KR20080015548A - 결함 화소의 검출 방법 - Google Patents

결함 화소의 검출 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR20080015548A
KR20080015548A KR1020060076991A KR20060076991A KR20080015548A KR 20080015548 A KR20080015548 A KR 20080015548A KR 1020060076991 A KR1020060076991 A KR 1020060076991A KR 20060076991 A KR20060076991 A KR 20060076991A KR 20080015548 A KR20080015548 A KR 20080015548A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
pixel
detection target
value
defective
adjacent
Prior art date
Application number
KR1020060076991A
Other languages
English (en)
Other versions
KR100825821B1 (ko
Inventor
양승일
Original Assignee
엠텍비젼 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 엠텍비젼 주식회사 filed Critical 엠텍비젼 주식회사
Priority to KR1020060076991A priority Critical patent/KR100825821B1/ko
Publication of KR20080015548A publication Critical patent/KR20080015548A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100825821B1 publication Critical patent/KR100825821B1/ko

Links

Images

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
    • H04N25/68—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to defects

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
  • Color Television Image Signal Generators (AREA)

Abstract

결함 화소를 정확하게 검출할 수 있는 방법이 개시된다. 특히, 영상 데이터가 좁은 영역에 걸쳐 급격하게 변하는 에지 영역에서 결함 화소 여부는 정확하게 검출된다. 결함 화소를 확인하기 위해 검출 대상 화소와 다른 컬러를 가진 화소 데이터를 참조하여 기준값들을 설정한다. 설정된 기준값들의 상한과 하한을 벗어나는 경우, 검출 대상 화소는 결함 화소로 판정된다. 검출 대상 화소에 대한 기준값들의 산정은 검출 대상 화소를 중심으로 4개의 방향으로 수행된다.
베이어 패턴, 결함 화소, 에지 영역

