KR20070118612A - 플런저 코어를 포함하는 회전각 검출의 온도 보상을 위한방법 및 장치 - Google Patents

플런저 코어를 포함하는 회전각 검출의 온도 보상을 위한방법 및 장치 Download PDF

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KR20070118612A
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로베르트 보쉬 게엠베하
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Abstract

본 발명은, 플런저 코어(30) 및 상기 플런저 코어(30)의 적어도 일부를 둘러싸는 코일(31)을 포함하는, 회전 가능한 소자(12)의 무접촉 회전각 검출을 위한 방법 및 장치에 관한 것이다. 플런저 코어(30) 및 코일(31)은 회전 가능한 소자(12)의 회전 운동에 따라 축방향(R)으로 서로 상대 이동하고, 코일(31)의 인덕턴스(L)를 변경시킨다. 본 발명에 따른 장치 및 본 발명에 따른 방법은, 코일 인덕턴스(L)에 대한 변하는 온도(T)의 작용을 적어도 부분적으로 보상하는 보상 수단(36)이 제공되는 것을 특징으로 한다.
플런저 코어, 코일, 회전 가능한 소자, 보상 수단

Description

플런저 코어를 포함하는 회전각 검출의 온도 보상을 위한 방법 및 장치{Method and device for compensating for temperature during a recording of rotation angles with a plunger core}
본 발명은 독립 청구항의 전제부에 따른 회전 가능한 소자의 무접촉 회전각 검출을 위한 방법 및 장치에 관한 것이다.
DE-A-100 17 061 호에는 회전 가능한 소자의 특히 무접촉 회전각 검출을 위한 장치가 공지되어 있고, 상기 장치에서 적어도 2개의 센서 소자를 포함하는 센서 장치의 자기에 의해 영향을 받을 수 있는 특성을 평가하여 회전 가능한 소자에 의해 발생된 또는 영향을 받는 자계 강도가 평가 회로에서 검출될 수 있고, 회전 위치의 결정을 위해 이용된다. 센서 소자는 자기 저항 효과를 이용하여 작동하고, 적어도 2개의 추가 센서 소자는 홀 효과(hall effect)를 이용하여 작동하고, 평가 회로는 그렇게 얻어진 3개의 센서 신호의 논리 연산에 이용된다.
또한, 회전 가능한 소자의 무접촉 회전각 검출을 위해, 제 1 영역 내의 회전각 검출을 위한 적어도 하나의 제 1 신호를 송출하는 자기 저항 센서 소자에 추가하여, 제 1 영역을 넘어가는 회전각을 명확하게 검출하기 위해, 샤프트의 회전 운동에 의존하여 축방향으로 서로 상대 이동 가능한, 회전 가능한 소자의 샤프트에 배치된 플런저 코어 및 상기 코어의 적어도 일부를 둘러싸는 코일을 사용하는 것이 공지되어 있다.
JP-A-2004226124 호에는 링 자석 및 2개의 홀 소자로 이루어진, 각도 센서의 회전각 검출기가 공지되어 있고, 상기 회전각 검출기에서 제조 단계 동안 온도 변화 및 대량 생산 편차로 인한 검출 오류는 홀-신호의 진폭 및 오프셋 전압의 측정에 의해 보상된다.
또한, JP-A-2003161637 호에는 검출 코일의 온도 저항이 검출 코일에 대해 직렬로 접속된 저항에 의해 측정되고 이로써 얻어진 온도 측정값이 표에 저장된 온도 데이터와 비교됨으로써, 장치의 검출 코일의 온도를 보정하는 것이 공지되어 있다.
