KR20080012067A - Jig for calibrating camera - Google Patents
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Abstract
Description
도 1은 종래 카메라 교정용 지그가 척에 장착된 상태를 도시한 평면도이다. 1 is a plan view illustrating a conventional camera calibration jig mounted on a chuck.
도 2는 도 1의 지그가 척에 장착된 상태를 도시한 측면도이다.FIG. 2 is a side view illustrating a state in which the jig of FIG. 1 is mounted on the chuck. FIG.
도 3은 본 발명에 따른 카메라 교정용 지그의 일실시예를 도시한 사시도이다.3 is a perspective view showing an embodiment of a camera calibration jig according to the present invention.
도 4는 도 3에 도시된 지그의 평면도이다. 4 is a plan view of the jig illustrated in FIG. 3.
**도면의 주요부분에 대한 부호의 설명**** Description of the symbols for the main parts of the drawings **
20 : 카메라 교정용 지그20: camera calibration jig
21 : 베이스 플레이트21: base plate
23 : 제1이동 플레이트23: first moving plate
25 : 제2이동 플레이트25: second moving plate
27 : 회전 플레이트27: rotating plate
29 : 암29: cancer
본 발명은 지그에 관한 것으로, 특히, 웨이퍼 테스트시 사용되는 카메라 교정용 지그에 관한 것이다. The present invention relates to a jig, and more particularly, to a jig for calibrating a camera used in a wafer test.
일반적으로 고집적 반도체 소자의 제조 과정에는 웨이퍼 상에 특정의 패턴을 반복적으로 형성하여 집적회로를 형성하는 팹(FAB;fabrication) 공정과, 집적회로로 구성된 웨이퍼를 단위 칩으로 절단한 후 패키징하는 어셈블리(assembly) 공정이 포함된다. In general, a fabrication process of a highly integrated semiconductor device includes a fabrication (FAB) process in which a specific pattern is repeatedly formed on a wafer to form an integrated circuit, and an assembly that cuts and packages a wafer composed of integrated circuits into unit chips ( assembly) process.
그리고, 상기 팹 공정과 상기 어셈블리 공정의 사이에는 웨이퍼 상에 형성된 각 칩들의 전기적 특성을 검사하는 이디에스(EDS;electrical die sorting) 공정이 더 포함된다. 따라서, 이러한 이디에스 공정에 의해 웨이퍼를 구성하고 있는 칩들을 테스트한 다음, 이 테스트된 칩들 중에서 양/불량 칩을 판별한 후, 불량 칩을 수리하거나 제거함으로써 후속되는 어셈블리 공정에서의 조립 비용 및 검사 비용을 절감하고 있다. In addition, an electronic die sorting (EDS) process for inspecting electrical characteristics of each chip formed on the wafer is further included between the fab process and the assembly process. Therefore, by testing the chips constituting the wafer by such an ID process, and then identifying the good / bad chips among the tested chips, the repair cost and inspection in the subsequent assembly process by repairing or removing the bad chip Saving money
한편, 이디에스 공정에서는 웨이퍼를 테스트하기 위하여 가는 니들(needle)이 인쇄회로기판에 고정된 카드 즉, 프로브 카드가 사용되고 있다. 이와 같은 프로브 카드의 니들은 웨이퍼 상에 형성된 각 칩들의 패드에 접촉되어 칩 내부의 회로에 소정 전기 신호가 전달되도록 하는 역할을 한다. Meanwhile, in the DS process, a card in which a thin needle is fixed to a printed circuit board, that is, a probe card, is used to test a wafer. The needle of the probe card is in contact with a pad of each chip formed on the wafer so as to transmit a predetermined electrical signal to a circuit inside the chip.
하지만, 웨이퍼 상에 형성된 각 칩들의 패드는 매우 미세하기 때문에, 프로브 카드의 니들이 정확하게 얼라인되지 않으면, 프로브 카드의 니들은 웨이퍼 상에 형성된 각 칩들의 패드에 접촉되지 않고, 그 패드를 벗어난 영역에 접촉될 수 있다. However, since the pad of each chip formed on the wafer is very fine, if the needle of the probe card is not aligned correctly, the needle of the probe card does not contact the pad of each chip formed on the wafer, Can be contacted.
