JP3358578B2 - Twist angle, cell gap and azimuth angle anchoring measuring device, measuring method and storage medium storing program - Google Patents

Twist angle, cell gap and azimuth angle anchoring measuring device, measuring method and storage medium storing program

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JP3358578B2
JP3358578B2 JP04452199A JP4452199A JP3358578B2 JP 3358578 B2 JP3358578 B2 JP 3358578B2 JP 04452199 A JP04452199 A JP 04452199A JP 4452199 A JP4452199 A JP 4452199A JP 3358578 B2 JP3358578 B2 JP 3358578B2
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    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
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    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306Details
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  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、液晶セルの基本特
性であるツイスト角、セルギャップとを測定し、得られ
たデータから方位角アンカリングエネルギーを算出する
ツイスト角、セルギャップ及び方位角アンカリング測定
装置、測定方法及びプログラムを記憶した記憶媒体に関
する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a twist angle, a cell gap, and an azimuth anchor for measuring an azimuth anchoring energy from data obtained by measuring a twist angle and a cell gap which are basic characteristics of a liquid crystal cell. The present invention relates to a ring measurement device, a measurement method, and a storage medium storing a program.

【0002】[0002]

【従来の技術】次世代のディスプレイ装置として近年注
目されている液晶ディスプレイに広く用いられているの
が、ネマティック液晶素子を用いた液晶表示装置であ
る。この液晶表示装置としては、ツイステッドネマティ
ック(TN)構造あるいはスーパーツイステッドネマテ
ィック(STN)構造によるものが主流である。このツ
イステッドネマティック(TN)構造は、上のガラス基
板と下のガラス基板との間で、ガラス基板に平行に寝て
いる長い液晶分子の向き(ダイレクタ)の配列状態が、
丁度90度ねじれるように構成している。また、スーパ
ーツイステッドネマティック(STN)構造は、液晶表
示をきめ細かく行わせるために、上のガラス基板と下の
ガラス基板間で、液晶分子の向き(ダイレクタ)の配列
状態を約230度位ねじれるように構成している。この
ように構成された液晶表示装置をスイッチング素子を用
いて基板間の電位の切り替え制御を行うことで駆動させ
る方式が主流となっている。
2. Description of the Related Art A liquid crystal display device using a nematic liquid crystal element has been widely used in a liquid crystal display which has recently attracted attention as a next-generation display device. As this liquid crystal display device, a device having a twisted nematic (TN) structure or a super twisted nematic (STN) structure is mainly used. In this twisted nematic (TN) structure, the alignment state of the direction (director) of long liquid crystal molecules lying parallel to the glass substrate between the upper glass substrate and the lower glass substrate is as follows.
It is configured to be twisted exactly 90 degrees. In addition, the super twisted nematic (STN) structure is arranged so that the orientation state of the direction of the liquid crystal molecules (director) is twisted about 230 degrees between the upper glass substrate and the lower glass substrate in order to perform fine liquid crystal display. Make up. A method of driving the liquid crystal display device configured as described above by controlling the switching of the potential between the substrates using the switching element is mainly used.

【0003】このツイステッドネマティック(TN)構
造あるいはスーパーツイステッドネマティック構造(S
TN)による液晶ディスプレイの光学特性は、屈折率異
方性(Δn)、セルギャップ(d)及びツイスト角によ
り決定される。
The twisted nematic (TN) structure or super twisted nematic structure (S
The optical characteristics of the liquid crystal display according to TN) are determined by the refractive index anisotropy (Δn), the cell gap (d), and the twist angle.

【0004】屈折率異方性とは、ツイステッドネマティ
ック(TN)構造あるいはスーパーツイステッドネマテ
ィック(STN)構造を構成する液晶物質の通常光に対
する屈折率と異常光に対する屈折率との差として定義さ
れる。セルギャップ(d)は、ツイステッドネマティッ
ク(TN)構造あるいはスーパーツイステッドネマティ
ック(STN)構造により構成されるガラス基板間に注
入される液晶層の厚さとして定義され、通常10μm以
下に設定されるものである。ツイスト角は、液晶層を構
成する入光側のガラス基板において液晶が取り得る方位
角φAと出光側のガラス基板において液晶が取り得る方
位角φBとの差として定義されるものである。
[0004] The refractive index anisotropy is defined as the difference between the refractive index of a liquid crystal material constituting a twisted nematic (TN) structure or a super twisted nematic (STN) structure for ordinary light and that for extraordinary light. The cell gap (d) is defined as the thickness of a liquid crystal layer injected between glass substrates having a twisted nematic (TN) structure or a super twisted nematic (STN) structure, and is usually set to 10 μm or less. is there. The twist angle is defined as the difference between the azimuth φA that the liquid crystal can take on the light-entering glass substrate constituting the liquid crystal layer and the azimuth φB that the liquid crystal can take on the light-emitting glass substrate.

【0005】このうち屈折率異方性は、液晶を構成する
材料により一義的に決まる量である。ツイスト角及びセ
ルギャップにおいては、個々に製造された製品毎にばら
つきが生じる量である。さらに、ツイスト角は、液晶分
子と液晶分子とを一定方向に配向させるための配向膜表
面との相互作用である方位角アンカリング強度に依存す
るところが大きい。この方位角アンカリング強度を正確
に求めることは、液晶の配向を制御する上で極めて重要
なポイントとなる。
Among them, the refractive index anisotropy is an amount uniquely determined by the material constituting the liquid crystal. The twist angle and the cell gap are amounts that vary among products manufactured individually. Furthermore, the twist angle largely depends on the azimuthal anchoring strength, which is the interaction between the liquid crystal molecules and the alignment film surface for aligning the liquid crystal molecules in a certain direction. Accurate determination of the azimuthal anchoring strength is an extremely important point in controlling the orientation of the liquid crystal.

【0006】セルギャップ及びツイスト角の測定方法に
ついては、特許番号第2565147号において、これ
らを同時に測定する方法が示されている。また、ツイス
ト角及びセルギャップから方位角アンカリングエネルギ
ーを求める方法については、例えば、中国科学アカデミ
ーのスン等らにより紹介されている(ルイピン・スン
等、モレキュラー・クリスタルズ・アンド・リキッド・
クリスタルズ1995年発行265巻335ページ)。
As for the method of measuring the cell gap and the twist angle, Japanese Patent No. 2565147 discloses a method of measuring them simultaneously. Further, a method of obtaining the azimuthal anchoring energy from the twist angle and the cell gap has been introduced by, for example, Sun et al. Of the Chinese Academy of Sciences (Molecular Crystals and Liquid.
Crystals, 1995, 265, 335).

【0007】ここで従来の方法を図22に基づいて説明
する。まず、図22に示されるように、被検物である液
晶セル103を偏光子102と検光子104との間に載
置し、液晶セル103を回転可能に構成することにより
方位角を決定し、次に偏光子102あるいは検光子10
4のいずれかを回転させることにより、受光器105で
透過光強度を測定する。この時の偏光子102あるいは
検光子104のいずれかの回転角度(所定の角速度で回
転)に対応する透過光強度の変化に基づいてセルギャッ
プ及びツイスト角を算出する。以下に、この手順につい
ての詳細を説明する。
Here, a conventional method will be described with reference to FIG. First, as shown in FIG. 22, a liquid crystal cell 103 as a test object is placed between a polarizer 102 and an analyzer 104, and the liquid crystal cell 103 is configured to be rotatable to determine an azimuth. And then the polarizer 102 or the analyzer 10
By rotating any one of 4, the transmitted light intensity is measured by the light receiver 105. The cell gap and the twist angle are calculated based on the change in transmitted light intensity corresponding to the rotation angle (rotation at a predetermined angular velocity) of either the polarizer 102 or the analyzer 104 at this time. The details of this procedure will be described below.

【0008】光源101より射出された光は、偏光子1
02により所定の方向に偏光された後、この偏光を液晶
セル103に入射し、液晶により旋光される。その後、
検光子104によって検光された光の透過光強度が受光
器105によって検出される。液晶セル103の入射側
における液晶の配向方位は、偏光子102の偏光角に対
しx°傾いており、検光子104の偏光角は、偏光子1
02の偏光角に対してy°傾いているとした場合、この
時の透過光の状態は、ジョーンズ行列を用いて以下の式
で表記される。
The light emitted from the light source 101 is the polarizer 1
After being polarized in a predetermined direction by 02, the polarized light enters the liquid crystal cell 103 and is rotated by the liquid crystal. afterwards,
The transmitted light intensity of the light detected by the analyzer 104 is detected by the light receiver 105. The orientation direction of the liquid crystal on the incident side of the liquid crystal cell 103 is inclined by x ° with respect to the polarization angle of the polarizer 102, and the polarization angle of the analyzer 104 is
Assuming that the light is inclined by y ° with respect to the polarization angle of 02, the state of the transmitted light at this time is represented by the following equation using a Jones matrix.

【0009】[0009]

【数1】 (Equation 1)

【0010】このジョーンズ行列において、a、bは次
式で表記される。また、a* 、b*は、それぞれa、b
の共役複素数である。
In this Jones matrix, a and b are represented by the following equations. A * and b * are a and b, respectively.
Is a complex conjugate of.

【0011】[0011]

【数2】 (Equation 2)

【0012】但し、However,

【0013】[0013]

【数3】 (Equation 3)

【0014】上記式に示されるように、Δnは液晶の屈
折率異方性、Θはツイスト角、dはセルギャップ、λは
入射光の波長をそれぞれ示している。ExとEyは、偏
光子102への入射光のジョーンズベクトルであり、E
x’とEy’は、検光子104から射出した透過光のジ
ョーンズベクトルである。上記式より透過光強度は、以
下の式によって示される。
As shown in the above equation, Δn indicates the refractive index anisotropy of the liquid crystal, Θ indicates the twist angle, d indicates the cell gap, and λ indicates the wavelength of the incident light. Ex and Ey are Jones vectors of the light incident on the polarizer 102, and E
x ′ and Ey ′ are Jones vectors of the transmitted light emitted from the analyzer 104. From the above equation, the transmitted light intensity is represented by the following equation.

【0015】[0015]

【数4】 (Equation 4)

【0016】ここで、f、g、hは、それぞれ次式によ
って示される。
Here, f, g, and h are represented by the following equations, respectively.

【0017】[0017]

【数5】 (Equation 5)

【0018】従って、上記式からy=0にして液晶セル
103を回転させると、以下に示される条件の時におい
て透過光強度は最大値をとる。
Therefore, when the liquid crystal cell 103 is rotated with y = 0 from the above equation, the transmitted light intensity takes the maximum value under the following conditions.

【0019】[0019]

【数6】 (Equation 6)

【0020】但し、nは整数である。また、以下に示さ
れる条件の時、透過光強度は最小値をとる。
Here, n is an integer. Further, under the following conditions, the transmitted light intensity takes a minimum value.

【0021】[0021]

【数7】 (Equation 7)

【0022】受光器105における透過光強度が最大あ
るいは最小となった角度、すなわち偏光子102の偏光
角とのなす角がXmaxまたはXminとなったところ
で、液晶セル103の回転を固定する。液晶セル103
の方位角は、いずれにおいても決定可能であるが、その
後の測定に関しては、ほぼ同様に行うことができるの
で、以下では、透過光強度が最大となるように液晶セル
103の方位角を設定した場合に基づいて説明する。
The rotation of the liquid crystal cell 103 is fixed when the angle at which the intensity of the transmitted light in the light receiver 105 becomes maximum or minimum, that is, when the angle formed by the polarization angle of the polarizer 102 becomes Xmax or Xmin. Liquid crystal cell 103
Can be determined in any case, but the subsequent measurement can be performed in substantially the same manner. Therefore, in the following, the azimuth of the liquid crystal cell 103 is set so that the transmitted light intensity is maximized. A description will be given based on the case.

【0023】なお、偏光子102と検光子104とを平
行にした状態で最大値あるいは最小値を探して液晶セル
103の方位角を決定しているが、偏光子102と検光
子104との互いの方位角の差は、その値が既知でさえ
あれば必ずしも0°とする必要はない。但し、角度を決
定する際の容易性及び演算の簡易性の面を考慮すると、
0°あるいは90°とするほうが好ましいので、ここで
は0°を採用したものが示されている。
The azimuth of the liquid crystal cell 103 is determined by searching for the maximum value or the minimum value in a state where the polarizer 102 and the analyzer 104 are parallel to each other. Is not necessarily required to be 0 ° as long as its value is known. However, considering the ease of determining the angle and the simplicity of calculation,
Since it is more preferable to set the angle to 0 ° or 90 °, here, an example employing 0 ° is shown.

【0024】液晶セル103の方位角を受光器105に
おける透過光強度が最大となる位置で固定した後、検光
子104を回転させて透過光強度を測定する。この時の
透過光強度は、以下の式によって求められる。
After fixing the azimuth of the liquid crystal cell 103 at a position where the transmitted light intensity in the light receiver 105 is maximized, the analyzer 104 is rotated to measure the transmitted light intensity. The transmitted light intensity at this time is obtained by the following equation.

【0025】[0025]

【数8】 (Equation 8)

【0026】この式より、検光子104の方位角(y)
を変えて測定する場合、測定される透過光強度は、co
s2yで変化する成分とsin2yで変化する成分とを
一定成分に分けて考えることができることが分かる。こ
れらの各成分の係数T0 、TC 、TS 間の比TC /T0
とTS /T0 は、測定結果から求めることができる。ま
た、上記式から二つの比は、セルギャップとツイスト角
とにより決まる。従って、逆に、比TC /T0 とTS /
T0 からセルギャップとツイスト角とを決定することが
できる。
From this equation, the azimuth (y) of the analyzer 104 can be obtained.
When the measurement is performed while changing the
It can be seen that the component that changes with s2y and the component that changes with sin2y can be considered as being divided into constant components. The ratio TC / T0 between the coefficients T0, TC, and TS of these components.
And Ts / T0 can be obtained from the measurement results. From the above equation, the two ratios are determined by the cell gap and the twist angle. Therefore, conversely, the ratios TC / T0 and TS /
The cell gap and the twist angle can be determined from T0.

【0027】次に、方位角アンカリングエネルギーの算
出について説明する。液晶セル103内における自由エ
ネルギー密度は、液晶の弾性エネルギー密度と表面エネ
ルギー密度の和により以下の式によって示される。
Next, the calculation of the azimuth anchoring energy will be described. The free energy density in the liquid crystal cell 103 is represented by the following equation by the sum of the elastic energy density and the surface energy density of the liquid crystal.

【0028】[0028]

【数9】 (Equation 9)

【0029】ここでWhere

【0030】[0030]

【数10】 (Equation 10)

【0031】[0031]

【数11】 [Equation 11]

【0032】K22はツイスト弾性定数、dはセルギャッ
プ、ET は方位角アンカリングエネルギー、ψsは配向
膜表面における液晶ダイレクタ(配向の向き)のラビン
グ方向からのずれ角、Θはツイスト角である。ツイスト
角Θと配向膜表面における液晶ダイレクタ(配向の向
き)のラビング方向からのずれ角ψsとの関係は、以下
の式によって示される。
[0032] K 22 twist elastic constant, d is the cell gap, E T is the azimuthal anchoring energy, Pusaiesu the deviation angle from the rubbing direction of the liquid crystal director (orientation direction) of the alignment film surface, theta is the twist angle is there. The relationship between the twist angle Θ and the shift angle ψs of the liquid crystal director (direction of orientation) on the alignment film surface from the rubbing direction is represented by the following equation.

【0033】[0033]

【数12】 (Equation 12)

【0034】ここでΨr は、液晶セル103の入光側及
び出光側の両ガラス基板のラビング方向のなす角度であ
る。液晶セル103内における液晶ダイレクタは、自由
エネルギー密度が最小となる方向に向くことから、すな
わち、
Here, Ψ r is the angle between the rubbing directions of the glass substrates on the light input side and the light output side of the liquid crystal cell 103. The liquid crystal director in the liquid crystal cell 103 is oriented in a direction in which the free energy density is minimized, that is,

【0035】[0035]

【数13】 (Equation 13)

【0036】よって、Therefore,

【0037】[0037]

【数14】 [Equation 14]

【0038】これより、方位角アンカリングエネルギー
は、以上の式で求めることができる。
Thus, the azimuthal anchoring energy can be obtained by the above equation.

【0039】以上が、ツイスト角、セルギャップ及び方
位角アンカリングを求める従来の方法である。
The above is the conventional method for determining the twist angle, cell gap, and azimuth anchoring.

【0040】[0040]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、近年の
液晶セルの大型化に伴い、従来のツイスト角、セルギャ
ップ及び方位角アンカリング測定装置においては、液晶
セルを回転させることにより、受光器にて検出された透
過光強度に基づいてツイスト角、セルギャップ及び方位
角アンカリングエネルギーを算出するものであったの
で、測定装置全体を大型化せざるを得ないという問題点
があった。
However, with the recent increase in the size of liquid crystal cells, conventional twist angle, cell gap and azimuth angle anchoring measuring devices use a photodetector by rotating the liquid crystal cell. Since the twist angle, the cell gap, and the azimuth anchoring energy are calculated based on the detected transmitted light intensity, there is a problem that the entire measuring apparatus must be enlarged.

【0041】また、液晶セルが大型化するに伴い、液晶
セルの表示面内における各特性の均一性が問題となり、
液晶セルの面内分布測定の要請が強まってきているとい
う問題がある。
Further, as the size of the liquid crystal cell increases, uniformity of each characteristic on the display surface of the liquid crystal cell becomes a problem.
There is a problem that demands for in-plane distribution measurement of liquid crystal cells are increasing.

【0042】しかしながら、上記従来例に示されるツイ
スト角、セルギャップ及び方位角アンカリング測定装置
においては、液晶セルを回転させることによりツイスト
角、セルフャップおよび方位角カンカリングを測定する
ため、液晶セルが大型化するに伴い、測定装置自体が大
型化してしまうという第1の問題がある。
However, in the twist angle, cell gap and azimuth anchoring measuring apparatus shown in the above-mentioned conventional example, since the twist angle, self-cap and azimuthal anchoring are measured by rotating the liquid crystal cell, the liquid crystal cell is not used. There is a first problem that as the size increases, the measurement apparatus itself increases in size.

【0043】また、上記従来例に示されるツイスト角、
セルギャップ及び方位角アンカリング測定装置において
は、液晶セルと測定装置と光軸との相対的な位置関係を
変更可能に構成されていなかったため、液晶セルの表示
面内におけるツイスト角、セルギャップ及び方位角アン
カリングエネルギーの面内分布が測定できないという第
2の問題がある。
Also, the twist angle shown in the above conventional example,
In the cell gap and azimuth anchoring measurement device, since the relative positional relationship between the liquid crystal cell, the measurement device, and the optical axis was not configured to be changeable, the twist angle in the display surface of the liquid crystal cell, the cell gap, and the like. There is a second problem that the in-plane distribution of the azimuthal anchoring energy cannot be measured.

【0044】さらに、上記従来例に示されるツイスト
角、セルギャップ及び方位角アンカリング測定装置にお
いては、液晶セルや検光子からの反射光による影響を考
慮していないため、測定精度が低下するという第3の問
題がある。
Further, in the twist angle, cell gap and azimuth angle anchoring measuring devices shown in the above-mentioned conventional example, the measurement accuracy is reduced because the influence of the reflected light from the liquid crystal cell and the analyzer is not taken into account. There is a third problem.

【0045】本発明の第1の目的は、被検物である液晶
セルの大型化に対応し、測定装置自体を大型化すること
なく、液晶セルの表示面内におけるツイスト角、セルギ
ャップ及び方位角アンカリングエネルギーを測定するこ
とのできるツイスト角、セルギャップ及び方位角アンカ
リング測定装置、測定方法及びプログラムを記憶した記
憶媒体を提供することを目的とする。
A first object of the present invention is to cope with an increase in the size of a liquid crystal cell as an object to be inspected, without increasing the size of the measuring apparatus itself, without changing the twist angle, cell gap and orientation in the display surface of the liquid crystal cell. It is an object of the present invention to provide a twist angle, cell gap and azimuth angle anchoring measuring device capable of measuring angular anchoring energy, a measuring method, and a storage medium storing a program.

【0046】また、本発明の第2の目的は、被検物であ
る液晶セルの表示面内におけるツイスト角、セルギャッ
プ及び方位角アンカリングの面内分布状態を測定するこ
とのできるツイスト角、セルギャップ及び方位角アンカ
リング測定装置、測定方法及びプログラムを記憶した記
憶媒体を提供することを目的とする。
A second object of the present invention is to provide a twist angle for measuring the twist angle, the cell gap and the in-plane distribution of azimuthal anchoring on the display surface of a liquid crystal cell as a test object. An object of the present invention is to provide a cell gap and azimuth anchoring measuring device, a measuring method, and a storage medium storing a program.

【0047】さらに、本発明の第3の目的は、被検物で
ある液晶セルの表示面内におけるツイスト角、セルギャ
ップ及び方位角アンカリングの測定精度を向上すること
のできるツイスト角、セルギャップ及び方位角アンカリ
ング測定装置、測定方法及びプログラムを記憶した記憶
媒体を提供することを目的とする。
Further, a third object of the present invention is to provide a twist angle and a cell gap which can improve the measurement accuracy of the twist angle, the cell gap and the azimuth angle anchoring on the display surface of a liquid crystal cell as a test object. And an azimuth anchoring measurement device, a measurement method, and a storage medium storing a program.

【0048】[0048]

【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に、請求項1記載の発明は、少なくとも所定の波長の
を射出する光源と、光源により射出された光から所定の
偏光を取り出す偏光子と、偏光子により取り出された所
定の偏光を透過して旋光する液晶セルと、液晶セルの透
過光を検光する検光子と、検光子により検光された透過
光を受光して透過光強度を測定する受光器と、受光器に
より測定された透過光強度に基づいて液晶セルのツイス
ト角およびセルギャップの決定と該決定されたツイスト
角および該セルギャップを用いて方位角アンカリングの
演算を制御する制御部とを有し、偏光子と検光子とは、
それぞれ独立して、光軸を中心に回動可能に構成され、
制御部は、偏光子および検光子のそれぞれの回動を制御
し、液晶セルは、光軸を中心に回動可能に構成されると
共に、光軸に対して垂直な平面内で自由方向に移動可能
に構成され、液晶セルの表示面内の全ての点において透
過光強度を測定することにより、液晶セル特性の面内分
布状態を測定することを特徴とする。
In order to solve the above-mentioned problems, the invention according to the first aspect of the present invention is directed to a light source having at least a predetermined wavelength.
A light source that emits light and a predetermined
Polarizer for extracting polarized light and where it is extracted by the polarizer
A liquid crystal cell that transmits a certain amount of polarized light and performs optical rotation;
Analyzer that detects over-light and transmission that is analyzed by the analyzer
A receiver that receives light and measures transmitted light intensity, and a receiver
Twist of the liquid crystal cell based on the measured transmitted light intensity
Angle and cell gap and the determined twist
Angle and azimuthal anchoring using the cell gap.
Having a control unit for controlling the operation, the polarizer and the analyzer,
Each independently, it is configured to be rotatable around the optical axis,
Control unit controls the rotation of the polarizer and analyzer
When the liquid crystal cell is configured to be rotatable about the optical axis,
Both can move freely in a plane perpendicular to the optical axis
At all points on the display surface of the liquid crystal cell.
By measuring the light intensity, the in-plane distribution of the liquid crystal cell characteristics can be determined.
It is characterized by measuring a cloth state.

【0049】請求項2記載の発明は、請求項1記載の発
明において、制御部は、偏光子と検光子との透過軸を所
定の角度となるように回動し、所定の角度から偏光子と
検光子との回動を同期させながら受光器にて測定される
透過光強度が最大または最小となる角度まで回動し、透
過光強度が最大または最小となる角度から偏光子あるい
は検光子のいずれかを所定の角速度で回動させるように
制御することを特徴とする。
According to a second aspect of the present invention, in the first aspect of the present invention, the control unit determines a transmission axis between the polarizer and the analyzer.
Rotate to a fixed angle, and with a polarizer from a predetermined angle
Measured by the receiver while synchronizing the rotation with the analyzer
Rotate to the angle where the transmitted light intensity is maximum or minimum, and
Polarizer or polarizer from the angle where the light intensity is maximum or minimum
Rotate one of the analyzers at a predetermined angular velocity.
It is characterized by controlling.

【0050】請求項3記載の発明は、少なくとも所定の
波長の光を射出する光源と、光源により射出された光か
ら所定の偏光を取り出す偏光子と、偏光子により取り出
された所定の偏光に対して該偏光の1/2倍に相当する
位相差を与えて透過する1/2波長板と、1/2波長板
の透過光により旋光する液晶セルと、液晶セルの透過光
を検光する検光子と、検光子により検光された透過光を
受光して透過光強度を測定する受光器と、受光器により
測定された透過光強度に基づいて液晶セルのツイスト角
およびセルギャップの決定と該決定されたツイスト角お
よび該セルギャップを用いて方位角アンカリングの演算
を制御する制御部とを有し、偏光子と1/2波長板と検
光子とは、それぞれ独立して、光軸を中心に回動可能に
構成され、制御部は、偏光子、1/2波長板および検光
子のそれぞれの回動を制御し、液 晶セルは、光軸を中心
に回動可能に構成されると共に、光軸に対して垂直な平
面内で自由方向に移動可能に構成され、液晶セルの表示
面内の全ての点において透過光強度を測定することによ
り、液晶セル特性の面内分布状態を測定することを特徴
とする。
According to a third aspect of the present invention, at least a predetermined
A light source that emits light of a wavelength and light emitted by the light source
Polarizer that takes out predetermined polarized light from
Equivalent to 倍 times the polarized light given
A half-wave plate that transmits by giving a phase difference, and a half-wave plate
Liquid crystal cell that rotates by the transmitted light of the liquid crystal and the transmitted light of the liquid crystal cell
And the transmitted light detected by the analyzer.
A receiver that receives and measures the transmitted light intensity and a receiver
Twist angle of liquid crystal cell based on measured transmitted light intensity
And the determination of the cell gap and the determined twist angle and
And calculation of azimuth anchoring using the cell gap
And a controller for controlling the polarizer, the half-wave plate, and the detector.
Each photon can rotate independently of the optical axis
The control unit includes a polarizer, a half-wave plate, and an analyzer.
Controls each of the rotation of the child, the liquid crystal cell, around the optical axis
And a plane perpendicular to the optical axis.
It is configured so that it can move freely in the plane, and displays liquid crystal cells
By measuring the transmitted light intensity at all points in the plane
Measurement of in-plane distribution of liquid crystal cell characteristics
And

【0051】請求項4記載の発明は、請求項3記載の発
明において、制御部は、偏光子と検光子との透過軸を所
定の角度となるように回動し、所定の角度から1/2波
長板と検光子との回動を1:2の回転角度比を保ちなが
ら受光器にて測定される透過光強度が最大または最小と
なる角度まで同一方向または逆方向に回動し、透過光強
度が最大または最小となる角度から偏光子または検光子
のいずれかを所定の角速度で回動させるように制御する
ことを特徴とする。
The invention according to claim 4 is the invention according to claim 3.
In the description, the control unit determines the transmission axis of the polarizer and the analyzer.
Rotate to a certain angle, and 波 wave from a certain angle
While maintaining the rotation angle ratio between the long plate and the analyzer at 1: 2,
From the maximum or minimum transmitted light intensity measured by the receiver
Rotate in the same direction or the opposite direction up to an angle
Polarizer or analyzer from maximum or minimum angle
Is controlled to rotate either of them at a predetermined angular velocity
It is characterized by the following.

【0052】請求項5記載の発明は、少なくとも所定の
波長の光を射出する光源と、光源により射出された光か
ら所定の偏光を取り出す偏光子と、偏光子により取り出
された所定の偏光を透過して旋光する液晶セルと、液晶
セルの透過光に対して該透過光の1/2倍に相当する位
相差を与えて透過する1/2波長板と、1/2波長板の
透過光を検光する検光子と、検光子により検光された透
過光を受光して透過光強度を測定する受光器と、受光器
により測定された透過光強度に基づいて液晶セルのツイ
スト角およびセルギャップの決定と該決定されたツイス
ト角および該セルギャップを用いて方位角アンカリング
の演算を制御する制御部とを有し、偏光子と1/2波長
板と検光子とは、それぞれ独立して、光軸を中心に回動
可能に構成され、制御部は、偏光子、1/2波長板およ
び検光子のそれぞれの回動を制御し、液晶セルは、光軸
を中心に回動可能に構成されると共に、光軸に対して垂
直な平面内で自由方向に移動可能に構成され、液晶セル
の表示面内の全ての点において透過光強度を測定するこ
とにより、液晶セル特性の面内分布状態を測定すること
を特徴とする。
According to a fifth aspect of the present invention, at least a predetermined
A light source that emits light of a wavelength and light emitted by the light source
Polarizer that takes out predetermined polarized light from
Liquid crystal cell that transmits and rotates predetermined polarized light, and liquid crystal
A position corresponding to half of the transmitted light of the cell
A half-wave plate that transmits by giving a phase difference, and a half-wave plate
An analyzer that detects transmitted light, and a transmittance that is detected by the analyzer.
A receiver that receives transmitted light and measures transmitted light intensity, and a receiver
Of the liquid crystal cell based on the transmitted light intensity measured by
Determination of strike angle and cell gap and the determined twist
Azimuth anchoring using the angle and the cell gap
And a control unit for controlling the operation of the polarizer and the half-wavelength.
The plate and the analyzer rotate independently around the optical axis
The control unit comprises a polarizer, a half-wave plate and
The liquid crystal cell controls the rotation of the
Around the optical axis.
The liquid crystal cell is configured to be movable in a free direction in a straight plane.
Measure the transmitted light intensity at all points on the display surface of
By measuring the in-plane distribution state of the liquid crystal cell characteristics by
It is characterized by.

【0053】請求項6記載の発明は、請求項5記載の発
明において、制御部は、偏光子と検光子との透過軸を所
定の角度となるように回動し、所定の角度から1/2波
長板 と偏光子または検光子のいずれかとの回動を1:2
の回転角度比を保ちながら受光器にて測定される透過光
強度が最大または最小となる角度まで同一方向または逆
方向に回動し、透過光強度が最大または最小となる角度
から偏光子または検光子のいずれかを所定の角速度で回
動させるように制御することを特徴とする。
The invention according to claim 6 is the invention according to claim 5.
In the description, the control unit determines the transmission axis of the polarizer and the analyzer.
Rotate to a certain angle, and 波 wave from a certain angle
Rotation between the long plate and either the polarizer or the analyzer is 1: 2
Transmitted light measured by the receiver while maintaining the rotation angle ratio of
Same direction or up to the angle where the strength is maximum or minimum
Angle at which the transmitted light intensity is maximized or minimized
Either the polarizer or the analyzer at a given angular velocity
It is characterized by being controlled to move.

