부에 배치되지만, 상기 상부 편광판의 위치를 조정하는 부분은 상기 광 검출기 상부에 배치되는 것을 특징으로 한다.Here, the upper polarizing plate alignment unit is a portion on which the upper polarizing plate is mounted is disposed under the photo detector, the portion for adjusting the position of the upper polarizing plate is characterized in that disposed on the upper photo detector.

여기서, 상기 상부 편광판 정렬 유닛은 상기 상부 편광판을 0도에서 90도까지 회전시키고, 상기 상부 편광판을 0.01도씩 회전시키는 것을 특징으로 한다.The upper polarizer alignment unit may rotate the upper polarizer from 0 degrees to 90 degrees, and rotate the upper polarizer by 0.01 degrees.

여기서, 상기 카메라는 CCD(Charge Coupled Device) 카메라 또는 CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor) 카메라인 것을 특징으로 한다.The camera may be a charge coupled device (CCD) camera or a complementary metal oxide semiconductor (CMOS) camera.

여기서, 본 발명에 따른 액정 패널의 광학 특성 측정 장치는, 상기 카메라로부터 획득된 정렬마크 영상을 제어, 분석 및 모니터링하기 위한 카메라 제어 시스템을 추가로 구비할 수 있다.Here, the optical property measuring apparatus of the liquid crystal panel according to the present invention may further include a camera control system for controlling, analyzing and monitoring the alignment mark image obtained from the camera.

여기서, 상기 카메라 제어 시스템은, 상기 카메라로부터 획득된 정렬마크 영상을 수신하여 제어 또는 분석하기 위한 제어부; 및 상기 수신된 영상을 출력하는 모니터를 포함할 수 있다.Here, the camera control system, the control unit for receiving and controlling or analyzing the alignment mark image obtained from the camera; And a monitor outputting the received image.

여기서, 상기 광검출기는, 포토-디텍터(Photo Dector) 또는 휘도계인 것을 특징으로 한다.The photodetector may be a photo detector or a luminance meter.

기타 실시예들의 구체적인 사항들은 상세한 설명 및 도면들에 포함되어 있다. 본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있을 것이며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하 고 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것으로, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다.Specific details of other embodiments are included in the detailed description and the drawings. Advantages and features of the present invention and methods for achieving them will be apparent with reference to the embodiments described below in detail with the accompanying drawings. However, the present invention is not limited to the embodiments disclosed below, but may be embodied in various forms, and the present embodiments are merely common to those skilled in the art to which the present disclosure is completed and to which the present invention pertains. It is provided to inform those skilled in the art to the fullest extent of the invention, the invention being defined only by the scope of the claims.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 액정 패널의 광학 특성 측정 장치를 상세히 설명한다.Hereinafter, an optical characteristic measuring apparatus of a liquid crystal panel according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

최근 액정 패널의 요구 사양(Specification)이 높아짐에 따라 액정 패널의 대비비(Contrast Ratio: CR)의 요구 사양 또한 높아지게 되었다. 이로 인해 블랙 휘도를 측정하여 이를 반영해야 할 필요성이 대두되었다. As the specification of the liquid crystal panel has recently increased, so has the requirement of the contrast ratio (CR) of the liquid crystal panel. This necessitates the need to measure and reflect black luminance.

여기서, 대비비는 CR = (화이트 휘도/블랙 휘도)로 주어지는데, 실질적으로 휘도(Brightness)라는 용어는 일정한 넓이를 가진 광원 또는 빛의 반사체 표면의 밝기를 나타내는 양을 말한다.Here, the contrast ratio is given by CR = (white luminance / black luminance), and the term brightness substantially refers to the amount representing the brightness of the reflector surface of a light source or light having a constant width.

LCD에서 사용되는 화이트 휘도 및 블랙 휘도라는 용어는 액정 패널 상부 및 하부에 부착되는 편광판이 백라이트 조명에 의해 가장 밝게 빛을 낼 때가 화이트 휘도이고, 가장 어둡게 빛을 낼 때가 블랙 휘도인 것으로 사용되고 있다. 통상적으로, 상부 및 하부 편광판이 같은 방향으로 부착되어 있을 때, 가장 밝고, 서로 90도 엇갈려 있을 때 가장 어둡다.The terms white luminance and black luminance used in LCDs are used as white luminance when the polarizers attached to the upper and lower parts of the liquid crystal panel emit the brightest light by backlight illumination, and black luminance when the darkest light is emitted. Typically, when the upper and lower polarizers are attached in the same direction, they are the brightest and darkest when they are 90 degrees staggered from each other.

본 발명의 실시예는 액정 패널의 광학 특성, 예를 들면, 액정의 블랙 휘도, 액정의 광축 또는 편광판의 광축(편광 방향)을 정밀하게 측정하기 위해 제작된 장치로서, 본 발명에 실시예에 따른 액정 패널의 광학 특성 측정 장치는, 편광판 스테이지(Stage)의 정밀 회전 기능 및 편광판과 액정 패널간의 정밀 정렬 기능을 보 유하고 있다.An embodiment of the present invention is a device manufactured for precisely measuring the optical characteristics of the liquid crystal panel, for example, the black brightness of the liquid crystal, the optical axis of the liquid crystal, or the optical axis (polarization direction) of the polarizing plate, according to an embodiment of the present invention. The optical characteristic measuring apparatus of a liquid crystal panel has the precision rotation function of a polarizing plate stage, and the precision alignment function between a polarizing plate and a liquid crystal panel.

도 3은 본 발명의 실시예에 따른 액정 패널의 광학 특성 측정 원리를 설명하기 위한 도면이다.3 is a view for explaining a principle of measuring optical characteristics of a liquid crystal panel according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 3을 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 액정 패널의 광학 특성을 측정하기 위해서, 액정 패널(110), 하부 편광판(120), 상부 편광판(130), 백라이트 유닛(140), 휘도계(150), 제1 및 제2 CCD 카메라(160, 170)가 구비된다.Referring to FIG. 3, in order to measure optical characteristics of the liquid crystal panel according to the exemplary embodiment of the present invention, the liquid crystal panel 110, the lower polarizer 120, the upper polarizer 130, the backlight unit 140, and the luminance meter ( 150, first and second CCD cameras 160 and 170 are provided.

액정 패널(110)은 투명한 절연 글래스 기판 상의 좌우측에 정렬마크가 형성되어 있다. 여기서, 정렬마크는 통상적으로 +자 형태로서, 액정 패널(110)의 화소 영역이 아닌 비표시부 상에 형성된다.The liquid crystal panel 110 has alignment marks formed on the left and right sides of the transparent insulating glass substrate. Here, the alignment mark is generally formed in a + character shape and is formed on the non-display portion of the liquid crystal panel 110 rather than the pixel area.