따라서, 이러한 문제를 방지하기 위해서는 웨이퍼를 테스트하기 전에 프로브 카드의 니들을 정확하게 얼라인해야만 하고, 이를 위해서는 프로브 카드의 니들에 대향되도록 설치된 카메라(이하,'E2 카메라'라 칭함)가 프로브 카드의 니들에 대하여 틀어지지 않도록 설치되어야만 한다. 이에, 최근에는 카메라 교정용 지그를 이용하여 E2 카메라의 틀어짐을 확인 및 교정시키고 있다. Therefore, in order to prevent such a problem, the needle of the probe card must be accurately aligned before testing the wafer, and for this purpose, a camera (hereinafter referred to as an "E2 camera") installed to face the needle of the probe card is called the needle of the probe card. It must be installed so as not to be misaligned. Therefore, recently, the camera has been checked and corrected for misalignment using the camera calibration jig.
도 1은 종래 카메라 교정용 지그가 척에 장착된 상태를 도시한 평면도이고, 도 2는 도 1의 지그가 척에 장착된 상태를 도시한 측면도이다.1 is a plan view illustrating a conventional camera calibration jig mounted on a chuck, and FIG. 2 is a side view illustrating a jig of FIG. 1 mounted on a chuck.
도 1과 도 2를 참조하면, 종래 카메라 교정용 지그(10)는 웨이퍼와 같은 원형 플레이트 형상의 몸체(12)와, 상기 몸체(12)의 상부에 고정되며 상기 몸체(12)로부터 그 외부 일측방향으로 소정길이 연장형성된 암(arm,16)으로 구성된다. 이때, 상기 암(16)의 끝단들 중 상기 몸체(12)의 외부에 위치한 상기 암(16)의 끝단에는 십자 마크 형상의 타겟(target,14)이 형성된다. 따라서, 작업자는 상기 지그(10)의 타겟(14)을 이용하여 E2 카메라(15)의 틀어짐을 확인 및 교정하게 된다. 1 and 2, the conventional
이하, 종래 카메라 교정용 지그(10)를 이용하여, E2 카메라(15)의 틀어짐을 확인 및 교정하는 방법을 설명하면 다음과 같다. Hereinafter, a method of confirming and correcting the distortion of the
먼저, 상기 카메라 교정용 지그(10)의 몸체(12)를 웨이퍼가 안착되는 척(11)의 상부에 안착시킨다. 이때, 상기 척(11)의 일측에는 E2 카메라(15)가 이미 설치된 상태이다. First, the
이후, 작업자는 척(11)의 일측에 설치된 E2 카메라(15)의 렌즈(17)의 타겟에 카메라 교정용 지그(10)의 암(16)에 형성된 타겟(14)이 상호 크로스(cross)되도록 손으로 지그(10)의 몸체(12)를 대략적으로 이동시킨다.Thereafter, the operator may cross the
이후, 카메라 교정용 지그(10)가 대략적으로 이동되면, 작업자는 터치펜(touch pen,미도시) 등을 이용하여 지그(10)의 몸체(12)를 두드리는 등의 방법으로 지그(10)의 몸체(12)를 조금씩 조금씩 미세하게 이동시킴으로써, 지그(10)의 암(16)에 형성된 타겟(14)을 E2 카메라(15)의 렌즈(17)의 타겟에 크로스시키게 된다. Then, when the
하지만, 종래 카메라 교정용 지그(10)의 경우, 그 이동을 대부분 손 등을 이용하여 수행하기 때문에, 지그(10)의 암(16)에 형성된 타겟(14)을 E2 카메라(15)의 렌즈(17)의 타겟에 완전히 크로스시키기까지는 많은 시간이 소요되는 문제점이 있다. However, in the case of the conventional
또한, 종래 카메라 교정용 지그(10)의 경우, 그 이동을 대부분 손 등을 이용하여 수행하기 때문에, 작업자의 숙련도에 따라 작업의 총시간 및 그 정밀도가 크게 좌우되어지는 문제점이 있다. In addition, in the case of the conventional
따라서, 본 발명은 이와 같은 문제점을 감안하여 안출한 것으로써, 본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는 지그의 암에 형성된 타겟을 E2 카메라의 렌즈의 타겟에 빠르게 크로스시킬 수 있는 카메라 교정용 지그를 제공하는데 있다. Accordingly, the present invention has been made in view of such a problem, and the technical problem to be achieved by the present invention is to provide a camera calibration jig that can quickly cross the target formed on the jig's arm to the target of the lens of the E2 camera. have.