【0054】請求項7記載の発明は、少なくとも所定の
波長の光を射出する光源と、光源により射出された光か
ら所定の偏光を取り出す偏光子と、偏光子により取り出
された所定の偏光に対して該偏光の1/2倍に相当する
位相差を与えて透過する第1の1/2波長板と、第1の
1/2波長板の透過光により旋光する液晶セルと、液晶
セルの透過光に対して該透過光の1/2倍に相当する位
相差を与えて透過する第2の1/2波長板と、第2の1
/2波長板の透過光を検光する検光子と、検光子により
検光された透過光を受光して透過光強度を測定する受光
器と、受光器により測定された透過光強度に基づいて液
晶セルのツイスト角およびセルギャップの決定と該決定
されたツイスト角および該セルギャップを用いて方位角
アンカリングの演算を制御する制御部とを有し、偏光子
と第1の1/2波長板と第2の1/2波長板と検光子と
は、それぞれ独立して、光軸を中心に回動可能に構成さ
れ、制御部は、偏光子、第1の1/2波長板、第2の1
/2波長板および検光子のそれぞれの回動を制御し、液
晶セルは、光軸を中心に回動可能に構成されると共に、
光軸に対して垂直な平面内で自由方向に移動可能に構成
され、液晶セルの表示面内の全ての点において透過光強
度を測定することにより、液晶セル特性の面内分布状態
を測定することを特徴とする。
According to a seventh aspect of the present invention, at least a predetermined
A light source that emits light of a wavelength and light emitted by the light source
Polarizer that takes out predetermined polarized light from
Equivalent to 倍 times the polarized light given
A first half-wave plate that transmits by giving a phase difference;
A liquid crystal cell that rotates by the transmitted light of a half-wave plate, and a liquid crystal
A position corresponding to half of the transmitted light of the cell
A second half-wave plate transmitting by giving a phase difference;
The analyzer that analyzes the transmitted light of the half-wave plate and the analyzer
Receiving light that receives the analyzed transmitted light and measures the transmitted light intensity
And the liquid based on the transmitted light intensity measured by the receiver.
Of twist angle and cell gap of crystal cell and its determination
Azimuth angle using the determined twist angle and the cell gap
A control unit for controlling an anchoring operation, and a polarizer
, A first half-wave plate, a second half-wave plate, and an analyzer
Are independently rotatable about the optical axis.
The control unit includes a polarizer, a first half-wave plate, and a second half-wave plate.
The rotation of each of the half-wave plate and the analyzer is controlled,
The crystal cell is configured to be rotatable around the optical axis,
Configurable to move freely in a plane perpendicular to the optical axis
Transmitted light intensity at all points on the display surface of the liquid crystal cell.
The in-plane distribution of liquid crystal cell characteristics
Is measured.

【0055】請求項8記載の発明は、請求項7記載の発
明において、制御部は、偏光子と検光子との透過軸を所
定の角度となるように回動し、所定の角度から第1の1
/2波長板と第2の1/2波長板との回動を同期させな
がら受光器にて測定される透過光強度が最大または最小
となる角度まで同一方向または逆方向に回動し、透過光
強度が最大または最小となる角度から第1の1/2波長
板、第2の1/2波長板、偏光子、検光子、のいずれか
を所定の角速度で回動させるように制御することを特徴
とする。
The invention according to claim 8 provides the invention according to claim 7.
In the description, the control unit determines the transmission axis of the polarizer and the analyzer.
Rotate to a predetermined angle, and from the predetermined angle to the first 1
Do not synchronize the rotation of the half-wave plate and the second half-wave plate.
Maximum or minimum transmitted light intensity measured by the receiver
The same direction or the opposite direction until the angle
The first half wavelength from the angle where the intensity is maximum or minimum
Plate, second half-wave plate, polarizer, analyzer
Is controlled to rotate at a predetermined angular velocity.
And

【0056】請求項9記載の発明は、少なくとも所定の
波長の光を射出する光源と、該光源により射出された光
から所定の偏光を取り出す偏光子と、該偏光子により取
り出された所定の偏光を透過して旋光する液晶セルと、
該液晶セルの透過光を検光する検光子と、該検光子によ
り検光された透過光を受光して透過光強度を測定する受
光器と、該受光器により測定された透過光強度に基づい
て液晶セルのツイスト角およびセルギャップの決定と該
決定されたツイスト角および該セルギャップを用いて方
位角アンカリングの演算を制御する制御部とを備えるツ
イスト角、セルギャップ及び方位角アンカリング測定装
置の測定方法であって、偏光子と検光子との透過軸を所
定の角度となるように回動する第1の回動工程と、光源
から所定の波長の光を射出する射出工程と、光源から射
出された光から偏光子により所定の偏光を取り出す偏光
工程と、偏光工程により取り出された所定の偏光により
液晶セルを旋光する施光工程と、施光工程による液晶セ
ルの透過光を検光子により検光する検光工程と、検光工
程により検光された透過光を受光器で受光して透過光強
度を測定する測定工程と、測定工程により測定された透
過光強度が最大または最小となる角度まで偏光子と検光
子とを同期させながら回動する第2の回動工程と、透過
光強度が最大または最小となる角度から偏光子または検
光子のいずれかを所定の角速度で回動する第3の回動工
程と、第3の回動工程により偏光子または検光子のいず
れかを所定の角速度で回動させた際に、受光器により受
光された透過光強度から液晶セルのツイスト角およびセ
ルギャップを算出する第1の算出工程と、第1の算出工
程により算出されたツイスト角およびセルギャップを用
いて液晶セルの方位角アンカリングを算出する第2の算
出工程と、液晶セルを光源から射出される光の光軸を中
心に回動及び/または光軸に対して垂直な平面内で移動
する回動/移動工程と、を有し、回動/移動工程により
液晶セルを光軸に対して垂直な平面内で移動すること
で、表示面内の全ての点における透過光強度を測定する
ことにより、液晶セル特性の面内分布状態を測定するこ
とを特徴とする。
According to the ninth aspect of the present invention, at least a predetermined
Light source for emitting light having a wavelength, and light emitted by the light source
And a polarizer for extracting predetermined polarized light from the
A liquid crystal cell that transmits a predetermined polarized light that is emitted and rotates the light,
An analyzer for analyzing the transmitted light of the liquid crystal cell;
To receive transmitted light that has been detected and measure the transmitted light intensity.
Based on the optical device and the transmitted light intensity measured by the light receiver
To determine the twist angle and cell gap of the liquid crystal cell
Using the determined twist angle and the cell gap
A control unit for controlling the operation of the angle anchoring.
Measurement device for ist angle, cell gap and azimuth anchoring
Measurement method, and the transmission axis between the polarizer and the analyzer is
A first rotation step of rotating to a fixed angle, and a light source
An emission step of emitting light of a predetermined wavelength from the
Polarized light that takes out predetermined polarized light from the emitted light with a polarizer
Process and the predetermined polarized light extracted in the polarization process
A light-irradiation step for rotating the liquid crystal cell and a liquid-crystal cell by the light-irradiation step.
Analysis process to analyze the transmitted light of the
Received by the receiver and the transmitted light intensity
Measuring the degree of transparency and the permeability measured in the measuring step.
Polarizer and analyzer up to the angle where the light intensity is at the maximum or minimum
A second rotation step of rotating while synchronizing with the child;
From the angle where the light intensity is maximum or minimum,
A third rotating mechanism for rotating any of the photons at a predetermined angular velocity
And the third rotation step, whether a polarizer or an analyzer
When it is rotated at a predetermined angular velocity, it is received by the receiver.
From the transmitted light intensity, the twist angle and cell
A first calculating step of calculating the gap, and a first calculating step.
Using the twist angle and cell gap calculated by
Calculation to calculate the azimuthal anchoring of the liquid crystal cell
Out of the liquid crystal cell and the optical axis of the light emitted from the light source.
Rotate around the heart and / or move in a plane perpendicular to the optical axis
Rotating / moving step.
Moving the liquid crystal cell in a plane perpendicular to the optical axis
To measure the transmitted light intensity at all points in the display surface
This makes it possible to measure the in-plane distribution of liquid crystal cell characteristics.
And features.

【0057】請求項10記載の発明は、少なくとも所定
の波長の光を射出する光源と、該光 源により射出された
光から所定の偏光を取り出す偏光子と、該偏光子により
取り出された所定の偏光に対して該偏光の1/2の位相
差を与えて透過する1/2波長板と、該1/2波長板の
透過光により旋光する液晶セルと、該液晶セルの透過光
を検光する検光子と、該検光子により検光された透過光
を受光して透過光強度を測定する受光器と、該受光器に
より測定された透過光強度に基づいて液晶セルのツイス
ト角およびセルギャップの決定と該決定されたツイスト
角および該セルギャップを用いて方位角アンカリングの
演算を制御する制御部とを備えるツイスト角、セルギャ
ップ及び方位角アンカリング測定装置の測定方法であっ
て、偏光子と検光子との透過軸を所定の角度となるよう
に回動する第1の回動工程と、光源から所定の波長の光
を射出する射出工程と、光源から射出された光から偏光
子により所定の偏光を取り出す偏光工程と、偏光工程に
より取り出された所定の偏光により液晶セルを旋光する
施光工程と、施光工程による液晶セルの透過光を検光子
により検光する検光工程と、検光工程により検光された
透過光を受光器で受光して透過光強度を測定する測定工
程と、測定工程により測定された透過光強度が最大また
は最小となる角度まで1/2波長板と検光子とを1:2
の回転角度比を保ちながら同一方向または逆方向に回動
する第2の回動工程と、透過光強度が最大または最小と
なる角度から偏光子、検光子、1/2波長板のいずれか
を所定の角速度で回動する第3の回動工程と、第3の回
動工程により偏光子、検光子、1/2波長板のいずれか
を所定の角速度で回動させた際に、受光器により受光さ
れた透過光強度から液晶セルのツイスト角およびセルギ
ャップを算出する第1の算出工程と、第1の算出工程に
より算出されたツイスト角およびセルギャップを用いて
液晶セルの方位角アンカリングを算出する第2の算出工
程と、液晶セルを光源から射出される光の光軸を中心に
回動及び/または光軸に対して垂直な平面内で移動する
回動/移動工程と、を有し、回動/移動工程により液晶
セルを光軸に対して垂直な平面内で移動することで、表
示面内の全ての点における透過光強度を測定することに
より、液晶セル特性の面内分布状態を測定することを特
徴とする。
According to a tenth aspect of the present invention, at least a predetermined
A light source for emitting light having a wavelength of, emitted by the light source
A polarizer that extracts predetermined polarized light from light, and the polarizer
For the given polarized light extracted, half the phase of the polarized light
A half-wave plate that transmits by giving a difference,
Liquid crystal cell rotating by transmitted light and transmitted light of the liquid crystal cell
And transmitted light detected by the analyzer.
And a receiver for measuring transmitted light intensity by receiving light
Twist of the liquid crystal cell based on the measured transmitted light intensity
Angle and cell gap and the determined twist
Angle and azimuthal anchoring using the cell gap.
And a control unit for controlling the operation.
And azimuth anchoring measurement equipment.
So that the transmission axis between the polarizer and the analyzer is at a predetermined angle.
A first rotation step of rotating the light source, and light of a predetermined wavelength from the light source.
And the polarization of the light emitted from the light source
Polarization process to take out predetermined polarized light by
Rotates the liquid crystal cell with the predetermined polarized light extracted
An analyzer that analyzes the light transmitted through the liquid crystal cell
The light is analyzed by the light detection step and the light detection step
Measuring system that measures transmitted light intensity by receiving transmitted light with a receiver
The transmitted light intensity measured by the measurement process
Is a 1: 2 ratio of the half-wave plate and the analyzer to the minimum angle.
Rotate in the same direction or opposite direction while maintaining the rotation angle ratio of
A second rotating step, and a step of determining whether the transmitted light intensity is maximum or minimum.
Either polarizer, analyzer or half-wave plate from a certain angle
Rotating at a predetermined angular velocity, and a third rotating step.
Any of polarizer, analyzer, and half-wave plate depending on the moving process
Is rotated by a predetermined angular velocity,
Twist angle of liquid crystal cell and cell
A first calculating step of calculating the gap, and a first calculating step.
Using the twist angle and cell gap calculated from
Second calculation step for calculating the azimuth anchoring of the liquid crystal cell
Around the optical axis of the light emitted from the light source
Rotate and / or move in a plane perpendicular to the optical axis
Rotating / moving step, and the liquid crystal is
By moving the cell in a plane perpendicular to the optical axis,
To measure the transmitted light intensity at all points in the display surface
Measurement of the in-plane distribution of liquid crystal cell characteristics.
Sign.

【0058】請求項11記載の発明は、少なくとも所定
の波長の光を射出する光源と、該光 源により射出された
光から所定の偏光を取り出す偏光子と、該偏光子により
取り出された所定の偏光を透過して施光する液晶セル
と、該液晶セルの透過光に対して該透過光の1/2倍に
相当する位相差を与えて透過する1/2波長板と、該1
/2波長板により位相差を与えられた透過光を検光する
検光子と、該検光子により検光された透過光を受光して
透過光強度を測定する受光器と、該受光器により測定さ
れた透過光強度に基づいて液晶セルのツイスト角および
セルギャップの決定と該決定されたツイスト角および該
セルギャップを用いて方位角アンカリングの演算を制御
する制御部とを備えるツイスト角、セルギャップ及び方
位角アンカリング測定装置の測定方法であって、偏光子
と検光子との透過軸を所定の角度となるように回動する
第1の回動工程と、光源から所定の波長の光を射出する
射出工程と、光源から射出された光から偏光子により所
定の偏光を取り出す偏光工程と、偏光工程により取り出
された所定の偏光により液晶セルを旋光する施光工程
と、施光工程による液晶セルの透過光を検光子により検
光する検光工程と、検光工程により検光された透過光を
受光器で受光して透過光強度を測定する測定工程と、測
定工程により測定された透過光強度が最大または最小と
なる角度まで1/2波長板と偏光子とを1:2の回転角
度比を保ちながら同一方向または逆方向に回動する第2
の回動工程と、透過光強度が最大または最小となる角度
から偏光子、検光子、1/2波長板のいずれかを所定の
角速度で回動する第3の回動工程と、第3の回動工程に
より偏光子、検光子、1/2波長板のいずれかを所定の
角速度で回動させた際に受光器により受光された透過光
強度から液晶セルのツイスト角およびセルギャップを算
出する第1の算出工程と、第1の算出工程により算出さ
れたツイスト角およびセルギャップを用いて液晶セルの
方位角アンカリングを算出する第2の算出工程と、液晶
セルを光源から射出される光の光軸を中心に回動及び/
または光軸に対して垂直な平面内で移動する回動/移動
工程と、を有し、回動/移動工程により液晶セルを光軸
に対して垂直な平面内で移動することで、表示面内の全
ての点における透過光強度を測定することにより、液晶
セル特性の面内分布状態を測定することを特徴とする。
According to the eleventh aspect of the present invention, at least a predetermined
A light source for emitting light having a wavelength of, emitted by the light source
A polarizer that extracts predetermined polarized light from light, and the polarizer
Liquid crystal cell that emits light by passing the extracted polarized light
And に 対 し て of the transmitted light of the liquid crystal cell
A half-wave plate that transmits by providing a corresponding phase difference,
Analyzes transmitted light given a phase difference by a half-wave plate
Receiving an analyzer and the transmitted light analyzed by the analyzer;
A receiver for measuring the intensity of transmitted light, and
Twist angle of the liquid crystal cell based on the transmitted light intensity
Cell gap determination and the determined twist angle and the
Control azimuth anchoring calculation using cell gap
Angle, cell gap and direction with control unit
A method for measuring an angle anchoring measurement device, comprising: a polarizer
Rotates the transmission axis between the analyzer and the analyzer so that it has a predetermined angle.
First rotating step, and emitting light of a predetermined wavelength from the light source
The emission process and the light emitted from the light source
Polarization process to take out fixed polarized light and take out by polarization process
Light application step of rotating the liquid crystal cell with the given polarized light
And the transmitted light of the liquid crystal cell in the light application process is detected by the analyzer.
The transmitted light detected in the light detection step and the light detection step
A measuring process of measuring the transmitted light intensity by receiving light with a receiver,
The transmitted light intensity measured by the
A half-wave plate and a polarizer are rotated at a rotation angle of 1: 2 to a certain angle.
Second rotating in the same or opposite direction while maintaining the ratio
Rotation angle and the angle at which the transmitted light intensity is maximum or minimum
From the polarizer, analyzer, half-wave plate
A third rotation step of rotating at an angular velocity and a third rotation step
More polarizer, analyzer, half-wave plate
Transmitted light received by the receiver when rotated at angular velocity
Calculate twist angle and cell gap of liquid crystal cell from intensity
A first calculating step to be performed and a first calculating step.
Liquid crystal cell using the twist angle and cell gap
A second calculation step for calculating azimuth anchoring;
Rotating the cell about the optical axis of the light emitted from the light source and / or
Or rotation / movement moving in a plane perpendicular to the optical axis
A liquid crystal cell by a rotation / movement process.
By moving in a plane perpendicular to the
By measuring the transmitted light intensity at all points,
The in-plane distribution state of the cell characteristics is measured.

【0059】請求項12記載の発明は、少なくとも所定
の波長の光を射出する光源と、該光 源により射出された
光から所定の偏光を取り出す偏光子と、該偏光子により
取り出された所定の偏光に対して該偏光の1/2倍に相
当する位相差を与えて透過する第1の1/2波長板と、
該第1の1/2波長板により位相差を与えられた透過光
により施光する液晶セルと、該液晶セルの透過光に対し
て該透過光の1/2倍に相当する位相差を与えて透過す
る第2の1/2波長板と、該第2の1/2波長板により
位相差を与えられた透過光を検光する検光子と、該検光
子により検光された透過光を受光して透過光強度を測定
する受光器と、該受光器により測定された透過光強度に
基づいて液晶セルのツイスト角およびセルギャップの決
定と該決定されたツイスト角および該セルギャップを用
いて方位角アンカリングの演算を制御する制御部とを備
えるツイスト角、セルギャップ及び方位角アンカリング
測定装置の測定方法であって、偏光子と検光子との透過
軸を所定の角度となるように回動する第1の回動工程
と、光源から所定の波長の光を射出する射出工程と、光
源から射出された光から偏光子により所定の偏光を取り
出す偏光工程と、偏光工程により取り出された所定の偏
光により液晶セルを旋光する施光工程と、施光工程によ
る液晶セルの透過光を検光子により検光する検光工程
と、検光工程により検光された透過光を受光器で受光し
て透過光強度を測定する測定工程と、測定工程により測
定された透過光強度が最大または最小となる角度まで第
1の1/2波長板と第2の1/2波長板とを同期させな
がら回動する第2の回動工程と、透過光強度が最大また
は最小となる角度から第1の1/2波長板、第2の1/
2波長板、偏光子、検光子のいずれかを所定の角速度で
回動する第3の回動工程と、第3の回動工程により第1
の1/2波長板、第2の1/2波長板、偏光子、検光子
のいずれかを所定の角速度で回動させた際に受光器によ
り受光された透過光強度から液晶セルのツイスト角およ
びセルギャップを算出する第1の算出工程と、第1の算
出工程により算出されたツイスト角およびセルギャップ
を用いて液晶セルの方位角アンカリングを算出する第2
の算出工程と、液晶セルを光源から射出される光の光軸
を中心に回動及び/または光軸に対して垂直な平面内で
移動する回動/移動工程と、を有し、回動/移動工程に
より液晶セルを光軸に対して垂直な平面内で移動するこ
とで、表示面内の全ての点における透過光強度を測定す
ることにより、液晶セル特性の面内分布状態を測定する
ことを特徴とする。
According to a twelfth aspect of the present invention, at least a predetermined
A light source for emitting light having a wavelength of, emitted by the light source
A polarizer that extracts predetermined polarized light from light, and the polarizer
For the extracted polarized light, the phase becomes half the polarized light.
A first half-wave plate that transmits by providing a corresponding phase difference;
Transmitted light given a phase difference by the first half-wave plate
Liquid crystal cell, and the transmitted light of the liquid crystal cell
To give a phase difference equivalent to 1/2 of the transmitted light
A second half-wave plate, and the second half-wave plate
An analyzer for analyzing transmitted light having a phase difference, and the analyzer
The transmitted light detected by the probe is received and the transmitted light intensity is measured.
And the transmitted light intensity measured by the receiver
Of twist angle and cell gap of liquid crystal cell based on
Using the determined twist angle and the cell gap
And a control unit for controlling the azimuth anchoring calculation.
Twist angle, cell gap and azimuth anchoring
A measuring method of a measuring device, wherein a transmission between a polarizer and an analyzer is performed.
First rotation step of rotating the shaft to a predetermined angle
An emission step of emitting light of a predetermined wavelength from a light source;
The polarized light is extracted from the light emitted from the source by a polarizer.
Polarization process and the predetermined polarization extracted by the polarization process.
A light application step of rotating the liquid crystal cell with light, and a light application step.
Analysis process for analyzing the transmitted light of a liquid crystal cell with an analyzer
And the transmitted light detected by the light detection process
Measuring the transmitted light intensity using the
Until the specified transmitted light intensity reaches the maximum or minimum.
Do not synchronize the first half-wave plate and the second half-wave plate.
A second rotation step of rotating the light,
Is the first half-wave plate, the second 1 /
One of a two-wave plate, polarizer, and analyzer at a predetermined angular velocity
A third rotating step of rotating and a first rotating step
Half-wave plate, second half-wave plate, polarizer, analyzer
Is rotated by the receiver when any of
The twist angle of the liquid crystal cell and the
A first calculating step for calculating the cell gap and the cell gap;
Twist angle and cell gap calculated by the output process
To calculate the azimuthal anchoring of the liquid crystal cell using
Calculation process and the optical axis of the light emitted from the light source through the liquid crystal cell
Around a center and / or in a plane perpendicular to the optical axis
Moving / rotating / moving step.
Move the liquid crystal cell in a plane perpendicular to the optical axis.
And measure the transmitted light intensity at all points on the display surface.
The in-plane distribution of the liquid crystal cell characteristics
It is characterized by the following.

【0060】請求項13記載の発明は、少なくとも所定
の波長の光を射出する光源と、該光源により射出された
光から所定の偏光を取り出す偏光子と、該偏光子により
取り出された所定の偏光を透過して旋光する液晶セル
と、該液晶セルの透過光を検光する検光子と、該検光子
により検光された透過光を受光して透過光強度を測定す
る受光器と、該受光器により測定された透過光強度に基
づいて液晶セルのツイスト角およびセルギャップの決定
と該決定されたツイスト角および該セルギャップを用い
て方位角アンカリングの演算を制御する制御部とを備え
るツイスト角、セルギャップ及び方位角アンカリング測
定装置のプログラムを記憶した記憶媒体であって、偏光
子と検光子との透過軸を所定の角度となるように回動す
る第1の回動処理と、光源から所定の波長の光を射出す
る射出処理と、光源から射出された光から偏光子により
所定の偏光を取り出す偏光処理と、偏光処理により取り
出された所定の偏光により液晶セルを旋光する施光処理
と、施光処理による液晶セルの透過光を検光子により検
光する検光処理と、検光処理により検光された透過光を
受光器で受光して透過光強度を測定する測定処理と、測
定処理により測定された透過光強度が最大または最小と
なる角度まで偏光子と検光子とを同期させながら回動す
る第2の回動処理と、透過光強度が最大または最小とな
る角度から偏光子または検光子のいずれかを所定の角速
度で回動する第3の回動処理と、第3の回動処理により
偏光子または検光子のいずれかを所定の角速度で回動さ
せた際の受光器により受光された透過光強度から液晶セ
ルのツイスト角およびセルギャップを算出する第1の算
出処理と、第1の算出処理により算出されたツイスト角
およびセルギャップを用いて液晶セルの方位角アンカリ
ングを算出する第2の算出処理と、液晶セルを光源から
射出される光の光軸を中心に回動及び/または光軸に対
して垂直な平面内で移動する回動/移動処理と、を実行
し、回動/移動処理により液晶セルを光軸に対して垂直
な平面内で移動することで、表示面内の全ての点におけ
る透過光強度を測定することにより、液晶セル特性の面
内分布状態を測定するプログラムを記憶したことを特徴
とする。
According to a thirteenth aspect of the present invention, at least a predetermined
A light source that emits light of a wavelength of
A polarizer that extracts predetermined polarized light from light, and the polarizer
A liquid crystal cell that transmits the extracted polarized light and rotates it.
An analyzer for detecting the transmitted light of the liquid crystal cell; and the analyzer.
Receives the transmitted light detected by the analyzer and measures the transmitted light intensity.
Based on the transmitted light intensity measured by the receiver.
Of Twist Angle and Cell Gap of Liquid Crystal Cell
And the determined twist angle and the cell gap
Control unit for controlling the calculation of the azimuth anchoring
Twist angle, cell gap and azimuth anchoring measurements
Storage medium storing the program of the
Rotate the transmission axis between the analyzer and analyzer so that it is at a predetermined angle.
A first rotation process, and emitting light of a predetermined wavelength from the light source.
Injection process and the light emitted from the light source
Polarization processing to take out predetermined polarized light and polarization processing
Lighting treatment to rotate the liquid crystal cell with the given polarized light
Light transmitted through the liquid crystal cell
Light analysis processing and transmitted light detected by the light analysis processing
A measurement process of measuring the transmitted light intensity by receiving light with a receiver and measuring
Is the maximum or minimum transmitted light intensity
Rotate while synchronizing the polarizer and analyzer to a certain angle
A second rotation process, and the transmitted light intensity becomes maximum or minimum.
The polarizer or analyzer at a given angular velocity
A third rotation process that rotates by degrees, and a third rotation process.
Rotate either the polarizer or the analyzer at a given angular velocity
From the transmitted light intensity received by the
Calculation for calculating the twist angle and cell gap of the
Output processing and the twist angle calculated by the first calculation processing
Angle anchorage of liquid crystal cell by using
Calculation processing for calculating the liquid crystal cell and the liquid crystal cell from the light source.
The emitted light rotates around the optical axis and / or
And rotate / move processing to move in a vertical plane
And the liquid crystal cell is perpendicular to the optical axis by the rotation / movement processing.
Moving in a simple plane, all points on the display surface
By measuring the transmitted light intensity, the characteristics of the liquid crystal cell can be improved.
Characterized by storing a program for measuring the distribution state
And

【0061】請求項14記載の発明は、少なくとも所定
の波長の光を射出する光源と、該光 源により射出された
光から所定の偏光を取り出す偏光子と、該偏光子により
取り出された所定の偏光に対して該偏光の1/2の位相
差を与えて透過する1/2波長板と、該1/2波長板の
透過光により旋光する液晶セルと、該液晶セルの透過光
を検光する検光子と、該検光子により検光された透過光
を受光して透過光強度を測定する受光器と、該受光器に
より測定された透過光強度に基づいて液晶セルのツイス
ト角およびセルギャップの決定と該決定されたツイスト
角および該セルギャップを用いて方位角アンカリングの
演算を制御する制御部とを備えるツイスト角、セルギャ
ップ及び方位角アンカリング測定装置のプログラムを記
憶した記憶媒体であって、偏光子と検光子との透過軸を
所定の角度となるように回動する第1の回動処理と、光
源から所定の波長の光を射出する射出処理と、光源から
射出された光から偏光子により所定の偏光を取り出す偏
光処理と、偏光処理により取り出された所定の偏光によ
り液晶セルを旋光する施光処理と、施光処理による液晶
セルの透過光を検光子により検光する検光処理と、検光
処理により検光された透過光を受光器で受光して透過光
強度を測定する測定処理と、測定処理により測定された
透過光強度が最大または最小となる角度まで1/2波長
板と検光子とを1:2の回転角度比を保ちながら同一方
向または逆方向に回動する第2の回動処理と、透過光強
度が最大または最小となる角度から偏光子、検光子、1
/2波長板のいずれかを所定の角速度で回動する第3の
回動処理と、第3の回動処理により偏光子、検光子、1
/2波長板のいずれかを所定の角速度で回動させた際の
受光器により受光された透過光強度から液晶セルのツイ
スト角およびセルギャップを算出する第1の算出処理
と、第1の算出処理により算出されたツイスト角および
セルギャップを用いて液晶セルの方位角アンカリングを
算出する第2の算出処理と、液晶セルを光源から射出さ
れる光の光軸を中心に回動及び/または光軸に対して垂
直な平面内で移動する回動/移動処理と、を実行し、回
動/移動処理により液晶セルを光軸に対して垂直な平面
内で移動することで、表示面内の全ての点における透過
光強度を測定することにより、液晶セル特性の面内分布
状態を測定するプログラムを記憶したことを特徴とす
る。
According to a fourteenth aspect of the present invention, at least a predetermined
A light source for emitting light having a wavelength of, emitted by the light source
A polarizer that extracts predetermined polarized light from light, and the polarizer
For the given polarized light extracted, half the phase of the polarized light
A half-wave plate that transmits by giving a difference,
Liquid crystal cell rotating by transmitted light and transmitted light of the liquid crystal cell
And transmitted light detected by the analyzer.
And a receiver for measuring transmitted light intensity by receiving light
Twist of the liquid crystal cell based on the measured transmitted light intensity
Angle and cell gap and the determined twist
Angle and azimuthal anchoring using the cell gap.
And a control unit for controlling the operation.
And a program for the azimuth anchoring measurement device.
Storage medium that has the transmission axis between the polarizer and the analyzer
A first rotation process of rotating to a predetermined angle;
An emission process for emitting light of a predetermined wavelength from a source, and
Polarization to extract predetermined polarized light from the emitted light with a polarizer
Light processing and the predetermined polarized light extracted by the polarization processing.
Light treatment to rotate the liquid crystal cell and the liquid crystal by the light treatment
Analysis processing for analyzing the transmitted light of the cell with an analyzer, and analysis
The transmitted light detected by the processing is received by the receiver and the transmitted light
Measurement process to measure the strength, measured by the measurement process
1/2 wavelength up to the angle where the transmitted light intensity is maximum or minimum
Plate and analyzer are the same while maintaining the rotation angle ratio of 1: 2
A second rotation process of rotating in the opposite or opposite direction,
Polarizer, analyzer, 1
A third method of rotating one of the half-wave plates at a predetermined angular velocity
By the rotation processing and the third rotation processing, the polarizer, the analyzer,
When one of the half-wave plates is rotated at a predetermined angular velocity
From the intensity of the transmitted light received by the receiver,
First calculation processing for calculating strike angle and cell gap
And the twist angle calculated by the first calculation process and
Azimuthal anchoring of liquid crystal cell using cell gap
A second calculation process for calculating the liquid crystal cell emitted from the light source;
About the optical axis of the light to be reflected and / or perpendicular to the optical axis.
Rotation / movement processing for moving in a straight plane,
The liquid crystal cell is placed in a plane perpendicular to the optical axis by moving / moving
Moving within the screen, transmission at all points on the display surface
By measuring the light intensity, the in-plane distribution of the liquid crystal cell characteristics
A program for measuring a state is stored.
You.

