KR20080009118A - 시스템 저항 성분의 측정에 기초한 분석대상물 측정에서의에러 검출 - Google Patents

시스템 저항 성분의 측정에 기초한 분석대상물 측정에서의에러 검출 Download PDF

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Abstract

전기화학적 테스트 스트립에서 동작 전극 및 반대 전극의 직렬 저항성분의 측정은 상기 테스트 스트립의 품질에 있어서의 복합적인 변화에 대한 에러 검출뿐만 아니라, 테스트 계측기에서 스트립의 동작을 제공한다. 특히, 직렬 저항성분의 단일 측정은 잘못된 독출이 (1) 손상된 전극 트랙, (2) 부식된 전극 표면, (3) 오염된 스트립 접촉, 또는 (4) 전극들 사이의 단락 회로 때문에 야기될 수 있을 때 에러 메시지를 감지하고 생성하기 위하여 이용될 수 있다.

Description

시스템 저항 성분의 측정에 기초한 분석대상물 측정에서의 에러 검출{Error detection in analyte measurements based on measurement of system resistance}
본 응용은 포도당과 같은 분석대상물의 전기화학적 측정에 있어서 이용을 위한 에러 정정 방법, 및 그러한 방법에 이용하기 위한 계측기(meter), 및 계측기-테스트 스트립(meter-test strip) 조합에 관한 것이다.
소형 일회용 전기화학적 테스트 스트립들은 당뇨병환자들에 의한 혈당의 측정에 빈번하게 사용된다. 그러한 테스트 스트립은 관심있는 다른 생리적 화학물질 및 남용 물질의 검출에 또한 이용될 수 있다. 일반적으로, 테스트 스트립은 적어도 두 개의 전극 및 수행될 테스트를 위한 적당한 시약을 포함하고, 한번 사용하는 일회용 요소로써 제작된다. 테스트 스트립은 재사용할 수 있는 계측기에 삽입하기 전 또는 후에 혈액, 침 또는 소변과 같은 샘플과 결합되고, 이는 테스트 스트립으로부터 전기화학적 신호를 탐지하고 처리하여 테스트 스트립에 의해 판별되는 분석 대상물의 존부 또는 양의 표시를 나타내도록 하는 메커니즘을 포함한다.
포도당의 전기화학적 검출은 전통적으로 포도당, 글루코스 산화효소(glucose oxidase)와 같은 포도당을 산화시키는 효소, 및 산화 환원 매개체의 존재/양에 대해 측정될 샘플을 포함하는 전기화학적 셀에 전위를 인가함으로써 이루어진다. 도 1에 도시된 바와 같이, 효소는 포도당을 글루코노락톤(gluconolacone) 및 효소의 환원된 형태로 형성하기 위하여 산화시킨다. 산화된 매개체는 활성 산화 효소를 재생성하고 환원된 매개체를 생성하기 위하여 환원된 효소와 반응한다. 환원된 매개체는 전극들 중 하나에서 산화되고, 그 다음으로 다른 전극에서 환원되거나 환원된 효소에 의하여 사이클을 완료하기위하여 다시 환원되고, 측정 가능한 전류를 야기한다. 측정된 전류는 샘플내의 포도당의 양에 관련되고, 다양한 기술들이 알려진 그러한 시스템에서 포도당 농도를 판별하는데 알려져 있다. (미국특허 제6,284,125호; 제5,942,102호; 제5,352,2,351호; 및 제5,243,516호 참조. 이는 여기서 참조로써 편입된다.)
전기화학적 테스트 스트립에서 작은 부피의 샘플을 이용하는 것이 일반적으로 바람직하다. 이러한 테스트들이 고려할만한 빈도로 실행되기 때문에, 쓰고 버릴 수 있는 일회용 테스트 스트립을 이용하고 스트립 당 비용을 최소화 하는 것이 바람직하다. 이러한 과제들은 덜 정밀한 제조 방법에 유리하다. 동시에, 가능한 최소 샘플 부피의 이용, 및 충분한 정확도 및 유용한 정확성의 측정에 대한 상충된 바람이 있다. 그러므로 사용 시점에 형성된 측정에 기초한 스트립의 품질에 있어서 복합적인 변화에 대해 보정을 하는 것, 또는 허용할 수 있는 파라미터들 밖으로 너무 멀리 벗어난 스트립을 제외시키는 것이 유용하다. 측정된 파라미터들 중 하나 또는 최소의 수에 기초하여 이러한 보정을 하는 것 또는 스트립을 각하시키는 것이 더욱 바람직하다.
본 발명은 테스트 스트립의 품질에 있어서 복합적인 변화에 대한 값의 보정을 제공하기 위하여 전기화학적 테스트 스트립 내의 동작 전극 및 상보 전극 쌍의 직렬 저항성분의 측정뿐만 아니라, 테스트 계측기에서 스트립의 동작의 이용을 촉진한다. 특히, 본 발명에 따르면, 잘못된 독출이 (1) 손상된 전극 트랙(track), (2) 부식된 전극 표면, (3) 오염된 스트립 접촉, (4) 전극 사이의 단락 회로 때문에 야기될 수 있을 때, 직렬 저항성분의 단일 측정이 에러 메시지를 검출하고 생성하는데 이용될 수 있다.
본 발명의 방법에 따르면, 혈액과 같은 샘플에서 포도당과 같은 분석대상물의 측정이 다음 단계들에 의하여 수행된다.