Description

결함 화소의 검출 방법{Method of detecting Defect Pixel}
도 1은 종래 기술에 따라 결함 화소를 검출하는 동작을 설명하기 위한 개념도이다.
도 2는 종래 기술에 따라 에지 영역 상의 결함 화소를 검출하는 방법을 도시한 개념도이다.
도 3은 본 발명의 바람직한 실시예에 따라 결함 화소를 검출하는 방법을 도시한 플로우 차트이다.
도 4는 본 발명의 바람직한 실시예에 따라 상기 도 3에 도시된 제1 기준값을 산출하는 방법을 설명하기 위한 개념도이다.
도 5는 본 발명의 바람직한 실시예에 따라 상기 도 3에 도시된 기준값들을 산출하는 방법을 설명하기 위한 개념도이다.
본 발명은 결함 화소의 검출 방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 에지 성분이 존재하는 영상에서 결함 화소를 검출하는 방법에 관한 것이다.
외부의 영상을 전기적 신호로 변환하는 이미지 센서를 거친 영상 신호는 샘 플링 및 양자화 과정을 거쳐서 디지털 영상 신호로 변환된다. 영상의 획득을 위해 사용되는 이미지 센서는 다수의 화소들을 가진다. 이미지 센서에 구비되는 화소들은 로우 방향과 컬럼 방향으로 규칙적으로 배열된 매트릭스 형태로 구비된다. 따라서, 특정의 로우 라인에 대한 선택과 로우 라인에 연결된 화소로부터 컬럼 라인으로 데이터의 전송을 통해 랜덤 엑세스가 이루어진다.
이러한 이미지 센서의 품질은 원래의 자연 영상을 얼마나 가깝게 재현할 수 있느냐에 의해 결정된다. 따라서, 이미지 센서를 이루는 화소들의 특성은 균일하여야 한다. 그러나, 통상의 반도체 제조 공정에서 화소들은 인접한 화소와 특성의 편차를 가져오며, 그 특성의 편차가 영상의 품질에 영향을 미칠 정도로 큰 경우가 발생한다. 주변 화소와의 특성의 편차가 큰 화소를 통상적으로 결함 화소라 지칭한다. 결함 화소에 의해 획득되는 영상 신호는 주변의 정상 특성을 가지는 화소에 의해 획득되는 영상 신호와 큰 차이를 가진다. 따라서, 다수의 화소들의 영상 신호를 조합하여 한 프레임의 영상을 구현하는 경우, 결함 화소의 영상 신호에 의해 전체적인 영상은 왜곡된다. 따라서, 전체적인 영상의 왜곡을 회피하기 위해 결함 화소에 의해 획득된 영상 신호를 주변 화소의 영상 신호로 대체하는 동작이 수행된다.
도 1은 종래 기술에 따라 결함 화소를 검출하는 동작을 설명하기 위한 개념도이다.
도 1을 참조하면, 베이어 패턴이 개시된다. 따라서, 화소들의 조합에 의해 형성되는 영상은 하나의 로우 라인에는 레드 화소 및 그린 화소들이 번갈아 배치되며, 다음의 로우 라인에는 블루 화소 및 그린 화소들이 번갈아가며 배치된다. 각각 의 화소에는 외부 영상에 의해 획득된 화소 데이터가 실린다.
결함 화소를 검출하기 위해 검출대상이 되는 화소 R33 주변의 동일 컬러를 가지는 화소 데이터와 비교하는 동작이 수행된다. 만일 해당하는 화소 R33의 화소 데이터가 주위의 화소 R31, R35가 가지는 화소 데이터에 비해 임계값 이상의 편차를 가지는 경우, 이를 결함 화소로 판정한다. 상기 도 1에서는 레드 화소 R33의 화소 데이터가 주변 화소들 R31, R35의 데이터에 비해 높은 값을 가지며, 대략 T1의 편차를 가진다. 따라서, 동일한 컬러를 가지는 주변 화소들 R31, R35의 화소 데이터들과의 비교를 통해 결함 화소를 검출할 수 있다.