하부 편광판(120)은 상기 액정 패널(110)의 하부에 배치되며, 상기 액정 패널(110) 정렬마크에 대응하여 서로 정렬하기 위한 정렬마크가 형성된다.The lower polarizer 120 is disposed below the liquid crystal panel 110, and alignment marks for aligning each other are formed to correspond to the alignment marks of the liquid crystal panel 110.

상부 편광판(130)은 상기 액정 패널(110)의 상부에 배치되며, 마찬가지로 상기 액정 패널(110)의 정렬마크에 대응하여 서로 정렬하기 위한 정렬마크가 형성된다.The upper polarizing plate 130 is disposed above the liquid crystal panel 110, and similarly, alignment marks for aligning each other are formed to correspond to the alignment marks of the liquid crystal panel 110.

상기 액정 패널(110)의 정렬마크, 하부 편광판(120)의 정렬마크, 및 상부 편광판(130)의 정렬마크는 동일한 표시일 수 있지만, 이에 국한되는 것은 아니며, 상기 액정 패널(110)의 정렬마크를 기준으로, 각각 상기 하부 편광판(120) 및 상부 편광판(130)의 정렬마크가 정렬된다.The alignment mark of the liquid crystal panel 110, the alignment mark of the lower polarizer 120, and the alignment mark of the upper polarizer 130 may be the same display, but are not limited thereto. Based on the alignment marks of the lower polarizer 120 and the upper polarizer 130, respectively.

백라이트 유닛(140)은 광원으로서, 상기 하부 편광판(120), 액정 패널(110) 및 상부 편광판(130)을 경유하는 광을 제공한다.The backlight unit 140 is a light source and provides light passing through the lower polarizer 120, the liquid crystal panel 110, and the upper polarizer 130.

휘도계(150)는 광검출기의 일종으로서, 상기 하부 편광판(120), 액정 패널(110) 및 상부 편광판(130)을 경유하는 상기 백라이트 유닛(140)의 광을 검출한다. 상기 휘도계(150)는 휘도계 프로브와 휘도계 본체(150')로 이루어질 수 있다. 또한, 상기 휘도계(150) 대신에 포토 디텍터가 사용될 수 있다.The luminance meter 150 is a kind of photodetector and detects light of the backlight unit 140 via the lower polarizer 120, the liquid crystal panel 110, and the upper polarizer 130. The luminance meter 150 may include a luminance probe and a luminance main body 150 ′. In addition, a photo detector may be used instead of the luminance meter 150.

제1 및 제2 전하결합소자(Charge Coupled Device: CCD) 카메라(160, 170)는 상기 액정 패널(110) 및 상기 하부 및 상부 편광판(120, 130) 간의 정렬마크 영상을 획득하게 된다. 여기서, 상기 CCD 카메라(160, 170) 대신에 CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor) 카메라가 사용될 수 있다.First and second charge coupled device (CCD) cameras 160 and 170 acquire an alignment mark image between the liquid crystal panel 110 and the lower and upper polarizers 120 and 130. A CMOS (Complementary Metal Oxide Semiconductor) camera may be used instead of the CCD cameras 160 and 170.

따라서, 상기 액정 패널(110) 및 상기 하부 및 상부 편광판(120, 130)은 상기 획득된 정렬마크 영상에 따라 각각의 위치가 정렬된다.Therefore, the positions of the liquid crystal panel 110 and the lower and upper polarizers 120 and 130 are aligned according to the obtained alignment mark image.

구체적으로, 상기 제1 및 제2 CCD 카메라(160, 170)에 의해 획득된 영상은, 카메라 제어 시스템의 제어에 따르게 되며, 예를 들면, 획득된 정렬마크 영상이 모니터 상에 출력되고, 측정자는 모니터 상의 화면에 따라 상기 액정 패널(110), 하부 편광판(120) 및 상부 편광판(130)을 이동시키거나 회전시킴으로써, 서로 정렬하게 된다.Specifically, the images acquired by the first and second CCD cameras 160 and 170 are controlled by the camera control system. For example, the acquired alignment mark images are output on the monitor, and the measurer The liquid crystal panel 110, the lower polarizer 120, and the upper polarizer 130 are moved or rotated according to the screen on the monitor to be aligned with each other.

본 발명의 실시예에서, 편광판(120, 130)과 액정 패널(110)간의 정렬을 제1 및 제2 CCD 카메라(160, 170)를 이용하여 수행함으로써, 측정된 광학 특성값의 정확도를 보장할 수 있다.In an embodiment of the present invention, alignment between the polarizers 120 and 130 and the liquid crystal panel 110 is performed by using the first and second CCD cameras 160 and 170 to ensure the accuracy of the measured optical characteristic values. Can be.

한편, 도 4는 본 발명의 실시예에 따른 액정 패널의 광학 특성 측정 장치의 구성도이다.4 is a configuration diagram of an optical characteristic measuring apparatus of a liquid crystal panel according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 3 및 도 4를 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 액정 패널의 광학 특성 측정 장치는, 패널 정렬 유닛(210), 하부 편광판 정렬 유닛(220), 상부 편광판 정렬 유닛(230), 백라이트 로딩 유닛(240), 광 검출기(250), 제1 및 제2 카메라 유닛(260, 270)을 포함하여 구성된다. 또한, 상기 카메라(160, 170)가 구비된 카메라 유닛(260, 270)을 통해 획득되는 영상을 제어, 분석 및 모니터링하는 카메라 제어 시스템이 부가적으로 형성될 수 있다.3 and 4, an optical property measuring apparatus of a liquid crystal panel according to an exemplary embodiment of the present invention includes a panel alignment unit 210, a lower polarizer alignment unit 220, an upper polarizer alignment unit 230, and backlight loading. And a unit 240, a photo detector 250, and first and second camera units 260 and 270. In addition, a camera control system for controlling, analyzing, and monitoring an image acquired through the camera units 260 and 270 having the cameras 160 and 170 may be additionally formed.

패널 정렬 유닛(210)은 정렬마크가 새겨진 액정 패널(110)을 로딩하기 위한 것으로, 패널 정렬 유닛은 X, Y 및 Θ 방향으로 이동하는 동면 스테이지로 구성되며, 상기 동면 스테이지는 각각의 LCD 모델의 크기에 대응하여 로딩 플레이트(Plate) 및 액정 패널(110)을 동시에 로딩할 수 있는 구조로 구성된다.The panel alignment unit 210 is for loading the liquid crystal panel 110 with the alignment mark engraved thereon. The panel alignment unit is configured with hibernating stages moving in the X, Y, and Θ directions, and the hibernation stages of each LCD model. The loading plate plate and the liquid crystal panel 110 may be simultaneously loaded according to the size.