(a) 동작중인 전극 및 반대 전극들을 구비하는 전기화학적인 테스트 스트립에 샘플을 도입하는 단계;
(b) 상기 테스트 스트립의 상기 전극들 사이에 전위차, Vapp를 인가하고, 상기 샘플 내의 분석대상물의 측정을 제공하는데 충분한 전류 신호를 측정하는 단계;
(c) 시간 tswitch에 상기 인가되었던 전위를 스위치 오프하고, 어떠한 경우라도 즉각적인 전압 강하의 크기 Vdrop을 판별하는 단계;
(d) 미리 지정된 범위에 대하여 Vdrop의 상기 판별된 크기를 체크하고, 만일 상기 Vdrop의 크기가 상기 범위 밖으로 귀결되면 상기 테스트를 각하시키는 단계; 및
(e) 만일 상기 크기가 상기 미리 지정된 범위 내에 있다면, 분석대상물의 측정으로부터의 결과를 디스플레이하거나 통신하는 것을 진행하는 단계.
또한 본 발명은 직렬 전극 저항성분에 대한 추정을 제공하고 그것이 미리 지정된 범위 밖에 있다는 에러 메시지를 제공하도록 구성된 계측기를 제공한다.
더 나아간 구성에서, 본 발명은 직렬 전극 저항성분을 추정하고 그것이 전기화학적 테스트 스트립과 결합하여 미리 지정된 범위 밖에 있다는 에러 메시지를 제공하도록 구성된 계측기를 포함하는 측정 시스템을 제공한다.
도 1은 종래 전류측정 포도당 검출기에서 일어나는 전자 전달 반응을 도시한다.
도 2는 두 개의 다른 전기화학적 테스트 스트립 구성에서 관찰되는 시간 프로필에 대한 전류의 유형을 나타낸다.
도 3은 시간의 함수로써 전위의 변화를 도시하고, 이는 전류측정 모드 동안에 이용되는 인가된 전위가 스위치 오프되고 전위 측정이 수행되는 때이다.
도 4a 및 4b는 전극 테스트 스트립에 도입된 손상, 및 손상된 전극 및 손상되지 않은 전극에 대해 측정된 Vdrop에 있어서의 변화를 도시한다.
도 5는 본 발명의 실시예의 구성요소들을 개략적으로 나타낸다.
도 6은 계측기의 외부 모습을 도시한다.
도 7은 테스트 스트립의 연결 및 미터 내의 연결부를 도시한다.
도 8은 전류측정 및 전압측정 모드 사이의 스위칭에 대한 회로도를 도시한 다.
도 9는 전류측정 및 전압측정 모드 사이의 스위칭에 대한 회로를 도시한다.
Ⅰ. 정의
본 명세서 및 본 출원의 청구항들에서 이용되는 것으로써, 뒤따르는 정의들이 적용된다.
(a) '분석대상물'은 샘플 내에 존재할 수 있는 관심 있는 물질을 가리킨다. 본 출원에서, 예시들은 분석대상물로써 포도당을 이용하지만, 본 발명은 분석대상물의 종류 및 양 모두에 독립적이다. 따라서 포도당 검출 시스템에 대한 응용은 단지 특정적이고 제한하지 않는 실시예로써 개시되어야 한다.
(b) '분석대상물의 측정'은 정성적, 준-정량적 및 정량적인 샘플을 추정하기 위한 프로세스를 가리킨다. 정성적인 추정에서, 결과는 분석대상물이 샘플에서 검출되었는지 아닌지 여부를 나타낸다. 준-정량적인 추정에서, 결과는 분석 대상물이 어떠한 미리 지정된 문턱값을 넘어 존재하는지 아닌지 여부를 나타낸다. 정량적인 추정에서, 결과는 분석대상물 존재의 양의 수치적인 표시이다.
(c) '전기화학적 테스트 스트립'은 적어도 두 개의 전극 및 상기 전극들 사이에 위치한 샘플 내의 분석대상물의 측정을 위한 어떠한 필요한 시약을 구비하는 스트립을 가리킨다. 바람직한 실시예에서, 전기화학적 테스트 스트립은 한번 사용한 후 버릴 수 있고, 전위를 인가하고, 신호를 분석하고, 결과를 디스플레이하기 위한 전기기기들을 포함하는 분리되고 재사용할 수 있는 계측기에 부착하기 위한 결합부를 구비한다.
(d) '마주보는 전극들'은 평행하지만 서로로부터 분리된 판에 배치된 전극의 쌍이다. 마주보는 적극들의 쌍의 대비되는 표면의 일부 또는 전부는 겹치지만, 그로인해 전극들 사이의 전위 기울기 및 전류 흐름이 본질적으로 대비되는 표면에 수직인 방향에 있다. 마주보는 전극들은 두 개의 전극 표면이 동일 평면에 놓여있고, 전위 기울기 및 전류 흐름이 전극의 표면에 본질적으로 평행한 나란한 전극들과 구별된다. 본 발명은 마주보는 또는 나란한 전극들 중 어디라도 이용될 수 있다.
(e) '미리 지정된 양'은 특정 계측기 또는 테스트 스트립 또는 계측기/스트립 결합에 대하여 실험적으로 판별된 양을 나타내도록 본 출원에서 이용된다. 미리 지정된 양은 요구되는 신뢰 레벨을 고려하여 사용자의 요구에 대한 최적화를 반영하고, 최적의 가능한 결과 또는 100% 정확성을 획득할 필요는 없다.
(f) 인가된 전위의 '스위치 오프'는 전극들 사이의 전위를 판별하기 위하여 두 개의 층 내의 강화된 화학적 농도 기울기 및 이온 흡수를 허용하도록 전류를 영(zero)이 되도록 강제하는(스위치를 열거나 회로에 높은 임피던스(impedance)를 도입함에 의하여) 개방 회로의 생성을 가리킨다. 이는 전압을 0 볼트로 설정하는 것과 같은 것은 아니다.