도 2는 종래 기술에 따라 에지 영역 상의 결함 화소를 검출하는 방법을 도시한 개념도이다.
도 2를 참조하면, 한 프레임의 영상에서 에지 영역의 경우, 서로 다른 컬러의 영상이 좁은 영역에서 급격하게 변하는 양상을 가진다. 또한, 에지 영역은 유사한 계조를 가지는 한 그룹의 영상과 다른 그룹의 영상의 경계가 된다. 따라서, 에지 영역에 위치한 화소의 화소 데이터는 급격히 변하는 특성을 가진다.
상기 도 2에서 하나의 로우 라인에 배치된 에지 영역의 화소들의 데이터가 도시된다. 예컨대, 레드 화소들 R1,R3,R5는 정상적인 특성을 나타내고, 그린 화소 G4가 결함 화소라 가정한다. 에지 영역에 화소들이 위치하므로 그린 화소 G4가 정상 화소라 하더라도 인접한 화소들에 비해 급격한 화소 데이터의 변화를 가져온다. 만일, 그린 화소 G4가 결함 화소이며, 나타내는 화소 데이터가 그린 화소 G6의 화소 데이터와 동일하거나 그 이하라면, 이를 결함 화소를 판단할 수 없는 문제가 발 생한다. 즉, 동일 컬러의 주변 화소 G2, G6의 데이터를 비교하여 결함 화소를 판정하는 종래의 판정법을 사용하는 경우, 그린 화소 G4의 데이터는 그린 화소 G2의 데이터보다 큰 값을 가지나, 그린 화소 G6의 데이터보다는 큰 값을 가지지 아니하므로 이를 결함 화소로 판단하지 못하는 오류가 발생한다.
따라서, 본 발명의 목적은 에지 영역에서 결함 화소를 정확히 검출할 수 있는 방법을 제공하는 것이다.
상술한 본 발명의 목적을 달성하기 위한 본 발명은, 검출 대상 화소와 다른 컬러를 가진 화소 데이터 및 상기 검출 대상 화소와 동일한 컬러를 가진 인접한 화소 데이터를 이용하여 2개의 기준값들을 설정하는 단계; 상기 2개의 기준값들을 이용하여 결함 화소의 검출 조건을 설정하는 단계; 상기 검출 대상 화소에 대해 검출 조건을 이용하여 결함 화소인지를 판단하는 단계; 및 결함 화소 데이터를 보정하는 단계를 포함하는 결함 화소의 검출 방법을 제공한다.
또한, 본 발명의 상기 목적은, 검출 대상 화소와 다른 컬러를 가진 화소 데이터의 경향을 파악하여 2개의 기준값들을 설정하는 단계;
상기 2개의 기준값들을 이용하여 결함 화소인지를 판단하는 단계; 및
결함 화소 데이터를 보정하는 단계를 포함하되, 상기 2개의 기준값들은, 상기 검출 대상 화소와 동일한 컬러를 가지는 인접한 제1 화소의 화소값에 상기 제1 화소에 인접한 다른 컬러의 화소값의 변화량이 반영된 제1 기준값; 및 상기 검출 대상 화소와 동일한 컬러를 가지는 인접한 제2 화소의 화소값에 상기 제2 화소에 인접한 다른 컬러의 화소값의 변화량이 반영된 제2 기준값을 포함하는 것을 특징으로 하는 결함 화소의 검출 방법의 제공을 통해서도 달성될 수 있다.
이하, 첨부한 도면들을 참조하여, 본 발명의 바람직한 실시예를 보다 상세하게 설명하고자 한다. 이하, 도면상의 동일한 구성요소에 대해서는 동일한 참조부호를 사용하고 동일한 구성요소에 대해서 중복된 설명은 생략한다.
실시예
도 3은 본 발명의 바람직한 실시예에 따라 결함 화소를 검출하는 방법을 도시한 플로우 차트이다.
도 3을 참조하면, 먼저 검출 대상이 되는 화소의 컬러와 다른 컬러를 가진 화소 데이터를 이용하여 제1 기준값을 산출한다(S10). 즉, 검출 대상이 되는 컬러와 다른 컬러를 가진 인접한 화소 데이터의 경향을 파악하여 제1 기준값을 산출하게 된다.
