KR20080046466A

KR20080046466A - 디스플레이장치 및 그 처리 방법

Info

Publication number: KR20080046466A
Application number: KR1020060115966A
Authority: KR
Inventors: 고상신
Original assignee: 삼성전자주식회사
Priority date: 2006-11-22
Filing date: 2006-11-22
Publication date: 2008-05-27

Abstract

디스플레이장치가 개시된다. 본 발명의 디스플레이 장치는 일정간격으로 배치되어 교차하는 부분이 각각 포인트를 형성하는 복수 개의 수직라인 및 수평 라인으로 형성되는 테스트 패턴을 출력하는 출력부, 테스트 패턴 상의 왜곡이 발생된 왜곡포인트를 검출하는 검출부, 및, 검출된 왜곡포인트의 주변포인트 값들을 이용하여 왜곡포인트의 값을 조정하는 제어부를 포함한다. 이에 따라, 슬림 음극선관(CRT) 텔레비전 생산라인에서 테스트 패턴의 왜곡발생시 포인트 단위로 왜곡을 조정하여 CRT의 직선성을 향상시킬 수 있게 된다.

슬림 CRT 텔레비전, 왜곡포인트, 주변포인트, 테스트 패턴.

Description

디스플레이장치 및 그 처리 방법{display apparatus and processing method thereof}

도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 디스플레이장치의 구성을 나타내는 블록도,

도 2는 도 1의 디스플레이 장치의 구성을 구체적으로 나타내는 블럭도 ,

도 3은 본 발명의 디스플레이 장치의 디스플레이 처리방법을 설명하기 위한 모식도, 및,

도 4는 본 발명의 일 실시 예에 따른 디스플레이 장치의 디스플레이 처리방법을 설명하기 위한 흐름도이다.

*도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명*

100 : 디스플레이장치 110 : 출력부

120 : 검출부 130 : 제어부

131 : 저장부 132 : 연산부

본 발명은 디스플레이장치 및 그 처리 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 프로젝션 음극선관(CRT) 텔레비전 생산라인에서 테스트 패턴의 왜곡발생시 주변포인트 값들을 이용하여 포인트 단위로 왜곡을 조정하는 디스플레이장치 및 그 테스트방법에 관한 것이다.

프로젝션 TV란 액정이나 음극선관(Cathode ray tube:이하 "CRT"라 한다)에서 나오는 영상을 스크린에 투영시켜 영상을 디스플레이하는 장치로써 그 사용소자에 따라 CRT프로젝션 TV 및 LCD 프로젝션 TV의 두 종류로 나눈다.

여기서, CRT 프로젝션의 시스템 구성은 3개의 R, G, B 단색 CRT에서 발하는 영상을 투사렌즈를 통해 일정한 배율로 확대하여 투과형 스크린에 결상시켜 대화면의 영상을 보여줄 수 있도록 되어 있다.

일반적으로, CRT는 전자총(Electron Gun), 전자렌즈, 편향요크 (Deflection Yoke 및 스크린 등의 세부구조를 가지는데, 그 원리는 전자총에서 방출된 광선이 편향요크를 통과하면서 편향되어 일정한 굴곡이 있는 형광면에 부딪히면서 빛을 발산하게 되는 것이다. 균일한 속도로 방출된 광선이 편향된 경우 스크린 면이 구형 정도의 굴곡을 가진다면 문제가 없으나 그 굴곡의 정도가 그렇게 심하지 않고, 최근에는 평면으로도 구현되기 때문에 스크린 면 중심에 부딪히는 광선의 전파 거리와 주변부에 부딪히는 광선의 전파 거리간에는 차이가 생길 수밖에 없다.

이에 따라, 일반적으로 스크린면 중심부를 기준으로 촛점(Focus)을 맞춘 경우, 스크린 외각 부분의 영상이 흐려지게 되는 문제점이 발생한다. 또한, 편향비율을 조정하는 특정모듈 등의 하드웨어적인 편차에 의해 디스플레이되는 영상의 소정영역에 왜곡이 발생한다.

본 발명은 상술한 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 본 발명의 목적은 생산과정에서 테스트 패턴의 왜곡발생시 주변포인트 값들을 이용하여 포인트 단위로 왜곡을 조정하도록 처리하는 디스플레이장치 및 그 처리 방법을 제공함에 있다.

이상과 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일 실시 예에 따른 디스플레이 장치는 일정간격으로 배치되어 교차하는 부분이 각각 포인트를 형성하는 복수 개의 수직라인 및 수평 라인으로 형성되는 테스트 패턴을 출력하는 출력부, 상기 테스트 패턴 상의 왜곡이 발생된 왜곡포인트를 검출하는 검출부, 및, 상기 검출된 왜곡포인트의 주변포인트 값들을 이용하여 상기 왜곡포인트의 값을 조정하는 제어부를 포함한다.