【0062】請求項15記載の発明は、少なくとも所定
の波長の光を射出する光源と、該光 源により射出された
光から所定の偏光を取り出す偏光子と、該偏光子により
取り出された所定の偏光を透過して施光する液晶セル
と、該液晶セルの透過光に対して該透過光の1/2倍に
相当する位相差を与えて透過する1/2波長板と、該1
/2波長板により位相差を与えられた透過光を検光する
検光子と、該検光子により検光された透過光を受光して
透過光強度を測定する受光器と、該受光器により測定さ
れた透過光強度に基づいて液晶セルのツイスト角および
セルギャップの決定と該決定されたツイスト角および該
セルギャップを用いて方位角アンカリングの演算を制御
する制御部とを備えるツイスト角、セルギャップ及び方
位角アンカリング測定装置のプログラムを記憶した記憶
媒体であって、偏光子と検光子との透過軸を所定の角度
となるように回動する第1の回動処理と、光源から所定
の波長の光を射出する射出処理と、光源から射出された
光から偏光子により所定の偏光を取り出す偏光処理と、
偏光処理により取り出された所定の偏光により液晶セル
を旋光する施光処理と、施光処理による液晶セルの透過
光を検光子により検光する検光処理と、検光処理により
検光された透過光を受光器で受光して透過光強度を測定
する測定処理と、測定処理により測定された透過光強度
が最大または最小となる角度まで1/2波長板と偏光子
とを1:2の回転角度比を保ちながら同一方向または逆
方向に回動する第2の回動処理と、透過光強度が最大ま
たは最小となる角度から偏光子、検光子、1/2波長板
のいずれかを所定の角速度で回動する第3の回動処理
と、第3の回動処理により偏光子、検光子、1/2波長
板のいずれかを所定の角速度で回動させた際の受光器に
より受光された透過光強度から液晶セルのツイスト角お
よびセルギャップを算出する第1の算出処理と、第1の
算出処理により算出されたツイスト角およびセルギャッ
プを用いて液晶セルの方位角アンカリングを算出する第
2の算出処理と、液晶セルを光源から射出される光の光
軸を中心に回動及び/または光軸に対して垂直な平面内
で移動する回動/移動処理と、を実行し、回動/移動処
理により液晶セルを光軸に対して垂直な平面内で移動す
ることで、表示面内の全ての点における透過光強度を測
定することにより、液晶セル特性の面内分布状態を測定
するプログラムを記憶したことを特徴とする。
According to a fifteenth aspect of the present invention, at least a predetermined
A light source for emitting light having a wavelength of, emitted by the light source
A polarizer that extracts predetermined polarized light from light, and the polarizer
Liquid crystal cell that emits light by passing the extracted polarized light
And に 対 し て of the transmitted light of the liquid crystal cell
A half-wave plate that transmits by providing a corresponding phase difference,
Analyzes transmitted light given a phase difference by a half-wave plate
Receiving an analyzer and the transmitted light analyzed by the analyzer;
A receiver for measuring the intensity of transmitted light, and
Twist angle of the liquid crystal cell based on the transmitted light intensity
Cell gap determination and the determined twist angle and the
Control azimuth anchoring calculation using cell gap
Angle, cell gap and direction with control unit
Memory storing the program of the angle anchoring measurement device
Medium, the transmission axis of the polarizer and the analyzer is set at a predetermined angle
A first rotation process of rotating so that
Emission processing that emits light of a wavelength of
A polarization process of extracting predetermined polarized light from the light by a polarizer,
Liquid crystal cell with predetermined polarized light extracted by polarization processing
Light treatment to rotate the light and transmission of the liquid crystal cell by the light treatment
Light analysis with light analyzer and light analysis with light
Receives the analyzed transmitted light with a receiver and measures the transmitted light intensity
Measurement process and transmitted light intensity measured by the measurement process
Half-wave plate and polarizer up to the angle at which the maximum or minimum is obtained
And the same direction or opposite while maintaining a rotation angle ratio of 1: 2
The second rotation process in which the transmitted light intensity is maximized.
Or polarizer, analyzer, half-wave plate from minimum angle
Rotation processing for rotating any one of the above at a predetermined angular velocity
And a third rotation process, a polarizer, an analyzer, and a half wavelength
When one of the plates is rotated at a predetermined angular velocity
From the transmitted light intensity received from the
And a first calculation process for calculating a cell gap and a first
Twist angle and self-gap calculated by the calculation process
Calculation of azimuth anchoring of liquid crystal cell using
2 and the light emitted from the light source through the liquid crystal cell
Rotation about an axis and / or in a plane perpendicular to the optical axis
Is executed, and the rotation / movement process is performed.
The liquid crystal cell in a plane perpendicular to the optical axis
Measuring the transmitted light intensity at all points on the display surface.
The in-plane distribution of liquid crystal cell characteristics
A program to be executed is stored.

【0063】請求項16記載の発明は、少なくとも所定
の波長の光を射出する光源と、該光源により射出された
光から所定の偏光を取り出す偏光子と、該偏光子により
取り出された所定の偏光に対して該偏光の1/2倍に相
当する位相差を与えて透過する第1の1/2波長板と、
該第1の1/2波長板により位相差を与えられた透過光
により施光する液晶セルと、該液晶セルの透過光に対し
て該透過光の1/2倍に相当する位相差を与えて透過す
る第2の1/2波長板と、該第2の1/2波長板により
位相差を与えられた透過光を検光する検光子と、該検光
子により検光された透過光を受光して透過光強度を測定
する受光器と、該受光器により測定された透過光強度に
基づいて液晶セルのツイスト角およびセルギャップの決
定と該決定されたツイスト角および該セルギャップを用
いて方位角アンカリングの演算を制御する制御部とを備
えるツイスト角、セルギャップ及び方位角アンカリング
測定装置のプログラムを記憶した記憶媒体であって、偏
光子と検光子との透過軸を所定の角度となるように回動
する第1の回動処理と、光源から所定の波長の光を射出
する射出処理と、光源から射出された光から偏光子によ
り所定の偏光を取り出す偏光処理と、偏光処理により取
り出された所定の偏光により液晶セルを旋光する施光処
理と、施光処理による液晶セルの透過光を検光子により
検光する検光処理と、検光処理により検光された透過光
を受光器で受光して透過光強度を測定する測定処理と、
測定処理により測定された透過光強度が最大または最小
となる角度まで第1の1/2波長板と第2の1/2波長
板とを同期させながら回動する第2の回動処理と、透過
光強度が最大または最小となる角度から第1の1/2波
長板、第2の1/2波長板、偏光子、検光子のいずれか
を所定の角速度で回動する第3の回動処理と、第3の回
動処理により第1の1/2波長板、第2の1/2波長
板、偏光子、検光子のいずれかを所定の角速度で回動さ
せた際の受光器により受光された透過光強度から液晶セ
ルのツイスト角およびセルギャップを算出する第1の算
出処理と、第1の算出処理により算出されたツイスト角
およびセルギャップを用いて液晶セルの方位角アンカリ
ングを算出する第2の算出処理と、液晶セルを光源から
射出される光の光軸を中心に回動及び/または光軸に対
して垂直な平面内で移動する回動/移動処理と、を実行
し、回動/移動処理により液晶セルを光軸に対して垂直
な平面内で移動することで、表示面内の全ての点におけ
る透過光強度を測定することにより、液晶セル特性の面
内分布状態を測定するプログラムを記憶したことを特徴
とする。
According to a sixteenth aspect of the present invention, at least a predetermined
A light source that emits light of a wavelength of
A polarizer that extracts predetermined polarized light from light, and the polarizer
For the extracted polarized light, the phase becomes half the polarized light.
A first half-wave plate that transmits by providing a corresponding phase difference;
Transmitted light given a phase difference by the first half-wave plate
Liquid crystal cell, and the transmitted light of the liquid crystal cell
To give a phase difference equivalent to 1/2 of the transmitted light
A second half-wave plate, and the second half-wave plate
An analyzer for analyzing transmitted light having a phase difference, and the analyzer
The transmitted light detected by the probe is received and the transmitted light intensity is measured.
And the transmitted light intensity measured by the receiver
Of twist angle and cell gap of liquid crystal cell based on
Using the determined twist angle and the cell gap
And a control unit for controlling the azimuth anchoring calculation.
Twist angle, cell gap and azimuth anchoring
A storage medium storing a program for a measuring device,
Rotate the transmission axis between the photon and analyzer so that it is at a predetermined angle
1st rotation processing to emit light of a predetermined wavelength from the light source
And a polarizer from the light emitted from the light source.
Polarization processing to extract predetermined polarized light and polarization processing
Light processing for rotating the liquid crystal cell with the given polarized light
And the light transmitted through the liquid crystal cell by the light treatment
Light detection processing for light detection and transmitted light detected by light detection processing
Measuring the transmitted light intensity by receiving the
Maximum or minimum transmitted light intensity measured by the measurement process
The first half-wave plate and the second half-wave plate up to an angle
A second rotation process in which the plate and the plate are rotated in synchronization with each other;
The first half wave from the angle where the light intensity is maximum or minimum
Any of a long plate, a second half-wave plate, a polarizer, and an analyzer
Rotating at a predetermined angular velocity, and a third rotating process.
First half-wave plate, second half-wave by dynamic processing
The plate, polarizer, or analyzer is rotated at a predetermined angular speed.
From the transmitted light intensity received by the
Calculation for calculating the twist angle and cell gap of the
Output processing and the twist angle calculated by the first calculation processing
Angle anchorage of liquid crystal cell by using
Calculation processing for calculating the liquid crystal cell and the liquid crystal cell from the light source.
The emitted light rotates around the optical axis and / or
And rotate / move processing to move in a vertical plane
And the liquid crystal cell is perpendicular to the optical axis by the rotation / movement processing.
Moving in a simple plane, all points on the display surface
By measuring the transmitted light intensity, the characteristics of the liquid crystal cell can be improved.
Characterized by storing a program for measuring the distribution state
And

【0064】[0064]

【発明の実施の形態】次に、添付図面を参照して本発明
の実施形態であるツイスト角、セルギャップ及び方位角
アンカリング測定装置、測定方法及びプログラムを記憶
した記憶媒体を詳細に説明する。図1から図22を参照
すると、本発明によるツイスト角、セルギャップ及び方
位角アンカリング測定装置、測定方法及びプログラムを
記憶した記憶媒体の実施の形態が示されている。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Next, with reference to the accompanying drawings, a twist angle, cell gap and azimuth angle anchoring measuring device, a measuring method and a storage medium storing a program according to an embodiment of the present invention will be described in detail. . 1 to 22 show an embodiment of a twist angle, cell gap, and azimuth angle anchoring measurement device, a measurement method, and a storage medium storing a program according to the present invention.

【0065】〈第1の実施形態〉 図1は、本発明の第1の実施形態であるツイスト角、セ
ルギャップ及び方位角アンカリング測定装置における光
学素子の構成を示す図である。本発明の第1の実施形態
であるツイスト角、セルギャップ及び方位角アンカリン
グ測定装置の光学素子は、レーザ光等の光を射出する光
源1と、光源1から射出される光と同一の光軸上に設け
られ、光源1側から順に、偏光子2と、被検物である液
晶セル3と、検光子4と、受光器5と、を有して構成さ
れる。
<First Embodiment> FIG. 1 is a view showing a configuration of an optical element in a twist angle, cell gap and azimuth anchoring measurement apparatus according to a first embodiment of the present invention. The optical element of the twist angle, cell gap, and azimuth angle anchoring measuring apparatus according to the first embodiment of the present invention includes a light source 1 that emits light such as a laser beam and the same light that is emitted from the light source 1. It is provided on the axis and includes, in order from the light source 1 side, a polarizer 2, a liquid crystal cell 3, which is a test object, an analyzer 4, and a light receiver 5.

【0066】光源1は、上述されるようにレーザ光等の
所定の波長を有する光を射出する。偏光子2は、光源1
から射出された光のうち、所定方向の偏光のみを取り出
す。液晶セル3は、例えば、ツイステッドネマティツク
(TN)構造あるいはスーパーツイステッドネマティツ
ク(STN)構造により構成され、偏光子2の透過光を
照射して施光する液晶表示装置である。検光子4は、液
晶セル3の透過光を検光する。受光器5は、例えば、フ
ォトダイオード等により構成され、検光子4により検光
された透過光の透過光強度を測定する。
The light source 1 emits light having a predetermined wavelength, such as laser light, as described above. Polarizer 2 is light source 1
Out of the light emitted from the device, only polarized light in a predetermined direction is extracted. The liquid crystal cell 3 is, for example, a liquid crystal display device that has a twisted nematic (TN) structure or a super twisted nematic (STN) structure, and emits light by irradiating light transmitted through the polarizer 2. The analyzer 4 detects the transmitted light of the liquid crystal cell 3. The light receiver 5 includes, for example, a photodiode or the like, and measures the transmitted light intensity of the transmitted light detected by the analyzer 4.

【0067】本発明の第1の実施形態においては、以上
のように構成された光学素子のうち、偏光子2および検
光子4のそれぞれが回動可能に構成されているものであ
る。以下、本発明の第1の実施形態を図面に基づいて詳
細に説明する。
In the first embodiment of the present invention, of the optical elements configured as described above, each of the polarizer 2 and the analyzer 4 is configured to be rotatable. Hereinafter, a first embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

【0068】〈第1の実施形態における第1の実施例〉 図2は、本発明の第1の実施形態における第1の実施例
を示す全体構成図である。図2において、光源1から射
出された光は、偏光子2で所定の方向の偏光のみが取り
出されて液晶セル3を照射する。液晶セル3を透過した
光は、検光子4で検光されて受光器5で受光される。受
光器5は、検光子4で検光された後の光の強度(透過光
強度)を電流として検出し、この電流値を電流電圧変換
器8で電圧値に変換され、その電圧値を電圧計9で検出
する。PC10は、電圧計9で検出された電圧値、すな
わち、透過光強度に基づいて偏光子2および検光子4を
回動させるための駆動手段となるステッピングモータ1
1,12に制御信号を送出する。ステッピングモータ1
1,12は、この制御信号に基づいて、偏光子2および
検光子4をそれぞれ所定の角度回動させるように駆動す
る。
<First Example of First Embodiment> FIG. 2 is an overall configuration diagram showing a first example of the first embodiment of the present invention. In FIG. 2, only the polarized light in a predetermined direction is extracted from the light emitted from the light source 1 by the polarizer 2 and irradiates the liquid crystal cell 3. The light transmitted through the liquid crystal cell 3 is detected by the analyzer 4 and received by the light receiver 5. The light receiver 5 detects, as a current, the intensity of light (transmitted light intensity) after the light has been detected by the analyzer 4, converts this current value into a voltage value by a current-voltage converter 8, and converts the voltage value to a voltage. A total of 9 are detected. The PC 10 is a stepping motor 1 serving as a driving unit for rotating the polarizer 2 and the analyzer 4 based on the voltage value detected by the voltmeter 9, that is, the transmitted light intensity.
A control signal is sent to 1,12. Stepping motor 1
On the basis of the control signal, the drive units 12 drive the polarizer 2 and the analyzer 4 to rotate by a predetermined angle.

【0069】図2を参照して、本発明の第1の実施形態
における第1の実施例の動作例1を説明する。第1の段
階として、ステッピングモータ11,12を駆動させて
偏光子2と検光子4との透過軸を互いに所定の角度とな
るように設定する。第2の段階として、ステッピングモ
ータ11,12により偏光子2と検光子4との回動を同
期させながら受光器5において検出される透過光強度
(電流値)が最大または最小となる角度まで回動させて
固定する。第3の段階として、ステッピングモータ11
を駆動して偏光子2を所定の角速度を保ちながら回動さ
せて受光器5で透過光強度を測定する。この時、検光子
4は固定されている。第4の段階として、偏光子2の回
動角度に対応する透過光強度との関係から被検物である
液晶セル3のツイスト角およびセルギャップをフィッテ
ィングプロセスにより算出する。第5の段階として、フ
ィッティングプロセスにより得られたツイスト角および
セルギャップから所定の演算により液晶セル3の方位角
アンカリングを算出する。
An operation example 1 of the first example of the first embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. As a first stage, the stepping motors 11 and 12 are driven to set the transmission axes of the polarizer 2 and the analyzer 4 at a predetermined angle. In the second stage, the rotations of the polarizer 2 and the analyzer 4 are synchronized by the stepping motors 11 and 12 until the transmitted light intensity (current value) detected by the light receiver 5 is maximized or minimized. Move and fix. As the third stage, the stepping motor 11
Is driven to rotate the polarizer 2 while maintaining a predetermined angular velocity, and the light receiving unit 5 measures the transmitted light intensity. At this time, the analyzer 4 is fixed. As a fourth step, the twist angle and cell gap of the liquid crystal cell 3 as the test object are calculated from the relationship between the transmitted light intensity corresponding to the rotation angle of the polarizer 2 by a fitting process. As a fifth step, the azimuth anchoring of the liquid crystal cell 3 is calculated by a predetermined calculation from the twist angle and the cell gap obtained by the fitting process.

【0070】図2を参照して、本発明の第1の実施形態
における第1の実施例の動作例2を説明する。第1の段
階として、ステッピングモータ11,12を駆動させて
偏光子2と検光子4との透過軸を互いに所定の角度とな
るように設定する。第2の段階として、ステッピングモ
ータ11,12により偏光子2と検光子4との回動を同
期させながら受光器5において検出される透過光強度
(電流値)が最大または最小となる角度まで回動させて
固定する。第3の段階として、ステッピングモータ12
を駆動して検光子4を所定の角速度を保ちながら回動さ
せて受光器5で透過光強度を測定する。この時、偏光子
2は固定されている。第4の段階として、検光子4の回
動角度に対応する透過光強度との開係から被検物である
液晶セル3のツイスト角およびセルギャップをフィッテ
ィングプロセスにより算出する。第5の段階として、フ
ィッティングプロセスにより算出されたツイスト角およ
びセルギャップから所定の演算により液品セル3の方位
角アンカリングを算出する。
An operation example 2 of the first example of the first embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. As a first stage, the stepping motors 11 and 12 are driven to set the transmission axes of the polarizer 2 and the analyzer 4 at a predetermined angle. In the second stage, the rotations of the polarizer 2 and the analyzer 4 are synchronized by the stepping motors 11 and 12 until the transmitted light intensity (current value) detected by the light receiver 5 is maximized or minimized. Move and fix. As the third stage, the stepping motor 12
Is driven to rotate the analyzer 4 while maintaining a predetermined angular velocity, and the light receiving unit 5 measures the transmitted light intensity. At this time, the polarizer 2 is fixed. As a fourth stage, the twist angle and cell gap of the liquid crystal cell 3 as the test object are calculated from the relationship between the transmitted light intensity corresponding to the rotation angle of the analyzer 4 and the fitting process. As a fifth stage, the azimuth anchoring of the liquid product cell 3 is calculated by a predetermined calculation from the twist angle and the cell gap calculated by the fitting process.

【0071】図2を参照して、本発明の第1の実施形態
における第1の実施例の動作例3を説明する。動作例1
においては、ステッピングモータ11により偏光子2を
所定の角速度で回動させて透過光強度を測定し、また、
動作例2においては、ステッピングモータ12により検
光子4を所定の角速度で回動させ透過光強度を測定して
いる。すなわち、偏光子2あるいは検光子4のいずれを
回動させた場合においても、同様の効果を得ることがで
きる。従って、動作例3としては、偏光子2または検光
子4のいずれを回動させるかの設定をPC10からの動
作設定に基づいて行うものである。
Referring to FIG. 2, an operation example 3 of the first example of the first embodiment of the present invention will be described. Operation example 1
In the above, the transmitted light intensity is measured by rotating the polarizer 2 at a predetermined angular velocity by the stepping motor 11, and
In the operation example 2, the analyzer 4 is rotated at a predetermined angular velocity by the stepping motor 12 to measure the transmitted light intensity. That is, the same effect can be obtained regardless of whether the polarizer 2 or the analyzer 4 is rotated. Therefore, in the third operation example, the setting of rotating the polarizer 2 or the analyzer 4 is performed based on the operation setting from the PC 10.

【0072】以上に示されるように、本発明の第1の実
施形態における第1の実施例によれば、従来技術におい
て液晶セルを回動させることにより測定していたツイス
ト角、セルギャップ、方位角アンカリングを、光学素子
部品である偏光子および検光子を回動可能に構成するこ
とで測定することにより、測定装置全体の構成を小型化
することができる。
As described above, according to the first example of the first embodiment of the present invention, the twist angle, the cell gap, and the azimuth which were measured by rotating the liquid crystal cell in the prior art were measured. By measuring the angular anchoring by rotatably configuring the polarizer and the analyzer, which are optical element components, the configuration of the entire measuring apparatus can be reduced in size.

【0073】〈第1の実施形態における第2の実施例〉 図3は、本発明の第1の実施形態における第2の実施例
を示す全体構成図である。図3において、第1の実施例
との相違点は、液晶セル3が光源1から射出される光に
対して、垂直平面内で移動可能に構成されている点であ
る。
<Second Example of First Embodiment> FIG. 3 is an overall configuration diagram showing a second example of the first embodiment of the present invention. In FIG. 3, the difference from the first embodiment is that the liquid crystal cell 3 is configured to be movable in a vertical plane with respect to the light emitted from the light source 1.

【0074】第1の実施例においては、液晶セル3の表
示面内における任意の一点のみにおいて透過光強度を測
定し、この透過光強度に基づいてツイスト角、セルギャ
ップをフィッティングプロセスにより算出して、当該算
出されたツイスト角およびセルギャップから所定の演算
により方位角アンカリングを算出していたが、第2の実
施例では、液晶セル3が光源1から射出される光に対し
て、ステッピングモータ13を駆動させることで垂直平
面内で移動可能に構成されることにより、液晶セル3の
表示面内の全ての点において透過光強度を測定すること
が可能となる。
In the first embodiment, the transmitted light intensity is measured at only one arbitrary point on the display surface of the liquid crystal cell 3, and the twist angle and the cell gap are calculated based on the transmitted light intensity by a fitting process. Although the azimuth anchoring is calculated by a predetermined calculation from the calculated twist angle and cell gap, in the second embodiment, the liquid crystal cell 3 uses a stepping motor for the light emitted from the light source 1. By driving the LCD 13 so as to be movable in a vertical plane, the transmitted light intensity can be measured at all points on the display surface of the liquid crystal cell 3.

【0075】従って、本発明の第1の実施形態における
第2の実施例によれば、年々大型化する液晶セルに要求
される表示面内での各特性の均一化、すなわち、ツイス
ト角、セルギャップおよび方位角アンカリングの均一化
を、液晶セルを移動可能に構成することにより実現する
ことができる。
Therefore, according to the second embodiment of the first embodiment of the present invention, uniformity of each characteristic within a display surface required for a liquid crystal cell which is getting larger year by year, that is, twist angle, cell Uniformity of the gap and the azimuthal anchoring can be realized by making the liquid crystal cell movable.

【0076】〈第1の実施形態における第3の実施例〉 図4は、本発明の第1の実施形態における第3の実施例
を示す全体構成図である。図4において、第2の実施例
との相違点は、液晶セル3が光源1から射出される光に
対して、垂直平面内で移動可能であると同時に、当該光
を中心に回動可能に構成されている点である。第3の実
施例の動作例を以下に示す。
<Third Example of First Embodiment> FIG. 4 is an overall configuration diagram showing a third example of the first embodiment of the present invention. In FIG. 4, the difference from the second embodiment is that the liquid crystal cell 3 is movable in a vertical plane with respect to the light emitted from the light source 1 and is also rotatable around the light. It is a point that is configured. An operation example of the third embodiment will be described below.

【0077】第1の段階として、ステッピングモータ1
1, 12を駆動させて偏光子2と検光子4との透過軸を
互いに所定の角度となるように設定する。第2の段階と
して、ステッピングモータ14により被検物である液晶
セル3を回動させて、受光器5において検出される透過
光強度(電流値)が最大または最小となる角度まで回動
させて固定する。第3の段階として、ステッピングモー
タ11による偏光子2あるいはステッピングモータ12
による検光子4のいずれかを所定の角速度を保ちながら
回動させて受光器5で透過光強度を測定する。この時、
回動処理を行わない光学素子は固定されている。第4の
段階として、第3の段階で回動処理を行った際の回動角
度に対応する透過光強度との関係から被検物である液晶
セル3のツイスト角およびセルギャップをフィッティン
グプロセスにより算出する。第5の段階として、フィッ
ティングプロセスにより得られたツイスト角およびセル
ギヤップを用いて液晶セル3の方位角アンカリングを算
出する。
As the first stage, the stepping motor 1
The transmission axes of the polarizer 2 and the analyzer 4 are set so that the transmission axes of the polarizer 2 and the analyzer 4 are at a predetermined angle with each other by driving 1 and 12. In the second stage, the liquid crystal cell 3 as a test object is rotated by the stepping motor 14 so that the transmitted light intensity (current value) detected by the light receiver 5 is rotated to the maximum or minimum angle. Fix it. As a third stage, the polarizer 2 or the stepping motor 12 by the stepping motor 11 is used.
Is rotated while maintaining a predetermined angular velocity, and the intensity of transmitted light is measured by the light receiver 5. At this time,
The optical element that does not perform the rotation process is fixed. As a fourth step, the twist angle and cell gap of the liquid crystal cell 3 as the test object are determined by a fitting process from the relationship between the rotation angle when the rotation processing is performed in the third step and the transmitted light intensity corresponding to the rotation angle. calculate. As a fifth step, the azimuth anchoring of the liquid crystal cell 3 is calculated using the twist angle and the cell gap obtained by the fitting process.

【0078】本発明の第1の実施形態である第3の実施
例によれば、液晶セル3の表示面内の全ての位置の透過
光強度を測定可能であると同時に、従来技術である液晶
セルの回動機能を持たせた状態でも、表示面内の全てに
おいて透過光強度を測定することができる。
According to the third embodiment, which is the first embodiment of the present invention, it is possible to measure the transmitted light intensity at all positions on the display surface of the liquid crystal cell 3 and at the same time, to use the conventional liquid crystal. Even in a state in which the cell has a rotating function, the transmitted light intensity can be measured on the entire display surface.

【0079】図18は、本発明の第1の実施形態の構成
による一動作例を示すフローチャートである。図18に
おいて、偏光子2および検光子4の角度を電圧計9の値
(透過光強度)が最大となる位置で固定する(ステップ
S1)。次に、偏光子2または検光子4のいずれかを所
定の角度刻みで回動させながら、各回動角度における電
圧計9の値を記録する(ステップS2)。いくつかのツ
イスト角とセルギャップの組み合わせから求めておいた
透過率の角度依存性の計算結果と測定した結果とを最小
二乗法を用いて照らし合わせて、液晶セル3のツイスト
角とセルギャップとを求める(ステップS3)。この求
められたツイスト角およびセルギャップとから方位角ア
ンアリングを所定の演算により計算して求める(ステッ
プS4)。
FIG. 18 is a flowchart showing an operation example according to the configuration of the first embodiment of the present invention. In FIG. 18, the angles of the polarizer 2 and the analyzer 4 are fixed at a position where the value (transmitted light intensity) of the voltmeter 9 is maximum (step S1). Next, the value of the voltmeter 9 at each rotation angle is recorded while rotating either the polarizer 2 or the analyzer 4 at a predetermined angle (step S2). The calculated results of the angle dependence of transmittance and the measured results obtained from combinations of several twist angles and cell gaps are compared using the least squares method, and the twist angle and cell gap of the liquid crystal cell 3 are compared. Is obtained (step S3). From the obtained twist angle and cell gap, an azimuth unrealization is calculated and calculated by a predetermined calculation (step S4).

【0080】〈第1の実施形態の具体例〉 本発明の第1の実施形態の具体例を図3を参照しながら
説明する。本具体例では、光源1として波長632.8
nmのHeNeレーザを用いた。また、受光器5として
はフォトダイオードを用い、電流電圧変換器8で光電流
を電圧に変換し、電圧計9で検出した。偏光子2および
検光子4の回動と液晶セル3の平行移動は、ステッピン
グモータ11, 12,13をPC10によって制御して
行うようにした。また、電圧計9の測定値もPC10に
取り込んで、ツイスト角およびセルギャップを求めるフ
ィッティングプロセスの演算と方位角アンカリングエネ
ルギーを求める演算のプログラムを実行させることによ
って、値を求めることができるようにした。
<Specific Example of First Embodiment> A specific example of the first embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. In this specific example, the wavelength of the light source 1 is 632.8.
nm HeHe laser was used. In addition, a photodiode was used as the light receiver 5, the photocurrent was converted into a voltage by the current / voltage converter 8, and the voltage was detected by the voltmeter 9. The rotation of the polarizer 2 and the analyzer 4 and the parallel movement of the liquid crystal cell 3 are performed by controlling the stepping motors 11, 12, and 13 by the PC 10. In addition, the measured values of the voltmeter 9 are also taken into the PC 10, and the values of the values can be determined by executing a program for a calculation of a fitting process for obtaining a twist angle and a cell gap and a program for calculating an azimuth anchoring energy. did.

【0081】はじめに、偏光子2と検光子4との相対的
な角度を決めるために、偏光子2の角度を固定し、検光
子4を光軸のまわりに回動させて電圧計9の値が最小と
なる角度を求める。その角度からさらに検光子4を光軸
のまわりに90°回動させると、偏光子2と検光子4と
は、その偏光透過軸が平行となる。
First, in order to determine the relative angle between the polarizer 2 and the analyzer 4, the angle of the polarizer 2 is fixed, and the analyzer 4 is rotated around the optical axis to read the value of the voltmeter 9. Find the angle at which is minimum. When the analyzer 4 is further rotated by 90 ° around the optical axis from that angle, the polarization transmission axes of the polarizer 2 and the analyzer 4 become parallel.