도 4는 본 발명의 바람직한 실시예에 따라 상기 도 3에 도시된 제1 기준값을 산출하는 방법을 설명하기 위한 개념도이다.
도 4를 참조하면, 검출 대상이 되는 화소가 그린 화소 G4인 경우, 베이어 패턴에서 제1 방향으로 배열된 화소들 R1,G2,R3,R5,G6,R7의 화소 데이터가 이용된다. 그린 화소들 G2,G4,G6 사이에는 레드 화소들 R1,R3,R5,R7이 배치되어 있으므로 레드 화소들 R1,R3,R5,R7의 화소값 및 그린 화소 G4에 인접한 그린 화소들 G2,G6의 화소 데이터들이 이용된다.
결함 여부를 검출하기 위한 제1 기준값을 하기의 수학식 1에 따른다.
REF1={(R3+R5)/2-(R1+R3)/2}+G2
상기 수학식 1에서 REF1은 제1 기준값을 나타낸다. 또한, R1, R3, R5 및 G2는 상기 도 4에 도시된 화소들의 데이터를 십진수로 변환한 것이다.
다시 도 3을 참조하면, 검출 대상이 되는 화소와 다른 컬러를 가진 화소 및 주변의 동일 컬러를 가진 화소의 데이터를 이용하여 제2 기준값을 설정한다(S20). 이는 상기 도 4에서 도시된 바를 참조하면, 하기의 수학식 2에 따른다.
REF2={(R3+R5)/2-(R5+R7)/2}+G6
상기 수학식 2에서 REF2는 제2 기준값을 나타낸다. 또한, R3, R5, R7 및 G6는 상기 도 4에서 도시된 화소들의 데이터를 십진수로 변환한 것이다.
상기 수학식들에서 제1 기준값은 상기 검출 대상 화소와 동일한 컬러를 가지는 인접한 화소의 화소값에, 동일한 컬러를 가지는 상기 화소에 인접한 다른 컬러의 화소값의 변화량이 반영된 것이다. 또한, 상기 제2 기준값은 검출 대상 화소와 동일한 컬러를 가지는 인접한 다른 화소의 화소값에, 인접한 다른 화소 근처의 인접한 다른 컬러의 화소값의 변화량이 반영된 것이다.
계속해서, 상기 수학식 1 및 상기 수학식 2에 의해 구해진 제1 기준값 및 제2 기준값을 이용하여 결함 화소의 검출 조건을 설정한다(S30). 예컨대 검출 대상 화소가 그린 화소 G4인 경우, 이에 대한 검출조건은 하기의 수학식 3에 따른다.
Min(REF1, REF2)>G4 or Max(REF1, REF2)<G4
상기 수학식 3에서 Min(REF1, REF2)는 제1 기준값 및 제2 기준값중 최소값을 나타내고, Max(REF1, REF2)는 제1 기준값 및 제2 기준값중 최대값을 나타낸다.
계속해서, 검출 대상이 되는 화소에 대해 결함 화소인지의 여부를 판단한다(S40). 즉, 2개의 기준값의 하한보다 작거나 상한보가 큰 경우, 해당하는 화소는 결함 화소로 판정될 수 있다.
또한, 상기 도 4에서는 검출 대상이 되는 화소 G4를 중심으로 제1 방향으로 배열된 화소들의 화소 데이터를 참조하였으나, 다른 방향으로 배열된 화소들의 화소 데이터를 참조하여 결함 화소를 보다 정확하게 검출할 수 있다.
도 5는 본 발명의 바람직한 실시예에 따라 상기 도 3에 도시된 기준값들을 산출하는 방법을 설명하기 위한 개념도이다.
도 5를 참조하면, 베이어 패턴이 구비된다. 상기 베이어 패턴에서 검출 대상이 되는 화소가 G4인 경우, 상기 도 4에 설명된 2개의 기준값은 검출 대상 화소를 중심으로 4개의 방향에 따라 각각 도출될 수 있다.