(g) '직렬 전극 저항성분'은 인가된 전압, 및 전극에서 전기화학에 의해 인지되는 실제 전압 사이의 차이를 야기한다. 전극 저항성분은 전극 물질의 저항성분 및 전극과 결합된 연결부의 결과로써 발생하고, 이는 전극 및 유사한 요소의 부식이다.
(h) Vdrop은 직렬 전극 저항성분의 결과로서 발생한 인가된 전압 및 전극에서의 실제 전압 사이의 차이이다.
(i) '매개체'는 전기화학적으로 검출되는 화학적 종을 가리킨다. 포도당과 같은 분석대상물의 검출에 적절한 수많은 전자 전달 매개체가 알려졌고, 제한 없이 철(iron), 루테늄(ruthenium), 및 오스뮴(osmium) 화합물들을 포함한다. 본 발명의 어떠한 실시예들에서, 매개체는 하나 또는 그 이상의 반응 단계들을 통하여 생성되고, 포도당과 같은 실제 분석대상물의 농도에 관련된다. 그러나 본 발명은 또한 검출된 화학종이 검출되어야 할 분석대상물의 환원된 형태인 환경에 적용 가능하고, 이는 또한 본 발명의 실시예이다.
본 출원의 명세서 및 청구항 내의 수적인 값은 중요한 도면의 수와 동일한 수로 줄었을 때 수적인 값과 그 선언된 값의 차이가 및 그 값을 측정하기 위하여 이용된 기술의 실험적인 오차보다 작으면 동일한 것인 수적인 값을 포함함이 인지되어야 한다.
Ⅱ. 분석대상물의 검출, 예를 들면 글루코스
도 2는 두 개의 다른 전기화학적 테스트 스트립 구성에서 관찰되는 시간 프로필에 대한 전류를 도시하고, 여기서 전기화학적 시약은 초기에 오직 동작 전극 상에만 배치되고, 반대 전극 상에는 배치되지 않는다. 두 경우 모두에서, 전류 변화는 전위의 인가을 뒤따라 나타나는 시간 스케일 상에서 즉각적인 초기 전류(21)를 도시한다. 이러한 전류는 전극들의 표면에서 두 개의 층의 초기 전하축적에 관 련된다. 그 이후에, 전류가 줄어들고, 이는 전류가 동작 전극에서 반대 전극으로 확산되는 매개체에 의존하기 때문이다. 이러한 감소된 전류의 구간(참조번호 20의 화살표에 의해 나타남)은 전극들 사이의 거리 및 매개체의 이동도에 의존한다. 매개체의 이동도는 매개체 자신의 특성, 즉 확산 상수이지만, 또한 헤마토크릿(hematocrit) 및 점성과 같은 샘플의 다른 특성들에 의존한다. 감소된 전류의 기간(20) 이후에, 전류는 정점 전류(22)로 빠르게 상승한다. 마주보는 전극들의 경우, 전류는 전극들 사이의 매개체의 재순환 또는 왕복을 반영한 안정된 전류(23)로 감소한다. 나란한 전극들의 경우에, 전류는 점선(24)에 의해 나타난 바와 같이 표현된 시간 척도에서 계속해서 감소한다. 더 오랜 시간에서, 이러한 곡선(24)은 또한 만약 전극이 서로 충분히 가까워지면 매개체의 재순환/왕복의 효과를 나타낼 수 있다.
정점을 뒤따르는 감소 영역에서, 재순환이 우세해지기 전에, 전류 감소는 Cottrell 식 즉 다음의 수학식 1에 의해 모델화 될 수 있다.
Figure 112007081759326-PCT00001
여기서 I는 전류이고, t는 시간이다. Cottrell 분석은 미국특허 제5,243,516호, 제5,352,351호, 및 제6,284,125호에 나타난 바와 같이 포도당 농도를 판별하기 위하여 이용될 수 있다. 공개된 2005년 4월 15일에 출원된 미국특허출원 제10/907,803호는 인가된 전위가 분석대상물의 측정에 대한 데이터를 획득하기 위하 여 전류를 측정한 후에 스위치 오프될 때 획득된 이동도 정정을 포함하는 분석대상물 농도의 Cottrell 분석을 개시하고, 이는 여기에서 참조로써 편입된다.
Cottrell 분석에 대한 대안으로서, 도 2의 안정 영역(23)의 전류는 분석대상물 농도를 판별하기 위하여 이용될 수 있다. 이러한 유형의 측정은 여기에서 참조로써 편입되는 공개된 미국특허출원 제10/924,510호에 묘사된 바와 같이 전도 셀 테스트 스트립을 이용할 때 특히 적용 가능하다.
사용자에게 통신/디스플레이 되는 분석대상물 농도의 수치적인 값을 측정하는데 있어서, 많은 스트립들에 대한 측정값들에 기초한 하나 또는 그 이상의 정정 요소, 또는 분석동안 형성된 측정이 적용될 수 있다. 나아가, 룩업 테이블(look up table) 또는 다른 변환 시스템이 가공되지 않은 값을 사용자에게 통신/디스플레이 하는데 의미 있는 값으로 변환하기위하여 이용될 수 있음이 인지될 수 있다.