【0082】被検物の液晶セル3としてTN(ツイスト
ネマティック)セルを用意した(以下、TNセル3と称
す)。TNセル3の作製方法は以下の通りである。ま
ず、無アルカリガラス基板を2枚用意する。これが上下
の基板となる。ガラスの厚みは今回、0. 7μmのもの
を使用した。この上下両基板上に配向膜を形成する。配
向膜としてはポリイミド膜を選択し、ポリアミック酸を
両上下基板にスピンコートで塗布し、250°で約1.
5時間焼成して形成した。これをレーヨンを植毛した布
でラビング処理する。その後、両基板のラビング方向が
直交するようにスベーサを介して貼り合わせてセルを作
り、ネマティック液晶をセル内に充填させた。スペーサ
径は5μmである。注入口は光硬化樹脂を用いて封止し
た。両基板のラビング方向のなす角度については、ラビ
ング装置、貼り合わせ装置などの位置精度から、90°
からのずれ角は0. 1°未満と推定される。
A TN (twisted nematic) cell was prepared as the liquid crystal cell 3 to be tested (hereinafter, referred to as TN cell 3). The method for manufacturing the TN cell 3 is as follows. First, two alkali-free glass substrates are prepared. This is the upper and lower substrates. The thickness of the glass used here was 0.7 μm. An alignment film is formed on both the upper and lower substrates. A polyimide film was selected as an alignment film, and polyamic acid was applied to both upper and lower substrates by spin coating, and about 1.
It was formed by firing for 5 hours. This is rubbed with a cloth in which rayon is planted. Thereafter, the two substrates were bonded together via a spacer so that the rubbing directions of the substrates were orthogonal to each other to form a cell, and the cell was filled with nematic liquid crystal. The spacer diameter is 5 μm. The inlet was sealed with a photocurable resin. The angle between the rubbing directions of the two substrates is 90 ° from the positional accuracy of a rubbing device, a bonding device, and the like.
Is estimated to be less than 0.1 °.

【0083】このTNセル3を偏光子2と検光子4との
間に載置し、ステッピングモータ13でTNセル3の表
示面内を平行移動できるようにしておく。TNセル3の
表示面上における測定したい仕意の点を光軸に合わせ
て、偏光子2と検光子4とを同期させながら同一方向に
光軸のまわりを回動させて、電圧計9の値が最大となる
位置で偏光子2と検光子4との角度を固定した。その
後、検光子4を光軸のまわりに回動させ、電圧計9の値
で透週光量の変化を測定した。この時に検光子4の角速
度は、5°刻みで動かした。その結果が図17に示され
ている。
The TN cell 3 is placed between the polarizer 2 and the analyzer 4 so that the stepping motor 13 can be moved in parallel on the display surface of the TN cell 3. The polarizer 2 and the analyzer 4 are rotated around the optical axis in the same direction while synchronizing the polarizer 2 and the analyzer 4 with the point of the object to be measured on the display surface of the TN cell 3 aligned with the optical axis. The angle between the polarizer 2 and the analyzer 4 was fixed at the position where the value was maximum. Thereafter, the analyzer 4 was rotated around the optical axis, and the change in the amount of transparent light was measured using the value of the voltmeter 9. At this time, the angular velocity of the analyzer 4 was moved in steps of 5 °. The result is shown in FIG.

【0084】図17において、白抜きの四角形が測定値
を表し、実線はあらかじめツイスト角とセルギャップと
をパラメータとして透過率変化を求めたものである。こ
のように、あらかじめいくつかのツイスト角とセルギャ
ップとの組み合わせから演算により透過率の角度依存牲
を求めておき、測定されたデータと照らし合わせること
により、最も測定値と一致する演算結果のツイスト角と
セルギャップとの組み合わせが、測定されたTNセルの
ツイスト角およびセルギャップとして求まる。
In FIG. 17, a white square represents a measured value, and a solid line is obtained by previously calculating a change in transmittance using the twist angle and the cell gap as parameters. As described above, the angle dependence of the transmittance is calculated in advance from a combination of several twist angles and the cell gap, and the twist of the calculation result that best matches the measured value is obtained by comparing the measured data with the measured data. The combination of the angle and the cell gap is determined as the measured twist angle and cell gap of the TN cell.

【0085】以上のようにツイスト角とセルギャップと
を求める方法がフィッティングプロセスであり、最小二
乗法により最も測定値と演算値との差が小さい組み合わ
せをプログラムによる演算で選び出すのである。この
後、求められたツイスト角およびセルギャップを用いて
方位角アンカリングエネルギーを算出する。
As described above, the method of obtaining the twist angle and the cell gap is a fitting process, and a combination having the smallest difference between the measured value and the calculated value is selected by the program using the least squares method. Thereafter, the azimuth anchoring energy is calculated using the obtained twist angle and cell gap.

【0086】本具体例においては、TNセル3に用いた
液晶の屈折率異方性 0. 074、入射光の波長 63
2.8μm、ツイスト弾性定数 7.7×10-12 N、
両基板のラビング方向のなす角度 90°、であり、本
測定によりツイスト角とセルギャップとは、それぞれ、
86°、5.0μmと求まった。また、これらの値を用
いて得られた方位角アンカリングエネルギーは、6.5
3×10-5J/m2 と求まった。
In this example, the refractive index anisotropy of the liquid crystal used in the TN cell 3 was 0.074, and the wavelength of the incident light was 63.
2.8 μm, twist elastic constant 7.7 × 10 −12 N,
The angle between the rubbing directions of both substrates is 90 °, and the twist angle and the cell gap are respectively determined by this measurement.
86 ° and 5.0 μm. The azimuthal anchoring energy obtained using these values is 6.5.
It was determined to be 3 × 10 −5 J / m 2 .

【0087】なお、回動させる光学素子の変更による回
動角度の大きさの違い、角度のオフセットは演算プログ
ラムで行った。TNセル3は、PC10で制御されたス
テッピングモータ13で表示面に平行な面内を移動でき
るようになっており、表示面上の任意の位置を測定で
き、面内分布測定が可能となっている。今回のサンプル
においては, 2毎に格子状に9点測定を繰り返した。そ
の結果、測定した9点の測定億のばらつきは、おおよそ
±1°となっていることがわかった。
The difference in the magnitude of the rotation angle and the offset of the angle due to the change of the optical element to be rotated were performed by a calculation program. The TN cell 3 can be moved in a plane parallel to the display surface by a stepping motor 13 controlled by the PC 10, and can measure an arbitrary position on the display surface, thereby enabling in-plane distribution measurement. I have. In this sample, the measurement of 9 points was repeated every 2 grids. As a result, it was found that the dispersion of the measured values at the nine measured points was approximately ± 1 °.

【0088】〈第2の実施形態〉 図5は、本発明の第2の実施形態であるツイスト角、セ
ルギャップ及び方位角アンカリング測定装置における光
学素子の構成を示す図である。本発明の第2の実施形態
であるツイスト角、セルギャップ及び方位角アンカリン
グ測定装置の光学素子は、レーザ光等の光を射出する光
源1と、光源1から射出される光と同一の光軸上に設け
られ、光源1側から順に、偏光子2と、第1の1/2波
長板6と、被検物である液晶セル3と、検光子4と、受
光器5と、を有して構成される。
Second Embodiment FIG. 5 is a diagram showing a configuration of an optical element in a twist angle, cell gap, and azimuth anchoring measurement device according to a second embodiment of the present invention. An optical element of the twist angle, cell gap, and azimuth angle anchoring measuring apparatus according to the second embodiment of the present invention includes a light source 1 that emits light such as a laser beam, and the same light that is emitted from the light source 1. It is provided on the axis and includes, in order from the light source 1 side, a polarizer 2, a first half-wave plate 6, a liquid crystal cell 3, which is a test object, an analyzer 4, and a light receiver 5. It is composed.

【0089】本発明の第1の実施形態と相違する点は、
偏光子2と液晶セル3との間に第1の1/ 2波長板6を
設けて構成した点にある。この第1の1/2波長板6
は、偏光子2により取り出された所定の方向の偏光に対
して、当該偏光の1/2の位相差を与えて液晶セル3を
照射する。このように第1の1/2波長板6を設けるこ
とにより、偏光子2により取り出された偏光に対しての
液晶セル3からの反射光の影響を低減することができ
る。
The difference from the first embodiment of the present invention is that
This is in that a first half-wave plate 6 is provided between the polarizer 2 and the liquid crystal cell 3. This first half-wave plate 6
Irradiates the liquid crystal cell 3 by giving a phase difference of の of the polarized light in a predetermined direction extracted by the polarizer 2. By providing the first half-wave plate 6 in this manner, the influence of the reflected light from the liquid crystal cell 3 on the polarized light extracted by the polarizer 2 can be reduced.

【0090】本発明の第2の実施形態においては、上述
されるように構成された光学素子部品のうち、偏光子
2、検光子4および第1の1/2波長板6のそれぞれが
回動可能に構成されているものである。以下、本発明の
第2の実施形態を図面に基づいて詳細に説明する。
In the second embodiment of the present invention, among the optical element components configured as described above, each of the polarizer 2, the analyzer 4, and the first half-wave plate 6 is rotated. It is configured to be possible. Hereinafter, a second embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

【0091】〈第2の実施形態における第1の実施例〉 図6は、本発明の第2の実施形態における第1の実施例
を示す全体構成図である。図6において、光源1から射
出された光は、偏光子2で所定の方向の偏光のみが取り
出されて第1の1/2波長板6を照射する。第1の1/
2波長板6は、照射される偏光に対して、当該偏光の1
/2の位相差を与えて透過させ、この透過光により液晶
セル3を施光する。液晶セル3を透過した光は、検光子
4で検光されて受光器5で受光される。受光器5は、検
光子4で検光された後の光の強度(透過光強度)を電流
として検出し、この電流値を電流電圧変換器8で電圧値
に変換して、その電圧値を電圧計9で検出する。PC1
0は、電圧計9で検出された電圧値、すなわち、透過光
強度に基づいて偏光子2、検光子4および第1の1/2
波長板6を回動させるための駆動手段となるステッピン
グモータ11, 12, 15に制御信号を送出する。ステ
ッピングモータ11,12, 15は、この制御信号に基
づいて、偏光子2、検光子4および第1の1/2波長板
6のそれぞれを所定の角度回動させるように駆動する。
<First Example of Second Embodiment> FIG. 6 is an overall configuration diagram showing a first example of the second embodiment of the present invention. In FIG. 6, only the polarized light in a predetermined direction is extracted from the light emitted from the light source 1 by the polarizer 2 and irradiates the first half-wave plate 6. The first 1 /
The two-wavelength plate 6 applies one polarized light to the polarized light to be irradiated.
The liquid crystal cell 3 is transmitted by giving a phase difference of / 2 and transmitting the light. The light transmitted through the liquid crystal cell 3 is detected by the analyzer 4 and received by the light receiver 5. The light receiver 5 detects the intensity of the light (transmitted light intensity) detected by the analyzer 4 as a current, converts the current value into a voltage value with a current-voltage converter 8, and converts the voltage value. It is detected by the voltmeter 9. PC1
0 is a voltage value detected by the voltmeter 9, that is, the polarizer 2, the analyzer 4, and the first half based on the transmitted light intensity.
Control signals are sent to stepping motors 11, 12, and 15 serving as driving means for rotating the wave plate 6. The stepping motors 11, 12, and 15 drive each of the polarizer 2, the analyzer 4, and the first half-wave plate 6 to rotate by a predetermined angle based on the control signal.

【0092】図6を参照して、本発明の第2の実施形態
における第1の実施例の動作例1を説明する。第1の段
階として、ステッピングモータ11, 12を駆動させて
偏光子2と検光子4との透過軸を互いに所定の角度とな
るように設定する。第2の段階として、ステッピングモ
ータ12,15を駆動させて検光子4と第1の1/2波
長板6とを1:2の回動角度比を保ちながら同一方向に
回動させて受光器5により検出される透過光強度(電流
値)が最大または最小となる角度まで回動させて固定す
る。第3の段階として、ステッピングモータ11を駆動
して偏光子2を所定の角速度を保ちながら回動させて受
光器5で透過光強度を測定する。この時、検光子4およ
び第1の1/2波長板6は固定されている。第4の段階
として、偏光子2の回動角度に対応する透過光強度との
関係から被検物である液晶セル3のツイスト角およびセ
ルギャップをフィッティングプロセスにより算出する。
第5の段階として、フィッティングプロセスにより得ら
れたツイスト角およびセルギャップから所定の演算によ
り液晶セル3の方位角アンカリングを算出する。
Referring to FIG. 6, an operation example 1 of the first example of the second embodiment of the present invention will be described. In the first stage, the stepping motors 11 and 12 are driven to set the transmission axes of the polarizer 2 and the analyzer 4 at a predetermined angle. In the second stage, the stepping motors 12 and 15 are driven to rotate the analyzer 4 and the first half-wave plate 6 in the same direction while maintaining the rotation angle ratio of 1: 2, and the light receiver 5 is rotated and fixed to an angle at which the transmitted light intensity (current value) detected by 5 becomes maximum or minimum. As a third stage, the stepping motor 11 is driven to rotate the polarizer 2 while maintaining a predetermined angular velocity, and the transmitted light intensity is measured by the light receiver 5. At this time, the analyzer 4 and the first half-wave plate 6 are fixed. As a fourth step, the twist angle and cell gap of the liquid crystal cell 3 as the test object are calculated from the relationship between the transmitted light intensity corresponding to the rotation angle of the polarizer 2 by a fitting process.
As a fifth step, the azimuth anchoring of the liquid crystal cell 3 is calculated by a predetermined calculation from the twist angle and the cell gap obtained by the fitting process.

【0093】また、動作例1の第2の段階として、ステ
ッピングモータ12,15を駆動させて検光子4と第1
の1/2波長板6とを1:2の回動角度比を保ちながら
同一方向に回動させて受光器5により検出される透過光
強度(電流値)が最大または最小となる角度まで回動さ
せて固定するように動作しているが、検光子4と第1の
1/2波良板6とを1:2の回動角度比を保ちながら逆
方向に回動させて透過光強度が最大または最小となる角
度で固定することも可能である。
As the second stage of the operation example 1, the stepping motors 12 and 15 are driven so that the analyzer 4 and the first
Is rotated in the same direction while maintaining a rotation angle ratio of 1: 2 to the angle at which the transmitted light intensity (current value) detected by the light receiver 5 becomes maximum or minimum. It is operated to move and fix, but the analyzer 4 and the first half-wave plate 6 are rotated in the opposite direction while maintaining the rotation angle ratio of 1: 2, and the transmitted light intensity is adjusted. Can be fixed at an angle at which the maximum or minimum is obtained.

【0094】図6を参照して、本発明の第2の実施形態
における第1の実施例の動作例2を説明する。第1の段
階として、ステッピングモータ11, 12を駆動させて
偏光子2と検光子4との透過軸を互いに所定の角度とな
るように設定する。第2の段階として、ステッピングモ
ータ12,15を駆動させて検光子4と第1の1/2波
長板6とを1:2の回動角度比を保ちながら回動させな
がら受光器5において検出される透過光強度(電流値)
が最大または最小となる角度まで回動させて固定する。
第3の段階として、ステッピングモータ12を駆動して
検光子4を所定の角速度を保ちながら回動させて受光器
5で透過光強度を測定する。この時、偏光子2および第
1の1/2波長板6は固定されている。第4の段階とし
て、検光子4の回動角度に対応する透週光強度との関係
から被検物である液晶セル3のツイスト角およびセルギ
ャップをフィッティングプロセスにより算出する。第5
の段階として、フィッティングプロセスにより得られた
ツイスト角およびセルギャップから所定の演算により液
晶セル3の方位角アンカリングを算出する。
Referring to FIG. 6, an operation example 2 of the first example of the second embodiment of the present invention will be described. In the first stage, the stepping motors 11 and 12 are driven to set the transmission axes of the polarizer 2 and the analyzer 4 at a predetermined angle. In the second stage, the stepping motors 12 and 15 are driven to detect the light from the photodetector 5 while rotating the analyzer 4 and the first half-wave plate 6 while maintaining a rotation angle ratio of 1: 2. Transmitted light intensity (current value)
Is rotated and fixed to the maximum or minimum angle.
As a third step, the stepping motor 12 is driven to rotate the analyzer 4 while maintaining a predetermined angular velocity, and the transmitted light intensity is measured by the light receiver 5. At this time, the polarizer 2 and the first half-wave plate 6 are fixed. In the fourth step, the twist angle and cell gap of the liquid crystal cell 3 as the test object are calculated from the relationship between the rotation angle of the analyzer 4 and the transmitted light intensity corresponding to the rotation angle of the analyzer 4 by a fitting process. Fifth
As a step, the azimuth anchoring of the liquid crystal cell 3 is calculated by a predetermined calculation from the twist angle and the cell gap obtained by the fitting process.

【0095】また、動作例2の第2の段階として、ステ
ッピングモータ12,15を駆動させて検光子4と第1
の1/2波長板6とを1:2の回動角度比を保ちながら
同一方向に回動させて受光器5により検出される透過光
強度(電流値)が最大または最小となる角度まで回動さ
せて固定するように動作しているが、検光子4と第1の
1/2波長板6とを1:2の回動角度比を保ちながら逆
方向に回動させて透過光強度が最大または最小となる角
度で固定することも可能である。
Further, as a second stage of the operation example 2, the stepping motors 12 and 15 are driven to
Is rotated in the same direction while maintaining a rotation angle ratio of 1: 2 to the angle at which the transmitted light intensity (current value) detected by the light receiver 5 becomes maximum or minimum. The analyzer 4 and the first half-wave plate 6 are rotated in the opposite direction while maintaining a rotation angle ratio of 1: 2, so that the transmitted light intensity is increased. It is also possible to fix at a maximum or minimum angle.

【0096】図6を参照して、本発明の第2の実施形態
である第1の実施例の動作例3を説明する。動作例1に
おいては、ステッピングモータ11により偏光子2を所
定の角速度で回動させて透過光強度を測定し、また、動
作例2においては、ステッピングモータ12により検光
子4を所定の角速度で回動させ透過光強度を測定してい
る。すなわち、偏光子2あるいは検光子4のいずれを回
動させた場合においても、同様の効果を得ることができ
る。従って、動作例3としては、偏光子2または検光子
4のいずれを回動させるのか、または、同一方向に回動
させるのか、あるいは逆方向に回動させるのか、といっ
た動作をPC10から入力される動作設定に基づいて行
うものである。
Referring to FIG. 6, an operation example 3 of the first embodiment, which is the second embodiment of the present invention, will be described. In the operation example 1, the transmitted light intensity is measured by rotating the polarizer 2 at a predetermined angular velocity by the stepping motor 11, and in the operation example 2, the analyzer 4 is rotated by the stepping motor 12 at the predetermined angular velocity. The transmitted light intensity is measured while moving. That is, the same effect can be obtained regardless of whether the polarizer 2 or the analyzer 4 is rotated. Therefore, as an operation example 3, an operation such as which one of the polarizer 2 and the analyzer 4 is rotated, the same direction, or the opposite direction is input from the PC 10. This is performed based on the operation settings.

【0097】以上のように、本発明の第2の実施形態に
おける第1の実施例によれば、本発明の第1の実施形態
と同様に、従来では液晶セルを回動させることにより測
定していたツイスト角、セルギャップ及び方位角アンカ
リングを、光学素子である偏光子2、検光子4および第
1の1/2波長板6のそれぞれを回動可能に構成するこ
とにより、測定装置全体の溝成を小型化することができ
る。
As described above, according to the first embodiment of the second embodiment of the present invention, similarly to the first embodiment of the present invention, measurement is conventionally performed by rotating a liquid crystal cell. The twist angle, the cell gap, and the azimuth angle anchoring, which have been described above, are configured such that each of the polarizer 2, the analyzer 4, and the first half-wave plate 6, which are optical elements, is rotatable. Can be miniaturized.

【0098】また、第1の1/2波長板6を偏光子2と
液晶セル3との間に挿入して構成することにより、液晶
セル3からの偏光子2に対する反射光の影響を低減する
ことができるので、測定精度が向上するものである。
Further, the first half-wave plate 6 is inserted between the polarizer 2 and the liquid crystal cell 3 to reduce the influence of the reflected light from the liquid crystal cell 3 on the polarizer 2. Therefore, the measurement accuracy is improved.

【0099】〈第2の実施形態における第2の実施例〉 図7は、本発明の第2の実施形態における第2の実施例
を示す全体構成図である。図7において、第1の実施例
との相違点は、液晶セル3が光源1から射出される光に
対して、垂直平面内で移動可能に構成されている点にあ
る。
<Second Example of Second Embodiment> FIG. 7 is an overall configuration diagram showing a second example of the second embodiment of the present invention. In FIG. 7, the difference from the first embodiment is that the liquid crystal cell 3 is configured to be movable in a vertical plane with respect to the light emitted from the light source 1.

【0100】第1の実施例においては、液晶セル3の表
示面内における任意の一点のみにおいて透過光強度を測
定し、この透過光強度に基づいてツイスト角、セルギャ
ップをフィッティングプロセスにより算出して、当該算
出されたツイスト角およびセルギャップから所定の演算
により方位角アンカリングを算出していたが、第2の実
施例では、液晶セル3が光源1から射出される光に対し
て、ステッピングモータ13を駆動させることで垂直平
面内で移動可能に構成されることにより、液晶セル3の
表示面内の全ての点において透過光強度を測定すること
が可能となる。
In the first embodiment, the transmitted light intensity is measured at only one arbitrary point on the display surface of the liquid crystal cell 3, and the twist angle and the cell gap are calculated based on the transmitted light intensity by a fitting process. Although the azimuth anchoring is calculated by a predetermined calculation from the calculated twist angle and cell gap, in the second embodiment, the liquid crystal cell 3 uses a stepping motor for the light emitted from the light source 1. By driving the LCD 13 so as to be movable in a vertical plane, the transmitted light intensity can be measured at all points on the display surface of the liquid crystal cell 3.

【0101】従って、本発明の第2の実施形態における
第2の実施例によれば、年々大型化する液晶セルに要求
される表示面内での各特性の均一化、すなわち、ツイス
ト角、セルギャップおよび方位角アンカリングの均一化
を、液晶セルを移動可能に構成することにより実現する
ことができると同時に、第1の1/2波長板6を偏光子
2と液晶セル3との間に載置することにより、液晶セル
3からの反射光による影響を低減するので測定精度を向
上させることができる。
Therefore, according to the second example of the second embodiment of the present invention, uniformity of each characteristic within a display surface required for a liquid crystal cell which is getting larger year by year, ie, twist angle, cell angle Uniformity of the gap and azimuthal anchoring can be realized by making the liquid crystal cell movable, and at the same time, the first half-wave plate 6 is provided between the polarizer 2 and the liquid crystal cell 3. By mounting, the influence of the reflected light from the liquid crystal cell 3 is reduced, so that the measurement accuracy can be improved.

【0102】〈第2の実施形態における第3の実施例〉 図8は、本発明の第2の実施形態における第3の実施例
を示す全体構成図である。図8において、第2の実施例
との相違点は、液晶セル3が光源1から射出される光に
対して、垂直平面内で移動可能であると同時に、当該光
を中心に回動可能に構成されている点にある。本発明の
第2の実施形態における第3の実施例の動作例を以下に
示す。
<Third Example of Second Embodiment> FIG. 8 is an overall configuration diagram showing a third example of the second embodiment of the present invention. In FIG. 8, the difference from the second embodiment is that the liquid crystal cell 3 is movable in a vertical plane with respect to the light emitted from the light source 1 and is also rotatable around the light. The point is that it is composed. An operation example of the third example in the second embodiment of the present invention will be described below.

【0103】第1の段階として、ステッピングモータ1
1, 12を駆動させて偏光子2と検光子4との透過軸を
互いに所定の角度となるように設定する。第2の段階と
して、ステッピングモータ14により被検物である液晶
セル3を回動させて、受光器5において検出される透過
光強度(電流値)が最大または最小となる角度まで回動
させて固定する。第3の段階として、ステッピングモー
タ11による偏光子2、ステッピングモータ12による
検光子4、ステッピングモータ15による第1の1/2
波長板6のいずれかを所定の角速度を保ちながら回動さ
せて受光器5で透過光強度を測定する。この時、回動処
理を行わない光学素子は固定されている。第4の段階と
して、第3の段階で回動処理を行った際の回動角度に対
応する透過光強度との関係から被検物である液晶セル3
のツイスト角およびセルギャップをフィッティングプロ
セスにより算出する。第5の段階として、フィッティン
グプロセスにより得られたツイスト角およびセルギャッ
プを用いて液晶セル3の方位角アンカリングを算出す
る。
As the first stage, the stepping motor 1
The transmission axes of the polarizer 2 and the analyzer 4 are set so that the transmission axes of the polarizer 2 and the analyzer 4 are at a predetermined angle with each other by driving 1 and 12. In the second stage, the liquid crystal cell 3 as a test object is rotated by the stepping motor 14 so that the transmitted light intensity (current value) detected by the light receiver 5 is rotated to the maximum or minimum angle. Fix it. As the third stage, the polarizer 2 by the stepping motor 11, the analyzer 4 by the stepping motor 12, and the first half by the stepping motor 15
One of the wave plates 6 is rotated while maintaining a predetermined angular velocity, and the transmitted light intensity is measured by the light receiver 5. At this time, the optical element that does not perform the rotation process is fixed. As a fourth stage, the liquid crystal cell 3 as the test object is determined based on the relationship between the rotation angle when the rotation process is performed in the third stage and the transmitted light intensity corresponding to the rotation angle.
Is calculated by a fitting process. As a fifth stage, the azimuth anchoring of the liquid crystal cell 3 is calculated using the twist angle and the cell gap obtained by the fitting process.

【0104】本発明の第1の実施形態である第3の実施
例によれば、液晶セル3の表示面内の全ての位置の透過
光強度を測定可能であると同時に、従来技術である液晶
セルの回動機能を持たせた状態でも、表示面内の全てに
おいて透過光強度を測定することができる。
According to the third embodiment, which is the first embodiment of the present invention, it is possible to measure the transmitted light intensity at all positions on the display surface of the liquid crystal cell 3 and, at the same time, to use the conventional liquid crystal. Even in a state in which the cell has a rotating function, the transmitted light intensity can be measured on the entire display surface.

【0105】図19は、本発明の第2の実施形態の構成
による一動作例を示すフローチャートである。図19に
おいて、第1の1/2波長板6と検光子4とを1:2の
回動角度比を保ちながら同一方向に回動し、電圧計9の
値(透過光強度)が最大となる位置で固定する(ステッ
プS11)。次に、偏光子2または検光子4のいずれか
を所定の角度刻みで回動させながら、各回動角度におけ
る電圧計9の値を記録する(ステップS12)。いくつ
かのツイスト角とセルギャップの組み合わせから求めて
おいた透過率の角度依存性の計算結果と測定した結果と
を最小二乗法を用いて照らし合わせて、液晶セル3のツ
イスト角とセルギャップとを求める(ステップS1
3)。この求められたツイスト角およびセルギャップと
から方位角アンアリングを所定の演算により計算して求
める(ステップS14)。
FIG. 19 is a flowchart showing an operation example according to the configuration of the second embodiment of the present invention. In FIG. 19, the first half-wave plate 6 and the analyzer 4 are rotated in the same direction while maintaining a rotation angle ratio of 1: 2, and the value (transmitted light intensity) of the voltmeter 9 is maximized. (Step S11). Next, the value of the voltmeter 9 at each rotation angle is recorded while rotating either the polarizer 2 or the analyzer 4 at a predetermined angle (step S12). The calculated results of the angle dependence of transmittance and the measured results obtained from combinations of several twist angles and cell gaps are compared using the least squares method, and the twist angle and cell gap of the liquid crystal cell 3 are compared. (Step S1)
3). From the obtained twist angle and cell gap, an azimuth unrealization is calculated and calculated by a predetermined calculation (step S14).

【0106】〈第2の実施形態の具体例1〉 本発明の第2の実施形態の具体例1を図7の構成を参照
しながら説明する。本具体例では、光源1側から噸に、
偏光子2と、第1の1/2波長板6と、液晶セル(TN
セル)3と、検光子4と、受光器5との順に並んでお
り、第1段階の操作で従来例にて示された液晶セル3を
回動させる代りに偏光子2と検光子4との相対的な角度
を決めるために、偏光子2の角度を固定し、検光子4を
光軸の回りに回動させて電圧計9の値が最小となる角度
を求める。その角度からさらに検光子4を光軸の回りに
90°回動させると、偏光子2と検光子4とは、その偏
光透過軸が平行となる。
<Specific Example 1 of Second Embodiment> A specific example 1 of the second embodiment of the present invention will be described with reference to the configuration of FIG. In this specific example, from the light source 1 side,
A polarizer 2, a first half-wave plate 6, and a liquid crystal cell (TN
Cell) 3, an analyzer 4, and a light receiver 5 in this order. Instead of rotating the liquid crystal cell 3 shown in the conventional example by the first-stage operation, the polarizer 2, the analyzer 4, In order to determine the relative angle, the angle of the polarizer 2 is fixed, and the analyzer 4 is rotated around the optical axis to obtain an angle at which the value of the voltmeter 9 becomes minimum. When the analyzer 4 is further rotated by 90 ° around the optical axis from that angle, the polarization transmission axes of the polarizer 2 and the analyzer 4 become parallel.

【0107】第2段階の操作で、検光子4と第1の1/
2波長板6とを2:1の回動角度比を保ちつつ逆方向に
回動させて、電圧計9の値が最大となる位置で検光子4
と第1の1/2波長板6の角度を固定する。第3段階の
操作で検光子4を回動させる代りに第1の1/2波長板
6を回動させる。それ以外の装置構成は、上述される各
実施形態に示される構成と同様であり、その後のツイス
ト角、セルギャップ及び方位角アンカリングエネルギー
を求めるまでの手順も同じである。
In the operation of the second stage, the analyzer 4 and the first 1 /
By rotating the two-wavelength plate 6 in the opposite direction while maintaining the rotation angle ratio of 2: 1, the analyzer 4 is positioned at the position where the value of the voltmeter 9 is maximum.
And the angle of the first half-wave plate 6 is fixed. Instead of rotating the analyzer 4 in the third stage operation, the first half-wave plate 6 is rotated. The other device configuration is the same as the configuration shown in each of the above-described embodiments, and the procedure up to obtaining the twist angle, the cell gap, and the azimuth anchoring energy thereafter is also the same.

【0108】なお、回動させる光学素子の変更に伴うそ
れぞれの光学素子の回動角度の大きさの達い、角度のオ
フセットは、PC10の演算プログラムによって補正を
かけることとした。
It is to be noted that the rotation angles of the respective optical elements which reach the magnitude of the rotation angle due to the change of the optical element to be rotated and the offset of the angles are corrected by the calculation program of the PC 10.