그리고, 본 발명이 이루고자 하는 다른 기술적 과제는 작업자의 숙련도에 관계없이 보다 빠르게 E2 카메라의 틀어짐을 확인 및 교정시킬 수 있는 카메라 교정용 지그를 제공하는데 있다. In addition, another technical problem to be achieved by the present invention is to provide a camera calibration jig that can quickly check and correct the misalignment of the E2 camera regardless of the skill of the operator.
이와 같은 기술적 과제를 구현하기 위한 본 발명의 제1관점에 따르면, 척에 장착되며 상기 척을 기준으로 전후 좌우의 왕복이동 및 회전되는 몸체와, 상기 몸체에 고정되며 상기 몸체의 외부 일측 방향으로 소정거리 연장형성된 암 및, 상기 몸체의 외부에 위치하는 상기 암의 끝단에 형성된 타겟을 포함하는 카메라 교정용 지그가 제공된다. According to a first aspect of the present invention for realizing such a technical problem, the body is mounted to the chuck and reciprocated and rotated back and forth and left and right relative to the chuck, and fixed to the body and predetermined in one direction of the outer side of the body. There is provided a camera calibration jig comprising a distance extended arm and a target formed on the end of the arm located outside of the body.
다른 실시예에 있어서, 상기 몸체는 상기 척에 장착되는 베이스 플레이트와, 상기 베이스 플레이트의 상부에 결합되며 상기 베이스 플레이트를 기준으로 전후 방향이나 좌우 방향 중 어느 일편으로 왕복이동되는 제1이동플레이트와, 상기 제1이동플레이트의 상부에 결합되며 상기 베이스 플레이트를 기준으로 전후 방향이나 좌우 방향 중 다른 일편으로 왕복이동되는 제2이동플레이트 및, 상기 제2이동플레이트의 상부에 결합되며 상기 제2이동플레이트의 중앙부를 기준으로 회전되는 회전플레이트를 포함할 수 있다. In another embodiment, the body is a base plate mounted to the chuck, the first moving plate coupled to the upper portion of the base plate and reciprocating in either one of the front and rear or left and right directions relative to the base plate, A second moving plate coupled to an upper portion of the first moving plate and reciprocating to another one of front and rear directions or left and right directions relative to the base plate, and coupled to an upper portion of the second moving plate and It may include a rotating plate rotated based on the central portion.
한편, 본 발명의 제2관점에 따르면, 베이스 플레이트와, 상기 베이스 플레이트의 상부에 결합되며 상기 베이스 플레이트를 기준으로 전후 방향이나 좌우 방향 중 어느 일편으로 왕복이동되는 제1이동플레이트와, 상기 제1이동플레이트의 상부에 결합되며 상기 베이스 플레이트를 기준으로 전후 방향이나 좌우 방향 중 다른 일편으로 왕복이동되는 제2이동플레이트와, 상기 제2이동플레이트의 상부에 결합되며 상기 제2이동플레이트의 중앙부를 기준으로 회전되는 회전플레이트와, 상기 회전플레이트에 고정되며 상기 회전플레이트의 외부 일측 방향으로 소정거리 연장형 성된 암 및, 상기 회전플레이트의 외부에 위치하는 상기 암의 끝단에 형성된 타겟을 포함하는 카메라 교정용 지그가 제공된다.On the other hand, according to a second aspect of the present invention, the base plate, the first moving plate coupled to the upper portion of the base plate and reciprocating in any one of the front and rear or left and right directions relative to the base plate, and the first A second moving plate coupled to an upper portion of the moving plate and reciprocating to the other side of the front and rear or left and right directions with respect to the base plate, and coupled to an upper portion of the second moving plate and referred to a center portion of the second moving plate; And a rotating plate which is rotated by the rotation plate, the arm which is fixed to the rotating plate and extends a predetermined distance in one direction toward the outside of the rotating plate, and a target formed at the end of the arm located outside of the rotating plate. Jig is provided.