Ⅲ. Vdrop의 측정
충분한 정보가 분석대상물의 판별을 형성하기위하여 수집된 후에, 인가된 전위가 시간 tswitch에 스위치 오프된다. 이러한 시점에, 화학적 전위 기울기의 결과로써 전극들 사이의 전위차가 남아있다. 저항성분의 부재에서, 이러한 전위가 시스템내의 매개체의 이동도에 의하여 판별되는 시간 상수에 따라 줄어든다. 그러나 탄소 전극 또는 다른 저항원을 갖는 전기화학적 스트립의 실제 전압 프로필이 측정될 때, 즉각적인 전압 강하가 인가되었던 전위가 스위치 오프된 이후에 측정된다. 이러한 강하의 크기 Vdrop은 몇몇 요소의 함수이고, 이는 전극 물질 및 전극에 연결된 연결부의 저항성분, 전극의 부식, 및 유사한 요소들을 포함한다. 그러므로 강하는 금으로 만들어진 것과 같은 낮은 저항 전극에서보다 탄소전극에서 더 크지만, 직렬 저항의 다른 근원의 전극 물질이 존재하는지에 관계없이 여전히 존재할 수 있다.
Vdrop의 크기는 tswitch 이후에 전극들 사이에 전위차를 측정함에 의해 판별된다. 전위 감소는 필연적으로 즉각적이고, 즉, 이는 tswitch 이후에 약 처음 1 밀리세컨드(millisecond) 내에 일어난다. 그러므로, 본 발명의 일 실시예에서, Vdrop은 인가 전압 Vapp 및 tswitch 이후에 어떠한 굉장히 짧은 간격 예를 들면 tswitch 이후에 1 밀리세컨드에 측정된 전압 사이의 차이로써 근사될 수 있다. 그러나 즉각적인 전압이 발생한 이후에 더 느린 속도이기는 하나 전위 차이가 감소를 계속하기 때문에 이러한 접근은 이상적이지 않고, 이러한 추가적인 감소의 속도는 샘플에 독립적이다. 이러한 것은 오직 하나의 즉각적인 값이 이용된다는 사실을 더하여 이러한 방법에서 Vdrop의 측정이 중요하고 재현할 수 없을 수 있는 에러에 의존한다는 것을 의미한다.
그러므로 Vdrop을 측정하는 바람직한 방법은 본질적으로 Vdrop이 발생한 후에 형성되는 전위 측정에 기반을 둔다. 도 3은 전류측정 모드(amp) 동안에 이용된 인가되었던 전위가 스위치 오프되고, 전위측정 모드(pot mode)가 되었을 때 시간의 함수로서 전위의 변화를 도시한다. 간격(32)은 저항성분의 결과로써 전압 감소가 발생하고 그 이후의 전압 감소가 선형 모델에 무리 없이 맞춰질 수 있도록 선택된 미리 지정된 시간이다. 본 발명의 어떠한 실시예들에서, 간격(32)은 0.5에서 2 밀리세컨드이고, 예를 들면 1 밀리세컨드이다.
예를 들면 영역(33)에 있는 것과 같은, 간격(32)이 지나간 후에, 시간 좌표에 대한 전위에 있어서의 데이터 지점은 tswitch로 보간된 선의 기울기 및 절편을 판별하기 위하여 선형 모델로 맞춰진다. 전기화학적 전압인 Velect은 이러한 직선 보간을 가정하면 tswitch에서 전압으로서 판별된다.
Vdrop은 그 다음으로 다음 수학식 2에 의하여 얻어진다.
Vdrop = Vapp - Velect
비선형 조절은 또한 이것이 특정 스트립 구조에 대하여 더 나은 모델을 제공한다면 이용될 수 있다.
Ⅳ. Vdrop을 이용한 에러 정정
에러를 검출하기 위하여, Vdrop의 측정된 크기는 미리 지정된 범위에 대하여 체크되고, 테스트는 만약 Vdrop의 크기가 범위 밖으로 귀결되면 각하된다. 본 발명의 어떠한 실시예에서, 미리 지정된 범위는 하나의 경계에서 제한이 없고, 따라서 단일 문턱값과 같다. 본 발명의 다른 실시예들에서, 미리 지정된 범위는 상위 및 하위 경계 모두를 갖는다.
미리 지정됨 범위의 경계들에 대한 적절한 값을 판별하기 위하여, 복수의 테 스트 스트립이 에러 상태를 배제하도록 가정되는 조건 하에서 테스트 된다. 이러한 측정들은 대면될 수 있는 일반전인 값들의 범위를 판별한다. 두 번째 실험 구성은 그 다음으로 에러가 의도적으로 도입되는 테스트 스트립 내에서 수행된다. 예를 들면, 테스트 스트립은 예를 들어 전극 표면을 마찰시킴에 의해 의도적으로 손상될 수 있고, 의도적으로 부식되고, 연결부가 일반적인 직렬 전극 저항성분보다 높은 저항성분을 갖고 그로인해 더 높은 Vdrop 값을 갖는 스트립을 생성하기 위하여 의도적으로 오염될 수 있다. 마지막으로, 낮은 레벨의 Vdrop을 생성하도록 기대되는 실험 구성, 예를 들면 단락된 전극을 갖는 실험이 수행될 수 있다. 이러한 실험 구성들 각각에 대한 Vdrop의 값이 선을 따라서 도시되고, 모두는 아니더라도 신뢰 범위 또는 문턱값이 에러가 없는 측정 및 본질적으로 에러 측정이 없는 것이 범위에 포함되는 것들 대부분에서 정의된다. 도 4B는 이러한 방법으로 판별되는 데이터의 하나의 세트를 도시한다.