선행기술과 달리, 회전 가능한 소자의 회전 운동에 의존하여 축방향으로 서로 상대 운동하고 코일의 인덕턴스를 변경시키는, 플런저 코어 및 상기 플런저 코어의 적어도 일부를 둘러싸는 코일을 포함하는, 회전 가능한 소자의 무첩촉 회전각 검출을 위한 본 발명에 따른 장치 및 방법은, 회전각 검출 동안 코일 인덕턴스를 의도치 않게 변경시키는 온도 영향이 보상될 수 있는 장점을 갖는다. 이러한 방식으로, 예컨대 전기 스티어링 부스터 드라이브와 관련하여 안전을 위협하는 상황을 야기할 수 있는 잘못된 정보는 효과적으로 그리고 저렴하게 방지될 수 있다. 또한, 결정된 코일 인덕턴스에 대한 변하는 온도의 영향을 적어도 부분적으로 보상하는 보상 수단이 제공된다.
바람직하게, 보상 수단은 이동 불가능한 코어를 가진 적어도 하나의 기준 코일로부터 결정될 수 있는 기준 코일 인덕턴스를 포함하고, 적어도 하나의 기준 코일 및 코일 및/또는 이동 불가능한 코어 및 플런저 코어는 거의 동일한 재료 특성을 가져야 하므로, 인덕턴스값의 비율 형성은 온도 영향을 거의 제거한다. 또한, 기준 코일이 공간적으로 코일에 근접하게 배치되는 것이 바람직하고, 이로써 2개의 코일은 유사한 온도 영향을 받는다.
대안 실시예에서, 적어도, 축방향 이동시 거의 항상 플런저 코어를 둘러싸는 코일 영역의 기준 코일 인덕턴스가 결정된다. 이로써, 기준 코일 인덕턴스의 결정을 위해 추가의 기준 코일이 필요 없고, 따라서 비용 및 조립 공간이 절감될 수 있는 장점이 얻어진다.
또한 바람직하게, 보상 수단은 온도 측정값의 측정을 위한 온도에 의존하는적어도 하나의 센서 소자 및 적어도 하나의 기준 수단을 포함하고, 코일 인덕턴스에 대한 온도의 영향을 보상하기 위해, 온도 측정값은 적어도 하나의 기준 수단의 기준 테이블에 저장된 온도 기준값에 의해 및/또는 적어도 하나의 기준 수단에 포함된 알고리즘에 의해 계산을 통해 주어진다. 온도에 의존하는 센서 소자로서, 예컨대 음의 온도 계수(NTC)를 갖는 저항이 사용될 수 있다.
도입부에 연급된 선행기술에는 회전 가능한 소자에 배치된 플런저 코어 및 상기 플런저 코어를 적어도 부분적으로 둘러싸는 코일에 추가하여, 회전각 검출을 위해 자기 저항 센서 소자를 사용하는 것이 공지되어 있다. 이와 관련하여, 자기 저항 센서 소자는 특히 바람직하게 보상 수단으로 이용될 수 있고, 이 경우, 자기 저항 센서 소자에 의해 송출된 다수의 센서 신호의 절대 진폭 및/또는 오프셋-전압이 센서 신호의 표준화 및/또는 비율 형성 이전에 측정될 수 있다.
본 발명의 다른 장점들은 종속 청구항에 제시된 특징 및 도면 및 상세한 설명에 의해 제시된다.
본 발명은 하기에서 도 1 내지 도 5에 의해 예시적으로 설명되고, 도면들에서 동일한 도면 부호는 동일한 기능을 하는 동일한 구성 부분을 나타낸다.
도 1은 선행기술에 따른 회전 가능한 소자의 무접촉 회전각 검출을 위한 장치의 개략도.
도 2는 본 발명에 따른 장치의 제 1 실시예의 개략도.
도 3은 본 발명에 따른 장치의 제 2 및 제 3 실시예의 개략도.
도 4는 본 발명에 따른 장치의 제 4 실시예의 개략도.
도 5는 회전 가능한 소자의 회전각에 따른 표준화 전에 자기 저항 센서 소자에 의해 송출된 센서 신호의 그래프.