다른 실시예에 있어서, 상기 베이스 플레이트의 상부에는 상기 베이스 플레이트를 기준으로 전후 방향이나 좌우 방향 중 어느 일편으로 길게 연장형성된 제1래크가 구비될 수 있고, 상기 제1이동플레이트에는 상기 제1래크와 맞물려 회전되는 제1피니언과 상기 제1피니언에 연결된 제1연결축 및 상기 제1피니언의 회전을 조절하도록 상기 제1연결축에 연결된 제1손잡이가 구비될 수 있다. In another embodiment, the upper portion of the base plate may be provided with a first rack extended in any one of the front and rear or left and right directions relative to the base plate, the first movable plate and the first rack A first pinion which is engaged and rotated, a first connecting shaft connected to the first pinion, and a first handle connected to the first connecting shaft to adjust the rotation of the first pinion may be provided.
또다른 실시예에 있어서, 상기 제1이동플레이트의 상부에는 상기 베이스 플레이트를 기준으로 전후 방향이나 좌우 방향 중 다른 일편으로 길게 연장형성된 제2래크가 구비될 수 있고, 상기 제2이동플레이트에는 상기 제2래크와 맞물려 회전되는 제2피니언과 상기 제2피니언에 연결된 제2연결축 및 상기 제2피니언의 회전을 조절하도록 상기 제2연결축에 연결된 제2손잡이가 구비될 수 있다. In another exemplary embodiment, a second rack may be provided at an upper portion of the first movable plate and extended to the other side of the front and rear or left and right directions with respect to the base plate, and the second movable plate may be provided with the second rack. A second pinion rotated in engagement with the second rack, a second connecting shaft connected to the second pinion, and a second handle connected to the second connecting shaft to adjust the rotation of the second pinion may be provided.
또다른 실시예에 있어서, 상기 제2이동플레이트의 상부에는 회전홀이 형성될 수 있고, 상기 회전플레이트에는 상기 회전플레이트를 관통하여 상기 회전홀에 끼워지되 상기 회전플레이트에 고정된 회전축과 상기 회전축에 연결되어 상기 회전플레이트의 회전을 조절하는 제3손잡이가 구비될 수 있다. In another embodiment, a rotation hole may be formed on an upper portion of the second moving plate, and the rotation plate may be inserted into the rotation hole by passing through the rotation plate, and the rotation shaft fixed to the rotation plate and the rotation shaft. It may be connected is provided with a third handle for adjusting the rotation of the rotating plate.
이하, 첨부한 도면들을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예들을 상세히 설명하기로 한다. 그러나, 본 발명은 여기서 설명되어지는 실시예들에 한정되지 않고 다른 형태로 구체화될 수도 있다. 오히려, 여기서 소개되는 실시예들은 개시된 내 용이 철저하고 완전해질 수 있도록 그리고 당업자에게 본 발명의 사상이 충분히 전달될 수 있도록 하기 위해 제공되어지는 것이다. 명세서 전체에 걸쳐서 동일한 참조번호들은 동일한 구성요소들을 나타낸다. Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. However, the present invention is not limited to the embodiments described herein and may be embodied in other forms. Rather, the embodiments introduced herein are provided to enable the disclosed contents to be thorough and complete, and to fully convey the spirit of the present invention to those skilled in the art. Like numbers refer to like elements throughout.
도 3은 본 발명에 따른 카메라 교정용 지그의 일실시예를 도시한 사시도이고, 도 4는 도 3에 도시된 지그의 평면도이다. 3 is a perspective view showing an embodiment of a camera calibration jig according to the present invention, Figure 4 is a plan view of the jig shown in FIG.