패널 정렬 유닛(210)은 액정 패널(110) 로딩시, 광검출기인 휘도계(250)/카메라 유닛(260, 270)의 로딩 확보를 위해 후방으로 회피하는 구조를 갖는다.When the liquid crystal panel 110 is loaded, the panel alignment unit 210 has a structure of avoiding backward to secure the loading of the luminance meter 250 / camera units 260 and 270 which are photodetectors.

실질적으로, 패널 정렬 유닛(210)은 휘도 측정 영역을 고려하여 개구부가 형성되는데, 예를 들면, 220mm x 170mm의 개구부가 확보되어 있다. 또한, 패널 정렬 유닛(210)은 X 및 Y 방향으로 ±10mm의 행정(Stroke)을 가지며, 회전 범위는 ±1도 정도를 갖는다. Substantially, the panel alignment unit 210 has an opening formed in consideration of the luminance measurement area. For example, an opening of 220 mm x 170 mm is secured. In addition, the panel alignment unit 210 has a stroke of ± 10 mm in the X and Y directions, and the rotation range has a degree of ± 1 degree.

패널 정렬 유닛(210)은 패널 로딩 지그를 구비하며, 액정 패널(110) 회전 시에 자석(Magnet)을 사용하여 측면을 고정할 수 있는 구조를 갖는다.The panel alignment unit 210 includes a panel loading jig and has a structure capable of fixing the side surface by using a magnet when the liquid crystal panel 110 rotates.

또한, 하부 편광판 정렬 유닛(220)은 정렬마크가 새겨진 글래스 기판 상에 부착되어 상기 액정 패널(110)의 하부에 배치되는 하부 편광판(120)의 위치를 조정 하기 위한 것이다. 본 발명의 실시예에서, 하부 편광판(120)이 탑재되는 부분은 백라이트 로딩 유닛(240)의 상부에 배치되지만, 하부 편광판(120)의 위치를 조정하는 하부 편광판 정렬 유닛(220)은 백라이트 로딩 유닛(240) 하부에 배치된다.In addition, the lower polarizing plate alignment unit 220 is attached to a glass substrate having an alignment mark engraved thereon to adjust the position of the lower polarizing plate 120 disposed below the liquid crystal panel 110. In the exemplary embodiment of the present invention, the portion in which the lower polarizer 120 is mounted is disposed on the upper portion of the backlight loading unit 240, but the lower polarizer alignment unit 220 for adjusting the position of the lower polarizer 120 may be a backlight loading unit. 240 is disposed below.

하부 편광판 정렬 유닛(220)은 상부 편광판 정렬 유닛(230)과 마찬가지로 X 및 Y 방향으로 이동하는 스테이지와 DDR 모터로 구성되며, 각 LCD 모델의 크기에 대응하여, 로딩 지그를 하부에 로딩하는 구조로 되어 있다. 하부 편광판 정렬 유닛(210)은 글래스 하부에 편광판(120)이 부착되어 있기 때문에 편광판(120) 손상이 없게 로딩될 수 있는 구조를 갖는다.The lower polarizer alignment unit 220 is composed of a stage and a DDR motor to move in the X and Y directions, similar to the upper polarizer alignment unit 230, and in accordance with the size of each LCD model, to load the loading jig in the lower structure It is. The lower polarizer alignment unit 210 has a structure that can be loaded without damaging the polarizer 120 because the polarizer 120 is attached to the lower portion of the glass.

하부 편광판 정렬 유닛(220)은 휘도 측정 영역을 고려하여 개구부가 형성되는데, 예를 들면, 220mm x 170mm의 개구부가 확보되어 있다. 또한, 하부 편광판 정렬 유닛(220)은 하부 편광판(120) 높이를 용이하게 조정하기 위해서 조정 볼트(Bolt)(도시되지 않음)를 사용한다.The lower polarizer alignment unit 220 has an opening formed in consideration of the luminance measurement area. For example, an opening of 220 mm x 170 mm is secured. In addition, the lower polarizer alignment unit 220 uses an adjustment bolt (not shown) to easily adjust the height of the lower polarizer 120.

또한, 상부 편광판 정렬 유닛(230)은 정렬마크가 새겨진 글래스 기판 상에 부착되어 상기 액정 패널의 상부에 배치되는 상부 편광판(130) 위치를 조정하기 위한 것이다. 본 발명의 실시예에서, 상부 편광판(130)이 탑재되는 부분은 광 검출기(250) 하부에 배치되지만, 상부 편광판(130)의 위치를 조정하는 상부 편광판 정렬 유닛(230)은 광 검출기(250) 상부에 배치된다. 이러한 상부 편광판 정렬 유닛(230)에 대해서는 도 8을 참조하여 후술하기로 한다.In addition, the upper polarizing plate alignment unit 230 is for adjusting the position of the upper polarizing plate 130 which is attached on the glass substrate engraved with the alignment mark and disposed on the liquid crystal panel. In the exemplary embodiment of the present invention, the portion in which the upper polarizer 130 is mounted is disposed under the photo detector 250, but the upper polarizer alignment unit 230 for adjusting the position of the upper polarizer 130 may include the photo detector 250. Is placed on top. The upper polarizing plate alignment unit 230 will be described later with reference to FIG. 8.

본 발명의 실시예에서, 상부 편광판 정렬 유닛(230)은 상부 편광판(130)을 0 ~ +90도까지 회전시킬 수 있고, 하부 편광판 정렬 유닛(220)은 하부 편광판(120) 을 -10 ~ +10도까지 회전시킬 수 있으며, 즉, 상부 및 하부 편광판(120, 130)을 동시에 정밀하게 회전시킬 수 있으므로, 블랙 휘도 및 화이트 휘도 모두 측정할 수 있다. 즉, 상부 편광판(130) 및 하부 편광판(120)을 각각 회전시킨 후, 상부 및 하부 편광판이 같은 방향으로 부착되어 있을 때, 화이트 휘도를 측정하고, 서로 90도 엇갈려 있을 때 블랙 휘도를 측정할 수 있다.In an embodiment of the present invention, the upper polarizer alignment unit 230 may rotate the upper polarizer 130 to 0 to +90 degrees, and the lower polarizer alignment unit 220 rotates the lower polarizer 120 to -10 to + It can rotate up to 10 degrees, that is, the upper and lower polarizers 120 and 130 can be precisely rotated simultaneously, so that both black and white luminance can be measured. That is, after the upper polarizer 130 and the lower polarizer 120 are rotated, respectively, when the upper and lower polarizers are attached in the same direction, the white luminance may be measured and the black luminance may be measured when the upper and lower polarizers are staggered by 90 degrees. have.