Ⅴ. 본 발명의 장치
본 발명의 방법은 동작 전극 및 반대 전극을 갖는 어떠한 스트립과 함께 이용될 수 있고, 이는 계측기 장치가 스트립을 수취할 수 있도록 제공되는 것을 제공하고, 필요한 전압의 응용 및 신호 처리를 제공한다. 그러한 계측기는 또한 본 발명의 한 구성을 형성한다. 그러므로 본 발명은 동작 전극 및 반대 전극을 구비하는 전기화학적 테스트 스트립을 수취하고, 수취되었을 때 전기화학적 테스트 스트립에 적용된 샘플 내의 분석대상물의 측정을 제공하는 계측기를 제공하고, 상기 계측기 는,
(a) 전기화학적 테스트 스트립을 수취하기 위한 슬롯을 구비하는 하우징;
(b) 사용자로부터 입력을 수신하고 사용자에게 결과를 통신하기 위한 통신 수단;
(c) 전위를 인가하고 측정된 전류로부터 분석대상물 농도를 판별하는 수단;
(d) 전위를 스위치 오프하고 Vdrop을 판별하기 위한 수단; 및
(e) 미리 지정된 범위와 Vdrop을 비교하고 만약 Vdrop이 범위 밖으로 귀결되었다면 결과의 위치에서 에러 메시지를 생성하는 수단을 포함한다.
도 5는 본 발명의 실시예의 구성요소들을 개략적으로 도시한다. 도 5에 도시된 바와 같이 전위 51은 회로 55에 의하여 생성되고 테스트 스트립(50)에 인가된다. 이는 53에 저장되는 전류 신호 52를 야기한다. 시간 tswitch에, 마이크로프로세서 54는 회로 55가 전위 인가를 중지하고 테스트 스트립 내의 전위차(56)를 측정하는 것을 개시하도록 야기하고, 직렬 전극 저항성분을 측정한다. 만약 직렬 전극 저항성분이 허용 가능한 값의 미리 지정된 범위 밖으로 귀결된다면, 에러 메시지가 디스플레이(57)로 전송된다. 그렇지 않으면, 저장된 전류 데이터는 53으로부터 검색되고, 결과는 판별되고 디스플레이(57)로 전송된다.
도 6은 본 발명에 따른 계측기의 외부 모습을 도시한다. 계측기는 하우징(61), 및 디스플레이(62)를 갖는다. 하우징(61)은 슬롯(63)을 갖고, 그곳으로 테스트 스트립이 이용을 위하여 삽입된다. 계측기는 또한 측정 사이클의 개시에 대한 신호를 보내기 위한 버튼(64)을 구비할 수 있고, 또는 테스트 스트립의 삽입 또는 샘플의 적용을 감지하기 위한 내부 메커니즘을 가질 수 있다. 그러한 메커니즘은 본 기술분야에서 알려져 있고, 예를 들면 여기서 참조로써 편입되는 미국특허 제5,266,179호, 제5,320,732호, 제5,438,271호, 및 제6,616,819호로부터 알 수 있다. 본 발명의 계측기에서, 버튼, LCD 디스플레이와 같은 디스플레이, RF, 적외선 또는 다른 무선 송신기, USB와 같은 선 연결부, 병렬 또는 직렬 연결들은 사용자로부터 입력을 수신하고 사용자에게 출력을 통신하는 수단을 구성하고, 개별적이고 다양한 조합으로 이용될 수 있다.
도 7은 테스트 스트립으로의 계측기의 연결이 도시된 내부도를 도시한다. 도시된 바와 같이, 테스트 스트립(71)은 전극이 계측기의 접촉 74, 75와의 전기적인 접촉에 위치되도록 하는 접촉 72, 73을 구비한다.
전위를 인가하고 측정된 전류로부터 분석대상물 농도를 판별하기 위한 수단, 전위를 스위치 오프하고 Vdrop을 판별하기 위한 수단, 및 미리 지정된 범위와 Vdrop을 비교하고 만약 Vdrop이 범위 밖으로 귀결되면 결과의 위치에서 에러 메시지를 생성하는 수단은 회로를 포함하고, 이는 전류측정 및 전위측정 모드 사이에 바람직한 스위칭을 제공하고 묘사된 바와 같이 전류 및 전압을 모니터하기 위한 회로 및 플래시 메모리(flash memory), EEPROMS, 또는 배터리 구동 RAM과 같은 저장 콤포넌트와 상호작용하는 프로그램 된 마이크로프로세서와 연결된 회로 기판 상에 있는 것과 같은 것이다.
전류가 측정되는 동작의 전류측정 모드 및 전극들 사이의 전위차가 측정되는 동작의 전위측정 모드 사이에 스위칭하는데 적절한 장치는 2004년 5월 30일에 출원된 미국 가출원 제60/521,592호, 2005년 3월 25일에 출원된 미국 가출원 제 60/594,285호, 및 2005년 4월 15일에 출원된 미국특허출원 제10/907,790호에서 묘사되고, 이는 여기서 참조로써 편입된다.