바람직하게는, 상기 제어부는 상기 테스트 패턴의 각 포인트 값을 저장하는 저장부, 및, 상기 왜곡포인트와의 거리에 따라 가변적으로 주어지는 가중치를 상기 왜곡포인트의 주변포인트 값들에 적용하고 가/감산함으로써 상기 왜곡포인트의 조정 값을 산출하는 연산부를 포함할 수 있다.

보다 바람직하게는, 상기 제어부는 상기 검출된 왜곡포인트의 일측 포인트를 제어포인트로 지정하고, 상기 제어포인트의 양측 포인트에 대한 조정값을 순차적으로 산출하도록 상기 연산부를 제어할 수 있다.

한편, 본 발명의 다른 일 실시 예에 따른 디스플레이장치의 테스트방법은 (a) 일정간격으로 배치되어 교차하는 부분이 각각 포인트를 형성하는 복수 개의 수 직라인 및 수평 라인으로 형성되는 테스트 패턴을 출력하는 단계, (b) 상기 테스트 패턴 상의 왜곡이 발생된 왜곡포인트를 검출하는 단계, 및, (c) 상기 검출된 왜곡포인트의 주변포인트 값들을 이용하여 상기 왜곡포인트의 값을 조정하는 단계를 포함할 수 있다.

바람직하게는, 상기 (c)단계는 상기 왜곡포인트와의 거리에 따라 가변적으로 주어지는 가중치를 상기 왜곡포인트의 주변포인트에 대하여 기저장된 포인트 값들에 적용하고 가/감산함으로써 상기 왜곡포인트 값을 산출하는 단계를 포함할 수 있다.

보다 바람직하게는, 상기 (c)단계는 상기 왜곡포인트의 주변포인트 값 및 가중치를 소정의 수식에 대입하여 상기 왜곡 포인트 값을 산출할 수 있다.

보다 바람직하게는, 상기(c)단계는 상기 검출된 왜곡포인트의 일측 포인트를 제어포인트로 지정하는 단계, 및, 상기 제어포인트의 양측 포인트에 대한 조정값을 순차적으로 산출하는 단계를 포함할 수 있다.

이하에서, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 대하여 자세하게 설명한다.

도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 디스플레이장치의 구성을 나타내는 블록도이다. 본 디스플레이 장치(100)는 출력부(110), 검출부(120), 제어부(130)를 포함할 수 있다.

출력부(110)는 포인트 값 조정모드가 실행되면, 수직 및 수평 편향 비율을 적용하여 기준패턴을 따라 테스트 패턴을 출력한다. 여기서, 테스트 패턴은 일정간격으로 배치되어, 교차하는 부분이 포인트를 형성하는 복수 개의 수직라인 및 수평 라인으로 형성된다.

검출부(120)는 테스트 패턴 상에 왜곡이 발생된 왜곡포인트를 검출한다.

제어부(130)는 검출된 왜곡포인트의 주변포인트 값들을 이용하여 왜곡포인트의 값을 조정한다. 제어부(130)의 구체적인 설명은 도 2를 통해 설명하도록 한다.

도 2는 도 1의 디스플레이 장치의 구성을 구체적으로 나타내는 블럭도이다. 도 2에 따르면, 디스플레이 장치(100)는 도 1의 구성에 저장부(131) 및 연산부(132)를 포함하는 제어부(130)로 구현될 수 있다.

검출부(120)는 외부기기(10)로부터 왜곡포인트에 대한 정보를 입력받을 수 있다. 여기서, 외부기기(10)는 기준패턴을 저장하고 있으며, 구체적으로는, 출력부(110)를 통해 출력되는 테스트 패턴을 촬영하는 카메라가 될 수 있다. 또는, 검출부(120) 자체가 기준패턴을 저장하고 있으면서 테스트패턴의 출력상태를 확인하여, 왜곡 포인트를 직접 검출할 수도 있다.

검출부(120)는 외부기기(10)에서 기준패턴 및 테스트 패턴을 비교한 정보 중 왜곡이 발생한 포인트의 수직/수평 좌표값을 검출하여 제어부(130)로 전송한다.

제어부(130)는 검출부(120)에서 검출된 왜곡포인트의 좌표값을 확인하여, 왜곡포인트의 일측 포인트를 제어포인트로 지정하고, 제어포인트의 양측 포인트에 대하여 조정을 수행할 수 있다. 이때, 왜곡포인트의 굴곡정도에 따라 포지션조정 또는 커브조정을 할 수 있다.

