JP2778935B2 - Method for measuring azimuthal anchoring energy of nematic liquid crystal device - Google Patents

Method for measuring azimuthal anchoring energy of nematic liquid crystal device

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JP2778935B2
JP2778935B2 JP24938795A JP24938795A JP2778935B2 JP 2778935 B2 JP2778935 B2 JP 2778935B2 JP 24938795 A JP24938795 A JP 24938795A JP 24938795 A JP24938795 A JP 24938795A JP 2778935 B2 JP2778935 B2 JP 2778935B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、例えばツイステッ
ドネマチック液晶セルの方位角方向のアンカリングエネ
ルギ−を測定するネマチック液晶素子の方位角方向のア
ンカリングエネルギ−測定方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for measuring azimuthal anchoring energy of a nematic liquid crystal element for measuring, for example, azimuthal anchoring energy of a twisted nematic liquid crystal cell.

【0002】[0002]

【従来の技術】液晶表示素子は軽量・薄型、低消費電力
などの多くの利点を有することから、小型電子機器等の
表示素子として盛んに応用されている。現在実用化され
ている液晶表示素子のほとんどはTN(Twisted Nemati
c )方式とSTN(Super Twisted Nematic )方式であ
る。
2. Description of the Related Art Liquid crystal display devices have many advantages such as light weight, thinness, and low power consumption, and are therefore widely used as display devices for small electronic devices. Most of the liquid crystal display elements currently in practical use are TN (Twisted Nemati).
c) method and STN (Super Twisted Nematic) method.

【0003】液晶表示素子の電気光学特性を改善するた
めには、界面配向の制御が重要である。液晶分子の界面
における配向方法は、比較的簡単であることから、工業
的にはラビング法が広く用いられている。このラビング
強度が背面配向に与える影響は評価することは、液晶表
示素子の特性向上のためにも重要である。界面における
方位角方向のアンカリング強度測定は、界面配向評価の
重要なパラメ−タの一つである。
In order to improve the electro-optical characteristics of a liquid crystal display device, it is important to control the interface alignment. The rubbing method is widely used industrially because the method of aligning liquid crystal molecules at the interface is relatively simple. It is important to evaluate the effect of the rubbing strength on the backside alignment for improving the characteristics of the liquid crystal display device. Measurement of the anchoring strength in the azimuthal direction at the interface is one of the important parameters for evaluating the interface orientation.

【0004】方位角方向のアンカリング強度を測定する
簡易な評価方法の一つとして、図10に示したような捻
れ角測定方法がある。図10において、上下配向膜界面
のラビング方向は平行である。カイラル材を添付した液
晶を楔形セルに注入すると図10の様な配向となる。即
ち、界面アンカリング力によって液晶分子は平行配向す
るように固定されている。ここで、 Aφ/K2 =(π−2φs )/dsinψ より、アンカリング強度Aφが求められる。ここで、K
2 はツイスト弾性定数、ψは捻れ角、dはセル厚であ
る。偏光顕微鏡を用い、偏向板を回転させψ(及び
φs )を求め、上記式からアンカリング強度Aφが評価
できる。
As one of simple evaluation methods for measuring the anchoring strength in the azimuth direction, there is a twist angle measurement method as shown in FIG. In FIG. 10, the rubbing directions at the interface between the upper and lower alignment films are parallel. When a liquid crystal to which a chiral material is attached is injected into a wedge-shaped cell, the liquid crystal is oriented as shown in FIG. That is, the liquid crystal molecules are fixed so as to be aligned in parallel by the interface anchoring force. Here, from the A φ / K 2 = (π -2φ s) / dsinψ, anchoring strength A phi is determined. Where K
2 is the twist elastic constant, ψ is the twist angle, and d is the cell thickness. Using a polarizing microscope, ψ (and φ s ) is obtained by rotating the deflection plate, and the anchoring strength A φ can be evaluated from the above equation.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】図10の方法は簡便な
測定方法としては優れている。しかし、測定試料として
は平行配向セルを制作しなければならず、工場において
作製されたTNセル製品自体のアンカリング強度を検査
するような用途には不向きである。また、アンカリング
強度が強い場合には、上記の方法で検出されるφs は微
小であり、偏光顕微鏡による目視は測定不可能である。
The method shown in FIG. 10 is excellent as a simple measuring method. However, it is necessary to produce a parallel alignment cell as a measurement sample, which is not suitable for applications such as testing the anchoring strength of a TN cell product manufactured in a factory. Further, when the anchoring strength is high, φ s detected by the above method is very small and cannot be measured by a polarizing microscope.