이때, 블랙 휘도 측정은 편광판(120, 130)과 액정 패널(110)간의 간격을 수 mm 이내로 최소화한 상태에서 측정할 필요가 있으므로, 본 발명의 실시예에 따른 측정 장치는, 편광판(120, 130)과 액정 패널(110)간의 간격을 최소화시킬 수 있고, 최소 0.01도 ~ 0.001도의 정밀 회전이 가능한 구조로 되어 있다.In this case, since the black luminance measurement needs to be measured in a state in which the gap between the polarizing plates 120 and 130 and the liquid crystal panel 110 is minimized to within a few mm, the measuring device according to the embodiment of the present invention may use the polarizing plates 120 and 130. ) And the liquid crystal panel 110 can be minimized, and at least 0.01 degrees to 0.001 degrees of precision rotation is possible.

또한, 백라이트 로딩 유닛(240)은 상기 하부 편광판(120), 상기 액정 패널(110) 및 상기 상부 편광판(130)을 경유하는 광을 제공하는 백라이트 유닛(140)을 로딩하기 위한 것이다.In addition, the backlight loading unit 240 is for loading the backlight unit 140 that provides light via the lower polarizer 120, the liquid crystal panel 110, and the upper polarizer 130.

백라이트 유닛(140)은 백라이트용 램프가 하부 캐비닛(Cabinet)형으로 공급되며, 백라이트 로딩 유닛(240)은 백라이트 유닛(140)의 방열판 등 돌출부와 높이를 고려하여 로딩 지그를 구비한다.The backlight unit 140 is supplied with a backlight lamp in a lower cabinet (Cabinet) type, the backlight loading unit 240 is provided with a loading jig in consideration of the protrusion and height, such as the heat sink of the backlight unit 140.

또한, 카메라 유닛(260, 270)은 도 3의 CCD 카메라(160, 170)가 장착되어 CCD 카메라(160, 170)의 위치를 조정하기 위한 것으로, 상기 액정 패널(110), 하부 편광판(120) 및 상부 편광판(130) 각각의 정렬마크 영상을 획득하게 되는데, 도 7a 및 도 7b를 참조하여 후술하기로 한다.In addition, the camera units 260 and 270 are equipped with the CCD cameras 160 and 170 of FIG. 3 to adjust the positions of the CCD cameras 160 and 170. The liquid crystal panel 110 and the lower polarizer 120 And an alignment mark image of each of the upper polarizers 130, which will be described later with reference to FIGS. 7A and 7B.

또한, 광 검출기(250)은 도 3의 휘도계(150)에 대응하는 것으로, 상기 하부 편광판(120), 상기 액정 패널(110) 및 상기 상부 편광판(130)을 경유하는 광을 검출하기 위한 것이다.In addition, the photo detector 250 corresponds to the luminance meter 150 of FIG. 3 and is used to detect light passing through the lower polarizer 120, the liquid crystal panel 110, and the upper polarizer 130. .

본 발명의 실시예에 따른 광학 특성 측정 장치는, 기존에 측정할 수 없었거나, 정밀하게 측정이 불가능했던 액정 패널(110) 및 편광판(120, 130) 간에 휘도를 0.01도 ~ 0.001도라는 정밀한 각도로 회전하면서 측정할 수 있다. 또한, 광축과 블랙 휘도값을 측정할 수 있으므로, 기존 양산 패널을 모니터링할 뿐만 아니라 개발하고자 하는 액정 패널의 대비비(CR)를 측정하여, 대비비(CR)를 높이는데 아주 유용한 장치이다.In the optical characteristic measuring apparatus according to the exemplary embodiment of the present invention, the angle between the liquid crystal panel 110 and the polarizing plates 120 and 130 that could not be measured or accurately measured in the past is precisely between 0.01 degrees and 0.001 degrees. It can be measured while rotating. In addition, since the optical axis and the black luminance value can be measured, it is a very useful device to increase the contrast ratio (CR) by not only monitoring the existing mass-production panel but also measuring the contrast ratio (CR) of the liquid crystal panel to be developed.

전술한 바와 같이, 본 발명의 실시예에 따른 광학 특성 측정 장치의 기구적인 부분의 가장 큰 특징은 휘도를 측정하기 위해서 백라이트 유닛(140)에서 나온 빛이 하부 편광판(120) -> 액정 패널(110) -> 상부 편광판(130)을 통과해야 된다. 이에 따라, 상기 하부 편광판(120), 액정 패널(110) 및 상부 편광판(130) 각각의 로딩 지그에 개구부가 형성되어 있다.As described above, the biggest feature of the mechanical part of the optical characteristic measuring apparatus according to the embodiment of the present invention is that the light emitted from the backlight unit 140 in order to measure the brightness of the lower polarizer 120-> liquid crystal panel 110 )-> Must pass through the upper polarizer 130. Accordingly, an opening is formed in each loading jig of the lower polarizer 120, the liquid crystal panel 110, and the upper polarizer 130.

또한, 광학 특성 측정시 정확한 데이터를 얻기 위해서, 하부 편광판(120), 액정 패널(110) 및 상부 편광판(130) 간의 간격이 최대한 적어야 되므로, 각각의 로딩 지그의 구조 및 재질이 중요한 요인이 된다. In addition, in order to obtain accurate data when measuring the optical characteristics, the distance between the lower polarizer 120, the liquid crystal panel 110 and the upper polarizer 130 should be as small as possible, the structure and material of each loading jig is an important factor.

한편, 도 5는 본 발명의 실시예에 따른 카메라 제어 시스템의 개략적인 구성도이다.On the other hand, Figure 5 is a schematic configuration diagram of a camera control system according to an embodiment of the present invention.

도 5를 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 카메라 제어 시스템은, 고심도 및 고정도 광학계를 구성하며, 액정 패널(110)에 상부 편광판(130) 및 하부 편광 판(120)의 정렬 작업을 수행하며, 백라이트 점등 상태에서 액정 패널(110)과 편광판(120, 130)의 기하학적 상대 각도에 따른 휘도값을 측정하고, 그 각각의 특성을 분석할 수 있도록 구성된다.Referring to FIG. 5, the camera control system according to the embodiment of the present invention constitutes a high depth and high accuracy optical system, and performs alignment of the upper polarizer 130 and the lower polarizer 120 on the liquid crystal panel 110. In this case, the luminance values according to the geometric relative angles of the liquid crystal panel 110 and the polarizers 120 and 130 in the backlight lighting state are measured, and the respective characteristics thereof are analyzed.