즉, 상기 도 4에 도시된 바와 같이 로우 방향인 제1 방향으로 배열된 화소들에 대해 상기 수학식 1, 수학식 2의 연산을 통해 2개의 기준값들을 도출한다. 또한, 이를 근거로 검출 대상 화소 G4가 하한값과 상한값의 범위를 벗어나는 지를 판단한다.
계속해서, 검출 대상 화소 G4를 중심으로 컬럼 방향인 제2 방향으로 배열된 화소들에 대해 상기 수학식 1 및 수학식 2와 실질적으로 동일한 연산을 수행한다. 다만 베이어 패턴이므로 상기 수학식들에서 레드 화소에 해당하는 부분은 블루 화소값으로 대체된다. 이를 통해 새로운 2개의 기준값들은 도출된다. 또한, 이를 근거로 검출 대상 화소가 새로이 정해진 하한값과 상한값의 범위를 벗어나는 지를 판단한다.
이는 검출 대상 화소를 중심으로 대각선 방향으로 형성되는 제3 방향 및 제4 방향에 대해서도 동일하게 적용된다.
따라서, 결함 화소의 판단은 상술한 바와 같이 검출 대상 화소 G4를 중심으로 4방향으로 이루어짐이 바람직하다. 각각의 방향에 대해 검출된 2개의 기준값들을 근거로 4개의 방향별로 기준값들의 상한과 하한을 초과하는 지를 확인한다.
바람직하게는 검출 대상 화소 G4가 4개의 방향별로 설정된 기준값들의 상한과 하한을 모두 벗어나는 경우, 최종적으로 검출 대상 화소 G4를 결함 화소로 판정한다.
계속해서, 결함 화소로 판정된 화소 데이터에 대한 보정을 수행한다(S50). 상기 결함 화소 데이터에 대한 보정은 다양한 형태로 실시될 수 있다. 즉, 결함 화소와 동일한 컬러의 주변 화소들의 평균값을 산출하고, 이를 결함 화소의 데이터로 치환할 수 있으며, 이외에 주변 화소들의 데이터에 대해 별도의 가중치를 부여하여 해당하는 화소에 대한 새로운 화소 데이터를 생성할 수 있다.
따라서, 본 발명에 따를 경우, 인접한 화소들 사이의 계조값이 급격하게 변 하는 에지 영역에서, 검출 대상과 상이한 컬러의 주변 화소들의 화소 데이터를 참조하여 결함 화소 여부를 판단한다. 에지 영역의 경우, 동종의 컬러를 가진 인접한 화소 사이에 화소 데이터가 급격히 변하는 특성을 가지므로, 다른 컬러를 가지는 화소들의 화소 데이터의 변화 추이를 검출 대상 화소의 결함 여부의 판단에 이용한다. 따라서, 보다 정확히 결함 화소 여부를 판단할 수 있다.
또한, 본 실시예에서는 에지 영역에서의 결함 화소의 판단에 사용되는 것으로 도시되었으나, 본 실시예에 의해 개시되는 결함 화소 검출 방법은 에지 영역뿐만 아니라, 화소 데이터가 소정의 범위 내에 분포되는 통상적인 화소 영역 또는 화소 데이터의 변화가 비교적 완만한 영역에도 적용될 수 있음을 당업자는 용이하게 알 수 있을 것이다.
상기와 같은 본 발명에 따를 경우, 검출 대상이 되는 화소와 다른 컬러를 가지는 주변 화소들의 화소 데이터 및 검출 대상 화소와 동일한 컬러를 가지는 주변 화소들의 데이터를 참조하여 상한과 하한의 기준값들을 도출한다. 또한, 기준값들은 검출 대상 화소를 중심으로 로우 방향, 컬럼 방향 및 2개의 대각선 방향으로 각각 도출된다. 각각의 방향마다 설정되는 상한과 하한의 기준값들을 모두 벗어나는 경우, 검출 대상 화소는 결함 화소로 판정되고, 검출 대상 화소에 대한 보정이 수행된다. 따라서, 인접한 동종의 화소만을 참조하는 결함 화소의 검출 방법에 비해 에지 영역에서 보다 정확하게 결함 화소를 검출할 수 있다.
이상 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.