【0006】本発明は上記の点に鑑みてなされたもの
で、その目的は、TN液晶セルのツイスト角を求めて、
そのツイスト角より方位角アンカリングエネルギ−を演
算により求めるようにした液晶素子の方位角方向のアン
カリングエネルギ−測定方法を提供することにある。
[0006] The present invention has been made in view of the above points, and its object is to determine the twist angle of a TN liquid crystal cell,
It is an object of the present invention to provide a method for measuring the azimuthal anchoring energy of a liquid crystal element in which the azimuthal anchoring energy is obtained by calculation from the twist angle.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】請求項1に係わる液晶セ
ルの方位角方向のアンカリングエネルギ−測定方法は、
レ−ザ光源から放射されるレ−ザ光を偏光子を介して偏
光させた後、液晶セルに入射させ、この液晶セルから出
射したレ−ザ光を検光子を介して光透過率Tを光検出器
で測定することにより上記液晶セルの方位角方向のアン
カリングエネルギ−測定方法において、上記液晶セルを
上記レ−ザ光の光軸を中心に1回転させて上記光検出器
で検出される光透過率Tが最小とする上記液晶セルの回
転角度ψ00を求める第1の工程と、上記液晶セルと上記
検光子を上記レ−ザ光の光軸を中心に同一方向に回転速
度が1:2の比率で1回転させて上記光検出器で検出さ
れる光透過率Tが最小とする上記検光子の回転角度ψp
(1) を求める第2の工程と、上記偏光子と45度となる
様に位相差板を上記液晶セルと上記検光子との間に挿入
し、上記液晶セルを少しずつ回転させ、少しずつ回転さ
せる毎に上記レ−ザ光の光軸を中心に上記検光子を1回
転させて、上記光検出器で検出される光透過率Tが最小
とする上記検光子の回転角度ψp (2) 及びその時の上記
液晶セルの回転角度ψ0 (2) を求める第3の工程と、上
記第1の工程で求めた上記液晶セルの回転角度ψ00、上
記第2の工程で求めた上記検光子の回転角度ψp (1) 、
上記第3の工程で求めた上記検光子の回転角度ψp (2)
及びその時の上記液晶セルの回転角度ψ0 (2) に基づい
て上記液晶セルのツイスト角Φt を求める第4の工程
と、この第4の工程で求められたツイスト角Φt に基づ
いて上記液晶セルの方位角方向のアンカリングエネルギ
−を所定の計算式より求める第5の工程とを具備したこ
とを特徴とする。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a method for measuring azimuthal anchoring energy of a liquid crystal cell.
After the laser light emitted from the laser light source is polarized through a polarizer, the laser light is incident on a liquid crystal cell, and the laser light emitted from the liquid crystal cell is subjected to light transmittance T through an analyzer. In the method for measuring the anchoring energy in the azimuthal direction of the liquid crystal cell by measuring with a photodetector, the liquid crystal cell is rotated once around the optical axis of the laser light and detected by the photodetector. that a first step of obtaining the rotation angle [psi 00 of the liquid crystal cell light transmittance T is minimized, the liquid crystal cell and the analyzer said Le - the rotational speed in the same direction around the optical axis of the laser light The rotation angle ψ p of the analyzer that makes one rotation at a ratio of 1: 2 and minimizes the light transmittance T detected by the photodetector.
(2) a second step for obtaining (1), inserting a retardation plate between the liquid crystal cell and the analyzer so as to be at 45 degrees with the polarizer, rotating the liquid crystal cell little by little, Each time the laser is rotated, the analyzer is rotated once around the optical axis of the laser beam, and the rotation angle ψ p (2) of the analyzer that minimizes the light transmittance T detected by the photodetector. ) And the rotation angle ψ 0 (2) of the liquid crystal cell at that time, the rotation angle ψ 00 of the liquid crystal cell obtained in the first step, and the rotation angle ψ 00 of the liquid crystal cell obtained in the second step. Photon rotation angle ψ p (1),
The rotation angle of the analyzer ψ p obtained in the third step ψ p (2)
A fourth step of obtaining a twist angle Φt of the liquid crystal cell based on the rotation angle ψ 0 (2) of the liquid crystal cell at that time; and a step of obtaining the twist angle Φt of the liquid crystal cell based on the twist angle Φt obtained in the fourth step. And a fifth step of obtaining the anchoring energy in the azimuthal direction by a predetermined calculation formula.

【0008】請求項2に係わる液晶セルの方位角方向の
アンカリングエネルギ−測定方法は、請求項1の第4の
工程は、光透過率Tを求める一般式T(Φt ,u,
ψ0 ,ψp ,)をψ0 ,ψp でそれぞれ偏微分した式を
零とする条件より、ツイスト角Φt とuとの関係を、ツ
イスト角が90度より小さい値について算出し、上記位
相差板を挿入したことを条件に入れて上記光透過率Tを
求める一般式T(Φt ,u,ψ0 ,ψp ,)をψ0 ,ψ
p でそれぞれ偏微分した式を零とする式に、上記ツイス
ト角Φt とuとの関係を代入することにより上記液晶セ
ルの回転角度ψ0 及び上記検光子の回転角度ψp との演
算して求めるようにしたことを特徴とする。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a method for measuring anchoring energy in an azimuthal direction of a liquid crystal cell, wherein a fourth step of the first aspect comprises a general formula T (Φt, u,
条件0 , ψ p ,) are partially differentiated by ψ 0 , ψ p , respectively, and the relationship between u and t is calculated for a value where the twist angle is smaller than 90 degrees. retardation plate inserted it put on condition obtaining the light transmittance T formula T (Φt, u, ψ 0 , ψ p,) and [psi 0, [psi
By substituting the relationship between the twist angle Φt and u into an equation that makes the equations partially differentiated by p zero, the rotation angle of the liquid crystal cell ψ 0 and the rotation angle of the analyzer ψ p are calculated. It is characterized in that it is obtained.

【0009】本発明は、レ−ザ光源から放射されるレ−
ザ光を偏光子を介して偏光させた後、液晶セルに入射さ
せ、この液晶セルから出射したレ−ザ光を検光子を介し
て光透過率Tを光検出器で測定することにより液晶セル
の方位角方向のアンカリングエネルギ−測定方法におい
て、液晶セルをレ−ザ光の光軸を中心に1回転させて光
検出器で検出される光透過率Tが最小とする上記液晶セ
ルの回転角度ψ00を求め、液晶セルと検光子をレ−ザ光
の光軸を中心に同一方向に回転速度が1:2の比率で1
回転させて光検出器で検出される光透過率Tが最小とす
る検光子の回転角度ψp (1) を求め、偏光子と45度と
なる様に位相差板を液晶セルと検光子との間に挿入し、
液晶セルを少しずつ回転させ、少しずつ回転させる毎に
レ−ザ光の光軸を中心に検光子を1回転させて、光検出
器で検出される光透過率Tが最小とする検光子の回転角
度ψp (2) 及びその時の液晶セルの回転角度ψ0 (2) を
求め、求められた液晶セルの回転角度ψ00、求められた
検光子の回転角度ψp (1)、求めた検光子の回転角度ψ
p (2) 及びその時の上記液晶セルの回転角度ψ0 (2) に
基づいて上記液晶セルのツイスト角Φt を求め、このツ
イスト角Φt に基づいて液晶セルの方位角方向のアンカ
リングエネルギ−を所定の計算式より求めるようにして
いる。
The present invention provides a laser radiated from a laser light source.
After the light is polarized through a polarizer, the light is incident on the liquid crystal cell, and the laser light emitted from the liquid crystal cell is measured through an analyzer to determine the light transmittance T with a photodetector. In the method of measuring the anchoring energy in the azimuthal direction, the liquid crystal cell is rotated once around the optical axis of the laser light so that the light transmittance T detected by the photodetector is minimized. The angle ψ 00 is determined, and the liquid crystal cell and the analyzer are rotated in the same direction about the optical axis of the laser beam in the same direction at a rotation speed of 1: 2 and 1
The rotation angle ψ p (1) of the analyzer, which is rotated and the light transmittance T detected by the photodetector is minimized, is obtained, and the phase difference plate is set to 45 degrees with the polarizer by using the liquid crystal cell and the analyzer. Inserted between
The liquid crystal cell is rotated little by little, and every time the liquid crystal cell is rotated little by little, the analyzer is rotated once around the optical axis of the laser beam, and the light transmittance T detected by the photodetector is minimized. The rotation angle ψ p (2) and the rotation angle ψ 0 (2) of the liquid crystal cell at that time were obtained, and the obtained rotation angle ψ 00 of the liquid crystal cell and the obtained rotation angle ψ p (1) of the analyzer were obtained. Analyzer rotation angle ψ
The twist angle Φt of the liquid crystal cell is obtained based on p (2) and the rotation angle ψ 0 (2) of the liquid crystal cell at that time, and the anchoring energy in the azimuthal direction of the liquid crystal cell is calculated based on the twist angle Φt. It is determined from a predetermined formula.