다시 말하면, 본 발명의 실시예에 따른 광학 특성 측정 장치는, 하부 편광판(120), 액정 패널(110) 및 상부 편광판(130)의 정렬을 위해서 고심도 및 고정도의 광학계, 즉, 카메라 제어 시스템을 부가적으로 구비한다. 여기서, 카메라 제어 시스템은 제어부(310), 모니터(320) 등으로 이루어지며, 상기 카메라(160, 170)에 의해 획득된 영상을 측정자가 직접 눈으로 확인하면서 상기 액정 패널(110), 하부 편광판(120) 및 상부 편광판(130)의 위치를 조절할 수 있게 해준다In other words, the optical characteristic measuring apparatus according to the embodiment of the present invention uses an optical system having a high depth and high accuracy, that is, a camera control system for the alignment of the lower polarizer 120, the liquid crystal panel 110, and the upper polarizer 130. Additionally. Here, the camera control system includes a control unit 310, a monitor 320, and the like, and the liquid crystal panel 110 and the lower polarizer plate while checking the image acquired by the cameras 160 and 170 with the eyes. 120 and the position of the upper polarizer 130 can be adjusted

먼저, 액정 패널(110)의 경우, 액정 패널 자체에 형성된 정렬마크를 기준으로 정렬될 수 있고, 또한, 편광판(120, 130)의 경우, 정렬마크가 새겨져 있는 글래스에 편광판을 부착하여 정렬될 수 있다.First, in the case of the liquid crystal panel 110, the alignment marks formed on the liquid crystal panel itself may be aligned, and in the case of the polarizing plates 120 and 130, the alignment marks may be aligned by attaching the polarizing plate to the glass on which the alignment marks are engraved. Can be.

이러한 카메라 제어 시스템에서 측정 및 모니터링된 위치값을 이동시키기 위해 하부 편광판(120), 액정 패널(110) 및 상부 편광판(130)의 로딩 지그가 각각 X, Y 및 Θ축 방향으로 이동되는 동면 스테이지를 사용한다. 상기 동면 스테이지에 대해서는 도 6을 참조하여 설명하기로 한다.In order to move the measured and monitored position values in the camera control system, the hierarchical stages in which the loading jig of the lower polarizer 120, the liquid crystal panel 110 and the upper polarizer 130 are moved in the X, Y and Θ axis directions, respectively use. The hibernation stage will be described with reference to FIG. 6.

한편, 도 6은 본 발명의 실시예에 따른 동면 스테이지를 나타내는 도면이다.6 is a diagram illustrating a hibernating stage according to an embodiment of the present invention.

도 6을 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 동면 스테이지(250)는, 상부 및 하부 편광판과 액정 패널을 정렬시키기 위한 것으로, 1개의 X축 스테핑 모터(Stepping Motor)(253)와 2개의 Y축 스테핑 모터(254, 255)로 구성될 수 있다. 따라서, 1개의 X축 및 2개의 Y축 조합으로 Θ축까지 보정할 수 있다Referring to FIG. 6, the hibernating stage 250 according to an embodiment of the present invention is for aligning the upper and lower polarizers and the liquid crystal panel, and includes one X-axis stepping motor 253 and two Y's. Shaft stepping motors 254 and 255. Therefore, up to the Θ axis can be corrected with a combination of one X axis and two Y axes.

여기서, 스테핑 모터는 스텝 모터 또는 펄스 모터라고도 불리며, 정해진 스텝각을 회잔하여 정확한 각도 제어에 사용된다. 스테핑 모터의 특징은 펄스 전력에 대응하여 회전하며, 입력 펄스수에 비례하여 회전각이 변위되고, 또한 입력 주파수에 비례하여 회전 속도가 변환하기 때문에 피드백 없이 모터의 동작을 제어할 수 있다.Here, the stepping motor is also called a step motor or a pulse motor, and it is used for accurate angle control by circulating a predetermined step angle. The characteristic of the stepping motor is that it rotates in response to the pulse power, the rotation angle is displaced in proportion to the number of input pulses, and the rotation speed is converted in proportion to the input frequency, thereby controlling the operation of the motor without feedback.

동면 스테이지(250)의 구조는 패널 정렬 유닛(210), 하부 편광판 정렬 유닛(220) 및 상부 편광판 정렬 유닛(230)에 모두 동일한 구조를 가질수도 있고 패널 정렬 유닛(210)에만 적용될수 있으며, 동면 스테이지(250) 상에 전술한 로딩 지그가 구비되며, 도면부호 251은, 전술한 바와 같이 휘도 측정 영역을 고려하여 형성된 개구부를 나타내며, 광원인 백라이트 유닛(140)으로부터 제공되는 광이 통과되는 부분이다. 또한, 도면부호 252는 상기 카메라(160, 170)에 정렬마크 영상을 획득하기 위해 개방된 영역을 나타내며, 본 발명의 실시예에서는 4개가 형성된 것을 나타내고 있다.The structure of the hibernation stage 250 may have the same structure in the panel alignment unit 210, the lower polarizer alignment unit 220, and the upper polarizer alignment unit 230, and may be applied only to the panel alignment unit 210, and is hibernated. The above-described loading jig is provided on the stage 250, and reference numeral 251 denotes an opening formed in consideration of the luminance measurement area as described above, and is a portion through which light provided from the backlight unit 140, which is a light source, passes. . In addition, reference numeral 252 denotes an open area for acquiring an alignment mark image in the cameras 160 and 170, and in the embodiment of the present invention, four are formed.

한편, 도 7a는 액정 패널에 형성된 정렬마크를 카메라를 이용하여 촬영하는 것을 나타내는 도면이고, 도 7b는 도 4의 카메라 유닛을 나타내는 도면이다.7A is a diagram illustrating photographing an alignment mark formed on the liquid crystal panel using a camera, and FIG. 7B is a diagram illustrating the camera unit of FIG. 4.

도 4를 다시 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 카메라 유닛(260, 270)은, 상기 상부 편광판(130), 액정 패널(110) 및 하부 편광판(120)의 위치를 제1 및 제2 카메라(160, 170)를 사용하여 결정하기 위한 영상을 획득하는 장치로서, 본 발명의 실시예에서는 도 7a에 도시된 바와 같이, 2대의 카메라를 사용하고 있다. 이때, 액정 패널(110)은 자신의 정렬마크(111, 112)를 기준으로, X, Y 및 Θ 위치를 결정하며, 또한, 편광판(120, 130)의 정렬 기준은 편광판(120, 130)이 부착된 글래스의 정렬마크가 될 수 있다.Referring to FIG. 4 again, the camera units 260 and 270 according to the embodiment of the present invention may be configured to position the upper polarizer 130, the liquid crystal panel 110, and the lower polarizer 120. As an apparatus for acquiring an image for determination using (160, 170), an embodiment of the present invention uses two cameras, as shown in Figure 7a. In this case, the liquid crystal panel 110 determines X, Y, and Θ positions based on the alignment marks 111 and 112 of the liquid crystal panel 110, and the alignment criteria of the polarizers 120 and 130 are the polarization plates 120 and 130. It can be an alignment mark on the attached glass.