저장부(131)는 테스트 패턴의 각 포인트 값을 저장한다. 여기서, 포인트 값은 수직라인의 직선성을 제어하는 값으로 각각의 포인트 단위별로 주어진 제어 값 으로, 포지션 값 또는 커브 값이 될 수 있다.

연산부(132)는 왜곡포인트와의 거리에 따라 가변적으로 주어지는 가중치를 왜곡 포인트의 주변포인트 값들에 적용하고 가/감산하여 왜곡포인트의 조정 값을 산출한다. 이때, 제어포인트의 양측 포인트에 대한 조정값을 순차적으로 산출하여 테스트 시간을 줄일 수 있다.

연산부(132)는 저장부(131)로부터 독출된 왜곡포인트의 주변포인트 값 및 가중치를 다음 수학식에 대입하여 왜곡 포인트의 조정 값을 산출한다.

수학식 1에서 Xn은 왜곡 포인트의 조정 값, n은 포인트의 수평 좌표값, C는 포인트의 가중치를 나타낸다. 수학식 1의 연산 중에서 가중치를 음(-)의 값으로 설정하면, 감산 대신 합산만으로 Xn을 산출할 수도 있다.

도 3은 본 발명의 디스플레이 장치의 테스트방법을 설명하기 위한 모식도이다. 왜곡포인트의 조정은 굴곡정도에 따라 포지션조정 또는 커브 조정을 할 수 있다. 여기서, 도 3의 (a)는 포지션조정에 대한 모식도이며, 도 3의 (b)는 커브조정에 대한 모식도이다.

도 3의(a)의 테스트 패턴에 따르면, 수평라인(x) 및 수직라인(y)이 교차하는 부분에 복수 개의 포인트가 형성되어 있으며, 왜곡포인트가 수평좌표,수직좌표(5,1)에 검출된 것을 확인할 수 있다.

이 경우, 제어포인트는 수평좌표,수직좌표(6,2)의 포인트가 되며, 주변포인 트 (0,2), (2,2), (5,2), (6,2), (8,2), (10,2) 및 각각의 가중치를 이용하여 왜곡포인트(5.1)의 조정값을 제1산출하며, 주변포인트 (2,2), (4,2), (6,2), (8,2), (10,2), (12,2) 및 각각의 가중치를 이용하여 왜곡포인트(7,2)의 조정값을 제2산출하게 된다. 각 포인트 값 및 가중치가 다음과 같다면, 상기 수학식을 이용하여 왜곡포인트(6.2) 및 (7,2)의 조정값을 구할 수 있다. 이때, 테이블2의 가중치는 왜곡포인트와의 거리에 따라 항상 일정한 값으로 주어지며, 테이블1의 포인트 값은 조정값으로 정정된다. 여기서, 포인트 값은 포지션 값이 된다.

[테이블1]

포인트 좌표값(수평좌표, 수직좌표)	포인트 값
(0,2)	0
(2,2)	1
(5,2)	3
(6,2)	2
(8,2)	2
(10,2)	0
(12,2)	2

[테이블2]

왜곡포인트로부터의 거리	가중치
1포인트	2/128
3포인트	13/128
5포인트	75/128

한편, 도 3의(b)의 테스트 패턴에 따르면, 수평라인(x) 및 수직라인(y)이 교차하는 부분에 복수 개의 포인트가 형성되어 있으며, 왜곡포인트가 수평좌표,수직좌표(4,1)에 검출된 것을 확인할 수 있다.

이 경우, 제어포인트는 수평좌표,수직좌표(5,1)의 포인트가 되며, 주변포인트 (16,1), (1,1), (3,1), (5,1), (7,1), (9,1) 및 각각의 가중치를 이용하여 왜곡포인트(4.1)의 조정값을 제1산출하며, 주변포인트 (1,1), (3,1), (5,1), (7,1), (9,1), (11,1) 및 각각의 가중치를 이용하여 왜곡포인트(6,1)의 조정값을 제2산출하게 된다. 이때, 도 3의(b)의 포인트 값은 커브값이 된다. 한편, 왜곡포인트의 조정방법은 도 3의(a)와 동일하므로, 이하 생략하도록 한다.

도 4는 본 발명의 일 실시 예에 따른 디스플레이 장치의 테스트방법을 설명하기 위한 흐름도이다. 도 4에 따르면, 포인트 값 조정모드가 실행되면(S410), 일정간격으로 배치되어 교차하는 부분이 포인트를 형성하는 복수 개의 수직라인 및 수평 라인으로 형성되는 테스트 패턴을 출력한다(S420).