도 3과 도 4를 참조하면, 본 발명의 일실시예에 따른 카메라 교정용 지그(20)는 척(도 1과 도 2의 11참조)에 장착되며 상기 척을 기준으로 전후 좌우의 왕복이동 및 회전되는 몸체(22)와, 상기 몸체(22)에 고정되되 상기 몸체(22)의 외부 일측 방향으로 소정거리 연장형성되며 직사각형 타입의 막대 형상으로 형성된 암(29) 및, 상기 암(29)의 끝단들 중 상기 몸체(22)의 외부에 위치하는 상기 암(29)의 끝단에 형성되며 십자 마크 형상으로 된 타겟(29a)을 포함한다. 3 and 4, the
이때, 상기 몸체(22)는 상기 척에 장착되는 베이스 플레이트(21)와, 상기 베이스 플레이트(221)의 상부에 결합되며 상기 베이스 플레이트(21)를 기준으로 전후 방향이나 좌우 방향 중 어느 일편 예를 들면, 전후 방향으로 왕복이동되는 제1이동플레이트(23)와, 상기 제1이동플레이트(23)의 상부에 결합되며 상기 베이스 플레이트(21)를 기준으로 전후 방향이나 좌우 방향 중 다른 일편 예를 들면, 좌우 방향으로 왕복이동되는 제2이동플레이트(25) 및, 상기 제2이동플레이트(25)의 상부에 결합되며 상기 제2이동플레이트(25)의 중앙부를 기준으로 회전되는 회전플레이트(27)로 구성될 수 있다. 그리고, 이와 같은 몸체(22)를 구성하는 각 플레이트(21,23,25,27)는 다소 얇은 두께를 갖는 원형의 형상으로 형성될 수 있으며, 알 루미늄 합금 재질 등의 재질로 형성될 수 있다. At this time, the
보다 구체적으로 설명하면, 상기 베이스 플레이트(21)의 상부에는 상기 베이스 플레이트(21)를 기준으로 전후 방향이나 좌우 방향 중 어느 일편 예를 들면, 전후 방향으로 길게 연장형성된 제1래크(21a)가 구비될 수 있고, 상기 베이스 플레이트(21)의 상부에 결합되는 제1이동플레이트(23)에는 상기 제1래크(21a)와 맞물려 회전되는 제1피니언(23c)과 상기 제1피니언(23c)에 연결된 제1연결축(23b) 및 상기 제1피니언(23c)의 회전을 조절하도록 상기 제1연결축(23b)에 연결되되 상기 제1이동플레이트(23)의 외부로 노출된 제1손잡이(23a)가 구비될 수 있다. More specifically, the upper part of the
따라서, 작업자가 상기 외부로 노출된 제1손잡이(23a)를 회전시키면, 상기 제1손잡이(23a)에 가해진 회전력은 상기 제1연결축(23b)을 통해 상기 제1피니언(23c)으로 전달되고, 상기 제1피니언(23c)은 상기 전달된 회전력에 의해 상기 제1래크(21a)와 맞물려 회전된다. 이때, 상기 제1래크(21a)가 구비된 상기 베이스 플레이트(21)는 상기 척에 장착되어 상기 척에 고정된 상태이므로, 상기 제1피니언(23c)의 회전은 결국 상기 제1이동플레이트(23)의 전후 이동을 초래한다. 결과적으로, 작업자가 상기 제1손잡이(23a)를 회전시킬 시 상기 제1이동플레이트(23)는 상기 제1손잡이(23a)에 가해진 회전력에 의해 상기 제1래크(21a)를 따라 전후로 이동된다. 이때, 상기 베이스 플레이트(21)와 상기 제1이동플레이트(23)의 사이에는 상기 제1이동플레이트(23)의 이동을 보다 원활하게 하기 위한 이동보조수단(미도시)이 더 구비될 수 있다. 예를 들면, 상기 베이스 플레이트(21)와 상기 제1이동플레이트(23)의 사이에는 다수의 볼 베어링 등이 더 개재될 수 있다. 이 경우, 상기 제1이동플레이트(23)의 이동은 상기 볼 베어링 등의 이동보조수단의 기능에 의하여 보다 원활해질 수 있다. Therefore, when the worker rotates the
그리고, 상기 제1이동플레이트(23)의 상부에는 상기 베이스 플레이트(21)를 기준으로 전후 방향이나 좌우 방향 중 다른 일편 예를 들면, 좌우 방향으로 길게 연장형성된 제2래크(23d)가 구비될 수 있고, 상기 제1이동플레이트(23)의 상부에 결합되는 제2이동플레이트(25)에는 상기 제2래크(23d)와 맞물려 회전되는 제2피니언(25c)과 상기 제2피니언(25c)에 연결된 제2연결축(25b) 및 상기 제2피니언(25c)의 회전을 조절하도록 상기 제2연결축(25b)에 연결되되 상기 제2이동플레이트(25)의 외부로 노출된 제2손잡이(25a)가 구비될 수 있다. In addition, an upper portion of the first moving
따라서, 작업자가 상기 외부로 노출된 제2손잡이(25a)를 회전시키면, 상기 제2손잡이(25a)에 가해진 회전력은 상기 제2연결축(25b)을 통해 상기 제2피니언(25c)으로 전달되고, 상기 제2피니언(25c)은 상기 전달된 회전력에 의해 상기 제2래크(23d)와 맞물려 회전된다. 이때, 상기 제2래크(23d)가 구비된 상기 제1이동플레이트(23)는 상기 제1래크(21a)와 상기 제1피니언(23c)의 맞물림으로 인해 좌우 방향으로는 이동이 어려운 상태이므로, 상기 제2피니언(25c)의 회전은 결국 상기 제2이동플레이트(25)의 좌우 이동을 초래한다. 결과적으로, 작업자가 상기 제2손잡이(25a)를 회전시킬 시 상기 제2이동플레이트(25)는 상기 제2손잡이(25a)에 가해진 회전력에 의해 상기 제2래크(23d)를 따라 좌우로 이동된다. 이때, 상기 제1이동플레이트(23)와 상기 제2이동플레이트(25)의 사이에는 상기 제2이동플레이트(25)의 이동을 보다 원활하게 하기 위한 이동보조수단(미도시)이 더 구비될 수 있다. 예를 들면, 상기 제1이동플레이트(23)와 상기 제2이동플레이트(25)의 사이에는 다수의 볼 베어링 등이 더 개재될 수 있다. 이 경우, 상기 제2이동플레이트(25)의 이동은 상기 볼 베어링 등의 이동보조수단의 기능에 의하여 보다 원활해질 수 있다. Therefore, when the worker rotates the