상기 카메라(160, 170)의 구동은 X, Y 및 Z축 각각에 서보 모터 및 LM 가이드에 의해 작동될 수 있지만 이에 국한되는 것은 아니다.The driving of the cameras 160 and 170 may be operated by a servo motor and an LM guide on each of the X, Y, and Z axes, but is not limited thereto.

또한, 카메라 유닛(260, 270)은 통상적으로 X축 및 Y축으로 이동하는 2축 로봇으로 구성되며, 이때, Z축은 도 7b에 도시된 바와 같이, 수동 스테이지(161)를 사용함으로써, 각 작업대 간의 미세 거리를 보정할 수 있는 구조를 가질 수 있다.In addition, the camera units 260 and 270 are typically composed of two-axis robots moving in the X-axis and Y-axis, where the Z-axis uses the manual stage 161, as shown in FIG. It may have a structure that can correct the fine distance between the liver.

한편, 도 8은 도 4의 상부 편광판 정렬 유닛을 나타내는 도면이다.8 is a diagram illustrating the upper polarizer alignment unit of FIG. 4.

도 8을 참조하면, 상기 상부 편광판 정렬 유닛(230)은 X축 및 Y축으로 이동 가능한 스테이지, 연결부(231), DDR 모터(232)로 구성되고, 이때, 상부 편광판(130)은 상기 DDR 모터(232)를 이용하여 회전각을 0도 ~ 90도까지 회전할 수 있도록 설계되어 있다. 여기서, 도면부호 131은 상부 편광판(130)을 로딩하기 위한 로딩 지그이다. 즉, 액정 패널(110)의 상부 편광판(120)을 위치시키기 위한 로딩 지그가 있다.Referring to FIG. 8, the upper polarizer alignment unit 230 includes a stage movable in X and Y axes, a connection part 231, and a DDR motor 232, in which the upper polarizer 130 is the DDR motor. (232) is designed to rotate the rotation angle from 0 degrees to 90 degrees. Here, reference numeral 131 denotes a loading jig for loading the upper polarizer 130. That is, there is a loading jig for positioning the upper polarizer 120 of the liquid crystal panel 110.

또한, 상기 상부 편광판 정렬 유닛(230)은 백라이트 유닛(140), 하부 편광판(120), 및 액정 패널(110)의 공급을 원활하게 하기 위해서, 상부 편광판 정렬 유닛(130) 전체를 서보 모터(Servo Motor)와 LM 가이드를 결합하여, 후방으로 움직일 수 있는 구조를 갖는다.In addition, the upper polarizing plate alignment unit 230 may operate the entire upper polarizing plate alignment unit 130 as a servo motor to smoothly supply the backlight unit 140, the lower polarizing plate 120, and the liquid crystal panel 110. Motor) and LM guide are combined to have a structure that can move backward.

한편, 상부 및 하부 편광판(120, 130)은 사전에 편광판만을 장착하여 회전시 키면서 편광판(120, 130)의 광축을 미리 측정하고, 상기 블랙 휘도 측정시에 편광판(120, 130)의 광축이 틀어진 만큼 보상하고, 편광판(120, 130)의 실제 광축을 기준으로 하고, 액정 패널을 삽입하여 블랙 휘도를 측정할 수 있다.Meanwhile, the upper and lower polarizers 120 and 130 measure the optical axes of the polarizers 120 and 130 in advance while rotating by mounting only the polarizers in advance, and the optical axes of the polarizers 120 and 130 are measured during the black luminance measurement. By compensating for the distortion, the black luminance may be measured by inserting the liquid crystal panel based on the actual optical axes of the polarizing plates 120 and 130.

한편, 광원으로 해당 LCD 모델의 실제 백라이트 유닛을 사용하기 때문에, 백라이트 유닛 내의 반사 시트 또는 확산 시트 등에 따른 영향도 반영할 수 있다.On the other hand, since the actual backlight unit of the LCD model is used as the light source, the influence of the reflective sheet or the diffusion sheet in the backlight unit can be reflected.

본 발명의 실시예에 따르면, 상부 및 하부 편광판, 및 액정 패널을 비젼 시스템(Vision System)인 CCD 카메라를 이용하여 정렬하고, 또한, 상부 및 하부 편광판(120, 130)을 다양한 각도로 회전시킬 수 있기 때문에, 블랙 휘도뿐만 아니라 액정 패널(110) 내에 주입된 액정(LC)의 틀어진 각도 또는 상부 및 하부 편광판(120, 130)의 흡수축 및 투과축을 측정할 수도 있다.According to an embodiment of the present invention, the upper and lower polarizers and the liquid crystal panel may be aligned using a CCD camera which is a vision system, and the upper and lower polarizers 120 and 130 may be rotated at various angles. Therefore, not only the black luminance but also the twisted angle of the liquid crystal LC injected into the liquid crystal panel 110 or the absorption and transmission axes of the upper and lower polarizers 120 and 130 may be measured.

이상 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 설명하였지만, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해되어야만 한다.Although embodiments of the present invention have been described above with reference to the accompanying drawings, those skilled in the art to which the present invention pertains may implement the present invention in other specific forms without changing the technical spirit or essential features thereof. I can understand that. Therefore, the embodiments described above are to be understood in all respects as illustrative and not restrictive.

본 발명에 따르면, 상부 및 하부 편광판 및 액정 패널을 정확하게 정렬할 수 있고, 상부 및 하부 편광판을 동시에 정밀하게 회전시킴으로써, 블랙 휘도를 용이하게 측정할 수 있다. 이에 따라 블랙 휘도의 왜곡을 제거할 수 있다. 또한, 상부 및 하부 편광판을 다양한 각도로 회전시켜 휘도를 측정함으로써, 액정 패널 내 의 액정의 틀어진 각도(LC 광축) 및 상부 및 하부 편광판의 광축도 용이하게 측정할 수 있다.According to the present invention, the upper and lower polarizers and the liquid crystal panel can be accurately aligned, and the black luminance can be easily measured by precisely rotating the upper and lower polarizers simultaneously. As a result, the distortion of the black luminance can be removed. In addition, by measuring the luminance by rotating the upper and lower polarizers at various angles, the distorted angle (LC optical axis) of the liquid crystal in the liquid crystal panel and the optical axes of the upper and lower polarizers can be easily measured.