【0010】[0010]

【発明の実施の形態】以下図面を参照して本発明の一実
施の形態について説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0011】液晶分子は形状、誘電率、屈折率及び導電
率に異方性を持つ物質である。液晶に電界などの外場を
加えると、分子軸の配列転移、液晶分子の流れを伴う不
安定現象が生じる。これらが原因で、電界の加えられた
液晶の光学的物質が変化する。これを一般に液晶の電気
光学効果と呼んでいる。具体的には、ITO(IndiumTi
n Oxide)のような透明電極の被覆を施した2枚のガラ
ス基板に数μm〜10数μmの厚さで挟んでTN液晶セ
ル10を構成し、薄膜状態の液晶に対する光透過率、光
偏光面変化などで光学的変化が記述されている。
Liquid crystal molecules are substances having anisotropy in shape, dielectric constant, refractive index and conductivity. When an external field such as an electric field is applied to the liquid crystal, an alignment phenomenon of molecular axes and an unstable phenomenon accompanied by a flow of liquid crystal molecules occur. These change the optical material of the liquid crystal to which the electric field is applied. This is generally called an electro-optic effect of the liquid crystal. Specifically, ITO (IndiumTi
TN liquid crystal cell 10 is sandwiched between two glass substrates coated with a transparent electrode such as n Oxide) with a thickness of several μm to several tens μm, and has a light transmittance and a light polarization for liquid crystal in a thin film state. An optical change is described by a surface change or the like.

【0012】図8を参照してTN(Twisted Nematic )
効果について説明する。このTN効果は液晶ディスプレ
イの基本型とも言えるモ−ドである。TNモ−ドでは液
晶分子軸をガラス電極面に平行に配列させ、図8(A)
に示すように、一方の基板面から他方の基板面にかけて
分子軸が90°ねじれるように上下の配向処理方向を直
交させるようにしている。
Referring to FIG. 8, TN (Twisted Nematic)
The effect will be described. This TN effect is a mode that can be said to be a basic type of liquid crystal display. In the TN mode, the liquid crystal molecular axis is arranged parallel to the glass electrode surface, and FIG.
As shown in (2), the upper and lower alignment treatment directions are perpendicular to each other so that the molecular axis is twisted by 90 ° from one substrate surface to the other substrate surface.

【0013】そして、偏光軸が直交するように偏光板1
1a、11bを配置させた場合に、図8(A)に示すよ
うに電圧が無印加時には、TN液晶セル10の旋光性に
よって入射光は通過する。しかし、しきい値以上の電圧
を印加した場合には、図8(B)に示すように液晶分子
が電場方向に配列して旋光性はなくなるため、液晶セル
を通過した光は出射側の偏光板11bによりブロックさ
れる。
Then, the polarizing plate 1 is set so that the polarizing axes are orthogonal to each other.
When the voltage is not applied to the TN liquid crystal cell 10 when no voltage is applied as shown in FIG. However, when a voltage equal to or higher than the threshold is applied, the liquid crystal molecules are arranged in the direction of the electric field and the optical rotation is lost as shown in FIG. Blocked by plate 11b.

【0014】ところで、液晶セルの基板表面に物理的ま
たは化学的処理を施すことにより、液晶分子を基板に平
行な一定方向に配列しやすい方向をつくり出すことがで
きる。この方向を配向容易軸という。例えば、基板表面
をラビングすると、液晶分子はラビングした方向に配向
しやすくなる。これは、表面層において、液晶分子がこ
の方向に配列したとき、ねじれなどによる弾性エネルギ
−が最小の状態になるからである。基板表面において、
このように液晶分子配向を束縛する力をアンカリングエ
ネルギ−という。
By performing a physical or chemical treatment on the surface of the substrate of the liquid crystal cell, it is possible to create a direction in which the liquid crystal molecules are easily arranged in a fixed direction parallel to the substrate. This direction is called an easy-orientation axis. For example, when the substrate surface is rubbed, the liquid crystal molecules are likely to be oriented in the rubbing direction. This is because, when the liquid crystal molecules are arranged in this direction in the surface layer, the elastic energy due to torsion or the like is minimized. On the substrate surface,
Such a force that restricts the liquid crystal molecule alignment is called anchoring energy.

【0015】このアンカリングエネルギ−は図9に示す
ように、その束縛方向から極角方向のアンカリングエネ
ルギ−Aθ及び方位角方向のアンカリングエネルギ−A
φとに分けられる。
[0015] The anchoring energy - is as shown in FIG. 9, the polar angle direction of the anchoring energy -A theta and azimuthal anchoring energy -A from that binding direction
φ is divided into

【0016】本発明は前述したように液晶セルの方位角
方向のアンカリングエネルギ−Aφを測定することにあ
る。方位角方向のアンカリングエネルギ−Aφを測定す
るには、セル内での液晶分子のツイスト角Φt を測定す
れば良い。
[0016] The present invention is to measure the anchoring energy -A phi azimuthal direction of the liquid crystal cell as described above. To measure the anchoring energy -A phi azimuthal direction may be measured twist angle Φt of the liquid crystal molecules in the cell.

【0017】次に、図1を参照して液晶セルの方位角方
向のアンカリングエネルギ−を測定する装置について説
明する。図1において、21はHe−Neレ−ザ−を出力す
るレ−ザ発振器である。このレ−ザ発振器21から出力
されるレ−ザ光は、チョッパ22、偏光子23を介して
TN液晶セル24に入射される。
Next, an apparatus for measuring the anchoring energy of the liquid crystal cell in the azimuthal direction will be described with reference to FIG. In FIG. 1, reference numeral 21 denotes a laser oscillator for outputting a He-Ne laser. The laser light output from the laser oscillator 21 enters a TN liquid crystal cell 24 via a chopper 22 and a polarizer 23.