한편, 상기 제2이동플레이트(25)의 상부 중앙에는 회전홀(27c)이 형성될 수 있고, 상기 회전플레이트(27)에는 상기 회전플레이트(27)를 관통하여 상기 회전홀(27c)에 끼워지되 상기 회전플레이트(27)에 고정된 회전축(27b)과 상기 회전축(27b)에 연결되어 상기 회전플레이트(27)의 회전을 조절하되 상기 회전플레이트(27)의 상부로 노출된 제3손잡이(27a)가 구비될 수 있다. Meanwhile, a
따라서, 작업자가 상기 외부로 노출된 제3손잡이(27a)를 회전시키면, 상기 제3손잡이(27a)는 상기 회전홀(27c)과 상기 회전홀(27c)에 끼워지는 회전축(27b)의 기능으로 인하여 상기 제2이동플레이트(25)의 상부에서 회전된다. 이때, 상기 회전플레이트(27)는 상기 회전축(27b)에 고정되어 있으므로, 상기 회전축(27b)이 회전될 시 상기 회전축(27b)을 따라 같이 회전된다. 결과적으로, 작업자가 상기 제3손잡이(27a)를 회전시킬 시 상기 회전플레이트(27)는 상기 제3손잡이(27a)에 가해진 회전력에 의해 상기 제2이동플레이트(25)의 상부에서 회전된다. 여기서, 상기 제2이동플레이트(25)와 상기 회전플레이트(27)의 사이에는 상기 회전플레이트(27)의 회전을 보다 원활하게 하기 위한 회전보조수단(미도시)이 더 구비될 수 있다. 예를 들면, 상기 제2이동플레이트(25)와 상기 회전플레이트(27)의 사이에는 다수의 볼 베어링 등이 더 개재될 수 있다. 이 경우, 상기 회전플레이트(27)의 회전은 상기 볼 베어링 등의 회전보조수단의 기능에 의하여 보다 원활해질 수 있다. Therefore, when the operator rotates the
이하, 본 발명 카메라 교정용 지그(20)를 이용하여, 웨이퍼 테스트 장비에 사용되는 E2 카메라(도 1과 도2의 15 참조)의 틀어짐을 확인 및 교정하는 방법을 설명하면 다음과 같다. Hereinafter, a method of confirming and correcting a misalignment of an E2 camera (see 15 of FIG. 1 and FIG. 2) used in a wafer test apparatus using the
먼저, 본 발명 카메라 교정용 지그(20)의 몸체(22)를 웨이퍼가 안착되는 척의 상부에 안착시킨다. 이때, 상기 척의 일측에는 E2 카메라가 이미 설치된 상태이다. First, the
이후, 작업자는 척의 일측에 설치된 E2 카메라의 렌즈의 타겟에 본 발명 카메라 교정용 지그(20)의 암(29)에 형성된 타겟(29a)이 상호 크로스되도록 본 발명 지그(20)의 암(29)의 위치를 이동시킨다. 이때, 작업자는 손이나 터치펜 등으로 상기 지그(20)의 암(29)의 위치를 직접 이동시키지 않고 상기 몸체(22)에 구비된 손잡이들(23a,25a,27a)을 회전시킴으로써 상기 지그(20)의 암(29)의 위치를 이동시키게 된다. Thereafter, the
예를 들면, 상기 지그(20)의 암(29)을 전후 방향으로 이동시키고자 할 경우, 상기 제1손잡이(23a)를 회전시키게 되고, 상기 지그(20)의 암(29)을 좌우 방향으로 이동시키고자 할 경우, 상기 제2손잡이(25a)를 회전시키게 되며, 상기 지그(20)의 암(29)을 회전시키고자 할 경우, 상기 제3손잡이(27a)를 회전시키게 된다. For example, when the
따라서, 상기 손잡이들(23a,25a,27a)을 이용하여 본 발명의 지그(20)의 암(29)의 위치를 미세하게 이동시킬 경우, 본 발명 지그(20)의 암(29)에 형성된 타겟(29a)은 E2 카메라의 렌즈의 타겟에 빠르고 신속하게 크로스 된다.Therefore, when the position of the
이상, 본 발명은 도시된 실시예를 참고로 설명하였으나, 이는 예시적인 것에 불과하며, 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 그러므로 본 발명의 범위는 첨부된 특허청구의 범위와 이와 균등한 것들에 의해 정해져야 한다.As mentioned above, although the present invention has been described with reference to the illustrated embodiments, it is only an example, and those skilled in the art will understand that various modifications and equivalent other embodiments are possible therefrom. Therefore, the scope of the present invention should be defined by the appended claims and their equivalents.