Claims (12)

  1. 검출 대상 화소와 다른 컬러를 가진 화소 데이터 및 상기 검출 대상 화소와 동일한 컬러를 가진 인접한 화소 데이터를 이용하여 2개의 기준값들을 설정하는 단계;
    상기 2개의 기준값들을 이용하여 결함 화소의 검출 조건을 설정하는 단계;
    상기 검출 대상 화소에 대해 검출 조건을 이용하여 결함 화소인지를 판단하는 단계; 및
    결함 화소 데이터를 보정하는 단계를 포함하는 결함 화소의 검출 방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 결함 화소의 검출 조건은 상기 2개의 기준값들의 상한 및 하한을 벗어나는 것을 상기 결함 화소로 판정하는 것을 특징으로 하는 결함 화소의 검출 방법.
  3. 제1항에 있어서, 상기 2개의 기준값들은,
    상기 검출 대상 화소와 동일한 컬러를 가지는 인접한 제1 화소의 화소값에 상기 제1 화소에 인접한 다른 컬러의 화소값의 변화량이 반영된 제1 기준값; 및
    상기 검출 대상 화소와 동일한 컬러를 가지는 인접한 제2 화소의 화소값에 상기 제2 화소에 인접한 다른 컬러의 화소값의 변화량이 반영된 제2 기준값을 포함하는 것을 특징으로 하는 결함 화소의 검출 방법.
  4. 제3항에 있어서, 상기 제1 기준값 및 제2 기준값은 하기의 수학식에 따르는 것을 특징으로 하는 결함 화소의 검출 방법.
    REF1={(R3+R5)/2 -(R1+R3)/2}+G2
    REF2={(R3+R5)/2 -(R5+R7)/2}+G6
    상기 REF1은 상기 제1 기준값을 나타내고, 상기 REF2는 상기 제2 기준값을 나타낸다. 또한, R1, R3, R5, R7는 상기 검출 대상 화소와 다른 컬러를 가진 인접한 화소 데이터를 나타내고, G2, G6은 상기 검출 대상 화소와 동일한 컬러를 가진 인접한 화소 데이터를 나타낸다.
  5. 제1항에 있어서, 상기 기준값들의 산출은 상기 검출 대상 화소를 중심으로 4개의 방향으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 결함 화소의 검출 방법.
  6. 제5항에 있어서, 상기 4개의 방향은 상기 검출 대상 화소를 중심으로 로우 방향, 컬럼 방향 및 2개의 대각선 방향인 것을 특징으로 하는 결함 화소의 검출 방법.
  7. 제6항에 있어서, 상기 각각의 방향에 의해 도출된 기준값들을 모두 벗어나는 경우, 상기 검출 대상 화소를 결함 화소로 판단하는 것을 특징으로 하는 결함 화소의 검출 방법.
  8. 제1항에 있어서, 상기 결함 화소의 검출 방법은 영상의 에지 영역에 대해 적용하는 것을 특징으로 하는 결함 화소의 검출 방법.
  9. 검출 대상 화소와 다른 컬러를 가진 화소 데이터의 경향을 파악하여 2개의 기준값들을 설정하는 단계;
    상기 2개의 기준값들을 이용하여 결함 화소인지를 판단하는 단계; 및
    결함 화소 데이터를 보정하는 단계를 포함하되,
    상기 2개의 기준값들은,
    상기 검출 대상 화소와 동일한 컬러를 가지는 인접한 제1 화소의 화소값에 상기 제1 화소에 인접한 다른 컬러의 화소값의 변화량이 반영된 제1 기준값; 및
    상기 검출 대상 화소와 동일한 컬러를 가지는 인접한 제2 화소의 화소값에 상기 제2 화소에 인접한 다른 컬러의 화소값의 변화량이 반영된 제2 기준값을 포함하는 것을 특징으로 하는 결함 화소의 검출 방법.
  10. 제9항에 있어서, 상기 제1 기준값 및 상기 제2 기준값은 하기의 수학식에 따르는 것을 특징으로 하는 결함 화소의 검출 방법.
    REF1={(R3+R5)/2 -(R1+R3)/2}+G2
    REF2={(R3+R5)/2 -(R5+R7)/2}+G6
    상기 REF1는 제1 기준값을 나타내고, 상기 REF2는 제2 기준값을 나타낸다. 또한, R1, R3, R5, R7는 상기 검출 대상 화소와 다른 컬러를 가진 인접한 화소 데이터를 나타내고, G2, G6은 상기 검출 대상 화소와 동일한 컬러를 가진 인접한 화소 데이터를 나타낸다.
  11. 제9항에 있어서, 상기 기준값들의 산출은 상기 검출 대상 화소를 중심으로 로우 방향, 컬럼 방향 및 2개의 대각선 방향으로 각각 이루어지는 것을 특징으로 하는 결함 화소의 검출 방법.
  12. 제11항에 있어서, 상기 각각의 방향에 의해 도출된 기준값들을 모두 벗어나는 경우, 상기 검출 대상 화소를 결함 화소로 판단하는 것을 특징으로 하는 결함 화소의 검출 방법.
KR1020060076991A 2006-08-16 2006-08-16 결함 화소의 검출 방법 KR100825821B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020060076991A KR100825821B1 (ko) 2006-08-16 2006-08-16 결함 화소의 검출 방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020060076991A KR100825821B1 (ko) 2006-08-16 2006-08-16 결함 화소의 검출 방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20080015548A true KR20080015548A (ko) 2008-02-20
KR100825821B1 KR100825821B1 (ko) 2008-04-28