【0018】そして、TN液晶セル24から出射される
レ−ザ光は検光子25を介して光の透過率Tを検出する
光検出器26に入射される。
The laser light emitted from the TN liquid crystal cell 24 is incident on a photodetector 26 for detecting a light transmittance T via an analyzer 25.

【0019】また、破線で示した27はλ/4の位相差
板である。
Reference numeral 27 shown by a broken line is a λ / 4 retardation plate.

【0020】ところで、TN液晶セル24はレ−ザ発振
器21から出力されるレ−ザ光の光軸21aを中心とし
て回転可能に構成されている。このTN液晶セル24は
所定角度ずつステッピングモ−タm1により駆動され
る。このステッピングモ−タm1の駆動はコンピュ−タ
31により制御される。
The TN liquid crystal cell 24 is configured to be rotatable about the optical axis 21a of the laser light output from the laser oscillator 21. The TN liquid crystal cell 24 is driven by a stepping motor m1 at a predetermined angle. The driving of the stepping motor m1 is controlled by the computer 31.

【0021】さらに、検光子25は上記TN液晶セル2
4と同じように、レ−ザ発振器21から出力されるレ−
ザ光の光軸21aを中心として回転可能に構成されてい
る。この検光子25は設定角度ずつステッピングモ−タ
m2により駆動される。このステッピングモ−タm2の駆動
はコンピュ−タ31により制御される。
Further, the analyzer 25 is provided with the TN liquid crystal cell 2 described above.
4, the laser output from the laser oscillator 21 is used.
It is configured to be rotatable around the optical axis 21a of the light. This analyzer 25 is a stepping motor for each set angle.
Driven by m2. The driving of the stepping motor m2 is controlled by the computer 31.

【0022】また、チョッパ22はロックインアンプ3
2により制御される。
The chopper 22 is a lock-in amplifier 3
2 is controlled.

【0023】光検出器26で検出されたレ−ザ光は、ロ
ックインアンプ32で増幅された後、コンピュ−タ31
に入力される。
The laser light detected by the photodetector 26 is amplified by a lock-in amplifier 32, and then amplified by a computer 31.
Is input to

【0024】また、TN液晶セル24には、温度制御部
33からの制御信号が入力されて、TN液晶セル24の
温度が制御される。
A control signal from the temperature controller 33 is input to the TN liquid crystal cell 24 to control the temperature of the TN liquid crystal cell 24.

【0025】また、図7を参照して座標系について説明
する。図7において、ni はTN液晶セル24の入射側
のnディレクタ、no はTN液晶セル24の出射側のn
ディレクタ、Pは偏光子23、Aは検光子25、ψ1
x軸と偏光子Pとのなす角度、ψ0 はTN液晶セル24
の入射側のni ディレクタと偏光子Pとのなす角度、ψ
p は偏光子Pと検光子Aとのなす角度、Φt はTN液晶
セル24の入射側のnディレクタni と出射側のnディ
レクタno とのなす角度、つまりツイスト角を示してい
る。
The coordinate system will be described with reference to FIG. In FIG. 7, ni is n director on the entrance side of the TN liquid crystal cell 24, and no is n director on the exit side of the TN liquid crystal cell 24.
Director, P is the polarizer 23, A is the analyzer 25, ψ 1 is the angle between the x-axis and the polarizer P, ψ 0 is the TN liquid crystal cell 24
The angle between the ni director on the entrance side and the polarizer P, ψ
p indicates the angle between the polarizer P and the analyzer A, and Φt indicates the angle between the n director ni on the incident side and the n director no on the output side of the TN liquid crystal cell 24, that is, the twist angle.

【0026】以上のように構成された測定装置を用いて
液晶セルの方位角方向のアンカリングエネルギ−を測定
する測定方法について説明する。
A measurement method for measuring the azimuthal anchoring energy of the liquid crystal cell using the measuring apparatus having the above-described configuration will be described.

【0027】まず、透過率Tの理論式より、位相差板2
7を挿入しない場合に、透過率Tをψ0 ,ψp で偏微分
した場合に成立する式及び位相差板27を挿入した場合
に、透過率Tをψ0 ,ψp で偏微分した場合に成立する
式について説明する。
First, from the theoretical formula of the transmittance T, the retardation plate 2
If not inserted 7, the transmittance T [psi 0, when it is inserted and the retarder 27 holds when partial differentiation with [psi p, the transmittance T [psi 0, when partial differentiation with [psi p The following is a description of the equation that holds.

【0028】まず、図7に示すような座標系及び図1に
示すようなTN液晶セル24の配置の場合の透過率は公
知の手法により次式のように求められる。
First, the transmittance in the case of the coordinate system as shown in FIG. 7 and the arrangement of the TN liquid crystal cell 24 as shown in FIG. 1 is obtained by a known method as follows.

【0029】T=数1 となる。T = Equation 1

【0030】[0030]

【数1】 (Equation 1)

【0031】そして、位相差板27を挿入しない場合
に、透過率Tをψ0 ,ψp について最小化したときは、
透過率Tのψ0 での偏微分値、透過率Tのψp での偏微
分値は零になる。
When the transmittance T is minimized with respect to ψ 0 and ψ p when the phase difference plate 27 is not inserted,
The partial differential value of the transmittance T at ψ 0 and the partial differential value of the transmittance T at ψ p are zero.

【0032】つまり、数2、数3に示すような関係とな
る。
That is, the relationship shown in Expressions 2 and 3 is obtained.

【0033】[0033]

【数2】 (Equation 2)

【0034】[0034]

【数3】 (Equation 3)

【0035】そして、位相差板27を挿入しない場合に
は、δ=0であるから、(1)式をψ0 で偏微分した値
を零とすると、数4の関係が成り立つ。
[0035] Then, when not inserted retardation plate 27, since a δ = 0, (1) When zero value obtained by partially differentiating in [psi 0 the equation, the number 4 in relation holds.