도 8은 도 5의 회로 55로써 유용한 회로의 전기적인 구조를 도시한다. 그러나 다른 구성요소들이 또한 이용될 수 있음이 인식될 것이고, 이는 전압을 인가하고 스위칭하는 것에 있어서 동일한 결과를 가져온다. 동작 전극(80)은 스위치 82를 포함하는 연결부를 통하여 연산증폭기 81 및 연산증폭기 83에 연결된다. 반대 전극(84)은 연산증폭기 85 및 86에 연결된다. 연산증폭기 83, 85, 및 86은 높은 임피던스 입력 증폭기이다. 분석대상물을 판별하기 위하여 전류측정 모드에서 동작할 때, 전압 V2는 연산증폭기 81에 인가되고, 전압 V1은 연산증폭기 85에 인가되고, V2는 V1보다 크다. 전극들 사이의 전위차를 야기하는 것은 분석대상물의 양에 관련되는 전류의 생성을 야기하고, 이러한 전류는 출력 87에서 측정되고 분석대상물의 존재 또는 양의 표지로 변환된다. 스위치 82가 개방 회로를 생성하고 전위차의 전용을 중단하기 위하여 개방될 때, 전류 흐름이 끊기고, 증폭기 83의 출력이 동작 전극(80)의 전위로 가정되는 동시에 증폭기 86의 출력이 반대 전극의 전위로 가정된다. 연산증폭기 83 및 연산증폭기 86으로부터의 출력 사이의 차이는 화학적 전위에 있어서의 감소를 나타내고, 부분적으로 채워짐의 표지를 생성하기 위하여 상술된 방법에 따라 프로세스 된다.
도 9는 오직 두 개의 연산증폭기 및 증가된 수의 스위치를 이용하는 이러한 회로의 대안적인 버전을 도시한다. 동작 전극(80)은 입력 전압 V2를 수신하는 연산증폭기 81에 연결된다. 반대 전극(84)는 두 개의 스위치 패스 중 하나를 통해서 높은 입력 임피던스 연산증폭기 90에 연결된다. 입력 전압 V1은 세 번째 스위치 패스를 통하여 회로에 연결된다. 스위치 91 및 93이 닫히고, 스위치 92가 열렸을 때, 회로는 전류측정 모드에서 기능하고, 참조번호 95에 있는 출력은 전극에서 전류 흐름을 반영한다. 스위치 92가 닫히고 스위치 91 및 93이 열렸을 때, 회로는 전위측정 모드에서 동작하고 95에서의 출력은 반대 전극의 전위로 여겨진다(도 8의 증폭기 86과 유사하다). 그러므로 95에서의 출력은 전극들 사이의 전위차를 간접적으로 반영한다. 전극들 사이의 실제 전위차는 95에서의 출력 및 연산증폭기 81의 출력(동작 전극, 80) 사이의 차이이다.
Ⅵ. 측정 시스템
실제 사용에서, 상술된 계측기는 포도당과 같은 특정 분석대상물의 측정을 위한 전기화학적인 테스트 스트립과 결합된다. 측정 시스템이라 참조되는 이러한 결함은 본 발명의 더 나아간 구성을 형성한다.
Ⅶ. 예시
스트립 손상 및 Vdrop의 측정된 값 사이의 관계를 사정하기 위하여, 테스트 스트립의 두 개의 세트가 추정되어야 한다. '일반' 셀들 상에서의 데이터를 위하 여, 측정은 탄소 전극이 인쇄된 마주보는 스크린, 625 나노리터의 아주 적은 샘플, 및 창(viewing window)을 구비하는 전기화학적인 테스트 스트립을 이용하여 형성된다. 손상된 셀들 상의 데이터를 위하여, 동일한 유형의 스트립이 이용되지만, 흠집이 동작 전극 트랙(41) 내의 좁은 영역을 생성하는 테스트 스트립의 면에 새겨진다(도 4a).
테스트에 이용되는 혈액 샘플은 VacutainerTM 튜브를 이용하여 신선하게 얻어지고(8시간 이내의 것), 항혈액응고제(anticoagulant)로서 EDTA로 안정화된다.
Vdrop은 시간 tswitch로 선형 근사를 이용하여 전위 감소를 보간함으로써 판별되는 Vdrop과 함께 Vapp-Vdrop로부터 판별된다.
도 4b는 손상된 테스트 스트립(원) 및 손상되지 않은 테스트 스트립(사각형)에 대한 Vdrop의 판별된 값을 도시한다. 선 A는 이러한 테스트 스트립에 대한 적절한 문턱값(개방된 범위)을 도시하고, 이는 130mV의 값을 갖는다.

Claims (15)

  1. (a) 동작 전극 및 반대 전극을 구비하는 전기화학적 테스트 스트립에 샘플을 도입하는 단계;
    (b) 상기 테스트 스트립의 상기 전극들 사이에 전위차 Vdrop을 인가하고, 상기 샘플 내의 분석대상물의 측정을 제공하기 위한 충분한 전류 신호를 측정하는 단계;
    (c) 시간 tswitch에서 상기 인가되었던 전위를 스위치 오프하고 직렬 전극 저항성분으로부터 발생하는 전압 강하의 크기 Vdrop을 만약 존재한다면 판별하는 단계;
    (d) 미리 지정된 범위에 대하여 Vdrop의 판별된 크기를 체크하고 만약 상기 Vdrop의 크기가 상기 범위의 밖에 귀결되면 테스트를 각하시키는 단계; 및
    (e) 만약 상기 크기가 상기 미리 지정된 범위 내라면, 분석대상물의 측정으로부터의 상기 결과를 디스플레이하거나 통신하는 것을 계속하는 단계를 포함하는 샘플 내의 분석대상물의 측정을 위한 방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 Vdrop은 Vapp 및 tswitch 이후의 미리 지정된 시간에서 측정된 전위 사이의 전위차로써 정의되는 것을 특징으로 하는 샘플 내의 분석대상물의 측정을 위한 방법.
  3. 제1항에 있어서, 상기 Vdrop은 Vapp 및 전기화학적 전위 Velect 사이의 전위차로서 정의되는 것을 특징으로 하는 샘플 내의 분석대상물의 측정을 위한 방법.