도 1에 자기 저항 센서 소자(14)를 가진 회전 가능한 소자(12)의 무접촉 회전각 검출을 위한 선행기술에 따른 장치(10)의 개략도가 도시되고, 상기 센서 소자는 회전 가능한 소자(12)의 회전각(Θ)의 검출을 위한 2개의 신호(SM ,1 , SM ,2)를 송출한다. 이 경우에 이방성 자기 저항(AMR) 센서(15)로 구현된 자기 저항 센서 소 자(14)를 제어하기 위해, N극(N)과 S극(S)을 가진 영구 자석(16)이 이용된다. 교대하는 단 2개의 극만(극쌍) 가진 영구 자석(16) 대신에 훨씬 많은 다수의 극쌍을 가진 영구 자석이 이용될 수 있다. 또한, AMR-센서(15) 대신에 다른 자기 저항 센서 소자도 이용될 수 있다. 그러나, 하기에서는 편의상 AMR-센서(15)가 설명된다.
회전 가능한 소자(12)는 전기 스티어링 부스터 드라이브(18)로 형성되고, 상기 스티어링 부스터 드라이브에서 샤프트(20)는 구동 유닛(22), 예컨대 여기에서 상세히 설명되지 않은, 감속을 위한 기어장치 및 구동 샤프트(24)를 통해 전기 모터(26)에 연결된다.
샤프트(20)는 회전 가능한 소자(12)의 구성 부분이다. AMR-센서(15) 및 상기 센서에 할당된 영구 자석(16)에 의해 회전각(Θ)은 0°내지 180°의 제 1 범위(D)에서 정확하고 확실하게 검출될 수 있다. AMR-센서(15)는 회전각(Θ)에 따라 사인-및 코사인 형태로 연장하는 센서 신호들(SM ,1 , SM ,2)을 송출하고, 상기 신호들을 평가 회로(27)에 전달한다. 신호들(SM ,1 , SM ,2)은 180°의 주기성을 가지므로, 하나의 AMR-센서의 사용시 180°보다 큰 회전각(Θ)은 더 이상 확실하게 검출될 수 없다. 따라서, 상기 제 1 범위(D) 이외에서, 즉 180°이상의 회전각(Θ)의 확실한 검출을 위해 다른 장치가 필요하다. 이를 위해, 샤프트(20)에 나사산(28)이 제공되고, 상기 나사산에 의해 샤프트(20)의 회전 운동에 의존하여 도시되지 않은 상응하는 나사산 또는 마찬가지로 도시되지 않은 아버를 포함할 수 있는 플런저 코어(30)가 샤프트(20)의 축방향(R)으로 코어(31)에 대해 상대 이동한다. 플런저 코 어(30)는 철, 네오디뮴, AlNiCo(알루미늄-니켈-코발트-합금) 또는 그와 유사한 것과 같은 강자성 재료로 이루어질 수 있다.
샤프트(20)가 어느 정도 회전되면, 플런저 코어(30)는 나사산(28)을 따라 코어(31) 내에서 축방향(R)으로 이동되고 그것의 코일 인덕턴스(L)를 변경시킨다. 이러한 변경은 코일 신호(SC)에 의해 커패시턴스(C)를 갖는 커패시터(32)에 전달되고, 상기 커패시터는 코일 인덕턴스(L)와 함께 공진 주파수(fR , 1)를 갖는 제 1 발진 회로(34)를 형성하고, 변하는 코일 인덕턴스(L)는 공진 주파수(fR , 1)도 변경시킨다. 커패시턴스(C)를 갖는 하나의 커패시터(32) 대신, 물론 소수 또는 다수의 다른 소자들이 제공될 수 있고, 상기 소자들은 코일 인덕턴스(L)와 함께 제 1 직렬-및/또는 병렬 발진 회로의 특성적 공진 주파수(fR , 1)를 야기한다. 그러나 하기에서는 IC-발진 회로(34)가 설명된다.