【0036】[0036]

【数4】 (Equation 4)

【0037】ここで、(4)式を満たすためには、sin
2(Φt +2ψ0 −ψp )=0を満たせば良い。
Here, in order to satisfy the expression (4), sin
2 may satisfy the (Φt + 2ψ 0 -ψ p) = 0.

【0038】従って、数5Therefore, Equation 5

【数5】 (Equation 5)

【0039】なる関係が成り立つ。The following relationship holds.

【0040】また、位相差板27を挿入しない場合に
は、δ=0であるから、(1)式をψp で偏微分した値
を零とすると、数6の関係が成り立つ。
When the phase difference plate 27 is not inserted, δ = 0, and if the value obtained by partially differentiating the equation (1) with ψ p is set to zero, the relation of Equation 6 is established.

【0041】[0041]

【数6】 (Equation 6)

【0042】つまり、透過率Tをψp で極小となるとき
は、(6)式の関係が成り立つ。
That is, when the transmittance T is minimized by ψ p , the relationship of equation (6) holds.

【0043】次に、位相差板27を挿入したときは、ψ
1 =−π/4とし、位相差板27としてλ/4板を用い
れば、δ=π/2だから透過率Tは数7のようになる。
Next, when the phase difference plate 27 is inserted,
If 1 = −π / 4 and a λ / 4 plate is used as the phase difference plate 27, the transmittance T becomes as shown in Expression 7 because δ = π / 2.

【0044】[0044]

【数7】 (Equation 7)

【0045】よって、2Tは数8のようになる。Therefore, 2T becomes as shown in Expression 8.

【0046】[0046]

【数8】 (Equation 8)

【0047】そして、位相差板27を挿入した場合に、
TN液晶セル24を回転させて、(8)式の透過率Tを
最小するψ0 を検出した場合には、(8)式をψ0 で偏
微分したものが零になる。
When the phase difference plate 27 is inserted,
When the TN liquid crystal cell 24 is rotated to detect ψ 0 that minimizes the transmittance T in Expression (8), the value obtained by partially differentiating Expression (8) with ψ 0 becomes zero.

【0048】つまり、数9の関係が成り立つ。That is, the relationship of Expression 9 is established.

【0049】[0049]

【数9】 (Equation 9)

【0050】また、位相差板27を挿入した場合に、T
N液晶セル24を固定させて、検光子25を回転させ
て、(8)式の透過率Tを最小にするψp を検出した場
合には、(8)式をψp で偏微分したものが零になる。
When the phase difference plate 27 is inserted, T
When the N liquid crystal cell 24 is fixed and the analyzer 25 is rotated to detect ψ p that minimizes the transmittance T in equation (8), the equation (8) is partially differentiated by ψ p Becomes zero.

【0051】つまり、数10の関係が成り立つ。That is, the relationship of Expression 10 is established.

【0052】[0052]

【数10】 (Equation 10)

【0053】次に、図1の測定装置を用いて動作につい
て具体的に説明する。まず、偏光子23と検光子25と
のなす角ψp は適当に設定する。
Next, the operation will be specifically described using the measuring apparatus of FIG. First, an angle ψ p formed between the polarizer 23 and the analyzer 25 is appropriately set.

【0054】コンピュ−タ31によりステッピングモ−
タm1が駆動されて、液晶セル24が所定角度ずつ1回
転するまで、回転制御される。このように液晶セル24
が1回転する間に、光検出器26でTN液晶セル24及
び検光子25を介する光が検出される。つまり、TN液
晶セル24を回転させることにより、TN液晶セル24
の入射側のディレクタと検光子25とのなす角度ψ0
変化させている。
The stepping motor is controlled by the computer 31.
The rotation of the liquid crystal cell 24 is controlled until the liquid crystal cell 24 rotates once by a predetermined angle by driving the head m1. Thus, the liquid crystal cell 24
During one rotation, the light passing through the TN liquid crystal cell 24 and the analyzer 25 is detected by the photodetector 26. That is, by rotating the TN liquid crystal cell 24, the TN liquid crystal cell 24 is rotated.
The angle ψ 0 formed between the director on the incident side of the sample and the analyzer 25 is changed.

【0055】このようにして、図2に示すようなT−ψ
0 特性が得られる。
In this manner, T-ψ as shown in FIG.
0 characteristics are obtained.

【0056】図2に示すように、ψ0 =ψ00で透過率T
が極小値を持つ。このように、透過率Tを最小とする回
転角度ψ00を求めている(第1の工程)。
[0056] As shown in FIG. 2, ψ 0 = ψ 00 at transmittance T
Has a local minimum. And thus, obtains the rotation angle [psi 00 that the transmittance T and the minimum (the first step).

【0057】つまり、ψ0 =ψ00では透過率Tをψ0
偏微分した値が零となる前述した(4)式の関係が成り
立つ。
[0057] That is, ψ 0 = ψ value obtained by partially differentiating the 00 at transmittance T in [psi 0 is described above becomes zero (4) the relationship equation holds.

【0058】従って、透過率Tがψ0 に対して極小値を
持つψ0 =ψ00では前述したように、(5)式の関係が
成り立つ。
[0058] Therefore, as the transmittance T is above the ψ 0 = ψ 00 has a minimum value for ψ 0, (5) formula relationship is established.

【0059】次に、TN液晶セル24と検光子25をレ
−ザ光の光軸を中心に同一方向に回転速度が1:2の比
率で1回転させて光検出器26で検出される光透過率T
が最小とする検光子の回転角度ψp (1) ,ψ0 (1) を求
めている(第2の工程)。
Next, the TN liquid crystal cell 24 and the analyzer 25 are rotated once in the same direction about the optical axis of the laser light at a rotation speed of 1: 2, and the light detected by the photodetector 26 is rotated. Transmittance T
The analyzer rotation angles ψ p (1) and ψ 0 (1) that are minimized are obtained (second step).

【0060】次に、(5)式の条件を満たしたまま、透
過率Tをψp で偏微分した値を零に工程に移行する。偏
光子23と検光子25との反対方向へ同じ角度ずつ回転
(ψ0 は固定)させて透過率Tを測定することを想定す
ると、ψ0 ,ψp はそれぞれ ψ′0 =ψ0 +θ …(11) ψ′p =ψp +2θ …(12) と変化する。
Next, while the condition of the equation (5) is satisfied, the value obtained by partially differentiating the transmittance T with ψ p is shifted to zero. Assuming that the transmittance T is measured by rotating the polarizer 23 and the analyzer 25 in the opposite direction by the same angle (ψ 0 is fixed), ψ 0 and ψ p are respectively ψ ′ 0 = ψ 0 + θ. (11) ψ ′ p = ψ p + 2θ (12)

【0061】ここで、(11)式と(12)式は(5)
式の関係を満たしているから、θを連続的に変化させて
透過率Tが最小となるψp を求めれば良い。
Here, the expressions (11) and (12) are converted to the expression (5).
Since the relationship of the formula is satisfied, it is sufficient to continuously change θ to obtain ψ p at which the transmittance T is minimized.