상술한 바와 같이, 본 발명의 카메라 교정용 지그에 따르면, 종래와 같이 손이나 터치펜 등을 이용하여 불규칙한 방법으로 지그의 암에 형성된 타겟과 E2 카메라의 렌즈 타겟을 크로스시키는 것이 아니라 손잡이들의 회전을 통해 지그의 암을 전후 좌우 및 회전 이동시킴으로써 E2 카메라의 렌즈 타겟과 지그의 암에 형성된 타겟을 크로스시키기 때문에 보다 빠르게 크로스시킬 수 있게되는 효과가 있다. 결과적으로, 본 발명에 따르면, 손이나 터치펜 등의 불규칙한 요소가 살아지기 때문에 작업자의 숙련도에 관계없이 신속하게 E2 카메라의 틀어짐을 확인 및 교정시킬 수 있게 된다. As described above, according to the camera calibration jig of the present invention, by rotating the handles instead of crossing the target formed on the arm of the jig and the lens target of the E2 camera in an irregular manner using a hand or a touch pen as in the related art. By moving the arm of the jig back, forth, left and right, and rotation to cross the lens target of the E2 camera and the target formed on the arm of the jig, it is possible to cross more quickly. As a result, according to the present invention, since irregular elements, such as a hand or a touch pen, are alive, it is possible to quickly check and correct misalignment of the E2 camera regardless of the skill of the operator.
Claims (6)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020060073063A KR20080012067A (en) | 2006-08-02 | 2006-08-02 | Jig for calibrating camera |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020060073063A KR20080012067A (en) | 2006-08-02 | 2006-08-02 | Jig for calibrating camera |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20080012067A true KR20080012067A (en) | 2008-02-11 |
Family
ID=39340440
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020060073063A KR20080012067A (en) | 2006-08-02 | 2006-08-02 | Jig for calibrating camera |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR20080012067A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100947718B1 (en) * | 2008-04-16 | 2010-03-16 | 삼성토탈 주식회사 | Measurement Method of Direct Die Swell Raito for Melt State Resin and the Same Apparatus |
-
2006
- 2006-08-02 KR KR1020060073063A patent/KR20080012067A/en not_active Application Discontinuation
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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KR100947718B1 (en) * | 2008-04-16 | 2010-03-16 | 삼성토탈 주식회사 | Measurement Method of Direct Die Swell Raito for Melt State Resin and the Same Apparatus |
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Legal Events
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WITN | Withdrawal due to no request for examination |