Family

ID=39383976

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020060076991A KR100825821B1 (ko) 2006-08-16 2006-08-16 결함 화소의 검출 방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100825821B1 (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9258555B2 (en) 2012-08-29 2016-02-09 Hanwha Techwin Co., Ltd. Apparatus and method for determining defect pixel

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101114586B1 (ko) 2010-02-08 2012-03-02 삼성전자주식회사 불량 화소 제거 장치 및 방법
KR20120114021A (ko) 2011-04-06 2012-10-16 삼성디스플레이 주식회사 불량 픽셀 보정 방법

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4252045B2 (ja) * 2005-05-13 2009-04-08 三洋電機株式会社 画素欠陥補正方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9258555B2 (en) 2012-08-29 2016-02-09 Hanwha Techwin Co., Ltd. Apparatus and method for determining defect pixel

Also Published As

Publication number Publication date
KR100825821B1 (ko) 2008-04-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101354669B1 (ko) 이미지 센서의 불량 화소 검출 방법 및 장치, 이미지센서로부터의 이미지 획득 방법 및 장치
US20050243181A1 (en) Device and method of detection of erroneous image sample data of defective image samples
US7978383B2 (en) Image processing circuit and image processing method
US8154632B2 (en) Detection of defective pixels in an image sensor
USRE44717E1 (en) Edge detecting method
JP4194336B2 (ja) 半導体集積回路、欠陥画素補正方法、及び画像プロセッサ
JP5060535B2 (ja) 画像処理装置
US6697522B1 (en) Image processing apparatus and method enabling proper correction of chromatic aberration
US8837852B2 (en) Apparatus and method for removing defective pixels
JP2007201530A (ja) 画素欠陥補正装置
JP5306298B2 (ja) 画像処理装置
CN104935838B (zh) 一种图像还原的方法
US8385642B2 (en) Method for removing color fringe in digital image
TWI437878B (zh) 用以校正影像訊號中壞點之方法及電路
TWI501653B (zh) 用於偵測、校正影像感測器中之壞像素之方法
US20060268134A1 (en) Pixel compensation method for an image sensor
TWI283833B (en) Color image dead pixel calibration method and its system
KR100825821B1 (ko) 결함 화소의 검출 방법
JP3721281B2 (ja) 画像欠陥補正方法およびこの方法を記録した記録媒体
US7433512B2 (en) Method and apparatus for finding and correcting single-pixel noise defects in a two-dimensional camera pixel field and a camera provided with such an apparatus
JPH0630425A (ja) 固体撮像装置
KR100831970B1 (ko) 결함 화소 검출 방법 및 이를 위해 사용되는 장치
JP2005309651A (ja) 撮像素子および撮像装置のシェーディング処理装置、およびシェーディング処理方法
JP4331120B2 (ja) 欠陥画素検出方法
KR100733010B1 (ko) 이미지 센서의 결함픽셀 보간 방법 및 장치

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
PA0109 Patent application

Patent event code: PA01091R01D

Comment text: Patent Application

Patent event date: 20060816

PA0201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
PE0902 Notice of grounds for rejection

Comment text: Notification of reason for refusal

Patent event date: 20070727

Patent event code: PE09021S01D

E701 Decision to grant or registration of patent right
PE0701 Decision of registration

Patent event code: PE07011S01D

Comment text: Decision to Grant Registration

Patent event date: 20080121

PG1501 Laying open of application
GRNT Written decision to grant
PR0701 Registration of establishment

Comment text: Registration of Establishment

Patent event date: 20080422

Patent event code: PR07011E01D

PR1002 Payment of registration fee

Payment date: 20080422

End annual number: 3

Start annual number: 1

PG1601 Publication of registration
PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20110414

Start annual number: 4

End annual number: 4

FPAY Annual fee payment
PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20120330

Start annual number: 5

End annual number: 5

FPAY Annual fee payment
PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20130327

Start annual number: 6

End annual number: 6

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20140328

Start annual number: 7

End annual number: 7

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20150327

Start annual number: 8

End annual number: 8

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20160330

Start annual number: 9

End annual number: 9

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20170329

Year of fee payment: 10

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20170329

Start annual number: 10

End annual number: 10

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20180330

Start annual number: 11

End annual number: 11

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20190325

Start annual number: 12

End annual number: 12

PC1903 Unpaid annual fee