예컨대 차량 내에 조립된 내연기관의 방사열, 태양 복사 또는 이와 유사한 것에 의해 변하는 온도(T)의 영향으로 인해 코일(31)의 코일 인덕턴스(L)도 변경된다. 따라서, 본 발명에 따라 보상 수단(36)이 제공되고, 상기 보상 수단은 코일 인덕턴스(L)에 대한 변하는 온도(T)의 영향을 적어도 부분적으로 보상한다.
도 2에 따른 제 1 실시예에서, 보상 수단(36)은 이동 불가능한 코어(40)를 가진 기준 코일(38)로부터 주어진 기준 코일 인덕턴스(LRef)를 포함한다. 기준 코일(38) 및/또는 이동 불가능한 코어(40)는 코일(31) 또는 플런저 코어(30)와 대략 동일한 - 바람직하게 동일한 - 재료 특성을 갖는다. 또한, 2개의 코일에 대한 온도(T)의 영향이 동일하도록, 기준 코일(38) 및 코일(31)은 서로 인접하게 배치된다. 도 1에 대한 설명에 따라, 기준 코일(38)은 다른 커패시터(42)에 기준 코일 신호(SR)를 송출하고, 상기 커패시터는 가능한 제 1 발진 회로(34)의 커패시터(32)와 동일한 커패시턴스(C)를 가져야 한다. 기준 코일 인덕턴스(LRef) 및 커패시턴스(C)는 기준 공진 주파수(fR ,2)를 갖는 기준 발진 회로(44)를 형성한다. 제 1 발진 회로(34)의 공진 주파수(fR ,1) 및 기준 발진 회로(44)의 기준 공진 주파수(fR ,2)의 비율 형성에 의해 코일(31)의 인덕턴스(L)에 대한 온도(T)의 영향이 보상된다. 2개의 커패시터(32, 42)가 상이한 커패시턴스 값을 가지면, 결과의 왜곡을 방지하기 위해, 공진 주파수의 비율 형성시 상기 값들이 고려되어야 한다.
도 3에는 본 발명에 따른 장치(10)의 2개의 다른 실시예가 도시된다. 추가의 기준 코일 대신에, 보상 수단(36)은 기준 코일 인덕턴스(LRef)의 검출을 위해 축방향(R) 이동시 플런저 코어(30)를 거의 항상 둘러싸는, 코일(31)의 영역(B)을 포함한다.
도 3a에서 코일(31) 및 샤프트(20) 상에 있는 나사산(28)은, 플런저 코어(30)가 샤프트(20)의 회전 운동시 코일(31)의 영역(B)을 벗어날 수 없도록 구현된다. 따라서, 코일(31)의 영역(B)에는 온도(T)의 영향에 의해서만 변동되고, 코일(31)과 플런저 코어(30) 사이의 상대 운동에 의해서는 변동되지 않는 항상 동일 한 비율이 주어진다. 따라서, 코일(31)은 영역(B)의 2개의 단부에서 탭(tap) 되기만 하면 되고, 영역(B)의 한 단부는 코일(31)의 단부로 규정되고, 따라서 기준 코일 인덕턴스(LRef)를 검출하기 위해 단 하나의 추가 탭만 필요하다. 결과되는 기준 코일 신호(SR)는 코일(31)의 코일 신호(Sc)에 상응하게 도 2에 대한 설명에 따라 기준 공진 주파수(fR ,2)의 결정을 위해 커패시턴스(C)를 가진 커패시터(32)에 전달된다. 기준 공진 주파수(fR ,2) 및 마찬가지로 결정된 코일(31)의 공진 주파수(fR ,1)의 비율로부터 코일(31)의 인덕턴스(L)에 대한 온도(T)의 영향이 재차 보상될 수 있다.