Claims (21)

정렬마크가 새겨진 액정 패널을 로딩하는 패널 정렬 유닛;A panel alignment unit for loading a liquid crystal panel engraved with an alignment mark; 상기 액정 패널의 하부에 배치되는 하부 편광판을 정렬하기 위한 하부 편광판 정렬 유닛;A lower polarizer alignment unit for aligning a lower polarizer disposed under the liquid crystal panel; 상기 액정 패널의 상부에 배치되는 상부 편광판을 정렬하기 위한 상부 편광판 정렬 유닛;An upper polarizer alignment unit for aligning an upper polarizer disposed on the liquid crystal panel; 상기 하부 편광판, 상기 액정 패널 및 상기 상부 편광판을 경유하는 광을 제공하는 백라이트 로딩 유닛;A backlight loading unit configured to provide light passing through the lower polarizer, the liquid crystal panel, and the upper polarizer; 상기 액정 패널, 상부 편광판 및 하부 편광판 각각의 정렬마크 영상을 획득하기 위한 카메라 유닛; 및A camera unit for acquiring an alignment mark image of each of the liquid crystal panel, the upper polarizer and the lower polarizer; And 상기 하부 편광판, 상기 액정 패널 및 상기 상부 편광판을 경유하는 광을 검출하는 광 검출기A photo detector for detecting light passing through the lower polarizer, the liquid crystal panel, and the upper polarizer 을 포함하는 액정 패널의 광학 특성 측정 장치.Optical property measuring apparatus of the liquid crystal panel comprising a. 제1항에 있어서The method of claim 1 상기 하부 편광판 및 상부 편광판은 각각 정렬마크가 새겨진 글래스 기판 상에 부착되는 것을 특징으로 하는 액정 패널의 광학 특성 측정 장치.The lower polarizing plate and the upper polarizing plate are each attached to the glass substrate engraved alignment mark, characterized in that the optical properties of the liquid crystal panel. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 패널 정렬 유닛, 상기 상부 편광판 정렬 유닛 및 상기 하부 편광판 정렬 유닛 각각은 상기 액정 패널, 상기 상부 편광판 및 상기 하부 편광판 각각 이동 및 회전시키기 위한 동면 스테이지Each of the panel alignment unit, the upper polarizer alignment unit, and the lower polarizer alignment unit is a hibernating stage for moving and rotating the liquid crystal panel, the upper polarizer, and the lower polarizer, respectively. 를 추가로 포함하는 액정 패널의 광학 특성 측정 장치.Optical characteristic measuring device of the liquid crystal panel further comprising. 제3항에 있어서,The method of claim 3, 상기 동면 스테이지는 상기 액정 패널, 상기 상부 편광판 및 상기 하부 편광판 각각을 안착하기 위한 로딩 지그를 구비하는 액정 패널의 광학 특성 측정 장치.And said hibernation stage comprises a loading jig for mounting each of said liquid crystal panel, said upper polarizing plate and said lower polarizing plate. 제3항에 있어서,The method of claim 3, 상기 동면 스테이지는 1개의 X축 스테핑 모터, 2개의 Y축 스테핑 모터를 구비하여, X축, Y축 및 Θ축으로 보정이 가능한 것을 특징으로 하는 액정 패널의 광학 특성 측정 장치.The hibernating stage is provided with one X-axis stepping motor and two Y-axis stepping motors, and the optical characteristic measuring apparatus of the liquid crystal panel, characterized in that the X-axis, Y-axis and Θ-axis can be corrected. 제3항에 있어서,The method of claim 3, 상기 액정 패널의 동면 스테이지는 액정 표시장치 모델의 크기에 대응하여 로딩 플레이트 및 액정 패널을 동시에 로딩하는 것을 특징으로 하는 액정 패널의 광학 특성 측정 장치.The hibernation stage of the liquid crystal panel is configured to simultaneously load the loading plate and the liquid crystal panel corresponding to the size of the liquid crystal display model. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 패널 정렬 유닛, 상기 상부 편광판 및 상기 하부 편광판 각각은 휘도 측정 영역을 고려하여 개구부가 형성된 것을 특징으로 하는 액정 패널의 광학 특성 측정 장치.And an opening is formed in each of the panel alignment unit, the upper polarizer, and the lower polarizer in consideration of a luminance measurement area. 제7항에 있어서,The method of claim 7, wherein 상기 개구부는 상기 백라이트 로딩 유닛에 안착된 백라이트로부터 제공되는 광을 통과시키는 것을 특징으로 하는 액정 패널의 광학 특성 측정 장치.And the opening passes the light provided from the backlight seated in the backlight loading unit. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 패널 정렬 유닛은 상기 액정 패널 로딩시, 상기 광검출기 및 카메라 유닛의 로딩 확보를 위해 후방으로 회피되는 구조를 갖는 것을 특징으로 하는 액정 패널의 광학 특성 측정 장치.And the panel alignment unit has a structure which is avoided backward to secure the loading of the photodetector and the camera unit when the liquid crystal panel is loaded. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 하부 편광판 정렬 유닛은 상기 하부 편광판이 탑재되는 부분은 상기 백라이트 로딩 유닛의 상부에 배치되고, 상기 하부 편광판의 위치를 조정하는 부분은 상기 백라이트 로딩 유닛 하부에 배치되는 것을 특징으로 하는 액정 패널의 광학 특성 측정 장치.In the lower polarizer alignment unit, a portion on which the lower polarizer is mounted is disposed above the backlight loading unit, and a portion for adjusting the position of the lower polarizer is disposed below the backlight loading unit. Characteristic measuring device. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 하부 편광판 정렬 유닛은 조정 볼트(Bolt)를 사용하여 상기 하부 편광판 높이를 조정하는 것을 특징으로 하는 액정 패널의 광학 특성 측정 장치.And the lower polarizer alignment unit adjusts the height of the lower polarizer using an adjustment bolt. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 하부 편광판 정렬 유닛은 상기 하부 편광판을 -10도에서 +10도까지 회전시키는 것을 특징으로 하는 액정 패널의 광학 특성 측정 장치.And the lower polarizer alignment unit rotates the lower polarizer from -10 degrees to +10 degrees. 제12항에 있어서,The method of claim 12, 상기 하부 편광판 정렬 유닛은 상기 하부 편광판을 0.01도씩 회전시키는 것을 특징으로 하는 액정 패널의 광학 특성 측정 장치.And the lower polarizing plate alignment unit rotates the lower polarizing plate by 0.01 degrees. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 상부 편광판 정렬 유닛은 상기 상부 편광판이 탑재되는 부분은 상기 광 검출기 하부에 배치되지만, 상기 상부 편광판의 위치를 조정하는 부분은 상기 광 검출기 상부에 배치되는 것을 특징으로 하는 액정 패널의 광학 특성 측정 장치.Wherein the upper polarizing plate alignment unit, the portion on which the upper polarizing plate is mounted is disposed below the photo detector, but the portion for adjusting the position of the upper polarizing plate is disposed above the photo detector. . 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 상부 편광판 정렬 유닛은 상기 상부 편광판을 0도에서 90도까지 회전시키는 것을 특징으로 하는 액정 패널의 광학 특성 측정 장치.And the upper polarizing plate alignment unit rotates the upper polarizing plate from 0 degrees to 90 degrees. 제15항에 있어서,The method of claim 15, 상기 상부 편광판 정렬 유닛은 상기 상부 편광판을 0.01도씩 회전시키는 것을 특징으로 하는 액정 패널의 광학 특성 측정 장치.The upper polarizing plate alignment unit rotates the upper polarizing plate by 0.01 degrees. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 카메라 유닛은 X축 및 Y축으로 이동하며, Z축은 수동으로 조절되는 것을 특징으로 하는 액정 패널의 광학 특성 측정 장치.The camera unit is moved in the X-axis and Y-axis, the Z-axis is characterized in that the manually adjusted device of the liquid crystal panel. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 카메라는 CCD(Charge Coupled Device) 카메라 또는 CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor) 카메라인 것을 특징으로 하는 액정 패널의 광학 특성 측정 장치.The camera may be a charge coupled device (CCD) camera or a complementary metal oxide semiconductor (CMOS) camera. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 카메라로부터 획득된 정렬마크 영상을 제어, 분석 및 모니터링하기 위한 카메라 제어 시스템을 추가로 구비하는 액정 패널의 광학 특성 측정 장치.And a camera control system for controlling, analyzing, and monitoring the alignment mark image obtained from the camera. 제19항에 있어서, 상기 카메라 제어 시스템은,The method of claim 19, wherein the camera control system, 상기 카메라로부터 획득된 정렬마크 영상을 수신하여 제어 또는 분석하기 위한 제어부; 및A control unit for receiving and controlling or analyzing the alignment mark image obtained from the camera; And 상기 수신된 영상을 출력하는 모니터A monitor for outputting the received image 를 포함하는 액정 패널의 광학 특성 측정 장치.Optical characteristic measurement apparatus of the liquid crystal panel comprising a. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 광검출기는 포토-디텍터(Photo Dector) 또는 휘도계인 것을 특징으로 하는 액정 패널의 광학 특성 측정 장치.The optical detector is a photo detector (photo detector) or a luminance meter, characterized in that the optical properties of the liquid crystal panel.
KR1020060123033A 2006-12-06 2006-12-06 Apparatus for measuring optical characteristics of liquid crystal panel KR101318439B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020060123033A KR101318439B1 (en) 2006-12-06 2006-12-06 Apparatus for measuring optical characteristics of liquid crystal panel