  4. 제3항에 있어서, 상기 Velect은 직렬 전극 저항에 연관된 전위 감소가 발생할 때 tswitch 이후의 시간 간격에서 측정된 전압 감소를 보간하고 시간 tswitch에서 보간된 전위값을 판별함에 의하여 측정되는 것을 특징으로 하는 샘플 내의 분석대상물의 측정을 위한 방법.
  5. 제4항에 있어서, 상기 tswitch 이후의 시간 간격은 0.5 내지 2 밀리세컨드 사이인 것을 특징으로 하는 샘플 내의 분석대상물의 측정을 위한 방법.
  6. 제5항에 있어서, 상기 tswitch 이후의 시간 간격은 1 밀리세컨드인 것을 특징으로 하는 샘플 내의 분석대상물의 측정을 위한 방법.
  7. 동작 전극 및 반대 전극을 구비하는 전기화학적 테스트 스트립을 수취하고 수취되었을 때 상기 전기화학적 테스트 스트립에 적용되는 샘플 내의 분석대상물의 측정을 제공하는 계측기에 있어서,
    (a) 상기 전기화학적 테스트 스트립을 수취하기 위한 슬롯을 구비하는 하우징;
    (b) 사용자로부터 입력을 수신하고 사용자에게 결과를 통신하기 위한 통신 수단;
    (c) 전위를 인가하고 측정된 전류로부터 상기 분석대상물 농도를 판별하기위한 수단;
    (d) 시간 tswitch에 스위치 오프하고 Vdrop을 측정하기 위한 수단; 및
    (e) 미리 지정된 범위와 Vdrop을 비교하고 만약 Vdrop이 상기 범위 밖으로 귀결된다면 결과의 위치에서 에러 메시지를 생성하는 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 계측기.
  8. 제7항에 있어서, 상기 Vdrop은 Vapp 및 tswitch 이후의 미리 지정된 시간에서 측정된 전위 사이의 전위차로써 정의되는 것을 특징으로 하는 계측기.
  9. 제7항에 있어서, 상기 Vdrop은 Vapp 및 전기화학적 전위 Velect 사이의 전위차로서 정의되는 것을 특징으로 하는 계측기.
  10. 제9항에 있어서, 상기 Velect은 직렬 전극 저항성분에 연관된 전위 감소가 발 생할 때 tswitch 이후의 시간 간격에서 측정된 전압 감소를 보간하고 시간 tswitch에서 보간된 전위값을 판별함에 의하여 측정되는 것을 특징으로 하는 계측기.
  11. 제10항에 있어서, 상기 tswitch 이후의 시간 간격은 0.5 내지 2 밀리세컨드 사이인 것을 특징으로 하는 계측기.
  12. 제11항에 있어서, 상기 tswitch 이후의 시간 간격은 1 밀리세컨드인 것을 특징으로 하는 계측기.
  13. 제7항에 따른 계측기, 및 상기 하우징 내에 배치된 전기화학적 테스트 스트립을 포함하는 측정 시스템.
  14. 제13항에 있어서, 상기 전기화학적 테스트 스트립은 샘플 내의 포도당을 측정하는 것을 특징으로 하는 측정 시스템.
  15. 분석대상물 측정동안 직렬 전극 저항성분의 크기를 판별하는 단계, 미리 지정된 범위에 대하여 상기 직렬 전극 저항성분의 상기 측정된 크기를 체크하는 단계, 및 만약 직렬 전극 저항성분의 상기 크기가 상기 범위의 밖에 있다면 상기 테스트를 각하시키는 단계를 포함하는 전기화학적 테스트 스트립에서 분석대상물 측 정에 있어서의 잘못된 조건을 감지하는 방법.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20150131050A (ko) * 2013-03-15 2015-11-24 아가매트릭스, 인코포레이티드 분석물질 탐지 미터기 및 연관된 사용 방법

Families Citing this family (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8260393B2 (en) 2003-07-25 2012-09-04 Dexcom, Inc. Systems and methods for replacing signal data artifacts in a glucose sensor data stream
US8010174B2 (en) 2003-08-22 2011-08-30 Dexcom, Inc. Systems and methods for replacing signal artifacts in a glucose sensor data stream
US20190357827A1 (en) 2003-08-01 2019-11-28 Dexcom, Inc. Analyte sensor
US20140121989A1 (en) 2003-08-22 2014-05-01 Dexcom, Inc. Systems and methods for processing analyte sensor data
US8364231B2 (en) 2006-10-04 2013-01-29 Dexcom, Inc. Analyte sensor
US8532730B2 (en) 2006-10-04 2013-09-10 Dexcom, Inc. Analyte sensor
EP1711791B1 (en) 2003-12-09 2014-10-15 DexCom, Inc. Signal processing for continuous analyte sensor
US20060009727A1 (en) * 2004-04-08 2006-01-12 Chf Solutions Inc. Method and apparatus for an extracorporeal control of blood glucose
US20100094114A1 (en) * 2008-10-09 2010-04-15 Mark Ries Robinson Use of multiple calibration solutions with an analyte sensor with use in an automated blood access system
US20090048535A1 (en) * 2007-08-13 2009-02-19 Mark Ries Robinson Detecting Cross-contamination in Blood Measurements with a Multilumen Catheter
US8323194B2 (en) 2009-12-18 2012-12-04 Inlight Solutions, Inc. Detection of bubbles during hemodynamic monitoring when performing automated measurement of blood constituents
US20090156975A1 (en) * 2007-11-30 2009-06-18 Mark Ries Robinson Robust System and Methods for Blood Access
US20090054754A1 (en) * 2007-08-21 2009-02-26 Mcmahon Dave Clinician-controlled semi-automated medication management
US20100168535A1 (en) * 2006-04-12 2010-07-01 Mark Ries Robinson Methods and apparatuses related to blood analyte measurement system
WO2009117416A1 (en) * 2008-03-17 2009-09-24 Luminous Medical, Inc. Biological sample quality determination
CA2616402A1 (en) * 2005-07-26 2007-02-01 Bayer Healthcare Llc Method and system for checking an electromechanical biosensor
CA2630094A1 (en) * 2005-11-15 2007-05-24 Luminous Medical, Inc. Blood analyte determinations
WO2008049075A2 (en) * 2006-10-18 2008-04-24 Agamatrix, Inc. Electrochemical determination of analytes