도 3b의 실시예는 플런저 코어(30) 및 나사산(28)이 변형되어 구현된다는 점만이 도 3a에 따른 실시예와 다르기 때문에, 축방향 이동시 플런저 코어(30)를 거의 항상 둘러싸는 코일(31) 영역(B)이 코일(31)의 중앙에 놓인다. 이로 인해, 기준 코일 인덕턴스(LRef)의 기준 코일 신호(SR)를 커패시터(32)에 전달하는, 코일(31)의 2개의 추가 탭이 필요하기는 하지만, 상기 배치에 의해 회전 가능한 소자(12)의 샤프트(20)의 길이는 도 3a에 비해 더 감소될 수 있다.
하나의 공통 커패시터(32) 대신에, 도 3에서는 물론 더 많은 커패시터- 도 2에서 이미 설명된 바와 같이- 가 사용될 수 있지만, 바람직하게 커패시터들이 동일한 커패시턴스(C)를 가질 필요는 없다. 또한, 대안으로서 스텝 응답을 위한 시간 또는 진폭의 측정으로부터 코일 인덕턴스가 결정된다.
코일(31)의 인덕턴스(L)에 대한 온도(T)의 영향을 보상하기 위한 다른 실시예는 도 4에 도시되고, 보상 수단(36)은 온도 감지 센서 소자(46), 예컨대 음의 온도 계수를 갖는 저항(48;NTC)을 포함한다. 그러나, NTC(48) 대신에 PTC 또는 이와 유사한 것과 같은 다른 온도 감지 센서 소자도 사용될 수 있다. 온도 영향을 보상하기 위해 온도(T)는 NTC(48)에 의해 측정되고, 온도 측정값(TM)과 기준 수단(50)의 기준 테이블에 저장된 온도 기준값(TRef)의 비교는, 제 1 발진 회로(34)에 의해 검출된 제 1 공진 주파수(fR ,1)와 비율을 이루는 결정된 기준 공진 주파수(fR ,2)가 각각의 온도 기준값(TRef)에 할당되도록 이루어진다.
기준 테이블 대신에, 물론 온도 영향을 기준 수단(50) 내의 상응하는 알고리즘에 의해 계산을 통해 보상할 수 있다. 이러한 방식으로, 더 높은 정확성이 달성되는데, 그 이유는 기준 테이블에 저장된 온도 기준값(TRef)은 최종적인 값 저장부에서 나오기 때문이다. 기준 수단(50)은 예컨대 마이크로프로세서, ASIC, 또는 바람직하게 비교기 및 저장기를 가진 기타 집적 회로가 사용될 수 있다. 물론, 예컨대 계산 유닛, 비교기 및/또는 메모리를 위한 별도의 유닛을 가진 분리된 구성이 바람직하면, 다수의 기준 수단(50)이 사용될 수 있다.
도 5에 따라, 보상 수단(36)은 도 1에 도시된 추가의 AMR-센서(15)를 포함한다. 상기 센서는 사인-및 코사인 형태의 센서 신호(SM ,1, SM ,2)를 송출하고, 상기 신호는 도 5에 도시된 그래프에서 그것의 표준화 이전에 회전각(Θ)에 따라 도시된 다. AMR-센서(15)는 코일(31)과 마찬가지로 온도(T)의 영향을 받는다. 따라서, 2개의 센서 신호(SM ,1, SM ,2)도 온도에 의존하고, 이는 그 절대 진폭(A1 및 A2) 및/또는 그 오프셋-전압(O1, O2)을 변경시킬 수 있고, 그것의 측정은 센서 신호(SM ,1, SM ,2)의 표준화 및/또는 비율 형성 이전에 이루어져야 한다. 2개의 센서 신호(SM ,1, SM ,2)는 온도 영향에 동일하게 반응하기 때문에, 온도 영향의 보상을 위한 2개의 절대 진폭(A1 또는 A2) 및/또는 오프셋-전압(O1 또는 O2) 중 하나를 이용하는 것으로 충분하다. 물론, 2개의 센서 신호의 측정값도 이용될 수 있다. 보상은 절대 진폭 및/또는 오프셋-전압 및 그로부터 유도될 수 있는 기준 공진 주파수(fR,2)에 대해 기준 테이블에 저장된 기준 값에 의해 또는 알고리즘에 의한 계산을 통해 이루어진다.