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020060123033A KR101318439B1 (en) 2006-12-06 2006-12-06 Apparatus for measuring optical characteristics of liquid crystal panel

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20080051599A true KR20080051599A (en) 2008-06-11
KR101318439B1 KR101318439B1 (en) 2013-10-16

Family

ID=39806565

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020060123033A KR101318439B1 (en) 2006-12-06 2006-12-06 Apparatus for measuring optical characteristics of liquid crystal panel

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101318439B1 (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20180132189A (en) 2017-06-01 2018-12-12 ㈜킴스옵텍 A Optical Probe for Measuring a Emitting Property
KR20190110026A (en) * 2018-03-19 2019-09-27 파스포드 테크놀로지 주식회사 Die bonding apparatus and manufacturing method of semiconductor device

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104317075B (en) * 2014-10-14 2017-10-24 深圳市华星光电技术有限公司 Lighting-up equipment of liquid crystal cell

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001013476A (en) * 1999-06-30 2001-01-19 Ricoh Co Ltd Display unevenness inspection device and display unevenness inspection method
JP2001125092A (en) * 1999-10-26 2001-05-11 Matsushita Electric Ind Co Ltd Liquid crystal display device and method of producing the same
KR100418357B1 (en) 2003-03-31 2004-02-14 (주)에이치아이티에스 LCD Cell Automatic Aligner&Grinding Inspection System
KR101024641B1 (en) * 2003-10-30 2011-03-25 엘지디스플레이 주식회사 Liquid crystal display device and method of fabricating the same

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20180132189A (en) 2017-06-01 2018-12-12 ㈜킴스옵텍 A Optical Probe for Measuring a Emitting Property
KR20190110026A (en) * 2018-03-19 2019-09-27 파스포드 테크놀로지 주식회사 Die bonding apparatus and manufacturing method of semiconductor device

Also Published As

Publication number Publication date
KR101318439B1 (en) 2013-10-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6636322B1 (en) Method and device for measuring cell gap of liquid crystal display using near-IR radiation
KR101441876B1 (en) Method for measuring optical anisotropy parameter and measurement apparatus
KR101280335B1 (en) Method and apparatus for measuring optical aeolotropic parameter
US20180356691A1 (en) Method and apparatus for adjusting polarizing plates in preparing process of photo-alignment film
KR101318439B1 (en) Apparatus for measuring optical characteristics of liquid crystal panel
JP4663529B2 (en) Optical anisotropy parameter measuring method and measuring apparatus
KR100458613B1 (en) Method and system for fabricating a liquid crystal display by optically detecting anisotropic angular misalignment
US7830511B2 (en) Apparatus and method for measuring polarization direction of polarizing plate
JP4568064B2 (en) Optical anisotropic axis measuring device
KR100802980B1 (en) Apparatus and method for inspecting liquid crystal display panel
JP3358578B2 (en) Twist angle, cell gap and azimuth angle anchoring measuring device, measuring method and storage medium storing program
JP3803999B2 (en) Defect inspection equipment
KR100594368B1 (en) An Apparatus For Measuring Optic Axis Off-Alignment Of Polarizing Plate And Phase Retardation Plate And Method Thereof
KR101367922B1 (en) Method and Apparatus for Inspecting Substrate with High Efficiency Reflection and Transmission and Phase Shift of Transmission Light
CN102252615B (en) Stamped mark width measuring device and method
KR20070068581A (en) Polarizer adhesion system and method for adhesion polarizer using the same
KR100949485B1 (en) Detection equipment of cell gap in lcd and detection method with the same
JP2006250631A (en) Inspection method and inspection device for optical compensating sheet
KR101477288B1 (en) Method and Apparatus for Inspecting Substrate with High Efficiency Reflection and Transmission and Phase Shift of Transmission Light
JPH1068672A (en) Liquid crystal evaluation device
US20060103843A1 (en) Device and method for automatically calibrating an LCD panel
KR20050029860A (en) Method for measuring axis distortion of compensation film and apparatus thereof
KR20230044531A (en) Measuring instrument for alignment film exposure apparatus and adjustment method of alignment film exposure apparatus
JP2005114519A (en) Inspection device for electro-optical panel, method for manufacturing electro-optical panel, method for determining visual field angle characteristics, and assembling deviation determination method
JP2009198354A (en) Inspection device and inspection method of electrooptical device

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20180917

Year of fee payment: 6