【0109】本発明の第2の実施形態の具体例1におい
ても、本発明の第1の実施形態の具体例と同じサンプル
を用いて測定を行ったが、測定誤差の範囲内で同じ測定
結果を得た。すなわち、ツイスト角とセルギャップと
は、それぞれ、86°、5.0μmと求まった。これら
の値を用いて算出された方位角アンカリングエネルギー
は、6.53×10-5J/m2 と求まった。また、面内
分布測定においても、同程度のおおよそ±1°のばらつ
きであることを確認した。
In the specific example 1 of the second embodiment of the present invention, the measurement was performed using the same sample as the specific example of the first embodiment of the present invention. I got That is, the twist angle and the cell gap were determined to be 86 ° and 5.0 μm, respectively. The azimuthal anchoring energy calculated using these values was determined to be 6.53 × 10 −5 J / m 2 . Also, in the in-plane distribution measurement, it was confirmed that the variation was about ± 1 ° of the same degree.

【0110】〈第2の実施形態の具体例2〉 また、本発明の第2の実施形態の具体例2として、上述
される具体例1の第2段階の操作で1/2波長板6を回
動させる代りに検光子4を回動させることも可能であ
る。検光子4に設けられたステッピングモータ12をP
C10と接続し、制御プログラムによって回動を制御す
るという装置構成となった。上述される実施形態と同様
に回動させる光学素子の変更による回動角度の大きさの
達い、角度のオフセットは演算プログラムで行った。面
内分布測定も、液晶セル3がPC10で制御されたステ
ッピングモータ13で表示面に平行な面内を移動できる
ようになっているので、面内分布測定が可能となってい
る。
<Specific Example 2 of Second Embodiment> As a specific example 2 of the second embodiment of the present invention, the を wavelength plate 6 was formed by the operation of the second stage of the specific example 1 described above. Instead of rotating, the analyzer 4 can be rotated. The stepping motor 12 provided in the analyzer 4 is set to P
The device configuration is such that the rotation is controlled by a control program by connecting to C10. In the same manner as in the above-described embodiment, the magnitude of the rotation angle is reached by changing the optical element to be rotated, and the angle offset is performed by an arithmetic program. In the in-plane distribution measurement, since the liquid crystal cell 3 can be moved in a plane parallel to the display surface by the stepping motor 13 controlled by the PC 10, the in-plane distribution measurement can be performed.

【0111】本発明の第2の実施形態の具体例2におい
ても、上述される具体例と同じサンプルを用いて測定を
行い、本具体例のそれぞれにおいても測定誤差の範囲内
で同じ測定結果が得られることがわかった。すなわち、
ツイスト角とセルギャップはそれぞれ、86°、5.0
μmと求まった。これらの値を用いて算出された方位角
アンカリングエネルギーは、6.53×10-5J/m2
と求まった。また、面内分布測定においても、やはり同
程度のおおよそ±1°のばらつきであった。
In the specific example 2 of the second embodiment of the present invention, the measurement is performed using the same sample as the specific example described above, and the same measurement result is obtained in each of the specific examples within the range of the measurement error. It turned out to be obtained. That is,
The twist angle and cell gap are 86 ° and 5.0, respectively.
μm. The azimuthal anchoring energy calculated using these values is 6.53 × 10 −5 J / m 2.
I was asked. Also, in the in-plane distribution measurement, the variation was about ± 1 °, which was also about the same.

【0112】〈第3の実施形態〉 図9は、本発明の第3の実施形態であるツイスト角、セ
ルギャップ及び方位角アンカリング測定装置における光
学素子の構成を示す図である。本発明の第3の実施形態
であるツイスト角、セルギャップ及び方位角アンカリン
グ測定装置の光学素子は、レーザ光等の光を射出する光
源1と、光源1から射出される光と同一の光紬上に設け
られ、光源1側から順に、偏光子2と、被検物である液
晶セル3と、第2の1/2波長板7と、検光子4と、受
光器5と、を有して構成される。
Third Embodiment FIG. 9 is a diagram showing a configuration of an optical element in a twist angle, cell gap and azimuth anchoring measurement device according to a third embodiment of the present invention. The optical element of the twist angle, cell gap, and azimuth angle anchoring measuring device according to the third embodiment of the present invention includes a light source 1 that emits light such as a laser beam and the same light that is emitted from the light source 1. The polarizer 2, a liquid crystal cell 3 as a test object, a second half-wave plate 7, an analyzer 4, and a light receiver 5 are provided on the pongee in this order from the light source 1 side. It is composed.

【0113】本発明の第1及び第2の実施形態と相違す
る点は、液晶セル3と検光子4との間に第2の1/2波
長板7を設けて構成した点にある。この第2の1/2波
長板7は、液晶セル3の透過光に対して、当該透過光の
1/2の位相差を与えて検光子4に照射される。図示さ
れる位置に第2の1/2波長板7を設けることにより、
液晶セル3を透過した光に対しての検光子4からの反射
光による影響を低減することができる。
The difference from the first and second embodiments of the present invention is that a second half-wave plate 7 is provided between the liquid crystal cell 3 and the analyzer 4. The second half-wave plate 7 irradiates the analyzer 4 with the transmitted light of the liquid crystal cell 3 giving a phase difference of 1 / of the transmitted light. By providing the second half-wave plate 7 at the position shown,
The influence of the reflected light from the analyzer 4 on the light transmitted through the liquid crystal cell 3 can be reduced.

【0114】本発明の第3の実施形態においては、上述
されるように構成された光学素子部品のうち、偏光子
2、検光子4および第2の1/2波長板7のそれぞれが
回動可能に構成されているものである。以下、本発明の
第3の実施形態を図面に基づいて詳細に鋭明する。
In the third embodiment of the present invention, of the optical element components configured as described above, each of the polarizer 2, the analyzer 4, and the second half-wave plate 7 is rotated. It is configured to be possible. Hereinafter, a third embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

【0115】〈第3の実施形態における第1の実施例〉 図10は、本発明の第3の実施形態における第1の実施
例を示す全体構成図である。図10において、光源1か
ら射出された光は、偏光子2で所定の方向の偏光のみが
取り出されて液晶セル3を照射する。液晶セル3の透過
光は、第2の1/2波長板7で当該透過光の1/2倍に
相当する位相差が与えられて検光子4により検光され、
受光器5で受光される。受光器5は、検光子4で検光さ
れた後の光の強度(透過光強度)を電流として検出し、
この電流値を電流電圧変換器8で電圧値に変換して、そ
の電圧値を電圧計9で検出する。PC10は、電圧計9
で検出された電圧値、すなわち、透過光強度に基づいて
偏光子2、検光子4および第2の1/2波長板7を回動
させるための駆動手段となるステッピングモータ11,
12, 16に制御信号を送出する。ステッピングモータ
11,12, 16は、この制御信号に基づいて、偏光子
2、検光子4および第2の1/2波長板7のそれぞれを
所定の角度回動させるように駆動する。
<First Example of Third Embodiment> FIG. 10 is an overall configuration diagram showing a first example of the third embodiment of the present invention. In FIG. 10, only the polarized light in a predetermined direction is extracted from the light emitted from the light source 1 by the polarizer 2 and irradiates the liquid crystal cell 3. The transmitted light of the liquid crystal cell 3 is given a phase difference equivalent to 倍 of the transmitted light by the second half-wave plate 7 and is analyzed by the analyzer 4.
The light is received by the light receiver 5. The light receiver 5 detects the intensity of the light (transmitted light intensity) after being analyzed by the analyzer 4 as a current,
This current value is converted into a voltage value by the current-voltage converter 8, and the voltage value is detected by the voltmeter 9. The PC 10 is a voltmeter 9
, A stepping motor 11 serving as driving means for rotating the polarizer 2, the analyzer 4, and the second half-wave plate 7 based on the transmitted light intensity,
A control signal is sent to 12 and 16. The stepping motors 11, 12, and 16 drive each of the polarizer 2, the analyzer 4, and the second half-wave plate 7 by a predetermined angle based on the control signal.

【0116】図10を参照して、本発明の第3の実施形
態における第1の実施例の動作例1を説明する。第1の
段階として、ステッピングモータ11, 12を駆動させ
て偏光子2と検光子4との透過紬を互いに所定の角度と
なるように設定する。第2の段階として、ステッピング
モータ11, 16を駆動させて偏光子2と第2の1/2
波長板7とを2:1の回動角度比を保ちながら同一方向
に回動させて受光器5により検出される透過光強度(電
流値)が最大または最小となる角度まで回動させて固定
する。第3の段階として、ステッピングモータ11を駆
動して偏光子2を所定の角速度を保ちながら回動させて
受光器5で透過光強度を測定する。この時、検光子4お
よび第2の1/2波長板7は固定されている。第4の段
階として、偏光子2の回動角度に対応する透過光強度と
の関係から被検物である液晶セル3のツイスト角および
セルギャップをフィ ッティングプロセスにより算出す
る。第5の段階として、フィッティングプロセスにより
得られたツイスト角およびセルギャップから所定の演算
により液晶セル3の方位角アンカリングを算出する。
With reference to FIG. 10, an operation example 1 of the first example of the third embodiment of the present invention will be described. As a first step, the stepping motors 11 and 12 are driven to set the transmission angles of the polarizer 2 and the analyzer 4 so as to be at a predetermined angle. In the second stage, the stepping motors 11 and 16 are driven to make the polarizer 2 and the second 1 /
The wavelength plate 7 is rotated in the same direction while maintaining a 2: 1 rotation angle ratio, and is rotated and fixed to an angle at which the transmitted light intensity (current value) detected by the light receiver 5 becomes maximum or minimum. I do. As a third stage, the stepping motor 11 is driven to rotate the polarizer 2 while maintaining a predetermined angular velocity, and the transmitted light intensity is measured by the light receiver 5. At this time, the analyzer 4 and the second half-wave plate 7 are fixed. As a fourth step, the twist angle and cell gap of the liquid crystal cell 3 as the test object are calculated from the relationship between the transmitted light intensity corresponding to the rotation angle of the polarizer 2 by a fitting process. As a fifth step, the azimuth anchoring of the liquid crystal cell 3 is calculated by a predetermined calculation from the twist angle and the cell gap obtained by the fitting process.

【0117】また、動作例1の第2の段階として、ステ
ッピングモータ11, 16を枢動させて偏光子2と第2
の1/2波長板7とを2:1の回動角度比を保ちながら
同一方向に回動させて受光器5により検出される透週光
強度(電流値)が最大または最小となる角度まで回動さ
せて固定するように動作しているが、偏光子2と第2の
1/2波長板7とを2:1の回動角度比を保ちながら逆
方向に回動させて透過光強度が最大または最小となる角
度で固定することも可能である。
As the second stage of the first operation example, the stepping motors 11 and 16 are pivoted so that the polarizer 2 and the second
Is rotated in the same direction while maintaining a rotation angle ratio of 2: 1 to the angle at which the transmitted light intensity (current value) detected by the light receiver 5 becomes maximum or minimum. It is operated to rotate and fix, but the polarizer 2 and the second half-wave plate 7 are rotated in the opposite direction while maintaining the rotation angle ratio of 2: 1 to transmit the transmitted light intensity. Can be fixed at an angle at which the maximum or minimum is obtained.

【0118】図10を参照して、本発明の第3の実施形
態における第1の実施例の動作例2を説明する。第1の
段階として、ステッピングモータ11, 12を駆動させ
て偏光子2と検光子4との透過軸を互いに所定の角度と
なるように設定する。第2の段階として、ステッピング
モータ12, 16を駆動させて検光子4と第2の1/2
波長板7とを2:1の回動角度比を保ちながら回動させ
て受光器5において検出される透過光強度(電流値)が
最大または最小となる角度まで回動させて固定する。第
3の段階として、ステッピングモータ12を駆動して検
光子4を所定の角速度を保ちながら回動させて受光器5
で透過光強度を測定する。この時、偏光子2および第2
の1/2波長板7は固定されている。第4の段階とし
て、検光子4の回動角度に対応する透過光強度との関係
から被検物である液晶セル3のツイスト角およびセルギ
ャップをフィッティングプロセスにより算出する。第5
の段階として、フィッティングプロセスにより得られた
ツイスト角およびセルギャップから所定の演算により液
晶セル3の方位角アンカリングを算出する。
With reference to FIG. 10, an operation example 2 of the first example of the third embodiment of the present invention will be described. In the first stage, the stepping motors 11 and 12 are driven to set the transmission axes of the polarizer 2 and the analyzer 4 at a predetermined angle. In the second stage, the stepping motors 12 and 16 are driven so that the analyzer 4 and the second 1 /
The wave plate 7 is rotated while maintaining a rotation angle ratio of 2: 1 to rotate and fix to an angle at which the transmitted light intensity (current value) detected by the light receiver 5 becomes maximum or minimum. As a third stage, the stepping motor 12 is driven to rotate the analyzer 4 while maintaining a predetermined angular velocity, and the photodetector 5 is rotated.
To measure the transmitted light intensity. At this time, the polarizer 2 and the second
The half-wave plate 7 is fixed. In the fourth stage, the twist angle and cell gap of the liquid crystal cell 3 as the test object are calculated from the relationship between the transmitted light intensity corresponding to the rotation angle of the analyzer 4 and the fitting process. Fifth
As a step, the azimuth anchoring of the liquid crystal cell 3 is calculated by a predetermined calculation from the twist angle and the cell gap obtained by the fitting process.

【0119】また、動作例2の第2の段階として、ステ
ッピングモータ12, 16を駆動させて検光子4と第2
の1/2波長板7とを2:1の回動角度比を保ちながら
同一方向に回動させて受光器5により検出される透過光
強度(電流値)が最大または最小となる角度まで回動さ
せて固定するように動作しているが、検光子4と第2の
1/2波長板7とを2:1の回動角度比を保ちながら逆
方向に回動させて透過光強度が最大または最小となる角
度で固定することも可能である。
In the second stage of the operation example 2, the stepping motors 12 and 16 are driven so that the analyzer 4 and the second
Is rotated in the same direction while maintaining a rotation angle ratio of 2: 1 with respect to the half-wave plate 7 so that the transmitted light intensity (current value) detected by the light receiver 5 is rotated to the maximum or minimum angle. The analyzer 4 and the second half-wave plate 7 are rotated in the opposite direction while maintaining the rotation angle ratio of 2: 1 to reduce the transmitted light intensity. It is also possible to fix at a maximum or minimum angle.

【0120】図10を参照して、本発明の第3の実施形
態における第1の実施例の動作例3を説明する。第1の
段階として、ステッピングモータ11, 12を駆動させ
て偏光子2と検光子4との透過軸を互いに所定の角度と
なるように設定する。第2の段階として、ステッピング
モータ11, 16を駆動させて偏光子2と第2の1/2
波長板7とを2:1の回動角度比を保ちながら同一方向
に回動させて受光器5により検出される透過光強度(電
流値)が最大または最小となる角度まで回動させて固定
する。第3の段階として、ステッピングモータ16を駆
動して第2の1/2波長板7を所定の角速度を保ちなが
ら回動させて受光器5で透過光強度を測定する。この
時、偏光子2および検光子4は固定されている。第4の
段階として、第2の1/2波長板7の回動角度に対応す
る透過光強度との関係から被検物である液晶セル3のツ
イスト角およびセルギャップをフィッティングプロセス
により算出する。第5の段階として、フィッティングプ
ロセスにより得られたツイスト角およびセルギャップか
ら所定の演算により液晶セル3の方位角アンカリングを
算出する。
Referring to FIG. 10, an operation example 3 of the first example of the third embodiment of the present invention will be described. In the first stage, the stepping motors 11 and 12 are driven to set the transmission axes of the polarizer 2 and the analyzer 4 at a predetermined angle. In the second stage, the stepping motors 11 and 16 are driven to make the polarizer 2 and the second 1 /
The wavelength plate 7 is rotated in the same direction while maintaining a 2: 1 rotation angle ratio, and is rotated and fixed to an angle at which the transmitted light intensity (current value) detected by the light receiver 5 becomes maximum or minimum. I do. In the third stage, the stepping motor 16 is driven to rotate the second half-wave plate 7 while maintaining a predetermined angular velocity, and the transmitted light intensity is measured by the light receiver 5. At this time, the polarizer 2 and the analyzer 4 are fixed. As a fourth step, the twist angle and cell gap of the liquid crystal cell 3 as the test object are calculated from the relationship between the transmitted light intensity corresponding to the rotation angle of the second half-wave plate 7 by a fitting process. As a fifth step, the azimuth anchoring of the liquid crystal cell 3 is calculated by a predetermined calculation from the twist angle and the cell gap obtained by the fitting process.

【0121】また、動作例3の第2の段階として、ステ
ッピングモータ11, 16を駆動させて偏光子2と第2
の1/2波長板7とを2:1の回動角度比を保ちながら
同一方向に回動させて受光器5により換出される透過光
強度(電流値)が最大または最小となる角度まで回動さ
せて固定するように動作しているが、偏光子2と第2の
1/2波長板7 とを2:1の回動角度比を保ちながら逆
方向に回動させて透過光強度が最大または最小となる角
度で固定することも可能である。
In the second stage of the operation example 3, the stepping motors 11 and 16 are driven so that the polarizer 2 and the second
Is rotated in the same direction while maintaining the rotation angle ratio of 2: 1 with respect to the half-wave plate 7 to rotate to the angle at which the transmitted light intensity (current value) converted by the light receiver 5 becomes maximum or minimum. The polarizer 2 and the second half-wave plate 7 are rotated in the opposite directions while maintaining a rotation angle ratio of 2: 1 to reduce the transmitted light intensity. It is also possible to fix at a maximum or minimum angle.

【0122】図10を参照して、本発明の第3の実施形
態における第1の実施例の動作例4を説明する。第1の
段階として、ステッピングモータ11, 12を駆動させ
て偏光子2と検光子4との透過軸を互いに所定の角度と
なるように設定する。第2の段階として、ステッピング
モータ12, 16を駆動させて検光子4と第2の1/2
波長板7とを2:1の回動角度比を保ちながら回動させ
て受光器5において検出される透過光強度(電流値)が
最大または最小となる角度まで回動させて固定する。第
3の段階として、ステッピングモータ16を駆動して第
2の1/2波長板7を所定の角速度を保ちながら回動さ
せて受光器5で透過光強度を測定する。この時、偏光子
2および検光子4は固定されている。第4の段階とし
て、第2の1/2波長板7の回動角度に対応する透過光
強度との関係から被検物である液晶セル3のツイスト角
およびセルギャップをフィッティングプロセスにより算
出する。第5の段階として、フィッティングプロセスに
より得られたツイスト角およびセルギャップから所定の
演算により液晶セル3の方位角アンカリングを算出す
る。
Referring to FIG. 10, an operation example 4 of the first example of the third embodiment of the present invention will be described. In the first stage, the stepping motors 11 and 12 are driven to set the transmission axes of the polarizer 2 and the analyzer 4 at a predetermined angle. In the second stage, the stepping motors 12 and 16 are driven so that the analyzer 4 and the second 1 /
The wave plate 7 is rotated while maintaining a rotation angle ratio of 2: 1 to rotate and fix to an angle at which the transmitted light intensity (current value) detected by the light receiver 5 becomes maximum or minimum. In the third stage, the stepping motor 16 is driven to rotate the second half-wave plate 7 while maintaining a predetermined angular velocity, and the transmitted light intensity is measured by the light receiver 5. At this time, the polarizer 2 and the analyzer 4 are fixed. As a fourth step, the twist angle and cell gap of the liquid crystal cell 3 as the test object are calculated from the relationship between the transmitted light intensity corresponding to the rotation angle of the second half-wave plate 7 by a fitting process. As a fifth step, the azimuth anchoring of the liquid crystal cell 3 is calculated by a predetermined calculation from the twist angle and the cell gap obtained by the fitting process.

【0123】また、動作例4の第2の段階として、ステ
ッピングモータ12, 16を駆動させて検光子4と第2
の1/2波長板7とを2:1の回動角度比を保ちながら
同一方向に回動させて受光器5により検出される透過光
強度(電流値)が最大または最小となる角度まで回動さ
せて固定するように動作しているが、検光子4と第2の
1/2波長板7とを2:1の回動角度比を保ちながら逆
方向に回動させて透過光強度が最大または最小となる角
度で固定することも可能である。
As the second stage of the operation example 4, the stepping motors 12 and 16 are driven so that the analyzer 4 and the second
Is rotated in the same direction while maintaining a rotation angle ratio of 2: 1 with respect to the half-wave plate 7 so that the transmitted light intensity (current value) detected by the light receiver 5 is rotated to the maximum or minimum angle. The analyzer 4 and the second half-wave plate 7 are rotated in the opposite direction while maintaining the rotation angle ratio of 2: 1 to reduce the transmitted light intensity. It is also possible to fix at a maximum or minimum angle.

【0124】また、本発明の第3の実施形態における第
1の実施例の動作例5として、上述される各動作例によ
れば、光学素子である偏光子2、検光子4および第2の
1/2波長板7のそれぞれを回動可能に構成することに
より、いずれかの組み合わせにより動作することで、液
晶セル3のツイスト各およびセツギャップを測定してい
る。従って、偏光子2、検光子4、第2の1/2波長板
7のいずれを回動させるのか、または、同一方向に回動
させるのか、あるいは逆方向に回動させるのか、といっ
た動作設定をPC10からの入力により行うことも可能
である。
Further, according to each of the above-described operation examples, as the operation example 5 of the first example of the third embodiment of the present invention, the polarizer 2, the analyzer 4, and the second By configuring each of the half-wave plates 7 so as to be rotatable, each of the twists and the set gap of the liquid crystal cell 3 are measured by operating in any combination. Therefore, an operation setting such as which of the polarizer 2, the analyzer 4, and the second half-wave plate 7 is to be rotated, whether to rotate in the same direction, or whether to rotate in the opposite direction is set. It is also possible to carry out by input from the PC 10.

【0125】以上のように、本発明の第3の実施形態に
おける第1の実施例によれば、本発明の第1および第2
の実施形態と同様に、従来では液晶セルを回動させるこ
とにより測定していたツイスト角、セルギャップ、方位
角アンカリングを、光学素子である偏光子2、検光子4
および第2の1/2波長板7のそれぞれを回動可能に構
成することにより、測定装置全体の構成を小型化するこ
とができる。
As described above, according to the first example of the third embodiment of the present invention, the first and second embodiments of the present invention are described.
The twist angle, cell gap, and azimuthal anchoring, which were conventionally measured by rotating a liquid crystal cell, are changed to polarizers 2 and analyzers 4 as optical elements, similarly to the embodiment.
By configuring each of the second half-wave plate 7 and the second half-wave plate 7 to be rotatable, the configuration of the entire measuring apparatus can be reduced in size.

【0126】また、第2の1/2波長板7を液晶セル3
と検光子4との間に挿入して構成することにより、検光
子4からの液晶セル3に対する反射光の影響を低減する
ことができるので、ツイスト角、セルギャップ、方位角
アンカリングの測定精度が向上するものである。
Also, the second half-wave plate 7 is connected to the liquid crystal cell 3.
And the analyzer 4 can reduce the influence of the reflected light from the analyzer 4 on the liquid crystal cell 3, so that the measurement accuracy of the twist angle, the cell gap, and the azimuthal anchoring can be reduced. Is improved.

【0127】〈第3の実施形態における第2の実施例〉 図11は、本発明の第3の実施形態における第2の実施
例を示す全体構成図である。図11において、第1の実
施例との相違点は、液晶セル3が光源1から射出される
光に対して、垂直平面内で移動可能に構成されている点
にある。
<Second Example of Third Embodiment> FIG. 11 is an overall configuration diagram showing a second example of the third embodiment of the present invention. In FIG. 11, the difference from the first embodiment is that the liquid crystal cell 3 is configured to be movable in a vertical plane with respect to the light emitted from the light source 1.

【0128】第1の実施例においては、液晶セル3の表
示面内における任意の一点のみにおいて透過光強度を測
定し、この透過光強度に基づいてツイスト角、セルギャ
ップをフィッティングプロセスにより算出して、当該算
出されたツイスト角およびセルギャップから所定の演算
により方位角アンカリングを算出していたが、第2の実
施例では、液晶セル3が光源1から射出される光に対し
て、ステッピングモータ13を駆動させることで垂直平
面内で移動可能に構成されることにより、液晶セル3の
表示面内の全ての点において透過光強度を測定すること
が可能となる。
In the first embodiment, the transmitted light intensity is measured only at an arbitrary point on the display surface of the liquid crystal cell 3, and the twist angle and the cell gap are calculated based on the transmitted light intensity by a fitting process. Although the azimuth anchoring is calculated by a predetermined calculation from the calculated twist angle and cell gap, in the second embodiment, the liquid crystal cell 3 uses a stepping motor for the light emitted from the light source 1. When the liquid crystal cell 3 is configured to be movable in a vertical plane by driving, the transmitted light intensity can be measured at all points on the display surface of the liquid crystal cell 3.

【0129】従って、本発明の第3の実施形態における
第2の実施例によれば、年々大型化する液晶セルに要求
される表示面内での各特性の均一化、すなわち、ツイス
ト角、セルギャップおよび方位角アンカリングの均一化
を、液晶セルを移動可能に構成することにより実現する
ことができると同時に、第2の1/2波長板7を液晶セ
ル3と検光子4との間に載置することにより、検光子4
からの反射光による影響を低減するので測定精度を向上
させることができる。
Therefore, according to the second example of the third embodiment of the present invention, uniformity of each characteristic within a display surface required for a liquid crystal cell which is getting larger year by year, ie, twist angle, cell The uniformization of the gap and the azimuthal anchoring can be realized by making the liquid crystal cell movable, and at the same time, the second half-wave plate 7 is provided between the liquid crystal cell 3 and the analyzer 4. By placing the analyzer, the analyzer 4
The measurement accuracy can be improved because the influence of the reflected light from the object is reduced.

【0130】〈第3の実施形態における第3の実施例〉 図12は、本発明の第3の実施形態における第3の実施
例を示す全体構成図である。図12において、第2の実
施例との相違点は、液晶セル3が光源1から射出される
光に対して、垂直平面内で移動可能であると同時に、当
該光を中心に回動可能に構成されている点にある。本発
明の第3の実施形態における第3の実施例の動作例を以
下に示す。
<Third Example of Third Embodiment> FIG. 12 is an overall configuration diagram showing a third example of the third embodiment of the present invention. In FIG. 12, the difference from the second embodiment is that the liquid crystal cell 3 can move in a vertical plane with respect to the light emitted from the light source 1 and can rotate around the light at the same time. The point is that it is composed. An operation example of the third example of the third embodiment of the present invention will be described below.

【0131】第1の段階として、ステッピングモータ1
1, 12を駆動させて偏光子2と検光子4との透過軸を
互いに所定の角度となるように設定する。第2の段階と
して、ステッピングモータ14により被検物である液晶
セル3を回動させて、受光器5において検出される透過
光強度(電流値)が最大または最小となる角度まで回動
させて固定する。第3の段階として、ステッピングモー
タ11による偏光子2、ステッピングモータ12による
検光子4、ステッピングモータ16による第2の1/2
波長板7のいずれかを所定の角速度を保ちながら回動さ
せて受光器5で透過光強度を測定する。この時、回動処
理を行わない光学素子は固定されている。第4の段階と
して、第3の段階で回動処理を行った際の回動角度に対
応する透過光強度との関係から被検物である液晶セル3
のツイスト角およびセルギャップをフィッティングプロ
セスにより算出する。第5の段階として、フィッティン
グプロセスにより得られたツイスト角およびセルギャッ
プを用いて液晶セル3の方位角アンカリングを算出す
る。
As the first stage, the stepping motor 1
The transmission axes of the polarizer 2 and the analyzer 4 are set so that the transmission axes of the polarizer 2 and the analyzer 4 are at a predetermined angle with each other by driving 1 and 12. In the second stage, the liquid crystal cell 3 as a test object is rotated by the stepping motor 14 so that the transmitted light intensity (current value) detected by the light receiver 5 is rotated to the maximum or minimum angle. Fix it. As a third stage, the polarizer 2 by the stepping motor 11, the analyzer 4 by the stepping motor 12, and the second half by the stepping motor 16
One of the wave plates 7 is rotated while maintaining a predetermined angular velocity, and the transmitted light intensity is measured by the light receiver 5. At this time, the optical element that does not perform the rotation process is fixed. As a fourth stage, the liquid crystal cell 3 as the test object is determined based on the relationship between the rotation angle when the rotation process is performed in the third stage and the transmitted light intensity corresponding to the rotation angle.
Is calculated by a fitting process. As a fifth stage, the azimuth anchoring of the liquid crystal cell 3 is calculated using the twist angle and the cell gap obtained by the fitting process.

【0132】本発明の第3の実施形態における第3の実
施例によれば、液晶セル3の表示面内の全ての位置の透
過光強度を測定可能であると同時に、従来技術である液
晶セルの回動機能を持たせた状態でも、表示面内の全て
において透過光強度を測定することができる。
According to the third example of the third embodiment of the present invention, it is possible to measure the transmitted light intensity at all positions on the display surface of the liquid crystal cell 3 and at the same time, to use the liquid crystal cell according to the prior art. The transmitted light intensity can be measured on the entire display surface even when the rotating function is provided.

【0133】図20は、本発明の第3の実施形態の構成
による一動作例を示すフローチャートである。図20に
おいて、偏光子2と第2の1/2波長板7とを2: 1の
回動角度比を保ちながら同一方向に回動し、電圧計9の
値(透過光強度)が最大となる位置で固定する(ステッ
プS21)。次に、第2の1/2波長板7を所定の角度
刻みで回動させながら、各回動角度における電圧計9の
値を記録する(ステップS22)。いくつかのツイスト
角とセルギャップの組み合わせから求めておいた透過率
の角度依存性の計算結果と測定した結果とを最小二乗法
を用いて照らし合わせて、液晶セル3のツイスト角とセ
ルギャップとを求める(ステップS23)。この求めら
れたツイスト角およびセルギャップとから方位角アンア
リングを所定の演算により計算して求める(ステップS
24)。
FIG. 20 is a flowchart showing an operation example according to the configuration of the third embodiment of the present invention. In FIG. 20, the polarizer 2 and the second half-wave plate 7 are rotated in the same direction while maintaining the rotation angle ratio of 2: 1 so that the value (transmitted light intensity) of the voltmeter 9 becomes maximum. (Step S21). Next, the value of the voltmeter 9 at each rotation angle is recorded while rotating the second half-wave plate 7 at a predetermined angle (step S22). The calculated result of the angle dependence of transmittance and the measured result obtained from combinations of several twist angles and cell gaps are compared using the least squares method, and the twist angle of the liquid crystal cell 3 and the cell gap are compared. Is obtained (step S23). From the obtained twist angle and cell gap, an azimuth unrealization is calculated and calculated by a predetermined calculation (Step S).
24).