결과적으로, 도시된 실시예들은 도 2 내지 도 5에 제한되지 않는다. 따라서, 예컨대 다수의 보상 수단(36)이 조합되거나 또는 다수의 기준 코일 또는 코일 탭이 보상 수단으로 사용될 수 있다. 따라서, 기준 코일(40)은 공간적인 요구에 따라 코일(31)에 대해 평행하게 뿐만 아니라 임의의 각도로 배치되는 것이 고려될 수 있다.

Claims (18)

  1. 플런저 코어(30) 및 상기 플런저 코어(30)를 적어도 부분적으로 둘러싸는 코일(31)을 포함하고, 상기 플런저 코어(30) 및 상기 코일(31)은 회전 가능한 소자(12)의 회전 운동에 의존하여 축방향(R)으로 서로 상대 이동하고, 상기 코일(31)의 인덕턴스(L)를 변경시키는, 회전 가능한 소자(12)의 무접촉 회전각 검출을 위한 장치(10)에 있어서,
    상기 코일 인덕턴스(L)에 대한 변하는 온도(T)의 영향을 적어도 부분적으로 보상하는 보상 수단(36)이 제공되는 것을 특징으로 하는 회전 가능한 소자의 무접촉 회전각 검출을 위한 장치.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 보상 수단(36)은 기준 코일 인덕턴스(LRef)를 포함하는 것을 특징으로 하는 회전 가능한 소자의 무접촉 회전각 검출을 위한 장치.
  3. 제 2 항에 있어서, 상기 기준 코일 인덕턴스(LRef)는 이동 불가능한 코어(40)를 가진 적어도 하나의 기준 코일(38)로부터 주어지는 것을 특징으로 하는 회전 가능한 소자의 무접촉 회전각 검출을 위한 장치.
  4. 제 3 항에 있어서, 상기 적어도 하나의 기준 코일(38) 및 상기 코일(31)은 대략 동일한 재료 특성을 갖는 것을 특징으로 하는 회전 가능한 소자의 무접촉 회전각 검출을 위한 장치.
  5. 제 3 항에 있어서, 상기 이동 불가능한 코어(40) 및 상기 플런저 코어(30)는 대략 동일한 재료 특성을 갖는 것을 특징으로 하는 회전 가능한 소자의 무접촉 회전각 검출을 위한 장치.
  6. 제 3 항에 있어서, 상기 기준 코일(38) 및 상기 코일(31)은 서로 공간적으로 근접하게 배치되는 것을 특징으로 하는 회전 가능한 소자의 무접촉 회전각 검출을 위한 장치.
  7. 제 2 항에 있어서, 상기 기준 코일 인덕턴스(LRed)는, 적어도 축방향 이동시 거의 항상 상기 플런저 코어(30)를 둘러싸는 상기 코일(31) 영역(B)으로부터 주어지는 것을 특징으로 하는 회전 가능한 소자의 무접촉 회전각 검출을 위한 장치.
  8. 제 1 항에 있어서, 상기 보상 수단(36)은 온도 측정값(TM)의 측정을 위한 온도에 의존하는 적어도 하나의 센서 소자(46) 및 적어도 하나의 기준 수단(50)을 포함하는 것을 특징으로 하는 회전 가능한 소자의 무접촉 회전각 검출을 위한 장치.
  9. 제 8 항에 있어서, 상기 코일 인덕턴스(L)에 대한 온도(T)의 영향을 보상하기 위해 온도 측정값(TM)은 적어도 하나의 기준 수단(50)의 기준 테이블에 저장된 온도 기준값(TRef)에 의해 및/또는 적어도 하나의 상기 기준 수단(50)에 포함된 알고리즘에 의해 계산을 통해 주어지는 것을 특징으로 하는 회전 가능한 소자의 무접촉 회전각 검출을 위한 장치.