WO2008049074A2 (en) * 2006-10-18 2008-04-24 Agamatrix, Inc. Error detection in analyte measurements based on measurement of system resistance
EP3438661B1 (en) * 2007-12-10 2022-08-03 Ascensia Diabetes Care Holdings AG Slope-based compensation
WO2010077660A1 (en) 2008-12-08 2010-07-08 Bayer Healthcare Llc Biosensor system with signal adjustment
WO2011034917A2 (en) 2009-09-15 2011-03-24 Agamatrix, Inc. Implantable electrochemical biosensor system and method
CN103003692B (zh) * 2010-03-22 2015-01-14 拜尔健康护理有限责任公司 用于生物传感器的剩余补偿
BR112012031166A2 (pt) 2010-06-07 2018-02-27 Bayer Healthcare Llc compensação baseada eminclinação incluindo sinais de saída secundários
AU2011301843B2 (en) 2010-09-17 2015-02-05 Agamatrix, Inc. Method and apparatus for encoding test strips
WO2012142502A2 (en) 2011-04-15 2012-10-18 Dexcom Inc. Advanced analyte sensor calibration and error detection
ES2663097T3 (es) 2011-09-21 2018-04-11 Ascensia Diabetes Care Holdings Ag Biosensor con compensación de error
WO2014057625A1 (ja) * 2012-10-10 2014-04-17 パナソニックヘルスケア株式会社 生体情報測定装置
CN105572378A (zh) * 2016-02-24 2016-05-11 苏州韦尔健医疗科技有限公司 一种血糖仪用试条的制作及使用方法
CN111448452B (zh) * 2017-12-14 2023-05-23 豪夫迈·罗氏有限公司 确定关于等效串联电阻的信息的方法和设备
US20200158679A1 (en) * 2018-11-16 2020-05-21 Medtronic Minimed, Inc. Analyte sensor with extended lifetime

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5243516A (en) 1989-12-15 1993-09-07 Boehringer Mannheim Corporation Biosensing instrument and method
JPH0820412B2 (ja) 1990-07-20 1996-03-04 松下電器産業株式会社 使い捨てセンサを用いた定量分析方法、及び装置
US5320732A (en) 1990-07-20 1994-06-14 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Biosensor and measuring apparatus using the same
CA2153883C (en) 1993-06-08 1999-02-09 Bradley E. White Biosensing meter which detects proper electrode engagement and distinguishes sample and check strips
US5352351A (en) 1993-06-08 1994-10-04 Boehringer Mannheim Corporation Biosensing meter with fail/safe procedures to prevent erroneous indications
JPH07128338A (ja) * 1993-11-02 1995-05-19 Kyoto Daiichi Kagaku:Kk 簡易血糖計におけるデータ管理方法及び該データ管理方法を使用する簡易血糖計
AUPN363995A0 (en) 1995-06-19 1995-07-13 Memtec Limited Electrochemical cell
AUPN661995A0 (en) 1995-11-16 1995-12-07 Memtec America Corporation Electrochemical cell 2
US6365033B1 (en) * 1999-05-03 2002-04-02 Semitoof, Inc. Methods for controlling and/or measuring additive concentration in an electroplating bath
US6251260B1 (en) * 1998-08-24 2001-06-26 Therasense, Inc. Potentiometric sensors for analytic determination
US6616819B1 (en) 1999-11-04 2003-09-09 Therasense, Inc. Small volume in vitro analyte sensor and methods
WO2002057768A1 (en) 2001-01-17 2002-07-25 Arkray, Inc. Quantitative analyzing method and quantitative analyzer using sensor
US6597193B2 (en) * 2001-01-26 2003-07-22 Semiconductor Diagnostics, Inc. Steady state method for measuring the thickness and the capacitance of ultra thin dielectric in the presence of substantial leakage current
JP4205588B2 (ja) 2001-11-20 2009-01-07 アークレイ株式会社 フェイル判断方法および分析装置
US7090764B2 (en) 2002-01-15 2006-08-15 Agamatrix, Inc. Method and apparatus for processing electrochemical signals
JP2005518527A (ja) 2002-02-10 2005-06-23 アガマトリックス， インコーポレイテッド 電気化学的特性についてのアッセイのための方法および装置
ES2709991T3 (es) 2003-08-21 2019-04-22 Agamatrix Inc Método y aparato para el análisis de propiedades electroquímicas
US7556723B2 (en) * 2004-06-18 2009-07-07 Roche Diagnostics Operations, Inc. Electrode design for biosensor
US7569126B2 (en) * 2004-06-18 2009-08-04 Roche Diagnostics Operations, Inc. System and method for quality assurance of a biosensor test strip

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20150131050A (ko) * 2013-03-15 2015-11-24 아가매트릭스, 인코포레이티드 분석물질 탐지 미터기 및 연관된 사용 방법
KR20220040510A (ko) * 2013-03-15 2022-03-30 아가매트릭스, 인코포레이티드 분석물질 탐지 미터기 및 연관된 사용 방법

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Publication number Publication date
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