【0062】ところで、レ−ザ発振器21は直線偏光な
ので、偏光子23を回転させると偏光子23を通過した
後の透過光強度が変化してしまう。そこで、本願発明で
は、偏光子23を固定し、ψ0 をθ回転させたらψp
2θだけ回転させるようにすることにより、偏光子23
と検光子25との反対方向へ同じ角度ずつ回転(ψ0
固定)させて透過率Tを測定するのと同じ状態を作り出
すことができる。
Incidentally, since the laser oscillator 21 is linearly polarized light, when the polarizer 23 is rotated, the transmitted light intensity after passing through the polarizer 23 changes. Therefore, in the present invention, the polarizer 23 is fixed by rotating the ψ p by 2θ when the 子0 is rotated by θ.
And (the 0 [psi fixed) rotated by the same angle in the opposite direction and the analyzer 25 can produce the same state as measuring the transmittance T by.

【0063】つまり、液晶セル24と検光子25とをレ
−ザ光の光軸を中心に同一方向に回転速度が1:2の比
率で回転させるようにしている。
That is, the liquid crystal cell 24 and the analyzer 25 are rotated in the same direction about the optical axis of the laser beam at a rotation speed of 1: 2.

【0064】前述したように液晶セル24と検光子25
とをレ−ザ光の光軸を中心に同一方向に回転速度が1:
2の比率で回転させるということは、(11)式と(1
2)式で現されている。この(11)式と(12)式は
(5)式の条件を満たしている。従って、液晶セル24
と検光子25とをレ−ザ光の光軸を中心に同一方向に回
転速度が1:2の比率で回転させた場合でも、光透過率
Tのψ0 での偏微分値が零の状態を保つことができる。
As described above, the liquid crystal cell 24 and the analyzer 25
And the rotational speed in the same direction about the optical axis of the laser beam is 1:
Rotating at a ratio of 2 means that equation (11) and (1)
It is expressed by equation (2). Equations (11) and (12) satisfy the condition of equation (5). Therefore, the liquid crystal cell 24
Even when the analyzer 25 and the analyzer 25 are rotated in the same direction about the optical axis of the laser light at a rotation speed of 1: 2, the partial differential value of the light transmittance T at ψ 0 is zero. Can be kept.

【0065】液晶セル24と検光子25とをレ−ザ光の
光軸を中心に同一方向に回転速度が1:2の比率で回転
させた場合でも、液晶セル24をψ00に設定した状態を
保つことができる。
Even when the liquid crystal cell 24 and the analyzer 25 are rotated in the same direction about the optical axis of the laser beam at the rotation speed of 1: 2, the liquid crystal cell 24 is set at $ 00. Can be kept.

【0066】このようにした状態で、透過率Tが最小と
なるψp ,ψ0 をそれぞれψp (1),ψ0 (1) とする。
In this state, ψ p and ψ 0 at which the transmittance T becomes minimum are ψ p (1) and ψ 0 (1), respectively.

【0067】次に、位相差板(λ/4板)27を挿入
し、ψ0 を少しずつ変えて、その都度ψp をスキャン
し、透過率Tを測定する。このとき、図4に示すよう
に、光透過率Tが最小となるψp ,ψ0 をそれぞれψp
(2) ,ψ0 (2) とする(第3の工程)。
Next, a retardation plate (λ / 4 plate) 27 is inserted, ψ 0 is changed little by little, and ψ p is scanned each time, and the transmittance T is measured. At this time, as shown in FIG. 4, ψ p and ψ 0 at which the light transmittance T becomes minimum are respectively set to ψ p
(2), ψ 0 (2) (third step).

【0068】ところで、位相差板(λ/4板)27を挿
入しない場合の光透過率Tのψp での偏微分値が零の理
論式は(6)式である。
By the way, the theoretical equation in which the partial differential value at ψ p of the light transmittance T when the phase difference plate (λ / 4 plate) 27 is not inserted is zero is equation (6).

【0069】この(6)式には、変数が3つ(Φt ,ψ
p ,u)ある。
In equation (6), there are three variables (Φt, ψ
p , u).

【0070】従って、第2の工程で求めたψp (1) を代
入すると、ツイスト角Φt とψ0 との関係式が求まる。
Therefore, by substituting ψ p (1) obtained in the second step, a relational expression between the twist angle Φt and ψ 0 is obtained.

【0071】ここで、ツイスト角Φt はほぼ90°であ
るため、ツイスト角Φt ′を90.0°,88.8°,88.7°,
…とそれぞれ式(6)に代入したときのu′を求める。
この演算はコンピュ−タ31での数値計算により行われ
る。
Here, since the twist angle φt is approximately 90 °, the twist angle φt ′ is set to 90.0 °, 88.8 °, 88.7 °,
, And u ′ when each is substituted into the equation (6).
This calculation is performed by numerical calculation in the computer 31.

【0072】このようにして、図5のテ−ブルが完成す
る。
Thus, the table shown in FIG. 5 is completed.

【0073】次に、位相差板27を挿入した場合の透過
率Tのψ0 での偏微分値が零及び透過率Tのψp での偏
微分値が零の条件より導き出された理論式は前述したよ
うに(9)式と(10)式である。
Next, a theoretical equation derived from the condition that the partial differential value of the transmittance T at ψ 0 when the phase difference plate 27 is inserted is zero and the partial differential value of the transmittance T at ψ p is zero is obtained. Are the expressions (9) and (10) as described above.

【0074】これら2つの式には、それぞれ4つの変数
(Φt ,u,ψ0 ,ψp )がある。
Each of these two equations has four variables (Φt, u, ψ 0 , ψ p ).

【0075】ここで、ツイスト角Φt とuとの関係は図
5に示したテ−ブルに記載された関係を持つ。
Here, the relationship between the twist angle φt and u has the relationship described in the table shown in FIG.