  10. 제 8 항 또는 제 9 항에 있어서, 상기 온도에 의존하는 센서 소자(46)는 NTC(48)인 것을 특징으로 하는 회전 가능한 소자의 무접촉 회전각 검출을 위한 장치.
  11. 제 1 항에 있어서, 회전각(Θ) 검출을 위해 적어도 하나의 추가 자기 저항 센서 소자(14)가 제공되는 것을 특징으로 하는 회전 가능한 소자의 무접촉 회전각 검출을 위한 장치.
  12. 제 11 항에 있어서, 보상 수단(10)은 적어도 하나의 추가 자기 저항 센서 소자(14)를 포함하는 것을 특징으로 하는 회전 가능한 소자의 무접촉 회전각 검출을 위한 장치.
  13. 플런저 코어(30) 및 상기 플런저 코어(30)를 적어도 부분적으로 둘러싸는 코 일(31)을 포함하는 회전 가능한 소자(12)의 무접촉 회전각 검출을 위한 방법으로서, 상기 플런저 코어(30) 및 상기 코일(31)은 상기 회전 가능한 소자(12)의 회전 운동에 의존하여 축방향으로 서로 상대 이동하고, 그로 인한 상기 코일(31)의 인덕턴스(L)가 결정되는 회전 가능한 소자의 무접촉 회전각 검출을 위한 방법에 있어서, 상기 코일 인덕턴스(L)에 대한 변하는 온도(T)의 영향은 보상 수단(36)에 의해 적어도 부분적으로 보상되는 것을 특징으로 하는 회전 가능한 소자의 무접촉 회전각 검출을 위한 방법.
  14. 제 13 항에 있어서, 상기 보상 수단(36)의 기준 코일 인덕턴스(Lref)가 결정되는 것을 특징으로 하는 회전 가능한 소자의 무접촉 회전각 검출을 위한 방법.
  15. 제 14 항에 있어서, 적어도 하나의 기준 코일(38)의 상기 기준 코일 인덕턴스(Lref)는 이동 불가능한 코어(40)에 의해 결정되는 것을 특징으로 하는 회전 가능한 소자의 무접촉 회전각 검출을 위한 방법.
  16. 제 14 항에 있어서, 적어도, 축방향 이동시 거의 항상 상기 플런저 코어(30)를 둘러싸는 상기 코일(31)의 영역(B)의 상기 기준 코일 인덕턴스(Lref)가 결정되는 것을 특징으로 하는 회전 가능한 소자의 무접촉 회전각 검출을 위한 방법.
  17. 제 13 항에 있어서, 상기 온도(T)는 상기 보상 수단(36)의 온도에 의존하는 적어도 하나의 센서 소자(46)에 의해 측정되고, 온도 측정값(TM)은 적어도 하나의 기준 수단(50)의 기준 테이블에 저장된 온도 기준값(TRef)과 비교되고 및/또는 온도(T)의 영향은 상기 온도에 의존하는 센서 소자(46)에 의해 측정된 상기 온도 측정값(TM)에 의해 적어도 하나의 기준 수단(50)에 포함된 알고리즘을 이용해서 계산을 통해 보상되는 것을 특징으로 하는 회전 가능한 소자의 무접촉 회전각 검출을 위한 방법.
  18. 제 13 항에 있어서, 상기 보상 수단(36)의 적어도 하나의 추가 자기 저항 센서 소자(14)에 의해 다수의 센서 신호들(SM ,1 ,S M,2)이 송출되고, 상기 센서 신호들의 절대 진폭(A1, A2) 및/또는 오프셋-전압(O1, O2)은 상기 센서 신호들(SM ,1 ,S M,2)의 표준화 및/또는 비율 형성 이전에 측정되는 것을 특징으로 하는 회전 가능한 소자의 무접촉 회전각 검출을 위한 방법.
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