테스트 패턴을 촬영하는 외부기기의 기준패턴과 출력된 테스트 패턴을 비교한 정보 중 테스트 패턴 상의 왜곡이 발생된 왜곡포인트를 검출하여(S430), 검출된 왜곡포인트의 주변포인트 값들을 이용하여 왜곡포인트의 값을 조정할 수 있다(S440).

구체적으로, 왜곡이 발생된 소정 영역의 특정 포인트를 제어포인트로 지정한 경우, 제어포인트의 양측 포인트에 대하여 조정값을 순차적으로 산출하여 조정할 수 있다. 여기서, 조정값은 왜곡포인트와의 거리에 따라 가변적으로 주어지는 가중치 및 왜곡 포인트의 주변포인트 값을 가/감산하여 산출할 수 있다.

이상 설명한 바와 같이, 본 발명에 따르면 프로젝션 음극선관(CRT) 텔레비전 생산라인에서 테스트 패턴의 왜곡발생시 포인트 단위로 왜곡을 조정할 수 있다. 이에 따라, CRT에서 발생되는 굴곡을 더 세밀하게 조정함으로써 직선성을 높일 수 있게 된다.

또한, 특정포인트의 주변포인트 값을 이용하여 특정포인트의 좌/우 포인트 값을 순차적으로 조정함으로써, 양산시 리드 타임(lead time)이 크게 증가하지 않으므로 효율적인 생산을 할 수 있게 된다.

또한, 이상에서는 본 발명의 바람직한 실시 예에 대하여 도시하고 설명하였지만, 본 발명은 상술한 특정의 실시 예에 한정되지 아니하며, 청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진자에 의해 다양한 변형실시가 가능한 것은 물론이고, 이러한 변형실시들은 본 발명의 기술적 사상이나 전망으로부터 개별적으로 이해되어 져 서는 안될 것이다.

Claims

일정간격으로 배치되어 교차하는 부분이 각각 포인트를 형성하는 복수 개의 수직라인 및 수평 라인으로 형성되는 테스트 패턴을 출력하는 출력부;

상기 테스트 패턴 상의 왜곡이 발생된 왜곡포인트를 검출하는 검출부; 및,

상기 검출된 왜곡포인트의 주변포인트 값들을 이용하여 상기 왜곡포인트의 값을 조정하는 제어부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치.
제1항에 있어서,

상기 제어부는,

상기 테스트 패턴의 각 포인트 값을 저장하는 저장부; 및,

상기 왜곡포인트와의 거리에 따라 가변적으로 주어지는 가중치를 상기 왜곡포인트의 주변포인트 값들에 적용하고 가/감산함으로써 상기 왜곡포인트의 조정 값을 산출하는 연산부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치.
제2항에 있어서,

상기 연산부는,

상기 왜곡포인트의 주변포인트 값 및 가중치를 아래의 수식에 대입하여 상기 왜곡 포인트의 조정 값을 산출하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치:

(Xn : 왜곡 포인트의 조정 값, n : 포인트의 수평 좌표값, C : 포인트의 가중치).
제2항에 있어서,

상기 제어부는,

상기 검출된 왜곡포인트의 일측 포인트를 제어포인트로 지정하고, 상기 제어포인트의 양측 포인트에 대한 조정값을 순차적으로 산출하도록 상기 연산부를 제어하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치.
(a) 일정간격으로 배치되어 교차하는 부분이 각각 포인트를 형성하는 복수 개의 수직라인 및 수평 라인으로 형성되는 테스트 패턴을 출력하는 단계;

(b) 상기 테스트 패턴 상의 왜곡이 발생된 왜곡포인트를 검출하는 단계; 및,

(c) 상기 검출된 왜곡포인트의 주변포인트 값들을 이용하여 상기 왜곡포인트의 값을 조정하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 처리방법.
제5항에 있어서,

상기 (c)단계는,

상기 왜곡포인트와의 거리에 따라 가변적으로 주어지는 가중치를 상기 왜곡포인트의 주변포인트에 대하여 기저장된 포인트 값들에 적용하고 가/감산함으로써 상기 왜곡포인트 값을 산출하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 처리방법.
제6항에 있어서,

상기 (c)단계는,

상기 왜곡포인트의 주변포인트 값 및 가중치를 아래의 수식에 대입하여 상기 왜곡 포인트 값을 산출하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 처리방법:

(Xn : 왜곡 포인트의 조정 값, n : 포인트의 수평 좌표값, C : 포인트의 가중치).
제5항에 있어서,

상기(c)단계는,

상기 검출된 왜곡포인트의 일측 포인트를 제어포인트로 지정하는 단계; 및,

상기 제어포인트의 양측 포인트에 대한 조정값을 순차적으로 산출하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 처리방법.