【0076】従って、(9)式と(10)式に図5に示
したテ−ブルのΦt ′,u′を代入し、ψ0 とψp との
関係を数値計算により求める。このようにして、求めた
結果が、図6のテ−ブルとなる。図6では、計算により
求めたψ0 ,ψp をψ0 (c),ψp (c) とする。
[0076] Thus, (9) and (10) Te shown in FIG. 5 in formula - Bull Phi] t ', u' by substituting, obtained by numerical calculation the relationship between [psi 0 and [psi p. The result obtained in this way is the table shown in FIG. In FIG. 6, ψ 0 and ψ p obtained by calculation are ψ 0 (c) and ψ p (c).

【0077】この図6のテ−ブルよりψp (c) のうち、
第3の工程で求めたψp (2) に一番近いψp に対応する
ツイスト角Φt が実際のツイスト角となる(第4の工
程)。
From the table of FIG. 6, of ψ p (c),
The twist angle Φt corresponding to ψ p closest to ψ p (2) obtained in the third step is the actual twist angle (fourth step).

【0078】例えば、ψp (2) の値が図6のテ−ブルで
Aに一番近い場合には、そのツイスト角Φt は89.8°と
なる。
For example, when the value of ψ p (2) is closest to A in the table of FIG. 6, the twist angle Φt is 89.8 °.

【0079】次に、ツイスト角Φt よりTN液晶セルの
方位角方向のアンカリングエネルギ−Aφを数11の理
論式より求める。
Next, the anchoring energy -A φ in the azimuthal direction of the TN liquid crystal cell is determined from the twist angle Φt by the theoretical equation (11).

【0080】[0080]

【数11】 [Equation 11]

【0081】(11)式において、K2 はツイスト弾性
定数、dはセルギャップ、ΔΦ=(Φr −Φt )/2
(Φr は90°とする)。
In equation (11), K 2 is the twist elastic constant, d is the cell gap, ΔΦ = (Φr−Φt) / 2
(Φr is 90 °).

【0082】以上のようにして、TN液晶セル24の方
位角方向のアンカリングエネルギ−を測定することがで
きる。
As described above, the anchoring energy of the TN liquid crystal cell 24 in the azimuthal direction can be measured.

【0083】以上のように、この発明では、TN液晶セ
ル24を回転させる第1の工程、検光子25をTN液晶
セル24より2倍の速度で同一方向に回転させる第2の
工程、位相差板27を挿入して、TN液晶セル24を少
しずつ回転させる毎に、検光子25をスキャンさせるこ
とにより得られたψ00、ψp (1) ,ψ0 (1) 、ψp (2)
,ψ0 (2) に基づいて、理論式よりツイスト角Φt を
求め、このツイスト角Φt よりTN液晶セル24の方位
角方向のアンカリングエネルギ−Aφを求めるようにし
たので、TN液晶セル24にTFT(Thin Film Transi
stor)を実装した状態でも、TN液晶セル24の方位角
方向のアンカリングエネルギ−Aφを求めることができ
る。
As described above, according to the present invention, the first step of rotating the TN liquid crystal cell 24, the second step of rotating the analyzer 25 in the same direction at twice the speed of the TN liquid crystal cell 24, insert the plate 27, each for rotating the TN liquid crystal cell 24 gradually, was [psi 00 obtained by scanning the analyzer 25, ψ p (1), ψ 0 (1), ψ p (2)
, Ψ 0 (2), the twist angle Φt is obtained from the theoretical formula, and the azimuthal anchoring energy -A φ of the TN liquid crystal cell 24 is obtained from the twist angle Φt. TFT (Thin Film Transi
even when implementing the stor), it is possible to obtain the anchoring energy -A phi of azimuthal TN liquid crystal cell 24.

【0084】また、図2乃至図4の透過率Tの最小値と
するψ00、ψp (1) ,ψ0 (1) 、ψp (2) ,ψ0 (2) を
求めるようにしているので、図2乃至図4の波形を他の
波形との一致を見るようなフィッテングプロセスが必要
ないので、処理が簡単とすることができる。
Further, ψ 00 , ψ p (1), ψ 0 (1), ψ p (2), and ψ 0 (2) which are the minimum values of the transmittance T in FIGS. 2 to 4 are obtained. Since there is no need for a fitting process for checking whether the waveforms in FIGS. 2 to 4 match other waveforms, the processing can be simplified.

【0085】なお、本発明はTN液晶セルだけでなく、
STN(Super Twisted Nematic )液晶素子にも応用が
可能である。
The present invention is not limited to the TN liquid crystal cell,
It is also applicable to STN (Super Twisted Nematic) liquid crystal elements.

【0086】また、図1においてはTN液晶セル24,
検光子25を別々のステッピングモ−タm1,m2で回
転させるようにしたが、モ−タをm1一つだけにし、T
N液晶セル24は減速機構で回転速度を減速させるよう
にしても良い。
In FIG. 1, the TN liquid crystal cell 24,
The analyzer 25 is rotated by the separate stepping motors m1 and m2, but only one motor m1 is used.
The rotation speed of the N liquid crystal cell 24 may be reduced by a reduction mechanism.

【0087】[0087]

【発明の効果】以上詳述したように本発明によれば、液
晶セルのツイスト角を求めて、そのツイスト角よりアン
カリングエネルギ−を演算により求めるようにした液晶
セルの方位角方向のアンカリングエネルギ−測定方法を
提供することができる。
As described in detail above, according to the present invention, the twist angle of the liquid crystal cell is obtained, and the anchoring energy in the azimuthal direction of the liquid crystal cell is calculated from the twist angle. An energy measurement method can be provided.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施の形態に係わる液晶セルの方位
角方向のアンカリングエネルギ−測定方法に用いられる
装置を示す図。
FIG. 1 is a diagram showing an apparatus used for a method for measuring azimuthal anchoring energy of a liquid crystal cell according to an embodiment of the present invention.

【図2】同実施の形態におけるT−ψ0 特性を示す図。FIG. 2 shows a T-[psi 0 characteristic in the embodiment.

【図3】同実施の形態におけるT−ψp 特性を示す図。FIG. 3 shows a T-[psi p characteristics in the embodiment.

【図4】同実施の形態におけるT−ψp 特性を示す図。FIG. 4 shows a T-[psi p characteristics in the embodiment.