【0134】〈第3の実施形態の具体例〉 本発明の第3の実施形態の具体例を図11を参照しなが
ら説明する。本具体例では、第2の1/2波長板7が液
晶セル3と検光子4との間となり、第1段階の操作で従
来例にて示された液晶セル3を回動させる代りに偏光子
2と第2の1/2波長板7とを2:1の回動角度比を保
ちつつ逆方向に回動させて、電圧計9の値が最大となる
位置で偏光子2と第2の1/2波長板7の角度を固定す
る。第2段階の操作で検光子4を回動させる代りに第2
の1/2波長板7を回動させる。それ以外の装置構成
は、上述される各実施形態に示される構成と同様であ
り、その後のツイスト角、セルギャップ及び方位角アン
カリングエネルギーを求めるまでの手順も同じである。
<Specific Example of Third Embodiment> A specific example of the third embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. In this specific example, the second half-wave plate 7 is located between the liquid crystal cell 3 and the analyzer 4, and instead of rotating the liquid crystal cell 3 shown in the conventional example by the operation of the first stage, polarization is performed. The polarizer 2 and the second half-wave plate 7 are rotated in the opposite directions while maintaining a rotation angle ratio of 2: 1 so that the value of the voltmeter 9 becomes maximum. The angle of the half-wave plate 7 is fixed. Instead of rotating the analyzer 4 in the operation of the second stage, the second
Is rotated. The other device configuration is the same as the configuration shown in each of the above-described embodiments, and the procedure up to obtaining the twist angle, the cell gap, and the azimuth anchoring energy thereafter is also the same.

【0135】なお、回動させる光学素子の変更に伴うそ
れぞれの光学素子の回動角度の大きさの達い、角度のオ
フセットは、PC10の演算プログラムによって補正を
かけることとした。
Note that the magnitude of the rotation angle of each optical element and the offset of the angle due to the change of the optical element to be rotated are corrected by the calculation program of the PC 10.

【0136】本発明の第3の実施形態の具体例において
も、本発明の第2の実施形態の具体例と同じサンプルを
用いて測定を行ったが、測定誤差の範囲内で同じ測定結
果を得た。すなわち、ツイスト角とセルギャップとは、
それぞれ、86°、5.0μmと求まった。また、これ
らの値を用いて得られた方位角アンカリングエネルギー
は、6.53×10-5J/m2 と求まった。また、面内
分布測定においても、同程度のおおよそ±1°のばらつ
きであることを確認した。
In the specific example of the third embodiment of the present invention, the measurement was performed using the same sample as in the specific example of the second embodiment of the present invention, but the same measurement result was obtained within the range of the measurement error. Obtained. That is, the twist angle and the cell gap are
It was 86 ° and 5.0 μm, respectively. The azimuthal anchoring energy obtained using these values was determined to be 6.53 × 10 −5 J / m 2 . Also, in the in-plane distribution measurement, it was confirmed that the variation was about ± 1 ° of the same degree.

【0137】〈第4の実施形態〉 図13は、本発明の第4の実施形態であるツイスト角、
セルギャップ及び方位角アンカリング測定装置の構成を
示す斜視図である。本発明の第4の実施形態であるツイ
スト角、セルギャップ及び方位角アンカリング測定装置
は、レーザ光を射出する光源1と、光源1から射出され
るレーザ光と同一の光軸上に設けられ、光源1側から順
に、偏光子2と、第1の1/2波長板6と、被検物であ
る液晶セル3と、第2の1/2波長板7と、検光子4
と、受光器5と、を有して構成される。
<Fourth Embodiment> FIG. 13 shows a twist angle according to a fourth embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a perspective view showing a configuration of a cell gap and azimuth anchoring measurement device. A twist angle, cell gap, and azimuth angle anchoring measuring device according to a fourth embodiment of the present invention is provided on a light source 1 for emitting laser light, and on the same optical axis as the laser light emitted from light source 1. , From the light source 1 side, a polarizer 2, a first half-wave plate 6, a liquid crystal cell 3 as a test object, a second half-wave plate 7, and an analyzer 4.
And a light receiver 5.

【0138】本発明の第1、第2及び第3の実施形態と
の相違点は、第1の1/2波長板6を偏光子2と液晶セ
ル3との間に、また、第2の1/2波長板7を液晶セル
3と検光子4との間との2つの位置に配置することによ
り、液晶セル3からの反射光および検光子4からの反射
光による影響を低減することで、よりツイスト角、セル
ギャップ及び方位角アンカリングの測定精度を向上する
ことができる。
The difference from the first, second and third embodiments of the present invention is that the first half-wave plate 6 is provided between the polarizer 2 and the liquid crystal cell 3 and the second half-wave plate 6 is provided between the polarizer 2 and the liquid crystal cell 3. By disposing the half-wave plate 7 at two positions between the liquid crystal cell 3 and the analyzer 4, the influence of the reflected light from the liquid crystal cell 3 and the reflected light from the analyzer 4 can be reduced. The measurement accuracy of the twist angle, the cell gap, and the azimuth anchoring can be further improved.

【0139】本発明の第4の実施形態においては、上述
されるように構成された光学素子のうち、偏光子2、検
光子4、第1の1/2波長板6および第2の1/2波長
板7のそれぞれが回動可能に構成されているものであ
る。以下、本発明の第4の実施形態を図面に基づいて詳
細に説明する。
In the fourth embodiment of the present invention, of the optical elements configured as described above, the polarizer 2, the analyzer 4, the first half-wave plate 6, and the second half-wave plate 6 are used. Each of the two-wavelength plates 7 is configured to be rotatable. Hereinafter, a fourth embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

【0140】〈第4の実施形態における第1の実施例〉 図14は、本発明の第4の実施形態における第1の実施
例を示す全体構成図である。図14において、光源1か
ら射出された光は、偏光子2で所定の方向の偏光のみが
取り出されて第1の1/2波長板6を照射する。第1の
1/2波長板6は、照射される偏光に対して、当該偏光
の1/2倍に相当する位相差を与えて透過させ、この透
過光により液晶セル3を施光する。液晶セル3を透過し
た光は、第2の1/2波長板7で当該透過光の1/2倍
に相当する位相差が与えられて検光子4により検光さ
れ、受光器5で受光される。受光器5は、検光子4で検
光された後の光の強度(透過光強度)を電流として検出
し、この電流値を電流電圧変換器8で電圧値に変換し
て、その電圧値を電圧計9で検出する。PC10は、電
圧計9で検出された電圧値、すなわち、透過光強度に基
づいて偏光子2、検光子4、第1の1/2波長板6およ
び第2の1/2波長板7を回動させるための駆動手段と
なるステッピングモータ11,12,15,16に制御
信号を送出する。ステッピングモータ11,12,1
5,16は、この制御信号に基づいて、偏光子2、検光
子4、第1の1/2波長板6および第2の1/2波長板
7のそれぞれを所定の角度回転させるように駆動する。
<First Example of Fourth Embodiment> FIG. 14 is an overall configuration diagram showing a first example of the fourth embodiment of the present invention. In FIG. 14, only the polarized light of a predetermined direction is extracted from the light emitted from the light source 1 by the polarizer 2 and irradiates the first half-wave plate 6. The first half-wave plate 6 imparts a phase difference corresponding to 倍 of the polarized light to be transmitted and transmits the polarized light, and illuminates the liquid crystal cell 3 with the transmitted light. The light transmitted through the liquid crystal cell 3 is given a phase difference corresponding to 倍 of the transmitted light by the second half-wave plate 7, is analyzed by the analyzer 4, and is received by the light receiver 5. You. The light receiver 5 detects the intensity of the light (transmitted light intensity) detected by the analyzer 4 as a current, converts the current value into a voltage value with a current-voltage converter 8, and converts the voltage value. It is detected by the voltmeter 9. The PC 10 turns the polarizer 2, the analyzer 4, the first half-wave plate 6, and the second half-wave plate 7 based on the voltage value detected by the voltmeter 9, that is, the transmitted light intensity. Control signals are sent to stepping motors 11, 12, 15, and 16 serving as driving means for moving the motors. Stepping motors 11, 12, 1
5 and 16 drive the polarizer 2, the analyzer 4, the first half-wave plate 6 and the second half-wave plate 7 based on the control signal so as to rotate each of them by a predetermined angle. I do.

【0141】図14を参照して、本発明の第4の実施形
態における第1の実施例の動作例1を説明する。第1の
段階として、ステッピングモータ11,12を駆動させ
て偏光子2と検光子4との透過軸を互いに所定の角度と
なるように設定する。第2の段階として、ステッピング
モータ15、16を駆動させて第1の1/2波長板6と
第2の1/2波長板7とを同じ回動角度を保ちながら同
一方向に回動させて受光器5により検出される透過光強
度(電流値)が最大または最小となる角度まで回動させ
て固定する。第3の段階として、ステッピングモータ1
5を駆動して第1の1/2波長板6を所定の角速度を保
ちながら回動させて受光器5で透過光強度を測定する。
この時、偏光子2、検光子4および第2の1/2波長板
7は固定されている。第4の段階として、第1の1/2
波長板6の回動角度に対応する透過光強度との関係から
被検物である液晶セル3のツイスト角およびセルギャッ
プをフィッティングプロセスにより算出する。第5の段
階として、フィッティングプロセスにより得られたツイ
スト角およびセルギャップから所定の演算により液晶セ
ル3の方位角アンカリングを算出する。
Referring to FIG. 14, an operation example 1 of the first example of the fourth embodiment of the present invention will be described. As a first stage, the stepping motors 11 and 12 are driven to set the transmission axes of the polarizer 2 and the analyzer 4 at a predetermined angle. In the second stage, the stepping motors 15 and 16 are driven to rotate the first half-wave plate 6 and the second half-wave plate 7 in the same direction while maintaining the same rotation angle. It is rotated and fixed to an angle at which the transmitted light intensity (current value) detected by the light receiver 5 becomes maximum or minimum. As the third stage, the stepping motor 1
5 is driven to rotate the first half-wave plate 6 while maintaining a predetermined angular velocity, and the light receiver 5 measures the transmitted light intensity.
At this time, the polarizer 2, the analyzer 4, and the second half-wave plate 7 are fixed. As a fourth stage, the first half
The twist angle and the cell gap of the liquid crystal cell 3 as the test object are calculated from the relationship between the transmitted light intensity corresponding to the rotation angle of the wave plate 6 and the fitting process. As a fifth step, the azimuth anchoring of the liquid crystal cell 3 is calculated by a predetermined calculation from the twist angle and the cell gap obtained by the fitting process.

【0142】また、動作例1の第2の段階として、ステ
ッピングモータ15、16を駆動させて第1の1/2波
長板6と第2の1/2波長板7とを同じ回動角度比を保
ちながら同一方向に回動させて受光器5により検出され
る透週光強度(電流値)が最大または最小となる角度ま
で回動させて固定するように動作しているが、第1の1
/2波長板6と第2の1/2波長板7とを同じ回動角度
比を保ちながら逆方向に回動させて透過光強度が最大ま
たは最小となる角度で固定することも可能である。
In the second stage of the operation example 1, the stepping motors 15 and 16 are driven so that the first half-wave plate 6 and the second half-wave plate 7 have the same rotation angle ratio. While rotating in the same direction while maintaining the rotation angle, the rotation is fixed to the angle at which the transmitted light intensity (current value) detected by the light receiver 5 is maximized or minimized. 1
It is also possible to rotate the half-wave plate 6 and the second half-wave plate 7 in opposite directions while maintaining the same rotation angle ratio, and to fix them at an angle at which the transmitted light intensity is maximum or minimum. .

【0143】図14を参照して、本発明の第4の実施形
態における第1の実施例の動作例2を説明する。第1の
段階として、ステッピングモータ11,12を駆動させ
て偏光子2と検光子4との透過軸を互いに所定の角度と
なるように設定する。第2の段階として、ステッピング
モータ15,16を駆動させて第1の1/2波長板6と
第2の1/2波長板7とを同じ回動角度比を保ちながら
回動させて受光器5において検出される透過光強度(電
流値)が最大または最小となる角度まで回動させて固定
する。第3の段階として、ステッピングモータ16を駆
動して第2の1/2波長板7を所定の角速度を保ちなが
ら回動させて受光器5で透過光強度を測定する。この
時、偏光子2、検光子4および第1の1/2波長板6は
固定されている。第4の段階として、第2の1/2波長
板7の回動角度に対応する透過光強度との関係から被検
物である液晶セル3のツイスト角およびセルギャップを
フイッティングプロセスにより算出する。第5の段階と
して、フィッティングプロセスにより得られたツイスト
角およびセルギャップから所定の演算により液晶セル3
の方位角アンカリングを算出する。
Referring to FIG. 14, an operation example 2 of the first example of the fourth embodiment of the present invention will be described. As a first stage, the stepping motors 11 and 12 are driven to set the transmission axes of the polarizer 2 and the analyzer 4 at a predetermined angle. In the second stage, the stepping motors 15 and 16 are driven to rotate the first half-wave plate 6 and the second half-wave plate 7 while maintaining the same rotation angle ratio, and the light receiver 5 to rotate and fix to an angle at which the transmitted light intensity (current value) detected at step 5 becomes maximum or minimum. In the third stage, the stepping motor 16 is driven to rotate the second half-wave plate 7 while maintaining a predetermined angular velocity, and the transmitted light intensity is measured by the light receiver 5. At this time, the polarizer 2, the analyzer 4, and the first half-wave plate 6 are fixed. As a fourth step, the twist angle and cell gap of the liquid crystal cell 3 as the test object are calculated from the relationship between the transmitted light intensity corresponding to the rotation angle of the second half-wave plate 7 and the fitting process. As a fifth step, the liquid crystal cell 3 is subjected to a predetermined calculation from the twist angle and the cell gap obtained by the fitting process.
Azimuth anchoring is calculated.

【0144】また、動作例2の第2の段階として、ステ
ッピングモータ15、16を駆動させて第1の1/2波
長板6と第2の1/2波長板7とを同じ回動角度比を保
ちながら同一方向に回動させて受光器5により検出され
る透過光強度(電流値)が最大または最小となる角度ま
で回動させて固定するように動作しているが、第1の1
/2波長板6と第2の1/2波長板7とを同じ回転角度
比を保ちながら逆方向に回動させて透過光強度が最大ま
たは最小となる角度で固定することも可能である。
In the second stage of the operation example 2, the stepping motors 15 and 16 are driven so that the first half-wave plate 6 and the second half-wave plate 7 have the same rotation angle ratio. While maintaining in the same direction, it is operated to rotate and fix to an angle at which the transmitted light intensity (current value) detected by the light receiver 5 becomes maximum or minimum.
It is also possible to rotate the half-wave plate 6 and the second half-wave plate 7 in opposite directions while maintaining the same rotation angle ratio, and to fix the angle at which the transmitted light intensity becomes maximum or minimum.

【0145】図14を参照して、本発明の第4の実施形
態における第1の実施例の動作例3を説明する。動作例
1においては、ステッピングモータ15により第1の1
/2波長板6を所定の角速度で回動させて透過光強度を
測定し、また、動作例2においては、ステッピングモー
タ16により第2の1/2波長板7を所定の角速度で回
動させ透過光強度を測定している。すなわち、第1の1
/2波長板6あるいは第2の1/2波長板7のいずれを
回動させた場合においても、同様の効果を得ることがで
きる。従って、動作例3としては、第1の1/2波長板
6または第2の1/2波長板7のいずれを回動させるの
か、または、同一方向に回動させるのか、あるいは逆方
向に回動させるのか、といった動作をPC10から入力
される動作設定に基づいて行うものである。
Referring to FIG. 14, an operation example 3 of the first example of the fourth embodiment of the present invention will be described. In the operation example 1, the first 1
The transmitted light intensity is measured by rotating the half-wave plate 6 at a predetermined angular speed, and in the operation example 2, the second half-wave plate 7 is rotated at a predetermined angular speed by the stepping motor 16. The transmitted light intensity is measured. That is, the first 1
The same effect can be obtained when either the half-wave plate 6 or the second half-wave plate 7 is rotated. Therefore, as an operation example 3, as to which one of the first half-wave plate 6 and the second half-wave plate 7 is to be rotated, to be rotated in the same direction, or to be rotated in the opposite direction. The operation such as whether or not to move is performed based on the operation setting input from the PC 10.

【0146】以上のように、本発明の第4の実施形態に
おける第1の実施例によれば、本発明の第1、第2およ
び第3の実施形態と同様に、従来では液晶セルを回動さ
せることにより測定していたツイスト角、セルギャッ
プ、方位角アンカリングを、光学素子である偏光子2、
検光子4、第1の1/2波長板6および第2の1/2波
長板7のそれぞれを回動可能に構成することにより、測
定装置全体の構成を小型化することができる。
As described above, according to the first example of the fourth embodiment of the present invention, similarly to the first, second and third embodiments of the present invention, the liquid crystal cell is conventionally rotated. The twist angle, cell gap and azimuth anchoring measured by moving
By configuring each of the analyzer 4, the first half-wave plate 6, and the second half-wave plate 7 to be rotatable, the configuration of the entire measuring apparatus can be reduced.

【0147】また、第1の1/2波長板6を偏光子2と
液晶セル3との間に挿入し、第2の1/2波長板7を液
晶セル3と検光子4との間に挿入して構成することによ
り、液晶セル3からの偏光子2に対する反射光の影響お
よび検光子4からの液晶セル3に対する反射光の影響を
低減することができるので、測定精度が向上するもので
ある。
Further, the first half-wave plate 6 is inserted between the polarizer 2 and the liquid crystal cell 3, and the second half-wave plate 7 is inserted between the liquid crystal cell 3 and the analyzer 4. By inserting and configuring, the influence of the reflected light from the liquid crystal cell 3 on the polarizer 2 and the influence of the reflected light from the analyzer 4 on the liquid crystal cell 3 can be reduced, so that the measurement accuracy is improved. is there.

【0148】〈第4の実施形態における第2の実施例〉 図15は、本発明の第4の実施形態における第2の実施
例を示す全体構成図である。図1において、第1の実施
例との相違点は、液晶セル3が光源1から射出される光
に対して、垂直平面内で移動可能に構成されている点に
ある。
<Second Example in Fourth Embodiment> FIG. 15 is an overall configuration diagram showing a second example in the fourth embodiment of the present invention. In FIG. 1, the difference from the first embodiment is that the liquid crystal cell 3 is configured to be movable in a vertical plane with respect to the light emitted from the light source 1.

【0149】本発明の第4の実施形態における第1の実
施例においては、液晶セル3の表示面内における任意の
一点のみにおいて透過光強度を測定し、この透過光強度
に基づいてツイスト角、セルギャップをフィッティング
プロセスにより算出して、当該算出されたツイスト角お
よびセルギャップから所定の演算により方位角アンカリ
ングを算出していたが、第2の実施例では、液晶セル3
が光源1から射出される光に対して、ステッピングモー
タ13を駆動させることで垂直平面内で移動可能に構成
されることにより、液晶セル3の表示面内の全ての点に
おいて透過光強度を測定することが可能となる。
In the first example of the fourth embodiment of the present invention, the transmitted light intensity is measured at only one arbitrary point on the display surface of the liquid crystal cell 3, and based on the transmitted light intensity, the twist angle, The cell gap is calculated by the fitting process, and the azimuth anchoring is calculated by a predetermined calculation from the calculated twist angle and cell gap. In the second embodiment, the liquid crystal cell 3
Is configured to be movable in a vertical plane by driving a stepping motor 13 with respect to light emitted from the light source 1, so that transmitted light intensity is measured at all points on the display surface of the liquid crystal cell 3. It is possible to do.

【0150】従って、本発明の第4の実施形態における
第2の実施例によれば、年々大型化する液晶セルに要求
される表示面内での各特性の均一化、すなわち、ツイス
ト角、セルギャップおよび方位角アンカリングの均一化
を、液晶セルを移動可能に構成することにより実現する
ことができると同時に、第1の1/2波長板6を偏光子
2と液晶セル3との間に載置し、第2の1/2波長板7
を液晶セル3と検光子4との間に載置することにより、
液晶セル3から偏光子2に対する反射光の影響および検
光子4から液晶セル3に対する反射光の影響を低減する
ことができるので、測定精度を大いに向上することがで
きる。
Therefore, according to the second example of the fourth embodiment of the present invention, uniformity of each characteristic within a display surface required for a liquid crystal cell which is increasing year by year, ie, twist angle, cell angle Uniformity of the gap and azimuthal anchoring can be realized by making the liquid crystal cell movable, and at the same time, the first half-wave plate 6 is provided between the polarizer 2 and the liquid crystal cell 3. Mounted on the second half-wave plate 7
Is placed between the liquid crystal cell 3 and the analyzer 4,
Since the influence of the reflected light from the liquid crystal cell 3 on the polarizer 2 and the influence of the reflected light from the analyzer 4 on the liquid crystal cell 3 can be reduced, the measurement accuracy can be greatly improved.

【0151】〈第4の実施形態における第3の実施例〉 図16は、本発明の第4の実施形態における第3の実施
例を示す全体構成図である。図16において、本発明の
第4の実施形態における第2の実施例との相違点は、液
晶セル3が光源1から射出される光に対して、垂直平面
内で移動可能であると同時に、当該光を中心に回動可能
に構成されている点にある。本発明の第4の実施形態に
おける第3の実施例の動作例を以下に示す。
<Third Example in Fourth Embodiment> FIG. 16 is an overall configuration diagram showing a third example in the fourth embodiment of the present invention. In FIG. 16, the fourth embodiment of the present invention is different from the second embodiment in that the liquid crystal cell 3 is movable in a vertical plane with respect to the light emitted from the light source 1, and The point is that it is configured to be rotatable around the light. An operation example of the third example in the fourth embodiment of the present invention will be described below.

【0152】第1の段階として、ステッピングモータ1
1,12を駆動させて偏光子2と検光子4との透過軸を
互いに所定の角度となるように設定する。第2の段階と
して、ステッピングモータ14により被検物である液晶
セル3を回動させて、受光器5 において検出される透
過光強度(電流値)が最大または最小となる角度まで回
動させて固定する。第3の段階として、ステッピングモ
ータ11,12,15,16のそれぞれにより、偏光子
2、検光子4、第1の1/2波長板6、第2の1/2波
長板7のいずれかを所定の角速度を保ちながら回動させ
て受光器5で透過光強度を測定する。この時、回動処理
を行わない光学素子は固定されている。第4の段階とし
て、第3の段階で回動処理を行った際の回動角度に対応
する透過光強度との関係から被検物である液晶セル3の
ツイスト角およびセルギャップをフィッティングプロセ
スにより算出する。第5の段階として、フィッティング
プロセスにより得られたツイスト角およびセルギャップ
を用いて液晶セル3の方位角アンカリングを算出する。
In the first stage, the stepping motor 1
The transmission axes of the polarizer 2 and the analyzer 4 are set so that they are at a predetermined angle by driving the polarizers 1 and 12. In the second stage, the liquid crystal cell 3 as a test object is rotated by the stepping motor 14 so that the transmitted light intensity (current value) detected by the light receiver 5 is rotated to the maximum or minimum angle. Fix it. As a third stage, one of the polarizer 2, the analyzer 4, the first half-wave plate 6, and the second half-wave plate 7 is controlled by each of the stepping motors 11, 12, 15, and 16. While rotating at a predetermined angular velocity, the transmitted light intensity is measured by the light receiver 5. At this time, the optical element that does not perform the rotation process is fixed. As a fourth step, the twist angle and cell gap of the liquid crystal cell 3 as the test object are determined by a fitting process from the relationship between the rotation angle when the rotation processing is performed in the third step and the transmitted light intensity corresponding to the rotation angle. calculate. As a fifth stage, the azimuth anchoring of the liquid crystal cell 3 is calculated using the twist angle and the cell gap obtained by the fitting process.

【0153】上述される本発明の第4の実施形態におけ
る第3の実施例において、偏光子2、検光子4、第1の
1/2波長板6、第2の1/2波長板7のいずれを回動
させるかの制御は、PC10から入力される動作設定に
基づいて行われるものである。
In the third example of the fourth embodiment of the present invention described above, the polarizer 2, the analyzer 4, the first half-wave plate 6, and the second half-wave plate 7 The control of which is rotated is performed based on an operation setting input from the PC 10.

【0154】本発明の第4の実施形態における第3の実
施例によれば、液晶セル3の表示面内の全ての位置の透
過光強度を測定可能であると同時に、従来技術である液
晶セルの回動機能を持たせた状態でも、表示面内の全て
において透遇光強度を測定することができる。
According to the third example of the fourth embodiment of the present invention, it is possible to measure the transmitted light intensity at all positions on the display surface of the liquid crystal cell 3, and at the same time, to use the conventional liquid crystal cell. Even in the state where the rotation function is provided, the transmitted light intensity can be measured on the entire display surface.

【0155】図21は、本発明の第4の実施形態の構成
による一動作例を示すフローチャートである。図21に
おいて、第1の1/2波長板6と第2の1/2波長板7
とを同じ回動角度比を保ちながら同一方向に回動し、電
圧計9の値(透過光強度)が最大となる位置で固定する
(ステップS31)。次に、第2の1/2波長板7を所
定の角度刻みで回転させながら、各回動角度における電
圧計9の値を記録する(ステップS32)。いくつかの
ツイスト角とセルギャップの組み合わせから求めておい
た透過率の角度依存牲の計算結果と測定した結果とを最
小二乗法を用いて照らし合わせて 液晶セル3のツイス
ト角とセルギャップとを求める(ステップS33)。こ
の求められたツイスト角およびセルギャップとから方位
角アンアリングを所定の演算により計算して求める(ス
テップS34)。
FIG. 21 is a flowchart showing an operation example according to the configuration of the fourth embodiment of the present invention. In FIG. 21, a first half-wave plate 6 and a second half-wave plate 7
Are rotated in the same direction while maintaining the same rotation angle ratio, and fixed at a position where the value (transmitted light intensity) of the voltmeter 9 is maximized (step S31). Next, the value of the voltmeter 9 at each rotation angle is recorded while rotating the second half-wave plate 7 at predetermined angle intervals (step S32). The calculated result of the angle dependence of transmittance and the measured result obtained from combinations of several twist angles and cell gaps are illuminated using the least squares method, and the twist angle of the liquid crystal cell 3 and the cell gap are determined. It is determined (step S33). From the obtained twist angle and cell gap, an azimuth unrealization is calculated and obtained by a predetermined calculation (step S34).

【0156】〈第4の実施形態の具体例〉 本発明の第4の実施形態の具体例を図15を参照しなが
ら説明する。光源1側から偏光子2と第1の1/2波長
板6と、液晶セル3と、第2の1/2波長板7と、検光
子4と、受光器5の順に並んでおり、第1段階の操作で
従来例で液晶セル3を回動させていた代りに、第1の1
/2波長板6と第2の1/2波長板7とを同じ角度だけ
逆方向に回動させて電圧計9の値が最大となる角度で固
定し、第2段階の操作で検光子4を回動させる代りに第
2の1/2波長板7を回動すること以外は、上述される
実施形態と同様の装置構成である。その後は同じ測定手
順でツイスト角、セルギャップおよび方位角アンカリン
グエネルギーを求める。やはり回動させる光学素子の変
更による回動角度の大きさの違い、角度のオフセットは
演算プログラムで行った。
<Specific Example of Fourth Embodiment> A specific example of the fourth embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. From the side of the light source 1, the polarizer 2, the first half-wave plate 6, the liquid crystal cell 3, the second half-wave plate 7, the analyzer 4, and the light receiver 5 are arranged in this order. Instead of rotating the liquid crystal cell 3 in the conventional example by one-step operation, the first
The half-wave plate 6 and the second half-wave plate 7 are rotated in the opposite direction by the same angle and fixed at an angle at which the value of the voltmeter 9 is maximized. The apparatus configuration is the same as that of the above-described embodiment except that the second half-wave plate 7 is rotated instead of rotating the second half-wave plate 7. After that, the twist angle, cell gap and azimuthal anchoring energy are obtained by the same measurement procedure. Similarly, the difference in the magnitude of the rotation angle and the offset of the angle due to the change of the optical element to be rotated were performed by a calculation program.

【0157】本発明の第4の実施形態の具体例において
も、これまでの具体例と同じサンプルを用いて測定を行
い、測定誤差の範囲内で同じ測定結果になることを確認
した。すなわち、ツイスト角とセルギャップとは、それ
ぞれ、86°、5.0μmと求まった。また、これらの
値を用いて得られた方位角アンカリングエネルギーは、
6.53×10-5J/m2 と求まった。また、面内分布
測定においても、同程度のおおよそ±1°のばらつきで
あることを確認した。
Also in the specific example of the fourth embodiment of the present invention, measurement was performed using the same sample as in the previous specific examples, and it was confirmed that the same measurement result was obtained within the range of the measurement error. That is, the twist angle and the cell gap were determined to be 86 ° and 5.0 μm, respectively. Also, the azimuthal anchoring energy obtained using these values is
6.53 × 10 −5 J / m 2 was obtained. Also, in the in-plane distribution measurement, it was confirmed that the variation was about ± 1 ° of the same degree.

【0158】なお、上述される各実施形態は、本発明の
好適な実施形態であり、本発明の要旨を逸脱しない範囲
内において種々変形実施可能である。例えば、光源から
射出されるレーザの光軸に光学素子の中心となるように
位置を調整すると、光学素子が痛みやすいので、光軸か
ら若干ずらした位置での測定も可能である。
The embodiments described above are preferred embodiments of the present invention, and various modifications can be made without departing from the spirit of the present invention. For example, if the position is adjusted so that the optical element is positioned at the center of the optical element with respect to the optical axis of the laser emitted from the light source, the optical element is easily damaged, so that measurement at a position slightly shifted from the optical axis is possible.

【0159】また、例えば、既に偏光が加えられた状態
で光源から射出されるレーザ光の場合には、偏光子を設
けることなく測定装置を構成することができるので、さ
らに測定装置の小型化を図ることができる。
Further, for example, in the case of a laser beam emitted from a light source in a state where polarized light is already applied, the measuring device can be configured without providing a polarizer, so that the measuring device can be further miniaturized. Can be planned.

【0160】[0160]

【発明の効果】以上の説明より明らかなように、本発明
のツイスト角とセルギャップと方位角アンカリング測定
装置、測定方法及びプログラムを記憶した記憶媒体によ
れば、液晶セルを回動させることなく、偏光子、検光子
といった光学素子を回動させることにより、液晶セルの
特性であるツイスト角、セルギャップ及び方位角アンカ
リングを測定することができる。従って、大型化する液
晶セルに伴って、この液晶セルを回動させるための回動
ステージや回動機構を設ける必要がなく、測定装置自体
を小型化することができる。
As is apparent from the above description, according to the twist angle, cell gap, and azimuth angle anchoring measuring apparatus, the measuring method, and the storage medium storing the program of the present invention, the liquid crystal cell is rotated. In addition, by rotating an optical element such as a polarizer or an analyzer, it is possible to measure a twist angle, a cell gap, and an azimuthal anchoring, which are characteristics of a liquid crystal cell. Therefore, it is not necessary to provide a rotating stage or a rotating mechanism for rotating the liquid crystal cell with the increase in the size of the liquid crystal cell, and the measuring apparatus itself can be reduced in size.