【図5】Φt ′−u′特性を示す図。FIG. 5 is a diagram showing Φt'-u 'characteristics.

【図6】Φt ′,u′,ψ0 (c) ,ψp (c) 特性を示す
図。
FIG. 6 is a diagram showing Φt ′, u ′, ψ 0 (c), and ψ p (c) characteristics.

【図7】液晶セルの座標系を示す図。FIG. 7 is a diagram showing a coordinate system of a liquid crystal cell.

【図8】TNモ−ドの動作原理を示す図。FIG. 8 is a diagram showing the operation principle of the TN mode.

【図9】アンカリングエネルギ−を説明するための図。FIG. 9 is a diagram for explaining anchoring energy.

【図10】従来の捻れ角測定法を説明するための図。FIG. 10 is a view for explaining a conventional torsion angle measuring method.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

21…レ−ザ発振器、22…チョッパ、23…偏光子、
24…TN液晶セル、25…検光子、26…光検出器。
21 laser oscillator, 22 chopper, 23 polarizer,
24: TN liquid crystal cell; 25: analyzer; 26: photodetector.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G01N 21/00 - 21/01 G01N 21/17 - 21/61──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (58) Field surveyed (Int.Cl. 6 , DB name) G01N 21/00-21/01 G01N 21/17-21/61

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 レ−ザ光源から放射されるレ−ザ光を偏
光子を介して偏光させた後、液晶セルに入射させ、この
液晶セルから出射したレ−ザ光を検光子を介して光透過
率Tを光検出器で測定することにより上記液晶セルの方
位角方向のアンカリングエネルギ−測定方法において、 上記液晶セルを上記レ−ザ光の光軸を中心に回転させて
上記光検出器で検出される光透過率Tが最小とする上記
液晶セルの回転角度ψ00を求める第1の工程と、 上記液晶セルと上記検光子を上記レ−ザ光の光軸を中心
に同一方向に回転速度が1:2の比率で回転させて上記
光検出器で検出される光透過率Tが最小とする上記検光
子の回転角度ψp (1) を求める第2の工程と、 上記偏光子と45度となる様に位相差板を上記液晶セル
と上記検光子との間に挿入し、上記液晶セルを少しずつ
回転させ、少しずつ回転させる毎に上記レ−ザ光の光軸
を中心に上記検光子を1回転させて、上記光検出器で検
出される光透過率Tが最小とする上記検光子の回転角度
ψp (2) 及びその時の上記液晶セルの回転角度ψ0 (2)
を求める第3の工程と、 上記第1の工程で求めた上記液晶セルの回転角度ψ00
上記第2の工程で求めた上記検光子の回転角度ψp (1)
、上記第3の工程で求めた上記検光子の回転角度ψ
p (2) 及びその時の上記液晶セルの回転角度ψ0 (2) に
基づいて上記液晶セルのツイスト角Φt を求める第4の
工程と、 この第4の工程で求められたツイスト角Φt に基づいて
上記液晶セルの方位角方向のアンカリングエネルギ−を
所定の計算式より求める第5の工程とを具備したことを
特徴とするネマチック液晶素子の方位角方向のアンカリ
ングエネルギ−測定方法。
1. A laser light emitted from a laser light source is polarized through a polarizer and then incident on a liquid crystal cell, and the laser light emitted from the liquid crystal cell is transmitted through an analyzer. In the method for measuring the azimuthal anchoring energy of the liquid crystal cell by measuring the light transmittance T with a photodetector, the liquid crystal cell is rotated about the optical axis of the laser light to detect the light. the first step and the liquid crystal cell and the analyzer the LES light transmittance T detected by the vessel seeks the rotation angle [psi 00 of the liquid crystal cell to minimize - the same direction around the optical axis of the laser light A second step of determining the rotation angle ψ p (1) of the analyzer so as to minimize the light transmittance T detected by the photodetector by rotating the rotation speed at a ratio of 1: 2; A phase difference plate is inserted between the liquid crystal cell and the analyzer so as to be at an angle of 45 degrees with the analyzer. The crystal cell is rotated little by little, and each time the crystal cell is rotated little by little, the analyzer is rotated once around the optical axis of the laser beam to minimize the light transmittance T detected by the photodetector. The rotation angle of the analyzer ψ p (2) and the rotation angle of the liquid crystal cell at that time ψ 0 (2)
And a rotation angle 00 of the liquid crystal cell obtained in the first step.
The rotation angle of the analyzer ψ p (1) obtained in the second step
, The rotation angle of the analyzer obtained in the third step ψ
a fourth step of obtaining a twist angle Φt of the liquid crystal cell based on p (2) and a rotation angle ψ 0 (2) of the liquid crystal cell at that time; and a twist angle Φt obtained in the fourth step. A fifth step of determining the azimuthal anchoring energy of the liquid crystal cell from a predetermined calculation formula.
【請求項2】 上記第4の工程は、光透過率Tを求める
一般式T(Φt ,u,ψ0 ,ψp ,)をψ0 ,ψp でそ
れぞれ偏微分した式を零とする条件より、ツイスト角Φ
t とuとの関係を、ツイスト角が90度より小さい値に
ついて算出し、上記位相差板を挿入したことを条件に入
れて上記光透過率Tを求める一般式T(Φt ,u,
ψ0 ,ψp ,)をψ0 ,ψp でそれぞれ偏微分した式を
零とする式に、上記ツイスト角Φt とuとの関係を代入
することにより上記液晶セルの回転角度ψ0 及び上記検
光子の回転角度ψp との演算して求めるようにしたこと
を特徴とする請求項1記載のネマチック液晶素子の方位
角方向のアンカリングエネルギ−測定方法。
Wherein said fourth step, the formula T to obtain the light transmittance T (Φt, u, ψ 0 , ψ p,) and [psi 0, conditions for expression and zero obtained by partially differentiating respectively [psi p The twist angle Φ
The relationship between t and u is calculated for a value where the twist angle is smaller than 90 degrees, and the general formula T (Φt, u,
ψ 0, ψ p,) and [psi 0, the equation of equations zero obtained by partially differentiating respectively [psi p, the rotation angle [psi 0 and above the liquid crystal cell by substituting the relationship between the twist angle Φt and u rotation angle [psi p and azimuthal anchoring energy of the nematic liquid crystal device according to claim 1, characterized in that the seek operation to the analyzer - measuring method.
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