【0161】また、本発明のツイスト角とセルギャップ
と方位角アンカリングとの測定装置、測定方法及びプロ
グラムを記憶した記憶媒体によれば、液晶セルを光源か
らの光に対して垂直平面内で移動可能に構成することに
より、液晶セルの面内分布を測定することができる。従
って、大型化する液晶セルにおいて問題となるツイスト
角、セルギャップ及び方位角アンカリングの各特性の表
示面内における均一性を図ることができる。
Further, according to the measuring device, measuring method, and storage medium for storing the twist angle, cell gap, and azimuth angle anchoring of the present invention, the liquid crystal cell can be moved in a plane perpendicular to the light from the light source. By being movable, the in-plane distribution of the liquid crystal cell can be measured. Therefore, the uniformity of the twist angle, cell gap, and azimuthal anchoring characteristics, which are problems in a liquid crystal cell having a large size, in the display surface can be achieved.

【0162】さらに、本発明のツイスト角とセルギャッ
プと方位角アンカリングとの測定装置、測定方法及びプ
ログラムを記憶した記憶媒体によれば、1/2波長板を
設けることにより、液晶セルおよび検光子からの反射光
を低減することができるので、ツイスト角、セルギャッ
プ及び方位角アンカリングの測定精度を向上させること
ができる。
Further, according to the measuring apparatus, measuring method, and storage medium for storing the twist angle, cell gap, and azimuth angle anchoring of the present invention, by providing a half-wave plate, the liquid crystal cell and the detector can be measured. Since the reflected light from the photons can be reduced, the measurement accuracy of the twist angle, the cell gap, and the azimuthal anchoring can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1の実施形態である光学素子の構成
を示す斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view illustrating a configuration of an optical element according to a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明の第1の実施形態における第1の実施例
を示す全体溝成図である。
FIG. 2 is an overall groove diagram showing a first example of the first embodiment of the present invention.

【図3】本発明の第1の実施形態における第2の実施例
を示す全体構成図である。
FIG. 3 is an overall configuration diagram showing a second example of the first embodiment of the present invention.

【図4】本発明の第1の実施形態における第3の実施例
を示す全体構成図である。
FIG. 4 is an overall configuration diagram showing a third example of the first embodiment of the present invention.

【図5】本発明の第2の実施形態である光学素子の構成
を示す斜視図である。
FIG. 5 is a perspective view illustrating a configuration of an optical element according to a second embodiment of the present invention.

【図6】本発明の第2の実施形態における第1の実施例
を示す全体構成図である。
FIG. 6 is an overall configuration diagram showing a first example of the second embodiment of the present invention.

【図7】本発明の第2の実施形態における第2の実施例
を示す全体構成図である。
FIG. 7 is an overall configuration diagram showing a second example of the second embodiment of the present invention.

【図8】本発明の第2の実施形態における第3の実施例
を示す全体構成図である。
FIG. 8 is an overall configuration diagram showing a third example of the second embodiment of the present invention.

【図9】本発明の第3の実施形態である光学素子の溝成
を示す斜視図である。
FIG. 9 is a perspective view showing a groove of an optical element according to a third embodiment of the present invention.

【図10】本発明の第3の実施形態における第1の実施
例を示す全体構成図である。
FIG. 10 is an overall configuration diagram showing a first example of the third embodiment of the present invention.

【図11】本発明の第3の実施形態における第2の実施
例を示す全体構成図である。
FIG. 11 is an overall configuration diagram showing a second example of the third embodiment of the present invention.

【図12】本発明の第3の実施形態における第3の実施
例を示す全体構成図である。
FIG. 12 is an overall configuration diagram showing a third example of the third embodiment of the present invention.

【図13】本発明の第4の実施形態である光学素子の構
成を示す斜視図である。
FIG. 13 is a perspective view illustrating a configuration of an optical element according to a fourth embodiment of the present invention.

【図14】本発明の第4の実施形態における第1の実施
例を示す全体構成図である。
FIG. 14 is an overall configuration diagram showing a first example of the fourth embodiment of the present invention.

【図15】本発明の第4の実施形態における第2の実施
例を示す全体構成図である。
FIG. 15 is an overall configuration diagram showing a second example of the fourth embodiment of the present invention.

【図16】本発明の第4の実施形態における第3の実施
例を示す全体構成図である。
FIG. 16 is an overall configuration diagram showing a third example of the fourth embodiment of the present invention.

【図17】本発明の実施形態における計算結果と測定結
果とを示す図である。
FIG. 17 is a diagram showing calculation results and measurement results in the embodiment of the present invention.

【図18】本発明の第1の実施形態における一動作例を
示すフローチャートである。
FIG. 18 is a flowchart showing an operation example according to the first embodiment of the present invention.

【図19】本発明の第2の実施形態における一動作例を
示すフローチャートである。
FIG. 19 is a flowchart illustrating an operation example according to the second embodiment of the present invention.

【図20】本発明の第3の実施形態における一動作例を
示すフローチャートである。
FIG. 20 is a flowchart illustrating an operation example according to the third embodiment of the present invention.

【図21】本発明の第4の実施形態における一動作例を
示すフローチャートである。
FIG. 21 is a flowchart illustrating an operation example according to the fourth embodiment of the present invention.

【図22】従来のツイスト角、セルギャップ及び方位角
アンカリング測定装置の全体構成図である。
FIG. 22 is an overall configuration diagram of a conventional twist angle, cell gap, and azimuth anchoring measurement device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 光源 2 偏光板 3 液晶セル 4 検光子 5 受光器 6 第1の1/2波長板 7 第2の1/2波長板 8 電流電圧変換器 9 電圧計 10 PC 11、12 ステッピングモータ REFERENCE SIGNS LIST 1 light source 2 polarizing plate 3 liquid crystal cell 4 analyzer 5 light receiver 6 first half-wave plate 7 second half-wave plate 8 current-voltage converter 9 voltmeter 10 PC 11, 12 stepping motor

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01M 11/00 G01B 11/06 G01N 21/21 G02F 1/13 101 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (58) Field surveyed (Int.Cl. 7 , DB name) G01M 11/00 G01B 11/06 G01N 21/21 G02F 1/13 101

Claims (16)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 少なくとも所定の波長の光を射出する光
源と、 前記光源により射出された光から所定の偏光を取り出す
偏光子と、 前記偏光子により取り出された前記所定の偏光を透過し
て旋光する液晶セルと、 前記液晶セルの透過光を検光する検光子と、 前記検光子により検光された前記透過光を受光して透過
光強度を測定する受光器と、 前記受光器により測定された前記透過光強度に基づいて
前記液晶セルのツイスト角およびセルギャップの決定と
該決定されたツイスト角および該セルギャップを用いて
方位角アンカリングの演算を制御する制御部とを有し、 前記偏光子と前記検光子とは、それぞれ独立して、光軸
を中心に回動可能に構成され、 前記制御部は、前記偏光子および前記検光子のそれぞれ
の回動を制御し、 前記液晶セルは、前記光軸を中心に回動可能に構成され
ると共に、前記光軸に対して垂直な平面内で自由方向に
移動可能に構成され、 前記液晶セルの表示面内の全ての点において透過光強度
を測定することにより、液晶セル特性の面内分布状態を
測定することを特徴とするツイスト角、セルギャップ及
び方位角アンカリング測定装置。
1. A light that emits light of at least a predetermined wavelength.
Extracting a predetermined polarized light from light emitted by the light source and the light source
A polarizer transmits the predetermined polarized light extracted by the polarizer.
A liquid crystal cell for optical rotation, and an analyzer for analyzing the light transmitted through the liquid crystal cell, by receiving the transmitted light which is the light detecting by the analyzer transmission Te
Light receiver for measuring light intensity, based on the transmitted light intensity measured by the light receiver
Determining the twist angle and cell gap of the liquid crystal cell;
Using the determined twist angle and the cell gap
A control unit for controlling the calculation of the azimuth anchoring, wherein the polarizer and the analyzer each independently, the optical axis
The control unit is configured to be rotatable around the polarizer and the analyzer.
The liquid crystal cell is configured to be rotatable about the optical axis.
And in a free direction in a plane perpendicular to the optical axis.
Movable at all points in the display surface of the liquid crystal cell,
By measuring the in-plane distribution of the liquid crystal cell characteristics,
Twist angle, cell gap and
And azimuth anchoring measurement device.
【請求項2】 前記制御部は、 前記偏光子と前記検光子との透過軸を所定の角度となる
ように回動し、 前記所定の角度から前記偏光子と前記検光子との回動を
同期させながら前記受光器にて測定される透過光強度が
最大または最小となる角度まで回動し、 前記透過光強度が最大または最小となる角度から前記偏
光子あるいは前記検光子のいずれかを所定の角速度で回
動させるように制御することを特徴とする請求項1記載
のツイスト角、セルギャップ及び方位角アンカリング測
定装置。
2. The controller according to claim 1 , wherein a transmission axis between the polarizer and the analyzer has a predetermined angle.
To rotate the polarizer and the analyzer from the predetermined angle.
The transmitted light intensity measured by the receiver while synchronizing is
Rotates to the maximum or minimum angle, and shifts from the angle at which the transmitted light intensity is maximum or minimum.
Turn a photon or one of the analyzers at a given angular velocity
2. The method according to claim 1, wherein the control is performed so as to move the object.
Angle, cell gap and azimuth anchoring measurements
Setting device.
【請求項3】 少なくとも所定の波長の光を射出する光
源と、 前記光源により射出された光から所定の偏光を取り出す
偏光子と、 前記偏光子により取り出された前記所定の偏光に対して
該偏光の1/2倍に相当する位相差を与えて透過する1
/2波長板と、 前記1/2波長板の透過光により旋光する液晶セルと、 前記液晶セルの透過光を検光する検光子と、 前記検光子により検光された前記透過光を受光して透過
光強度を測定する受光器と、 前記受光器により測定された前記透過光強度に基づいて
前記液晶セルのツイスト角およびセルギャップの決定と
該決定されたツイスト角および該セルギャップを用いて
方位角アンカリングの演算を制御する制御部とを有し、 前記偏光子と前記1/2波長板と前記検光子とは、それ
ぞれ独立して、光軸を中心に回動可能に構成され、 前記制御部は、前記偏光子、前記1/2波長板および前
記検光子のそれぞれの回動を制御し、 前記液晶セルは、前記光軸を中心に回動可能に構成され
ると共に、前記光軸に対して垂直な平面内で自由方向に
移動可能に構成され、 前記液晶セルの表示面内の全ての点において透過光強度
を測定することにより、液晶セル特性の面内分布状態を
測定することを特徴とするツイスト角、セルギャップ及
び方位角アンカリング測定装置。
3. A light that emits light of at least a predetermined wavelength.
Extracting a predetermined polarized light from light emitted by the light source and the light source
A polarizer, for the predetermined polarized light extracted by the polarizer,
1 which is transmitted by giving a phase difference corresponding to 1/2 of the polarized light
A half-wave plate, a liquid crystal cell rotating by the transmitted light of the half-wave plate, an analyzer for analyzing the transmitted light of the liquid crystal cell, and receiving the transmitted light detected by the analyzer. Through
Light receiver for measuring light intensity, based on the transmitted light intensity measured by the light receiver
Determining the twist angle and cell gap of the liquid crystal cell;
Using the determined twist angle and the cell gap
A control unit for controlling an operation of azimuth anchoring, wherein the polarizer, the half-wave plate, and the analyzer are
The controller is independently rotatable about the optical axis, and the control unit includes the polarizer, the half-wave plate, and the
The liquid crystal cell controls the rotation of each of the analyzers, and is configured to be rotatable about the optical axis.
And in a free direction in a plane perpendicular to the optical axis.
Movable at all points in the display surface of the liquid crystal cell,
By measuring the in-plane distribution of the liquid crystal cell characteristics,
Twist angle, cell gap and
And azimuth anchoring measurement device.
【請求項4】 前記制御部は、 前記偏光子と前記検光子との透過軸を所定の角度となる
ように回動し、 前記所定の角度から前記1/2波長板と前記検光子との
回動を1:2の回転角度比を保ちながら前記受光器にて
測定される透過光強度が最大または最小となる角度まで
同一方向または逆方向に回動し、 前記透過光強度が最大または最小となる角度から前記偏
光子または前記検光子のいずれかを所定の角速度で回動
させるように制御することを特徴とする請求項3記載の
ツイスト角、セルギャップ及び方位角アンカリング測定
装置。
4. The control section sets a transmission axis between the polarizer and the analyzer at a predetermined angle.
So that the half-wave plate and the analyzer can be rotated from the predetermined angle.
Rotate the light with the light receiver while maintaining the rotation angle ratio of 1: 2.
Up to the angle where the measured transmitted light intensity is maximum or minimum
Rotate in the same direction or in the opposite direction, and deviate from the angle at which the transmitted light intensity is maximum or minimum.
Rotate either the photon or the analyzer at a given angular velocity
4. The control method according to claim 3, wherein
Twist angle, cell gap and azimuth anchoring measurements
apparatus.
【請求項5】 少なくとも所定の波長の光を射出する光
源と、 前記光源により射出された光から所定の偏光を取り出す
偏光子と、 前記偏光子により取り出された前記所定の偏光を透過し
て旋光する液晶セルと、 前記液晶セルの透過光に対して該透過光の1/2倍に相
当する位相差を与えて透過する1/2波長板と、 前記1/2波長板の透過光を検光する検光子と、 前記検光子により検光された前記透過光を受光して透過
光強度を測定する受光器と、 前記受光器により測定された前記透過光強度に基づいて
前記液晶セルのツイスト角およびセルギャップの決定と
該決定されたツイスト角および該セルギャップを用いて
方位角アンカリングの演算を制御する制御部とを有し、 前記偏光子と前記1/2波長板と前記検光子とは、それ
ぞれ独立して、光軸を中心に回動可能に構成され、 前記制御部は、前記偏光子、前記1/2波長板および前
記検光子のそれぞれの回動を制御し、 前記液晶セルは、前記光軸を中心に回動可能に構成され
ると共に、前記光軸に対して垂直な平面内で自由方向に
移動可能に構成され、 前記液晶セルの表示面内の全ての点において透過光強度
を測定することにより、液晶セル特性の面内分布状態を
測定することを特徴とするツイスト角、セルギャップ及
び方位角アンカリング測定装置。
5. Light for emitting light of at least a predetermined wavelength.
Extracting a predetermined polarized light from light emitted by the light source and the light source
A polarizer transmits the predetermined polarized light extracted by the polarizer.
A liquid crystal cell that rotates the liquid crystal, and that is half the transmitted light of the liquid crystal cell.
A half-wave plate which transmits by giving a phase difference equivalent to a analyzers for analyzing the light transmitted through the half-wave plate, transmitted by receiving the transmitted light which is the light detecting by said analyzer
Light receiver for measuring light intensity, based on the transmitted light intensity measured by the light receiver
Determining the twist angle and cell gap of the liquid crystal cell;
Using the determined twist angle and the cell gap
A control unit for controlling an operation of azimuth anchoring, wherein the polarizer, the half-wave plate, and the analyzer are
The controller is independently rotatable about the optical axis, and the control unit includes the polarizer, the half-wave plate, and the
The liquid crystal cell controls the rotation of each of the analyzers, and is configured to be rotatable about the optical axis.
And in a free direction in a plane perpendicular to the optical axis.
Movable at all points in the display surface of the liquid crystal cell,
By measuring the in-plane distribution of the liquid crystal cell characteristics,
Twist angle, cell gap and
And azimuth anchoring measurement device.
【請求項6】 前記制御部は、 前記偏光子と前記検光子との透過軸を所定の角度となる
ように回動し、 前記所定の角度から前記1/2波長板と前記偏光子また
は前記検光子のいずれかとの回動を1:2の回転角度比
を保ちながら前記受光器にて測定される透過光強度が最
大または最小となる角度まで同一方向または逆方向に回
動し、 前記透過光強度が最大または最小となる角度から前記偏
光子または前記検光子のいずれかを所定の角速度で回動
させるように制御することを特徴とする請求項5記載の
ツイスト角、セルギャップ及び方位角アンカリング測定
装置。
6. The control section sets a transmission axis between the polarizer and the analyzer at a predetermined angle.
From the predetermined angle, the half-wave plate and the polarizer or
Is a rotation angle ratio of 1: 2 with one of the analyzers
And the transmitted light intensity measured by the
Turn in the same or opposite direction to the maximum or minimum angle
From the angle at which the transmitted light intensity is maximum or minimum.
Rotate either the photon or the analyzer at a given angular velocity
6. The control method according to claim 5, wherein
Twist angle, cell gap and azimuth anchoring measurements
apparatus.
【請求項7】 少なくとも所定の波長の光を射出する光
源と、 前記光源により射出された光から所定の偏光を取り出す
偏光子と、 前記偏光子により取り出された前記所定の偏光に対して
該偏光の1/2倍に相当する位相差を与えて透過する第
1の1/2波長板と、 前記第1の1/2波長板の透過光により旋光する液晶セ
ルと、 前記液晶セルの透過光に対して該透過光の1/2倍に相
当する位相差を与えて透過する第2の1/2波長板と、 前記第2の1/2波長板の透過光を検光する検光子と、 前記検光子により検光された前記透過光を受光して透過
光強度を測定する受光器と、 前記受光器により測定された前記透過光強度に基づいて
前記液晶セルのツイスト角およびセルギャップの決定と
該決定されたツイスト角および該セルギャップを用いて
方位角アンカリングの演算を制御する制御部とを有し、 前記偏光子と前記第1の1/2波長板と前記第2の1/
2波長板と前記検光子とは、それぞれ独立して、光軸を
中心に回動可能に構成され、 前記制御部は、前記偏光子、前記第1の1/2波長板、
前記第2の1/2波長板および前記検光子のそれぞれの
回動を制御し、 前記液晶セルは、前記光軸を中心に回動可能に構成され
ると共に、前記光軸に対して垂直な平面内で自由方向に
移動可能に構成され、 前記液晶セルの表示面内の全ての点において透過光強度
を測定することにより、液晶セル特性の面内分布状態を
測定することを特徴とするツイスト角、セルギャップ及
び方位角アンカリング測定装置。
7. Light for emitting light of at least a predetermined wavelength.
Extracting a predetermined polarized light from light emitted by the light source and the light source
A polarizer, for the predetermined polarized light extracted by the polarizer,
A phase difference corresponding to a half of the polarized light
A half-wave plate and a liquid crystal cell that is rotated by the transmitted light of the first half-wave plate.
With the transmitted light of the liquid crystal cell to half of the transmitted light.
A second half-wave plate which transmits by giving a phase difference equivalent to a analyzers for analyzing the light transmitted through the second half-wave plate, the transmitted light which is the light detecting by said analyzer Receive and transmit
Light receiver for measuring light intensity, based on the transmitted light intensity measured by the light receiver
Determining the twist angle and cell gap of the liquid crystal cell;
Using the determined twist angle and the cell gap
A control unit that controls an operation of azimuth anchoring, wherein the polarizer, the first half-wave plate, and the second
The two-wavelength plate and the analyzer each independently have an optical axis
The control unit is configured to be rotatable about a center, and the control unit includes the polarizer, the first half-wave plate,
Each of the second half-wave plate and the analyzer
Controlling the rotation, the liquid crystal cell is configured to be rotatable about the optical axis.
And in a free direction in a plane perpendicular to the optical axis.
Movable at all points in the display surface of the liquid crystal cell,
By measuring the in-plane distribution of the liquid crystal cell characteristics,
Twist angle, cell gap and
And azimuth anchoring measurement device.
【請求項8】 前記制御部は、 前記偏光子と前記検光子との透過軸を所定の角度となる
ように回動し、 前記所定の角度から前記第1の1/2波長板と前記第2
の1/2波長板との回動を同期させながら前記受光器に
て測定される透過光強度が最大または最小となる角度ま
で同一方向または逆方向に回動し、 前記透過光強度が最大または最小となる角度から前記第
1の1/2波長板、前記第2の1/2波長板、前記偏光
子、前記検光子、のいずれかを所定の角速度で回動させ
るように制御することを特徴とする請求項7記載のツイ
スト角、セルギ ャップ及び方位角アンカリング測定装
置。
8. The control unit sets a transmission axis between the polarizer and the analyzer at a predetermined angle.
Rotate from the predetermined angle to the first half-wave plate and the second half-wave plate.
To the receiver while synchronizing the rotation with the half-wave plate
The angle at which the transmitted light intensity measured at
At the same or opposite direction, and from the angle at which the transmitted light intensity is maximum or minimum.
One half-wave plate, the second half-wave plate, the polarization
And the analyzer is rotated at a predetermined angular velocity.
The control according to claim 7, wherein the control is performed such that
Strike angle, Sergii cap and azimuth anchoring measurement instrumentation
Place.
【請求項9】 少なくとも所定の波長の光を射出する光
源と、該光源により射出された光から所定の偏光を取り
出す偏光子と、該偏光子により取り出された前記所定の
偏光を透過して旋光する液晶セルと、該液晶セルの透過
光を検光する検光子と、該検光子により検光された前記
透過光を受光して透過光強度を測定する受光器と、該受
光器により測定された前記透過光強度に基づいて前記液
晶セルのツイスト角およびセルギャップの決定と該決定
されたツイスト角および該セルギャップを用いて方位角
アンカリングの演算を制御する制御部とを備えるツイス
ト角、セルギャップ及び方位角アンカリング測定装置の
測定方法であって、 前記偏光子と前記検光子との透過軸を所定の角度となる
ように回動する第1の回動工程と、 前記光源から所定の波長の光を射出する射出工程と、 前記光源から射出された光から前記偏光子により所定の
偏光を取り出す偏光工程と、 前記偏光工程により取り出された前記所定の偏光により
液晶セルを旋光する施光工程と、 前記施光工程による前記液晶セルの透過光を検光子によ
り検光する検光工程と、 前記検光工程により検光された前記透過光を受光器で受
光して透過光強度を測定する測定工程と、 前記測定工程により測定された前記透過光強度が最大ま
たは最小となる角度まで前記偏光子と前記検光子とを同
期させながら回動する第2の回動工程と、 前記透過光強度が最大または最小となる角度から前記偏
光子または前記検光子のいずれかを所定の角速度で回動
する第3の回動工程と、 前記第3の回動工程により前記偏光子または前記検光子
のいずれかを所定の角速度で回動させた際に、前記受光
器により受光された前記透過光強度から前記液晶セルの
ツイスト角およびセルギャップを算出する第1の算出工
程と、 前記第1の算出工程により算出された前記ツイスト角お
よび前記セルギャップを用いて前記液晶セルの方位角ア
ンカリングを算出する第2の算出工程と、 前記液晶セルを前記光源から射出される光の光軸を中心
に回動及び/または前記光軸に対して垂直な平面内で移
動する回動/移動工程と、を有し、 前記回動/移動工程により前記液晶セルを前記光軸に対
して垂直な平面内で移動することで、表示面内の全ての
点における透過光強度を測定することにより、液晶セル
特性の面内分布状態を測定することを特徴とするツイス
ト角、セルギャップ及び方位角アンカリング測定装置の
測定方法。
9. Light for emitting light of at least a predetermined wavelength.
A source and a predetermined polarization from light emitted by the light source.
Outgoing polarizer, and the predetermined
Liquid crystal cell that transmits polarized light and performs optical rotation, and transmission of the liquid crystal cell
An analyzer for analyzing light; and the analyzer analyzed by the analyzer.
A light receiver for receiving transmitted light and measuring transmitted light intensity;
The liquid based on the transmitted light intensity measured by an optical device
Of twist angle and cell gap of crystal cell and its determination
Azimuth angle using the determined twist angle and the cell gap
A control unit for controlling an operation of anchoring
Angle, cell gap and azimuth anchoring
A measurement method, wherein a transmission axis of the polarizer and the analyzer has a predetermined angle.
A first rotation step of rotating the light source , an emission step of emitting light of a predetermined wavelength from the light source, and a predetermined rotation of the light emitted from the light source by the polarizer.
A polarization step of extracting polarized light, and the predetermined polarized light extracted in the polarization step
A light application step of rotating the liquid crystal cell, and a light transmitted through the liquid crystal cell in the light application step by an analyzer.
A light receiving step of receiving the transmitted light detected in the light detecting step.
Measuring the transmitted light intensity by illuminating, and the transmitted light intensity measured in the measuring step is maximized.
The polarizer and the analyzer up to a minimum angle.
A second rotation step of rotating while performing the rotation, and the deviation from an angle at which the transmitted light intensity is maximum or minimum.
Rotate either the photon or the analyzer at a given angular velocity
A third rotating step, and the polarizer or the analyzer by the third rotating step.
When any one of them is rotated at a predetermined angular velocity, the light receiving
From the intensity of the transmitted light received by the liquid crystal cell.
First calculation method for calculating twist angle and cell gap
And the twist angle and the twist angle calculated in the first calculation step.
And the azimuth angle of the liquid crystal cell using the cell gap.
A second calculating step of calculating anchoring ; and centering the liquid crystal cell around an optical axis of light emitted from the light source.
And / or moved in a plane perpendicular to the optical axis.
A rotating / moving step of moving the liquid crystal cell with respect to the optical axis by the rotating / moving step.
And move in a vertical plane,
By measuring the transmitted light intensity at a point, the liquid crystal cell
Twist characterized by measuring in-plane distribution of characteristics
Angle, cell gap and azimuth anchoring
Measuring method.
【請求項10】 少なくとも所定の波長の光を射出する
光源と、該光源により射出された光から所定の偏光を取
り出す偏光子と、該偏光子により取り出された前記所定
の偏光に対して該偏光の1/2の位相差を与えて透過す
る1/2波長板と、該1/2波長板の透過光により旋光
する液晶セルと、該液晶セルの透過光を検光する検光子
と、該検光子により検光された前記透過光を受光して透
過光強度を測定する受光器と、該受光器により測定され
た前記透過光強度に基づいて前記液晶セルのツイスト角
およびセルギャップの決定と該決定されたツイスト角お
よび該セルギャップを用いて方位角アンカリングの演算
を制御する制御部とを備えるツイスト角、セルギャップ
及び方位角アンカリング測定装置の測定方法であって、 前記偏光子と前記検光子との透過軸を所定の角度となる
ように回動する第1の回動工程と、 前記光源から所定の波長の光を射出する射出工程と、 前記光源から射出された光から前記偏光子により所定の
偏光を取り出す偏光工程と、 前記偏光工程により取り出された前記所定の偏光により
液晶セルを旋光する施光工程と、 前記施光工程による前記液晶セルの透過光を検光子によ
り検光する検光工程と、 前記検光工程により検光された前記透過光を受光器で受
光して透過光強度を測定する測定工程と、 前記測定工程により測定された前記透過光強度が最大ま
たは最小となる角度まで前記1/2波長板と前記検光子
とを1:2の回転角度比を保ちながら同一方向 または逆
方向に回動する第2の回動工程と、 前記透過光強度が最大または最小となる角度から前記偏
光子、前記検光子、前記1/2波長板のいずれかを所定
の角速度で回動する第3の回動工程と、 前記第3の回動工程により前記偏光子、前記検光子、前
記1/2波長板のいずれかを所定の角速度で回動させた
際に、前記受光器により受光された前記透過光強度から
前記液晶セルのツイスト角およびセルギャップを算出す
る第1の算出工程と、 前記第1の算出工程により算出された前記ツイスト角お
よび前記セルギャップを用いて前記液晶セルの方位角ア
ンカリングを算出する第2の算出工程と、 前記液晶セルを前記光源から射出される光の光軸を中心
に回動及び/または前記光軸に対して垂直な平面内で移
動する回動/移動工程と、を有し、 前記回動/移動工程により前記液晶セルを前記光軸に対
して垂直な平面内で移動することで、表示面内の全ての
点における透過光強度を測定することにより、液晶セル
特性の面内分布状態を測定することを特徴とするツイス
ト角、セルギャップ及び方位角アンカリング測定装置の
測定方法。
10. Emitting light of at least a predetermined wavelength
A light source and a predetermined polarized light from the light emitted by the light source.
And the predetermined polarizer extracted by the polarizer.
With a phase difference of 1/2 of the polarized light
Rotation by the half-wave plate and the transmitted light of the half-wave plate
Liquid crystal cell, and analyzer for detecting transmitted light of the liquid crystal cell
Receiving the transmitted light detected by the analyzer and transmitting the transmitted light.
A receiver for measuring the intensity of the transmitted light; and
The twist angle of the liquid crystal cell based on the transmitted light intensity.
And the determination of the cell gap and the determined twist angle and
And calculation of azimuth anchoring using the cell gap
Angle, cell gap comprising a control unit for controlling the
And a measurement method of the azimuth anchoring measurement device, wherein the transmission axis of the polarizer and the analyzer becomes a predetermined angle.
A first rotation step of rotating the light source , an emission step of emitting light of a predetermined wavelength from the light source, and a predetermined rotation of the light emitted from the light source by the polarizer.
A polarization step of extracting polarized light, and the predetermined polarized light extracted in the polarization step
A light application step of rotating the liquid crystal cell, and a light transmitted through the liquid crystal cell in the light application step by an analyzer.
A light receiving step of receiving the transmitted light detected in the light detecting step.
Measuring the transmitted light intensity by illuminating, and the transmitted light intensity measured in the measuring step is maximized.
Or the half-wave plate and the analyzer to a minimum angle.
And the same direction or opposite while maintaining a rotation angle ratio of 1: 2
A second rotation step of rotating in the direction, and the deviation from an angle at which the transmitted light intensity is maximum or minimum.
Any one of photons, the analyzer, and the half-wave plate
A third rotating step of rotating at an angular velocity of: the polarizer, the analyzer,
One of the half-wave plates was rotated at a predetermined angular velocity
At this time, from the transmitted light intensity received by the light receiver
Calculating the twist angle and cell gap of the liquid crystal cell
A first calculating step, and the twist angle and the twist angle calculated in the first calculating step.
And the azimuth angle of the liquid crystal cell using the cell gap.
A second calculating step of calculating anchoring ; and centering the liquid crystal cell around an optical axis of light emitted from the light source.
And / or moved in a plane perpendicular to the optical axis.
A rotating / moving step of moving the liquid crystal cell with respect to the optical axis by the rotating / moving step.
And move in a vertical plane,
By measuring the transmitted light intensity at a point, the liquid crystal cell
Twist characterized by measuring in-plane distribution of characteristics
Angle, cell gap and azimuth anchoring
Measuring method.
【請求項11】 少なくとも所定の波長の光を射出する
光源と、該光源により射出された光から所定の偏光を取
り出す偏光子と、該偏光子により取り出された前記所定
の偏光を透過して施光する液晶セルと、該液晶セルの透
過光に対して該透過光の1/2倍に相当する位相差を与
えて透過する1/2波長板と、該1/2波長板により位
相差を与えられた前記透過光を検光する検光子と、該検
光子により検光された前記透過光を受光して透過光強度
を測定する受光器と、該受光器により測定された前記透
過光強度に基づいて前記液晶セルのツイスト角およびセ
ルギャップの決定と該決定されたツイスト角および該セ
ルギャップを用いて方位角アンカリングの演算を制御す
る制御部とを備えるツイスト角、セルギャップ及び方位
角アンカリング測定装置の測定方法であって、 前記偏光子と前記検光子との透過軸を所定の角度となる
ように回動する第1の回動工程と、 前記光源から所定の波長の光を射出する射出工程と、 前記光源から射出された光から前記偏光子により所定の
偏光を取り出す偏光工 程と、 前記偏光工程により取り出された前記所定の偏光により
液晶セルを旋光する施光工程と、 前記施光工程による前記液晶セルの透過光を検光子によ
り検光する検光工程と、 前記検光工程により検光された前記透過光を受光器で受
光して透過光強度を測定する測定工程と、 前記測定工程により測定された前記透過光強度が最大ま
たは最小となる角度まで前記1/2波長板と前記偏光子
とを1:2の回転角度比を保ちながら同一方向または逆
方向に回動する第2の回動工程と、 前記透過光強度が最大または最小となる角度から前記偏
光子、前記検光子、前記1/2波長板のいずれかを所定
の角速度で回動する第3の回動工程と、 前記第3の回動工程により前記偏光子、前記検光子、前
記1/2波長板のいずれかを所定の角速度で回動させた
際に前記受光器により受光された前記透過光強度から前
記液晶セルのツイスト角およびセルギャップを算出する
第1の算出工程と、 前記第1の算出工程により算出された前記ツイスト角お
よび前記セルギャップを用いて前記液晶セルの方位角ア
ンカリングを算出する第2の算出工程と、 前記液晶セルを前記光源から射出される光の光軸を中心
に回動及び/または前記光軸に対して垂直な平面内で移
動する回動/移動工程と、を有し、 前記回動/移動工程により前記液晶セルを前記光軸に対
して垂直な平面内で移動することで、表示面内の全ての
点における透過光強度を測定することにより、液晶セル
特性の面内分布状態を測定することを特徴とするツイス
ト角、セルギャップ及び方位角アンカリング測定装置の
測定方法。
11. Emitting light of at least a predetermined wavelength
A light source and a predetermined polarized light from the light emitted by the light source.
And the predetermined polarizer extracted by the polarizer.
A liquid crystal cell that transmits light of different polarizations and emits light.
Gives a phase difference corresponding to 1/2 of the transmitted light to the overlight
And a half-wave plate that transmits
An analyzer for analyzing the transmitted light having the phase difference;
The transmitted light detected by the photon is received and the transmitted light intensity is received.
A light receiver for measuring the transmittance, and the transmittance measured by the light receiver.
The twist angle and cell angle of the liquid crystal cell are
Of the determined twist angle and the determined twist angle
Control azimuth anchoring calculation using
Angle, cell gap and azimuth with control unit
A measurement method of an angle anchoring measurement device, wherein a transmission axis of the polarizer and the analyzer has a predetermined angle.
A first rotation step of rotating the light source , an emission step of emitting light of a predetermined wavelength from the light source, and a predetermined rotation of the light emitted from the light source by the polarizer.
A higher polarization Engineering retrieve the polarization, by the predetermined polarized light taken out by the polarizing step
A light application step of rotating the liquid crystal cell, and a light transmitted through the liquid crystal cell in the light application step by an analyzer.
A light receiving step of receiving the transmitted light detected in the light detecting step.
Measuring the transmitted light intensity by illuminating, and the transmitted light intensity measured in the measuring step is maximized.
Or the half-wave plate and the polarizer up to a minimum angle.
And the same direction or opposite while maintaining a rotation angle ratio of 1: 2
A second rotation step of rotating in the direction, and the deviation from an angle at which the transmitted light intensity is maximum or minimum.
Any one of photons, the analyzer, and the half-wave plate
A third rotating step of rotating at an angular velocity of: the polarizer, the analyzer,
One of the half-wave plates was rotated at a predetermined angular velocity
The intensity of the transmitted light received by the light receiver
Calculate twist angle and cell gap of liquid crystal cell
A first calculation step, and the twist angle and the twist angle calculated in the first calculation step.
And the azimuth angle of the liquid crystal cell using the cell gap.
A second calculating step of calculating anchoring ; and centering the liquid crystal cell around an optical axis of light emitted from the light source.
And / or moved in a plane perpendicular to the optical axis.
A rotating / moving step of moving the liquid crystal cell with respect to the optical axis by the rotating / moving step.
And move in a vertical plane,
By measuring the transmitted light intensity at a point, the liquid crystal cell
Twist characterized by measuring in-plane distribution of characteristics
Angle, cell gap and azimuth anchoring
Measuring method.
【請求項12】 少なくとも所定の波長の光を射出する
光源と、該光源により射出された光から所定の偏光を取
り出す偏光子と、該偏光子により取り出された前記所定
の偏光に対して該偏光の1/2倍に相当する位相差を与
えて透過する第1の1/2波長板と、該第1の1/2波
長板により位相差を与えられた透過光により施光する液
晶セルと、該液晶セルの透過光に対して該透過光の1/
2倍に 相当する位相差を与えて透過する第2の1/2波
長板と、該第2の1/2波長板により位相差を与えられ
た前記透過光を検光する検光子と、該検光子により検光
された前記透過光を受光して透過光強度を測定する受光
器と、該受光器により測定された前記透過光強度に基づ
いて前記液晶セルのツイスト角およびセルギャップの決
定と該決定されたツイスト角および該セルギャップを用
いて方位角アンカリングの演算を制御する制御部とを備
えるツイスト角、セルギャップ及び方位角アンカリング
測定装置の測定方法であって、 前記偏光子と前記検光子との透過軸を所定の角度となる
ように回動する第1の回動工程と、 前記光源から所定の波長の光を射出する射出工程と、 前記光源から射出された光から前記偏光子により所定の
偏光を取り出す偏光工程と、 前記偏光工程により取り出された前記所定の偏光により
液晶セルを旋光する施光工程と、 前記施光工程による前記液晶セルの透過光を検光子によ
り検光する検光工程と、 前記検光工程により検光された前記透過光を受光器で受
光して透過光強度を測定する測定工程と、 前記測定工程により測定された前記透過光強度が最大ま
たは最小となる角度まで前記第1の1/2波長板と前記
第2の1/2波長板とを同期させながら回動する第2の
回動工程と、 前記透過光強度が最大または最小となる角度から前記第
1の1/2波長板、前記第2の1/2波長板、前記偏光
子、前記検光子のいずれかを所定の角速度で回動する第
3の回動工程と、 前記第3の回動工程により前記第1の1/2波長板、前
記第2の1/2波長板、前記偏光子、前記検光子のいず
れかを所定の角速度で回動させた際に前記受光器により
受光された前記透過光強度から前記液晶セルのツイスト
角およびセルギャップを算出する第1の算出工程と、 前記第1の算出工程により算出された前記ツイスト角お
よび前記セルギャップ を用いて前記液晶セルの方位角ア
ンカリングを算出する第2の算出工程と、 前記液晶セルを前記光源から射出される光の光軸を中心
に回動及び/または前記光軸に対して垂直な平面内で移
動する回動/移動工程と、を有し、 前記回動/移動工程により前記液晶セルを前記光軸に対
して垂直な平面内で移動することで、表示面内の全ての
点における透過光強度を測定することにより、液晶セル
特性の面内分布状態を測定することを特徴とするツイス
ト角、セルギャップ及び方位角アンカリング測定装置の
測定方法。
12. Emitting light of at least a predetermined wavelength
A light source and a predetermined polarized light from the light emitted by the light source.
And the predetermined polarizer extracted by the polarizer.
Phase difference corresponding to 1 / of the polarized light
A first half-wave plate transmitting the first half-wave
Liquid applied by transmitted light with phase difference given by long plate
Crystal cell and one-half of the transmitted light with respect to the transmitted light of the liquid crystal cell.
The second half wave transmitted by giving a phase difference equivalent to twice
A phase difference is given by the long plate and the second half-wave plate.
An analyzer for analyzing the transmitted light, and an analyzer for analyzing the transmitted light.
Receiving the transmitted light and measuring the transmitted light intensity
Based on the transmitted light intensity measured by the light receiver.
To determine the twist angle and cell gap of the liquid crystal cell.
Using the determined twist angle and the cell gap
And a control unit for controlling the azimuth anchoring calculation.
Twist angle, cell gap and azimuth anchoring
A measurement method of a measurement device, wherein a transmission axis of the polarizer and the analyzer has a predetermined angle.
A first rotation step of rotating the light source , an emission step of emitting light of a predetermined wavelength from the light source, and a predetermined rotation of the light emitted from the light source by the polarizer.
A polarization step of extracting polarized light, and the predetermined polarized light extracted in the polarization step
A light application step of rotating the liquid crystal cell, and a light transmitted through the liquid crystal cell in the light application step by an analyzer.
A light receiving step of receiving the transmitted light detected in the light detecting step.
Measuring the transmitted light intensity by illuminating, and the transmitted light intensity measured in the measuring step is maximized.
Or the first half-wave plate and the angle up to a minimum angle.
The second, which rotates while synchronizing with the second half-wave plate
A rotating step, and from the angle at which the transmitted light intensity is maximum or minimum,
One half-wave plate, the second half-wave plate, the polarization
And a second one that rotates one of the analyzer and the analyzer at a predetermined angular velocity.
3 and the third rotating step, the first half-wave plate,
The second half-wave plate, the polarizer, or the analyzer;
When it is rotated at a predetermined angular velocity,
Twist of the liquid crystal cell from the received transmitted light intensity
A first calculating step of calculating an angle and a cell gap, and the twist angle and the twist angle calculated in the first calculating step.
And the azimuth angle of the liquid crystal cell using the cell gap.
A second calculating step of calculating anchoring ; and centering the liquid crystal cell around an optical axis of light emitted from the light source.
And / or moved in a plane perpendicular to the optical axis.
A rotating / moving step of moving the liquid crystal cell with respect to the optical axis by the rotating / moving step.
And move in a vertical plane,
By measuring the transmitted light intensity at a point, the liquid crystal cell
Twist characterized by measuring in-plane distribution of characteristics
Angle, cell gap and azimuth anchoring
Measuring method.
【請求項13】 少なくとも所定の波長の光を射出する
光源と、該光源により射出された光から所定の偏光を取
り出す偏光子と、該偏光子により取り出された前記所定
の偏光を透過して旋光する液晶セルと、該液晶セルの透
過光を検光する検光子と、該検光子により検光された前
記透過光を受光して透過光強度を測定する受光器と、該
受光器により測定された前記透過光強度に基づいて前記
液晶セルのツイスト角およびセルギャップの決定と該決
定されたツイスト角および該セルギャップを用いて方位
角アンカリングの演算を制御する制御部とを備えるツイ
スト角、セルギャップ及び方位角アンカリング測定装置
のプログラムを記憶した記憶媒体であって、 前記偏光子と前記検光子との透過軸を所定の角度となる
ように回動する第1の回動処理と、 前記光源から所定の波長の光を射出する射出処理と、 前記光源から射出された光から前記偏光子により所定の
偏光を取り出す偏光処理と、 前記偏光処理により取り出された前記所定の偏光により
液晶セルを旋光する施光処理と、 前記施光処理による前記液晶セルの透過光を検光子によ
り検光する検光処理と、 前記検光処理により検光された前記透過光を受光器で受
光して透過光強度を測定する測定処理と、 前記測定処理により測定された前記透過光強度が最大ま
たは最小となる角度まで前記偏光子と前記検光子とを同
期させながら回動する第2の回動処理と、 前記透過光強度が最大または最小となる角度から前記偏
光子または前記検光子のいずれかを所定の角速度で回動
する第3の回動処理と、 前記第3の回動処理により前記偏光子または前記検光子
のいずれかを所定の角速度で回動させた際の前記受光器
により受光された前記透過光強度から前記液晶セルのツ
イスト角およびセルギャップを算出する第1の算出処理
と、 前記第1の算出処理により算出された前記ツイスト角お
よび前記セルギャップを用いて前記液晶セルの方位角ア
ンカリングを算出する第2の算出処理と、 前記液晶セルを前記光源から射出される光の光軸を中心
に回動及び/または前記光軸に対して垂直な平面内で移
動する回動/移動処理と、を実行し、 前記回動/移動処理により前記液晶セルを前記光軸に対
して垂直な平面内で移動することで、表示面内の全ての
点における透過光強度を測定することにより、液晶セル
特性の面内分布状態を測定するプログラムを記憶したこ
とを特徴とするプログラムを記憶した記憶媒体。
13. Emitting light of at least a predetermined wavelength
A light source and a predetermined polarized light from the light emitted by the light source.
And the predetermined polarizer extracted by the polarizer.
A liquid crystal cell that transmits optically polarized light and makes an optical rotation,
An analyzer for detecting over-light, and before the light is analyzed by the analyzer.
A receiver for receiving the transmitted light and measuring the transmitted light intensity;
Based on the transmitted light intensity measured by a light receiver
Determination of twist angle and cell gap of liquid crystal cell and said determination
Using the defined twist angle and the cell gap
Control unit for controlling the calculation of angular anchoring
Strike angle, cell gap and azimuth anchoring measurement device
A storage medium storing a program, comprising the transmission axis of the polarizer and the analyzer a predetermined angle
Rotation processing, an emission processing for emitting light of a predetermined wavelength from the light source, and a predetermined processing by the polarizer from the light emitted from the light source.
Polarization processing for extracting polarized light, and the predetermined polarized light extracted by the polarization processing
A light treatment for rotating the liquid crystal cell, and a light transmitted through the liquid crystal cell by the light treatment by an analyzer.
And the transmitted light detected by the light detection processing is received by a light receiver.
Measuring the transmitted light intensity by illuminating the light; and measuring the transmitted light intensity measured by the measuring process to a maximum.
The polarizer and the analyzer up to a minimum angle.
A second rotation process in which the transmitted light intensity is maximized or minimized.
Rotate either the photon or the analyzer at a given angular velocity
And the third polarizer and the third polarizer perform the polarizer or the analyzer.
The light receiver when any one of them is rotated at a predetermined angular velocity
From the intensity of the transmitted light received by the liquid crystal cell.
First calculation processing for calculating ist angle and cell gap
And the twist angle calculated by the first calculation process.
And the azimuth angle of the liquid crystal cell using the cell gap.
A second calculation process for calculating anchoring, and centering the liquid crystal cell around an optical axis of light emitted from the light source.
And / or moved in a plane perpendicular to the optical axis.
And rotating the liquid crystal cell with respect to the optical axis by the rotating / moving process.
And move in a vertical plane,
By measuring the transmitted light intensity at a point, the liquid crystal cell
The program for measuring the in-plane distribution of characteristics is stored.
A storage medium storing a program characterized by the following.
【請求項14】 少なくとも所定の波長の光を射出する
光源と、該光源により射出された光から所定の偏光を取
り出す偏光子と、該偏光子により取り出された前記所定
の偏光に対して該偏光の1/2の位相差を与えて透過す
る1/2波長板と、該1/2波長板の透過光により旋光
する液晶セルと、該液晶セルの透過光を検光する検光子
と、該検光子により検光された前記透過光を受光して透
過光強度を測定する受光器と、該受光器により測定され
た前記透過光強度に基づいて前記液晶セルのツイスト角
およびセルギャップの決定と該決定されたツイスト角お
よび該セルギャップを用いて方位角アンカリングの演算
を制御する制御部とを備えるツイスト角、セルギャップ
及び方位角アンカリング測定装置のプログラムを記憶し
た記憶媒体であって、 前記偏光子と前記検光子との透過軸を所定の角度となる
ように回動する第1の回動処理と、 前記光源から所定の波長の光を射出する射出処理と、 前記光源から射出された光から前記偏光子により所定の
偏光を取り出す偏光処理と、 前記偏光処理により取り出された前記所定の偏光により
液晶セルを旋光する施 光処理と、 前記施光処理による前記液晶セルの透過光を検光子によ
り検光する検光処理と、 前記検光処理により検光された前記透過光を受光器で受
光して透過光強度を測定する測定処理と、 前記測定処理により測定された前記透過光強度が最大ま
たは最小となる角度まで前記1/2波長板と前記検光子
とを1:2の回転角度比を保ちながら同一方向または逆
方向に回動する第2の回動処理と、 前記透過光強度が最大または最小となる角度から前記偏
光子、前記検光子、前記1/2波長板のいずれかを所定
の角速度で回動する第3の回動処理と、 前記第3の回動処理により前記偏光子、前記検光子、前
記1/2波長板のいずれかを所定の角速度で回動させた
際の前記受光器により受光された前記透過光強度から前
記液晶セルのツイスト角およびセルギャップを算出する
第1の算出処理と、 前記第1の算出処理により算出された前記ツイスト角お
よび前記セルギャップを用いて前記液晶セルの方位角ア
ンカリングを算出する第2の算出処理と、 前記液晶セルを前記光源から射出される光の光軸を中心
に回動及び/または前記光軸に対して垂直な平面内で移
動する回動/移動処理と、を実行し、 前記回動/移動処理により前記液晶セルを前記光軸に対
して垂直な平面内で移動することで、表示面内の全ての
点における透過光強度を測定することにより、液晶セル
特性の面内分布状態を測定するプログラムを記憶したこ
とを特徴とするプログラムを記憶した記憶媒体。
14. Emitting light of at least a predetermined wavelength
A light source and a predetermined polarized light from the light emitted by the light source.
And the predetermined polarizer extracted by the polarizer.
With a phase difference of 1/2 of the polarized light
Rotation by the half-wave plate and the transmitted light of the half-wave plate
Liquid crystal cell, and analyzer for detecting transmitted light of the liquid crystal cell
Receiving the transmitted light detected by the analyzer and transmitting the transmitted light.
A receiver for measuring the intensity of the transmitted light; and
The twist angle of the liquid crystal cell based on the transmitted light intensity.
And the determination of the cell gap and the determined twist angle and
And calculation of azimuth anchoring using the cell gap
Angle, cell gap comprising a control unit for controlling the
And the program of the azimuth anchoring measurement device
A storage medium, comprising a transmission axis of the polarizer and the analyzer a predetermined angle
Rotation processing, an emission processing for emitting light of a predetermined wavelength from the light source, and a predetermined processing by the polarizer from the light emitted from the light source.
Polarization processing for extracting polarized light, and the predetermined polarized light extracted by the polarization processing
And facilities light processing to optical rotation of the liquid crystal cell, the light transmitted through the liquid crystal cell according to the optical rotation processing in the analyzer
And the transmitted light detected by the light detection processing is received by a light receiver.
Measuring the transmitted light intensity by illuminating the light; and measuring the transmitted light intensity measured by the measuring process to a maximum.
Or the half-wave plate and the analyzer to a minimum angle.
And the same direction or opposite while maintaining a rotation angle ratio of 1: 2
A second rotation process that rotates in the direction, and the deviation from the angle at which the transmitted light intensity is maximum or minimum.
Any one of photons, the analyzer, and the half-wave plate
A third rotation process of rotating at an angular velocity of: the polarizer, the analyzer, and the third rotation process.
One of the half-wave plates was rotated at a predetermined angular velocity
From the transmitted light intensity received by the light receiver at the time of
Calculate twist angle and cell gap of liquid crystal cell
A first calculation process, and the twist angle and the twist angle calculated by the first calculation process.
And the azimuth angle of the liquid crystal cell using the cell gap.
A second calculation process for calculating anchoring, and centering the liquid crystal cell around an optical axis of light emitted from the light source.
And / or moved in a plane perpendicular to the optical axis.
And rotating the liquid crystal cell with respect to the optical axis by the rotating / moving process.
And move in a vertical plane,
By measuring the transmitted light intensity at a point, the liquid crystal cell
The program for measuring the in-plane distribution of characteristics is stored.
A storage medium storing a program characterized by the following.
【請求項15】 少なくとも所定の波長の光を射出する
光源と、該光源により射出された光から所定の偏光を取
り出す偏光子と、該偏光子により取り出された前記所定
の偏光を透過して施光する液晶セルと、該液晶セルの透
過光に対して該透過光の1/2倍に相当する位相差を与
えて透過する1/2波長板と、該1/2波長板により位
相差を与えられた前記透過光を検光する検光子と、該検
光子により検光された前記透過光を受光して透過光強度
を測定する受光器と、該受光器により測定された前記透
過光強度に基づいて前記液晶セルのツイスト角およびセ
ルギャップの決定と該決定されたツイスト角および該セ
ルギャップを用いて方位角アンカリングの演算を制御す
る制御部とを備えるツイスト角、セルギャップ及び方位
角アンカリング測定装置のプログラムを記憶した記憶媒
体であって、 前記偏光子と前記検光子との透過軸を所定の角度となる
ように回動する第1の回動処理と、 前記光源から所定の波長の光を射出する射出処理と、 前記光源から射出された光から前記偏光子により所定の
偏光を取り出す偏光処理と、 前記偏光処理により取り出された前記所定の偏光により
液晶セルを旋光する施光処理と、 前記施光処理による前記液晶セルの透過光を検光子によ
り検光する検光処理と、 前記検光処理により検光された前記透過光を受光器で受
光して透過光強度を測定する測定処理と、 前記測定処理により測定された前記透過光強度が最大ま
たは最小となる角度まで前記1/2波長板と前記偏光子
とを1:2の回転角度比を保ちながら同一方向または逆
方向に回動する第2の回動処理と、 前記透過光強度が最大または最小となる角度から前記偏
光子、前記検光子、前記1/2波長板のいずれかを所定
の角速度で回動する第3の回動処理と、 前記第3の回動処理により前記偏光子、前記検光子、前
記1/2波長板のいずれかを所定の角速度で回動させた
際の前記受光器により受光された前記透過光強度から前
記液晶セルのツイスト角およびセルギャップを算出する
第1の算出処理と、 前記第1の算出処理により算出された前記ツイスト角お
よび前記セルギャップを用いて前記液晶セルの方位角ア
ンカリングを算出する第2の算出処理と、 前記液晶セルを前記光源から射出される光の光軸を中心
に回動及び/または前記光軸に対して垂直な平面内で移
動する回動/移動処理と、を実行し、 前記回動/移動処理により前記液晶セルを前記光軸に対
して垂直な平面内で移動することで、表示面内の全ての
点における透過光強度を測定することにより、 液晶セル
特性の面内分布状態を測定するプログラムを記憶したこ
とを特徴とするプログラムを記憶した記憶媒体。
15. Emitting light of at least a predetermined wavelength
A light source and a predetermined polarized light from the light emitted by the light source.
And the predetermined polarizer extracted by the polarizer.
A liquid crystal cell that transmits light of different polarizations and emits light.
Gives a phase difference corresponding to 1/2 of the transmitted light to the overlight
And a half-wave plate that transmits
An analyzer for analyzing the transmitted light having the phase difference;
The transmitted light detected by the photon is received and the transmitted light intensity is received.
A light receiver for measuring the transmittance, and the transmittance measured by the light receiver.
The twist angle and cell angle of the liquid crystal cell are
Of the determined twist angle and the determined twist angle
Control azimuth anchoring calculation using
Angle, cell gap and azimuth with control unit
Storage medium storing program of angular anchoring measurement device
A body, comprising a transmission axis of the polarizer and the analyzer a predetermined angle
Rotation processing, an emission processing for emitting light of a predetermined wavelength from the light source, and a predetermined processing by the polarizer from the light emitted from the light source.
Polarization processing for extracting polarized light, and the predetermined polarized light extracted by the polarization processing
A light treatment for rotating the liquid crystal cell, and a light transmitted through the liquid crystal cell by the light treatment by an analyzer.
And the transmitted light detected by the light detection processing is received by a light receiver.
Measuring the transmitted light intensity by illuminating the light; and measuring the transmitted light intensity measured by the measuring process to a maximum.
Or the half-wave plate and the polarizer up to a minimum angle.
And the same direction or opposite while maintaining a rotation angle ratio of 1: 2
A second rotation process that rotates in the direction, and the deviation from the angle at which the transmitted light intensity is maximum or minimum.
Any one of photons, the analyzer, and the half-wave plate
A third rotation process of rotating at an angular velocity of: the polarizer, the analyzer, and the third rotation process.
One of the half-wave plates was rotated at a predetermined angular velocity
From the transmitted light intensity received by the light receiver at the time of
Calculate twist angle and cell gap of liquid crystal cell
A first calculation process, and the twist angle and the twist angle calculated by the first calculation process.
And the azimuth angle of the liquid crystal cell using the cell gap.
A second calculation process for calculating anchoring, and centering the liquid crystal cell around an optical axis of light emitted from the light source.
And / or moved in a plane perpendicular to the optical axis.
And rotating the liquid crystal cell with respect to the optical axis by the rotating / moving process.
And move in a vertical plane,
By measuring the transmitted light intensity at a point, the liquid crystal cell
The program for measuring the in-plane distribution of characteristics is stored.
A storage medium storing a program characterized by the following.
【請求項16】 少なくとも所定の波長の光を射出する
光源と、該光源により射出された光から所定の偏光を取
り出す偏光子と、該偏光子により取り出された前記所定
の偏光に対して該偏光の1/2倍に相当する位相差を与
えて透過する第1の1/2波長板と、該第1の1/2波
長板により位相差を与えられた透過光により施光する液
晶セルと、該液晶セルの透過光に対して該透過光の1/
2倍に相当する位相差を与えて透過する第2の1/2波
長板と、該第2の1/2波長板により位相差を与えられ
た前記透過光を検光する検光子と、該検光子により検光
された前記透過光を受光して透過光強度を測定する受光
器と、該受光器により測定された前記透過光強度に基づ
いて前記液晶セルのツイスト角およびセルギャップの決
定と該決定されたツイスト角および該セルギャップを用
いて方位角アンカリングの演算を制御する制御部とを備
えるツイスト角、セルギャップ及び方位角アンカリング
測定装置のプログラムを記憶した記憶媒体であって、 前記偏光子と前記検光子との透過軸を所定の角度となる
ように回動する第1の回動処理と、 前記光源から所定の波長の光を射出する射出処理と、 前記光源から射出された光から前記偏光子により所定の
偏光を取り出す偏光処理と、 前記偏光処理により取り出された前記所定の偏光により
液晶セルを旋光する施光処理と、 前記施光処理による前記液晶セルの透過光を検光子によ
り検光する検光処理と、 前記検光処理により検光された前記透過光を受光器で受
光して透過光強度を測定する測定処理と、 前記測定処理により測定された前記透過光強度が最大ま
たは最小となる角度まで前記第1の1/2波長板と前記
第2の1/2波長板とを同期させながら回動する第2の
回動処理と、 前記透過光強度が最大または最小となる角度から前記第
1の1/2波長板、前 記第2の1/2波長板、前記偏光
子、前記検光子のいずれかを所定の角速度で回動する第
3の回動処理と、 前記第3の回動処理により前記第1の1/2波長板、前
記第2の1/2波長板、前記偏光子、前記検光子のいず
れかを所定の角速度で回動させた際の前記受光器により
受光された前記透過光強度から前記液晶セルのツイスト
角およびセルギャップを算出する第1の算出処理と、 前記第1の算出処理により算出された前記ツイスト角お
よび前記セルギャップを用いて前記液晶セルの方位角ア
ンカリングを算出する第2の算出処理と、 前記液晶セルを前記光源から射出される光の光軸を中心
に回動及び/または前記光軸に対して垂直な平面内で移
動する回動/移動処理と、を実行し、 前記回動/移動処理により前記液晶セルを前記光軸に対
して垂直な平面内で移動することで、表示面内の全ての
点における透過光強度を測定することにより、液晶セル
特性の面内分布状態を測定するプログラムを記憶したこ
とを特徴とするプログラムを記憶した記憶媒体。
16. Emitting light of at least a predetermined wavelength
A light source and a predetermined polarized light from the light emitted by the light source.
And the predetermined polarizer extracted by the polarizer.
Phase difference corresponding to 1 / of the polarized light
A first half-wave plate transmitting the first half-wave
Liquid applied by transmitted light with phase difference given by long plate
Crystal cell and one-half of the transmitted light with respect to the transmitted light of the liquid crystal cell.
The second half wave transmitted by giving a phase difference equivalent to twice
A phase difference is given by the long plate and the second half-wave plate.
An analyzer for analyzing the transmitted light, and an analyzer for analyzing the transmitted light.
Receiving the transmitted light and measuring the transmitted light intensity
Based on the transmitted light intensity measured by the light receiver.
To determine the twist angle and cell gap of the liquid crystal cell.
Using the determined twist angle and the cell gap
And a control unit for controlling the azimuth anchoring calculation.
Twist angle, cell gap and azimuth anchoring
A storage medium storing a program of a measurement device, wherein a transmission axis between the polarizer and the analyzer has a predetermined angle.
Rotation processing, an emission processing for emitting light of a predetermined wavelength from the light source, and a predetermined processing by the polarizer from the light emitted from the light source.
Polarization processing for extracting polarized light, and the predetermined polarized light extracted by the polarization processing
A light treatment for rotating the liquid crystal cell, and a light transmitted through the liquid crystal cell by the light treatment by an analyzer.
And the transmitted light detected by the light detection processing is received by a light receiver.
Measuring the transmitted light intensity by illuminating the light; and measuring the transmitted light intensity measured by the measuring process to a maximum.
Or the first half-wave plate and the angle up to a minimum angle.
The second, which rotates while synchronizing with the second half-wave plate
Rotation processing and the angle at which the transmitted light intensity is maximum or minimum
1 half-wave plate, prior Symbol second half-wave plate, the polarization
And a second one that rotates one of the analyzer and the analyzer at a predetermined angular velocity.
3 and the third rotation process, the first half-wave plate,
The second half-wave plate, the polarizer, or the analyzer;
By means of the light receiver when it is rotated at a predetermined angular velocity
Twist of the liquid crystal cell from the received transmitted light intensity
A first calculation process of calculating an angle and a cell gap; and the twist angle and the twist angle calculated by the first calculation process.
And the azimuth angle of the liquid crystal cell using the cell gap.
A second calculation process for calculating anchoring, and centering the liquid crystal cell around an optical axis of light emitted from the light source.
And / or moved in a plane perpendicular to the optical axis.
And rotating the liquid crystal cell with respect to the optical axis by the rotating / moving process.
And move in a vertical plane,
By measuring the transmitted light intensity at a point, the liquid crystal cell
The program for measuring the in-plane distribution of characteristics is stored.
A storage medium storing a program characterized by the following.
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